JP2017133988A - 真贋判別方法および真贋判別装置 - Google Patents
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Abstract
Description
[1]所望のステルスインキを含有させた印刷インキを印刷してなる対象印刷物の真贋判別方法であって、可視光線波長域以外の波長域で前記ステルスインキが反射または吸収特性を有する波長域の中から、50nm以上離れた少なくとも2以上の波長を選択し、その波長における対象印刷物の反射率または吸収率と、前記ステルスインキを印刷してなるステルスインキ印刷物の反射率または吸収率とを比較して、選択した何れの波長においてもその反射率差が10%以内である場合に対象印刷物を真正印刷物と判別する真贋判別方法である。
[2]選択する波長の一つを、前記所望のステルスインキ印刷物のピーク波長とする真贋判別方法である。
[3]選択する波長の一つを、前記所望のステルスインキ印刷物のピーク波長よりも可視光線波長域から遠ざかる側の波長とする真贋判別方法である。
[4]所望のステルスインキを含有させた印刷インキを印刷してなる対象印刷物の真贋判別方法であって、可視光線波長域以外の波長域で前記ステルスインキが反射または吸収の変曲点となるピークを2以上有するステルスインキであり、そのピークとなる波長から少なくとも2以上の波長を選択し、その波長における対象印刷物の反射率または吸収率と、前記ステルスインキを印刷してなるステルスインキ印刷物の反射率または吸収率とを比較して、選択した何れの波長においてもその反射率差または吸収率差が10%以内である場合に対象印刷物を真正印刷物と判別する真贋判別方法である。
[6]2波長における前記所望のステルスインキ印刷物の反射率差または吸収率差が50%以上となるその2波長を選択する真贋判別方法である。
[7]選択する波長を少なくとも3以上とし、そのうちの一を前記所望のステルスインキ印刷物のピーク波長とし、他の二つをこのピーク波長よりも長波長側の波長と、短波長側の波長とする真贋判別方法である。
[8]前記ステルスインキは、近赤外波長域に反射または吸収特性を有する赤外線ステルスインキである真贋判別方法である。
[10]選択した波長と、前記ステルスインキを印刷してなるステルスインキ印刷物のその波長における反射率または吸収率とを入力する入力部と、データを記憶する記憶部と、を有する真贋判別装置である。
[11]前記2以上の波長と、その波長に対する所望のステルスインキの反射率または吸収率とを前記真贋判別装置に記憶させ、その記憶させた真贋判別装置で、所望のステルスインキを含有させた印刷インキを印刷してなる真正印刷物か、この所望のステルスインキを含有しない印刷インキを印刷してなる偽物印刷物かを区別する真贋判別方法である。
本実施形態での真贋判別方法は、例えば、図1で示すような分光反射率曲線で表れる反射特性を備えたステルスインキAを用い、このステルスインキAを含む印刷インキで印刷した印刷物を真正印刷物、このステルスインキAを含まない印刷物を偽物印刷物と判別する方法である。
なお、反射特性とはある波長域の光線をそれ以外のベースとなる波長域の光線に比べて反射する性質をいい、吸収特性とはある波長域の光線をそれ以外のベースとなる波長域の光線に比べて吸収する性質をいう。
なおここでは、ステルスインキAを単独で透明樹脂フィルム上に印刷した際の分光反射率曲線を示す。
まず、何のステルスインキも含まない場合であれば、近赤外領域のピークは表れず、ステルスインキAに起因する反射率は得られないため、近赤外領域での波形の相違で真贋判別を行うことができる。次に、ステルスインキA以外のステルスインキが含まれる場合は、近赤外領域に何らかのピークを有する可能性がある。しかしながら、ステルスインキAの有するピークとは異なるため、やはり近赤外領域における波形は真正印刷物とは異なるものとなる。
プロセスインキ等に対するステルスインキの割合や、プロセスインキ等の種類、他のステルスインキとの混合等によりステルスインキAだけの場合に比べて反射率が変化するため、10%程度の反射率差を許容しないと真正印刷物を偽物印刷物と判別してしなう場合が生じるからである。また、10%よりも大きければ偽物印刷物を真正印刷物と明らかに区別し得るからである。
演算処理部15は、演算処理装置等からなり、所望のステルスインキ(本実施形態ではステルスインキA)の反射または吸収特性を有する波長域から選択した少なくとも2以上の波長での印刷物の反射率を計測し、この反射率と、所望のステルスインキを印刷してなるステルスインキ印刷物のその波長における反射率を登録したデータ値とを比較して、選択した波長においてその反射率差が所定割合以内であるか否かを出力するものである。そして、対比する波長において反射率差が10%以内である場合にはその印刷物を真正印刷物と判別する。
一方、これとは別の対象印刷物の800nmでの反射率が75%、900nmでの反射率が30%であるとする。この場合、800nmでの反射率差は15%、900nmでの反射率差は0%となる。よって、800nmでの反射率差が10%を超えるため、この対象印刷物は偽物印刷物と判別できる。
真贋判別に用いる特殊インキとしてステルスインキAの代わりに例えば、図3で示すような反射特性を有するステルスインキBを用いた場合について説明する。
ステルスインキBの分光反射率波形は、赤外領域である820nm付近と可視光領域との境界である750nm付近の2つに反射率が同程度の二つのピークを有し、可視領域では450nm以上で反射率が10%程度と低く、590nm付近から前記ピークに向かって反射率カーブが立ち上がる性質を備えたものである。2つのピークにおける反射率はともに約90%である。また、900nmでは約30%に反射率は低下する。
印刷物が真正印刷物であれば、反射率を測定する820nmと750nmでの反射率差が10%以内となり、この数値外になれば偽物印刷物と判断できる。
真贋判別に用いる特殊インキとしてステルスインキAの代わりに例えば、図4で示すような反射特性を有するステルスインキCを用いた場合について説明する。
ステルスインキCの分光反射率波形は、赤外領域である820nm付近に最も反射率の大きな第1ピークを有し、可視光領域との境界である750nm付近に変曲点にはならないまでも波形に片(膨らみ)となる第2ピークを有する。可視領域では450nm以上で反射率が10%程度と低く、600nm付近から前記第2ピークに向かって反射率カーブが立ち上がる性質を備えたものである。波形の片における反射率が約78%であり、第1ピークにおける反射率は約90%である。また、900nmでは約30%に反射率は低下する。
印刷物が真正印刷物であれば、ピークとなる820nmや片となる750nmでの反射率差は10%以内に収まり、この数値外になる場合は偽物印刷物と判断できる。
上記各例では、ステルスインキが示す分光反射率曲線の波形においてピークとなる波長を選択したが、こうしたピークとなる波長を選択する場合でもしない場合でも、少なくとも一の選択する波長は、その波長における反射率が70%以上となる波長を選択することが好ましい。
反射率が70%以上となる波長を少なくとも一つ選択することとしたのは、その波長では反射率が70%以上と高いため、ピークに近く、他のステルスインキの反射率と同じになる可能性は低くなり、判別の精度が高まるからである。
上記各例では、真贋判別に用いるステルスインキの有する波形の特徴に基づいて2波長を選択したが、2波長の選択の仕方は上記例に限定されるものではない。ステルスインキA〜Cの何れにおいても、あるいは他のステルスインキにおいても、赤外領域から波長間の間隔が50nm以上である任意の2波長を選択してその2波長における反射率を測定することで真贋を判別することができる。
第1実施形態では、真贋判別のために2波長での反射率を測定したが、本実施形態では可視光線波長域以外の波長域で所望のステルスインキが反射または吸収特性を有する波長域の中から選択した3波長での反射率を測定するものであり、図1で示した反射特性を有するステルスインキAを含む印刷インキを用いて説明する。
ステルスインキAの分光反射率波形は既に説明したとおりであり、800nm付近で反射率が約90%となるピークを有し、750nmでの反射率が約70%であり、900nmでの反射率は約30%である。
本実施形態では、ピークとなる波長を挟んでその両側の波長を含む3波長での反射率を測定することとしたため、反射率のピーク形状を特定し易い。そのため、より比較の程度が高まり精度の高い真贋判別を行うことができる。
3波長のうちの任意の2波長での反射率差が10%以内であれば真正印刷物と判別でき、この数値外になる場合は偽物印刷物と判断できる。また、3波長とも反射率差が10%以内であれば真正印刷物である可能性はより高くなる。
ステルスインキB、Cおよびそれ以外のステルスインキであっても、何れか一のピークをとる波長と、それ以外の2波長との3波長を選択し、その3波長での反射率を測定することができる。
この場合も、3波長のうちの任意の2波長での反射率差が10%以内であれば真正印刷物と判別でき、この数値外になる場合は偽物印刷物と判断できる。また、3波長とも反射率差が10%以内であれば真正印刷物である可能性はより高くなる。
上記例で示した3波長の選択方法以外の選択方法としては、ステルスインキのピークの有無にかかわらず、またそのピークがあったとしてもそのピーク波長以外の3波長を選択することができる。即ち、ステルスインキA〜Cの何れにおいても、あるいは他のステルスインキにおいても、赤外領域からピークを含まない任意の3波長を選択してその3波長における反射率を測定することで真贋を判別する。
例えば、上記実施形態で例示したステルスインキは何れも赤外線域に反射特性を有する赤外線ステルスインキであったが、これ以外のステルスインキを所望のステルスインキとして用いることができる。例えば、紫外線域に反射または吸収特性を有する紫外線ステルスインキでも良く、この場合は紫外線域から2以上の波長を選択することになる。
12 照射部
13a 分光フィルタ
13b バンドパスフィルタ
14 受光部
15 演算処理部
16 入力部
17 記憶部
Claims (11)
- 所望のステルスインキを含有させた印刷インキを印刷してなる対象印刷物の真贋判別方法であって、
可視光線波長域以外の波長域で前記ステルスインキが反射または吸収特性を有する波長域の中から、50nm以上離れた少なくとも2以上の波長を選択し、その波長における対象印刷物の反射率または吸収率と、前記ステルスインキを印刷してなるステルスインキ印刷物の反射率または吸収率とを比較して、選択した何れの波長においてもその反射率差または吸収率差が10%以内である場合に対象印刷物を真正印刷物と判別する真贋判別方法。 - 選択する波長の一つを、前記所望のステルスインキ印刷物のピーク波長とする請求項1記載の真贋判別方法。
- 選択する波長の一つを、前記所望のステルスインキ印刷物のピーク波長よりも可視光線波長域から遠ざかる側の波長とする請求項1または請求項2記載の真贋判別方法。
- 所望のステルスインキを含有させた印刷インキを印刷してなる対象印刷物の真贋判別方法であって、
可視光線波長域以外の波長域で前記ステルスインキが反射または吸収の変曲点となるピークを2以上有するステルスインキであり、
そのピークとなる波長から少なくとも2以上の波長を選択し、その波長における対象印刷物の反射率または吸収率と、前記ステルスインキを印刷してなるステルスインキ印刷物の反射率または吸収率とを比較して、選択した何れの波長においてもその反射率差または吸収率差が10%以内である場合に対象印刷物を真正印刷物と判別する真贋判別方法。 - 選択する波長の一つを、前記所望のステルスインキ印刷物の反射率または吸収率が70%を超えるときの波長とする請求項1〜請求項4何れか1項記載の真贋判別方法。
- 2波長における前記所望のステルスインキ印刷物の反射率差または吸収率差が50%以上となるその2波長を選択する請求項1〜請求項5何れか1項記載の真贋判別方法。
- 選択する波長を少なくとも3以上とし、そのうちの一を前記所望のステルスインキ印刷物のピーク波長とし、他の二つをこのピーク波長よりも長波長側の波長と、短波長側の波長とする請求項1〜請求項6何れか1項記載の真贋判別方法。
- 前記ステルスインキは、近赤外波長域に反射または吸収特性を有する赤外線ステルスインキである請求項1〜請求項7何れか1項記載の真贋判別方法。
- 所望のステルスインキを含有させた印刷インキを印刷してなる真正印刷物を、そのステルスインキを含有しない印刷インキを印刷してなる偽物印刷物と区別する真贋判別装置であって、
可視光線波長域以外の波長域で前記ステルスインキが反射または吸収特性を有する波長域の光線を照射可能な光源と、分光フィルタまたはバンドパスフィルタの何れかと、受光部と、演算処理部と、を有し、
演算処理部が、前記ステルスインキの反射または吸収特性を有する波長域から選択した少なくとも2以上の波長における対象印刷物の反射率または吸収率と、前記ステルスインキを印刷してなるステルスインキ印刷物のその波長における反射率または吸収率を登録したデータ値とを比較するものであり、選択した何れの波長においてもその反射率差または吸収率差が所定割合以内であるかどうかを出力するものである真贋判別装置。 - 選択した波長と、前記ステルスインキを印刷してなるステルスインキ印刷物のその波長における反射率または吸収率とを入力する入力部と、データを記憶する記憶部と、を有する請求項9記載の真贋判別装置。
- 前記2以上の波長と、その波長に対する所望のステルスインキの反射率または吸収率とを請求項9または請求項10の真贋判別装置に記憶させ、その記憶させた真贋判別装置で、所望のステルスインキを含有させた印刷インキを印刷してなる真正印刷物か、この所望のステルスインキを含有しない印刷インキを印刷してなる偽物印刷物かを区別する真贋判別方法。
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