JP2017090305A - エミッション測定装置、近接装置設置可否評価装置、エミッション測定方法、および近接装置設置可否評価方法 - Google Patents

Abstract

【課題】エミッション測定対象の電子装置に対して外部から妨害波を印加した状態で、当該電子装置から放出されるエミッションを正確に測定し、他の電子装置のイミュニティを正しく評価する。【解決手段】ＥＵＴ（評価対象装置）に印加用アンテナ１３から妨害波Ｗｉを放射して当該ＥＵＴからの放射エミッションＥを測定用アンテナ１１により受信し、この受信された放射エミッションＥの特性から前記印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄと床反射波Ｗｒの特性を差し引いたものをＥＵＴからの放射エミッション特性とする。そして、前記ＥＵＴからの放射エミッション特性と当該ＥＵＴに近接して設置される他の電子装置の放射イミュニティ特性とを比較して、同他の電子装置の近接設置が可能かどうか判定する。【選択図】 図４

Description

本発明は、電子装置から放射される伝導・放射エミッションを測定し、近接装置への影響を評価するためのエミッション測定装置、近接装置設置可否評価装置、エミッション測定方法、および近接装置設置可否評価方法に関する。

電子装置を使用する際に、当該装置の内部の回路に電流・電圧が発生し、外部に対して意図しない伝導・放射エミッション（妨害波）を放出することがある。これらのエミッションは、当該電子装置の近傍に設置される他の電子装置に対して障害を与える場合があり、精密電子機器の誤動作、故障の原因となる。これを防ぐための規制として、国際規格（CISPR<国際無線障害特別委員会> 22)やそれに準拠したVCCI<情報処理装置等電波障害自主規制協議会>技術基準等が制定されている。これらの規格は、電子装置が通常動作を行っているときのエミッションを規制している（例えば、非特許文献１参照。）。

また、電子装置を使用する際に、外部からの妨害波が侵入すると、当該装置の内部の回路に、意図しない電流・電圧が発生し、誤動作を起こすことがある。この誤動作を避けるために、市場に出す電子装置の妨害波に対する耐性（イミュニティ）を評価することが考えられ、国際的な規格も制定されている（例えば、非特許文献２参照。）。ここでの誤動作としては、電子装置の仕様を満足しない動作が規定される。

国際規格CISPR 22第3版に対する総務省答申（平成２２年） 国際規格CISPR 24第１版に対する総務省答申（平成１０年）

前記従来の技術では、電子装置のエミッションの規制や電子装置の妨害波に対する耐性（イミュニティ）の評価の国際規格が制定されているが、これらの規制や評価は、電子装置自身の動作により発生するエミッションのみを対象に規制や評価をするものであり、エミッション（妨害波）を発生する電子装置に対して更に外部からの妨害波が印加された場合の影響については考慮されていない問題がある。

ここでの外部からの妨害波とは、例えばＴＶ、ラジオ、無線基地局等、比較的遠方からの電磁波をいう。

すなわち、電子装置が妨害波を受けたことにより、当該装置から放出される伝導・放射エミッションが変化することで、近傍に設置される他の電子装置のイミュニティが低い周波数帯において、そのエミッションレベルが高くなると、前記他の電子装置に対して障害を与えることが考えられる。

図８は、電子装置１及び他の電子装置２が近接する環境で、印加周波数特性１の妨害波Ｗｉが存在したときの誤動作発生例を示す図である。

電子装置１の妨害波Ｗｉの印加前のエミッションレベル（エミッション特性）は、周波数特性２に示すように、他の電子装置２のイミュニティレベル（イミュニティ特性）を下回っているため、当該装置２は誤動作を起こさない。

妨害波Ｗｉが印加されることにより、電子装置１のエミッションレベルは周波数特性３に示すように変化する。ここでは、他の電子装置２のイミュニティレベルは変化していないが、電子装置１のエミッションレベルのピークのある周波数帯が他の電子装置２のイミュニティレベルが低い周波数帯に変化したため、当該他の装置２が誤動作を起こしてしまう。

本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、エミッション測定対象の電子装置に対して外部から妨害波を印加した状態で、当該電子装置から放出されるエミッションを正確に測定し、他の電子装置の近接設置が可能かどうかを判定することが可能になるエミッション測定装置、近接装置設置可否評価装置、エミッション測定方法、および近接装置設置可否評価方法を提供することにある。

図９は、エミッション測定対象の電子装置に対して外部から妨害波を印加しながら当該エミッションを測定する方法の概要を示す図である。

印加用アンテナ１３から評価対象装置（ＥＵＴ;Equipment under test）の１面に印加用妨害波Ｗｉを印加しながら、当該ＥＵＴに接続されたケーブルＣｂに出力される伝導エミッションを測定し、測定用アンテナ１１で前記ＥＵＴの全面からの放射エミッションＥを測定する。

前記ケーブルＣｂに出力される伝導エミッションは、当該ケーブルＣｂに抽出装置１２を挿入して測定する。また、測定用アンテナ１１を、前記ＥＵＴ周囲の円筒状の測定面Ｆｍ上で移動して放射エミッションＥを測定する。

ここで、前記伝導エミッションは、(1)印加された妨害波ＷｉによりＥＵＴ内で発生または／及び変化して、ケーブルＣｂから外部に伝導する妨害波、(2)印加された妨害波ＷｉからケーブルＣｂに誘導して外部に伝導する妨害波、(3)ケーブルＣｂに誘導してＥＵＴに伝導し、当該ＥＵＴ内で発生または／及び変化して、同ケーブルＣｂから外部に伝導する妨害波の合成である。

しかしながら、このエミッション測定方法では、印加用アンテナ１３から放射される直接波Ｗｄ及びＥＵＴ表面や床で反射する反射波Ｗｒｅ，Ｗｒも、前記測定用アンテナ１１で同時に測定される。

ＥＵＴ表面に規定の強度で印加用妨害波Ｗｉが印加されたときの当該表面反射波Ｗｒｅは、実際に妨害波が印加されたときの反射波と同様であるため、測定に支障はない。

しかし、ＥＵＴ表面に規定の強度で印加用妨害波Ｗｉを印加するため印加用アンテナ１３から放射された直接波Ｗｄ、及び印加用アンテナ１３から放射され床で反射した床反射波Ｗｒは、実際の妨害波とは異なり、エミッションの測定値に影響を与える。

そこで、本発明に係るエミッション測定装置、近接装置設置可否評価装置、エミッション測定方法、および近接装置設置可否評価方法では、測定用アンテナ１１における放射エミッションの測定値から、印加用アンテナ１３から測定用アンテナ１１に印加される直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒを差し引くことにより、実設置環境に近い条件でのＥＵＴからの放射エミッション特性を取得し、当該放射エミッション特性と前記ＥＵＴに近接設置される他の電子装置のイミュニティ特性とを比較して同他の電子装置の近接設置が可能かどうかを判定する。

本発明に係るエミッション測定装置は、評価対象装置に妨害波を放射する印加用アンテナと、前記評価対象装置からの放射エミッションを受信する測定用アンテナと、前記測定用アンテナにより受信された放射エミッションの電界強度を測定する測定部と、前記印加用アンテナから放射される妨害波の前記測定用アンテナに対する直接波及び床反射波の電界強度を算出し、前記測定部により測定された放射エミッションの電界強度から差し引き、当該直接波及び床反射波の影響を除去した同放射エミッションの電界強度を計算する計算部と、を備えたことを特徴としている。

また、本発明に係る近接装置設置可否評価装置は、前記エミッション測定装置の計算部により計算された放射エミッションの電界強度に対応した放射エミッション特性と予め入力された他の電子装置の放射イミュニティ特性とを比較し、当該他の電子装置の近接設置が可能か否かを判定する比較部を備えたことを特徴としている。

本発明によれば、エミッション測定対象の電子装置に対して外部から妨害波を印加した状態で、当該電子装置から放出されるエミッションを正確に測定し、他の電子装置のイミュニティを正しく評価することが可能になる。

本発明の実施形態に係るエミッション測定・近接装置設置可否評価装置１０の全体構成を示す図。 前記エミッション測定・近接装置設置可否評価装置１０における伝導・放射エミッションの測定方法を説明する図。 指向性アンテナによる受信電界強度を説明する図。 測定用アンテナ１１による印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの受信電界強度を説明する図。 前記印加用アンテナ１３から測定用アンテナ１１への直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの伝搬経路を説明する図（その１）。 前記印加用アンテナ１３から測定用アンテナ１１への直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの伝搬経路を説明する図（その２）であり、同図（Ａ）はその平面図、同図（Ｂ）はその立面図。 前記エミッション測定・近接装置設置可否評価装置１０における伝導・放射エミッションの測定に基づいた近接装置設置可否の評価方法を説明する図。 電子装置１及び他の電子装置２が近接する環境で、印加周波数特性１の妨害波Ｗｉが存在したときの誤動作発生例を示す図。 エミッション測定対象の電子装置に対して外部から妨害波を印加しながら当該エミッションを測定する方法の概要を示す図。

以下図面により本発明の実施の形態について説明する。

図１は、本発明の実施形態に係るエミッション測定・近接装置設置可否評価装置１０の全体構成を示す図である。

ＥＵＴの表面から予め定められた距離Ｄａだけ離して、前記印加用妨害波の印加範囲の中央に指向させた印加用アンテナ１３を設置する。

前記ＥＵＴの外接円Ｃｏから予め定められた距離Ｄｍだけ離れた測定面Ｆｍ上で、当該ＥＵＴの中心に指向させた測定用アンテナ１１を設置する。

前記ＥＵＴから外部に出ているケーブルＣｂに、伝導エミッションを測定可能な抽出装置１２を挿入する。

印加用アンテナからＥＵＴに対して印加用妨害波Ｗｉを印加し、前記測定面Ｆｍ上の各測定点Ｐｍ…において、当該ＥＵＴの中心に指向した測定用アンテナ１１で放射エミッション電界強度を測定する。同時に、前記抽出装置１２で抽出した伝導エミッションを測定する。

ここで、図１に示す測定点Ｐｍ…の分布は一例であり、当該測定点Ｐｍ…は測定面Ｆｍ上の電界分布を測定可能な密度で配置する。また、図１に示す測定点Ｐｍ…は平面上で測定するポイントであり、高さ（上下）方向の電界分布（図２参照）も同様に測定する。

なお、同図１に示すエミッション測定・近接装置設置可否評価装置１０の制御部１４〜表示部２３の各機能については後述する。

図２は、前記エミッション測定・近接装置設置可否評価装置１０における伝導・放射エミッションの測定方法を説明する図である。

伝導・放射エミッション測定装置１０ｍは、妨害波印加時のエミッションの測定を行い、測定結果を表示するものである。
（１）制御部１４は、予め記憶された装置制御プログラムに従い各部の動作を制御するもので、先ず、発信部１５の動作を制御し、予め設定した放射電力の強度になるよう印加用妨害波Ｗｉを発信させ、同時にその発信時刻及び放射電力を記憶部２０に送信して記憶させる。
（２）増幅部１６は、前記発信部１５からの発信信号を増幅して、前記印加用アンテナ１３からＥＵＴに向けて放射させる。
（３）また、前記制御部１４は、前記抽出装置１２で検出されて抽出される伝導エミッション電圧を測定部１７により測定させ、その測定値を、前記記憶部２０を介して表示部２３に送信して表示させる。
（４）この後、前記制御部１４は、切替部１８を前記抽出装置１２から前記測定用アンテナ１１に切り替えると共に、移動部１９及び前記測定部１７を制御して、前記円筒状の測定面Ｆｍ上で前記測定用アンテナ１１を移動させ、予め決められた各測定点Ｐｍ…で、ＥＵＴから放射されるエミッション電界強度を測定する。そして、その測定時刻、測定位置（Ｐｍ…）、アンテナ角度情報及び電界強度測定値を前記記憶部２０に送信して記憶させる。
（５）計算部２１は、前記記憶部２０に記憶された各測定位置（Ｐｍ…）及び各測定時刻において、各対応する電界強度測定値から、当該測定位置での印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの電界強度値を算出して差し引き、放射エミッションとして前記表示部２３に送信する。
（６）前記表示部２３は、前記伝導エミッション及び放射エミッション分布（伝導・放射エミッション特性）を表示する。

前記各測定位置（Ｐｍ…）において、前記測定部１７により測定された電界強度測定値から、当該各位置（Ｐｍ…）での前記印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｉ及び床反射波Ｗｒの電界強度値を差し引くための、当該直接波Ｗｉ及び床反射波Ｗｒの電界強度を算出する方法は以下による。

図３は、指向性アンテナによる受信電界強度を説明する図である。

図３に示すように、指向特性Ｄ１を持つ放射アンテナ１３Ｔから放射された電磁波を、指向特性Ｄ２を持つ受信アンテナ１１Ｒで受信したときの受信電界強度Ｅは、時間の関数として以下の数式１で表わされる。

ここで、Ｅ０は、放射アンテナ１３Ｔ及び受信アンテナ１１Ｒが等方性アンテナのときの、放射アンテナ１３Ｔの位置に対する受信アンテナ１１Ｒの位置における受信電界強度である。

また、θはアンテナ方向Ａｄｔ，Ａｄｒに対する方位角、ψは水平面に対する仰俯角、Ｌは電磁波の伝搬経路長、Ｐは放射電力、ｔは時間である。

図４は、測定用アンテナ１１による印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの受信電界強度を説明する図である。

図４に示すように、前記印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄの受信電界強度Ｅ１、床反射波Ｗｒの受信電界強度Ｅ２は、前記数式１に基づいて、以下の数式２で表わされる。

ここで、θ１は前記印加用アンテナ１３に対する前記測定用アンテナ１１の方位角、θ２は前記測定用アンテナ１１に対する前記印加用アンテナ１３の方位角、ψ１１は前記直接波Ｗｄの場合の印加用アンテナ１３に対する測定用アンテナ１１の仰俯角、ψ１２は同直接波Ｗｄの場合の測定用アンテナ１１に対する印加用アンテナ１３の仰俯角である。

さらに、ψ２１は前記床反射波Ｗｒの場合の印加用アンテナ１３に対する測定用アンテナ１１の仰俯角、ψ２２は同床反射波Ｗｒの場合の測定用アンテナ１１に対する印加用アンテナ１３の仰俯角である。

また、Ｌ１は前記直接波Ｗｄの場合の電磁波の伝搬経路長、Ｌ２は前記床反射波Ｗｒの場合の電磁波の伝搬経路長である。

図５は、前記印加用アンテナ１３から測定用アンテナ１１への直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの伝搬経路を説明する図（その１）である。

前記各伝搬経路長Ｌ１、Ｌ２は、図５に示すように、以下の数式３で表される。

ここで、ｈ１は前記印加用アンテナ１３の床面からの高さ、ｈ２は前記測定用アンテナ１１の床面からの高さ、ｒは前記印加用アンテナ１３と測定用アンテナ１１の水平面上の距離である。

図６は、前記印加用アンテナ１３から測定用アンテナ１１への直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの伝搬経路を説明する図（その２）であり、同図（Ａ）はその平面図、同図（Ｂ）はその立面図である。

図６に示すように、前記印加用アンテナ１３及び測定用アンテナ１１は、共に水平に設置するので、その間の仰俯角ψ１１、ψ１２、ψ２１及びψ２２には、以下の数式４で表される関係がある。

よって、前記印加用アンテナ１３及び測定用アンテナ１１の指向特性Ｄ１及びＤ２が既知であれば、前記直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの合成の受信電界強度Ｅ１＋Ｅ２は、測定時刻の同印加用アンテナ１３及び測定用アンテナ１１の位置、方位角に対して、以下の数式５で表される。

そして、前記印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの合成の受信電界強度Ｅ１＋Ｅ２を、前記測定部１７により測定された同時刻の受信電界強度測定値から差し引くことにより、当該印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの影響を除去できる。

図７は、前記エミッション測定・近接装置設置可否評価装置１０における伝導・放射エミッションの測定に基づいた近接装置設置可否の評価方法を説明する図である。

ここでは、前述したように、ＥＵＴに対して印加用アンテナ１３から印加用妨害波Ｗｉを印加した状態で、当該印加用アンテナ１３から測定用アンテナ１１に対する直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの合成受信電界強度Ｅ１＋Ｅ２を除去した前記ＥＵＴからの放射エミッションの正しい受信電界強度を取得し、予め入力された他の電子装置のイミュニティ特性と比較することで、当該ＥＵＴと当該他の電子装置とが妨害波印加状態で近接できるかを評価する。
（１）制御部１４は、予め記憶された装置制御プログラムに従い各部の動作を制御するもので、先ず、発信部１５の動作を制御し、予め設定した放射電力の強度になるよう印加用妨害波Ｗｉを発信させ、同時にその発信時刻及び放射電力を記憶部２０に送信して記憶させる。
（２）増幅部１６は、前記発信部１５からの発信信号を増幅して、前記印加用アンテナ１３からＥＵＴに向けて放射させる。
（３）また、前記制御部１４は、前記抽出装置１２で検出されて抽出される伝導エミッション電圧を測定部１７により測定させ、その測定値を伝導エミッション特性として前記記憶部２０を介して比較部２２に送信する。
（４）この後、前記制御部１４は、切替部１８を前記抽出装置１２から前記測定用アンテナ１１に切り替えると共に、移動部１９及び前記測定部１７を制御して、前記円筒状の測定面Ｆｍ上で前記測定用アンテナ１３を移動させ、予め決められた各測定点Ｐｍ…で、ＥＵＴから放射されるエミッション電界強度を測定する。そして、その測定時刻、測定位置（Ｐｍ…）、アンテナ角度情報及び電界強度測定値を前記記憶部２０に送信して記憶させる。
（５）計算部２１は、前記記憶部２０に記憶された各測定位置（Ｐｍ…）及び各測定時刻において、各対応する電界強度測定値から、当該測定位置での印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄ及び床反射波Ｗｒの電界強度値を算出して差し引き、放射エミッション特性として前記比較部２２に送信する。
（６）前記比較部２２は、予め入力されて前記記憶部２０に記憶されている他の電子装置の伝導・放射イミュニティ特性を、前記測定部１７と計算部２１から送られた各測定点Ｐｍ…の伝導・放射エミッション特性と比較し、全ての測定点Ｐｍ…において、予め定められた以上のマージンを持つかどうか（近接設置可能か否か）を評価した後、当該評価結果を表示部２３に送信する。
（７）前記表示部は、前記比較部２２から送られた評価結果（前記ＥＵＴに対して他の電子装置を近接設置可能か否か）を表示する。

したがって、前記構成のエミッション測定・近接装置設置可否評価装置１０によれば、ＥＵＴ（評価対象装置）に印加用アンテナ１３から妨害波Ｗｉを放射して当該ＥＵＴからの放射エミッションＥを測定用アンテナ１１により受信し、この受信された放射エミッションＥの特性から前記印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄと床反射波Ｗｒの特性を差し引いたものをＥＵＴからの放射エミッション特性とする。そして、前記ＥＵＴからの放射エミッション特性と当該ＥＵＴに近接して設置される他の電子装置の放射イミュニティ特性とを比較して、同他の電子装置の近接設置が可能かどうかを判定する。

このように、実設置環境では影響がみられない、前記印加用アンテナ１３の特性により異なるレベルで観測される当該印加用アンテナ１３からの直接波Ｗｄと床反射波Ｗｒの特性を、前記測定用アンテナ１１で受信した放射エミッションの測定結果から差し引くことにより、実環境に近い条件で、且つ測定系によるばらつきが少なく信頼性の高いイミュニティの評価が可能となる。

本願発明は、前記各実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。さらに、前記各実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、各実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されたり、幾つかの構成要件が異なる形態にして組み合わされても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除されたり組み合わされた構成が発明として抽出され得るものである。

１０ …エミッション測定・近接装置設置可否評価装置
ＥＵＴ…評価対象装置
１１ …測定用アンテナ（放射エミッション）
１２ …抽出装置（伝導エミッション）
１３ …印加用アンテナ（妨害波）
１４ …制御部
１５ …発信部
１６ …増幅部
１７ …測定部
１８ …切替部
１９ …移動部
２０ …記憶部
２１ …計算部
２２ …比較部
２３ …表示部
Ｅ …放射エミッション
Ｗｉ…妨害波
Ｗｄ…直接波
Ｗｒ…床反射波

Claims (8)

1. 評価対象装置に妨害波を放射する印加用アンテナと、
   前記評価対象装置からの放射エミッションを受信する測定用アンテナと、
   前記測定用アンテナにより受信された放射エミッションの電界強度を測定する測定部と、
   前記印加用アンテナから放射される妨害波の前記測定用アンテナに対する直接波及び床反射波の電界強度を算出し、前記測定部により測定された放射エミッションの電界強度から差し引き、当該直接波及び床反射波の影響を除去した同放射エミッションの電界強度を計算する計算部と、
   を備えたことを特徴とするエミッション測定装置。
2. 前記印加用アンテナから放射される妨害波の前記測定用アンテナに対する直接波及び床反射波の電界強度は、当該印加用アンテナの指向特性Ｄ１と、当該測定用アンテナの指向特性Ｄ２と、当該印加用アンテナ及び測定用アンテナが等方性アンテナであるときの同印加用アンテナの位置に対する同測定用アンテナの位置における受信電界強度Ｅ０とに基づいて算出される、
   ことを特徴とする請求項１に記載のエミッション測定装置。
3. 前記計算部により計算された放射エミッションの電界強度に対応した放射エミッション特性と予め入力された他の電子装置の放射イミュニティ特性とを比較し、当該他の電子装置の近接設置が可能か否かを判定する比較部を備えた、
   ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載のエミッション測定装置を用いた近接装置設置可否評価装置。
4. 前記測定部により測定された放射エミッションの電界強度と前記予め入力された他の電子装置の放射イミュニティ特性とを記憶する記憶部を備え、
   前記計算部は、前記印加用アンテナから放射される妨害波の前記測定用アンテナに対する直接波及び床反射波の電界強度を算出し、前記記憶部に記憶された放射エミッションの電界強度から前記直接波及び床反射波の電界強度を差し引き、当該直接波及び床反射波の影響を除去した同放射エミッションの電界強度を計算し、
   前記比較部は、前記計算部により計算された放射エミッションの電界強度に対応した放射エミッション特性と前記記憶部に記憶された他の電子装置の放射イミュニティ特性とを比較し、当該他の電子装置の近接設置が可能か否かを判定する、
   ことを特徴とする請求項３に記載の近接装置設置可否評価装置。
5. 前記比較部は、前記計算部により計算された放射エミッションの電界強度に対応した放射エミッション特性と予め入力された他の電子装置の放射イミュニティ特性とを比較し、当該放射エミッション特性と放射イミュニティ特性との間で予め定められたマージンを持つか否かで前記他の電子装置の近接設置が可能か否かを判定する、
   ことを特徴とする請求項３または請求項４に記載の近接装置設置可否評価装置。
6. 前記測定用アンテナを予め定められた複数の測定点に移動させる移動部を備え、
   前記測定部は、前記移動部により前記測定用アンテナが複数の測定点に移動される毎に、当該測定用アンテナにより受信された放射エミッションの電界強度を測定し、
   前記計算部は、前記移動部により前記測定用アンテナが複数の測定点に移動された毎の、前記印加用アンテナから放射される妨害波の前記測定用アンテナに対する直接波及び床反射波の電界強度を算出し、前記測定部により測定された放射エミッションの電界強度から差し引き、当該直接波及び床反射波の影響を除去した同放射エミッションの電界強度を計算し、
   前記比較部は、前記移動部により前記測定用アンテナが複数の測定点に移動された毎の、前記計算部により計算された放射エミッションの電界強度に対応した放射エミッション特性と予め入力された他の電子装置の放射イミュニティ特性とを比較し、当該他の電子装置の近接設置が可能か否かを判定する、
   ことを特徴とする請求項３ないし請求項５の何れか１項に記載の近接装置設置可否評価装置。
7. 印加用アンテナから評価対象装置に妨害波を放射し、
   測定用アンテナで前記評価対象装置からの放射エミッションを受信し、
   前記測定用アンテナにより受信された放射エミッションの電界強度を測定し、
   前記印加用アンテナから放射される妨害波の前記測定用アンテナに対する直接波及び床反射波の電界強度を算出し、前記測定された放射エミッションの電界強度から差し引き、当該直接波及び床反射波の影響を除去した同放射エミッションの電界強度を計算する、
   ことを特徴とするエミッション測定方法。
8. 前記計算された放射エミッションの電界強度に対応した放射エミッション特性と予め入力された他の電子装置の放射イミュニティ特性とを比較し、当該他の電子装置の近接設置が可能か否かを判定する、
   ことを特徴とする請求項７に記載のエミッション測定方法を用いた近接装置設置可否評価方法。