JP2017058418A - Optical scanning device and endoscope - Google Patents

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範明 石河
Noriaki Ishikawa
範明 石河
誠 橋爪
Makoto Hashizume
誠 橋爪
廉士 澤田
Yasushi Sawada
廉士 澤田
文紀 兵藤
Fumiki Hyodo
文紀 兵藤
村田 正治
Masaharu Murata
正治 村田
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Kyushu University NUC
Fuji Electric Co Ltd
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Kyushu University NUC
Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical scanning device capable of properly detecting a rotational angle of a mirror.SOLUTION: An optical scanning device comprises: a first beam extending in a first direction; a first reflective part coupled with the first beam and configured to be rotatable about the first beam; first and second driving parts provided to face each other, partially sandwiching both ends of the first reflective part in a second direction that is different from the first direction; a first detection unit provided on a the same side as the first driving part in the first reflective part, at a position corresponding to a position on the first reflective part that is different from a position corresponding to the first driving part in the first direction; and a first shielding part provided on the same side as the first driving part at a position corresponding to a position on the first reflective part between the positions corresponding to the first driving part and the first detection part, and is configured to prevent capacitive coupling between the first detection part and the first driving part.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、光走査装置および内視鏡に関する。   The present invention relates to an optical scanning device and an endoscope.

従来、ねじり梁を回転軸として回転振動し、光ビームを偏向させることが知られている(例えば、特許文献1参照)。また、回転軸の周囲に回転するミラーを2つ用いることでビームを二次元に走査する光走査装置ことが知られている(例えば、特許文献2参照)。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1] 特開2004−069731号公報
[特許文献2] 特表2008−514977号公報
Conventionally, it is known to rotate and vibrate with a torsion beam as a rotation axis to deflect a light beam (see, for example, Patent Document 1). Further, an optical scanning device that scans a beam two-dimensionally by using two mirrors that rotate around a rotation axis is known (for example, see Patent Document 2).
[Prior art documents]
[Patent Literature]
[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-069731 [Patent Document 2] Japanese Translation of PCT International Application No. 2008-514977

光走査装置には、ミラーを回転駆動するべく、交流電源に電気的に接続された駆動電極がミラーに近接して設けられる。また、光走査装置には、ミラーの回転角を検出するべく、ミラーに近接して検出電極が設けられる。検出電極と駆動電極とは近接して設けられるので、交流電源から駆動電極に送られる駆動信号が検出電極に混信する場合がある。この場合、検出電極はミラーの回転角を正しく検出できないという問題がある。   In the optical scanning device, a drive electrode electrically connected to an AC power source is provided close to the mirror so as to rotationally drive the mirror. The optical scanning device is provided with a detection electrode in the vicinity of the mirror in order to detect the rotation angle of the mirror. Since the detection electrode and the drive electrode are provided close to each other, a drive signal sent from the AC power source to the drive electrode may interfere with the detection electrode. In this case, there is a problem that the detection electrode cannot correctly detect the rotation angle of the mirror.

(発明の一般的開示)光走査装置は、第1方向に延伸する第1の梁部を備えてよい。光走査装置は、第1の梁部が接続され、第1の梁部を回転軸として回転することができる第1の反射部を備えてよい。光走査装置は、第1方向とは異なる方向である第2方向において、第1の反射部の両端を部分的に挟み、互いに対向して設けられた第1の駆動部および第2の駆動部を備えてよい。光走査装置は、第1の反射部における第1の駆動部と同じ側に設けられ、第1の駆動部が対応する位置とは異なる第1方向における第1の反射部の位置に対応して設けられる、第1の検出部を備えてよい。光走査装置は、第1の駆動部と同じ側に設けられ、第1の駆動部が対応する位置と第1の検出部が対応する位置との間における第1の反射部の位置に対応して設けられ、第1の検出部と第1の駆動部との容量結合を防ぐ第1のシールド部とを備えてよい。   (General Disclosure of Invention) An optical scanning device may include a first beam portion extending in a first direction. The optical scanning device may include a first reflecting portion that is connected to the first beam portion and can rotate around the first beam portion as a rotation axis. In the second direction, which is a direction different from the first direction, the optical scanning device includes a first drive unit and a second drive unit that are provided to face each other while partially sandwiching both ends of the first reflection unit. May be provided. The optical scanning device is provided on the same side of the first reflecting unit as the first driving unit, and corresponds to the position of the first reflecting unit in the first direction different from the position corresponding to the first driving unit. You may provide the 1st detection part provided. The optical scanning device is provided on the same side as the first drive unit, and corresponds to the position of the first reflection unit between the position corresponding to the first drive unit and the position corresponding to the first detection unit. And a first shield part that prevents capacitive coupling between the first detection part and the first drive part.

第1の反射部は、第2方向における両端に複数の櫛歯を有してよい。第1の駆動部および第2の駆動部の各々は、第1の反射部の複数の櫛歯に対して離間して設けられた2以上の同数の櫛歯を有してよい。第1の駆動部および第2の駆動部の櫛歯は、第1の梁部を通る第1方向に対して対称な位置に設けられてよい。   The 1st reflection part may have a plurality of comb teeth at both ends in the 2nd direction. Each of the first drive unit and the second drive unit may include two or more equal numbers of comb teeth that are spaced apart from the plurality of comb teeth of the first reflection unit. The comb teeth of the first driving unit and the second driving unit may be provided at positions symmetrical with respect to the first direction passing through the first beam unit.

光走査装置は、第1の反射部における第2の駆動部と同じ側に、検出部を有さなくてよい。   The optical scanning device does not have to include the detection unit on the same side as the second drive unit in the first reflection unit.

光走査装置は、ダミー部をさらに備えてよい。ダミー部は、接地電位を有し、第1の反射部における第2の駆動部と同じ側に設けられ、第2の駆動部が対応する位置とは異なる第1方向における第1の反射部の位置に対応して設けられてよい。第1のシールド部および第1の検出部とダミー部とは、同数の櫛歯を有し、第1の梁部を通る第1方向に対して対称な位置に設けられてよい。   The optical scanning device may further include a dummy unit. The dummy part has a ground potential, is provided on the same side as the second driving part in the first reflecting part, and the first reflecting part in the first direction different from the position corresponding to the second driving part. It may be provided corresponding to the position. The first shield part, the first detection part, and the dummy part may have the same number of comb teeth, and may be provided at positions symmetrical with respect to the first direction passing through the first beam part.

光走査装置は、電荷電圧変換回路をさらに備えてよい。電荷電圧変換回路は、増幅器と、キャパシタとを有してよい。増幅器は、電気的に接地された非反転入力端子を有してよい。増幅器は、第1の検出部と電気的に接続された反転入力端子を有してよい。増幅器は、出力端子を有してよい。キャパシタは、一端が反転入力端子に電気的に接続され、他端が出力端子に電気的に接続されてよい。   The optical scanning device may further include a charge-voltage conversion circuit. The charge-voltage conversion circuit may include an amplifier and a capacitor. The amplifier may have a non-inverting input terminal that is electrically grounded. The amplifier may have an inverting input terminal electrically connected to the first detection unit. The amplifier may have an output terminal. The capacitor may have one end electrically connected to the inverting input terminal and the other end electrically connected to the output terminal.

光走査装置は、第2の検出部をさらに備えてよい。第2の検出部は、第1の反射部における第2の駆動部と同じ側に設けられ、第2の駆動部が対応する位置とは異なる第1方向における第1の反射部の位置に対応して設けられてよい。   The optical scanning device may further include a second detection unit. The second detection unit is provided on the same side as the second drive unit in the first reflection unit, and corresponds to the position of the first reflection unit in the first direction different from the position corresponding to the second drive unit. May be provided.

光走査装置は、第2のシールド部をさらに備えてよい。第2のシールド部は、第2の駆動部と同じ側に設けられ、第2の駆動部が対応する位置と第2の検出部が対応する位置との間における第1の反射部の位置に対応して設けられてよい。   The optical scanning device may further include a second shield part. The second shield part is provided on the same side as the second drive part, and is located at the position of the first reflection part between the position corresponding to the second drive part and the position corresponding to the second detection part. It may be provided correspondingly.

光走査装置は、第2方向に延伸する第2の梁部をさらに備えてよい。光走査装置は、第2の反射部をさらに備えてよい。第2の反射部は、第2の梁部が接続され、第1の反射部から離れた位置において、第1の駆動部よりも第2の駆動部に隣接して設けられ、第2の梁部を回転軸として回転することができてよい。   The optical scanning device may further include a second beam portion extending in the second direction. The optical scanning device may further include a second reflecting unit. The second reflecting portion is connected to the second beam portion, and is provided adjacent to the second driving portion rather than the first driving portion at a position away from the first reflecting portion. It may be possible to rotate about the part as a rotation axis.

光走査装置は、第3の駆動部および第4の駆動部をさらに備えてよい。第3の駆動部および第4の駆動部は、第1方向において第2の反射部の両端を部分的に挟み、互いに対向して設けられてよい。光走査装置は、第3の検出部をさらに備えてよい。第3の検出部は、第2の反射部における第3の駆動部と同じ側に設けられ、前記第3の駆動部が対応する位置とは異なる第2方向における前記第2の反射部の位置に対応して設けられてよい。光走査装置は、第4の検出部をさらに備えてよい。第4の検出部は、第2の反射部における第4の駆動部と同じ側に設けられ、第4の駆動部が対応する位置とは異なる第2方向における第2の反射部の位置に対応して設けられてよい。光走査装置は、第2方向において、第3の駆動部と第3の検出部との間に位置する第3のシールド部をさらに備えてよい。光走査装置は、第2方向において、第4の駆動部と第4の検出部との間に位置する第4のシールド部をさらに備えてよい。   The optical scanning device may further include a third driving unit and a fourth driving unit. The third driving unit and the fourth driving unit may be provided to face each other with the both ends of the second reflecting unit partially sandwiched in the first direction. The optical scanning device may further include a third detection unit. The third detection unit is provided on the same side as the third drive unit in the second reflection unit, and the position of the second reflection unit in a second direction different from the position corresponding to the third drive unit. It may be provided corresponding to. The optical scanning device may further include a fourth detection unit. The fourth detection unit is provided on the same side of the second reflection unit as the fourth drive unit, and corresponds to the position of the second reflection unit in the second direction different from the position corresponding to the fourth drive unit. May be provided. The optical scanning device may further include a third shield unit positioned between the third drive unit and the third detection unit in the second direction. The optical scanning device may further include a fourth shield unit positioned between the fourth drive unit and the fourth detection unit in the second direction.

内視鏡は、上記に記載の光走査装置を搭載してよい。   The endoscope may be equipped with the optical scanning device described above.

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。   It should be noted that the above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention. In addition, a sub-combination of these feature groups can also be an invention.

内視鏡システム400の概要を示す図である。1 is a diagram showing an outline of an endoscope system 400. FIG. 光走査装置200のY‐Z断面を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a YZ section of the optical scanning device 200. 第1実施形態におけるYスキャナ20およびXスキャナ60の上面図である。It is a top view of Y scanner 20 and X scanner 60 in a 1st embodiment. (A)および(B)は、Yスキャナ20の櫛歯28‐1、38‐1、48−3および58‐3を含む部分の拡大図である(A) And (B) is an enlarged view of a part including comb teeth 28-1, 38-1, 48-3, and 58-3 of the Y scanner 20. 回転角の検出を説明する図である。It is a figure explaining the detection of a rotation angle. 第2実施形態におけるYスキャナ20およびXスキャナ60の上面図である。It is a top view of Y scanner 20 and X scanner 60 in a 2nd embodiment. 第3実施形態におけるYスキャナ20およびXスキャナ60の上面図である。It is a top view of Y scanner 20 and X scanner 60 in a 3rd embodiment. 第1比較例におけるYスキャナ20およびXスキャナ60の上面図である。It is a top view of Y scanner 20 and X scanner 60 in the 1st comparative example.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。本明細書では、X軸、Y軸およびZ軸の直交座標軸を用いて技術的事項を説明する。直交座標軸は、構成要素の相対位置を特定するに過ぎず、特定の方向を限定するものではない。例えば、Z軸は地面に対する高さ方向を限定して示すものではない。なお、+Z軸方向と−Z軸方向とは互いに逆向きの方向である。正負を記載せず、Z軸方向と記載した場合、+Z軸および−Z軸に平行な方向を意味する。   Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention, but the following embodiments do not limit the invention according to the claims. In addition, not all the combinations of features described in the embodiments are essential for the solving means of the invention. In this specification, technical matters will be described using orthogonal coordinate axes of the X axis, the Y axis, and the Z axis. The Cartesian coordinate axis only specifies the relative position of the component, and does not limit a specific direction. For example, the Z axis does not limit the height direction with respect to the ground. Note that the + Z-axis direction and the −Z-axis direction are directions opposite to each other. When the Z axis direction is described without describing positive and negative, it means a direction parallel to the + Z axis and the −Z axis.

図1は、内視鏡システム400の概要を示す図である。本例の内視鏡システム400は、内視鏡300、レーザ光源310、ダイクロイックミラー320、光検出部330、AD変換部340、画像処理部350および表示部360を有する。なお、本例は、内視鏡システム400の例示的構成であり、内視鏡システム400はここに示す以外の構成を有してもよい。   FIG. 1 is a diagram showing an outline of an endoscope system 400. The endoscope system 400 of this example includes an endoscope 300, a laser light source 310, a dichroic mirror 320, a light detection unit 330, an AD conversion unit 340, an image processing unit 350, and a display unit 360. In addition, this example is an exemplary configuration of the endoscope system 400, and the endoscope system 400 may have a configuration other than that shown here.

内視鏡300は、非走査型光学装置210、鉗子口220、ライト230およびノズル240を有する。光走査装置200は、鉗子口220に挿入されて使用されるものであり、内視鏡300とは別の装置である。光走査装置200は、内視鏡300に搭載されてよい。光走査装置200については図2以降において詳述する。光走査装置200は、対象物500の焦点面510(X‐Y平面)において光を走査することができる。非走査型光学装置210は、X‐Y平面において光を走査できない通常型の光学装置である。   The endoscope 300 includes a non-scanning optical device 210, a forceps port 220, a light 230, and a nozzle 240. The optical scanning device 200 is used by being inserted into the forceps port 220 and is a device different from the endoscope 300. The optical scanning device 200 may be mounted on the endoscope 300. The optical scanning device 200 will be described in detail in FIG. The optical scanning device 200 can scan light on the focal plane 510 (XY plane) of the object 500. The non-scanning optical device 210 is a normal optical device that cannot scan light in the XY plane.

対象物500は、人間または他の動物の体内の一部であってよい。鉗子口220は、対象物500の一部を切除する鉗子が出入りすることができる開口である。ライト230は、対象物500を照らすために用いられてよい。ノズル240は、送水または送風の機能を有する。ノズル240は機能の数に応じて複数設けてもよい。   The object 500 may be a part of a human or other animal body. The forceps port 220 is an opening through which forceps for excising a part of the object 500 can enter and exit. The light 230 may be used to illuminate the object 500. The nozzle 240 has a function of supplying water or blowing air. A plurality of nozzles 240 may be provided according to the number of functions.

レーザ光源310は、光走査装置200の光源となる光を発生する。本例のレーザ光源310は、488nmのレーザ光312を出力する。レーザ光源310の出力は、1000mW未満であってよい。   The laser light source 310 generates light that serves as the light source of the optical scanning device 200. The laser light source 310 of this example outputs a laser beam 312 having a wavelength of 488 nm. The output of the laser light source 310 may be less than 1000 mW.

ダイクロイックミラー320は、レーザ光312を反射する機能を有する。反射されたレーザ光312は、光走査装置200の光ファイバ19に入射し、光走査装置200を経て対象物500に入射する。   The dichroic mirror 320 has a function of reflecting the laser light 312. The reflected laser beam 312 enters the optical fiber 19 of the optical scanning device 200, and enters the object 500 through the optical scanning device 200.

対象物500は、レーザ光312を吸収して蛍光314を放出する。本例の対象物500は、青色帯域(波長換算で435nm〜500nm程度)のレーザ光312を吸収して緑色帯域(波長換算で500nm〜560nm程度)の蛍光314を放出する、蛍光材料を有する。当該状況は、人間または他の動物の体内に蛍光材料を導入することにより実現することができる。   The object 500 absorbs the laser light 312 and emits fluorescence 314. The object 500 of this example has a fluorescent material that absorbs the laser light 312 in the blue band (wavelength conversion of about 435 nm to 500 nm) and emits the fluorescence 314 in the green band (wavelength conversion of about 500 nm to 560 nm). This situation can be realized by introducing a fluorescent material into the body of a human or other animal.

対象物500が放出した蛍光314は、光走査装置200、光ファイバ19およびダイクロイックミラー320を経て、光検出部330に入射する。なお、本例のダイクロイックミラー320は、蛍光314を透過する機能を有する。   The fluorescence 314 emitted from the object 500 enters the light detection unit 330 through the optical scanning device 200, the optical fiber 19, and the dichroic mirror 320. Note that the dichroic mirror 320 of this example has a function of transmitting the fluorescence 314.

光検出部330は、対象物500からの蛍光を検知する。光検出部330は、フォトダイオード等の光電変換装置を有してよい。光検出部330は、蛍光314の強度に応じて電荷を生成する。例えば、蛍光314の強度が強い程より多くの電荷を生成する。   The light detection unit 330 detects fluorescence from the object 500. The light detection unit 330 may include a photoelectric conversion device such as a photodiode. The light detection unit 330 generates an electric charge according to the intensity of the fluorescence 314. For example, the higher the intensity of the fluorescence 314, the more charges are generated.

AD変換部340は、アナログ情報である電荷の量をデジタル信号に変換する、アナログ・デジタルコンバータを有する。AD変換部340はデジタル信号を画像処理部350に出力し、画像処理部350はデジタル信号に基づいて画像を生成する。本例の画像処理部350はデジタル信号からリサージュ走査画像を生成し、表示部360はリサージュ走査画像を表示する。ユーザは、リサージュ走査画像により対象物500の焦点面510を視認することができる。   The AD conversion unit 340 includes an analog / digital converter that converts the amount of charge, which is analog information, into a digital signal. The AD conversion unit 340 outputs a digital signal to the image processing unit 350, and the image processing unit 350 generates an image based on the digital signal. In this example, the image processing unit 350 generates a Lissajous scan image from the digital signal, and the display unit 360 displays the Lissajous scan image. The user can visually recognize the focal plane 510 of the object 500 from the Lissajous scanning image.

図2は、光走査装置200のY‐Z断面を示す図である。光走査装置200は、管10、フランジ12、対物レンズ16、コリメートレンズ17、スキャナユニット100、配線基板106を有する。本明細書において、Z軸方向は対物レンズ16の光軸方向と平行な方向である。なお、図2では蛍光314の記載を省略している。   FIG. 2 is a diagram illustrating a YZ cross section of the optical scanning device 200. The optical scanning device 200 includes a tube 10, a flange 12, an objective lens 16, a collimating lens 17, a scanner unit 100, and a wiring board 106. In this specification, the Z-axis direction is a direction parallel to the optical axis direction of the objective lens 16. In FIG. 2, the description of the fluorescence 314 is omitted.

管10は、Z軸方向に延伸する管である。管10のZ軸方向の長さは、人間または他の動物の体内を曲がりながら移動できる長さであることが望ましい。管10のZ軸方向の長さは、10mm〜20mmであってよい。また、管10の外径は3.0mmであってよい。   The tube 10 is a tube that extends in the Z-axis direction. The length of the tube 10 in the Z-axis direction is desirably a length that can be moved while bending in the body of a human or other animal. The length of the tube 10 in the Z-axis direction may be 10 mm to 20 mm. Further, the outer diameter of the tube 10 may be 3.0 mm.

配線基板106は、管10内部に設けられる。本例の配線基板106上には、レンズホルダ14、スキャナユニット100、レンズホルダ18および複数のICチップ108が載置される。なお、本明細書において、+Y軸方向を便宜的に「上」または「上方」とし、−Y軸方向を便宜的に「下」または「下方」と称する。   The wiring board 106 is provided inside the tube 10. On the wiring substrate 106 of this example, the lens holder 14, the scanner unit 100, the lens holder 18, and a plurality of IC chips 108 are placed. In the present specification, the + Y-axis direction is referred to as “up” or “upward” for convenience, and the −Y-axis direction is referred to as “down” or “downward” for convenience.

レンズホルダ14には、対物レンズ16が固定して設けられる。対物レンズ16は、スキャナユニット100から出射されたレーザ光312を焦点面510に集光する。   An objective lens 16 is fixedly provided on the lens holder 14. The objective lens 16 focuses the laser beam 312 emitted from the scanner unit 100 on the focal plane 510.

スキャナユニット100は、配線基板106上に載置される。スキャナユニット100は、固定鏡102およびSOI(Silicon On Insulator)基板104を有する。固定鏡102は複数の反射面を有する。本例の固定鏡102は3つの反射面を有する。   The scanner unit 100 is placed on the wiring board 106. The scanner unit 100 includes a fixed mirror 102 and an SOI (Silicon On Insulator) substrate 104. The fixed mirror 102 has a plurality of reflecting surfaces. The fixed mirror 102 of this example has three reflecting surfaces.

SOI基板104には複数の反射部が設けられる。本例において、複数の反射部はSOI基板104の活性層から形成される。コリメートレンズ17から入射した光は固定鏡102の反射面とSOI基板104の反射部との間で反射され、最終的に対物レンズ16から出射される。   The SOI substrate 104 is provided with a plurality of reflecting portions. In this example, the plurality of reflecting portions are formed from the active layer of the SOI substrate 104. The light incident from the collimating lens 17 is reflected between the reflecting surface of the fixed mirror 102 and the reflecting portion of the SOI substrate 104 and is finally emitted from the objective lens 16.

複数の反射部は、各々回転振動することができる。スキャナユニット100は、複数の反射部によりレーザ光312を反射させることで、レーザ光312をX方向およびY方向に走査することができる。   Each of the plurality of reflecting portions can be rotated and vibrated. The scanner unit 100 can scan the laser beam 312 in the X direction and the Y direction by reflecting the laser beam 312 with a plurality of reflection units.

レンズホルダ18には、コリメートレンズ17が固定して設けられる。コリメートレンズ17は、光ファイバ19から出射されたレーザ光312を平行光にする。フランジ12は光ファイバ19を固定する。これにより、光ファイバ19の断面中心とコリメートレンズ17および対物レンズ16の光軸とを一致させることができる。   A collimating lens 17 is fixedly provided on the lens holder 18. The collimating lens 17 converts the laser light 312 emitted from the optical fiber 19 into parallel light. The flange 12 fixes the optical fiber 19. Thereby, the cross-sectional center of the optical fiber 19 and the optical axes of the collimating lens 17 and the objective lens 16 can be matched.

ICチップ108は、反射部の回転角度を検知する角度検知機能、ノイズ除去機能およびオペアンプ機能を有してよい。スキャナユニット100とICチップ108とを共に配線基板106上に載置することにより、両者を物理的に近接して配置することができる。これにより、ノイズに埋もれやすい微小電圧信号をより正確に捉えることができる。   The IC chip 108 may have an angle detection function for detecting the rotation angle of the reflection unit, a noise removal function, and an operational amplifier function. By placing both the scanner unit 100 and the IC chip 108 on the wiring board 106, they can be placed in close physical proximity. Thereby, a minute voltage signal that is easily buried in noise can be captured more accurately.

図3は、第1実施形態におけるYスキャナ20およびXスキャナ60の上面図である。SOI基板104は、Yスキャナ20およびXスキャナ60を備える。本例で開示するYスキャナ20およびXスキャナ60は、既知のエッチング手法を適用してSOI基板をパターニングすることにより形成することができる。   FIG. 3 is a top view of the Y scanner 20 and the X scanner 60 in the first embodiment. The SOI substrate 104 includes a Y scanner 20 and an X scanner 60. The Y scanner 20 and the X scanner 60 disclosed in this example can be formed by patterning an SOI substrate by applying a known etching technique.

(Yスキャナ20)Yスキャナ20は、第1の梁部としての梁部21と、第1の固定部22‐1、第2の固定部22‐2と、第1の反射部としての反射部24を有する。本例において、反射部24の+Y軸方向の面には、光を反射するべく厚さ100nmのアルミニウム等の金属層を設ける。Yスキャナ20は、第1の駆動部および第2の駆動部としての駆動部32‐1および32‐2と、第1、第2、第5および第6の検出部としての検出部52‐1〜52‐4と、第1、第2、第5および第6のシールド部としてのシールド部42‐1〜42‐4とをさらに有する。   (Y Scanner 20) The Y scanner 20 includes a beam portion 21 as a first beam portion, a first fixing portion 22-1 and a second fixing portion 22-2, and a reflecting portion as a first reflecting portion. 24. In this example, a metal layer such as aluminum having a thickness of 100 nm is provided on the surface in the + Y-axis direction of the reflector 24 to reflect light. The Y scanner 20 includes a drive unit 32-1 and 32-2 as a first drive unit and a second drive unit, and a detection unit 52-1 as a first, second, fifth, and sixth detection unit. To 52-4, and shield portions 42-1 to 42-4 as first, second, fifth and sixth shield portions.

(固定部22、反射部24、櫛歯28)梁部21は、第1方向としてのX軸方向に延伸する。反射部24のX軸方向の両端には、梁部21が接続される。反射部24は、梁部21を回転軸として回転することができる。反射部24は、第2方向としてのZ軸方向における両端に複数の櫛歯28を有する。本例の第2方向はZ軸方向であるので、第1方向(X軸方向)とは異なる方向であり、かつ、直交する方向である。本例の梁部21、固定部22、反射部24および櫛歯28は、SOI基板104の活性層から形成される。   (Fixed portion 22, reflecting portion 24, comb tooth 28) The beam portion 21 extends in the X-axis direction as the first direction. Beam portions 21 are connected to both ends of the reflection portion 24 in the X-axis direction. The reflection part 24 can rotate with the beam part 21 as a rotation axis. The reflection unit 24 has a plurality of comb teeth 28 at both ends in the Z-axis direction as the second direction. Since the 2nd direction of this example is a Z-axis direction, it is a direction different from a 1st direction (X-axis direction), and is a direction orthogonal. The beam portion 21, the fixing portion 22, the reflection portion 24, and the comb teeth 28 in this example are formed from an active layer of the SOI substrate 104.

(駆動部32、櫛歯38)本例において、第1の駆動部としての駆動部32‐1は、反射部24の端部26‐1の位置35に対して+Z軸方向に対向して設けられる。また、第2の駆動部としての駆動部32‐2は、梁部21を通るX軸方向に対して駆動部32‐1と対称な位置に設けられる。駆動部32‐1および32‐2は、反射部24の両端を部分的に挟み、互いに対向して設けられる。   (Driver 32, Comb Teeth 38) In this example, the driver 32-1 as the first driver is provided facing the position 35 of the end 26-1 of the reflector 24 in the + Z-axis direction. It is done. Further, the driving unit 32-2 as the second driving unit is provided at a position symmetrical to the driving unit 32-1 with respect to the X-axis direction passing through the beam unit 21. The drive units 32-1 and 32-2 are provided to face each other with the both ends of the reflection unit 24 partially interposed therebetween.

駆動部32‐1は、反射部24の複数の櫛歯28に対して離間して設けられた2以上の櫛歯38‐1を有する。駆動部32‐2も、櫛歯28に対して離間して設けられ、櫛歯38‐1と同数の2以上の櫛歯38‐2を有する。櫛歯38は、反射部24の櫛歯28と噛み合うように配置される。櫛歯38‐1および38‐2は、梁部21を通るX軸方向に対して対称な位置に設けられる。   The drive unit 32-1 has two or more comb teeth 38-1 provided apart from the plurality of comb teeth 28 of the reflection unit 24. The driving unit 32-2 is also provided so as to be separated from the comb teeth 28, and has two or more comb teeth 38-2 in the same number as the comb teeth 38-1. The comb teeth 38 are arranged so as to mesh with the comb teeth 28 of the reflecting portion 24. The comb teeth 38-1 and 38-2 are provided at positions symmetrical with respect to the X-axis direction passing through the beam portion 21.

(櫛歯28および38による容量形成)駆動部32の櫛歯38と反射部24の櫛歯28とは互いに接触しない。櫛歯38は反射部24に接触せず、櫛歯28も駆動部32に接触しない。これにより、櫛歯28と櫛歯38とは、間に空気を挟んで静電容量を形成する。   (Capacitance formation by comb teeth 28 and 38) The comb teeth 38 of the drive unit 32 and the comb teeth 28 of the reflection unit 24 do not contact each other. The comb teeth 38 do not contact the reflecting portion 24, and the comb teeth 28 do not contact the driving portion 32. Thus, the comb teeth 28 and the comb teeth 38 form a capacitance with air interposed therebetween.

本例の反射部24には、固定部22の±X軸方向端部のパッド(図3では四角枠で示す。)を介して直流電圧が印加される。なお、梁部21、固定部22および反射部24は、電気的に接続されている。また、本例の駆動部32には、±X軸方向端部のパッド(図3では四角枠で示す。)を介して交流電圧が印加される。パッドはアルミニウム等の金属薄膜層であってよい。櫛歯28と櫛歯38との間に働く静電気力により、反射部24は、梁部21を回転軸として回転振動する。本例では、駆動部32‐1と反射部24との静電容量と、駆動部32‐2と反射部24との静電容量とを等しくすることにより、反射部24は梁部21を回転軸として左右にバランスよく回転振動することができる。   A DC voltage is applied to the reflecting portion 24 of this example via a pad (indicated by a square frame in FIG. 3) at the ± X-axis direction end portion of the fixed portion 22. In addition, the beam part 21, the fixing | fixed part 22, and the reflection part 24 are electrically connected. In addition, an alternating voltage is applied to the drive unit 32 of this example via a pad (indicated by a square frame in FIG. 3) at the end in the ± X axis direction. The pad may be a metal thin film layer such as aluminum. Due to the electrostatic force acting between the comb teeth 28 and the comb teeth 38, the reflecting portion 24 rotates and vibrates about the beam portion 21 as a rotation axis. In this example, the reflecting part 24 rotates the beam part 21 by making the electrostatic capacity of the driving part 32-1 and the reflecting part 24 equal to the electrostatic capacity of the driving part 32-2 and the reflecting part 24. The shaft can rotate and vibrate in a balanced manner from side to side.

(検出部52、櫛歯58)検出部52‐1は、反射部24における駆動部32‐1と同じ側に設けられる。また、検出部52‐1は、反射部24において駆動部32‐1が対応する位置35とは異なる位置55に対応して設けられる。位置35と位置55とは、反射部24の端部26のX軸方向における異なる位置である。   (Detection unit 52, comb tooth 58) The detection unit 52-1 is provided on the same side as the drive unit 32-1 in the reflection unit 24. Further, the detection unit 52-1 is provided corresponding to a position 55 different from the position 35 corresponding to the drive unit 32-1 in the reflection unit 24. The position 35 and the position 55 are different positions in the X-axis direction of the end portion 26 of the reflecting portion 24.

第1の検出部としての検出部52‐1と、第2の検出部としての検出部52‐2とは、梁部21を通るX軸方向に対して対称な位置に設けられる。検出部52‐2は、反射部24における駆動部32‐2と同じ側に設けられる。検出部52‐2は、駆動部32‐2が対応する位置とは異なるX軸方向における反射部24の位置に対応して設けられる。検出部52‐1は櫛歯58‐1を有し、検出部52‐2は櫛歯58‐2を有する。   The detection unit 52-1 as the first detection unit and the detection unit 52-2 as the second detection unit are provided at positions symmetrical with respect to the X-axis direction passing through the beam portion 21. The detection unit 52-2 is provided on the same side of the reflection unit 24 as the drive unit 32-2. The detection unit 52-2 is provided corresponding to the position of the reflection unit 24 in the X-axis direction different from the position corresponding to the drive unit 32-2. The detection unit 52-1 has comb teeth 58-1, and the detection unit 52-2 has comb teeth 58-2.

第5の検出部52‐3は、駆動部32‐1に対して検出部52‐1と対称な位置に設けられる。また、第6の検出部52‐4は、駆動部32‐2に対して検出部52‐2と対称な位置に設けられる。検出部52‐3と検出部52‐4とは、梁部21を通るX軸方向に対して対称な位置に設けられる。検出部52‐3は櫛歯58‐3を有し、検出部52‐4は櫛歯58‐4を有する。   The fifth detection unit 52-2 is provided at a position symmetrical to the detection unit 52-1 with respect to the drive unit 32-1. The sixth detection unit 52-4 is provided at a position symmetrical to the detection unit 52-2 with respect to the drive unit 32-2. The detection unit 52-3 and the detection unit 52-4 are provided at positions symmetrical with respect to the X-axis direction passing through the beam portion 21. The detector 52-3 has comb teeth 58-3, and the detector 52-4 has comb teeth 58-4.

本例では、検出部52‐1から52‐4のそれぞれを電気的に接続した上で、検出部52と反射部24との静電容量の変化を検出する。検出の原理については後述の図5で説明する。   In this example, after each of the detection units 52-1 to 52-4 is electrically connected, a change in capacitance between the detection unit 52 and the reflection unit 24 is detected. The principle of detection will be described later with reference to FIG.

(櫛歯28および櫛歯58による容量形成)検出部52の櫛歯58と反射部24の櫛歯28とは互いに接触しない。櫛歯58は反射部24に接触せず、櫛歯28も検出部52に接触しない。これにより、櫛歯28と櫛歯58とは、間に空気を挟んだ静電容量を形成する。   (Capacity formation by the comb teeth 28 and the comb teeth 58) The comb teeth 58 of the detection unit 52 and the comb teeth 28 of the reflection unit 24 do not contact each other. The comb teeth 58 do not contact the reflection unit 24, and the comb teeth 28 do not contact the detection unit 52. Thereby, the comb teeth 28 and the comb teeth 58 form a capacitance with air sandwiched therebetween.

反射部24が梁部21を回転軸として回転振動することに応じて、櫛歯28と櫛歯58との静電容量が変化する。検出部52は、静電容量の変化を後段の回路に伝達する。本例の検出部52には、±X軸方向端部にパッド(図3では四角枠で示す。)を有する。検出部52は、櫛歯28と櫛歯58との静電容量の変化に応じた電荷の変化を、入力電流信号Iinとして後段の回路に出力する。   The electrostatic capacitance of the comb teeth 28 and the comb teeth 58 changes according to the fact that the reflecting portion 24 rotates and vibrates about the beam portion 21 as a rotation axis. The detection unit 52 transmits the change in capacitance to a subsequent circuit. The detection unit 52 of this example has a pad (indicated by a square frame in FIG. 3) at an end in the ± X axis direction. The detection unit 52 outputs a change in charge according to a change in capacitance between the comb teeth 28 and the comb teeth 58 as an input current signal Iin to a subsequent circuit.

(シールド部42)第1のシールド部としてのシールド部42‐1は、駆動部32‐1と同じ側に設けられる。シールド部42‐1は、反射部24の位置35と位置55との間における位置45に対応して設けられる。本例のシールド部42は、接地されており、GND電位を維持する。それゆえ、シールド部42は、検出部52と駆動部32との容量結合を防ぐ機能を有する。これにより、シールド部42が設けられない場合と比較して、駆動部32に入力される交流電圧の信号が、検出部52にノイズとして混信することを低減することができる。   (Shield part 42) The shield part 42-1 as the first shield part is provided on the same side as the drive part 32-1. The shield part 42-1 is provided corresponding to a position 45 between the position 35 and the position 55 of the reflecting part 24. The shield part 42 of this example is grounded and maintains the GND potential. Therefore, the shield unit 42 has a function of preventing capacitive coupling between the detection unit 52 and the drive unit 32. Thereby, compared with the case where the shield part 42 is not provided, it can reduce that the signal of the alternating voltage input into the drive part 32 interferes with the detection part 52 as noise.

第2のシールド部としてのシールド部42‐2は、駆動部32‐2と同じ側に設けられる。シールド部42‐2は、駆動部32‐2が対応する反射部24の位置と検出部52‐2が対応する反射部24の位置との間における反射部24の位置に対応して設けられる。シールド部42‐1は櫛歯48‐1を有し、シールド部42‐2は櫛歯48‐2を有する。   The shield part 42-2 as the second shield part is provided on the same side as the drive part 32-2. The shield part 42-2 is provided corresponding to the position of the reflection part 24 between the position of the reflection part 24 to which the drive part 32-2 corresponds and the position of the reflection part 24 to which the detection part 52-2 corresponds. The shield part 42-1 has comb teeth 48-1, and the shield part 42-2 has comb teeth 48-2.

第5のシールド部42‐3は、駆動部32‐1に対してシールド部42‐1と対称な位置に設けられる。また、第6のシールド部42‐4は、駆動部32‐2に対してシールド部42‐2と対称な位置に設けられる。シールド部42‐3とシールド部42‐4とは、梁部21を通るX軸方向に対して対称な位置に設けられる。シールド部42‐3は櫛歯48‐3を有し、シールド部42‐4は櫛歯48‐4を有する。   The fifth shield part 42-3 is provided at a position symmetrical to the shield part 42-1 with respect to the drive part 32-1. Further, the sixth shield part 42-4 is provided at a position symmetrical to the shield part 42-2 with respect to the drive part 32-2. The shield part 42-3 and the shield part 42-4 are provided at positions symmetrical with respect to the X-axis direction passing through the beam part 21. The shield part 42-3 has comb teeth 48-3, and the shield part 42-4 has comb teeth 48-4.

(Xスキャナ60)Xスキャナ60は、Yスキャナ20と形状が異なる。ただし、Xスキャナ60は、機能的には、X‐Z平面に置いてYスキャナ20を90度回転させたスキャナである。それゆえ、Yスキャナ20とXスキャナ60とは多くの点で共通する。Yスキャナ20と共通する機能については説明を省略する。   (X Scanner 60) The shape of the X scanner 60 is different from that of the Y scanner 20. However, the X scanner 60 is functionally a scanner in which the Y scanner 20 is rotated 90 degrees on the XZ plane. Therefore, the Y scanner 20 and the X scanner 60 are common in many respects. Description of functions common to the Y scanner 20 is omitted.

Xスキャナ60は、第2の梁部としての梁部61と、第3の固定部62‐1、第4の固定部62‐2と、第2の反射部としての反射部64を有する。Xスキャナ60は、第3の駆動部および第4の駆動部としての駆動部72‐1および72‐2と、第3、第4、第7および第8の検出部としての検出部52‐1〜52‐4と、第3、第4、第7および第8のシールド部としてのシールド部42‐1〜42‐4とをさらに有する。   The X scanner 60 includes a beam portion 61 as a second beam portion, a third fixing portion 62-1 and a fourth fixing portion 62-2, and a reflecting portion 64 as a second reflecting portion. The X scanner 60 includes a drive unit 72-1 and 72-2 as a third drive unit and a fourth drive unit, and a detection unit 52-1 as a third, fourth, seventh, and eighth detection unit. To 52-4, and shield portions 42-1 to 42-4 as third, fourth, seventh and eighth shield portions.

(固定部62、反射部64、櫛歯68)反射部64は、X‐Z平面の反射部24から離れた位置において、Yスキャナ20の駆動部32‐1よりも駆動部32‐2に隣接して設けられる。梁部61は、第2方向としてのZ軸方向に延伸する。反射部64のZ軸方向の両端には、梁部61が接続される。反射部64は、梁部61を回転軸として回転することができる。反射部64は、X軸方向における両端に複数の櫛歯68を有する。本例の梁部61、固定部62、反射部64および櫛歯68も、SOI基板104の活性層から形成される。   (Fixed portion 62, reflecting portion 64, comb tooth 68) The reflecting portion 64 is adjacent to the driving portion 32-2 rather than the driving portion 32-1 of the Y scanner 20 at a position away from the reflecting portion 24 on the XZ plane. Provided. The beam portion 61 extends in the Z-axis direction as the second direction. Beam portions 61 are connected to both ends of the reflecting portion 64 in the Z-axis direction. The reflection part 64 can rotate with the beam part 61 as a rotation axis. The reflecting portion 64 has a plurality of comb teeth 68 at both ends in the X-axis direction. The beam portion 61, the fixing portion 62, the reflecting portion 64, and the comb teeth 68 in this example are also formed from the active layer of the SOI substrate 104.

本例では、Xスキャナ60の反射部64をYスキャナ20の駆動部32‐2に近接して設ける。これにより、駆動部32、シールド部42および検出部52を有する本例において、Yスキャナ20の反射部24とXスキャナ60の反射部64との間隔を最小化することができる。これにより、光走査装置200のZ軸方向の大きさを縮小することができる。   In this example, the reflection unit 64 of the X scanner 60 is provided in the vicinity of the drive unit 32-2 of the Y scanner 20. Thereby, in this example which has the drive part 32, the shield part 42, and the detection part 52, the space | interval of the reflection part 24 of the Y scanner 20 and the reflection part 64 of the X scanner 60 can be minimized. As a result, the size of the optical scanning device 200 in the Z-axis direction can be reduced.

(駆動部72、櫛歯78)本例において、第3の駆動部としての駆動部72‐1は、反射部64の端部66‐1の位置75に対して−X軸方向に対向して設けられる。また、第4の駆動部としての駆動部72‐2は、梁部61を通るZ軸方向に対して駆動部72‐1と対称な位置に設けられる。駆動部72‐1および72‐2は、X軸方向において反射部64の両端を部分的に挟み、互いに対向して設けられる。   (Driver 72, Comb 78) In this example, the driver 72-1 as the third driver is opposed to the position 75 of the end 66-1 of the reflector 64 in the -X-axis direction. Provided. The drive unit 72-2 as the fourth drive unit is provided at a position symmetrical to the drive unit 72-1 with respect to the Z-axis direction passing through the beam unit 61. The drive units 72-1 and 72-2 are provided to face each other with the both ends of the reflection unit 64 partially sandwiched in the X-axis direction.

駆動部72‐1は、反射部64の複数の櫛歯68に対して離間して設けられた2以上の櫛歯78‐1を有する。駆動部72‐2も、櫛歯68に対して離間して設けられ、櫛歯78‐1と同数の2以上の櫛歯78‐2を有する。櫛歯78は、反射部64の櫛歯68と噛み合うように配置される。櫛歯78‐1および78‐2は、梁部61を通るZ軸方向に対して対称な位置に設けられる。   The drive unit 72-1 has two or more comb teeth 78-1 provided apart from the plurality of comb teeth 68 of the reflection unit 64. The drive unit 72-2 is also provided so as to be separated from the comb teeth 68, and has two or more comb teeth 78-2 as many as the comb teeth 78-1. The comb teeth 78 are arranged so as to mesh with the comb teeth 68 of the reflecting portion 64. The comb teeth 78-1 and 78-2 are provided at positions symmetrical with respect to the Z-axis direction passing through the beam portion 61.

(検出部92、櫛歯98)検出部92‐1は、反射部64における駆動部72‐1と同じ側に設けられる。また、検出部92‐1は、反射部64において駆動部72‐1が対応する位置75とは異なる位置95に対応して設けられる。位置75と位置95とは、反射部64の端部66のZ軸方向における異なる位置である。   (Detection unit 92, comb tooth 98) The detection unit 92-1 is provided on the same side as the drive unit 72-1 in the reflection unit 64. The detection unit 92-1 is provided corresponding to a position 95 different from the position 75 corresponding to the driving unit 72-1 in the reflection unit 64. The position 75 and the position 95 are different positions in the Z-axis direction of the end portion 66 of the reflecting portion 64.

第3の検出部としての検出部92‐1と、第4の検出部としての検出部92‐2とは、梁部61を通るZ軸方向に対して対称な位置に設けられる。検出部92‐2は、反射部64における駆動部72‐2と同じ側に設けられる。検出部92‐2は、駆動部72‐2が対応する位置とは異なるZ軸方向における反射部64の位置に対応して設けられる。検出部92‐1は櫛歯98‐1を有し、検出部92‐2は櫛歯98‐2を有する。
(シールド部82)第3のシールド部としてのシールド部82‐1は、Z軸方向において、駆動部72‐1と検出部92‐1との間に位置する。第4のシールド部としてのシールド部82‐2は、Z軸方向において、駆動部72‐2と検出部92‐2との間の位置85に位置する。シールド部82‐1は櫛歯88‐1を有し、シールド部82‐2は櫛歯88‐2を有する。
The detection unit 92-1 as the third detection unit and the detection unit 92-2 as the fourth detection unit are provided at positions symmetrical with respect to the Z-axis direction passing through the beam unit 61. The detection unit 92-2 is provided on the same side of the reflection unit 64 as the drive unit 72-2. The detection unit 92-2 is provided corresponding to the position of the reflection unit 64 in the Z-axis direction different from the position corresponding to the driving unit 72-2. The detection unit 92-1 has comb teeth 98-1, and the detection unit 92-2 has comb teeth 98-2.
(Shield part 82) The shield part 82-1 as the third shield part is located between the drive part 72-1 and the detection part 92-1 in the Z-axis direction. The shield part 82-2 as the fourth shield part is located at a position 85 between the drive part 72-2 and the detection part 92-2 in the Z-axis direction. The shield part 82-1 has comb teeth 88-1, and the shield part 82-2 has comb teeth 88-2.

第7のシールド部としてのシールド部82‐3は、駆動部72‐1に対してシールド部82‐1と対称な位置に設けられる。また、第8のシールド部としてのシールド部82‐4は、駆動部72‐2に対してシールド部82‐2と対称な位置に設けられる。シールド部82‐3とシールド部82‐4とは、梁部61を通るZ軸方向に対して対称な位置に設けられる。シールド部82‐3は櫛歯88‐3を有し、シールド部82‐4は櫛歯88‐4を有する。   The shield part 83-3 as the seventh shield part is provided at a position symmetrical to the shield part 82-1 with respect to the drive part 72-1. The shield part 82-4 as the eighth shield part is provided at a position symmetrical to the shield part 82-2 with respect to the drive part 72-2. The shield part 82-3 and the shield part 82-4 are provided at positions symmetrical with respect to the Z-axis direction passing through the beam part 61. The shield part 82-3 has comb teeth 88-3, and the shield part 82-4 has comb teeth 88-4.

図4の(A)および(B)は、Yスキャナ20の櫛歯28‐1、38‐1、48−3および58‐3を含む部分の拡大図である。本例では、Yスキャナ20について説明するが、Xスキャナ60においても、同様である。本例において、反射部24および検出部52の活性層の厚みは同じである。そこで、反射部24および検出部52の活性層の最下部を基準位置とする。   4A and 4B are enlarged views of a portion including the comb teeth 28-1, 38-1, 48-3, and 58-3 of the Y scanner 20. FIG. In this example, the Y scanner 20 will be described, but the same applies to the X scanner 60. In this example, the thickness of the active layer of the reflection part 24 and the detection part 52 is the same. Therefore, the lowermost part of the active layer of the reflector 24 and the detector 52 is set as a reference position.

(A)は、回転角が0度の状態を示す。(A)において、反射部24および検出部52の活性層の最下部は、ともに一致している。(B)は、回転角がθ(≠0)度の状態を示す。(B)において、反射部24の最下部と検出部52‐3の最下部とは、梁部21を回転軸として角度θを成す。   (A) shows a state where the rotation angle is 0 degree. In (A), the lowermost portions of the active layers of the reflecting portion 24 and the detecting portion 52 are coincident with each other. (B) shows a state where the rotation angle is θ (≠ 0) degrees. In (B), the lowermost part of the reflecting part 24 and the lowermost part of the detecting part 52-3 form an angle θ with the beam part 21 as the rotation axis.

(A)において、反射部24と検出部52‐3とがX軸方向において重なる面積は最大となる。それゆえ、回転角が0度の場合に、反射部24と検出部52‐3とが形成する静電容量は最大値となる。これに対して、梁部21を回転軸として反射部24が回転する(回転角が±θ度となる)と共に、反射部24と検出部52‐3とがX軸方向において重なる面積は減少する。それゆえ、反射部24が回転するとともに反射部24と検出部52‐3とが形成する静電容量は減少する。   In (A), the area where the reflection part 24 and the detection part 52-3 overlap in the X-axis direction is the maximum. Therefore, when the rotation angle is 0 degree, the capacitance formed by the reflection unit 24 and the detection unit 52-3 becomes the maximum value. On the other hand, the reflection part 24 rotates about the beam part 21 as the rotation axis (the rotation angle becomes ± θ degrees), and the area where the reflection part 24 and the detection part 52-3 overlap in the X-axis direction decreases. . Therefore, as the reflecting unit 24 rotates, the capacitance formed by the reflecting unit 24 and the detecting unit 52-3 decreases.

図5は、回転角の検出を説明する図である。本例では、Yスキャナ20について説明するが、Xスキャナ60においても、同様の回転角の検出機構を適用することができる。   FIG. 5 is a diagram illustrating detection of the rotation angle. In this example, the Y scanner 20 will be described, but the same rotation angle detection mechanism can also be applied to the X scanner 60.

反射部24には、固定部22を通じて直流電圧が印加される。反射部24と検出部52とはキャパシタCを形成する。なお、検出部52とシールド部42とはキャパシタCを形成する。シールド部42と駆動部32とはキャパシタCを形成する。駆動部32には交流電圧が印加されるが、シールド部42は接地されているので、駆動部32と検出部52との容量結合は防止される。 A direct current voltage is applied to the reflecting portion 24 through the fixed portion 22. The reflective portion 24 and the detection unit 52 forms a capacitor C 1. Incidentally, a detection unit 52 and the shield portion 42 to form a capacitor C 2. The shield portion 42 and the drive unit 32 to form a capacitor C 3. An AC voltage is applied to the drive unit 32, but since the shield unit 42 is grounded, capacitive coupling between the drive unit 32 and the detection unit 52 is prevented.

キャパシタCにおいて、反射部24と検出部52との間の電位差Vは変化しない。これに対して、反射部24の回転に伴いキャパシタCの静電容量は変化する。これをΔCとする。キャパシタCにおける静電容量の変化に対応して、キャパシタCにおける電荷Qが変化する。これをΔQとする。したがって、反射部24の回転角の情報は、ΔQの情報に変換される。単位時間当たりのΔQを入力電流信号Iinとする。 In the capacitor C 1, the potential difference V 1 of the between the detector 52 and the reflecting portion 24 does not change. In contrast, the capacitance of the capacitor C 1 with the rotation of the reflecting portion 24 is changed. This is referred to as ΔC 1. In response to a change in capacitance in the capacitor C 1, a change in charge Q 1 at the capacitor C 1. Let this be ΔQ 1 . Therefore, the information on the rotation angle of the reflection unit 24 is converted into information on ΔQ 1 . Let ΔQ 1 per unit time be the input current signal Iin.

本例の光走査装置200は、電荷電圧変換回路120を有する。電荷電圧変換回路120は、入力電流信号Iinを出力電圧信号Voutに変換する。電荷電圧変換回路120は、出力電圧信号Voutを制御部125に出力する。   The optical scanning device 200 of this example includes a charge / voltage conversion circuit 120. The charge voltage conversion circuit 120 converts the input current signal Iin into an output voltage signal Vout. The charge voltage conversion circuit 120 outputs the output voltage signal Vout to the control unit 125.

本例の電荷電圧変換回路120は、増幅器110と、キャパシタ119とを有する。増幅器110は、非反転入力端子112と、反転入力端子114と、出力端子116とを有する。非反転入力端子112は電気的に接地され、反転入力端子114は、検出部52と電気的に接続される。   The charge-voltage conversion circuit 120 of this example includes an amplifier 110 and a capacitor 119. The amplifier 110 has a non-inverting input terminal 112, an inverting input terminal 114, and an output terminal 116. The non-inverting input terminal 112 is electrically grounded, and the inverting input terminal 114 is electrically connected to the detection unit 52.

キャパシタ119の一端は反転入力端子114に電気的に接続され、他端は出力端子116に電気的に接続される。本例において、キャパシタ119(Cとしても示す。)の静電容量は変化しない。つまり、キャパシタ119の静電容量は固定である。入力電流信号Iinにより電荷がチャージ/ディスチャージされると、キャパシタ119の電荷Qが変化する。これをΔQとして示す。キャパシタ119における電荷量の変化に対応して、キャパシタ119における電圧Vが変化する。これをΔVとして示す。これにより、入力電流信号Iinは、出力電圧信号Voutに変換される。 One end of the capacitor 119 is electrically connected to the inverting input terminal 114, and the other end is electrically connected to the output terminal 116. In this example, (also shown as C 4.) Capacitor 119 capacitance of unchanged. That is, the capacitance of the capacitor 119 is fixed. When the charge by the input current signal Iin is charged / discharged, the charge Q 4 of the capacitor 119 is changed. This is shown as ΔQ 4. In response to a change in the charge amount in the capacitor 119, the voltage V 4 changes in the capacitor 119. This is shown as ΔV 4 . Thereby, the input current signal Iin is converted into the output voltage signal Vout.

抵抗118の一端は反転入力端子114に電気的に接続され、他端は出力端子116に電気的に接続される。抵抗118は、MΩからGΩ程度の高い抵抗値を有してよい。本例の抵抗118は、1GΩの抵抗値を有する。それゆえ、抵抗118は、入力電流信号Iinの直流成分を通過させることなく、かつ、増幅器110のネガティブフィードバック経路として機能することができる。なお、反転入力端子114と非反転入力端子112とは仮想接地されているので、検出部52は接地電位であると見なすことができる。   One end of the resistor 118 is electrically connected to the inverting input terminal 114, and the other end is electrically connected to the output terminal 116. The resistor 118 may have a high resistance value of about MΩ to GΩ. The resistor 118 in this example has a resistance value of 1 GΩ. Therefore, the resistor 118 can function as a negative feedback path of the amplifier 110 without passing the DC component of the input current signal Iin. Since the inverting input terminal 114 and the non-inverting input terminal 112 are virtually grounded, the detection unit 52 can be regarded as a ground potential.

制御部125はVoutの情報を回転角の情報に変換することができる。例えば、回転角の絶対値|±θ|が増加することによりΔCが減少した場合、ΔQが減少する。この場合、ΔQの減少分がキャパシタCに移動するので、ΔQおよびΔVはともに増加する。本例では、反射部24にDC電源の正電圧が印加されているので、ΔCが減少した場合、キャパシタCの負電荷が増加して、ΔQおよびΔVが増加する。したがって、Voutは増加する。つまり、回転角の絶対値|±θ|が増加するとVoutは増加し、回転角の絶対値|±θ|が減少するとVoutは減少する。当該対応関係を利用して、Voutが反射部24の回転角に変換される。なお、制御部125は、回転角の大きさに応じてAC電源の電圧値を変更してもよい。例えば、回転角の最大振れ角を大きくするべく、制御部125は、AC電源の電圧値をより大きくする。 The control unit 125 can convert the information on Vout into information on the rotation angle. For example, when ΔC 1 decreases due to an increase in the absolute value of rotation angles | ± θ |, ΔQ 1 decreases. In this case, since the decrease of ΔQ 1 moves to the capacitor C 4 , both ΔQ 4 and ΔV 4 increase. In this example, since the positive voltage of the DC power source to the reflecting portion 24 is applied, if the [Delta] C 1 decreases, the negative electric charge of the capacitor C 4 is increased, Delta] Q 4 and [Delta] V 4 increases. Therefore, Vout increases. That is, when the absolute value of rotation angle | ± θ | increases, Vout increases, and when the absolute value of rotation angle | ± θ | decreases, Vout decreases. Vout is converted into the rotation angle of the reflection unit 24 using the correspondence. Note that the control unit 125 may change the voltage value of the AC power supply in accordance with the magnitude of the rotation angle. For example, in order to increase the maximum deflection angle of the rotation angle, the control unit 125 increases the voltage value of the AC power supply.

図6は、第2実施形態におけるYスキャナ20およびXスキャナ60の上面図である。本例の光走査装置200のYスキャナ20は、第2のシールド部42‐2および第6のシールド部42‐4を有さない。これに伴い、第2の検出部52‐2の櫛歯58‐2および第6の検出部52‐4の櫛歯58‐4が、第1実施形態の櫛歯58‐2および櫛歯58‐4よりも多い。係る点において、第1実施形態と異なる。他の点は、第1実施形態と同じである。   FIG. 6 is a top view of the Y scanner 20 and the X scanner 60 in the second embodiment. The Y scanner 20 of the optical scanning device 200 of this example does not have the second shield part 42-2 and the sixth shield part 42-4. Accordingly, the comb teeth 58-2 of the second detection unit 52-2 and the comb teeth 58-4 of the sixth detection unit 52-4 are replaced by the comb teeth 58-2 and the comb teeth 58- of the first embodiment. More than 4. This is different from the first embodiment. Other points are the same as in the first embodiment.

本例では、第2のシールド部42‐2および第6のシールド部42‐4を有さないので、反射部24と反射部64とを第1実施形態よりも近づけることができる。それゆえ、第1実施形態よりも光走査装置200のZ軸方向のサイズをより小型化することができる。   In this example, since the second shield part 42-2 and the sixth shield part 42-4 are not provided, the reflecting part 24 and the reflecting part 64 can be brought closer to those of the first embodiment. Therefore, the size of the optical scanning device 200 in the Z-axis direction can be further reduced as compared with the first embodiment.

図7は、第3実施形態におけるYスキャナ20およびXスキャナ60の上面図である。本例の光走査装置200のYスキャナ20は、反射部24における駆動部32‐2と同じ側に、検出部52‐2および52‐4を有さない。本例では検出部52‐2および52‐4に代えて、第1のダミー部としてのダミー部132‐1および第2のダミー部としてのダミー部132‐2を備える。係る点において、第2実施形態と異なる。他の点は、第2実施形態と同じである。   FIG. 7 is a top view of the Y scanner 20 and the X scanner 60 in the third embodiment. The Y scanner 20 of the optical scanning device 200 of this example does not have the detection units 52-2 and 52-4 on the same side as the drive unit 32-2 in the reflection unit 24. In this example, instead of the detection units 52-2 and 52-4, a dummy part 132-1 as a first dummy part and a dummy part 132-2 as a second dummy part are provided. This is different from the second embodiment. Other points are the same as in the second embodiment.

ダミー部132‐1および132‐2は、接地電位を有する。ダミー部132‐1および132‐2は、反射部24における駆動部32‐2と同じ側に設けられる。ダミー部132‐1は、駆動部32‐2が対応する反射部24の位置35‐2とは異なる反射部24の位置135に対応して設けられる。位置35‐2と位置135とはX軸方向において異なる位置である。ダミー部132‐2は、駆動部32‐2に対してダミー部132‐1と対称な位置に設けられる。   The dummy parts 132-1 and 132-2 have a ground potential. The dummy parts 132-1 and 132-2 are provided on the same side of the reflecting part 24 as the driving part 32-2. The dummy part 132-1 is provided corresponding to the position 135 of the reflecting part 24 different from the position 35-2 of the reflecting part 24 to which the driving part 32-2 corresponds. The position 35-2 and the position 135 are different positions in the X-axis direction. The dummy part 132-2 is provided at a position symmetrical to the dummy part 132-1 with respect to the driving part 32-2.

ダミー部132‐1および132‐2の各々は、櫛歯138‐1および138‐2を有する。シールド部42‐1および検出部52‐1とダミー部132‐1とは、同数の櫛歯を有する。本例では、シールド部42‐1の櫛歯48−1および検出部52‐1の櫛歯58‐1はそれぞれ1つであり、ダミー部132‐1の櫛歯138‐1は2つである。また、櫛歯48−1および櫛歯58‐1と櫛歯138‐1とは、梁部21を通るX軸方向に対して対称な位置に設けられる。   Each of the dummy portions 132-1 and 132-2 has comb teeth 138-1 and 138.2. The shield part 42-1 and the detection part 52-1 and the dummy part 132-1 have the same number of comb teeth. In this example, there are one comb tooth 48-1 of the shield part 42-1 and one comb tooth 58-1 of the detection part 52-1 and two comb teeth 138-1 of the dummy part 132-1. . Further, the comb teeth 48-1, the comb teeth 58-1 and the comb teeth 138-1 are provided at positions symmetrical with respect to the X-axis direction passing through the beam portion 21.

第2実施形態においては、検出部52‐2および52‐4と駆動部32‐2とが容量結合して、検出部52‐2および52‐4にノイズが混信する可能性がある。これに対して、本例においては、検出部52‐2および52‐4を無くしたので、駆動部32‐2の側で駆動部32‐2から検出部へのノイズ混信が無い。加えて、図5の説明で述べたように、検出部52は接地電位と見なすことができる。したがって、検出部52‐1および52‐2、シールド部42‐1および42‐2、ならびに、ダミー部132‐1および132‐2は、全て接地電位である。これにより梁部21を挟んで+Z軸方向と−Z軸方向とにおいて静電容量を等しくすることができる。   In the second embodiment, the detection units 52-2 and 52-4 and the drive unit 32-2 may be capacitively coupled, and noise may interfere with the detection units 52-2 and 52-4. On the other hand, in this example, since the detection units 52-2 and 52-4 are eliminated, there is no noise interference from the drive unit 32-2 to the detection unit on the drive unit 32-2. In addition, as described in the description of FIG. 5, the detection unit 52 can be regarded as a ground potential. Accordingly, the detection units 52-1 and 52-2, the shield units 42-1 and 42-2, and the dummy units 132-1 and 132-2 are all at the ground potential. Thereby, the electrostatic capacity can be made equal in the + Z-axis direction and the −Z-axis direction with the beam portion 21 interposed therebetween.

具体的には、シールド部42‐1および検出部52‐1と反射部24とが形成する静電容量と、ダミー部132‐1と反射部24とが形成する静電容量とが等しい。加えて、シールド部42‐3および検出部52‐3と反射部24とが形成する静電容量と、ダミー部132‐2と反射部24とが形成する静電容量とが等しい。さらに、駆動部32‐1と反射部24とが形成する静電容量と、駆動部32‐2と反射部24とが形成する静電容量とが等しい。これにより、梁部21挟んで+Z軸方向と−Z軸方向とにおいて、反射部24への駆動力がアンバランスになることを防ぐことができる。   Specifically, the electrostatic capacity formed by the shield part 42-1 and the detection part 52-1 and the reflecting part 24 is equal to the electrostatic capacity formed by the dummy part 132-1 and the reflecting part 24. In addition, the electrostatic capacity formed by the shield part 42-3 and the detection part 52-3 and the reflecting part 24 is equal to the electrostatic capacity formed by the dummy part 132-2 and the reflecting part 24. Furthermore, the capacitance formed by the drive unit 32-1 and the reflection unit 24 is equal to the capacitance formed by the drive unit 32-2 and the reflection unit 24. Thereby, it is possible to prevent the driving force to the reflecting portion 24 from becoming unbalanced in the + Z-axis direction and the −Z-axis direction with the beam portion 21 interposed therebetween.

図8は、第1比較例におけるYスキャナ20およびXスキャナ60の上面図である。本例では、Yスキャナ20がダミー部132を有しない。これに代えて、駆動部32‐2が反射部24の櫛歯28‐2の全てに対応する櫛歯38‐2を有する。係る点において、第3実施形態と異なる。本例では、検出部において駆動部32‐2からのノイズが混信することは無いが、梁部21挟んで+Z軸方向と−Z軸方向とにおいて、反射部24への駆動力がアンバランスになるという問題がある。   FIG. 8 is a top view of the Y scanner 20 and the X scanner 60 in the first comparative example. In this example, the Y scanner 20 does not have the dummy part 132. Instead, the driving unit 32-2 has comb teeth 38-2 corresponding to all of the comb teeth 28-2 of the reflecting unit 24. This is different from the third embodiment. In this example, noise from the driving unit 32-2 does not interfere in the detection unit, but the driving force to the reflecting unit 24 is unbalanced in the + Z axis direction and the −Z axis direction with the beam unit 21 interposed therebetween. There is a problem of becoming.

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。   As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above embodiment. It is apparent from the description of the scope of claims that embodiments with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.

10・・管、12・・フランジ、14・・レンズホルダ、16・・対物レンズ、17・・コリメートレンズ、18・・レンズホルダ、19・・光ファイバ、20・・Yスキャナ、21・・梁部、22・・固定部、24・・反射部、26・・端部、28・・櫛歯、32・・駆動部、35・・位置、38・・櫛歯、42・・シールド部、45・・位置、48・・櫛歯、52・・検出部、55・・位置、58・・櫛歯、60・・Xスキャナ、61・・梁部、62・・固定部、64・・反射部、66・・端部、68・・櫛歯、72・・駆動部、75・・位置、78・・櫛歯、82・・シールド部、85・・位置、88・・櫛歯、92・・検出部、95・・位置、98・・櫛歯、100・・スキャナユニット、102・・固定鏡、104・・SOI基板、106・・配線基板、108・・ICチップ、110・・増幅器、112・・非反転入力端子、114・・反転入力端子、116・・出力端子、118・・抵抗、119・・キャパシタ、120・・電荷電圧変換回路、125・・制御部、132・・ダミー部、135・・位置、138・・櫛歯、200・・光走査装置、210・・非走査型光学装置、220・・鉗子口、230・・ライト、240・・ノズル、300・・内視鏡、310・・レーザ光源、312・・レーザ光、314・・蛍光、320・・ダイクロイックミラー、330・・光検出部、340・・AD変換部、350・・画像処理部、360・・表示部、400・・内視鏡システム、500・・対象物、510・・焦点面   10 .. Tube, 12 .. Flange, 14 .. Lens holder, 16 .. Objective lens, 17 .. Collimating lens, 18 .. Lens holder, 19 .. Optical fiber, 20 .. Y scanner, 21. , 22 .. Fixing part, 24 .. Reflection part, 26 .. End part, 28 .. Comb tooth, 32 .. Drive part, 35 .. Position, 38 .. Comb tooth, 42. .. Position, 48 .. Comb tooth, 52 .. Detection part, 55 .. Position, 58 .. Comb tooth, 60 .. X scanner, 61 .. Beam part, 62 .. Fixed part, 64. , 66 .. End, 68 .. Comb tooth, 72 .. Drive part, 75 .. Position, 78 .. Comb tooth, 82 .. Shield part, 85 .. Position, 88 .. Comb tooth, 92. Detection unit, 95 ... position, 98 ... comb, 100 ... scanner unit, 102 ... fixed mirror, 104 ... SOI substrate 106 .. Wiring board, 108 .. IC chip, 110... Amplifier, 112 .. Non-inverting input terminal, 114 .. Inverting input terminal, 116 .. Output terminal, 118 .. Resistance, 119. · Charge voltage conversion circuit 125 ·· Control unit 132 · · Dummy unit 135 · · Position 138 · · Comb teeth 200 · · Optical scanning device 210 · · Non-scanning optical device 220 · · Forceps port 230, Light, 240, Nozzle, 300, Endoscope, 310, Laser light source, 312, Laser light, 314, Fluorescent, 320, Dichroic mirror, 330, Light detector, 340 · AD conversion unit, 350 ·· Image processing unit, 360 · · Display unit, 400 · · Endoscope system, 500 · · Object, 510 · · Focal plane

Claims (10)

第1方向に延伸する第1の梁部と、
前記第1の梁部が接続され、前記第1の梁部を回転軸として回転することができる第1の反射部と、
前記第1方向とは異なる方向である第2方向において、前記第1の反射部の両端を部分的に挟み、互いに対向して設けられた第1の駆動部および第2の駆動部と、
前記第1の反射部における前記第1の駆動部と同じ側に設けられ、前記第1の駆動部が対応する位置とは異なる第1方向における前記第1の反射部の位置に対応して設けられる、第1の検出部と、
前記第1の駆動部と同じ側に設けられ、前記第1の駆動部が対応する位置と前記第1の検出部が対応する位置との間における前記第1の反射部の位置に対応して設けられ、前記第1の検出部と前記第1の駆動部との容量結合を防ぐ第1のシールド部と
を備える、光走査装置。
A first beam portion extending in a first direction;
A first reflecting portion connected to the first beam portion and capable of rotating about the first beam portion as a rotation axis;
A first driving unit and a second driving unit provided in a second direction, which is different from the first direction, by partially sandwiching both ends of the first reflecting unit and facing each other;
Provided on the same side as the first drive unit in the first reflection unit, corresponding to the position of the first reflection unit in a first direction different from the position corresponding to the first drive unit. A first detection unit,
Corresponding to the position of the first reflecting part between the position corresponding to the first driving part and the position corresponding to the first detecting part, provided on the same side as the first driving part. An optical scanning device, comprising: a first shield unit that is provided and prevents capacitive coupling between the first detection unit and the first drive unit.
前記第1の反射部は、前記第2方向における前記両端に複数の櫛歯を有し、
前記第1の駆動部および前記第2の駆動部の各々は、前記第1の反射部の前記複数の櫛歯に対して離間して設けられた2以上の同数の櫛歯を有し、
前記第1の駆動部および前記第2の駆動部の前記櫛歯は、前記第1の梁部を通る前記第1方向に対して対称な位置に設けられる、請求項1に記載の光走査装置。
The first reflecting portion has a plurality of comb teeth at both ends in the second direction,
Each of the first driving unit and the second driving unit has two or more equal number of comb teeth provided apart from the plurality of comb teeth of the first reflecting unit,
2. The optical scanning device according to claim 1, wherein the comb teeth of the first driving unit and the second driving unit are provided at positions symmetrical with respect to the first direction passing through the first beam unit. .
前記第1の反射部における前記第2の駆動部と同じ側に、検出部を有さない、請求項1または2に記載の光走査装置。   3. The optical scanning device according to claim 1, wherein a detection unit is not provided on the same side of the first reflection unit as the second drive unit. 4. 接地電位を有し、前記第1の反射部における前記第2の駆動部と同じ側に設けられ、前記第2の駆動部が対応する位置とは異なる第1方向における前記第1の反射部の位置に対応して設けられる、ダミー部をさらに備え、
前記第1のシールド部および前記第1の検出部と前記ダミー部とは、同数の櫛歯を有し、前記第1の梁部を通る前記第1方向に対して対称な位置に設けられる、請求項1から3のいずれか一項に記載の光走査装置。
The first reflection unit has a ground potential, is provided on the same side as the second drive unit in the first reflection unit, and is different from the corresponding position of the second drive unit in the first direction. A dummy portion provided corresponding to the position;
The first shield part, the first detection part, and the dummy part have the same number of comb teeth and are provided at positions symmetrical with respect to the first direction passing through the first beam part. The optical scanning device according to claim 1.
電気的に接地された非反転入力端子と、
前記第1の検出部と電気的に接続された反転入力端子と、
出力端子と
を有する増幅器と、
一端が前記反転入力端子に電気的に接続され、他端が前記出力端子に電気的に接続されるキャパシタと
を有する電荷電圧変換回路をさらに備える請求項1から4のいずれか一項に記載の光走査装置。
An electrically grounded non-inverting input terminal;
An inverting input terminal electrically connected to the first detection unit;
An amplifier having an output terminal;
5. The charge-voltage conversion circuit according to claim 1, further comprising: a capacitor having one end electrically connected to the inverting input terminal and the other end electrically connected to the output terminal. Optical scanning device.
前記第1の反射部における前記第2の駆動部と同じ側に設けられ、前記第2の駆動部が対応する位置とは異なる第1方向における前記第1の反射部の位置に対応して設けられる、第2の検出部をさらに備える、請求項1に記載の光走査装置。   Provided on the same side as the second driving unit in the first reflecting unit, corresponding to the position of the first reflecting unit in a first direction different from the position corresponding to the second driving unit. The optical scanning device according to claim 1, further comprising a second detection unit. 前記第2の駆動部と同じ側に設けられ、前記第2の駆動部が対応する位置と前記第2の検出部が対応する位置との間における前記第1の反射部の位置に対応して設けられる、第2のシールド部をさらに備える、請求項6に記載の光走査装置。   Corresponding to the position of the first reflection unit between the position corresponding to the second drive unit and the position corresponding to the second detection unit, provided on the same side as the second drive unit The optical scanning device according to claim 6, further comprising a second shield portion provided. 前記第2方向に延伸する第2の梁部と、
前記第2の梁部が接続され、前記第1の反射部から離れた位置において、前記第1の駆動部よりも前記第2の駆動部に隣接して設けられ、前記第2の梁部を回転軸として回転することができる第2の反射部と
をさらに備える請求項1から7のいずれか一項に記載の光走査装置。
A second beam portion extending in the second direction;
The second beam part is connected and provided at a position away from the first reflection part, more adjacent to the second drive part than the first drive part, and the second beam part is The optical scanning device according to claim 1, further comprising a second reflecting portion that can rotate as a rotation axis.
前記第1方向において前記第2の反射部の両端を部分的に挟み、互いに対向して設けられた第3の駆動部および第4の駆動部と、
前記第2の反射部における前記第3の駆動部と同じ側に設けられ、前記第3の駆動部が対応する位置とは異なる第2方向における前記第2の反射部の位置に対応して設けられる、第3の検出部と、
前記第2の反射部における前記第4の駆動部と同じ側に設けられ、前記第4の駆動部が対応する位置とは異なる第2方向における前記第2の反射部の位置に対応して設けられる、第4の検出部と、
前記第2方向において、前記第3の駆動部と前記第3の検出部との間に位置する第3のシールド部と、
前記第2方向において、前記第4の駆動部と前記第4の検出部との間に位置する第4のシールド部と
をさらに備える、請求項8に記載の光走査装置。
A third drive unit and a fourth drive unit that are provided so as to face each other partially sandwiching both ends of the second reflection unit in the first direction;
Provided on the same side as the third drive unit in the second reflection unit, corresponding to the position of the second reflection unit in the second direction different from the position corresponding to the third drive unit. A third detector,
Provided corresponding to the position of the second reflecting portion in the second direction, which is provided on the same side as the fourth driving portion in the second reflecting portion, and is different from the corresponding position of the fourth driving portion. A fourth detector,
A third shield part located between the third drive part and the third detection part in the second direction;
9. The optical scanning device according to claim 8, further comprising a fourth shield portion positioned between the fourth driving unit and the fourth detection unit in the second direction.
請求項1から9のいずれか一項に記載の光走査装置を搭載した内視鏡。   An endoscope equipped with the optical scanning device according to any one of claims 1 to 9.
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