JP2017049118A - エタロン及び寸法測定装置 - Google Patents
エタロン及び寸法測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017049118A JP2017049118A JP2015172532A JP2015172532A JP2017049118A JP 2017049118 A JP2017049118 A JP 2017049118A JP 2015172532 A JP2015172532 A JP 2015172532A JP 2015172532 A JP2015172532 A JP 2015172532A JP 2017049118 A JP2017049118 A JP 2017049118A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- etalon
- incident surface
- measurement
- ball lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
Abstract
Description
寸法測定装置10は、ブロードスペクトル光源(以下、光源と略称する。)12、エタロン14、サーキュレータ16、ビームスプリッタ(光分割手段)18、測定物走査光学系(測定光照射手段)20を有する。
光源12は、コヒーレント長が短く、広帯域な波長の光を放射可能な白色光源である。光源12として、例えば、LED(Light Emitting Diode)、SLD(Super Luminescence Diode)、ハロゲンランプ、光周波数コム(ただし、光周波数コムを使用する場合、エタロンの長さと強度変調光の繰り返し周波数が合わなければいけない)を使用できる。また、光源12から出射される光の中心波長は、例えば750nm、1300nm、1550nm等に設定することができる。
図2は、エタロン14の構成を示した側面図である。
図1のビームスプリッタ18は、光ファイバ36を介して入射した強度変調光15を、光ファイバ38へ出射する測定光と光ファイバ40へ出射する参照光とに分割する。また、ビームスプリッタ18は、光ファイバ38を介して戻された測定光と、光ファイバ40を介して戻された参照光とを合成して、光ファイバ36へ出射する。ビームスプリッタ18として、例えば、そのような機能を有する公知の様々な光カプラを用いることができる。
測定物走査光学系20は、光ファイバ38から出射された測定光を、レンズ46を介して被測定物44の表面上の任意の測定点に結像させる。そして、測定物走査光学系20は、その測定点で反射又は散乱された測定光を集光し、光ファイバ38へ入射させる。そのために、測定物走査光学系20は、レンズ46、走査鏡(不図示)、及び走査鏡を駆動するアクチュエータ(不図示)を備えている。アクチュエータは、コントローラ30から受信した制御信号に応じて走査鏡の反射面の向きを調節する。
参照光路長変更装置22は、光ファイバ40から出射された参照光が所定の光路を通過した後、光ファイバ40に再度入射するように構成される。そして、参照光路長変更装置22は、その光路の光路長を変更して、測定光の光路長と参照光の光路長との光路差を調節する。
参照鏡24としては、コーナキューブプリズムが使用される。直動駆動部54によって参照鏡24が参照光58の光軸に沿って移動されることにより、参照光58の光路長が変更される。
検出器26は、検出した光量を電気信号として出力する。検出器26として、例えば、フォトダイオード、CCD(Charge Coupled Device)又はC−MOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の半導体検出素子が使用される。また、検出器26は、所定の時間間隔でサンプリングして、各サンプリング時点における検出光量を電気信号に変換する。更に、検出器26は、周波数型増幅器28を介してコントローラ30と電気的に接続され、その電気信号をコントローラ30へ逐次送信する。
コントローラ30は、いわゆるPC(Personal Computer)で構成され、CPU(Central Processing Unit)等の演算装置と、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の半導体メモリ、若しくは磁気ディスク、光ディスク及びそれらの読取装置等からなる記憶装置と、RS232C、イーサネット(登録商標)等の通信規格に基づいて構成された電子回路及びデバイスドライバ等のソフトウェアからなる通信装置と、記憶装置に格納されてCPUで実行されるプログラムと、を有する。
光ファイバ32〜42は、光源12、エタロン14、サーキュレータ16、ビームスプリッタ18、測定物走査光学系20、参照光路長変更装置22、及び検出器26の間に配置され、各機器間で光を伝送する。光ファイバ32〜42として、公知の様々な光ファイバを使用することができるが、光源12から放射される光の波長に対して伝送損失が極力小さいことが好ましい。
図6は、被測定物44の寸法を測定する際の寸法測定装置10の動作を示したフローチャートである。なお、寸法測定装置10の動作は、コントローラ30によって制御される。
実施形態のエタロン14及び寸法測定装置10によれば、図2の如く、ボールレンズによってエタロン14を構成したので、光入射面14aと光出射面14bにそれぞれ備えられる反射コート14A、14B同士の距離は、ボールレンズの直径で一義的に定まる。よって、反射コート14A、14B同士を高精度に容易にアライメントすることができる。また、エタロン14は、ボールレンズで構成されているので、構造の簡単なエタロンを備えた寸法測定装置10を提供することができる。
Claims (2)
- 光をその内部で多重干渉させることにより、波長領域において一定の間隔で透過ピークを持つ透過波形の光を出射するエタロンにおいて、
球面の一部を構成する光入射面と、球面の他の一部を構成し前記光入射面に対向する光出射面とを有するボールレンズと、
前記光入射面に設けられた第1の反射膜と、
前記光出射面に設けられた第2の反射膜と、
前記光入射面を介して前記ボールレンズの中心に前記光を集光させる光学系と、
を備えるエタロン。 - 光を放射する光源と、
前記光源からの光をその内部で多重干渉させることにより、波長領域において一定の間隔で透過ピークを持つ透過波形の光を出射するエタロンと、
前記エタロンから出射された光を測定光と参照光とに分割して出射する光分割手段と、
前記光分割手段から出射された測定光を被測定物に照射する測定光照射手段と、
前記光分割手段から出射された参照光を反射する反射鏡を有し、前記反射鏡を移動させることにより前記参照光の光路長を変更する参照光路長変更手段と、
前記被測定物で反射した測定光と前記反射鏡で反射した参照光とが合成された干渉光を検出する光検出手段と、
前記光検出手段によって検出された干渉光に基づいて前記被測定物の寸法を算出する演算手段と、を備えた寸法測定装置であって、
前記エタロンは、
球面の一部を構成する光入射面と、球面の他の一部を構成し前記光入射面に対向する光出射面とを有するボールレンズと、
前記光入射面に設けられた第1の反射膜と、
前記光出射面に設けられた第2の反射膜と、
前記光入射面を介して前記ボールレンズの中心に前記光源からの光を集光させる光学系と、
を備える寸法測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015172532A JP6761160B2 (ja) | 2015-09-02 | 2015-09-02 | 寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015172532A JP6761160B2 (ja) | 2015-09-02 | 2015-09-02 | 寸法測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017049118A true JP2017049118A (ja) | 2017-03-09 |
JP6761160B2 JP6761160B2 (ja) | 2020-09-23 |
Family
ID=58280116
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015172532A Active JP6761160B2 (ja) | 2015-09-02 | 2015-09-02 | 寸法測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6761160B2 (ja) |
-
2015
- 2015-09-02 JP JP2015172532A patent/JP6761160B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6761160B2 (ja) | 2020-09-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI618915B (zh) | 用於檢測物件的三維結構的設備 | |
KR101264671B1 (ko) | 광 간섭 계측 방법 및 광 간섭 계측 장치 | |
JP6157240B2 (ja) | 屈折率計測方法、屈折率計測装置および光学素子の製造方法 | |
KR101596290B1 (ko) | 두께 측정 장치 및 두께 측정 방법 | |
US20110304854A1 (en) | Instantaneous, phase measuring interferometer apparatus and method | |
US9631924B2 (en) | Surface profile measurement method and device used therein | |
US20160363531A1 (en) | Refractive index measurement method, measurement apparatus, and optical element manufacturing method | |
JP5669182B2 (ja) | 白色干渉法による振動測定装置及び振動測定方法 | |
CN106940220A (zh) | 一种简易低成本的波长实时测量装置 | |
KR101251292B1 (ko) | 편광을 이용한 3차원 형상 및 두께 측정 장치 | |
US10222197B2 (en) | Interferometric distance measuring arrangement for measuring surfaces and corresponding method with at least two parallel measurement channels and wavelength ramp | |
JP6628030B2 (ja) | 距離測定装置及びその方法 | |
US9091523B2 (en) | Profilometer with partial coherence interferometer adapted for avoiding measurements straddling a null position | |
KR20000011448A (ko) | 투명재료의두께를측정하기위한방법및장치 | |
JP5704150B2 (ja) | 白色干渉装置及び白色干渉装置の位置及び変位測定方法 | |
JP6761160B2 (ja) | 寸法測定装置 | |
JP2017049117A (ja) | 寸法測定装置及び参照光路長走査装置 | |
KR101792632B1 (ko) | 측정 불가 구간과 방향 모호성이 없는 절대거리 측정을 위한 분광형 간섭계 시스템 | |
KR101678891B1 (ko) | 분산판을 이용한 방향판별 분산간섭계 및 이를 이용한 측정시스템 | |
FI71021B (fi) | Foerfarande foer maetning av fysikaliska parametrar foer ett roerligt foeremaol med hjaelp av en koherent ljuskaella genomheterodyne-detektering av ljus reflekterat eller spritt f ran det roerliga foeremaolet | |
US20220206145A1 (en) | Optical distance measurement device and machining device | |
JPH11281313A (ja) | 白色光のヘテロダイン干渉法 | |
JP7206576B2 (ja) | 測定方法及び装置 | |
RU2141621C1 (ru) | Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты) | |
JP2009128099A (ja) | 濃度測定方法、及び濃度測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180710 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190508 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190516 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190712 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200107 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200306 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200804 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200817 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6761160 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |