JP2017126125A - Icカード、携帯可能電子装置及び処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】電力不足を防止することができるICカード、携帯可能電子装置及び処理装置を提供する。
【解決手段】
実施形態によれば、ICカードは、通信部と、磁界強度判定部と、磁界強度送信処理部と、を備える。通信部は、外部装置とデータを非接触で送受信する。磁界強度判定部は、処理を実行するために必要な磁界強度を判定する。磁界強度送信処理部は、前記通信部に、前記外部装置に前記磁界強度判定部が判定した磁界強度を示す情報を送信させる。
【選択図】図1
【解決手段】
実施形態によれば、ICカードは、通信部と、磁界強度判定部と、磁界強度送信処理部と、を備える。通信部は、外部装置とデータを非接触で送受信する。磁界強度判定部は、処理を実行するために必要な磁界強度を判定する。磁界強度送信処理部は、前記通信部に、前記外部装置に前記磁界強度判定部が判定した磁界強度を示す情報を送信させる。
【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、ICカード、携帯可能電子装置及び処理装置に関する。
ICカードなどの携帯可能電子装置は、非接触で外部端末であるICカード処理装置とデータを送受信するものがある。非接触型のICカードは、ICカード処理装置からの磁界によって電力の供給を受ける。従来、ICカードは、負荷の重い処理などを実行している間に電力(磁界強度)が足りなくなると、リセットされ無応答となる。その場合、ICカードは、再度カードの認証手続からやり直す必要があり、通信効率が悪化するという課題がある。
上記の課題を解決するために、電力不足を防止することができるICカード、携帯可能電子装置及び処理装置を提供する。
実施形態によれば、ICカードは、通信部と、磁界強度判定部と、磁界強度送信処理部と、を備える。通信部は、外部装置とデータを非接触で送受信する。磁界強度判定部は、処理を実行するために必要な磁界強度を判定する。磁界強度送信処理部は、前記通信部に、前記外部装置に前記磁界強度判定部が判定した磁界強度を示す情報を送信させる。
以下、実施形態について、図面を参照して説明する。
図1は、実施形態に係る携帯可能電子装置としてのICカード2と、ICカード2と通信を行う外部装置としてのICカード処理装置1とを備えるICカード処理システム10の構成例について説明するためのブロック図である。
図1は、実施形態に係る携帯可能電子装置としてのICカード2と、ICカード2と通信を行う外部装置としてのICカード処理装置1とを備えるICカード処理システム10の構成例について説明するためのブロック図である。
図1が示す構成例において、ICカード処理装置1(外部装置)(処理装置)は、CPU11、ROM12、RAM13、NVM14、カードリーダライタ15、操作部16、及び、ディスプレイ17などを有する。これらの各部は、データバスを介して互いに接続されている。なお、ICカード処理装置1は、図1が示すような構成の他に、必要に応じた構成を具備したり特定の構成を除外したりしてもよい。
CPU11は、ICカード処理装置1全体の動作を制御する機能を有する。CPU11は、内部キャッシュおよび各種のインターフェースなどを備えても良い。CPU11は、内部メモリ、ROM12又はNVM14に予め記憶したプログラムを実行することにより種々の処理を実現する。例えば、CPU11は、プログラムを実行することにより、カードリーダライタ15によりICカード2へコマンドを送信する機能、ICカード2から受信するレスポンスなどのデータを基に種々の処理を行う機能などを有する。これらの機能により、CPU11は、カードリーダライタ15を介して、操作部16などに入力されたデータ又は所定のデータなどを含む書き込みコマンドをICカード2に送信することにより、ICカード2に当該データの書き込み処理を要求する制御を行う。
なお、CPU11がプログラムを実行することにより実現する各種の機能のうちの一部は、ハードウエア回路により実現されるものであっても良い。この場合、CPU11は、ハードウエア回路により実行される機能を制御する。
ROM12は、予め制御用のプログラム及び制御データなどが記憶された不揮発性のメモリである。ROM12に記憶される制御プログラム及び制御データは、予めICカード処理装置1の仕様に応じて組み込まれる。ROM12は、たとえば、ICカード処理装置1の回路基板を制御するプログラム(例えば、BIOS)などを格納している。
RAM13は、揮発性のメモリである。RAM13は、CPU11の処理中のデータなどを一時的に格納する。RAM13は、CPU11からの命令に基づき種々のアプリケーションプログラムを格納する。また、RAM13は、アプリケーションプログラムの実行に必要なデータ及びアプリケーションプログラムの実行結果などを格納してもよい。
NVM14は、データの書き込み及び書き換えが可能な不揮発性のメモリである。NVM14は、例えば、ハードディスク、SSD、EEPROM(登録商標)又はフラッシュメモリなどにより構成される。NVM14は、ICカード処理装置1の運用用途に応じて制御プログラム、アプリケーション、及び種々のデータを格納する。
カードリーダライタ15は、ICカード2とデータを非接触で送受信するためのインターフェース装置である。たとえば、カードリーダライタ15は、ICカード2との無線通信を行うためのアンテナ及び通信制御部などにより構成される。カードリーダライタ15では、ICカード2に対する電源供給、クロック供給、リセット制御、データの送受信が行われる。カードリーダライタ15は、アンテナなどから磁界をICカード2に供給し、電力を供給する。
このような機能によってカードリーダライタ15は、CPU11による制御に基づいてICカード2に対する電源供給、ICカード2の活性化(起動)、クロック供給、リセット制御、種々のコマンドの送信、及び送信したコマンドに対する応答(レスポンス)の受信などを行なう。
また、カードリーダライタ15は、CPU11からの信号に基づいて出力する磁界の強度を変更する。たとえば、カードリーダライタ15は、磁界強度を示す信号をCPU11から受信すると、当該信号が示す磁界強度で磁界を出力する。なお、カードリーダライタ15は、CPU11からの信号がない場合には、デフォルトの強度で磁界を出力してもよい。
操作部16は、ICカード処理装置1の操作者によって、種々の操作指示が入力される。操作部16は、操作者に入力された操作指示のデータをCPU11へ送信する。操作部16は、たとえば、キーボード、テンキー、及び、タッチパネルなどである。
ディスプレイ17は、CPU11の制御により種々の情報を表示する表示装置である。ディスプレイ17は、たとえば、液晶モニタなどである。なお、ディスプレイ17は、操作部16と一体的に形成されてもよい。
次に、ICカード2について説明する。
ICカード2は、ICカード処理装置1などの外部装置から電力などの供給を受けて活性化される(動作可能な状態になる)ようになっている。たとえば、ICカード2は、通信インターフェースとしてのアンテナ及び変復調回路などを介してICカード処理装置1からの電波を受信する。ICカード2は、その電波から図示しない電源部により動作電源及び動作クロックを生成して活性化する。
ICカード2は、ICカード処理装置1などの外部装置から電力などの供給を受けて活性化される(動作可能な状態になる)ようになっている。たとえば、ICカード2は、通信インターフェースとしてのアンテナ及び変復調回路などを介してICカード処理装置1からの電波を受信する。ICカード2は、その電波から図示しない電源部により動作電源及び動作クロックを生成して活性化する。
次に、ICカード2の構成例について説明する。
図2は、実施形態に係るICカード2の構成例を概略的に示すブロック図である。
ICカード2は、プラスチックなどで形成されたカード状の本体Cを有する。ICカード2は、本体C内にモジュールMが内蔵される。モジュールMは、1つまたは複数のICチップCaと通信部としての外部インターフェース(通信インターフェース)とが接続された状態で一体的に形成され、ICカード2の本体C内に埋設される。
図2は、実施形態に係るICカード2の構成例を概略的に示すブロック図である。
ICカード2は、プラスチックなどで形成されたカード状の本体Cを有する。ICカード2は、本体C内にモジュールMが内蔵される。モジュールMは、1つまたは複数のICチップCaと通信部としての外部インターフェース(通信インターフェース)とが接続された状態で一体的に形成され、ICカード2の本体C内に埋設される。
図2に示す構成例において、ICカード2は、CPU21、ROM22、RAM23、NVM24、及び、通信部25などを備える。これらの各部は、データバスを介して互いに接続する。また、CPU21、ROM22、RAM23、およびNVM24は、1つ又は複数のICチップCaにより構成され、通信部25に接続された状態でモジュールMを構成する。
CPU21は、ICカード2全体の制御を司る制御部として機能する。CPU21は、ROM22又はNVM24に記憶される制御プログラム及び制御データに基づいて種々の処理を行う。たとえば、CPU21は、ROM22に記憶されているプログラムを実行することにより、ICカード2の動作制御又はICカード2の運用形態に応じた種々の処理を行う。
なお、各種の機能のうちの一部は、ハードウエア回路により実現されるものであっても良い。この場合、CPU21は、ハードウエア回路により実行される機能を制御する。
ROM22は、予め制御用のプログラム及び制御データなどを記憶する不揮発性のメモリである。ROM22は、製造段階で制御プログラム及び制御データなどを記憶した状態でICカード2に組み込まれる。即ち、ROM22に記憶される制御プログラム及び制御データは、予めICカード2の仕様に応じて組み込まれる。
RAM23は、揮発性のメモリである。RAM23は、CPU21の処理中のデータなどを一時的に格納する。たとえば、RAM23は、計算用バッファ、受信用バッファ及び送信用バッファとして機能する。計算用バッファは、CPU21が実行する種々の演算処理の結果などを一時的に保持する。受信用バッファは、通信部25を介してICカード処理装置1から受信するコマンドデータなどを保持する。送信用バッファは、通信部25を介してICカード処理装置1へ送信するメッセージ(レスポンスデータ)などを保持する。
NVM24は、例えば、EEPROM(登録商標)又はフラッシュROMなどのデータの書き込み及び書換えが可能な不揮発性のメモリにより構成される。NVM24は、ICカード2の運用用途に応じて制御プログラム、アプリケーション、及び種々のデータを格納する。例えば、NVM24では、プログラムファイル及びデータファイルなどが作成される。作成された各ファイルは、制御プログラム及び種々のデータなどが書き込まれる。
また、NVM24は、レベルダイアグラムを格納する記憶領域24a(記憶部)及び磁界テーブルを格納する記憶領域24bなどを備える。レベルダイアグラム及び磁界テーブルについては後述する。
通信部25は、ICカード処理装置1とデータを非接触で送受信するためのインターフェースである。即ち、通信部25は、ICカード処理装置1のカードリーダライタ15との通信を行うためのインターフェースである。また、通信部25は、カードリーダライタ15から電力供給などのための磁界の供給を受ける。通信部25は、図示しない電源部などを通じてCPU21などICカード2の各部に電力を供給する。
たとえば、通信部25は、ICカード処理装置1のカードリーダライタ15との無線通信を行うための変復調回路などの通信制御部とアンテナとにより構成される。
次に、記憶領域24aが格納するレベルダイアグラムについて説明する。
レベルダイアグラムは、ビットに対応する磁界強度を示す。たとえば、レベルダイアグラムは、複数のビットについてそれぞれ対応する磁界強度を示す。
レベルダイアグラムは、ビットに対応する磁界強度を示す。たとえば、レベルダイアグラムは、複数のビットについてそれぞれ対応する磁界強度を示す。
図3は、記憶領域24aが格納するレベルダイアグラムの構成例を示す。
図3が示すように、レベルダイアグラムは、「ビット」と「磁界強度」とを対応付けて格納する。ここでは、「ビット」は、2列のビット列である。即ち、レベルダイアグラムは、「00」、「01」、「10」及び「11」に対応する磁界強度を示す。
図3が示すように、レベルダイアグラムは、「ビット」と「磁界強度」とを対応付けて格納する。ここでは、「ビット」は、2列のビット列である。即ち、レベルダイアグラムは、「00」、「01」、「10」及び「11」に対応する磁界強度を示す。
「磁界強度」は、ICカード処理装置1が供給する磁界の強度を示す。たとえば、磁界強度は、所定の単位(たとえば、A/m)で示される。
図3が示す例では、レベルダイアグラムは、「00」、「01」、「10」及び「11」に対応する「磁界強度」として、それぞれ「A」、「B」、「C」及び「D」を示す。
なお、レベルダイアグラムは、1ビット又は3列以上のビットに対応する磁界強度を格納してもよい。レベルダイアグラムの構成は、特定の構成に限定されるものではない。
レベルダイアグラムは、予め記憶領域24aに格納される。たとえば、レベルダイアグラムは、ICカード2の製造時などにおいて記憶領域24aに格納される。また、レベルダイアグラムは、適宜更新されてもよい。
次に、記憶領域24bが格納する磁界テーブルについて説明する。
磁界テーブルは、ICカード2が実行する処理に必要な磁界強度を示す。即ち、磁界テーブルは、処理に必要な電力を生じるための磁界強度を示す。
図4は、記憶領域24bが格納する磁界テーブルの構成例を示す。
図4が示すように、磁界テーブルは、「処理」と「必要磁界強度」とを対応付けて格納する。即ち、磁界テーブルは、処理ごとに必要な磁界強度を格納する。
図4が示すように、磁界テーブルは、「処理」と「必要磁界強度」とを対応付けて格納する。即ち、磁界テーブルは、処理ごとに必要な磁界強度を格納する。
「処理」は、ICカード2が実行する処理である。たとえば、「処理」は、所定のデータの読み出し、暗号化のための数値計算、又は、データの送受信処理などである。「処理」は、特定の構成に限定されるものではない。
「必要磁界強度」は、対応する「処理」を実行するために必要な磁界の強度である。即ち、「必要磁界強度」は、「処理」を実行するために必要な電力を生じさせる磁界の強度である。
図4に示す例では、処理テーブルは、「処理1」、「処理2」、「処理3」及び「処理4」に対応する「必要磁界強度」が、それぞれ「a」、「b」、「c」及び「d」であることを示す。なお、処理テーブルの構成は、処理内容と必要な磁界の強度とを対応づけたものであれば良く、図4に示す構成に限定されるものではない。
次に、ICカード処理装置1が送信するATTRIBコマンドのフォーマットについて説明する。
図5は、ATTRIBコマンドのフォーマットの例を示す図である。
図5が示すように、ATTRIBコマンドは、「種別」、「識別子」、「パラメータ1」、「パラメータ2」、「パラメータ3」、「パラメータ4」、「INF」及び「CRC_B」などから構成される。
図5は、ATTRIBコマンドのフォーマットの例を示す図である。
図5が示すように、ATTRIBコマンドは、「種別」、「識別子」、「パラメータ1」、「パラメータ2」、「パラメータ3」、「パラメータ4」、「INF」及び「CRC_B」などから構成される。
「種別」は、コマンドの種類を示す。たとえば、「種別」は、「1D」である。
「識別子」は、ICカード2を特定する識別子である。たとえば、「識別子」は、PUPI(Pseudo−Unique PICC Identifier)である。
「パラメータ1」、「パラメータ2」、「パラメータ3」、及び、「パラメータ4」は、ATTRIBのパラメータを格納する。「パラメータ3」は、プロトコルタイプを示す。たとえば、「パラメータ3」は、「01h」であれば、ISO/IEC1443−4に準拠することを示す。たとえば、「パラメータ3」は、「00h」であれば、ISO/IEC1443−4に準拠しないことを示す。ここでは、「パラメータ3」は、「11h」であれば、レベルダイアグラムを要求することを示す。
「INF」は、送信データを格納する。
「CRC_B」は、チェック用の符号を格納する。
次に、ICカード2のCPU21が実現する機能について説明する。
まず、CPU21は、通信部25を通じてICカード処理装置1にレベルダイアグラムを送信する機能を有する(レベルダイアグラム送信処理部)。たとえば、CPU21は、ATTRIBコマンドに対するレスポンスとしてレベルダイアグラムをICカード処理装置1へ送信する。
まず、CPU21は、通信部25を通じてICカード処理装置1にレベルダイアグラムを送信する機能を有する(レベルダイアグラム送信処理部)。たとえば、CPU21は、ATTRIBコマンドに対するレスポンスとしてレベルダイアグラムをICカード処理装置1へ送信する。
たとえば、CPU21は、ATTRIBの「パラメータ3」が「11h」である場合に、ATTRIBコマンドに対するレスポンスとしてレベルダイアグラムをICカード処理装置1へ送信する。
また、CPU21は、レベルダイアグラムをS−blockに格納してICカード処理装置1へ送信する。
図6は、S−blockのフォーマットの例を示す図である。
図6が示すように、S−blockは、「プロローグフィールド」、「インフォメーションフィールド」、及び、「エピローグフィールド」などから構成される。
図6が示すように、S−blockは、「プロローグフィールド」、「インフォメーションフィールド」、及び、「エピローグフィールド」などから構成される。
「プロローグフィールド」は、「PCB」などから構成される。「PCB」は、「b8」乃至「b5」(MBLI)と、「b4」乃至「b1」(CID)から構成される。たとえば、「b6」「b5」は、「00」であれば、DESELECTを示し、「11」であればWTXを示す。
「インフォメーションフィールド」は、「INF」などから構成される。「INF」は、送信データなどを格納する。
「エピローグフィールド」は、「CRC_B」などから構成される。「CRC_B」は、チェック用の符号を格納する。
たとえば、CPU21は、レベルダイアグラムを「INF」に格納したS−blockを生成する。CPU21は、生成されたS−blockをICカード処理装置1へ送信する。
また、CPU21は、通信部25が受信する磁界強度を測定する機能を有する(測定部)。たとえば、ICカード2は、磁界強度を測定するためのセンサをさらに備え、CPU21は、当該センサを通じて磁界強度を測定してもよい。また、CPU21は、ICカード処理装置1からのデータの破損状況などに基づいて磁界強度を測定してもよい。CPU21が磁界強度を測定する方法は、特定の方法に限定されるものではない。
また、CPU21は、実行予定の処理に必要な磁界強度を判定する機能を有する(磁界強度判定部)。たとえば、CPU21は、磁界テーブルを参照して、磁界強度を判定する。以下に、必要な磁界強度を判定する処理の例について説明する。
CPU21は、通信部25を通じてICカード処理装置1からコマンドを受信する(コマンド受信処理部)。CPU21は、受信されたコマンドを実行するために必要な処理を抽出する。CPU21は、磁界テーブルを参照して、抽出された処理の「必要磁界強度」を取得する。CPU21は、取得された「必要磁界強度」に基づいて、処理に必要な磁界強度を判定する。たとえば、CPU21は、取得された「必要磁界強度」の中で最も大きな「必要磁界強度」を、処理に必要な磁界強度として判定してもよい。
また、CPU21は、測定された磁界強度が判定された磁界強度に達していない場合に、通信部25を通じてICカード処理装置1に判定した磁界強度を送信する機能を有する(磁界強度送信処理部)。
たとえば、CPU21は、「INF」に判定した磁界強度を格納したS−blockを生成し、生成されたS−blockをICカード処理装置1に送信する。また、CPU21は、レベルダイアグラムに基づいて、判定した磁界強度を示すビットをS−blockの「INF」に格納する。
たとえば、判定した磁界強度が「C」である場合、CPU21は、S−blockの「INF」に「10」を格納する。
図7は、判定した磁界強度(指定する磁界強度)を格納したS−blockのPCBの構成例を示す。
図7が示すように、「b6」「b5」は、「01」であれば、指定する磁界強度を格納していることを示す。
図7が示すように、「b6」「b5」は、「01」であれば、指定する磁界強度を格納していることを示す。
次に、ICカード処理装置1のCPU11が実現する機能について説明する。
まず、CPU11は、ICカード2からレベルダイアグラムを受信する機能を有する(レベルダイアグラム受信処理部)。たとえば、CPU11は、カードリーダライタ15を通じてICカード2にATTRIBコマンドを送信する。CPU11は、ATTRIBコマンドに対するレスポンスとして、レベルダイアグラムを「INF」に格納するS−blockをICカード2から受信する。CPU11は、S−blockからレベルダイアグラムを抽出し、レベルダイアグラムを取得する。
まず、CPU11は、ICカード2からレベルダイアグラムを受信する機能を有する(レベルダイアグラム受信処理部)。たとえば、CPU11は、カードリーダライタ15を通じてICカード2にATTRIBコマンドを送信する。CPU11は、ATTRIBコマンドに対するレスポンスとして、レベルダイアグラムを「INF」に格納するS−blockをICカード2から受信する。CPU11は、S−blockからレベルダイアグラムを抽出し、レベルダイアグラムを取得する。
また、CPU11は、ICカード2が指定する磁界強度を受信する機能を有する(磁界強度受信処理部)。たとえば、CPU11は、コマンドに対するレスポンスとして、指定された磁界強度を「INF」に格納するS−blockをICカード2から受信する。CPU11は、S−blockにおいて指定された磁界強度を抽出し、指定された磁界強度を取得する。
また、CPU11は、受信した磁界強度(ICカードが指定する磁界強度)に基づく強度の磁界をカードリーダライタ15に出力させる機能を有する(磁界制御部)。
たとえば、CPU11は、指定された磁界強度としてビット列を受信する。CPU11は、レベルダイアグラムを参照し、受信したビット列に対応する磁界強度を取得する。CPU11は、取得された磁界強度の磁界を出力させる信号をカードリーダライタ15に送信する。なお、CPU11は、カードリーダライタ15とICカード2との距離などに応じて、指定された磁界強度の磁界をICカード2が受信できるように、出力する磁界の強度を調整してもよい。
たとえば、CPU11は、指定された磁界強度としてビット列を受信する。CPU11は、レベルダイアグラムを参照し、受信したビット列に対応する磁界強度を取得する。CPU11は、取得された磁界強度の磁界を出力させる信号をカードリーダライタ15に送信する。なお、CPU11は、カードリーダライタ15とICカード2との距離などに応じて、指定された磁界強度の磁界をICカード2が受信できるように、出力する磁界の強度を調整してもよい。
カードリーダライタ15は、送信された信号に基づいて、取得された磁界強度の磁界を出力する。
また、CPU11は、取得された磁界強度の磁界を出力させると、S−blockをICカード2へ送信する。ここでは、S−blockは、直前のコマンドを実行することをICカード2に指示する。ここでは、S−blockの「PCB」の「b6」「b5」は、「10b」であると、直前のコマンドを実行することをICカード2に指示するものとする。なお、CPU11は、S−blockに、カードリーダライタ15に出力させた磁界強度を示す情報を格納してもよい。
次に、ICカード処理システム10の動作例について説明する。
図8は、ICカード処理システム10の動作例を説明するためのシーケンス図である。
図8は、ICカード処理システム10の動作例を説明するためのシーケンス図である。
まず、ICカード処理装置1は、ATTRIBコマンドをICカード2に送信する(S11)。
ICカード2は、ATTRIBコマンドを受信する。ATTRIBコマンドを受信すると、ICカード2は、レベルダイアグラムを「INF」に格納したS−blockをICカード処理装置1に送信する(S12)。
ICカード処理装置1は、S−blockを受信する。S−blockを受信すると、ICカード処理装置1は、コマンドをICカード2に送信する(S13)。ここでは、ICカード処理装置1は、I−blockとしてコマンドを送信する。
ICカード2は、コマンドを受信する。コマンドを受信すると、ICカード2は、コマンドの実行に必要な磁界強度を判定する(S14)。ここでは、ICカード処理装置1が出力する磁界の磁界強度は、必要な磁界強度に達していないものとする。
磁界強度を判定すると、ICカード2は、判定した磁界強度を示すビットを「INF」に格納したS−blockをICカード処理装置1に送信する(S15)。
ICカード処理装置1は、S−blockを受信する。S−blockを受信すると、ICカード処理装置1は、S12で受信したレベルダイアグラムを参照して、S−blockが格納するビット列が示す磁界強度を取得する(S16)。磁界強度を取得すると、ICカード処理装置1は、取得された磁界強度の磁界をICカード2に出力する(S17)。
磁界を出力すると、ICカード処理装置1は、S−blockをICカード2へ送信する(S18)。
ICカード2は、S−blockを受信する。S−blockを受信すると、ICカード2は、S13で受信されたコマンドを実行する(S19)。コマンドを実行すると、ICカード2は、実行結果をICカード処理装置1に送信する(S20)。
なお、ICカード処理装置1は、続けてコマンドをICカード2へ送信してもよい。また、ICカード2は、同様にコマンドごとに磁界強度を判定し、ICカード処理装置1に送信してもよい。
次に、ICカード2のCPU21の動作例について説明する。
図9は、ICカード2のCPU21の動作例について説明するためのフローチャートである。
図9は、ICカード2のCPU21の動作例について説明するためのフローチャートである。
まず、CPU21は、通信部25を通じてATTRIBコマンドを受信したか判定する(S21)。ATTRIBコマンドを受信していないと判定すると(S21、NO)、CPU21は、S21に戻る。
ATTRIBコマンドを受信したと判定すると(S21、YES)、CPU21は、ATTRIBコマンドの「パラメータ3」が「11h」であるか判定する(S22)。「パラメータ3」が「11h」であると判定すると(S22、YES)、CPU21は、通信部25を通じてレベルダイアグラムを格納するS−blockを送信する(S23)(S12に対応)。
S−blockを送信すると、CPU21は、通信部25を通じてメッセージを受信したか判定する(S24)。メッセージを受信していないと判定すると(S24、NO)、CPU21は、S24に戻る。
メッセージを受信したと判定すると(S24、YES)、CPU21は、メッセージがI−blockであるか判定する(S25)。即ち、CPU21は、コマンドを受信したか判定する。
メッセージがI−blockであると判定すると(S25、YES)、CPU21は、磁界テーブルを参照して、I−block(コマンド)を実行するために必要な磁界強度を判定する(S26)(S14に対応)。
磁界強度を判定すると、CPU21は、通信部25で受信される磁界強度を測定する(S27)。
磁界強度を測定すると、CPU21は、測定された磁界強度が判定された磁界強度に達しているか判定する(S28)。測定された磁界強度が判定された磁界強度に達していないと判定すると(S28、NO)、CPU21は、通信部25を通じて、磁界強度を示すビットを「INF」に格納したS−blockを送信する(S29)(S15に対応)。
測定された磁界強度が判定された磁界強度に達していると判定すると(S28、YES)、CPU21は、I−blockを実行する(S30)。I−blockを実行すると、CPU21は、通信部25を通じて実行結果を送信する(S31)。
S−blockを送信した場合(S29)、又は、実行結果を送信した場合(S30)、CPU21は、S24に戻る。
メッセージがI−blockでないと判定すると(S25、NO)、CPU21は、メッセージがS−blockであるか判定する(S32)。メッセージがS−blockであると判定すると(S32、YES)、CPU21は、S−blockの「PCB」の「b6」「b5」が「10b」であるか判定する(S33)。
「b6」「b5」が「10b」であると判定すると(S33、YES)、CPU21は、直前に受信されたI−blockを実行する(S34)(S19に対応)(実行部)。I−blockを実行すると、CPU21は、通信部25を通じて実行結果を送信する(S35)(S20に対応)。
「b6」「b5」が「10b」でないと判定すると(S33、NO)、CPU21は、受信されたS−blockを処理する(S36)。
実行結果を送信した場合(S35)、又は、S−blockを処理した場合(S36)、CPU21は、S24に戻る。
メッセージがS−blockでないと判定すると(S32、NO)、CPU21は、R−blockを処理する(S37)。R−blockを処理すると、CPU21は、S24に戻る。
「パラメータ3」が「11h」でないと判定すると(S22、NO)、CPU21は、ATTRIBコマンドをISO/IEC14443−3で処理する(S38)。ATTRIBコマンドをISO/IEC14443−3で処理すると、CPU21は、動作を終了する。
なお、CPU21は、S26よりも前にS27を実行してもよい。即ち、CPU21は、S28までにS27を実行していればよい。
また、S11及びS12(S21乃至S23)は、アンチコリジョン(レベル3)において実行されてもよい。また、S13乃至S20(S24乃至S37)は、レベル4において実行されてもよい。
以上のように構成されたICカードは、コマンドの実行に必要な磁界強度を判定し、必要な磁界強度をICカード処理装置に指定することができる。ICカード処理装置は、ICカードが指定する磁界強度を受信すると、指定された磁界強度に基づいて設定した強度の磁界を出力する。その結果、ICカード処理装置は、ICカードがコマンドの実行に必要な磁界強度で磁界を出力することができる。したがって、ICカードは、コマンドの処理を実行可能な磁界を出力することができる。よって、ICカードは、電力不足によってコマンドを実行できなくなることを防止することができる。
また、ICカードは、レベルダイアグラムをICカード処理装置と共有することができる。そのため、ICカードは、処理を実行するために必要な磁界強度をレベルダイアグラムのビットで送信することができる。その結果、ICカードは、処理を実行するために必要な磁界強度を数値として送信する必要がなくなり、指定する磁界強度を送信するためのデータを少なくすることができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…ICカード処理装置、2…ICカード、10…ICカード処理システム、11…CPU、14…NVM、15…カードリーダライタ、21…CPU、24…NVM、24a及び24b…記憶領域、25…通信部、M…モジュール、C…本体。
Claims (9)
- 外部装置とデータを非接触で送受信する通信部と、
処理を実行するために必要な磁界強度を判定する磁界強度判定部と、
前記通信部に、前記外部装置に前記磁界強度判定部が判定した磁界強度を示す情報を送信させる磁界強度送信処理部と、
を備えるICカード。 - ビットに対応する磁界強度を示すレベルダイアグラムを格納する記憶部と、
前記通信部に、前記外部装置に前記レベルダイアグラムを送信させるレベルダイアグラム送信処理部と、
を備え、
前記磁界強度送信処理部は、前記通信部に、前記外部装置に、前記磁界強度判定部が判定した磁界強度として、前記レベルダイアグラムにおいて前記磁界強度を示すビットを送信させる、
前記請求項1に記載のICカード。 - 前記通信部で受信される磁界強度を測定する測定部を備え、
前記磁界強度送信処理部は、前記測定部が測定した前記磁界強度が前記磁界強度判定部が判定した磁界強度に達していない場合に、前記通信部に、前記外部装置に前記磁界強度を送信させる、
前記請求項1又は2に記載のICカード。 - 前記通信部に、前記外部装置からコマンドを受信させるコマンド受信処理部を備え、
前記磁界強度判定部は、前記コマンド受信処理部が前記コマンドを受信させると、前記コマンドに必要な処理を抽出し、前記処理を実行するために必要な前記磁界強度を判定する、
前記請求項1乃至3の何れか1項に記載のICカード。 - 前記磁界強度送信処理部が前記磁界強度を送信させた後に、前記コマンドを実行する実行部を備える、
前記請求項4に記載のICカード。 - 外部装置とデータを非接触で送受信する通信部と、処理を実行するために必要な磁界強度を判定する磁界強度判定部と、前記通信部に、前記外部装置に前記磁界強度判定部が判定した磁界強度を示す情報を送信させる磁界強度送信処理部と、を備えるモジュールと、
前記モジュールを内蔵した本体と、
を備えるICカード。 - 外部装置とデータを非接触で送受信する通信部と、
処理を実行するために必要な磁界強度を判定する磁界強度判定部と、
前記通信部に、前記外部装置に前記磁界強度判定部が判定した磁界強度を示す情報を送信させる磁界強度送信処理部と、
を備える携帯可能電子装置。 - 携帯可能電子装置に磁界を供給し、前記携帯可能電子装置と非接触でデータを送受信する通信部と、
前記通信部に、前記携帯可能電子装置が指定する磁界強度を示す情報を受信させる磁界強度受信処理部と、
前記携帯可能電子装置が指定する磁界強度に基づく強度の磁界を前記通信部に出力させる磁界制御部と、
を備える処理装置。 - 前記通信部に、前記携帯可能電子装置から、ビットに対応する磁界強度を示すレベルダイアグラムを受信させるレベルダイアグラム受信処理部を備え、
前記磁界強度受信処理部は、前記磁界強度としてビットを受信させ、
前記磁界制御部は、前記レベルダイアグラムにおいて前記ビットと対応する前記磁界強度に基づく強度の磁界を前記通信部に出力させる、
前記請求項8に記載の処理装置。
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