JP2017067687A - Foreign matter inspection device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent heat generated in an X-ray generator from affecting an X-ray inspection control unit provided in an X-ray inspection unit and a metal detection control unit provided in a metal detection unit.SOLUTION: A foreign matter inspection device 1 comprises an X-ray inspection unit 2, a metal detection unit 3, a housing 4 for accommodating the X-ray inspection unit 2 and the metal detection unit 3, and a cooler 9 for sending a cool air into the housing 4. The X-ray inspection unit 2 is provided with an X-ray inspection control unit 20, an X-ray generator 21, and an X-ray detector 22. The metal detection unit 3 is provided with a metal detection control unit 30, a transmission coil 35, and reception coils 36, 37. The cooler 9 sends a cool air to at least the X-ray generator 21, the X-ray inspection control unit 20, and the metal detection control unit 30.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本発明は、異物検査装置に関する。   The present invention relates to a foreign matter inspection apparatus.

特許文献1には、X線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出するX線検査と、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する金属検出との両方を行うことができる異物検査装置が記載されている。   In Patent Document 1, X-ray inspection for detecting foreign matter contained in an object to be inspected using X-ray permeability and foreign matter contained in the object to be inspected using an interaction between a magnetic field and a metal are disclosed. A foreign substance inspection apparatus capable of performing both of metal detection and the detection is described.

特開2015−28465号公報JP 2015-28465 A

X線検査部に設けられたX線発生器は、X線を発生させる際に高温となることがある。上述した異物検査装置においては、X線検査部と金属検出部とが一つの筐体内に収容されている。このため、X線発生器で生じた熱が、X線検査部に設けられた制御部(制御基板)及び金属検出部に設けられた制御部(制御基板)に影響を与えることがある。このため、本技術分野では、X線発生器で生じた熱が、X線検査部に設けられた制御部及び金属検出部に設けられた制御部に影響を与えることを抑制可能な異物検査装置が望まれている。   The X-ray generator provided in the X-ray inspection unit may become high temperature when generating X-rays. In the foreign substance inspection apparatus described above, the X-ray inspection unit and the metal detection unit are accommodated in one housing. For this reason, the heat generated by the X-ray generator may affect the control unit (control board) provided in the X-ray inspection unit and the control unit (control board) provided in the metal detection unit. For this reason, in this technical field, the foreign substance inspection apparatus which can suppress that the heat which generate | occur | produced with the X-ray generator exerts influence on the control part provided in the X-ray inspection part, and the control part provided in the metal detection part. Is desired.

本発明に係る異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、X線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、X線検査部、及び金属検出部を内部に収容する筐体と、筐体内に冷気を送るクーラーと、を備え、X線検査部は、X線を発生させるX線発生器と、X線発生器で発生したX線を検出するX線検出器と、X線発生器を制御すると共に、X線検出器の検出結果を取得して異物を検出するX線検査制御部と、を備え、金属検出部は、磁界を発生させる磁界発生器と、磁界発生器で生じた磁界の変動を検出する磁界変動検出器と、磁界発生器を制御すると共に、磁界変動検出器の検出結果を取得して異物を検出する金属検出制御部と、を備え、クーラーは、少なくとも、X線発生器、X線検査制御部、及び金属検出制御部に冷気を送る。   A foreign matter inspection apparatus according to the present invention includes a transport unit that transports an object to be inspected, and an X-ray inspection unit that detects foreign matter contained in the test object being transported by the transport unit using X-ray transparency. And a metal detection unit that detects foreign matter contained in the object being transported by the transport unit using the interaction between the magnetic field and the metal, at least a part of the transport unit, the X-ray inspection unit, and the metal A housing that houses the detection unit; and a cooler that sends cold air into the housing. The X-ray inspection unit generates an X-ray generator that generates X-rays, and X-rays generated by the X-ray generator. An X-ray detector for detecting, and an X-ray generator for controlling the X-ray generator and acquiring a detection result of the X-ray detector to detect a foreign matter, and the metal detector generates a magnetic field The magnetic field generator to be detected, the magnetic field fluctuation detector for detecting the magnetic field fluctuation generated by the magnetic field generator, and the magnetic field generator. And a metal detection control unit that acquires a detection result of the magnetic field fluctuation detector and detects a foreign substance, and the cooler cools at least the X-ray generator, the X-ray inspection control unit, and the metal detection control unit. Send.

クーラーは、筐体内に備えられたX線発生器、X線検査制御部、及び金属検出制御部に冷気を送る。これにより、X線発生器、X線検査制御部、及び金属検出制御部が冷気によって冷却される。従って、X線検査部と金属検出部とを一つの筐体内に収容した場合であっても、X線発生器で生じた熱が、X線検査部のX線検査制御部及び金属検出部の金属検出制御部に影響を与えることを抑制できる。   The cooler sends cold air to an X-ray generator, an X-ray inspection control unit, and a metal detection control unit provided in the housing. Thereby, the X-ray generator, the X-ray inspection control unit, and the metal detection control unit are cooled by cold air. Therefore, even when the X-ray inspection unit and the metal detection unit are housed in one housing, the heat generated by the X-ray generator is generated by the X-ray inspection control unit and the metal detection unit of the X-ray inspection unit. It can suppress affecting a metal detection control part.

異物検査装置には、冷気の流れ方向の上流側から下流側に向かって順に、X線発生器、X線検査制御部、及び金属検出制御部が配置されていてもよい。この場合、高温となるX線発生器を、最も冷えた冷気によって効率よく冷却することができる。   In the foreign substance inspection apparatus, an X-ray generator, an X-ray inspection control unit, and a metal detection control unit may be arranged in order from the upstream side to the downstream side in the cold air flow direction. In this case, the high temperature X-ray generator can be efficiently cooled by the coldest air.

異物検査装置は、筐体内において、X線発生器及びX線検査制御部が設けられた側の領域と、金属検出制御部が設けられた側の領域とを仕切る仕切り板を更に備え、仕切り板は、仕切り板の端部と筐体の内壁との間に隙間が設けられるように筐体内に配置され、隙間を、X線検査制御部から金属検出制御部へ向かって流れる冷気が通っていてもよい。このように、仕切り板を設けることによって、X線発生器で生じた熱が金属検出制御部に直接影響を及ぼすことを抑制しつつ、隙間を介して金属検出制御部に冷気を導くことができる。   The foreign object inspection apparatus further includes a partition plate that partitions the region on the side where the X-ray generator and the X-ray inspection control unit are provided and the region on the side where the metal detection control unit is provided in the housing, Is arranged in the housing such that a gap is provided between the end of the partition plate and the inner wall of the housing, and cold air flowing from the X-ray inspection control unit to the metal detection control unit passes through the gap. Also good. As described above, by providing the partition plate, it is possible to guide the cold air to the metal detection control unit through the gap while suppressing the heat generated by the X-ray generator from directly affecting the metal detection control unit. .

クーラーは、筐体内から空気を取り込むと共に、取り込んだ空気を冷却して筐体内に送る冷気を生成してもよい。このように、クーラーは、筐体内で空気を循環させる。これにより、筐体外から筐体内に異物が入り込むことを抑制しつつ、冷気によってX線発生器などを冷却することができる。   The cooler may take in air from the inside of the housing and generate cool air that cools the taken-in air and sends it into the housing. In this way, the cooler circulates air within the housing. Thereby, an X-ray generator etc. can be cooled with cold air, suppressing that a foreign material enters the case from the outside.

本発明によれば、X線発生器で生じた熱が、X線検査部に設けられたX線検査制御部及び金属検出部に設けられた金属検出制御部に影響を与えることを抑制できる。   According to the present invention, it is possible to suppress the heat generated by the X-ray generator from affecting the X-ray inspection control unit provided in the X-ray inspection unit and the metal detection control unit provided in the metal detection unit.

実施形態に係る異物検査装置の正面図である。It is a front view of the foreign material inspection apparatus which concerns on embodiment. 図1に示される異物検査装置の内部構成及び制御系を説明する概念図である。It is a conceptual diagram explaining the internal structure and control system of the foreign material inspection apparatus shown by FIG. 図2のX線検査部及び金属検出部の主要構成の説明図である。It is explanatory drawing of the main structures of the X-ray inspection part and metal detection part of FIG. 図2のX線検査部及び金属検出部の主要構成の斜視図である。It is a perspective view of the main structures of the X-ray inspection part and metal detection part of FIG. 図2の基板室内部の構成を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the board | substrate room | chamber interior of FIG. 図5におけるVI−VI線に沿った断面図である。It is sectional drawing along the VI-VI line in FIG. 図5におけるVII−VII線に沿った断面図である。It is sectional drawing along the VII-VII line in FIG.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の説明において、同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the following description, the same or equivalent elements will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

図1は実施形態に係る異物検査装置1の正面図である。図1に示される異物検査装置1は、被検査物に含まれる異物を検出する装置である。被検査物は例えば食品である。異物検査装置1は、その内部において被検査物を搬送しつつX線検査及び金属検出を行い、被検査物に異物が含まれるか否かを検査する。   FIG. 1 is a front view of a foreign matter inspection apparatus 1 according to an embodiment. A foreign matter inspection device 1 shown in FIG. 1 is a device that detects foreign matter contained in an inspection object. The inspected object is, for example, food. The foreign object inspection apparatus 1 performs X-ray inspection and metal detection while conveying the inspection object in the interior thereof, and inspects whether or not the inspection object contains foreign objects.

X線検査は、X線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、X線検査部2(図2参照)によって実現される。X線検査では、被検査物とは異なるX線透過性を有する異物を検出することができる。一方、金属検出は、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、金属検出部3(図2参照)によって実現される。金属検出では金属異物を検出することができる。X線検査部2及び金属検出部3の詳細については後述する。   X-ray inspection is a technique for detecting foreign matter contained in an object to be inspected using X-ray transparency, and is realized by the X-ray inspection unit 2 (see FIG. 2). In the X-ray inspection, it is possible to detect a foreign substance having X-ray permeability different from that of the inspection object. On the other hand, metal detection is a technique for detecting a foreign substance contained in an inspection object using an interaction between a magnetic field and metal, and is realized by the metal detection unit 3 (see FIG. 2). In metal detection, a metal foreign object can be detected. Details of the X-ray inspection unit 2 and the metal detection unit 3 will be described later.

異物検査装置1は、その内部に空間が画成された筐体4を有する。筐体4は、X線検査部2及び金属検出部3を内部に収容する。筐体4は、X線検査部2により発生されるX線を遮蔽し、X線の外部漏洩を抑制する。筐体4は、例えばステンレスなどで形成される。   The foreign matter inspection apparatus 1 has a housing 4 in which a space is defined. The housing 4 accommodates the X-ray inspection unit 2 and the metal detection unit 3 therein. The housing 4 shields X-rays generated by the X-ray inspection unit 2 and suppresses external leakage of X-rays. The housing 4 is made of, for example, stainless steel.

筐体4は、本実施形態では箱状を呈している。筐体4の左側面には、筐体4の内部に連通する開口部4aが形成されている。同様に、筐体4の右側面には、筐体4の内部に連通する開口部4bが形成されている。本実施形態では、被検査物は、開口部4aから筐体4の内部へ搬入されて検査が行われ、開口部4bから筐体4の外部へ搬出される。つまり、開口部4aが被検査物の搬入口、開口部4bが被検査物の搬出口となる。   The housing 4 has a box shape in this embodiment. An opening 4 a that communicates with the inside of the housing 4 is formed on the left side surface of the housing 4. Similarly, an opening 4 b that communicates with the inside of the housing 4 is formed on the right side surface of the housing 4. In the present embodiment, the object to be inspected is carried into the inside of the housing 4 from the opening 4a and inspected, and is carried out of the housing 4 through the opening 4b. That is, the opening 4a serves as an inspection object carry-in port, and the opening 4b serves as an inspection object carry-out port.

筐体4の前面には、筐体4を開閉する上部扉40及び下部扉41が設けられている。上部扉40及び下部扉41は、例えば開き戸構造である。上部扉40又は下部扉41が開閉されることで、後述するX線検査部2及び金属検出部3の少なくとも一部が外部に露出される。上部扉40及び下部扉41は、例えばステンレスなどで形成される。   On the front surface of the housing 4, an upper door 40 and a lower door 41 that open and close the housing 4 are provided. The upper door 40 and the lower door 41 have a hinged door structure, for example. By opening or closing the upper door 40 or the lower door 41, at least a part of an X-ray inspection unit 2 and a metal detection unit 3 described later are exposed to the outside. The upper door 40 and the lower door 41 are made of, for example, stainless steel.

上部扉40の前面には、ディスプレイ5及び操作スイッチ6が設けられている。ディスプレイ5は、表示機能と入力機能を兼ね備えた表示装置であり、例えばタッチパネルである。ディスプレイ5は、X線検査及び金属検出の結果などを表示するとともに、金属検出及びX線検査に関する各種パラメータの設定を行う操作画面を表示する。操作スイッチ6は、X線検査部2及び金属検出部3の電源スイッチなどである。   A display 5 and operation switches 6 are provided on the front surface of the upper door 40. The display 5 is a display device having both a display function and an input function, and is, for example, a touch panel. The display 5 displays the result of X-ray inspection and metal detection, and also displays an operation screen for setting various parameters related to metal detection and X-ray inspection. The operation switch 6 is a power switch for the X-ray inspection unit 2 and the metal detection unit 3.

筐体4は、支持台7によって支持されている。筐体4の上面には、報知部8及びクーラー9が設けられている。報知部8は、異物混入や機器の作動状態を報知する。報知部8は、X線検査部2に対応する第1報知器81、及び金属検出部3に対応する第2報知器82を備えている。クーラー9は、筐体4の内部に冷気を送り、筐体4の内部に配置された機器の温度を調整する。   The housing 4 is supported by a support base 7. A notification unit 8 and a cooler 9 are provided on the upper surface of the housing 4. The notification unit 8 notifies of foreign matter contamination and the operating state of the device. The notification unit 8 includes a first notification device 81 corresponding to the X-ray inspection unit 2 and a second notification device 82 corresponding to the metal detection unit 3. The cooler 9 sends cool air to the inside of the housing 4 and adjusts the temperature of the devices arranged inside the housing 4.

図2は、図1に示される異物検査装置1の内部構成及び制御系を説明する概念図である。図2に示されるように、筐体4の内部は、後述するX線発生器の一部や構成要素の制御基板などが配置される基板室T1と、被検査物Sが搬入されて検査が行われる検査室T2とに区画されている。基板室T1は、上述したクーラー9によって温度調整されている。   FIG. 2 is a conceptual diagram illustrating the internal configuration and control system of the foreign matter inspection apparatus 1 shown in FIG. As shown in FIG. 2, the inside of the housing 4 is inspected with a substrate chamber T <b> 1 in which a part of an X-ray generator to be described later and a control board of a component are arranged, and an object S to be inspected. It is divided into the inspection room T2 to be performed. The temperature of the substrate chamber T1 is adjusted by the cooler 9 described above.

検査室T2には、被検査物Sを搬送するコンベヤ(搬送部)10が配置されている。コンベヤ10は、本実施形態ではローラ式のベルトコンベヤであり、一端部が開口部4aに位置し且つ他端部が開口部4bに位置した状態で、筐体4の内部を水平方向に延在している。つまり、筐体4は、コンベヤ10のうち一端部及び他端部を除く部分を内部に収容している。本実施形態のコンベヤ10は、開口部4aを介して被検査物Sを筐体4の内部に搬入し、開口部4bを介して被検査物Sを筐体4の外部に搬出する。   In the inspection room T2, a conveyor (conveying unit) 10 that conveys the inspection object S is disposed. The conveyor 10 is a roller belt conveyor in the present embodiment, and extends in the horizontal direction inside the housing 4 with one end located in the opening 4a and the other end located in the opening 4b. doing. That is, the housing | casing 4 has accommodated the part except the one end part and other end part among the conveyors 10 inside. The conveyor 10 according to the present embodiment carries the inspection object S into the housing 4 through the opening 4a and carries the inspection object S out of the housing 4 through the opening 4b.

開口部4aには、X線遮蔽カーテン42が配置されている。同様に、開口部4bには、X線遮蔽カーテン43が配置されている。X線遮蔽カーテン42,43は、上端が筐体4に対する固定端であり且つ下端が自由端である。X線遮蔽カーテン42,43は、X線検査部2が発生したX線を遮蔽し、X線の外部漏洩を抑制する。X線遮蔽カーテン42,43は、例えばタングステンを含有する可撓性材料などにより形成される。なお、被検査物Sの搬入及び搬出を自動化すべく、コンベヤ10の右側に搬入用コンベヤ11を配置し、コンベヤ10の左側に搬出用コンベヤ12を配置してもよい。また、搬出用コンベヤ12が、被検査物Sの振分機能を備えていてもよい。   An X-ray shielding curtain 42 is disposed in the opening 4a. Similarly, an X-ray shielding curtain 43 is disposed in the opening 4b. The X-ray shielding curtains 42 and 43 have upper ends that are fixed to the housing 4 and lower ends that are free ends. The X-ray shielding curtains 42 and 43 shield X-rays generated by the X-ray inspection unit 2 and suppress external leakage of X-rays. The X-ray shielding curtains 42 and 43 are made of, for example, a flexible material containing tungsten. In order to automate the loading and unloading of the inspection object S, the loading conveyor 11 may be disposed on the right side of the conveyor 10 and the unloading conveyor 12 may be disposed on the left side of the conveyor 10. Further, the carry-out conveyor 12 may have a function of distributing the inspection object S.

検査室T2には、被検査物Sを通過させるための貫通穴31aが形成された筒状のケース31が配置されている。コンベヤ10は、貫通穴31aを介してケース31を貫通している。被検査物Sは、コンベヤ10によってケース31の貫通穴31aを通過し、ケース31においてX線検査及び金属検出が順次実行される。ケース31は、例えばステンレスなどで形成される。   In the inspection room T2, a cylindrical case 31 having a through hole 31a for allowing the inspection object S to pass therethrough is disposed. The conveyor 10 penetrates the case 31 through the through hole 31a. The inspection object S passes through the through hole 31 a of the case 31 by the conveyor 10, and X-ray inspection and metal detection are sequentially performed in the case 31. The case 31 is made of, for example, stainless steel.

最初に、X線検査を行うX線検査部2について説明する。X線検査部2は、X線検査制御部20、X線発生器21、及びX線検出器22を備える。X線発生器21は、X線を発生するX線源、及びスリット機構を含む。X線検出器22は、X線発生器21で発生したX線を検出する。X線発生器21及びX線検出器22は、コンベヤ10及びケース31を上下方向から挟むように対向配置されている。なお、X線発生器21のうち、X線源などは基板室T1に配置され、X線を照射する機構が検査室T2に配置されている。X線検出器22としては、例えば複数のX線検出センサを前後方向に沿って並設したラインセンサが用いられる。X線検出器22は、X線漏洩を低減させるために、基板ケース23に収容されている。基板ケース23には、X線検出器22へX線を到達させるために、スリット23a(図4参照)が設けられている。   First, the X-ray inspection unit 2 that performs X-ray inspection will be described. The X-ray inspection unit 2 includes an X-ray inspection control unit 20, an X-ray generator 21, and an X-ray detector 22. The X-ray generator 21 includes an X-ray source that generates X-rays and a slit mechanism. The X-ray detector 22 detects X-rays generated by the X-ray generator 21. The X-ray generator 21 and the X-ray detector 22 are arranged so as to face each other so as to sandwich the conveyor 10 and the case 31 from above and below. In the X-ray generator 21, an X-ray source and the like are disposed in the substrate chamber T1, and a mechanism for irradiating X-rays is disposed in the examination chamber T2. As the X-ray detector 22, for example, a line sensor in which a plurality of X-ray detection sensors are arranged in parallel in the front-rear direction is used. The X-ray detector 22 is accommodated in the substrate case 23 in order to reduce X-ray leakage. The substrate case 23 is provided with a slit 23a (see FIG. 4) in order to allow X-rays to reach the X-ray detector 22.

X線検査制御部20は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースI/O、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたROM(Read Only Memory)、データを一時的に記憶するRAM(RandomAccess Memory)、HDD(Hard Disk Drive)などの記憶媒体、CPU(Central Processing Unit)、及び通信回路などを有する。X線検査制御部20は、CPUが出力する信号に基づいて、入力データをRAMに記憶し、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。   The X-ray inspection control unit 20 temporarily stores input / output interface I / O for inputting / outputting signals to / from the outside, a ROM (Read Only Memory) in which a program and information for performing processing, and the like are stored. It has a storage medium such as a RAM (Random Access Memory) and a HDD (Hard Disk Drive), a CPU (Central Processing Unit), a communication circuit, and the like. The X-ray inspection control unit 20 stores input data in the RAM based on a signal output from the CPU, loads a program stored in the ROM into the RAM, and executes the program loaded in the RAM. The functions described later are realized.

X線検査制御部20は、基板室T1に配置され、X線発生器21及びX線検出器22に接続されている。X線検査制御部20は、ディスプレイ5に接続され、操作画面を介して作業員から操作情報を受け付ける。X線検査制御部20は、操作情報に基づいてX線発生器21及びX線検出器22の動作プロファイルを設定するとともに、X線発生器21及びX線検出器22の動作を制御する。X線検査制御部20は、X線発生器21及びX線検出器22よりも上流側に配置されたレーザセンサ24を用いて被検査物Sを検出した場合、当該被検査物Sの検査を開始する。X線検査制御部20は、X線発生器21を制御して、コンベヤ10によって搬送されている被検査物SにX線を照射させる。X線検出器22は、被検査物Sを透過したX線のX線透過量を計測し、計測したX線透過量(検出結果)をX線検査制御部20へ出力する。   The X-ray inspection control unit 20 is disposed in the substrate chamber T <b> 1 and is connected to the X-ray generator 21 and the X-ray detector 22. The X-ray inspection control unit 20 is connected to the display 5 and receives operation information from an operator via an operation screen. The X-ray inspection control unit 20 sets operation profiles of the X-ray generator 21 and the X-ray detector 22 based on the operation information, and controls operations of the X-ray generator 21 and the X-ray detector 22. When the X-ray inspection control unit 20 detects the inspection object S using the laser sensor 24 disposed upstream of the X-ray generator 21 and the X-ray detector 22, the X-ray inspection control unit 20 inspects the inspection object S. Start. The X-ray inspection control unit 20 controls the X-ray generator 21 to irradiate the inspection object S being conveyed by the conveyor 10 with X-rays. The X-ray detector 22 measures the X-ray transmission amount of X-rays that have passed through the inspection object S, and outputs the measured X-ray transmission amount (detection result) to the X-ray inspection control unit 20.

X線検査制御部20は、時系列で取得したX線透過量を画素値に反映させたX線透過画像を生成する。そして、X線検査制御部20は、画像処理技術によりX線透過画像を解析して、異物を検出する。例えば、X線検査制御部20は、X線透過画像の画素値に基づいて、被検査物Sの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在するか否かを判定する。そして、X線検査制御部20は、被検査物Sの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在する場合には、異物を検出したと判定する。   The X-ray inspection control unit 20 generates an X-ray transmission image in which the X-ray transmission amount acquired in time series is reflected in the pixel value. Then, the X-ray inspection control unit 20 detects the foreign matter by analyzing the X-ray transmission image using an image processing technique. For example, the X-ray inspection control unit 20 determines whether there is an image region in which the difference from the reference transmittance of the inspection object S is a predetermined value or more based on the pixel value of the X-ray transmission image. The X-ray inspection control unit 20 determines that a foreign object has been detected when there is an image region in which the difference from the reference transmittance of the inspection object S is a predetermined value or more.

X線検査制御部20は、作業員からの要求に応じて、X線検査の結果データをディスプレイ5に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、X線検査制御部20は、X線発生器21及びX線検出器22が正常に作動している場合、第1報知器81を用いてX線検査に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、X線検査制御部20は、異物を検出したと判定した場合、第1報知器81を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。   The X-ray inspection control unit 20 displays the result data of the X-ray inspection on the display 5 or stores the result data in the storage unit in response to a request from the worker. Further, the X-ray inspection control unit 20 indicates that when the X-ray generator 21 and the X-ray detector 22 are operating normally, the device relating to the X-ray inspection is operating using the first alarm 81. To the workers. Further, when it is determined that a foreign object has been detected, the X-ray inspection control unit 20 notifies the worker that the foreign object has been detected using the first notification device 81.

図3は、図2のX線検査部2及び金属検出部3の主要構成の説明図である。図4は、図2のX線検査部2及び金属検出部3の主要構成の斜視図である。図3及び図4に示されるように、ケース31は、本体部32、第1フード部33、及び第2フード部34を有する。第1フード部33は、本体部32に対して開口部4a側(搬入口側)に設けられている。第2フード部34は、本体部32に対して開口部4b側(搬出口側)に設けられている。上述したケース31の貫通穴31aは、本体部32、第1フード部33、及び第2フード部34それぞれの内壁によって画成されている。   FIG. 3 is an explanatory diagram of the main components of the X-ray inspection unit 2 and the metal detection unit 3 of FIG. FIG. 4 is a perspective view of the main components of the X-ray inspection unit 2 and the metal detection unit 3 of FIG. As shown in FIGS. 3 and 4, the case 31 includes a main body portion 32, a first hood portion 33, and a second hood portion 34. The first hood portion 33 is provided on the opening 4 a side (loading side) with respect to the main body portion 32. The second hood part 34 is provided on the opening part 4 b side (the outlet side) with respect to the main body part 32. The through hole 31 a of the case 31 described above is defined by the inner walls of the main body portion 32, the first hood portion 33, and the second hood portion 34.

第1フード部33の上面には、X線を通過させるX線通過スリット33aがX線発生器21の下方に位置するように形成されている。第1フード部33の下面には、X線を通過させるX線通過スリット33bがX線通過スリット33aと対向するように形成されている。X線通過スリット33bの下方には、X線検出器22が配置される。このように構成することで、X線発生器21が発生したX線21aは、X線通過スリット33a,33bを通過し、ケース31の内部を搬送されている被検査物Sに照射される。なお、第1フード部33の側面において、X線通過スリット33a,33bよりも下流側(本体部32側)にはスリット33cが設けられている。スリット33cには、レーザセンサ38が配置される。レーザセンサ38は、スリット33cを介してコンベヤ10上の被検査物Sにレーザを照射する。   An X-ray passage slit 33 a that allows X-rays to pass is formed on the upper surface of the first hood portion 33 so as to be positioned below the X-ray generator 21. An X-ray passage slit 33b that allows X-rays to pass through is formed on the lower surface of the first hood portion 33 so as to face the X-ray passage slit 33a. The X-ray detector 22 is disposed below the X-ray passage slit 33b. With this configuration, the X-ray 21 a generated by the X-ray generator 21 passes through the X-ray passage slits 33 a and 33 b and is irradiated to the inspection object S being conveyed inside the case 31. In addition, on the side surface of the first hood portion 33, a slit 33c is provided on the downstream side (the main body portion 32 side) of the X-ray passage slits 33a and 33b. A laser sensor 38 is disposed in the slit 33c. The laser sensor 38 irradiates the inspection object S on the conveyor 10 with laser through the slit 33c.

次に、金属検出を行う金属検出部3について説明する。金属検出部3は、金属検出制御部30、サーチコイルである環状の送信コイル(磁界発生器)35、及びサーチコイルである環状の受信コイル(磁界変動検出器)36,37を備える。送信コイル35及び受信コイル36,37は、金属などの導電性材料で形成され、ケース31の本体部32の内部に配置されている。送信コイル35及び受信コイル36,37は、貫通穴31aの延在方向と同軸に配置されている。つまり、送信コイル35及び受信コイル36,37は、貫通穴31aを囲むように配置されている。これにより、被検査物Sは、コンベヤ10によって送信コイル35及び受信コイル36,37を通過する。   Next, the metal detection unit 3 that performs metal detection will be described. The metal detection unit 3 includes a metal detection control unit 30, an annular transmission coil (magnetic field generator) 35 that is a search coil, and annular reception coils (magnetic field fluctuation detectors) 36 and 37 that are search coils. The transmission coil 35 and the reception coils 36 and 37 are formed of a conductive material such as metal and are disposed inside the main body 32 of the case 31. The transmission coil 35 and the reception coils 36 and 37 are arranged coaxially with the extending direction of the through hole 31a. That is, the transmission coil 35 and the reception coils 36 and 37 are disposed so as to surround the through hole 31a. As a result, the inspection object S passes through the transmission coil 35 and the reception coils 36 and 37 by the conveyor 10.

送信コイル35は、受信コイル36,37間に配置されている。受信コイル36,37は、互いに差動接続されるとともに送信コイル35に対して対称に配置されている。2つの受信コイル36,37は、同一の鎖交磁束を有する。送信コイル35は、通電可能に構成されており、磁束を発生する。受信コイル36,37それぞれには、送信コイル35が発生した磁界の電磁誘導によって電圧が励起する。なお、第1フード部33及び第2フード部34は、送信コイル35が発生した磁界の外部漏洩と外来磁界の進入を遮蔽する。   The transmission coil 35 is disposed between the reception coils 36 and 37. The receiving coils 36 and 37 are differentially connected to each other and arranged symmetrically with respect to the transmitting coil 35. The two receiving coils 36 and 37 have the same flux linkage. The transmission coil 35 is configured to be energized and generates magnetic flux. A voltage is excited in each of the receiving coils 36 and 37 by electromagnetic induction of a magnetic field generated by the transmitting coil 35. The first hood portion 33 and the second hood portion 34 shield external leakage of the magnetic field generated by the transmission coil 35 and entry of an external magnetic field.

金属検出制御部30は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースI/O、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたROM、データを一時的に記憶するRAM、HDDなどの記憶媒体、CPU、及び通信回路などを有する。金属検出制御部30は、CPUが出力する信号に基づいて、入力データをRAMに記憶し、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。   The metal detection control unit 30 includes an input / output interface I / O for inputting / outputting signals from / to the outside, a ROM storing programs and information for processing, a RAM for temporarily storing data, an HDD, etc. Storage medium, CPU, and communication circuit. The metal detection control unit 30 stores input data in the RAM based on a signal output from the CPU, loads a program stored in the ROM into the RAM, and executes the program loaded into the RAM, which will be described later. Realize the function to do.

金属検出制御部30は、基板室T1に配置されるとともにX線検査制御部20に接続され、X線検査制御部20を介してディスプレイ5の操作画面に入力された作業員からの操作情報を受け付ける。金属検出制御部30は、操作情報に基づいて送信コイル35及び受信コイル36,37の動作プロファイルを設定する。金属検出制御部30は、送信コイル35及び受信コイル36,37よりも上流側に配置されたレーザセンサ38を用いて被検査物Sを検出した場合、当該被検査物Sの金属検出を開始する。   The metal detection control unit 30 is disposed in the substrate chamber T1 and connected to the X-ray inspection control unit 20, and receives operation information from the worker input to the operation screen of the display 5 via the X-ray inspection control unit 20. Accept. The metal detection control unit 30 sets operation profiles of the transmission coil 35 and the reception coils 36 and 37 based on the operation information. When the metal detection control unit 30 detects the inspection object S using the laser sensor 38 disposed on the upstream side of the transmission coil 35 and the reception coils 36 and 37, the metal detection control unit 30 starts metal detection of the inspection object S. .

金属検出制御部30は、送信コイル35へ交番励磁電流を供給し、磁束を発生させる。送信コイル35によって発生された磁束は、2つの受信コイル36,37を貫通し、電磁誘導によって受信コイル36,37それぞれに電圧が励起される。金属検出制御部30は、受信コイル36,37の差動接続の出力電圧(検出結果)を取得して、金属検出の判定を行う。金属検出制御部30は、差動接続の出力電圧が0のときは、金属異物を検出していないと判定する。一方、金属検出制御部30は、差動接続の出力電圧が0でないときは、金属異物を検出したと判定する。   The metal detection control unit 30 supplies an alternating excitation current to the transmission coil 35 to generate a magnetic flux. The magnetic flux generated by the transmission coil 35 passes through the two reception coils 36 and 37, and a voltage is excited in each of the reception coils 36 and 37 by electromagnetic induction. The metal detection control unit 30 acquires the differential connection output voltage (detection result) of the receiving coils 36 and 37, and determines metal detection. When the differential connection output voltage is 0, the metal detection control unit 30 determines that a metal foreign object is not detected. On the other hand, when the differential connection output voltage is not zero, the metal detection control unit 30 determines that a metal foreign object has been detected.

金属検出制御部30は、作業員からの要求に応じて、金属検出の結果データをディスプレイ5に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、金属検出制御部30は、送信コイル35及び受信コイル36,37が正常に作動している場合、第2報知器82を用いて金属検出に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、金属検出制御部30は、異物を検出したと判定した場合、第2報知器82を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。なお、ケース31は、耐振特性向上の目的で防振台39(防振台39a,39b)により保持されていてもよい。   The metal detection control unit 30 displays the metal detection result data on the display 5 or stores the result data in the storage unit in response to a request from the worker. In addition, when the transmission coil 35 and the reception coils 36 and 37 are operating normally, the metal detection control unit 30 informs the worker that the metal detection device is operating using the second alarm 82. Inform. Furthermore, when the metal detection control unit 30 determines that a foreign object has been detected, the metal detection control unit 30 notifies the worker that the foreign object has been detected using the second notification device 82. The case 31 may be held by a vibration isolation table 39 (anti-vibration tables 39a and 39b) for the purpose of improving the vibration resistance characteristics.

上述したX線検査部2及び金属検出部3は、それぞれ独立に作動可能に構成されている。つまり、異物検査装置1は、X線検査及び金属検出の両方を行うだけでなく、X線検査及び金属検出の何れか一方を実行することもできる。上述のとおり、本実施形態では、X線検査部2がディスプレイ5の表示制御を行うため、X線検査部2が停止している場合には、ディスプレイ5に金属検出部3の操作画面が表示されない。このため、筐体4の内部には、金属検出部3に接続されたサブディスプレイ(不図示)が配置されている。金属検出部3は、X線検査部2が停止している場合には、サブディスプレイを介して操作情報を受け付け、サブディスプレイに結果データなどを表示する。   The X-ray inspection unit 2 and the metal detection unit 3 described above are configured to be independently operable. That is, the foreign substance inspection apparatus 1 can perform not only both the X-ray inspection and the metal detection but also any one of the X-ray inspection and the metal detection. As described above, in the present embodiment, since the X-ray inspection unit 2 performs display control of the display 5, the operation screen of the metal detection unit 3 is displayed on the display 5 when the X-ray inspection unit 2 is stopped. Not. For this reason, a sub-display (not shown) connected to the metal detection unit 3 is disposed inside the housing 4. When the X-ray inspection unit 2 is stopped, the metal detection unit 3 receives operation information via the sub display and displays result data or the like on the sub display.

次に、クーラー9によって基板室T1内の機器の温度が調整される構成について説明する。本実施形態においてクーラー9は、基板室T1内の機器の温度の調整として、機器の冷却を行う。図5〜図7に示すように、基板室T1は、上部扉40、背面扉44、左側板45、右側板46、天板47、及び上下仕切り板48によって囲まれている。なお、図5は、上部扉40を開けた状態における筐体4の内部構成を示している。背面扉44は、異物検査装置1の背面(後面)に設けられた扉である。背面扉44は、例えば開き戸構造である。上下仕切り板48は、基板室T1と検査室T2とを仕切っている。背面扉44、左側板45、右側板46、天板47、及び上下仕切り板48は、上部扉40と同様に、例えばステンレスなどで形成される。   Next, a configuration in which the temperature of the equipment in the substrate chamber T1 is adjusted by the cooler 9 will be described. In the present embodiment, the cooler 9 cools the device as adjustment of the temperature of the device in the substrate chamber T1. As shown in FIGS. 5 to 7, the substrate chamber T <b> 1 is surrounded by the upper door 40, the rear door 44, the left side plate 45, the right side plate 46, the top plate 47, and the upper and lower partition plates 48. FIG. 5 shows the internal configuration of the housing 4 in a state where the upper door 40 is opened. The back door 44 is a door provided on the back surface (rear surface) of the foreign matter inspection apparatus 1. The back door 44 has a hinged door structure, for example. The upper and lower partition plates 48 partition the substrate chamber T1 and the inspection chamber T2. The rear door 44, the left side plate 45, the right side plate 46, the top plate 47, and the upper and lower partition plates 48 are formed of, for example, stainless steel like the upper door 40.

基板室T1内には、少なくとも、X線検査制御部20、X線発生器21、及び金属検出制御部30が配置されている。また、基板室T1内には、第1仕切り板(仕切り板)51、及び第2仕切り板52が配置されている。第1仕切り板51は、基板室T1を、X線検査制御部20及びX線発生器21が配置されるX線検査基板室Aと、金属検出制御部30が配置される金属検出基板室Bとに仕切る。第1仕切り板51は、天板47と上下仕切り板48とに亘って設けられている。第1仕切り板51の前側の端部と上部扉40の内側の面(内壁)との間には、前側隙間(隙間)S1が形成されている。第1仕切り板51の後ろ側の端部と背面扉44の内側の面(内壁)との間には後側隙間S2が形成されている。   In the substrate chamber T1, at least an X-ray inspection control unit 20, an X-ray generator 21, and a metal detection control unit 30 are arranged. A first partition plate (partition plate) 51 and a second partition plate 52 are disposed in the substrate chamber T1. The first partition plate 51 includes a substrate chamber T1, an X-ray inspection substrate chamber A in which the X-ray inspection control unit 20 and the X-ray generator 21 are disposed, and a metal detection substrate chamber B in which the metal detection control unit 30 is disposed. And partition. The first partition plate 51 is provided across the top plate 47 and the upper and lower partition plates 48. A front gap (gap) S <b> 1 is formed between the front end of the first partition plate 51 and the inner surface (inner wall) of the upper door 40. A rear gap S <b> 2 is formed between the rear end of the first partition plate 51 and the inner surface (inner wall) of the rear door 44.

第2仕切り板52は、X線検査基板室Aを、前側(上部扉40側)の空間であるX線前側基板室A1と、後ろ側(背面扉44側)の空間であるX線後側基板室A2とに仕切る。第2仕切り板52は、第1仕切り板51と左側板45とに亘って設けられている(図5参照)。第2仕切り板52の上端は、天板47の下面まで延びている。第2仕切り板52の下端と上下仕切り板48との間には下部隙間S3が形成されている。   The second partition plate 52 divides the X-ray inspection substrate chamber A into an X-ray front substrate chamber A1 that is a front side (upper door 40 side) space and an X-ray rear side that is a rear side (back door 44 side) space. Partition into substrate chamber A2. The second partition plate 52 is provided across the first partition plate 51 and the left side plate 45 (see FIG. 5). The upper end of the second partition plate 52 extends to the lower surface of the top plate 47. A lower gap S <b> 3 is formed between the lower end of the second partition plate 52 and the upper and lower partition plates 48.

クーラー9は、天板47の上部に設置されている。クーラー9は、基板室T1内に冷気を送る。すなわち、クーラー9は、少なくとも、X線検査制御部20、X線発生器21、及び金属検出制御部30に冷気を送り、これらを冷却する。なお、クーラー9は、基板室T1内から空気を取り込むと共に、取り込んだ空気を冷却して基板室T1内に送る冷気を生成する。このように、クーラー9は、基板室T1内で空気を循環させる、内気循環型のクーラーである。具体的には、クーラー9は、X線後側基板室A2内から空気を取り込み、取り込んだ空気を冷却して冷気を生成する。そして、クーラー9は、生成した冷気をX線後側基板室A2内に送る(図6参照)。なお、クーラー9は、天板47に設けられた図示しない開口部を介して、X線後側基板室A2内から空気を取り込む、及びX線後側基板室A2内へ冷気を送る。     The cooler 9 is installed on the top plate 47. The cooler 9 sends cold air into the substrate chamber T1. That is, the cooler 9 sends cool air to at least the X-ray inspection control unit 20, the X-ray generator 21, and the metal detection control unit 30 to cool them. The cooler 9 takes in air from the substrate chamber T1 and generates cool air that cools the taken-in air and sends it into the substrate chamber T1. Thus, the cooler 9 is an inside air circulation type cooler that circulates air in the substrate chamber T1. Specifically, the cooler 9 takes in air from the X-ray rear substrate chamber A2, cools the taken-in air, and generates cold air. Then, the cooler 9 sends the generated cold air into the X-ray rear substrate chamber A2 (see FIG. 6). The cooler 9 takes in air from the X-ray rear substrate chamber A2 and sends cold air into the X-ray rear substrate chamber A2 through an opening (not shown) provided in the top plate 47.

X線発生器21は、上下仕切り板48の上面において、X線後側基板室A2から下部隙間S3を通ってX線前側基板室A1へ向かう冷気の通り道に設置されている。X線検査制御部20は、X線前側基板室A1内に配置されている。また、X線検査制御部20は、第1仕切り板51におけるX線前側基板室A1側の側面に設置されている。金属検出制御部30は、第1仕切り板51における金属検出基板室B側の側面に設置されている。   The X-ray generator 21 is installed on the upper surface of the upper and lower partition plates 48 in a path of cool air from the X-ray rear substrate chamber A2 through the lower gap S3 toward the X-ray front substrate chamber A1. The X-ray inspection control unit 20 is disposed in the X-ray front substrate chamber A1. The X-ray inspection control unit 20 is installed on the side surface of the first partition plate 51 on the X-ray front substrate chamber A1 side. The metal detection control unit 30 is installed on the side surface of the first partition plate 51 on the metal detection substrate chamber B side.

クーラー9は、X線発生器21に向けてX線後側基板室A2内に冷気を送る。X線後側基板室A2から下部隙間S3を介してX線前側基板室A1へ向かう冷気によって、X線発生器21が冷却される。X線発生器21は、クーラー9から送られた冷気を取り込むファン、及びファンによって取り込まれた冷気をX線発生器21の発熱部に導くと共に発熱部を通過した冷気をX線前側基板室A1内に導く流路部を有していてもよい。   The cooler 9 sends cold air into the X-ray rear substrate chamber A2 toward the X-ray generator 21. The X-ray generator 21 is cooled by the cold air from the X-ray rear substrate chamber A2 toward the X-ray front substrate chamber A1 through the lower gap S3. The X-ray generator 21 takes in the cool air sent from the cooler 9, and guides the cool air taken in by the fan to the heat generating portion of the X-ray generator 21 and also passes the cold air that has passed through the heat generating portion to the X-ray front substrate chamber A1. You may have the flow-path part led in.

X線前側基板室A1内に送られた冷気によって、X線検査制御部20が冷却される。X線後側基板室A2内に送られた冷気は、第1仕切り板51の前側から前側隙間S1を通って金属検出基板室B内に送られる。金属検出基板室B内に送られた冷気によって、金属検出制御部30が冷却される。すなわち、前側隙間S1は、X線検査制御部20から金属検出制御部30へ向かって流れる冷気が通る。金属検出基板室B内に送られた冷気は、第1仕切り板51の後ろ側から後側隙間S2を通ってX線後側基板室A2に戻る。X線後側基板室A2に戻った冷気(空気)は、クーラー9によって取り込まれて冷却される。   The X-ray inspection control unit 20 is cooled by the cool air sent into the X-ray front substrate chamber A1. The cold air sent into the X-ray rear substrate chamber A2 is sent from the front side of the first partition plate 51 through the front gap S1 into the metal detection substrate chamber B. The metal detection control unit 30 is cooled by the cold air sent into the metal detection substrate chamber B. That is, the cold air flowing from the X-ray inspection control unit 20 toward the metal detection control unit 30 passes through the front gap S1. The cool air sent into the metal detection substrate chamber B returns from the rear side of the first partition plate 51 through the rear gap S2 to the X-ray rear substrate chamber A2. The cool air (air) returned to the X-ray rear substrate chamber A2 is taken in by the cooler 9 and cooled.

このように、クーラー9からX線後側基板室A2内に送られた冷気は、X線前側基板室A1、及び金属検出基板室Bの順でこれらの基板室を通った後、金属検出基板室Bから再びX線後側基板室A2内に戻る。X線発生器21、X線検査制御部20、及び金属検出制御部30は、冷気の流れ方向の上流側から下流側に向かって、X線発生器21、X線検査制御部20、及び金属検出制御部30の順に配置されている。   Thus, after the cool air sent from the cooler 9 into the X-ray rear substrate chamber A2 passes through these substrate chambers in the order of the X-ray front substrate chamber A1 and the metal detection substrate chamber B, the metal detection substrate The chamber B returns again to the X-ray rear substrate chamber A2. The X-ray generator 21, the X-ray inspection control unit 20, and the metal detection control unit 30 are the X-ray generator 21, the X-ray inspection control unit 20, and the metal from the upstream side to the downstream side in the cold air flow direction. The detection control units 30 are arranged in this order.

本実施形態は以上のように構成され、クーラー9は、筐体4の基板室T1内に備えられたX線発生器21、X線検査制御部20、及び金属検出制御部30に冷気を送る。これにより、X線発生器21、X線検査制御部20、及び金属検出制御部30が冷気によって冷却される。従って、X線検査部2と金属検出部3とを一つの筐体4内に収容した場合であっても、X線発生器21で生じた熱が、X線検査部2のX線検査制御部20及び金属検出部3の金属検出制御部30に影響を与えることを抑制できる。   The present embodiment is configured as described above, and the cooler 9 sends cold air to the X-ray generator 21, the X-ray inspection control unit 20, and the metal detection control unit 30 provided in the substrate chamber T <b> 1 of the housing 4. . Thereby, the X-ray generator 21, the X-ray inspection control unit 20, and the metal detection control unit 30 are cooled by cold air. Accordingly, even when the X-ray inspection unit 2 and the metal detection unit 3 are accommodated in one housing 4, the heat generated by the X-ray generator 21 is controlled by the X-ray inspection control of the X-ray inspection unit 2. It can suppress affecting the metal detection control part 30 of the part 20 and the metal detection part 3. FIG.

異物検査装置1には、クーラー9から送り出された冷気の流れ方向の上流側から下流側に向かって順に、X線発生器21、X線検査制御部20、及び金属検出制御部30が配置されている。これにより、高温となるX線発生器21を、最も冷えた冷気によって効率よく冷却することができる。   In the foreign substance inspection apparatus 1, an X-ray generator 21, an X-ray inspection control unit 20, and a metal detection control unit 30 are arranged in order from the upstream side to the downstream side in the flow direction of the cold air sent out from the cooler 9. ing. Thereby, the X-ray generator 21 which becomes high temperature can be efficiently cooled by the coldest air.

基板室T1内には、X線発生器21及びX線検査制御部20が設けられた側のX線検査基板室Aと、金属検出制御部30が設けられた側の金属検出基板室Bとを仕切る第1仕切り板51が設けられている。第1仕切り板51の前側の端部と上部扉40との間には前側隙間S1が設けられている。このように、第1仕切り板51を設けることによって、X線発生器21で生じた熱が金属検出制御部30に直接影響を及ぼすことを抑制しつつ、前側隙間S1を介して金属検出制御部30に冷気を導くことができる。   In the substrate chamber T1, an X-ray inspection substrate chamber A on the side where the X-ray generator 21 and the X-ray inspection control unit 20 are provided, and a metal detection substrate chamber B on the side where the metal detection control unit 30 is provided The 1st partition plate 51 which partitions off is provided. A front gap S <b> 1 is provided between the front end of the first partition plate 51 and the upper door 40. Thus, by providing the 1st partition plate 51, suppressing that the heat which generate | occur | produced with the X-ray generator 21 has direct influence on the metal detection control part 30, metal detection control part via the front side clearance S1. Cold air can be led to 30.

クーラー9は、内気循環型のクーラーである。これにより、基板室T1外から基板室T1内に異物が入り込むことを抑制しつつ、冷気によってX線発生器21などを冷却することができる。   The cooler 9 is an inside air circulation type cooler. As a result, the X-ray generator 21 and the like can be cooled by cold air while suppressing foreign matter from entering the substrate chamber T1 from outside the substrate chamber T1.

以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。   Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment.

基板室T1内には、X線発生器21、X線検査制御部20、及び金属検出制御部30以外の他の基板又は機器などが収容されていてもよい。クーラー9は、基板室T1内に収容された他の基板又は機器なども、X線発生器21、X線検査制御部20、及び金属検出制御部30と共に冷却してもよい。   Other substrates or devices other than the X-ray generator 21, the X-ray inspection control unit 20, and the metal detection control unit 30 may be accommodated in the substrate chamber T1. The cooler 9 may also cool other substrates or devices accommodated in the substrate chamber T <b> 1 together with the X-ray generator 21, the X-ray inspection control unit 20, and the metal detection control unit 30.

クーラー9からの冷気の流れ方向の上流側から下流側に向かって順に、X線発生器21、X線検査制御部20、及び金属検出制御部30が配置されていることに限定されない。第1仕切り板51の前側の端部と上部扉40との間の前側隙間S1は、設けられていなくてもよい。前側隙間S1を設けない場合、例えば、第1仕切り板51に開口部を設け、開口部を介してX線前側基板室A1側から金属検出基板室B側に冷気を送ってもよい。   The X-ray generator 21, the X-ray inspection control unit 20, and the metal detection control unit 30 are not limited to be disposed in order from the upstream side to the downstream side in the flow direction of the cool air from the cooler 9. The front clearance S1 between the front end of the first partition plate 51 and the upper door 40 may not be provided. In the case where the front gap S1 is not provided, for example, an opening may be provided in the first partition plate 51, and cold air may be sent from the X-ray front substrate chamber A1 side to the metal detection substrate chamber B side through the opening.

第2仕切り板52を設けることは必須ではない。また、第1仕切り板51を設けることも必須ではない。   It is not essential to provide the second partition plate 52. Further, it is not essential to provide the first partition plate 51.

また、上述した実施形態では、被検査物Sを開口部4aから開口部4bへ搬送する例を示したが、搬送方向を逆にしてもよい。この場合、レーザセンサ24を開口部4bと第2フード部34との間に配置し、第2フード部34の側面にスリットを設けてレーザセンサ38を配置すればよい。   In the above-described embodiment, the example in which the inspection object S is transported from the opening 4a to the opening 4b has been described. However, the transport direction may be reversed. In this case, the laser sensor 24 may be disposed between the opening 4b and the second hood portion 34, and a slit may be provided on the side surface of the second hood portion 34.

また、上述した実施形態では、筐体4の内部にコンベヤ10の一部を配置する例を説明したが、コンベヤ10はその全てが筐体4の内部に収容されていてもよい。   Moreover, although embodiment mentioned above demonstrated the example which arrange | positions a part of conveyor 10 inside the housing | casing 4, all the conveyor 10 may be accommodated in the inside of the housing | casing 4. FIG.

1…異物検査装置、2…X線検査部、3…金属検出部、4…筐体、9…クーラー、10…コンベヤ(搬送部)、20…X線検査制御部、21…X線発生器、22…X線検出器、30…金属検出制御部、35…送信コイル(磁界発生器)、36,37…受信コイル(磁界変動検出器)、51…第1仕切り板(仕切り板)、S1…前側隙間(隙間)、S…被検査物。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Foreign substance inspection apparatus, 2 ... X-ray inspection part, 3 ... Metal detection part, 4 ... Case, 9 ... Cooler, 10 ... Conveyor (conveyance part), 20 ... X-ray inspection control part, 21 ... X-ray generator 22 ... X-ray detector, 30 ... metal detection controller, 35 ... transmitting coil (magnetic field generator), 36, 37 ... receiving coil (magnetic field fluctuation detector), 51 ... first partition plate (partition plate), S1 ... front gap (gap), S ... inspection object.

Claims (4)

被検査物を搬送する搬送部と、
X線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、
磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、
前記搬送部の少なくとも一部、前記X線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容する筐体と、
前記筐体内に冷気を送るクーラーと、
を備え、
前記X線検査部は、
前記X線を発生させるX線発生器と、
前記X線発生器で発生した前記X線を検出するX線検出器と、
前記X線発生器を制御すると共に、前記X線検出器の検出結果を取得して前記異物を検出するX線検査制御部と、
を備え、
前記金属検出部は、
磁界を発生させる磁界発生器と、
前記磁界発生器で生じた前記磁界の変動を検出する磁界変動検出器と、
前記磁界発生器を制御すると共に、前記磁界変動検出器の検出結果を取得して前記異物を検出する金属検出制御部と、
を備え、
前記クーラーは、少なくとも、前記X線発生器、前記X線検査制御部、及び前記金属検出制御部に前記冷気を送る、異物検査装置。
A transport unit for transporting an object to be inspected;
An X-ray inspection unit that detects foreign matter contained in the inspection object being transported by the transport unit, utilizing X-ray transparency;
Utilizing the interaction between the magnetic field and the metal, a metal detection unit that detects foreign matter contained in the inspection object being conveyed by the conveyance unit;
A housing that houses at least a part of the transport unit, the X-ray inspection unit, and the metal detection unit;
A cooler for sending cool air into the housing;
With
The X-ray inspection unit
An X-ray generator for generating the X-ray;
An X-ray detector for detecting the X-rays generated by the X-ray generator;
An X-ray inspection control unit that controls the X-ray generator and acquires the detection result of the X-ray detector to detect the foreign matter;
With
The metal detector is
A magnetic field generator for generating a magnetic field;
A magnetic field fluctuation detector for detecting fluctuations of the magnetic field generated by the magnetic field generator;
A metal detection control unit that controls the magnetic field generator and detects the foreign matter by obtaining a detection result of the magnetic field fluctuation detector;
With
The foreign matter inspection apparatus, wherein the cooler sends the cold air to at least the X-ray generator, the X-ray inspection control unit, and the metal detection control unit.
前記冷気の流れ方向の上流側から下流側に向かって順に、前記X線発生器、前記X線検査制御部、及び前記金属検出制御部が配置されている、請求項1に記載の異物検査装置。   The foreign matter inspection apparatus according to claim 1, wherein the X-ray generator, the X-ray inspection control unit, and the metal detection control unit are arranged in order from the upstream side to the downstream side in the flow direction of the cold air. . 前記筐体内において、前記X線発生器及び前記X線検査制御部が設けられた側の領域と、前記金属検出制御部が設けられた側の領域とを仕切る仕切り板を更に備え、
前記仕切り板は、前記仕切り板の端部と前記筐体の内壁との間に隙間が設けられるように前記筐体内に配置され、
前記隙間を、前記X線検査制御部から前記金属検出制御部へ向かって流れる前記冷気が通る、請求項2に記載の異物検査装置。
In the housing, further comprising a partition plate for partitioning the region on the side where the X-ray generator and the X-ray inspection control unit are provided and the region on the side where the metal detection control unit is provided,
The partition plate is disposed in the housing such that a gap is provided between an end of the partition plate and the inner wall of the housing.
The foreign matter inspection apparatus according to claim 2, wherein the cold air flowing from the X-ray inspection control unit toward the metal detection control unit passes through the gap.
前記クーラーは、前記筐体内から空気を取り込むと共に、取り込んだ空気を冷却して前記筐体内に送る前記冷気を生成する、請求項1から3のいずれか一項に記載の異物検査装置。   4. The foreign matter inspection apparatus according to claim 1, wherein the cooler takes in air from the inside of the casing and generates the cold air that cools the taken-in air and sends the air into the casing. 5.
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