JP2017086474A - X線検出器およびx線コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
X線検出器およびx線コンピュータ断層撮影装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017086474A JP2017086474A JP2015220285A JP2015220285A JP2017086474A JP 2017086474 A JP2017086474 A JP 2017086474A JP 2015220285 A JP2015220285 A JP 2015220285A JP 2015220285 A JP2015220285 A JP 2015220285A JP 2017086474 A JP2017086474 A JP 2017086474A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light receiving
- receiving elements
- ray
- circuit
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 title claims description 11
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 7
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 229920001690 polydopamine Polymers 0.000 description 6
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
【課題】タイリングを可能とする逐次収集方式フォトダイオードアレイを提供すること。【解決手段】複数の受光素子151は、X線を光に変換し、変換された光を電気信号に変換する。複数の読み出しスイッチ153は、複数の受光素子151それぞれに対応づけて受光面の裏面に設けられた電極から配線され、複数の受光素子151それぞれから電気信号を読み出す。【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、X線検出器およびX線コンピュータ断層撮影装置に関する。
X線コンピュータ断層撮影装置(Computed_Tomography:CT)において、検出器から信号を取り出す手法として、逐次収集方式の検出器構造を用いる手法がある。検出器において検出されたアナログ量の検出信号は、逐次、列毎に切り替えられるスイッチを介してチャネル毎の読み出しラインからデータ収集回路(Data_Acquisition_System:DAS)に読み出される。
図3は、従来例に係る逐次収集方式における受光素子と切り替えスイッチとの位置関係を示す斜視図である。逐次収集方式の検出器構造は同時収集方式の検出器構造に比して、回路構造が単純で済むという利点がある。一方、受光素子例えばフォトダイオードアレイ(Photo_Diode_Array:PDA)に並べて切り替えスイッチ、読み出しライン、シフトレジスタ、信号取り出しのためのボンディングパッド等を実装する必要がある。よって、PDA表面に受光素子のみを敷き詰めることができず例えば、配線切り替えスイッチの幅だけ受光素子の間に隙間が空く。したがって、複数のPDAを並べることで連続した受光面を実現するタイリング構造を構築することができなかった。
目的は、タイリングを可能とする逐次収集方式フォトダイオードアレイを提供することにある。
本実施形態に係るX線検出器は、X線を光に変換し、前記変換された光を電気信号に変換する複数の受光素子と、前記複数の受光素子それぞれに対応づけて受光面の裏面に設けられた電極から配線され、前記複数の受光素子それぞれから電気信号を読み出すための複数の読み出しスイッチと、を具備する。
以下、図面を参照しながら本実施形態に係わるX線検出器およびX線コンピュータ断層撮影装置(Computed_Tomography:以下、X線CT装置と呼ぶ)を説明する。説明を具体的にするため、以下の説明において本実施形態に関わるX線検出器はX線CT装置に組み込まれているものとする。なおX線検出器は、X線CT装置以外のモダリティに組み込まれても良いし、単独で用いられても良い。X線検出器は具体的には例えば、X線診断装置等に組み込まれても良い。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。
図1は、本実施形態に係るX線CT装置1の構成を示す図である。図1に示すように、本実施形態に係るX線CT装置1は、架台10と画像処理装置50とを備えている。架台10は、円筒形状を有する回転フレーム11を回転軸Z回りに回転可能に支持している。回転フレーム11には、回転軸Zを挟んで対向するようにX線発生回路13とX線検出器15とが取り付けられている。回転フレーム11の開口部(bore)にはFOV(field_of_view)が設定される。回転フレーム11の開口部内には天板17が挿入される。天板17には被検体Sが載置される。天板17に載置された被検体Sの撮像部位がFOV内に含まれるように天板17が位置決めされる。回転フレーム11は、回転駆動回路19からの動力を受けて回転軸Z回りに一定の角速度で回転する。回転駆動回路19は、架台制御回路21からの制御信号に従って回転フレーム11を回転させるための動力を発生する。
X線発生回路13は、架台制御回路21からの制御信号に従ってX線を発生する。具体的には、X線発生回路13は、X線管131と高電圧発生器133とを有する。X線管131は、高電圧発生器133からの高電圧の印加とフィラメント電流の供給とを受けてX線を発生する。高電圧発生器133は、架台制御回路21からの制御信号に従う高電圧をX線管131に印加し、架台制御回路21からの制御信号に従うフィラメント電流をX線管131に供給する。
X線検出器15は、2次元状に配列された複数のシンチレータ150と複数の受光素子151とを有する。複数のシンチレータ150は、複数の受光素子151にそれぞれ対応づけて設けられる。シンチレータ150は、X線管131から発生され被検体Sを透過したX線を蛍光に変換する。シンチレータ150から発生された蛍光は、受光素子151により電荷に変換され蓄積される。受光素子151は、具体的には例えばフォトダイオード(Photo_Diode)である。フォトダイオードを用いた単純なX線検出器として、例えば背面入射型X線検出器やシリコン貫通電極を用いたX線検出器等がある。また、複数の受光素子151が2次元状に配列されたものは、フォトダイオードアレイ(Photo_Diode_Array:PDA)と呼ばれる。X線検出器15の構造について、詳細は後述する。
複数の受光素子各々に蓄積された電荷は、データ収集回路(Data_Acquisition_System:DAS)16に出力される。データ収集回路16は、X線検出器15から出力される電荷をデジタル信号に変換する。
架台制御回路21は、ハードウェア資源として、CPU(Central_Processing_Unit)やMPU(Micro_Processing_Unit)等の演算装置(プロセッサ)とROM(Read_Only_Memory)やRAM(Random_Access_Memory)等の記憶装置(メモリ)とを有する。架台制御回路21は、架台10に搭載された各種機器の制御を統括する。例えば、架台制御回路21は、被検体Sを対象としたCT撮像を実行するために、X線発生回路13、X線検出器15、及び回転駆動回路19を制御する。回転駆動回路19は、架台制御回路21による制御に従う一定の角速度で回転する。CT撮影の場合、架台制御回路21は高電圧発生器133を制御し、X線管131にX線を発生させる。
画像処理装置50は、再構成回路51、画像処理回路53、I/F(Interface)回路55、ディスプレイ57、入力回路59、記憶回路61、およびシステム制御回路63を有する。
再構成回路51は、ハードウェア資源として、CPUやMPU、GPU(Graphics_Proccessing_Unit)等のプロセッサとROMやRAM等のメモリとを有する。再構成回路51は、データ収集回路16から出力されるデータを前処理し、投影データに変換する。再構成回路51は、X線検出器15で収集されたデータに基づいて、ボリュームデータを発生する。
画像処理回路53は、ハードウェア資源として、CPUやMPU、GPU等のプロセッサとROMやRAM等のメモリとを有する。画像処理回路53は、画像の位置合わせ等を行う。
I/F回路55は、画像処理装置50と架台10との間の通信のためのインタフェースである。例えば、I/F回路55は、システム制御回路63から撮像開始信号や撮像停止信号等を供給する。
ディスプレイ57は、各種画像を表示機器に表示する。ディスプレイ57は、画像と位置整合してマークや線表等を表示する。表示機器としては、例えばCRTディスプレイや、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、プラズマディスプレイ等が適宜利用可能である。
入力回路59は、入力機器を介してユーザからの各種指令や情報入力を受け付ける。入力機器としては、キーボードやマウス、各種スイッチ等が利用可能である。
記憶回路61は、種々の情報を記憶する記憶装置である。例えば、記憶回路61は、本実施形態に係る画像処理プログラム等を記憶する。
システム制御回路63は、本実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置の中枢として機能する。システム制御回路63は、本実施形態に係る撮像プログラムを記憶回路61から読み出し、当該撮像プログラムに従って各種構成要素を制御する。これにより、本実施形態に係る断面画像等の画像発生のためのCT撮像および画像処理が行われる。
以下、X線検出器15の構造について詳述する。図2は、本実施形態に係る受光素子151と切り替えスイッチ153との位置関係を示す斜視図である。図2においてx軸方向はチャネル方向、z軸方向はスライス方向、y軸方向はx軸およびz軸に直交する方向である。図示しないシンチレータの背面に、X線を検出して電気信号を発生する複数の受光素子151(PDA)が設けられる。ここで受光素子151のうちシンチレータに向き合う面を受光面と呼ぶことにする。各受光素子151の受光面に対向する背面には電極152が設けられている。各電極152には、切り替えスイッチ153が設けられる。切り替えスイッチ153は、各受光素子151それぞれから電気信号を読み出す。切り替えスイッチ153は例えば、TFT(薄膜トランジスタ)スイッチにより実現される。読み出しライン155は、複数の受光素子151のうち一部の受光素子151に対応する切り替えスイッチ153に接続される。複数の読み出しライン155は、x軸方向に関して並べられている。各読み出しライン155は、z軸方向に沿って配列されている。各読み出しライン155には、2次元状に配列された複数の受光素子151のうちx軸方向1列分に相当する複数の受光素子151それぞれの電極152から配線された切り替えスイッチ153が連結して接続されている。シフトレジスタ157は、複数の読み出しライン155を介して複数の受光素子151それぞれにおける電気信号を収集する。シフトレジスタ157は、下層のうちで切り替えスイッチ153および読み出しライン155の動作を妨げない何処に配置されても良い。信号取り出しパッド159は、シフトレジスタ157から信号を取り出す。信号取り出しパッド159は、金属等により形成される。ここで下層に配置した切り替えスイッチ153、読み出しライン155およびシフトレジスタ157はX線の照射による影響を防ぐ必要がある。このことは、受光素子151上に配置されるシンチレータ150の真下に切り替えスイッチ153、読み出しライン155およびシフトレジスタ157を配置することで実現可能である。または、上層と下層との間に遮蔽効果のある物質を配置しても良い。下層は、電極152、切り替えスイッチ153、読み出しライン155、シフトレジスタ157および信号取り出しパッド159を固定させるため、例えば絶縁体により形成されている。
受光素子151とその他の構成要素とは、受光素子の受光面に垂直なy軸方向に積層される。受光素子151は、図2における受光素子の検出面に水平なx軸方向および奥行きを示すz軸方向に配列される。x軸およびz軸は、図2に規定した通りの関係である。読み出しスイッチ153等の受光素子151以外の構成要素を受光素子のy軸下部方向に配置することにより、図3の従来例に示すような受光素子間の隙間を設けずに受光素子を配列することができる。すなわち、自由度の高い受光素子151の配列が可能となる。
上記の説明のとおり、本実施形態に係るX線検出器は、複数の受光素子151と複数の読み出しスイッチ153とを有する。複数の受光素子151は、X線を検出して電気信号を発生する。複数の読み出しスイッチ153は、複数の受光素子151それぞれに対応づけて受光面の裏面に設けられた電極152から配線される。
上記の構成により、本実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置によれば、切り替えスイッチを受光素子と異なる層に配置することにより、X線検出器における受光素子からの電荷を受光素子の裏面に設けられた電極から引き出すことができる。すなわち、受光素子からの電荷を引き出す切り替えスイッチを受光面と同じ層に設ける必要がなく、受光素子を同層において密に配列することが可能となる。すなわちX線検出器の同一面積に占める受光面が大きくなり、X線の検出効率が向上する。また、本実施形態に係るX線検出器は逐次収集方式のため、シフトレジスタからの読み出しラインはごく少数で済む。従って、読み出しライン以外の、例えば電源供給ラインや制御ラインのための信号取り出しパッドを受光面の裏面に設けることができる。すなわち受光素子の配列の自由度を高めることができる。信号取り出しパッドが受光素子の数に比べてごく少数で済むことにより、同層に受光素子のみを敷き詰めることが可能となり、タイリングを可能とする逐次収集方式PDAが実現される。
なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、専用又は汎用のprocessor, circuit (circuitry), processing circuit (circuitry), operation circuit (circuitry), arithmetic circuit(circuitry)或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit : ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラム論理デバイス(Simple Programmable Logic Device : SPLD))、復号プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device : CPLD))、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array : FPGA))等を意味する。また、本実施形態の各構成要素(各処理部)は、単一のプロセッサに限らず、複数のプロセッサによって実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素(複数の処理部)を、単一のプロセッサによって実現するようにしてもよい。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
1…X線コンピュータ断層撮影装置、10…架台、11…回転フレーム、13…X線発生回路、15…X線検出器、16…データ収集回路、17…天板、19…回転駆動回路、21…架台制御回路、50…画像処理装置、51…再構成回路、53…画像処理回路、55…I/F回路、57…ディスプレイ、59…入力回路、61…記憶回路、63…システム制御回路
Claims (5)
- X線を光に変換し、前記変換された光を電気信号に変換する複数の受光素子と、
前記複数の受光素子それぞれに対応づけて受光面の裏面に設けられた電極から配線され、前記複数の受光素子それぞれから電気信号を読み出すための複数の読み出しスイッチと、
を具備するX線検出器。 - 前記複数の受光素子のうち一部の受光素子に対応する前記読み出しスイッチに接続された複数の読み出しラインと、
前記複数の読み出しラインを介して前記複数の受光素子それぞれにおける電気信号を収集するシフトレジスタと、をさらに備える請求項1記載のX線検出器。 - 前記複数の読み出しスイッチまたは前記シフトレジスタから信号を取り出す信号取り出しパッド、をさらに備える請求項2記載のX線検出器。
- X線を発生するX線管と、
前記X線管から発生されたX線を光に変換し、前記変換された光を電気信号に変換する複数の受光素子と、
前記複数の受光素子それぞれに対応づけて受光面の裏面に設けられた電極から配線され、前記複数の受光素子それぞれから電気信号を読み出すための複数の読み出しスイッチと、
を具備するX線コンピュータ断層撮影装置。 - X線を検出し、電気信号に変換する複数の受光素子と、
前記複数の受光素子それぞれに対応づけて受光面の裏面に設けられた電極から配線され、前記複数の受光素子それぞれから電気信号を読み出すための複数の読み出しスイッチと、
を具備するX線検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015220285A JP2017086474A (ja) | 2015-11-10 | 2015-11-10 | X線検出器およびx線コンピュータ断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015220285A JP2017086474A (ja) | 2015-11-10 | 2015-11-10 | X線検出器およびx線コンピュータ断層撮影装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017086474A true JP2017086474A (ja) | 2017-05-25 |
Family
ID=58766533
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015220285A Pending JP2017086474A (ja) | 2015-11-10 | 2015-11-10 | X線検出器およびx線コンピュータ断層撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017086474A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11617550B2 (en) | 2019-01-08 | 2023-04-04 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray detector and x-ray CT apparatus |
-
2015
- 2015-11-10 JP JP2015220285A patent/JP2017086474A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11617550B2 (en) | 2019-01-08 | 2023-04-04 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray detector and x-ray CT apparatus |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10390783B2 (en) | Digital radiography detector image readout process | |
EP3030154B1 (en) | Pet system with crystal and detector unit spacing | |
US20150021487A1 (en) | Two-dimensional image detecting system | |
US10729392B2 (en) | X-ray detector, X-ray detector module, and X-ray CT apparatus | |
EP2854178B1 (en) | X-ray detector and x-ray imaging apparatus including the same | |
JP6194126B2 (ja) | モジュライメージング検出器asic | |
JP6395703B2 (ja) | 放射線検出器とそれを備えたx線ct装置 | |
JP2017086474A (ja) | X線検出器およびx線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP5743420B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP6523451B2 (ja) | 放射線検出器とそれを備えたx線ct装置 | |
JP2020065750A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP2007267980A (ja) | 回転機構のない連続処理型x線ct装置 | |
JP2015137882A5 (ja) | ||
JP2015137882A (ja) | 放射線検出器とそれを用いたx線ct装置 | |
JP7141264B2 (ja) | X線検出器及びx線コンピュータ断層撮影装置 | |
JP2016035449A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置及びx線検出器 | |
JP2016107062A (ja) | 撮像装置 | |
JP7362270B2 (ja) | 放射線検出器及び放射線診断装置 | |
JP7214355B2 (ja) | 陽電子放射断層撮像装置 | |
JP5674424B2 (ja) | 放射線検出器とそれを備えたx線ct装置 | |
JP2019045377A (ja) | 検出器モジュール、放射線検出器、x線コンピュータ断層撮影装置及び放射線検出器の製造方法 | |
CN115919343A (zh) | 检测器模块、x射线计算机断层摄影装置及x射线检测装置 | |
JP2019020321A (ja) | 核医学診断装置 | |
JP2007078671A (ja) | 放射線検出モジュール、プリント基板および核医学診断装置 | |
JP2009216716A (ja) | 核医学診断装置 |