JP2017032391A - 距離測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】発光部から光波を照射し、該光波の反射光を受光することによって光波を反射した物体までの距離を測定する距離測定装置において、外乱光を含む入射光の受光レベルが高いときであっても物体までの距離を測定しやすくできるようにする。【解決手段】本発明の一側面の距離測定装置において、外乱光レベル取得手段(10)は、方位毎に外乱光の受光レベルを取得し、第1受光手段(25)は、方位毎に外乱光を含む入射光を受光し、入射光の受光レベルに応じた出力を行う。また、透過率変更手段(24)は、方位毎に第1受光手段に入射される入射光の透過率を変更可能とされ、透過率制御手段(10)は、外乱光を含む入射光の第1受光手段による受光レベルが予め設定された範囲内となるよう方位毎に外乱光の受光レベルに応じて透過率変更手段による透過率を変更させる。【選択図】図1
Description
本発明は、発光部から光波を照射し、該光波の反射光を受光することによって光波を反射した物体までの距離を測定する距離測定装置に関する。
上記の距離測定装置として、ある方位からの外乱光を含む入射光の受光レベルが高い場合に、この方位については照度を検出するために入射光を利用し、距離の測定を実施しないようにすることで、距離の誤検出を抑制したものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら上記の距離測定装置では、外乱光の受光レベルが高いときには距離の測定ができないという問題点があった。そこでこのような問題点を鑑み、発光部から光波を照射し、該光波の反射光を受光することによって光波を反射した物体までの距離を測定する距離測定装置において、外乱光の受光レベルが高いときであっても物体までの距離を測定しやすくできるようにすることを本発明の目的とする。
本発明の一側面の距離測定装置において、外乱光レベル取得手段は、方位毎に外乱光の受光レベルを取得し、第1受光手段は、方位毎に外乱光を含む入射光を受光し、入射光の受光レベルに応じた出力を行う。また、透過率変更手段は、方位毎に第1受光手段に入射される入射光の透過率を変更可能とされ、透過率制御手段は、外乱光を含む入射光の第1受光手段による受光レベルが予め設定された範囲内となるよう方位毎に外乱光の受光レベルに応じて透過率変更手段による透過率を変更させる。
このような距離測定装置によれば、外乱光の受光レベルに応じて第1受光手段による受光レベルが予め設定された範囲内となるよう方位毎に外乱光の受光レベルに応じて透過率を変更するので、外乱光に反射光が埋没しにくくすることができる。よって、外乱光の受光レベルが高いときであっても物体までの距離を測定しやすくすることができる。
なお、各請求項の記載は、可能な限りにおいて任意に組み合わせることができる。この際、一部構成を除外してもよい。
以下に本発明にかかる実施の形態を図面と共に説明する。
[第1実施形態]
[第1実施形態の構成]
本発明が適用された距離測定装置1は、例えば乗用車等の車両に搭載されており、投光部15から光波を照射し、受光部20Aを用いて該光波の反射光を受光することによって、光波を反射した物体までの距離を測定する装置である。特に、距離測定装置1は、太陽光等の外乱光が受光部20Aに入射されたときであっても、外乱光による悪影響を抑制する機能を有する。
[第1実施形態]
[第1実施形態の構成]
本発明が適用された距離測定装置1は、例えば乗用車等の車両に搭載されており、投光部15から光波を照射し、受光部20Aを用いて該光波の反射光を受光することによって、光波を反射した物体までの距離を測定する装置である。特に、距離測定装置1は、太陽光等の外乱光が受光部20Aに入射されたときであっても、外乱光による悪影響を抑制する機能を有する。
具体的には、図1に示すように、距離測定装置1は、信号処理部10と、投光部15と、受光部20Aとを備えている。また、受光部20Aは、受光レンズ21と、ダイクロイックミラー22と、第2光検出部23と、透過率変更部24と、第1光検出部25と、を備えている。
投光部15は、例えば、比較的広範囲に赤外光のパルス波を射出する、いわゆるフラッシュ型の投光器として構成されている。具体的には、投光部15は、例えば、波長が800〜900nmの光波を照射する(図2参照)。なお、投光部15は、ポリゴンミラーを用いてレーザ光等の光波を走査する走査型の投光器等、任意の投光器を採用してもよい。
受光部20Aは、投光部15から照射された光波の反射光、およびこの反射光を除く光波である外乱光を検出する。詳細には、受光部20Aにおいて、受光レンズ21は、投光部15から照射された光波、および外乱光を集光する。そして、受光レンズ21を透過した光波は、ダイクロイックミラー22に照射される。
ダイクロイックミラー22は、図2に示すように、投光部15から照射された光波の波長を含む波長帯以上の光波を透過し、これ以下の波長帯の光波を反射するよう周波数特性が設定されている。ダイクロイックミラー22にて反射された光波は、第2光検出部23に入射され、ダイクロイックミラー22を透過した光波は、透過率変更部24を介して第1光検出部25に入射される。
すなわち、ダイクロイックミラー22は、投光部15から照射された光波の反射光の大部分が第1光検出部25のみに入射され、第2光検出部23に入射されにくくすることで、第2光検出部23が外乱光のみを検出できるようにしている。
第2光検出部23(第1光検出部25も同様)は、図3に示すように、マトリクス状に配置された多数の検出素子23Aを備えている。すなわち、第2光検出部23は、物体を検出する検出領域を、多数の方位(水平方向)および多数のライン(鉛直方向)に分割し、これらの分割された領域毎に、光波の強度を検出する。なお、方位とは、水平方向のうち、基準とする方向(ここでは自車両の正面)からの角度を示す。
これらの検出素子23Aは、入射された光の強さ(受光レベル)に応じた電圧を出力する光電変換素子として構成されている。検出素子23Aとしては、例えば、フォトダイオードやCMOSイメージセンサ等を採用できる。
透過率変更部24は、反射光が含まれる波長帯の光波の透過率を変更可能な光学式フィルタとして構成されている。透過率変更部24は、図3に示すように、第2光検出部23と同様に、マトリクス状に配置されており、区分された領域24A毎に、光波の透過率を変更可能に構成されている。
なお、図3では、第2光検出部23、第1光検出部25における受光領域の区分態様と透過率変更部24における透過領域の区分態様とが一対一に対応する場合を例示しているが、これらは任意の比率で対応していてもよい。ただし、第1光検出部25における受光領域の区分態様と透過率変更部24における透過領域の区分態様とが一対一に対応していると、第1光検出部25に入射される光波を検出素子毎に最適化できるため好ましい。
また、透過率変更部24は、各領域24Aの透過率を複数段階に変更できるよう設定されている。例えば図3に示す例では、濃度が濃くなるに従って、透過率が低くなることを示している。第1光検出部25は、透過率変更部24を透過した光波を多数の検出素子を用いて検出する。
信号処理部10は、図1に示すように、CPU11と、ROM、RAM等のメモリ12とを備えたコンピュータとして構成されている。CPU11は、メモリ12に格納されたプログラムに基づく処理を実施する。なお、信号処理部10は、コンピュータにて実施される処理と同様の処理を実現できればよく、例えば、回路から構成されていてもよい。
信号処理部10は、第2光検出部23にて得られた外乱光に応じた信号(信号強度)を外乱光の受光レベルとして繰り返し取得し、方位毎に外乱光の受光レベルを認識する。そして、外乱光を含む入射光の第1光検出部25による受光レベルが予め設定された範囲内となるよう方位毎に外乱光の受光レベルに応じて透過率変更部24による透過率を変更させる。
このとき信号処理部10は、外乱光の受光レベルが取得される度に、外乱光の受光レベルが目標値に近づくよう透過率変更部24による透過率を変更する。例えば、信号処理部10のメモリ12には、外乱光の受光レベルと透過率変更部24による透過率との関係を対応付けたマップが格納されており、このマップを参照することによって、外乱光の受光レベルが予め設定された範囲内となるように、透過率変更部24の区分された領域24A毎に印加する電圧を設定する。
なお、透過率変更部24は、各領域24Aにおいて電圧が印加されると領域24A毎に電圧に応じて透過率が変化するよう設定されている。信号処理部10は、第2光検出部23の検出素子23A毎に受光レベルを検出し、透過率変更部24の対応する領域24A毎に印加する電圧を設定することで、第1光検出部25に入射される光波の受光レベルを最適化する。
[第1実施形態による効果]
上記の距離測定装置1において、信号処理部10は、方位毎に外乱光の受光レベルを取得し、第1光検出部25は、方位毎に外乱光を含む入射光を受光し、入射光の受光レベルに応じた出力を行う。また、透過率変更部24は、方位毎に第1光検出部25に入射される入射光の透過率を変更可能とされ、信号処理部10は、外乱光を含む入射光の第1光検出部25による受光レベルが予め設定された範囲内となるよう方位毎に外乱光の受光レベルに応じて透過率変更部24による透過率を変更させる。
上記の距離測定装置1において、信号処理部10は、方位毎に外乱光の受光レベルを取得し、第1光検出部25は、方位毎に外乱光を含む入射光を受光し、入射光の受光レベルに応じた出力を行う。また、透過率変更部24は、方位毎に第1光検出部25に入射される入射光の透過率を変更可能とされ、信号処理部10は、外乱光を含む入射光の第1光検出部25による受光レベルが予め設定された範囲内となるよう方位毎に外乱光の受光レベルに応じて透過率変更部24による透過率を変更させる。
このような距離測定装置1によれば、外乱光の受光レベルに応じて第1光検出部25による受光レベルが予め設定された範囲内となるよう方位毎に外乱光の受光レベルに応じて透過率を変更するので、外乱光に反射光が埋没しにくくすることができる。特に、ある方位において太陽光のような強烈な外乱光が入射されたときに、この素子と隣接する素子においてもノイズが検出されるクロストークが発生するが、本実施形態の構成では、このクロストークを抑制することができる。
具体的には図4を用いて説明する。図4では、透過率変更部24を備えない構成であり、かつ順に並べて配置された受光素子1〜5において、受光素子2のみに対して受光素子のダイナミックレンジを超える過大な光量の光波を照射した。そして、このときの受光素子2の受光強度100%としたときにおいて、周囲の受光素子へのノイズの影響をグラフ化している。
この場合、受光素子2に隣接する受光素子1,3においては、直接的に光波を照射していないにも拘わらず、3%程度の受光強度に相当するノイズが発生していることが分かる。また、同様に、受光素子4においても0.5%程度の受光強度に相当するノイズが発生していることが分かる。
このノイズの大きさは、受光素子2による受光レベルが低減されると、それに伴って低減される。したがって、本実施形態では、受光素子2に入射されるような過大な光量の光波を、透過率変更部24を用いて大幅に遮光するため、周囲の受光素子へのクロストークの発生を抑制することができる。よって、外乱光の受光レベルが高いときであっても物体までの距離を測定しやすくすることができる。
また、上記の距離測定装置1においては、第1光検出部25とは異なる第2光検出部23を備え、信号処理部10は、第2光検出部23にて得られた外乱光に応じた信号を外乱光の受光レベルとして取得する。
このような距離測定装置1によれば、外乱光を第1光検出部25とは異なる検出部で受講するので、外乱光の受光レベルを正確に検出しつつ透過率変更部24の透過率を設定することができる。
また、上記の距離測定装置1においては、第1光検出部25への入射光を第2光検出部23にも分光するダイクロイックミラー22を備えている。ダイクロイックミラーは、発光部から照射される光波に対応する対応周波数の光波の少なくとも一部を透過させ、対応周波数以外の光波を反射させる。なお、分光とは、入射される光を周波数毎に分けることや、周波数毎に分けないものの、光の一部を他の方向に分けること等を示す。
このような距離測定装置1によれば、第1光検出部25への入射光の受光部を第2光検出部23への入射光の受光部と別に設ける場合と比較して、受光部の面積を小さくすることができる。
また、このような距離測定装置1において、反射光を第1光検出部25にて受光できるようダイクロイックミラーの周波数特性を設定しておけば、第2光検出部23が反射光の影響を受けにくくすることができる。よって、任意のタイミングで外乱光の受光レベルを検出することができる。
また、上記の距離測定装置1において、信号処理部10は、繰り返し外乱光の受光レベルを取得し、信号処理部10は、外乱光の受光レベルが取得される度に、外乱光の受光レベルが目標値に近づくよう透過率変更部24による透過率を変更する。
このような距離測定装置1によれば、外乱光の受光レベルが変化したとしても、その変化に対応して透過率変更部24による透過率を変更させることができる。
[第2実施形態]
次に、別形態の距離測定装置2について説明する。本実施形態(第2実施形態)では、第1実施形態の距離測定装置1と異なる箇所のみを詳述し、第1実施形態の距離測定装置1と同様の箇所については、同一の符号を付して説明を省略する。
[第2実施形態]
次に、別形態の距離測定装置2について説明する。本実施形態(第2実施形態)では、第1実施形態の距離測定装置1と異なる箇所のみを詳述し、第1実施形態の距離測定装置1と同様の箇所については、同一の符号を付して説明を省略する。
[第2実施形態の構成]
第2実施形態の距離測定装置2においては、距離測定装置1における受光部20Aに換えて、受光部20Bを備えている。受光部20Bは、図5に示すように、受光レンズ21と、透過率変更部24と、第1光検出部25と、を備えている。すなわち、ダイクロイックミラー22と、第2光検出部23と、を備えない、簡素な構成とされている。
第2実施形態の距離測定装置2においては、距離測定装置1における受光部20Aに換えて、受光部20Bを備えている。受光部20Bは、図5に示すように、受光レンズ21と、透過率変更部24と、第1光検出部25と、を備えている。すなわち、ダイクロイックミラー22と、第2光検出部23と、を備えない、簡素な構成とされている。
[第2実施形態の処理]
第2実施形態の信号処理部10は、図6に示す透過率制御処理を実施する。透過率制御処理は、第1光検出部25を、外乱光を検出する構成と、反射波を検出する構成とに使い分け、透過率変更部24を適切な透過率に制御する処理である。透過率制御処理は、透過率変更部24の区分された領域24A毎に実施される。
第2実施形態の信号処理部10は、図6に示す透過率制御処理を実施する。透過率制御処理は、第1光検出部25を、外乱光を検出する構成と、反射波を検出する構成とに使い分け、透過率変更部24を適切な透過率に制御する処理である。透過率制御処理は、透過率変更部24の区分された領域24A毎に実施される。
透過率制御処理では、図6に示すように、まず、透過率変更部24の領域24Aに対応する第1光検出部の受光素子にて得られるノイズを算出する(S110)。ここで、ノイズとは、図7に示すように、物体からの反射波が受光されないタイミング(投光部15が光波を照射してから所定時間内を除くタイミング)における第1光検出部25による入射光の受光レベル(外乱光の受光レベル)を示す。なお、S110の実施の際に、物体からの反射波が受光されるタイミングである場合には、物体からの反射波が受光されないタイミングになるまで待機する。
続いて、S110にて得られたノイズ算出値と予め準備された設定値(閾値)とを比較する(S120)。ノイズ算出値が設定値よりも大きい場合には(S120:算出値>)、透過率変更部24の領域24Aに対する印加電圧を上昇させるよう設定する。
また、ノイズ算出値が設定値と等しい場合には(S120:算出値=)、後述するS150の処理に移行する。また、ノイズ算出値が設定値よりも小さい場合には(S120:算出値<)、透過率変更部24の領域24Aに対する印加電圧を低下させるよう設定する(S140)。
続いて、設定された印可電圧を透過率変更部24の領域24Aに対して印可する(S150)。この際、ノイズ算出値と設定値との差分の大きさに応じて、この差分が小さくなるよう印加電圧を変化させる。
この場合、図7(a)、図7(b)、図7(c)に示すように、ノイズを取得後に「調光」の期間の初期において印可電圧を変化させる。すると、透過率変更部24においては、応答性の都合により、「調光」の期間内において徐々に透過率が変更される。
このような処理が終了すると、S110の処理に戻る。
[第2実施形態による効果]
上記の距離測定装置2において、信号処理部10は、第1光検出部25により反射光を受光しないときの出力を外乱光の受光レベルとして取得する。
[第2実施形態による効果]
上記の距離測定装置2において、信号処理部10は、第1光検出部25により反射光を受光しないときの出力を外乱光の受光レベルとして取得する。
このような距離測定装置2によれば、第1光検出部25を用いて外乱光の受光レベルを検出することができる。
[その他の実施形態]
本発明は、上記の実施形態によって何ら限定して解釈されない。また、上記の実施形態の説明で用いる符号を特許請求の範囲にも適宜使用しているが、各請求項に係る発明の理解を容易にする目的で使用しており、各請求項に係る発明の技術的範囲を限定する意図ではない。上記実施形態における1つの構成要素が有する機能を複数の構成要素として分散させたり、複数の構成要素が有する機能を1つの構成要素に統合させたりしてもよい。また、上記実施形態の構成の一部を、課題を解決できる限りにおいて省略してもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の上記実施形態の構成に対して付加又は置換してもよい。なお、特許請求の範囲に記載した文言のみによって特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本発明の実施形態である。
[その他の実施形態]
本発明は、上記の実施形態によって何ら限定して解釈されない。また、上記の実施形態の説明で用いる符号を特許請求の範囲にも適宜使用しているが、各請求項に係る発明の理解を容易にする目的で使用しており、各請求項に係る発明の技術的範囲を限定する意図ではない。上記実施形態における1つの構成要素が有する機能を複数の構成要素として分散させたり、複数の構成要素が有する機能を1つの構成要素に統合させたりしてもよい。また、上記実施形態の構成の一部を、課題を解決できる限りにおいて省略してもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の上記実施形態の構成に対して付加又は置換してもよい。なお、特許請求の範囲に記載した文言のみによって特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本発明の実施形態である。
上述した距離測定装置1,2の他、当該距離測定装置1,2を構成要素とするシステム、当該距離測定装置1,2としてコンピュータを機能させるためのプログラム、このプログラムを記録した媒体、距離測定方法など、種々の形態で本発明を実現することもできる。
例えば、上記第1実施形態においては、第1光検出部25および第2光検出部23に分光するためにダイクロイックミラー22を用いたが、プリズムやハーフミラー等を用いてもよい。また、上記第1実施形態においては、第1光検出部25および第2光検出部23を並列に配置し、それぞれに対応する受光レンズを設けることによって別々に入射光を得るようにしてもよい。
このようにしても本発明の課題を解決することができる。
[実施形態の構成と本発明の手段との対応関係]
上記実施形態において信号処理部10は、本発明でいう外乱光レベル取得手段および透過率制御手段に相当し、上記実施形態においてダイクロイックミラー22は、本発明でいう分光手段に相当する。また、上記実施形態において第1光検出部25は、本発明でいう第1受光手段に相当し、上記実施形態において透過率変更部24は、本発明でいう透過率変更手段に相当する。さらに、上記実施形態において第2光検出部23は、本発明でいう第2受光手段に相当する。
[実施形態の構成と本発明の手段との対応関係]
上記実施形態において信号処理部10は、本発明でいう外乱光レベル取得手段および透過率制御手段に相当し、上記実施形態においてダイクロイックミラー22は、本発明でいう分光手段に相当する。また、上記実施形態において第1光検出部25は、本発明でいう第1受光手段に相当し、上記実施形態において透過率変更部24は、本発明でいう透過率変更手段に相当する。さらに、上記実施形態において第2光検出部23は、本発明でいう第2受光手段に相当する。
1,2…距離測定装置、10…信号処理部、11…CPU、12…メモリ、15…投光部、20A,20B…受光部、21…受光レンズ、22…ダイクロイックミラー、23…第2光検出部、23A…検出素子、24…透過率変更部、25…第1光検出部。
Claims (6)
- 発光部から光波を照射し、該光波の反射光を受光することによって光波を反射した物体までの距離を測定する距離測定装置(1,2)であって、
方位毎に外乱光の受光レベルを取得する外乱光レベル取得手段(10)と、
前記方位毎に外乱光を含む入射光を受光し、入射光の受光レベルに応じた出力を行う第1受光手段(25)と、
前記第1受光手段よりも前記物体側に配置され、前記方位毎に入射光の透過率を変更可能な透過率変更手段(24)と、
外乱光を含む入射光の前記第1受光手段による受光レベルが予め設定された範囲内となるよう方位毎に外乱光の受光レベルに応じて前記透過率変更手段による透過率を変更させる透過率制御手段(10)と、
を備えたことを特徴とする距離測定装置。 - 請求項1に記載の距離測定装置において、
前記第1受光手段とは異なる第2受光手段(23)を備え、
前記外乱光レベル取得手段は、前記第2受光手段にて得られた外乱光に応じた信号を前記外乱光の受光レベルとして取得すること
を特徴とする距離測定装置。 - 請求項2に記載の距離測定装置において、
前記第1受光手段への入射光を前記第2受光手段にも分光する分光手段(22)、を備えたこと
を特徴とする距離測定装置。 - 請求項3に記載の距離側測定装置において、
前記分光手段は、ダイクロイックミラーとして構成されていること
を特徴とする距離測定装置。 - 請求項1に記載の距離測定装置において、
前記外乱光レベル取得手段は、前記第1受光手段により前記反射光を受光しないときの出力を外乱光の受光レベルとして取得すること
を特徴とする距離測定装置。 - 請求項1〜請求項5の何れか1項に記載の距離測定装置において、
前記外乱光レベル取得手段は、繰り返し外乱光の受光レベルを取得し、
前記透過率制御手段は、外乱光の受光レベルが取得される度に、外乱光の受光レベルが目標値に近づくよう前記透過率変更手段による透過率を変更すること
を特徴とする距離測定装置。
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