JP2017085026A - Multilayer ceramic electronic component with metal terminals - Google Patents

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史朗 辻
幸恵 中田
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幸恵 中田
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肇 三井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high-capacity multilayer ceramic electronic component with metal terminals capable of obtaining a sufficient BDV (breakdown voltage) and sufficiently satisfying product properties.SOLUTION: A laminate ceramic electronic component 10 with metal terminals includes a plurality of electronic component bodies 12. Each of the electronic component body includes a laminate 14 and external electrodes 16. The laminate includes a plurality of ceramic layers and a plurality of inner electrode layers and includes principal planes 14a and 14b, side faces 14c and 14d and end faces 14e and 14f. The external electrodes are formed on the end faces 14e and 14f. The plurality of electronic component bodies 12 is arranged side by side in such a manner that the principal planes 14a and 14b oppose each other. The multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals also includes metal terminals 18 that are connected to the external electrodes 16. In the electronic component body 12, a dimension connecting the principal planes 14a and 14b is substantially equal to a dimension connecting the side faces 14c and 14d with each other. Electrode surfaces of the plurality of inner electrode layers are disposed in a direction that is vertical to an extending direction of the metal terminals 18.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

この発明は、金属端子付き積層セラミック電子部品に関し、特にたとえば、並んで配置される複数の積層セラミック電子部品に沿って配置され、積層セラミック電子部品の外部電極に接続される2つの金属端子を含む、金属端子付き積層セラミック電子部品に関する。   The present invention relates to a monolithic ceramic electronic component with metal terminals, and in particular, includes two metal terminals arranged along a plurality of monolithic ceramic electronic components arranged side by side and connected to external electrodes of the monolithic ceramic electronic component. The present invention relates to a multilayer ceramic electronic component with metal terminals.

従来から、金属端子付き積層セラミック電子部品においては、容量を増やす目的で、金属端子に積層セラミック電子部品を複数個並列に接続する構造が知られている(特許文献1参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, in multilayer ceramic electronic components with metal terminals, a structure is known in which a plurality of multilayer ceramic electronic components are connected in parallel to metal terminals for the purpose of increasing capacity (see Patent Document 1).

特開2015−73038号公報JP-A-2015-73038

しかしながら、このような構造の金属端子付き積層セラミック電子部品を使用する上で、積層セラミック電子部品を単体で用いる場合と比較して、十分な絶縁破壊電圧(以下、BDVという。)が得られず、製品の特性を十分に満足させることができないという問題が生じることがあった。
本発明者らは、鋭意研究の結果、上記の問題は、実装面に対する内部電極の積層方向の不揃いが原因であることがわかった。
However, when using a multilayer ceramic electronic component with a metal terminal having such a structure, a sufficient dielectric breakdown voltage (hereinafter referred to as BDV) cannot be obtained as compared with a case where the multilayer ceramic electronic component is used alone. In some cases, the product characteristics cannot be satisfied sufficiently.
As a result of intensive studies, the present inventors have found that the above problem is caused by unevenness in the stacking direction of the internal electrodes with respect to the mounting surface.

ところで、特許文献1のように、長手方向と幅方向とで規定される互いに対向する2つの主面と、長手方向と積層方向とで規定される互いに対向する2つの側面と、幅方向と積層方向とで規定される互いに対向する2つの端面とを含む積層体において、積層体の長手方向は幅方向より長く、幅方向は厚み方向より長い場合、内部電極の積層方向が必然的に実装面に対して平行となり問題が生じない。
しかしながら、積層体の幅方向の寸法と積層体の積層方向の寸法が略同じ寸法の場合には、内部電極の積層方向がランダムとなり上記の問題が生じる場合がある。
By the way, as in Patent Document 1, two main surfaces facing each other defined by the longitudinal direction and the width direction, two side surfaces facing each other defined by the longitudinal direction and the stacking direction, and the width direction and stacking When the longitudinal direction of the laminate is longer than the width direction and the width direction is longer than the thickness direction, the stack direction of the internal electrodes is necessarily the mounting surface. It becomes parallel to and no problem occurs.
However, when the dimension in the width direction of the laminate and the dimension in the laminate direction of the laminate are substantially the same, the lamination direction of the internal electrodes is random, and the above problem may occur.

それゆえに、この発明の主たる目的は、十分なBDVが得られ、製品の特性を十分に満足することができる大容量の金属端子付き積層セラミック電子部品を提供することである。   Therefore, a main object of the present invention is to provide a multilayer ceramic electronic component with a large capacity metal terminal which can obtain a sufficient BDV and sufficiently satisfy the characteristics of the product.

この発明にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品は、積層された複数のセラミック層と複数の内部電極層とを含み、積層方向に相対する第1の主面および第2の主面と、積層方向に直交する幅方向に相対する第1の側面および第2の側面と、積層方向および幅方向に直交する長さ方向に相対する第1の端面および第2の端面と、を含む積層体と、積層体の端面上に形成される外部電極と、を有する複数の電子部品本体と、複数の電子部品本体の外部電極に接続される2つの金属端子と、を有する金属端子付き積層セラミック電子部品であって、複数の電子部品本体は、第1の主面および第2の主面を結んだ積層方向の寸法と、第1の側面および第2の側面を結んだ幅方向の寸法とが略同じ寸法を有しており、金属端子は、リード端子であり、複数の電子部品本体の複数の内部電極層の電極面は、金属端子が延びる方向に対して垂直に配置されている、金属端子付き積層セラミック電子部品である。
また、この発明にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品は、金属端子が、外部電極に接続される端子接合部と、端子接合部から実装面の方向に延びる端子延長部を有しており、端子延長部は、実装面側に最も近い電子部品本体の下方において、電子部品本体を支えるように湾曲していることが好ましい。
さらに、この発明にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品は、金属端子付き積層セラミック電子部品が、複数の電子部品本体と端子接合部と端子延長部の一部とを覆う外装材を有することが好ましい。
A multilayer ceramic electronic component with a metal terminal according to the present invention includes a plurality of ceramic layers and a plurality of internal electrode layers stacked, and includes a first main surface and a second main surface facing the stacking direction, and a stacking direction A laminated body including a first side surface and a second side surface opposite to each other in a width direction orthogonal to the first side surface, and a first end surface and a second end surface opposite to each other in a length direction perpendicular to the lamination direction and the width direction; A multilayer ceramic electronic component with metal terminals, comprising: a plurality of electronic component bodies having external electrodes formed on an end face of the laminate; and two metal terminals connected to the external electrodes of the plurality of electronic component bodies. The plurality of electronic component bodies have substantially the same dimension in the stacking direction connecting the first main surface and the second main surface and the width direction connecting the first side surface and the second side surface. The metal terminal is a lead terminal. Ri, the electrode surfaces of the plurality of internal electrode layers of the plurality of electronic component body is arranged perpendicular to the direction in which the metal terminal extends, a laminated ceramic electronic component with a metal terminal.
Moreover, the multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to the present invention has a terminal joint portion where the metal terminal is connected to the external electrode, and a terminal extension portion extending from the terminal joint portion toward the mounting surface. The extension portion is preferably curved to support the electronic component body below the electronic component body closest to the mounting surface side.
Furthermore, in the multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to the present invention, the multilayer ceramic electronic component with metal terminals preferably includes an exterior material that covers a plurality of electronic component bodies, terminal joint portions, and part of the terminal extension portions. .

この発明にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品では、電子部品本体の内部電極層における電極面の積層方向を一方向に揃え、金属端子が延びる方向に対して垂直になるように積層されているので、電子部品本体を単体で用いた場合に近い絶縁破壊電圧(BDV)が得られることから、金属端子付き積層セラミック電子部品の特性を十分に満足することができる。これは、電子部品本体の電歪による破壊発生電圧が積層方向により変わるため、電歪によるセラミックの変位が少ない方向に整列することで、応力集中が極小化されるためであると考えられる。   In the multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to the present invention, the electrode surfaces of the internal electrode layers of the electronic component body are aligned in one direction, and are stacked so as to be perpendicular to the direction in which the metal terminals extend. Since a breakdown voltage (BDV) close to that obtained when the electronic component main body is used alone can be obtained, the characteristics of the multilayer ceramic electronic component with metal terminals can be sufficiently satisfied. This is probably because the breakdown voltage due to electrostriction of the electronic component main body varies depending on the stacking direction, and the stress concentration is minimized by aligning in a direction in which the ceramic displacement due to electrostriction is small.

この発明によれば、十分なBDVが得られ、製品の特性を十分に満足することができる大容量の金属端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。   According to this invention, a sufficient capacity BDV can be obtained, and a large capacity multilayer ceramic electronic component with a metal terminal that can sufficiently satisfy the characteristics of the product can be obtained.

この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点は、図面を参照して行う以下の発明を実施するための形態の説明から一層明らかとなろう。   The above-described object, other objects, features, and advantages of the present invention will become more apparent from the following description of embodiments for carrying out the invention with reference to the drawings.

この発明の金属端子付き積層セラミック電子部品の一例を示す外観斜視図である。It is an external appearance perspective view which shows an example of the multilayer ceramic electronic component with a metal terminal of this invention. 図1に示す金属端子付き積層セラミック電子部品に用いられる電子部品本体の外形を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external shape of the electronic component main body used for the laminated ceramic electronic component with a metal terminal shown in FIG. (a)は、図2に示す電子部品本体の線II−IIにおける断面図であり、(b)は、図2に示す電子部品本体の線III−IIIにおける断面図である。(A) is sectional drawing in line II-II of the electronic component main body shown in FIG. 2, (b) is sectional drawing in line III-III of the electronic component main body shown in FIG. (a)(b)は、図1に示す金属端子付き積層セラミック電子部品の電子部品本体と金属端子との接続関係を示す図解図である。(A) (b) is an illustration figure which shows the connection relation of the electronic component main body of a multilayer ceramic electronic component with a metal terminal shown in FIG. 1, and a metal terminal. 図1(a)に示す金属端子付き積層セラミック電子部品の線I−Iにおける断面図解図である。It is a cross-sectional solution figure in line II of the multilayer ceramic electronic component with a metal terminal shown to Fig.1 (a). (a)はこの発明の金属端子付き積層セラミック電子部品を回路基板に実装した状態の一例を示す図解図であり、(b)はこの発明の金属端子付き積層セラミック電子部品を回路基板に実装した状態の他の例を示す図解図である。(A) is an illustration figure which shows an example of the state which mounted the multilayer ceramic electronic component with a metal terminal of this invention on the circuit board, (b) mounted the multilayer ceramic electronic component with a metal terminal of this invention on the circuit board. It is an illustration figure which shows the other example of a state. (a)は比較例1における金属端子付き積層セラミック電子部品の断面図解図であり、(b)は比較例2における金属端子付き積層セラミック電子部品の断面図解図である。(A) is a cross-sectional view of the multilayer ceramic electronic component with metal terminals in Comparative Example 1, and (b) is a cross-sectional view of the multilayer ceramic electronic component with metal terminals in Comparative Example 2. 絶縁破壊電圧の測定結果を度数分布で示した図であり、(a)は参考例にかかる試料における絶縁破壊電圧の測定結果であり、(b)は実施例にかかる試料おける絶縁破壊電圧の測定結果であり、(c)は比較例1かかる試料における絶縁破壊電圧の測定結果であり、(d)は比較例2にかかる試料おける絶縁破壊電圧の測定結果である。It is the figure which showed the measurement result of dielectric breakdown voltage by frequency distribution, (a) is the measurement result of the breakdown voltage in the sample concerning a reference example, (b) is the measurement of the dielectric breakdown voltage in the sample concerning an Example. (C) is a measurement result of the breakdown voltage in the sample according to Comparative Example 1, and (d) is a measurement result of the breakdown voltage in the sample according to Comparative Example 2.

1.金属端子付き積層セラミック電子部品
この発明の一実施の形態にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品について説明する。図1は、この発明の金属端子付き積層セラミック電子部品の一例を示す外観斜視図である。また、図2は、図1に示す金属端子付き積層セラミック電子部品に用いられる電子部品本体の外形を示す斜視図である。また、図3(a)は、図2に示す電子部品本体の線II−IIにおける断面図であり、図3(b)は、図2に示す電子部品本体の線III−IIIにおける断面図である。
1. Multilayer ceramic electronic component with metal terminal A multilayer ceramic electronic component with metal terminal according to an embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is an external perspective view showing an example of a multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to the present invention. FIG. 2 is a perspective view showing an outer shape of an electronic component body used in the multilayer ceramic electronic component with metal terminals shown in FIG. 3A is a cross-sectional view taken along line II-II of the electronic component main body shown in FIG. 2, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line III-III of the electronic component main body shown in FIG. is there.

この実施の形態にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品10は、複数の積層セラミック電子部品である電子部品本体12を含む。電子部品本体12は、積層体14と、外部電極16とを含む。また、金属端子付き積層セラミック電子部品10は、電子部品本体12の外部電極16に接続される金属端子18を含む。   A multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals according to this embodiment includes an electronic component body 12 which is a plurality of multilayer ceramic electronic components. The electronic component body 12 includes a laminate 14 and external electrodes 16. The multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals includes a metal terminal 18 connected to the external electrode 16 of the electronic component body 12.

積層体14は、複数の積層されたセラミック層20と複数の内部電極層22とを有する。積層体14は、互いに対向する第1の主面14aおよび第2の主面14bと、互いに対向する第1の側面14cおよび第2の側面14dと、互いに対向する第1の端面14eおよび第2の端面14fとを有する。第1の主面14aおよび第2の主面14bは、それぞれ、長さ方向Lおよび幅方向Wに沿って延在する。第1の側面14cおよび第2の側面14dは、それぞれ、長さ方向Lおよび積層方向Tに沿って延在する。第1の端面14eおよび第2の端面14fは、それぞれ、幅方向Wおよび積層方向Tに沿って延在する。第1の主面14aおよび第2の主面14bは、電子部品本体12が実装される面(実装面)に対して平行な面をさす。   The stacked body 14 includes a plurality of stacked ceramic layers 20 and a plurality of internal electrode layers 22. The laminated body 14 includes a first main surface 14a and a second main surface 14b facing each other, a first side surface 14c and a second side surface 14d facing each other, a first end surface 14e and a second surface facing each other. End face 14f. The first main surface 14a and the second main surface 14b extend along the length direction L and the width direction W, respectively. The first side surface 14c and the second side surface 14d extend along the length direction L and the stacking direction T, respectively. The first end surface 14e and the second end surface 14f extend along the width direction W and the stacking direction T, respectively. The first main surface 14a and the second main surface 14b are parallel to the surface (mounting surface) on which the electronic component main body 12 is mounted.

したがって、長さ方向Lとは、一対の端面同士を結んだ方向であり、幅方向Wとは、一対の側面同士を結んだ方向であり、積層方向Tとは、一対の主面同士を結んだ方向である。電子部品本体12に含まれる積層体14は、第1の主面14aと第2の主面14bとを結んだ積層方向Tの寸法と、第1の側面14cと第2の側面14dとを結んだ幅方向Wの寸法とが略同じ寸法を有している。   Therefore, the length direction L is a direction connecting a pair of end surfaces, the width direction W is a direction connecting a pair of side surfaces, and the stacking direction T is a pair of main surfaces. It is the direction. The laminated body 14 included in the electronic component body 12 connects the first side surface 14c and the second side surface 14d with the dimension in the stacking direction T connecting the first main surface 14a and the second main surface 14b. The dimensions in the width direction W are substantially the same.

この実施の形態にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品10は、積層体14が、直方体状に形成される。また、積層体14は、角部および稜線部に丸みがつけられていることが好ましい。ここで、角部は、積層体14の3面が交わる部分であり、稜線部は、積層体14の2面が交わる部分である。   In the multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals according to this embodiment, the multilayer body 14 is formed in a rectangular parallelepiped shape. Moreover, it is preferable that the laminated body 14 is rounded in the corner | angular part and the ridgeline part. Here, the corner portion is a portion where three surfaces of the laminate 14 intersect, and the ridge line portion is a portion where two surfaces of the laminate 14 intersect.

セラミック層20は、外層部20aと内層部20bとを含む。外層部20aは、積層体14の第1の主面14a側および第2の主面14b側に位置し、第1の主面14aと最も第1の主面14aに近い内部電極層22との間に位置するセラミック層20、および第2の主面14bと最も第2の主面14bに近い内部電極層22との間に位置するセラミック層20である。そして、両外層部20aに挟まれた領域が内層部20bである。   The ceramic layer 20 includes an outer layer portion 20a and an inner layer portion 20b. The outer layer portion 20a is located on the first main surface 14a side and the second main surface 14b side of the stacked body 14, and is formed between the first main surface 14a and the internal electrode layer 22 closest to the first main surface 14a. The ceramic layer 20 is positioned between the second main surface 14b and the internal electrode layer 22 closest to the second main surface 14b. A region sandwiched between both outer layer portions 20a is the inner layer portion 20b.

セラミック層20は、たとえば、誘電体材料により形成することができる。誘電体材料としては、たとえば、BaTiO3,CaTiO3,SrTiO3、またはCaZrO3などの成分を含む誘電体セラミックを用いることができる。上記の誘電体材料を主成分として含む場合、所望する電子部品本体12の特性に応じて、例えば、Mn化合物,Fe化合物,Cr化合物,Co化合物,Ni化合物などの主成分よりも含有量の少ない成分を添加したものを用いてもよい。 The ceramic layer 20 can be formed of, for example, a dielectric material. As the dielectric material, for example, a dielectric ceramic containing a component such as BaTiO 3 , CaTiO 3 , SrTiO 3 , or CaZrO 3 can be used. When the above dielectric material is included as a main component, the content is less than that of the main component such as Mn compound, Fe compound, Cr compound, Co compound, Ni compound, etc., depending on the desired characteristics of the electronic component body 12. You may use what added the component.

なお、上述したように、この実施の形態にかかる積層体14は、誘電体セラミックからなる。したがって、電子部品本体12は、コンデンサとして機能する。
一方、積層体14に、圧電体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、セラミック圧電素子として機能する。圧電セラミック材料の具体例としては、たとえば、PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)系セラミック材料などが挙げられる。
また、積層体14に、半導体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、サーミスタ素子として機能する。半導体セラミック材料の具体例としては、たとえば、スピネル系セラミック材料などが挙げられる。
また、積層体14に、磁性体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、インダクタ素子として機能する。また、インダクタ素子として機能する場合は、内部電極24は、コイル状の導体となる。磁性体セラミック材料の具体例としては、たとえば、フェライトセラミック材料などが挙げられる。
As described above, the laminate 14 according to this embodiment is made of a dielectric ceramic. Therefore, the electronic component main body 12 functions as a capacitor.
On the other hand, when a piezoelectric ceramic is used for the laminated body 14, the electronic component main body 12 functions as a ceramic piezoelectric element. Specific examples of the piezoelectric ceramic material include, for example, a PZT (lead zirconate titanate) ceramic material.
Moreover, when a semiconductor ceramic is used for the laminated body 14, the electronic component main body 12 functions as a thermistor element. Specific examples of the semiconductor ceramic material include spinel ceramic materials.
Further, when a magnetic ceramic is used for the laminated body 14, the electronic component main body 12 functions as an inductor element. When functioning as an inductor element, the internal electrode 24 becomes a coiled conductor. Specific examples of the magnetic ceramic material include a ferrite ceramic material.

焼成後のセラミック層20の厚みは、0.5μm以上10μm以下であることが好ましい。   The thickness of the ceramic layer 20 after firing is preferably 0.5 μm or more and 10 μm or less.

図3に示すように、積層体14は、複数の内部電極層22として、たとえば略矩形状の複数の第1の内部電極層22aおよび複数の第2の内部電極層22bを有する。複数の第1の内部電極層22aおよび複数の第2の内部電極層22bは、積層体14の第1の主面14aおよび第2の主面14bに対して平行であり、積層体14の積層方向Tに沿って、複数のセラミック層20に挟まれて交互に積層されている。したがって、第1の内部電極層22aおよび第2の内部電極層22bの電極面は、金属端子18が延びる方向に対して垂直に配置される。   As illustrated in FIG. 3, the stacked body 14 includes, as the plurality of internal electrode layers 22, for example, a plurality of first internal electrode layers 22 a and a plurality of second internal electrode layers 22 b having a substantially rectangular shape. The plurality of first internal electrode layers 22a and the plurality of second internal electrode layers 22b are parallel to the first main surface 14a and the second main surface 14b of the multilayer body 14, and Along the direction T, the ceramic layers 20 are alternately stacked. Therefore, the electrode surfaces of the first internal electrode layer 22a and the second internal electrode layer 22b are arranged perpendicular to the direction in which the metal terminal 18 extends.

第1の内部電極層22aの一端側には、積層体14の第1の端面14eに引き出された引出電極部24aを有する。第2の内部電極層22bの一端側には、積層体14の第2の端面14fに引き出された引出電極部24bを有する。具体的には、第1の内部電極層22aの一端側の引出電極部24aは、積層体14の第1の端面14eに露出している。また、第2の内部電極層22bの一端側の引出電極部24bは、積層体14の第2の端面14fに露出している。   On one end side of the first internal electrode layer 22a, there is an extraction electrode portion 24a that is extracted to the first end surface 14e of the multilayer body 14. On one end side of the second internal electrode layer 22b, there is an extraction electrode portion 24b extracted to the second end face 14f of the multilayer body 14. Specifically, the extraction electrode portion 24 a on one end side of the first internal electrode layer 22 a is exposed on the first end face 14 e of the multilayer body 14. Further, the lead electrode portion 24 b on one end side of the second internal electrode layer 22 b is exposed on the second end face 14 f of the multilayer body 14.

積層体14は、セラミック層20の内層部20bにおいて、第1の内部電極層22aと第2の内部電極層22bとが対向する対向電極部26aを含む。また、積層体14は、対向電極部26aの幅方向Wの一端と第1の側面14cとの間および対向電極部26aの幅方向Wの他端と第2の側面14dとの間に形成される積層体14の側部(以下、「Wギャップ」という。)26bを含む。さらに、積層体14は、第1の内部電極層22aの引出電極部24aとは反対側の端部と第2の端面14fとの間および第2の内部電極層22bの引出電極部24bとは反対側の端部と第1の端面14eとの間に形成される積層体14の端部(以下、「Lギャップ」という。)26cを含む。   The multilayer body 14 includes a counter electrode portion 26a in which the first internal electrode layer 22a and the second internal electrode layer 22b face each other in the inner layer portion 20b of the ceramic layer 20. The stacked body 14 is formed between one end in the width direction W of the counter electrode portion 26a and the first side surface 14c and between the other end in the width direction W of the counter electrode portion 26a and the second side surface 14d. Side part (hereinafter referred to as “W gap”) 26 b of the laminate 14. Further, the laminated body 14 is formed between the end portion of the first internal electrode layer 22a opposite to the extraction electrode portion 24a and the second end surface 14f and the extraction electrode portion 24b of the second internal electrode layer 22b. It includes an end portion (hereinafter referred to as “L gap”) 26c of the stacked body 14 formed between the opposite end portion and the first end face 14e.

第1の内部電極層22aおよび第2の内部電極層22bは、たとえば、Ni,Cu,Ag,Pd,Auなどの金属や、これらの金属の一種を含むたとえばAg−Pd合金などの合金により構成することができる。第1の内部電極層22aおよび第2の内部電極層22bは、さらに、セラミック層20に含まれるセラミックスと同一組成系の誘電体粒子を含んでいてもよい。第1の内部電極層22aおよび第2の内部電極層22bそれぞれの厚みは、0.1μm以上2μm以下であることが好ましい。   The first internal electrode layer 22a and the second internal electrode layer 22b are made of, for example, a metal such as Ni, Cu, Ag, Pd, or Au, or an alloy such as an Ag—Pd alloy containing one of these metals. can do. The first internal electrode layer 22 a and the second internal electrode layer 22 b may further include dielectric particles having the same composition system as the ceramic included in the ceramic layer 20. The thickness of each of the first internal electrode layer 22a and the second internal electrode layer 22b is preferably 0.1 μm or more and 2 μm or less.

積層体14の第1の端面14e側および第2の端面14f側には、外部電極16が形成される。外部電極16は、第1の外部電極16aおよび第2の外部電極16bを有する。
積層体14の第1の端面14e側には、第1の外部電極16aが形成される。第1の外部電極16aは、積層体12の第1の端面14eにのみ形成されてもよいし、第1の端面14eから延伸して第1の主面14a、第2の主面14b、第1の側面14cおよび第2の側面14dの一部分を覆うように形成されてもよい。この場合、第1の外部電極16aは、第1の内部電極層22aの引出電極部24aと電気的に接続される。
積層体14の第2の端面14f側には、第2の外部電極16bが形成される。第2の外部電極16bは、積層体14の第2の端面14fにのみ形成されてもよいし、第2の端面14fから延伸して第1の主面14a、第2の主面14b、第1の側面14cおよび第2の側面14dの一部分を覆うように形成されてもよい。この場合、第2の外部電極16bは、第2の内部電極層22bの引出電極部24bと電気的に接続される。
External electrodes 16 are formed on the first end face 14 e side and the second end face 14 f side of the multilayer body 14. The external electrode 16 includes a first external electrode 16a and a second external electrode 16b.
A first external electrode 16 a is formed on the first end face 14 e side of the multilayer body 14. The first external electrode 16a may be formed only on the first end surface 14e of the multilayer body 12, or may be extended from the first end surface 14e to form the first main surface 14a, the second main surface 14b, It may be formed so as to cover a part of the first side surface 14c and the second side surface 14d. In this case, the first external electrode 16a is electrically connected to the extraction electrode portion 24a of the first internal electrode layer 22a.
A second external electrode 16b is formed on the second end face 14f side of the multilayer body 14. The second external electrode 16b may be formed only on the second end surface 14f of the multilayer body 14, or extends from the second end surface 14f to form the first main surface 14a, the second main surface 14b, It may be formed so as to cover a part of the first side surface 14c and the second side surface 14d. In this case, the second external electrode 16b is electrically connected to the extraction electrode portion 24b of the second internal electrode layer 22b.

積層体14内においては、対向電極部26aで第1の内部電極層22aと第2の内部電極層22bとがセラミック層20を介して対向することにより、電気特性(たとえば、静電容量)が発生する。そのため、第1の内部電極層22aが接続された第1の外部電極16aと第2の内部電極層22bが接続された第2の外部電極16bとの間に、静電容量を得ることができる。したがって、このような構造の電子部品本体12はコンデンサとして機能する。   In the laminated body 14, the first internal electrode layer 22 a and the second internal electrode layer 22 b are opposed to each other through the ceramic layer 20 in the counter electrode portion 26 a, whereby electric characteristics (for example, electrostatic capacity) are obtained. Occur. Therefore, a capacitance can be obtained between the first external electrode 16a to which the first internal electrode layer 22a is connected and the second external electrode 16b to which the second internal electrode layer 22b is connected. . Therefore, the electronic component body 12 having such a structure functions as a capacitor.

外部電極16は、積層体14側から順に、下地電極層およびめっき層を有する。下地電極層は、それぞれ、焼付け層、樹脂層、薄膜層などから選ばれる少なくとも1つを含むが、ここでは焼付け層で形成された下地電極層について説明する。
焼付け層は、ガラスおよび金属を含む。焼付け層の金属としては、たとえば、Cu,Ni,Ag,Pd,Ag−Pd合金,Au等から選ばれる少なくとも1つを含む。焼付け層は、複数層であってもよい。焼付け層は、ガラスおよび金属を含む導電性ペーストを積層体14に塗布して焼き付けることにより形成される。焼付け層は、セラミック層20および内部電極層22と同時に焼成したものでもよく、セラミック層20および内部電極層22を焼成した後に焼き付けたものでもよい。焼付け層のうちの最も厚い部分の厚みは、10μm以上50μm以下であることが好ましい。
The external electrode 16 has a base electrode layer and a plating layer in order from the laminated body 14 side. Each of the base electrode layers includes at least one selected from a baking layer, a resin layer, a thin film layer, and the like. Here, the base electrode layer formed of the baking layer will be described.
The baking layer includes glass and metal. Examples of the metal for the baking layer include at least one selected from Cu, Ni, Ag, Pd, an Ag—Pd alloy, Au, and the like. The baking layer may be a plurality of layers. The baking layer is formed by applying and baking a conductive paste containing glass and metal on the laminate 14. The baking layer may be fired simultaneously with the ceramic layer 20 and the internal electrode layer 22, or may be fired after the ceramic layer 20 and the internal electrode layer 22 are fired. The thickness of the thickest part in the baking layer is preferably 10 μm or more and 50 μm or less.

焼付け層の表面に、導電性粒子と熱硬化性樹脂とを含む樹脂層が形成されてもよい。なお、樹脂層は、焼付け層を形成せずに積層体14上に直接形成してもよい。また、樹脂層は、複数層であってもよい。樹脂層のうちの最も厚い部分の厚みは、10μm以上150μm以下であることが好ましい。
また、薄膜層は、スパッタ法または蒸着法等の薄膜形成法により形成され、金属粒子が堆積された1μm以下の層である。
A resin layer containing conductive particles and a thermosetting resin may be formed on the surface of the baking layer. The resin layer may be directly formed on the laminate 14 without forming a baking layer. The resin layer may be a plurality of layers. The thickness of the thickest portion of the resin layer is preferably 10 μm or more and 150 μm or less.
Further, the thin film layer is a layer of 1 μm or less formed by a thin film forming method such as a sputtering method or a vapor deposition method and deposited with metal particles.

また、めっき層としては、たとえば、Cu,Ni,Sn,Ag,Pd,Ag−Pd合金,Auなどから選ばれる少なくとも1つ含む。
めっき層は、複数層によって形成されてもよい。めっき層は、焼付け層の表面に設けられた第1めっき層と、第1めっき層の表面に設けられた第2めっき層とを含む2層構造であることが好ましい。第1めっき層はNiを用いるのが好ましい。なお、内部電極層22にNiを含む場合は、第1めっき層としては、Niと接合性のよいCuを用いることが好ましい。また、第2めっき層はSnやAuを用いるのが好ましい。めっき層一層あたりの厚みは、1μm以上15μm以下であることが好ましい。
Moreover, as a plating layer, at least 1 chosen from Cu, Ni, Sn, Ag, Pd, an Ag-Pd alloy, Au etc. is included, for example.
The plating layer may be formed of a plurality of layers. The plating layer preferably has a two-layer structure including a first plating layer provided on the surface of the baking layer and a second plating layer provided on the surface of the first plating layer. It is preferable to use Ni for the first plating layer. In addition, when the internal electrode layer 22 contains Ni, it is preferable to use Cu having good bondability with Ni as the first plating layer. Moreover, it is preferable to use Sn or Au for the second plating layer. The thickness per plating layer is preferably 1 μm or more and 15 μm or less.

複数の電子部品本体12は、主面同士が対面するように並んで配置される。複数の電子部品本体12の間は、接合材などで接合されていてもよい。複数の電子部品本体12、ここでは、5個の電子部品本体12の両側の外部電極16に、金属端子18が接続される。複数の電子部品本体12は、主面の面方向と金属端子18が延びる方向とがほぼ直交するように、金属端子18に半田付けされる。ここで、金属端子18の取り付け位置は、電子部品本体12の外部電極16の端面中央部に取り付けられることが好ましい。
なお、金属端子18に接続される電子部品本体12の数は制限されるものではなく、5個よりも少数あるいは多数の電子部品本体12が金属端子18に接続されてもよい。
The plurality of electronic component main bodies 12 are arranged side by side so that the principal surfaces face each other. The plurality of electronic component bodies 12 may be joined with a joining material or the like. Metal terminals 18 are connected to the plurality of electronic component bodies 12, here, external electrodes 16 on both sides of the five electronic component bodies 12. The plurality of electronic component bodies 12 are soldered to the metal terminals 18 so that the surface direction of the main surface and the direction in which the metal terminals 18 extend are substantially orthogonal. Here, the attachment position of the metal terminal 18 is preferably attached to the center of the end face of the external electrode 16 of the electronic component body 12.
Note that the number of electronic component main bodies 12 connected to the metal terminals 18 is not limited, and fewer or more than five electronic component main bodies 12 may be connected to the metal terminals 18.

金属端子18は、たとえば、リード端子である。金属端子18は、第1の金属端子18aおよび第2の金属端子18bを有する。第1の金属端子18aは、第1の外部電極18aに接続される端子接合部28aと、端子接合部28aから延びる端子延長部30aとを有する。第2の金属端子18bは、第2の外部電極18bに接続される端子接合部28bと、端子接合部28bから延びる端子延長部30bとを有する。端子接合部28aは、互いの主面が対面した状態で整列させられた5個の電子部品本体12の第1の外部電極18aに接続され、端子接合部28bは、同様に、第2の外部電極18bに接続される。したがって、電子部品本体12の内部電極層22の電極面は、金属端子18の端子延長部30aおよび30bが延びる方向に対して垂直になるように配置される。   The metal terminal 18 is, for example, a lead terminal. The metal terminal 18 includes a first metal terminal 18a and a second metal terminal 18b. The first metal terminal 18a has a terminal joint portion 28a connected to the first external electrode 18a, and a terminal extension 30a extending from the terminal joint portion 28a. The second metal terminal 18b has a terminal joint portion 28b connected to the second external electrode 18b and a terminal extension portion 30b extending from the terminal joint portion 28b. The terminal joint portion 28a is connected to the first external electrodes 18a of the five electronic component main bodies 12 aligned with the principal surfaces thereof facing each other, and the terminal joint portion 28b is similarly connected to the second external portion. Connected to the electrode 18b. Therefore, the electrode surface of the internal electrode layer 22 of the electronic component body 12 is disposed so as to be perpendicular to the direction in which the terminal extensions 30a and 30b of the metal terminal 18 extend.

端子接合部28aの先端部は、図4(a)に示すように、一方側端部に配置された電子部品本体12の端面の外部電極18aに向かって屈曲させられ、端子接合部28bの先端部も同様に、一方側端部に配置された電子部品本体12の端面の外部電極18bに向かって屈曲させられる。また、端子延長部30aおよび30bにおいては、他方側端部に配置された電子部品本体12の主面に向かってU字状に折り曲げられ、電子部品本体12の主面を支持している。換言すると、端子延長部30aおよび30bは、実装面側に最も近い電子部品本体12の下方において、電子部品本体12を支えるように湾曲している。このように、端子接続部28aおよび端子接続部28bのそれぞれの先端部で一方側の電子部品本体12を挟み込み、端子延長部30aおよび30bの屈曲部で他方側の電子部品本体12の主面を支持することにより、多段状に並べられた電子部品本体12を金属端子18からずれることなく、位置決めを行うことができ、複数の電子部品本体12を安定して整列させることができる。また、端子接続部28aおよび端子接続部28bの屈曲させた先端部で電子部品本体12の端面を保持することにより、図4(a)に示すように、端子接続部28aおよび端子接続部28bと電子部品本体12との間にわずかな隙間が形成され、接合材32であるクリーム半田がこの隙間に入り込みやすくなるため、金属端子18と電子部品本体12の半田付け位置を安定させることができる。これにより、端子接続部28aおよび端子接続部28bと電子部品本体12とを確実に固定することができる。また、端子接続部28aおよび端子接続部28bは、図4(b)に示すように、整列した5個の電子部品本体12の端面に沿って、「く」字状に屈曲させられる。   As shown in FIG. 4A, the distal end portion of the terminal joint portion 28a is bent toward the external electrode 18a on the end face of the electronic component main body 12 disposed at one end portion, and the distal end portion of the terminal joint portion 28b. Similarly, the portion is bent toward the external electrode 18b on the end face of the electronic component main body 12 arranged at one end portion. Moreover, in terminal extension part 30a and 30b, it bend | folds in U shape toward the main surface of the electronic component main body 12 arrange | positioned at the other side edge part, and supports the main surface of the electronic component main body 12. FIG. In other words, the terminal extensions 30a and 30b are curved to support the electronic component main body 12 below the electronic component main body 12 closest to the mounting surface side. In this way, the electronic component main body 12 on one side is sandwiched between the respective distal end portions of the terminal connecting portion 28a and the terminal connecting portion 28b, and the main surface of the other electronic component main body 12 is bent on the terminal extending portions 30a and 30b. By supporting, the electronic component main bodies 12 arranged in multiple stages can be positioned without being displaced from the metal terminals 18, and the plurality of electronic component main bodies 12 can be stably aligned. Further, by holding the end face of the electronic component body 12 with the bent end portions of the terminal connection portion 28a and the terminal connection portion 28b, as shown in FIG. 4A, the terminal connection portion 28a and the terminal connection portion 28b A slight gap is formed between the electronic component body 12 and the cream solder as the bonding material 32 easily enters the gap, so that the soldering position between the metal terminal 18 and the electronic component body 12 can be stabilized. Thereby, the terminal connection part 28a and the terminal connection part 28b, and the electronic component main body 12 can be fixed reliably. Further, as shown in FIG. 4B, the terminal connection portion 28 a and the terminal connection portion 28 b are bent in a “<” shape along the end surfaces of the five aligned electronic component bodies 12.

金属端子18の直径は、0.3mm以上0.8mm以下程度であることが好ましい。金属端子18の端子接続部28aおよび28bと電子部品本体12の外部電極16とは、図1に示すように、接合材32により接続される。そのために、金属端子18は、リード本体とリード本体の表面に形成されるめっき膜とで構成されていることが好ましい。   The diameter of the metal terminal 18 is preferably about 0.3 mm or more and 0.8 mm or less. The terminal connection portions 28a and 28b of the metal terminal 18 and the external electrode 16 of the electronic component body 12 are connected by a bonding material 32 as shown in FIG. For this purpose, the metal terminal 18 is preferably composed of a lead body and a plating film formed on the surface of the lead body.

リード本体は、Ni,Fe,Cu,Ag,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金で形成される。特に、リード本体は、Ni,Fe,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金で形成されることが好ましい。具体的には、リード本体は、Fe−42Ni合金やFe−18Cr合金などで形成される。これにより、外部電極16の耐熱性を向上させることができる。   The lead body is made of Ni, Fe, Cu, Ag, Cr, or an alloy containing one or more of these metals as a main component. In particular, the lead body is preferably formed of Ni, Fe, Cr, or an alloy containing one or more of these metals as a main component. Specifically, the lead body is formed of an Fe-42Ni alloy, an Fe-18Cr alloy, or the like. Thereby, the heat resistance of the external electrode 16 can be improved.

リード本体の表面には、めっき膜が形成される。めっき膜は、リード本体の露出部分を覆っている。めっき膜は、リード本体の表面に形成される下層めっき膜と、下層めっき膜の表面に形成される上層めっき膜とで構成される。なお、下層めっき膜および上層めっき膜は、それぞれ複数のめっき膜により形成されてもよい。下層めっき膜の厚みは、1.0μm以上5.0μm以下程度であることが好ましい。また、上層めっき膜の厚みは、1.0μm以上5.0μm以下程度であることが好ましい。   A plating film is formed on the surface of the lead body. The plating film covers the exposed part of the lead body. The plating film is composed of a lower plating film formed on the surface of the lead body and an upper plating film formed on the surface of the lower plating film. Each of the lower plating film and the upper plating film may be formed of a plurality of plating films. The thickness of the lower plating film is preferably about 1.0 μm or more and 5.0 μm or less. The thickness of the upper plating film is preferably about 1.0 μm or more and 5.0 μm or less.

下層めっき膜は、Ni,Fe,Cu,Ag,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金で形成される。特に、下層めっき膜は、Ni,Fe,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金からなることが好ましい。リード本体および下層めっき膜のそれぞれを、高融点のNi,Fe,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金によって形成することにより、金属端子18の耐熱性を向上させることができる。   The lower plating film is formed of Ni, Fe, Cu, Ag, Cr, or an alloy containing at least one of these metals as a main component. In particular, the lower plating film is preferably made of Ni, Fe, Cr, or an alloy containing one or more of these metals as a main component. Each of the lead body and the lower plating film is made of high melting point Ni, Fe, Cr or an alloy containing one or more of these metals as a main component, thereby improving the heat resistance of the metal terminal 18. be able to.

上層めっき膜は、Sn,Ag,Auまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金で形成される。特に、上層めっき膜は、SnまたはSnを主成分として含む合金からなることが好ましい。上層めっき膜をSnまたはSnを主成分として含む合金で形成することにより、金属端子18と外部電極16との半田付き性を向上させることができる。   The upper plating film is formed of Sn, Ag, Au, or an alloy containing one or more of these metals as a main component. In particular, the upper plating film is preferably made of Sn or an alloy containing Sn as a main component. By forming the upper plating film with Sn or an alloy containing Sn as a main component, the solderability between the metal terminal 18 and the external electrode 16 can be improved.

このように、2つの金属端子18と、これらの金属端子18の間に金属端子18に沿って配置される電子部品本体12の外部電極18とが接合材32によって接合されている。なお、第1の金属端子18aの端子接合部28aおよび第2の金属端子18bの端子接合部28bは「く」字状に屈曲するように形成されているため、第1の金属端子18aおよび第2の金属端子18bにクリーム半田を付着させるときに、第1の金属端子18aの端子接合部28aおよび第2の金属端子18bの端子接合部28bへのクリーム半田の延び性を向上させることができるという効果がある。この「く」字状の屈曲部の角度は、10°以上30°以下程度であることが好ましい。ここで用いられる半田としては、例えば、Sn−Sb系、Sn−Ag−Cu系、Sn−Cu系、Sn−Bi系などのLF半田を用いることができる。中でも、Sn−Sb系半田を用いる場合には、Sb含有率が10%程度であることが好ましい。   In this way, the two metal terminals 18 and the external electrodes 18 of the electronic component main body 12 disposed along the metal terminals 18 are bonded to each other by the bonding material 32. The terminal joint portion 28a of the first metal terminal 18a and the terminal joint portion 28b of the second metal terminal 18b are formed so as to be bent in a "<" shape, so that the first metal terminal 18a and the second metal terminal 18b When cream solder is attached to the second metal terminal 18b, the extensibility of the cream solder to the terminal joint portion 28a of the first metal terminal 18a and the terminal joint portion 28b of the second metal terminal 18b can be improved. There is an effect. The angle of the "<"-shaped bent portion is preferably about 10 ° to 30 °. As the solder used here, for example, Sn-Sb-based, Sn-Ag-Cu-based, Sn-Cu-based, Sn-Bi-based LF solder can be used. In particular, when Sn—Sb solder is used, the Sb content is preferably about 10%.

金属端子付き積層セラミック電子部品10は、図6(a)および(b)に示すように、複数の電子部品本体12の外表面、第1の金属端子18aの端子接合部28aおよび第2の金属端子18bの端子接合部28b、並びに第1の金属端子18の端子延長部30aおよび第2の金属端子18bの端子延長部30bの一部を覆うように、必要に応じて、樹脂などにより外装材34が形成されてもよい。それにより、絶縁性および耐水性などの効果を得ることができる。なお、外装材34の種類としては、エポキシ樹脂、シリコン樹脂などを用いることができる。   As shown in FIGS. 6A and 6B, the multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals includes an outer surface of a plurality of electronic component bodies 12, a terminal joint portion 28a of the first metal terminal 18a, and a second metal. As necessary, the exterior material is covered with a resin so as to cover the terminal joint portion 28b of the terminal 18b and the terminal extension portion 30a of the first metal terminal 18 and a part of the terminal extension portion 30b of the second metal terminal 18b. 34 may be formed. Thereby, effects such as insulation and water resistance can be obtained. In addition, as a kind of the exterior material 34, an epoxy resin, a silicon resin, etc. can be used.

また、金属端子付き積層セラミック電子部品10は、図6(a)に示すように、複数の電子部品本体12の主面14aおよび14bが、回路基板の実装面に対して平行になるように実装されてもよいし、図6(b)に示すように、複数の電子部品本体12の主面14aおよび14bが実装面に対して垂直になるように実装されてもよい。   Further, as shown in FIG. 6A, the multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals is mounted such that the main surfaces 14a and 14b of the plurality of electronic component bodies 12 are parallel to the mounting surface of the circuit board. Alternatively, as shown in FIG. 6B, the main surfaces 14a and 14b of the plurality of electronic component bodies 12 may be mounted so as to be perpendicular to the mounting surface.

図6(a)のように金属端子付き積層セラミック電子部品10が回路基板に対して実装される場合は、第1の内部電極層22aおよび第2の内部電極層22bの電極面は、回路基板の実装面に対して平行になるように配置される。   When the multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals is mounted on a circuit board as shown in FIG. 6A, the electrode surfaces of the first internal electrode layer 22a and the second internal electrode layer 22b are the circuit board. It is arranged so as to be parallel to the mounting surface.

一方、図6(b)のように金属端子付き積層セラミック電子部品10が回路基板に対して実装される場合は、第1の内部電極22aおよび第2の内部電極層22bの電極面は、回路基板の実装面に対して垂直に配置される。また、複数の電子部品本体12の主面14aおよび14bが、回路基板の実装面に対して垂直になるように実装する場合には、その実装面と金属端子付き積層セラミック電子部品10との表面とが接着剤により固定されていてもよい。また、回路基板に実装された金属端子付き積層セラミック電子部品10の金属端子18部分を直角に折り曲げることにより、さらなる省スペース化を図ることができる。なお、金属端子18の折り曲げられた角部は、丸みを帯びていてもよい。   On the other hand, when the multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals is mounted on the circuit board as shown in FIG. 6B, the electrode surfaces of the first internal electrode 22a and the second internal electrode layer 22b It is arranged perpendicular to the mounting surface of the substrate. When the main surfaces 14a and 14b of the plurality of electronic component bodies 12 are mounted so as to be perpendicular to the mounting surface of the circuit board, the mounting surface and the surface of the multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals are provided. And may be fixed by an adhesive. Moreover, further space saving can be achieved by bending the metal terminal 18 portion of the multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals mounted on the circuit board at a right angle. The bent corner of the metal terminal 18 may be rounded.

図1に示す金属端子付き積層セラミック電子部品10は、電子部品本体12の内部電極層22における電極面の積層方向を一方向に揃え、金属端子18の端子延長部30aおよび30bが延びる方向に対して垂直になるように積層されているので、電子部品本体12を単体で用いた場合に近い絶縁破壊電圧(BDV)が得られることから、金属端子付き積層セラミック電子部品10の特性を十分に満足することができる。これは、電子部品本体12の電歪による破壊発生電圧が積層方向により変わるため、電歪によるセラミックの変位が少ない方向に整列することで、応力集中が極小化されるためであると考えられる。   The multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals shown in FIG. 1 has the electrode surface lamination direction of the internal electrode layer 22 of the electronic component body 12 aligned in one direction, and the direction in which the terminal extensions 30a and 30b of the metal terminal 18 extend. Since the dielectric breakdown voltage (BDV) close to that when the electronic component body 12 is used alone is obtained, the characteristics of the multilayer ceramic electronic component 10 with metal terminals are sufficiently satisfied. can do. This is probably because the breakdown voltage due to electrostriction of the electronic component body 12 varies depending on the stacking direction, and the stress concentration is minimized by aligning in a direction where the ceramic displacement due to electrostriction is small.

2.金属端子付き積層セラミック電子部品の製造方法
次に、この金属端子付き積層セラミック電子部品の製造方法について説明する。
2. Next, the manufacturing method of this multilayer ceramic electronic component with a metal terminal is demonstrated.

(電子部品本体の作成)
まず、セラミックグリーンシートと、内部電極用の導電性ペーストとを準備する。セラミックグリーンシートや内部電極用の導電性ペーストは、バインダ(たとえば、公知の有機バインダなど)および溶剤(たとえば、有機溶剤など)を含む。
(Create electronic component body)
First, a ceramic green sheet and a conductive paste for internal electrodes are prepared. The conductive paste for ceramic green sheets and internal electrodes contains a binder (for example, a known organic binder) and a solvent (for example, an organic solvent).

次に、セラミックグリーンシート上に、例えば、スクリーン印刷やグラビア印刷などにより所定のパターンで内部電極用の導電性ペーストを印刷し、内部電極パターンを形成する。このようにして、内部電極パターンが印刷された内層用のセラミックグリーンシートを作製する。また、内部電極パターンが印刷されていない外層用のセラミックグリーンシートも作製する。   Next, a conductive paste for internal electrodes is printed in a predetermined pattern on the ceramic green sheet by, for example, screen printing or gravure printing to form an internal electrode pattern. In this way, a ceramic green sheet for the inner layer on which the internal electrode pattern is printed is produced. Also, an outer layer ceramic green sheet on which no internal electrode pattern is printed is also produced.

そして、内部電極パターンが印刷されていない外層用のセラミックグリーンシートを所定枚数積層し、その表面に内部電極パターンが印刷された内層用のセラミックグリーンシートを順次積層し、その表面に外層用のセラミックグリーンシートを所定枚数積層することにより、積層シートを作製する。   Then, a predetermined number of outer layer ceramic green sheets on which the internal electrode pattern is not printed are laminated, an inner layer ceramic green sheet on which the inner electrode pattern is printed is sequentially laminated, and an outer layer ceramic green sheet is laminated on the surface. A laminated sheet is produced by laminating a predetermined number of green sheets.

さらに、積層シートを静水圧プレスなどの手段により積層方向にプレスし、積層ブロックを作製する。   Further, the laminated sheet is pressed in the laminating direction by means such as isostatic pressing to produce a laminated block.

つづいて、積層ブロックを所定のサイズにカットすることにより積層チップを作製する。このとき、バレル研磨などにより積層チップの角部および稜線部に丸みが形成されてもよい。   Subsequently, a laminated chip is manufactured by cutting the laminated block into a predetermined size. At this time, roundness may be formed at corners and ridges of the laminated chip by barrel polishing or the like.

次に、積層チップを焼成することにより積層体を作製する。焼成温度は、セラミックや内部電極の材料にもよるが、900℃以上1300℃以下であることが好ましい。   Next, a laminated body is produced by firing the laminated chip. The firing temperature is preferably 900 ° C. or higher and 1300 ° C. or lower, although it depends on the ceramic and internal electrode materials.

最後に、積層体の両端面に外部電極用の導電性ペーストを塗布し、焼き付け、外部電極の焼き付け層を形成する。焼き付け温度は700℃以上900℃以下であることが好ましい。必要に応じて、焼付け層の表面にめっき層を形成してもよい。以上のようにして電子部品本体(コンデンサ)を作製する。   Finally, a conductive paste for an external electrode is applied to both end faces of the laminate and baked to form a baked layer for the external electrode. The baking temperature is preferably 700 ° C. or higher and 900 ° C. or lower. If necessary, a plating layer may be formed on the surface of the baking layer. The electronic component body (capacitor) is manufactured as described above.

(電子部品本体に一対の金属端子を取り付ける工程)
つづいて、本発明にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品の製造方法における金属端子の取り付け工程について、説明する。
(Process of attaching a pair of metal terminals to the electronic component body)
Next, the metal terminal mounting process in the method for manufacturing a multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to the present invention will be described.

まず、一対の金属端子が準備される。また、この一対の金属端子を準備する工程と並行して、電子部品本体の主面同士を対面するように並べて配置し、その結果、電子部品本体の内部電極の電極面の方向が一定の方向に揃えられた状態で、複数個の電子部品本体が積み重ねられる。   First, a pair of metal terminals is prepared. In parallel with the step of preparing the pair of metal terminals, the main surfaces of the electronic component main body are arranged side by side so as to face each other. As a result, the direction of the electrode surface of the internal electrode of the electronic component main body is a constant direction. A plurality of electronic component bodies are stacked in a state where they are aligned.

積み重ねられた複数の電子部品本体の内部電極の電極面に対して垂直になるように、複数の電子部品本体は一対の金属端子で挟み込まれ、一対の金属端子と電子部品本体の外部電極の端面とを接合材を用いて接合される。接合材は半田が用いられる。この半田付けは、リフローによって行われ、リフローの温度は、270℃以上290℃位以下とすることが好ましい。以上のようにして、複数の電子部品本体に一対の金属端子が取り付けられる。   The plurality of electronic component bodies are sandwiched between a pair of metal terminals so as to be perpendicular to the electrode surfaces of the internal electrodes of the plurality of stacked electronic component bodies, and the end surfaces of the pair of metal terminals and the external electrodes of the electronic component body Are bonded using a bonding material. Solder is used as the bonding material. This soldering is performed by reflow, and the reflow temperature is preferably 270 ° C. or higher and 290 ° C. or lower. As described above, the pair of metal terminals is attached to the plurality of electronic component bodies.

以上のようにして得られた金属端子付き積層セラミック電子部品の効果は、次の実験例からも明らかになるであろう。   The effect of the multilayer ceramic electronic component with metal terminals obtained as described above will be apparent from the following experimental example.

3.実験例
以下、この発明の効果を確認するために発明者らが行った実験例について説明する。
実験例では、上述の方法により得られた金属端子付き積層セラミック電子部品について、絶縁破壊電圧(BDV)を測定し、その結果に基づき評価を行った。この評価のために、実施例にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品の試料、並びに比較例1および比較例2にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品の各試料を準備した。実施例、比較例1および比較例2の金属端子付き積層セラミック電子部品の各試料は、それぞれ電子部品本体を重ねる方法が異なっている。
さらに、この評価のために、参考例として電子部品本体単体の試料を準備し、参考例にかかる電子部品本体単体の試料についても絶縁破壊電圧を測定した。
なお、この実験例で使用した電子部品本体は、積層セラミックコンデンサとした。
3. Experimental Example Hereinafter, an experimental example performed by the inventors to confirm the effect of the present invention will be described.
In the experimental example, the dielectric breakdown voltage (BDV) was measured for the multilayer ceramic electronic component with metal terminals obtained by the above-described method, and the evaluation was performed based on the result. For this evaluation, a sample of the multilayer ceramic electronic component with metal terminal according to the example and each sample of the multilayer ceramic electronic component with metal terminal according to Comparative Example 1 and Comparative Example 2 were prepared. The samples of the multilayer ceramic electronic components with metal terminals of the example, comparative example 1 and comparative example 2 are different in the method of stacking the electronic component bodies.
Further, for this evaluation, a sample of the electronic component main body alone was prepared as a reference example, and the dielectric breakdown voltage was also measured for the sample of the electronic component main body according to the reference example.
The electronic component body used in this experimental example was a multilayer ceramic capacitor.

参考例、実施例、並びに比較例1および比較例2において用いられる電子部品本体のスペックは以下の通りである。なお、サイズなどの寸法は設計値である。
サイズ:L×W×T=3.2mm×2.5mm×2.5mm
セラミック層の材料:BaTiO3
内部電極層:Ni
外部電極の構造
下地電極層:Cu
めっき層:Niめっき層、Snめっき層からなる2層構造
金属端子
端子本体の直径:0.6mm
下層めっき:Cu
上層めっき:Sn
The specifications of the electronic component main body used in the reference examples, examples, and comparative examples 1 and 2 are as follows. Note that dimensions such as size are design values.
Size: L x W x T = 3.2 mm x 2.5 mm x 2.5 mm
Ceramic layer material: BaTiO 3
Internal electrode layer: Ni
Structure of external electrode Base electrode layer: Cu
Plating layer: Ni plating layer, two-layer structure consisting of Sn plating layer Metal terminal Terminal body diameter: 0.6 mm
Lower layer plating: Cu
Upper layer plating: Sn

(参考例)
参考例にかかる試料は、電子部品本体単体である。
(Reference example)
The sample according to the reference example is a single electronic component body.

(実施例)
実施例にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品の試料を作製するために、1つの金属端子付き積層セラミック電子部品につき5つの電子部品本体を準備した。図5に示すように、内部電極層の電極面が、金属端子の端子延長部が延びる方向に対して垂直となるように、5つの電子部品本体を配置して重ねた。
(Example)
In order to prepare a sample of the multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to the example, five electronic component bodies were prepared for each multilayer ceramic electronic component with metal terminals. As shown in FIG. 5, the five electronic component main bodies were arranged and overlapped so that the electrode surface of the internal electrode layer was perpendicular to the direction in which the terminal extension of the metal terminal extends.

(比較例1)
比較例1にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品の試料を作製するために、1つの金属端子付き積層セラミック電子部品につき5つの電子部品本体を準備した。図7(a)に示すように、内部電極層の電極面が、金属端子の端子延長部が延びる方向に対して垂直となる場合と平行になる場合と交互に積層されるように、5つの電子部品本体を配置して重ねた。その他の条件は、実施例と同じとした。
(Comparative Example 1)
In order to produce a sample of a multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to Comparative Example 1, five electronic component bodies were prepared for each multilayer ceramic electronic component with metal terminals. As shown in FIG. 7 (a), the electrode surfaces of the internal electrode layers are stacked alternately with the case where the electrode surface is perpendicular to the direction in which the terminal extension of the metal terminal extends and the case where the electrode surface is parallel. The electronic component body was placed and stacked. Other conditions were the same as in the example.

(比較例2)
比較例2にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品の試料を作製するために、1つの金属端子付き積層セラミック電子部品につき5つの電子部品本体を準備した。図7(b)に示すように、内部電極層の電極面が、金属端子の端子延長部が延びる方向に対して平行になるように、5つの電子部品本体を配置して重ねた。その他の条件は、実施例と同じとした。
(Comparative Example 2)
In order to produce a sample of a multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to Comparative Example 2, five electronic component bodies were prepared for each multilayer ceramic electronic component with metal terminals. As shown in FIG. 7B, the five electronic component bodies were arranged and overlapped so that the electrode surface of the internal electrode layer was parallel to the direction in which the terminal extension of the metal terminal extends. Other conditions were the same as in the example.

なお、参考例のサンプル数は10個とし、実施例、比較例1および比較例2の各サンプル数は、それぞれ20個とした。   Note that the number of samples in the reference example was 10, and the number of samples in each of the example, comparative example 1, and comparative example 2 was 20.

(絶縁破壊電圧(BDV)による評価)
まず、金属端子付き積層セラミック電子部品の各試料の金属端子(参考例の場合は、電子部品本体の外部電極)をBDV測定装置の電極に設置した。
次に、室温下において、電子部品本体の部分がフロリナート(フッ素系不活性液体)に浸漬するよう設置した。
そして、フロリナート(フッ素系不活性液体)に浸漬した状態で、初期電圧:0V、昇圧速度:100V/sec、検知電流(不良と判断する電流値の設定):10mAの条件で、電圧の印加を開始した。そして、検知電流を超える直前の電圧を記録し、この値をBDVとした。
(Evaluation by dielectric breakdown voltage (BDV))
First, the metal terminal of each sample of the multilayer ceramic electronic component with metal terminals (in the case of the reference example, the external electrode of the electronic component main body) was placed on the electrode of the BDV measuring apparatus.
Next, at room temperature, the electronic component main body was placed so as to be immersed in fluorinate (fluorine-based inert liquid).
In the state immersed in Fluorinert (fluorine-based inert liquid), the voltage was applied under the conditions of initial voltage: 0 V, boosting speed: 100 V / sec, detection current (setting of current value for determining failure): 10 mA. Started. And the voltage immediately before exceeding detection current was recorded, and this value was made into BDV.

図8は、絶縁破壊電圧の測定結果を度数分布で示している。図8(a)は参考例にかかる試料における絶縁破壊電圧の測定結果であり、図8(b)は実施例にかかる試料おける絶縁破壊電圧の測定結果であり、図8(c)は比較例1かかる試料における絶縁破壊電圧の測定結果であり、図8(d)は比較例2にかかる試料おける絶縁破壊電圧の測定結果である。   FIG. 8 shows the measurement result of the dielectric breakdown voltage in a frequency distribution. 8A shows the measurement result of the breakdown voltage in the sample according to the reference example, FIG. 8B shows the measurement result of the breakdown voltage in the sample according to the example, and FIG. 8C shows the comparative example. FIG. 8D shows the measurement result of the dielectric breakdown voltage in the sample according to Comparative Example 2. FIG.

以上の結果より、実施例にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品は、内部電極層の電極面を積層方向に揃え、金属端子の端子延長部が延びる方向に対して垂直になるように積層することで、電子部品本体(積層セラミックコンデンサ)単体で用いる場合に近いBDV(絶縁破壊電圧)が得られ、金属端子付き積層セラミック電子部品の特性を十分に満足することが確認された。   Based on the above results, the multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to the example is laminated so that the electrode surfaces of the internal electrode layers are aligned in the stacking direction and perpendicular to the direction in which the terminal extension of the metal terminal extends. Thus, it was confirmed that a BDV (dielectric breakdown voltage) close to that when the electronic component main body (multilayer ceramic capacitor) was used alone was obtained, and the characteristics of the multilayer ceramic electronic component with metal terminals were sufficiently satisfied.

一方、比較例1にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品では、得られるBDVが、参考例や実施例において得られるBDVと比較した時、低下する傾向にあり、かつ大きくばらついていることが確認された。また、比較例2にかかる金属端子付き積層セラミック電子部品では、得られるBDVが参考例や実施例において得られるBDVと比較した時、さらに低下した試料の多いことが確認された。   On the other hand, in the multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to Comparative Example 1, it was confirmed that the obtained BDV tends to decrease and greatly varies when compared with the BDV obtained in the reference examples and examples. It was. Moreover, in the multilayer ceramic electronic component with a metal terminal concerning the comparative example 2, when the obtained BDV was compared with BDV obtained in a reference example or an Example, it was confirmed that there are many samples which fell further.

10 金属端子付き積層セラミック電子部品
12 電子部品本体
14 積層体
16 外部電極
16a 第1の外部電極
16b 第2の外部電極
18 金属端子
18a 第1の金属端子
18b 第2の金属端子
20 セラミック層
20a 外層部
20b 内層部
22 内部電極層
22a 第1の内部電極層
22b 第2の内部電極層
24a、24b 引出電極部
26a 対向電極部
26b Wギャップ
26c Lギャップ
28a、28b 端子接合部
30a、30b 端子延長部
32 接合材
34 外装材
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Multilayer ceramic electronic component with metal terminal 12 Electronic component main body 14 Laminated body 16 External electrode 16a 1st external electrode 16b 2nd external electrode 18 Metal terminal 18a 1st metal terminal 18b 2nd metal terminal 20 Ceramic layer 20a Outer layer Part 20b Inner layer part 22 Internal electrode layer 22a First internal electrode layer 22b Second internal electrode layer 24a, 24b Extraction electrode part 26a Counter electrode part 26b W gap 26c L gap 28a, 28b Terminal joint part 30a, 30b Terminal extension part 32 Bonding material 34 Exterior material

Claims (3)

積層された複数のセラミック層と複数の内部電極層とを含み、積層方向に相対する第1の主面および第2の主面と、積層方向に直交する幅方向に相対する第1の側面および第2の側面と、積層方向および幅方向に直交する長さ方向に相対する第1の端面および第2の端面と、を含む積層体と、
前記積層体の端面上に形成される外部電極と、を有する複数の電子部品本体と、
前記複数の電子部品本体の前記外部電極に接続される2つの金属端子と、
を有する金属端子付き積層セラミック電子部品であって、
前記複数の電子部品本体は、前記第1の主面および前記第2の主面を結んだ積層方向の寸法と、前記第1の側面および前記第2の側面を結んだ幅方向の寸法とが略同じ寸法を有しており、
前記金属端子は、リード端子であり、
前記複数の電子部品本体の前記複数の内部電極層の電極面は、前記金属端子が延びる方向に対して垂直に配置されている、金属端子付き積層セラミック電子部品。
Including a plurality of laminated ceramic layers and a plurality of internal electrode layers; a first main surface and a second main surface facing the stacking direction; a first side surface facing the width direction orthogonal to the stacking direction; A laminate including a second side surface, and a first end face and a second end face facing in the length direction perpendicular to the lamination direction and the width direction;
A plurality of electronic component bodies having an external electrode formed on an end face of the laminate,
Two metal terminals connected to the external electrodes of the plurality of electronic component bodies;
A multilayer ceramic electronic component with metal terminals having
The plurality of electronic component main bodies have dimensions in the stacking direction connecting the first main surface and the second main surface, and width dimensions connecting the first side surface and the second side surface. Have approximately the same dimensions,
The metal terminal is a lead terminal;
The multilayer ceramic electronic component with metal terminals, wherein electrode surfaces of the plurality of internal electrode layers of the plurality of electronic component bodies are arranged perpendicular to a direction in which the metal terminals extend.
前記金属端子は、前記外部電極に接続される端子接合部と、前記端子接合部から実装面の方向に延びる端子延長部を有しており、
前記端子延長部は、実装面側に最も近い電子部品本体の下方において、電子部品本体を支えるように湾曲している、請求項1に記載の金属端子付き積層セラミック電子部品。
The metal terminal has a terminal joint connected to the external electrode, and a terminal extension extending from the terminal joint in the direction of the mounting surface,
2. The multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to claim 1, wherein the terminal extension is curved to support the electronic component main body below the electronic component main body closest to the mounting surface side.
前記金属端子付き積層セラミック電子部品は、前記複数の電子部品本体と前記端子接合部と前記端子延長部の一部とを覆う外装材を有する、請求項2に記載の金属端子付き積層セラミック電子部品。   The multilayer ceramic electronic component with metal terminals according to claim 2, wherein the multilayer ceramic electronic component with metal terminals includes an exterior material that covers the plurality of electronic component main bodies, the terminal joint portion, and a part of the terminal extension portion. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2020035969A (en) * 2018-08-31 2020-03-05 Tdk株式会社 Electronic component and mounting structure of electronic component

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