JP2017049327A - Photosensitive composition, method for manufacturing cured film, method for manufacturing liquid crystal display device, method for manufacturing organic electroluminescence display device, and method for manufacturing touch panel - Google Patents

Photosensitive composition, method for manufacturing cured film, method for manufacturing liquid crystal display device, method for manufacturing organic electroluminescence display device, and method for manufacturing touch panel Download PDF

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豪 安藤
健太 山▲ざき▼
Kenta Yamazaki
健太 山▲ざき▼
真崎 慶央
Yoshihisa Mazaki
慶央 真崎
山田 悟
Satoru Yamada
悟 山田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive composition having good application property, from which a cured film can be manufactured that has excellent adhesiveness to an overlay to be deposited on the cured film, and to provide methods for manufacturing a cured film, a liquid crystal display device, an organic electroluminescence display device and a touch panel.SOLUTION: The photosensitive composition comprises a polysiloxane component, a photoacid generator, a solvent, and a compound S having a structure represented by formula S1 and a structure represented by formula S2 below. In the formulae, a wavy line represents a bonding position to an atomic group constituting the compound S; Rrepresents an alkyl group; Rrepresents a hydrogen atom or an alkyl group; Lrepresents a single bond or a divalent connecting group; Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms; Lrepresents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group; Rrepresents a hydrogen atom, a hydroxy group or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms; and n represents an integer of 0 to 30.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、感光性組成物に関する。さらに詳しくは、液晶表示装置、有機エレクトロルミネッセンス表示装置などの画像表示装置、タッチパネル、集積回路素子、固体撮像素子などの電子部品の平坦化膜、保護膜および層間絶縁膜等の形成に好適な、感光性組成物に関する。また、硬化膜の製造方法、液晶表示装置の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法、およびタッチパネルの製造方法に関する。   The present invention relates to a photosensitive composition. More specifically, it is suitable for forming a flattening film, a protective film, an interlayer insulating film, and the like of an electronic component such as an image display device such as a liquid crystal display device and an organic electroluminescence display device, a touch panel, an integrated circuit element, and a solid-state imaging device. The present invention relates to a photosensitive composition. Moreover, it is related with the manufacturing method of a cured film, the manufacturing method of a liquid crystal display device, the manufacturing method of an organic electroluminescent display device, and the manufacturing method of a touch panel.

液晶表示装置、および有機エレクトロルミネッセンス表示装置などの画像表示装置、およびタッチパネルなどの入力装置には、多くの場合パターン形成された層間絶縁膜が設けられている。層間絶縁膜の形成には、必要とするパターン形状を得るための工程数が少なく、しかも十分な平坦性が得られるといったことから、感光性組成物が広く使用されている。   Image display devices such as liquid crystal display devices and organic electroluminescence display devices, and input devices such as touch panels are often provided with a patterned interlayer insulating film. In forming an interlayer insulating film, a photosensitive composition is widely used because the number of steps for obtaining a required pattern shape is small and sufficient flatness is obtained.

上記装置における層間絶縁膜には、アクリル系樹脂を膜形成成分として用いることが試みられている。   An attempt has been made to use an acrylic resin as a film forming component for the interlayer insulating film in the above-described apparatus.

また、近年、製造の効率化や画像表示装置の高性能化のために、従来よりも高い温度(例えば300℃程度)での熱処理や製膜を行う試みがなされている。そこで、層間絶縁膜にも従来よりも高い温度に対する耐性が求められている。このような高耐熱性の層間絶縁膜として、ポリシロキサンを用いることが検討されている(特許文献1〜3参照)。   In recent years, attempts have been made to perform heat treatment or film formation at a higher temperature (eg, about 300 ° C.) than in the past in order to increase the production efficiency and the performance of the image display device. Therefore, the interlayer insulating film is also required to have higher temperature resistance than before. The use of polysiloxane as such a high heat resistant interlayer insulating film has been studied (see Patent Documents 1 to 3).

特開2003−255546号公報JP 2003-255546 A 特開2013−92633号公報JP 2013-92633 A 特開2009−263522号公報JP 2009-263522 A

感光性組成物は、塗布性を高めるため、界面活性剤を使用することが多い。塗布性の観点から、界面活性剤としては、フッ素系界面活性剤を使用することが多い。ところが、フッ素系界面活性剤は、塗布後に塗膜の表面に偏在することがあった。感光性組成物を使用して製造した硬化膜を永久膜として使用する場合、硬化膜上に種々の層を積層することが多い。このとき、膜表面にフッ素系界面活性剤が偏在していると、硬化膜上に積層した上層と硬化膜との密着性が低下することがある。このため、硬化膜の表層にアッシング処理などを行って、フッ素系界面活性剤が偏在する膜表層を除去することがあった。このように、従来は、硬化膜に対してアッシング処理などの工程を必要とすることがあり、工程数がかさむことがあった。近年においては、工程数を削減して、工程の簡略化や製造コストを抑えることが望まれている。   The photosensitive composition often uses a surfactant in order to improve the coating property. From the viewpoint of applicability, a fluorosurfactant is often used as the surfactant. However, the fluorosurfactant may be unevenly distributed on the surface of the coating film after coating. When a cured film produced using a photosensitive composition is used as a permanent film, various layers are often laminated on the cured film. At this time, if the fluorosurfactant is unevenly distributed on the film surface, the adhesion between the upper layer laminated on the cured film and the cured film may be lowered. For this reason, the surface layer of the cured film may be subjected to ashing or the like to remove the film surface layer in which the fluorosurfactant is unevenly distributed. Thus, conventionally, a process such as an ashing process may be required for the cured film, and the number of processes may be increased. In recent years, it has been desired to reduce the number of processes to simplify processes and reduce manufacturing costs.

また、本発明者らが、特許文献1〜3に開示された感光性組成物について検討したところ、感光性組成物の塗布性と、上層密着性とを両立できないことが分かった。   Moreover, when the present inventors examined the photosensitive composition disclosed by patent documents 1-3, it turned out that the applicability | paintability of a photosensitive composition and upper layer adhesiveness cannot be made compatible.

よって、本発明の目的は、塗布性が良好で、硬化膜上に積層される上層との密着性に優れた硬化膜を製造できる感光性組成物を提供することにある。また、硬化膜の製造方法、液晶表示装置の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法、およびタッチパネルの製造方法を提供することにある。   Therefore, the objective of this invention is providing the photosensitive composition which can manufacture the cured film with favorable applicability | paintability and excellent adhesiveness with the upper layer laminated | stacked on a cured film. Moreover, it is providing the manufacturing method of a cured film, the manufacturing method of a liquid crystal display device, the manufacturing method of an organic electroluminescent display device, and the manufacturing method of a touch panel.

かかる状況のもと、本発明者らが検討を行った結果、下式S1で表される構造および下式S2で表される構造を有する化合物Sを感光性組成物に含有させることで、塗布性が良好で、かつ、アッシングなどの工程を経ることなく、硬化膜上に積層される上層との密着性に優れた硬化膜を製造できることを見出し、本発明を完成するに至った。すなわち、本発明は以下を提供する。
<1> 下記1および2の少なくとも一方を満たすポリシロキサン成分A、
1:カルボキシ基が酸分解性基で保護された基、フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基、および、シラノール基が酸分解性基で保護された基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位a1と、架橋性基を有する構成単位a2とを有するポリシロキサンを含むポリシロキサン成分、
2:カルボキシ基が酸分解性基で保護された基、フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基、および、シラノール基が酸分解性基で保護された基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位a1を有するポリシロキサンと、架橋性基を有する構成単位a2を有するポリシロキサンとを含むポリシロキサン成分、
pKaが3以下の酸を発生する光酸発生剤B、
溶剤C、ならびに、
下式S1で表される構造および下式S2で表される構造を有する化合物Sと、
を含む感光性組成物;

Figure 2017049327
式中、波線は、化合物Sを構成する原子団との結合位置を表し、
1はアルキル基を表し、
2は、水素原子またはアルキル基を表し、
1は、単結合または2価の連結基を表し、L1が2価の連結基を表す場合、R1はL1と結合して環を形成してもよく、
Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表し、
100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、
100は、水素原子、ヒドロキシ基または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
nは、0〜30の整数を表し、
nが0のとき、R100は、ヒドロキシ基を表し、
nが1のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
nが2〜30のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、複数のL100は同一であってもよく、異なってもよい。
<2> ポリシロキサン成分Aの100質量部に対して、化合物Sを0.001〜20質量部含有する、<1>に記載の感光性組成物。
<3> 化合物Sが、式S1で表される構造を側鎖に有する構成単位S1−1と、式S2で表される構造を側鎖に有する構成単位S2−1とを有する重合体である、<1>または<2>に記載の感光性組成物。
<4> 化合物Sが、下式S1−2で表される構成単位と、下式S2−2で表される構成単位とを有する重合体である、<1>〜<3>のいずれかに記載の感光性組成物;
Figure 2017049327
式中、R11は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、
12はアルキル基を表し、
13は、水素原子またはアルキル基を表し、
10は、単結合または2価の連結基を表し、L10が2価の連結基を表す場合、R12はL10と結合して環を形成してもよく、
Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表し、
101は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
101は、水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
n1は0〜30の整数を表し、
n1が0または1のとき、R101は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n1が2〜30のとき、複数のL101は同一であってもよく、異なってもよい。
<5> 化合物Sが、下式S1−3で表される構成単位と、下式S2−3で表される構成単位とを有する重合体である、<1>〜<4>のいずれかに記載の感光性組成物;
Figure 2017049327
式中、R21は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、
22は、炭素数1〜3のアルキル基を表し、
23は、水素原子を表し、
20は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
Rf1は、炭素数3〜6のパーフルオロアルキル基を表し、
22は、L20と結合して環を形成してもよく、
201は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
201は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n2は1〜20の整数を表し、n2が2〜20のとき、複数のL201は同一であってもよく、異なってもよい。
<6> 化合物Sは、構成単位S1−1と、構成単位S2−1とを、化合物Sの全構成単位の70質量%以上含有する重合体であり、かつ、構成単位S1−1と、構成単位S2−1との質量比が、構成単位S1−1:構成単位S2−1=5:95〜95:5である、<3>〜<5>のいずれかに記載の感光性組成物。
<7> 化合物Sの重量平均分子量が100〜100000である、<1>〜<6>のいずれかに記載の感光性組成物。
<8> 構成単位a1が、下記一般式a1−1で表される構成単位、および、下記一般式a1−2で表される構成単位から選ばれる少なくとも1種である、<1>〜<7>のいずれかに記載の感光性組成物;
Figure 2017049327
一般式a1−1、および、一般式a1−2中、aは0または1を表し、R1AおよびR2Aは、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基またはアリール基を表し、R1AおよびR2Aの少なくとも一方は、アルキル基またはアリール基を表し、R3Aは、アルキル基またはアリール基を表し、R1AまたはR2Aと、R3Aとが連結して環状エーテルを形成してもよく、R4Aは、アルキル基、アリール基、または、アラルキル基を表し、L1Aは、単結合または2価の連結基を表し、L2Aは、単結合または2価の連結基を表し、Rxは、アルキル基またはハロゲン原子を表し、m1は、0〜4の整数を表す。
<9> ポリシロキサン成分が有する架橋性基が、環状エーテル、および、エチレン性不飽和結合を有する基から選ばれる少なくとも1種である、<1>〜<8>のいずれかに記載の感光性組成物。
<10> ポリシロキサンは、カルボキシ基およびフェノール性水酸基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位をさらに含む、<1>〜<9>のいずれかに記載の感光性組成物。
<11> <1>〜<10>のいずれかに記載の感光性組成物を基板上に塗布する工程、塗布された感光性組成物から溶剤を除去する工程、溶剤が除去された感光性組成物を活性光線により露光する工程、露光された感光性組成物を現像液により現像する工程、および、現像された感光性組成物を熱硬化する工程、を含む硬化膜の製造方法。
<12> <11>に記載の硬化膜の製造方法を含む、液晶表示装置の製造方法。
<13> <11>に記載の硬化膜の製造方法を含む、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法。
<14> <11>に記載の硬化膜の製造方法を含む、タッチパネルの製造方法。 Under such circumstances, as a result of investigations by the present inventors, the photosensitive composition contains a compound S having a structure represented by the following formula S1 and a structure represented by the following formula S2, thereby allowing coating. The present inventors have found that a cured film having good adhesion and excellent adhesion to an upper layer laminated on the cured film can be produced without passing through a process such as ashing, and the present invention has been completed. That is, the present invention provides the following.
<1> Polysiloxane component A satisfying at least one of the following 1 and 2;
1: at least one selected from a group in which a carboxy group is protected by an acid-decomposable group, a group in which a phenolic hydroxyl group is protected by an acid-decomposable group, and a group in which a silanol group is protected by an acid-decomposable group A polysiloxane component containing a polysiloxane having a structural unit a1 having a group and a structural unit a2 having a crosslinkable group;
2: At least one selected from a group in which a carboxy group is protected by an acid-decomposable group, a group in which a phenolic hydroxyl group is protected by an acid-decomposable group, and a group in which a silanol group is protected by an acid-decomposable group A polysiloxane component comprising a polysiloxane having a structural unit a1 having a group and a polysiloxane having a structural unit a2 having a crosslinkable group;
a photoacid generator B that generates an acid having a pKa of 3 or less,
Solvent C, and
Compound S having a structure represented by the following formula S1 and a structure represented by the following formula S2,
A photosensitive composition comprising:
Figure 2017049327
In the formula, the wavy line represents the bonding position with the atomic group constituting the compound S,
R 1 represents an alkyl group,
R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group,
L 1 represents a single bond or a divalent linking group, and when L 1 represents a divalent linking group, R 1 may combine with L 1 to form a ring,
Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms,
L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group,
R 100 represents a hydrogen atom, a hydroxy group or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n represents an integer of 0 to 30,
when n is 0, R 100 represents a hydroxy group;
When n is 1, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
When n is 2 to 30, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, and a plurality of L 100 may be the same. Well, it can be different.
<2> The photosensitive composition according to <1>, containing 0.001 to 20 parts by mass of the compound S with respect to 100 parts by mass of the polysiloxane component A.
<3> The compound S is a polymer having a structural unit S1-1 having a structure represented by the formula S1 in the side chain and a structural unit S2-1 having a structure represented by the formula S2 in the side chain. <1,> The photosensitive composition as described in <2>.
<4> The compound S is a polymer having a structural unit represented by the following formula S1-2 and a structural unit represented by the following formula S2-2. Any one of <1> to <3> The photosensitive composition as described;
Figure 2017049327
In the formula, R 11 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 12 represents an alkyl group,
R 13 represents a hydrogen atom or an alkyl group,
L 10 represents a single bond or a divalent linking group, and when L 10 represents a divalent linking group, R 12 may combine with L 10 to form a ring,
Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms,
L 101 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n1 represents an integer of 0 to 30,
when n1 is 0 or 1, R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms;
When n1 is 2 to 30, the plurality of L 101 may be the same or different.
<5> The compound S is a polymer having a structural unit represented by the following formula S1-3 and a structural unit represented by the following formula S2-3, to any one of <1> to <4> The photosensitive composition as described;
Figure 2017049327
In the formula, R 21 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 22 represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 23 represents a hydrogen atom,
L 20 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
Rf 1 represents a C 3-6 perfluoroalkyl group,
R 22 may combine with L 20 to form a ring,
L 201 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
R 201 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
n2 represents an integer of 1 to 20, and when n2 is 2 to 20, the plurality of L 201 may be the same or different.
<6> The compound S is a polymer containing the structural unit S1-1 and the structural unit S2-1 in an amount of 70% by mass or more of the total structural units of the compound S, and the structural unit S1-1 and the structural unit The photosensitive composition in any one of <3>-<5> whose mass ratio with unit S2-1 is structural unit S1-1: structural unit S2-1 = 5: 95-95: 5.
<7> The photosensitive composition according to any one of <1> to <6>, wherein the compound S has a weight average molecular weight of 100 to 100,000.
<8> The structural unit a1 is at least one selected from the structural unit represented by the following general formula a1-1 and the structural unit represented by the following general formula a1-2, <1> to <7 > The photosensitive composition in any one of>
Figure 2017049327
In general formula a1-1 and general formula a1-2, a represents 0 or 1, R 1A and R 2A each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group or an aryl group, and R 1A and R 2A At least one of, an alkyl group or an aryl group, R 3A represents an alkyl group or an aryl group, and R 1A or R 2A, it may be linked and the R 3A forms a cyclic ether, R 4A Represents an alkyl group, an aryl group, or an aralkyl group, L 1A represents a single bond or a divalent linking group, L 2A represents a single bond or a divalent linking group, and R x represents an alkyl Represents a group or a halogen atom, and m1 represents an integer of 0 to 4.
<9> The photosensitivity according to any one of <1> to <8>, wherein the crosslinkable group of the polysiloxane component is at least one selected from cyclic ether and a group having an ethylenically unsaturated bond. Composition.
<10> The photosensitive composition according to any one of <1> to <9>, wherein the polysiloxane further includes a structural unit having at least one group selected from a carboxy group and a phenolic hydroxyl group.
<11> The process of apply | coating the photosensitive composition in any one of <1>-<10> on a board | substrate, the process of removing a solvent from the apply | coated photosensitive composition, The photosensitive composition from which the solvent was removed A method for producing a cured film comprising a step of exposing a product with actinic rays, a step of developing the exposed photosensitive composition with a developer, and a step of thermally curing the developed photosensitive composition.
<12> A method for producing a liquid crystal display device, comprising the method for producing a cured film according to <11>.
<13> A method for producing an organic electroluminescence display device, comprising the method for producing a cured film according to <11>.
<14> The manufacturing method of a touch panel including the manufacturing method of the cured film as described in <11>.

塗布性が良好で、かつ、アッシングなどの工程を経ることなく、硬化膜上に積層される上層との密着性に優れた硬化膜を製造できる感光性組成物を提供することが可能になった。また、硬化膜の製造方法、硬化膜および装置を提供することが可能になった。   It has become possible to provide a photosensitive composition that can produce a cured film having good coating properties and excellent adhesion to the upper layer laminated on the cured film without passing through a process such as ashing. . Moreover, it has become possible to provide a method for producing a cured film, a cured film, and an apparatus.

液晶表示装置の一例の構成概念図である。It is a composition conceptual diagram of an example of a liquid crystal display. タッチパネルの機能を有する液晶表示装置の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the liquid crystal display device which has a function of a touch panel. タッチパネルの機能を有する液晶表示装置の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the liquid crystal display device which has a function of a touch panel.

以下において、本発明の内容について詳細に説明する。以下に記載する構成要件の説明は、本発明の代表的な実施態様に基づいてなされることがあるが、本発明はそのような実施態様に限定されるものではない。尚、本明細書において「〜」とはその前後に記載される数値を下限値および上限値として含む意味で使用される。
本明細書における基(原子団)の表記において、置換および無置換を記していない表記は、置換基を有さないものと共に置換基を有するものをも包含するものである。例えば「アルキル基」とは、置換基を有さないアルキル基(無置換アルキル基)のみならず、置換基を有するアルキル基(置換アルキル基)をも包含するものである。
なお、本明細書中において、「(メタ)アクリレート」は、「アクリレート」および「メタクリレート」を表し、「(メタ)アクリル」は、「アクリル」および「メタクリル」を表し、「(メタ)アクリロイル」は、「アクリロイル」および「メタクリロイル」を表す。
本明細書において、重量平均分子量(Mw)および数平均分子量(Mn)は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)測定によるポリスチレン換算値として定義される。
Hereinafter, the contents of the present invention will be described in detail. The description of the constituent elements described below may be made based on typical embodiments of the present invention, but the present invention is not limited to such embodiments. In the present specification, “to” is used to mean that the numerical values described before and after it are included as a lower limit value and an upper limit value.
In the description of the group (atomic group) in this specification, the description which does not describe substitution and non-substitution includes what does not have a substituent and what has a substituent. For example, the “alkyl group” includes not only an alkyl group having no substituent (unsubstituted alkyl group) but also an alkyl group having a substituent (substituted alkyl group).
In the present specification, “(meth) acrylate” represents “acrylate” and “methacrylate”, “(meth) acryl” represents “acryl” and “methacryl”, and “(meth) acryloyl”. Represents “acryloyl” and “methacryloyl”.
In this specification, a weight average molecular weight (Mw) and a number average molecular weight (Mn) are defined as a polystyrene conversion value by gel permeation chromatography (GPC) measurement.

本発明の感光性組成物は、後述するポリシロキサン成分Aと、pKa3以下の酸を発生する光酸発生剤Bと、溶剤Cと、後述する式S1で表される構造および式S2で表される構造を有する化合物Sと、含む。   The photosensitive composition of the present invention is represented by a polysiloxane component A described later, a photoacid generator B that generates an acid having a pKa of 3 or less, a solvent C, a structure represented by the formula S1 described later, and a formula S2. And a compound S having the structure:

本発明によれば、上記構成の感光性組成物を用いることで、塗布性が良好で、かつ、アッシングなどの工程を経ることなく、硬化膜上に積層される上層との密着性に優れた硬化膜を製造できる。本発明の効果発現のメカニズムは下記の様に推定される。
すなわち、後述する式S1で表される構造はフルオロアルキル基を有するため疎水性に優れ、式S2で表される構造は親水性基を有するため親水性に優れる。両者の構造を併せ持つ化合物Sは、界面活性剤として機能し、優れた塗布性を得ることが可能になったと推定される。また、化合物Sが有する式S1で表される構造は、フルオロアルキル基が、アセタール結合を介して結合しているため、加熱時などにアセタール結合が切れて、フルオロアルキル基部分が脱離して揮発しやすく、硬化膜の表層にフッ素が偏在し難いと考えられる。このため、アッシングなどの工程を経ることなく、硬化膜上に積層される上層との密着性に優れた硬化膜を製造することが可能になったと推定される。
また、化合物Sが有する式S1で表される構造は、フルオロアルキル基が、アセタール結合を介して結合しているため、スルホン酸などの酸の作用によりアセタール結合が切れて、フルオロアルキル基部分が脱離する。従って酸に晒された部分で撥液性が低下する。このため本発明の感光性組成物は、塗布性と上層密着とが優れることに加えて、アルカリ現像による現像残渣が無く、現像パターンのエッジのラフネスが小さいという優れた特性を有する。
本発明の感光性組成物は、化学増幅型ポジ型感光性組成物として好ましく用いることができる。
以下本発明を詳細に説明する。
According to the present invention, by using the photosensitive composition having the above-described configuration, the coating property is good, and the adhesiveness with the upper layer laminated on the cured film is excellent without going through a process such as ashing. A cured film can be produced. The mechanism of the effect expression of the present invention is presumed as follows.
That is, the structure represented by the formula S1, which will be described later, has a fluoroalkyl group and thus has excellent hydrophobicity, and the structure represented by the formula S2 has a hydrophilic group and thus has excellent hydrophilicity. It is presumed that Compound S having both structures functions as a surfactant and can obtain excellent coating properties. Further, in the structure represented by the formula S1 of the compound S, since the fluoroalkyl group is bonded through an acetal bond, the acetal bond is broken during heating or the like, and the fluoroalkyl group part is eliminated and volatilized. It is considered that fluorine is not unevenly distributed on the surface layer of the cured film. For this reason, it is estimated that it became possible to manufacture the cured film excellent in adhesiveness with the upper layer laminated | stacked on a cured film, without passing through processes, such as ashing.
Further, in the structure represented by the formula S1 of the compound S, the fluoroalkyl group is bonded through an acetal bond, so that the acetal bond is broken by the action of an acid such as sulfonic acid, and the fluoroalkyl group moiety is Detach. Accordingly, the liquid repellency is lowered at the portion exposed to the acid. For this reason, the photosensitive composition of this invention has the outstanding characteristic that there is no image development residue by alkali image development and the roughness of the edge of a development pattern is small in addition to being excellent in applicability | paintability and upper layer contact | adherence.
The photosensitive composition of the present invention can be preferably used as a chemically amplified positive photosensitive composition.
The present invention will be described in detail below.

<ポリシロキサン成分A>
本発明の感光性組成物において、ポリシロキサン成分Aは、下記(1)および(2)の少なくとも一方を満たす。
(1):カルボキシ基が酸分解性基で保護された基、フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基、および、シラノール基が酸分解性基で保護された基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位a1と、架橋性基を有する構成単位a2とを有するポリシロキサンA1を含むポリシロキサン成分。
(2):カルボキシ基が酸分解性基で保護された基、フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基、および、シラノール基が酸分解性基で保護された基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位a1を有するポリシロキサンA2と、架橋性基を有する構成単位a2を有するポリシロキサンA3とを含むポリシロキサン成分。
ポリシロキサン成分Aは、特に述べない限り、上記ポリシロキサンに加え、必要に応じて添加される他のポリシロキサンを含めたものを意味する。
ポリシロキサン成分Aに含まれる構成単位a1と構成単位a2とのモル比は、構成単位a1:構成単位a2=10:90〜90:10が好ましく、80:20〜20:80がより好ましく、60:40〜30:70が更に好ましい。
<Polysiloxane component A>
In the photosensitive composition of the present invention, the polysiloxane component A satisfies at least one of the following (1) and (2).
(1): at least one selected from a group in which a carboxy group is protected with an acid-decomposable group, a group in which a phenolic hydroxyl group is protected with an acid-decomposable group, and a group in which a silanol group is protected with an acid-decomposable group The polysiloxane component containing polysiloxane A1 which has the structural unit a1 which has a seed group, and the structural unit a2 which has a crosslinkable group.
(2): at least one selected from a group in which a carboxy group is protected with an acid-decomposable group, a group in which a phenolic hydroxyl group is protected with an acid-decomposable group, and a group in which a silanol group is protected with an acid-decomposable group The polysiloxane component containing polysiloxane A2 which has structural unit a1 which has a seed group, and polysiloxane A3 which has structural unit a2 which has a crosslinkable group.
Unless otherwise stated, the polysiloxane component A means one including other polysiloxane added in addition to the above polysiloxane.
The molar ratio of the structural unit a1 and the structural unit a2 contained in the polysiloxane component A is preferably structural unit a1: structural unit a2 = 10: 90 to 90:10, more preferably 80:20 to 20:80, 60 : 40-30: 70 is more preferable.

上記(1)の態様では、少なくとも1種類のポリシロキサンA1を含み、ポリシロキサンA1が構成単位a1、および構成単位a2を有する態様である。構成単位a1や、構成単位a2は、それぞれ、2種類以上含んでいてもよい。また、後述する酸基を有する構成単位a3や、構成単位a4を含んでいてもよい。   In the aspect (1), at least one kind of polysiloxane A1 is included, and the polysiloxane A1 has the structural unit a1 and the structural unit a2. Each of the structural unit a1 and the structural unit a2 may include two or more types. Moreover, the structural unit a3 which has the acid group mentioned later, and the structural unit a4 may be included.

ポリシロキサンA1の構成単位a1の割合は、感度の観点から、ポリシロキサンA1の全構成単位に対して、10〜90モル%が好ましい。下限は、15モル%以上が好ましく、20モル%以上が更に好ましい。上限は、80モル%以下が好ましく、60モル%以下が更に好ましい。
また、構成単位a2の割合は、硬化膜特性の観点から、ポリシロキサンA1の全構成単位に対して、10〜90モル%が好ましい。下限は、20モル%以上が好ましく、30モル%以上が更に好ましい。上限は、80モル%以下が好ましく、70モル%以下が更に好ましい。
また、構成単位a3の割合は、感度の観点から、ポリシロキサンA1の全構成単位に対して、0〜50モル%が好ましい。下限は、1モル%以上が好ましく、5モル%以上が更に好ましい。上限は、30モル%以下が好ましく、20モル%以下が更に好ましい。
また、構成単位a4の割合は、現像性、および、硬化膜特性の観点から、ポリシロキサンA1の全構成単位に対して、0〜40モル%が好ましい。下限は、1モル%以上が好ましく、5モル%以上が更に好ましい。上限は、30モル%以下が好ましく、20モル%以下が更に好ましい。
The proportion of the structural unit a1 of the polysiloxane A1 is preferably 10 to 90 mol% with respect to all the structural units of the polysiloxane A1 from the viewpoint of sensitivity. The lower limit is preferably 15 mol% or more, and more preferably 20 mol% or more. The upper limit is preferably 80 mol% or less, and more preferably 60 mol% or less.
In addition, the proportion of the structural unit a2 is preferably 10 to 90 mol% with respect to all the structural units of the polysiloxane A1 from the viewpoint of cured film characteristics. The lower limit is preferably 20 mol% or more, and more preferably 30 mol% or more. The upper limit is preferably 80 mol% or less, and more preferably 70 mol% or less.
In addition, the proportion of the structural unit a3 is preferably 0 to 50 mol% with respect to all the structural units of the polysiloxane A1 from the viewpoint of sensitivity. The lower limit is preferably 1 mol% or more, more preferably 5 mol% or more. The upper limit is preferably 30 mol% or less, and more preferably 20 mol% or less.
In addition, the proportion of the structural unit a4 is preferably 0 to 40 mol% with respect to all the structural units of the polysiloxane A1 from the viewpoints of developability and cured film characteristics. The lower limit is preferably 1 mol% or more, more preferably 5 mol% or more. The upper limit is preferably 30 mol% or less, and more preferably 20 mol% or less.

上記(2)の態様では、構成単位a1を有するポリシロキサンA2と、構成単位a2を有するポリシロキサンA3とを含む態様である。構成単位a1を含むポリシロキサンA2は、さらに、構成単位a2を含んでいても良い。同様に、構成単位a2を含むポリシロキサンA3は、構成単位a1を含んでいても良い。このような場合、(1)と(2)の両方を満たす態様となる。また、ポリシロキサンA2、ポリシロキサンA3は、後述する酸基を有する構成単位a3や他の構成単位a4を含んでいてもよい。   The aspect (2) is an aspect including polysiloxane A2 having the structural unit a1 and polysiloxane A3 having the structural unit a2. The polysiloxane A2 containing the structural unit a1 may further contain a structural unit a2. Similarly, the polysiloxane A3 containing the structural unit a2 may contain the structural unit a1. In such a case, the aspect satisfies both (1) and (2). Moreover, polysiloxane A2 and polysiloxane A3 may contain the structural unit a3 which has the acid group mentioned later, and the other structural unit a4.

ポリシロキサンA2の構成単位a1の割合は、ポリシロキサンA2の全構成単位に対して、10〜90モル%が好ましい。下限は、30モル%以上が好ましく、40モル%以上が更に好ましい。上限は、90モル%以下が好ましく、80モル%以下が更に好ましい。また、構成単位a3の割合は、ポリシロキサンA2の全構成単位に対して、0〜50モル%が好ましい。下限は、1モル%以上が好ましく、5モル%以上が更に好ましい。上限は、30モル%以下が好ましく、20モル%以下が更に好ましい。また、構成単位a4の割合は、ポリシロキサンA2の全構成単位に対して、0〜40モル%が好ましい。下限は、1モル%以上が好ましく、5モル%以上が更に好ましい。上限は、30モル%以下が好ましく、20モル%以下が更に好ましい。
ポリシロキサンA3の構成単位a2の割合は、ポリシロキサンA3の全構成単位に対して、10〜90モル%が好ましい。下限は、30モル%以上が好ましく、50モル%以上が更に好ましい。上限は、90モル%以下が好ましく、80モル%以下が更に好ましい。また、構成単位a4の割合は、ポリシロキサンA3の全構成単位に対して、0〜40モル%が好ましい。下限は、1モル%以上が好ましく、5モル%以上が更に好ましい。上限は、30モル%以下が好ましく、20モル%以下が更に好ましい。
上記(2)の態様の場合には、構成単位a1を有するポリシロキサンA2と、構成単位a2を有するポリシロキサンA3との質量割合は、95:5〜5:95が好ましく、80:20〜20:80がより好ましく、70:30〜30:70がさらに好ましい。
As for the ratio of the structural unit a1 of polysiloxane A2, 10-90 mol% is preferable with respect to all the structural units of polysiloxane A2. The lower limit is preferably 30 mol% or more, and more preferably 40 mol% or more. The upper limit is preferably 90 mol% or less, and more preferably 80 mol% or less. The proportion of the structural unit a3 is preferably 0 to 50 mol% with respect to all the structural units of the polysiloxane A2. The lower limit is preferably 1 mol% or more, more preferably 5 mol% or more. The upper limit is preferably 30 mol% or less, and more preferably 20 mol% or less. The proportion of the structural unit a4 is preferably 0 to 40 mol% with respect to all the structural units of the polysiloxane A2. The lower limit is preferably 1 mol% or more, more preferably 5 mol% or more. The upper limit is preferably 30 mol% or less, and more preferably 20 mol% or less.
As for the ratio of the structural unit a2 of polysiloxane A3, 10-90 mol% is preferable with respect to all the structural units of polysiloxane A3. The lower limit is preferably 30 mol% or more, and more preferably 50 mol% or more. The upper limit is preferably 90 mol% or less, and more preferably 80 mol% or less. The proportion of the structural unit a4 is preferably 0 to 40 mol% with respect to all the structural units of the polysiloxane A3. The lower limit is preferably 1 mol% or more, more preferably 5 mol% or more. The upper limit is preferably 30 mol% or less, and more preferably 20 mol% or less.
In the case of the above aspect (2), the mass ratio of the polysiloxane A2 having the structural unit a1 and the polysiloxane A3 having the structural unit a2 is preferably 95: 5 to 5:95, and 80:20 to 20 : 80 is more preferable, and 70:30 to 30:70 is more preferable.

本発明に用いるポリシロキサンの構造は、特に限定はない。直鎖状、環状、梯子状、網目状いずれでもよく、これらが相互に連結された構造でも良い。梯子状または、網目状の構造を含むことが硬化膜硬度の点で好ましい。   The structure of the polysiloxane used in the present invention is not particularly limited. Any of a straight chain shape, a ring shape, a ladder shape, and a mesh shape may be used, and a structure in which these are connected to each other may be used. It is preferable in terms of hardness of the cured film that a ladder-like or network-like structure is included.

ポリシロキサン成分Aに含まれるポリシロキサンの重量平均分子量は、1,000〜200,000が好ましく、2,000〜50,000がより好ましい。上記範囲内であると、諸特性が良好である。数平均分子量と重量平均分子量の比(分散度)は、1.0〜5.0が好ましく1.5〜3.5がより好ましい。   The weight average molecular weight of the polysiloxane contained in the polysiloxane component A is preferably 1,000 to 200,000, and more preferably 2,000 to 50,000. Various characteristics are favorable in the said range. The ratio (dispersity) between the number average molecular weight and the weight average molecular weight is preferably 1.0 to 5.0, and more preferably 1.5 to 3.5.

<<構成単位a1>>
ポリシロキサン成分Aは、カルボキシ基が酸分解性基で保護された基、フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基、および、シラノール基が酸分解性基で保護された基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位a1を有するポリシロキサンを含む。以下、カルボキシ基、フェノール性水酸基およびシラノール基をあわせて酸基ともいう。
本発明において、「カルボキシ基が酸分解性基で保護された基」、「フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基」、「シラノール基が酸分解性基で保護された基」とは、酸を触媒(または開始剤)として脱保護反応を起こし、上述した酸基と、再生された酸と、分解された構造とを生じる基を意味する。
酸基は、カルボキシ基またはフェノール性水酸基が好ましく、カルボキシ基がより好ましい。
酸分解性基は、酸により比較的分解し易い基(例えば、後述するエステル構造、テトラヒドロピラニルエステル基、または、テトラヒドロフラニルエステル基等のアセタール系官能基)や酸により比較的分解し難い基(例えば、tert−ブチルエステル基等の第三級アルキル基、tert−ブチルカーボネート基等の第三級アルキルカーボネート基)を用いることができる。これらの基の中でも、アセタール基が好ましい。
すなわち、構成単位a1は、カルボキシ基がアセタール基で保護された保護カルボキシ基、または、フェノール性水酸基がアセタール基で保護された保護フェノール基を有することが好ましく、カルボキシ基がアセタール基で保護された保護カルボキシ基を有することがより好ましい。この態様によれば、感光性組成物の基本物性、特に感度やパターン形状、コンタクトホールの形成性、感光性組成物の保存安定性の観点から好ましい。シラノール基が酸分解性基で保護された基の含有量は、構成単位a1を含むポリシロキサンの全構成単位に対して、30モル%以下が好ましく、10モル%以下がより好ましく、5モル%以下が更に好ましく、実質的に含有しないことが一層好ましい。実質的に含有しないとは、構成単位a1を含むポリシロキサンの全構成単位に対して、例えば、1モル%以下が好ましく、0.5モル%以下がより好ましく、含有しないことが一層好ましい。
<< Structural Unit a1 >>
The polysiloxane component A is selected from a group in which a carboxy group is protected with an acid-decomposable group, a group in which a phenolic hydroxyl group is protected with an acid-decomposable group, and a group in which a silanol group is protected with an acid-decomposable group. A polysiloxane having a structural unit a1 having at least one group; Hereinafter, the carboxy group, the phenolic hydroxyl group, and the silanol group are collectively referred to as an acid group.
In the present invention, “a group in which a carboxy group is protected with an acid-decomposable group”, “a group in which a phenolic hydroxyl group is protected with an acid-decomposable group”, and “a group in which a silanol group is protected with an acid-decomposable group” Means a group that causes a deprotection reaction using an acid as a catalyst (or an initiator), and generates the above-described acid group, a regenerated acid, and a decomposed structure.
The acid group is preferably a carboxy group or a phenolic hydroxyl group, and more preferably a carboxy group.
An acid-decomposable group is a group that is relatively easily decomposed by an acid (for example, an acetal functional group such as an ester structure, a tetrahydropyranyl ester group, or a tetrahydrofuranyl ester group described later) or a group that is relatively difficult to decompose by an acid ( For example, a tertiary alkyl group such as a tert-butyl ester group or a tertiary alkyl carbonate group such as a tert-butyl carbonate group) can be used. Among these groups, an acetal group is preferable.
That is, the structural unit a1 preferably has a protected carboxy group in which a carboxy group is protected with an acetal group, or a protected phenol group in which a phenolic hydroxyl group is protected with an acetal group, and the carboxy group is protected with an acetal group. More preferably, it has a protected carboxy group. According to this aspect, it is preferable from the viewpoints of basic physical properties of the photosensitive composition, particularly sensitivity, pattern shape, contact hole formation, and storage stability of the photosensitive composition. The content of the group in which the silanol group is protected with an acid-decomposable group is preferably 30 mol% or less, more preferably 10 mol% or less, more preferably 5 mol%, based on all the structural units of the polysiloxane including the structural unit a1. The following is more preferable, and it is more preferable that the following is not substantially contained. “Substantially not contained” means, for example, preferably 1 mol% or less, more preferably 0.5 mol% or less, and even more preferably not to all polysiloxane structural units including the structural unit a1.

構成単位a1は、下記一般式a1−1で表される構成単位、および/または、下記一般式a1−2で表される構成単位であることが好ましい。   The structural unit a1 is preferably a structural unit represented by the following general formula a1-1 and / or a structural unit represented by the following general formula a1-2.

Figure 2017049327
一般式a1−1、および、一般式a1−2中、aは0または1を表し、
1AおよびR2Aは、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基またはアリール基を表し、R1AおよびR2Aの少なくとも一方は、アルキル基またはアリール基を表し、R3Aは、アルキル基またはアリール基を表し、R1AまたはR2Aと、R3Aとが連結して環状エーテルを形成してもよく、
4Aは、アルキル基、アリール基、または、アラルキル基を表し、
1Aは、単結合または2価の連結基を表し、
2Aは、単結合または2価の連結基を表し、
xは、アルキル基またはハロゲン原子を表し、
m1は、0〜4の整数を表す。
Figure 2017049327
In general formula a1-1 and general formula a1-2, a represents 0 or 1,
R 1A and R 2A each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group or an aryl group, at least one of R 1A and R 2A represents an alkyl group or an aryl group, and R 3A represents an alkyl group or an aryl group. R 1A or R 2A and R 3A may be linked to form a cyclic ether,
R 4A represents an alkyl group, an aryl group, or an aralkyl group,
L 1A represents a single bond or a divalent linking group,
L 2A represents a single bond or a divalent linking group,
R x represents an alkyl group or a halogen atom,
m1 represents an integer of 0 to 4.

1AおよびR2Aは、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基またはアリール基を表し、R1AおよびR2Aの少なくとも一方がアルキル基またはアリール基である。
アルキル基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜6がさらに好ましい。アルキル基は、無置換であってもよく、置換基を有していてもよい。また、アルキル基は、直鎖、分岐、環状のいずれであってもよいが、直鎖のアルキル基が好ましい。アルキル基が有していてもよい置換基としては、炭素数1〜10のアルコキシ基、炭素数1〜10のチオアルコキシ基、ヒドロキシル基、シアノ基、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子)などが挙げられる。これらの置換基は、さらに置換基を有していてもよい。
アリール基の炭素数は、6〜20が好ましく、6〜14がより好ましく、6〜10がさらに好ましい。アリール基は、無置換であってもよく、置換基を有していてもよい。置換基としては、上述したものが挙げられる。また、炭素数1〜10のアルキル基を置換基とすることもできる。
1AおよびR2Aは、それぞれ独立に、水素原子、または、アルキル基であることが好ましく、水素原子、または、メチル基であることがより好ましく、R1AおよびR2Aの一方がメチル基であり、他方が水素原子であることが特に好ましい。
R 1A and R 2A each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group or an aryl group, and at least one of R 1A and R 2A is an alkyl group or an aryl group.
1-10 are preferable, as for carbon number of an alkyl group, 1-8 are more preferable, and 1-6 are more preferable. The alkyl group may be unsubstituted or may have a substituent. The alkyl group may be linear, branched or cyclic, but is preferably a linear alkyl group. Examples of the substituent that the alkyl group may have include an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, a thioalkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, a hydroxyl group, a cyano group, and a halogen atom (fluorine atom, chlorine atom, bromine atom). , Iodine atom) and the like. These substituents may further have a substituent.
6-20 are preferable, as for carbon number of an aryl group, 6-14 are more preferable, and 6-10 are more preferable. The aryl group may be unsubstituted or may have a substituent. Examples of the substituent include those described above. Moreover, a C1-C10 alkyl group can also be used as a substituent.
R 1A and R 2A are each independently preferably a hydrogen atom or an alkyl group, more preferably a hydrogen atom or a methyl group, and one of R 1A and R 2A is a methyl group. The other is particularly preferably a hydrogen atom.

3Aはアルキル基またはアリール基を表す。R3Aが表すアルキル基、およびアリール基は、R1AおよびR2Aにおけるアルキル基、アリール基と同義である。R3Aは、メチル基、エチル基またはプロピル基であることが好ましく、エチル基またはプロピル基がより好ましい。
3Aは、R1AまたはR2Aと連結して環状エーテルを形成してもよい。R1AまたはR2Aと連結して形成される環状エーテルとしては、3〜6員環の環状エーテルが好ましく、5〜6員環の環状エーテルがより好ましい。
R 3A represents an alkyl group or an aryl group. The alkyl group and aryl group represented by R 3A have the same meanings as the alkyl group and aryl group in R 1A and R 2A . R 3A is preferably a methyl group, an ethyl group or a propyl group, more preferably an ethyl group or a propyl group.
R 3A may be linked to R 1A or R 2A to form a cyclic ether. The cyclic ether formed by linking with R 1A or R 2A is preferably a 3- to 6-membered cyclic ether, and more preferably a 5- to 6-membered cyclic ether.

4Aは、アルキル基、アリール基、または、アラルキル基を表す。
アルキル基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜6がさらに好ましい。アルキル基は、置換基を有していてもよい。また、アルキル基は、直鎖、分岐、環状のいずれであってもよい。
アリール基の炭素数は、6〜20が好ましく、6〜14がより好ましく、6〜10がさらに好ましい。アリール基は、置換基を有していてもよい。
アラルキル基としては、炭素数1〜10のアルキル基の水素原子の一部が、炭素数6〜20のアリール基に置換されている基が好ましい。アラルキル基は、置換基を有していてもよい。アラルキル基を構成するアルキル基は、直鎖、分岐、環状のいずれであってもよい。
アルキル基、アリール基、アラルキル基が有してもよい置換基としては、R1A、R2Aで説明した置換基と同様である。
4Aは、溶剤耐性や耐熱性の観点からメチル基、フェニル基、プロピル基、ブチル基、ヘキシル基が好ましく、メチル基、フェニル基がより好ましい。
R 4A represents an alkyl group, an aryl group, or an aralkyl group.
1-10 are preferable, as for carbon number of an alkyl group, 1-8 are more preferable, and 1-6 are more preferable. The alkyl group may have a substituent. The alkyl group may be linear, branched or cyclic.
6-20 are preferable, as for carbon number of an aryl group, 6-14 are more preferable, and 6-10 are more preferable. The aryl group may have a substituent.
As the aralkyl group, a group in which a part of hydrogen atoms of an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms is substituted with an aryl group having 6 to 20 carbon atoms is preferable. The aralkyl group may have a substituent. The alkyl group constituting the aralkyl group may be linear, branched or cyclic.
Examples of the substituent that the alkyl group, aryl group, and aralkyl group may have are the same as those described for R 1A and R 2A .
R 4A is preferably a methyl group, a phenyl group, a propyl group, a butyl group, or a hexyl group from the viewpoint of solvent resistance or heat resistance, and more preferably a methyl group or a phenyl group.

xは、アルキル基またはハロゲン原子を表す。アルキル基としては、炭素数1〜4のアルキル基が好ましい。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が好ましい。 R x represents an alkyl group or a halogen atom. As an alkyl group, a C1-C4 alkyl group is preferable. As a halogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom are preferable.

1AおよびL2Aは、単結合または2価の連結基を表す。2価の連結基としては、炭素数1〜12のアルキレン基、炭素数1〜12のアルキレンオキサイド基、炭素数6〜12のアリーレン基などが挙げられる。アルキレンオキサイド基、および、アルキレンオキサイド基は、直鎖、分岐、環状のいずれであってもよい。また、アルキレン基、アルキレンオキサイド基、アリーレン基は、置換基を有していてもよい。置換基としては、R1A、R2Aで説明した置換基と同様である。また、カルボキシ基、フェノール基、ホスホニル基、スルホ基、スルホンアミド基、スルホニルイミド基等の酸基を置換基として有していてもよい。
m1は、0〜4の整数を表し、0〜2が好ましく、0〜1がより好ましく、0が最も好ましい。
L 1A and L 2A represent a single bond or a divalent linking group. As a bivalent coupling group, a C1-C12 alkylene group, a C1-C12 alkylene oxide group, a C6-C12 arylene group, etc. are mentioned. The alkylene oxide group and the alkylene oxide group may be linear, branched or cyclic. In addition, the alkylene group, alkylene oxide group, and arylene group may have a substituent. Examples of the substituent are the same as those described for R 1A and R 2A . Moreover, you may have acid groups, such as a carboxy group, a phenol group, a phosphonyl group, a sulfo group, a sulfonamide group, and a sulfonylimide group, as a substituent.
m1 represents an integer of 0 to 4, preferably 0 to 2, more preferably 0 to 1, and most preferably 0.

構成単位a1を得るために使用できるシラン化合物の具体例としては、例えば、以下に示すシラン化合物が挙げられる。   Specific examples of the silane compound that can be used for obtaining the structural unit a1 include the following silane compounds.

Figure 2017049327
Figure 2017049327

<<構成単位a2>>
ポリシロキサン成分Aは、架橋性基を有する構成単位a2を含むポリシロキサンを含む。本発明において、架橋性基とは、熱によって架橋反応を生じうる基を意味する。架橋性基は、1気圧における加熱処理の際の架橋反応の開始温度が100℃以上の基であれば特に限定はされない。架橋反応の開始温度は公知の手法を使って分析することができ、例えばDSC測定(Differential scanning calorimetry)を用いた手法によって分析することができる。
架橋性基としては、環状エーテル、エチレン性不飽和結合を有する基、アルコキシメチル基、メチロール基などが挙げられる。また、架橋性基は、連結基等を介して結合していてもよい。
環状エーテルとしては、エポキシ基、オキセタニル基が挙げられる。エチレン性不飽和結合を有する基としては、ビニル基、アリル基、メタリル基、メタクリロイル基、アクリロイル基、アリルオキシカルボニル基、メタリルオキシカルボニル基などが挙げられる。アルコキシメチル基としては、「−CH2OR」で表される基が挙げられる。Rは炭素原子数1〜8のアルキル基を表し、炭素数1〜4のアルキル基が好ましく、メチル基がより好ましい。アルキル基は、直鎖、分岐、および、環状のいずれでもよいが、直鎖が好ましい。
架橋性基は、環状エーテル、エチレン性不飽和結合を有する基が好ましく、環状エーテルがより好ましく、エポキシ基またはオキセタニル基がさらに好ましく、エポキシ基が特に好ましい。環状エーテルは、未反応の酸基を消費して強固な硬化膜を形成できる。このため、硬化膜に未反応の酸基が残存し難くできるので、耐熱性、耐溶剤性、基材密着性などに優れた硬化膜を形成できる。
架橋性基の具体例としては、以下のものが挙げられるが、これらに限定されるものではない。式中*は、他の基との連結部分を表す。
<< Structural Unit a2 >>
The polysiloxane component A contains polysiloxane containing the structural unit a2 having a crosslinkable group. In the present invention, the crosslinkable group means a group capable of causing a crosslinking reaction by heat. The crosslinkable group is not particularly limited as long as it is a group having a crosslinking reaction starting temperature of 100 ° C. or higher during heat treatment at 1 atm. The initiation temperature of the cross-linking reaction can be analyzed using a known method, for example, by a method using DSC measurement (Differential scanning calorimetry).
Examples of the crosslinkable group include a cyclic ether, a group having an ethylenically unsaturated bond, an alkoxymethyl group, and a methylol group. The crosslinkable group may be bonded via a linking group or the like.
Examples of the cyclic ether include an epoxy group and an oxetanyl group. Examples of the group having an ethylenically unsaturated bond include vinyl group, allyl group, methallyl group, methacryloyl group, acryloyl group, allyloxycarbonyl group, and methallyloxycarbonyl group. Examples of the alkoxymethyl group include a group represented by “—CH 2 OR”. R represents an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and more preferably a methyl group. The alkyl group may be linear, branched or cyclic, but is preferably linear.
The crosslinkable group is preferably a cyclic ether or a group having an ethylenically unsaturated bond, more preferably a cyclic ether, still more preferably an epoxy group or an oxetanyl group, and particularly preferably an epoxy group. Cyclic ethers can consume unreacted acid groups to form a strong cured film. For this reason, since unreacted acid groups can hardly remain in the cured film, a cured film excellent in heat resistance, solvent resistance, substrate adhesion, and the like can be formed.
Specific examples of the crosslinkable group include the following, but are not limited thereto. In the formula, * represents a connecting portion with another group.

Figure 2017049327
Figure 2017049327

構成単位a2は、1つの構成単位中に架橋性基を少なくとも1個有していればよく、1〜3個有していることが好ましく、1個がより好ましい。構成単位a2が架橋性基を複数有する場合は、すべて同一種類であってもよく、異なる種類であってもよい。架橋性基を複数含む場合は、同一の種類であることが好ましい。   The structural unit a2 only needs to have at least one crosslinkable group in one structural unit, preferably 1 to 3, and more preferably 1. When the structural unit a2 has a plurality of crosslinkable groups, they may all be of the same type or different types. When a plurality of crosslinkable groups are included, the same kind is preferable.

構成単位a2としては、下記一般式a2’で表される構成単位が挙げられる。   Examples of the structural unit a2 include structural units represented by the following general formula a2 '.

Figure 2017049327
Figure 2017049327

一般式a2’中、aは0または1を表し、R5Aは、アルキル基、アリール基またはアラルキル基を表し、L3Aは、単結合、または、2価の連結基を表し、Xは架橋性基を表す。 In general formula a2 ′, a represents 0 or 1, R 5A represents an alkyl group, an aryl group or an aralkyl group, L 3A represents a single bond or a divalent linking group, and X represents a crosslinkable group Represents a group.

構成単位a2は、硬化膜特性の観点から、下記一般式a2−1で表される構成単位、および/または、下記一般式a2−2で表される構成単位であることが好ましい。   From the viewpoint of cured film properties, the structural unit a2 is preferably a structural unit represented by the following general formula a2-1 and / or a structural unit represented by the following general formula a2-2.

Figure 2017049327
Figure 2017049327

一般式a2−1、a2−2中、aは0または1を表し、R5Aは、アルキル基、アリール基またはアラルキル基を表し、Ryは、アルキル基またはハロゲン原子を表し、L3Aは、単結合、または、2価の連結基を表し、nは、0または1を表し、m2は、nが0の場合は0〜2の整数を表し、nが1の場合は0〜3の整数を表し、m3は、0〜6の整数を表す。 In the general formulas a2-1 and a2-2, a represents 0 or 1, R 5A represents an alkyl group, an aryl group or an aralkyl group, R y represents an alkyl group or a halogen atom, and L 3A represents A single bond or a divalent linking group is represented, n represents 0 or 1, m2 represents an integer of 0 to 2 when n is 0, and an integer of 0 to 3 when n is 1 M3 represents an integer of 0-6.

5Aは、アルキル基、アリール基またはアラルキル基を表す。アルキル基、アリール基、アラルキル基としては、上述したa1−1及びa1−2のR4Aで説明した範囲と同様であり、好ましい範囲も同様である。
3Aは、単結合、または、2価の連結基を表す。2価の連結基としては、a1−1のL1A及びa1−2のL2Aで説明した範囲と同様であり、好ましい範囲も同様である。
yは、アルキル基またはハロゲン原子を表す。アルキル基、および、ハロゲン原子としては、上述したa1−2のRxで説明した範囲と同様であり、好ましい範囲も同様である。
nは、0または1を表し、0が好ましい。
m2は、nが0の場合は0〜2の整数を表し、nが1の場合は0〜3の整数を表す。m2は0が好ましい。
m3は、0〜6の整数を表し、0が好ましい。
R 5A represents an alkyl group, an aryl group, or an aralkyl group. Alkyl group, an aryl group, the aralkyl group is the same and ranges described for the R 4A of a1-1 and a1-2 described above, and preferred ranges are also the same.
L 3A represents a single bond or a divalent linking group. Examples of the divalent linking groups include the same range as described in L 2A of L 1A and a1-2 of a1-1, preferred ranges are also the same.
Ry represents an alkyl group or a halogen atom. Alkyl groups and, as the halogen atom is the same as the range described in a1-2 of R x may described above, and preferred ranges are also the same.
n represents 0 or 1, and 0 is preferable.
m2 represents an integer of 0 to 2 when n is 0, and represents an integer of 0 to 3 when n is 1. m2 is preferably 0.
m3 represents an integer of 0 to 6, and 0 is preferable.

構成単位a2を得るために使用できるシラン化合物の具体例としては、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシランなどを挙げることができる。また、以下に示すシラン化合物を用いることもできる。   Specific examples of the silane compound that can be used to obtain the structural unit a2 include 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, and 3-methacryloxypropyl. Examples include triethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, and 3-glycidoxypropyltriethoxysilane. Moreover, the silane compound shown below can also be used.

Figure 2017049327
Figure 2017049327

<<構成単位(a3)>>
ポリシロキサン成分Aが含むポリシロキサンは、酸基を有する構成単位a3を含んでいてもよい。構成単位a3は、構成単位a1および構成単位a2から選ばれる少なくとも一つの構成単位を有するポリシロキサンが含んでいてもよい。また、構成単位a1および構成単位a2を実質的に含まないポリシロキサンが含んでいてもよい。
具体的な酸基としては、カルボキシ基、ホスホニル基、スルホ基、フェノール性水酸基、スルホンアミド基、スルホニルイミド基が例示され、好ましい酸基としては、カルボキシ基、およびフェノール性水酸基が挙げられる。
酸基を有する構成単位a3としては、例えば、以下の一般式a3−1で表される構造、および/または、一般式a3−2で表される構造が好ましい具体例として挙げられる。
<< Structural Unit (a3) >>
The polysiloxane contained in the polysiloxane component A may contain a structural unit a3 having an acid group. The structural unit a3 may contain a polysiloxane having at least one structural unit selected from the structural unit a1 and the structural unit a2. Moreover, the polysiloxane which does not contain the structural unit a1 and the structural unit a2 substantially may be contained.
Specific examples of the acid group include a carboxy group, a phosphonyl group, a sulfo group, a phenolic hydroxyl group, a sulfonamide group, and a sulfonylimide group. Preferred acid groups include a carboxy group and a phenolic hydroxyl group.
Specific examples of the structural unit a3 having an acid group include a structure represented by the following general formula a3-1 and / or a structure represented by the general formula a3-2.

Figure 2017049327
Figure 2017049327

一般式a3−1およびa3−2中、aは0または1を表し、R6Aは、アルキル基、アリール基、または、アラルキル基を表し、L4Aは、単結合または2価の連結基を表し、L5Aは、単結合または2価の連結基を表し、Rzは、アルキル基またはハロゲン原子を表し、m4は、0〜4の整数を表す。 In General Formulas a3-1 and a3-2, a represents 0 or 1, R 6A represents an alkyl group, an aryl group, or an aralkyl group, and L 4A represents a single bond or a divalent linking group. , L 5A represents a single bond or a divalent linking group, R z represents an alkyl group or a halogen atom, and m4 represents an integer of 0 to 4.

6Aが表すアルキル基、アリール基、アラルキル基としては、上述したa1−1及びa1−2のR4Aで説明した範囲と同様であり、好ましい範囲も同様である。
4が表す2価の連結基としては、a1−1のL1Aで説明した範囲と同様であり、好ましい範囲も同様である。
5Aが表す2価の連結基としては、a1−2のL2Aで説明した範囲と同様であり、好ましい範囲も同様である。
zが表すアルキル基、および、ハロゲン原子としては、上述したa1−2のRxで説明した範囲と同様であり、好ましい範囲も同様である。
m4は、0〜4の整数を表し、0〜2が好ましく、0〜1がより好ましく、0が最も好ましい。
The alkyl group, aryl group, and aralkyl group represented by R 6A are the same as those described above for R 4A of a1-1 and a1-2, and the preferred ranges are also the same.
The divalent linking group represented by L 4 is the same as the range described for L 1A in a1-1, and the preferred range is also the same.
The divalent linking group represented by L 5A is the same as the range described for L 2A in a1-2, and the preferred range is also the same.
Alkyl group R z represents and, as the halogen atom is the same as the range described in a1-2 of R x may described above, and preferred ranges are also the same.
m4 represents an integer of 0 to 4, preferably 0 to 2, more preferably 0 to 1, and most preferably 0.

構成単位a3を得るために使用できるシラン化合物としては、構成単位a1を得るために使用できるシラン化合物と同様のものを使用できる。   As the silane compound that can be used to obtain the structural unit a3, the same silane compounds that can be used to obtain the structural unit a1 can be used.

<<構成単位a4>>
ポリシロキサン成分Aは、上述した構成単位a1〜a3以外の構成単位a4を含むことができる。
構成単位a4としては、例えば、以下の一般式a4−1で表される構造が挙げられる。
<< Structural Unit a4 >>
The polysiloxane component A can include a structural unit a4 other than the structural units a1 to a3 described above.
Examples of the structural unit a4 include structures represented by the following general formula a4-1.

Figure 2017049327
Figure 2017049327

一般式a4−1中、aは0〜3の整数を表し、bは0〜3の整数を表す。ただし0≦a+b≦3である。R7AおよびR8Aは、それぞれ独立に、アルキル基、アリール基、または、アラルキル基を表す。
7AおよびR8Aが表すアルキル基、アリール基およびアラルキル基としては、上述したa1−1及びa1−2のR4Aで説明した範囲と同様であり、好ましい範囲も同様である。
In general formula a4-1, a represents an integer of 0 to 3, and b represents an integer of 0 to 3. However, 0 ≦ a + b ≦ 3. R 7A and R 8A each independently represents an alkyl group, an aryl group, or an aralkyl group.
The alkyl group, aryl group and aralkyl group represented by R 7A and R 8A are the same as the ranges described for R 4A of a1-1 and a1-2 described above, and the preferred ranges are also the same.

構成単位a4を得るために使用できるシラン化合物としては、アルコキシシラン化合物、クロロシラン化合物などが挙られる。具体的には、メチルトリエトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシランなどを挙げることができる。また、以下に示すシラン化合物を用いることもできる。   Examples of silane compounds that can be used to obtain the structural unit a4 include alkoxysilane compounds and chlorosilane compounds. Specific examples include methyltriethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, phenyltriethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, hexyltriethoxysilane, decyltrimethoxysilane, and trifluoropropyltrimethoxysilane. Moreover, the silane compound shown below can also be used.

Figure 2017049327
Figure 2017049327

ポリシロキサン成分Aは、感光性組成物に含まれるポリシロキサン全量中、構成単位a1のモル数および構成単位a3のモル数の合計と、構成単位a2のモル数の比が、10:90〜90:10であることが好ましく30:70〜70:30であることがより好ましく、40:60〜60:40であることが更に好ましい。構成単位a1のモル数および構成単位a3のモル数の合計と、構成単位a2のモル数との比が上記範囲であれば、溶剤耐性に優れた硬化膜を形成できる。   In the polysiloxane component A, the ratio of the total number of moles of the structural unit a1 and the mole number of the structural unit a3 to the mole number of the structural unit a2 in the total amount of polysiloxane contained in the photosensitive composition is 10:90 to 90 : 10, preferably 30:70 to 70:30, and more preferably 40:60 to 60:40. When the ratio of the total number of moles of the structural unit a1 and the mole number of the structural unit a3 and the mole number of the structural unit a2 is within the above range, a cured film excellent in solvent resistance can be formed.

ポリシロキサン成分Aに含まれるポリシロキサンは、ポリシロキサンの重合時に残ったシラノール基を含んでいてもよい。ポリシロキサン全量中のシラノール基の数は、ポリシロキサン中のSi原子数に対して0〜0.5倍が好ましく、0〜0.2倍が好ましく、0〜0.05倍が最も好ましい。シラノール基の数が上記範囲であれば、感光性組成物の保存安定性が良好である。なお、ここでいうポリシロキサン全量中のシラノール基の数とは、ポリシロキサン成分に含まるポリシロキサンが有するシラノール基の数の合計値を意味する。Si原子数についても同様である。   The polysiloxane contained in the polysiloxane component A may contain silanol groups remaining during polymerization of the polysiloxane. The number of silanol groups in the total amount of polysiloxane is preferably 0 to 0.5 times, more preferably 0 to 0.2 times, and most preferably 0 to 0.05 times the number of Si atoms in the polysiloxane. When the number of silanol groups is in the above range, the storage stability of the photosensitive composition is good. The number of silanol groups in the total amount of polysiloxane here means the total number of silanol groups of the polysiloxane contained in the polysiloxane component. The same applies to the number of Si atoms.

ポリシロキサンは、各構成単位に対応するシラン化合物や、オリゴシロキサンを混合および反応させることによって得られる。例えば対応するトリメトキシシランやジメトキシシランを加水分解、縮合させることによって得られる。加水分解、縮合は公知の方法、条件で適宜行うことができる。例えば、特開平10−324748号公報(特に0085段落〜0087段落)、特開2005−283991号公報(特に0052段落〜054段落)、特開2006ー276598号公報(特に0009段落〜0030段落)等に記載された手順や条件を参考にすることができる。
上述した構成単位a1の酸分解性基は、保護されたシラン化合物を用いて導入してもよいし、高分子反応で導入してもよい。
なお、特開平10−324748号公報(特に0085段落〜0087段落)に記載のように、(A)ポリシロキサンに、カルボキシ基を含む構成単位を導入する場合には、対応するカルボン酸のアルキルエステルを有するシランを用いてポリシロキサンを合成し、アルキルエステルを一般的な方法で加水分解してカルボキシ基を有する構成単位を得ることが好ましい。
また、ポリシロキサンに、カルボキシ基が酸分解性基で保護された基を有する構成単位を導入するには、カルボキシ基を有する構成を有するポリシロキサンを合成後、所謂高分子反応で酸分解性基を導入してカルボキシ基を保護することが好ましい。
また、ポリシロキサンに、フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基を有する構成単位を導入するには、フェノール性水酸基を有するポリシロキサンを合成後、所謂高分子反応で、酸分解性基を導入してフェノール性水酸基を保護することが好ましい。
The polysiloxane can be obtained by mixing and reacting a silane compound corresponding to each structural unit or oligosiloxane. For example, it can be obtained by hydrolysis and condensation of the corresponding trimethoxysilane or dimethoxysilane. Hydrolysis and condensation can be appropriately performed by known methods and conditions. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-324748 (especially 0085 to 0087), Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-283939 (particularly 0052 to 054), Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-276598 (particularly 0009 to 0030), etc. The procedures and conditions described in can be referred to.
The acid-decomposable group of the structural unit a1 described above may be introduced using a protected silane compound or may be introduced by a polymer reaction.
In addition, as described in JP-A-10-324748 (particularly paragraphs 0085 to 0087), when a structural unit containing a carboxy group is introduced into (A) polysiloxane, the corresponding alkyl ester of carboxylic acid It is preferable to synthesize a polysiloxane using a silane having an alkyl group and hydrolyze the alkyl ester by a general method to obtain a structural unit having a carboxy group.
In order to introduce a structural unit having a carboxy group protected with an acid-decomposable group into polysiloxane, after synthesizing a polysiloxane having a structure having a carboxy group, an acid-decomposable group is formed by a so-called polymer reaction. It is preferable to introduce carboxy to protect the carboxy group.
In order to introduce a structural unit having a group in which a phenolic hydroxyl group is protected with an acid-decomposable group into polysiloxane, after synthesizing a polysiloxane having a phenolic hydroxyl group, a so-called polymer reaction is performed to produce an acid-decomposable group. It is preferable to protect the phenolic hydroxyl group by introducing.

以下に、ポリシロキサン成分Aの好ましい実施形態を挙げるが、本発明はこれらに限定されるものではない。
(第1の実施形態)
上述した(1)の態様において、構成単位a1および構成単位a2を有するポリシロキサンA1が、さらに、構成単位a3および/または構成単位a4を有する態様。
(第2の実施形態)
上述した(2)の態様において、構成単位a1を有するポリシロキサンA2が、さらに、構成単位a3および/または構成単位a4を有する態様。
(第3の実施形態)
上述した(2)の態様において、構成単位a2を有するポリシロキサンA3が、さらに、構成単位a3および/または構成単位a4を有する態様。
(第4の実施形態)
上記第1〜第3の実施形態のいずれかにおいて、少なくとも構成単位a3を含む態様。
(第5の実施形態)
上述した(1)および/または(2)の態様において、実質的に構成単位a1および構成単位a2を含まずに、構成単位a3および/または構成単位a4を有するポリシロキサンを有する態様。
(第6の実施形態)
上記第1〜第5の実施形態の2以上の組み合わせからなる形態。
Hereinafter, preferred embodiments of the polysiloxane component A will be described, but the present invention is not limited thereto.
(First embodiment)
In the above-described aspect (1), the polysiloxane A1 having the structural unit a1 and the structural unit a2 further has the structural unit a3 and / or the structural unit a4.
(Second Embodiment)
In the above-described aspect (2), the polysiloxane A2 having the structural unit a1 further has the structural unit a3 and / or the structural unit a4.
(Third embodiment)
In the above-described aspect (2), the polysiloxane A3 having the structural unit a2 further has the structural unit a3 and / or the structural unit a4.
(Fourth embodiment)
A mode including at least the structural unit a3 in any one of the first to third embodiments.
(Fifth embodiment)
The aspect which has polysiloxane which has the structural unit a3 and / or the structural unit a4 in the aspect of (1) and / or (2) mentioned above substantially not including the structural unit a1 and the structural unit a2.
(Sixth embodiment)
The form which consists of 2 or more combinations of the said 1st-5th embodiment.

実質的に構成単位a1および構成単位a2を含まずに、構成単位a3および/または構成単位a4を有するポリシロキサンを有する態様においては、構成単位a1および/または構成単位a2を有するポリシロキサンの合計量と、実質的に構成単位a1および構成単位a2を含まずに、構成単位a3および/または構成単位a4を有するポリシロキサンの合計量との質量割合は、99:1〜5:95が好ましく、97:3〜30:70がより好ましく、95:5〜50:50がさらに好ましい。
また、構成単位a1および/または構成単位a2を有するポリシロキサンの合計含有量は、ポリシロキサンの全含有量に対して60質量%以上が好ましく、70質量%以上が好ましく、90質量%以上が最も好ましい。
In an embodiment having a polysiloxane having the structural unit a3 and / or the structural unit a4 substantially not including the structural unit a1 and the structural unit a2, the total amount of the polysiloxane having the structural unit a1 and / or the structural unit a2 The mass ratio of the polysiloxane having the structural unit a3 and / or the structural unit a4 substantially free of the structural unit a1 and the structural unit a2 is preferably 99: 1 to 5:95, 97 : 3-30: 70 is more preferable, and 95: 5-50: 50 is further more preferable.
Further, the total content of the polysiloxane having the structural unit a1 and / or the structural unit a2 is preferably 60% by mass or more, preferably 70% by mass or more, and most preferably 90% by mass or more with respect to the total content of the polysiloxane. preferable.

本発明の感光性組成物におけるポリシロキサン成分Aの含有量は、感光性組成物の全固形成分100質量部に対して、50質量部以上が好ましく、60質量部以上がより好ましく、70質量部以上が更に好ましい。上限は、例えば、99質量部以下がより好ましい。   The content of the polysiloxane component A in the photosensitive composition of the present invention is preferably 50 parts by mass or more, more preferably 60 parts by mass or more, and 70 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid components of the photosensitive composition. The above is more preferable. The upper limit is more preferably 99 parts by mass or less, for example.

<光酸発生剤B>
本発明の感光性組成物は、pKa3以下の酸を発生する光酸発生剤Bを含有する。光酸発生剤Bとしては、波長300nm以上、好ましくは波長300〜450nmの活性光線に感応し、酸を発生する化合物が好ましいが、その化学構造に制限されるものではない。また、波長300nm以上の活性光線に直接感応しない光酸発生剤についても、増感剤と併用することによって波長300nm以上の活性光線に感応し、酸を発生する化合物であれば、増感剤と組み合わせて好ましく用いることができる。本発明で使用される光酸発生剤としては、pKaが3以下の酸を発生する光酸発生剤が好ましく、pKaが2以下の酸を発生する光酸発生剤がより好ましい。なお本発明において、pKaは、基本的に25℃の水中におけるpKaを指す。水中で測定できないものは、測定に適する溶剤に変更し測定したものを指す。具体的には、化学便覧等に記載のpKaが参考にできる。pKaが3以下の酸としては、スルホン酸またはホスホン酸であることが好ましく、スルホン酸であることがより好ましい。
<Photoacid generator B>
The photosensitive composition of the present invention contains a photoacid generator B that generates an acid having a pKa of 3 or less. The photoacid generator B is preferably a compound that reacts with an actinic ray having a wavelength of 300 nm or more, preferably 300 to 450 nm and generates an acid, but is not limited to its chemical structure. Further, a photoacid generator that is not directly sensitive to an actinic ray having a wavelength of 300 nm or more can also be used as a sensitizer if it is a compound that reacts with an actinic ray having a wavelength of 300 nm or more and generates an acid when used in combination with a sensitizer. It can be preferably used in combination. The photoacid generator used in the present invention is preferably a photoacid generator that generates an acid having a pKa of 3 or less, and more preferably a photoacid generator that generates an acid having a pKa of 2 or less. In the present invention, pKa basically refers to pKa in water at 25 ° C. Those that cannot be measured in water refer to those measured after changing to a solvent suitable for measurement. Specifically, the pKa described in the chemical handbook can be referred to. The acid having a pKa of 3 or less is preferably sulfonic acid or phosphonic acid, and more preferably sulfonic acid.

光酸発生剤の例として、オニウム塩化合物、トリクロロメチル−s−トリアジン類、スルホニウム塩、ヨードニウム塩、第四級アンモニウム塩類、ジアゾメタン化合物、イミドスルホネート化合物、および、オキシムスルホネート化合物などを挙げることができる。これらの中でも、オニウム塩化合物、イミドスルホネート化合物、オキシムスルホネート化合物が好ましく、オニウム塩化合物、オキシムスルホネート化合物が特に好ましい。光酸発生剤は、1種単独または2種類以上を組み合わせて使用することができる。   Examples of photoacid generators include onium salt compounds, trichloromethyl-s-triazines, sulfonium salts, iodonium salts, quaternary ammonium salts, diazomethane compounds, imide sulfonate compounds, and oxime sulfonate compounds. . Among these, onium salt compounds, imide sulfonate compounds, and oxime sulfonate compounds are preferable, and onium salt compounds and oxime sulfonate compounds are particularly preferable. A photo-acid generator can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

トリクロロメチル−s−トリアジン類、ジアリールヨードニウム塩類、トリアリールスルホニウム塩類、第四級アンモニウム塩類、およびジアゾメタン化合物の具体例としては、特開2011−221494号公報の段落番号0083〜0088に記載の化合物や、特開2011−105645号公報の段落番号0013〜0049に記載の化合物が例示でき、これらの内容は本明細書に組み込まれる。
イミドスルホネート化合物の具体例としてはWO2011/087011号公報の段落番号0065〜0075に記載の化合物が例示でき、これらの内容は本明細書に組み込まれる。
Specific examples of trichloromethyl-s-triazines, diaryliodonium salts, triarylsulfonium salts, quaternary ammonium salts, and diazomethane compounds include compounds described in paragraphs 0083 to 0088 of JP2011-221494A; Examples of the compounds described in JP-A 2011-105645, paragraphs 0013 to 0049, and the contents thereof are incorporated in the present specification.
Specific examples of the imidosulfonate compound include compounds described in paragraph numbers 0065 to 0075 of WO2011 / 087011, and the contents thereof are incorporated herein.

オニウム塩としては、ジアリールヨードニウム塩類やトリアリールスルホニウム塩類が好ましく例示できる。
ジアリールヨードニウム塩類としては、ジフェニルヨードニウムトリフルオロアセテート、ジフェニルヨードニウムトリフルオロメタンスルホナート、4−メトキシフェニルフェニルヨードニウムトリフルオロメタンスルホナート、4−メトキシフェニルフェニルヨードニウムトリフルオロアセテート、フェニル,4−(2’−ヒドロキシ−1’−テトラデカオキシ)フェニルヨードニウムトリフルオロメタンスルホナート、4−(2’−ヒドロキシ−1’−テトラデカオキシ)フェニルヨードニウムヘキサフルオロアンチモナート、フェニル,4−(2’−ヒドロキシ−1’−テトラデカオキシ)フェニルヨードニウム−p−トルエンスルホナートが好ましく挙げられる。
トリアリールスルホニウム塩類としては、トリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホナート、トリフェニルスルホニウムトリフルオロアセテート、4−メトキシフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホナート、4−メトキシフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオロアセテート、4−フェニルチオフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホナート、又は、4−フェニルチオフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオロアセテートが好ましく挙げられる。
Preferred examples of the onium salt include diaryliodonium salts and triarylsulfonium salts.
Diaryliodonium salts include diphenyliodonium trifluoroacetate, diphenyliodonium trifluoromethanesulfonate, 4-methoxyphenylphenyliodonium trifluoromethanesulfonate, 4-methoxyphenylphenyliodonium trifluoroacetate, phenyl, 4- (2′-hydroxy- 1'-tetradecaoxy) phenyliodonium trifluoromethanesulfonate, 4- (2'-hydroxy-1'-tetradecoxy) phenyliodonium hexafluoroantimonate, phenyl, 4- (2'-hydroxy-1'-tetra Decaoxy) phenyliodonium-p-toluenesulfonate is preferred.
Examples of triarylsulfonium salts include triphenylsulfonium trifluoromethanesulfonate, triphenylsulfonium trifluoroacetate, 4-methoxyphenyldiphenylsulfonium trifluoromethanesulfonate, 4-methoxyphenyldiphenylsulfonium trifluoroacetate, 4-phenylthiophenyldiphenylsulfonium. Trifluoromethanesulfonate or 4-phenylthiophenyldiphenylsulfonium trifluoroacetate is preferred.

オキシムスルホネート化合物、すなわち、オキシムスルホネート構造を有する化合物としては、下記一般式(B1−1)で表されるオキシムスルホネート構造を含有する化合物が好ましく例示できる。   Preferred examples of the oxime sulfonate compound, that is, a compound having an oxime sulfonate structure include compounds having an oxime sulfonate structure represented by the following general formula (B1-1).

一般式(B1−1)

Figure 2017049327
一般式(B1−1)中、R21は、アルキル基またはアリール基を表す。波線は他の基との結合を表す。 General formula (B1-1)
Figure 2017049327
In General Formula (B1-1), R 21 represents an alkyl group or an aryl group. Wavy lines represent bonds with other groups.

一般式(B1−1)中、いずれの基も置換されてもよく、R21におけるアルキル基は直鎖状でも分岐状でも環状でもよい。許容される置換基は以下に説明する。
21のアルキル基としては、炭素数1〜10の、直鎖または分岐のアルキル基が好ましい。R21のアルキル基は、ハロゲン原子、炭素数6〜11のアリール基、炭素数1〜10のアルコキシ基、または、環状のアルキル基(7,7−ジメチル−2−オキソノルボルニル基などの有橋式脂環基を含む、好ましくはビシクロアルキル基等)で置換されてもよい。
21のアリール基としては、炭素数6〜11のアリール基が好ましく、フェニル基またはナフチル基がより好ましい。R21のアリール基は、低級アルキル基、アルコキシ基あるいはハロゲン原子で置換されてもよい。
In general formula (B1-1), any group may be substituted, and the alkyl group in R 21 may be linear, branched or cyclic. Acceptable substituents are described below.
As the alkyl group for R 21 , a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms is preferable. The alkyl group of R 21 is a halogen atom, an aryl group having 6 to 11 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, or a cyclic alkyl group (such as a 7,7-dimethyl-2-oxonorbornyl group). It may be substituted with a bridged alicyclic group, preferably a bicycloalkyl group or the like.
As the aryl group for R 21, an aryl group having 6 to 11 carbon atoms is preferable, and a phenyl group or a naphthyl group is more preferable. The aryl group of R 21 may be substituted with a lower alkyl group, an alkoxy group, or a halogen atom.

上記一般式(B1−1)で表されるオキシムスルホネート構造を含有する上記化合物は、特開2014−238438号公報段落0108〜0133に記載のオキシムスルホネート化合物であることも好ましい。   It is also preferable that the compound containing the oxime sulfonate structure represented by the general formula (B1-1) is an oxime sulfonate compound described in paragraphs 0108 to 0133 of JP 2014-238438 A.

イミドスルホネート系化合物としては、ナフタレンイミド系化合物が好ましく、国際公開WO11/087011号パンフレットの記載を参酌でき、これらの内容は本明細書に組み込まれる。本発明では特に、トリフルオロメチルスルホニルオキシビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エンジカルボキシイミド、スクシンイミドトリフルオロメチルスルホネート、フタルイミドトリフルオロメチルスルホネート、N−ヒドロキシナフタルイミドメタンスルホネート、N−ヒドロキシ−5−ノルボルネン−2,3−ジカルボキシイミドプロパンスルホネートが好ましく挙げられる。   As an imide sulfonate type compound, a naphthalene imide type compound is preferable, the description of international publication WO11 / 087011 pamphlet can be referred and these content is integrated in this specification. In the present invention, in particular, trifluoromethylsulfonyloxybicyclo [2.2.1] hept-5-enedicarboximide, succinimide trifluoromethyl sulfonate, phthalimide trifluoromethyl sulfonate, N-hydroxynaphthalimide methanesulfonate, N-hydroxy- 5-norbornene-2,3-dicarboximidopropanesulfonate is preferred.

本発明の感光性組成物において、光酸発生剤Bの含有量は、感光性組成物の全固形成分100質量部に対して、0.1〜20質量部が好ましい。下限は、例えば、0.2質量部以上がより好ましく、0.5質量部以上がさらに好ましい。上限は、例えば、10質量部以下がより好ましく、5質量部以下がさらに好ましい。   In the photosensitive composition of the present invention, the content of the photoacid generator B is preferably 0.1 to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid components of the photosensitive composition. For example, the lower limit is more preferably 0.2 parts by mass or more, and further preferably 0.5 parts by mass or more. For example, the upper limit is more preferably 10 parts by mass or less, and still more preferably 5 parts by mass or less.

<溶剤C>
本発明の感光性組成物は、溶剤Cを含有する。本発明の感光性組成物は、本発明の必須成分と、さらに後述の任意の成分を溶剤に溶解した溶液として調製されることが好ましい。溶剤Cとしては、必須成分および任意成分を溶解し、各成分と反応しないものが好ましい。
本発明において、溶剤Cとしては、公知の溶剤を用いることができる。例えば、エチレングリコールモノアルキルエーテル類、エチレングリコールジアルキルエーテル類、エチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、プロピレングリコールモノアルキルエーテル類、プロピレングリコールジアルキルエーテル類、プロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、ジエチレングリコールジアルキルエーテル類(例えばジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテルなど)、ジエチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、ジプロピレングリコールモノアルキルエーテル類、ジプロピレングリコールジアルキルエーテル類、ジプロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類、エステル類、ケトン類、アミド類、ラクトン類等が例示できる。また、特開2011−221494号公報の段落番号0174〜0178に記載の溶剤、特開2012−194290公報の段落番号0167〜0168に記載の溶剤も挙げられ、これらの内容は本明細書に組み込まれる。好ましい溶剤の具体例として、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールエチルメチルエーテル、γ−ブチロラクトン、N−メチルピロリドン、1、3ーブチレングリコールジアセテートを挙げることができる。
<Solvent C>
The photosensitive composition of the present invention contains a solvent C. The photosensitive composition of the present invention is preferably prepared as a solution in which the essential components of the present invention and any of the components described below are dissolved in a solvent. The solvent C is preferably one that dissolves essential components and optional components and does not react with each component.
In the present invention, a known solvent can be used as the solvent C. For example, ethylene glycol monoalkyl ethers, ethylene glycol dialkyl ethers, ethylene glycol monoalkyl ether acetates, propylene glycol monoalkyl ethers, propylene glycol dialkyl ethers, propylene glycol monoalkyl ether acetates, diethylene glycol dialkyl ethers (for example, Diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, etc.), diethylene glycol monoalkyl ether acetates, dipropylene glycol monoalkyl ethers, dipropylene glycol dialkyl ethers, dipropylene glycol monoalkyl ether acetates, esters, ketones, amides And lactones Kill. Further, the solvent described in paragraph Nos. 0174 to 0178 of JP2011-221494A and the solvent described in paragraph numbers 0167 to 0168 of JP2012-194290A are also included, and the contents thereof are incorporated in the present specification. . Specific examples of preferable solvents include propylene glycol monomethyl ether acetate, diethylene glycol ethyl methyl ether, γ-butyrolactone, N-methylpyrrolidone, and 1,3-butylene glycol diacetate.

本発明の感光性組成物における溶剤Cの含有量は、感光性組成物中の全成分100質量部に対し、50〜95質量部であることが好ましい。下限は、60質量部以上がより好ましい。上限は、90質量部以下がより好ましい。溶剤は、1種類のみ用いてもよいし、2種類以上用いてもよい。2種類以上用いる場合は、その合計量が上記範囲となることが好ましい。   It is preferable that content of the solvent C in the photosensitive composition of this invention is 50-95 mass parts with respect to 100 mass parts of all the components in a photosensitive composition. The lower limit is more preferably 60 parts by mass or more. The upper limit is more preferably 90 parts by mass or less. Only one type of solvent may be used, or two or more types may be used. When using 2 or more types, it is preferable that the total amount becomes the said range.

<化合物S>
本発明の感光性組成物は、下式S1で表される構造および下式S2で表される構造を有する化合物Sを含む。以下、S1で表される構造を構造S1ともいう。また、式S2で表される構造を構造S2ともいう。

Figure 2017049327
式中、波線は、化合物Sを構成する原子団との結合位置を表し、
1はアルキル基を表し、
2は、水素原子またはアルキル基を表し、
1は、単結合または2価の連結基を表し、L1が2価の連結基を表す場合、R1はL1と結合して環を形成してもよく、
Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表し、
100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、
100は、水素原子、ヒドロキシ基または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
nは、0〜30の整数を表し、
nが0のとき、R100は、ヒドロキシ基を表し、
nが1のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
nが2〜30のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、複数のL100は同一であってもよく、異なってもよい。 <Compound S>
The photosensitive composition of the present invention includes a compound S having a structure represented by the following formula S1 and a structure represented by the following formula S2. Hereinafter, the structure represented by S1 is also referred to as structure S1. Moreover, the structure represented by Formula S2 is also called structure S2.
Figure 2017049327
In the formula, the wavy line represents the bonding position with the atomic group constituting the compound S,
R 1 represents an alkyl group,
R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group,
L 1 represents a single bond or a divalent linking group, and when L 1 represents a divalent linking group, R 1 may combine with L 1 to form a ring,
Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms,
L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group,
R 100 represents a hydrogen atom, a hydroxy group or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n represents an integer of 0 to 30,
when n is 0, R 100 represents a hydroxy group;
When n is 1, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
When n is 2 to 30, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, and a plurality of L 100 may be the same. Well, it can be different.

まず、構造S1について説明する。
式S1において、R1はアルキル基を表す。アルキル基の炭素数は、1〜10が好ましく、1〜6がより好ましく、1〜3が更に好ましく、1または2が特に好ましく、1が最も好ましい。アルキル基は、直鎖、分岐および環状のいずれでよいが、直鎖または分岐が好ましく、直鎖がより好ましい。
1が2価の連結基を表す場合、R1はL1と結合して環を形成してもよい。R1とL1とが結合して形成する環としては、例えば、テトラヒドロフラニル基およびテトラヒドロピラニル基等を挙げることができる。
First, the structure S1 will be described.
In the formula S1, R 1 represents an alkyl group. 1-10 are preferable, as for carbon number of an alkyl group, 1-6 are more preferable, 1-3 are still more preferable, 1 or 2 is especially preferable, and 1 is the most preferable. The alkyl group may be linear, branched or cyclic, but is preferably linear or branched, more preferably linear.
When L 1 represents a divalent linking group, R 1 may combine with L 1 to form a ring. Examples of the ring formed by combining R 1 and L 1 include a tetrahydrofuranyl group and a tetrahydropyranyl group.

式S1において、R2は、水素原子またはアルキル基を表す。アルキル基は、R1で説明したアルキル基が挙げられ、好ましい範囲も同様である。R2は、水素原子が好ましい。 In formula S1, R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group. Examples of the alkyl group include the alkyl groups described for R 1 , and the preferred range is also the same. R 2 is preferably a hydrogen atom.

式S1において、L1は、単結合または2価の連結基を表す。
2価の連結基としては、アルキレン基、アリーレン基およびこれらを組み合わせてなる基が挙げられる。
アルキレン基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜10がより好ましく、1〜6がさらに好ましく、1〜4が特に好ましい。アルキレン基は、直鎖または環状が好ましく、直鎖がより好ましい。アルキレン基は、エーテル結合、エステル結合およびアミド結合から選ばれる1種以上の結合を介して連結していてもよく、これらの結合を有していなくてもよい。アルキレン基は、前述の結合を有さないことが好ましい。また、アルキレン基は、無置換であってもよく、置換基を有してもよいが、無置換が好ましい。置換基としては、ハロゲン原子が例示できる。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が例示され、フッ素原子が好ましい。
アリーレン基の炭素数は、6〜20が好ましく、6〜12がより好ましい。アリーレン基は、無置換であってもよく、置換基を有してもよい。無置換が好ましい。置換基としては、ハロゲン原子が例示できる。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が例示され、フッ素原子が好ましい。
1は、単結合またはアルキレン基が好ましく、アルキレン基がより好ましい。
In Formula S1, L 1 represents a single bond or a divalent linking group.
Examples of the divalent linking group include an alkylene group, an arylene group, and a group formed by combining these.
1-12 are preferable, as for carbon number of an alkylene group, 1-10 are more preferable, 1-6 are more preferable, and 1-4 are especially preferable. The alkylene group is preferably linear or cyclic, and more preferably linear. The alkylene group may be linked through one or more bonds selected from an ether bond, an ester bond, and an amide bond, or may not have these bonds. The alkylene group preferably does not have the aforementioned bond. The alkylene group may be unsubstituted or may have a substituent, but is preferably unsubstituted. An example of the substituent is a halogen atom. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
6-20 are preferable and, as for carbon number of an arylene group, 6-12 are more preferable. The arylene group may be unsubstituted or may have a substituent. Unsubstituted is preferred. An example of the substituent is a halogen atom. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
L 1 is preferably a single bond or an alkylene group, and more preferably an alkylene group.

式S1において、Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表す。フルオロアルキル基の炭素数は、1〜12が好ましい。下限は、3以上が好ましく、4以上がより好ましい。上限は、10以下が好ましく、8以下がより好ましく、6以下が更に好ましい。
Rfが表すフルオロアルキル基は、直鎖、分岐および環状のいずれでもよく、直鎖または環状が好ましく、直鎖がより好ましい。この態様によれば、塗布性を良好にできる。さらには、硬化膜上に積層される上層との密着性をより向上できる。
本発明において、Rfは、パーフルオロアルキル基であることが好ましい。パーフルオロアルキル基の炭素数は、3〜6が好ましく、4〜6が更に好ましい。この態様によれば、塗布性を良好にできる。さらには、硬化膜上に積層される上層との密着性をより向上できる。
なお、本発明において、フルオロアルキル基とは、アルキル基の水素原子の少なくとも一部がフッ素原子で置換されたアルキル基を意味する。すなわち、フルオロアルキル基とは、フッ素原子を置換基として有するアルキル基である。また、パーフルオロアルキル基とは、フルオロアルキル基の一種であって、アルキル基の水素原子の全てがフッ素原子で置換されたアルキル基を意味する。
In Formula S1, Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms. As for carbon number of a fluoroalkyl group, 1-12 are preferable. The lower limit is preferably 3 or more, and more preferably 4 or more. The upper limit is preferably 10 or less, more preferably 8 or less, and still more preferably 6 or less.
The fluoroalkyl group represented by Rf may be linear, branched or cyclic, preferably linear or cyclic, and more preferably linear. According to this aspect, applicability can be improved. Furthermore, adhesiveness with the upper layer laminated | stacked on a cured film can be improved more.
In the present invention, Rf is preferably a perfluoroalkyl group. 3-6 are preferable and, as for carbon number of a perfluoroalkyl group, 4-6 are still more preferable. According to this aspect, applicability can be improved. Furthermore, adhesiveness with the upper layer laminated | stacked on a cured film can be improved more.
In the present invention, the fluoroalkyl group means an alkyl group in which at least a part of hydrogen atoms of the alkyl group is substituted with a fluorine atom. That is, the fluoroalkyl group is an alkyl group having a fluorine atom as a substituent. The perfluoroalkyl group is a kind of fluoroalkyl group, and means an alkyl group in which all of the hydrogen atoms of the alkyl group are substituted with fluorine atoms.

式S1において、L1とRfとの組み合わせの好ましい具体例としては、以下が挙げられる。CF3CH2CH2−、CF3CF2CH2CH2−、CF3(CF22CH2CH2−、CF3(CF23CH2CH2−、CF3(CF24CH2CH2−、CF3(CF25CH2CH2−、CF3(CF26CH2CH2−、CF3(CF27CH2CH2−、(CF33CCH2CH2−等が挙げられる。このなかでも、CF3(CF23CH2CH2−、CF3(CF24CH2CH2−、CF3(CF25CH2CH2−、(CF33CCH2CH2−が好ましく、CF3(CF25CH2CH2−が特に好ましい。 In Formula S1, the following is mentioned as a preferable specific example of the combination of L 1 and Rf. CF 3 CH 2 CH 2 —, CF 3 CF 2 CH 2 CH 2 —, CF 3 (CF 2 ) 2 CH 2 CH 2 —, CF 3 (CF 2 ) 3 CH 2 CH 2 —, CF 3 (CF 2 ) 4 CH 2 CH 2 —, CF 3 (CF 2 ) 5 CH 2 CH 2 —, CF 3 (CF 2 ) 6 CH 2 CH 2 —, CF 3 (CF 2 ) 7 CH 2 CH 2 —, (CF 3 ) 3 CCH 2 CH 2 — and the like. Among this, CF 3 (CF 2) 3 CH 2 CH 2 -, CF 3 (CF 2) 4 CH 2 CH 2 -, CF 3 (CF 2) 5 CH 2 CH 2 -, (CF 3) 3 CCH 2 CH 2 — is preferable, and CF 3 (CF 2 ) 5 CH 2 CH 2 — is particularly preferable.

次に、構造S2について説明する。
式S2において、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、
100は、水素原子、ヒドロキシ基または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
nは、0〜30の整数を表す。
Next, the structure S2 will be described.
In Formula S2, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group,
R 100 represents a hydrogen atom, a hydroxy group or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n represents an integer of 0 to 30.

式S2において、L100が表すアルキレン基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜6がより好ましく、2〜4が更に好ましい。L100が表すアルキレン基は、直鎖、分岐が好ましく、分岐がより好ましい。L100が表すアルキレン基の分岐数は、1〜2が好ましく、1がより好ましい。L100が表すアルキレン基は、置換基を有してもよいが、無置換が好ましい。
式S2において、R100が表すアルキル基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜6がより好ましく、1〜3が更に好ましい。R100が表すアルキル基は、直鎖、分岐が好ましく、直鎖がより好ましい。R100が表すアルキル基は、置換基を有してもよいが、無置換が好ましい。
In formula S2, the number of carbon atoms of the alkylene radical L 100 represents preferably 1 to 12, more preferably 1 to 6, 2 to 4 is more preferable. The alkylene group represented by L 100 is preferably linear or branched and more preferably branched. Number of branches of the alkylene group L 100 represents the 1-2 is preferred, and more preferably 1. The alkylene group represented by L 100 may have a substituent, but is preferably unsubstituted.
In formula S2, the number of carbon atoms in the alkyl group R 100 represents preferably 1 to 12, more preferably 1 to 6, 1 to 3 is more preferable. The alkyl group represented by R 100 is preferably linear or branched, and more preferably linear. The alkyl group represented by R 100 may have a substituent, but is preferably unsubstituted.

式S2において、nは、0〜30の整数を表す。下限は、1以上が好ましく、2以上がより好ましく、3以上が更に好ましい。上限は、20以下が好ましく、15以下がより好ましい。
なお、nは、0〜30の整数を表すが、本発明の感光性組成物は、化合物Sにおけるnが異なるものを複数含んでいてもよい。従って、本発明の感光性組成物に含まれる化合物Sの、nの平均値は整数にならない場合がある。本発明において、1つの化合物Sにおける、nは0〜30の整数を表すことが好ましい。
In formula S2, n represents an integer of 0 to 30. The lower limit is preferably 1 or more, more preferably 2 or more, and still more preferably 3 or more. The upper limit is preferably 20 or less, and more preferably 15 or less.
In addition, although n represents the integer of 0-30, the photosensitive composition of this invention may contain multiple things in which n in the compound S differs. Therefore, the average value of n of the compound S contained in the photosensitive composition of the present invention may not be an integer. In the present invention, n in one compound S preferably represents an integer of 0-30.

式S2において、nが0のとき、R100は、ヒドロキシ基を表し、
nが1のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
nが2〜30のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、複数のL100は同一であってもよく、異なってもよい。
この態様によれば、優れた親水性が得られ易い。特に、親水性向上の観点から、式S2は、以下の(1)〜(3)の態様が好ましく、(2)または(3)の態様がより好ましく、(3)の態様が更に好ましい。
(1)nが0で、R100がヒドロキシ基を表す構造。
(2)nが1で、L100が炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、R100が水素原子を表す構造
(3)nが2〜30で、L100が炭素数1〜12のアルキレン基で、R100が水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表す構造。
In the formula S2, when n is 0, R 100 represents a hydroxy group,
When n is 1, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
When n is 2 to 30, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, and a plurality of L 100 may be the same. Well, it can be different.
According to this aspect, excellent hydrophilicity is easily obtained. In particular, from the viewpoint of improving hydrophilicity, Formula (S2) preferably has the following aspects (1) to (3), more preferably (2) or (3), and still more preferably (3).
(1) A structure in which n is 0 and R 100 represents a hydroxy group.
(2) A structure in which n is 1, L 100 represents an alkylene group or a carbonyl group having 1 to 12 carbon atoms, and R 100 represents a hydrogen atom. (3) n is 2 to 30 and L 100 is 1 to 1 carbon atoms. A structure of 12 alkylene groups, wherein R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms.

化合物Sは、構造S1を1つのみ有していてもよく、2以上有してもよい。また、構造S1を2以上有する場合は、同じ構造であってもよく、異なる構造であってもよい。
また、化合物Sは、構造S2を1つのみ有していてもよく、2以上有してもよい。また、構造S2を2以上有する場合は、同じ構造であってもよく、異なる構造であってもよい。
Compound S may have only one structure S1 or two or more. Moreover, when it has two or more structures S1, the same structure may be sufficient and a different structure may be sufficient.
Moreover, the compound S may have only one structure S2 and may have two or more. Moreover, when it has two or more structures S2, the same structure may be sufficient and a different structure may be sufficient.

本発明の感光性組成物は、化合物Sを、ポリシロキサン成分Aの100質量部に対して、0.001〜20質量部含有することが好ましい。下限は、0.005質量部以上が好ましく、0.01質量部以上がより好ましい。上限は、15質量部以下が好ましく、10質量部以下がより好ましく、5質量部以下が更に好ましく、2質量部以下が特に好ましい。   It is preferable that the photosensitive composition of this invention contains 0.001-20 mass parts of compounds S with respect to 100 mass parts of the polysiloxane component A. The lower limit is preferably 0.005 parts by mass or more, and more preferably 0.01 parts by mass or more. The upper limit is preferably 15 parts by mass or less, more preferably 10 parts by mass or less, still more preferably 5 parts by mass or less, and particularly preferably 2 parts by mass or less.

本発明において、化合物Sは、低分子化合物であってもよく、重合体であってもよい。塗布性の観点から、化合物Sは重合体であることが好ましい。   In the present invention, the compound S may be a low molecular compound or a polymer. From the viewpoint of applicability, the compound S is preferably a polymer.

(化合物Sが低分子化合物である場合)
化合物Sが低分子化合物である場合、化合物Sは、下記式S−100で表される化合物が好ましい。

Figure 2017049327
1はアルキル基を表し、
2は、水素原子またはアルキル基を表し、
1は、単結合または2価の連結基を表し、L1が2価の連結基を表す場合、R1はL1と結合して環を形成してもよく、
Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表し、
100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、
100は、水素原子、ヒドロキシ基または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
nは、0〜30の整数を表し、
nが0のとき、R100は、ヒドロキシ基を表し、
nが1のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
nが2〜30のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、複数のL100は同一であってもよく、異なってもよく、
Aは単結合または(p+q)価の連結基を表し、
pおよびqは、それぞれ独立に1以上の整数を表し、
Aは単結合が単結合の場合、pおよびqは、それぞれ1を表す。 (When compound S is a low molecular weight compound)
When the compound S is a low molecular compound, the compound S is preferably a compound represented by the following formula S-100.
Figure 2017049327
R 1 represents an alkyl group,
R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group,
L 1 represents a single bond or a divalent linking group, and when L 1 represents a divalent linking group, R 1 may combine with L 1 to form a ring,
Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms,
L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group,
R 100 represents a hydrogen atom, a hydroxy group or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n represents an integer of 0 to 30,
when n is 0, R 100 represents a hydroxy group;
When n is 1, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
When n is 2 to 30, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, and a plurality of L 100 may be the same. Well, it can be different,
A represents a single bond or a (p + q) -valent linking group,
p and q each independently represent an integer of 1 or more,
When A is a single bond, p and q each represent 1.

式S−100において、R1、R2、L1、Rf、L100、R100およびnは、上述した式S1およびS2で説明した範囲と同義である。 In the formula S-100, R 1 , R 2 , L 1 , Rf, L 100 , R 100 and n are synonymous with the ranges described in the above-described formulas S1 and S2.

式S−100において、Aは単結合または(p+q)価の連結基を表す。
(p+q)価の連結基としては、1から100個までの炭素原子、0個から10個までの窒素原子、0個から50個までの酸素原子、1個から200個までの水素原子、および0個から20個までの硫黄原子から成り立つ基が含まれる。
(n+k)価の連結基は、具体的な例として、下記の構造単位または以下の構造単位が2以上組み合わさって構成される基(環構造を形成していてもよい)を挙げることができる。
In formula S-100, A represents a single bond or a (p + q) -valent linking group.
(P + q) -valent linking groups include 1 to 100 carbon atoms, 0 to 10 nitrogen atoms, 0 to 50 oxygen atoms, 1 to 200 hydrogen atoms, and Groups consisting of 0 to 20 sulfur atoms are included.
Specific examples of the (n + k) -valent linking group include a group composed of a combination of two or more of the following structural units or the following structural units (which may form a ring structure). .

Figure 2017049327
Figure 2017049327

式S−100において、pおよびqは、それぞれ独立に1以上の整数を表す。pとqの合計数の上限は、特に限定はないが、10以下とすることができ、6以下とすることもできる。下限は、2以上である。   In Formula S-100, p and q each independently represent an integer of 1 or more. The upper limit of the total number of p and q is not particularly limited, but can be 10 or less, and can be 6 or less. The lower limit is 2 or more.

化合物Sが低分子化合物である場合、化合物Sの分子量は、100〜1000が好ましい。下限は、120以上が好ましく、150以上がより好ましい。上限は、500以下が好ましく、400以下がより好ましい。なお、低分子化合物の分子量は、構造式から計算できる場合は、構造式から求めた理論値であり、構造式から計算できない場合は、後述する実施例に記載の方法に準拠したGPC測定によるポリスチレン換算値による重量平均分子量である。   When the compound S is a low molecular compound, the molecular weight of the compound S is preferably 100 to 1000. The lower limit is preferably 120 or more, and more preferably 150 or more. The upper limit is preferably 500 or less, and more preferably 400 or less. When the molecular weight of the low molecular weight compound can be calculated from the structural formula, the molecular weight is a theoretical value obtained from the structural formula. When the molecular weight cannot be calculated from the structural formula, polystyrene by GPC measurement based on the method described in Examples described later is used. It is a weight average molecular weight according to a converted value.

低分子化合物の具体例としては、下記化合物が挙げられる。なお、以下において、Rfaは、炭素数3〜8の直鎖または分岐のパーフルオロアルキル基を表す。Rfaは、炭素数4〜6の直鎖のパーフルオロアルキル基が好ましい。

Figure 2017049327
Specific examples of the low molecular compound include the following compounds. In the following, Rf a represents a linear or branched perfluoroalkyl group having 3 to 8 carbon atoms. Rf a is preferably perfluoroalkyl group linear 4 to 6 carbon atoms.
Figure 2017049327

(化合物Sが重合体である場合)
化合物Sが重合体である場合、化合物Sは、構造S1を側鎖に有する構成単位S1−1と、構造S1を側鎖に有する構成単位S2−1とを有する重合体であることが好ましい。
(When compound S is a polymer)
When the compound S is a polymer, the compound S is preferably a polymer having a structural unit S1-1 having the structure S1 in the side chain and a structural unit S2-1 having the structure S1 in the side chain.

構成単位S1−1および構成単位S2−1の主鎖構造は、アクリル系、スチレン系、シクロオレフィン系などが挙げられ、アクリル系が好ましい。アクリル系の主鎖構造としては、例えば、下記P1で表される構造が挙げられる。スチレン系の主鎖構造としては、例えば、下記P2で表される構造が挙げられる。シクロオレフィン系の主鎖構造としては、例えば、下記P3で表される構造が挙げられる。式中、R11は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、*は、側鎖との結合位置を表す。

Figure 2017049327
Examples of the main chain structure of the structural unit S1-1 and the structural unit S2-1 include acrylic, styrene, and cycloolefin, and acrylic is preferable. Examples of the acrylic main chain structure include a structure represented by P1 below. Examples of the styrenic main chain structure include a structure represented by P2 below. Examples of the cycloolefin-based main chain structure include structures represented by the following P3. In the formula, R 11 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and * represents a bonding position with a side chain.
Figure 2017049327

構成単位S1−1がアクリル系の主鎖構造である具体例としては、例えば、下記S1−2で表される構造が挙げられる。構成単位S1−1がスチレン系の主鎖構造である具体例としては、例えば、下記S1−100で表される構造が挙げられる。構成単位S1−1がシクロオレフィン系の主鎖構造である具体例としては、例えば、下記S1−200で表される構造が挙げられる。
また、構成単位S2−1がアクリル系の主鎖構造である具体例としては、例えば、下記S2−2で表される構造が挙げられる。構成単位S2−1がスチレン系の主鎖構造である具体例としては、例えば、下記S2−100で表される構造が挙げられる。構成単位S2−1がシクロオレフィン系の主鎖構造である具体例としては、例えば、下記S2−200で表される構造が挙げられる。

Figure 2017049327
式S1−1、S1−100およびS1−200において、
11は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、R12はアルキル基を表し、
13は、水素原子またはアルキル基を表し、
10は、単結合または2価の連結基を表し、L10が2価の連結基を表す場合、R12はL10と結合して環を形成してもよく、
Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表す。
式S2−2において、
101は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
101は、水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
n1は0〜30の整数を表し、
n1が0または1のとき、R101は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n1が2〜30のとき、複数のL101は同一であってもよく、異なってもよい。
式S2−100およびS2−200において、
110は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、
110は、水素原子、ヒドロキシ基または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
n10は、0〜30の整数を表し、
n10が0のとき、R110は、ヒドロキシ基を表し、
n10が1のとき、L110は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、R110は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n10が2〜30のとき、L110は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、R110は水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、複数のL110は同一であってもよく、異なってもよい。 Specific examples of the structural unit S1-1 having an acrylic main chain structure include, for example, the structure represented by the following S1-2. Specific examples of the structural unit S1-1 having a styrenic main chain structure include, for example, the structure represented by the following S1-100. Specific examples of the structural unit S1-1 having a cycloolefin-based main chain structure include, for example, a structure represented by the following S1-200.
Moreover, as a specific example in which the structural unit S2-1 has an acrylic main chain structure, for example, a structure represented by the following S2-2 can be given. Specific examples of the structural unit S2-1 having a styrenic main chain structure include, for example, the structure represented by the following S2-100. Specific examples of the structural unit S2-1 having a cycloolefin-based main chain structure include, for example, the structure represented by the following S2-200.
Figure 2017049327
In formulas S1-1, S1-100 and S1-200,
R 11 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, R 12 represents an alkyl group,
R 13 represents a hydrogen atom or an alkyl group,
L 10 represents a single bond or a divalent linking group, and when L 10 represents a divalent linking group, R 12 may combine with L 10 to form a ring,
Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms.
In formula S2-2,
L 101 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n1 represents an integer of 0 to 30,
when n1 is 0 or 1, R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms;
When n1 is 2 to 30, the plurality of L 101 may be the same or different.
In formulas S2-100 and S2-200,
L 110 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group,
R 110 represents a hydrogen atom, a hydroxy group or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n10 represents an integer of 0 to 30,
when n10 is 0, R 110 represents a hydroxy group;
When n10 is 1, L 110 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group, R 110 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
When n10 is 2 to 30, L 110 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms, R 110 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, and a plurality of L 110 may be the same. Well, it can be different.

本発明において、化合物Sは、構成単位S1−1、構成単位S2−1以外の構成単位(他の構成単位)を更に有してもよい。
他の構成単位としては、例えば、架橋性基を有する構成単位などが挙げられる。架橋性基を有する構成単位の態様としては、エポキシ基、オキセタニル基、−NH−CH2−O−R(Rは水素原子または炭素数1〜20のアルキル基)で表される基およびエチレン性不飽和基よりなる群から選ばれた少なくとも1つを含む構成単位が挙げられる。架橋性基は、エポキシ基、オキセタニル基、および、−NH−CH2−O−R(Rは水素原子または炭素数1〜20のアルキル基)で表される基から選ばれる少なくとも1種が好ましく、エポキシ基及び/又はオキセタニル基がより好ましい。
他の構成単位の含有量は、重合体の全構成単位に対して、30質量%以下が好ましく、20質量%以下がより好ましい。下限は、例えば1質量%とすることもできる。また、他の構成単位を実質的に含有しないこともできる。他の構成単位を実質的に含有しないとは、重合体の全構成単位に対して、他の構成単位の含有量が0.5質量%以下が好ましく、0.1質量%以下がより好ましく、他の構成単位を含有しないことが一層好ましい。
In the present invention, the compound S may further have a structural unit (other structural unit) other than the structural unit S1-1 and the structural unit S2-1.
Examples of other structural units include structural units having a crosslinkable group. Examples of the structural unit having a crosslinkable group include an epoxy group, an oxetanyl group, —NH—CH 2 —O—R (R is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms) and ethylenic groups. Examples thereof include structural units containing at least one selected from the group consisting of unsaturated groups. The crosslinkable group is preferably at least one selected from an epoxy group, an oxetanyl group, and a group represented by —NH—CH 2 —O—R (R is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms). An epoxy group and / or an oxetanyl group are more preferable.
The content of other structural units is preferably 30% by mass or less, and more preferably 20% by mass or less, based on all the structural units of the polymer. The lower limit can be set to 1% by mass, for example. Further, other structural units can be substantially not contained. The content of other structural units is preferably 0.5% by mass or less, more preferably 0.1% by mass or less, with respect to all the structural units of the polymer. More preferably, no other structural unit is contained.

本発明において、化合物Sは、下式S1−2で表される構成単位(以下、構成単位S1−2ともいう)と、下式S2−2で表される構成単位(以下、構成単位S2−2ともいう)とを有する重合体であることが好ましい。

Figure 2017049327
式中、R11は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、
12はアルキル基を表し、
13は、水素原子またはアルキル基を表し、
10は、単結合または2価の連結基を表し、L10が2価の連結基を表す場合、R12はL10と結合して環を形成してもよく、
Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表し、
101は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
101は、水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
n1は0〜30の整数を表し、
n1が0または1のとき、R101は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n1が2〜30のとき、複数のL101は同一であってもよく、異なってもよい。 In the present invention, the compound S includes a structural unit represented by the following formula S1-2 (hereinafter also referred to as structural unit S1-2) and a structural unit represented by the following formula S2-2 (hereinafter referred to as structural unit S2-). 2) is preferable.
Figure 2017049327
In the formula, R 11 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 12 represents an alkyl group,
R 13 represents a hydrogen atom or an alkyl group,
L 10 represents a single bond or a divalent linking group, and when L 10 represents a divalent linking group, R 12 may combine with L 10 to form a ring,
Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms,
L 101 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n1 represents an integer of 0 to 30,
when n1 is 0 or 1, R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms;
When n1 is 2 to 30, the plurality of L 101 may be the same or different.

式S1−2において、R12、R13、L10およびRfは、上述した式S1で説明したR1、R2、L1およびRfと同義である。 In Formula S1-2, R 12 , R 13 , L 10 and Rf have the same meanings as R 1 , R 2 , L 1 and Rf described in Formula S1 described above.

式S1−2および式S2−2において、R11は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、水素原子またはメチル基が好ましい。 In Formula S1-2 and Formula S2-2, R 11 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and preferably a hydrogen atom or a methyl group.

式S2−2において、L101は、炭素数1〜12のアルキレン基を表す。アルキレン基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜6がより好ましく、2〜4が更に好ましい。アルキレン基は、直鎖、分岐が好ましく、分岐がより好ましい。アルキレン基の分岐数は、1〜2が好ましく、1がより好ましい。アルキレン基は、置換基を有してもよいが、無置換が好ましい。 In Formula S2-2, L 101 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms. 1-12 are preferable, as for carbon number of an alkylene group, 1-6 are more preferable, and 2-4 are still more preferable. The alkylene group is preferably linear or branched and more preferably branched. The number of branches of the alkylene group is preferably 1 to 2, and more preferably 1. The alkylene group may have a substituent but is preferably unsubstituted.

式S2−2において、R101は、水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表す。R101が表すアルキル基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜6がより好ましく、1〜3が更に好ましい。R101が表すアルキル基は、直鎖、分岐が好ましく、直鎖がより好ましい。R101が表すアルキル基は、置換基を有してもよいが、無置換が好ましい。R101は、水素原子であることが好ましい。 In Formula S2-2, R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Number of carbon atoms of the alkyl group R 101 represents preferably 1 to 12, more preferably 1 to 6, 1 to 3 is more preferable. The alkyl group represented by R 101 is preferably linear or branched, and more preferably linear. The alkyl group represented by R 101 may have a substituent, but is preferably unsubstituted. R 101 is preferably a hydrogen atom.

n1は、0〜30の整数を表す。下限は、1以上が好ましい。上限は、20以下が好ましく、15以下がより好ましい。n1が0または1のとき、R101は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、n1が2〜30のとき、複数のL101は同一であってもよい。
なお、n1は、0〜30の整数を表すが、本発明の感光性組成物は、化合物Sにおけるn1が異なるものを複数含んでいてもよい。従って、本発明の感光性組成物に含まれる化合物Sの、n1の平均値は整数にならない場合がある。
n1 represents the integer of 0-30. The lower limit is preferably 1 or more. The upper limit is preferably 20 or less, and more preferably 15 or less. When n1 is 0 or 1, R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, when n1 is 2 to 30, a plurality of L 101 may be the same.
In addition, although n1 represents the integer of 0-30, the photosensitive composition of this invention may contain multiple things in which n1 in the compound S differs. Therefore, the average value of n1 of the compound S contained in the photosensitive composition of the present invention may not be an integer.

本発明において、化合物Sは、構成単位S1−1と、構成単位S2−1の含有量の合計が、化合物Sの全構成単位の70質量%以上であることが好ましく、75質量%以上であることがより好ましく、80質量%以上であることが更に好ましい。上記範囲であれば、塗布性が良好で、硬化膜上に積層される上層との密着性に優れた硬化膜を形成しやすい。また、構成単位S1−1と、構成単位S2−1との質量比は、構成単位S1−1:構成単位S2−1=5:95〜95:5であることが好ましく、10:90〜90:10がより好ましく、15:85〜85:15がより好ましい。
本発明において、化合物Sは、構成単位S1−1と、構成単位S2−1とを、化合物Sの全構成単位の60モル%以上有することが好ましく、70モル%以上含有することがより好ましく、80モル%以上含有することが更に好ましい。上記範囲であれば、塗布性が良好で、硬化膜上に積層される上層との密着性に優れた硬化膜を形成しやすい。また、構成単位S1−1と、構成単位S2−1とのモル比は、構成単位S1−1:構成単位S2−1=95:5〜5:95であることが好ましく、80:20〜10:90がより好ましく、70:30〜10:90がより好ましい。
In the present invention, in the compound S, the total content of the structural unit S1-1 and the structural unit S2-1 is preferably 70% by mass or more, and 75% by mass or more of all the structural units of the compound S. It is more preferable, and it is still more preferable that it is 80 mass% or more. If it is the said range, applicability | paintability is favorable and it is easy to form the cured film excellent in adhesiveness with the upper layer laminated | stacked on a cured film. Moreover, it is preferable that mass ratio of structural unit S1-1 and structural unit S2-1 is structural unit S1-1: structural unit S2-1 = 5: 95-95: 5, 10: 90-90. : 10 is more preferable, and 15:85 to 85:15 is more preferable.
In the present invention, the compound S preferably contains the structural unit S1-1 and the structural unit S2-1 in an amount of 60 mol% or more, more preferably 70 mol% or more of all the structural units of the compound S. It is more preferable to contain 80 mol% or more. If it is the said range, applicability | paintability is favorable and it is easy to form the cured film excellent in adhesiveness with the upper layer laminated | stacked on a cured film. The molar ratio between the structural unit S1-1 and the structural unit S2-1 is preferably the structural unit S1-1: the structural unit S2-1 = 95: 5 to 5:95, and 80:20 to 10 : 90 is more preferable, and 70:30 to 10:90 is more preferable.

本発明において、化合物Sは、構成単位S2−2として、n1が0で表される構造と、n1が1以上で表される構造とをそれぞれ1種類以上有してもよい。
すなわち、化合物Sは、上記構成単位S1−2と、下式S2−2−1で表される構成単位(構成単位S2−2−1ともいう)、下式S2−2−2で表される構成単位(構成単位S2−2−2ともいう)、および、下式S2−2−3で表される構成単位(構成単位S2−2−3ともいう)から選ばれる少なくとも一種の構成単位とを有する重合体であってもよい。
なかでも、構成単位S1−2と、構成単位S2−2−1及び/又は構成単位S2−2−2を有する重合体が好ましい。
重合体の全構成単位中における、構成単位S2−2−1と構成単位S2−2−2との合計含有量は、5質量%以上が好ましく、10質量%以上がより好ましく、20質量%以上が更に好ましく、40質量%以上が特に好ましい。上限は、例えば、95質量%以下が好ましく、90質量%以下がより好ましく、85質量%以下が更に好ましい。
また、重合体の全構成単位中における、構成単位S2−2−1の含有量は、1質量%以上が好ましく、10質量%以上がより好ましく、20質量%以上が更に好ましく、40質量%以上が特に好ましい。上限は、例えば、95質量%以下が好ましく、90質量%以下がより好ましく、85質量%以下が更に好ましい。
また、重合体の全構成単位中における、構成単位S2−2−2の含有量は、重合体の全構成単位に対して、1〜20質量%が好ましく、1〜15質量%がより好ましく、1〜10質量%が更に好ましく、1〜5質量%が特に好ましい。
また、重合体の全構成単位中における、構成単位S2−2−3の含有量は、30質量%以下が好ましく、20質量%以下がより好ましく、10質量%以下が更に好ましく、1質量%以下が特に好ましい。また、構成単位S2−2−3を実質的に含有しないことも好ましい。構成単位S2−2−3を実質的に含有しないとは、重合体の全構成単位に対して、構成単位S2−2−3の含有量が0.5質量%以下が好ましく、0.1質量%以下がより好ましく、構成単位S2−2−3を含有しないことが一層好ましい。この態様によれば、優れた塗布性が得られ易い。

Figure 2017049327
式中、R11は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、
101は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
102は、水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
103は、炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n1aは1〜30の整数を表し、
n1aが1のとき、R102は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n1aが2〜30のとき、複数のL101は同一であってもよく、異なってもよい。 In the present invention, as the structural unit S2-2, the compound S may have one or more types of structures in which n1 is represented by 0 and structures in which n1 is represented by 1 or more.
That is, the compound S is represented by the structural unit S1-2, the structural unit represented by the following formula S2-2-1 (also referred to as the structural unit S2-2-1), and the following formula S2-2-2. A structural unit (also referred to as a structural unit S2-2-2) and at least one structural unit selected from structural units represented by the following formula S2-2-3 (also referred to as a structural unit S2-2-3): It may be a polymer.
Especially, the polymer which has structural unit S1-2, structural unit S2-2-1, and / or structural unit S2-2-2 is preferable.
The total content of the structural unit S2-2-1 and the structural unit S2-2-2 in all the structural units of the polymer is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, and 20% by mass or more. Is more preferable, and 40% by mass or more is particularly preferable. For example, the upper limit is preferably 95% by mass or less, more preferably 90% by mass or less, and still more preferably 85% by mass or less.
The content of the structural unit S2-2-1 in all the structural units of the polymer is preferably 1% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, still more preferably 20% by mass or more, and 40% by mass or more. Is particularly preferred. For example, the upper limit is preferably 95% by mass or less, more preferably 90% by mass or less, and still more preferably 85% by mass or less.
In addition, the content of the structural unit S2-2-2 in all the structural units of the polymer is preferably 1 to 20% by weight, more preferably 1 to 15% by weight, based on all the structural units of the polymer. 1-10 mass% is still more preferable, and 1-5 mass% is especially preferable.
Further, the content of the structural unit S2-2-3 in all the structural units of the polymer is preferably 30% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, still more preferably 10% by mass or less, and 1% by mass or less. Is particularly preferred. It is also preferable that the structural unit S2-2-3 is not substantially contained. “Containing substantially no structural unit S2-2-3” means that the content of the structural unit S2-2-3 is preferably 0.5% by mass or less, and 0.1% by mass with respect to all the structural units of the polymer. % Or less is more preferable, and it is more preferable not to contain the structural unit S2-2-3. According to this aspect, it is easy to obtain excellent coating properties.
Figure 2017049327
In the formula, R 11 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
L 101 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
R 102 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
R 103 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
n1a represents an integer of 1 to 30,
When n1a is 1, R 102 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
When n1a is 2 to 30, the plurality of L 101 may be the same or different.

11、L101およびR102は、S2−2のR11、L101およびR101と同義である。
103が表すアルキル基の炭素数は、1〜6が好ましく、1〜3がより好ましい。アルキル基は、直鎖、分岐が好ましく、直鎖がより好ましい。アルキル基は、置換基を有してもよいが、無置換が好ましい。
R 11 , L 101 and R 102 have the same meanings as R 11 , L 101 and R 101 in S2-2.
Number of carbon atoms of the alkyl group R 103 represents is 1 to 6 preferably 1 to 3 is more preferable. The alkyl group is preferably linear or branched, and more preferably linear. The alkyl group may have a substituent, but is preferably unsubstituted.

本発明において、化合物Sは、下式S1−3で表される構成単位(以下、構成単位S1−3ともいう)と、下式S2−3で表される構成単位(以下、構成単位S2−3ともいう)とを有する重合体であることが好ましい。

Figure 2017049327
式中、R21は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、
22は、炭素数1〜3のアルキル基を表し、
23は、水素原子を表し、
20は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
Rf1は、炭素数3〜6のパーフルオロアルキル基を表し、
22は、L20と結合して環を形成してもよく、
201は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
201は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n2は1〜20の整数を表し、n2が2〜20のとき、複数のL201は同一であってもよく、異なってもよい。 In the present invention, the compound S includes a structural unit represented by the following formula S1-3 (hereinafter also referred to as structural unit S1-3) and a structural unit represented by the following formula S2-3 (hereinafter referred to as structural unit S2-). 3) is preferable.
Figure 2017049327
In the formula, R 21 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 22 represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 23 represents a hydrogen atom,
L 20 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
Rf 1 represents a C 3-6 perfluoroalkyl group,
R 22 may combine with L 20 to form a ring,
L 201 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
R 201 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
n2 represents an integer of 1 to 20, and when n2 is 2 to 20, the plurality of L 201 may be the same or different.

式S1−3および式S2−3において、R21は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、水素原子またはメチル基が好ましい。 In Formula S1-3 and Formula S2-3, R 21 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and preferably a hydrogen atom or a methyl group.

式S1−3において、R22は、炭素数1〜3のアルキル基を表し、R23は、水素原子を表す。R22が表すアルキル基の炭素数は、1または2が好ましく、1がより好ましい。
22は、L20と結合して環を形成してもよい。R22とL20とが結合して形成する環としては、例えばシクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、テトラヒドロフラニル基、アダマンチル基およびテトラヒドロピラニル基等を挙げることができる。
In formula S1-3, R 22 represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and R 23 represents a hydrogen atom. The number of carbon atoms of the alkyl group represented by R 22 is preferably 1 or 2, and more preferably 1.
R 22 may combine with L 20 to form a ring. Examples of the ring formed by combining R 22 and L 20 include a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, a tetrahydrofuranyl group, an adamantyl group, and a tetrahydropyranyl group.

式S1−3において、L20は、炭素数1〜12のアルキレン基を表す。アルキレン基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜10がより好ましく、1〜6がより好ましい。アルキレン基は、直鎖または環状が好ましく、直鎖がより好ましい。アルキレン基は、エーテル結合、エステル結合およびアミド結合から選ばれる1種以上の結合を有してもよく、これらの結合を有していなくてもよい。アルキレン基は、前述の結合を有さないことが好ましい。また、アルキレン基は、無置換であってもよく、置換基を有してもよい。無置換が好ましい。 In Formula S1-3, L 20 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms. 1-12 are preferable, as for carbon number of an alkylene group, 1-10 are more preferable, and 1-6 are more preferable. The alkylene group is preferably linear or cyclic, and more preferably linear. The alkylene group may have one or more bonds selected from an ether bond, an ester bond, and an amide bond, and may not have these bonds. The alkylene group preferably does not have the aforementioned bond. Moreover, the alkylene group may be unsubstituted or may have a substituent. Unsubstituted is preferred.

式S1−3において、Rf1は、炭素数3〜6のパーフルオロアルキル基を表す。パーフルオロアルキル基の炭素数は、3〜6が好ましく、4〜6が更に好ましい。パーフルオロアルキル基は、直鎖、分岐、環状のいずれでもよく、直鎖または環状が好ましく、直鎖がより好ましい。 In Formula S1-3, Rf 1 represents a C 3-6 perfluoroalkyl group. 3-6 are preferable and, as for carbon number of a perfluoroalkyl group, 4-6 are still more preferable. The perfluoroalkyl group may be linear, branched or cyclic, and is preferably linear or cyclic, more preferably linear.

式S2−3において、L201が表すアルキレン基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜6がより好ましい。L201が表すアルキレン基は、直鎖、分岐が好ましく、分岐がより好ましい。L201が表すアルキレン基の分岐数は、1〜2が好ましく、1がより好ましい。L201が表すアルキレン基は、置換基を有してもよいが、無置換が好ましい。
式S2−3において、R201が表すアルキル基の炭素数は、1〜6がより好ましく、1〜3が更に好ましい。R201が表すアルキル基は、直鎖、分岐が好ましく、直鎖がより好ましい。R201が表すアルキル基は、置換基を有してもよいが、無置換が好ましい。R201は、水素原子が好ましい。
In Formula S2-3, the number of carbon atoms of the alkylene radical L 201 represents the 1 to 12 preferably 1 to 6 is more preferable. Alkylene group L 201 represents a linear, branched is preferred, branching it is more preferable. Number of branches of the alkylene group L 201 represents the 1-2 is preferred, and more preferably 1. Alkylene group L 201 represents is may have a substituent, unsubstituted is preferred.
In formula S2-3, the alkyl group represented by R201 preferably has 1 to 6 carbon atoms, and more preferably 1 to 3 carbon atoms. The alkyl group represented by R201 is preferably linear or branched, and more preferably linear. The alkyl group represented by R201 may have a substituent, but is preferably unsubstituted. R 201 is preferably a hydrogen atom.

式S2−3において、n2は1〜20の整数を表す。下限は、2以上が好ましく、3以上が更に好ましい。上限は、15以下が好ましい。なお、n2は、1〜20の整数を表すが、本発明の感光性組成物は、化合物Sにおけるn2が異なるものを複数含んでいてもよい。従って、本発明の感光性組成物に含まれる化合物Sの、n2の平均値は整数にならない場合がある。本発明において、1つの化合物Sにおける、n2は1〜20の整数を表すことが好ましい。   In Formula S2-3, n2 represents an integer of 1-20. The lower limit is preferably 2 or more, and more preferably 3 or more. The upper limit is preferably 15 or less. In addition, although n2 represents the integer of 1-20, the photosensitive composition of this invention may contain multiple things in which n2 in the compound S differs. Therefore, the average value of n2 of the compound S contained in the photosensitive composition of the present invention may not be an integer. In the present invention, n2 in one compound S preferably represents an integer of 1 to 20.

本発明において、化合物Sは、構成単位S1−3および構成単位S2−3の他に、上記構造S2−2−2及び/又は上記構造S2−2−3を更に有してもよい。他の構成単位は、構成単位S2−2−2が好ましい。この態様によれば、塗布性および上層との密着性をより良好にできる。
構成単位S2−2−2の含有量は、重合体の全構成単位に対して、1〜20質量%が好ましく、1〜15質量%がより好ましく、1〜10質量%が更に好ましく、1〜5質量%が特に好ましい。
構成単位S2−2−3の含有量は、重合体の全構成単位に対して、30質量%以下が好ましく、20質量%以下がより好ましく、10質量%以下が更に好ましく、1質量%以下が特に好ましい。また、重合体は、構成単位S2−2−3を実質的に含有しないことも好ましい。構成単位S2−2−3を実質的に含有しないとは、重合体の全構成単位に対して、構成単位S2−2−3の含有量は0.5質量%以下が好ましく、0.1質量%以下がより好ましく、構成単位S2−2−3を含有しないことが一層好ましい。この態様によれば、優れた塗布性が得られ易い。
In the present invention, the compound S may further have the structure S2-2-2 and / or the structure S2-2-3 in addition to the structural unit S1-3 and the structural unit S2-3. The other structural unit is preferably the structural unit S2-2-2. According to this aspect, the coatability and the adhesion with the upper layer can be improved.
1-20 mass% is preferable with respect to all the structural units of a polymer, as for content of structural unit S2-2-2, 1-15 mass% is more preferable, 1-10 mass% is still more preferable, 5% by mass is particularly preferred.
The content of the structural unit S2-2-3 is preferably 30% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, still more preferably 10% by mass or less, and more preferably 1% by mass or less with respect to all the structural units of the polymer. Particularly preferred. Moreover, it is also preferable that a polymer does not contain structural unit S2-2-3 substantially. “Containing substantially no structural unit S2-2-3” means that the content of the structural unit S2-2-3 is preferably 0.5% by mass or less, based on all the structural units of the polymer. % Or less is more preferable, and it is more preferable not to contain the structural unit S2-2-3. According to this aspect, it is easy to obtain excellent coating properties.

本発明において、化合物Sが重合体である場合、化合物Sの重量平均分子量は、100〜100000が好ましい。下限は、300以上が好ましく、1000以上がより好ましい。上限は、30000以下が好ましく、10000以下がより好ましく、5000以下が特に好ましい。化合物Sの分子量が上記範囲であると、塗布性が良好である。
化合物Sの分散度(Mw/Mn)は、1.0〜5.0が好ましく、1.2〜3.0がより好ましい。
In the present invention, when the compound S is a polymer, the weight average molecular weight of the compound S is preferably 100 to 100,000. The lower limit is preferably 300 or more, and more preferably 1000 or more. The upper limit is preferably 30000 or less, more preferably 10,000 or less, and particularly preferably 5000 or less. When the molecular weight of the compound S is in the above range, the coating property is good.
The dispersity (Mw / Mn) of the compound S is preferably 1.0 to 5.0, and more preferably 1.2 to 3.0.

化合物Sの具体例としては、例えば以下に示す構造および、後述する実施例に示す構造が挙げられる。以下において、Rは水素原子またはメチル基を表し、n100は、1〜20の整数を表し、Rfbは、炭素数3〜8の直鎖または分岐のパーフルオロアルキル基を表す。n100は、2〜20の整数が好ましい。Rfbは、炭素数4〜6の直鎖のパーフルオロアルキル基が好ましい。

Figure 2017049327
Specific examples of compound S include, for example, the structures shown below and the structures shown in the examples described later. Hereinafter, R represents a hydrogen atom or a methyl group, n100 represents an integer of 1 to 20, and Rf b represents a linear or branched perfluoroalkyl group having 3 to 8 carbon atoms. n100 is preferably an integer of 2 to 20. Rf b is preferably a linear perfluoroalkyl group having 4 to 6 carbon atoms.
Figure 2017049327

<アルコキシシラン化合物>
本発明の感光性組成物は、ポリシロキサン成分A以外の成分として、更に、アルコキシシラン化合物を含有してもよい。アルコキシシラン化合物は、エポキシ基、エチレン性不飽和基、クロロ基で置換されたアルキル基およびメルカプト基からなる群より選ばれる少なくとも1種とアルコキシシラン構造とを有する化合物が好ましい。このような化合物を配合することにより、感度をより向上させることができるとともに、感光性組成物の硬化時の基板との密着性をさらに向上させることができる。なお、本発明において、アルコキシシラン化合物は、ポリシロキサン成分Aとは異なる化合物である。
アルコキシシラン化合物は1種類のみ含んでいても良いし、2種以上含んでいても良い。
アルコキシシラン化合物の分子量は特に定めるものではないが、1000未満であることが好ましく、500以下であることがより好ましい。アルコキシシラン化合物の分子量の下限値については、特に定めるものではないが、100以上が好ましく、200以上がより好ましい。1分子中のケイ素原子の数は1個又は2個が好ましく、1個がより好ましい。
<Alkoxysilane compound>
The photosensitive composition of the present invention may further contain an alkoxysilane compound as a component other than the polysiloxane component A. The alkoxysilane compound is preferably a compound having an alkoxysilane structure and at least one selected from the group consisting of an epoxy group, an ethylenically unsaturated group, an alkyl group substituted with a chloro group, and a mercapto group. By mix | blending such a compound, while being able to improve a sensitivity more, adhesiveness with the board | substrate at the time of hardening of a photosensitive composition can further be improved. In the present invention, the alkoxysilane compound is a compound different from the polysiloxane component A.
The alkoxysilane compound may contain only 1 type and may contain 2 or more types.
The molecular weight of the alkoxysilane compound is not particularly defined, but is preferably less than 1000, more preferably 500 or less. The lower limit of the molecular weight of the alkoxysilane compound is not particularly defined, but is preferably 100 or more and more preferably 200 or more. The number of silicon atoms in one molecule is preferably 1 or 2, and more preferably 1.

アルコキシシラン化合物の具体例としては、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリアコキシシラン、γ−グリシドキシプロピルジアルコキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリアルコキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルジアルコキシシラン、γ−クロロプロピルトリアルコキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリアルコキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリアルコキシシラン、ビニルトリアルコキシシランが挙げられる。
市販品としては、信越シリコーン(株)製のKBM−403、KBM−5103、KBM−303、KBM−803が例示される。
Specific examples of the alkoxysilane compound include γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, γ-glycidoxypropyltriacoxysilane, γ-glycidoxypropyl dialkoxysilane, and γ-methacryloxy. Propyltrialkoxysilane, γ-methacryloxypropyl dialkoxysilane, γ-chloropropyltrialkoxysilane, γ-mercaptopropyltrialkoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrialkoxysilane, vinyltrialkoxysilane Can be mentioned.
Examples of commercially available products include KBM-403, KBM-5103, KBM-303, and KBM-803 manufactured by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd.

本発明の感光性組成物が、アルコキシシラン化合物を含有する場合、アルコキシシラン化合物の含有量は、感光性組成物の全固形分中の0.05〜10質量%が好ましい。下限は、0.1質量%以上がより好ましく、0.5質量%以上が特に好ましい。上限は、8質量%以下がより好ましく、6質量%以下が特に好ましい。   When the photosensitive composition of the present invention contains an alkoxysilane compound, the content of the alkoxysilane compound is preferably 0.05 to 10% by mass in the total solid content of the photosensitive composition. The lower limit is more preferably 0.1% by mass or more, and particularly preferably 0.5% by mass or more. The upper limit is more preferably 8% by mass or less, and particularly preferably 6% by mass or less.

<架橋性基を有する化合物>
本発明の感光性組成物は、架橋性基を有する化合物(以下、「架橋剤」ともいう)を含有してもよい。架橋剤を含有することにより、より強硬な硬化膜を得ることができる。本発明において、架橋剤の分子量は、200〜1,000が好ましい。
<Compound having a crosslinkable group>
The photosensitive composition of the present invention may contain a compound having a crosslinkable group (hereinafter also referred to as “crosslinking agent”). By containing a crosslinking agent, a harder cured film can be obtained. In the present invention, the molecular weight of the crosslinking agent is preferably 200 to 1,000.

架橋剤としては、熱によって架橋反応が起こるものであれば制限は無い。例えば、分子内に2個以上のエポキシ基またはオキセタニル基を有する化合物、ブロックイソシアネート化合物、アルコキシメチル基含有化合物、エチレン性不飽和基を有する化合物等が挙げられる。分子内に2個以上のエポキシ基またはオキセタニル基を有する化合物、ブロックイソシアネート化合物およびアルコキシメチル基含有化合物が好ましく、分子内に2個以上のエポキシ基またはオキセタニル基を有する化合物およびアルコキシメチル基含有化合物がより好ましく、分子内に2個以上のエポキシ基および/またはオキセタニル基を有する化合物がさらに好ましい。分子内に2個以上のエポキシ基および/またはオキセタニル基を有する化合物を配合すると、特に耐熱性に優れた硬化膜が得られ易い。架橋剤の詳細については、特開2014−238438号公報の段落0138〜0147の記載、国際公開第2015/087831号の段落0082〜0104の記載、国際公開第2015/087829号の段落0120〜0144の記載を参照でき、この内容は本願明細書に組み込まれることとする。   The crosslinking agent is not limited as long as a crosslinking reaction is caused by heat. Examples thereof include compounds having two or more epoxy groups or oxetanyl groups in the molecule, blocked isocyanate compounds, alkoxymethyl group-containing compounds, and compounds having an ethylenically unsaturated group. Compounds having two or more epoxy groups or oxetanyl groups in the molecule, blocked isocyanate compounds and alkoxymethyl group-containing compounds are preferred, and compounds having two or more epoxy groups or oxetanyl groups in the molecule and alkoxymethyl group-containing compounds are More preferred is a compound having two or more epoxy groups and / or oxetanyl groups in the molecule. When a compound having two or more epoxy groups and / or oxetanyl groups in the molecule is blended, a cured film particularly excellent in heat resistance is easily obtained. Details of the crosslinking agent are described in paragraphs 0138 to 0147 of JP2014-238438, paragraphs 0082 to 0104 of WO2015 / 087831, and paragraphs 0120 to 0144 of WO2015 / 087829. Reference may be made to the description, the contents of which are incorporated herein.

分子内に2個以上のエポキシ基またはオキセタニル基を有する化合物としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、脂肪族エポキシ樹脂等を挙げることができる。これらは市販品として入手できる。例えば、分子内に2個以上のエポキシ基を有する化合物としては、JER152、JER157S70、JER157S65、JER806、JER828、JER1007(三菱化学(株)製)など、特開2011−221494号公報の段落番号0189に記載の市販品などが挙げられる。   Examples of compounds having two or more epoxy groups or oxetanyl groups in the molecule include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, phenol novolac type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, aliphatic epoxy resins, and the like. Can do. These are available as commercial products. For example, compounds having two or more epoxy groups in the molecule include JER152, JER157S70, JER157S65, JER806, JER828, JER1007 (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), paragraph number 0189 of JP2011-221494A. The commercial item of description etc. are mentioned.

ブロックイソシアネート化合物は、特に制限はないが、硬化性の観点から、1分子内に2以上のブロックイソシアネート基を有する化合物であることが好ましい。
なお、本発明におけるブロックイソシアネート基とは、熱によりイソシアネート基を生成することが可能な基であり、例えば、ブロック剤とイソシアネート基とを反応させイソシアネート基を保護した基が好ましく例示できる。また、上記ブロックイソシアネート基は、90℃〜250℃の熱によりイソシアネート基を生成することが可能な基であることが好ましい。
Although there is no restriction | limiting in particular in a block isocyanate compound, It is preferable that it is a compound which has a 2 or more block isocyanate group in 1 molecule from a sclerosing | hardenable viewpoint.
In addition, the blocked isocyanate group in this invention is a group which can produce | generate an isocyanate group with a heat | fever, For example, the group which reacted the blocking agent and the isocyanate group and protected the isocyanate group can illustrate preferably. Moreover, it is preferable that the said blocked isocyanate group is a group which can produce | generate an isocyanate group with the heat | fever of 90 to 250 degreeC.

ブロックイソシアネート化合物としては、その骨格は特に限定されるものではなく、1分子中にイソシアネート基を2個有するものであればどのようなものでもよく、脂肪族、脂環族または芳香族のポリイソシアネートであってよい。骨格の具体例については、特開2014−238438号公報段落0144の記載を参酌でき、この内容は本明細書に組み込まれることとする。   The skeleton of the blocked isocyanate compound is not particularly limited, and any skeleton may be used as long as it has two isocyanate groups in one molecule, and is an aliphatic, alicyclic or aromatic polyisocyanate. It may be. Regarding specific examples of the skeleton, the description in paragraph 0144 of JP2014-238438A can be referred to, and the contents thereof are incorporated in the present specification.

ブロックイソシアネート化合物の母構造としては、ビウレット型、イソシアヌレート型、アダクト型、2官能プレポリマー型等を挙げることができる。
上記ブロックイソシアネート化合物のブロック構造を形成するブロック剤としては、オキシム化合物、ラクタム化合物、フェノール化合物、アルコール化合物、アミン化合物、活性メチレン化合物、ピラゾール化合物、メルカプタン化合物、イミダゾール系化合物、イミド系化合物等を挙げることができる。これらの中でも、オキシム化合物、ラクタム化合物、フェノール化合物、アルコール化合物、アミン化合物、活性メチレン化合物、ピラゾール化合物から選ばれるブロック剤が特に好ましい。ブロック剤の具体例としては、特開2014−238438号公報段落0146の記載を参酌でき、この内容は本明細書に組み込まれることとする。
Examples of the matrix structure of the blocked isocyanate compound include biuret type, isocyanurate type, adduct type, and bifunctional prepolymer type.
Examples of the blocking agent that forms the block structure of the blocked isocyanate compound include oxime compounds, lactam compounds, phenol compounds, alcohol compounds, amine compounds, active methylene compounds, pyrazole compounds, mercaptan compounds, imidazole compounds, and imide compounds. be able to. Among these, a blocking agent selected from oxime compounds, lactam compounds, phenol compounds, alcohol compounds, amine compounds, active methylene compounds, and pyrazole compounds is particularly preferable. As a specific example of the blocking agent, description in paragraph 0146 of JP2014-238438A can be referred to, and the contents thereof are incorporated in the present specification.

アルコキシメチル基含有化合物としては、アルコキシメチル化メラミン、アルコキシメチル化ベンゾグアナミン、アルコキシメチル化グリコールウリル及びアルコキシメチル化尿素等が好ましい。これらは、それぞれメチロール化メラミン、メチロール化ベンゾグアナミン、メチロール化グリコールウリル、又は、メチロール化尿素のメチロール基をアルコキシメチル基に変換することにより得られる。このアルコキシメチル基の種類については特に限定されるものではなく、例えば、メトキシメチル基、エトキシメチル基、プロポキシメチル基、ブトキシメチル基等を挙げることができるが、アウトガスの発生量の観点から、メトキシメチル基が特に好ましい。これらの化合物のうち、アルコキシメチル化メラミン、アルコキシメチル化ベンゾグアナミン、アルコキシメチル化グリコールウリルが好ましい化合物として挙げられ、透明性の観点から、アルコキシメチル化グリコールウリルが特に好ましい。   As the alkoxymethyl group-containing compound, alkoxymethylated melamine, alkoxymethylated benzoguanamine, alkoxymethylated glycoluril, alkoxymethylated urea and the like are preferable. These can be obtained by converting the methylol group of methylolated melamine, methylolated benzoguanamine, methylolated glycoluril, or methylolated urea to an alkoxymethyl group, respectively. The type of the alkoxymethyl group is not particularly limited, and examples thereof include a methoxymethyl group, an ethoxymethyl group, a propoxymethyl group, and a butoxymethyl group. From the viewpoint of outgas generation amount, A methyl group is particularly preferred. Among these compounds, alkoxymethylated melamine, alkoxymethylated benzoguanamine, and alkoxymethylated glycoluril are preferable compounds, and alkoxymethylated glycoluril is particularly preferable from the viewpoint of transparency.

エチレン性不飽和基を有する化合物としては、(メタ)アクリロイル基を含む化合物が好ましい。(メタ)アクリロイル基を含む化合物は、アクリル酸エステル、メタクリル酸エステルからなる群から選択される化合物が挙げられる。エチレン性不飽和基を有する化合物は、1分子中に(メタ)アクリロイル基を2個以上有する化合物(2官能(メタ)アクリレート)が好ましく、3個以上有する化合物(3官能以上の(メタ)アクリレート)がより好ましい。2官能(メタ)アクリレートとしては、例えば、エチレングリコール(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ビスフェノキシエタノールフルオレンジアクリレート、ビスフェノキシエタノールフルオレンジアクリレートなどが挙げられる。3官能以上の(メタ)アクリレートとしては、例えば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリ((メタ)アクリロイロキシエチル)フォスフェート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレートなどが挙げられる。   As the compound having an ethylenically unsaturated group, a compound containing a (meth) acryloyl group is preferable. Examples of the compound containing a (meth) acryloyl group include compounds selected from the group consisting of acrylic acid esters and methacrylic acid esters. The compound having an ethylenically unsaturated group is preferably a compound having 2 or more (meth) acryloyl groups in one molecule (bifunctional (meth) acrylate), and a compound having 3 or more (trifunctional or more (meth) acrylate) ) Is more preferable. Examples of the bifunctional (meth) acrylate include ethylene glycol (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, Examples include tetraethylene glycol di (meth) acrylate, bisphenoxyethanol full orange acrylate, and bisphenoxyethanol full orange acrylate. Examples of the tri- or more functional (meth) acrylate include trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, tri ((meth) acryloyloxyethyl) phosphate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate. , Dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, and the like.

本発明の感光性組成物が架橋剤を含有する場合、架橋剤の含有量は、ポリシロキサン成分Aの100質量部に対し、0.01〜50質量部であることが好ましく、0.1〜30質量部であることがより好ましく、0.5〜25質量部であることがさらに好ましい。この範囲で添加することにより、機械的強度および耐溶剤性に優れた硬化膜が得られる。架橋剤は1種類のみ含んでいても良いし、2種類以上含んでいても良い。2種類以上含む場合は、合計量が上記範囲となることが好ましい。   When the photosensitive composition of this invention contains a crosslinking agent, it is preferable that content of a crosslinking agent is 0.01-50 mass parts with respect to 100 mass parts of polysiloxane component A, 0.1-0.1 mass parts. The amount is more preferably 30 parts by mass, and further preferably 0.5 to 25 parts by mass. By adding in this range, a cured film having excellent mechanical strength and solvent resistance can be obtained. Only one type of crosslinking agent may be included, or two or more types may be included. When two or more types are included, the total amount is preferably within the above range.

<塩基性化合物>
本発明の感光性組成物は、塩基性化合物を含有してもよい。塩基性化合物としては、例えば、脂肪族アミン、芳香族アミン、複素環式アミン、第四級アンモニウムヒドロキシド、カルボン酸の第四級アンモニウム塩等が挙げられる。これらの具体例としては、特開2011−221494号公報の段落番号0204〜0207に記載の化合物が挙げられ、これらの内容は本明細書に組み込まれる。具体的には、例えば、トリエチルアミン、トリエタノールアミン、ベンズイミダゾール、4−メチルイミダゾール、2−フェニルベンズイミダゾール、トリフェニルイミダゾール、1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]−5−ノネン、1,8−ジアザビシクロ[5.3.0]−7−ウンデセン、などが挙げられる。塩基性化合物は、1種単独で使用しても、2種以上を併用してもよい。
<Basic compound>
The photosensitive composition of the present invention may contain a basic compound. Examples of the basic compound include aliphatic amines, aromatic amines, heterocyclic amines, quaternary ammonium hydroxides, quaternary ammonium salts of carboxylic acids, and the like. Specific examples thereof include compounds described in paragraph numbers 0204 to 0207 of JP2011-221494A, the contents of which are incorporated herein. Specifically, for example, triethylamine, triethanolamine, benzimidazole, 4-methylimidazole, 2-phenylbenzimidazole, triphenylimidazole, 1,5-diazabicyclo [4.3.0] -5-nonene, 1, 8-diazabicyclo [5.3.0] -7-undecene, and the like. A basic compound may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

本発明の感光性組成物が塩基性化合物を含有する場合、塩基性化合物の含有量は、感光性組成物中の全固形成分100質量部に対し、0.001〜3質量部であることが好ましく、0.005〜1質量部であることがより好ましい。塩基性化合物は、1種単独で使用しても、2種以上を併用してもよい。2種類以上用いる場合は、その合計量が上記範囲となることが好ましい。   When the photosensitive composition of this invention contains a basic compound, content of a basic compound may be 0.001-3 mass parts with respect to 100 mass parts of all the solid components in a photosensitive composition. Preferably, it is 0.005-1 mass part. A basic compound may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together. When using 2 or more types, it is preferable that the total amount becomes the said range.

<酸化防止剤>
本発明の感光性組成物は、酸化防止剤を含有してもよい。酸化防止剤としては、公知の酸化防止剤を含有することができる。酸化防止剤を添加することにより、硬化膜の着色を防止できる、または、分解による膜厚減少を低減でき、また、耐熱透明性に優れるという利点がある。
酸化防止剤としては、例えば、リン系酸化防止剤、アミド類、ヒドラジド類、ヒンダードアミン系酸化防止剤、イオウ系酸化防止剤、フェノール系酸化防止剤、アスコルビン酸類、硫酸亜鉛、糖類、亜硝酸塩、亜硫酸塩、チオ硫酸塩、ヒドロキシルアミン誘導体などを挙げることができる。これらの中では、硬化膜の着色、膜厚減少の観点からフェノール系酸化防止剤、ヒンダードアミン系酸化防止剤、リン系酸化防止剤、アミド系酸化防止剤、ヒドラジド系酸化防止剤、イオウ系酸化防止剤が好ましく、フェノール系酸化防止剤が最も好ましい。これらは1種単独で用いてもよいし、2種以上を混合してもよい。
具体例としては、特開2005−29515号公報の段落番号0026〜0031に記載の化合物、特開2011−227106号公報の段落番号0106〜0116に記載の化合物を挙げる事ができ、これらの内容は本明細書に組み込まれる。
好ましい市販品として、アデカスタブAO−20、アデカスタブAO−60、アデカスタブAO−80、アデカスタブLA−52、アデカスタブLA−81、アデカスタブAO−412S、アデカスタブPEP−36(以上、(株)ADEKA製)、イルガノックス1035、イルガノックス1098、チヌビン144(以上、BASF製)を挙げる事ができる。
酸化防止剤の含有量は、感光性組成物の全固形分に対して、0.1〜10質量%であることが好ましく、0.2〜5質量%であることがより好ましく、0.5〜4質量%であることが特に好ましい。この範囲にすることで、透明性に優れた膜を形成しやすい。更には、パターン形成時の感度も良好となる。
<Antioxidant>
The photosensitive composition of the present invention may contain an antioxidant. As an antioxidant, a well-known antioxidant can be contained. By adding an antioxidant, there is an advantage that coloring of the cured film can be prevented, or a decrease in film thickness due to decomposition can be reduced, and heat-resistant transparency is excellent.
Examples of antioxidants include phosphorus antioxidants, amides, hydrazides, hindered amine antioxidants, sulfur antioxidants, phenol antioxidants, ascorbic acids, zinc sulfate, sugars, nitrites, sulfites. Examples thereof include salts, thiosulfates, and hydroxylamine derivatives. Among these, phenolic antioxidants, hindered amine antioxidants, phosphorus antioxidants, amide antioxidants, hydrazide antioxidants, sulfur antioxidants from the viewpoint of coloring the cured film and reducing film thickness Agents are preferred, and phenolic antioxidants are most preferred. These may be used individually by 1 type and may mix 2 or more types.
Specific examples include compounds described in paragraph numbers 0026 to 0031 of JP-A-2005-29515, and compounds described in paragraph numbers 0106 to 0116 of JP-A-2011-227106. Incorporated herein.
Preferred commercial products include ADK STAB AO-20, ADK STAB AO-60, ADK STAB AO-80, ADK STAB LA-52, ADK STAB LA-81, ADK STAB AO-412S, ADK STAB PEP-36 (manufactured by ADEKA, Inc.), IRGA Nox 1035, Irganox 1098, Tinuvin 144 (manufactured by BASF) can be mentioned.
It is preferable that content of antioxidant is 0.1-10 mass% with respect to the total solid of a photosensitive composition, It is more preferable that it is 0.2-5 mass%, 0.5 It is especially preferable that it is -4 mass%. By setting it within this range, it is easy to form a film having excellent transparency. Furthermore, the sensitivity at the time of pattern formation is also good.

<その他の成分>
本発明の感光性組成物は、必要に応じて増感剤(例えば、9,10−ジブトキシアントラセンなど)、熱ラジカル発生剤、熱酸発生剤、酸増殖剤、現像促進剤、紫外線吸収剤、増粘剤、有機または無機の沈殿防止剤などの公知の添加剤を、それぞれ独立に1種または2種以上、加えることができる。また、添加剤として、トリメリット酸を用いることもできる。また、上記化合物S以外の界面活性剤をさらに含むことができる。
これらの化合物としては、例えば特開2012−88459号公報の段落番号0201〜0224の記載の化合物、特開2014−238438号公報に記載の化合物を使用することができ、これらの内容は本明細書に組み込まれる。
また、特開2012−8223号公報の段落番号0120〜0121に記載の熱ラジカル発生剤、WO2011/136074A1に記載の窒素含有化合物および熱酸発生剤も用いることができ、これらの内容は本明細書に組み込まれる。
<Other ingredients>
The photosensitive composition of the present invention contains a sensitizer (such as 9,10-dibutoxyanthracene), a thermal radical generator, a thermal acid generator, an acid multiplier, a development accelerator, and an ultraviolet absorber as necessary. Well-known additives such as thickeners, organic or inorganic suspending agents, and the like can be added individually or in combination of two or more. Moreover, trimellitic acid can also be used as an additive. Further, it may further contain a surfactant other than the compound S.
As these compounds, for example, compounds described in paragraph numbers 0201 to 0224 of JP2012-88459A and compounds described in JP2014-238438A can be used, and the contents thereof are described in the present specification. Incorporated into.
In addition, the thermal radical generator described in paragraph Nos. 0120 to 0121 of JP2012-8223A, the nitrogen-containing compound and the thermal acid generator described in WO2011 / 136604A1 can be used, and the contents thereof are described in this specification. Incorporated into.

<感光性組成物の調製方法>
本発明の感光性組成物は、各成分を所定の割合でかつ任意の方法で混合し、撹拌溶解して調製することができる。調製した感光性組成物は、例えば孔径0.2μmのフィルター等を用いてろ過した後に、使用することもできる。フィルターの孔径は、目的とする純度等に応じて適宜調節でき、0.2μmの他に、0.05μm、0.1μm、0.3μm、0.5μmなどを例示することができる。
<Method for preparing photosensitive composition>
The photosensitive composition of the present invention can be prepared by mixing the respective components in a predetermined ratio and by an arbitrary method, and stirring and dissolving. The prepared photosensitive composition can be used after being filtered using, for example, a filter having a pore diameter of 0.2 μm. The pore diameter of the filter can be appropriately adjusted according to the target purity and the like, and examples include 0.05 μm, 0.1 μm, 0.3 μm, and 0.5 μm in addition to 0.2 μm.

本発明の感光性組成物は、目的に応じて固形分濃度、粘度、表面張力を調整できる。
スリットコートする場合は、感光性組成物の固形分濃度は2〜40質量%が好ましく、3〜30質量%がより好ましく、4〜20質量%が更に好ましい。スリットコートする場合の粘度は1〜40mPa・sが好ましく、2〜25mPa・sがより好ましく、3〜20mPa・sが最も好ましい。
感光性組成物の表面張力は、塗布性の観点から10〜100mN/mが好ましく、15〜80mN/mが好ましく、20〜50mN/mが最も好ましい。なお、本発明において、粘度は、25℃での値である。
The photosensitive composition of this invention can adjust solid content concentration, a viscosity, and surface tension according to the objective.
In the case of slit coating, the solid content concentration of the photosensitive composition is preferably 2 to 40% by mass, more preferably 3 to 30% by mass, and still more preferably 4 to 20% by mass. The viscosity when slit coating is preferably 1 to 40 mPa · s, more preferably 2 to 25 mPa · s, and most preferably 3 to 20 mPa · s.
The surface tension of the photosensitive composition is preferably 10 to 100 mN / m, more preferably 15 to 80 mN / m, and most preferably 20 to 50 mN / m from the viewpoint of applicability. In the present invention, the viscosity is a value at 25 ° C.

<感光性組成物の保管方法>
本発明の感光性組成物は、例えば10℃以上30℃以下の温度で保存することもできる。また、0℃以上10℃℃未満、好ましくは0℃以上5℃未満の温度で保存することもできる。また、0℃未満、好ましくは−5℃以下、さらに好ましくは−20℃以下、より好ましくは−20〜−40℃の温度で保存することもできる。長期の保存安定性を確保したい場合には、所謂冷凍保管(好ましくは−5℃以下、さらに好ましくは−20℃以下、より好ましくは−20〜−40℃)が好ましい。
<Storage method of photosensitive composition>
The photosensitive composition of this invention can also be preserve | saved at the temperature of 10 to 30 degreeC, for example. Further, it can be stored at a temperature of 0 ° C. or higher and lower than 10 ° C., preferably 0 ° C. or higher and lower than 5 ° C. Further, it can be stored at a temperature of less than 0 ° C., preferably −5 ° C. or less, more preferably −20 ° C. or less, more preferably −20 to −40 ° C. In order to ensure long-term storage stability, so-called frozen storage (preferably −5 ° C. or lower, more preferably −20 ° C. or lower, more preferably −20 to −40 ° C.) is preferable.

<硬化膜の製造方法>
本発明の硬化膜の製造方法は、以下の(1)〜(5)の工程を含むことが好ましい。
(1)本発明の感光性組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布された感光性組成物から溶剤を除去する工程、
(3)溶剤が除去された感光性組成物を活性光線により露光する工程、
(4)露光された感光性組成物を現像液により現像する工程、
(5)現像された感光性組成物を熱硬化(ポストベーク)する工程。
以下に各工程を順に説明する。
<Method for producing cured film>
The method for producing a cured film of the present invention preferably includes the following steps (1) to (5).
(1) The process of apply | coating the photosensitive composition of this invention on a board | substrate,
(2) a step of removing the solvent from the applied photosensitive composition;
(3) A step of exposing the photosensitive composition from which the solvent has been removed with actinic rays,
(4) a step of developing the exposed photosensitive composition with a developer;
(5) A step of thermosetting (post-baking) the developed photosensitive composition.
Each step will be described below in order.

(1)の工程では、本発明の感光性組成物を基板上に塗布して溶剤を含む湿潤膜(感光性組成物層)を形成することが好ましい。   In the step (1), it is preferable to apply the photosensitive composition of the present invention on a substrate to form a wet film (photosensitive composition layer) containing a solvent.

(1)の工程では、基板に感光性組成物を塗布する前に、基板に対してアルカリ洗浄やプラズマ洗浄などの洗浄を行ってもよい。また、洗浄後の基板に対してヘキサメチルジシラザンなどで基板表面を処理してもよい。ヘキサメチルジシラザンで基板表面を処理する方法としては、特に限定されないが、例えば、ヘキサメチルジシラザン蒸気中に基板を晒しておく方法等が挙げられる。
基板としては、無機基板、樹脂基板、樹脂複合材料基板などが挙げられる。
無機基板としては、例えばガラス基板、石英基板、シリコン基板、シリコンナイトライド基板、および、それらのような基板上にモリブデン、チタン、アルミ、銅などを蒸着した複合基板が挙げられる。
樹脂基板としては、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンナフタレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリアリレート、アリルジグリコールカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリベンズアゾール、ポリフェニレンサルファイド、ポリシクロオレフィン、ノルボルネン樹脂、ポリクロロトリフルオロエチレン等のフッ素樹脂、液晶ポリマー、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、アイオノマー樹脂、シアネート樹脂、架橋フマル酸ジエステル、環状ポリオレフィン、芳香族エーテル、マレイミドーオレフィン、セルロース、エピスルフィド化合物等の合成樹脂からなる基板が挙げられる。樹脂基板を用いる場合、所謂ロールtoロールのプロセスを用いることができる。
これらの基板は、上記の形態のまま用いられる場合は少なく、最終製品の形態によって、例えば薄膜トランジスター(TFT)素子のような多層積層構造が形成されていてもよい。
In the step (1), before the photosensitive composition is applied to the substrate, the substrate may be subjected to cleaning such as alkali cleaning or plasma cleaning. Further, the substrate surface may be treated with hexamethyldisilazane or the like with respect to the cleaned substrate. The method of treating the substrate surface with hexamethyldisilazane is not particularly limited, and examples thereof include a method of exposing the substrate to hexamethyldisilazane vapor.
Examples of the substrate include an inorganic substrate, a resin substrate, and a resin composite material substrate.
Examples of the inorganic substrate include a glass substrate, a quartz substrate, a silicon substrate, a silicon nitride substrate, and a composite substrate in which molybdenum, titanium, aluminum, copper, or the like is vapor-deposited on such a substrate.
As the resin substrate, polybutylene terephthalate, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polybutylene naphthalate, polystyrene, polycarbonate, polysulfone, polyethersulfone, polyarylate, allyl diglycol carbonate, polyamide, polyimide, polyamideimide, polyetherimide, Fluorine resin such as polybenzazole, polyphenylene sulfide, polycycloolefin, norbornene resin, polychlorotrifluoroethylene, liquid crystal polymer, acrylic resin, epoxy resin, silicone resin, ionomer resin, cyanate resin, crosslinked fumaric acid diester, cyclic polyolefin, Made of synthetic resin such as aromatic ether, maleimide-olefin, cellulose, episulfide compound Plate, and the like. When a resin substrate is used, a so-called roll-to-roll process can be used.
These substrates are rarely used in the above-described form, and a multilayer laminated structure such as a thin film transistor (TFT) element may be formed depending on the form of the final product.

基板の大きさは特に限定されない。生産性、塗布性の観点から基板の面積は10000mm2以上10000000mm2以下が好ましい。例えば300mm×400mm角の大きさ、1000mm×1100mmの大きさを例示することができる。 The size of the substrate is not particularly limited. Productivity, the area of the substrate from the viewpoint of coating property is preferably 10000 mm 2 or more 10000000Mm 2 or less. For example, a size of 300 mm × 400 mm square and a size of 1000 mm × 1100 mm can be exemplified.

基板への感光性組成物の塗布方法は特に限定されず、例えば、スリットコート法、スプレー法、ロールコート法、回転塗布法、流延塗布法、スリットアンドスピン法等の方法を用いることができる。
スリットコート法の場合には基板とスリットダイとの相対移動速度を50〜120mm/secとすることが好ましい。大型基板に効率よく塗布でき、生産性に優れる点で、スリットコートが好ましい。大型基板とは300000mm2以上10000000mm2以下の面積の基板のことをいう。
感光性組成物を塗布したときの湿潤膜厚は特に限定されるものではなく、用途に応じた膜厚で塗布することができる。例えば、0.5〜10μmが好ましい。
基板に本発明の感光性組成物を塗布する前に、特開2009−145395号公報に記載されているような、所謂プリウェット法を適用することも可能である。
The method for applying the photosensitive composition to the substrate is not particularly limited. For example, methods such as a slit coating method, a spray method, a roll coating method, a spin coating method, a casting coating method, and a slit and spin method can be used. .
In the case of the slit coating method, the relative moving speed between the substrate and the slit die is preferably 50 to 120 mm / sec. Slit coating is preferred because it can be efficiently applied to a large substrate and has excellent productivity. And large substrate refers to a substrate area of 300000Mm 2 more 10000000Mm 2 or less.
The wet film thickness when the photosensitive composition is applied is not particularly limited, and can be applied with a film thickness according to the application. For example, 0.5-10 micrometers is preferable.
Before applying the photosensitive composition of the present invention to the substrate, it is also possible to apply a so-called pre-wet method as described in JP-A-2009-145395.

(2)の工程では、感光性組成物を塗布して形成した上記の湿潤膜から、減圧(バキューム)および/または加熱等により、溶剤を除去して基板上に乾燥膜を形成させる。溶剤除去工程の加熱条件は、好ましくは70〜130℃で30〜300秒間程度である。温度と時間が上記範囲である場合、パターンの密着性がより良好で、且つ残渣もより低減できる傾向にある。乾燥膜の膜厚は、用途に応じて選択でき、特に限定されない。溶剤除去の容易さの観点から0.01〜20μmが好ましく、0.1〜10μmがより好ましく、0.1〜5.0μmが最も好ましい。   In the step (2), the solvent is removed from the wet film formed by applying the photosensitive composition by vacuum (vacuum) and / or heating to form a dry film on the substrate. The heating conditions for the solvent removal step are preferably 70 to 130 ° C. and about 30 to 300 seconds. When the temperature and time are in the above ranges, the pattern adhesiveness is better and the residue tends to be further reduced. The film thickness of the dry film can be selected according to the application and is not particularly limited. From the viewpoint of ease of solvent removal, 0.01 to 20 μm is preferable, 0.1 to 10 μm is more preferable, and 0.1 to 5.0 μm is most preferable.

(3)の工程では、乾燥膜を設けた基板に所定のパターンの活性光線を照射する。この工程では、露光部において、カルボキシ基やフェノール性水酸基等の酸基、またはシラノール基が生成し、露光部における現像液への溶解性が向上する。すなわち、活性光線の照射によって、光酸発生剤が分解して酸が発生する。そして、発生した酸の触媒作用により、塗膜成分中に含まれる酸分解性基が加水分解して、酸基が生成する。
活性光線の光源としては、低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、ケミカルランプ、発光ダイオード(LED)光源、エキシマレーザー発生装置などを用いることができ、i線(365nm)、h線(405nm)、g線(436nm)などの300nm以上450nm以下の波長を有する活性光線が好ましく使用できる。また、必要に応じて長波長カットフィルター、短波長カットフィルター、バンドパスフィルターのような分光フィルターを通して照射光を調整することもできる。露光量は好ましくは1〜500mJ/cm2である。
露光装置としては、ミラープロジェクションアライナー、ステッパー、スキャナー、プロキシミティ、コンタクト、マイクロレンズアレイ、レンズスキャナ、レーザー露光、など各種方式の露光機を用いることができる。また、いわゆる超解像技術を用いた露光をすることもできる。超解像技術としては、複数回露光する多重露光や、位相シフトマスクを用いる方法、輪帯照明法などが挙げられる。これら超解像技術を用いることでより高精細なパターン形成が可能となり、好ましい。
酸触媒の生成した領域において、上記の加水分解反応を加速させるために、露光後加熱処理(PEB)を行うことができる。PEBにより、酸分解性基からのカルボキシ基、フェノール性水酸基の生成を促進させることができる。PEBを行う場合の温度は、30℃以上130℃以下であることが好ましく、40℃以上110℃以下がより好ましく、50℃以上100℃以下が特に好ましい。
In the step (3), the substrate provided with the dry film is irradiated with actinic rays having a predetermined pattern. In this step, an acid group such as a carboxy group or a phenolic hydroxyl group or a silanol group is generated in the exposed area, and the solubility in the developer in the exposed area is improved. That is, upon irradiation with actinic rays, the photoacid generator is decomposed to generate an acid. And the acid-decomposable group contained in a coating-film component is hydrolyzed by the catalytic action of the generated acid, and an acid group is generated.
As a light source of actinic light, a low-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultrahigh-pressure mercury lamp, a chemical lamp, a light emitting diode (LED) light source, an excimer laser generator, etc. can be used, i-line (365 nm), h-line (405 nm), Actinic rays having a wavelength of 300 nm or more and 450 nm or less such as g-line (436 nm) can be preferably used. Moreover, irradiation light can also be adjusted through spectral filters, such as a long wavelength cut filter, a short wavelength cut filter, and a band pass filter, as needed. The exposure amount is preferably 1 to 500 mJ / cm 2 .
As the exposure apparatus, various types of exposure machines such as a mirror projection aligner, a stepper, a scanner, a proximity, a contact, a microlens array, a lens scanner, and a laser exposure can be used. In addition, exposure using a so-called super-resolution technique can be performed. Examples of the super-resolution technique include multiple exposure in which exposure is performed a plurality of times, a method using a phase shift mask, and an annular illumination method. By using these super-resolution techniques, it is possible to form a higher definition pattern, which is preferable.
In the region where the acid catalyst is generated, post-exposure heat treatment (PEB) can be performed in order to accelerate the hydrolysis reaction. PEB can promote the formation of a carboxy group and a phenolic hydroxyl group from an acid-decomposable group. The temperature for performing PEB is preferably 30 ° C. or higher and 130 ° C. or lower, more preferably 40 ° C. or higher and 110 ° C. or lower, and particularly preferably 50 ° C. or higher and 100 ° C. or lower.

(4)の工程では、遊離したカルボキシ基やフェノール性水酸基等の酸基を有する重合体を、現像液を用いて現像する。現像液に溶解しやすい、露光部領域を除去することにより、ポジ画像が形成する。
現像工程で使用する現像液には、塩基性化合物の水溶液が含まれることが好ましい。塩基性化合物としては、国際公開第2015/087829号の段落0171に記載の化合物が挙げられ、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、テトラプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、コリン(2−ヒドロキシエチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド)が好ましい。また、上記アルカリ類の水溶液にメタノールやエタノールなどの水溶性有機溶剤や界面活性剤を適当量添加した水溶液を現像液として使用することもできる。
現像液のpHは、好ましくは10.0〜14.0である。
現像時間は、好ましくは30〜500秒間であり、また、現像の手法は液盛り法(パドル法)、シャワー法、ディップ法等の何れでもよい。
現像の後に、リンス工程を行うこともできる。リンス工程では、現像後の基板を純水などで洗うことで、付着している現像液除去、現像残渣除去を行う。リンス方法は公知の方法を用いることができる。例えばシャワーリンスやディップリンスなどを挙げる事ができる。
In the step (4), a polymer having an acid group such as a free carboxy group or a phenolic hydroxyl group is developed using a developer. A positive image is formed by removing the exposed area, which is easily dissolved in the developer.
The developer used in the development step preferably contains an aqueous solution of a basic compound. Examples of the basic compound include compounds described in paragraph 0171 of International Publication No. 2015/0887829, such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide, tetrapropylammonium hydroxide, tetra Butylammonium hydroxide and choline (2-hydroxyethyltrimethylammonium hydroxide) are preferred. An aqueous solution obtained by adding an appropriate amount of a water-soluble organic solvent such as methanol or ethanol or a surfactant to the alkaline aqueous solution can also be used as a developer.
The pH of the developer is preferably 10.0 to 14.0.
The development time is preferably 30 to 500 seconds, and the development method may be any of a liquid piling method (paddle method), a shower method, a dipping method, and the like.
A rinsing step can also be performed after development. In the rinsing step, the developed substrate and the development residue are removed by washing the developed substrate with pure water or the like. A known method can be used as the rinsing method. For example, shower rinse and dip rinse can be mentioned.

(5)の工程では、得られたポジ画像を加熱することにより、酸分解性基を熱分解してカルボキシ基、フェノール性水酸基を生成させ、架橋性基、架橋剤等と架橋させることにより、硬化膜を形成することができる。また、シラノール基を縮合反応させ、硬化膜を形成することもできる。
この加熱は、ホットプレートやオーブン等の加熱装置を用いて、所定の温度、例えば180〜400℃で所定の時間、例えばホットプレート上なら5〜90分間、オーブンならば30〜120分間、加熱処理をすることが好ましい。このように架橋反応を進行させることにより、耐熱性、硬度等により優れた保護膜や層間絶縁膜を形成することができる。また、加熱処理を行う際は窒素雰囲気下で行うことにより、透明性をより向上させることもできる。
ポストベークの前に、比較的低温でベークを行った後にポストベークすることもできる(ミドルベーク工程の追加)。ミドルベークを行う場合は、90〜180℃で1〜60分加熱した後に、200℃以上の高温でポストベークすることが好ましい。また、ミドルベーク、ポストベークを3段階以上の多段階に分けて加熱する事もできる。このようなミドルベーク、ポストベークの工夫により、パターンのテーパー角を調整することができる。これらの加熱は、ホットプレート、オーブン、赤外線ヒーターなど、公知の加熱方法を使用することができる。
In the step (5), by heating the obtained positive image, the acid-decomposable group is thermally decomposed to generate a carboxy group and a phenolic hydroxyl group, and crosslinked with a crosslinking group, a crosslinking agent, etc. A cured film can be formed. Also, a cured film can be formed by condensation reaction of silanol groups.
This heating is performed using a heating device such as a hot plate or an oven at a predetermined temperature, for example, 180 to 400 ° C. for a predetermined time, for example, 5 to 90 minutes on the hot plate, 30 to 120 minutes for the oven. It is preferable to By proceeding the crosslinking reaction in this way, a protective film and an interlayer insulating film that are superior in heat resistance, hardness, and the like can be formed. In addition, when the heat treatment is performed in a nitrogen atmosphere, the transparency can be further improved.
Prior to post-baking, post-baking can be performed after baking at a relatively low temperature (addition of a middle baking process). When performing middle baking, it is preferable to post-bake at a high temperature of 200 ° C. or higher after heating at 90 to 180 ° C. for 1 to 60 minutes. Moreover, middle baking and post-baking can be heated in three or more stages. The taper angle of the pattern can be adjusted by devising such middle baking and post baking. These heating methods can use well-known heating methods, such as a hotplate, oven, and an infrared heater.

なお、ポストベークに先立ち、パターンを形成した基板に活性光線により全面再露光(ポスト露光)した後、ポストベークすることにより未露光部分に存在する光酸発生剤から酸を発生させ、架橋を促進する触媒として機能させることができ、膜の硬化反応を促進することができる。ポスト露光工程を含む場合の好ましい露光量としては、100〜3,000mJ/cm2が好ましく、100〜500mJ/cm2が特に好ましい。 Prior to post-baking, the entire surface of the patterned substrate was re-exposed (post-exposure) with actinic rays and post-baked to generate acid from the photoacid generator present in the unexposed areas, thereby promoting crosslinking. It can function as a catalyst that promotes the film curing reaction. As a preferable exposure amount when the post-exposure step is included, 100 to 3,000 mJ / cm 2 is preferable, and 100 to 500 mJ / cm 2 is particularly preferable.

本発明の感光性組成物より得られた硬化膜は、永久膜として使用することができるが、ドライエッチングレジストとして使用することもできる。   The cured film obtained from the photosensitive composition of the present invention can be used as a permanent film, but can also be used as a dry etching resist.

<硬化膜>
本発明の硬化膜は、上述した本発明の感光性組成物を硬化して得られた硬化膜である。本発明の硬化膜は、層間絶縁膜として好適に用いることができる。
本発明の硬化膜は、上層の密着性に優れている。このため、基板上に上述の(1)〜(5)の方法で所定のパターンの硬化膜を形成した後、この硬化膜の上にさらに本発明の感光性組成物を塗布し、上述の(1)〜(5)の方法で重ねて所定のパターンの硬化膜を形成するのに好適である。このように本発明の感光性組成物を積層してパターンを形成することで、より複雑なパターン(例えば、凹凸があるパターン)を形成することができる。なお、(1)〜(5)の工程を3回以上繰り返してさらに複雑なパターンを形成することもできる。
層間絶縁膜をこのような積層構造体で形成することで、開口率向上、種々の機能複合化などを達成することができる。
<Curing film>
The cured film of the present invention is a cured film obtained by curing the above-described photosensitive composition of the present invention. The cured film of the present invention can be suitably used as an interlayer insulating film.
The cured film of the present invention is excellent in the adhesion of the upper layer. For this reason, after forming the cured film of a predetermined pattern on the substrate by the above-described methods (1) to (5), the photosensitive composition of the present invention is further applied on the cured film, and the above-mentioned ( It is suitable for forming a cured film having a predetermined pattern by being overlapped by the methods 1) to (5). Thus, a more complicated pattern (for example, pattern with an unevenness | corrugation) can be formed by laminating | stacking the photosensitive composition of this invention and forming a pattern. In addition, the process of (1)-(5) can be repeated 3 times or more, and a more complicated pattern can also be formed.
By forming the interlayer insulating film with such a laminated structure, it is possible to achieve an improvement in aperture ratio, various functions and the like.

<液晶表示装置およびその製造方法>
本発明の液晶表示装置は、本発明の硬化膜を有する。また、本発明の液晶表示装置の製造方法は、本発明の硬化膜の製造方法を含む。
本発明の液晶表示装置としては、本発明の感光性組成物を用いて形成される平坦化膜や層間絶縁膜を有すること以外は特に制限されず、様々な構造をとる公知の液晶表示装置を挙げることができる。
例えば、本発明の液晶表示装置が具備するTFT(thin film transistor)の具体例としては、アモルファスシリコン、低温ポリシリコン、酸化物半導体等が挙げられる。酸化物半導体としては所謂IGZO(インジウム、ガリウム、亜鉛、酸素から構成される半導体)を例示することができる。本発明の硬化膜は電気特性に優れるため、これらのTFTに組み合わせて好ましく用いることができる。液晶表示装置については、国際公開第2015/087829号の段落00176の記載を参酌でき、この内容は本明細書に組み込まれることとする。
<Liquid crystal display device and manufacturing method thereof>
The liquid crystal display device of the present invention has the cured film of the present invention. Moreover, the manufacturing method of the liquid crystal display device of this invention includes the manufacturing method of the cured film of this invention.
The liquid crystal display device of the present invention is not particularly limited except that it has a flattening film and an interlayer insulating film formed using the photosensitive composition of the present invention, and known liquid crystal display devices having various structures are used. Can be mentioned.
For example, specific examples of TFT (thin film transistor) included in the liquid crystal display device of the present invention include amorphous silicon, low-temperature polysilicon, and oxide semiconductor. As the oxide semiconductor, so-called IGZO (a semiconductor composed of indium, gallium, zinc, and oxygen) can be exemplified. Since the cured film of the present invention is excellent in electrical characteristics, it can be preferably used in combination with these TFTs. Regarding the liquid crystal display device, the description in paragraph 00196 of International Publication No. 2015/0887829 can be referred to, and the contents thereof are incorporated in the present specification.

また、図1に記載の液晶表示装置も挙げられる。図1は、特開2007−328210号公報の図1に記載の液晶表示装置である。
図1において、符号SUB1は、ガラス基板であり、複数の走査信号線と、複数の走査信号線に交差する複数の映像信号線とを有している。各交点近傍には、TFT(薄膜トランジスタ)を有している。
ガラス基板SUB1の上には、下から順に下地膜UC、半導体膜PS、ゲート絶縁膜GI、TFTのゲート電極GT、第1の層間絶縁膜IN1が形成されている。第1の層間絶縁膜IN1の上には、TFTのドレイン電極SD1と、TFTのソース電極SD2とが形成されている。
ドレイン電極SD1は、ゲート絶縁膜GI及び第1の層間絶縁膜IN1に形成されたコンタクトホールを介してTFTのドレイン領域に接続されている。ソース電極SD2は、ゲート絶縁膜GI及び第1の層間絶縁膜IN1に形成されたコンタクトホールを介してTFTのソース領域に接続されている。
ドレイン電極SD1及びソース電極SD2の上には、第2の層間絶縁膜IN2が形成されている。第2の層間絶縁膜IN2の上には、有機絶縁膜PASが形成されている。有機絶縁膜PASは、本発明の感光性組成物を用いて形成できる。
有機絶縁膜PASの上には、対向電極CT及び反射膜RALが形成されている。
対向電極CT及び反射膜RALの上には、第3の層間絶縁膜IN3が形成されている。第3の層間絶縁膜IN3の上には、画素電極PXが形成されている。画素電極PXは、第2の層間絶縁膜IN2及び第3の層間絶縁膜IN3に形成されたコンタクトホールを介してTFTのソース電極SD2と接続されている。
なお、第1の層間絶縁膜IN1、第2の層間絶縁膜IN2、第3の層間絶縁膜IN3も本発明の感光性組成物を用いて形成することができる。
図1に示す液晶表示装置の詳細については、特開2007−328210号公報の記載を参酌でき、この内容は本明細書に組み込まれることとする。
Moreover, the liquid crystal display device shown in FIG. FIG. 1 shows a liquid crystal display device described in FIG. 1 of JP-A-2007-328210.
In FIG. 1, reference numeral SUB1 is a glass substrate, and has a plurality of scanning signal lines and a plurality of video signal lines intersecting with the plurality of scanning signal lines. In the vicinity of each intersection, a TFT (thin film transistor) is provided.
On the glass substrate SUB1, a base film UC, a semiconductor film PS, a gate insulating film GI, a TFT gate electrode GT, and a first interlayer insulating film IN1 are formed in this order from the bottom. A drain electrode SD1 of the TFT and a source electrode SD2 of the TFT are formed on the first interlayer insulating film IN1.
The drain electrode SD1 is connected to the drain region of the TFT through a contact hole formed in the gate insulating film GI and the first interlayer insulating film IN1. The source electrode SD2 is connected to the source region of the TFT through a contact hole formed in the gate insulating film GI and the first interlayer insulating film IN1.
A second interlayer insulating film IN2 is formed on the drain electrode SD1 and the source electrode SD2. An organic insulating film PAS is formed on the second interlayer insulating film IN2. The organic insulating film PAS can be formed using the photosensitive composition of the present invention.
On the organic insulating film PAS, a counter electrode CT and a reflective film RAL are formed.
A third interlayer insulating film IN3 is formed on the counter electrode CT and the reflective film RAL. A pixel electrode PX is formed on the third interlayer insulating film IN3. The pixel electrode PX is connected to the source electrode SD2 of the TFT through a contact hole formed in the second interlayer insulating film IN2 and the third interlayer insulating film IN3.
Note that the first interlayer insulating film IN1, the second interlayer insulating film IN2, and the third interlayer insulating film IN3 can also be formed using the photosensitive composition of the present invention.
The details of the liquid crystal display device shown in FIG. 1 can be referred to the description in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-328210, and the contents thereof are incorporated in this specification.

<有機エレクトロルミネッセンス表示装置およびその製造方法>
本発明の有機エレクトロルミネッセンス(有機EL)表示装置は、本発明の硬化膜を有する。また、本発明の有機EL表示装置の製造方法は、本発明の硬化膜の製造方法を含む。
本発明の有機EL表示装置としては、本発明の感光性組成物を用いて形成される平坦化膜や層間絶縁膜を有すること以外は特に制限されず、様々な構造をとる公知の有機EL表示装置を挙げることができる。有機EL表示装置については、国際公開第2015/087829号の段落00177の記載を参酌でき、この内容は本明細書に組み込まれることとする。
有機EL表示装置の他の態様として、特開2012−203121号公報の図1に記載の画素分離膜(19)や平坦化膜(17)を本発明の感光性組成物を用いて形成することができる。また、特開2013−196919号公報の図1に記載の高抵抗層(18)や画素間絶縁膜(16)や層間絶縁膜(14)や層間絶縁膜(12c)を本発明の感光性組成物を用いて形成することができる。
<Organic electroluminescence display device and manufacturing method thereof>
The organic electroluminescence (organic EL) display device of the present invention has the cured film of the present invention. The method for producing an organic EL display device of the present invention includes the method for producing a cured film of the present invention.
The organic EL display device of the present invention is not particularly limited except that it has a flattening film and an interlayer insulating film formed using the photosensitive composition of the present invention, and known organic EL displays having various structures. An apparatus can be mentioned. Regarding the organic EL display device, the description in paragraph 00197 of International Publication No. 2015/0887829 can be referred to, and the contents thereof are incorporated in this specification.
As another aspect of the organic EL display device, the pixel separation film (19) and the planarization film (17) described in FIG. 1 of JP2012-203121A are formed using the photosensitive composition of the present invention. Can do. In addition, the high resistance layer (18), the inter-pixel insulating film (16), the interlayer insulating film (14), and the interlayer insulating film (12c) described in FIG. It can be formed using an object.

本発明の感光性組成物は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)デバイスの隔壁形成に用いることもできる。MEMSデバイスとしては、例えばSAW(Surface Acoustic Wave)フィルター、BAW(Bulk Acoustic Wave)フィルター、ジャイロセンサー、ディスプレイ用マイクロシャッター、イメージセンサー、電子ペーパー、インクジェットヘッド、バイオチップ、封止剤等の部品が挙げられる。より具体的な例は、特表2007−522531、特開2008−250200、特開2009−263544等に例示されている。   The photosensitive composition of the present invention can also be used for forming barrier ribs of MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) devices. Examples of the MEMS device include parts such as a SAW (Surface Acoustic Wave) filter, a BAW (Bulk Acoustic Wave) filter, a gyro sensor, a micro shutter for display, an image sensor, an electronic paper, an inkjet head, a biochip, and a sealant. It is done. More specific examples are exemplified in JP-T-2007-522531, JP-A-2008-250200, JP-A-2009-263544, and the like.

本発明の感光性組成物は、例えば特開2011−107476号公報の図2に記載のバンク層(16)および平坦化膜(57)、特開2010−9793号公報の図4(a)に記載の隔壁(12)および平坦化膜(102)、特開2010−27591号公報の図10に記載のバンク層(221)および第3層間絶縁膜(216b)、特開2009−128577号公報の図4(a)に記載の第2層間絶縁膜(125)および第3層間絶縁膜(126)、特開2010−182638号公報の図3に記載の平坦化膜(12)および画素分離絶縁膜(14)などの形成に用いることもできる。この他、液晶表示装置における液晶層の厚みを一定に保持するためのスペーサーや、ファクシミリ、電子複写機、固体撮像素子等のオンチップカラーフィルターの結像光学系あるいは光ファイバコネクタのマイクロレンズにも好適に用いることができる。   The photosensitive composition of the present invention includes, for example, a bank layer (16) and a planarizing film (57) described in FIG. 2 of JP2011-107476A, and FIG. 4 (A) of JP2010-9793A. The partition wall (12) and the planarization film (102) described, the bank layer (221) and the third interlayer insulating film (216b) described in FIG. 10 of JP 2010-27591 A, and JP 2009-128577 A The second interlayer insulating film (125) and the third interlayer insulating film (126) shown in FIG. 4A, the planarizing film (12) and the pixel isolation insulating film shown in FIG. 3 of JP 2010-182638 A It can also be used to form (14) and the like. In addition, spacers for maintaining the thickness of the liquid crystal layer in liquid crystal display devices, imaging optical systems for on-chip color filters such as facsimiles, electronic copying machines, solid-state image sensors, and micro lenses for optical fiber connectors are also used. It can be used suitably.

<タッチパネル、タッチパネル表示装置およびその製造方法>
本発明のタッチパネルは、絶縁層及び/又は保護層の、全部又は一部が本発明の感光性組成物の硬化物からなるタッチパネルである。また、本発明のタッチパネルは、透明基板、電極及び絶縁層及び/又は保護層を少なくとも有することが好ましい。また、本発明のタッチパネルおよびタッチパネル表示装置の製造方法は、本発明の硬化膜の製造方法を含む。
本発明のタッチパネル表示装置は、本発明のタッチパネルを有するタッチパネル表示装置であることが好ましい。本発明のタッチパネルとしては、抵抗膜方式、静電容量方式、超音波方式、電磁誘導方式など公知の方式いずれでもよい。中でも、静電容量方式が好ましい。また、本発明のタッチパネル表示装置は、タッチパネル又は表示装置の絶縁層及び/又は保護層の全部又は一部が本発明の感光性組成物の硬化物からなるタッチパネル表示装置であってもよい。
静電容量方式のタッチパネルとしては、特開2010−28115号公報に開示されるものや、国際公開第2012/057165号に開示されるものが挙げられる。
タッチパネル表示装置としては、いわゆる、インセル型(例えば、特表2012−517051号公報の図5、図6、図7、図8)、いわゆる、オンセル型(例えば、特開2013−168125号公報の図19)、OGS(One Glass Solution)型、TOL(Touch on Lens)型、その他の構成(例えば、特開2013−164871号公報の図6、WO2013/141056号公報の図1、特許5673782号公報の図2)、各種アウトセル型(いわゆる、GG方式、G1方式・G2方式、GFF方式、GF2方式、GF1方式、G1F方式など)を挙げることができる。
また、タッチパネルとしては、特開2015−103102号公報の段落0288〜0296の記載および、図7〜9を参酌でき、この内容は本願明細書に組み込まれることとする。
<Touch panel, touch panel display device and manufacturing method thereof>
The touch panel of the present invention is a touch panel in which all or part of the insulating layer and / or protective layer is made of a cured product of the photosensitive composition of the present invention. Moreover, it is preferable that the touch panel of this invention has a transparent substrate, an electrode, an insulating layer, and / or a protective layer at least. Moreover, the manufacturing method of the touchscreen of this invention and a touchscreen display device contains the manufacturing method of the cured film of this invention.
The touch panel display device of the present invention is preferably a touch panel display device having the touch panel of the present invention. As the touch panel of the present invention, any of known methods such as a resistive film method, a capacitance method, an ultrasonic method, and an electromagnetic induction method may be used. Among these, the electrostatic capacity method is preferable. In addition, the touch panel display device of the present invention may be a touch panel display device in which all or part of the insulating layer and / or protective layer of the touch panel or display device is made of a cured product of the photosensitive composition of the present invention.
Examples of the capacitive touch panel include those disclosed in JP 2010-28115 A and those disclosed in International Publication No. 2012/057165.
As a touch panel display device, a so-called in-cell type (for example, FIG. 5, FIG. 6, FIG. 7, and FIG. 8 of JP-T-2012-517051), a so-called on-cell type (for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2013-168125) 19), OGS (One Glass Solution) type, TOL (Touch on Lens) type, and other configurations (for example, FIG. 6 of JP2013-164871A, FIG. 1 of WO2013 / 141066, and Patent No. 56737882) 2) and various out-cell types (so-called GG method, G1 method / G2 method, GFF method, GF2 method, GF1 method, G1F method, etc.).
As the touch panel, the description in paragraphs 0288 to 0296 of JP-A-2015-103102 and FIGS. 7 to 9 can be referred to, and the contents thereof are incorporated in the present specification.

静電容量方式のタッチパネルおよび静電容量方式のタッチパネルを構成要素として備えるタッチパネル表示装置は、「最新タッチパネル技術」(2009年7月6日発行(株)テクノタイムズ)、三谷雄二監修、「タッチパネルの技術と開発」シーエムシー出版(2004,12)、「FPD International 2009 Forum T−11講演テキストブック」、「Cypress Semiconductor Corporation アプリケーションノートAN2292」等に開示されている構成を適用することができる。   The touch panel display device including the capacitive touch panel and the capacitive touch panel as a constituent element is “Latest Touch Panel Technology” (Techno Times, issued July 6, 2009), supervised by Yuji Mitani, “Touch Panel The configurations disclosed in “Technology and Development” CMC Publishing (2004, 12), “FPD International 2009 Forum T-11 Lecture Textbook”, “Cypress Semiconductor Corporation Application Note AN2292” and the like can be applied.

図2は、タッチパネルの機能を有する液晶表示装置の一例の構成概念図を示す。
本発明の硬化膜は、図2における、各層の間における保護膜に適用することが好適であり、また、タッチパネルの検出電極間を隔てる層間絶縁膜に適用することも好適である。なお、タッチパネルの検出電極としては、透明電極(ITO(Indium Tin Oxide)及びIZO(Indium Zinc Oxide)など)及び金属電極(銀、銅、モリブデン、チタン、アルミニウムなど、並びに、それらの積層体及び合金など)、又は、これらの積層体であることが好ましい。
図2において、110は画素基板を、140は液晶層を、120は対向基板を、130はセンサ部をそれぞれ示している。画素基板110は、図2の下側から順に、偏光板111、透明基板112、共通電極113、絶縁層114、画素電極115、配向膜116を有している。対向基板120は、図2の下側から順に、配向膜121、カラーフィルター122、透明基板123を有している。センサ部130は、位相差フィルム124、接着層126、偏光板127をそれぞれ有している。また、図2中、125は、センサ用検出電極である。本発明の硬化膜は、画素基板部分の絶縁層(114)(層間絶縁膜ともいう。)や各種保護膜(図示せず)、画素基板部分の各種保護膜(図示せず)、対向基板部分の各種保護膜(図示せず)、センサ部分の各種保護膜(図示せず)等に使用できる。
FIG. 2 is a conceptual diagram illustrating an example of a liquid crystal display device having a touch panel function.
The cured film of the present invention is preferably applied to the protective film between the layers in FIG. 2, and is also preferably applied to an interlayer insulating film that separates the detection electrodes of the touch panel. As the detection electrode of the touch panel, transparent electrodes (ITO (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Zinc Oxide), etc.) and metal electrodes (silver, copper, molybdenum, titanium, aluminum, etc., and their laminates and alloys Etc.) or a laminate of these.
2, 110 denotes a pixel substrate, 140 denotes a liquid crystal layer, 120 denotes a counter substrate, and 130 denotes a sensor unit. The pixel substrate 110 includes a polarizing plate 111, a transparent substrate 112, a common electrode 113, an insulating layer 114, a pixel electrode 115, and an alignment film 116 in order from the lower side of FIG. The counter substrate 120 includes an alignment film 121, a color filter 122, and a transparent substrate 123 in order from the lower side of FIG. The sensor unit 130 includes a retardation film 124, an adhesive layer 126, and a polarizing plate 127. In FIG. 2, reference numeral 125 denotes a sensor detection electrode. The cured film of the present invention includes an insulating layer (114) (also referred to as an interlayer insulating film) in the pixel substrate portion, various protective films (not shown), various protective films (not shown) in the pixel substrate portion, and a counter substrate portion. Can be used for various protective films (not shown), various protective films (not shown) for the sensor portion, and the like.

更に、スタティック駆動方式の液晶表示装置でも、本発明を適用することで意匠性の高いパターンを表示させることも可能である。例として、特開2001−125086号公報に記載されているようなポリマーネットワーク型液晶の絶縁膜として本発明を適用することができる。   In addition, a statically driven liquid crystal display device can display a pattern with high designability by applying the present invention. As an example, the present invention can be applied as an insulating film of a polymer network type liquid crystal as described in JP-A No. 2001-125086.

また、図3は、タッチパネルの機能を有する液晶表示装置の他の一例の構成概念図である。薄膜トランジスタ(TFT)440が具備された薄膜トランジスタ表示板に相当する下部表示板200、下部表示板200と対向して下部表示板200と対向する面に複数のカラーフィルター330が具備されたカラーフィルター表示板に相当する上部表示板300、及び、下部表示板200と上部表示板300の間に形成された液晶層400を含む。液晶層400は液晶分子(図示せず)を含む。   FIG. 3 is a conceptual diagram of the configuration of another example of a liquid crystal display device having a touch panel function. A lower display panel 200 corresponding to a thin film transistor panel provided with a thin film transistor (TFT) 440, and a color filter display panel provided with a plurality of color filters 330 on the surface facing the lower display panel 200 and facing the lower display panel 200. And the liquid crystal layer 400 formed between the lower display panel 200 and the upper display panel 300. The liquid crystal layer 400 includes liquid crystal molecules (not shown).

下部表示板200は、第1絶縁基板210、第1絶縁基板210の上に配置する薄膜トランジスタ(TFT)、薄膜トランジスタ(TFT)の上面に形成された絶縁膜280、及び絶縁膜280の上に配置する画素電極290を含む。薄膜トランジスタ(TFT)は、ゲート電極220、ゲート電極220を覆うゲート絶縁膜240、半導体層250、オーミックコンタクト層260、262、ソース電極270、及び、ドレイン電極272を含むことができる。絶縁膜280には薄膜トランジスタ(TFT)のドレイン電極272が露出するようにコンタクトホール282が形成されている。   The lower display panel 200 is disposed on the first insulating substrate 210, the thin film transistor (TFT) disposed on the first insulating substrate 210, the insulating film 280 formed on the upper surface of the thin film transistor (TFT), and the insulating film 280. A pixel electrode 290 is included. The thin film transistor (TFT) may include a gate electrode 220, a gate insulating film 240 covering the gate electrode 220, a semiconductor layer 250, ohmic contact layers 260 and 262, a source electrode 270, and a drain electrode 272. A contact hole 282 is formed in the insulating film 280 so that the drain electrode 272 of the thin film transistor (TFT) is exposed.

上部表示板300は、第2絶縁基板310の一面の上に配置して、マトリックス状に配列された遮光部材320、第2絶縁基板310の上に配置するカラーフィルター330、及び、遮光部材320及びカラーフィルター330の上に配置する配向膜350、及び、配向膜350の上に配置し、下部表示板200の画素電極290と対応して、液晶層400に電圧を印加する共通電極370を含む。   The upper display panel 300 is disposed on one surface of the second insulating substrate 310, and the light shielding members 320 arranged in a matrix, the color filter 330 disposed on the second insulating substrate 310, the light shielding members 320, and An alignment film 350 disposed on the color filter 330 and a common electrode 370 disposed on the alignment film 350 and applying a voltage to the liquid crystal layer 400 corresponding to the pixel electrode 290 of the lower display panel 200 are included.

図3に示す液晶表示装置において、第2絶縁基板310の他の一面にはタッチセンシング電極410、絶縁膜420、タッチ駆動電極430、及び、保護膜600を配置する。この液晶表示装置においては、上部表示板300を形成する時に、タッチスクリーンの構成要素であるセンシング電極410、絶縁膜420、及び、タッチ駆動電極430などを共に形成することができる。   In the liquid crystal display device illustrated in FIG. 3, the touch sensing electrode 410, the insulating film 420, the touch driving electrode 430, and the protective film 600 are disposed on the other surface of the second insulating substrate 310. In the liquid crystal display device, when the upper display panel 300 is formed, the sensing electrode 410, the insulating film 420, the touch drive electrode 430, and the like, which are components of the touch screen, can be formed together.

以下に実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。以下の実施例に示す材料、使用量、割合、処理内容、処理手順等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜、変更することができる。従って、本発明の範囲は以下に示す具体例に限定されるものではない。なお、特に断りのない限り、「部」、「%」は質量基準である。また、NMRは、核磁気共鳴の略称である。   The present invention will be described more specifically with reference to the following examples. The materials, amounts used, ratios, processing details, processing procedures, and the like shown in the following examples can be changed as appropriate without departing from the spirit of the present invention. Therefore, the scope of the present invention is not limited to the specific examples shown below. Unless otherwise specified, “part” and “%” are based on mass. NMR is an abbreviation for nuclear magnetic resonance.

<重量平均分子量(Mw)および数平均分子量(Mn)の測定>
MwおよびMnは、以下の条件でゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定した。
カラムの種類:TSK gel Super(東ソー)
展開溶媒:テトラヒドロフラン
カラム温度:40℃
流量(サンプル注入量):10μl
装置名: HLC−8220GPC(東ソー)
検量線ベース樹脂:ポリスチレン
<Measurement of weight average molecular weight (Mw) and number average molecular weight (Mn)>
Mw and Mn were measured by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions.
Column type: TSK gel Super (Tosoh)
Developing solvent: Tetrahydrofuran Column temperature: 40 ° C
Flow rate (sample injection volume): 10 μl
Device name: HLC-8220GPC (Tosoh)
Calibration curve base resin: polystyrene

<ポリシロキサンの合成例>
(A1−1の合成) 酸分解性基で保護されたカルボキシ基と、エポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
3−トリクロロシリル−1−シクロヘキシルカルボン酸メチルエステル12.4g(0.045mol)、グリシドキシプロピルトリクロロシラン11.2g(0.045mol)、メチルトリクロロシラン0.745g(0.005mol)、フェニルトリクロロシラン1.06g(0.005mol)をトルエン150gに溶解し、水300g中へ室温で撹拌しながら滴下添加した。滴下終了後、反応混合物より酸性水層を分離し、次いで水1Lで有機層を水洗し、水層が中性になってからさらに2回水洗を行った。有機層をエバポレーターにより溶媒留去した。その濃縮液を60℃で5時間加熱し、重合した。
重合物にテトラヒドロフラン800gを加えて溶解したものを、10%水酸化ナトリウム溶液1,000gへ滴下し、40℃で3時間加熱し、メチルエステル基を加水分解した。塩酸で酸性にしてポリマーを晶出し、濾過、乾燥を行いA1−1前駆体(A1−1のカルボキシ基がテトラヒドロフラニル保護されていないポリマー)を得た。
得られたA1−1前駆体の100gを、テトラヒドロフラン400mLに溶解させ、触媒量のp−トルエンスルホン酸を添加後、20℃で撹拌しながらジヒドロフラン30gをテトラヒドロフラン30gに溶解させた溶液を滴下した。
30分反応させた後、濃アンモニア水により中和し、水5Lに中和した反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン300mlに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、乾燥してA1−1を得た。A1−1は、テトラヒドロフラニル基で保護されたカルボキシ基と、カルボキシ基と、エポキシ基と、メチル基と、フェニル基とをそれぞれ側鎖に有するポリシロキサンであった。
1H−NMRによる分析により、A1−1においては、カルボキシ基の78モル%がテトラヒドロフラニル化されたことが分かった。
A1−1の合成に使用したシラン化合物の種類及びモル比を以下に示す。

Figure 2017049327
<Synthesis example of polysiloxane>
(Synthesis of A1-1) Synthesis of polysiloxane having a carboxyl group protected by an acid-decomposable group and an epoxy group 3-Trichlorosilyl-1-cyclohexylcarboxylic acid methyl ester 12.4 g (0.045 mol), 11.2 g (0.045 mol) of Sidoxypropyltrichlorosilane, 0.745 g (0.005 mol) of methyltrichlorosilane and 1.06 g (0.005 mol) of phenyltrichlorosilane were dissolved in 150 g of toluene and dissolved in 300 g of water at room temperature. Added dropwise with stirring. After completion of the dropwise addition, the acidic aqueous layer was separated from the reaction mixture, then the organic layer was washed with 1 L of water, and further washed twice with water after the aqueous layer became neutral. The organic layer was evaporated using an evaporator. The concentrate was heated at 60 ° C. for 5 hours to polymerize.
A polymer dissolved in 800 g of tetrahydrofuran was dropped into 1,000 g of a 10% sodium hydroxide solution and heated at 40 ° C. for 3 hours to hydrolyze the methyl ester group. The polymer was crystallized with hydrochloric acid, crystallized, filtered and dried to obtain A1-1 precursor (polymer in which the carboxyl group of A1-1 was not protected with tetrahydrofuranyl).
100 g of the obtained A1-1 precursor was dissolved in 400 mL of tetrahydrofuran, and after adding a catalytic amount of p-toluenesulfonic acid, a solution in which 30 g of dihydrofuran was dissolved in 30 g of tetrahydrofuran was added dropwise with stirring at 20 ° C. .
After reacting for 30 minutes, the reaction solution was neutralized with concentrated aqueous ammonia and neutralized with 5 L of water, and a white solid was obtained. This was filtered, dissolved in 300 ml of acetone, dropped into 5 L of water, filtered and dried to obtain A1-1. A1-1 was a polysiloxane having a carboxy group protected with a tetrahydrofuranyl group, a carboxy group, an epoxy group, a methyl group, and a phenyl group in side chains.
Analysis by 1H-NMR revealed that 78 mol% of the carboxy group was tetrahydrofuranylated in A1-1.
The kind and molar ratio of the silane compound used for the synthesis of A1-1 are shown below.
Figure 2017049327

(A1−2の合成) 酸分解性基で保護されたフェノール性水酸基と、エポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
4−ヒドロキシベンジルトリメトキシシラン114.2g(0.5モル)、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン94.5g(0.4モル)、メチルトリメトキシシラン6.8g(0.05モル)、フェニルトリメトキシシラン9.9g(0.05モル)、DAA(ジアセトンアルコール)250gを、三口フラスコに仕込み、室温で攪拌しながら、水54gにリン酸0.176g(仕込みシラン化合物に対して0.1質量%)を溶かしたリン酸水溶液を、30分かけて添加した。その後、三口フラスコを40℃のオイルバスに浸けて30分攪拌した後、60℃で5時間反応させた。
反応中に副生成物であるメタノールが留出した。得られたポリシロキサンのDAA溶液を多量の水に注いでポリマーを析出させ、ろ過、乾燥してA1−2前駆体を得た。
得られたA1―2前駆体の100gを、テトラヒドロフラン400mLに溶解させ、触媒量のp−トルエンスルホン酸を添加後、20℃で撹拌しながらエチルビニルエーテル30gをテトラヒドロフラン30gに溶解させた溶液を滴下した。
30分反応させた後、濃アンモニア水により中和し、水5Lに中和した反応液を滴下したところ、白色固体が得られた。これを濾過後、アセトン300mlに溶解させ、水5Lに滴下し、濾過後、乾燥してA1−2を得た。
GPCによるポリスチレン換算の重量平均分子量は5000であった。
1H−NMRによる分析において、A1−2においては、フェノール性水酸基の水素原子の70モル%がエトキシエチル化されたことが確認された。
A1−2の合成に使用したシラン化合物の種類及びモル比を以下に示す。

Figure 2017049327
(Synthesis of A1-2) Synthesis of polysiloxane having phenolic hydroxyl group protected with acid-decomposable group and epoxy group 4-hydroxybenzyltrimethoxysilane 114.2 g (0.5 mol), 3-glycid 94.5 g (0.4 mol) of xylpropyltrimethoxysilane, 6.8 g (0.05 mol) of methyltrimethoxysilane, 9.9 g (0.05 mol) of phenyltrimethoxysilane, 250 g of DAA (diacetone alcohol) Was added to a three-necked flask and an aqueous phosphoric acid solution in which 0.176 g of phosphoric acid (0.1% by mass with respect to the charged silane compound) was dissolved in 54 g of water was added over 30 minutes while stirring at room temperature. Thereafter, the three-necked flask was immersed in an oil bath at 40 ° C. and stirred for 30 minutes, and then reacted at 60 ° C. for 5 hours.
During the reaction, methanol as a by-product was distilled off. The obtained polysiloxane DAA solution was poured into a large amount of water to precipitate a polymer, filtered and dried to obtain an A1-2 precursor.
100 g of the obtained A1-2 precursor was dissolved in 400 mL of tetrahydrofuran, and after adding a catalytic amount of p-toluenesulfonic acid, a solution prepared by dissolving 30 g of ethyl vinyl ether in 30 g of tetrahydrofuran was added dropwise with stirring at 20 ° C. .
After reacting for 30 minutes, the reaction solution was neutralized with concentrated aqueous ammonia and neutralized with 5 L of water, and a white solid was obtained. This was filtered, dissolved in 300 ml of acetone, dropped into 5 L of water, filtered and dried to obtain A1-2.
The weight average molecular weight in terms of polystyrene by GPC was 5000.
In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that in A1-2, 70 mol% of the hydrogen atoms of the phenolic hydroxyl group were ethoxyethylated.
The kind and molar ratio of the silane compound used for the synthesis of A1-2 are shown below.
Figure 2017049327

(A1―3の合成) 酸分解性基で保護されたシラノール基と、エポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
フェニルトリメトキシシラン89.2g(0.45モル)、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン110.9g(0.45モル)、メタノール360gを三つ口フラスコに仕込み、撹拌しながら10℃以下に氷冷した。滴下ロートに0.1mol/Lの酢酸水溶液90gを仕込み、氷冷しながら滴下したところ、発熱を伴い加水分解縮合反応が進行した。内温を室温まで上昇させ、2時間撹拌熟成した後、エステルアダプターを設置し、加熱常圧にてメタノール留去を行った。内温がメタノールの沸点を超えるまで留去を続けることによって、白濁粘ちょうなポリシロキサン溶液を得た。この時、捕捉したメタノール量は382gであった。このポリシロキサン溶液に酢酸エチル300gを添加し、溶解した溶液を純水にて2回水洗を行った。このポリシロキサン溶液をロータリーエバポレーターにて濃縮することにより、無色透明のポリシロキサン溶液を233g(固形分濃度62.2質量%)得た。
得られたポリシロキサン溶液80.4gを酢酸エチル溶液からテトラヒドロフラン溶液(固形分濃度20質量%)に溶媒置換した後、三つ口フラスコに仕込み、メタンスルホン酸1.0g(0.01モル)を添加した。
次に、10℃以下に氷冷し撹拌しながら、エチル−1−プロペニルエーテル19.4g(0.23モル)を滴下ロートにて内温を10℃以下に保ちながら滴下した。滴下後室温にて2時間反応させた後、トリエチルアミン1.0g(0.01モル)を添加し反応を終了した。反応液を1Lナスフラスコに移し、常温減圧下ロータリーエバポレーターにてテトラヒドロフランを留去し、メチルイソブチルケトン300g及び0.01mol/L酢酸水溶液250mLを添加し反応液を水洗浄した。この洗浄操作を合計3回繰り返した後、有機層を分離、ロータリーエバポレーターにて濃縮して、シラノール基がアセタール保護されたポリシロキサンA1−3を49.0g得た。
1H−NMRによる分析において、A1ー4においては、シラノール基の32.5モル%がアセタール化されたことが確認された。
(Synthesis of A1-3) Synthesis of polysiloxane having silanol group protected with acid-decomposable group and epoxy group Phenyltrimethoxysilane 89.2 g (0.45 mol), 2- (3,4-epoxy Cyclohexyl) ethyltrimethoxysilane (110.9 g, 0.45 mol) and methanol (360 g) were charged into a three-necked flask and cooled with ice to 10 ° C. or lower with stirring. When 90 g of 0.1 mol / L acetic acid aqueous solution was charged into the dropping funnel and dropped while cooling with ice, hydrolysis condensation reaction proceeded with heat generation. After raising the internal temperature to room temperature and aging for 2 hours, an ester adapter was installed, and methanol was distilled off under heating and normal pressure. Distillation was continued until the internal temperature exceeded the boiling point of methanol to obtain a cloudy viscous polysiloxane solution. At this time, the amount of captured methanol was 382 g. To this polysiloxane solution, 300 g of ethyl acetate was added, and the dissolved solution was washed twice with pure water. The polysiloxane solution was concentrated with a rotary evaporator to obtain 233 g of a colorless and transparent polysiloxane solution (solid content concentration: 62.2% by mass).
The resulting polysiloxane solution 80.4 g was solvent-substituted from an ethyl acetate solution to a tetrahydrofuran solution (solid content concentration 20% by mass), and then charged into a three-necked flask. Added.
Next, 19.4 g (0.23 mol) of ethyl-1-propenyl ether was added dropwise while keeping the internal temperature at 10 ° C. or less with a dropping funnel while cooling with ice at 10 ° C. or lower and stirring. After dropping, the mixture was reacted at room temperature for 2 hours, and then 1.0 g (0.01 mol) of triethylamine was added to complete the reaction. The reaction solution was transferred to a 1 L eggplant flask, tetrahydrofuran was distilled off with a rotary evaporator under reduced pressure at normal temperature, 300 g of methyl isobutyl ketone and 250 mL of 0.01 mol / L acetic acid aqueous solution were added, and the reaction solution was washed with water. After repeating this washing operation three times in total, the organic layer was separated and concentrated by a rotary evaporator to obtain 49.0 g of polysiloxane A1-3 in which silanol groups were acetal protected.
In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that in A1-4, 32.5 mol% of the silanol group was acetalized.

(A1−4の合成) 酸分解性基で保護されたカルボキシ基と、エポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、保護基の種類と量を調整した以外はA1−1と同様にして、下記シラン化合物を混合、反応させ、高分子反応で保護基を導入し、A1ー4を合成した。
1H−NMRによる分析において、A1ー4においては、カルボキシ基の78モル%がテトラヒドロフラニル化されたことが確認された。

Figure 2017049327
(Synthesis of A1-4) Synthesis of polysiloxane having a carboxyl group protected with an acid-decomposable group and an epoxy group The silane compound is used in the following compounds and molar ratios, and the type and amount of the protecting group are determined. Except for the adjustment, the following silane compounds were mixed and reacted in the same manner as A1-1, and a protective group was introduced by a polymer reaction to synthesize A1-4.
In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that 78 mol% of the carboxy group was tetrahydrofuranylated in A1-4.
Figure 2017049327

(A1−5合成) 酸分解性基で保護されたカルボキシ基と、エポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、保護基をエトキシエチル基に変更して量を調整した以外はA1−1と同様にして、下記シラン化合物を混合、反応させ、高分子反応で保護基を導入し、A1−5を合成した。
1H−NMRによる分析において、A1−5においては、カルボキシ基の70モル%がエトキシエチル化されたことが確認された。

Figure 2017049327
(Synthesis of A1-5) Synthesis of polysiloxane having a carboxyl group protected with an acid-decomposable group and an epoxy group The silane compound is used in the following compounds and molar ratios, and the protective group is changed to an ethoxyethyl group. In the same manner as in A1-1 except that the amount was adjusted, the following silane compounds were mixed and reacted, a protective group was introduced by a polymer reaction, and A1-5 was synthesized.
In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that 70 mol% of the carboxy group was ethoxyethylated in A1-5.
Figure 2017049327

(A1−6合成) 酸分解性基で保護されたカルボキシ基と、エポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、保護基の種類と量を調整した以外は、A1-1と同様にして、下記シラン化合物を混合、反応させ、高分子反応で保護基を導入し、A1−5を合成した。
1H−NMRによる分析において、A1−5においては、カルボキシ基の82モル%がテトラヒドロフラニル化されたことが確認された。

Figure 2017049327
(Synthesis of A1-6) Synthesis of polysiloxane having a carboxyl group protected with an acid-decomposable group and an epoxy group The silane compound is used in the following compounds and molar ratios, and the kind and amount of the protecting group are adjusted. Except for the above, A1-5 was synthesized by mixing and reacting the following silane compounds in the same manner as A1-1, introducing a protecting group by polymer reaction.
The analysis by 1 H-NMR confirmed that 82 mol% of the carboxy group was tetrahydrofuranylated in A1-5.
Figure 2017049327

(A1−7合成) 酸分解性基で保護されたカルボキシ基と、エポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
撹拌機付の容器内に、プロピレングリコールモノメチルエーテル100質量部を仕込み、続いて、メチルトリメトキシシランの1.36質量部と、フェニルトリメトキシシランの1.98質量部と、3−トリメトキシシリルプロピルコハク酸無水物の10.4質量部と、グリシドキシプロピルトリメトキシシランの9.44質量部とを仕込み、溶液温度が60℃になるまで加熱した。
溶液温度が60℃に到達後、リン酸0.1質量部、イオン交換水9質量部を仕込み、75℃になるまで加熱し、2時間保持した。45℃に冷却後、脱水剤としてオルト蟻酸メチル20質量部を加え、1時間攪拌した。さらに、溶液温度を40℃にし、温度を保ちながらエバポレーションすることで、イオン交換水および加水分解縮合で発生したメタノールを除去した。以上により、A1−7前駆体を得た。A1−7前駆体は、重量平均分子量(Mw)が4000であり、分散度(Mw/Mn(数平均分子量))が2.0であった。
A1−7前駆体のFT−IR(フーリエ変換型赤外分光)分析を行った結果、2500cm−1〜3000cm-1付近のカルボキシル基由来のOH基によるブロードな吸収帯を確認したことから、3−トリメトキシシリルプロピルコハク酸由来のコハク酸残基が加水分解し、カルボキシル基を有していることを確認した。
(Synthesis of A1-7) Synthesis of polysiloxane having a carboxyl group protected with an acid-decomposable group and an epoxy group 100 parts by mass of propylene glycol monomethyl ether was charged into a vessel equipped with a stirrer, 1.36 parts by mass of methoxysilane, 1.98 parts by mass of phenyltrimethoxysilane, 10.4 parts by mass of 3-trimethoxysilylpropyl succinic anhydride, and 9.9 parts of glycidoxypropyltrimethoxysilane. 44 parts by mass were charged and heated until the solution temperature reached 60 ° C.
After the solution temperature reached 60 ° C., 0.1 part by mass of phosphoric acid and 9 parts by mass of ion-exchanged water were charged, heated to 75 ° C. and held for 2 hours. After cooling to 45 ° C., 20 parts by mass of methyl orthoformate was added as a dehydrating agent and stirred for 1 hour. Furthermore, the solution temperature was set to 40 ° C., and evaporation was performed while maintaining the temperature, thereby removing ion-exchanged water and methanol generated by hydrolysis and condensation. Thus, an A1-7 precursor was obtained. The A1-7 precursor had a weight average molecular weight (Mw) of 4000 and a dispersity (Mw / Mn (number average molecular weight)) of 2.0.
As a result of FT-IR (Fourier transform infrared spectroscopy) analysis of the A1-7 precursor, a broad absorption band due to OH groups derived from carboxyl groups in the vicinity of 2500 cm- 1 to 3000 cm −1 was confirmed. -It confirmed that the succinic acid residue derived from trimethoxysilylpropyl succinic acid hydrolyzed and had a carboxyl group.

次いで、得られたA1−7前駆体溶液に、エチルビニルエーテルを40質量部加え、室温で3時間撹拌した。再沈殿、ろ過、乾燥することでA1−7を得た。1H−NMRによる分析において、A1−7においては、カルボキシ基の約60モル%がテトラヒドロフラニル化されたことが確認された。

Figure 2017049327
Next, 40 parts by mass of ethyl vinyl ether was added to the obtained A1-7 precursor solution, and the mixture was stirred at room temperature for 3 hours. A1-7 was obtained by reprecipitation, filtration, and drying. In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that about 60 mol% of the carboxy group was tetrahydrofuranylated in A1-7.
Figure 2017049327

(A2−1の合成) 酸分解性基で保護されたカルボキシ基を有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、保護基の種類と量を調整した以外はA1−1と同様にして下記シラン化合物を混合、反応させてA2−1前駆体を得た(カルボキシ基がテトラヒドロフランで保護される前のポリシロキサン)。
A2−1前駆体に対し、高分子反応で保護基を導入して、A2−1を合成した。1H−NMRによる分析において、A2−1においては、カルボキシ基の90モル%がテトラヒドロフラニル化されたことが確認された。GPCによるポリスチレン換算の重量平均分子量は5000であった。

Figure 2017049327
(Synthesis of A2-1) Synthesis of polysiloxane having a carboxy group protected with an acid-decomposable group A1 except that the silane compound was used in the following compounds and molar ratios, and the type and amount of the protecting group were adjusted. In the same manner as in -1, the following silane compound was mixed and reacted to obtain an A2-1 precursor (polysiloxane before the carboxy group was protected with tetrahydrofuran).
A2-1 was synthesized by introducing a protecting group to the A2-1 precursor by a polymer reaction. In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that 90 mol% of the carboxy group was tetrahydrofuranylated in A2-1. The weight average molecular weight in terms of polystyrene by GPC was 5000.
Figure 2017049327

(A2−2の合成) 酸分解性基で保護されたフェノール性水酸基を有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、保護基の種類と量を調整した以外はA1−2と同様にして、下記シラン化合物を混合、反応させ、高分子反応で保護基を導入し、A2−2を合成した。1H−NMRによる分析において、A2−2においては、フェノール性水酸基の水素原子の85モル%がエトキシエチル化されたことが確認された。GPCによるポリスチレン換算の重量平均分子量は6000であった。

Figure 2017049327
(Synthesis of A2-2) Synthesis of polysiloxane having a phenolic hydroxyl group protected with an acid-decomposable group The silane compound was used in the following compounds and molar ratios, and the kind and amount of the protective group were adjusted. In the same manner as A1-2, the following silane compounds were mixed and reacted, and a protective group was introduced by a polymer reaction to synthesize A2-2. In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that in A2-2, 85 mol% of the hydrogen atoms of the phenolic hydroxyl group were ethoxyethylated. The weight average molecular weight in terms of polystyrene by GPC was 6000.
Figure 2017049327

(A2―3の合成) 酸分解性基で保護されたシラノール基を有するポリシロキサンの合成
フェニルトリメトキシシラン99.1g(0.5モル)、ジメチルジメトキシシラン60.1g(0.5モル)、メタノール277gを三口フラスコに仕込み、撹拌しながら10℃以下に氷冷した。滴下ロートに0.1mol/Lのメタンスルホン酸水溶液84gを仕込み、氷冷しながら滴下したところ、発熱を伴い加水分解縮合反応が進行した。内温を室温まで上昇させ、2時間撹拌熟成した後、エステルアダプターを設置し、加熱常圧にてメタノール留去を行った。内温がメタノールの沸点を超えるまで留去を続けることによって、白濁粘ちょうなポリシロキサン溶液を得た。この時、捕捉したメタノール量は280gであった。このポリシロキサン溶液に酢酸エチル200gを添加し、溶解した溶液を純水にて2回水洗を行った。このポリシロキサン溶液をロータリーエバポレーターにて濃縮することにより、無色透明のポリシロキサン溶液を185g(固形分濃度60.5質量%)得た。このポリシロキサンのGPCによるポリスチレン換算の重量平均分子量は3800であった。
得られたポリシロキサン82.6gを酢酸エチル溶液からテトラヒドロフラン溶液(シロキサン濃度20質量%)に溶媒置換した後、三つ口フラスコに仕込み、メタンスルホン酸1.0g(0.01モル)を添加した。
次に、10℃以下に氷冷し撹拌しながら、3,4−ジヒドロー2H−ピラン23.6g(0.28モル)を滴下ロートにて内温を10℃以下に保ちながら滴下した。滴下後室温にて2時間反応させた後、トリエチルアミン1.0g(0.01モル)を添加し反応を終了した。反応液をナスフラスコに移し、常温減圧下ロータリーエバポレーターにてテトラヒドロフランを留去し、メチルイソブチルケトン300g及び0.01mol/L酢酸水溶液250mLを添加し反応液を水洗浄した。この洗浄操作を合計3回繰り返した後、有機層を分離、ロータリーエバポレーターにて濃縮して、無色透明のアセタール化ポリシロキサンA2―3を48.4g得た。
1H−NMRによる分析において、A2−3においては、シラノール基の61.5モル%がアセタール化されていることが確認された。
(Synthesis of A2-3) Synthesis of polysiloxane having silanol group protected with acid-decomposable group 99.1 g (0.5 mol) of phenyltrimethoxysilane, 60.1 g (0.5 mol) of dimethyldimethoxysilane, 277 g of methanol was charged into a three-necked flask and ice-cooled to 10 ° C. or lower with stirring. When 84 g of a 0.1 mol / L methanesulfonic acid aqueous solution was charged into the dropping funnel and dropped while cooling with ice, hydrolysis condensation reaction proceeded with heat generation. After raising the internal temperature to room temperature and aging for 2 hours, an ester adapter was installed, and methanol was distilled off under heating and normal pressure. Distillation was continued until the internal temperature exceeded the boiling point of methanol to obtain a cloudy viscous polysiloxane solution. At this time, the amount of captured methanol was 280 g. 200 g of ethyl acetate was added to the polysiloxane solution, and the dissolved solution was washed twice with pure water. The polysiloxane solution was concentrated with a rotary evaporator to obtain 185 g of a colorless and transparent polysiloxane solution (solid content concentration: 60.5% by mass). The weight average molecular weight of this polysiloxane in terms of polystyrene by GPC was 3800.
The resulting polysiloxane (82.6 g) was solvent-substituted from an ethyl acetate solution to a tetrahydrofuran solution (siloxane concentration: 20% by mass), then charged into a three-necked flask, and 1.0 g (0.01 mol) of methanesulfonic acid was added. .
Next, 23.6 g (0.28 mol) of 3,4-dihydro-2H-pyran was added dropwise while keeping the internal temperature at 10 ° C. or lower with a dropping funnel while cooling with ice at 10 ° C. or lower and stirring. After dropping, the mixture was reacted at room temperature for 2 hours, and then 1.0 g (0.01 mol) of triethylamine was added to complete the reaction. The reaction solution was transferred to an eggplant flask, tetrahydrofuran was distilled off with a rotary evaporator under reduced pressure at room temperature, 300 g of methyl isobutyl ketone and 250 mL of 0.01 mol / L acetic acid aqueous solution were added, and the reaction solution was washed with water. After repeating this washing operation three times in total, the organic layer was separated and concentrated by a rotary evaporator to obtain 48.4 g of colorless and transparent acetalized polysiloxane A2-3.
In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that 61.5 mol% of the silanol group was acetalized in A2-3.

(A2−4合成)酸分解性基で保護されたカルボキシ基を有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、保護基をエトキシエチル基に変更して量を調整した以外はA1−1と同様にして、下記シラン化合物を混合、反応させ、高分子反応で保護基を導入し、A2−4を合成した。1H−NMRによる分析において、A2−4は、カルボキシ基の85モル%がエトキシエチル化されたことが確認された。

Figure 2017049327
(A2-4 synthesis) Synthesis of polysiloxane having a carboxy group protected with an acid-decomposable group Using a silane compound in the following compounds and molar ratio, the amount is adjusted by changing the protecting group to an ethoxyethyl group. A2-4 was synthesized in the same manner as A1-1 except that the following silane compounds were mixed and reacted and a protective group was introduced by a polymer reaction. In the analysis by 1 H-NMR, it was confirmed that A2-4 was ethoxyethylated in 85 mol% of the carboxy group.
Figure 2017049327

(A3−1の合成) カルボキシ基とエポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、ジヒドロフランによる保護反応を行わない以外はA1−1と同様にして下記シラン化合物を混合、反応、脱エチルさせ、カルボキシ基とエポキシ基とを有するポリシロキサンA3−1を合成した。GPCによるポリスチレン換算の重量平均分子量は5000であった。

Figure 2017049327
(Synthesis of A3-1) Synthesis of polysiloxane having a carboxy group and an epoxy group A silane compound was used in the following compounds and molar ratios, and the same reaction as A1-1 was conducted except that a protective reaction with dihydrofuran was not performed. The following silane compounds were mixed, reacted, and deethylated to synthesize polysiloxane A3-1 having a carboxy group and an epoxy group. The weight average molecular weight in terms of polystyrene by GPC was 5000.
Figure 2017049327

(A3−2の合成) フェノール性水酸基とエポキシ基とを有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、保護基導入を行わないこと以外はA1−2と同様にして、下記シラン化合物を混合、反応させ、A3−2を合成した。GPCによるポリスチレン換算の重量平均分子量は6000であった。

Figure 2017049327
(Synthesis of A3-2) Synthesis of polysiloxane having phenolic hydroxyl group and epoxy group As in A1-2, except that a silane compound is used in the following compounds and molar ratio and no protective group is introduced. Then, the following silane compounds were mixed and reacted to synthesize A3-2. The weight average molecular weight in terms of polystyrene by GPC was 6000.
Figure 2017049327

(A3−3の合成) カルボキシ基とオキセタニル基とを有するポリシロキサンの合成
シラン化合物を、以下に示す化合物及びモル比で使用し、保護基導入を行わないこと以外はA1−1と同様にして、下記シラン化合物を混合、反応させ、A3−3を合成した。
GPCによるポリスチレン換算の重量平均分子量は6000であった。

Figure 2017049327
(Synthesis of A3-3) Synthesis of polysiloxane having a carboxy group and an oxetanyl group Similar to A1-1 except that a silane compound is used in the following compounds and molar ratio and no protective group is introduced. The following silane compounds were mixed and reacted to synthesize A3-3.
The weight average molecular weight in terms of polystyrene by GPC was 6000.
Figure 2017049327

<化合物Sの合成例>
(S−1の合成)
撹拌機、温度計、窒素導入口を備えた4つ口フラスコに、メタクリル酸56.0g(0.65mol)、硫酸0.13g、トルエン111gを入れた。窒素雰囲気下、23℃に液温を保ち、撹拌しつつ、2−(パーフルオロヘキシル)エチルビニルエーテル(CHEMINOX FAVE−6、ユニマテック(株)製、下記構造(A))50.7g(0.13mol)を2時間かけて添加し、添加終了後、さらに4.5時間撹拌した。反応液を10質量%炭酸ナトリウム水溶液345g中に添加し、撹拌した。有機層を分離し、10質量%炭酸ナトリウム水溶液110gで3回、純水112gで2回洗浄した後、減圧濃縮した。濃縮液をさらに減圧蒸留にて精製することにより、2−(パーフルオロヘキシル)エチルメタクリレート(下記構造(B))を得た。
次に、撹拌機、温度計、滴下ロート及び窒素導入管を備えたセパラブルフラスコに、ジエチレングリコールエチルメチルエーテル(MEDG)を33g導入し、65℃に昇温した。
次に、2−(パーフルオロヘキシル)エチルメタクリレート(下記構造(B))の2.0gと、ヘキサブチレングリコールメタクリレート(下記構造(C))の8.0gと、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(和光純薬工業(株)製、商品名「V−65」)0.40gと、MEDGの68gとを混合した溶液を、前述の65℃に昇温したセパラブルフラスコ内に6時間かけて滴下した。滴下後2時間熟成した。
得られた反応液をヘプタン700gに滴下し、沈殿したポリマーをヌッチェにて回収した。
得られたポリマーを減圧下で乾燥し、目的とするS−1を得た。S−1の重量平均分子量(Mw)は1900、分散度(Mw/Mn)は1.74であった。

Figure 2017049327
<Synthesis Example of Compound S>
(Synthesis of S-1)
In a four-necked flask equipped with a stirrer, a thermometer, and a nitrogen inlet, methacrylic acid 56.0 g (0.65 mol), sulfuric acid 0.13 g, and toluene 111 g were placed. While maintaining the liquid temperature at 23 ° C. in a nitrogen atmosphere and stirring, 50.7 g (0.13 mol) of 2- (perfluorohexyl) ethyl vinyl ether (CHEMINOX FAVE-6, manufactured by Unimatec Co., Ltd., the following structure (A)) ) Was added over 2 hours, and after completion of the addition, the mixture was further stirred for 4.5 hours. The reaction solution was added to 345 g of a 10% by mass sodium carbonate aqueous solution and stirred. The organic layer was separated, washed 3 times with 110 g of 10% by weight aqueous sodium carbonate solution and twice with 112 g of pure water, and then concentrated under reduced pressure. The concentrated liquid was further purified by distillation under reduced pressure to obtain 2- (perfluorohexyl) ethyl methacrylate (the following structure (B)).
Next, 33 g of diethylene glycol ethyl methyl ether (MEDG) was introduced into a separable flask equipped with a stirrer, a thermometer, a dropping funnel and a nitrogen introducing tube, and the temperature was raised to 65 ° C.
Next, 2.0 g of 2- (perfluorohexyl) ethyl methacrylate (the following structure (B)), 8.0 g of hexabutylene glycol methacrylate (the following structure (C)), and 2,2′-azobis (2 , 4-dimethylvaleronitrile) (trade name “V-65”, manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) and a solution obtained by mixing 68 g of MEDG with a separable that was heated to 65 ° C. The solution was dropped into the flask over 6 hours. After dropping, the mixture was aged for 2 hours.
The obtained reaction solution was dropped into 700 g of heptane, and the precipitated polymer was recovered with Nutsche.
The obtained polymer was dried under reduced pressure to obtain the target S-1. The weight average molecular weight (Mw) of S-1 was 1900, and dispersity (Mw / Mn) was 1.74.
Figure 2017049327

(S−2〜S−33の合成)
下記表に記載のポリマーができるように原料を適宜変更したこと以外は、S−1と同様にしてS−2〜S−33を合成した。

Figure 2017049327
(Synthesis of S-2 to S-33)
S-2 to S-33 were synthesized in the same manner as S-1 except that the raw materials were appropriately changed so that the polymers described in the following table were formed.
Figure 2017049327

<感光性組成物の調製>
下記表に示す材料を混合、撹拌、溶解して溶液とし、孔径0.4μmのポリエチレン製フィルターでろ過し、更に孔径0.1μmのポリテトラフルオロエチレン製フィルターでろ過して、感光性組成物を得た。表中の特に単位を付していない数値は質量部である。
なお、ポリシロキサンは、固形分が表記載の量となるように添加した。すなわち、固形で得た場合はその固形分を表記載の量添加し、溶液で得た場合は固形分が表記載の量になるようにその溶液を添加した。
<Preparation of photosensitive composition>
The materials shown in the following table are mixed, stirred and dissolved to form a solution, filtered through a polyethylene filter having a pore size of 0.4 μm, and further filtered through a polytetrafluoroethylene filter having a pore size of 0.1 μm to obtain a photosensitive composition. Obtained. The numerical value which does not attach | subject the unit in particular in a table | surface is a mass part.
Polysiloxane was added so that the solid content would be the amount shown in the table. That is, when it was obtained as a solid, the solid content was added in the amount shown in the table, and when it was obtained as a solution, the solution was added so that the solid content was the amount shown in the table.

実施例および比較例に用いた各化合物を示す略号の詳細は、以下の通りである。
(ポリシロキサン)
上記のA1−1〜A1−6、A2−1〜A2−4、A3−1〜A3−3を用いた。
(化合物S)
上記に示すS−1〜S−33を用いた。
The details of the abbreviations indicating the compounds used in Examples and Comparative Examples are as follows.
(Polysiloxane)
The above A1-1 to A1-6, A2-1 to A2-4, and A3-1 to A3-3 were used.
(Compound S)
S-1 to S-33 shown above were used.

(光酸発生剤)
B−1:下記に示す構造(PAG−103、BASF製、pKa3以下の酸を発生する光酸発生剤)

Figure 2017049327
B−2:下記に示す構造(PAI−101、みどり化学(株)製、pKa3以下の酸を発生する光酸発生剤)、Meはメチル基を表す。
Figure 2017049327
B−3:下記に示す構造(pKa3以下の酸を発生する光酸発生剤)
Figure 2017049327
B−4:下記に示す構造(Tsはトシル基を表す、pKa3以下の酸を発生する光酸発生剤)
Figure 2017049327
B−5:下記に示す構造(pKa3以下の酸を発生する光酸発生剤)
Figure 2017049327
B−6:下記に示す構造(GSID−26−1、トリアリールスルホニウム塩(BASF製)、pKa3以下の酸を発生する光酸発生剤)
Figure 2017049327
(Photoacid generator)
B-1: Structure shown below (PAG-103, manufactured by BASF, photoacid generator that generates acid of pKa3 or less)
Figure 2017049327
B-2: Structure shown below (PAI-101, manufactured by Midori Kagaku Co., Ltd., a photoacid generator that generates an acid of pKa3 or less), Me represents a methyl group.
Figure 2017049327
B-3: Structure shown below (a photoacid generator that generates an acid having a pKa of 3 or less)
Figure 2017049327
B-4: Structure shown below (Ts represents a tosyl group, a photoacid generator that generates an acid having a pKa of 3 or less)
Figure 2017049327
B-5: Structure shown below (photoacid generator that generates an acid having a pKa of 3 or less)
Figure 2017049327
B-6: Structure shown below (GSID-26-1, triarylsulfonium salt (manufactured by BASF), photoacid generator that generates an acid of pKa3 or less)
Figure 2017049327

(溶剤)
C−1:ジエチレングリコールエチルメチルエーテル
C−2:プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート
C−3:γ-ブチロラクトン
C−4:1、3ーブチレングリコールジアクリレート
(solvent)
C-1: Diethylene glycol ethyl methyl ether C-2: Propylene glycol monomethyl ether acetate C-3: γ-butyrolactone C-4: 1, 3-butylene glycol diacrylate

(塩基性化合物)
DBU:1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデカ−7−エン
TPI:トリフェニルイミダゾール
(Basic compound)
DBU: 1,8-diazabicyclo [5.4.0] undec-7-ene TPI: triphenylimidazole

(アルコキシシラン化合物)
KBM−403:KBM−403、信越シリコーン(株)製
KBM−303:KBM−303、信越シリコーン(株)製
KBE−403:KBE−403、信越シリコーン(株)製
KBM−5103:KBM−5103、信越シリコーン(株)製
(Alkoxysilane compound)
KBM-403: KBM-403, Shin-Etsu Silicone Co., Ltd. KBM-303: KBM-303, Shin-Etsu Silicone Co., Ltd. KBE-403: KBE-403, Shin-Etsu Silicone Co., Ltd. KBM-5103: KBM-5103, Made by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd.

(その他成分)
DPHA:KAYARAD DPHA(日本化薬(株)製、架橋剤)
JER:JER157S60(三菱化学(株)製、架橋剤)
AO−60:アデカスタブAO−60((株)ADEKA製)
TA:トリメリット酸
DBA:9,10−ジブトキシアントラセン
S’−1:下記構造(構成単位S’−1−1:構成単位S’−1−2=20:80(質量比)、Mw=2600)

Figure 2017049327
S’−2:下記構造(構成単位S’−2−1:構成単位S’−2−2=20:80(質量比)、Mw=2600)
Figure 2017049327
(Other ingredients)
DPHA: KAYARAD DPHA (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., cross-linking agent)
JER: JER157S60 (Mitsubishi Chemical Corporation, cross-linking agent)
AO-60: ADK STAB AO-60 (manufactured by ADEKA)
TA: trimellitic acid DBA: 9,10-dibutoxyanthracene S′-1: the following structure (structural unit S′-1-1: structural unit S′-1-2 = 20: 80 (mass ratio), Mw = 2600)
Figure 2017049327
S′-2: The following structure (structural unit S′-2-1: structural unit S′-2-2 = 20: 80 (mass ratio), Mw = 2600)
Figure 2017049327

<評価>
(塗布性)
HMDS(ヘキサメチルジシラザン)処理を施した1,500mm×1,800mmのCr蒸着ガラス基板(ガラスはEAGLE2000、コーニング社)上に、各感光性組成物をスリットダイにより塗布速度100mm/sec、塗布ギャップ100μmの条件で塗布流速を調整しながら乾燥膜厚2.0μmとなるように塗布し、減圧乾燥チャンバーにて到達真空度0.05kPa(0.4Torr)となるように真空乾燥した。この乾燥した基板をホットプレートにて95℃、120秒で乾燥させた後、暗所にてNaランプ、白色灯及びグリーンランプを使用して観察し塗布スジ、乾燥ムラを以下の基準で評価した。
1〜4が実用範囲である。
1:塗布スジおよび塗布ムラがない。
2:塗布スジはないが、塗布ムラが僅かにある。
3:塗布スジが基板周辺部のみ僅かにあり、かつ、塗布ムラが僅かにある。
4:塗布スジが基板中央部に僅かにあり、かつ、塗布ムラが僅かにある。
5:塗布スジ及び又は塗布ムラが、基板全面にある。
<Evaluation>
(Applicability)
Each photosensitive composition was applied at a coating speed of 100 mm / sec on a 1,500 mm × 1,800 mm Cr vapor-deposited glass substrate (glass is EAGLE2000, Corning) treated with HMDS (hexamethyldisilazane) using a slit die. The coating was applied so as to have a dry film thickness of 2.0 μm while adjusting the coating flow rate under the condition of a gap of 100 μm, and vacuum-dried in a vacuum drying chamber so that the ultimate vacuum was 0.05 kPa (0.4 Torr). The dried substrate was dried on a hot plate at 95 ° C. for 120 seconds, and then observed in the dark using a Na lamp, white lamp and green lamp, and coating streaks and drying unevenness were evaluated according to the following criteria. .
1-4 is a practical range.
1: There are no coating stripes and coating unevenness.
2: There are no coating stripes, but there is slight coating unevenness.
3: There are a few coating stripes only at the periphery of the substrate, and there are slight coating unevenness.
4: There are a few coating stripes at the center of the substrate, and there are slight coating unevenness.
5: There are coating stripes and / or coating unevenness on the entire surface of the substrate.

(上層との密着性)
塗布性評価と同様に作製した基板を、FHD−5(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ(株)製)の21%水溶液にて覆い60秒静止した。静止後純水をシャワー状に散布して現像液を洗い流した後自然乾燥させた。更に乾燥後の基板を、230℃にて60分間加熱した後、100mm×100mmサイズに切り出した。上記小片となった基板をアルバック(株)製ITO(Indium Tin Oxide)スパッタ装置SME−200Eを用いて、スパッタ温度23℃、膜厚50nmとなるようにITOを成膜し、220℃、30分間加熱した。得られたITO付き基板上にてJIS K5600−5−6:1999に従って2mm間隔に切れ目を入れてクロスカット試験を行いITOの密着性を評価した。1〜4が実用範囲である。
1:硬化膜表面から剥がれたITO膜の合計面積が3%未満
2:硬化膜表面から剥がれたITO膜の合計面積が3%以上8%未満
3:硬化膜表面から剥がれたITO膜の合計面積が8%以上15%未満
4:硬化膜表面から剥がれたITO膜の合計面積が15%以上25%未満
5:硬化膜表面から剥がれたITO膜の合計面積が25%以上
(Adhesion with upper layer)
The substrate produced in the same manner as in the applicability evaluation was covered with a 21% aqueous solution of FHD-5 (manufactured by FUJIFILM Electronics Materials Co., Ltd.) and allowed to stand for 60 seconds. After standing still, pure water was sprayed in the form of a shower to wash away the developer and then air dried. Further, the dried substrate was heated at 230 ° C. for 60 minutes, and then cut into a size of 100 mm × 100 mm. Using the ITO (Indium Tin Oxide) sputtering apparatus SME-200E manufactured by ULVAC, Inc., the substrate having become a small piece was formed into an ITO film at a sputtering temperature of 23 ° C. and a film thickness of 50 nm, and 220 ° C. for 30 minutes. Heated. On the obtained substrate with ITO, a cross-cut test was carried out with a score of 2 mm in accordance with JIS K5600-5-6: 1999 to evaluate the adhesion of ITO. 1-4 is a practical range.
1: Total area of ITO film peeled off from cured film surface is less than 3% 2: Total area of ITO film peeled off from cured film surface is 3% or more and less than 8% 3: Total area of ITO film peeled off from cured film surface 8% or more and less than 15% 4: Total area of ITO film peeled off from cured film surface is 15% or more and less than 25% 5: Total area of ITO film peeled off from cured film surface is 25% or more

<耐熱性>
塗布性評価と同様に作製した基板を、FHD−5(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ(株)製)の21質量%水溶液(現像液)にて覆い60秒静止した。静止後純水をシャワー状に散布して現像液を洗い流した後自然乾燥させた。更に基板を窒素雰囲気下、230℃にて60分間加熱処理を行い、硬化膜の膜厚(t0)を測定した。更に耐熱試験として、得られた硬化膜を、窒素雰囲気下にて、オーブンで320℃、60分加熱した。加熱後の硬化膜の膜厚(t1)を測定した。耐熱試験前後での膜厚変化率を以下の式より算出した。以下の評価基準で、AおよびBが実用範囲である。
膜厚変化率(%)=(|t0−t1|/t0)×100
A:膜厚変化率5%未満
B:膜厚変化率5%以上10%未満
C:膜厚変化率10%以上
<Heat resistance>
The substrate produced in the same manner as in the applicability evaluation was covered with a 21% by weight aqueous solution (developer) of FHD-5 (manufactured by FUJIFILM Electronics Materials) and left still for 60 seconds. After standing still, pure water was sprayed in the form of a shower to wash away the developer and then air dried. Further, the substrate was heat-treated at 230 ° C. for 60 minutes in a nitrogen atmosphere, and the thickness (t0) of the cured film was measured. Further, as a heat resistance test, the obtained cured film was heated in an oven at 320 ° C. for 60 minutes in a nitrogen atmosphere. The thickness (t1) of the cured film after heating was measured. The film thickness change rate before and after the heat test was calculated from the following formula. A and B are practical ranges in the following evaluation criteria.
Film thickness change rate (%) = (| t0−t1 | / t0) × 100
A: Film thickness change rate of less than 5% B: Film thickness change rate of 5% or more and less than 10% C: Film thickness change rate of 10% or more

<パターン形成性>
各実施例の感光性組成物について、塗布性評価と同様に作製した基板を、MPA−7800+(キャノン(株)製)を用いて6μmホールパターンを露光した。次いでFHD−5(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ(株)製)の21質量%水溶液(現像液)にて覆い、23℃で60秒静止した。静止後、純水をシャワー状に散布して現像液を洗い流し、自然乾燥させた。更に乾燥後の基板を230℃にて60分間加熱した後、パターンの形状を光学顕微鏡(倍率300倍)、走査型電子顕微鏡(SEM)(倍率5000倍)にて観察した。残渣無く良好な解像性を有し、きれいなホールパターン形状であることを確認した。なお、各感光性組成物に対する露光量は下記の方法で求めた。
各感光性組成物について、塗布性評価と同様に作製した基板を、キヤノン(株)製 MPA 5500CF(高圧水銀灯)を用いて、6μmのホールパターンを有するマスクを介して露光した。そして、露光後の感光性組成物を、FHD−5(富士フイルムエレクトロニクスマテリアルズ(株)製)の21質量%水溶液(現像液)にて23℃で60秒間現像した後、超純水で20秒リンスした。これらの操作により6μmのホールを解像する時の最適i線露光量(Eopt)を求め、露光量とした。
<Pattern formability>
About the photosensitive composition of each Example, the board | substrate produced similarly to applicability | paintability evaluation exposed 6 micrometer hole pattern using MPA-7800 + (made by Canon Inc.). Subsequently, it was covered with a 21% by mass aqueous solution (developer) of FHD-5 (manufactured by FUJIFILM Electronics Materials Co., Ltd.) and allowed to stand at 23 ° C. for 60 seconds. After standing still, pure water was sprayed in the form of a shower to wash away the developer and let it air dry. The dried substrate was heated at 230 ° C. for 60 minutes, and the pattern shape was observed with an optical microscope (300 times magnification) and a scanning electron microscope (SEM) (5000 times magnification). It was confirmed that there was no residue and good resolution and a clean hole pattern shape. In addition, the exposure amount with respect to each photosensitive composition was calculated | required with the following method.
About each photosensitive composition, the board | substrate produced similarly to applicability | paintability evaluation was exposed through the mask which has a hole pattern of 6 micrometers using Canon Inc. MPA 5500CF (high pressure mercury lamp). The exposed photosensitive composition was developed with a 21% by weight aqueous solution (developer) of FHD-5 (manufactured by FUJIFILM Electronics Materials Co., Ltd.) at 23 ° C. for 60 seconds, and then treated with ultrapure water. Rinse second. By these operations, the optimum i-line exposure amount (Eopt) when resolving a 6 μm hole was determined and used as the exposure amount.

Figure 2017049327
Figure 2017049327
Figure 2017049327
Figure 2017049327
Figure 2017049327
Figure 2017049327
Figure 2017049327
Figure 2017049327
Figure 2017049327
Figure 2017049327

上記表に示す通り、実施例は、塗布性が良好で、得られた硬化膜は、上層との密着性に優れていた。更には、耐熱性およびパターン形成性も優れていた。
一方、比較例は、塗布性、および、上層との密着性の少なくとも一方が劣るものであった。
As shown in the above table, the examples had good coating properties, and the obtained cured films were excellent in adhesion to the upper layer. Furthermore, the heat resistance and pattern formation were also excellent.
On the other hand, the comparative example was inferior in at least one of applicability | paintability and adhesiveness with an upper layer.

<表示装置の作製>
(実施例1001)
特開2012−203121号公報の図1に記載の表示装置を、画素分離膜(19)及び平坦化膜(17)を実施例1の感光性組成物を用いて作製したこと以外は、特開2012−203121号公報に従って作製した。表示特性に優れる表示装置であった。
(実施例1002〜1098)
実施例1001において、実施例1の感光性組成物を、実施例2〜98の感光性組成物に換えたこと以外は、実施例1001と同様にして表示装置を作製した。表示特性に優れる表示装置であった。
<Production of display device>
(Example 1001)
1 except that the pixel separation film (19) and the planarization film (17) were produced using the photosensitive composition of Example 1 in the display device shown in FIG. It produced according to 2012-203121 gazette. The display device was excellent in display characteristics.
(Examples 1002 to 1098)
In Example 1001, a display device was produced in the same manner as in Example 1001, except that the photosensitive composition of Example 1 was replaced with the photosensitive composition of Examples 2 to 98. The display device was excellent in display characteristics.

(実施例2001)
特開2013−196919号公報の図1に記載表示装置を、画素間絶縁膜(16)及び層間絶縁膜(14)を実施例1の感光性組成物を用いて作製したこと以外は、特開2013−196919号公報に従って作製した。表示特性に優れる表示装置であった。
(実施例2002〜2098)
実施例2001において、実施例1の感光性組成物を、実施例2〜98の感光性組成物に換えたこと以外は、実施例2001と同様にして表示装置を作製した。表示特性に優れる表示装置であった。
(Example 2001)
1 except that the interpixel insulating film (16) and the interlayer insulating film (14) were produced using the photosensitive composition of Example 1 in the display device shown in FIG. 1 of JP2013-196919A. It produced according to 2013-196919 gazette. The display device was excellent in display characteristics.
(Examples 2002 to 2098)
In Example 2001, a display device was produced in the same manner as in Example 2001 except that the photosensitive composition of Example 1 was replaced with the photosensitive composition of Examples 2 to 98. The display device was excellent in display characteristics.

(実施例3001)
特開2007−328210号公報の図1に記載の液晶表示装置を、有機絶縁膜PASを実施例1の感光性組成物を用いて作製したこと以外は、特開2007−328210号公報に従って作製した。表示特性に優れる表示装置であった。
(実施例3002〜3098)
実施例3001において、実施例1の感光性組成物を、実施例2〜98の感光性組成物に換えたこと以外は、実施例3001と同様にして表示装置を作製した。表示特性に優れる表示装置であった。
(Example 3001)
The liquid crystal display device shown in FIG. 1 of JP-A-2007-328210 was prepared according to JP-A-2007-328210 except that the organic insulating film PAS was prepared using the photosensitive composition of Example 1. . The display device was excellent in display characteristics.
(Examples 3002 to 3098)
A display device was produced in the same manner as in Example 3001, except that in Example 3001, the photosensitive composition of Example 1 was replaced with the photosensitive composition of Examples 2 to 98. The display device was excellent in display characteristics.

110:画素基板、111:偏光板、112:透明基板、113:共通電極、114:絶縁層、115:画素電極、116:配向膜、120:対向基板、121:配向膜、122:カラーフィルター、123:透明基板、124:位相差フィルム、126:接着層、127:偏光板、130:センサ部、200:下部表示板、210:絶縁基板、220:ゲート電極、240:ゲート絶縁膜、250:半導体層、260:オーミックコンタクト層、270:ソース電極、272:ドレイン電極、280:絶縁膜、282:コンタクトホール、290:画素電極、300:上部表示板、310:絶縁基板、320:遮光部材、330:カラーフィルター、350:配向膜、370:共通電極、400:液晶層、410:センシング電極、420:絶縁膜、430:タッチ駆動電極、600:保護膜、CT:対向電極、GI:ゲート絶縁膜、GT:ゲート電極、IN1:第1の層間絶縁膜、IN2:第2の層間絶縁膜、IN3:第3の層間絶縁膜、PAS:有機絶縁膜、PS:半導体膜、PX:画素電極、RAL:反射膜、SD1:ドレイン電極、SD2:ソース電極、SUB1:ガラス基板、UC:下地膜   110: pixel substrate, 111: polarizing plate, 112: transparent substrate, 113: common electrode, 114: insulating layer, 115: pixel electrode, 116: alignment film, 120: counter substrate, 121: alignment film, 122: color filter, 123: Transparent substrate, 124: Retardation film, 126: Adhesive layer, 127: Polarizing plate, 130: Sensor part, 200: Lower display panel, 210: Insulating substrate, 220: Gate electrode, 240: Gate insulating film, 250: Semiconductor layer, 260: ohmic contact layer, 270: source electrode, 272: drain electrode, 280: insulating film, 282: contact hole, 290: pixel electrode, 300: upper display panel, 310: insulating substrate, 320: light shielding member, 330: Color filter, 350: Alignment film, 370: Common electrode, 400: Liquid crystal layer, 410: Sensing electrode, 420 Insulating film, 430: touch drive electrode, 600: protective film, CT: counter electrode, GI: gate insulating film, GT: gate electrode, IN1: first interlayer insulating film, IN2: second interlayer insulating film, IN3: Third interlayer insulating film, PAS: organic insulating film, PS: semiconductor film, PX: pixel electrode, RAL: reflective film, SD1: drain electrode, SD2: source electrode, SUB1: glass substrate, UC: base film

Claims (14)

下記1および2の少なくとも一方を満たすポリシロキサン成分A、
1:カルボキシ基が酸分解性基で保護された基、フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基、および、シラノール基が酸分解性基で保護された基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位a1と、架橋性基を有する構成単位a2とを有するポリシロキサンを含むポリシロキサン成分、
2:カルボキシ基が酸分解性基で保護された基、フェノール性水酸基が酸分解性基で保護された基、および、シラノール基が酸分解性基で保護された基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位a1を有するポリシロキサンと、架橋性基を有する構成単位a2を有するポリシロキサンとを含むポリシロキサン成分、
pKaが3以下の酸を発生する光酸発生剤B、
溶剤C、ならびに、
下式S1で表される構造および下式S2で表される構造を有する化合物Sと、
を含む感光性組成物;
Figure 2017049327
式中、波線は、化合物Sを構成する原子団との結合位置を表し、
1はアルキル基を表し、
2は、水素原子またはアルキル基を表し、
1は、単結合または2価の連結基を表し、L1が2価の連結基を表す場合、R1はL1と結合して環を形成してもよく、
Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表し、
100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、
100は、水素原子、ヒドロキシ基または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
nは、0〜30の整数を表し、
nが0のとき、R100は、ヒドロキシ基を表し、
nが1のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基またはカルボニル基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
nが2〜30のとき、L100は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、R100は水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、複数のL100は同一であってもよく、異なってもよい。
Polysiloxane component A satisfying at least one of the following 1 and 2,
1: at least one selected from a group in which a carboxy group is protected by an acid-decomposable group, a group in which a phenolic hydroxyl group is protected by an acid-decomposable group, and a group in which a silanol group is protected by an acid-decomposable group A polysiloxane component containing a polysiloxane having a structural unit a1 having a group and a structural unit a2 having a crosslinkable group;
2: At least one selected from a group in which a carboxy group is protected by an acid-decomposable group, a group in which a phenolic hydroxyl group is protected by an acid-decomposable group, and a group in which a silanol group is protected by an acid-decomposable group A polysiloxane component comprising a polysiloxane having a structural unit a1 having a group and a polysiloxane having a structural unit a2 having a crosslinkable group;
a photoacid generator B that generates an acid having a pKa of 3 or less,
Solvent C, and
Compound S having a structure represented by the following formula S1 and a structure represented by the following formula S2,
A photosensitive composition comprising:
Figure 2017049327
In the formula, the wavy line represents the bonding position with the atomic group constituting the compound S,
R 1 represents an alkyl group,
R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group,
L 1 represents a single bond or a divalent linking group, and when L 1 represents a divalent linking group, R 1 may combine with L 1 to form a ring,
Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms,
L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group,
R 100 represents a hydrogen atom, a hydroxy group or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n represents an integer of 0 to 30,
when n is 0, R 100 represents a hydroxy group;
When n is 1, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms or a carbonyl group, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
When n is 2 to 30, L 100 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms, R 100 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, and a plurality of L 100 may be the same. Well, it can be different.
前記ポリシロキサン成分Aの100質量部に対して、前記化合物Sを0.001〜20質量部含有する、請求項1に記載の感光性組成物。   The photosensitive composition of Claim 1 which contains 0.001-20 mass parts of said compounds S with respect to 100 mass parts of the said polysiloxane component A. 3. 前記化合物Sが、前記式S1で表される構造を側鎖に有する構成単位S1−1と、前記式S2で表される構造を側鎖に有する構成単位S2−1とを有する重合体である、請求項1または2に記載の感光性組成物。   The compound S is a polymer having a structural unit S1-1 having a structure represented by the formula S1 in a side chain and a structural unit S2-1 having a structure represented by the formula S2 in a side chain. The photosensitive composition of Claim 1 or 2. 前記化合物Sが、下式S1−2で表される構成単位と、下式S2−2で表される構成単位とを有する重合体である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の感光性組成物;
Figure 2017049327
式中、R11は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、
12はアルキル基を表し、
13は、水素原子またはアルキル基を表し、
10は、単結合または2価の連結基を表し、L10が2価の連結基を表す場合、R12はL10と結合して環を形成してもよく、
Rfは、フッ素原子を3以上有するフルオロアルキル基を表し、
101は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
101は、水素原子または炭素数1〜12のアルキル基を表し、
n1は0〜30の整数を表し、
n1が0または1のとき、R101は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n1が2〜30のとき、複数のL101は同一であってもよく、異なってもよい。
4. The compound S according to claim 1, wherein the compound S is a polymer having a structural unit represented by the following formula S1-2 and a structural unit represented by the following formula S2-2. A photosensitive composition;
Figure 2017049327
In the formula, R 11 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 12 represents an alkyl group,
R 13 represents a hydrogen atom or an alkyl group,
L 10 represents a single bond or a divalent linking group, and when L 10 represents a divalent linking group, R 12 may combine with L 10 to form a ring,
Rf represents a fluoroalkyl group having 3 or more fluorine atoms,
L 101 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms,
n1 represents an integer of 0 to 30,
when n1 is 0 or 1, R 101 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms;
When n1 is 2 to 30, the plurality of L 101 may be the same or different.
前記化合物Sが、下式S1−3で表される構成単位と、下式S2−3で表される構成単位とを有する重合体である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の感光性組成物;
Figure 2017049327
式中、R21は、水素原子または炭素数1〜3のアルキル基を表し、
22は、炭素数1〜3のアルキル基を表し、
23は、水素原子を表し、
20は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
Rf1は、炭素数3〜6のパーフルオロアルキル基を表し、
22は、L20と結合して環を形成してもよく、
201は、炭素数1〜12のアルキレン基を表し、
201は、水素原子または炭素数1〜6のアルキル基を表し、
n2は1〜20の整数を表し、n2が2〜20のとき、複数のL201は同一であってもよく、異なってもよい。
5. The compound S according to claim 1, wherein the compound S is a polymer having a structural unit represented by the following formula S1-3 and a structural unit represented by the following formula S2-3. A photosensitive composition;
Figure 2017049327
In the formula, R 21 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 22 represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms,
R 23 represents a hydrogen atom,
L 20 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
Rf 1 represents a C 3-6 perfluoroalkyl group,
R 22 may combine with L 20 to form a ring,
L 201 represents an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms,
R 201 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms,
n2 represents an integer of 1 to 20, and when n2 is 2 to 20, the plurality of L 201 may be the same or different.
前記化合物Sは、前記構成単位S1−1と、前記構成単位S2−1とを、化合物Sの全構成単位の70質量%以上含有する重合体であり、かつ、前記構成単位S1−1と、前記構成単位S2−1との質量比が、構成単位S1−1:構成単位S2−1=5:95〜95:5である、請求項3〜5のいずれか1項に記載の感光性組成物。   The compound S is a polymer containing the structural unit S1-1 and the structural unit S2-1 in an amount of 70% by mass or more of the total structural units of the compound S, and the structural unit S1-1. 6. The photosensitive composition according to claim 3, wherein a mass ratio with the structural unit S2-1 is the structural unit S1-1: the structural unit S2-1 = 5: 95 to 95: 5. object. 前記化合物Sの重量平均分子量が100〜100000である、請求項1〜6のいずれか1項に記載の感光性組成物。   The photosensitive composition of any one of Claims 1-6 whose weight average molecular weights of the said compound S are 100-100000. 前記構成単位a1が、下記一般式a1−1で表される構成単位、および、下記一般式a1−2で表される構成単位から選ばれる少なくとも1種である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の感光性組成物;
Figure 2017049327
一般式a1−1、および、一般式a1−2中、aは0または1を表し、
1AおよびR2Aは、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基またはアリール基を表し、R1AおよびR2Aの少なくとも一方は、アルキル基またはアリール基を表し、R3Aは、アルキル基またはアリール基を表し、R1AまたはR2Aと、R3Aとが連結して環状エーテルを形成してもよく、
4Aは、アルキル基、アリール基、または、アラルキル基を表し、
1Aは、単結合または2価の連結基を表し、
2Aは、単結合または2価の連結基を表し、
xは、アルキル基またはハロゲン原子を表し、
m1は、0〜4の整数を表す。
The structural unit a1 is at least one selected from structural units represented by the following general formula a1-1 and structural units represented by the following general formula a1-2. 2. The photosensitive composition according to item 1;
Figure 2017049327
In general formula a1-1 and general formula a1-2, a represents 0 or 1,
R 1A and R 2A each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group or an aryl group, at least one of R 1A and R 2A represents an alkyl group or an aryl group, and R 3A represents an alkyl group or an aryl group. R 1A or R 2A and R 3A may be linked to form a cyclic ether,
R 4A represents an alkyl group, an aryl group, or an aralkyl group,
L 1A represents a single bond or a divalent linking group,
L 2A represents a single bond or a divalent linking group,
R x represents an alkyl group or a halogen atom,
m1 represents an integer of 0 to 4.
前記ポリシロキサン成分が有する架橋性基が、環状エーテル、および、エチレン性不飽和結合を有する基から選ばれる少なくとも1種である、請求項1〜8のいずれか1項に記載の感光性組成物。   The photosensitive composition of any one of Claims 1-8 whose crosslinkable group which the said polysiloxane component has is at least 1 sort (s) chosen from cyclic ether and the group which has an ethylenically unsaturated bond. . 前記ポリシロキサンは、カルボキシ基およびフェノール性水酸基から選ばれる少なくとも1種の基を有する構成単位をさらに含む、請求項1〜9のいずれか1項に記載の感光性組成物。   The photosensitive composition according to claim 1, wherein the polysiloxane further includes a structural unit having at least one group selected from a carboxy group and a phenolic hydroxyl group. 請求項1〜10のいずれか1項に記載の感光性組成物を基板上に塗布する工程、
塗布された感光性組成物から溶剤を除去する工程、
溶剤が除去された感光性組成物を活性光線により露光する工程、
露光された感光性組成物を現像液により現像する工程、および、
現像された感光性組成物を熱硬化する工程、
を含む硬化膜の製造方法。
The process of apply | coating the photosensitive composition of any one of Claims 1-10 on a board | substrate,
Removing the solvent from the applied photosensitive composition;
Exposing the photosensitive composition from which the solvent has been removed with actinic rays,
Developing the exposed photosensitive composition with a developer; and
Heat-curing the developed photosensitive composition;
The manufacturing method of the cured film containing this.
請求項11に記載の硬化膜の製造方法を含む、液晶表示装置の製造方法。   A method for producing a liquid crystal display device, comprising the method for producing a cured film according to claim 11. 請求項11に記載の硬化膜の製造方法を含む、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法。   The manufacturing method of an organic electroluminescent display apparatus containing the manufacturing method of the cured film of Claim 11. 請求項11に記載の硬化膜の製造方法を含む、タッチパネルの製造方法。   The manufacturing method of a touch panel including the manufacturing method of the cured film of Claim 11.
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