JP2010014457A - Calibrating jig - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a calibrating jig having simplicity and reproducibility and capable of calibrating a probe type optical tomographic imaging apparatus equipped with an optical probe, having a mounting part on which the optical probe is mounted, emitting light to split it into reference light and measuring light, emitting measuring light from the emitting part of the mounting part, irradiating a measuring target from the optical probe, guiding the reflected light from the measuring target by the optical probe to combine it with the reference light and detecting the coherent light when combination as a coherent signal to obtain the tomographic image of the measuring target. <P>SOLUTION: The calibrating jig 1 is equipped with the holding member 2 capable of being mounted on the mounting part 101 of the optical tomographic imaging apparatus 100 in a freely detachable manner and the reflecting surface 3a held to the holding member 2 and reflecting the measuring light L1 emitted from an emitting part 101a to make the reflected light thereof enter the emitting part 101a. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、光断層画像化装置の較正用治具に関するものである。特に、光プローブが装着される、プローブ方式光断層画像化装置の装着部に装着して、この光断層画像化装置を較正する較正用治具に関するものである。   The present invention relates to a calibration jig for an optical tomographic imaging apparatus. In particular, the present invention relates to a calibration jig that is mounted on a mounting portion of a probe-type optical tomographic imaging apparatus to which an optical probe is mounted and calibrates the optical tomographic imaging apparatus.

従来、体腔内で断層画像を取得する際に、OCT計測を利用した光断層画像化装置が用いられることがある。光断層画像化装置は、光源から射出された広帯域光を光干渉計にて測定光と参照光に分割した後、測定光を光軸走査手段に通して測定対象に照射し、光軸走査手段にて光軸と垂直な1次元、もしくは2次元方向に測定光を走査し、この測定対象からの反射光を干渉計に戻し、この反射光を参照光と合波し、反射光と参照光との干渉光強度に基づいて測定対象の光断層画像を取得するものである。光軸走査手段としては大きく2種類があり、光を空間伝搬させガルバノミラーやポリゴンミラーを用いて線形走査を行う空間走査方式と、光を光ファイバで伝搬させ、光ファイバの出射端を回転させてラジアル走査を行うプローブ方式とがある。空間走査方式には眼底を観察する眼底OCT装置が代表であり、プローブ方式では血管カテーテルに光ファイバを通して血管壁を観察する血管OCT装置や、内視鏡と組み合わせて消化管壁などを観察する内視鏡的OCT装置などがある。プローブ方式の光走査方法には、ラジアル走査の他に、プローブ先端を線形に走査する方式や、プローブ内に微細な走査機構を設けて線形走査する方法もある。   Conventionally, when a tomographic image is acquired in a body cavity, an optical tomographic imaging apparatus using OCT measurement is sometimes used. The optical tomographic imaging apparatus divides broadband light emitted from a light source into measurement light and reference light by an optical interferometer, and then irradiates the measurement target with the measurement light through an optical axis scanning unit. The measurement light is scanned in one or two-dimensional directions perpendicular to the optical axis at, the reflected light from the measurement object is returned to the interferometer, and the reflected light is combined with the reference light. The reflected light and the reference light The optical tomographic image of the measurement object is acquired based on the interference light intensity. There are two main types of optical axis scanning means: a spatial scanning system that performs linear scanning using a galvano mirror or a polygon mirror by propagating light in a spatial manner, and rotating the output end of the optical fiber by propagating the light through the optical fiber. There is a probe method that performs radial scanning. The fundus OCT device for observing the fundus is representative of the spatial scanning method, and the probe method is a blood vessel OCT device for observing the blood vessel wall through an optical fiber through a blood vessel catheter, or the gastrointestinal wall in combination with an endoscope. There are endoscopic OCT devices. In addition to radial scanning, probe-type optical scanning methods include a method of linearly scanning the probe tip and a method of linear scanning by providing a fine scanning mechanism in the probe.

OCT計測には、TD(Time Domain)−OCT計測とFD(Fourier Domain)−OCT計測の2種類が存在する。FD−OCT計測は、高速な測定が可能となる手法として、近年注目されている。FD−OCT計測を行う光断層画像化装置で代表的なものとしては、SD(Spectral Domain)−OCT装置とSS(Swept Source)−OCT装置の2種類が挙げられる。   There are two types of OCT measurement: TD (Time Domain) -OCT measurement and FD (Fourier Domain) -OCT measurement. In recent years, FD-OCT measurement has attracted attention as a technique that enables high-speed measurement. Two typical types of optical tomographic imaging apparatuses that perform FD-OCT measurement are an SD (Spectral Domain) -OCT apparatus and an SS (Swept Source) -OCT apparatus.

SD−OCT装置は、広帯域の低コヒーレント光を用い、干渉光を分光手段により各光周波数成分に分解し、アレイ型光検出器等にて各周波数成分に対応した干渉光強度を測定し、この干渉強度信号を計算機でフーリエ変換解析することにより、深さ方向における反射率、すなわち断層情報を取得するものである。   The SD-OCT apparatus uses broadband low-coherent light, decomposes the interference light into each optical frequency component by a spectroscopic means, and measures the interference light intensity corresponding to each frequency component with an array-type photodetector or the like. The reflectance in the depth direction, that is, the tomographic information is acquired by performing Fourier transform analysis on the interference intensity signal with a computer.

SS−OCT装置は、光源に周波数を時間的に掃引させるレーザ等を用い、干渉光の周波数の時間的変化に対応した干渉光強度の時間特性波形を測定し、この干渉強度信号を計算機でフーリエ変換することにより、深さ方向における反射率、すなわち断層情報を取得するものである。   The SS-OCT apparatus uses a laser or the like that causes the light source to sweep the frequency temporally, measures the time characteristic waveform of the interference light intensity corresponding to the temporal change in the frequency of the interference light, and uses the computer to calculate the interference intensity signal using a Fourier transform. By converting, the reflectance in the depth direction, that is, tomographic information is acquired.

ここで、フーリエドメイン光断層画像化装置においては、断層画像、つまり深さ方向の位置情報を得るために、測定光の波数kに対して等間隔に取得した干渉強度信号にフーリエ変換を行う。しかし実際に装置で取得するデータはSD−OCTでは分光された波長の空間変位に対して、SS−OCTでは時間に対して等間隔に取得される。これは、光源の特性、構成機器の影響等により、波数kと空間変位あるいは時間とは非線形な関係となっているため、フーリエ変換後の信号が歪んだ波形として得られるものである。したがって、空間変位軸または時間軸を波数軸へ正しく変換する場合に、上記歪みを補正して正しく変換する必要がある。この較正用変換テーブルの作成作業を較正と呼ぶ。   Here, in the Fourier domain optical tomographic imaging apparatus, in order to obtain a tomographic image, that is, position information in the depth direction, Fourier transform is performed on the interference intensity signal acquired at equal intervals with respect to the wave number k of the measurement light. However, the data actually acquired by the apparatus is acquired at equal intervals with respect to the time with respect to the spatial displacement of the dispersed wavelength in SD-OCT, and with respect to the time in SS-OCT. This is because the wave number k and the spatial displacement or time are in a non-linear relationship due to the characteristics of the light source, the influence of the constituent devices, etc., and thus the signal after Fourier transform is obtained as a distorted waveform. Therefore, when the space displacement axis or the time axis is correctly converted to the wavenumber axis, it is necessary to correct the distortion and correct the distortion. This creation work of the conversion table for calibration is called calibration.

SS−OCT方式の場合、従来、2通りの方法が提案されている。一つは、最も影響の大きい光源の周波数掃引特性のみ補正する較正方法である。測定光の一部を干渉フィルタやファイバブラッググレーティングを通して透過光や反射光を受光素子で測定し、その光信号から光源の時間t−波数k特性を算出し、較正用変換テーブルを作成する方法である。本手法では、評価に高価な機器が必要であること、光源の周波数掃引特性の歪みのみが補正可能であり、干渉計やプローブなどで発生する分散などの影響は補正できないこと等の欠点がある。そしてもう一つは、特許文献1に提案するように、特殊機材を使用することなしに、光断層画像化装置自体を使用する較正方法である。具体的には、光断層画像化装置により、周波数掃引型光源をモニタリングしてスペクトル干渉信号を時間信号として検出し、このスペクトル干渉信号から掃引周波数の時間依存性を求めて、この周波数掃引型光源の時間依存特性を較正する較正方法が提案されている。   In the case of the SS-OCT system, conventionally, two methods have been proposed. One is a calibration method for correcting only the frequency sweep characteristic of the light source having the greatest influence. A method in which a part of the measurement light is transmitted through an interference filter or a fiber Bragg grating, and transmitted light or reflected light is measured by a light receiving element. is there. This method has the disadvantages that expensive equipment is required for evaluation, only distortion of the frequency sweep characteristic of the light source can be corrected, and influences such as dispersion generated by interferometers and probes cannot be corrected. . The other is a calibration method using the optical tomographic imaging apparatus itself without using special equipment, as proposed in Patent Document 1. Specifically, the optical tomographic imaging apparatus monitors the frequency sweep type light source, detects the spectral interference signal as a time signal, obtains the time dependency of the sweep frequency from the spectral interference signal, and then uses this frequency sweep type light source. A calibration method has been proposed for calibrating the time-dependent characteristics of

SD−OCT方式の場合、グレーティングにより光の波長を空間的に分散(分解)し、ディテクタアレイにて測定をする。グレーティングによる空間分散は、波長λに対して線形、すなわち波数kの逆数に対して線形である。従って、SD―OCTの場合は、このグレーティングの空間分散が波数kに対して非線形になる効果の影響が最も大きい。そこで、この効果のみを補正するために、グレーティングの波長分散を理論的に求めて、較正用変換テーブルを作成する方法が行われる。あるいは、分光器を用いて空間変位に対する波長を測定して較正用変換テーブルを作成する方法も容易に類推される。しかし、この方法では、干渉計やプローブなどで発生する分散等の影響は補正できないという欠点がある。ここで、分散とは、媒質中における屈折率の波長依存性に起因し、波長によって光路長差が変化することである。これに対し、特許文献1には、SD−OCTに対しても同様に適用できることが開示されている。
特開2007−101365
In the case of the SD-OCT method, the wavelength of light is spatially dispersed (decomposed) by a grating and measured by a detector array. The spatial dispersion due to the grating is linear with respect to the wavelength λ, that is, linear with respect to the reciprocal of the wave number k. Therefore, in the case of SD-OCT, the influence of the effect that the spatial dispersion of the grating becomes nonlinear with respect to the wave number k is the largest. Therefore, in order to correct only this effect, a method of theoretically obtaining the wavelength dispersion of the grating and creating a calibration conversion table is performed. Alternatively, a method of creating a calibration conversion table by measuring a wavelength with respect to spatial displacement using a spectroscope can be easily inferred. However, this method has a drawback that the influence of dispersion or the like generated by an interferometer or a probe cannot be corrected. Here, the dispersion means that the optical path length difference varies depending on the wavelength due to the wavelength dependence of the refractive index in the medium. On the other hand, Patent Document 1 discloses that the present invention can be similarly applied to SD-OCT.
JP2007-101365A

しかしながら、特許文献1には、上述の較正方法を使用する場合の具体的な手段については何等の提案もされていない。従来の基礎的なOCT実験装置では、実験テーブルの上に顕微鏡と光軸走査機構を組み合わせた測定装置を設置し、測定サンプルを実験テーブルに配置して測定することが行われていた。そこから、上述の較正方法を使用する場合の具体的な手段としては、光プローブを使わずに、上記のように実験テーブルに設置した装置を使い、さらに測定サンプルの代わりに反射鏡を設置して上述の較正方法を使用する方法が、容易に類推される。しかし、この方法では、測定装置に用いるレンズ等の光学部品の影響で、光プローブを用いた場合とは異なる波長歪み特性が含まれているために、較正は不完全なものとなる。また、装置の大きさの問題で簡便性が失われる。   However, Patent Document 1 does not propose any specific means for using the calibration method described above. In a conventional basic OCT experiment apparatus, a measurement apparatus combining a microscope and an optical axis scanning mechanism is installed on an experiment table, and a measurement sample is placed on the experiment table and measured. Then, as a specific means when using the above calibration method, use the device installed on the experiment table as described above without using the optical probe, and install a reflector instead of the measurement sample. Thus, a method using the above-described calibration method can be easily analogized. However, in this method, calibration is incomplete because wavelength distortion characteristics different from the case of using an optical probe are included due to the influence of an optical component such as a lens used in the measuring apparatus. In addition, simplicity is lost due to the size of the device.

実際の測定に使用する光プローブは、その用途の性質上、実験テーブルの上に設置する顕微鏡と光軸走査機構を組み合わせた測定装置とは異なり、細径かつ長大であり、かつ生体から保護するための保護部材が光走査機構と作業者の間を完全に隔てているために、光軸の保持、固定、微調整が非常に困難である。そのため、実際の測定に使用する光プローブを光断層画像化装置の、光プローブを着脱自在に光学的に接続させる装着部に装着し、何らかの反射部材を光プローブの先端近傍に配置して、この反射部材に測定光を照射する場合において、反射部材から反射された反射光を光プローブへ正確に入射させることは、作業者にとって困難な作業であり、較正の再現性を得られない虞がある。また、実際の測定に使用する光プローブは、製造上のばらつきを有するため、較正毎に使用する光プローブが相違する場合には、較正の再現性を得ることは、さらに困難となる。   The optical probe used for actual measurement differs from a measuring device that combines a microscope and an optical axis scanning mechanism installed on an experimental table due to the nature of its application, and is thin and long, and protects from a living body. Therefore, it is very difficult to hold, fix, and finely adjust the optical axis because the protective member is completely separated from the optical scanning mechanism and the operator. Therefore, the optical probe used for the actual measurement is mounted on the mounting portion of the optical tomographic imaging apparatus where the optical probe is detachably optically connected, and some reflection member is disposed near the tip of the optical probe. When irradiating the reflecting member with measurement light, it is difficult for the operator to accurately enter the reflected light reflected from the reflecting member into the optical probe, and there is a possibility that the reproducibility of calibration cannot be obtained. . In addition, since optical probes used for actual measurement have manufacturing variations, it is more difficult to obtain calibration reproducibility when optical probes used for each calibration are different.

本発明の目的は、上記事情に鑑み、簡便、且つ再現性を有してプローブ方式光断層画像化装置を較正する較正用治具を提供することにある。   In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a calibration jig for calibrating a probe-type optical tomographic imaging apparatus with ease and reproducibility.

上記課題を解決するために、本発明による較正用治具は、光プローブを備え、この光プローブを着脱自在に光学的に接続させる装着部を有し、光を射出し、この射出された光を参照光と測定光に分割し、この測定光を装着部の射出部から射出し、光プローブに導波させて測定対象に照射し、この測定対象からの反射光を光プローブに導波させて参照光と合波し、反射光と参照光とが合波したときの干渉光を干渉信号として検出し、この干渉信号を用いて測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置の較正に使用される較正用治具であって、装着部に着脱自在に装着可能な保持部材と、この保持部材に保持され、射出部から射出された測定光を反射させて、反射された光を射出部に入射させる反射面とを備えることを特徴とするものである。   In order to solve the above-described problems, a calibration jig according to the present invention includes an optical probe, has a mounting portion that allows the optical probe to be detachably optically connected, and emits light. Is divided into reference light and measurement light, and this measurement light is emitted from the emission part of the mounting part, guided to the optical probe and irradiated to the measurement object, and the reflected light from this measurement object is guided to the optical probe. Calibration of an optical tomographic imaging device that detects interference light when the reflected light and reference light are combined as an interference signal and acquires a tomographic image to be measured using this interference signal A holding jig that can be detachably mounted on the mounting portion, and the measurement light that is held by the holding member and is emitted from the emission portion, and reflects the reflected light. And a reflecting surface that is incident on the emitting portion.

ここで、「装着部に着脱自在に装着可能」とは、装着部へ固定するための部材や機構を用いることにより、装着部に着脱自在に装着することのみを意味するものではなく、単にこの装着部の近傍に配置することをも含むものである。上記「保持部材に保持」とは、直接保持部材に保持されることのみを意味するものではなく、保持部材に保持されている他の部材に保持されている場合をも含むものである。上記「測定光を反射させて、反射された光を射出部に入射させる」とは、測定光を反射させて、反射された光を射出部に直接入射させることのみを意味するものではなく、反射された光を射出部と反射面との間に、例えば、光ファイバや、コリメータレンズ等の光学系を介して射出部に入射させることをも含むものである。   Here, “removably attachable to the attachment part” does not mean that the attachment part is detachably attached by using a member or mechanism for fixing to the attachment part. It also includes arranging in the vicinity of the mounting portion. The above-mentioned “holding on the holding member” does not mean that the holding member is directly held on the holding member, but also includes the case where the holding member holds the other member. The above-mentioned "reflect the measurement light and make the reflected light enter the emission part" does not mean that only the measurement light is reflected and the reflected light is directly incident on the emission part. For example, the reflected light may be incident on the emission unit between the emission unit and the reflection surface via an optical system such as an optical fiber or a collimator lens.

また、本発明による較正用治具は、保持部材が反射面を兼ねているものでもよい。   In the calibration jig according to the present invention, the holding member may also serve as a reflecting surface.

また、本発明による較正用治具は、反射面で反射された反射光を減衰させる減衰部を備えるものであってもよい。ここで、「反射光を減衰させる」とは、反射光自体を減衰させることに限定されるものではなく、反射面に照射させる測定光を予め減衰させておくことにより、反射光を減衰させることをも含むものである。   Moreover, the calibration jig according to the present invention may include an attenuation unit that attenuates reflected light reflected by the reflecting surface. Here, “attenuating the reflected light” is not limited to attenuating the reflected light itself, but attenuating the reflected light by previously attenuating the measurement light irradiated on the reflecting surface. Is also included.

また、本発明による較正用治具は、反射面が減衰部を兼ねているものであってもよい。   In the calibration jig according to the present invention, the reflection surface may also serve as an attenuation part.

また、本発明による較正用治具は、減衰部が、反射面で反射された反射光の光強度が1nW〜100nWの範囲となるように、反射光を減衰させるものであってもよい。   In the calibration jig according to the present invention, the attenuation unit may attenuate the reflected light so that the light intensity of the reflected light reflected by the reflecting surface is in the range of 1 nW to 100 nW.

本発明の較正用治具によれば、光プローブを光学的に接続させる、光断層画像化装置の装着部に着脱自在に装着可能な保持部材と、保持部材に保持され、装着部の射出部から射出された測定光を反射させて、反射された光を射出部に入射させる反射面とを備えているため、作業者が光断層画像化装置を較正するときに、光プローブを光断層画像化装置の装着部から取り外し、この装着部に本発明の較正用治具の保持部材を装着するという簡便な作業のみで、この保持部材に保持されている反射面が、装着部の射出部から射出された測定光を反射させて、反射された光を射出部に入射させるため、作業者は測定光の反射光を正確に入射部に入射させることが可能となり、較正の再現性が向上する。   According to the calibration jig of the present invention, the optical probe is optically connected, the holding member that can be detachably attached to the mounting portion of the optical tomographic imaging apparatus, and the ejection portion of the mounting portion that is held by the holding member And a reflection surface that reflects the measurement light emitted from the light and makes the reflected light incident on the emission part. Therefore, when an operator calibrates the optical tomographic imaging apparatus, the optical probe is optically imaged. The reflective surface held by the holding member is removed from the mounting portion of the mounting portion only by a simple operation of removing from the mounting portion of the control apparatus and mounting the holding member of the calibration jig of the present invention on the mounting portion. Since the emitted measurement light is reflected and the reflected light is incident on the emission part, the operator can accurately reflect the reflected light of the measurement light on the incident part, and the reproducibility of calibration is improved. .

また、本発明の較正用治具によれば、保持部材が反射面を兼ねることにより、較正用治具の構成が簡単なものとなり、較正用治具の製造精度が向上し、較正の再現性が向上する。   In addition, according to the calibration jig of the present invention, the holding member also serves as a reflecting surface, thereby simplifying the configuration of the calibration jig, improving the manufacturing accuracy of the calibration jig, and reproducibility of the calibration. Will improve.

また、本発明の較正用治具によれば、反射された反射光を減衰させる減衰部を備えることにより、反射面の反射率に応じて、検出される干渉光を光断層画像化装置が検出可能な光強度範囲となるように、反射光を減衰させることが可能となる。   Further, according to the calibration jig of the present invention, the optical tomographic imaging apparatus detects the interference light to be detected according to the reflectance of the reflecting surface by including an attenuation unit that attenuates the reflected light reflected. The reflected light can be attenuated so as to be within the possible light intensity range.

以下、本発明の光断層画像化装置の較正用治具について、図面を参照しながら詳細に説明する。   Hereinafter, the calibration jig of the optical tomographic imaging apparatus of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

まず、本発明の較正用治具を使用して較正される光断層画像化装置および光プローブについて説明する。図1は、光断層画像化装置と光プローブの概略構成図である。この光断層画像化装置100は、一例として測定対象の断層画像をSS−OCT計測により取得するものとして説明する。   First, an optical tomographic imaging apparatus and an optical probe that are calibrated using the calibration jig of the present invention will be described. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an optical tomographic imaging apparatus and an optical probe. As an example, the optical tomographic imaging apparatus 100 will be described assuming that a tomographic image to be measured is acquired by SS-OCT measurement.

光断層画像化装置100は、レーザ光Lを射出する光源ユニット110と、この光源ユニット110から射出されたレーザ光Lを分割する光ファイバカプラ102と、この光ファイバカプラ102により分割された光から周期クロック信号TCLKを出力する周期クロック生成手段120と、この光ファイバカプラ102により分割された一方の光を測定光L1と参照光L2に分割する光分割手段103と、参照光L2の光路長を調整する光路長調整手段130と、測定光L1が、光断層画像化装置100の装着部101に着脱自在に光学的に接続された光プローブ200を導波し、光プローブ200から測定対象Sbに照射されたときの測定対象Sbからの反射光L3が、再び光プローブ200を導波し、参照光L2と合波する合波手段104と、この合波手段104により合波された、反射光L3と参照光L2との干渉光L4を検出する干渉光検出手段140と、この干渉光検出手段140により検出された干渉信号ISを周波数解析することにより測定対象Sbの断層画像Pを取得し、これを表示する断層画像取得手段150を有している。 The optical tomographic imaging apparatus 100 includes a light source unit 110 that emits laser light L, an optical fiber coupler 102 that splits the laser light L emitted from the light source unit 110, and light that has been split by the optical fiber coupler 102. Periodic clock generating means 120 that outputs a periodic clock signal T CLK , light splitting means 103 that splits one light split by the optical fiber coupler 102 into measurement light L1 and reference light L2, and an optical path length of the reference light L2 The optical path length adjusting means 130 for adjusting the light and the measurement light L1 are guided through the optical probe 200 detachably optically connected to the mounting portion 101 of the optical tomographic imaging apparatus 100, and the measurement target Sb is transmitted from the optical probe 200. The reflected light L3 from the measuring object Sb when irradiated on the optical probe 200 is again guided through the optical probe 200 and combined with the reference light L2. 04, an interference light detection means 140 for detecting the interference light L4 of the reflected light L3 and the reference light L2 combined by the multiplexing means 104, and an interference signal IS detected by the interference light detection means 140. It has a tomographic image acquisition means 150 that acquires the tomographic image P of the measurement object Sb by frequency analysis and displays it.

光源ユニット110は、波長λを一定周期で掃引させながらレーザ光Lを射出するものである。光源ユニット110は、半導体光増幅器111と光ファイバFB10とを有し、光ファイバFB10が半導体光増幅器111の両端に接続された構造である。半導体光増幅器111は、駆動電流の供給により微弱なレーザ光を光ファイバFB10の一端側に射出するとともに、光ファイバFB10の他端側から入射されたレーザ光を増幅する機能を有している。そして、半導体光増幅器111に駆動電流が供給されたとき、半導体光増幅器111および光ファイバFB10により形成される光共振器によりレーザ光Lが、光ファイバFB0へ射出される。   The light source unit 110 emits the laser light L while sweeping the wavelength λ at a constant period. The light source unit 110 includes a semiconductor optical amplifier 111 and an optical fiber FB10, and the optical fiber FB10 is connected to both ends of the semiconductor optical amplifier 111. The semiconductor optical amplifier 111 has a function of emitting weak laser light to one end side of the optical fiber FB10 by supplying a drive current and amplifying laser light incident from the other end side of the optical fiber FB10. When a drive current is supplied to the semiconductor optical amplifier 111, the laser light L is emitted to the optical fiber FB0 by the optical resonator formed by the semiconductor optical amplifier 111 and the optical fiber FB10.

光ファイバFB10には、サーキュレータ112が結合されており、光ファイバFB10内に導波する光がサーキュレータ112から光ファイバFB11へ射出される。光ファイバFB11から射出した光はコリメータレンズ113、回折光学素子114、光学系115を介して回転多面鏡116において反射される。反射された光は、光学系115、回折光学素子114、コリメータレンズ113を介して再び、光ファイバFB11に入射される。   A circulator 112 is coupled to the optical fiber FB10, and light guided into the optical fiber FB10 is emitted from the circulator 112 to the optical fiber FB11. The light emitted from the optical fiber FB11 is reflected by the rotary polygon mirror 116 via the collimator lens 113, the diffractive optical element 114, and the optical system 115. The reflected light is incident on the optical fiber FB11 again via the optical system 115, the diffractive optical element 114, and the collimator lens 113.

回転多面鏡116は、矢印R1方向に例えば3万rpm程度の高速で回転するものであって、各反射面の角度が光学系115の光軸に対して変化する。これにより、回折光学素子114において分光された光のうち、光学系115の光軸と反射面とのある瞬間の角度によって決まる特定の波長λのレーザ光Lだけが、再び、光ファイバFB11に戻るようになる。光ファイバFB11に戻った特定の波長λの光が、サーキュレータ112から光ファイバFB10に入射し、結果として特定の波長域からなるレーザ光Lが光ファイバFB0に射出される。回転多面鏡116が矢印R1方向に等速で回転したとき、再び光ファイバFB11に入射する光の波長λは、時間の経過にともなって、一定周期で変化することになる。   The rotating polygonal mirror 116 rotates at a high speed of, for example, about 30,000 rpm in the direction of the arrow R1, and the angle of each reflecting surface changes with respect to the optical axis of the optical system 115. As a result, only the laser light L having a specific wavelength λ determined by the momentary angle between the optical axis of the optical system 115 and the reflecting surface out of the light dispersed by the diffractive optical element 114 returns to the optical fiber FB11 again. It becomes like this. The light of the specific wavelength λ that has returned to the optical fiber FB11 enters the optical fiber FB10 from the circulator 112, and as a result, the laser light L having a specific wavelength region is emitted to the optical fiber FB0. When the rotating polygonal mirror 116 rotates at a constant speed in the direction of the arrow R1, the wavelength λ of light incident on the optical fiber FB11 again changes with a constant period as time passes.

光ファイバFB0には、光ファイバカプラ102が接続され、光ファイバFB1と光ファイバFB5に分岐され、FB1に射出された光は、光分割手段103に導波され、FB5に射出された光は、掃引周期の周期クロックTCLKを発生させる、周期クロック生成手段120に入射する。 An optical fiber coupler 102 is connected to the optical fiber FB0, the light is branched into the optical fiber FB1 and the optical fiber FB5, the light emitted to the FB1 is guided to the light dividing means 103, and the light emitted to the FB5 is The light enters the periodic clock generation means 120 that generates a periodic clock TCLK having a sweep period.

周期クロック生成手段120は、光源ユニット110から射出されるレーザ光Lの波長λが1周期掃引される毎に1つの周期クロック信号TCLKを断層画像取得手段150に出力するものである。 The periodic clock generation unit 120 outputs one periodic clock signal T CLK to the tomographic image acquisition unit 150 every time the wavelength λ of the laser light L emitted from the light source unit 110 is swept by one period.

光分割手段103は、例えば2×2の光ファイバカプラから構成されており、光源ユニット110から光ファイバFB1を介して導波されたレーザ光Lを測定光L1と参照光L2に99:1の割合で分割する。具体的に、本実施形態においては、一例として測定光L1の光量は9.9mW、参照光L2の光量は、100μWに分割されるが、これに限定されるものではない。光分割手段103は、2本の光ファイバFB2、FB3にそれぞれ光学的に接続されており、測定光L1は光ファイバFB2により導波し、光プローブ200に射出され、参照光L2は光ファイバFB3により導波し、光路長調整手段130に射出される。なお、本実施形態において、光分割手段103は、合波手段104としても機能するものである。   The light splitting means 103 is composed of, for example, a 2 × 2 optical fiber coupler, and the laser light L guided from the light source unit 110 through the optical fiber FB1 is 99: 1 into the measurement light L1 and the reference light L2. Divide by percentage. Specifically, in the present embodiment, as an example, the light amount of the measurement light L1 is divided into 9.9 mW and the light amount of the reference light L2 is divided into 100 μW, but is not limited thereto. The light splitting means 103 is optically connected to each of the two optical fibers FB2 and FB3. The measurement light L1 is guided by the optical fiber FB2 and emitted to the optical probe 200, and the reference light L2 is the optical fiber FB3. And is emitted to the optical path length adjusting means 130. In the present embodiment, the light splitting means 103 also functions as the multiplexing means 104.

光路長調整手段130は、断層画像Pの取得を開始する位置を調整するために、参照光L2の光路長を変更するものであって、光ファイバFB3から射出された参照光L2を反射させる反射ミラー132と、この反射ミラー132と光ファイバFB3との間に配置された第1光学レンズ131aおよび第2光学レンズ131bとを有している。   The optical path length adjusting unit 130 changes the optical path length of the reference light L2 in order to adjust the position where the acquisition of the tomographic image P is started, and reflects the reference light L2 emitted from the optical fiber FB3. It has a mirror 132, and a first optical lens 131a and a second optical lens 131b arranged between the reflection mirror 132 and the optical fiber FB3.

光路長調整手段130は、第2光学レンズ131bおよび反射ミラー132を固定した基台133と、この基台133を第1光学レンズ131aの光軸方向に移動させるミラー駆動手段134とを有している。そして基台133が矢印A方向に移動することにより、参照光L2の光路長が変えられる。   The optical path length adjusting unit 130 includes a base 133 on which the second optical lens 131b and the reflection mirror 132 are fixed, and a mirror driving unit 134 that moves the base 133 in the optical axis direction of the first optical lens 131a. Yes. Then, when the base 133 moves in the direction of arrow A, the optical path length of the reference light L2 is changed.

合波手段104は、前述の通り2×2の光ファイバカプラからなり、光路長調整手段120により光路長の調整がされた参照光L2と、測定対象Sbからの反射光L3とを合波する。この合波による干渉光L4は、光ファイバFB4を導波して干渉光検出手段140に入射する。   The multiplexing means 104 is composed of a 2 × 2 optical fiber coupler as described above, and multiplexes the reference light L2 whose optical path length is adjusted by the optical path length adjusting means 120 and the reflected light L3 from the measurement target Sb. . The interference light L4 resulting from this multiplexing is guided through the optical fiber FB4 and enters the interference light detection means 140.

干渉光検出手段140は、合波手段104により合波された反射光L3と参照光L2との干渉光L4を検出し、この干渉光L4の光強度の時間特性波形を干渉信号ISとして出力するものである。なお、本実施形態においては、一例として干渉光L4を合波手段104で50:50の割合で分割し、光検出器140a、140bに入射させ、バランス検波を行う機構を有している。この干渉信号ISは、A/D変換されて断層画像取得手段150に出力される。   The interference light detection means 140 detects the interference light L4 between the reflected light L3 combined by the multiplexing means 104 and the reference light L2, and outputs a time characteristic waveform of the light intensity of the interference light L4 as the interference signal IS. Is. In the present embodiment, as an example, the interference light L4 is divided by the multiplexing means 104 at a ratio of 50:50, and is incident on the photodetectors 140a and 140b to have a balance detection. This interference signal IS is A / D converted and output to the tomographic image acquisition means 150.

断層画像取得手段150は、断層画像処理部151が断層画像作成プログラムを実行し、A/D変換された干渉信号ISを使用して、測定対象Sbの断層情報を作成し、表示部152に断層画像Pを表示させるものである。本実施形態においては、断層画像取得手段150は、一例として外部に接続されたコンピュータで処理され、表示するものとして説明するが、光断層画像化装置100の内部において処理され、これを表示するものであってもよい。また、断層画像処理部151のA/D変換された干渉信号ISの処理については、後述する。   In the tomographic image acquisition unit 150, the tomographic image processing unit 151 executes a tomographic image creation program, creates the tomographic information of the measurement target Sb using the A / D converted interference signal IS, and displays the tomographic image on the display unit 152. The image P is displayed. In the present embodiment, the tomographic image acquisition unit 150 is described as being processed and displayed by an externally connected computer as an example, but is processed and displayed inside the optical tomographic imaging apparatus 100. It may be. The processing of the interference signal IS subjected to A / D conversion by the tomographic image processing unit 151 will be described later.

光断層画像化装置100の筺体には、光プローブ200を光ファイバFB2と光学的に接続させる装着部101が設けられている。この装着部101は、光ファイバFB2からの測定光L1を射出する射出部101aを有している。本実施形態において、装着部は、一例として光断層画像化装置100の筺体に設けられた光コネクタ101、射出部は、光コネクタ101の中心部101aにより構成されるものとして説明するが、これに限定されるものではない。   The housing of the optical tomographic imaging apparatus 100 is provided with a mounting portion 101 that optically connects the optical probe 200 to the optical fiber FB2. The mounting portion 101 has an emission portion 101a that emits the measurement light L1 from the optical fiber FB2. In the present embodiment, as an example, the mounting portion is described as being configured by the optical connector 101 provided in the housing of the optical tomographic imaging apparatus 100, and the emission portion is configured by the central portion 101a of the optical connector 101. It is not limited.

光プローブ200は、光コネクタ101に装着されることにより、光ファイバFB2と着脱自在に光学的に接続されることになる。これにより、光ファイバFB2から射出された測定光L1は、光プローブ200に射出される。   By attaching the optical probe 200 to the optical connector 101, the optical probe 200 is detachably optically connected to the optical fiber FB2. Thereby, the measurement light L1 emitted from the optical fiber FB2 is emitted to the optical probe 200.

光プローブ200は、内視鏡の鉗子チャンネル等から体腔内に挿入される先端部210と、駆動部220から構成されるものである。光プローブ200は、略全長にわたり光ファイバ201を内蔵し、光コネクタ101に装着されることにより、この光ファイバ201が中心部101aにおいて、光ファイバFB2と光学的に接続されることになる。光ファイバ201は、先端部210と駆動部220との間で分割され、図示しない光学的ロータリージョイントにより、先端部210側の光ファイバ201が、駆動部220側の光ファイバ201に対して回転自在となるように接続されている。また、この先端部210を取り外し、図示しないロータリージョイントの部分を前述の装着部として、較正用治具1を装着することも可能である。   The optical probe 200 includes a distal end portion 210 that is inserted into a body cavity from a forceps channel or the like of an endoscope, and a drive portion 220. The optical probe 200 incorporates an optical fiber 201 over substantially the entire length and is attached to the optical connector 101, whereby the optical fiber 201 is optically connected to the optical fiber FB2 at the central portion 101a. The optical fiber 201 is divided between the tip portion 210 and the drive portion 220, and the optical fiber 201 on the tip portion 210 side is rotatable with respect to the optical fiber 201 on the drive portion 220 side by an optical rotary joint (not shown). It is connected to become. It is also possible to attach the calibration jig 1 by removing the tip portion 210 and using the rotary joint portion (not shown) as the mounting portion described above.

光ファイバ201の先端には、先端光学系202が配設され、測定光L1を測定物Sbに照射するとともに、測定対象Sbからの反射光L3を光ファイバ201に入射させる。ここで、測定対象Sbは、光軸に対してデルタ関数状の単一反射点を実現するものであるとする。先端部210側の光ファイバ201は、駆動部220に内蔵された図示しない駆動モータにより、光ファイバ201の長手軸回り(図中R方向)に回転される。これにより、先端光学系202から出射する測定光L1は、光ファイバ201の長手軸回り(図中R方向)に走査される。   A tip optical system 202 is disposed at the tip of the optical fiber 201 to irradiate the measuring object Sb with the measuring light L1 and to make the reflected light L3 from the measuring object Sb enter the optical fiber 201. Here, it is assumed that the measurement target Sb realizes a single reflection point having a delta function shape with respect to the optical axis. The optical fiber 201 on the tip portion 210 side is rotated around the longitudinal axis of the optical fiber 201 (R direction in the figure) by a drive motor (not shown) built in the drive unit 220. Thereby, the measurement light L1 emitted from the tip optical system 202 is scanned around the longitudinal axis of the optical fiber 201 (R direction in the drawing).

断層画像処理部151は、周期クロック生成手段120からの周期クロックTCLKに基づいて、干渉光検出手段140により検出された、掃引周期の1周期分の干渉信号ISを取得する。図2は、断層画像処理部151に入力される、測定対象Sbが単一の反射点である場合の干渉信号ISを示すものである。前述のとおり、干渉信号ISは、干渉光L4の光強度の時間特性波形であり、図2において、横軸は時間t、縦軸は干渉光L4の光強度Iを表すものである。 The tomographic image processing unit 151 acquires the interference signal IS for one cycle of the sweep cycle detected by the interference light detection unit 140 based on the cycle clock T CLK from the cycle clock generation unit 120. FIG. 2 shows an interference signal IS input to the tomographic image processing unit 151 when the measurement target Sb is a single reflection point. As described above, the interference signal IS is a time characteristic waveform of the light intensity of the interference light L4. In FIG. 2, the horizontal axis represents time t, and the vertical axis represents the light intensity I of the interference light L4.

測定対象Sbが単一反射点である場合、干渉信号ISは波数kに対して単一周波数の正弦波となるはずである。しかし、光源ユニット110の特性、構成機器等の影響から波数kは時間軸に対して線形とならず、図2に示すように、干渉信号ISは時間軸に対して単一周波数の正弦波とならない。しかしながら、前述のとおり、断層画像処理部151は、測定対象Sbの正確な断層画像Pを得るために、この干渉信号ISを、図3に示すように、波数k(=2π/λ)に対して単一周波数となるように再配列する必要がある。このため、断層画像処理部151は、光断層画像化装置100を較正することにより得られる時間t−波数kの較正用変換テーブルもしくは関数を有しており、この時間t−波数kの較正用変換テーブルもしくは較正用変換関数を用いて、干渉信号ISを波数軸kに対して等間隔、つまり単一周波数となるように再配列する。これにより、断層画像処理部151は、干渉信号ISから断層情報を算出するときに、フーリエ変換処理、最大エントロピー法による処理等の周波数空間等において、干渉信号ISが波数kに対して等間隔であることを前提とするスペクトル解析法により精度の高い断層情報を得ることが可能となる。なお、この変換手法の詳細は,US5956355号に開示されている。   When the measurement object Sb is a single reflection point, the interference signal IS should be a sine wave having a single frequency with respect to the wave number k. However, the wave number k is not linear with respect to the time axis due to the influence of the characteristics of the light source unit 110, components, etc., and the interference signal IS is a sine wave with a single frequency with respect to the time axis as shown in FIG. Don't be. However, as described above, the tomographic image processing unit 151 uses the interference signal IS with respect to the wave number k (= 2π / λ) as shown in FIG. 3 in order to obtain an accurate tomographic image P of the measurement target Sb. Therefore, it is necessary to rearrange so that it becomes a single frequency. For this reason, the tomographic image processing unit 151 has a calibration conversion table or function of time t-wave number k obtained by calibrating the optical tomographic imaging apparatus 100, and for calibration of this time t-wave number k. Using the conversion table or the conversion function for calibration, the interference signal IS is rearranged so as to be equally spaced with respect to the wavenumber axis k, that is, at a single frequency. Accordingly, when the tomographic image processing unit 151 calculates tomographic information from the interference signal IS, the interference signal IS is equally spaced with respect to the wave number k in a frequency space such as a Fourier transform process and a process using the maximum entropy method. High-accuracy tomographic information can be obtained by a spectral analysis method based on the premise that there is a certain one. Details of this conversion method are disclosed in US Pat. No. 5,956,355.

断層画像処理部151は、この変換された干渉信号ISを、一例としてフーリエ変換、最大エントロピー法、Yule−Walker法等のスペクトル解析法により、測定対象Sbの掃引周期の1周期分の断層情報を取得する。   The tomographic image processing unit 151 uses the converted interference signal IS as an example to obtain tomographic information for one cycle of the sweep cycle of the measurement target Sb by spectral analysis methods such as Fourier transform, maximum entropy method, and Yule-Walker method. get.

断層画像処理部151は、光プローブ200の先端から出射される測定光L1が光ファイバ201の軸回りに走査されることにより、測定対象Sbの各照射位置での断層情報を取得し、光プローブ200の駆動部220の有するエンコーダ等の信号に基づいて、測定対象Sbの全周の断層情報を生成し、これを断層画像Pとして表示部151に表示させる。   The tomographic image processing unit 151 acquires tomographic information at each irradiation position of the measurement target Sb by scanning the measurement light L1 emitted from the tip of the optical probe 200 around the axis of the optical fiber 201, and obtains the optical probe. Based on a signal from an encoder or the like included in the driving unit 220 of 200, tomographic information of the entire circumference of the measurement target Sb is generated and displayed on the display unit 151 as a tomographic image P.

次に、本発明の較正用治具1の第1の実施形態について説明する。較正用治具1は、図1に示すように、光断層画像化装置100の装着部の一例である光コネクタ101に、着脱自在に装着されるものである。図4A〜図4Cは、較正用治具1の第1の実施形態を示す図である。較正用治具1は、光コネクタ101に装着可能である保持部材2と、測定光L1を反射させる反射部材3とから主に構成させるものである。   Next, a first embodiment of the calibration jig 1 of the present invention will be described. As shown in FIG. 1, the calibration jig 1 is detachably attached to an optical connector 101 that is an example of a mounting portion of the optical tomographic imaging apparatus 100. 4A to 4C are views showing a first embodiment of the calibration jig 1. FIG. The calibration jig 1 is mainly composed of a holding member 2 that can be attached to the optical connector 101 and a reflecting member 3 that reflects the measuring light L1.

保持部材2は、本実施形態において光コネクタ101と嵌合可能な光コネクタ2aを有することにより、光コネクタ101と着脱自在に構成されるものとして説明する。なお、保持部材2を光コネクタ101と着脱自在とさせることは、保持部材2が光コネクタ2aを有することに限定されるものではなく、保持部材2を光断層画像化装置100の筺体にネジ等により固定すること、保持部材2を他の支持部材等により支持し、光コネクタ101の近傍に配置することをも含むものである。   The holding member 2 will be described as being configured to be detachable from the optical connector 101 by having the optical connector 2a that can be fitted to the optical connector 101 in this embodiment. Note that making the holding member 2 detachable from the optical connector 101 is not limited to the holding member 2 having the optical connector 2 a, and the holding member 2 is attached to the housing of the optical tomographic imaging apparatus 100 with screws or the like. The holding member 2 is supported by another supporting member and disposed in the vicinity of the optical connector 101.

また、保持部材2は、射出部の一例である光コネクタ101の中心部101aから射出された測定光L1を反射させる反射部材3を保持するものである。反射部材3は、保持部材2により直接的に保持されるものであってもよいが、アダプタを介して間接的に保持部材2に保持されるものであってもよい。   The holding member 2 holds the reflecting member 3 that reflects the measurement light L1 emitted from the central portion 101a of the optical connector 101 that is an example of the emitting portion. The reflection member 3 may be directly held by the holding member 2, but may be held by the holding member 2 indirectly via an adapter.

また、保持部材2は、中心部101aから射出された測定光L1を反射部材3に導波させるものである。本実施形態においては、測定光L1は、光コネクタ2aに接続された光ファイバ2bを介して間接的に反射部材3に導波するものとして説明するが、これに限定されるものではなく、光ファイバ2bの代わりに光学系2cを介して導波するもの、図4Bに示すように、光ファイバ2bと光学系2cの両方を介して導波するものでもよい。さらに、測定光L1が、直接的に反射部材3に導波するものであってもよい。   The holding member 2 guides the measuring light L1 emitted from the central portion 101a to the reflecting member 3. In the present embodiment, the measurement light L1 is described as being indirectly guided to the reflecting member 3 via the optical fiber 2b connected to the optical connector 2a. However, the present invention is not limited to this. It may be guided through the optical system 2c instead of the fiber 2b, or may be guided through both the optical fiber 2b and the optical system 2c as shown in FIG. 4B. Further, the measurement light L1 may be guided directly to the reflecting member 3.

反射部材3は、前述のとおり、保持部材2に直接的または間接的に保持されるものであり、中心部101aから射出された測定光L1を反射させる反射面3aを有するものである。反射面3aは、研磨やコーティング等により所定の強度の反射光を反射するものである。なお、反射部材3は、特に限定されるものではなく、図4Cが示すように、較正用治具1内の光ファイバ2bが反射部材3を兼ねてもよい。すなわち光ファイバ2bが反射部材3を兼ねる場合には、この光ファイバ2bのファイバ端が反射面3aとなる。   As described above, the reflecting member 3 is directly or indirectly held by the holding member 2 and has the reflecting surface 3a that reflects the measurement light L1 emitted from the central portion 101a. The reflecting surface 3a reflects reflected light having a predetermined intensity by polishing or coating. The reflecting member 3 is not particularly limited, and the optical fiber 2b in the calibration jig 1 may also serve as the reflecting member 3 as shown in FIG. 4C. That is, when the optical fiber 2b also serves as the reflecting member 3, the fiber end of the optical fiber 2b becomes the reflecting surface 3a.

較正用治具1の第2の実施形態について説明する。反射部材3は、図5A〜図5Dに示すように、保持部材2の一部もしくは全部に反射面3aを形成することにより、保持部材2が反射面3aを有することも可能である。図5Aは、保持部材2の内面2dに反射面3aを形成した場合、図5Bは、保持部材2の一部または全部を光透過材料とすることにより、保持部材2の外面2eに反射面3aを形成する場合を示したものである。また、図5Cおよび図5Dに示すように、光ファイバ2bの先端に光学系を配置して測定光L1を偏光させることも可能である。なお、他の構成は、第1の実施形態と同じであり、その説明は省略する。   A second embodiment of the calibration jig 1 will be described. As shown in FIGS. 5A to 5D, the reflecting member 3 may have the reflecting surface 3 a by forming the reflecting surface 3 a on a part or all of the holding member 2. 5A shows a case where the reflecting surface 3a is formed on the inner surface 2d of the holding member 2. FIG. 5B shows that the reflecting surface 3a is formed on the outer surface 2e of the holding member 2 by using a part or all of the holding member 2 as a light transmitting material. Is shown. Further, as shown in FIGS. 5C and 5D, an optical system can be disposed at the tip of the optical fiber 2b to polarize the measurement light L1. Other configurations are the same as those of the first embodiment, and the description thereof is omitted.

較正用治具1の第3の実施形態について説明する。較正用治具1は、図6Aおよび図6Bに示すように、減衰部材4を備えることも可能である。前述のとおり、測定光L1の光量は、一例として9.9mWであるが、実際の測定においては、反射光L3は、測定光L1に対して十分に減衰されたものである。具体的に、干渉光検出手段140は、前述の光量を有する測定光L1を測定対象Sbに照射した場合の反射光L3の光量が、一例として合波手段104の直前で1nW〜100nWの範囲にあるものとして、光量検出範囲が設定されている。したがって、反射面3aの反射率が高い場合に、較正用治具1が減衰部材4を備えることにより、反射面3aからの反射光L3の光量を、干渉光検出手段140の光量検出範囲まで減衰させることが可能となる。本実施形態においては、図6Aおよび図6Bに示すように、減衰部材としてNDフィルタ4を中心部101aと反射面3aとの間に挿入するものとして説明するが、これに限定されるものではなく、前述の光ファイバの端面を反射面3aとしたときに、該端面を斜めにカットすることにより、反射光L3の戻りを4%程度に減衰させることが可能となる。また、反射面3aの表面に凹凸を形成し、反射面3aの反射率を低下させることにより、減衰部材4を形成することも可能である。すなわち、反射面3aが減衰部材4を兼ねることも可能である。なお、第3の実施形態の他の構成は、第1の実施形態と同じであり、その説明は省略する。   A third embodiment of the calibration jig 1 will be described. The calibration jig 1 can also include an attenuation member 4 as shown in FIGS. 6A and 6B. As described above, the light amount of the measurement light L1 is 9.9 mW as an example, but in actual measurement, the reflected light L3 is sufficiently attenuated with respect to the measurement light L1. Specifically, the interference light detection means 140 has the light quantity of the reflected light L3 in the range of 1 nW to 100 nW just before the multiplexing means 104 as an example when the measurement light L1 having the above light quantity is irradiated onto the measurement object Sb. As an example, a light amount detection range is set. Therefore, when the reflectance of the reflection surface 3a is high, the calibration jig 1 includes the attenuation member 4, so that the amount of the reflected light L3 from the reflection surface 3a is attenuated to the light amount detection range of the interference light detection means 140. It becomes possible to make it. In this embodiment, as shown in FIGS. 6A and 6B, the ND filter 4 is described as being inserted between the central portion 101a and the reflecting surface 3a as an attenuation member, but the present invention is not limited to this. When the end face of the optical fiber is the reflecting face 3a, the return of the reflected light L3 can be attenuated to about 4% by cutting the end face obliquely. It is also possible to form the attenuation member 4 by forming irregularities on the surface of the reflective surface 3a and reducing the reflectance of the reflective surface 3a. That is, the reflecting surface 3 a can also serve as the attenuation member 4. In addition, the other structure of 3rd Embodiment is the same as 1st Embodiment, The description is abbreviate | omitted.

次に、図4Aに示される較正用治具1の第1の実施形態を使用した場合の較正について説明する。作業者は、光断層画像化装置100の光コネクタ101に装着された光プローブ200を取り外し、較正用治具1の光コネクタ2aを光コネクタ101に嵌合させることにより、光ファイバFB2と光ファイバ2bとを光学的に接続させる。   Next, calibration when the first embodiment of the calibration jig 1 shown in FIG. 4A is used will be described. The operator removes the optical probe 200 attached to the optical connector 101 of the optical tomographic imaging apparatus 100 and fits the optical connector 2a of the calibration jig 1 to the optical connector 101, whereby the optical fiber FB2 and the optical fiber are fitted. 2b is optically connected.

中心部101aから射出された測定光L1は、光ファイバ2bに入射し、光ファイバ2bに導波し、反射部材3に照射される。反射部材3の反射面3aで反射された反射光L3は、光ファイバ2bに入射し、光ファイバ2bおよび光ファイバFB2に導波し、合波手段104に入射する。合波手段104により参照光L2と反射光L3の干渉が生じ、干渉光L4が発生し、この干渉光L4は、合波手段104に分割されて干渉光検出手段140に入射し、干渉信号ISが検出される。   The measurement light L1 emitted from the central portion 101a enters the optical fiber 2b, is guided to the optical fiber 2b, and is applied to the reflecting member 3. The reflected light L3 reflected by the reflecting surface 3a of the reflecting member 3 enters the optical fiber 2b, is guided to the optical fiber 2b and the optical fiber FB2, and enters the multiplexing means 104. Interference between the reference light L2 and the reflected light L3 occurs by the multiplexing means 104, and interference light L4 is generated. This interference light L4 is divided into the multiplexing means 104 and enters the interference light detection means 140, and the interference signal IS Is detected.

したがって、測定光L1は、反射部材3の有する反射面3aでのみ反射するものである。すなわち、較正用治具1は、測定光L1に対して単一の反射面を有するものである。仮に、測定光L1の波数kが線形に変化するとき、干渉信号ISは単一周波数の時間特性波形となるが、実際には、図7に示すように、光源ユニット110の特性等の影響により、単一周波数の時間特性波形よりも歪んだ時間特性波形となる。   Therefore, the measurement light L1 is reflected only on the reflection surface 3a of the reflection member 3. That is, the calibration jig 1 has a single reflecting surface for the measurement light L1. If the wave number k of the measurement light L1 changes linearly, the interference signal IS becomes a single-frequency time characteristic waveform. Actually, however, due to the influence of the characteristics of the light source unit 110 as shown in FIG. The time characteristic waveform is distorted more than the time characteristic waveform of a single frequency.

ここで、単一反射面に対して測定光L1の波数kが線形に変化するとき、干渉信号ISのゼロ点(干渉信号の最大強度Imaxと最小強度Iminの中間の強度の点)は、波数kに対して等間隔となるものである。この性質を利用して、干渉信号ISの時間特性波形を波数kに対して等間隔とする較正用変換テーブルを作成する。 Here, when the wave number k of the measuring light L1 changes linearly with respect to a single reflecting surface, the zero point of the interference signal IS (a point having an intermediate intensity between the maximum intensity I max and the minimum intensity I min of the interference signal) is , Which are equally spaced with respect to wave number k. Using this property, a calibration conversion table is created in which the time characteristic waveform of the interference signal IS is equally spaced with respect to the wave number k.

以下、具体的に、較正用治具1を装着して得られた干渉信号ISから較正用変換テーブルを作成する方法について、図7を用いて説明する。まず、図7に示すように、干渉信号ISの各ゼロ点での波数kをk0、k1、・・・、kn-1(nは掃引周期内におけるゼロ点の数)とし、波数k0、k1、・・・、kn-1に対応する時間t0、t1、・・・、tn-1と記号付する。時間t0、t1、・・・、tn-1を求める方法としては、例えば、ゼロ点をまたぐ直近の2点間を線形近似することによりゼロ点を推定する方法がある。この場合に、干渉信号ISに、フーリエ変換処理をして、得られるデータの高周波数側を0詰めし、その後に逆フーリエ変換することにより、干渉信号ISのデータ数を増やした後に、直近の2点間を線形近似することで、精度よくゼロ点を推定することも可能である。また、時間t0、t1、・・・、tn-1を求める方法は、線形近似に限定されるものではなく、スプラインで近似することにより推定することも可能である。 Hereinafter, a method of creating a calibration conversion table from the interference signal IS obtained by mounting the calibration jig 1 will be specifically described with reference to FIG. First, as shown in FIG. 7, the wave number k at each zero point of the interference signal IS is k 0 , k 1 ,..., K n-1 (n is the number of zero points in the sweep cycle), and the wave number k 0, k 1, ···, time corresponding to the k n-1 t 0, t 1, ···, be with t n-1 and symbols. As a method for obtaining the times t 0 , t 1 ,..., T n−1 , for example, there is a method of estimating the zero point by linearly approximating between the two nearest points that cross the zero point. In this case, the interference signal IS is subjected to Fourier transform processing, zero-padded on the high frequency side of the obtained data, and then subjected to inverse Fourier transform to increase the number of data of the interference signal IS. It is also possible to estimate the zero point with high accuracy by performing linear approximation between the two points. Further, the method for obtaining the times t 0 , t 1 ,..., T n-1 is not limited to linear approximation, and can be estimated by approximation with a spline.

このように、推定されたゼロ点に基づいて、各(tm、km)(m=n-1、・・・、n−1)を、横軸をt、縦軸をkとして、図8Aに示すように、kmが等間隔に並ぶようにプロットする。すなわち、縦軸のkn-1の位置を1として、0〜1の間をn等分するようにk0〜kn-2の点をプロットする。そして、このように得られた各(tm、km)(m=0、1、・・・、n−1)間を、例えば、3次スプライン補間によって補間することにより、図8Bに示すような較正用変換テーブルを得る。なお、補間方法は特に限定されるものではない。 Thus, based on the zero point which is estimated, each of the (t m, k m) ( m = n-1, ···, n-1), the horizontal axis t, and the vertical axis is the k, FIG. as shown in 8A, k m is plotted as equal intervals. That is, with the position of k n-1 on the vertical axis being 1, the points k 0 to k n-2 are plotted so as to equally divide between 0 and 1. Then, thus obtained the (t m, k m) ( m = 0,1, ···, n-1) between, for example, by interpolating the cubic spline interpolation, shown in FIG. 8B Such a calibration conversion table is obtained. The interpolation method is not particularly limited.

また、本実施形態においては、図4Aに示される較正用治具1の第1の実施形態を用いての較正について説明したが、射出部101aと反射面3aとの間に、光透過部材等を配置することにより、複数の反射面を有する場合には、干渉信号ISをフーリエ変換し、フーリエ変換された干渉信号ISの、反射面3aでの反射に対応するピーク部分を切り出し、これを逆フーリエ変換した得られた干渉信号ISに基づいて、前述の較正をする場合であってもよい。さらに、本発明の較正用治具1を使用した較正は、前述のゼロ点を推定する方法に限定されるものではなく、特開2007−101365に記載された較正方法を使用することも可能である。   Moreover, in this embodiment, although the calibration using 1st Embodiment of the jig | tool 1 for calibration shown by FIG. 4A was demonstrated, between a light emission part 101a and the reflective surface 3a, a light transmissive member etc. If the interference signal IS has a plurality of reflection surfaces, the interference signal IS is Fourier-transformed, and the peak portion corresponding to the reflection on the reflection surface 3a of the Fourier-transformed interference signal IS is cut out and reversed. The above-described calibration may be performed based on the interference signal IS obtained by Fourier transform. Furthermore, the calibration using the calibration jig 1 of the present invention is not limited to the above-described method for estimating the zero point, and the calibration method described in JP-A-2007-101365 can also be used. is there.

また、本実施形態においては、光断層画像化装置100をSS−OCT装置として説明したが、これに限定されるものではない。本較正用治具1をSD−OCT装置に適用し、SD−OCT装置により得られた干渉光L4の光強度の波長特性波形を、波数に対して等間隔となる較正用変換テーブルを作成することも可能である。   In the present embodiment, the optical tomographic imaging apparatus 100 has been described as an SS-OCT apparatus, but the present invention is not limited to this. The calibration jig 1 is applied to an SD-OCT apparatus, and a calibration conversion table is created in which the wavelength characteristic waveform of the light intensity of the interference light L4 obtained by the SD-OCT apparatus is equidistant from the wave number. It is also possible.

したがって、本発明の較正用治具1は、作業者が、光断層画像化装置100の装着部101に較正用治具1を装着するだけで、射出部101aから射出された測定光L1を反射面3aが射出部101aに反射することが可能となり、光断層画像化装置100を簡便かつ再現性を有しながら、較正することが可能となる。   Therefore, the calibration jig 1 of the present invention reflects the measurement light L1 emitted from the emission unit 101a simply by the operator mounting the calibration jig 1 on the installation unit 101 of the optical tomographic imaging apparatus 100. The surface 3a can be reflected by the emitting portion 101a, and the optical tomographic imaging apparatus 100 can be calibrated while being simple and reproducible.

光断層画像化装置と光プローブの概略構成図Schematic configuration diagram of optical tomographic imaging device and optical probe 断層画像処理部に入力される干渉信号ISを示す図The figure which shows the interference signal IS input into a tomographic image process part 再配列された干渉信号ISを示す図Diagram showing the rearranged interference signal IS 較正用治具の第1の実施形態を示す図The figure which shows 1st Embodiment of the jig | tool for calibration 較正用治具の第1の実施形態を示す図The figure which shows 1st Embodiment of the jig | tool for calibration 較正用治具の第1の実施形態を示す図The figure which shows 1st Embodiment of the jig | tool for calibration 較正用治具の第2の実施形態を示す図The figure which shows 2nd Embodiment of the jig | tool for calibration. 較正用治具の第2の実施形態を示す図The figure which shows 2nd Embodiment of the jig | tool for calibration. 較正用治具の第2の実施形態を示す図The figure which shows 2nd Embodiment of the jig | tool for calibration. 較正用治具の第2の実施形態を示す図The figure which shows 2nd Embodiment of the jig | tool for calibration. 較正用治具の第3の実施形態を示す図The figure which shows 3rd Embodiment of the jig | tool for calibration 較正用治具の第3の実施形態を示す図The figure which shows 3rd Embodiment of the jig | tool for calibration 較正用治具1を装着した場合の干渉信号を示す図The figure which shows the interference signal at the time of mounting | wearing with the jig | tool 1 for calibration. 較正用変換テーブルを示す図The figure which shows the conversion table for calibration 較正用変換テーブルを示す図The figure which shows the conversion table for calibration

符号の説明Explanation of symbols

IS 干渉信号
L レーザ光
L1 測定光
L2 参照光
L3 反射光
L4 干渉光
P 断層画像
Sb 測定対象
1 較正用治具
2 保持部材
3 反射部材
3a 反射面
4 減衰部、NDフィルタ
100 光断層画像化装置
101 装着部、光コネクタ
101a 射出部、中心部
200 光プローブ
IS interference signal L laser beam L1 measurement beam L2 reference beam L3 reflected beam L4 interference beam P tomographic image Sb measurement object 1 calibration jig 2 holding member 3 reflecting member 3a reflecting surface 4 attenuation unit, ND filter 100 optical tomographic imaging apparatus 101 mounting part, optical connector 101a emitting part, central part 200 optical probe

Claims (5)

光プローブを備え、該光プローブを着脱自在に光学的に接続させる装着部を有し、光を射出し、該射出された光を参照光と測定光に分割し、該測定光を前記装着部の射出部から射出し、前記光プローブに導波させて測定対象に照射し、該測定対象からの反射光を前記光プローブに導波させて前記参照光と合波し、前記反射光と前記参照光とが合波したときの干渉光を干渉信号として検出し、該干渉信号を用いて前記測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置の較正に使用される較正用治具であって、
前記装着部に着脱自在に装着可能な保持部材と、
該保持部材に保持され、前記射出部から射出された前記測定光を反射させて、反射された光を前記射出部に入射させる反射面とを備えることを特徴とする較正用治具。
An optical probe, and a mounting portion for optically connecting the optical probe in a detachable manner, emitting light, dividing the emitted light into reference light and measurement light, and supplying the measurement light to the mounting portion The light is emitted from the emission part, guided to the optical probe and irradiated to the measurement object, and the reflected light from the measurement object is guided to the optical probe and combined with the reference light, and the reflected light and the A calibration jig used to calibrate an optical tomographic imaging apparatus that detects interference light when combined with reference light as an interference signal and acquires a tomographic image of the measurement object using the interference signal. And
A holding member that can be detachably mounted on the mounting portion;
A calibration jig, comprising: a reflection surface that is held by the holding member and reflects the measurement light emitted from the emission unit and causes the reflected light to enter the emission unit.
前記保持部材が、前記反射面を兼ねていることを特徴とする請求項1に記載の較正用治具。   The calibration jig according to claim 1, wherein the holding member also serves as the reflecting surface. 前記反射面で反射された反射光を減衰させる減衰部を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の較正用治具。   The calibration jig according to claim 1, further comprising an attenuation unit that attenuates reflected light reflected by the reflection surface. 前記反射面が、前記減衰部を兼ねていることを特徴とする請求項3に記載の較正用治具。   The calibration jig according to claim 3, wherein the reflection surface also serves as the attenuation portion. 前記減衰部が、前記反射面で反射された反射光の光強度が1nW〜100nWの範囲となるように、前記反射光を減衰させるものであることを特徴とする請求項3または4に記載の較正用治具。   The said attenuation part attenuates the said reflected light so that the light intensity of the reflected light reflected by the said reflective surface may become the range of 1nW-100nW, The Claim 3 or 4 characterized by the above-mentioned. Calibration jig.
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