JP2017028193A - 半導体レーザ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レーザ光を出力する1以上の半導体レーザからなる複数の半導体レーザモジュールと、複数の半導体レーザモジュールに対応して設けられ、各々の半導体レーザモジュールの温度を個別に制御する複数の温度調整素子と、各々の半導体レーザモジュールの各々のスペクトルピークが互いのスペクトル半値全幅の波長区間に入らないようにし且つ複数の半導体レーザモジュールの重ね合わせられた出力光のスペクトル幅が所定幅以上となるように複数の温度調整素子の各々を制御する温度制御回路とを備える。
【選択図】図1
Description
2a〜2d 半導体レーザモジュール
3a〜3d ペルチェ素子
4 光空間多重部
5,5a 温度制御回路
6a〜6d 回折格子
7 フォトダイオード(PD)
Claims (4)
- レーザ光を出力する1以上の半導体レーザからなる複数の半導体レーザモジュールと、
前記複数の半導体レーザモジュールに対応して設けられ、各々の半導体レーザモジュールの温度を個別に制御する複数の温度調整素子と、
前記各々の半導体レーザモジュールの各々のスペクトルピークが互いのスペクトル半値全幅の波長区間に入らないようにし且つ前記複数の半導体レーザモジュールの重ね合わせられた出力光のスペクトル幅が所定幅以上となるように前記複数の温度調整素子の各々を制御する温度制御回路と、
を備えることを特徴とする半導体レーザ装置。 - 前記複数の半導体レーザモジュールに対応して設けられ、各々の半導体レーザモジュールからの出力光を分光する複数の分光素子と、
前記複数の分光素子に対応して設けられ、前記複数の分光素子で分光された複数の出力光に基づく複数の波長の強度を検出する複数の検出部とを備え、
前記温度制御回路は、前記検出部からの複数の波長の強度に基づく前記各々のスペクトルピークが互いのスペクトル半値全幅の波長区間に入らないようにし且つ前記複数の半導体レーザモジュールの重ね合わせられた出力光のスペクトル幅が所定幅以上となるように前記複数の温度調整素子の各々を制御することを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ装置。 - 同一の半導体モジュール内の前記1以上の半導体レーザの各々は、スペクトルピークが一定温度において±0.5nm以内で一致するように選別されて組み立てられていることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の半導体レーザ装置。
- 前記所定幅は、10nmであることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項記載の半導体レーザ装置。
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JP2004503923A (ja) * | 2000-07-10 | 2004-02-05 | コーポレーション フォー レーザー オプティックス リサーチ | 帯域幅強調によるスペックル低減のためのシステム及び方法 |
JP2015070139A (ja) * | 2013-09-30 | 2015-04-13 | ウシオ電機株式会社 | レーザ光源装置 |
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2015
- 2015-07-27 JP JP2015147599A patent/JP2017028193A/ja active Pending
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