JP2017156184A - Optical coherence tomography imaging device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an OCT device that prevents an influence due to return light to a light source occurring when generating an A-scan trigger with respect to a tomographic image without requiring an addition of components leading to increase in cost.SOLUTION: An optical coherence tomography imaging device comprises: a wavelength sweep light source that sweeps a wavelength of light to be emitted; a coherence unit that uses the light emitted from the wavelength sweep light source and within a wavelength range from a third wavelength to a fourth wavelength to make light from an inspection optical path and reference optical path interfere; an information acquisition unit that acquires information on a subject from a coherence signal created on the basis of interfered light; a wavelength filter that reflects light having a fifth wavelength; and a detection unit that detects reflection light from the wavelength filter, and creates a trigger signal. The information acquisition unit is configured to acquire the information on the subject from the coherence signal on the basis of the trigger signal. A time when light of the fourth and fifth wavelengths are emitted sets to be T4 to T5, a speed of light sets to be c, and an optical path length of an optical path connecting the wavelength sweep light source to the wavelength filter sets to be D, the optical path length D satisfies a relation of T4-T5<2D/c.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、光干渉断層撮像装置に関する。   The present invention relates to an optical coherence tomography apparatus.

光干渉断層撮像法(Optical Coherence Tomography:OCT)を用いる装置(以下、OCT装置という。)は、低コヒーレンス干渉の技術を用い、光によって非侵襲で被検体の断層像を取得できる装置である。OCT装置はさまざまな分野で利用されているが、非侵襲での被検体の断層像を観察できることから患者への負担が小さくできるため、特に医療分野にて有用である。   An apparatus using optical coherence tomography (OCT) (hereinafter referred to as an OCT apparatus) is a device that can acquire a tomographic image of a subject non-invasively with light using a technique of low coherence interference. Although the OCT apparatus is used in various fields, it is particularly useful in the medical field because the burden on the patient can be reduced because a non-invasive tomographic image of a subject can be observed.

特に眼科分野においては、外部からの被検眼の観察が主な診断方法であるため、急速にOCT装置の普及が進んでいる。   Particularly in the field of ophthalmology, observation of the eye to be examined from the outside is the main diagnostic method, and therefore, the OCT apparatus is rapidly spreading.

OCTには、大きく分けてタイムドメインOCT、フーリエドメインOCTと呼ばれる2つの方式がある。さらにフーリエドメインOCTの中でも、スペクトラルドメインOCT(Spectral Domain OCT:SD−OCT)、スウェプトソースOCT(Swept Source OCT:SS−OCT)の2つの方式が知られている。   OCT is roughly divided into two methods called time domain OCT and Fourier domain OCT. Further, among Fourier domain OCT, two methods of Spectral Domain OCT (Spectral Domain OCT: SD-OCT) and Swept Source OCT (Swept Source OCT: SS-OCT) are known.

SS−OCTを用いる装置(以下、SS−OCT装置という。)では、波長を時間的に広帯域にわたって変化させる光源(波長掃引光源)を用い、参照光と被検体に照射し反射されてきた測定光(プローブ光)とを干渉させた干渉光の光強度を各々の波長で取得する。そして、当該干渉光に基づく干渉信号についてフーリエ変換を行い、干渉光の時間波形に含まれる周波数成分を分析する。これにより、プローブ光の光軸上にある被検体の奥行き方向における反射面の位置を算出し、当該反射面の位置に基づいて被検体の断層画像を構成する。   In an apparatus using SS-OCT (hereinafter referred to as an SS-OCT apparatus), a light source (wavelength swept light source) that changes the wavelength over a wide time band is used, and the reference light and the measurement light that has been irradiated and reflected on the subject. The light intensity of the interference light that interferes with the (probe light) is acquired at each wavelength. Then, Fourier transform is performed on the interference signal based on the interference light, and the frequency component included in the time waveform of the interference light is analyzed. Thereby, the position of the reflecting surface in the depth direction of the subject on the optical axis of the probe light is calculated, and a tomographic image of the subject is constructed based on the position of the reflecting surface.

干渉光に基づく干渉信号の離散フーリエ変換を行う場合には、特に、干渉信号を均一周波数間隔でサンプリングすることが要求される。干渉信号を均一周波数間隔でサンプリングするためのサンプリングクロックとして、SS−OCTでは非特許文献1に記載されているようなk−clock信号と呼ばれる信号を用いる。   When performing discrete Fourier transform of an interference signal based on interference light, it is particularly required to sample the interference signal at uniform frequency intervals. As a sampling clock for sampling an interference signal at a uniform frequency interval, a signal called a k-clock signal as described in Non-Patent Document 1 is used in SS-OCT.

SS−OCT装置に用いる波長可変レーザーとしては、時間的に波長が変化する一連の光を周期的に繰り返し出射する光源を用いている。この周期が、SS−OCT装置において、被検体の奥行き方向の断層に関する情報を得るための動作であるA−scanの周期、すなわち、A−scanレートに相当する。SS−OCT装置では、A−scanの1周期に関するタイミングを示す信号を基準として、上記k−clock信号を用いたサンプリングが実施される。   As a wavelength tunable laser used in the SS-OCT apparatus, a light source that periodically and repeatedly emits a series of lights whose wavelengths change with time. This period corresponds to an A-scan period, that is, an A-scan rate, which is an operation for obtaining information on a tomographic slice in the SS-OCT apparatus. In the SS-OCT apparatus, sampling using the k-clock signal is performed on the basis of a signal indicating timing related to one cycle of A-scan.

この基準となる信号をA−scanトリガと呼ぶ(文献によって、gating pulse(非特許文献1)、trigger signal(非特許文献2)、sweep trigger、A−triggerなどと別の呼称を用いているものもある)。   This reference signal is referred to as an A-scan trigger (depending on the literature, it uses a different name such as gating pulse (Non-patent document 1), trigger signal (Non-patent document 2), sweep trigger, A-trigger, etc. There is also.)

A−scanトリガを生成する方法として、大きく2種類の方法が知られている。一つは、波長掃引光源(波長可変光源)の波長掃引機構を駆動する回路が、駆動信号と同期したトリガ信号を生成・出力する方法である。もう一つは、非特許文献1及び2に記載のように、狭帯域フィルタやファイバーブラッググレーティング(FBG)などの波長フィルタ機構を用いて、波長掃引光源から出射された特定の波長の光に基づいてトリガ信号を生成する方法である。   There are two known methods for generating an A-scan trigger. One is a method in which a circuit that drives a wavelength sweeping mechanism of a wavelength swept light source (wavelength variable light source) generates and outputs a trigger signal synchronized with the drive signal. The other is based on light of a specific wavelength emitted from a wavelength swept light source using a wavelength filter mechanism such as a narrow band filter or a fiber Bragg grating (FBG) as described in Non-Patent Documents 1 and 2. This is a method for generating a trigger signal.

前者に関しては、波長掃引光源の波長掃引機構を駆動する電気信号(駆動信号)に対して、波長掃引機構の動作が不安定になることが多い。これは、波長掃引機構の機械的な特性や環境変化によって、駆動信号に対して波長掃引動作が遅れる等の問題に起因することが考えられる。そのため、当該方法によってA−scanトリガを生成する場合には、駆動信号と同期して生成するA−scanトリガに対しても、波長掃引光源の動作が不安定となる場合がある。そのため、当該方法によって生成されたA−scanトリガは、光源から出射される波長が変化する光に対して時間的に不安定になることがある。   Regarding the former, the operation of the wavelength sweep mechanism is often unstable with respect to an electrical signal (drive signal) that drives the wavelength sweep mechanism of the wavelength sweep light source. This is considered to be caused by a problem that the wavelength sweep operation is delayed with respect to the drive signal due to mechanical characteristics of the wavelength sweep mechanism and environmental changes. Therefore, when the A-scan trigger is generated by the method, the operation of the wavelength swept light source may be unstable even with respect to the A-scan trigger generated in synchronization with the drive signal. For this reason, the A-scan trigger generated by the method may become unstable in time with respect to light whose wavelength emitted from the light source changes.

これに対して、後者の方法では、波長掃引機構が駆動した結果として出射される、波長が変化する光の中の、特定の波長の光を検出しA−scanトリガを生成する。そのため、波長掃引機構の駆動が駆動信号に対し不安定であったとしても、特定の波長の光に対して安定的にトリガ信号を生成することが可能となる。   On the other hand, in the latter method, light having a specific wavelength is detected from the light having a different wavelength, which is emitted as a result of driving the wavelength sweeping mechanism, and an A-scan trigger is generated. Therefore, even if the drive of the wavelength sweep mechanism is unstable with respect to the drive signal, it becomes possible to generate a trigger signal stably for light of a specific wavelength.

後者の方法の具体的な手法の一つとして、非特許文献1では、特定の波長において光を反射させる部材であるファイバーブラッググレーティング(FBG)を用いてSS−OCT装置を構成している。   As a specific method of the latter method, in Non-Patent Document 1, an SS-OCT apparatus is configured using a fiber Bragg grating (FBG) that is a member that reflects light at a specific wavelength.

当該手法では、このFBGで反射された特定の波長の光をフォトディテクタで受光し、電気信号に変換してA−scanトリガを生成している。また、非特許文献1に記載の手法では、FBGからの反射光が波長掃引光源に戻ることを抑制するために、光サーキュレータを用いている。   In this method, light having a specific wavelength reflected by the FBG is received by a photodetector and converted into an electric signal to generate an A-scan trigger. In the method described in Non-Patent Document 1, an optical circulator is used to suppress the reflected light from the FBG from returning to the wavelength swept light source.

これは、よく知られているようにレーザー光源に外部から光が入ることによって、光源から出射される光の強度が変動してしまい、出射される光がノイズの大きなレーザー光となってしまうことを抑制するためである。   As is well known, when light enters the laser light source from the outside, the intensity of the light emitted from the light source fluctuates, and the emitted light becomes a noisy laser beam. It is for suppressing.

ノイズの大きな光を基づいた干渉信号を検出してしまうと、OCT装置によって形成される断層画像もノイズの大きな画像となってしまう。そのため、断層画像において詳細な形状を描写することができなくなり、医療用途において有用な断層画像を提供することができなくなってしまう。   If an interference signal based on light with large noise is detected, a tomographic image formed by the OCT apparatus also becomes a large noise image. Therefore, it becomes impossible to describe a detailed shape in the tomographic image, and it becomes impossible to provide a tomographic image useful for medical use.

ここで、光サーキュレータは、A−scanトリガを生成するために設けられたFBGによる反射光が光源に戻り、光源から出射される光のノイズが増大することを抑制する役割のみを担っている。そのため、光サーキュレータは、光学的にA−scanトリガを生成する際のデメリットを補償するためだけのものであって、OCT装置自体の性能を向上させるものではない。従って、光サーキュレータは、OCT装置においては装置自体の性能を向上させる要素とは別に、コストアップに繋がる部品である。   Here, the optical circulator has only the role of suppressing the increase in the noise of the light emitted from the light source due to the reflected light from the FBG provided to generate the A-scan trigger returning to the light source. Therefore, the optical circulator is only for compensating for the disadvantages when optically generating the A-scan trigger, and does not improve the performance of the OCT apparatus itself. Therefore, the optical circulator is a component that leads to an increase in cost in the OCT apparatus, apart from an element that improves the performance of the apparatus itself.

S. Yun, G. Tearney, J. de Boer, N. Iftimia, and B. Bouma, “High-speed optical frequency-domain imaging,” Opt. Express 11, 2953-2963 (2003).S. Yun, G. Tearney, J. de Boer, N. Iftimia, and B. Bouma, “High-speed optical frequency-domain imaging,” Opt. Express 11, 2953-2963 (2003). B. Vakoc, S. Yun, J. de Boer, G. Tearney, and B. Bouma, “Phase-resolved optical frequency domain imaging,” Opt. Express 13, 5483-5493 (2005).B. Vakoc, S. Yun, J. de Boer, G. Tearney, and B. Bouma, “Phase-resolved optical frequency domain imaging,” Opt. Express 13, 5483-5493 (2005).

本発明では、コストアップに繋がる部品の追加を要することなく、断層画像に対するA−scanトリガ生成時に生じる光源への戻り光による影響を防ぐ、OCT装置を提供する。   The present invention provides an OCT apparatus that prevents the influence of return light to a light source that occurs when an A-scan trigger is generated on a tomographic image without requiring the addition of components that lead to an increase in cost.

本発明の一実施態様による光干渉断層撮像装置は、第1の波長から第2の波長までの波長範囲において、出射する光の波長を掃引する波長掃引光源と、被検体に前記波長掃引光源からの光を照射する検査光路と、参照光路と、前記検査光路及び前記参照光路からの光を干渉させる干渉部であって、該光の干渉は、前記波長掃引光源から出射された、前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲における第3の波長から第4の波長までの波長範囲の光を用いて行われる、干渉部と、前記干渉させた光に基づいて生成される干渉信号から被検体の情報を取得する情報取得部と、前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲における第5の波長を有する光を反射する波長フィルタと、前記波長掃引光源からの光を前記干渉部に入射する光と前記波長フィルタに入射する光に分割する分割部と、前記波長フィルタからの反射光を検出し、検出した前記反射光に基づいてトリガ信号を生成する検出部とを備え、前記情報取得部は、前記トリガ信号に基づいて、前記干渉信号から前記被検体の情報を取得し、前記波長掃引光源が前記第4の波長の光を出射する時間をT4とし、前記第5の波長の光を出射する時間をT5とし、光速をcとし、前記波長掃引光源と前記波長フィルタを結ぶ光路の光路長Dとしたとき、前記光路長Dが、T4−T5<2D/cの関係を満たす。   An optical coherence tomographic imaging apparatus according to an embodiment of the present invention includes a wavelength swept light source that sweeps the wavelength of emitted light in a wavelength range from a first wavelength to a second wavelength, An inspection optical path for irradiating the light, a reference optical path, and an interference unit for interfering light from the inspection optical path and the reference optical path, the interference of the light being emitted from the wavelength swept light source, Interference generated by using the light in the wavelength range from the third wavelength to the fourth wavelength in the wavelength range from the second wavelength to the second wavelength, and the interference generated based on the interfered light An information acquisition unit that acquires information on the subject from the signal, a wavelength filter that reflects light having a fifth wavelength in the wavelength range from the first wavelength to the second wavelength, and the wavelength swept light source Light is incident on the interference part And a dividing unit that divides the light incident on the wavelength filter, a detection unit that detects reflected light from the wavelength filter and generates a trigger signal based on the detected reflected light, and the information acquisition unit includes: Based on the trigger signal, the information of the subject is acquired from the interference signal, and the time when the wavelength swept light source emits the light of the fourth wavelength is T4, and the light of the fifth wavelength is emitted. The optical path length D satisfies the relationship of T4−T5 <2D / c, where T5 is T5, the speed of light is c, and the optical path length D of the optical path connecting the wavelength swept light source and the wavelength filter.

本発明によるOCT装置は、コストアップに繋がる部品の追加を要することなく、断層画像に対するA−scanトリガ生成時に生じる光源への戻り光による影響を防ぐことができる。   The OCT apparatus according to the present invention can prevent the influence of the return light to the light source that is generated when the A-scan trigger is generated with respect to the tomographic image without requiring the addition of a component that leads to cost increase.

本発明の一実施形態によるOCT装置の概略的な構成例を示す。1 shows a schematic configuration example of an OCT apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態における波長掃引光源から出射される光の波長と時間の関係を示す。The relationship between the wavelength of the light radiate | emitted from the wavelength sweep light source in one Embodiment of this invention, and time is shown. 本発明の実施例1によるOCT装置におけるA−scanトリガ、k−clock信号及び干渉信等のタイミングを説明するための図である。It is a figure for demonstrating timings, such as an A-scan trigger in a OCT apparatus by Example 1 of this invention, a k-clock signal, and an interference signal. 本発明の実施例2によるOCT装置における、A−scanトリガ、k−clock信号及び干渉信号等のタイミングを説明するための図である。It is a figure for demonstrating timings, such as an A-scan trigger, a k-clock signal, and an interference signal, in the OCT apparatus by Example 2 of this invention. 本発明の一実施形態の変形例によるOCT装置の概略的な構成例を示す。The example of schematic structure of the OCT apparatus by the modification of one Embodiment of this invention is shown.

以下、本発明を実施するための例示的な実施形態及び実施例を、図面を参照して詳細に説明する。ただし、以下の実施形態及び実施例で説明する寸法、材料、形状、構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。   Hereinafter, exemplary embodiments and examples for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, dimensions, materials, shapes, relative positions of components, and the like described in the following embodiments and examples are arbitrary, and can be changed according to the configuration of the apparatus to which the present invention is applied or various conditions. Also, in the drawings, the same reference numerals are used between the drawings to indicate the same or functionally similar elements.

以下、図1及び2を参照して、本発明の一実施形態による光干渉断層撮像装置、すなわちOCT装置について説明する。   Hereinafter, an optical coherence tomography apparatus, that is, an OCT apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

上記のように、光学的にA−scanトリガを生成する場合には、波長フィルタからの反射光が光源に戻ることで、光源から出射される光の強度に変動が生じる。そして、強度に変動をきたした光を用いてOCTの干渉信号を取得することが、被検体の断層画像にノイズを重畳する原因となる。   As described above, when the A-scan trigger is optically generated, the reflected light from the wavelength filter returns to the light source, so that the intensity of light emitted from the light source varies. Acquiring an OCT interference signal using light whose intensity has changed causes noise to be superimposed on the tomographic image of the subject.

そこで、本実施形態では、A−scanトリガを生成するために利用する波長フィルタ(FBG)による反射光が光源に戻るタイミングまでに、A−scanの1周期分において、光源による断層画像の形成に利用する波長範囲の光の出射を終了させる。これにより、光サーキュレータなどのコストアップに繋がる部品の追加を要することなく、光学的にA−scanトリガを生成するとともに、断層画像に対するA−scanトリガ生成時に生じる光源への戻り光による影響を防ぐことができる。   Therefore, in the present embodiment, a tomographic image is formed by the light source in one A-scan period before the reflected light from the wavelength filter (FBG) used to generate the A-scan trigger returns to the light source. The emission of light in the wavelength range to be used is terminated. Accordingly, an A-scan trigger is optically generated without requiring the addition of a component such as an optical circulator, which leads to an increase in cost, and the influence of the return light to the light source generated when the A-scan trigger is generated on the tomographic image is prevented. be able to.

図1を参照して、本実施形態によるOCT装置の概略的な構成について説明する。図1は、本実施形態によるOCT装置の概略的な構成例を示す。   A schematic configuration of the OCT apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 shows a schematic configuration example of the OCT apparatus according to the present embodiment.

本実施形態によるOCT装置100には、波長掃引光源101、分割部102、FBG103、OCT干渉計104、フォトディテクタ105、光ファイバ106,107、検出器108、演算処理装置109及び表示部110が設けられている。   The OCT apparatus 100 according to the present embodiment includes a wavelength swept light source 101, a dividing unit 102, an FBG 103, an OCT interferometer 104, a photodetector 105, optical fibers 106 and 107, a detector 108, an arithmetic processing unit 109, and a display unit 110. ing.

波長掃引光源101は、短波長から長波長に向かって、出射する光を連続して波長掃引する。波長掃引光源101は、光ファイバ106を介して分割部102に接続され、波長掃引光源101から出射された光は光ファイバ106を介して分割部102に入射する。また、波長掃引光源101は、演算処理装置109に電気的に接続される。波長掃引光源101は、出射する光に基づいてk−clock信号130を生成し、演算処理装置109に出力する。   The wavelength swept light source 101 continuously sweeps the emitted light from the short wavelength toward the long wavelength. The wavelength swept light source 101 is connected to the dividing unit 102 via the optical fiber 106, and the light emitted from the wavelength swept light source 101 enters the dividing unit 102 via the optical fiber 106. Further, the wavelength sweep light source 101 is electrically connected to the arithmetic processing unit 109. The wavelength swept light source 101 generates a k-clock signal 130 based on the emitted light and outputs it to the arithmetic processing unit 109.

なお、波長掃引光源の構成は、短波長から長波長に向かって出射する光を波長掃引する構成に限られない。例えば、波長掃引光源は、長波長から短波長に向かって、出射する光を連続して波長掃引してもよいし、これらを組み合わせて波長掃引をある波長範囲で往復して行ってもよい。   The configuration of the wavelength swept light source is not limited to the configuration of sweeping the light emitted from the short wavelength toward the long wavelength. For example, the wavelength swept light source may continuously sweep the emitted light from the long wavelength to the short wavelength, or may combine these to perform the wavelength sweep back and forth within a certain wavelength range.

また、k−clock信号は、波長掃引光源に接続された任意のk−clock生成部によって、波長掃引光源から出射される光に基づいて生成されてもよい。k−clock生成部は、k−clock信号を生成する既知の回路等を用いて構成されることができ、生成したk−clock信号を演算処理装置109に送る。この場合、k−clock生成部がk−clock信号を演算処理装置109に送るため、波長掃引光源は演算処理装置109に接続されなくてよい。   The k-clock signal may be generated based on light emitted from the wavelength swept light source by an arbitrary k-clock generating unit connected to the wavelength swept light source. The k-clock generation unit can be configured using a known circuit or the like that generates a k-clock signal, and sends the generated k-clock signal to the arithmetic processing unit 109. In this case, since the k-clock generation unit sends the k-clock signal to the arithmetic processing unit 109, the wavelength swept light source does not have to be connected to the arithmetic processing unit 109.

分割部102は、分割比95:5の光ファイバカプラであり、光ファイバを介して波長掃引光源101、FBG(ファイバーブラッググレーティング)103、OCT干渉計104及びフォトディテクタ105に接続されている。分割部102は、波長掃引光源101から入射された光を分割し、入射された光のうち95%の光量の光をOCT干渉計104に導き、5%の光量の光をFBG103に導く。また、分割部102は、FBG103から入射された光を分割し、入射された光のうち95%の光量の光をフォトディテクタ105に導き、5%の光量の光を波長掃引光源101に導く。なお、分割部102は、光ファイバカプラの代わりにビームスプリッタを用いて構成されてもよい。また、分割比も95:5に限られず、任意の分割比の光ファイバカプラやビームスプリッタを用いることができる。   The division unit 102 is an optical fiber coupler with a division ratio of 95: 5, and is connected to a wavelength swept light source 101, an FBG (fiber Bragg grating) 103, an OCT interferometer 104, and a photodetector 105 through an optical fiber. The dividing unit 102 divides the light incident from the wavelength swept light source 101, guides 95% of the incident light to the OCT interferometer 104, and guides 5% of the light to the FBG 103. Further, the dividing unit 102 divides the light incident from the FBG 103, guides 95% of the incident light to the photodetector 105, and guides 5% of the light to the wavelength swept light source 101. The dividing unit 102 may be configured using a beam splitter instead of the optical fiber coupler. Also, the split ratio is not limited to 95: 5, and an optical fiber coupler or beam splitter having an arbitrary split ratio can be used.

FBG103(波長フィルタ)は、光ファイバを介して分割部102に接続され、分割部102からの入射光のうち、特定の波長帯の光を選択的に反射する。FBG103によって反射された光は、反射光RLとして分割部102に導かれる。なお、反射されなかった分割部102からの入射光は、FBG103を通過し光ファイバの端部から放出される。   The FBG 103 (wavelength filter) is connected to the dividing unit 102 via an optical fiber, and selectively reflects light in a specific wavelength band among incident light from the dividing unit 102. The light reflected by the FBG 103 is guided to the dividing unit 102 as reflected light RL. In addition, the incident light from the dividing part 102 that has not been reflected passes through the FBG 103 and is emitted from the end of the optical fiber.

フォトディテクタ(検出部)105は、光ファイバ107を介して分割部102に接続されており、FBG103からの反射光RLのうち95%の光量の光が導かれる。また、フォトディテクタ105は演算処理装置109に電気的に接続される。フォトディテクタ105は、分割部102から導かれた光(反射光RL)を検出すると、A−scanトリガ120(トリガ信号)を生成し、演算処理装置109に出力する。フォトディテクタ105としては、フォトダイオード等の任意の光検出器を用いることができる。なお、フォトディテクタ105は、A−scanトリガのパルス波形を整えるパルス整形回路等を介して、演算処理装置109に接続されることもできる。この場合、反射光を検出しA−scanトリガ120を生成する検出部は、フォトディテクタ105及びパルス整形回路等を含むこととなる。   The photodetector (detection unit) 105 is connected to the division unit 102 via the optical fiber 107, and the light of 95% of the reflected light RL from the FBG 103 is guided. The photodetector 105 is electrically connected to the arithmetic processing unit 109. When the photodetector 105 detects the light (reflected light RL) guided from the dividing unit 102, the photodetector 105 generates an A-scan trigger 120 (trigger signal) and outputs it to the arithmetic processing unit 109. As the photodetector 105, an arbitrary photodetector such as a photodiode can be used. Note that the photodetector 105 can also be connected to the arithmetic processing unit 109 via a pulse shaping circuit or the like for adjusting the pulse waveform of the A-scan trigger. In this case, the detection unit that detects the reflected light and generates the A-scan trigger 120 includes the photodetector 105 and a pulse shaping circuit.

OCT干渉計104は、一般的なマッハツェンダー型干渉計である。OCT干渉計104は、光ファイバを介して分割部102及び検出器108に接続される。OCT干渉計104は、分割部102から導かれた光を用いて、被検体O(被検眼)からの反射光と参照光路を経た光との干渉光(OCT干渉光)を生成し、検出器108に出力する。   The OCT interferometer 104 is a general Mach-Zehnder interferometer. The OCT interferometer 104 is connected to the dividing unit 102 and the detector 108 via an optical fiber. The OCT interferometer 104 generates interference light (OCT interference light) between the reflected light from the subject O (eye to be examined) and the light that has passed through the reference optical path, using the light guided from the dividing unit 102, and a detector. To 108.

より具体的には、OCT干渉計104には、検査光路1041、参照光路1042及び干渉部1043が設けられている。干渉部1043には、OCT分割部1044及びOCT干渉部1045が設けられている。OCT分割部1044は、分割部102から入射された光を測定光と参照光に分割し、それぞれ検査光路1041と参照光路1042に入射させる。検査光路1041は、入射された光を被検体Oに照射し、被検体Oからの反射光を干渉部1043に導く。参照光路1042は、入射された光を参照ミラーに照射して光を干渉部1043に導く。OCT干渉部1045は、検査光路1041と参照光路1042からの光を干渉させてOCT干渉光を生成し、検出器108に出力する。なお、OCT分割部1044及びOCT干渉部1045としては、任意の分割比の光ファイバカプラやビームスプリッタを用いることができる。   More specifically, the OCT interferometer 104 is provided with an inspection optical path 1041, a reference optical path 1042, and an interference unit 1043. The interference unit 1043 is provided with an OCT division unit 1044 and an OCT interference unit 1045. The OCT dividing unit 1044 divides the light incident from the dividing unit 102 into measurement light and reference light, and makes them enter the inspection light path 1041 and the reference light path 1042, respectively. The inspection optical path 1041 irradiates the subject O with incident light, and guides reflected light from the subject O to the interference unit 1043. The reference light path 1042 guides the light to the interference unit 1043 by irradiating the reference light with the incident light. The OCT interference unit 1045 generates OCT interference light by causing the light from the inspection optical path 1041 and the reference optical path 1042 to interfere with each other, and outputs the OCT interference light to the detector 108. As the OCT splitting unit 1044 and the OCT interfering unit 1045, an optical fiber coupler or a beam splitter having an arbitrary splitting ratio can be used.

なお、OCT干渉計は、マッハツェンダー型干渉計に限られない。OCT干渉計として、例えば、マイケルソン型干渉計を用いてもよいし、OCT装置において干渉計として用いることができる任意の干渉計を用いることができる。   The OCT interferometer is not limited to a Mach-Zehnder interferometer. As the OCT interferometer, for example, a Michelson interferometer may be used, or any interferometer that can be used as an interferometer in the OCT apparatus can be used.

検出器108(OCT検出部)は、OCT干渉計104及び演算処理装置109に接続され、OCT干渉計104から出力された干渉光を検出し、電気信号に変換し、干渉信号(OCT干渉信号)として演算処理装置109に入力する。なお、検出器108は、OCT干渉計104の構成に合わせて、単に干渉光を検出するように構成されてもよいし、OCT干渉計104から出力された位相の異なる2つの干渉光を検出するとともに2つの干渉光の差動を検出するように構成されてもよい。なお、検出器108で、干渉光の差動を検出する場合には、干渉光の非干渉成分に基づくノイズを低減することができ、干渉信号に基づく被検体Oに関する情報の信号対雑音比(S/N比)を改善することができる。   The detector 108 (OCT detector) is connected to the OCT interferometer 104 and the arithmetic processing unit 109, detects the interference light output from the OCT interferometer 104, converts it into an electrical signal, and generates an interference signal (OCT interference signal). To the arithmetic processing unit 109. The detector 108 may be configured to simply detect interference light in accordance with the configuration of the OCT interferometer 104, or may detect two interference lights having different phases output from the OCT interferometer 104. In addition, it may be configured to detect the differential between the two interference lights. When the detector 108 detects the differential of the interference light, the noise based on the non-interference component of the interference light can be reduced, and the signal-to-noise ratio of information related to the subject O based on the interference signal ( S / N ratio) can be improved.

演算処理装置109(情報取得部)は、波長掃引光源101、検出器108及びフォトディテクタ105に接続されている。演算処理装置109は、波長掃引光源101から入力されるk−clock信号130をサンプリングクロックとして用いて、OCT干渉計104から入力されるOCT干渉信号をサンプリングする。特に、演算処理装置109は、フォトディテクタ105から入力されるA−scanトリガ120に基づいて、OCT装置100におけるA−scanのタイミングを把握する。そして、演算処理装置109は、このタイミングに基づいて、k−clock信号130を用いたOCT干渉信号のサンプリングを行う。その後、演算処理装置109は、サンプリングにより取得した信号に基づいて被検体の断層画像を形成し、断層画像を表示部110に出力する。演算処理装置109としては、MPUやCPU、メモリ等を用いてOCT装置100の内部に構成した演算器としてもよいし、OCT装置100とは別に汎用のコンピュータを用いた演算装置としてもよい。なお、以下において、OCT装置において、光源からの光に基づいて干渉信号を生成し、被検体の断層画像を形成する一連の動作をOCT動作と呼ぶ。   The arithmetic processing unit 109 (information acquisition unit) is connected to the wavelength swept light source 101, the detector 108, and the photodetector 105. The arithmetic processing unit 109 samples the OCT interference signal input from the OCT interferometer 104 using the k-clock signal 130 input from the wavelength swept light source 101 as a sampling clock. In particular, the arithmetic processing unit 109 grasps the A-scan timing in the OCT apparatus 100 based on the A-scan trigger 120 input from the photodetector 105. Then, the arithmetic processing unit 109 performs sampling of the OCT interference signal using the k-clock signal 130 based on this timing. Thereafter, the arithmetic processing unit 109 forms a tomographic image of the subject based on the signal acquired by sampling, and outputs the tomographic image to the display unit 110. The arithmetic processing unit 109 may be an arithmetic unit configured inside the OCT apparatus 100 using an MPU, CPU, memory, or the like, or may be an arithmetic apparatus using a general-purpose computer separately from the OCT apparatus 100. In the following, a series of operations for generating an interference signal based on light from a light source and forming a tomographic image of a subject in the OCT apparatus is referred to as an OCT operation.

表示部110は、演算処理装置109に接続され、演算処理装置109によって入力された断層画像や被検体の情報等を表示する。なお、表示部110は、OCT装置100に備え付けられた任意の表示部であってもよいし、OCT装置100に接続された別の機器としての任意の表示装置であってもよい。   The display unit 110 is connected to the arithmetic processing device 109 and displays a tomographic image input by the arithmetic processing device 109, information on the subject, and the like. The display unit 110 may be an arbitrary display unit provided in the OCT apparatus 100, or may be an arbitrary display apparatus as another device connected to the OCT apparatus 100.

以下、本実施形態によるOCT装置100において、光学的にA−scanトリガ120を生成するとともに、断層画像に対するA−scanトリガ120の生成時に生じる波長掃引光源101への戻り光による影響を防ぐ動作について説明する。   Hereinafter, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the operation for optically generating the A-scan trigger 120 and preventing the influence of the return light to the wavelength swept light source 101 generated when the A-scan trigger 120 is generated for the tomographic image is described. explain.

まず、上記のような構成を有するOCT装置100においては、FBG103によって反射光RLうちの5%の光量の光が、分割部102から波長掃引光源101へ戻ることになる。これにより、波長掃引光源101から出射される光に強度変動が生じてしまう。   First, in the OCT apparatus 100 having the above-described configuration, the light of 5% of the reflected light RL is returned from the dividing unit 102 to the wavelength sweep light source 101 by the FBG 103. As a result, intensity variation occurs in the light emitted from the wavelength swept light source 101.

これに対し、OCT装置100では、FBG103による反射光RLが波長掃引光源101に戻るタイミングまでに、A−scanの1周期分において、波長掃引光源101による断層画像の形成に利用する波長範囲の光の出射を終了させる。当該動作によれば、戻り光に基づく波長掃引光源101から出射光の強度変動が生じても、当該強度変動が生じている光は断層画像の形成に用いられないため、当該強度変動に基づく断層画像へのノイズを防ぐことができる。具体的には、このような動作を達成するために、波長掃引光源101とFBG103との光路長と、波長掃引光源101の波長掃引範囲(OCT動作に利用する波長範囲)及び波長掃引にかかる時間と、FBG103の反射波長帯域との関係を調整する。   On the other hand, in the OCT apparatus 100, the light in the wavelength range used for forming the tomographic image by the wavelength swept light source 101 in one period of A-scan by the timing when the reflected light RL by the FBG 103 returns to the wavelength swept light source 101. Is exited. According to this operation, even if the intensity fluctuation of the emitted light from the wavelength swept light source 101 based on the return light occurs, the light in which the intensity fluctuation occurs is not used for the formation of the tomographic image. Noise to the image can be prevented. Specifically, in order to achieve such an operation, the optical path length between the wavelength sweep light source 101 and the FBG 103, the wavelength sweep range (wavelength range used for the OCT operation) of the wavelength sweep light source 101, and the time taken for the wavelength sweep. And the reflection wavelength band of the FBG 103 are adjusted.

以下、これらの関係の調整について、図2を参照して説明する。図2は、波長掃引光源101から出射される出射光の一例を示す。図2において、横軸は時間を示し、縦軸は出射光の光強度を示す。なお、図2においては、波長掃引光源101からの戻り光の影響201がなかった場合の出射光の光強度のグラフを2点鎖線で示している。   Hereinafter, the adjustment of these relationships will be described with reference to FIG. FIG. 2 shows an example of the emitted light emitted from the wavelength swept light source 101. In FIG. 2, the horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates the light intensity of the emitted light. In FIG. 2, a graph of the light intensity of the emitted light when there is no influence 201 of the return light from the wavelength swept light source 101 is indicated by a two-dot chain line.

OCT装置100に用いられる波長掃引光源101は、出射光について、所定の波長範囲において短波長から長波長に向かって連続して波長掃引する。ここで、波長掃引を開始する波長をλ1、波長掃引を終了する波長λ2、OCT動作に利用する波長範囲を波長λ3からλ4、FBG103の反射波長帯域の中心波長をλ5とする。   The wavelength sweep light source 101 used in the OCT apparatus 100 continuously sweeps the wavelength of the emitted light from a short wavelength to a long wavelength in a predetermined wavelength range. Here, the wavelength at which the wavelength sweep is started is λ1, the wavelength λ2 at which the wavelength sweep is terminated, the wavelength range used for the OCT operation is λ3 to λ4, and the center wavelength of the reflection wavelength band of the FBG 103 is λ5.

また、波長掃引光源101は、時間的に出射光の波長を掃引していることから、波長は時間に置き換えて考えることが可能である。そのため、波長掃引光源101が波長掃引を開始する時間をT1、波長掃引を終了する時間をT2、OCT動作に利用する波長λ3の光を出射する時間をT3、波長λ4の光を出射する時間をT4とすることができる。また、同様に、波長掃引光源101がFBG103の反射波長帯域の中心波長λ5の光を出射する時間をT5とすることができる。さらに、T5とT4の間隔(T4―T5)をΔTとする。   Further, since the wavelength swept light source 101 sweeps the wavelength of the emitted light with time, the wavelength can be replaced with time. Therefore, the time when the wavelength sweep light source 101 starts the wavelength sweep is T1, the time when the wavelength sweep is finished is T2, the time when the light of wavelength λ3 used for the OCT operation is emitted is T3, and the time when the light of wavelength λ4 is emitted. T4 can be set. Similarly, the time during which the wavelength swept light source 101 emits light having the center wavelength λ5 in the reflection wavelength band of the FBG 103 can be T5. Furthermore, the interval between T5 and T4 (T4-T5) is ΔT.

このような場合において、FBG103の反射光に基づく波長掃引光源101への戻り光による断層画像への影響を防ぐために、以下の式1を満たすように、波長掃引光源101とFBG103の間の光路長やFBG103の特性等の関係を調整する。なお、式1において、波長掃引光源101とFBG103との間の光路長をDで示し、光速をcで示す。
ΔT<2D/c ・・・・ 式1
In such a case, in order to prevent the return light to the wavelength swept light source 101 based on the reflected light of the FBG 103 from affecting the tomographic image, the optical path length between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103 so as to satisfy the following formula 1. And the relationship such as the characteristics of the FBG 103 are adjusted. In Equation 1, the optical path length between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103 is denoted by D, and the speed of light is denoted by c.
ΔT <2D / c Equation 1

式1において、2D/cは、波長掃引光源101から出射された光が、FBG103によって反射され波長掃引光源101まで戻ってくる時間を示す。すなわち、式1は、当該時間2D/cと、FBG103によって反射される波長λ5の光が出射してからOCT動作に利用する波長λ4の光が出射するまでの時間ΔTとの関係を示す。   In Equation 1, 2D / c represents a time during which the light emitted from the wavelength sweep light source 101 is reflected by the FBG 103 and returns to the wavelength sweep light source 101. That is, Equation 1 shows the relationship between the time 2D / c and the time ΔT from when the light of wavelength λ5 reflected by the FBG 103 is emitted until the light of wavelength λ4 used for the OCT operation is emitted.

式1に示す関係を満たす場合には、波長λ5の光が波長掃引光源101に戻ってくる時間には、既にOCT動作に利用する波長範囲λ3からλ4の光の出射は終了しており、OCT動作に利用する光の強度に変動が生じることはない。   When the relationship shown in Equation 1 is satisfied, the emission of light in the wavelength range λ3 to λ4 used for the OCT operation is already completed at the time when the light having the wavelength λ5 returns to the wavelength swept light source 101. There is no variation in the intensity of light used for operation.

すなわち、図2に示すように、FBG103の反射光に基づく波長掃引光源101への戻り光による出射光の影響201が、波長λ4の光の出射後に現れることになるため、OCT動作に利用する光の強度に変動が生じるのを防ぐことができる。   That is, as shown in FIG. 2, since the influence 201 of the emitted light due to the return light to the wavelength swept light source 101 based on the reflected light of the FBG 103 appears after the emission of the light of wavelength λ4, the light used for the OCT operation It is possible to prevent fluctuations in the strength of the.

従って、本実施形態では、式1に示す関係を満たすように、波長掃引光源101とFBG103との光路長と、波長掃引光源101の波長掃引範囲(OCT動作に利用する波長範囲)及び波長掃引にかかる時間と、FBG103の反射帯域との関係を調整する。これにより、本実施形態によるOCT装置100は、光サーキュレータなどのコストアップに繋がる光学部材を用いることなく、FBG103からの反射光に起因したノイズが重畳した光をOCT動作に用いることを防ぎ、精細な断層画像を得ることができる。   Therefore, in the present embodiment, the optical path length between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103, the wavelength sweep range of the wavelength swept light source 101 (wavelength range used for the OCT operation), and the wavelength sweep are satisfied so as to satisfy the relationship shown in Expression 1. The relationship between the time and the reflection band of the FBG 103 is adjusted. As a result, the OCT apparatus 100 according to the present embodiment prevents the use of light superimposed with noise caused by the reflected light from the FBG 103 in the OCT operation without using an optical member such as an optical circulator, which leads to an increase in cost. A tomographic image can be obtained.

さらに、波長掃引光源101における波長掃引動作は、波長掃引機構の関係上、光を射出している時間帯であっても、波長掃引動作が不安定となる時間帯が存在する場合がある。すなわち、波長掃引光源101から出射される光の時間的な波長の変化が、波長掃引光源101の構成に基づいて想定される波長の変化から逸脱する場合がある。波長掃引光源101の波長掃引動作が不安定である場合には、波長掃引光源101からの出射光から作られるk−clock信号130の波長・周波数も不安定になる。そのため、波長掃引動作が不安定である時間帯にA−scanトリガ120が演算処理装置109に入力すると、k−clock信号130の不安定さから、サンプリングされる干渉信号の範囲が想定していた信号の範囲から変動してしまう。このことから、サンプリングされた干渉信号に基づく被検体Oの断層画像を精度よく形成することができなくなる場合がある。   Further, the wavelength sweep operation in the wavelength sweep light source 101 may have a time zone in which the wavelength sweep operation becomes unstable even in the time zone in which light is emitted due to the wavelength sweep mechanism. That is, the temporal wavelength change of the light emitted from the wavelength swept light source 101 may deviate from the assumed wavelength change based on the configuration of the wavelength swept light source 101. When the wavelength sweep operation of the wavelength swept light source 101 is unstable, the wavelength and frequency of the k-clock signal 130 generated from the light emitted from the wavelength swept light source 101 are also unstable. For this reason, when the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109 during a time period in which the wavelength sweep operation is unstable, the range of the interference signal to be sampled is assumed due to the instability of the k-clock signal 130. It fluctuates from the signal range. For this reason, a tomographic image of the subject O based on the sampled interference signal may not be accurately formed.

従って、OCT装置100では、k−clock信号130が安定している、すなわち波長掃引光源101の波長掃引が安定している時間帯・波長帯の出射光をOCT動作による断層画像の形成に利用することが望まれる。ここで、波長掃引動作が安定する波長範囲を波長λv1からλv2とする。また、波長掃引光源101が波長λv1の光を出射する時間をTv1、波長λ2の光を出射する時間をTv2とすると、波長範囲λv1からλv2は時間帯210(時間帯Tv1からTv2)に対応する。この場合、OCT動作に利用される波長範囲λ3からλ4に対応する時間帯220(時間帯T3からT4)は、次の式2を満たすことが望まれる。
Tv1<=T3<T4<=Tv2 ・・・・ 式2
Therefore, in the OCT apparatus 100, the emitted light in the time band / wavelength band in which the k-clock signal 130 is stable, that is, the wavelength sweep of the wavelength swept light source 101 is stable, is used to form a tomographic image by the OCT operation. It is desirable. Here, the wavelength range in which the wavelength sweep operation is stable is defined as wavelengths λv1 to λv2. Further, assuming that the time when the wavelength swept light source 101 emits the light with the wavelength λv1 is Tv1, and the time when the light with the wavelength λ2 is emitted is Tv2, the wavelength range λv1 to λv2 corresponds to the time zone 210 (time zone Tv1 to Tv2). . In this case, it is desirable that the time zone 220 (time zones T3 to T4) corresponding to the wavelength range λ3 to λ4 used for the OCT operation satisfy the following Expression 2.
Tv1 <= T3 <T4 <= Tv2 Equation 2

なお、本明細書において、波長掃引光源101の波長掃引が安定しているとは、波長掃引光源101から出射される光の時間的な波長の変化が、波長掃引光源101の構成から想定される波長の変化に沿っていることをいう。   In the present specification, the wavelength sweep of the wavelength swept light source 101 is assumed to be stable from the configuration of the wavelength swept light source 101 in terms of the temporal wavelength change of the light emitted from the wavelength swept light source 101. It means following the change in wavelength.

また、波長掃引動作が不安定となる時間帯の出射光に基づいてA−scanトリガ120が生成された場合も、サンプリングのタイミングの基準が不安定になる。そのため、k−clock信号130が不安定な場合と同様に、サンプリングされる干渉信号の範囲が想定していた信号の範囲から変動してしまう。そのため、A−scanトリガ120を生成するための波長λ5の光が出射される時間T5も、次の式3を満たすことが望まれる。
Tv1<=T5<=Tv2 ・・・・ 式3
Also, when the A-scan trigger 120 is generated based on the emitted light in the time zone in which the wavelength sweep operation is unstable, the sampling timing reference becomes unstable. Therefore, as in the case where the k-clock signal 130 is unstable, the range of the interference signal to be sampled varies from the assumed signal range. Therefore, it is desirable that the time T5 at which the light with the wavelength λ5 for generating the A-scan trigger 120 is emitted also satisfies the following Expression 3.
Tv1 <= T5 <= Tv2 Equation 3

なお、波長掃引光源101の波長掃引動作が、波長掃引の開始から終了にかけてほぼ安定している場合には、Tv1=T1、Tv2=T2とみなすことができる。そのため、この場合には、時間帯T1からT2の間に波長掃引光源101から出射される光を、OCT動作に利用することができるとともに、A−scanトリガ120を生成することにも利用することができる。   When the wavelength sweep operation of the wavelength sweep light source 101 is almost stable from the start to the end of the wavelength sweep, it can be considered that Tv1 = T1 and Tv2 = T2. Therefore, in this case, the light emitted from the wavelength swept light source 101 during the time period T1 to T2 can be used for the OCT operation and also used to generate the A-scan trigger 120. Can do.

また、波長λ5の戻り光が、OCT動作の後続のA−scanに利用する波長範囲の光を出射する時間帯220に光源に戻ってくると、当該後続のOCT動作のA−scanに対して、戻り光の影響による断層画像へのノイズが生じてしまう。ここで、波長掃引の繰り返し周期、すなわち、波長掃引光源101が波長λ1の光を出射し、後続の波長掃引動作において、再び波長λ1の光を出射するまでの波長掃引の周期をTとする。また、後続の波長掃引が開始される波長をλ1’とし、後続の波長掃引において安定した波長掃引が開始される波長をλv1’とする。さらに、波長掃引光源101が波長λ1’の光を出射する時間をT1’、波長λv1’の光を出射する時間をTv1’とする。この場合、波長掃引光源101から出射された光がFBG103によって反射され波長掃引光源101まで戻ってくる時間2D/cは、次の式4を満たすことが望まれる。
2D/c<T−(T5−T1)+(Tv1’−T1’) ・・・・ 式4
Further, when the return light of wavelength λ5 returns to the light source in the time zone 220 for emitting light in the wavelength range used for the subsequent A-scan of the OCT operation, the return light for the subsequent OCT operation of the A-scan , Noise in the tomographic image due to the influence of the return light occurs. Here, it is assumed that T is the repetition period of the wavelength sweep, that is, the period of the wavelength sweep until the wavelength sweep light source 101 emits light of wavelength λ1, and in the subsequent wavelength sweep operation, the light of wavelength λ1 is emitted again. Further, the wavelength at which the subsequent wavelength sweep is started is λ1 ′, and the wavelength at which the stable wavelength sweep is started in the subsequent wavelength sweep is λv1 ′. Further, the time for the wavelength swept light source 101 to emit light with wavelength λ1 ′ is T1 ′, and the time for the light with wavelength λv1 ′ to be emitted is Tv1 ′. In this case, it is desirable that the time 2D / c during which the light emitted from the wavelength swept light source 101 is reflected by the FBG 103 and returns to the wavelength swept light source 101 satisfies the following Expression 4.
2D / c <T− (T5−T1) + (Tv1′−T1 ′) Equation 4

ここで、波長掃引光源101による波長掃引動作の時間間隔Tv1’−T1’は、時間間隔Tv1−T1に等しいので、時間間隔Tv1’−T1’は時間間隔Tv1−T1とみなすこともできる。従って、時間2D/cは次の式5を満たすことが望まれる。
2D/c<T−(T5−Tv1) ・・・・ 式5
Here, since the time interval Tv1′-T1 ′ of the wavelength sweep operation by the wavelength sweep light source 101 is equal to the time interval Tv1-T1, the time interval Tv1′-T1 ′ can also be regarded as the time interval Tv1-T1. Therefore, it is desirable that the time 2D / c satisfies the following formula 5.
2D / c <T− (T5−Tv1) (5)

上記式1乃至5から、波長掃引動作が不安定となる時間帯及びOCT動作の後続のA−scanを考慮した場合には、OCT装置100は次の式6に示す関係を満たすことが望まれる。
ΔT<2D/c<T−(T5−Tv1) ・・・・ 式6
From the above formulas 1 to 5, it is desirable that the OCT apparatus 100 satisfy the relationship represented by the following formula 6 in consideration of the time zone in which the wavelength sweep operation is unstable and the subsequent A-scan of the OCT operation. .
ΔT <2D / c <T− (T5−Tv1) Equation 6

式6に示す関係を満たす場合には、波長掃引動作が不安定となる時間帯及びOCT動作の後続のA−scanを考慮した、OCT装置100を構成することができる。すなわち、この場合には、式6に示す関係を満たすように、波長掃引光源101とFBG103との光路長と、波長掃引光源101の波長掃引範囲(OCT動作に利用する波長範囲)及び波長掃引にかかる時間と、FBG103の反射帯域との関係を調整する。これにより、OCT100は、光サーキュレータなどのコストアップに繋がる光学部材を用いることなく、FBG103からの反射光に起因したノイズが重畳した光をOCT動作に用いることを防ぎ、より安定した精細な断層画像を得ることができる。   When the relationship shown in Expression 6 is satisfied, the OCT apparatus 100 can be configured in consideration of the time zone in which the wavelength sweep operation becomes unstable and the subsequent A-scan of the OCT operation. That is, in this case, the optical path length between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103, the wavelength sweep range of the wavelength swept light source 101 (wavelength range used for the OCT operation), and the wavelength sweep are set so as to satisfy the relationship shown in Expression 6. The relationship between the time and the reflection band of the FBG 103 is adjusted. As a result, the OCT 100 prevents the use of light superimposed with noise caused by the reflected light from the FBG 103 in the OCT operation without using an optical member such as an optical circulator, which leads to an increase in cost. Can be obtained.

なお、波長掃引光源101の波長掃引動作が、波長掃引の開始から終了にかけてほぼ安定している場合には、Tv1=T1とみなすことができるため、次の式7を満たすような場合でも、同様の作用を果たすことができる。
ΔT<2D/c<T−(T5−T1) ・・・・ 式7
In addition, when the wavelength sweep operation of the wavelength sweep light source 101 is almost stable from the start to the end of the wavelength sweep, it can be regarded as Tv1 = T1. It is possible to fulfill the function.
ΔT <2D / c <T− (T5−T1) Equation 7

上記のように、本実施形態によるOCT装置100は、第1の波長λ1から第2の波長λ2までの波長範囲において、出射する光の波長を掃引する波長掃引光源101を備える。また、OCT装置100は、被検体Oに波長掃引光源101からの光を照射する検査光路1041と、参照光路1042と、検査光路1041及び参照光路1042からの光を干渉させる干渉部1043とを備える。当該光の干渉は、波長掃引光源101から出射された、第1の波長λ1から第2の波長λ2までの波長範囲における第3の波長λ3から第4の波長λ4までの波長範囲の光を用いて行われる。さらに、OCT装置100は、干渉させた光に基づいて生成される干渉信号から被検体Oの情報を取得する演算処理装置109と、第1の波長λ1から第2の波長λ2までの波長範囲における第5の波長λ5を有する光を反射するFBG103を備える。これに加え、OCT装置100は、波長掃引光源101からの光を干渉部1043に入射する光とFBG103に入射する光に分割する分割部102を備える。またさらに、OCT装置100は、FBG103からの反射光を検出し、検出した反射光に基づいてA−scanトリガ120を生成する検出部を備える。演算処理装置109は、A−scanトリガ120に基づいて、干渉信号から被検体Oの情報を取得する。ここで、波長掃引光源101が第4の波長λ4の光を出射する時間をT4とし、第5の波長λ5の光を出射する時間をT5とし、光速をcとし、波長掃引光源101とFBG103を結ぶ光路の光路長Dとする。この場合、光路長Dが式1の関係を満たす。   As described above, the OCT apparatus 100 according to the present embodiment includes the wavelength swept light source 101 that sweeps the wavelength of the emitted light in the wavelength range from the first wavelength λ1 to the second wavelength λ2. The OCT apparatus 100 further includes an inspection optical path 1041 that irradiates the subject O with light from the wavelength swept light source 101, a reference optical path 1042, and an interference unit 1043 that interferes with light from the inspection optical path 1041 and the reference optical path 1042. . The light interference uses light in the wavelength range from the third wavelength λ3 to the fourth wavelength λ4 in the wavelength range from the first wavelength λ1 to the second wavelength λ2 emitted from the wavelength swept light source 101. Done. Further, the OCT apparatus 100 includes an arithmetic processing unit 109 that acquires information on the subject O from an interference signal generated based on the interfered light, and a wavelength range from the first wavelength λ1 to the second wavelength λ2. An FBG 103 that reflects light having the fifth wavelength λ5 is provided. In addition, the OCT apparatus 100 includes a dividing unit 102 that divides the light from the wavelength swept light source 101 into light incident on the interference unit 1043 and light incident on the FBG 103. Furthermore, the OCT apparatus 100 includes a detection unit that detects reflected light from the FBG 103 and generates an A-scan trigger 120 based on the detected reflected light. The arithmetic processing device 109 acquires information on the subject O from the interference signal based on the A-scan trigger 120. Here, the time when the wavelength swept light source 101 emits the light with the fourth wavelength λ4 is T4, the time when the light with the fifth wavelength λ5 is emitted is T5, the speed of light is c, and the wavelength swept light source 101 and the FBG 103 are The optical path length D of the optical path to be connected is assumed. In this case, the optical path length D satisfies the relationship of Equation 1.

このような構成により、OCT装置100では、光サーキュレータなどのコストアップに繋がる光学部材を用いることなく、FBG103からの反射光に起因したノイズが重畳した光をOCT動作に用いることを防ぎ、精細な断層画像を得ることができる。   With such a configuration, in the OCT apparatus 100, it is possible to prevent the use of light superimposed with noise caused by reflected light from the FBG 103 in the OCT operation without using an optical member such as an optical circulator, which leads to an increase in cost. A tomographic image can be obtained.

光路長Dが式1の関係を満たすためには、波長掃引光源101とFBG103との光路長Dと、波長掃引光源101の波長掃引範囲(OCT動作に利用する波長範囲)及び波長掃引にかかる時間と、FBG103の反射帯域との関係を調整することができる。この点に関し、これらの関係は、他の要素を予め決めておき、光路長Dを調整してもよいし、波長掃引光源101の波長掃引範囲や波長掃引に係る時間を調整してもよいし、FBG103(波長フィルタ)の反射帯域を調整してもよい。   In order for the optical path length D to satisfy the relationship of Formula 1, the optical path length D between the wavelength sweep light source 101 and the FBG 103, the wavelength sweep range (wavelength range used for OCT operation) of the wavelength sweep light source 101, and the time required for wavelength sweep And the reflection band of the FBG 103 can be adjusted. With respect to this point, these relationships may be determined in advance by adjusting other optical elements, the wavelength path D may be adjusted, or the wavelength sweep range of the wavelength sweep light source 101 and the wavelength sweep time may be adjusted. , The reflection band of the FBG 103 (wavelength filter) may be adjusted.

本実施形態によるOCT装置100では、時間T5からFBG103で反射された第5の波長λを有する光の一部が波長掃引光源101に戻ってくる時間までの時間間隔が、時間T4から時間T5までの時間間隔よりも長くなる。すなわち、波長掃引光源101がOCT動作に利用する波長範囲の光を出射し終えた後に、FBG103で反射された第5の波長λ5を有する光が波長掃引光源101に戻る。従って、OCT動作に利用する波長範囲の光はFBG103で反射された光の影響を受けることがない。   In the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the time interval from the time T5 to the time when a part of the light having the fifth wavelength λ reflected by the FBG 103 returns to the wavelength swept light source 101 is from time T4 to time T5. Longer than the time interval. That is, after the wavelength swept light source 101 finishes emitting light in the wavelength range used for the OCT operation, the light having the fifth wavelength λ5 reflected by the FBG 103 returns to the wavelength swept light source 101. Therefore, the light in the wavelength range used for the OCT operation is not affected by the light reflected by the FBG 103.

また、第1の波長λ1から第2の波長λ2までの波長範囲において、波長掃引光源101が安定して波長掃引を行う波長範囲を第6の波長λv1から第7の波長λv2とする。また、波長掃引光源101が第6の波長λv1の光を出射する時間をTv1とし、第7の波長λv2の光を出射する時間をTv2とする。このとき、式1〜6を満たすように、波長掃引光源101とFBG103との光路長と、波長掃引光源101の波長掃引範囲及び波長掃引にかかる時間と、FBG103の反射帯域との関係を調整する。これにより、波長掃引動作が不安定となる時間帯や、OCTの次のA−scanを考慮した、OCT装置100を構成することができる。   In the wavelength range from the first wavelength λ1 to the second wavelength λ2, the wavelength range in which the wavelength swept light source 101 stably performs the wavelength sweep is defined as the sixth wavelength λv1 to the seventh wavelength λv2. Further, a time for the wavelength swept light source 101 to emit the light with the sixth wavelength λv1 is Tv1, and a time for the light with the seventh wavelength λv2 to be emitted is Tv2. At this time, the relationship between the optical path length between the wavelength sweep light source 101 and the FBG 103, the wavelength sweep range of the wavelength sweep light source 101, the time taken for the wavelength sweep, and the reflection band of the FBG 103 is adjusted so as to satisfy the expressions 1 to 6. . As a result, the OCT apparatus 100 can be configured in consideration of the time zone in which the wavelength sweep operation becomes unstable and the A-scan next to OCT.

[実施例1]
以下、図1及び図3を用いて、A−scanトリガを用いて断層画像の形成を行う、上記実施形態によるOCT装置100の実施例を説明する。なお、本実施例によるOCT装置の各構成要素は、上記実施形態のものと同様のものであるため、同じ参照符号を用いて説明する。
[Example 1]
Hereinafter, an example of the OCT apparatus 100 according to the above embodiment that forms a tomographic image using an A-scan trigger will be described with reference to FIGS. 1 and 3. In addition, since each component of the OCT apparatus by a present Example is the same as that of the said embodiment, it demonstrates using the same referential mark.

図3は、本実施例の波長掃引光源101からの出射光の光強度と時間の相関及び光周波数と時間の相関を示す。また、図3は、A−scanトリガ120、FBG103から波長掃引光源101に戻る戻り光(A−scanトリガ戻り光)及びk−clock信号130のタイミングチャートを示す。さらに、図3は、波長掃引光源101からの出射光に基づくOCT干渉信号の信号強度と時間の相関を示す。なお、図3の出射光の光強度と時間の相関に関して、戻り光の影響301がない場合の各相関を2点鎖線で示す。また、光周波数と時間の相関に関しては、OCT干渉信号の生成に用いられる波長範囲の相関を実線で表し、OCT干渉信号の生成に用いられない波長範囲の相関を2点鎖線で占めしている。さらに、干渉信号と時間の相関に関して、戻り光の影響321がない場合の相関を2点鎖線で示す。   FIG. 3 shows the correlation between the light intensity of the emitted light from the wavelength swept light source 101 of this embodiment and time, and the correlation between the optical frequency and time. FIG. 3 shows a timing chart of the return light (A-scan trigger return light) returning from the A-scan trigger 120 and the FBG 103 to the wavelength sweep light source 101 and the k-clock signal 130. Further, FIG. 3 shows the correlation between the signal intensity of the OCT interference signal based on the light emitted from the wavelength swept light source 101 and time. In addition, regarding the correlation between the light intensity of the emitted light and time in FIG. Regarding the correlation between optical frequency and time, the correlation of the wavelength range used for generating the OCT interference signal is represented by a solid line, and the correlation of the wavelength range not used for generating the OCT interference signal is occupied by a two-dot chain line. . Further, regarding the correlation between the interference signal and the time, the correlation when there is no influence 321 of the return light is indicated by a two-dot chain line.

本実施例では、波長掃引光源101として、出射する光の波長を短波長から長波長にかけて掃引する光源であって、波長範囲1000nmから1100nmまで安定して掃引することができる光源を用いる。   In this embodiment, as the wavelength sweep light source 101, a light source that sweeps the wavelength of emitted light from a short wavelength to a long wavelength and that can stably sweep from a wavelength range of 1000 nm to 1100 nm is used.

なお、SS−OCT装置の分野では、OCT動作によって得られる断層画像の分解能は、OCT動作に利用する光の波長帯域幅に応じて向上し、より広い波長帯域幅の光をOCT動作に用いることで断層画像の分解能が向上することが知られている。そのため、本実施例によるOCT装置100は、できる限り広い波長帯域幅の光をOCT動作に利用できるように、OCT動作に利用する光の波長範囲を、波長掃引光源の波長掃引動作が安定している波長範囲1000nmから1100nmとする。すなわち、本実施例では、OCT動作に利用する光の波長範囲λ3からλ4を、波長掃引動作が安定する波長範囲λv1(1000nm)からλv2(1100nm)としている。また、このことから、波長掃引光源101が波長λ3の光を出射する時間T3は波長λv1の光を出射する時間Tv1と等しく、波長λ4を出射する時間T4は波長λv2を出射する時間Tv2と等しい。   In the field of the SS-OCT apparatus, the resolution of the tomographic image obtained by the OCT operation is improved according to the wavelength bandwidth of light used for the OCT operation, and light having a wider wavelength bandwidth is used for the OCT operation. It is known that the resolution of tomographic images is improved. Therefore, the OCT apparatus 100 according to the present embodiment stabilizes the wavelength sweep operation of the wavelength sweep light source in the wavelength range of the light used for the OCT operation so that the light having the widest possible wavelength bandwidth can be used for the OCT operation. The wavelength range of 1000 nm to 1100 nm. That is, in this embodiment, the wavelength range λ3 to λ4 of light used for the OCT operation is set to the wavelength range λv1 (1000 nm) to λv2 (1100 nm) in which the wavelength sweep operation is stable. Also, from this, the time T3 for the wavelength swept light source 101 to emit the light of wavelength λ3 is equal to the time Tv1 to emit the light of wavelength λv1, and the time T4 to emit the wavelength λ4 is equal to time Tv2 to emit the wavelength λv2. .

そのため、本実施例によるOCT装置100においては、OCT動作に利用する光の波長範囲は1000nmから1100nmである。また、波長掃引光源101は、出射する光の波長を波長範囲1000nmから1100nmまで4.0μsecかけて掃引する。一般的な波長可変光源(波長掃引光源)での波長掃引では、波長と時間に非線形な相関を有していることが多く、本実施例でも時間と波長変化量が2次関数の形で相関がある光源を用いる。   Therefore, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the wavelength range of light used for the OCT operation is 1000 nm to 1100 nm. The wavelength sweep light source 101 sweeps the wavelength of the emitted light from the wavelength range of 1000 nm to 1100 nm over 4.0 μsec. Wavelength sweep with a general wavelength tunable light source (wavelength swept light source) often has a nonlinear correlation between wavelength and time, and in this embodiment also time and wavelength change are correlated in the form of a quadratic function. Use a light source.

また、FBG103として、反射帯域中心1098nm、帯域幅0.3nm、反射率95%の特性を有するFBGを用いる。すなわち、本実施例では、FBG103の反射波長帯域の中心波長λ5は、1098nmである。また、波長掃引光源101は、出射する光の波長を波長範囲1000nmから1098nmまで約3.83μsecかけて掃引する。   Further, as the FBG 103, an FBG having characteristics of a reflection band center of 1098 nm, a bandwidth of 0.3 nm, and a reflectance of 95% is used. That is, in this embodiment, the center wavelength λ5 of the reflection wavelength band of the FBG 103 is 1098 nm. The wavelength sweep light source 101 sweeps the wavelength of the emitted light from the wavelength range of 1000 nm to 1098 nm over about 3.83 μsec.

ここで、T1を基準時間(0μsec)とすると、波長掃引光源101及びFBG103の構成から、式1に用いるT4は4.0μsec、T5は3.83μsecであり、ΔTは0.17μsecとなる。従って、式1から、波長掃引光源101とFBG103との間の必要な光路長Dは25.5m以上になる。そのため、本実施例では、波長掃引光源101とFBG103との光路長を30mとする。   Here, assuming that T1 is a reference time (0 μsec), T4 used in Equation 1 is 4.0 μsec, T5 is 3.83 μsec, and ΔT is 0.17 μsec from the configuration of the wavelength swept light source 101 and the FBG 103. Therefore, from Equation 1, the required optical path length D between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103 is 25.5 m or more. Therefore, in this embodiment, the optical path length between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103 is 30 m.

具体的には、図1に示したようなOCT装置100の構成において、波長掃引光源101から出射した光は、屈折率1.45、長さ18mの光ファイバ106を通り分割部102に導かれる。分割部102に導かれた光は、分割部102から、屈折率1.45、長さ約2.7mの光ファイバを介してFBG103に導かれる。この構成により、波長掃引光源101からおおよそ光路長30m離れた位置にFBG103が配置されたことになる。   Specifically, in the configuration of the OCT apparatus 100 as shown in FIG. 1, the light emitted from the wavelength swept light source 101 is guided to the dividing unit 102 through the optical fiber 106 having a refractive index of 1.45 and a length of 18 m. . The light guided to the dividing unit 102 is guided from the dividing unit 102 to the FBG 103 via an optical fiber having a refractive index of 1.45 and a length of about 2.7 m. With this configuration, the FBG 103 is disposed at a position approximately 30 m away from the wavelength swept light source 101.

この場合、波長掃引光源101から出射された後、FBG103によって反射されて波長掃引光源101に戻る光は、波長掃引光源101とFBG103の間の光路長D(30m)を往復するため、T5から約0.20μsec後に波長掃引光源101に戻る。   In this case, light emitted from the wavelength swept light source 101, reflected by the FBG 103, and returned to the wavelength swept light source 101 reciprocates in the optical path length D (30 m) between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103, and therefore is approximately from T5. After 0.20 μsec, return to the wavelength swept light source 101.

ここで、図3に示すように、本実施例のOCT装置100においては、T5から0.17μsec後のT4には、OCT動作に利用する波長範囲λ3〜λ4の光の出射が終了している。そのため、FBG103によって反射された戻り光が波長掃引光源101に戻り、波長掃引光源101の出射光が戻り光の影響301を受けたとしても、その出射光はOCT動作には利用されない。従って、本実施例によるOCT装置100では、コストアップに繋がる光サーキュレータ等の光学部材を用いることなく、安価な構成で光学的に生成した安定的なA−scanトリガ120を用いてOCT干渉信号を取得することができる。   Here, as shown in FIG. 3, in the OCT apparatus 100 of the present embodiment, the emission of light in the wavelength range λ3 to λ4 used for the OCT operation is completed at T4 after 0.17 μsec from T5. . Therefore, even if the return light reflected by the FBG 103 returns to the wavelength swept light source 101 and the emitted light from the wavelength swept light source 101 is affected by the return light 301, the emitted light is not used for the OCT operation. Therefore, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, an OCT interference signal is generated using a stable A-scan trigger 120 that is optically generated with an inexpensive configuration without using an optical member such as an optical circulator that leads to an increase in cost. Can be acquired.

また、本実施例によるOCT装置100では、OCT動作に用いられる光が出射される時間帯T3からT4は、波長掃引光源101の波長掃引動作が安定している時間帯Tv1からTv2と等しい。さらに、図3の出射光の光強度と時間の相関からも理解されるように、戻り光による影響は後続のA−scan動作よりも前に現れている。従って、本実施例によるOCT装置100は、式1〜6を満たす構成を有している。そのため、OCT装置100は、光サーキュレータなどのコストアップに繋がる光学部材を用いることなく、FBG103からの反射光に起因したノイズが重畳した光をOCT動作に用いることを防ぎ、より安定した精細な断層画像を得ることができる。   In the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the time periods T3 to T4 in which light used for the OCT operation is emitted are equal to the time periods Tv1 to Tv2 in which the wavelength sweep operation of the wavelength sweep light source 101 is stable. Furthermore, as can be understood from the correlation between the light intensity of the emitted light and the time in FIG. 3, the influence of the return light appears before the subsequent A-scan operation. Therefore, the OCT apparatus 100 according to the present embodiment has a configuration that satisfies Expressions 1 to 6. Therefore, the OCT apparatus 100 prevents the use of light superimposed with noise caused by the reflected light from the FBG 103 in the OCT operation without using an optical member such as an optical circulator, which leads to an increase in cost. An image can be obtained.

また、A−scanトリガ120を生成するための光は、FBG103によって反射され分割部102を通った後、約2mの光ファイバ107を通りフォトディテクタ105に導かれる。フォトディテクタ105は、導かれた光を検出し、検出した光に基づいて電気信号を生成する。生成された電気信号が不図示のパルス整形回路などを経ることで、A−scanトリガ120が生成される。生成されたA−scanトリガ120は、演算処理装置109に入力される。ここで、A−scanトリガ120は、A−scanトリガ120を生成するための光を出射した時間T5から、約110nsecをかけて演算処理装置109に到達する。   The light for generating the A-scan trigger 120 is reflected by the FBG 103, passes through the dividing unit 102, and then is guided to the photodetector 105 through the optical fiber 107 of about 2 m. The photodetector 105 detects the guided light and generates an electrical signal based on the detected light. The A-scan trigger 120 is generated when the generated electrical signal passes through a pulse shaping circuit (not shown) or the like. The generated A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109. Here, the A-scan trigger 120 reaches the arithmetic processing unit 109 in about 110 nsec from the time T5 when the light for generating the A-scan trigger 120 is emitted.

波長掃引光源101から出射され、分割部102を通ったもう一方の光は、OCT干渉計104に導かれる。OCT干渉計104を通過する光路長は、分割部102の直後からおおよそ5mである。そのため、波長掃引光源101から出射した光は、検出器108に到達するのに、波長掃引光源101から分割部102までの光路長約26m、OCT干渉計104の光路長約5mを合わせて31mの光路をたどり、約100nsecかかる。その後、検出器108によって電気信号に変換されOCT干渉信号として演算処理装置109に入力される。なお、当該変換及び演算処理装置109への入力にも時間がかかることから、波長掃引光源101から出射された光がOCT干渉信号として演算処理装置109に入力されるまでには、約110nsecかかる。   The other light emitted from the wavelength swept light source 101 and passed through the dividing unit 102 is guided to the OCT interferometer 104. The optical path length passing through the OCT interferometer 104 is approximately 5 m immediately after the dividing unit 102. Therefore, the light emitted from the wavelength swept light source 101 reaches the detector 108, and the total optical path length from the wavelength swept light source 101 to the dividing unit 102 is about 26 m and the optical path length of the OCT interferometer 104 is about 5 m. Following the optical path, it takes about 100 nsec. Thereafter, it is converted into an electrical signal by the detector 108 and input to the arithmetic processing unit 109 as an OCT interference signal. Since it takes time to input the conversion and arithmetic processing unit 109, it takes about 110 nsec until the light emitted from the wavelength swept light source 101 is input to the arithmetic processing unit 109 as an OCT interference signal.

波長掃引光源101から出力されるk−clock信号130も演算処理装置109に入力される。OCT装置100は、このk−clock信号130をサンプリングクロックとして利用し、OCT干渉信号を取得する。なお、k−clock信号130は、OCT干渉計104から演算処理装置109に入力されるOCT干渉信号と同期するように、任意の遅延回路等を用いて電気的に遅延させて演算処理装置109に入力される。このため、或る時間に波長掃引光源101から出射された光に基づくOCT干渉信号とk−clock信号は同時に演算処理装置109に入力される。   The k-clock signal 130 output from the wavelength swept light source 101 is also input to the arithmetic processing unit 109. The OCT apparatus 100 uses the k-clock signal 130 as a sampling clock to acquire an OCT interference signal. Note that the k-clock signal 130 is electrically delayed using an arbitrary delay circuit or the like so as to be synchronized with the OCT interference signal input from the OCT interferometer 104 to the arithmetic processing unit 109, and then transmitted to the arithmetic processing unit 109. Entered. For this reason, the OCT interference signal and the k-clock signal based on the light emitted from the wavelength sweep light source 101 at a certain time are simultaneously input to the arithmetic processing unit 109.

ここで、OCT干渉信号とA−scanトリガ120のそれぞれが演算処理装置109に入力される際の時間の関係については、光が電気信号に変換される時間として両者とも同じ時間がかかるとする。そうすると、上記のように、OCT干渉信号及びA−scanトリガ120を生成するための光が出射されてから、OCT干渉信号及びA−scan信号が演算処理装置109に入力されるまで、同じ時間がかかるとみなすことができる。なお、これらが同期して演算処理装置109に入力されるように、いずれかの信号を任意の遅延回路等を用いて電気的に遅延させることもできる。   Here, regarding the time relationship when each of the OCT interference signal and the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109, it is assumed that both take the same time as the time for converting the light into the electric signal. Then, as described above, the same time is required from when the light for generating the OCT interference signal and the A-scan trigger 120 is emitted until the OCT interference signal and the A-scan signal are input to the arithmetic processing unit 109. It can be regarded as such. Note that any of the signals can be electrically delayed using an arbitrary delay circuit or the like so that they are input to the arithmetic processing unit 109 in synchronization.

そのため、図3に示すように、本実施例によるOCT装置100では、OCT干渉信号を取得するべき時間帯320(T3+110nsecからT4+110nsec)の中で、A−scanトリガ120が演算処理装置109に入力されることになる。なお、図3において、A−scanトリガ120、k−clock信号130及び干渉信号のタイミングチャートは、それぞれの信号が演算処理装置109に入力される際のタイミングを示している。   Therefore, as shown in FIG. 3, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109 in the time slot 320 (T3 + 110 nsec to T4 + 110 nsec) in which the OCT interference signal should be acquired. Will be. In FIG. 3, the timing chart of the A-scan trigger 120, the k-clock signal 130, and the interference signal indicates the timing when each signal is input to the arithmetic processing unit 109.

次に、図3を参照して、本実施例によるOCT装置100において、A−scanトリガ120をOCT干渉信号のサンプリングタイミングの基準として用いて、断層画像を形成する動作について説明する。なお、図3のk−clock信号のタイミングチャートには、波長掃引光源101が安定的に波長掃引を行うことができる時間帯(T3〜T4)に出射された光に基づくk−clock信号130が、演算処理装置109に入力される時間帯310が示されている。また、時間帯310内におけるk−clock信号130に付された点は、当該点が付されたk−clock信号130が断層画像の形成に用いられるデータのサンプリングクロックとしてのk−clock信号130であることを示す。図3の干渉信号のタイミングチャートには、OCT干渉信号を取得するべき時間帯320、すなわち、OCT動作に利用される干渉信号が演算処理装置109に入力される時間帯320が示されている。   Next, an operation for forming a tomographic image using the A-scan trigger 120 as a reference for the sampling timing of the OCT interference signal in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. In the timing chart of the k-clock signal in FIG. 3, the k-clock signal 130 based on the light emitted in the time period (T3 to T4) in which the wavelength sweep light source 101 can stably perform the wavelength sweep is shown. A time zone 310 input to the arithmetic processing unit 109 is shown. Further, a point added to the k-clock signal 130 in the time zone 310 is a k-clock signal 130 as a sampling clock for data used for forming a tomographic image. It shows that there is. The interference signal timing chart of FIG. 3 shows a time zone 320 in which the OCT interference signal is to be acquired, that is, a time zone 320 in which the interference signal used for the OCT operation is input to the arithmetic processing unit 109.

図3に示すように、A−scanトリガ120は、OCT動作に利用される干渉信号が演算処理装置109に入力される時間帯320の終了間際に演算処理装置109に入力される。そのため、演算処理装置109では、A−scanトリガ120が入力されてから、時間を遡ってデータ取得を行う。   As shown in FIG. 3, the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109 just before the end of the time zone 320 in which the interference signal used for the OCT operation is input to the arithmetic processing unit 109. Therefore, in the arithmetic processing unit 109, after the A-scan trigger 120 is input, data is acquired retroactively.

そのために、本実施例によるOCT装置100では、k−clock信号130をサンプリングクロックとして利用してOCT干渉信号のサンプリングを行い、不図示のメモリに当該サンプリングしたデータを記憶する。そして、A−scanトリガ120が演算処理装置109に入力されたタイミングを基準として、当該タイミングから数えて所定のクロック数だけ、当該タイミングより前のデータを取得するプリトリガサンプリングを行う。図3においては、プリトリガサンプリングを行う時間帯311が示されており、当該時間帯311には6つのk−clock信号130が示されている。なお、本実施例においては、6つのk−clock信号130分だけプリトリガサンプリングを行うとしているが、プリトリガサンプリングを行うk−clockの数はOCT装置100の構成に従って、任意の数とすることができる。   For this purpose, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the OCT interference signal is sampled using the k-clock signal 130 as a sampling clock, and the sampled data is stored in a memory (not shown). Then, with reference to the timing at which the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109, pre-trigger sampling is performed to acquire data before the timing by a predetermined number of clocks counted from the timing. In FIG. 3, a time zone 311 for performing pre-trigger sampling is shown, and six k-clock signals 130 are shown in the time zone 311. In this embodiment, pre-trigger sampling is performed for six k-clock signals 130, but the number of k-clocks for which pre-trigger sampling is performed can be any number according to the configuration of the OCT apparatus 100. .

プリトリガサンプリングによるデータの取得は、メモリに記憶されたデータを読み出すことで行われることができる。なお、所定のクロック数だけ前のデータを読み出す際の、データの識別に関しては任意の方法によって行うことができる。例えば、データを記憶する際に番号を関連付けて記憶し、当該番号に基づいてA−scanトリガ120の入力されたタイミングから所定の数の前のサンプリングデータを読み出すことができる。また、スタックを用いて、メモリに記憶したデータを管理し、適宜読み出す構成としてもよい。   Data acquisition by pre-trigger sampling can be performed by reading data stored in a memory. Note that the data can be identified by an arbitrary method when data is read by a predetermined number of clocks. For example, when storing data, a number is associated and stored, and a predetermined number of previous sampling data can be read from the input timing of the A-scan trigger 120 based on the number. In addition, the data stored in the memory may be managed using a stack, and may be appropriately read.

また、本実施例によるOCT装置100では、A−scanトリガ120が演算処理装置109に入力された後で、且つ時間帯320の終了までの間にも、k−clock信号130が演算処理装置109に入力される。そのため、OCT装置100では、A−scanトリガ120が演算処理装置109に入力されたタイミングを基準として、当該タイミングから数えて所定のクロック数だけ、当該タイミングより後のデータを取得するポストトリガサンプリングも行う。ポストトリガサンプリングによるデータの取得は、A−scanトリガ120が入力された後に、入力されたk−clock信号130に基づいて、一般的なサンプリングと同様の方法で行われることができる。また、プリトリガサンプリングと同様に、一度不図示のメモリに記憶した後読み出すことでポストトリガサンプリングを行ってもよい。   Further, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, after the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109 and before the end of the time zone 320, the k-clock signal 130 is output from the arithmetic processing unit 109. Is input. For this reason, the OCT apparatus 100 also performs post-trigger sampling for acquiring data after a predetermined number of clocks counted from the timing based on the timing at which the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109. Do. Data acquisition by post-trigger sampling can be performed in the same manner as general sampling based on the input k-clock signal 130 after the A-scan trigger 120 is input. Similarly to the pre-trigger sampling, the post-trigger sampling may be performed by reading the data after storing it in a memory (not shown).

図3においては、ポストトリガサンプリングを行う時間帯312が示されており、当該時間帯312には2つのk−clock信号130が示されている。なお、本実施例においては、2つのk−clock信号130分だけポストトリガサンプリングを行うとしているが、ポストトリガサンプリングを行うk−clockの数はOCT装置100の構成に従って、任意の数とすることができる。   In FIG. 3, a time zone 312 in which post-trigger sampling is performed is shown, and two k-clock signals 130 are shown in the time zone 312. In this embodiment, post-trigger sampling is performed for two k-clock signals 130, but the number of k-clocks for which post-trigger sampling is performed should be an arbitrary number according to the configuration of the OCT apparatus 100. Can do.

本実施例によるOCT装置100では、このようにプリトリガサンプリングとポストトリガサンプリングを行って取得したデータにフーリエ変換等の信号処理を行い、被検体Oの断層画像を生成することができる。   In the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, it is possible to generate a tomographic image of the subject O by performing signal processing such as Fourier transform on the data obtained by performing pre-trigger sampling and post-trigger sampling in this way.

上記のように、本実施例によるOCT装置100では、第5の波長λ5が、第3の波長λ3から第4の波長λ4までの波長範囲の間に設定される。この場合でも、式1を満たすようにOCT装置100を構成することで、上記実施形態と同様の作用を果たすことができる。   As described above, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the fifth wavelength λ5 is set within the wavelength range from the third wavelength λ3 to the fourth wavelength λ4. Even in this case, by configuring the OCT apparatus 100 so as to satisfy Formula 1, the same operation as in the above embodiment can be achieved.

また、演算処理装置109は、A−scanトリガ120が演算処理装置109に入力された時間を基準として、該入力された時間から数えて所定の数だけの、該入力された時間より前のサンプリングクロックに応じてOCT干渉信号をサンプリングする。これとともに、演算処理装置109は、A−scanトリガ120が演算処理装置109に入力された時間を基準として、該入力された時間から数えて所定の数だけの、該入力された時間より後のサンプリングクロックに応じて前記干渉信号をサンプリングする。これによって、演算処理装置109は、干渉信号から被検体Oの情報を取得し、被検体Oの断層画像を形成することができる。   In addition, the arithmetic processing unit 109 uses the time when the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109 as a reference, and samples a predetermined number of times before the input time counted from the input time. The OCT interference signal is sampled according to the clock. At the same time, the arithmetic processing unit 109 uses the time when the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109 as a reference, and counts from the input time by a predetermined number after the input time. The interference signal is sampled according to a sampling clock. As a result, the arithmetic processing unit 109 can acquire information on the subject O from the interference signal and form a tomographic image of the subject O.

[実施例2]
次に、図1及び図4を参照して実施例2によるOCT装置100について説明する。なお、本実施例によるOCT装置の各構成要素は、上記実施形態のものと同様のものであるため、同じ参照符号を用いて説明する。
[Example 2]
Next, the OCT apparatus 100 according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 4. In addition, since each component of the OCT apparatus by a present Example is the same as that of the said embodiment, it demonstrates using the same referential mark.

図4は、図3と同様の図である。すなわち、図4は、本実施例の波長掃引光源101からの出射光の光強度と時間の相関及び光周波数と時間の相関を示す。また、図4は、A−scanトリガ120、FBG103から波長掃引光源101に戻る戻り光(A−scanトリガ戻り光)及びk−clock信号130のタイミングチャートを示す。さらに、図4は、波長掃引光源101からの出射光に基づくOCT干渉信号の信号強度と時間の相関を示す。なお、波長掃引光源101からの出射光の光強度と時間の相関において戻り光の影響401を示し、OCT干渉信号の信号強度と時間の相関において戻り光の影響421を示している。   FIG. 4 is a view similar to FIG. That is, FIG. 4 shows the correlation between the light intensity of the emitted light from the wavelength swept light source 101 of this embodiment and time, and the correlation between the optical frequency and time. FIG. 4 shows a timing chart of the return light (A-scan trigger return light) returning from the A-scan trigger 120 and the FBG 103 to the wavelength sweep light source 101 and the k-clock signal 130. Further, FIG. 4 shows the correlation between the signal intensity of the OCT interference signal based on the light emitted from the wavelength swept light source 101 and time. Note that the influence 401 of the return light is shown in the correlation between the light intensity of the emitted light from the wavelength swept light source 101 and time, and the influence 421 of the return light is shown in the correlation between the signal intensity of the OCT interference signal and time.

本実施例では、実施例1に用いたT3及びT4の関係を変更した場合の例を示す。実施例1では、A−scanトリガ120を生成するためのFBG103の反射波長帯域の中心波長λ5は、OCT動作に利用する光の波長範囲λ3〜λ4の中にあった。これは、上述したようにk−clock信号130が安定している時間帯310(波長掃引光源101が安定的に波長掃引している波長範囲)にA−scanトリガ120を生成する必要があるためである。これに対し、本実施例では、OCT動作に利用する光の波長範囲λ3〜λ4を狭くし、その波長範囲外の波長範囲(時間的には利用する波長範囲を掃引した後に相当)にFBG103の反射波長帯域の中心波長λ5を設定し、A−scanトリガ120を生成する。   In the present embodiment, an example in which the relationship between T3 and T4 used in the first embodiment is changed is shown. In the first embodiment, the central wavelength λ5 of the reflection wavelength band of the FBG 103 for generating the A-scan trigger 120 is in the wavelength range λ3 to λ4 of light used for the OCT operation. This is because it is necessary to generate the A-scan trigger 120 in the time zone 310 (wavelength range in which the wavelength swept light source 101 stably sweeps the wavelength) where the k-clock signal 130 is stable as described above. It is. On the other hand, in this embodiment, the wavelength range λ3 to λ4 of the light used for the OCT operation is narrowed, and the wavelength range outside the wavelength range (corresponding to after sweeping the wavelength range to be used in terms of time) The center wavelength λ5 of the reflection wavelength band is set, and the A-scan trigger 120 is generated.

前述した図1を再び参照して、本実施例によるOCT装置100を説明する。   Referring again to FIG. 1 described above, the OCT apparatus 100 according to the present embodiment will be described.

本実施例によるOCT装置100では、実施例1と同様に、波長掃引光源101として1000nm(λv1)から1100nm(λv2)まで短波長から長波長にかけて安定して出射する光を掃引する光源を用いる。ただし、本実施例によるOCT装置100では、OCT動作に利用する光の波長範囲を1000〜1098nmと範囲を狭く設定する。すなわち、本実施例では、OCT動作に利用する光の波長範囲λ3〜λ4を、波長範囲1000nm〜1098nmとしている。また、このことから、波長掃引光源101が波長λ3の光を出射する時間T3は、波長λv1を出射する時間Tv1と等しい。   In the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, as in the first embodiment, a light source that sweeps light stably emitted from a short wavelength to a long wavelength from 1000 nm (λv1) to 1100 nm (λv2) is used as the wavelength swept light source 101. However, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the wavelength range of light used for the OCT operation is set as narrow as 1000 to 1098 nm. That is, in this embodiment, the wavelength range λ3 to λ4 of light used for the OCT operation is set to a wavelength range of 1000 nm to 1098 nm. Also, from this, the time T3 for the wavelength swept light source 101 to emit light having the wavelength λ3 is equal to the time Tv1 for emitting the wavelength λv1.

当該波長掃引光源101は、出射する光の波長を波長範囲1000nmから1098nmまで約3.83μsecかけて掃引する。なお、本実施例でも、波長と時間に非線形な相関を有している光源を用いる。   The wavelength sweep light source 101 sweeps the wavelength of the emitted light from the wavelength range of 1000 nm to 1098 nm over about 3.83 μsec. Also in this embodiment, a light source having a nonlinear correlation between wavelength and time is used.

また、FBG103としては、反射帯域中心1100nm、帯域幅0.3nm、反射率95%の特性を有するFBGを用いる。すなわち、本実施例では、FBG103の反射波長帯域の中心波長λ5は1100nmである。このことから、波長掃引光源101が波長λ5の光を出射する時間T5は、波長λv1を出射する時間Tv2と等しい。また、波長掃引光源101は、出射する光の波長を波長範囲1000nmから1100nmまで4.0μsecかけて掃引する。   As the FBG 103, an FBG having characteristics of a reflection band center of 1100 nm, a bandwidth of 0.3 nm, and a reflectance of 95% is used. That is, in this embodiment, the center wavelength λ5 of the reflection wavelength band of the FBG 103 is 1100 nm. For this reason, the time T5 for the wavelength swept light source 101 to emit light having the wavelength λ5 is equal to the time Tv2 for emitting the wavelength λv1. The wavelength sweep light source 101 sweeps the wavelength of the emitted light from the wavelength range of 1000 nm to 1100 nm over 4.0 μsec.

ここで、T1を基準時間(0μsec)とすると、波長掃引光源101及びFBG103の構成から、式1に用いるT4は3.83μsec、T5は4.0μsecであり、ΔTは−0.17μsecとなる(図4を参照)。従って、波長掃引光源101とFBG103との間の必要な光路長Dは、負の値を持つ。   Here, when T1 is a reference time (0 μsec), T4 used in Equation 1 is 3.83 μsec, T5 is 4.0 μsec, and ΔT is −0.17 μsec from the configuration of the wavelength swept light source 101 and the FBG 103 ( (See FIG. 4). Therefore, the required optical path length D between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103 has a negative value.

しかしながら、本実施例によるOCT装置100の構成では、波長掃引光源101から出射する光をFBG103に導く光ファイバが存在するため、光路長Dが負の距離になることはあり得ない。   However, in the configuration of the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, since there is an optical fiber that guides the light emitted from the wavelength swept light source 101 to the FBG 103, the optical path length D cannot be a negative distance.

すなわち、OCT動作に利用する光の波長範囲λ3〜λ4の外側(時間的には利用する波長範囲を掃引した後に相当)にFBG103の反射波長帯域の中心波長λ5を設定する。この場合、波長掃引光源101とFBG103の間の光路長Dを特に考慮せずとも、式1を満たすことができる。また、当該構成から、FBG103からの反射光が波長掃引光源101に戻るタイミングでは、OCT動作に利用する光の出射は終了しており波長掃引光源101から出射する光にノイズが重畳されてもOCT動作による断層画像にノイズが入ることはない。   That is, the center wavelength λ5 of the reflection wavelength band of the FBG 103 is set outside the wavelength range λ3 to λ4 of light used for the OCT operation (corresponding to after sweeping the wavelength range to be used in terms of time). In this case, Expression 1 can be satisfied without particularly considering the optical path length D between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103. In addition, from the configuration, at the timing when the reflected light from the FBG 103 returns to the wavelength sweep light source 101, the emission of light used for the OCT operation is completed, and even if noise is superimposed on the light emitted from the wavelength sweep light source 101, OCT Noise does not enter the tomographic image due to movement.

以上のように、本実施例によるOCT装置100では、波長掃引光源101が安定的に出射する光の波長掃引をしている波長範囲λv1〜λv2で、かつ、OCT動作に利用しない波長範囲にFBG103の反射波長帯域の中心波長λ5を設定する。従って、本実施例によるOCT装置100では、コストアップに繋がる光サーキュレータ等の光学部材を用いることなく、安価な構成で光学的に生成した安定的なA−scanトリガ120を用いて干渉信号の取得することができる。これにより、OCT装置100は、FBG103からの反射光に起因したノイズが重畳されないOCT断層画像を提供することができる。   As described above, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the FBG 103 is in the wavelength range λv1 to λv2 in which the wavelength swept light source 101 stably sweeps the wavelength of the light and is not used for the OCT operation. The center wavelength λ5 of the reflection wavelength band is set. Therefore, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, an interference signal is acquired by using a stable A-scan trigger 120 optically generated with an inexpensive configuration without using an optical member such as an optical circulator that leads to an increase in cost. can do. Thereby, the OCT apparatus 100 can provide an OCT tomographic image in which noise caused by reflected light from the FBG 103 is not superimposed.

また、本実施例によるOCT装置100では、OCT動作に用いられる光が出射される時間帯T3からT4及びFBG103の反射波長帯域の中心波長λ5は、波長掃引光源101の波長掃引動作が安定している時間帯Tv1〜Tv2の中にある。さらに、図4の出射光の光強度と時間の相関からも理解されるように、戻り光による影響は次のA−scan動作よりも前に現れている。従って、本実施例によるOCT装置100は、式1〜6を満たす構成を有している。そのため、OCT装置100は、光サーキュレータなどのコストアップに繋がる光学部材を用いることなく、FBG103からの反射光に起因したノイズが重畳した光をOCT動作に用いることを防ぎ、より安定した精細な断層画像を得ることができる。   Further, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the wavelength sweep operation of the wavelength swept light source 101 is stable in the central wavelength λ5 of the reflection wavelength band of the time bands T3 to T4 and the FBG 103 in which the light used for the OCT operation is emitted. It is in the time zone Tv1-Tv2. Furthermore, as can be understood from the correlation between the light intensity of the emitted light and the time in FIG. 4, the influence of the return light appears before the next A-scan operation. Therefore, the OCT apparatus 100 according to the present embodiment has a configuration that satisfies Expressions 1 to 6. Therefore, the OCT apparatus 100 prevents the use of light superimposed with noise caused by the reflected light from the FBG 103 in the OCT operation without using an optical member such as an optical circulator, which leads to an increase in cost. An image can be obtained.

なお、本実施例によるOCT装置100において、各構成要素の配置は実施例1によるOCT装置と同様である。そのため、本実施例によるOCT装置100における、OCT干渉信号、A−scanトリガ120及びk−clock信号130が演算処理装置109に入力されるタイミングも実施例1によるOCT装置と同様である。   In the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the arrangement of each component is the same as that of the OCT apparatus according to the first embodiment. Therefore, the timing at which the OCT interference signal, the A-scan trigger 120, and the k-clock signal 130 are input to the arithmetic processing unit 109 in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment is the same as that of the OCT apparatus according to the first embodiment.

次に、図4を参照して、本実施例によるOCT装置100において、A−scanトリガ120をOCT干渉信号のサンプリングタイミングの基準として用いて、断層画像を形成する動作について説明する。なお、図4のk−clock信号のタイミングチャートには、波長掃引光源101が安定的に波長掃引を行うことができる時間帯(T3〜T4)に出射された光に基づくk−clock信号130が、演算処理装置109に入力される時間帯410が示されている。また、時間帯410内におけるk−clock信号130に付された点は、当該点が付されたk−clock信号130が断層画像の形成に用いられるデータのサンプリングクロックとしてのk−clock信号130であることを示す。図4の干渉信号のタイミングチャートには、OCT動作に利用される干渉信号が演算処理装置109に入力される時間帯420が示されている。   Next, an operation for forming a tomographic image using the A-scan trigger 120 as a reference for the sampling timing of the OCT interference signal in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. In the timing chart of the k-clock signal in FIG. 4, the k-clock signal 130 based on the light emitted in the time zone (T3 to T4) in which the wavelength sweep light source 101 can stably perform the wavelength sweep is shown. A time zone 410 input to the arithmetic processing unit 109 is shown. Further, a point added to the k-clock signal 130 in the time zone 410 is a k-clock signal 130 as a sampling clock of data used for forming a tomographic image by the k-clock signal 130 to which the point is attached. It shows that there is. The interference signal timing chart of FIG. 4 shows a time period 420 in which an interference signal used for the OCT operation is input to the arithmetic processing unit 109.

本実施例によるOCT装置100では、FBG103の反射波長帯域の中心波長λ5の光の出射時間T5よりも前に、OCT動作に利用するための光の出射が終了する。そのために、本実施例によるOCT装置100では、A−scanトリガ120が演算処理装置109に入力された後にOCT動作に利用される光に基づくk−clock信号130が演算処理装置109に入力されることはない。従って、本実施例によるOCT装置100では、ポストトリガサンプリングを行わず、プリトリガサンプリングのみを行う。   In the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the emission of light for use in the OCT operation ends before the light emission time T5 of the central wavelength λ5 in the reflection wavelength band of the FBG 103. Therefore, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, after the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing apparatus 109, the k-clock signal 130 based on the light used for the OCT operation is input to the arithmetic processing apparatus 109. There is nothing. Therefore, the OCT apparatus 100 according to the present embodiment performs only pre-trigger sampling without performing post-trigger sampling.

プリトリガサンプリングを行う方法は、実施例1における方法と同様であるため省略する。図4においては、プリトリガサンプリングを行う時間帯411が示されており、当該時間帯411には6つのk−clock信号130が示されている。なお、本実施例においては、6つのk−clock信号130分だけプリトリガサンプリングを行うとしているが、プリトリガサンプリングを行うk−clockの数はOCT装置100の構成に従って、任意の数とすることができる。   The method for performing the pre-trigger sampling is the same as the method in the first embodiment, and will be omitted. In FIG. 4, a time zone 411 for performing pre-trigger sampling is shown, and six k-clock signals 130 are shown in the time zone 411. In this embodiment, pre-trigger sampling is performed for six k-clock signals 130, but the number of k-clocks for which pre-trigger sampling is performed can be any number according to the configuration of the OCT apparatus 100. .

本実施例によるOCT装置100では、このようにプリトリガサンプリングを行って取得したデータにフーリエ変換等の信号処理を行い、被検体Oの断層画像を生成することができる。   In the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, it is possible to generate a tomographic image of the subject O by performing signal processing such as Fourier transform on the data acquired by performing pre-trigger sampling in this way.

上記のように、本実施例によるOCT装置100では、第5の波長λ5が、第3の波長λ3から第4の波長λ4までの波長範囲の外に設定されており、かつ、第5の波長λ5の光は第4の波長λ4の光よりも後に波長掃引光源101から出射される。このような構成を有するOCT装置100では、波長掃引光源101からFBG103までの光路が存在しさえすれば式1が満たされるため、上記実施形態と同様の作用を果たすことができる。   As described above, in the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the fifth wavelength λ5 is set outside the wavelength range from the third wavelength λ3 to the fourth wavelength λ4, and the fifth wavelength The light of λ5 is emitted from the wavelength swept light source 101 after the light of the fourth wavelength λ4. In the OCT apparatus 100 having such a configuration, Expression 1 is satisfied as long as there is an optical path from the wavelength swept light source 101 to the FBG 103, and therefore, the same operation as in the above embodiment can be achieved.

また、演算処理装置109は、A−scanトリガ120が演算処理装置109に入力された時間を基準として、該入力された時間から数えて所定の数だけの、該入力された時間より前のサンプリングクロックに応じてOCT干渉信号をサンプリングする。これによって、演算処理装置109は、干渉信号から被検体Oの情報を取得し、被検体Oの断層画像を形成することができる。   In addition, the arithmetic processing unit 109 uses the time when the A-scan trigger 120 is input to the arithmetic processing unit 109 as a reference, and samples a predetermined number of times before the input time counted from the input time. The OCT interference signal is sampled according to the clock. As a result, the arithmetic processing unit 109 can acquire information on the subject O from the interference signal and form a tomographic image of the subject O.

[変形例]
本実施形態によるOCT装置100では、k−clock信号130は波長掃引光源101によって生成され、演算処理装置109に入力される。しかしながら、k−clock信号を生成する構成はこれに限られない。例えば、k−clock信号は、波長掃引光源に光ファイバを介して接続された、任意の構成を有するk−clock信号生成部によって、波長掃引光源101から出射された光に基づいて生成されてもよい。
[Modification]
In the OCT apparatus 100 according to the present embodiment, the k-clock signal 130 is generated by the wavelength swept light source 101 and input to the arithmetic processing unit 109. However, the configuration for generating the k-clock signal is not limited to this. For example, the k-clock signal may be generated based on the light emitted from the wavelength swept light source 101 by a k-clock signal generating unit having an arbitrary configuration connected to the wavelength swept light source via an optical fiber. Good.

このような変形例について、図5を参照して説明する。図5は、このような変形例によるOCT装置200の概略的な構成を示す。なお、本変形例によるOCT装置200の構成要素について、上記実施形態の構成要素と同様なものは、同じ参照符号を用いて説明する。   Such a modification will be described with reference to FIG. FIG. 5 shows a schematic configuration of an OCT apparatus 200 according to such a modification. In addition, about the component of the OCT apparatus 200 by this modification, the thing similar to the component of the said embodiment is demonstrated using the same referential mark.

本変形例によるOCT装置200には、波長掃引光源101、第1の分割部102、FBG103、OCT干渉計104、フォトディテクタ105、検出器108、演算処理装置109及び表示部110が設けられている。これに加えて、OCT装置200には、第2の分割部501及びk−clock生成部502が設けられている。   The OCT apparatus 200 according to this modification is provided with a wavelength swept light source 101, a first dividing unit 102, an FBG 103, an OCT interferometer 104, a photodetector 105, a detector 108, an arithmetic processing unit 109, and a display unit 110. In addition, the OCT apparatus 200 is provided with a second dividing unit 501 and a k-clock generation unit 502.

本変形例によるOCT装置200では、第1の分割部102とFBG103との間に第2の分割部501が設けられている。第2の分割部501は、分割比50:50の光ファイバカプラであり、第1の分割部102、FBG103、フォトディテクタ105、k−clock生成部502に接続されている。第2の分割部501は、第1の分割部102により分割され、FBG103に入射する光を更に分割する。第2の分割部501は、第1の分割部102から入射された光のうち50%の光量の光をFBG103に導き、残りの50%の光量の光をk−clock生成部502に導く。また、第2の分割部501は、FBG103から入射された光を分割し、入射された光のうち50%の光量の光をフォトディテクタ105に導き、残り50%の光量の光を第1の分割部102に導く。この場合、第1の分割部102は、第2の分割部501から入射された光のうち5%の光量の光を波長掃引光源101に導き、残りをファイバ端から放出する。なお、第2の分割部501は、光ファイバカプラの代わりにビームスプリッタを用いて構成されてもよい。また、分割比も50:50に限られず、任意の分割比のものを用いることができる。   In the OCT apparatus 200 according to this modification, a second dividing unit 501 is provided between the first dividing unit 102 and the FBG 103. The second dividing unit 501 is an optical fiber coupler having a division ratio of 50:50, and is connected to the first dividing unit 102, the FBG 103, the photodetector 105, and the k-clock generation unit 502. The second divider 501 is further divided by the first divider 102 and further divides the light incident on the FBG 103. The second splitting unit 501 guides 50% of the light incident from the first splitting unit 102 to the FBG 103 and guides the remaining 50% of the light to the k-clock generation unit 502. The second dividing unit 501 divides the light incident from the FBG 103, guides 50% of the incident light to the photodetector 105, and the remaining 50% of the light is first divided. Guide to section 102. In this case, the first dividing unit 102 guides 5% of the light incident from the second dividing unit 501 to the wavelength sweep light source 101 and emits the remaining light from the fiber end. The second dividing unit 501 may be configured using a beam splitter instead of the optical fiber coupler. Also, the division ratio is not limited to 50:50, and an arbitrary division ratio can be used.

k−clock生成部502は、第2の分割部501から入射された光に基づいて、k−clock信号130を生成し、演算処理装置109に出力する。   The k-clock generation unit 502 generates a k-clock signal 130 based on the light incident from the second division unit 501 and outputs the k-clock signal 130 to the arithmetic processing unit 109.

上記のように本変形例によるOCT装置200は、分割部102からFBG103に入射する光を、FBG103に向かう光と他の光(k−clock生成部502)に分割する、第2の分割部501を備える。このような構成のOCT装置200でも、式1を満たすように波長掃引光源101とFBG103との光路長等の関係を調整することで、上記実施形態によるOCT装置100と同様の作用を奏することができる。なお、本変形例によるOCT装置200では、FBG103からの波長掃引光源101への戻り光は、第2の分割部501及び第1の分割部102によって分割されて導かれるため、当該戻り光の光量をより少なくすることができる。   As described above, the OCT apparatus 200 according to the present modified example divides the light incident on the FBG 103 from the dividing unit 102 into the light traveling toward the FBG 103 and the other light (k-clock generating unit 502). Is provided. Even in the OCT apparatus 200 having such a configuration, the same operation as that of the OCT apparatus 100 according to the above-described embodiment can be achieved by adjusting the relationship of the optical path length and the like between the wavelength swept light source 101 and the FBG 103 so as to satisfy Formula 1. it can. In the OCT apparatus 200 according to the present modification, the return light from the FBG 103 to the wavelength swept light source 101 is split and guided by the second splitting unit 501 and the first splitting unit 102, and thus the light amount of the return light Can be reduced.

以上、実施形態及び実施例を参照して本発明について説明したが、本発明は上記実施形態及び実施例に限定されるものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明、及び本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述の各実施例及び変形例は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。   As mentioned above, although this invention was demonstrated with reference to embodiment and an Example, this invention is not limited to the said embodiment and Example. Inventions modified within the scope not departing from the spirit of the present invention and inventions equivalent to the present invention are also included in the present invention. Moreover, each above-mentioned Example and modification can be combined suitably in the range which is not contrary to the meaning of this invention.

101:波長掃引光源、102:分割部、103:FBG(波長フィルタ)、104:OCT干渉計(干渉部)、105:フォトディテクタ(検出部)、109:演算処理装置(情報取得部)、RL:反射光、120:A−scanトリガ(トリガ信号)、RL:反射光、O:被検体   101: Wavelength sweep light source, 102: Division unit, 103: FBG (wavelength filter), 104: OCT interferometer (interference unit), 105: Photo detector (detection unit), 109: Arithmetic processing device (information acquisition unit), RL: Reflected light, 120: A-scan trigger (trigger signal), RL: Reflected light, O: Subject

Claims (12)

第1の波長から第2の波長までの波長範囲において、出射する光の波長を掃引する波長掃引光源と、
被検体に前記波長掃引光源からの光を照射する検査光路と、
参照光路と、
前記検査光路及び前記参照光路からの光を干渉させる干渉部であって、該光の干渉は、前記波長掃引光源から出射された、前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲における第3の波長から第4の波長までの波長範囲の光を用いて行われる、干渉部と、
前記干渉させた光に基づいて生成される干渉信号から被検体の情報を取得する情報取得部と、
前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲における第5の波長を有する光を反射する波長フィルタと、
前記波長掃引光源からの光を前記干渉部に入射する光と前記波長フィルタに入射する光に分割する分割部と、
前記波長フィルタからの反射光を検出し、検出した前記反射光に基づいてトリガ信号を生成する検出部と、
を備え、
前記情報取得部は、前記トリガ信号に基づいて、前記干渉信号から前記被検体の情報を取得し、
前記波長掃引光源が前記第4の波長の光を出射する時間をT4とし、前記第5の波長の光を出射する時間をT5とし、
光速をcとし、
前記波長掃引光源と前記波長フィルタを結ぶ光路の光路長Dとしたとき、
前記光路長Dが、
T4−T5<2D/c
の関係を満たす、光干渉断層撮像装置。
A wavelength swept light source that sweeps the wavelength of the emitted light in a wavelength range from the first wavelength to the second wavelength;
An inspection optical path for irradiating the subject with light from the wavelength-swept light source;
A reference light path;
An interference unit that interferes light from the inspection optical path and the reference optical path, and the interference of the light is emitted from the wavelength swept light source in a wavelength range from the first wavelength to the second wavelength. An interference unit that is performed using light in a wavelength range from the third wavelength to the fourth wavelength;
An information acquisition unit for acquiring information on the subject from an interference signal generated based on the interfered light;
A wavelength filter that reflects light having a fifth wavelength in a wavelength range from the first wavelength to the second wavelength;
A splitting unit that splits light from the wavelength swept light source into light incident on the interference unit and light incident on the wavelength filter;
A detector that detects reflected light from the wavelength filter and generates a trigger signal based on the detected reflected light;
With
The information acquisition unit acquires information on the subject from the interference signal based on the trigger signal,
The time that the wavelength swept light source emits the light of the fourth wavelength is T4, the time that the light of the fifth wavelength is emitted is T5,
Let the speed of light be c,
When the optical path length D of the optical path connecting the wavelength swept light source and the wavelength filter,
The optical path length D is
T4-T5 <2D / c
An optical coherence tomographic imaging apparatus that satisfies the above relationship.
前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲において、前記波長掃引光源が安定して波長掃引を行う波長範囲を第6の波長から第7の波長とし、前記波長掃引光源が前記第3の波長の光を出射する時間をT3とし、前記第6の波長の光を出射する時間をTv1とし、前記第7の波長の光を出射する時間をTv2としたとき、
前記時間T3及び時間T4が、
Tv1<=T3<T4<=Tv2
の関係を満たす、請求項1に記載の光干渉断層撮像装置。
In the wavelength range from the first wavelength to the second wavelength, a wavelength range in which the wavelength swept light source stably performs wavelength sweep is defined as a sixth wavelength to a seventh wavelength, and the wavelength swept light source is the first wavelength. When the time for emitting light of the third wavelength is T3, the time for emitting light of the sixth wavelength is Tv1, and the time for emitting light of the seventh wavelength is Tv2,
The time T3 and the time T4 are
Tv1 <= T3 <T4 <= Tv2
The optical coherence tomography apparatus according to claim 1, wherein the relationship is satisfied.
前記時間T5が、
Tv1<=T5<=Tv2
の関係を満たす、請求項2に記載の光干渉断層撮像装置。
The time T5 is
Tv1 <= T5 <= Tv2
The optical coherence tomography apparatus according to claim 2, wherein the relationship is satisfied.
前記波長掃引光源が前記第1の波長の光を出射し再び前記第1の波長の光を出射するまでの波長掃引の周期をTとしたとき、前記光路長Dが、
T4−T5<2D/c<T−(T5−Tv1)
の関係を満たす、請求項2又は3に記載の光干渉断層撮像装置。
When the wavelength sweeping period from when the wavelength swept light source emits the light of the first wavelength to the light of the first wavelength again is T, the optical path length D is
T4-T5 <2D / c <T- (T5-Tv1)
The optical coherence tomographic imaging apparatus according to claim 2 or 3, satisfying the relationship:
前記第5の波長が、前記第3の波長から前記第4の波長までの波長範囲の間に設定される、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の光干渉断層撮像装置。   5. The optical coherence tomography apparatus according to claim 1, wherein the fifth wavelength is set in a wavelength range from the third wavelength to the fourth wavelength. 6. 前記第5の波長が、前記第3の波長から前記第4の波長までの波長範囲の外に設定されており、かつ、前記第5の波長の光は前記第4の波長の光よりも後に前記波長掃引光源から出射される、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の光干渉断層撮像装置。   The fifth wavelength is set outside a wavelength range from the third wavelength to the fourth wavelength, and the light of the fifth wavelength is later than the light of the fourth wavelength. The optical coherence tomographic imaging apparatus according to claim 1, which is emitted from the wavelength-swept light source. 前記情報取得部は、前記トリガ信号が前記情報取得部に入力された時間を基準として、該入力された時間から数えて所定の数だけの、該入力された時間より前のサンプリングクロックに応じて前記干渉信号をサンプリングするとともに、前記入力された時間から数えて所定の数だけの、該入力された時間より後のサンプリングクロックに応じて前記干渉信号をサンプリングし、前記被検体の情報を取得する、請求項5に記載の光干渉断層撮像装置。   The information acquisition unit is based on a time when the trigger signal is input to the information acquisition unit, according to a predetermined number of sampling clocks before the input time, counting from the input time. The interference signal is sampled, and the interference signal is sampled according to a predetermined number of sampling clocks counted from the input time, and the information of the subject is acquired. The optical coherence tomographic imaging apparatus according to claim 5. 前記情報取得部は、前記トリガ信号が前記情報取得部に入力された時間を基準として、該入力された時間から数えて所定の数だけの、該入力された時間より前のサンプリングクロックに応じて前記干渉信号をサンプリングし、前記被検体の情報を取得する、請求項6に記載の光干渉断層撮像装置。   The information acquisition unit is based on a time when the trigger signal is input to the information acquisition unit, according to a predetermined number of sampling clocks before the input time, counting from the input time. The optical coherence tomography apparatus according to claim 6, wherein the interference signal is sampled to acquire information on the subject. 第1の波長から第2の波長までの波長範囲において、出射する光の波長を掃引する波長掃引光源と、
前記波長掃引光源からの光に基づく、被検体に照射する検査光路からの光及び参照光路からの光を干渉させる干渉部と、
前記検査光路からの光及び前記参照光路からの光を干渉させて得た干渉光のうち、前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲における第3の波長から第4の波長までの波長範囲の光に対応する干渉光を用いて、前記被検体の情報を取得する情報取得部と、
前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲における第5の波長を有する光を反射する波長フィルタと、
前記波長掃引光源からの光を前記干渉部に入射する光と前記波長フィルタに入射する光に分割する分割部と、
を備え、
前記波長掃引光源が前記第4の波長の光を出射する時間をT4とし、前記第5の波長の光を出射する時間をT5とし、
光速をcとし、
前記波長掃引光源と前記波長フィルタとを結ぶ光路の光路長Dとしたとき、
T4−T5<2D/c
の関係を満たすように、前記波長フィルタが構成される、光干渉断層撮像装置。
A wavelength swept light source that sweeps the wavelength of the emitted light in a wavelength range from the first wavelength to the second wavelength;
Based on the light from the wavelength swept light source, an interference unit that interferes with the light from the inspection optical path and the light from the reference optical path that irradiates the subject,
Of the interference light obtained by interfering the light from the inspection optical path and the light from the reference optical path, from the third wavelength to the fourth wavelength in the wavelength range from the first wavelength to the second wavelength. An information acquisition unit that acquires information of the subject using interference light corresponding to light in the wavelength range of
A wavelength filter that reflects light having a fifth wavelength in a wavelength range from the first wavelength to the second wavelength;
A splitting unit that splits light from the wavelength swept light source into light incident on the interference unit and light incident on the wavelength filter;
With
The time that the wavelength swept light source emits the light of the fourth wavelength is T4, the time that the light of the fifth wavelength is emitted is T5,
Let the speed of light be c,
When the optical path length D of the optical path connecting the wavelength swept light source and the wavelength filter,
T4-T5 <2D / c
An optical coherence tomographic imaging apparatus in which the wavelength filter is configured to satisfy the above relationship.
前記分割部から前記波長フィルタに入射する光を、前記波長フィルタに向かう光と他の光に分割する、第2の分割部をさらに備える、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の光干渉断層撮像装置。   The light according to any one of claims 1 to 9, further comprising a second dividing unit that divides light incident on the wavelength filter from the dividing unit into light traveling toward the wavelength filter and other light. Coherent tomography device. 第1の波長から第2の波長までの波長範囲において、出射する光の波長を掃引する波長掃引光源と、
前記波長掃引光源からの光を第1の光と第2の光とに分割する第1の分割部と、
前記第1の光を測定光と参照光とに分割する第2の分割部と、
前記測定光を照射した被検体からの戻り光と前記参照光とを干渉させる干渉部と、
前記第2の光のうち、前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲における第5の波長を有する光を反射する波長フィルタと、
前記戻り光と前記参照光とを干渉して得た干渉光のうち、前記第1の波長から前記第2の波長までの波長範囲における第3の波長から第4の波長までの波長範囲の光に対応する干渉光を用いて、前記被検体の情報を取得する情報取得部と、
を備え、
前記波長掃引光源が前記第5の波長を有する光を射出する時間から前記波長フィルタで反射された前記第5の波長を有する光の一部が前記波長掃引光源に戻ってくる時間までの時間間隔が、前記波長掃引光源が前記第4の波長を有する光を出射する時間から前記波長掃引光源が前記第5の波長の光を出射する時間までの時間間隔よりも長くなるように、前記波長フィルタが構成される、光干渉断層撮像装置。
A wavelength swept light source that sweeps the wavelength of the emitted light in a wavelength range from the first wavelength to the second wavelength;
A first dividing unit that divides light from the wavelength swept light source into first light and second light;
A second divider for dividing the first light into measurement light and reference light;
An interference unit that causes the return light from the subject irradiated with the measurement light to interfere with the reference light;
Of the second light, a wavelength filter that reflects light having a fifth wavelength in a wavelength range from the first wavelength to the second wavelength;
Of the interference light obtained by interfering the return light and the reference light, light in the wavelength range from the third wavelength to the fourth wavelength in the wavelength range from the first wavelength to the second wavelength. An information acquisition unit that acquires information of the subject using interference light corresponding to
With
A time interval from a time when the wavelength swept light source emits light having the fifth wavelength to a time when a part of the light having the fifth wavelength reflected by the wavelength filter returns to the wavelength swept light source However, the wavelength filter is longer than the time interval from the time when the wavelength swept light source emits light having the fourth wavelength to the time when the wavelength swept light source emits light of the fifth wavelength. An optical coherence tomography apparatus comprising:
前記波長フィルタはファイバーブラッググレーティングである、請求項1乃至11のいずれか一項に記載の光干渉断層撮像装置。   The optical coherence tomography apparatus according to claim 1, wherein the wavelength filter is a fiber Bragg grating.
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