JP2017058419A - Optical scanning device and endoscope - Google Patents

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Kenichi Okishima
顕一 沖島
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical scanning device which is not negatively affected by reduction in mechanical strength of a mirror surface caused by recesses evenly distributed on a back surface of a mirror.SOLUTION: An optical scanning device has a first beam extending in a first direction and a first reflective part coupled with one end of the first beam and configured to be rotatable about the first beam. The first reflective part has a reflective surface for reflecting light and a back surface on a side opposite the reflective surface, and recesses formed by selectively removing portions of the back surface, and is configured such that volume of the recesses gradually increases from a first axis of the first reflective part, extending in the first direction through the first beam, toward edges of the first reflective part that are farthest from the first axis.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、光走査装置および内視鏡に関する。   The present invention relates to an optical scanning device and an endoscope.

MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)の一つとして、反射面を有する光走査装置が知られている。従来、反射面に貫通孔を設けていた(例えば、特許文献1および2参照)。また、従来、反射面の裏面に、正四角錐の凹部を格子状に一様に配置していた(例えば、特許文献3参照)。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1] 特開2006−321017号公報
[特許文献2] 特開2009−213068号公報
[特許文献3] 特開2011−064964号公報
As one of MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), an optical scanning device having a reflecting surface is known. Conventionally, a through hole has been provided in a reflective surface (see, for example, Patent Documents 1 and 2). Conventionally, regular quadrangular pyramid recesses are uniformly arranged in a lattice pattern on the back surface of the reflecting surface (see, for example, Patent Document 3).
[Prior art documents]
[Patent Literature]
[Patent Document 1] JP-A-2006-321017 [Patent Document 2] JP-A 2009-213068 [Patent Document 3] JP-A-2011-064964

反射面に貫通孔を有する場合には、貫通孔により迷光が生じるので問題となる。また、反射面の裏面に一様に凹部を設ける場合には、回転動作する光走査装置の機械的強度が低下するので問題となる。   When the reflective surface has a through hole, a problem arises because stray light is generated by the through hole. In addition, when the concave portions are provided uniformly on the back surface of the reflecting surface, there is a problem because the mechanical strength of the optical scanning device that rotates is lowered.

(発明の一般的開示)光走査装置は、第1方向に延伸する第1の梁部と、第1の梁部の一端に接続され、第1の梁部を回転軸として回転することができる第1の反射部とを備える。第1の反射部は、光を反射する反射面と、反射面の反対側に位置する裏面と、裏面の一部が選択的に除去された凹部とを有してよい。第1の梁部を通過して第1方向に伸びる第1の反射部の第1の軸部から、第1の軸部から最も離れた第1の反射部の端部にかけて、凹部の体積が増加してよい。   (General Disclosure of Invention) An optical scanning device is connected to a first beam portion extending in a first direction and one end of the first beam portion, and can rotate around the first beam portion as a rotation axis. A first reflection unit. The first reflection unit may include a reflection surface that reflects light, a back surface that is located on the opposite side of the reflection surface, and a concave portion in which a part of the back surface is selectively removed. The volume of the concave portion extends from the first shaft portion of the first reflecting portion that passes through the first beam portion and extends in the first direction to the end portion of the first reflecting portion that is farthest from the first shaft portion. May increase.

凹部は予め定められた深さを有する複数の孔を有してよい。複数の孔の数は、第1の軸部から第1の反射部の端部にかけて増加してよい。   The recess may have a plurality of holes having a predetermined depth. The number of the plurality of holes may increase from the first shaft portion to the end portion of the first reflecting portion.

複数の孔は、第1の軸部に対して対称に配置されてよい。   The plurality of holes may be arranged symmetrically with respect to the first shaft portion.

複数の孔は、第1の軸部から第1の反射部の端部にかけて、第1方向における密度が増加してよい。   The plurality of holes may increase in density in the first direction from the first shaft portion to the end of the first reflecting portion.

複数の孔の各々は、等しい体積を有してよい。複数の孔の各々は、第1方向および第1方向に直交する第2方向において、予め定められたピッチで設けられていてよい。   Each of the plurality of holes may have an equal volume. Each of the plurality of holes may be provided at a predetermined pitch in the first direction and the second direction orthogonal to the first direction.

複数の孔の各々は、円柱および角柱のいずれかであってよい。   Each of the plurality of holes may be a cylinder or a prism.

複数の孔の各々は、第1の反射部の反射面にまで貫通していなくてよい。   Each of the plurality of holes may not penetrate through to the reflection surface of the first reflection unit.

複数の孔は、第1の軸部には設けられていなくてよい。   The plurality of holes may not be provided in the first shaft portion.

複数の孔は、第1の孔と、第2の孔と、第3の孔とを有してよい。第1の孔は、第1の反射部を回転振動させる駆動部に対応する位置に設けられてよい。第2の孔は、第1の反射部の回転角を検出する検出部に対応する位置に設けられてよい。第3の孔は、駆動部と検出部との容量結合を防ぐシールド部に対応する位置に設けられてよい。第1の孔の体積は、第2の孔の体積よりも小さくてよい。第2の孔の体積は、第3の孔の体積よりも小さくてよい。   The plurality of holes may include a first hole, a second hole, and a third hole. The first hole may be provided at a position corresponding to a driving unit that rotates and vibrates the first reflecting unit. The second hole may be provided at a position corresponding to a detection unit that detects the rotation angle of the first reflection unit. The third hole may be provided at a position corresponding to the shield part that prevents capacitive coupling between the drive part and the detection part. The volume of the first hole may be smaller than the volume of the second hole. The volume of the second hole may be smaller than the volume of the third hole.

凹部は、第1の軸部から第1の反射部の端部にかけて連続的に体積が増加してよい。   The concave portion may continuously increase in volume from the first shaft portion to the end portion of the first reflecting portion.

光走査装置は、第2の梁部と、吊枠部とをさらに備えてよい。第2の梁部は、第1方向に直交する第2方向に延伸してよい。吊枠部は、第1の梁部の他端および第2の梁部の一端に接続されてよい。吊枠部は、第2の梁部を回転軸として回転することができてよい。第2の梁部を通過して第2方向に伸びる第1の反射部の第2の軸部から、第2方向と平行である第1の反射部の端部にかけて、凹部の体積が増加してよい。   The optical scanning device may further include a second beam portion and a hanging frame portion. The second beam portion may extend in a second direction orthogonal to the first direction. The hanging frame portion may be connected to the other end of the first beam portion and one end of the second beam portion. The hanging frame portion may be able to rotate about the second beam portion as a rotation axis. The volume of the recess increases from the second shaft portion of the first reflecting portion that extends in the second direction through the second beam portion to the end portion of the first reflecting portion that is parallel to the second direction. It's okay.

内視鏡は、上述の光走査装置を搭載してよい。   The endoscope may be equipped with the above-described optical scanning device.

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。   It should be noted that the above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention. In addition, a sub-combination of these feature groups can also be an invention.

内視鏡システム400の概要を示す図である。1 is a diagram showing an outline of an endoscope system 400. FIG. 光走査装置200のY‐Z断面を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a YZ section of the optical scanning device 200. 第1実施例におけるXスキャナ20およびYスキャナ120の上面図である。It is a top view of X scanner 20 and Y scanner 120 in the 1st example. Xスキャナ20の裏面34を示す図である。2 is a view showing a back surface 34 of the X scanner 20. FIG. 図4のA‐A'断面を示す図である。It is a figure which shows the AA 'cross section of FIG. 回転角の検出を説明する図である。It is a figure explaining the detection of a rotation angle. 第1変形例における、(A)Xスキャナ20の裏面34、および、(B)B−B'断面を示す図である。It is a figure which shows the back surface 34 of (A) X scanner 20, and (B) BB 'cross section in a 1st modification. 第2変形例における、Xスキャナ20の裏面34を示す図である。It is a figure which shows the back surface 34 of the X scanner 20 in a 2nd modification. 第3変形例における、Xスキャナ20の裏面34を示す図である。It is a figure which shows the back surface 34 of the X scanner 20 in a 3rd modification. 第2実施例における、Xスキャナ20の裏面34を示す図である。It is a figure which shows the back surface 34 of the X scanner 20 in 2nd Example. 第3実施例における、(A)Xスキャナ20の裏面34、および、(B)C−C'断面を示す図である。It is a figure which shows the back surface 34 of (A) X scanner 20, and (B) CC 'cross section in 3rd Example. 第4実施例における、二軸スキャナ80の上面図である。It is a top view of the biaxial scanner 80 in 4th Example. 二軸スキャナ80の裏面94を示す図である。It is a figure which shows the back surface 94 of the biaxial scanner 80. FIG.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。   Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention, but the following embodiments do not limit the invention according to the claims. In addition, not all the combinations of features described in the embodiments are essential for the solving means of the invention.

図1は、内視鏡システム400の概要を示す図である。本例の内視鏡システム400は、内視鏡300、レーザ光源310、ダイクロイックミラー320、光検出部330、AD変換部340、画像処理部350および表示部360を有する。なお、本例は、内視鏡システム400の例示的構成であり、内視鏡システム400はここに示す以外の構成を有してもよい。   FIG. 1 is a diagram showing an outline of an endoscope system 400. The endoscope system 400 of this example includes an endoscope 300, a laser light source 310, a dichroic mirror 320, a light detection unit 330, an AD conversion unit 340, an image processing unit 350, and a display unit 360. In addition, this example is an exemplary configuration of the endoscope system 400, and the endoscope system 400 may have a configuration other than that shown here.

内視鏡300は、非走査型光学装置210、鉗子口220、ライト230およびノズル240を有する。光走査装置200は、鉗子口220に挿入されて使用されるものであり、内視鏡300とは別の装置である。光走査装置200は、内視鏡300に搭載されてよい。光走査装置200については図2以降において詳述する。光走査装置200は、対象物500の焦点面510(X‐Y平面)において光を走査することができる。非走査型光学装置210は、X‐Y平面において光を走査できない通常型の光学装置である。   The endoscope 300 includes a non-scanning optical device 210, a forceps port 220, a light 230, and a nozzle 240. The optical scanning device 200 is used by being inserted into the forceps port 220 and is a device different from the endoscope 300. The optical scanning device 200 may be mounted on the endoscope 300. The optical scanning device 200 will be described in detail in FIG. The optical scanning device 200 can scan light on the focal plane 510 (XY plane) of the object 500. The non-scanning optical device 210 is a normal optical device that cannot scan light in the XY plane.

対象物500は、人間または他の動物の体内の一部であってよい。鉗子口220は、対象物500の一部を切除する鉗子が出入りすることができる開口である。ライト230は、対象物500を照らすために用いられてよい。ノズル240は、送水または送風の機能を有する。ノズル240は機能の数に応じて複数設けてもよい。   The object 500 may be a part of a human or other animal body. The forceps port 220 is an opening through which forceps for excising a part of the object 500 can enter and exit. The light 230 may be used to illuminate the object 500. The nozzle 240 has a function of supplying water or blowing air. A plurality of nozzles 240 may be provided according to the number of functions.

レーザ光源310は、光走査装置200の光源となる光を発生する。レーザ光源310は、488nmのレーザ光312を出力してよい。レーザ光源310の出力は、1000mW未満であってよい。   The laser light source 310 generates light that serves as the light source of the optical scanning device 200. The laser light source 310 may output 488 nm laser light 312. The output of the laser light source 310 may be less than 1000 mW.

ダイクロイックミラー320は、レーザ光312を反射する機能を有する。反射されたレーザ光312は、光走査装置200の光ファイバ19に入射し、光走査装置200を経て対象物500に入射する。   The dichroic mirror 320 has a function of reflecting the laser light 312. The reflected laser beam 312 enters the optical fiber 19 of the optical scanning device 200, and enters the object 500 through the optical scanning device 200.

対象物500は、レーザ光312を吸収して蛍光314を放出する。対象物500は、青色帯域(波長換算で435nm〜500nm程度)のレーザ光312を吸収して緑色帯域(波長換算で500nm〜560nm程度)の蛍光314を放出する、蛍光材料を有してよい。当該状況は、人間または他の動物の体内に蛍光材料を導入することにより実現することができる。   The object 500 absorbs the laser light 312 and emits fluorescence 314. The object 500 may include a fluorescent material that absorbs the laser light 312 in the blue band (about 435 nm to 500 nm in terms of wavelength) and emits the fluorescence 314 in the green band (about 500 nm to 560 nm in terms of wavelength). This situation can be realized by introducing a fluorescent material into the body of a human or other animal.

対象物500が放出した蛍光314は、光走査装置200、光ファイバ19およびダイクロイックミラー320を経て、光検出部330に入射する。なお、本例のダイクロイックミラー320は、蛍光314を透過する機能を有する。   The fluorescence 314 emitted from the object 500 enters the light detection unit 330 through the optical scanning device 200, the optical fiber 19, and the dichroic mirror 320. Note that the dichroic mirror 320 of this example has a function of transmitting the fluorescence 314.

光検出部330は、対象物500からの蛍光を検知する。光検出部330は、フォトダイオード等の光電変換装置を有してよい。光検出部330は、蛍光314の強度に応じて電荷を生成する。例えば、蛍光314の強度が強い程より多くの電荷を生成する。   The light detection unit 330 detects fluorescence from the object 500. The light detection unit 330 may include a photoelectric conversion device such as a photodiode. The light detection unit 330 generates an electric charge according to the intensity of the fluorescence 314. For example, the higher the intensity of the fluorescence 314, the more charges are generated.

AD変換部340は、アナログ情報である電荷の量をデジタル信号に変換する、アナログ・デジタルコンバータを有する。AD変換部340はデジタル信号を画像処理部350に出力し、画像処理部350はデジタル信号に基づいて画像を生成する。本例の画像処理部350はデジタル信号からリサージュ走査画像を生成し、表示部360はリサージュ走査画像を表示する。ユーザは、リサージュ走査画像により対象物500の焦点面510を視認することができる。   The AD conversion unit 340 includes an analog / digital converter that converts the amount of charge, which is analog information, into a digital signal. The AD conversion unit 340 outputs a digital signal to the image processing unit 350, and the image processing unit 350 generates an image based on the digital signal. In this example, the image processing unit 350 generates a Lissajous scan image from the digital signal, and the display unit 360 displays the Lissajous scan image. The user can visually recognize the focal plane 510 of the object 500 from the Lissajous scanning image.

図2は、光走査装置200のY‐Z断面を示す図である。なお、図2では蛍光314の記載を省略している。光走査装置200は、管10、フランジ12、対物レンズ16、コリメートレンズ17、スキャナユニット100、配線基板106を有する。   FIG. 2 is a diagram illustrating a YZ cross section of the optical scanning device 200. In FIG. 2, the description of the fluorescence 314 is omitted. The optical scanning device 200 includes a tube 10, a flange 12, an objective lens 16, a collimating lens 17, a scanner unit 100, and a wiring board 106.

本明細書において、第1方向としてのZ方向は、対物レンズ16の光軸方向と平行な方向である。第2方向としてのX方向および第3方向としてのY方向は、ともにZ方向に垂直な方向である。X方向およびY方向も互いに垂直である。X方向、Y方向およびZ方向は、いわゆる右手系を成す。各方向は、構成要素の相対位置を特定するに過ぎず、特定の方向を限定するものではない。例えば、Z方向は地面に対する高さ方向を限定して示すものではない。なお、+Z方向と−Z方向とは互いに逆向きの方向である。正負を記載せず、単にZ方向と記載した場合、+Z方向および−Z方向に平行な方向を意味する。なお、本例では、スキャナユニット内のSOI(Silicon On Insulator)基板104がX‐Z平面にあるとして説明する。   In this specification, the Z direction as the first direction is a direction parallel to the optical axis direction of the objective lens 16. The X direction as the second direction and the Y direction as the third direction are both directions perpendicular to the Z direction. The X direction and the Y direction are also perpendicular to each other. The X direction, the Y direction, and the Z direction form a so-called right-handed system. Each direction only specifies the relative position of the component, and does not limit the specific direction. For example, the Z direction does not limit the height direction with respect to the ground. The + Z direction and the −Z direction are directions opposite to each other. When the positive and negative are not described and the Z direction is simply described, it means a direction parallel to the + Z direction and the −Z direction. In this example, it is assumed that the SOI (Silicon On Insulator) substrate 104 in the scanner unit is on the XZ plane.

管10は、Z方向に延伸する管である。管10のZ方向の長さは、人間または他の動物の体内を曲がりながら移動できる長さであってよい。管10のZ方向の長さは、10mm〜20mmであってよい。また、管10の外径は3.0mmであってよい。   The tube 10 is a tube extending in the Z direction. The length of the tube 10 in the Z direction may be a length that can move while bending in the body of a human or other animal. The length of the tube 10 in the Z direction may be 10 mm to 20 mm. Further, the outer diameter of the tube 10 may be 3.0 mm.

配線基板106は、管10内部に設けられる。本例の配線基板106上には、レンズホルダ14、スキャナユニット100、レンズホルダ18および複数のICチップ108が載置される。なお、本明細書において、+Y方向を便宜的に「上」または「上方」とし、−Y方向を便宜的に「下」または「下方」と称する。   The wiring board 106 is provided inside the tube 10. On the wiring substrate 106 of this example, the lens holder 14, the scanner unit 100, the lens holder 18, and a plurality of IC chips 108 are placed. In this specification, the + Y direction is referred to as “up” or “upward” for convenience, and the −Y direction is referred to as “down” or “downward” for convenience.

レンズホルダ14には、対物レンズ16が固定して設けられる。対物レンズ16は、スキャナユニット100から出射されたレーザ光312を焦点面510に集光する。   An objective lens 16 is fixedly provided on the lens holder 14. The objective lens 16 focuses the laser beam 312 emitted from the scanner unit 100 on the focal plane 510.

スキャナユニット100は、配線基板106上に載置される。スキャナユニット100は、固定鏡102およびSOI基板104を有する。固定鏡102は複数の反射面を有する。本例の固定鏡102は3つの反射面を有する。   The scanner unit 100 is placed on the wiring board 106. The scanner unit 100 includes a fixed mirror 102 and an SOI substrate 104. The fixed mirror 102 has a plurality of reflecting surfaces. The fixed mirror 102 of this example has three reflecting surfaces.

SOI基板104は、Xスキャナ20およびYスキャナ120を有する。Xスキャナ20およびYスキャナ120は、既知のエッチング手法を適用してSOI基板104の活性層をパターニングすることにより形成してよい。コリメートレンズ17から入射した光は固定鏡102の反射面とXスキャナ20およびYスキャナ120との間で反射され、最終的に対物レンズ16から出射される。   The SOI substrate 104 has an X scanner 20 and a Y scanner 120. The X scanner 20 and the Y scanner 120 may be formed by patterning the active layer of the SOI substrate 104 by applying a known etching technique. The light incident from the collimating lens 17 is reflected between the reflecting surface of the fixed mirror 102 and the X scanner 20 and the Y scanner 120 and finally emitted from the objective lens 16.

Xスキャナ20およびYスキャナ120は、各々回転振動することができる。Xスキャナ20およびYスキャナ120は、回転振動しながらレーザ光312を反射する。これにより、スキャナユニット100は、焦点面510においてレーザ光312をX方向およびY方向に走査することができる。   Each of the X scanner 20 and the Y scanner 120 can rotate and vibrate. The X scanner 20 and the Y scanner 120 reflect the laser light 312 while rotating and vibrating. Thereby, the scanner unit 100 can scan the laser beam 312 in the X direction and the Y direction on the focal plane 510.

レンズホルダ18には、コリメートレンズ17が固定して設けられる。コリメートレンズ17は、光ファイバ19から出射されたレーザ光312を平行光にする。フランジ12は光ファイバ19を固定する。これにより、光ファイバ19の断面中心とコリメートレンズ17および対物レンズ16の光軸とを一致させることができる。   A collimating lens 17 is fixedly provided on the lens holder 18. The collimating lens 17 converts the laser light 312 emitted from the optical fiber 19 into parallel light. The flange 12 fixes the optical fiber 19. Thereby, the cross-sectional center of the optical fiber 19 and the optical axes of the collimating lens 17 and the objective lens 16 can be matched.

ICチップ108は、反射部の回転角度を検知する角度検知機能、ノイズ除去機能およびオペアンプ機能を有してよい。スキャナユニット100とICチップ108とを共に配線基板106上に載置することにより、両者を物理的に近接して配置することができる。これにより、ノイズに埋もれやすい微小電圧信号をより正確に捉えることができる。   The IC chip 108 may have an angle detection function for detecting the rotation angle of the reflection unit, a noise removal function, and an operational amplifier function. By placing both the scanner unit 100 and the IC chip 108 on the wiring board 106, they can be placed in close physical proximity. Thereby, a minute voltage signal that is easily buried in noise can be captured more accurately.

図3は、第1実施例におけるXスキャナ20およびYスキャナ120の上面図である。Xスキャナ20は、第1の反射部21と、Z方向に延伸する第1の梁部22とを備える。第1の反射部21は、第1の梁部22の一端23に接続され、第1の梁部22を回転軸として回転することができる。   FIG. 3 is a top view of the X scanner 20 and the Y scanner 120 in the first embodiment. The X scanner 20 includes a first reflecting portion 21 and a first beam portion 22 extending in the Z direction. The first reflecting portion 21 is connected to one end 23 of the first beam portion 22 and can rotate around the first beam portion 22 as a rotation axis.

第1の反射部21は、光を反射する反射面24を有する。シリコンからなる第1の反射部21の+Y方向側に厚さ100nmのアルミニウム等の金属層を設けることにより、反射面24を形成してよい。第1の反射部21の回転により反射面24も回転する。   The first reflecting unit 21 has a reflecting surface 24 that reflects light. The reflective surface 24 may be formed by providing a metal layer such as aluminum having a thickness of 100 nm on the + Y direction side of the first reflective portion 21 made of silicon. The reflecting surface 24 is also rotated by the rotation of the first reflecting portion 21.

第1の反射部21は、第1の軸部26を有する。第1の軸部26は、第1の梁部22を通過してZ方向に伸びる。すなわち、第1の軸部26は、第1の梁部22の延長線上に位置する。第1の軸部26は、第1の反射部21の回転軸となる部分である。本例の第1の軸部26は、SOI基板104の活性層の厚みと同じ厚みを有する。なお、厚みとはY方向の厚みを意味する。第1の反射部21は、第1の軸部26からX方向に最も離れた位置の端部28に複数の櫛歯を有する。   The first reflecting portion 21 has a first shaft portion 26. The first shaft portion 26 passes through the first beam portion 22 and extends in the Z direction. That is, the first shaft portion 26 is located on the extension line of the first beam portion 22. The first shaft portion 26 is a portion serving as a rotation axis of the first reflecting portion 21. The first shaft portion 26 in this example has the same thickness as the thickness of the active layer of the SOI substrate 104. The thickness means the thickness in the Y direction. The first reflecting portion 21 has a plurality of comb teeth at the end portion 28 at a position farthest from the first shaft portion 26 in the X direction.

Xスキャナ20は、固定部42、駆動部52、シールド部62および検出部72を有する。固定部42は、第1の梁部22の一端23とは逆側の他端に接続されている。固定部42は、第1の梁部22を介して第1の反射部21を機械的に支持する。   The X scanner 20 includes a fixed unit 42, a drive unit 52, a shield unit 62, and a detection unit 72. The fixed portion 42 is connected to the other end opposite to the one end 23 of the first beam portion 22. The fixing part 42 mechanically supports the first reflecting part 21 via the first beam part 22.

駆動部52、シールド部62および検出部72は、第1の軸部26に対して対称であり、かつ、第1の反射部21の端部28に対向して設けられる。駆動部52、シールド部62および検出部72の各々が有する櫛歯は、第1の反射部21の櫛歯と噛み合うように設けられる。ただし、櫛歯同士は互いに接触しない。これにより、駆動部52、シールド部62および検出部72の櫛歯と第1の反射部21の櫛歯とは、間に空気を挟んで静電容量を形成する。   The drive unit 52, the shield unit 62, and the detection unit 72 are symmetrical with respect to the first shaft portion 26 and are provided to face the end portion 28 of the first reflection unit 21. The comb teeth included in each of the drive unit 52, the shield unit 62, and the detection unit 72 are provided so as to mesh with the comb teeth of the first reflection unit 21. However, the comb teeth do not contact each other. Accordingly, the comb teeth of the drive unit 52, the shield unit 62, and the detection unit 72 and the comb teeth of the first reflection unit 21 form a capacitance with air interposed therebetween.

駆動部52は、第1の反射部21を回転振動させる。例えば、駆動部52には交流電圧が印加され、第1の反射部21には直流電圧が印加される。これにより、櫛歯間に静電気力が発生するので、第1の反射部21は第1の梁部22を回転軸として回転振動することができる。   The driving unit 52 rotates and vibrates the first reflecting unit 21. For example, an AC voltage is applied to the driving unit 52 and a DC voltage is applied to the first reflecting unit 21. As a result, an electrostatic force is generated between the comb teeth, so that the first reflecting portion 21 can oscillate with the first beam portion 22 as the rotation axis.

本例の検出部72‐1および検出部72‐3は、駆動部52‐1に対して対称な位置に設けられる。同様に、検出部72‐2および検出部72‐4は、駆動部52‐2に対して対称な位置に設けられる。検出部72は、検出部72の櫛歯と第1の反射部21の櫛歯との静電容量の変化を検出するために設けられる。静電容量の変化は、検出部72から後段の回路に伝達される。静電容量の変化を検出することについては、図6の説明において詳しく説明する。   The detection unit 72-1 and the detection unit 72-3 in this example are provided at positions symmetrical to the drive unit 52-1. Similarly, the detection unit 72-2 and the detection unit 72-4 are provided at symmetrical positions with respect to the drive unit 52-2. The detection unit 72 is provided to detect a change in electrostatic capacitance between the comb teeth of the detection unit 72 and the comb teeth of the first reflection unit 21. The change in capacitance is transmitted from the detection unit 72 to the subsequent circuit. The detection of the change in capacitance will be described in detail with reference to FIG.

シールド部62は、駆動部52と検出部72との間に設けられる。本例のシールド部62は、接地されており、GND電位を維持する。したがって、シールド部62は、検出部72と駆動部52との容量結合を防ぐ機能を有する。これにより、シールド部62が設けられない場合と比較して、駆動部52に入力される交流電圧の信号が検出部72にノイズとして混信することを低減することができる。   The shield part 62 is provided between the drive part 52 and the detection part 72. The shield part 62 of this example is grounded and maintains the GND potential. Therefore, the shield part 62 has a function of preventing capacitive coupling between the detection part 72 and the drive part 52. Thereby, compared with the case where the shield part 62 is not provided, it can reduce that the signal of the alternating voltage input into the drive part 52 interferes with the detection part 72 as noise.

Yスキャナ120は、X‐Z平面においてXスキャナ20を90度回転させたスキャナである。Yスキャナ120とXスキャナ20とは多くの点で共通するので、共通する機能については説明を省略する。   The Y scanner 120 is a scanner obtained by rotating the X scanner 20 by 90 degrees in the XZ plane. Since the Y scanner 120 and the X scanner 20 are common in many respects, descriptions of common functions are omitted.

Yスキャナ120は、第2の反射部121と、X方向に延伸する第2の梁部122とを備える。第2の反射部121は、第2の梁部122の一端123に接続され、第2の梁部122を回転軸として回転することができる。第2の反射部121は、第2の梁部122を通過してX方向に伸びる第2の軸部126を有する。第2の反射部121は、第2の反射面124、第2の軸部126および第2の端部128を有する。   The Y scanner 120 includes a second reflecting portion 121 and a second beam portion 122 extending in the X direction. The second reflecting portion 121 is connected to one end 123 of the second beam portion 122, and can rotate around the second beam portion 122 as a rotation axis. The second reflecting portion 121 has a second shaft portion 126 that passes through the second beam portion 122 and extends in the X direction. The second reflecting portion 121 has a second reflecting surface 124, a second shaft portion 126, and a second end portion 128.

Yスキャナ120は、固定部142、駆動部152、シールド部162および検出部172を有する。固定部142、駆動部152、シールド部162および検出部172の機能は、Xスキャナ20の固定部42、駆動部52、シールド部62および検出部72と同じである。   The Y scanner 120 includes a fixed unit 142, a drive unit 152, a shield unit 162, and a detection unit 172. The functions of the fixing unit 142, the driving unit 152, the shield unit 162, and the detecting unit 172 are the same as those of the fixing unit 42, the driving unit 52, the shield unit 62, and the detecting unit 72 of the X scanner 20.

図4は、Xスキャナ20の裏面34を示す図である。なお、図面の見やすさを考慮して櫛歯は省略する。第1の反射部21は、裏面34と裏面34に設けられた凹部30とを有する。裏面34は、反射面24の反対側に位置する面である。本明細書において、第1の反射部21の+Y方向を反射面24とし、−Y方向を裏面34とする。なお説明のために、裏面34においても第1の軸部26を示す。凹部30は、裏面34の一部が選択的に除去された部分である。本例の凹部30は、複数の孔32を有する。   FIG. 4 is a view showing the back surface 34 of the X scanner 20. Note that the comb teeth are omitted in consideration of the visibility of the drawing. The first reflecting portion 21 has a back surface 34 and a recess 30 provided on the back surface 34. The back surface 34 is a surface located on the opposite side of the reflecting surface 24. In the present specification, the + Y direction of the first reflecting portion 21 is the reflecting surface 24 and the −Y direction is the back surface 34. For the sake of explanation, the first shaft portion 26 is also shown on the back surface 34. The concave portion 30 is a portion where a part of the back surface 34 is selectively removed. The recess 30 in this example has a plurality of holes 32.

本例において、複数の孔32は、第1の軸部26に対して対称に配置される。また、複数の孔32の各々は、等しい開口面積を有する。本例において、複数の孔32の各々は、円形の開口を有する円柱形状である。複数の孔32の各々は、Z方向およびX方向において、予め定められたピッチPおよびPで設けられている。また、複数の孔32の各々は、等しい体積を有する。 In the present example, the plurality of holes 32 are arranged symmetrically with respect to the first shaft portion 26. Further, each of the plurality of holes 32 has an equal opening area. In this example, each of the plurality of holes 32 has a cylindrical shape having a circular opening. Each of the plurality of holes 32, in the Z direction and the X direction, are provided at a pitch P X and P Z predetermined. Each of the plurality of holes 32 has an equal volume.

本例では、複数の孔32の数が、第1の軸部26から端部28にかけて増加することにより、第1の軸部26から第1の反射部21の端部28にかけて、凹部の体積が増加する。つまり、第1の軸部26における孔32の数が、端部28付近における孔32の数よりも少ない。   In this example, the number of the plurality of holes 32 increases from the first shaft portion 26 to the end portion 28, so that the volume of the concave portion extends from the first shaft portion 26 to the end portion 28 of the first reflecting portion 21. Will increase. That is, the number of holes 32 in the first shaft portion 26 is smaller than the number of holes 32 in the vicinity of the end portion 28.

本例では、孔32が第1の軸部26および端部28付近に一様に設けられた場合、および、第1の軸部26における孔32の数が端部28付近における孔32の数よりも多い場合と比較して、第1の軸部26の機械的強度を高くすることができる。加えて、第1の軸部26における孔32の数が端部28付近における孔32の数よりも多い場合と比較して、第1の反射部21における第1の軸部26周りの慣性モーメントをより効果的に減少させることができる。また、慣性モーメントを効果的に減少させることができるので、第1の反射部21の駆動に要する消費電力を低減することができる。   In this example, when the holes 32 are uniformly provided in the vicinity of the first shaft portion 26 and the end portion 28, and the number of the holes 32 in the first shaft portion 26 is the number of the holes 32 in the vicinity of the end portion 28. The mechanical strength of the first shaft portion 26 can be increased as compared with the case where the number of the first shaft portions 26 is larger. In addition, as compared with the case where the number of holes 32 in the first shaft portion 26 is larger than the number of holes 32 in the vicinity of the end portion 28, the moment of inertia around the first shaft portion 26 in the first reflecting portion 21. Can be reduced more effectively. In addition, since the moment of inertia can be effectively reduced, the power consumption required for driving the first reflecting portion 21 can be reduced.

また本例では、複数の孔32が第1の軸部26に対して対称に配置されるので、第1の軸部26に対して慣性モーメントを対象にすることができる。なお、エッチングプロセスにおいては規則的なパターンの方が不規則なパターンよりも作成しやすい。本例では、予め定められた規則的なピッチで孔32を設けるので、孔32が作成しやすいという効果も有する。   Further, in this example, since the plurality of holes 32 are arranged symmetrically with respect to the first shaft portion 26, the moment of inertia can be targeted with respect to the first shaft portion 26. In the etching process, a regular pattern is easier to create than an irregular pattern. In this example, since the holes 32 are provided at a predetermined regular pitch, the hole 32 can be easily created.

図5は、図4のA‐A'断面を示す図である。複数の孔32は、予め定められた深さ33を有する。例えば、裏面34をハーフエッチングすることにより、平坦な底面を有する深さ33の孔32を形成することができる。本例において底面とは、孔32の反射面24側におけるX‐Z平面と平行な面である。複数の孔32の各々は、第1の反射部21の反射面24にまで貫通していない。これにより、迷光の発生を防ぐことができる。   FIG. 5 is a view showing a cross section taken along line AA ′ of FIG. The plurality of holes 32 have a predetermined depth 33. For example, the back surface 34 can be half-etched to form a hole 33 having a depth 33 and a flat bottom surface. In this example, the bottom surface is a surface parallel to the XZ plane on the reflecting surface 24 side of the hole 32. Each of the plurality of holes 32 does not penetrate to the reflecting surface 24 of the first reflecting portion 21. Thereby, generation | occurrence | production of a stray light can be prevented.

図6は、回転角の検出を説明する図である。本例では、Xスキャナ20について説明するが、Yスキャナ120においても、同様の回転角の検出機構を適用することができる。なお、検出部72は、検出部72‐1から検出部72‐4のいずれであってよい。   FIG. 6 is a diagram illustrating detection of the rotation angle. In this example, the X scanner 20 will be described, but the same rotation angle detection mechanism can also be applied to the Y scanner 120. The detection unit 72 may be any of the detection unit 72-1 to the detection unit 72-4.

本例の第1の反射部21には、固定部42を通じて直流電圧が印加される。第1の反射部21と検出部72とはキャパシタCを形成する。なお、検出部72とシールド部62とはキャパシタCを形成する。シールド部62と駆動部52とはキャパシタCを形成する。駆動部52には交流電圧が印加されるが、シールド部62は接地されているので、駆動部52と検出部72との容量結合は防止される。 A DC voltage is applied to the first reflecting portion 21 of this example through the fixing portion 42. The detection unit 72 and the first reflection portion 21 to form a capacitor C 1. Incidentally, a detection unit 72 and the shield portion 62 to form a capacitor C 2. A shield portion 62 and the drive unit 52 to form a capacitor C 3. An AC voltage is applied to the drive unit 52, but since the shield unit 62 is grounded, capacitive coupling between the drive unit 52 and the detection unit 72 is prevented.

キャパシタCにおいて、第1の反射部21と検出部72との間の電位差Vは変化しない。これに対して、第1の反射部21の回転に伴いキャパシタCの静電容量は変化する。これをΔCとする。キャパシタCにおける静電容量の変化に対応して、キャパシタCにおける電荷Qが変化する。これをΔQとする。したがって、第1の反射部21の回転角の情報は、ΔQの情報に変換される。単位時間当たりのΔQを入力電流信号Iinとする。 In the capacitor C 1, the potential difference V 1 of the between the detector 72 and the first reflecting portion 21 does not change. In contrast, the capacitance of the capacitor C 1 with the rotation of the first reflecting part 21 is changed. This is referred to as ΔC 1. In response to a change in capacitance in the capacitor C 1, a change in charge Q 1 at the capacitor C 1. Let this be ΔQ 1 . Therefore, the information on the rotation angle of the first reflection unit 21 is converted into information on ΔQ 1 . Let ΔQ 1 per unit time be the input current signal Iin.

本例の光走査装置200は、電荷電圧変換回路110を有する。電荷電圧変換回路110は、入力電流信号Iinを出力電圧信号Voutに変換する。電荷電圧変換回路110は、出力電圧信号Voutを制御部119に出力する。   The optical scanning device 200 of this example includes a charge-voltage conversion circuit 110. The charge voltage conversion circuit 110 converts the input current signal Iin into an output voltage signal Vout. The charge voltage conversion circuit 110 outputs the output voltage signal Vout to the control unit 119.

本例の電荷電圧変換回路110は、増幅器112と、キャパシタ118とを有する。増幅器112は、非反転入力端子113と、反転入力端子114と、出力端子115とを有する。非反転入力端子113は電気的に接地され、反転入力端子114は、検出部72と電気的に接続される。   The charge-voltage conversion circuit 110 of this example includes an amplifier 112 and a capacitor 118. The amplifier 112 has a non-inverting input terminal 113, an inverting input terminal 114, and an output terminal 115. The non-inverting input terminal 113 is electrically grounded, and the inverting input terminal 114 is electrically connected to the detection unit 72.

キャパシタ118(Cとしても示す。)の一端は反転入力端子114に電気的に接続され、他端は出力端子115に電気的に接続される。本例において、キャパシタ118の静電容量は変化しない。つまり、キャパシタ118の静電容量は固定である。入力電流信号Iinにより電荷がチャージ/ディスチャージされると、キャパシタ118の電荷Qが変化する。これをΔQとして示す。キャパシタ118における電荷量の変化に対応して、キャパシタ118における電圧Vが変化する。これをΔVとして示す。これにより、ΔQの情報はΔVの情報に変換されるので、入力電流信号Iinが出力電圧信号Voutに変換される。 One end of the capacitor 118 (also shown as C 4 ) is electrically connected to the inverting input terminal 114, and the other end is electrically connected to the output terminal 115. In this example, the capacitance of the capacitor 118 does not change. That is, the capacitance of the capacitor 118 is fixed. When the charge by the input current signal Iin is charged / discharged, the charge Q 4 of the capacitor 118 is changed. This is shown as ΔQ 4. In response to a change in the charge amount in the capacitor 118, the voltage V 4 changes in the capacitor 118. This is shown as ΔV 4 . As a result, the information of ΔQ 1 is converted into the information of ΔV 4 , so that the input current signal Iin is converted into the output voltage signal Vout.

抵抗116の一端は反転入力端子114に、他端は出力端子115にそれぞれ電気的に接続される。抵抗116は、MΩからGΩ程度の高い抵抗値を有してよい。本例の抵抗116は、1GΩの抵抗値を有する。それゆえ、抵抗116は、入力電流信号Iinの直流成分を通過させることなく、かつ、増幅器112のネガティブフィードバック経路として機能することができる。   One end of the resistor 116 is electrically connected to the inverting input terminal 114 and the other end is electrically connected to the output terminal 115. The resistor 116 may have a high resistance value of about MΩ to GΩ. The resistor 116 in this example has a resistance value of 1 GΩ. Therefore, the resistor 116 can function as a negative feedback path of the amplifier 112 without passing the DC component of the input current signal Iin.

制御部119はVoutの情報を回転角の情報に変換することができる。例えば、回転角が増加することによりΔCが減少した場合、ΔQが減少する。この場合、ΔQの減少分がキャパシタCに移動するので、ΔQおよびΔVはともに増加する。本例では、第1の反射部21にDC電源の正電圧が印加されているので、ΔCが減少した場合、キャパシタCの負電荷が増加して、ΔQおよびΔVが増加する。したがって、Voutは増加する。つまり、回転角が増加するとVoutは増加し、回転角が減少するとVoutは減少する。当該対応関係を利用して、Voutが第1の反射部21の回転角に変換される。なお、制御部119は、回転角の大きさに応じてAC電源の電圧値を変更してもよい。例えば、回転角の最大振れ角を大きくするべく、制御部119は、AC電源の電圧値をより大きくする。 The control unit 119 can convert the Vout information into rotation angle information. For example, when ΔC 1 decreases due to an increase in the rotation angle, ΔQ 1 decreases. In this case, since the decrease of ΔQ 1 moves to the capacitor C 4 , both ΔQ 4 and ΔV 4 increase. In this example, since the positive voltage of the DC power source to the first reflecting part 21 is applied, if the [Delta] C 1 decreases, the negative electric charge of the capacitor C 4 is increased, Delta] Q 4 and [Delta] V 4 increases. Therefore, Vout increases. That is, when the rotation angle increases, Vout increases, and when the rotation angle decreases, Vout decreases. Vout is converted into a rotation angle of the first reflecting unit 21 using the correspondence. Note that the control unit 119 may change the voltage value of the AC power supply according to the magnitude of the rotation angle. For example, the control unit 119 increases the voltage value of the AC power supply to increase the maximum deflection angle of the rotation angle.

図7は、第1変形例における、(A)Xスキャナ20の裏面34、および、(B)B−B'断面を示す図である。本例は、複数の孔32の各々が角柱である。係る点において、第1実施例と異なる。他の点は、第1実施例と同じである。本例の孔32は四角柱であるが、角柱は四角柱に限定されず5以上の頂点を有する多角形であってよい。第1実施例と同様に、深さ33を有する孔32は、裏面34をハーフエッチングするにより形成することができる。   FIG. 7 is a diagram illustrating (A) the back surface 34 of the X scanner 20 and (B) a BB ′ cross section in the first modification. In this example, each of the plurality of holes 32 is a prism. This is different from the first embodiment. The other points are the same as in the first embodiment. The hole 32 in this example is a quadrangular prism, but the prism is not limited to a quadrangular prism and may be a polygon having five or more vertices. Similar to the first embodiment, the hole 32 having the depth 33 can be formed by half-etching the back surface 34.

なお、第1変形例の更なる変形例として、Z方向に隣接する複数の孔32をつなげて短冊形状にしてもよい。この場合、Z方向長さの異なる3つの短冊が、第1の軸部26を挟んでそれぞれ形成される。これにより、第1の軸部26から端部28にかけて凹部30の体積が不連続に増加するようにしてもよい。   As a further modification of the first modification, a plurality of holes 32 adjacent in the Z direction may be connected to form a strip shape. In this case, three strips having different lengths in the Z direction are formed on both sides of the first shaft portion 26. Thereby, you may make it the volume of the recessed part 30 increase discontinuously from the 1st axial part 26 to the edge part 28. FIG.

図8は、第2変形例における、Xスキャナ20の裏面34を示す図である。本例において、複数の孔32は、第1の軸部26から端部28にかけて、Z方向における密度が増加する。具体的には、第1の軸部26に対応する位置では孔32が1つであるが、端部28に近づくに従い、孔32の数が3つ、5つおよび7つと徐々に増加する。また、Z方向に並んだ3つの孔32は、Z方向において等しい距離だけ離間している。Z方向に並んだ5つの孔および7つの孔も同様である。係る点において、第1実施例と異なる。他の点は、第1実施例と同じである。   FIG. 8 is a diagram showing the back surface 34 of the X scanner 20 in the second modification. In this example, the plurality of holes 32 increase in density in the Z direction from the first shaft portion 26 to the end portion 28. Specifically, although there is one hole 32 at a position corresponding to the first shaft portion 26, the number of the holes 32 gradually increases to three, five, and seven as the end portion 28 is approached. Further, the three holes 32 arranged in the Z direction are separated by an equal distance in the Z direction. The same applies to five holes and seven holes arranged in the Z direction. This is different from the first embodiment. The other points are the same as in the first embodiment.

図9は、第3変形例における、Xスキャナ20の裏面34を示す図である。本例において、複数の孔32は、第1の軸部26には設けられていない。係る点において、第1実施例と異なる。他の点は、第1実施例と同じである。本例の構成により、第1の軸部26の強度をさらに向上させることができる。   FIG. 9 is a diagram showing the back surface 34 of the X scanner 20 in the third modification. In the present example, the plurality of holes 32 are not provided in the first shaft portion 26. This is different from the first embodiment. The other points are the same as in the first embodiment. With the configuration of this example, the strength of the first shaft portion 26 can be further improved.

図10は、第2実施例における、Xスキャナ20の裏面34を示す図である。本例における第1の反射部21は、端部28付近におけるZ方向の位置に応じて孔32の開口面積が異なる。本例の複数の孔32は、駆動部52に対応する位置に設けられた第1の孔32‐1と、検出部72に対応する位置に設けられた第2の孔32‐2と、シールド部62に対応する位置に設けられた第3の孔32‐3とを有する。   FIG. 10 is a diagram showing the back surface 34 of the X scanner 20 in the second embodiment. In the first reflecting portion 21 in this example, the opening area of the hole 32 differs depending on the position in the Z direction in the vicinity of the end portion 28. The plurality of holes 32 of the present example include a first hole 32-1 provided at a position corresponding to the drive unit 52, a second hole 32-2 provided at a position corresponding to the detection unit 72, and a shield. And a third hole 32-3 provided at a position corresponding to the portion 62.

本例において、駆動部52に対応する位置に設けられた孔32とは、駆動部52の櫛歯が設けられる先端部をX方向に延伸させた場合に、第1の反射部21と重なる領域のうち最も端部28側の孔32を意味する。シールド部62および検出部72に対応する位置に設けられた孔32も同様に、シールド部62および検出部72の櫛歯が設けられる先端部をそれぞれX方向に延伸させた場合に、第1の反射部21と重なる領域のうち最も端部28側の孔32を意味する。   In this example, the hole 32 provided at a position corresponding to the drive unit 52 is a region that overlaps the first reflection unit 21 when the tip of the drive unit 52 provided with the comb teeth is extended in the X direction. Means the hole 32 closest to the end 28. Similarly, the holes 32 provided at the positions corresponding to the shield part 62 and the detection part 72 also have the first end when the tip part provided with the comb teeth of the shield part 62 and the detection part 72 is extended in the X direction. It means the hole 32 closest to the end portion 28 in the region overlapping with the reflecting portion 21.

駆動部52は第1の反射部21を回転振動させるので、駆動部52に対応する位置の櫛歯は最も機械的強度が必要となる。検出部72は第1の反射部21の回転角を検出するので、検出部72に対応する位置に設けられた櫛歯は駆動部52の櫛歯の次に機械的強度が必要となる。これに対して、シールド部62は駆動部52と検出部72との容量結合を防ぐ機能が発揮できればよいので、シールド部62に対応する位置に設けられた櫛歯の機械的強度は、駆動部52およびシールド部62よりも低くてよい。   Since the driving unit 52 rotates and vibrates the first reflecting unit 21, the comb tooth at the position corresponding to the driving unit 52 needs the most mechanical strength. Since the detection unit 72 detects the rotation angle of the first reflection unit 21, the comb teeth provided at the position corresponding to the detection unit 72 require mechanical strength next to the comb teeth of the drive unit 52. On the other hand, since the shield part 62 only needs to exhibit a function of preventing the capacitive coupling between the drive part 52 and the detection part 72, the mechanical strength of the comb teeth provided at the position corresponding to the shield part 62 is 52 and the shield part 62 may be lower.

そこで本例では、第1の孔32‐1の体積を第2の孔32‐2の体積よりも小さくし、第2の孔32‐2の体積を第3の孔32‐3の体積よりも小さくする。具体的には、本例の第1の孔32‐1、第2の孔32‐2および第3の孔32‐3は、同じ深さ33を有する。ただし、第1の孔32‐1の開口面積は、第2の孔32‐2の開口面積よりも小さく、第2の孔32‐2の開口面積は、第3の孔32‐3の開口面積よりも小さいとする。これにより、優先度が高い順に駆動部52、検出部72およびシールド部62の破損を防ぎつつ、かつ、第1実施例と同様に慣性モーメントを低減することができる。   Therefore, in this example, the volume of the first hole 32-1 is made smaller than the volume of the second hole 32-2, and the volume of the second hole 32-2 is made larger than the volume of the third hole 32-3. Make it smaller. Specifically, the first hole 32-1, the second hole 32-2, and the third hole 32-3 of the present example have the same depth 33. However, the opening area of the first hole 32-1 is smaller than the opening area of the second hole 32-2, and the opening area of the second hole 32-2 is the opening area of the third hole 32-3. Less than. Thereby, it is possible to reduce the moment of inertia as in the first embodiment, while preventing damage to the drive unit 52, the detection unit 72, and the shield unit 62 in descending order of priority.

第1実施例と同様に本例においても、複数の孔32は、第1の軸部26に対して対称に配置される。本例では、最も端部28側の孔32以外の孔32は、孔32‐2と同じ体積を有する。また、複数の孔32の各々は、円形の開口を有する円柱形状である。本例においても、複数の孔32の数が、第1の軸部26から端部28にかけて増加する。   In this example as well as the first example, the plurality of holes 32 are arranged symmetrically with respect to the first shaft portion 26. In this example, the holes 32 other than the hole 32 closest to the end portion 28 have the same volume as the hole 32-2. In addition, each of the plurality of holes 32 has a cylindrical shape having a circular opening. Also in this example, the number of the plurality of holes 32 increases from the first shaft portion 26 to the end portion 28.

図11は、第3実施例における、(A)Xスキャナ20の裏面34、および、(B)C−C'断面を示す図である。本例の凹部30は複数の孔32を有さない。本例の凹部は、第1の軸部26から端部28にかけて連続的に体積が増加する。   FIG. 11 is a diagram illustrating (A) the back surface 34 of the X scanner 20 and (B) a CC ′ cross section in the third embodiment. The recess 30 in this example does not have a plurality of holes 32. The volume of the concave portion in this example continuously increases from the first shaft portion 26 to the end portion 28.

(A)に示す様に、本例の凹部30は、X‐Z平面において、第1の軸部26から端部28にかけてZ方向の幅が大きくなる三角形形状を有する。また、(B)に示す様に、本例の凹部30は、第1の反射面24側に頂点を有する三角錐の形状を有する。錐体は、孔32と比較して大きい面積を有する三角形の開口をエッチングする場合に生じる形状であってよい。ただし、錐体の頂点は、第1の反射面24に貫通しないようにエッチング条件を制御する。   As shown to (A), the recessed part 30 of this example has a triangular shape from which the width | variety of a Z direction becomes large from the 1st axial part 26 to the edge part 28 in a XZ plane. Moreover, as shown in (B), the recessed part 30 of this example has a triangular pyramid shape having a vertex on the first reflecting surface 24 side. The cone may have a shape that occurs when a triangular opening having a larger area than the hole 32 is etched. However, the etching conditions are controlled so that the apex of the cone does not penetrate the first reflecting surface 24.

本例においても、第1の軸部26の機械的強度を保ちつつ、第1の軸部26周りの慣性モーメントをより効果的に減少させることができる。また、第1の反射部21の駆動に要する消費電力を低減することができる。なお、本例の凹部30は裏面34において三角形形状を有するとした。しかしながら、第1の軸部26から端部28にかけて連続的に体積が増加すれば、台形およびその他の多角形としてもよい。   Also in this example, the moment of inertia around the first shaft portion 26 can be more effectively reduced while maintaining the mechanical strength of the first shaft portion 26. In addition, power consumption required for driving the first reflecting portion 21 can be reduced. The concave portion 30 of this example has a triangular shape on the back surface 34. However, if the volume continuously increases from the first shaft portion 26 to the end portion 28, a trapezoidal shape and other polygonal shapes may be used.

図12は、第4実施例における、二軸スキャナ80の上面図である。本例の二軸スキャナ80は、第1の反射部81と、第1の梁部82と、吊枠部90と、第2の梁部92とを備える。第1の反射部81は、反射面84を有する。なお、第1の反射部81は、第1の梁部82を通過してZ方向に伸びる第1の軸部86と、第2の梁部92を通過してX方向に伸びる第2の軸部96とを有する。上述の様に、第1の軸部86および第2の軸部96は、SOI基板104の活性層の厚みと同じ厚みを有してよい。   FIG. 12 is a top view of the biaxial scanner 80 in the fourth embodiment. The biaxial scanner 80 of this example includes a first reflecting portion 81, a first beam portion 82, a suspension frame portion 90, and a second beam portion 92. The first reflecting portion 81 has a reflecting surface 84. The first reflecting portion 81 passes through the first beam portion 82 and extends in the Z direction, and the first shaft portion 86 passes through the second beam portion 92 and extends in the X direction. Part 96. As described above, the first shaft portion 86 and the second shaft portion 96 may have the same thickness as the thickness of the active layer of the SOI substrate 104.

第1の反射部81は、第1の梁部82の一端83に接続され、第1の梁部82を回転軸として回転することができる。第2の梁部92は、X方向に延伸する。第2の梁部92の一端93は、吊枠部90に接続する。吊枠部90は、第1の梁部82の他端85に接続される。吊枠部90は、Z方向の端部に設けられた櫛歯とこれに噛み合う櫛歯との間の静電気力により、第2の梁部92を回転軸として回転する。第1の反射部81は、第1の梁部82および第2の梁部92を回転軸として回転振動することができる。   The first reflecting portion 81 is connected to one end 83 of the first beam portion 82 and can rotate around the first beam portion 82 as a rotation axis. The second beam portion 92 extends in the X direction. One end 93 of the second beam portion 92 is connected to the suspension frame portion 90. The hanging frame portion 90 is connected to the other end 85 of the first beam portion 82. The suspension frame portion 90 rotates around the second beam portion 92 as a rotation axis by electrostatic force between the comb teeth provided at the end portion in the Z direction and the comb teeth meshing with the comb teeth. The first reflecting portion 81 can rotate and vibrate with the first beam portion 82 and the second beam portion 92 as the rotation axes.

図13は、二軸スキャナ80の裏面94を示す図である。第1の反射部81は、反射面84の反対側に位置する裏面94と、裏面の地位部が選択的に除去された凹部30を有する。本例の凹部30も複数の孔95を有する。複数の孔32の各々は、円形の開口を有する円柱形状であってよい。本例の複数の孔95は、第1の軸部86および第2の軸部96に対して対称な位置に設けられる。   FIG. 13 is a view showing the back surface 94 of the biaxial scanner 80. The first reflecting portion 81 has a back surface 94 located on the opposite side of the reflecting surface 84 and a concave portion 30 from which the rear surface portion is selectively removed. The recess 30 of this example also has a plurality of holes 95. Each of the plurality of holes 32 may have a cylindrical shape having a circular opening. The plurality of holes 95 in this example are provided at symmetrical positions with respect to the first shaft portion 86 and the second shaft portion 96.

本例において、端部88は第1の軸部86から最も離れた第1の反射部81の端部であり、端部89は第2の軸部96から最も離れた第1の反射部81の端部である。本例の複数の孔95は同じ深さを有する。ただし、端部88および端部89に最も近い孔95‐3は最も開口面積が大きく、第1の軸部86および第2の軸部96の交点に位置する孔95‐1は最も開口面積が小さい。孔95‐1と孔95‐3との間に位置する孔95‐2は、孔95‐1よりも大きく、かつ、孔95‐3よりも小さい開口面積を有する。したがって、本例の凹部30の体積は、第1の軸部86から端部88にかけて増加し、かつ、第2の軸部96から端部89にかけて増加する。   In this example, the end portion 88 is the end portion of the first reflecting portion 81 farthest from the first shaft portion 86, and the end portion 89 is the first reflecting portion 81 farthest from the second shaft portion 96. Is the end of The plurality of holes 95 in this example have the same depth. However, the hole 95-3 closest to the end portion 88 and the end portion 89 has the largest opening area, and the hole 95-1 located at the intersection of the first shaft portion 86 and the second shaft portion 96 has the largest opening area. small. The hole 95-2 located between the hole 95-1 and the hole 95-3 has an opening area larger than the hole 95-1 and smaller than the hole 95-3. Therefore, the volume of the recess 30 in this example increases from the first shaft portion 86 to the end portion 88 and increases from the second shaft portion 96 to the end portion 89.

本例では、Z方向に加えてX方向においても軸部の機械的強度を保ちつつ、第1の反射部81の慣性モーメントを減少させることができる。加えて、慣性モーメントを効果的に減少させることができるので、第1の反射部81の駆動に要する消費電力を低減することができる。なお、図7の第1変形例、図8の第2変形例、図9の第3変形例、図10の第2実施形態および図11の第3実施形態を本例に適用してもよい。   In this example, the moment of inertia of the first reflecting portion 81 can be reduced while maintaining the mechanical strength of the shaft portion in the X direction in addition to the Z direction. In addition, since the moment of inertia can be effectively reduced, the power consumption required for driving the first reflecting portion 81 can be reduced. The first modified example in FIG. 7, the second modified example in FIG. 8, the third modified example in FIG. 9, the second embodiment in FIG. 10, and the third embodiment in FIG. 11 may be applied to this example. .

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。   As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above embodiment. It is apparent from the description of the scope of claims that embodiments with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.

特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順序で実施することが必須であることを意味するものではない。   The order of execution of each process such as operations, procedures, steps, and stages in the apparatus, system, program, and method shown in the claims, the description, and the drawings is particularly “before” or “prior to”. It should be noted that the output can be realized in any order unless the output of the previous process is used in the subsequent process. Even if the operation flow in the claims, the description, and the drawings is described using “first”, “next”, etc. for convenience, it means that it is essential to carry out in this order. It is not a thing.

10・・管、12・・フランジ、14・・レンズホルダ、16・・対物レンズ、17・・コリメートレンズ、18・・レンズホルダ、19・・光ファイバ、20・・Xスキャナ、21・・第1の反射部、22・・第1の梁部、23・・一端、24・・反射面、26・・第1の軸部、28・・端部、30・・凹部、32・・孔、33・・深さ、34・・裏面、42・・固定部、52・・駆動部、62・・シールド部、72・・検出部、80・・二軸スキャナ、81・・第1の反射部、82・・第1の梁部、83・・一端、84・・反射面、85・・他端、86・・第1の軸部、88・・端部、89・・端部、90・・吊枠部、92・・第2の梁部、93・・一端、94・・裏面、95・・孔、96・・第2の軸部
100・・スキャナユニット、102・・固定鏡、104・・SOI基板、106・・配線基板、108・・ICチップ、110・・電荷電圧変換回路、112・・増幅器、113・・非反転入力端子、114・・反転入力端子、115・・出力端子、116・・抵抗、118・・キャパシタ、119・・制御部、120・・Yスキャナ、121・・第2の反射部、122・・第2の梁部、123・・一端、124・・第2の反射面、126・・第2の軸部、128・・端部、142・・固定部、152・・駆動部、162・・シールド部、172・・検出部
200・・光走査装置、210・・非走査型光学装置、220・・鉗子口、230・・ライト、240・・ノズル、300・・内視鏡、310・・レーザ光源、312・・レーザ光、314・・蛍光、320・・ダイクロイックミラー、330・・光検出部、340・・AD変換部、350・・画像処理部、360・・表示部、400・・内視鏡システム、500・・対象物、510・・焦点面
10 .. Tube, 12 .. Flange, 14 .. Lens holder, 16 .. Objective lens, 17 .. Collimate lens, 18 .. Lens holder, 19 .. Optical fiber, 20. 1 reflecting part, 22 .. first beam part, 23 .. one end, 24 .. reflecting surface, 26 .. first shaft part, 28 .. end part, 30 .. recessed part, 32. 33 .. Depth, 34 .. Back, 42 .. Fixed part, 52 .. Drive part, 62 .. Shield part, 72 .. Detection part, 80 .. Biaxial scanner, 81. , 82 .. First beam portion, 83 .. One end, 84 .. Reflecting surface, 85 .. Other end, 86 .. First shaft portion, 88 .. End portion, 89 .. End portion, 90. .Suspension frame part 92 ..Second beam part 93 ..One end 94 ..Back surface 95 ..Hole 96 .. Second shaft part 100 ..Scanner unit 102 .. Fixed mirror, 104 .. SOI substrate, 106 .. Wiring substrate, 108 .. IC chip, 110 .. Charge-voltage converter circuit, 112 .. Amplifier, 113 .. Non-inverting input terminal, 114. Terminal 115, Output terminal 116, Resistor 118, Capacitor 119, Control unit 120, Y scanner 121, Second reflector 122, Second beam 123, 123 .., one end, 124..second reflecting surface, 126..second shaft portion, 128..end portion, 142..fixed portion, 152..drive portion, 162..shield portion, 172..detector 200 .. Optical scanning device, 210... Non-scanning optical device, 220.. Forceps port, 230 .. Light, 240. 314..Fluorescence, 320 .. Ichroic mirror, 330... Light detection section, 340... AD conversion section, 350... Image processing section, 360... Display section, 400 .. endoscope system, 500.

Claims (12)

第1方向に延伸する第1の梁部と、
前記第1の梁部の一端に接続され、前記第1の梁部を回転軸として回転することができる第1の反射部と
を備える光走査装置において、
前記第1の反射部は、
光を反射する反射面と、
前記反射面の反対側に位置する裏面と、
前記裏面の一部が選択的に除去された凹部と
を有し、
前記第1の梁部を通過して前記第1方向に伸びる前記第1の反射部の第1の軸部から、前記第1の軸部から最も離れた前記第1の反射部の端部にかけて、前記凹部の体積が増加する光走査装置。
A first beam portion extending in a first direction;
In an optical scanning device comprising: a first reflecting portion connected to one end of the first beam portion and capable of rotating about the first beam portion as a rotation axis;
The first reflecting portion is
A reflective surface that reflects light;
A back surface located on the opposite side of the reflective surface;
A recess having a part of the back surface selectively removed;
From the first shaft portion of the first reflecting portion extending in the first direction through the first beam portion, to the end portion of the first reflecting portion farthest from the first shaft portion. An optical scanning device in which the volume of the concave portion is increased.
前記凹部は予め定められた深さを有する複数の孔を有し、
前記複数の孔の数は、前記第1の軸部から前記第1の反射部の前記端部にかけて増加する
請求項1に記載の光走査装置。
The recess has a plurality of holes having a predetermined depth;
The optical scanning device according to claim 1, wherein the number of the plurality of holes increases from the first shaft portion to the end portion of the first reflecting portion.
前記複数の孔は、前記第1の軸部に対して対称に配置される
請求項2に記載の光走査装置。
The optical scanning device according to claim 2, wherein the plurality of holes are arranged symmetrically with respect to the first shaft portion.
前記複数の孔は、前記第1の軸部から前記第1の反射部の前記端部にかけて、前記第1方向における密度が増加する
請求項2または3に記載の光走査装置。
The optical scanning device according to claim 2, wherein the plurality of holes increase in density in the first direction from the first shaft portion to the end portion of the first reflecting portion.
前記複数の孔の各々は、等しい体積を有し、前記第1方向および前記第1方向に直交する第2方向において、予め定められたピッチで設けられている
請求項2または3に記載の光走査装置。
4. The light according to claim 2, wherein each of the plurality of holes has an equal volume and is provided at a predetermined pitch in the first direction and a second direction orthogonal to the first direction. Scanning device.
前記複数の孔の各々は、円柱および角柱のいずれかである
請求項2から5のいずれか一項に記載の光走査装置。
6. The optical scanning device according to claim 2, wherein each of the plurality of holes is one of a cylinder and a prism.
前記複数の孔の各々は、前記第1の反射部の前記反射面にまで貫通していない
請求項2から6のいずれか一項に記載の光走査装置。
7. The optical scanning device according to claim 2, wherein each of the plurality of holes does not penetrate to the reflection surface of the first reflection unit.
前記複数の孔は、前記第1の軸部には設けられていない
請求項2から7のいずれか一項に記載の光走査装置。
The optical scanning device according to claim 2, wherein the plurality of holes are not provided in the first shaft portion.
前記複数の孔は、
前記第1の反射部を回転振動させる駆動部に対応する位置に設けられた第1の孔と、
前記第1の反射部の回転角を検出する検出部に対応する位置に設けられた第2の孔と、
前記駆動部と前記検出部との容量結合を防ぐシールド部に対応する位置に設けられた第3の孔と
を有し、
前記第1の孔の体積は、前記第2の孔の体積よりも小さく、
前記第2の孔の体積は、前記第3の孔の体積よりも小さい
請求項2に記載の光走査装置。
The plurality of holes are:
A first hole provided at a position corresponding to a driving unit for rotating and vibrating the first reflecting unit;
A second hole provided at a position corresponding to a detection unit for detecting a rotation angle of the first reflection unit;
A third hole provided at a position corresponding to a shield part that prevents capacitive coupling between the drive part and the detection part;
The volume of the first hole is smaller than the volume of the second hole,
The optical scanning device according to claim 2, wherein a volume of the second hole is smaller than a volume of the third hole.
前記凹部は、前記第1の軸部から前記第1の反射部の前記端部にかけて連続的に体積が増加する
請求項1記載の光走査装置。
2. The optical scanning device according to claim 1, wherein the volume of the concave portion continuously increases from the first shaft portion to the end portion of the first reflecting portion.
前記第1方向に直交する第2方向に延伸する第2の梁部と、
前記第1の梁部の他端および前記第2の梁部の一端に接続され、前記第2の梁部を回転軸として回転することができる吊枠部と
をさらに備え、
前記第2の梁部を通過して前記第2方向に伸びる前記第1の反射部の第2の軸部から、前記第2方向と平行である前記第1の反射部の端部にかけて、前記凹部の体積が増加する
請求項1から10のいずれか一項に記載の光走査装置。
A second beam portion extending in a second direction orthogonal to the first direction;
A suspension frame portion connected to the other end of the first beam portion and one end of the second beam portion and capable of rotating about the second beam portion as a rotation axis;
From the second shaft portion of the first reflecting portion that passes through the second beam portion and extends in the second direction to the end portion of the first reflecting portion that is parallel to the second direction, The optical scanning device according to claim 1, wherein the volume of the concave portion increases.
請求項1から11のいずれか一項に記載の光走査装置を搭載した内視鏡。   An endoscope equipped with the optical scanning device according to any one of claims 1 to 11.
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