JP2017102326A - Fixing device and abnormality detection method for temperature sensor - Google Patents

Fixing device and abnormality detection method for temperature sensor Download PDF

Info

Publication number
JP2017102326A
JP2017102326A JP2015236496A JP2015236496A JP2017102326A JP 2017102326 A JP2017102326 A JP 2017102326A JP 2015236496 A JP2015236496 A JP 2015236496A JP 2015236496 A JP2015236496 A JP 2015236496A JP 2017102326 A JP2017102326 A JP 2017102326A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
time
unit
temperature sensor
condition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015236496A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6451610B2 (en
Inventor
正利 増田
Masatoshi Masuda
正利 増田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Document Solutions Inc
Original Assignee
Kyocera Document Solutions Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Document Solutions Inc filed Critical Kyocera Document Solutions Inc
Priority to JP2015236496A priority Critical patent/JP6451610B2/en
Publication of JP2017102326A publication Critical patent/JP2017102326A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6451610B2 publication Critical patent/JP6451610B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Fixing For Electrophotography (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a fixing device capable of detecting the abnormality of a temperature sensor, before the driving of a heat source is started.SOLUTION: The fixing device includes a control part 10, a heating member 61, a heat source 63 for heating the heating member 61, and a temperature sensor 64 for measuring the temperature of the heating member 61. When a first signal is inputted, the control part 10 stops the driving of the heat source 63. When the first signal is inputted, the control part 10 acquires a first temperature on the basis of output from the temperature sensor 64. When a second signal is inputted after the first signal is inputted, the control part 10 acquires a second temperature on the basis of the output from the temperature sensor 64. When a temperature change from the first temperature to the second temperature satisfies a first condition, the control part 10 determines that the temperature sensor 64 is abnormal. When the temperature change satisfies a second condition, the control part 10 drives the heat source 63.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、定着装置、及び温度センサーの異常検知方法に関する。   The present invention relates to a fixing device and a temperature sensor abnormality detection method.

画像形成装置の一種である電子写真方式の画像形成装置は、定着装置を備え、シートにトナー像を定着させる。定着装置は、加熱部材と加圧部材とを備える。加熱部材は、定着装置が備えるハロゲンヒーターやIHコイルのような熱源によって加熱される。加圧部材は、加熱部材に対向して設けられて加熱部材との間で定着ニップを形成する。シートは、定着ニップを通過することによって加熱及び加圧される。この結果、トナー像がシートに定着する。   An electrophotographic image forming apparatus, which is a type of image forming apparatus, includes a fixing device and fixes a toner image on a sheet. The fixing device includes a heating member and a pressure member. The heating member is heated by a heat source such as a halogen heater or an IH coil provided in the fixing device. The pressure member is provided to face the heating member and forms a fixing nip with the heating member. The sheet is heated and pressed by passing through the fixing nip. As a result, the toner image is fixed on the sheet.

また、定着装置は、温度センサーを備える。温度センサーは、加熱部材の温度を測定する。熱源は、温度センサーが測定した温度に基づいて、加熱部材が所定の温度になるように制御される。一方、温度センサーに異常が発生すると加熱部材の温度の制御が行えなくなる。この結果、加熱部材の温度が所定の温度を超える虞がある。したがって、温度センサーの異常を検知する様々な技術が開示されている。例えば、特許文献1には、熱源への電力の供給を開始した後の温度センサー(サーミスター)からの出力に基づいて温度センサーの異常を検知する技術が開示されている。   Further, the fixing device includes a temperature sensor. The temperature sensor measures the temperature of the heating member. The heat source is controlled so that the heating member has a predetermined temperature based on the temperature measured by the temperature sensor. On the other hand, if an abnormality occurs in the temperature sensor, the temperature of the heating member cannot be controlled. As a result, the temperature of the heating member may exceed a predetermined temperature. Therefore, various techniques for detecting abnormality of the temperature sensor have been disclosed. For example, Patent Document 1 discloses a technique for detecting an abnormality of a temperature sensor based on an output from a temperature sensor (thermistor) after starting to supply power to a heat source.

特開2007−025010号公報JP 2007-025010 A

しかしながら、特許文献1に開示された技術は、熱源への電力の供給を開始して熱源を駆動させなければ、温度センサーの異常を検知することができない。   However, the technique disclosed in Patent Document 1 cannot detect an abnormality of the temperature sensor unless the supply of electric power to the heat source is started and the heat source is driven.

本発明は、上記課題に鑑み、熱源の駆動を開始する前に温度センサーの異常を検知することができる定着装置及び温度センサーの異常検知方法を提供することを目的とする。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a fixing device and a temperature sensor abnormality detection method capable of detecting an abnormality of a temperature sensor before starting to drive a heat source.

本発明の定着装置は、定着ユニットと、前記定着ユニットによる加熱動作を制御する制御部とを備える。前記定着ユニットは、熱源と、加熱部材と、温度センサーとを含む。前記加熱部材は、前記熱源によって加熱される。前記温度センサーは、前記加熱部材の温度を測定する。前記制御部は、駆動部と、温度取得部と、異常判定部とを含む。前記駆動部は、前記熱源を駆動させる。前記温度取得部は、前記制御部に第1信号が入力されると、前記温度センサーからの出力に基づいて第1温度を取得する。前記温度取得部は、前記制御部に前記第1信号が入力された後に第2信号が入力されると、前記温度センサーからの出力に基づいて第2温度を取得する。前記異常判定部は、前記第1温度から前記第2温度への温度変化と、第1条件とに基づいて前記温度センサーの異常を判定する。前記駆動部は、前記制御部に前記第1信号が入力されると前記熱源の駆動の停止を実行する。前記異常判定部は、前記温度変化が前記第1条件を満たす場合に、前記温度センサーが異常であると判定する。前記駆動部は、前記温度変化が前記第1条件とは異なる第2条件を満たす場合に、前記熱源を駆動させる。   The fixing device of the present invention includes a fixing unit and a control unit that controls a heating operation by the fixing unit. The fixing unit includes a heat source, a heating member, and a temperature sensor. The heating member is heated by the heat source. The temperature sensor measures the temperature of the heating member. The control unit includes a drive unit, a temperature acquisition unit, and an abnormality determination unit. The drive unit drives the heat source. When the first signal is input to the control unit, the temperature acquisition unit acquires a first temperature based on an output from the temperature sensor. When the second signal is input after the first signal is input to the control unit, the temperature acquisition unit acquires a second temperature based on an output from the temperature sensor. The abnormality determination unit determines an abnormality of the temperature sensor based on a temperature change from the first temperature to the second temperature and a first condition. The drive unit stops driving the heat source when the first signal is input to the control unit. The abnormality determination unit determines that the temperature sensor is abnormal when the temperature change satisfies the first condition. The driving unit drives the heat source when the temperature change satisfies a second condition different from the first condition.

本発明の温度センサーの異常検知方法は、定着ユニットが備える加熱部材の温度を測定する温度センサーの異常検知方法である。当該温度センサーの異常検知方法は、以下のステップを含む。第1信号が発生すると、前記加熱部材を加熱する熱源の駆動を停止させるとともに、前記温度センサーからの出力に基づいて第1温度を取得するステップ。前記第1信号が発生した後に第2信号が発生すると、前記温度センサーからの出力に基づいて第2温度を取得するステップ。前記第1温度から前記第2温度への温度変化が第1条件を満たす場合に、前記温度センサーが異常であると判定するステップ。前記温度変化が前記第1条件とは異なる第2条件を満たす場合に、前記熱源を駆動させるステップ。   The temperature sensor abnormality detection method of the present invention is a temperature sensor abnormality detection method for measuring the temperature of the heating member provided in the fixing unit. The temperature sensor abnormality detection method includes the following steps. When the first signal is generated, the driving of the heat source for heating the heating member is stopped, and the first temperature is acquired based on the output from the temperature sensor. Acquiring a second temperature based on an output from the temperature sensor when a second signal is generated after the first signal is generated; Determining that the temperature sensor is abnormal when a temperature change from the first temperature to the second temperature satisfies a first condition; Driving the heat source when the temperature change satisfies a second condition different from the first condition;

本発明によれば、熱源の駆動を開始する前に温度センサーの異常を検知することができる。   According to the present invention, it is possible to detect abnormality of the temperature sensor before starting to drive the heat source.

本発明の実施形態に係る定着装置を備えた画像形成装置の構成を示す図である。1 is a diagram illustrating a configuration of an image forming apparatus including a fixing device according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る定着ユニットの構成を示す図である。2 is a diagram illustrating a configuration of a fixing unit according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る画像形成装置の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating a configuration of an image forming apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るサーミスターの異常検知方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the abnormality detection method of the thermistor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る第1異常判定処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the 1st abnormality determination process which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る第2異常判定処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the 2nd abnormality determination process which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るサーミスターの測定温度の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the measurement temperature of the thermistor which concerns on embodiment of this invention.

以下、図面を参照して本発明の実施形態に係る定着装置を備えた画像形成装置及び温度センサーの異常検知方法について説明する。なお、図中、同一又は相当部分については同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。   Hereinafter, an image forming apparatus including a fixing device according to an embodiment of the present disclosure and a temperature sensor abnormality detection method will be described with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals and description thereof is not repeated.

まず、図1を参照して、本実施形態に係る定着装置を備えた画像形成装置1について説明する。図1は、定着装置を備えた画像形成装置1の構成を示す図である。本実施形態において、画像形成装置1は、電子写真方式の複合機である。   First, an image forming apparatus 1 including a fixing device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of an image forming apparatus 1 including a fixing device. In the present embodiment, the image forming apparatus 1 is an electrophotographic multifunction machine.

図1に示すように、画像形成装置1は、電源スイッチ2、操作部3、給紙部4、画像形成部5、定着ユニット6、排出部7、及び搬送部Lを備える。   As shown in FIG. 1, the image forming apparatus 1 includes a power switch 2, an operation unit 3, a paper feeding unit 4, an image forming unit 5, a fixing unit 6, a discharge unit 7, and a transport unit L.

電源スイッチ2は、画像形成装置1への電力の供給の開始及び停止を切り替える。電源スイッチ2がONになると、画像形成装置1への電力の供給が開始される。一方、電源スイッチ2がOFFになると、画像形成装置1への電力の供給が停止される。   The power switch 2 switches between starting and stopping the supply of power to the image forming apparatus 1. When the power switch 2 is turned on, supply of power to the image forming apparatus 1 is started. On the other hand, when the power switch 2 is turned off, the supply of power to the image forming apparatus 1 is stopped.

操作部3は、ユーザーによる入力操作を受け付ける。操作部3は、タッチパネル31及び複数の操作キー32を含む。タッチパネル31は、各種処理結果を表示する。操作キー32は、例えば、テンキー、及びスタートキーを含む。画像形成装置1は、操作部3が操作開始の入力操作を受け付けると画像形成動作を開始する。   The operation unit 3 receives an input operation by a user. The operation unit 3 includes a touch panel 31 and a plurality of operation keys 32. The touch panel 31 displays various processing results. The operation keys 32 include, for example, a numeric keypad and a start key. The image forming apparatus 1 starts an image forming operation when the operation unit 3 receives an input operation for starting the operation.

搬送部Lは、画像形成部5及び定着ユニット6を経由して、給紙部4から排出部7までシートSを搬送する。給紙部4は、シートSを1枚ずつ搬送部Lへ給紙する。排出部7は、シートSを装置外に排出する。   The conveyance unit L conveys the sheet S from the paper supply unit 4 to the discharge unit 7 via the image forming unit 5 and the fixing unit 6. The paper feed unit 4 feeds the sheets S one by one to the transport unit L. The discharge unit 7 discharges the sheet S outside the apparatus.

画像形成部5は、給紙部4から給紙されたシートSに画像を形成する。画像形成部5は、露光装置51、現像装置52、感光体ドラム53、及び転写装置54を備える。露光装置51は、画像データに基づいて感光体ドラム53を照射する。これにより、感光体ドラム53の表面に静電潜像が形成される。現像装置52は、感光体ドラム53にトナーを供給して、感光体ドラム53に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する。   The image forming unit 5 forms an image on the sheet S fed from the sheet feeding unit 4. The image forming unit 5 includes an exposure device 51, a developing device 52, a photosensitive drum 53, and a transfer device 54. The exposure device 51 irradiates the photosensitive drum 53 based on the image data. Thereby, an electrostatic latent image is formed on the surface of the photosensitive drum 53. The developing device 52 supplies toner to the photosensitive drum 53 and develops the electrostatic latent image formed on the photosensitive drum 53 to form a toner image.

転写装置54は、感光体ドラム53に形成されたトナー像をシートSに転写する。トナー像が転写されたシートSは定着ユニット6に搬送される。   The transfer device 54 transfers the toner image formed on the photosensitive drum 53 to the sheet S. The sheet S on which the toner image is transferred is conveyed to the fixing unit 6.

定着ユニット6は、加熱部材の一例である加熱ローラー61、加圧部材の一例である加圧ローラー62、及び熱源の一例であるハロゲンヒーター63を備える。加熱ローラー61及び加圧ローラー62は互いに対向して配置され、定着ニップを形成する。ハロゲンヒーター63は、加熱ローラー61の内側に配置されて加熱ローラー61を加熱する。ハロゲンヒーター63は、電力が供給されると加熱ローラー61の内周面へ向けて赤外線を放射する。この結果、加熱ローラー61が加熱される。画像形成部5から搬送されたシートSは、定着ニップを通過することにより加熱及び加圧される。この結果、トナー像がシートSに定着する。   The fixing unit 6 includes a heating roller 61 that is an example of a heating member, a pressure roller 62 that is an example of a pressure member, and a halogen heater 63 that is an example of a heat source. The heating roller 61 and the pressure roller 62 are arranged to face each other and form a fixing nip. The halogen heater 63 is disposed inside the heating roller 61 and heats the heating roller 61. The halogen heater 63 radiates infrared rays toward the inner peripheral surface of the heating roller 61 when electric power is supplied. As a result, the heating roller 61 is heated. The sheet S conveyed from the image forming unit 5 is heated and pressed by passing through the fixing nip. As a result, the toner image is fixed on the sheet S.

続いて図2を参照して、定着ユニット6の構成について説明する。図2は、定着ユニット6の構成を示す図である。   Next, the configuration of the fixing unit 6 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the fixing unit 6.

図2に示すように、定着ユニット6は、温度センサーの一例であるサーミスター64を更に備える。   As shown in FIG. 2, the fixing unit 6 further includes a thermistor 64 that is an example of a temperature sensor.

サーミスター64は、加熱ローラー61の外周面の一部に接触するように配置される。サーミスター64は、加熱ローラー61の外周面(表面)の温度を測定し、測定した温度に対応する信号を出力する。   The thermistor 64 is disposed so as to contact a part of the outer peripheral surface of the heating roller 61. The thermistor 64 measures the temperature of the outer peripheral surface (surface) of the heating roller 61 and outputs a signal corresponding to the measured temperature.

続いて図3を参照して、画像形成装置1の構成について詳細に説明する。図3は、画像形成装置1の構成を示すブロック図である。   Next, the configuration of the image forming apparatus 1 will be described in detail with reference to FIG. FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of the image forming apparatus 1.

図3に示すように、画像形成装置1は、記憶部9及び制御部10を更に備える。本実施形態において、記憶部9は、定着装置の記憶部を兼ねる。また、制御部10は、定着装置の制御部を兼ねる。   As shown in FIG. 3, the image forming apparatus 1 further includes a storage unit 9 and a control unit 10. In the present embodiment, the storage unit 9 also serves as a storage unit of the fixing device. The control unit 10 also serves as a control unit of the fixing device.

記憶部9は、HDD(Hard Disk Drive)、RAM(Random Access Memory)、及びROM(Read Only Memory)によって構成される。記憶部9は、制御プログラムを記憶する。   The storage unit 9 includes an HDD (Hard Disk Drive), a RAM (Random Access Memory), and a ROM (Read Only Memory). The storage unit 9 stores a control program.

制御部10は、駆動部の一例であるヒーター駆動回路11、リアルタイムクロック部12、及び処理部13を備える。本実施形態において、処理部13は、電源スイッチ2がONになると、ON信号を受け付ける。また、処理部13は、電源スイッチ2がOFFになると、OFF信号を受け付ける。ON信号は、第2信号の一例であり、OFF信号は、第1信号の一例である。   The control unit 10 includes a heater driving circuit 11, a real time clock unit 12, and a processing unit 13 that are examples of the driving unit. In the present embodiment, the processing unit 13 receives an ON signal when the power switch 2 is turned on. The processing unit 13 receives an OFF signal when the power switch 2 is turned off. The ON signal is an example of a second signal, and the OFF signal is an example of a first signal.

ヒーター駆動回路11は、ハロゲンヒーター63に電力を供給してハロゲンヒーター63を駆動させる。本実施形態において、処理部13にOFF信号が入力されると、ヒーター駆動回路11の動作が停止する。この結果、ハロゲンヒーター63への電力の供給が停止されてハロゲンヒーター63の駆動が停止する。   The heater drive circuit 11 supplies electric power to the halogen heater 63 to drive the halogen heater 63. In the present embodiment, when the OFF signal is input to the processing unit 13, the operation of the heater drive circuit 11 is stopped. As a result, the supply of electric power to the halogen heater 63 is stopped, and the driving of the halogen heater 63 is stopped.

リアルタイムクロック部12は、現在の時刻を計測する。リアルタイムクロック部12には、常に電力が供給される。   The real time clock unit 12 measures the current time. The real-time clock unit 12 is always supplied with power.

処理部13は、CPU(Central Processing Unit)、及びASIC(Application Specific Integrated Circuit)等によって構成される。処理部13は、記憶部9に記憶された制御プログラムを実行することによって、ヒーター制御部130、温度取得部131、時刻取得部132、及びセンサー異常判定部133として機能する。また、処理部13は、記憶部9に記憶された制御プログラムを実行することによって画像形成装置1の各部の動作を制御する。   The processing unit 13 includes a CPU (Central Processing Unit) and an ASIC (Application Specific Integrated Circuit). The processing unit 13 functions as the heater control unit 130, the temperature acquisition unit 131, the time acquisition unit 132, and the sensor abnormality determination unit 133 by executing the control program stored in the storage unit 9. The processing unit 13 controls the operation of each unit of the image forming apparatus 1 by executing a control program stored in the storage unit 9.

ヒーター制御部130は、サーミスター64から出力される信号に基づいて、ヒーター駆動回路11を介してハロゲンヒーター63による加熱動作を制御する。詳しくは、ヒーター制御部130は、サーミスター64の測定温度が所定の温度となるように、ヒーター駆動回路11の動作を制御する。本実施形態において、処理部13にOFF信号が入力されると、ヒーター制御部130は、ヒーター駆動回路11の駆動を停止させる。この結果、ハロゲンヒーター63への電力の供給が停止される。   The heater control unit 130 controls the heating operation by the halogen heater 63 via the heater drive circuit 11 based on the signal output from the thermistor 64. Specifically, the heater control unit 130 controls the operation of the heater drive circuit 11 so that the measured temperature of the thermistor 64 becomes a predetermined temperature. In the present embodiment, when an OFF signal is input to the processing unit 13, the heater control unit 130 stops driving the heater driving circuit 11. As a result, the supply of power to the halogen heater 63 is stopped.

温度取得部131は、サーミスター64から出力される信号に基づいて温度を取得する。詳しくは、温度取得部131は、サーミスター64から出力される信号(電圧値)と対応する温度を温度変換表から取得する。温度変換表は、予め記憶部9に記憶されている。温度変換表は、電圧値と温度とを関連付けている。本実施形態において、温度取得部131は、処理部13にOFF信号が入力されると、サーミスター64から出力される信号に対応する温度(第1温度)を温度変換表から取得する。また、温度取得部131は、処理部13にON信号が入力されると、サーミスター64から出力される信号に対応する温度(第2温度)を温度変換表から取得する。温度取得部131は、取得した温度を記憶部9に記憶させる。   The temperature acquisition unit 131 acquires the temperature based on the signal output from the thermistor 64. Specifically, the temperature acquisition unit 131 acquires a temperature corresponding to a signal (voltage value) output from the thermistor 64 from the temperature conversion table. The temperature conversion table is stored in the storage unit 9 in advance. The temperature conversion table associates voltage values with temperatures. In the present embodiment, when an OFF signal is input to the processing unit 13, the temperature acquisition unit 131 acquires a temperature (first temperature) corresponding to the signal output from the thermistor 64 from the temperature conversion table. Further, when the ON signal is input to the processing unit 13, the temperature acquisition unit 131 acquires the temperature (second temperature) corresponding to the signal output from the thermistor 64 from the temperature conversion table. The temperature acquisition unit 131 stores the acquired temperature in the storage unit 9.

時刻取得部132は、処理部13にOFF信号が入力されると、リアルタイムクロック部12が示す時刻(第1時刻)を取得する。また、時刻取得部132は、処理部13にON信号が入力されると、リアルタイムクロック部12が示す時刻(第2時刻)を取得する。   When the OFF signal is input to the processing unit 13, the time acquisition unit 132 acquires the time (first time) indicated by the real-time clock unit 12. Further, when the ON signal is input to the processing unit 13, the time acquisition unit 132 acquires the time (second time) indicated by the real-time clock unit 12.

処理部13は、異常判定処理を実行する。本実施形態において、異常判定処理は、第1異常判定処理、第2異常判定処理及び第3異常判定処理を含む。第1異常判定処理では、センサー異常判定部133は、第1時刻から第2時刻までの期間における第1温度から第2温度までの単位時間当たりの温度変化に基づいて、サーミスター64の異常を判定する。詳しくは、センサー異常判定部133は、記憶部9に記憶された第1温度、第2温度、第1時刻、及び第2時刻に基づいて温度変化の下降傾き(単位時間当たりの温度変化)を算出する。温度変化の下降傾きαは、以下の(式1)で算出される。
α =|(k2−k1)/p| (℃/分) ・・・(式1)
(式1)において、k1は第1温度を示し、k2は第2温度を示し、pは第1時刻から第2時刻までの期間の長さを示す。
The processing unit 13 executes an abnormality determination process. In the present embodiment, the abnormality determination process includes a first abnormality determination process, a second abnormality determination process, and a third abnormality determination process. In the first abnormality determination process, the sensor abnormality determination unit 133 detects the abnormality of the thermistor 64 based on the temperature change per unit time from the first temperature to the second temperature in the period from the first time to the second time. judge. Specifically, the sensor abnormality determination unit 133 calculates the downward slope of the temperature change (temperature change per unit time) based on the first temperature, the second temperature, the first time, and the second time stored in the storage unit 9. calculate. The descending slope α of the temperature change is calculated by the following (Equation 1).
α = | (k2−k1) / p | (° C./min) (Formula 1)
In (Expression 1), k1 represents the first temperature, k2 represents the second temperature, and p represents the length of the period from the first time to the second time.

センサー異常判定部133は、算出した下降傾きαと、第1条件、第2条件、及び第3条件とに基づいてサーミスター64の異常を判定する。本実施形態において、第1条件は、下降傾きαが第1傾き閾値TLよりも大きい(α>TL)という条件であり、第2条件は、下降傾きαが第2傾き閾値TS以上第1傾き閾値以下(TS≦α≦TL)であるという条件であり、第3条件は、下降傾きαが、第2傾き閾値TSよりも小さい(α<TS)という条件である。第1傾き閾値TLは、第1閾値の一例であり、第2傾き閾値TSは、第2閾値の一例である。第1傾き閾値TL及び第2傾き閾値TSは、下降傾きαに対して設定される閾値である。第1傾き閾値TL、及び第2傾き閾値TSは、予め記憶部9に記憶されている。第1傾き閾値TLは、第2傾き閾値TSよりも大きい値を有する。第1傾き閾値TLは、例えば、|−51(℃/分)|である。また、第2傾き閾値TSは、例えば、|−5(℃/分)|である。   The sensor abnormality determination unit 133 determines the abnormality of the thermistor 64 based on the calculated downward inclination α, the first condition, the second condition, and the third condition. In the present embodiment, the first condition is a condition that the downward inclination α is larger than the first inclination threshold TL (α> TL), and the second condition is that the downward inclination α is equal to or greater than the second inclination threshold TS. The third condition is a condition that the downward inclination α is smaller than the second inclination threshold TS (α <TS). The first inclination threshold value TL is an example of a first threshold value, and the second inclination threshold value TS is an example of a second threshold value. The first inclination threshold TL and the second inclination threshold TS are thresholds set for the downward inclination α. The first inclination threshold value TL and the second inclination threshold value TS are stored in the storage unit 9 in advance. The first inclination threshold value TL has a value larger than the second inclination threshold value TS. The first inclination threshold value TL is, for example, | −51 (° C./min) |. The second inclination threshold value TS is, for example, | −5 (° C./min) |.

センサー異常判定部133は、下降傾きαが第1傾き閾値TLよりも大きいか否かを判定する。センサー異常判定部133は、下降傾きαが第1傾き閾値TLよりも大きいと判定した場合、サーミスター64が異常であると判定する。処理部13は、センサー異常判定部133によってサーミスター64が異常であると判定された場合、エラーを報知する。本実施形態では、処理部13は、エラーが発生していることを示すメッセージをタッチパネル31に表示させる。一方、センサー異常判定部133は、下降傾きαが第1傾き閾値TLよりも大きくないと判定した場合、すなわち、下降傾きαが第1傾き閾値TL以下である場合、下降傾きαが第2傾き閾値TSよりも小さいか否かを判定する。センサー異常判定部133は、下降傾きαが第2傾き閾値TSよりも小さくないと判定した場合、すなわち、下降傾きαが第2傾き閾値TS以上である場合、サーミスター64が異常ではないと判定する。すなわち、サーミスター64が正常であると判定する。一方、下降傾きαが第2傾き閾値TSよりも小さいと判定された場合、第2異常判定処理が実行される。   The sensor abnormality determination unit 133 determines whether or not the downward inclination α is larger than the first inclination threshold TL. The sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is abnormal when it is determined that the downward inclination α is larger than the first inclination threshold TL. When the sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is abnormal, the processing unit 13 notifies an error. In the present embodiment, the processing unit 13 causes the touch panel 31 to display a message indicating that an error has occurred. On the other hand, if the sensor abnormality determination unit 133 determines that the downward slope α is not greater than the first slope threshold TL, that is, if the downward slope α is equal to or less than the first slope threshold TL, the downward slope α is the second slope. It is determined whether it is smaller than the threshold value TS. The sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is not abnormal when it is determined that the downward inclination α is not smaller than the second inclination threshold value TS, that is, when the downward inclination α is greater than or equal to the second inclination threshold value TS. To do. That is, it is determined that the thermistor 64 is normal. On the other hand, when it is determined that the downward inclination α is smaller than the second inclination threshold value TS, a second abnormality determination process is executed.

第2異常判定処理では、センサー異常判定部133は、期間の長さpと第2温度k2とに基づいてサーミスター64の異常を判定する。詳しくは、センサー異常判定部133は、期間の長さpが期間閾値Pt以上であるか否かを判定する。センサー異常判定部133は、期間の長さpが期間閾値Pt以上(p≧Pt)であると判定した場合、第2温度k2が温度閾値Ktよりも大きいか否かを判定する。センサー異常判定部133は、第2温度k2が温度閾値Ktよりも大きい(k2>Kt)と判定した場合、サーミスター64が異常であると判定する。その結果、処理部13によってエラーが報知される。本実施形態では、処理部13は、エラーが発生していることを示すメッセージをタッチパネル31に表示させる。   In the second abnormality determination process, the sensor abnormality determination unit 133 determines the abnormality of the thermistor 64 based on the length p of the period and the second temperature k2. Specifically, the sensor abnormality determination unit 133 determines whether or not the period length p is equal to or greater than the period threshold value Pt. If the sensor abnormality determination unit 133 determines that the length p of the period is equal to or greater than the period threshold value Pt (p ≧ Pt), the sensor abnormality determination unit 133 determines whether the second temperature k2 is greater than the temperature threshold value Kt. The sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is abnormal when it is determined that the second temperature k2 is higher than the temperature threshold Kt (k2> Kt). As a result, the error is notified by the processing unit 13. In the present embodiment, the processing unit 13 causes the touch panel 31 to display a message indicating that an error has occurred.

一方、センサー異常判定部133が、期間の長さpが期間閾値Pt以上ではないと判定した場合、すなわち、期間の長さpが期間閾値Ptよりも小さい場合(p<Pt)、第3異常判定処理が実行される。また、センサー異常判定部133が、第2温度k2が温度閾値Ktよりも大きくないと判定した場合、すなわち、第2温度k2が温度閾値Kt以下である場合(k2≦Kt)、第3異常判定処理が実行される。   On the other hand, if the sensor abnormality determination unit 133 determines that the period length p is not greater than or equal to the period threshold value Pt, that is, if the period length p is smaller than the period threshold value Pt (p <Pt), the third abnormality Judgment processing is executed. When the sensor abnormality determination unit 133 determines that the second temperature k2 is not greater than the temperature threshold Kt, that is, when the second temperature k2 is equal to or lower than the temperature threshold Kt (k2 ≦ Kt), the third abnormality determination Processing is executed.

期間閾値Pt及び温度閾値Ktは、予め記憶部9に記憶されている。期間閾値Ptは、例えば、30であり、温度閾値Ktは、例えば、100である。期間閾値Ptは、第3閾値の一例であり、温度閾値Ktは、第4閾値の一例である。期間閾値Ptは、ハロゲンヒーター63の駆動が停止してから期間閾値Ptが示す期間が経過した際に、ハロゲンヒーター63の温度が十分に低い温度を示すように設定される。また、温度閾値Ktは、ハロゲンヒーター63の駆動が開始しても加熱ローラー61が所定の温度をすぐに超えない温度に設定される。   The period threshold value Pt and the temperature threshold value Kt are stored in the storage unit 9 in advance. The period threshold value Pt is 30, for example, and the temperature threshold value Kt is 100, for example. The period threshold value Pt is an example of a third threshold value, and the temperature threshold value Kt is an example of a fourth threshold value. The period threshold value Pt is set so that the temperature of the halogen heater 63 is sufficiently low when the period indicated by the period threshold value Pt has elapsed since the driving of the halogen heater 63 has stopped. Further, the temperature threshold Kt is set to a temperature at which the heating roller 61 does not immediately exceed a predetermined temperature even when the driving of the halogen heater 63 is started.

第3異常判定処理では、ヒーター制御部130は、ヒーター駆動回路11を介してハロゲンヒーター63を一定期間cp駆動させる。センサー異常判定部133は、ハロゲンヒーター63が一定期間cp駆動した後のサーミスター64からの出力に基づいてサーミスター64の異常を判定する。詳しくは、温度取得部131は、ハロゲンヒーター63の駆動を開始してから一定期間cp経過後の第3温度k3を取得する。センサー異常判定部133は、第3温度k3から第2温度k2を減算して得られた値を一定期間cpで除算することによって、温度変化の上昇傾きβ(単位時間当たりの温度変化)を算出する。算出した上昇傾きβの値が所定の範囲内の値である場合、センサー異常判定部133は、サーミスター64が異常ではないと判定する。一方、上昇傾きβの値が所定の範囲内の値ではない場合、サーミスター64が異常であると判定する。処理部13は、センサー異常判定部133によってサーミスター64が異常であると判定された場合、エラーを報知する。本実施形態では、処理部13は、エラーが発生していることを示すメッセージをタッチパネル31に表示させる。   In the third abnormality determination process, the heater control unit 130 drives the halogen heater 63 cp for a certain period via the heater drive circuit 11. The sensor abnormality determination unit 133 determines abnormality of the thermistor 64 based on the output from the thermistor 64 after the halogen heater 63 has been cp driven for a certain period. Specifically, the temperature acquisition unit 131 acquires the third temperature k3 after the lapse of a certain period cp from the start of driving of the halogen heater 63. The sensor abnormality determination unit 133 calculates a temperature change rising slope β (temperature change per unit time) by dividing a value obtained by subtracting the second temperature k2 from the third temperature k3 by a certain period cp. To do. When the calculated value of the rising slope β is a value within a predetermined range, the sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is not abnormal. On the other hand, when the value of the rising slope β is not within the predetermined range, it is determined that the thermistor 64 is abnormal. When the sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is abnormal, the processing unit 13 notifies an error. In the present embodiment, the processing unit 13 causes the touch panel 31 to display a message indicating that an error has occurred.

次に、図4を参照して画像形成装置1におけるサーミスター64の異常検知方法について説明する。図4は、サーミスター64の異常検知方法を示すフローチャートである。   Next, a method for detecting an abnormality of the thermistor 64 in the image forming apparatus 1 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a flowchart showing an abnormality detection method for the thermistor 64.

図4に示すように、処理部13にOFF信号が入力されると(ステップS102)、ヒーター制御部130は、ハロゲンヒーター63の駆動を停止させる(ステップS104)。次いで、温度取得部131は、サーミスター64から出力された信号に対応する第1温度k1を取得する(ステップS106)。そして、時刻取得部132は、第1時刻を取得する(ステップS108)。処理部13にON信号が入力されると(ステップS110)、温度取得部131は、第2温度k2を取得する(ステップS112)。そして、時刻取得部132は、第2時刻を取得する(ステップS114)。次いで、サーミスター64の異常判定処理が実行される(ステップS116)。なお、ステップS104、ステップS106及びステップS108の順序は相互に入れ替え可能である。また、ステップS112及びステップS114の順序は相互に入れ替え可能である。   As shown in FIG. 4, when an OFF signal is input to the processing unit 13 (step S102), the heater control unit 130 stops driving the halogen heater 63 (step S104). Next, the temperature acquisition unit 131 acquires the first temperature k1 corresponding to the signal output from the thermistor 64 (step S106). And the time acquisition part 132 acquires 1st time (step S108). When the ON signal is input to the processing unit 13 (step S110), the temperature acquisition unit 131 acquires the second temperature k2 (step S112). Then, the time acquisition unit 132 acquires the second time (step S114). Next, an abnormality determination process for the thermistor 64 is executed (step S116). Note that the order of step S104, step S106, and step S108 can be interchanged. Moreover, the order of step S112 and step S114 can be interchanged.

続いて、図5を参照して、第1異常判定処理について説明する。図5は、第1異常判定処理を示すフローチャートである。第1異常判定処理は、温度取得部131が第2温度k2を取得し、時刻取得部132が第2時刻を取得すると開始される。   Next, the first abnormality determination process will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a flowchart showing the first abnormality determination process. The first abnormality determination process is started when the temperature acquisition unit 131 acquires the second temperature k2 and the time acquisition unit 132 acquires the second time.

図5に示すように、まず、センサー異常判定部133は、温度変化の下降傾きαを算出する(ステップS202)。次いで、センサー異常判定部133は、下降傾きαが第1傾き閾値TLよりも大きいか否かを判定する(ステップS204)。センサー異常判定部133は、下降傾きαが第1傾き閾値TLよりも大きいと判定した場合(ステップS204:Yes)、サーミスター64が異常であると判定する(ステップS206)。次いで、処理部13は、エラーを報知する(ステップS208)。   As shown in FIG. 5, first, the sensor abnormality determination unit 133 calculates a downward gradient α of the temperature change (Step S202). Next, the sensor abnormality determination unit 133 determines whether or not the downward inclination α is larger than the first inclination threshold TL (step S204). If the sensor abnormality determination unit 133 determines that the downward inclination α is larger than the first inclination threshold TL (step S204: Yes), the sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is abnormal (step S206). Next, the processing unit 13 notifies an error (step S208).

一方、センサー異常判定部133は、下降傾きαが第1傾き閾値TLよりも大きくないと判定した場合(ステップS204:No)、下降傾きαが第2傾き閾値TSよりも小さいか否かを判定する(ステップS210)。センサー異常判定部133は、下降傾きαが第2傾き閾値TSよりも小さくないと判定した場合(ステップS210:No)、サーミスター64が異常ではないと判定する(ステップS212)。その結果、ヒーター制御部130は、加熱ローラー61が所定の温度になるように、ハロゲンヒーター63の駆動を開始させる(ステップS214)。一方、センサー異常判定部133が、下降傾きαが第2傾き閾値TSよりも小さいと判定した場合(ステップS210:Yes)、第2異常判定処理が実行される(ステップS216)。   On the other hand, if the sensor abnormality determination unit 133 determines that the downward inclination α is not greater than the first inclination threshold TL (step S204: No), the sensor abnormality determination unit 133 determines whether the downward inclination α is smaller than the second inclination threshold TS. (Step S210). If the sensor abnormality determination unit 133 determines that the downward inclination α is not smaller than the second inclination threshold TS (step S210: No), the sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is not abnormal (step S212). As a result, the heater control unit 130 starts driving the halogen heater 63 so that the heating roller 61 reaches a predetermined temperature (step S214). On the other hand, when the sensor abnormality determination unit 133 determines that the downward inclination α is smaller than the second inclination threshold TS (step S210: Yes), a second abnormality determination process is executed (step S216).

続いて、図6を参照して、第2異常判定処理について説明する。図6は、第2異常判定処理を示すフローチャートである。   Next, the second abnormality determination process will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a flowchart showing the second abnormality determination process.

図6に示すように、センサー異常判定部133は、期間の長さpが期間閾値Pt以上であるか否かを判定する(ステップS302)。期間の長さpが期間閾値Pt以上ではないと判定された場合(ステップS302:No)、処理は、ステップS310へ進む。一方、センサー異常判定部133は、期間の長さpが期間閾値Pt以上であると判定した場合(ステップS302:Yes)、第2温度k2が温度閾値Ktよりも大きいか否かを判定する(ステップS304)。第2温度k2が温度閾値Ktよりも大きくないと判定された場合(ステップS304:No)、処理は、ステップS310へ進む。一方、センサー異常判定部133は、第2温度k2が温度閾値Ktよりも大きいと判定した場合(ステップS304:Yes)、サーミスター64が異常であると判定する(ステップS306)。次いで、処理部13は、エラーを報知する(ステップS308)。   As illustrated in FIG. 6, the sensor abnormality determination unit 133 determines whether or not the period length p is equal to or greater than the period threshold value Pt (step S302). If it is determined that the period length p is not equal to or greater than the period threshold value Pt (step S302: No), the process proceeds to step S310. On the other hand, if the sensor abnormality determination unit 133 determines that the period length p is equal to or greater than the period threshold value Pt (step S302: Yes), the sensor abnormality determination unit 133 determines whether the second temperature k2 is greater than the temperature threshold value Kt ( Step S304). When it is determined that the second temperature k2 is not greater than the temperature threshold Kt (step S304: No), the process proceeds to step S310. On the other hand, if the sensor abnormality determination unit 133 determines that the second temperature k2 is greater than the temperature threshold Kt (step S304: Yes), the sensor abnormality determination unit 133 determines that the thermistor 64 is abnormal (step S306). Next, the processing unit 13 notifies an error (step S308).

ステップS310では、処理部13は、第3異常判定処理を実行する。詳しくは、センサー異常判定部133は、上昇傾きβが所定の範囲内であるか否かを判定する。上昇傾きβが所定の範囲内である場合、ヒーター制御部130は、加熱ローラー61が所定の温度になるようにハロゲンヒーター63の駆動を開始する。一方、上昇傾きβが所定の範囲内ではない場合、処理部13によってエラーが報知される。   In step S310, the processing unit 13 executes a third abnormality determination process. Specifically, the sensor abnormality determination unit 133 determines whether or not the rising slope β is within a predetermined range. When the rising slope β is within a predetermined range, the heater control unit 130 starts driving the halogen heater 63 so that the heating roller 61 reaches a predetermined temperature. On the other hand, when the rising slope β is not within the predetermined range, the processing unit 13 notifies an error.

続いて、図7を参照して、サーミスター64の測定温度の変化について説明する。図7は、サーミスター64の測定温度の変化を示す図である。詳しくは、図7は、サーミスター64が正常な場合における測定温度の変化を示す。図7において、縦軸は、測定温度(℃)を示し、横軸は、時間(分)を示す。図7において、曲線Cは、サーミスター64の測定温度の変化を示す。図7において、第1時刻t1は、処理部13にOFF信号が入力されてハロゲンヒーター63の駆動が停止した際の時刻を示す。また、第3時刻t3は、第1時刻t1から2分経過した時刻を示し、第4時刻t4は、第1時刻t1から30分経過した時刻を示す。   Then, with reference to FIG. 7, the change of the measured temperature of the thermistor 64 is demonstrated. FIG. 7 is a diagram showing changes in the measured temperature of the thermistor 64. Specifically, FIG. 7 shows a change in measured temperature when the thermistor 64 is normal. In FIG. 7, the vertical axis indicates the measurement temperature (° C.), and the horizontal axis indicates time (minutes). In FIG. 7, curve C shows the change in the measured temperature of the thermistor 64. In FIG. 7, the first time t1 indicates the time when the OFF signal is input to the processing unit 13 and the driving of the halogen heater 63 is stopped. The third time t3 indicates the time when 2 minutes have elapsed from the first time t1, and the fourth time t4 indicates the time when 30 minutes have elapsed from the first time t1.

図7に示す例では、ハロゲンヒーター63が駆動している間、測定温度は、概ね200℃を示している。処理部13にOFF信号が入力されてハロゲンヒーター63の駆動が停止すると、測定温度は急唆に変化して、第3時刻t3において概ね100℃となる。その後、測定温度は緩慢に変化して、第4時刻t4において概ね50℃となる。   In the example shown in FIG. 7, the measured temperature is approximately 200 ° C. while the halogen heater 63 is driven. When the OFF signal is input to the processing unit 13 and the driving of the halogen heater 63 is stopped, the measured temperature changes suddenly and becomes approximately 100 ° C. at the third time t3. Thereafter, the measured temperature changes slowly and reaches approximately 50 ° C. at the fourth time t4.

また、図7に示す例では、第1時刻t1から第3時刻t3までの温度変化は、−100(℃)である。第1時刻t1から第3時刻t3までの期間の長さは、2分である。よって、(式1)を参照して下降傾きαを算出すると、下降傾きαは、50(℃/分)となる。また、第1時刻t1から第4時刻t4までの温度変化は、-150(℃)である。第1時刻t1から第4時刻t4までの期間の長さは、30分である。よって、(式1)を参照して下降傾きαを算出すると、下降傾きαは、5(℃/分)となる。   In the example shown in FIG. 7, the temperature change from the first time t1 to the third time t3 is −100 (° C.). The length of the period from the first time t1 to the third time t3 is 2 minutes. Therefore, when the downward slope α is calculated with reference to (Equation 1), the downward slope α is 50 (° C./minute). The temperature change from the first time t1 to the fourth time t4 is −150 (° C.). The length of the period from the first time t1 to the fourth time t4 is 30 minutes. Therefore, when the downward slope α is calculated with reference to (Equation 1), the downward slope α is 5 (° C./minute).

第1傾き閾値TLは、第1時刻t1から第3時刻t3までの下降傾きαに対して設定される。第2傾き閾値TSは、第1時刻t1から第4時刻t4までの下降傾きαに対して設定される。好適には、第1傾き閾値TLは、サーミスター64が正常な場合における下降傾きαの最大値よりもわずかに大きな値に設定する。本実施形態では、第1傾き閾値TLとして51を設定し、第2傾き閾値TSとして5を設定する。これにより、下降傾きαが5(℃/分)以上51(℃/分)以下である場合、サーミスター64が正常であると判定し得る。一方、下降傾きαが51(℃/分)よりも大きい場合には、サーミスター64が正常である場合に比べて測定温度が急激に変化している。したがって、サーミスター64が異常であると判定し得る。また、下降傾きαが5(℃/分)よりも小さい場合、サーミスター64が正常である場合に比べて温度変化が緩やかに変化している可能性がある。したがって、サーミスター64に異常が発生している可能性がある。そこで、本実施形態では、第2異常判定処理が実行される。   The first slope threshold TL is set for the downward slope α from the first time t1 to the third time t3. The second slope threshold TS is set for the downward slope α from the first time t1 to the fourth time t4. Preferably, the first inclination threshold TL is set to a value slightly larger than the maximum value of the downward inclination α when the thermistor 64 is normal. In the present embodiment, 51 is set as the first inclination threshold TL, and 5 is set as the second inclination threshold TS. Thereby, when the downward slope α is 5 (° C./min) or more and 51 (° C./min) or less, it can be determined that the thermistor 64 is normal. On the other hand, when the downward slope α is larger than 51 (° C./min), the measured temperature changes more rapidly than when the thermistor 64 is normal. Therefore, it can be determined that the thermistor 64 is abnormal. Further, when the downward inclination α is smaller than 5 (° C./minute), there is a possibility that the temperature change is gradually changed as compared with the case where the thermistor 64 is normal. Therefore, there is a possibility that an abnormality has occurred in the thermistor 64. Therefore, in the present embodiment, the second abnormality determination process is executed.

第2異常判定処理では、センサー異常判定部133は、温度閾値Ktと期間閾値Ptとに基づいて、サーミスター64の異常を判定する。図7に示す例では、第1時刻t1から30分経過後における測定温度は、100℃よりも十分に低い温度を示す。よって、第1時刻t1から30分以上経過した後の測定温度が100℃よりも大きい場合、サーミスター64が異常であると判定し得る。このため、期間閾値Ptとして、30を設定し、温度閾値Ktとして100を設定することによって、処理部13は、サーミスター64の異常を検知することができる。   In the second abnormality determination process, the sensor abnormality determination unit 133 determines abnormality of the thermistor 64 based on the temperature threshold value Kt and the period threshold value Pt. In the example shown in FIG. 7, the measured temperature after 30 minutes from the first time t1 is sufficiently lower than 100 ° C. Therefore, when the measured temperature after 30 minutes or more from the first time t1 is higher than 100 ° C., it can be determined that the thermistor 64 is abnormal. For this reason, by setting 30 as the period threshold value Pt and setting 100 as the temperature threshold value Kt, the processing unit 13 can detect the abnormality of the thermistor 64.

また、期間の長さpが期間閾値Ptよりも小さい場合、又は、第2温度k2が温度閾値Kt以下である場合にも、サーミスター64に異常が発生している可能性がある。このため、処理部13は、ハロゲンヒーター63を駆動させて第3異常判定処理を実行する。   Further, when the length p of the period is smaller than the period threshold value Pt, or when the second temperature k2 is equal to or lower than the temperature threshold value Kt, there is a possibility that the thermistor 64 is abnormal. For this reason, the processing unit 13 drives the halogen heater 63 to execute the third abnormality determination process.

以上、本実施形態について説明した。本実施形態によれば、下降傾きαが第1傾き閾値TLよりも大きい場合、ハロゲンヒーター63を駆動することなく、サーミスター64が異常であると判定することができる。   The present embodiment has been described above. According to the present embodiment, when the downward inclination α is larger than the first inclination threshold TL, it is possible to determine that the thermistor 64 is abnormal without driving the halogen heater 63.

また、下降傾きαが第2傾き閾値TSよりも小さい場合、サーミスター64に異常が発生している可能性がある。本実施形態によれば、下降傾きαが第2傾き閾値TSよりも小さい場合、処理部13は、第2異常判定処理及び第3異常判定処理を実行する。このように、サーミスター64の異常を判定する処理を重ねて行うことによって、加熱ローラー61が所定の温度を超えることを抑制することができる。   Further, when the downward inclination α is smaller than the second inclination threshold value TS, an abnormality may have occurred in the thermistor 64. According to the present embodiment, when the downward inclination α is smaller than the second inclination threshold value TS, the processing unit 13 executes a second abnormality determination process and a third abnormality determination process. Thus, it is possible to suppress the heating roller 61 from exceeding a predetermined temperature by repeatedly performing the process of determining the abnormality of the thermistor 64.

以上、本発明の実施形態について、図面(図1〜図7)を参照しながら説明した。但し、本発明は、上記の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の態様において実施することが可能である。   The embodiment of the present invention has been described above with reference to the drawings (FIGS. 1 to 7). However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented in various modes without departing from the gist thereof.

例えば、本発明の実施形態では、温度センサーとして接触型のサーミスター64が使用される場合を例に説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、温度センサーとして非接触型のサーミスター及び補償用雰囲気温度センサーが使用されてもよい。この場合、温度取得部131は、非接触型のサーミスターが測定した温度と補償用雰囲気温度センサーが測定した温度との差分を加熱ローラー61の表面の温度として取得する。補償用雰囲気温度センサーは、定着ユニット6に設けられて、定着ユニット6内の空気の温度を取得する。   For example, in the embodiment of the present invention, the case where the contact type thermistor 64 is used as the temperature sensor has been described as an example, but the present invention is not limited to this. For example, a non-contact thermistor and a compensation ambient temperature sensor may be used as the temperature sensor. In this case, the temperature acquisition unit 131 acquires the difference between the temperature measured by the non-contact type thermistor and the temperature measured by the compensation ambient temperature sensor as the temperature of the surface of the heating roller 61. The compensation ambient temperature sensor is provided in the fixing unit 6 and acquires the temperature of air in the fixing unit 6.

また、本発明の実施形態では、ローラー方式の定着ユニット6に本発明が適用される例を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、本発明は、ベルト方式の定着ユニット6にも適用可能である。   In the embodiment of the present invention, the example in which the present invention is applied to the roller type fixing unit 6 has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the present invention can also be applied to a belt-type fixing unit 6.

また、本発明の実施形態では、熱源として赤外線を放射するハロゲンヒーター63が使用される場合を例に説明したが、本発明はこれに限定されない。熱源は、例えば、電磁誘導によって加熱部材を加熱するIHコイルであり得る。   In the embodiment of the present invention, the case where the halogen heater 63 that emits infrared rays is used as the heat source has been described as an example. However, the present invention is not limited to this. The heat source can be, for example, an IH coil that heats the heating member by electromagnetic induction.

また、本発明の実施形態では、複合機に本発明が適用される場合を例に説明したが、本発明はこれに限定されない。本発明は、プリンターにも適用可能である。   Further, in the embodiment of the present invention, the case where the present invention is applied to a multifunction machine has been described as an example, but the present invention is not limited to this. The present invention is also applicable to a printer.

本発明は、電子写真方式の画像形成装置に有用である。   The present invention is useful for an electrophotographic image forming apparatus.

6 定着ユニット
61 加熱ローラー
63 ハロゲンヒーター
64 サーミスター
131 温度取得部
132 時刻取得部
133 センサー異常判定部
6 Fixing unit 61 Heating roller 63 Halogen heater 64 Thermistor 131 Temperature acquisition unit 132 Time acquisition unit 133 Sensor abnormality determination unit

Claims (10)

定着ユニットと、前記定着ユニットによる加熱動作を制御する制御部とを備える定着装置であって、
前記定着ユニットは、
熱源と、
前記熱源によって加熱される加熱部材と、
前記加熱部材の温度を測定する温度センサーと
を含み、
前記制御部は、
前記熱源を駆動させる駆動部と、
前記制御部に第1信号が入力されると、前記温度センサーからの出力に基づいて第1温度を取得し、前記制御部に前記第1信号が入力された後に第2信号が入力されると、前記温度センサーからの出力に基づいて第2温度を取得する温度取得部と、
前記第1温度から前記第2温度への温度変化と、第1条件とに基づいて前記温度センサーの異常を判定する異常判定部と
を含み、
前記駆動部は、前記制御部に前記第1信号が入力されると前記熱源の駆動の停止を実行し、
前記異常判定部は、前記温度変化が前記第1条件を満たす場合に、前記温度センサーが異常であると判定し、
前記駆動部は、前記温度変化が前記第1条件とは異なる第2条件を満たす場合に、前記熱源を駆動させる、定着装置。
A fixing device comprising: a fixing unit; and a control unit that controls a heating operation by the fixing unit,
The fixing unit includes:
A heat source,
A heating member heated by the heat source;
A temperature sensor for measuring the temperature of the heating member, and
The controller is
A drive unit for driving the heat source;
When the first signal is input to the control unit, the first temperature is acquired based on the output from the temperature sensor, and the second signal is input after the first signal is input to the control unit. A temperature acquisition unit that acquires a second temperature based on an output from the temperature sensor;
An abnormality determination unit that determines an abnormality of the temperature sensor based on a temperature change from the first temperature to the second temperature and a first condition;
The drive unit, when the first signal is input to the control unit, to stop driving the heat source,
The abnormality determination unit determines that the temperature sensor is abnormal when the temperature change satisfies the first condition,
The driving unit drives the heat source when the temperature change satisfies a second condition different from the first condition.
前記制御部は、前記制御部に前記第1信号が入力されると第1時刻を取得し、前記制御部に前記第2信号が入力されると第2時刻を取得する時刻取得部を更に含み、
前記異常判定部は、前記温度変化として、前記第1時刻から前記第2時刻になるまでの期間における単位時間当たりの温度変化を取得する、請求項1に記載の定着装置。
The control unit further includes a time acquisition unit that acquires a first time when the first signal is input to the control unit, and acquires a second time when the second signal is input to the control unit. ,
The fixing device according to claim 1, wherein the abnormality determination unit acquires a temperature change per unit time in a period from the first time to the second time as the temperature change.
前記第1条件は、前記単位時間当たりの温度変化が第1閾値より大きいという条件であり、
前記第2条件は、前記単位時間当たりの温度変化が第2閾値以上前記第1閾値以下であるという条件である、請求項2に記載の定着装置。
The first condition is a condition that the temperature change per unit time is larger than a first threshold value,
The fixing device according to claim 2, wherein the second condition is a condition that a temperature change per unit time is not less than a second threshold value and not more than the first threshold value.
前記異常判定部は、前記単位時間当たりの温度変化が前記第2閾値より小さい場合に、前記第1時刻から前記第2時刻になるまでの期間の長さと、前記第2温度とに基づいて前記温度センサーの異常を判定する、請求項3に記載の定着装置。
When the temperature change per unit time is smaller than the second threshold, the abnormality determination unit is based on the length of the period from the first time to the second time and the second temperature. The fixing device according to claim 3, wherein abnormality of the temperature sensor is determined.
前記異常判定部は、前記第1時刻から前記第2時刻になるまでの期間の長さが第3閾値以上、且つ前記第2温度が第4閾値より大きい場合、前記温度センサーが異常であると判定する、請求項4に記載の定着装置。
The abnormality determination unit determines that the temperature sensor is abnormal when the length of the period from the first time to the second time is equal to or greater than a third threshold and the second temperature is greater than a fourth threshold. The fixing device according to claim 4, wherein the determination is made.
定着ユニットが備える加熱部材の温度を測定する温度センサーの異常検知方法であって、
第1信号が発生すると、前記加熱部材を加熱する熱源の駆動を停止させるとともに、前記温度センサーからの出力に基づいて第1温度を取得するステップと、
前記第1信号が発生した後に第2信号が発生すると、前記温度センサーからの出力に基づいて第2温度を取得するステップと、
前記第1温度から前記第2温度への温度変化が第1条件を満たす場合に、前記温度センサーが異常であると判定するステップと、
前記温度変化が前記第1条件とは異なる第2条件を満たす場合に、前記熱源を駆動させるステップと
を含む、温度センサーの異常検知方法。
A temperature sensor abnormality detection method for measuring the temperature of a heating member provided in a fixing unit,
When the first signal is generated, the driving of the heat source for heating the heating member is stopped, and the first temperature is acquired based on the output from the temperature sensor;
Obtaining a second temperature based on an output from the temperature sensor when a second signal is generated after the first signal is generated;
Determining that the temperature sensor is abnormal when a temperature change from the first temperature to the second temperature satisfies a first condition;
And a step of driving the heat source when the temperature change satisfies a second condition different from the first condition.
前記第1温度を取得する際に第1時刻を取得するステップと、
前記第2温度を取得する際に第2時刻を取得するステップと、
前記温度変化として、前記第1時刻から前記第2時刻になるまでの期間における単位時間当たりの温度変化を取得するステップと
を更に含む、請求項6に記載の温度センサーの異常検知方法。
Obtaining a first time when obtaining the first temperature;
Obtaining a second time when obtaining the second temperature;
The temperature sensor abnormality detection method according to claim 6, further comprising: acquiring, as the temperature change, a temperature change per unit time in a period from the first time to the second time.
前記第1条件は、前記単位時間当たりの温度変化が第1閾値より大きいという条件であり、
前記第2条件は、前記単位時間当たりの温度変化が第2閾値以上前記第1閾値以下であるという条件である、請求項7に記載の温度センサーの異常検知方法。
The first condition is a condition that the temperature change per unit time is larger than a first threshold value,
The temperature sensor abnormality detection method according to claim 7, wherein the second condition is a condition that a temperature change per unit time is not less than a second threshold and not more than the first threshold.
前記単位時間当たりの温度変化が前記第2閾値より小さい場合に、前記第1時刻から前記第2時刻になるまでの期間の長さと、前記第2温度とに基づいて前記温度センサーの異常を判定するステップを更に含む、請求項8に記載の温度センサーの異常検知方法。
When the temperature change per unit time is smaller than the second threshold value, the abnormality of the temperature sensor is determined based on the length of the period from the first time to the second time and the second temperature. The temperature sensor abnormality detection method according to claim 8, further comprising a step of:
前記第1時刻から前記第2時刻になるまでの期間の長さが第3閾値以上、且つ前記第2温度が第4閾値より大きい場合、前記温度センサーが異常であると判定する、請求項9に記載の温度センサーの異常検知方法。   The temperature sensor determines that the temperature sensor is abnormal when a length of a period from the first time to the second time is equal to or greater than a third threshold and the second temperature is greater than a fourth threshold. An abnormality detection method for the temperature sensor described in 1.
JP2015236496A 2015-12-03 2015-12-03 Fixing device and temperature sensor abnormality detection method Expired - Fee Related JP6451610B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015236496A JP6451610B2 (en) 2015-12-03 2015-12-03 Fixing device and temperature sensor abnormality detection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015236496A JP6451610B2 (en) 2015-12-03 2015-12-03 Fixing device and temperature sensor abnormality detection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017102326A true JP2017102326A (en) 2017-06-08
JP6451610B2 JP6451610B2 (en) 2019-01-16

Family

ID=59018096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015236496A Expired - Fee Related JP6451610B2 (en) 2015-12-03 2015-12-03 Fixing device and temperature sensor abnormality detection method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6451610B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114253316A (en) * 2021-12-21 2022-03-29 北京北方华创微电子装备有限公司 Pipeline temperature control equipment and pipeline temperature control method

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003076177A (en) * 2001-09-05 2003-03-14 Matsushita Graphic Communication Systems Inc Recording device and its abnormality deciding method
US20120121277A1 (en) * 2010-11-15 2012-05-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Image forming apparatus and fixing unit control method thereof
JP2012141349A (en) * 2010-12-28 2012-07-26 Brother Ind Ltd Image forming device and heating method of fixing unit thereof
JP2013164493A (en) * 2012-02-10 2013-08-22 Brother Ind Ltd Image formation apparatus
JP2014044284A (en) * 2012-08-27 2014-03-13 Ricoh Co Ltd Fixing device, image forming apparatus, fixing management method, and fixing management program

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003076177A (en) * 2001-09-05 2003-03-14 Matsushita Graphic Communication Systems Inc Recording device and its abnormality deciding method
US20120121277A1 (en) * 2010-11-15 2012-05-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Image forming apparatus and fixing unit control method thereof
JP2012141349A (en) * 2010-12-28 2012-07-26 Brother Ind Ltd Image forming device and heating method of fixing unit thereof
JP2013164493A (en) * 2012-02-10 2013-08-22 Brother Ind Ltd Image formation apparatus
JP2014044284A (en) * 2012-08-27 2014-03-13 Ricoh Co Ltd Fixing device, image forming apparatus, fixing management method, and fixing management program

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114253316A (en) * 2021-12-21 2022-03-29 北京北方华创微电子装备有限公司 Pipeline temperature control equipment and pipeline temperature control method
CN114253316B (en) * 2021-12-21 2023-04-14 北京北方华创微电子装备有限公司 Pipeline temperature control equipment and pipeline temperature control method

Also Published As

Publication number Publication date
JP6451610B2 (en) 2019-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6172208B2 (en) Image forming apparatus
JP2009008790A (en) Heating device, fixing device and image forming device
JP2007003663A (en) Heater controller
JP2015102833A (en) Image forming apparatus
JP6451610B2 (en) Fixing device and temperature sensor abnormality detection method
JP6395563B2 (en) Image forming apparatus
US9639039B2 (en) Image forming apparatus
JP6468832B2 (en) Image forming apparatus
JP2008170657A (en) Fixing controller and image forming apparatus
JP6028753B2 (en) Image forming apparatus
JP6881266B2 (en) Fixing device, setting method of fixing device, and image forming device
JP2016014860A (en) Fixing device and image forming apparatus
JP6477574B2 (en) Fixing apparatus and image forming apparatus
JP6083213B2 (en) Image forming apparatus
JP2014167618A (en) Image forming apparatus
JP5762609B2 (en) Heating device and detection temperature correction method
JP2018045130A (en) Fixing device and image forming apparatus
JP2009229629A (en) Fixing device, image forming apparatus, method of controlling fixing device, and control program for fixing device
JP6996182B2 (en) Image forming device, control method of image forming device, and program
JP2005331770A (en) Apparatus equipped with heating type equipment and method for controlling apparatus
JP2008039923A (en) Image forming apparatus
JP2016038478A (en) Heating device and image forming apparatus
JP2020079883A (en) Image forming apparatus
JP2014219533A (en) Image forming apparatus
JP2020181001A (en) Image forming apparatus and control program for image forming apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170928

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180620

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180626

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180817

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181113

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181126

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6451610

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees