JP2017046481A - 試験用プラグ誤挿入防止装置 - Google Patents

Abstract

【課題】保護継電器を点検する時、トリップロック端子に短絡片が接続された状態で、試験用プラグが試験用プラグ挿入口に誤挿入されることを防止すること。【解決手段】試験用プラグ誤挿入防止装置は、トリップロック端子から短絡片を取り外すことで、遮断器を含む回路から試験対象となる保護継電器が切り離されるように構成された保護継電器盤を対象とした試験用プラグ誤挿入防止装置において、試験用プラグ挿入口の少なくとも一部を閉じたカバーと、該カバーが試験用プラグ挿入口の一部を閉じた状態で該カバーをロック可能なロック構造とを備え、該ロック構造は、試験用プラグの挿入対象となる試験用プラグ挿入口に対応したトリップロック端子から取り外した短絡片を鍵として、カバーに対するロックを解除可能に構成されることを特徴とする。【選択図】図１

Description

本発明は、保護継電器盤を対象とした試験用プラグ誤挿入防止装置に関する。

保護継電器盤に配置された保護継電器を試験する時、保護継電器盤の試験用プラグ挿入口に試験用プラグを挿入している。

また、試験用プラグ挿入時、保護継電器から遮断器へトリップ信号が送信されることがあるため、試験対象となる保護継電器を、遮断器を含む回路から切り離す目的で一対のトリップロック端子から短絡片を取り外している。

しかし、短絡片のトリップロック端子からの取り外しを失念した場合、保護継電器から遮断器へ遮断信号が送信されてしまい、遮断器がトリップして停電してしまう、という問題が発生する。

ところで、試験用プラグ挿入口に対する試験用プラグの誤挿入を防止する試験用プラグ誤挿入防止装置として、例えば、保護継電器盤の試験用プラグ挿入口を塞ぐカバーと、試験用プラグ挿入口の近傍に設けられたスイッチであって、カバーを開いて試験用プラグ挿入口を露出させた場合にオンとなるスイッチと、スイッチがオン状態であることを表示する表示部とを備えたものが提供されている（特許文献１参照）。

特開２０１０−２８４０４８号公報

前記構成の試験用プラグ誤挿入防止装置は、カバーを開けば、試験用プラグ挿入口に試験用プラグを挿入できる構成になっている。このため、表示部の表示の確認を失念した場合、一対のトリップロック端子に短絡片が取り付けられた状態で、試験用プラグ挿入口に試験用プラグを挿入されることがある。したがって、保護継電器から遮断器へ遮断信号が送信されてしまい、遮断器がトリップして停電してしまう、という問題を解消することができない。

そこで、本発明は、保護継電器を点検する時、トリップロック端子に短絡片が接続された状態で、試験用プラグが試験用プラグ挿入口に誤挿入されることを防止することのできる試験用プラグ誤挿入防止装置を提供することを目的とする。

本発明に係る試験用プラグ誤挿入防止装置は、遮断器を含む回路に接続される複数の保護継電器であって、遮断器にトリップ信号を送信するための複数の保護継電器と、各保護継電器のそれぞれに対応して配置された複数対のトリップロック端子であって、それぞれが短絡片を介して接続される複数対のトリップロック端子と、各保護継電器のそれぞれに対応して配置された複数の試験用プラグ挿入口であって、それぞれが保護継電器を試験するための試験用プラグを挿入可能な複数の試験用プラグ挿入口とを有し、トリップロック端子から短絡片を取り外すことで、遮断器を含む回路から試験対象となる保護継電器が切り離されるように構成された保護継電器盤を対象とした試験用プラグ誤挿入防止装置において、
試験用プラグ挿入口の少なくとも一部を閉じたカバーと、該カバーが試験用プラグ挿入口の一部を閉じた状態で該カバーをロック可能なロック構造とを備え、
該ロック構造は、試験用プラグの挿入対象となる試験用プラグ挿入口に対応したトリップロック端子から取り外した短絡片を鍵として、カバーに対するロックを解除可能に構成されることを特徴とする。

かかる構成によれば、ロック構造によるカバーに対するロックを解除するには、試験対象となる試験用プラグ挿入口に対応した一対のトリップロック端子から短絡片を取り外すことが必須要件となる。すなわち、一対のトリップロック端子から短絡片を取り外すことで、試験対象となる保護継電器を回路から切り離すことができる。

そして、取り外した短絡片を鍵としてロック解除することで、カバーによって閉じられていた試験用プラグ挿入口を開放できる。これにより、試験用プラグを試験用プラグ挿入口に挿入できる。したがって、保護継電器と遮断器を含む回路とを切り離した状態で、試験対象となる保護継電器を確実に試験することができる。

また、本発明に係る試験用プラグ誤挿入防止装置の一態様として、前記ロック構造は、前記保護継電器盤の盤面から離間して配置される掛止板であって、前記試験用プラグ挿入口の周囲に配置される掛止板と、該掛止板に係止可能な一対の係止部を有する錠前とを備えるようにしてもよい。

かかる構成によれば、掛止板と錠前との間にカバーが配置された状態で、試験用プラグ挿入口の周囲に保護継電器盤の盤面から離間して配置された掛止板に、錠前の係止部が係止されることで、試験用プラグ挿入口をカバーが閉じた状態でロックされる。

本発明に係る試験用プラグ誤挿入防止装置は、保護継電器を点検する時、トリップロック端子に短絡片が接続された状態で、試験用プラグが試験用プラグ挿入口に誤挿入されることを防止することができる。

図１は、本発明の実施形態に係る保護継電器盤を示す正面図である。 図２（ａ）は、同実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置のトリップロック端子を示す図であり、図２（ｂ）は、同実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置の短絡片を示す図である。 図３（ａ）は、同実施形態に係る試験用プラグ挿入口のロック構造を示す図であり、図３（ｂ）は、図３（ａ）の側断面図である。 図４は、同実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置の錠前を示す図である。 図５は、同実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置のロック構造のロックされている状態を示す図である。 図６は、同実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置のロック構造を解除する状態を示す図である。 図７は、本発明の他の実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置の短絡片を示す図である。 図８は、本発明の他の実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置を示す図である。

本発明の実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置について図面を参照して説明する。

まず、試験用プラグ誤挿入防止装置の取り付け対象となる保護継電器盤について説明する。該保護継電器盤は、図１に示す如く、遮断器にトリップ信号を送信するための複数の保護継電器２０と、各保護継電器２０のそれぞれに対応して配置された複数対のトリップロック端子２１，２１であって、それぞれが短絡片２１１を介して接続される複数対のトリップロック端子２１，２１と、各保護継電器２０のそれぞれに対応して配置された複数の試験用プラグ挿入口２２であって、それぞれが保護継電器２０を試験するための試験用プラグ５を挿入可能な複数の試験用プラグ挿入口２２とを有する。

各保護継電器２０は、遮断器を含む回路に接続され、落雷等により大電流が流れた場合に、遮断器にトリップ信号を送信する。

各対のトリップロック端子２１，２１は、各保護継電器２０のそれぞれに対応して配置される。ここでは、保護継電器２０の下方に配置される。各対において、一対のトリップロック端子２１，２１のうちの一方の端子２１は、保護継電器２０に接続され、一対のトリップロック端子２１，２１のうちの他方の端子２１は、遮断器を含む回路に接続される。各対のトリップロック端子２１，２１は、端子用カバー２１３によってそれぞれ覆われている。

短絡片２１１は、一対のトリップロック端子２１，２１を電気的に接続する。すなわち、保護継電器２０と遮断器を含む回路とを接続する。

また、短絡片２１１は、図２（ｂ）に示す如く、その両端部に設けられた係止部２１１ａ，２１１ｂと、中央部に設けられた絶縁性を有する環状の摘み部２１２とを備える。

そして、一端の係止部２１１ａには、端縁部から中央に向かって係止凹部２１４ａが形成されている。一方、他端の係止部２１１ｂには、端縁部から長手方向に沿って係止凹部２１４ｂが形成されている。

また、短絡片２１１の他端は、試験用プラグ挿入口２２のカバー２２２の後述するロック構造Ｒのロックとその解除をするための鍵部２１５を有する。この鍵部２１５は、一般的な鍵と同様に溝や凹凸を有する。

複数の試験用プラグ挿入口２２のそれぞれは、各保護継電器２０のそれぞれに対応して配置され、それぞれが保護継電器２０を試験するための試験用プラグ５を挿入可能になっている。また、試験用プラグ挿入口２２は、内部に保護継電器２０に接続される一対の端子２２ａ，２２ａを有する。挿入された後述の試験用プラグ５の電極５０１が内部の一対の端子２２ａ，２２ａに接続されることで、各保護継電器２０を試験可能な状態となる。

カバー２２２は、試験用プラグ挿入口２２の少なくとも一部を覆う。具体的には、図３（ａ），（ｂ）に示す如く、後述の試験用プラグ誤挿入防止装置１の掛止板２２０の開口に取り付けられて、試験用プラグ挿入口２２を覆う。また、カバー２２２は、試験用プラグ誤挿入防止装置１の一構成である。

試験用プラグ５は、図５に示す如く、挿入部５０と、端子部５１とを備える。

挿入部５０は、試験用プラグ挿入口２２に挿入される方向に延びる絶縁板５００と、該絶縁板５００の両面に配置された複数の電極５０１であって、試験用プラグ挿入口２２に内設された複数の端子２２ａ，２２ａに電気的に接続される複数の電極５０１とを有する。

端子部５１は、電極５０１に電気的に接続された端子５１０であって、リード線Ｌを介して試験装置Ｈが電気的に接続される端子５１０を有する端子部５１を備える。

つぎに保護継電器盤２を前提とした試験用プラグ誤挿入防止装置１について説明する。

該試験用プラグ誤挿入防止装置１は、試験用プラグ挿入口２２を覆うカバー２２２と、ロック構造Ｒとを備える。

カバー２２２は、保護継電器盤２の既設のカバーであり、これを試験用プラグ誤挿入防止装置１の一部として兼用している。

ロック構造Ｒは、カバー２２２が試験用プラグ挿入口２２を開放することを規制する。具体的には、ロック構造Ｒは、試験用プラグ挿入口２２の周囲に配置された掛止板２２０と、該掛止板２２０に係止可能な一対の係止部３２，３２を有する錠前３とを備える。

掛止板２２０は、錠前３の取付部位であり、試験用プラグ挿入口２２の周囲に配置された保護継電器盤２の既設の銘板を兼用している。掛止板２２０は、保護継電器盤２の盤面２ａとの間に介在された平ワッシャ２２１によって保護継電器盤２の盤面２ａから離間して配置される。すなわち、錠前３の一対の係止部３２，３２を挿入する隙間を開けて配置される。また、掛止板２２０には、試験用プラグ挿入口２２に対応する位置に開口が形成されている。

錠前３は、鍵部３０と、一対の係止部３２，３２と、作動機構とを備える。

鍵部３０は、所謂キーシリンダであり、短絡片２１１の鍵部２１５を挿入可能な回転部３１を有する。

すなわち、ここでの錠前３は、保護継電器盤２の短絡片２１１が鍵として使用される。具体的には、試験用プラグ５の対象となる試験用プラグ挿入口２２に対応した一対のトリップロック端子２１，２１から取り外された短絡片２１１が鍵として兼用される。

一対の係止部３２，３２は、掛止板２２０に係止する。具体的には、掛止板（銘板）２２０の対向する両側の縁部２２０ａ，２２０ｂに係止する。

作動機構は、鍵部３０の回転部３１の操作力を一対の係止部３２，３２に伝達して一対の係止部３２，３２の互いが近接・離間するように動作させる（図示せず）。

つぎに本発明の実施形態に係る試験用プラグ誤挿入防止装置の使用態様について説明する。常態において、ロック構造Ｒはロックされている。具体的には、図５に示す如く、錠前３の回転部３１はロック位置にあり、錠前３の一対の係止部３２，３２が、掛止板２２０と錠前３との間にカバー２２２が配置された状態で、試験用プラグ挿入口２２の掛止板２２０（銘板である掛止板２２０の対向する両側の縁部２２０ａ，２２０ｂ）に対して外側から係止している。

保護継電器２０を試験する場合、まず、試験用プラグ５の挿入対象となる一対のトリップロック端子２１，２１から短絡片２１１を取り外す。そして、錠前３の回転部３１に短絡片２１１の鍵部２１５を挿入する。

そして、短絡片２１１を時計方向とは反対に半回転させると、錠前３の回転部３１がロック位置からロック解除の位置に回転し、作動機構によって、回転部３１の操作力が一対の係止部３２，３２に伝達されて、一対の係止部３２，３２が解除される。具体的には、一対の係止部３２，３２が、掛止板（銘板）２２０の両側の縁部２２０ａ，２２０ｂから互いに離れる方向に動いて、試験用プラグ挿入口２２の掛止板２２０の両側の縁部２２０ａ，２２０ｂから離脱して、錠前３が試験用プラグ挿入口２２の掛止板２２０から取り外せる状態になる。

つぎに、カバー２２２を開いて、試験用プラグ挿入口２２を開放させる。

そして、開放した試験用プラグ挿入口２２に試験用プラグ５の挿入部５０を挿入して、試験用プラグ５の一対の電極５０１，５０１を試験用プラグ挿入口２２の一対の端子２２ａのそれぞれに接続する。

つぎに、試験用プラグ５の端子部５１にリード線Ｌを介して試験装置Ｈを接続して、保護継電器２０の試験を行う。

試験終了後、カバー２２２を閉じて、試験用プラグ挿入口２２を隠蔽する。この状態で、掛止板２２０に錠前３をあてがって、錠前３の回転部３１に短絡片２１１の鍵部２１５を挿入する。

つぎに、短絡片２１１を時計方向に半回転させると、錠前３の一対の係止部３２，３２が互いに近接する方向に移動して、試験用プラグ挿入口２２の掛止板２２０の両側の縁部２２０ａ，２２０ｂに係止する。すなわち、錠前３は、解除した状態から施錠された状態（ロックされた状態）になる。これにより、試験用プラグ挿入口２２にカバー２２２が取り付けられた状態でロックされる。

このように、本発明の実施形態に係るプラグ誤挿入防止装置によれば、保護継電器２０を試験する時、試験対象となる保護継電器２０を、遮断器を含む回路から切り離した状態で、試験用プラグ５を試験対象となる試験用プラグ挿入口２２に挿入することができる。

なお、本発明に係る試験用プラグ誤挿入防止装置は、前記実施形態に限定することなく種々変更することができる。

例えば、前記実施形態の場合、試験用プラグ挿入口２２に錠前３を取り付けるとともに、該錠前３の回転部（キーシリンダ）３１に対応した鍵部２１５を短絡片２１１の他端部に形成するようにしたが、図７に示す如く、ドライバのような形態にするようにしてもよい。具体的には、短絡片２１１の端部に、プラス又はマイナスのドライバの刃２１６を形成する。

また、前記実施形態の場合、錠前３の一対の係止部３２，３２を、試験用プラグ挿入口２２の掛止板２２０両側の縁部２２０ａ，２２０ｂに対して外側から係止するようにしたが、図８に示す如く、錠前３の一対の係止部３２，３２を、試験用プラグ挿入口２２の掛止板２２０の開口に対して内側から係止するようにしてもよい。

１…試験用プラグ誤挿入防止装置、２…保護継電器盤、２ａ…盤面、３…錠前、５…試験用プラグ、２０…保護継電器、２１…トリップロック端子、２２…試験用プラグ挿入口、２２ａ…端子、３０…鍵部、３１…回転部、３２…係止部、５０…挿入部、５１…端子部、２１１…短絡片、２１１ａ…係止部、２１１ｂ…係止部、２１２…摘み部、２１３…端子用カバー、２１４ａ…係止凹部、２１４ｂ…係止凹部、２１５…鍵部、２１６…刃、２２０…掛止板、２２０ａ…縁部、２２０ｂ…縁部、２２１…平ワッシャ、２２２…カバー、５００…絶縁板、５０１…電極、５１０…端子、Ｈ…試験装置、Ｌ…リード線、Ｒ…ロック構造

Claims (2)

1. 遮断器を含む回路に接続される複数の保護継電器であって、遮断器にトリップ信号を送信するための複数の保護継電器と、各保護継電器のそれぞれに対応して配置された複数対のトリップロック端子であって、それぞれが短絡片を介して接続される複数対のトリップロック端子と、各保護継電器のそれぞれに対応して配置された複数の試験用プラグ挿入口であって、それぞれが保護継電器を試験するための試験用プラグを挿入可能な複数の試験用プラグ挿入口とを有し、トリップロック端子から短絡片を取り外すことで、遮断器を含む回路から試験対象となる保護継電器が切り離されるように構成された保護継電器盤を対象とした試験用プラグ誤挿入防止装置において、
   試験用プラグ挿入口の少なくとも一部を閉じたカバーと、該カバーが試験用プラグ挿入口の一部を閉じた状態で該カバーをロック可能なロック構造とを備え、
   該ロック構造は、試験用プラグの挿入対象となる試験用プラグ挿入口に対応したトリップロック端子から取り外した短絡片を鍵として、カバーに対するロックを解除可能に構成されることを特徴とする、試験用プラグ誤挿入防止装置。
2. 前記ロック構造は、前記保護継電器盤の盤面から離間して配置される掛止板であって、前記試験用プラグ挿入口の周囲に配置される掛止板と、該掛止板に係止可能な一対の係止部を有する錠前とを備える、請求項１に記載の試験用プラグ誤挿入防止装置。

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