JP2017009576A - Voltage detection probe and measurement device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make mountable to a measurement object electric wire that is present in a state extremely close to other electric wires.SOLUTION: A voltage detection probe comprises: a first shield cylindrical element 21 formed in a cylindrical shape made of a conductive material and having an insertion recess 33 formed at the tip into which a measurement object electric wire 6 can be inserted; and a detection electrode 23 formed in a columnar shape made of a conductive material, with a tip face 23a and an outer circumferential face 23b covered with an insulation coating 24, and housed inside the first shield cylindrical element 21 so as to be able to move relatively to the cylindrical element 21 along the direction of an axis L. The detection electrode 23 is constructed so that when it is moved relatively to the first shield cylindrical element 21 and the tip face 23a reaches the insertion recess 33, the tip face 23a can be capacitive coupled via the insulation coating 24 with the measurement object electric wire 6 being inserted in the insertion recess 33.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、測定対象電線の電圧を検出可能に構成された電圧検出プローブ、およびこの電圧検出プローブを備えた測定装置に関するものである。   The present invention relates to a voltage detection probe configured to be able to detect the voltage of an electric wire to be measured, and a measurement apparatus including the voltage detection probe.

この種の電圧検出プローブとして、本願出願人は、下記の特許文献1〜3において、種々の形態の電圧検出プローブ(以下、単に「検出プローブ」ともいう)を開示している。例えば、特許文献1では、閉状態において測定対象電線を取り囲んで環状の閉磁路を形成する磁気コアが内蔵されたクランプ部を備えた検出プローブを開示している。また、特許文献2では、電圧測定用センサ基板を収容するセンサ基板収容部と、回動軸を介してセンサ基板収容部に回動可能に軸支されて、測定対象導線をセンサ基板収容部との間で挟持する測定対象電線押付け部とを備えた構成の検出プローブを開示している。また、特許文献3では、内部に電圧検出用の検知電極と磁石とが配置された電圧検出部を備え、電圧検出部が設けられた測定プローブの先端部を磁石の磁力によって位置決めしつつ測定対象電線に押し当てる構成の検出プローブを開示している。これらの検出プローブは、いずれも、その検出用の電極を測定対象電線の導電部位に直接接触させることなく互いに容量結合させるだけで、この導電部位の電圧を検出し得る検出プローブ(いわゆる非接触型電圧検出プローブ)として構成されている。   As this type of voltage detection probe, the applicant of the present application discloses various types of voltage detection probes (hereinafter also simply referred to as “detection probes”) in Patent Documents 1 to 3 below. For example, Patent Document 1 discloses a detection probe that includes a clamp portion in which a magnetic core that surrounds an electric wire to be measured and forms an annular closed magnetic path in a closed state is incorporated. In Patent Document 2, a sensor substrate housing portion that houses a voltage measurement sensor substrate, and a sensor substrate housing portion that is pivotally supported by a sensor substrate housing portion via a rotation shaft, and a measurement target conductor is connected to the sensor substrate housing portion. The detection probe of the structure provided with the measurement object electric wire pressing part clamped between is disclosed. Moreover, in patent document 3, it has a voltage detection part by which the detection electrode for a voltage detection and a magnet are arrange | positioned inside, and is measuring object, positioning the front-end | tip part of the measurement probe provided with the voltage detection part with the magnetic force of a magnet A detection probe configured to be pressed against an electric wire is disclosed. Each of these detection probes is a detection probe (so-called non-contact type) that can detect the voltage of the conductive portion by simply capacitively coupling the detection electrodes to each other without directly contacting the conductive portion of the electric wire to be measured. Voltage detection probe).

特開2012−137496号公報(第5頁、第1図)Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-137496 (5th page, FIG. 1) 特開2014−52329号公報(第5−8頁、第1−3図)JP 2014-52329 A (page 5-8, FIG. 1-3) 特開2014−163670号公報(第5−8頁、第1−3図)JP 2014-163670 A (page 5-8, Fig. 1-3)

ところが、上記した各検出プローブには、以下のような改善すべき課題が存在している。すなわち、これらの検出プローブは、電圧検出用の電極の近傍に、磁気コアが配置されていたり、クランプや挟持のための機構が配置されていたり、磁石が配置されていたりする構成のため、外形、特に電圧検出用の電極を含む部位の形状が大きくなっている。   However, each of the detection probes described above has the following problems to be improved. In other words, these detection probes have a configuration in which a magnetic core, a mechanism for clamping and clamping, or a magnet is arranged in the vicinity of the voltage detection electrode. In particular, the shape of the part including the electrode for voltage detection is large.

したがって、これらの検出プローブは、例えば、架線や、架線から屋内への引込線や、屋内配線などに使用される電線(通常は被覆電線)のように、検出プローブを装着する部位の近傍(周囲)にある程度の広さの空間が存在している測定対象電線には使用することは可能となっている。ところが、これらの検出プローブでは、例えば、電子機器内に配設された回路基板に作動用電圧を供給するための小径(例えば、直径が2mm以下)の電線であって、通常は他の同じような小径の電線と共に結束された状態で引き回される電線の1本などのように、他の電線と極めて近接した状態で存在している1本の電線に装着するのは難しく、この点を改善すべきとの課題が存在している。   Therefore, these detection probes are in the vicinity (periphery) of the portion where the detection probe is mounted, such as an overhead wire, a lead-in wire from the overhead wire to the indoor, an electric wire used for indoor wiring (usually a covered electric wire). However, it is possible to use it for a measuring object electric wire in which a certain amount of space exists. However, these detection probes are, for example, electric wires having a small diameter (for example, a diameter of 2 mm or less) for supplying an operating voltage to a circuit board disposed in an electronic device, and are usually similar to other electric wires. It is difficult to attach to one electric wire that is in close proximity to other electric wires, such as one electric wire routed in a state of being bundled together with a small diameter electric wire. There is a problem that should be improved.

本発明は、かかる課題を改善するためになされたものであり、他の電線と極めて近接した状態で存在している測定対象電線に装着し得る電圧検出プローブ、およびこの電圧検出プローブを備えた測定装置を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in order to improve such a problem, and a voltage detection probe that can be attached to a measurement target electric wire existing in a state of being very close to other electric wires, and a measurement provided with this voltage detection probe The main purpose is to provide a device.

上記目的を達成すべく請求項1記載の電圧検出プローブは、導電性材料製の筒状体で形成されると共に先端部における外周壁の一部が軸線に対して交差する方向に沿って切り欠かれて測定対象電線を挿入可能な挿入凹部が当該先端部に形成されたシールド筒体と、先端面および外周面が絶縁被覆で覆われた導電性材料製の柱状体で形成されて前記軸線方向に沿って前記シールド筒体に対して相対的に移動可能に当該シールド筒体内に収納された検出電極とを備え、前記検出電極は、当該シールド筒体に対して相対的に移動させられて前記先端面が前記挿入凹部に位置したときに、当該挿入凹部に挿入されている状態の前記測定対象電線と前記絶縁被覆を介して前記先端面が容量結合可能に構成されている。   In order to achieve the above object, the voltage detection probe according to claim 1 is formed of a cylindrical body made of a conductive material and is cut out along a direction in which a part of the outer peripheral wall at the tip intersects the axis. The axial direction is formed by a shield cylinder having an insertion recess into which the measurement target electric wire can be inserted is formed at the tip, and a columnar body made of a conductive material whose tip and outer peripheral surfaces are covered with an insulating coating. And a detection electrode accommodated in the shield cylinder so as to be movable relative to the shield cylinder, the detection electrode being moved relative to the shield cylinder When the distal end surface is positioned in the insertion recess, the distal end surface is configured to be capable of capacitive coupling through the measurement target electric wire inserted into the insertion recess and the insulating coating.

請求項2記載の電圧検出プローブは、請求項1記載の電圧検出プローブにおいて、前記挿入凹部を構成する前記シールド筒体の切欠き面のうちの前記先端部側に位置する先端側切欠き面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として基端部側に傾斜している。   The voltage detection probe according to claim 2 is the voltage detection probe according to claim 1, wherein the notch surface located on the tip end side of the notch surface of the shield cylinder constituting the insertion recess is Inclined toward the base end with respect to a reference plane orthogonal to the axis.

請求項3記載の電圧検出プローブは、請求項2記載の電圧検出プローブにおいて、前記挿入凹部を構成する前記シールド筒体の切欠き面のうちの前記基端部側に位置する基端側切欠き面は、前記基準平面を基準として、前記先端側切欠き面よりも前記基端部側に傾斜している。   The voltage detection probe according to claim 3 is the voltage detection probe according to claim 2, wherein the base side cutout located on the base end side of the cutout surface of the shield cylindrical body constituting the insertion recess. The surface is inclined to the base end side with respect to the notch surface on the tip side with respect to the reference plane.

請求項4記載の電圧検出プローブは、請求項1から3のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記検出電極を前記挿入凹部方向に常時付勢する付勢部材を備え、前記検出電極は、前記付勢部材の付勢力によって前記シールド筒体内を前記挿入凹部方向に摺動させられて、前記挿入凹部を構成する前記シールド筒体の切欠き面のうちの前記先端部側に位置する先端側切欠き面と前記先端面との間で、当該挿入凹部に挿入されている前記測定対象電線を挟持する。   The voltage detection probe according to claim 4 is the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 3, further comprising a biasing member that constantly biases the detection electrode in the direction of the insertion recess. The distal end side located on the distal end side of the cutout surface of the shield cylindrical body that is slid in the direction of the insertion concave portion in the shield cylindrical body by the biasing force of the biasing member and constitutes the insertion concave portion The measurement target electric wire inserted in the insertion recess is sandwiched between the notch surface and the distal end surface.

請求項5記載の電圧検出プローブは、請求項1から4のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記先端面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として前記先端部側に傾斜している。   The voltage detection probe according to claim 5 is the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 4, wherein the distal end surface is inclined toward the distal end portion with reference to a reference plane orthogonal to the axis. .

請求項6記載の電圧検出プローブは、請求項1から5のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記検出電極と前記シールド筒体との間には、前記測定対象電線と前記先端面との容量結合状態において前記挿入凹部から前記シールド筒体の外部に露出する前記検出電極の前記外周面を覆う前記絶縁被覆をさらに覆う導電性材料製の検出電極用シールド材が配設されている。   A voltage detection probe according to a sixth aspect is the voltage detection probe according to any one of the first to fifth aspects, wherein the measurement target electric wire and the tip end surface are between the detection electrode and the shield cylinder. A shield material for a detection electrode made of a conductive material is further provided to further cover the insulating coating covering the outer peripheral surface of the detection electrode exposed from the insertion recess to the outside of the shield cylinder in the capacitive coupling state.

請求項7記載の電圧検出プローブは、請求項6記載の電圧検出プローブにおいて、前記検出電極用シールド材は、筒体で構成されている。   A voltage detection probe according to a seventh aspect is the voltage detection probe according to the sixth aspect, wherein the shield material for the detection electrode is formed of a cylindrical body.

請求項8記載の電圧検出プローブは、請求項6記載の電圧検出プローブにおいて、前記検出電極用シールド材は、前記絶縁被覆の表面に形成された導電体層で構成されている。   The voltage detection probe according to an eighth aspect of the present invention is the voltage detection probe according to the sixth aspect, wherein the detection electrode shielding material is formed of a conductor layer formed on a surface of the insulating coating.

請求項9記載の電圧検出プローブは、請求項1から5のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記シールド筒体の外側には、前記測定対象電線と前記先端面との容量結合状態において前記挿入凹部から前記シールド筒体の外部に露出する前記検出電極の前記外周面を覆う前記絶縁被覆をさらに覆う導電性材料製の検出電極用シールド材が配設されている。   The voltage detection probe according to claim 9 is the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 5, wherein the measurement target electric wire and the tip end surface are in a capacitively coupled state outside the shield cylinder. A detection electrode shielding material made of a conductive material is provided to further cover the insulating coating covering the outer peripheral surface of the detection electrode exposed from the insertion recess to the outside of the shield cylinder.

請求項10記載の電圧検出プローブは、請求項6から9のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記検出電極用シールド材は、前記容量結合状態において当該検出電極用シールド材の先端部が前記検出電極の前記先端面と面一の状態および当該先端部が当該先端面よりも前記軸線方向に沿って前記シールド筒体の基端部側に位置する状態のいずれかの状態となるように構成されている。   The voltage detection probe according to claim 10 is the voltage detection probe according to any one of claims 6 to 9, wherein the detection electrode shield material has the tip of the detection electrode shield material in the capacitive coupling state. The detection electrode is configured so as to be in a state where it is flush with the distal end surface and a state where the distal end portion is located closer to the proximal end portion side of the shield cylinder along the axial direction than the distal end surface. Has been.

請求項11記載の測定装置は、請求項1から10のいずれかに記載の電圧検出プローブと、前記電圧検出プローブが接続される本体ユニットと、前記本体ユニット内に配設されて、前記芯線および前記検出電極を介して前記測定対象電線の電圧を検出すると共に当該電圧に応じて変化する電圧信号を出力する電圧検出部と、前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧信号に基づいて前記測定対象電線の前記電圧に追従する電圧を生成すると共に前記シールド導体に印加する電圧生成部と、前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧生成部で生成される前記電圧に基づいて前記測定対象電線の前記電圧を測定する処理部とを備え、前記電圧検出部は、前記電圧生成部で生成される前記電圧の電位を基準とするフローティング電圧で作動する。   A measurement apparatus according to claim 11 is provided with the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 10, a main body unit to which the voltage detection probe is connected, and the core wire disposed in the main body unit. A voltage detection unit that detects a voltage of the measurement target electric wire through the detection electrode and outputs a voltage signal that changes in accordance with the voltage, and is disposed in the main body unit, and based on the voltage signal, A voltage generation unit that generates a voltage that follows the voltage of the measurement target wire and that is applied to the shield conductor; and the measurement unit that is disposed in the main body unit and that is generated based on the voltage generated by the voltage generation unit. A processing unit that measures the voltage of the target electric wire, and the voltage detection unit operates with a floating voltage based on the potential of the voltage generated by the voltage generation unit.

請求項1記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置では、検出電極が、シールド筒体に対して相対的に移動させられて、挿入凹部内に挿入されている状態の測定対象電線と検出電極の先端面とが絶縁被覆を介して容量結合可能に構成されている。   In the voltage detection probe according to claim 1 and the measurement apparatus according to claim 11, the measurement target electric wire in a state in which the detection electrode is moved relative to the shield cylinder and inserted in the insertion recess The tip end surface of the detection electrode is configured to be capable of capacitive coupling via an insulating coating.

したがって、この電圧検出プローブおよび測定装置によれば、測定対象電線とする1本の配線材を挿入し得る挿入凹部を先端部に形成し、かつ絶縁被覆で覆われた検出電極を内部に収納し得る限りにおいて、細い筒状の剛性体でシールド筒体を形成することができ、これによって挿入凹部内に挿入された測定対象電線と検出電極の先端面との間の容量結合およびシールド筒体による検出電極のシールドが可能となることから、背景技術で説明した各種の検出プローブでは装着(クランプ)することが困難であった他の導体と極めて近接した状態で存在している測定対象電線に対しても、外乱の検出電極への影響(例えば、他の導体からの影響)をシールド筒体によって低減しつつ、挿入凹部内に挿入してその電圧を確実かつ容易に測定することができる。   Therefore, according to this voltage detection probe and measurement apparatus, an insertion recess into which a single wiring material to be measured can be inserted is formed at the tip, and the detection electrode covered with an insulating coating is accommodated inside. As long as it can be obtained, the shield cylinder can be formed of a thin cylindrical rigid body, which allows capacitive coupling between the measurement target electric wire inserted into the insertion recess and the tip surface of the detection electrode, and the shield cylinder. Since the detection electrode can be shielded, it can be used to measure wires that are in close proximity to other conductors that were difficult to mount (clamp) with the various detection probes described in the background art. However, while the influence of the disturbance on the detection electrode (for example, the influence from other conductors) is reduced by the shield cylinder, it is inserted into the insertion recess and the voltage can be measured reliably and easily. Can.

請求項2記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、先端側切欠き面が基端部側に傾斜する構成のため、挿入凹部内に挿入された測定対象電線が検出電極の先端面によって先端側切欠き面に押し付けられた状態(検出電極の先端面と先端側切欠き面とで挟持された状態)において、測定対象電線を挿入凹部から外れにくくすることができる。   According to the voltage detection probe according to claim 2 and the measurement apparatus according to claim 11, since the distal-side notch surface is inclined toward the base end side, the measurement target electric wire inserted into the insertion recess is the detection electrode. Thus, the measurement target electric wire can be made difficult to come off from the insertion recess in a state where it is pressed against the front end side notch surface by the front end surface (a state sandwiched between the front end surface of the detection electrode and the front end side notch surface).

請求項3記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、基端側切欠き面が先端側切欠き面よりも基端部側に傾斜する構成のため、上記のような先端側切欠き面を傾けたときの効果(挿入凹部から測定対象電線を外れにくくできるとの効果)を維持しつつ、各切欠き面間の軸線方向に沿った距離を、挿入凹部を構成する奥側の切欠き面から離間するに従って徐々に広くする構成(挿入凹部の開口幅を徐々に広くする構成)にできるため、測定対象電線の挿入凹部内への挿入の容易性を高めることができる。   According to the voltage detection probe according to claim 3 and the measurement device according to claim 11, the distal end as described above is configured so that the proximal notch surface is inclined toward the proximal end side with respect to the distal end notch surface. While maintaining the effect of tilting the side notch surface (the effect of making it difficult to remove the measurement target wire from the insertion recess), the distance along the axial direction between the notch surfaces is the depth that forms the insertion recess. Since it can be configured to gradually widen as it is separated from the cut-out surface on the side (configuration in which the opening width of the insertion recess is gradually increased), the ease of insertion of the measurement target electric wire into the insertion recess can be enhanced.

請求項4記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、挿入凹部内に挿入された測定対象電線を、付勢部材の付勢力により、シールド筒体の先端側切欠き面と検出電極の先端面との間で挟持することができるため、電圧検出プローブから手を放した状態においても、測定対象電線が挿入凹部内に位置する状態が維持される結果、測定対象電線の電圧の測定作業についての作業性を向上させることができる。   According to the voltage detection probe according to claim 4 and the measurement device according to claim 11, the measurement target electric wire inserted into the insertion recess is moved from the notch surface of the shield cylinder by the urging force of the urging member. Since it can be clamped with the tip surface of the detection electrode, the voltage of the measurement target wire is maintained as a result of maintaining the state where the measurement target wire is positioned in the insertion recess even when the voltage detection probe is released. The workability of the measurement work can be improved.

請求項5記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、検出電極の先端面をシールド筒体の先端部側に傾斜する斜面に形成したことにより、挿入凹部内に挿入された測定対象電線が検出電極の先端面によって先端側切欠き面に押し付けられた状態(検出電極の先端面と先端側切欠き面とで挟持された状態)において、測定対象電線を挿入凹部から一層外れにくくすることができる。   According to the voltage detection probe according to claim 5 and the measurement device according to claim 11, the detection electrode is inserted into the insertion recess by forming the distal end surface of the detection electrode on the inclined surface inclined toward the distal end side of the shield cylinder. In the state where the measurement target wire is pressed against the notch surface on the tip side by the tip surface of the detection electrode (the state where it is sandwiched between the tip surface of the detection electrode and the notch surface on the tip side), the measurement target wire is further removed from the insertion recess. Can be difficult.

請求項6記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、検出電極とシールド筒体との間に検出電極用シールド材を配設したことにより、測定対象電線と先端面との容量結合状態において挿入凹部からシールド筒体の外部に露出する検出電極の外周面を覆う絶縁被覆を検出電極用シールド材でさらに覆うことができるため、検出電極に対する外乱の影響を十分に低減させることができる。   According to the voltage detection probe according to claim 6 and the measurement device according to claim 11, since the detection electrode shielding material is disposed between the detection electrode and the shield cylindrical body, Insulating cover that covers the outer peripheral surface of the detection electrode that is exposed to the outside of the shield cylinder from the insertion recess in the capacitive coupling state can be further covered with the shield material for the detection electrode, thereby sufficiently reducing the influence of disturbance on the detection electrode. Can do.

請求項7記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、筒体で検出電極用シールド材を構成したことにより、検出電極を筒体に挿入し、その筒体をシールド筒体に挿入するだけの簡易な工程で検出電極とシールド筒体との間に検出電極用シールド材としての筒体を配設することができるため、電圧検出プローブの組立効率を十分に向上させることができる。   According to the voltage detection probe according to claim 7 and the measurement device according to claim 11, the detection electrode is inserted into the cylinder by forming the detection electrode shield material with the cylinder, and the cylinder is used as the shield cylinder. Since the cylinder as the shield material for the detection electrode can be disposed between the detection electrode and the shield cylinder by a simple process that is simply inserted into the electrode, the assembly efficiency of the voltage detection probe can be sufficiently improved. it can.

請求項8記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、絶縁被覆の表面に形成された導電体層で検出電極用シールド材を構成したことにより、検出電極用シールド材を薄くすることができるため、検出電極用シールド材で覆われた検出電極を収容するシールド筒体を細く構成することができる結果、互いに近接している複数の電線の中から1本の測定対象電線だけをシールド筒体の先端部に装着する(先端部に形成されている挿入凹部内に挿入させる)作業を容易に行うことができる。   According to the voltage detection probe according to claim 8 and the measurement apparatus according to claim 11, the detection electrode shield material is made thin by forming the detection electrode shield material with the conductor layer formed on the surface of the insulating coating. As a result, the shield cylinder that accommodates the detection electrode covered with the detection electrode shielding material can be configured to be thin. As a result, only one measurement target electric wire from among the plurality of electric wires that are close to each other can be obtained. It is possible to easily perform the operation of attaching the to the tip of the shield cylinder (inserting it into the insertion recess formed in the tip).

請求項9記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、シールド筒体の外側に検出電極用シールド材を配設したことにより、測定対象電線と先端面との容量結合状態において挿入凹部からシールド筒体の外部に露出する検出電極の外周面を覆う絶縁被覆を検出電極用シールド材でさらに覆うことができるため、検出電極に対する外乱の影響を十分に低減させることができる。   According to the voltage detection probe according to claim 9 and the measurement device according to claim 11, in the capacitive coupling state between the measurement target electric wire and the distal end surface, the shield material for the detection electrode is disposed outside the shield cylinder. Since the insulating coating covering the outer peripheral surface of the detection electrode exposed from the insertion recess to the outside of the shield cylinder can be further covered with the detection electrode shielding material, the influence of disturbance on the detection electrode can be sufficiently reduced.

請求項10記載の電圧検出プローブおよび請求項11記載の測定装置によれば、容量結合状態において検出電極用シールド材の先端部が検出電極の先端面と面一の状態および先端部が先端面よりも軸線方向に沿ってシールド筒体の基端部側に位置する状態のいずれかとなるように検出電極用シールド材を構成したことにより、検出電極の先端面から検出電極用シールド材の先端部を突出させないようにすることができるため、挿入凹部を構成する切欠き面と検出電極の先端面とで測定対象電線を挟持する際に、検出電極用シールド材の先端部によって測定対象電線が損傷を受けたり切断されたりする事態を確実に防止することができる。   According to the voltage detection probe of claim 10 and the measurement device of claim 11, in the capacitive coupling state, the tip of the detection electrode shield is flush with the tip of the detection electrode and the tip is from the tip. Since the detection electrode shield material is configured to be either in the state of being located on the proximal end side of the shield cylinder along the axial direction, the distal end portion of the detection electrode shield material is moved from the distal end surface of the detection electrode. Since it can be prevented from projecting, the measurement target wire is damaged by the tip of the shield material for the detection electrode when the measurement target wire is sandwiched between the notch surface constituting the insertion recess and the tip surface of the detection electrode. It is possible to reliably prevent the situation of being received or disconnected.

検出プローブ1の構成を示す斜視図である。2 is a perspective view showing a configuration of a detection probe 1. FIG. 図1において軸線Lを含む平面に沿ってグリップ部2を切断した状態での検出プローブ1のW−W線断面図(検出電極23によって挿入凹部33が閉塞された状態での断面図)である。1 is a cross-sectional view taken along the line WW of the detection probe 1 in a state where the grip portion 2 is cut along a plane including the axis L in FIG. 1 (a cross-sectional view in a state where the insertion recess 33 is closed by the detection electrode 23). . 図2の軸線Lを含む平面に沿って切断した検出電極ユニット3の断面図である。It is sectional drawing of the detection electrode unit 3 cut | disconnected along the plane containing the axis line L of FIG. 図1において軸線Lを含む平面に沿ってグリップ部2を切断した状態での検出プローブ1のW−W線断面図(挿入凹部33が開口している状態での断面図)である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line WW of the detection probe 1 in a state where the grip portion 2 is cut along a plane including the axis L in FIG. 1 (a cross-sectional view in a state where an insertion recess 33 is opened). 図4の軸線Lを含む平面に沿って切断した検出電極ユニット3の断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of the detection electrode unit 3 cut along a plane including the axis L in FIG. 4. 図1において軸線Lを含む平面に沿ってグリップ部2を切断した状態での検出プローブ1のW−W線断面図(挿入凹部33の先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとの間で測定対象電線6が挟持されている状態での断面図)である。1 is a cross-sectional view taken along the line W-W of the detection probe 1 in a state where the grip portion 2 is cut along a plane including the axis L (a front end side notch surface 33a of the insertion recess 33 and a front end surface 23a of the detection electrode 23). Is a cross-sectional view in a state in which the measurement target electric wire 6 is sandwiched between them. 第1シールド筒体21の先端部の構成を説明するための要部拡大断面図(挿入凹部33が開口している状態での拡大断面図)である。FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of a main part for explaining the configuration of the distal end portion of the first shield cylinder 21 (enlarged cross-sectional view in a state where an insertion recess 33 is opened). 第1シールド筒体21の先端部の構成を説明するための要部拡大断面図(測定対象電線6が挟持されている状態での拡大断面図)である。It is a principal part expanded sectional view for demonstrating the structure of the front-end | tip part of the 1st shield cylinder 21 (enlarged sectional view in the state by which the measuring object electric wire 6 is clamped). 測定装置MDの構成図である。It is a block diagram of measuring apparatus MD. 検出電極23の先端面23aの他の構成を説明するための要部拡大断面図(測定対象電線6が挟持されている状態での拡大断面図)である。It is a principal part expanded sectional view for demonstrating the other structure of the front end surface 23a of the detection electrode 23 (enlarged sectional view in the state by which the measuring object electric wire 6 is clamped). 第1シールド筒体21のさらなる他の先端部の構成を説明するための要部拡大断面図(挿入凹部33が開口している状態での拡大断面図)である。FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of a main part for explaining a configuration of still another tip portion of the first shield cylinder 21 (enlarged cross-sectional view in a state where an insertion recess 33 is opened). 検出電極23の先端部の他の構成を説明するための要部拡大断面図(測定対象電線6が挟持されている状態での拡大断面図)である。It is a principal part expanded sectional view for demonstrating the other structure of the front-end | tip part of the detection electrode 23 (enlarged sectional view in the state by which the measuring object electric wire 6 is clamped). 筒体37を備えた検出電極ユニット3の先端部の構成を示す要部拡大断面図である。4 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a configuration of a tip portion of a detection electrode unit 3 including a cylindrical body 37. FIG. グリップ部2の半体(同図における手前側半体)を取り外した状態の検出プローブ101の側面図である。It is a side view of the detection probe 101 in a state where the half of the grip part 2 (the front half in the figure) is removed. グリップ部2の半体(同図における手前側半体)を取り外した状態において第1シールド筒体21をグリップ部2の先端部側(基端部から離間する向き)に移動させた状態の検出プローブ101の側面図である。Detection of a state in which the first shield cylinder 21 is moved toward the distal end side (direction away from the base end portion) of the grip portion 2 in a state where the half portion of the grip portion 2 (the front half portion in the figure) is removed. 2 is a side view of a probe 101. FIG. グリップ部2の半体(同図における手前側半体)を取り外した状態において測定対象電線6を挟持した状態の検出プローブ101の側面図である。FIG. 3 is a side view of the detection probe 101 in a state where a measurement target electric wire 6 is sandwiched in a state where a half of the grip portion 2 (a front half in the drawing) is removed. 検出電極ユニット103の先端部の構成を示す要部拡大断面図である。4 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a configuration of a distal end portion of detection electrode unit 103. 筒体37を備えた検出電極ユニット103の先端部の構成を示す要部拡大断面図である。4 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing a configuration of a distal end portion of a detection electrode unit 103 provided with a cylindrical body 37. FIG. 筒体37を備えた検出電極ユニット103の先端部の他の構成を示す要部拡大断面図である。FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing another configuration of a tip end portion of a detection electrode unit 103 including a cylindrical body 37.

以下、電圧検出プローブおよび測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of a voltage detection probe and a measurement apparatus will be described with reference to the accompanying drawings.

最初に、図1に示す電圧検出プローブとしての電圧検出プローブ1(以下、単に「検出プローブ1」ともいう)の構成について、図面を参照して説明する。   First, the configuration of the voltage detection probe 1 (hereinafter also simply referred to as “detection probe 1”) as the voltage detection probe shown in FIG. 1 will be described with reference to the drawings.

この検出プローブ1は、一例として、図1に示すように、グリップ部2および検出電極ユニット3を備え、後述の本体ユニット4(図9参照)と共に測定装置MDを構成する。また、検出プローブ1は、シールドケーブル5を介して本体ユニット4と接続されると共に、検出電極ユニット3の先端に設けられた後述の挿入凹部33内に測定対象電線6(図4参照)を挿入して使用される。本実施の形態でのシールドケーブル5とは、信号伝送用の配線、およびこの配線をシールドするシールド導体を備えたケーブルであって、例えば、信号伝送用の配線としての芯線およびこの芯線を覆うシールド導体を備えたシールド線(同軸ケーブルを含む)や、ツイストペア線を含んでいる。本例では一例として、図2に示すように、芯線5aおよびこの芯線5aを覆うシールド導体5bを備えたシールド線をシールドケーブル5の一例として挙げて説明する。   As an example, the detection probe 1 includes a grip portion 2 and a detection electrode unit 3 as shown in FIG. 1, and constitutes a measuring device MD together with a main body unit 4 (see FIG. 9) described later. Further, the detection probe 1 is connected to the main unit 4 via the shield cable 5 and the measurement target electric wire 6 (see FIG. 4) is inserted into an insertion recess 33 described later provided at the tip of the detection electrode unit 3. Used. The shielded cable 5 in the present embodiment is a cable provided with a signal transmission wiring and a shield conductor that shields the wiring, for example, a core wire as a signal transmission wiring and a shield covering the core wire. It includes shielded wires (including coaxial cables) with conductors and twisted pair wires. In this example, as an example, as illustrated in FIG. 2, a shield wire including a core wire 5 a and a shield conductor 5 b covering the core wire 5 a will be described as an example of the shield cable 5.

グリップ部2は、使用者によって把持される部材であって、一例として、図1,2に示すように、合成樹脂材料などの電気的絶縁性を有する材料(以下、単に絶縁材料ともいう)を用いて検出電極ユニット3を収容可能な中空の柱状体に形成されている。また、グリップ部2の先端部(図1,2における左側の端部)側の端面11には、検出電極ユニット3の後述する第1シールド筒体21が挿通させられる貫通孔11aが形成されている。また、グリップ部2の基端部(図1,2における右側の端部)側の端面13には、図2に示すように、貫通孔13aが形成されている。シールドケーブル5は、シールドケーブル5に一体的に取り付けられた自在ブッシュ5cがこの貫通孔13aに嵌め込まれることにより、グリップ部2の基端部に連結されている。   The grip portion 2 is a member that is gripped by a user, and as an example, as shown in FIGS. 1 and 2, a material having electrical insulation properties such as a synthetic resin material (hereinafter also simply referred to as an insulating material). It is formed in a hollow columnar body that can be used to accommodate the detection electrode unit 3. Further, a through hole 11a through which a first shield cylinder 21 (described later) of the detection electrode unit 3 is inserted is formed on the end surface 11 on the tip end portion (left end portion in FIGS. 1 and 2) of the grip portion 2. Yes. Moreover, as shown in FIG. 2, the through-hole 13a is formed in the end surface 13 by the side of the base end part (right side edge part in FIG. 1, 2) of the grip part 2. As shown in FIG. The shielded cable 5 is connected to the base end portion of the grip portion 2 by fitting a universal bush 5c integrally attached to the shielded cable 5 into the through hole 13a.

また、グリップ部2の外周壁の外面には、一例として、グリップ部2の長さ方向(後述する軸線L(図1,2参照)と平行な方向)に沿って延びる長溝15が形成されると共に、この長溝15の底壁(グリップ部2の外周壁の一部の部位)には、グリップ部2の長さ方向に沿って延びる第1ガイド孔16がこの底壁を貫通して形成されている。   Moreover, the long groove 15 extended along the length direction (direction parallel to the axis line L (refer FIG. 1, FIG. 1) mentioned later) of the grip part 2 is formed in the outer surface of the outer peripheral wall of the grip part 2 as an example. In addition, a first guide hole 16 extending along the length direction of the grip portion 2 is formed through the bottom wall in the bottom wall of the long groove 15 (a part of the outer peripheral wall of the grip portion 2). ing.

検出電極ユニット3は、一例として、図2〜6に示すように、第1シールド筒体(シールド筒体)21、第2シールド筒体22、検出電極23、絶縁被覆24、第1蓋体25、第2蓋体26、第3蓋体27、絶縁筒体28、ガイド筒体29、連結ピン30、付勢部材31および操作レバー32を備えている。   As an example, as shown in FIGS. 2 to 6, the detection electrode unit 3 includes a first shield cylinder (shield cylinder) 21, a second shield cylinder 22, a detection electrode 23, an insulating coating 24, and a first lid 25. , A second lid 26, a third lid 27, an insulating cylinder 28, a guide cylinder 29, a connecting pin 30, an urging member 31, and an operation lever 32.

第1シールド筒体21は、図3,5に示すように導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて外形が一例として直径3mm〜5mm程度の筒状の剛性体(本例では一例として円筒状体)に形成されると共に、先端部(図2〜6では左端部)には、この先端部における外周壁の一部が軸線Lに対して交差する方向(本例では一例として直交する方向)に沿って例えば切削加工などの手法によって切り欠かれて測定対象電線6(図4,6,8参照)が挿入される挿入凹部33が形成されている。また、第1シールド筒体21は、図2〜図6に示すように、基端部(図2〜6では右端部)がグリップ部2(第2シールド筒体22)に収容されている。なお、本例での測定対象電線6は、図8に示すように、芯線6aが絶縁被覆6bで覆われた被覆電線である。   As shown in FIGS. 3 and 5, the first shield cylinder 21 is made of a cylindrical rigid body having a diameter of about 3 mm to 5 mm as an example using a conductive material (a metal material having conductivity). As a cylindrical body), and the tip portion (the left end portion in FIGS. 2 to 6) has a direction in which a part of the outer peripheral wall at the tip portion intersects the axis L (in this example, orthogonal) The insertion recess 33 into which the measurement target electric wire 6 (see FIGS. 4, 6, and 8) is inserted is formed along a cutting direction by a method such as cutting. Moreover, as shown in FIGS. 2-6, as for the 1st shield cylinder 21, the base end part (right end part in FIGS. 2-6) is accommodated in the grip part 2 (2nd shield cylinder 22). In addition, as shown in FIG. 8, the measurement target electric wire 6 in this example is a covered electric wire in which the core wire 6a is covered with an insulating coating 6b.

挿入凹部33は、本例では一例として、図2,5に示すように(詳細には図5の要部拡大図である図7に示すように)、この挿入凹部33を構成する先端側切欠き面33a、基端側切欠き面33bおよび奥側切欠き面33cのうちの第1シールド筒体21の先端部側に位置する先端側切欠き面33aは、軸線Lと直交する基準平面PLを基準として第1シールド筒体21の基端部側に傾斜する構成(つまり、軸線L(軸線Lを含む仮想平面)と先端側切欠き面33aとの角度θ1を鋭角にする構成)となっている。この構成により、挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6が、後述するようにして検出電極23における先端部側の端面23a(以下、先端面23aともいう)によって先端側切欠き面33aに押し付けられた状態(図6,8参照)のときに、挿入凹部33から外れにくくなっている。   As shown in FIGS. 2 and 5 (in detail, as shown in FIG. 7 which is an enlarged view of the main part of FIG. 5), the insertion recess 33 is formed as an example in this example. Of the cut-out surface 33a, the base-end-side cut-out surface 33b, and the back-side cut-out surface 33c, the front-end-side cut-out surface 33a located on the front end side of the first shield cylinder 21 is a reference plane PL orthogonal to the axis L. With respect to the base end portion side of the first shield cylinder 21 (that is, a configuration in which the angle θ1 between the axis L (a virtual plane including the axis L) and the notch surface 33a is an acute angle). ing. With this configuration, the measurement target electric wire 6 inserted into the insertion recess 33 is formed on the distal end side notch surface 33a by the end surface 23a (hereinafter also referred to as the distal end surface 23a) of the detection electrode 23 as described later. In the pressed state (see FIGS. 6 and 8), it is difficult for the insertion recess 33 to come off.

本例では一例として、先端側切欠き面33a、基端側切欠き面33bおよび奥側切欠き面33cのうちの第1シールド筒体21の基端部側に位置する基端側切欠き面33bは、軸線Lと直交する基準平面PL(図7参照)を基準として、先端側切欠き面33aよりも第1シールド筒体21の基端部側に傾斜する構成(つまり、軸線L(軸線Lを含む仮想平面)と先端側切欠き面33aとの角度θ2を角度θ1よりも小さくなる状態で鋭角にする構成)となっている。この構成により、上記のような先端側切欠き面33aを傾けたときの効果(挿入凹部33から測定対象電線6を外れにくくできるとの効果)を維持しつつ、先端側切欠き面33aと基端側切欠き面33bとの間の軸線L方向に沿った距離を奥側切欠き面33c(挿入凹部33を構成する奥側の切欠き面)から離間するに従って徐々に広くする構成(挿入凹部33の開口幅を徐々に広くする構成)にし得るため、測定対象電線6の挿入凹部33内への挿入の容易性を高めることが可能となっている。   In this example, as an example, the proximal-side notch surface located on the proximal-end side of the first shield cylinder 21 among the distal-side notch surface 33a, the proximal-side notch surface 33b, and the back-side notch surface 33c. 33b is configured to be inclined to the proximal end portion side of the first shield cylindrical body 21 with respect to the reference-side plane PL (see FIG. 7) orthogonal to the axis L (see FIG. 7). The angle θ2 between the imaginary plane including L) and the front-side notch surface 33a is an acute angle in a state where the angle θ2 is smaller than the angle θ1. With this configuration, the tip side notch surface 33a and the base are maintained while maintaining the effect when the tip side notch surface 33a is inclined as described above (the effect that it is difficult to remove the measurement target wire 6 from the insertion recess 33). Configuration in which the distance along the axis L direction between the end-side notch surface 33b is gradually increased as the distance from the back-side notch surface 33c (the back-side notch surface constituting the insertion recess 33) increases (insertion recess) Therefore, the ease of insertion of the measurement target electric wire 6 into the insertion recess 33 can be enhanced.

また、本例では、奥側切欠き面33cは、一例として軸線Lとほぼ平行な平面となる構成であるが、この構成に限定されるものではなく、弧状面に形成する構成を採用することもできる。   Moreover, in this example, although the back side notch surface 33c is a structure used as a plane substantially parallel to the axis line L as an example, it is not limited to this structure, The structure formed in an arcuate surface is employ | adopted. You can also.

本例の検出プローブ1が使用される測定対象電線6は、背景技術で説明した各種の検出プローブでは装着することが困難であった導体、例えば、通常は他の同じような小径な配線材と共に結束された状態で引き回される小径な配線材の1本などのように、他の導体(他の配線材など)と極めて近接した状態で存在している1本の小径な配線材(被覆電線)である。   The measurement target electric wire 6 in which the detection probe 1 of the present example is used is a conductor that has been difficult to mount with the various detection probes described in the background art, for example, normally with other similar small-diameter wiring materials. One small-diameter wiring material (covering) that exists in close proximity to other conductors (other wiring materials, etc.), such as one small-diameter wiring material that is routed in a bundled state Electric wire).

このため、この検出プローブ1の検出電極ユニット3では、第1シールド筒体21として、このような小径の配線材が測定対象電線6として挿入可能な幅および深さの挿入凹部33を先端部に形成し得る限りにおいて、より細い筒状の剛性体を使用することが可能となっている。また、測定対象電線6とこの測定対象電線6に隣接する他の配線材との間の距離が短い状態であっても測定対象電線6を選択的に挿入凹部33に挿入できるようにするためにも、第1シールド筒体21に使用する筒状の剛性体は、なるべく細いものであるのが好ましい。例えば、上記のような小径(直径が約2mm)の配線材を収容するためには、挿入凹部33は、例えば、2mmよりも若干深い深さで、かつ2mmよりも若干広い幅(開口幅)に形成する必要がある。このため、第1シールド筒体21は、上記したように、一例として直径3mm〜5mm程度の筒状の剛性体で形成するのが好ましい。   For this reason, in the detection electrode unit 3 of the detection probe 1, an insertion recess 33 having a width and a depth at which such a small-diameter wiring member can be inserted as the measurement target electric wire 6 is formed as the first shield cylinder 21 at the distal end. As long as it can be formed, a thinner cylindrical rigid body can be used. Further, in order to enable the measurement target electric wire 6 to be selectively inserted into the insertion recess 33 even when the distance between the measurement target electric wire 6 and another wiring material adjacent to the measurement target electric wire 6 is short. However, the cylindrical rigid body used for the first shield cylinder 21 is preferably as thin as possible. For example, in order to accommodate a wiring material having a small diameter (diameter of about 2 mm) as described above, the insertion recess 33 is, for example, a depth slightly deeper than 2 mm and a width slightly wider than 2 mm (opening width). Need to be formed. For this reason, as above-mentioned, it is preferable to form the 1st shield cylinder 21 with the cylindrical rigid body about 3 mm-5 mm in diameter as an example.

第2シールド筒体22は、図3,5に示すように導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて外形が一例として直径7mm〜10mm程度の筒状の剛性体(本例では一例として円筒状体)に形成されて、グリップ部2内に収容された状態でグリップ部2に固定されている。また、第2シールド筒体22の外周壁には、第2シールド筒体22の長さ方向(軸線L方向)に沿って延びる第2ガイド孔(貫通孔)34が形成されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the second shield cylinder 22 is a cylindrical rigid body having an outer diameter of about 7 mm to 10 mm as an example using a conductive material (a metal material having conductivity). As a cylindrical body) and is fixed to the grip portion 2 while being accommodated in the grip portion 2. In addition, a second guide hole (through hole) 34 extending along the length direction (axis L direction) of the second shield cylinder 22 is formed in the outer peripheral wall of the second shield cylinder 22.

検出電極23は、図3,5に示すように導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて外形が柱状体(第1シールド筒体21の断面形状に合致した断面形状の柱状体。本例では一例として円柱状体)に形成されている。また、検出電極23は、一例として、連結ピン30が接続される基端部側の端面(図3,5中の右端面)を除く他の表面(先端面23a(左端面)および外周面23b)が絶縁被覆24で覆われている。この絶縁被覆24は、一例として電気的絶縁性を有する合成樹脂材料などを用いて、例えば0.1mm未満(一例として0.05mm程度)の厚みで形成されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the detection electrode 23 is made of a conductive material (a metal material having conductivity) and the outer shape is a columnar body (a columnar body having a cross-sectional shape that matches the cross-sectional shape of the first shield cylinder 21. In this example, it is formed in a cylindrical body) as an example. In addition, as an example, the detection electrode 23 has other surfaces (a distal end surface 23a (left end surface) and an outer peripheral surface 23b) other than an end surface (right end surface in FIGS. 3 and 5) to which the connecting pin 30 is connected. ) Is covered with an insulating coating 24. The insulating coating 24 is formed with a thickness of, for example, less than 0.1 mm (for example, about 0.05 mm) using a synthetic resin material having electrical insulation as an example.

また、このようにして表面に絶縁被覆24が形成された検出電極23は、図3,5に示すように、軸線L方向に沿って第1シールド筒体21に対して相対的に移動可能に(摺動自在に)第1シールド筒体21内に収納されている。また、検出電極23は、図3に示すように、先端面23aが後述するように第1シールド筒体21における先端部側の開口部に装着された第1蓋体25と当接する状態において、基端部側が第1シールド筒体21の基端部側から突出する長さに規定されている。また、本例では、検出電極23の先端面23aは、図7に示すように、基準平面PLと平行な平面で形成されている。   In addition, the detection electrode 23 having the insulating coating 24 formed on the surface in this manner is movable relative to the first shield cylinder 21 along the axis L direction as shown in FIGS. It is accommodated in the first shield cylinder 21 (slidably). Further, as shown in FIG. 3, the detection electrode 23 is in a state where the distal end surface 23 a abuts on the first lid 25 attached to the opening on the distal end side of the first shield cylinder 21 as will be described later. The base end side is defined as a length protruding from the base end side of the first shield cylinder 21. In this example, the tip surface 23a of the detection electrode 23 is formed in a plane parallel to the reference plane PL as shown in FIG.

第1蓋体25は、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて形成されて、第1シールド筒体21における先端部(図2,3では左端部)側の開口部に圧入や溶着などの手法(電気的に接続される手法)によって装着されることで、この開口部を閉塞する。第2蓋体26は、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて形成されて、第2シールド筒体22における先端部(図2,3では左端部)側の開口部に圧入や溶着などの手法(電気的に接続される手法)によって装着されている。また、第2蓋体26は、中央部分に貫通孔26aが形成されている。上記の第1シールド筒体21は、その基端部側がこの貫通孔26a内に挿入されると共に、溶着などの導通状態を確保し得る手法によって第2蓋体26に接合(固定)されている。   The first lid 25 is formed using a conductive material (a metal material having conductivity), and is press-fitted into an opening on the distal end portion (left end portion in FIGS. 2 and 3) side of the first shield cylinder 21. The opening is closed by being attached by a technique such as welding (electrically connected technique). The second lid 26 is formed using a conductive material (a metal material having conductivity), and is press-fitted into an opening on the tip (left end in FIGS. 2 and 3) side of the second shield cylinder 22. It is attached by a technique such as welding (electrically connected technique). Further, the second lid body 26 has a through hole 26a formed in the center portion. The first shield cylindrical body 21 is inserted (fixed) to the second lid body 26 by a method capable of securing a conduction state such as welding while the base end side is inserted into the through hole 26a. .

第3蓋体27は、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて形成されて、第2シールド筒体22における基端部(図2,3では右端部)側の開口部に圧入や溶着などの手法(電気的に接続される手法)によって装着されている。また、第3蓋体27は、中央部分に貫通孔27aが形成されている。なお、本例では一例として、第1シールド筒体21と第1蓋体25とを別体に形成すると共に、第2シールド筒体22と第2蓋体26および第3蓋体27とを別体に形成する構成を採用しているが、第1シールド筒体21と第1蓋体25とを一体的に形成する構成や、第2蓋体26および第3蓋体27のうちの少なくとも一方(第2蓋体26だけ、第3蓋体27だけ、または第2蓋体26および第3蓋体27の双方)を第2シールド筒体22と一体的に形成する構成を採用することもできる。   The third lid 27 is formed using a conductive material (a metal material having conductivity), and is press-fitted into an opening of the second shield cylinder 22 on the base end (right end in FIGS. 2 and 3) side. It is mounted by a technique such as welding or a technique (electrically connected technique). Further, the third lid 27 has a through hole 27a formed at the center. In this example, as an example, the first shield cylinder 21 and the first lid 25 are formed separately, and the second shield cylinder 22, the second lid 26, and the third lid 27 are separated. Although the structure formed in a body is employ | adopted, the structure which forms the 1st shield cylinder 21 and the 1st cover body 25 integrally, and at least one of the 2nd cover body 26 and the 3rd cover body 27 A configuration in which only the second lid body 26, only the third lid body 27, or both the second lid body 26 and the third lid body 27 are formed integrally with the second shield cylinder 22 may be employed. .

絶縁筒体28は、図3,5に示すように、絶縁材料を用いて筒状体(本例では一例として円筒状体)に形成されて、第3蓋体27の貫通孔27a内に装着されている。この絶縁筒体28は、後述するように絶縁筒体28内に挿着されるガイド筒体29と第3蓋体27とを電気的に絶縁するためのものである。したがって、同図に示す構成では、絶縁筒体28は、第2シールド筒体22における基端部側の内面にも接する長さに形成されているが、貫通孔27a内にのみ配置される構成としてもよいのは勿論である。   As shown in FIGS. 3 and 5, the insulating cylinder 28 is formed into a cylindrical body (in this example, a cylindrical body as an example) using an insulating material, and is mounted in the through hole 27 a of the third lid body 27. Has been. The insulating cylinder 28 is for electrically insulating the guide cylinder 29 and the third lid 27 inserted into the insulating cylinder 28 as will be described later. Therefore, in the configuration shown in the figure, the insulating cylinder 28 is formed to have a length that also contacts the inner surface of the second shield cylinder 22 on the proximal end side, but is arranged only in the through hole 27a. Of course.

ガイド筒体29は、図3,5に示すように、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて一端側(図3中の左端側)が開口し、他端側(図3中の右端側)が閉塞する筒状体(本例では一例として円筒状体)に形成されている。なお、本例では、ガイド筒体29における他端側の端面に、シールドケーブル5の芯線5aを挿入して半田付けするための筒状突起29aが形成されているが、この筒状突起29aの形成は任意である。また、ガイド筒体29は、開口する端部側から絶縁筒体28内に圧入などされることで、この絶縁筒体28を介在させた状態で第3蓋体27に固定されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the guide cylinder 29 is opened at one end side (left end side in FIG. 3) using a conductive material (a metal material having conductivity) and the other end side (in FIG. 3). Is formed into a cylindrical body that is closed (in this example, a cylindrical body as an example). In this example, a cylindrical protrusion 29a for inserting and soldering the core wire 5a of the shielded cable 5 is formed on the end surface of the guide cylinder 29 on the other end side. Formation is arbitrary. In addition, the guide cylinder 29 is fixed to the third lid 27 with the insulating cylinder 28 interposed by being press-fitted into the insulating cylinder 28 from the open end side.

連結ピン30は、図3,5に示すように、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて柱状体(ガイド筒体29の断面形状に合致した断面形状の柱状体。本例では一例として円柱状体)に形成されている。また、連結ピン30は、一端側(図3中の左端側)がガイド筒体29から突出する状態で、他端側(図3中の右端側)がガイド筒体29内に摺動自在に挿入されている。また、連結ピン30は、一端側が検出電極23の基端側に導通状態が確保された状態で連結されている。   3 and 5, the connecting pin 30 is a columnar body (a columnar body having a cross-sectional shape that matches the cross-sectional shape of the guide cylinder 29 using a conductive material (a metal material having conductivity). As an example, it is formed in a cylindrical body). The connecting pin 30 has one end side (left end side in FIG. 3) protruding from the guide cylinder 29 and the other end side (right end side in FIG. 3) is slidable in the guide cylinder 29. Has been inserted. The connection pin 30 is connected in a state where one end side is connected to the base end side of the detection electrode 23 in a conductive state.

付勢部材31は、一例として導電性材料(導電性を有する金属材料)製のスプリング(例えばコイルスプリング)で構成されて、図3,5に示すように、ガイド筒体29内に、このガイド筒体29における閉塞された他端側の内面と、連結ピン30の他端側の端面との間に縮長状態(押し縮められた状態)で収容されている。この構成により、付勢部材31は、連結ピン30をその一端側がガイド筒体29から常時突出する方向(第1シールド筒体21の先端部方向)に付勢する。また、これにより、付勢部材31は、連結ピン30に連結された検出電極23、さらには後述するようにこの検出電極23に連結された操作レバー32についても、第1シールド筒体21の先端部方向に常時付勢する。   The urging member 31 is constituted by a spring (for example, a coil spring) made of a conductive material (conductive metal material) as an example, and as shown in FIGS. The cylindrical body 29 is accommodated in a contracted state (a compressed state) between the closed inner surface on the other end side and the end surface on the other end side of the connecting pin 30. With this configuration, the urging member 31 urges the connecting pin 30 in a direction in which one end thereof always protrudes from the guide cylinder 29 (the direction of the distal end portion of the first shield cylinder 21). As a result, the urging member 31 also allows the detection electrode 23 connected to the connection pin 30 and the operation lever 32 connected to the detection electrode 23 as will be described later, to the tip of the first shield cylinder 21. Always energized in the part direction.

操作レバー32は、図3,5に示すように、第2シールド筒体22の第2ガイド孔34に挿通されている直方体状の支柱部32a、支柱部32aにおける第2ガイド孔34から突出する部位に第2シールド筒体22の外面に沿って延出する状態で形成されたフランジ部32b、および支柱部32aにおける第2ガイド孔34から外方に突出する部位の先端に形成されたつまみ部32cを備え、これらの部材が絶縁材料を用いて一体的に形成されて構成されている。また、操作レバー32は、支柱部32aにおける第2シールド筒体22の内側に延出する端部(図3,5での下端部)が検出電極23(検出電極23における第1シールド筒体21から突出する基端部側)に連結されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the operation lever 32 protrudes from the second guide hole 34 in the rectangular parallelepiped column 32 a inserted into the second guide hole 34 of the second shield cylinder 22 and the column 32 a. A flange portion 32b formed in a state extending along the outer surface of the second shield cylindrical body 22 at the portion, and a knob portion formed at the tip of the portion protruding outward from the second guide hole 34 in the column portion 32a 32c, and these members are integrally formed using an insulating material. Further, the operation lever 32 has an end portion (lower end portion in FIGS. 3 and 5) that extends to the inside of the second shield cylindrical body 22 in the support column portion 32 a at the detection electrode 23 (the first shield cylindrical body 21 in the detection electrode 23). To the base end side protruding from the base).

この構成により、例えばグリップ部2を把持する使用者の親指からつまみ部32cが第2シールド筒体22における基端部方向への外力F1(図4,5参照)を受けたときには、操作レバー32は、フランジ部32bが第2シールド筒体22の外面と接触し、かつ支柱部32aが第2ガイド孔34によってガイドされた状態で、付勢部材31の付勢力に抗して検出電極23および連結ピン30と共に第2シールド筒体22における基端部方向に移動する。一方、操作レバー32は、上記の外力F1が解除されたときには、付勢部材31の付勢力F2(図6参照)により、検出電極23および連結ピン30と共に第2シールド筒体22における先端部方向に、検出電極23の先端部が第1蓋体25に当接するまで移動する。   With this configuration, for example, when the knob 32c receives an external force F1 (see FIGS. 4 and 5) in the direction of the proximal end of the second shield cylinder 22 from the thumb of the user holding the grip 2, the operation lever 32 is operated. In the state where the flange portion 32b is in contact with the outer surface of the second shield cylinder 22 and the column portion 32a is guided by the second guide hole 34, the detection electrode 23 and It moves together with the connecting pin 30 in the direction of the proximal end of the second shield cylinder 22. On the other hand, when the external force F1 is released, the operation lever 32 moves toward the distal end portion of the second shield cylindrical body 22 together with the detection electrode 23 and the connecting pin 30 by the biasing force F2 (see FIG. 6) of the biasing member 31. Then, the tip of the detection electrode 23 moves until it contacts the first lid 25.

また、この構成の検出電極ユニット3では、検出電極23、検出電極23に連結される連結ピン30、およびこの連結ピン30が挿入されているガイド筒体29のほぼ全体が、互いに同じ電位(シールドケーブル5のシールド導体5bの電位)に規定された第1シールド筒体21、第2シールド筒体22、第1シールド筒体21の先端部側の開口部に挿着された第1蓋体25、第2シールド筒体22の先端部側の開口部を閉塞する第2蓋体26、および第2シールド筒体22の基端部側の開口部を閉塞する第3蓋体27で覆われた構成(つまり、シールド導体5bの電位でシールドされた構成)となっている。   Further, in the detection electrode unit 3 having this configuration, the detection electrode 23, the connection pin 30 connected to the detection electrode 23, and the guide cylinder 29 into which the connection pin 30 is inserted are substantially the same in potential (shield). The first shield cylinder 21, the second shield cylinder 22, and the first lid 25 inserted into the opening on the distal end side of the first shield cylinder 21 defined by the potential of the shield conductor 5 b of the cable 5. The second shield body 22 is covered with the second lid body 26 that closes the opening on the distal end side, and the third lid body 27 that closes the opening on the proximal end side of the second shield cylinder 22. It has a configuration (that is, a configuration shielded by the potential of the shield conductor 5b).

このように構成された検出電極ユニット3は、図2,4,6に示すように、第1シールド筒体21がグリップ部2の端面11に形成された貫通孔11aに挿通され、かつ操作レバー32の支柱部32aがグリップ部2の第1ガイド孔16に挿通されてつまみ部32cがグリップ部2の長溝15内に配置された状態で、グリップ部2内に収容されている。したがって、第1シールド筒体21は、その基端部がグリップ部2内に収容された検出電極ユニット3の第2蓋体26に固定された状態でグリップ部2内に収容された構成であるため、検出プローブ1全体として見たときにその基端部がグリップ部2に連結されている状態と等価となっている。   As shown in FIGS. 2, 4, and 6, the detection electrode unit 3 configured in this way has a first shield cylinder 21 inserted through a through hole 11 a formed in the end surface 11 of the grip portion 2, and an operation lever. The 32 column portions 32 a are inserted into the first guide holes 16 of the grip portion 2, and the knob portions 32 c are accommodated in the grip portion 2 in a state where the knob portions 32 c are disposed in the long grooves 15 of the grip portion 2. Therefore, the 1st shield cylinder 21 is the composition accommodated in the grip part 2 in the state which the base end part was being fixed to the 2nd cover body 26 of the detection electrode unit 3 accommodated in the grip part 2. FIG. Therefore, this is equivalent to a state in which the base end portion is connected to the grip portion 2 when viewed as the entire detection probe 1.

また、グリップ部2の端面13には、シールドケーブル5の端部が、図2,4,6に示すように、この端面13に形成された貫通孔13aに自在ブッシュ5cが嵌め入れられた状態で接続されている。また、このシールドケーブル5におけるグリップ部2内に位置する端部では、シールドケーブル5の芯線5aが筒状突起29aに半田付けされることでガイド筒体29に接続され、かつシールドケーブル5のシールド導体5bが検出電極ユニット3を構成する第3蓋体27に半田付けされている(つまり、第1シールド筒体21は、第2蓋体26、第2シールド筒体22および第3蓋体27を介してシールド導体5bに接続されている)。   In addition, the end portion of the shield cable 5 is fitted to the end surface 13 of the grip portion 2 as shown in FIGS. 2, 4, and 6, and the free bush 5 c is fitted into the through hole 13 a formed in the end surface 13. Connected with. Further, at the end portion of the shielded cable 5 located in the grip portion 2, the core wire 5a of the shielded cable 5 is connected to the guide cylinder 29 by being soldered to the cylindrical projection 29a, and the shield of the shielded cable 5 is shielded. The conductor 5b is soldered to the third lid 27 constituting the detection electrode unit 3 (that is, the first shield cylinder 21 is composed of the second lid 26, the second shield cylinder 22 and the third lid 27). And is connected to the shield conductor 5b).

本体ユニット4は、図9に示すように、一例として、主電源回路51、DC/DCコンバータ(以下、単に「コンバータ」ともいう)52、電圧検出部53、電流電圧変換用の抵抗54、電圧生成部55、電圧計56、処理部57および表示部58を備えている。   As shown in FIG. 9, the main unit 4 includes, as an example, a main power circuit 51, a DC / DC converter (hereinafter also simply referred to as “converter”) 52, a voltage detection unit 53, a resistor 54 for current / voltage conversion, a voltage A generation unit 55, a voltmeter 56, a processing unit 57, and a display unit 58 are provided.

主電源回路51は、本体ユニット4の上記の各構成要素53〜58を作動させるための正電圧Vddおよび負電圧Vss(第1基準電位としてのグランドG1の電位を基準として生成される絶対値が同じで、互いの極性の異なる直流電圧)を出力する。コンバータ52は、一例として互いに電気的に絶縁された一次巻線および二次巻線を有する絶縁型のトランスと、このトランスの一次巻線を駆動する駆動回路と、トランスの二次巻線に誘起される交流電圧を整流平滑する直流変換部(いずれも図示せず)とを備えて、一次側に対して二次側が電気的に絶縁された絶縁型電源として構成されている。   The main power supply circuit 51 has a positive voltage Vdd and a negative voltage Vss (actual values generated with reference to the potential of the ground G1 as the first reference potential) for operating the above-described components 53 to 58 of the main unit 4. The same DC voltages with different polarities are output. For example, the converter 52 includes an insulated transformer having a primary winding and a secondary winding that are electrically insulated from each other, a drive circuit that drives the primary winding of the transformer, and a secondary winding of the transformer. And a DC converter (not shown) that rectifies and smoothes the AC voltage that is applied, and is configured as an insulated power source in which the secondary side is electrically insulated from the primary side.

このコンバータ52では、入力した正電圧Vddおよび負電圧Vssに基づいて駆動回路が作動して、正電圧Vddが印加された状態にあるトランスの一次巻線を駆動して二次巻線に交流電圧を誘起させる。また、直流変換部が、この交流電圧を整流して平滑する。これにより、コンバータ52の二次側から、この二次側の内部基準電位(第2基準電位)G2を基準とする正電圧Vf+および負電圧Vf−がフローティング状態(グランドG1、正電圧Vddおよび負電圧Vssと電気的に分離された状態)で生成される。このようにして生成されたフローティング電圧としての正電圧Vf+および負電圧Vf−は、第2基準電位G2と共に電圧検出部53に供給される。なお、正電圧Vf+および負電圧Vf−は、絶対値がほぼ同一で、極性が互いに異なる直流電圧として生成される。   In this converter 52, the drive circuit operates based on the input positive voltage Vdd and negative voltage Vss, and drives the primary winding of the transformer in a state where the positive voltage Vdd is applied, and the AC voltage is applied to the secondary winding. Induces. The direct current converter rectifies and smoothes the alternating voltage. Thereby, from the secondary side of converter 52, positive voltage Vf + and negative voltage Vf− with reference to internal reference potential (second reference potential) G2 on the secondary side are in a floating state (ground G1, positive voltage Vdd and negative voltage Vf−). In a state electrically separated from the voltage Vss). The positive voltage Vf + and the negative voltage Vf− as floating voltages generated in this way are supplied to the voltage detection unit 53 together with the second reference potential G2. The positive voltage Vf + and the negative voltage Vf− are generated as direct current voltages having substantially the same absolute value and different polarities.

電圧検出部53は、電流電圧変換回路53a、積分回路53b、駆動回路53cおよび絶縁回路53d(一例として駆動回路53cによって駆動されるフォトカプラを図示しているが、例えば、図示はしないが、フォトカプラに代えて絶縁トランスを使用する構成など、他の種々の構成を採用することができる)を備え、電圧検出部53における基準電位が上記の第2基準電位G2に規定された状態で、コンバータ52から正電圧Vf+および負電圧Vf−の供給を受けて作動する。   The voltage detection unit 53 includes a current-voltage conversion circuit 53a, an integration circuit 53b, a drive circuit 53c, and an insulation circuit 53d (a photocoupler driven by the drive circuit 53c is illustrated as an example. In the state where the reference potential in the voltage detection unit 53 is defined by the second reference potential G2, the converter can be used. It operates by receiving a positive voltage Vf + and a negative voltage Vf− from 52.

電流電圧変換回路53aは、一例として、非反転入力端子が抵抗を介して電圧検出部53における第2基準電位G2に規定された部位に接続(以下、「第2基準電位G2に接続」ともいう)されると共に、反転入力端子がシールドケーブル5の芯線5a(つまり、この芯線7aを介して検出プローブ1の検出電極23)に接続され、かつ帰還抵抗が反転入力端子と出力端子との間に接続された第1演算増幅器を備えて構成されている。この電流電圧変換回路53aは、第1演算増幅器が正電圧Vf+および負電圧Vf−で作動して、測定対象電線6の電圧V1と第2基準電位G2(電圧生成部55から出力される電圧信号V4の電圧でもある)との電位差Vdi(図9参照)に起因して、この電位差Vdiに応じた電流値で測定対象電線6と検出電極23との間に流れる検出電流(電流信号)Iを検出電圧信号V2に変換して出力する。この場合、検出電圧信号V2は、その振幅が電流信号Iの振幅に比例して変化する。   In the current-voltage conversion circuit 53a, as an example, the non-inverting input terminal is connected to a portion defined by the second reference potential G2 in the voltage detection unit 53 via a resistor (hereinafter also referred to as “connected to the second reference potential G2”). ) And the inverting input terminal is connected to the core wire 5a of the shielded cable 5 (that is, the detection electrode 23 of the detection probe 1 via the core wire 7a), and the feedback resistor is connected between the inverting input terminal and the output terminal. The first operational amplifier is connected. In the current-voltage conversion circuit 53a, the first operational amplifier operates with the positive voltage Vf + and the negative voltage Vf−, and the voltage V1 of the measurement target wire 6 and the second reference potential G2 (the voltage signal output from the voltage generation unit 55). The detection current (current signal) I flowing between the measurement target wire 6 and the detection electrode 23 at a current value corresponding to the potential difference Vdi due to the potential difference Vdi (refer to FIG. 9). It converts into detection voltage signal V2 and outputs it. In this case, the amplitude of the detection voltage signal V2 changes in proportion to the amplitude of the current signal I.

積分回路53bは、一例として、非反転入力端子が抵抗を介して第2基準電位G2に接続されると共に、反転入力端子が入力抵抗を介して第1演算増幅器の出力端子に接続され、かつ帰還コンデンサが反転入力端子と出力端子との間に接続された第2演算増幅器を備えて構成されている。この積分回路53bは、第2演算増幅器が正電圧Vf+および負電圧Vf−で作動して、検出電圧信号V2を積分することにより、上記の電位差Vdiに比例して電圧値が変化する積分信号V3を生成して出力する。   For example, the integrating circuit 53b has a non-inverting input terminal connected to the second reference potential G2 via a resistor, an inverting input terminal connected to the output terminal of the first operational amplifier via an input resistor, and feedback. The capacitor includes a second operational amplifier connected between the inverting input terminal and the output terminal. In the integrating circuit 53b, the second operational amplifier operates with the positive voltage Vf + and the negative voltage Vf− and integrates the detection voltage signal V2, whereby the integration signal V3 whose voltage value changes in proportion to the potential difference Vdi. Is generated and output.

駆動回路53cは、積分信号V3のレベルに応じて絶縁回路53dをリニア領域で駆動し、駆動された絶縁回路53dは、この積分信号V3を電気的に分離して新たな積分信号(第1信号)V3aとして出力する。つまり、電圧検出部53は、検出プローブ1と相俟って、測定対象電線6の電圧V1を示す積分信号V3aを出力する。   The drive circuit 53c drives the insulation circuit 53d in the linear region according to the level of the integration signal V3, and the driven insulation circuit 53d electrically separates the integration signal V3 to generate a new integration signal (first signal). ) Output as V3a. That is, the voltage detection unit 53 outputs an integration signal V3a indicating the voltage V1 of the measurement target wire 6 in combination with the detection probe 1.

電流電圧変換用の抵抗54は、一端が負電圧Vssに接続されると共に、他端が電圧検出部53内の対応する絶縁回路53d(本例ではフォトカプラにおけるフォトトランジスタのコレクタ端子)に接続されている。   The current / voltage converting resistor 54 has one end connected to the negative voltage Vss and the other end connected to a corresponding insulating circuit 53d in the voltage detection unit 53 (in this example, the collector terminal of the phototransistor in the photocoupler). ing.

電圧生成部55は、積分信号V3aを入力して増幅することにより、電圧信号V4を生成して、電圧検出部53における第2基準電位G2に規定された部位に印加する。この電圧信号V4はその電圧が後述するように測定対象電線6の電圧V1に応じて変化する。これにより、第2基準電位G2を基準とするフローティング電圧である正電圧Vf+および負電圧Vf−は、電圧信号V4の電圧に応じて変化するフローティング電圧となる。   The voltage generation unit 55 receives and amplifies the integration signal V3a to generate a voltage signal V4 and applies the voltage signal V4 to a portion defined by the second reference potential G2 in the voltage detection unit 53. The voltage signal V4 changes according to the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 as described later. As a result, the positive voltage Vf + and the negative voltage Vf−, which are floating voltages based on the second reference potential G2, become floating voltages that change according to the voltage of the voltage signal V4.

この電圧生成部55は、一例として、電圧検出部53の第2基準電位G2(第2基準電位G2と同電位のシールドケーブル5のシールド導体5b)、検出電極23および電圧検出部53(電流電圧変換回路53a、積分回路53b、駆動回路53cおよび絶縁回路53d(本例ではフォトカプラ))と共にフィードバックループを形成して、電位差Vdiを減少させるように積分信号V3aを増幅する増幅動作を行うことにより、電圧信号V4を生成する。   As an example, the voltage generation unit 55 includes a second reference potential G2 of the voltage detection unit 53 (shield conductor 5b of the shield cable 5 having the same potential as the second reference potential G2), a detection electrode 23, and a voltage detection unit 53 (current voltage). By forming a feedback loop together with the conversion circuit 53a, the integration circuit 53b, the drive circuit 53c and the insulation circuit 53d (photocoupler in this example), an amplification operation is performed to amplify the integration signal V3a so as to reduce the potential difference Vdi. The voltage signal V4 is generated.

本例では、一例として、電圧生成部55は、図9に示すように、増幅回路55a、位相補償回路55bおよび昇圧回路55cを備えて構成されている。ここで、増幅回路55aは、積分信号V3aを入力して増幅することにより、電圧信号V4aを生成する。この場合、増幅回路55aは、積分信号V3aの電圧値についての絶対値の増加・減少に対応して、電圧値の絶対値が変化する電圧信号V4aを増幅動作によって生成する。位相補償回路55bは、フィードバック制御動作の安定化(発振防止)を図るため、電圧信号V4aを入力してその位相を調整して電圧信号V4bとして出力する。昇圧回路55cは、一例として昇圧トランスを用いて構成されて、電圧信号V4bを所定の倍率で昇圧することにより(極性は変えずに絶対を増加させることにより)、電圧信号V4を生成して第2基準電位G2に印加する。電圧計56は、グランドG1の電位を基準として電圧信号V4を測定すると共に、その電圧値をディジタルデータに変換して電圧データDvとして出力する。   In this example, as an example, the voltage generation unit 55 includes an amplifier circuit 55a, a phase compensation circuit 55b, and a booster circuit 55c as shown in FIG. Here, the amplification circuit 55a generates the voltage signal V4a by inputting and amplifying the integration signal V3a. In this case, the amplifier circuit 55a generates a voltage signal V4a in which the absolute value of the voltage value changes in accordance with the increase / decrease of the absolute value of the voltage value of the integration signal V3a by an amplification operation. The phase compensation circuit 55b receives the voltage signal V4a, adjusts its phase, and outputs it as the voltage signal V4b in order to stabilize the feedback control operation (prevent oscillation). The booster circuit 55c is configured using a booster transformer as an example, and generates a voltage signal V4 by boosting the voltage signal V4b at a predetermined magnification (by increasing the absolute without changing the polarity). 2 Applied to reference potential G2. The voltmeter 56 measures the voltage signal V4 with reference to the potential of the ground G1, converts the voltage value into digital data, and outputs it as voltage data Dv.

処理部57は、CPUおよびメモリ(いずれも図示せず)を備えて構成されて、電圧計56から出力される電圧データDvに基づいて測定対象電線6の電圧V1を算出する電圧算出処理を実行する。また、処理部57は、電圧算出処理で算出した電圧V1を表示部58に表やグラフの形式で表示させる。表示部58は、一例として、液晶ディスプレイなどのモニタ装置で構成されている。   The processing unit 57 includes a CPU and a memory (both not shown), and executes a voltage calculation process for calculating the voltage V1 of the measurement target wire 6 based on the voltage data Dv output from the voltmeter 56. To do. Further, the processing unit 57 displays the voltage V1 calculated in the voltage calculation process on the display unit 58 in the form of a table or a graph. For example, the display unit 58 includes a monitor device such as a liquid crystal display.

この検出プローブ1および本体ユニット4を備えた測定装置MDを用いて測定対象電線6の電圧V1を測定する際には、第1シールド筒体21の先端部に形成された挿入凹部33内に測定対象電線6を挿入する。   When measuring the voltage V <b> 1 of the measurement target electric wire 6 using the measuring device MD including the detection probe 1 and the main body unit 4, the measurement is performed in the insertion recess 33 formed at the distal end portion of the first shield cylinder 21. The target electric wire 6 is inserted.

具体的には、まず、図4に示す矢印方向の外力F1を操作レバー32のつまみ部32cに手(具体的には指)で加えることにより、つまみ部32c(つまり、操作レバー32全体)を図2に示す位置から図4に示す位置まで付勢部材31の付勢力に抗してスライドさせる(矢印方向にスライドさせる)ことで、第1シールド筒体21内において検出電極23を摺動(スライド)させる。これにより、検出プローブ1を、図2に示すように挿入凹部33が検出電極23で閉塞された状態から、図4に示すように挿入凹部33が開口された状態に移行させる。次いで、開口状態となった挿入凹部33内に測定対象電線6を挿入する。この場合、測定対象電線6は被覆電線であるため、測定対象電線6の芯線6aと第1シールド筒体21とは電気的に絶縁された状態に維持されている。   Specifically, first, by applying an external force F1 in the direction of the arrow shown in FIG. 4 to the knob portion 32c of the operation lever 32 by hand (specifically, a finger), the knob portion 32c (that is, the entire operation lever 32) is applied. By sliding against the biasing force of the biasing member 31 from the position shown in FIG. 2 to the position shown in FIG. 4 (sliding in the arrow direction), the detection electrode 23 slides in the first shield cylinder 21 ( Slide). As a result, the detection probe 1 is shifted from the state where the insertion recess 33 is closed by the detection electrode 23 as shown in FIG. 2 to the state where the insertion recess 33 is opened as shown in FIG. Next, the measurement target electric wire 6 is inserted into the insertion recess 33 that has been opened. In this case, since the measurement target electric wire 6 is a covered electric wire, the core wire 6a of the measurement target electric wire 6 and the first shield cylinder 21 are maintained in an electrically insulated state.

また、特にこの検出プローブ1では、図1〜図6、詳細には図8に示すように、挿入凹部33を構成する基端側切欠き面33bが先端側切欠き面33aよりも第1シールド筒体21の基端部側に傾斜する構成であり、先端側切欠き面33aと基端側切欠き面33bとの間の軸線L方向に沿った距離が挿入凹部33の奥側から開口部側に向かうに従って徐々に広くなる構成となっていることから、測定対象電線6を挿入凹部33内に容易に挿入することが可能になっている。   In particular, in the detection probe 1, as shown in FIGS. 1 to 6 and specifically in FIG. 8, the proximal-side notch surface 33b constituting the insertion recess 33 is a first shield than the distal-side notch surface 33a. It is a structure which inclines to the base end part side of the cylinder 21, and the distance along the axis L direction between the front end side notch surface 33a and the base end side notch surface 33b is an opening part from the back side of the insertion recessed part 33. Since it becomes the structure which becomes gradually wide toward the side, it becomes possible to insert the measuring object electric wire 6 in the insertion recessed part 33 easily.

続いて、つまみ部32cから手(指)を離す。これにより、つまみ部32cに加わっていた外力F1がなくなるため、付勢部材31の付勢力F2により、ガイド筒体29内において連結ピン30が第1シールド筒体21方向に押動される。また、検出電極23が、この連結ピン30で押動されて、第1シールド筒体21内を第1蓋体25方向に向けて、図6,8に示すように検出電極23の先端面23aと第1シールド筒体21の先端側切欠き面33aとの間で測定対象電線6を挟持する位置まで摺動(スライド)する。以上により、検出プローブ1の測定対象電線6へのクランプ作業(装着作業)が完了する。   Subsequently, the hand (finger) is released from the knob portion 32c. As a result, the external force F1 applied to the knob portion 32c is eliminated, and the connecting pin 30 is pushed toward the first shield cylinder 21 in the guide cylinder 29 by the urging force F2 of the urging member 31. Further, the detection electrode 23 is pushed by the connecting pin 30 so that the inside of the first shield cylindrical body 21 is directed toward the first lid 25, and as shown in FIGS. And a position where the measurement target electric wire 6 is sandwiched between the first shield cylinder 21 and the front end side cutout surface 33a. Thus, the clamping operation (mounting operation) of the detection probe 1 to the measurement target electric wire 6 is completed.

この検出プローブ1では、このようにして測定対象電線6が挟持されることにより、挿入凹部33内に測定対象電線6が挿入された状態が維持される。したがって、検出プローブ1から手を放した状態においても、測定対象電線6の電圧V1を測定する際に重要となる測定対象電線6の芯線6aと検出電極23の先端面23aとの間に形成される静電容量C0(図8参照)の容量値が大きく変動するといった事態の発生が十分に回避されている。これにより、この検出プローブ1は、その検出用の電極である検出電極23を測定対象電線6の芯線6aに直接接触させることなく互いに容量結合させるだけで、この測定対象電線6の電圧V1を正確に検出し得るいわゆる導体(金属)非接触型の電圧検出プローブとして機能することが可能に構成されている。   In the detection probe 1, the state in which the measurement target electric wire 6 is inserted into the insertion recess 33 is maintained by holding the measurement target electric wire 6 in this manner. Therefore, even when the detection probe 1 is released, it is formed between the core wire 6a of the measurement target electric wire 6 and the distal end surface 23a of the detection electrode 23 that are important when measuring the voltage V1 of the measurement target electric wire 6. The occurrence of a situation in which the capacitance value of the electrostatic capacitance C0 (see FIG. 8) fluctuates greatly is sufficiently avoided. As a result, the detection probe 1 accurately detects the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 only by capacitively coupling the detection electrodes 23, which are detection electrodes, without directly contacting the core wire 6a of the measurement target electric wire 6. It is configured to be able to function as a so-called conductor (metal) non-contact type voltage detection probe that can detect the current.

また、特にこの検出プローブ1では、図8等に示すように、測定対象電線6を挟持する先端側切欠き面33aが基準平面PLを基準として第1シールド筒体21の基端部側に傾斜する構成(つまり、軸線Lと先端側切欠き面33aとの角度θ1が鋭角となる構成)であるため、基準平面PLと平行な平面に形成された検出電極23の先端面23aと相俟って、測定対象電線6を挟持する先端側切欠き面33aと先端面23aとの間の隙間を挿入凹部33の奥側から開口側に向かうに従って徐々に狭くし得る構成となっている。これにより、この検出プローブ1では、挿入凹部33内に測定対象電線6が挿入された状態を一層確実に維持することが可能になっている。   In particular, in the detection probe 1, as shown in FIG. 8 and the like, the front end side notch surface 33a that sandwiches the measurement target electric wire 6 is inclined toward the base end side of the first shield cylindrical body 21 with respect to the reference plane PL. (That is, a configuration in which the angle θ1 between the axis L and the notch 33a on the front end side is an acute angle), and therefore, combined with the front end surface 23a of the detection electrode 23 formed on a plane parallel to the reference plane PL. Thus, the gap between the front end side notch surface 33a and the front end surface 23a that sandwich the measurement target electric wire 6 can be gradually narrowed from the back side of the insertion recess 33 toward the opening side. Thereby, in this detection probe 1, it is possible to maintain the state in which the measurement target electric wire 6 is inserted into the insertion recess 33 more reliably.

この状態において、測定対象電線6の電圧V1と、電圧検出部53の第2基準電位G2の電圧(第2基準電位G2と同電位となるシールドケーブル5のシールド導体5b、検出電極ユニット3の第3蓋体27、第2シールド筒体22、第2蓋体26、第1シールド筒体21および第1蓋体25の各電圧。つまり、電圧信号V4の電圧)との電位差Vdiが増加しているとき(例えば、電圧V1の上昇に起因して電位差Vdiが増加しているとき)には、本体ユニット4の電圧検出部53では、測定対象電線6から検出電極23を介して電流電圧変換回路53aに流れ込む電流信号Iの電流量が増加する。この場合、電流電圧変換回路53aは、出力している検出電圧信号V2の電圧値を低下させる。積分回路53bでは、この検出電圧信号V2の低下に起因して、第2演算増幅器の出力端子からコンデンサを介して反転入力端子に向けて流れる電流が増加する。このため、積分回路53bは、積分信号V3の電圧を上昇させる。また、この積分信号V3の電圧上昇に伴い、駆動回路53cのトランジスタが深いオン状態に移行する。これにより、絶縁回路53d(フォトカプラ)では、その発光ダイオードに流れる電流が増加し、フォトトランジスタの抵抗が減少する。したがって、抵抗54の抵抗値とフォトトランジスタの抵抗値とで電位差(Vdd−Vss)が分圧されて生成される積分信号V3aは、その電圧値が低下する。   In this state, the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 and the voltage of the second reference potential G2 of the voltage detection unit 53 (the shield conductor 5b of the shield cable 5 having the same potential as the second reference potential G2 and the first of the detection electrode unit 3). The potential difference Vdi from the respective voltages of the three lid bodies 27, the second shield cylinder body 22, the second lid body 26, the first shield cylinder body 21 and the first lid body 25 (that is, the voltage of the voltage signal V4) increases. When the voltage difference Vdi is increased due to the rise of the voltage V1 (for example, when the potential difference Vdi is increased), the voltage detection unit 53 of the main body unit 4 causes the current-voltage conversion circuit from the measurement target wire 6 via the detection electrode 23. The amount of current signal I flowing into 53a increases. In this case, the current-voltage conversion circuit 53a reduces the voltage value of the output detection voltage signal V2. In the integrating circuit 53b, the current flowing from the output terminal of the second operational amplifier toward the inverting input terminal via the capacitor increases due to the decrease in the detection voltage signal V2. Therefore, the integration circuit 53b increases the voltage of the integration signal V3. As the voltage of the integration signal V3 rises, the transistor of the drive circuit 53c shifts to a deep on state. Thereby, in the insulating circuit 53d (photocoupler), the current flowing through the light emitting diode increases, and the resistance of the phototransistor decreases. Therefore, the voltage value of the integrated signal V3a generated by dividing the potential difference (Vdd−Vss) between the resistance value of the resistor 54 and the resistance value of the phototransistor is decreased.

また、本体ユニット4では、電圧生成部55が、この積分信号V3aに基づいて、生成している電圧信号V4の電圧値を上昇させる。この測定装置MDでは、このようにしてフィードバックループを構成する電流電圧変換回路53a、積分回路53b、駆動回路53c、絶縁回路53dおよび電圧生成部55が、測定対象電線6の電圧V1の上昇を検出して、電圧信号V4の電圧値を上昇させるフィードバック制御動作を実行することにより、電圧検出部53の第2基準電位G2等の電圧(電圧信号V4の電圧)を電圧V1に追従させる。   In the main unit 4, the voltage generation unit 55 increases the voltage value of the generated voltage signal V4 based on the integration signal V3a. In this measurement apparatus MD, the current-voltage conversion circuit 53a, the integration circuit 53b, the drive circuit 53c, the insulation circuit 53d, and the voltage generation unit 55 that constitute the feedback loop in this way detect an increase in the voltage V1 of the measurement target wire 6. Then, by executing the feedback control operation for increasing the voltage value of the voltage signal V4, the voltage (voltage of the voltage signal V4) such as the second reference potential G2 of the voltage detection unit 53 is made to follow the voltage V1.

また、電圧V1の低下に起因して電位差Vdiが増加したときには、検出電極23を介して電流電圧変換回路53aから測定対象電線6に流れ出る(流出する)電流信号Iの電流量が増加する。この際には、フィードバックループを構成する電流電圧変換回路53a等が上記のフィードバック制御動作とは逆の動作でのフィードバック制御動作を実行して、電圧信号V4の電圧を低下させることにより、電圧検出部53の第2基準電位G2等の電圧(電圧信号V4の電圧)を電圧V1に追従させる。   Further, when the potential difference Vdi increases due to the decrease in the voltage V1, the amount of current of the current signal I that flows out (flows out) from the current-voltage conversion circuit 53a to the measurement target wire 6 via the detection electrode 23 increases. At this time, voltage detection is performed by the current-voltage conversion circuit 53a and the like constituting the feedback loop performing a feedback control operation opposite to the above-described feedback control operation to reduce the voltage of the voltage signal V4. A voltage (voltage of the voltage signal V4) such as the second reference potential G2 of the unit 53 is made to follow the voltage V1.

このようにして、測定装置MDでは、電圧検出部53の第2基準電位G2等の電圧(電圧信号V4の電圧)を電圧V1に追従させるフィードバック制御動作が短時間に実行されて、電圧検出部53の第2基準電位G2等の電圧(電流電圧変換回路53aの第1演算増幅器のバーチャルショートにより、検出電極23の電圧でもある)が電圧V1に一致させられる(収束させられる)。電圧計56は、電圧信号V4の電圧値をリアルタイムで計測して、その電圧値を示す電圧データDvを出力する。また、電圧信号V4は、測定対象電線6の電圧V1に一旦収束した後は、フィードバックループを構成する各構成要素が上記のように動作することにより、電圧V1の変動に追従する。したがって、測定対象電線6の電圧V1を示す電圧データDvが電圧計56から連続して出力される。   In this way, in the measuring apparatus MD, the feedback control operation for causing the voltage (voltage of the voltage signal V4) such as the second reference potential G2 of the voltage detector 53 to follow the voltage V1 is executed in a short time, and the voltage detector 53, such as the second reference potential G2 (which is also the voltage of the detection electrode 23 due to a virtual short circuit of the first operational amplifier of the current-voltage conversion circuit 53a) is made to coincide with (converge) the voltage V1. The voltmeter 56 measures the voltage value of the voltage signal V4 in real time and outputs voltage data Dv indicating the voltage value. In addition, after the voltage signal V4 once converges to the voltage V1 of the measurement target electric wire 6, each component constituting the feedback loop operates as described above to follow the fluctuation of the voltage V1. Therefore, voltage data Dv indicating the voltage V <b> 1 of the measurement target electric wire 6 is continuously output from the voltmeter 56.

処理部57は、電圧計56から出力された電圧データDvを入力してメモリに記憶する。次いで、処理部57は、電圧算出処理を実行して、電圧データDvに基づいて測定対象電線6の電圧V1を算出してメモリに記憶する。最後に、処理部57は、メモリに記憶されている測定結果(電圧V1)を表示部58に表示させる。これにより、測定装置MDによる測定対象電線6の電圧V1の測定が完了する。   The processing unit 57 receives the voltage data Dv output from the voltmeter 56 and stores it in the memory. Next, the processing unit 57 executes a voltage calculation process, calculates the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 based on the voltage data Dv, and stores it in the memory. Finally, the processing unit 57 causes the display unit 58 to display the measurement result (voltage V1) stored in the memory. Thereby, the measurement of the voltage V1 of the measuring object electric wire 6 by the measuring device MD is completed.

引き続き、他の測定対象電線6の電圧V1を測定する際には、まず、図4に示す矢印方向の外力F1を操作レバー32のつまみ部32cに加えることにより、操作レバー32をグリップ部2の基端部方向に向けてスライドさせて、検出電極23についても同方向に摺動(スライド)させることで、挿入凹部33の先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとの間での測定対象電線6の挟持状態を解消する。次いで、挿入凹部33内から測定対象電線6を外す(測定対象電線6のクランプ状態を解消する)。これにより、検出プローブ1を次の測定対象電線6に装着(クランプ)することが可能となる。   Subsequently, when measuring the voltage V1 of the other electric wires 6 to be measured, first, an external force F1 in the direction of the arrow shown in FIG. 4 is applied to the knob portion 32c of the operation lever 32, so that the operation lever 32 is moved to the grip portion 2. By sliding toward the base end direction and sliding (sliding) the detection electrode 23 in the same direction, the front end side notch surface 33a of the insertion recess 33 and the front end surface 23a of the detection electrode 23 are moved. The clamping state of the measurement target electric wire 6 is eliminated. Next, the measurement target electric wire 6 is removed from the insertion recess 33 (the clamp state of the measurement target electric wire 6 is eliminated). As a result, the detection probe 1 can be attached (clamped) to the next measurement target electric wire 6.

このように、この検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDでは、先端部に挿入凹部33が形成され、基端部がグリップ部2に固定され、かつシールドケーブル5のシールド導体5bに接続された第1シールド筒体21と、先端面23aおよび外周面23bが絶縁被覆24で覆われて第1シールド筒体21内に摺動自在に収納され、かつシールドケーブル5の芯線5aに接続された検出電極23とを備え、検出電極23は、第1シールド筒体21内を挿入凹部33方向に摺動して、挿入凹部33内に挿入されている状態の測定対象電線6と絶縁被覆24を介して先端面23aが容量結合可能に構成されている。   As described above, in the detection probe 1 and the measuring apparatus MD including the detection probe 1, the insertion recess 33 is formed at the distal end portion, the proximal end portion is fixed to the grip portion 2, and the shield conductor 5 b of the shield cable 5. The first shield cylinder 21 connected to the front end 23a, the front end face 23a and the outer peripheral face 23b are covered with an insulating coating 24 and are slidably accommodated in the first shield cylinder 21, and are attached to the core 5a of the shield cable 5. The detection electrode 23 is connected to the measurement target electric wire 6 in a state where the detection electrode 23 slides in the first shield cylinder 21 toward the insertion recess 33 and is inserted into the insertion recess 33. The front end surface 23 a is configured to be capable of capacitive coupling through the coating 24.

したがって、この検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDによれば、測定対象電線6とする1本の配線材を挿入し得る挿入凹部33を先端部に形成し、かつ絶縁被覆24で覆われた検出電極23を内部に収納し得る限りにおいて、細い筒状の剛性体で第1シールド筒体21を形成することができ、これによって挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6と検出電極23の先端面23aとの間の容量結合および第1シールド筒体21による検出電極23のシールドが可能となることから、背景技術で説明した各種の検出プローブでは装着(クランプ)することが困難であった他の導体と極めて近接した状態で存在している測定対象電線6に対しても、外乱の検出電極23への影響(例えば、他の導体からの影響)を第1シールド筒体21によって低減しつつ、挿入凹部33内に挿入して(装着して)その電圧V1を確実かつ容易に測定することができる。   Therefore, according to the detection probe 1 and the measuring device MD provided with the detection probe 1, the insertion recess 33 into which one wiring material to be measured electric wire 6 can be inserted is formed at the distal end portion, and the insulating coating 24 is provided. As long as the detection electrode 23 covered with can be accommodated inside, the first shield cylinder 21 can be formed of a thin cylindrical rigid body, and thereby the measurement target electric wire 6 inserted into the insertion recess 33. Since the capacitive coupling between the detection electrode 23 and the front end surface 23a of the detection electrode 23 and the shielding of the detection electrode 23 by the first shield cylinder 21 are possible, the various detection probes described in the background art are attached (clamped). The influence of the disturbance on the detection electrode 23 (for example, the influence from other conductors) is also applied to the measurement target electric wire 6 that exists in the state of being very close to the other conductors that are difficult to measure. While reducing by the shielding cylinder 21 and insert and (wearing) into the insertion concave portion 33 can be the voltage V1 reliably and easily measured.

また、この検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDでは、第1シールド筒体21の挿入凹部33を構成する先端側切欠き面33a、基端側切欠き面33bおよび奥側切欠き面33cのうちの先端部側に位置する先端側切欠き面33aが、基準平面PLを基準として基端部側に傾斜する構成となっている。したがって、この検出プローブ1およびこの測定装置MDによれば、挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6が検出電極23の先端面23aによって先端側切欠き面33aに押し付けられた状態(先端面23aと先端側切欠き面33aとで挟持された状態)において、測定対象電線6を挿入凹部33から外れにくくすることができる。   Further, in the detection probe 1 and the measuring apparatus MD provided with the detection probe 1, the front end side notch surface 33 a, the base end side notch surface 33 b, and the back side notch that form the insertion recess 33 of the first shield cylinder 21. The front end side notch surface 33a located on the front end side of the notch surface 33c is configured to be inclined toward the base end side with respect to the reference plane PL. Therefore, according to the detection probe 1 and the measurement apparatus MD, the measurement target electric wire 6 inserted into the insertion recess 33 is pressed against the front end side notch surface 33a by the front end surface 23a of the detection electrode 23 (front end surface). 23a and the front end side notch surface 33a), it is possible to make it difficult to remove the measurement target electric wire 6 from the insertion recess 33.

また、この検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDでは、第1シールド筒体21の挿入凹部33を構成する先端側切欠き面33a、基端側切欠き面33bおよび奥側切欠き面33cのうちの基端部側に位置する基端側切欠き面33bが、基準平面PLを基準として、先端側切欠き面33aよりも基端部側に傾斜する構成となっている。したがって、この検出プローブ1およびこの測定装置MDによれば、上記のような先端側切欠き面33aを傾けたときの効果(挿入凹部33から測定対象電線6を外れにくくできるとの効果)を維持しつつ、切欠き面33a,33b間の軸線L方向に沿った距離を奥側切欠き面33c(挿入凹部33を構成する奥側の切欠き面)から離間するに従って徐々に広くする構成(挿入凹部33の開口幅を徐々に広くする構成)にできるため、測定対象電線6の挿入凹部33内への挿入の容易性を高めることができる。   Further, in the detection probe 1 and the measuring apparatus MD provided with the detection probe 1, the front end side notch surface 33 a, the base end side notch surface 33 b, and the back side notch that form the insertion recess 33 of the first shield cylinder 21. The base end side notch surface 33b located on the base end side of the notch surface 33c is configured to be inclined to the base end side with respect to the front end notch surface 33a with reference to the reference plane PL. Therefore, according to this detection probe 1 and this measuring device MD, the effect (the effect that it is difficult to remove the measurement target electric wire 6 from the insertion recess 33) when the tip side notch surface 33a is inclined as described above is maintained. However, the configuration in which the distance along the axis L direction between the cut-out surfaces 33a and 33b is gradually increased as the distance from the back-side cut-out surface 33c (the back-side cut-out surface constituting the insertion recess 33) increases (insertion). Since the opening width of the concave portion 33 can be gradually increased), the ease of insertion of the measurement target electric wire 6 into the insertion concave portion 33 can be enhanced.

また、この検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDによれば、挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6を、付勢部材31の付勢力により、第1シールド筒体21の先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとの間で挟持することができるため、検出プローブ1から手を放した状態においても、測定対象電線6が挿入凹部33内に位置する状態が維持される結果、電圧V1の測定作業についての作業性を向上させることができる。   In addition, according to the detection probe 1 and the measuring apparatus MD including the detection probe 1, the first shield cylinder 21 is placed on the measurement target electric wire 6 inserted into the insertion recess 33 by the urging force of the urging member 31. Therefore, even when the detection probe 1 is released, the measurement target electric wire 6 is positioned in the insertion recess 33. As a result of maintaining the state, the workability of the voltage V1 measurement work can be improved.

また、上記の検出プローブ1では、検出電極23の先端面23aは基準平面PLと平行な平面に形成されているが、図10に示すように、第1シールド筒体21の先端部側に傾斜する斜面に形成する構成を採用することもできる。この構成の検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDによれば、挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6が検出電極23の先端面23aによって先端側切欠き面33aに押し付けられた状態(先端面23aと先端側切欠き面33aとで挟持された状態)において、測定対象電線6を挿入凹部33から一層外れにくくすることができる。   Further, in the detection probe 1 described above, the distal end surface 23a of the detection electrode 23 is formed in a plane parallel to the reference plane PL, but as shown in FIG. 10, it is inclined toward the distal end side of the first shield cylinder 21. It is also possible to adopt a configuration that is formed on an inclined surface. According to the detection probe 1 having this configuration and the measurement apparatus MD including the detection probe 1, the measurement target electric wire 6 inserted into the insertion recess 33 is pressed against the distal-side notch surface 33a by the distal-end surface 23a of the detection electrode 23. In the held state (a state sandwiched between the distal end surface 23 a and the distal end side notch surface 33 a), the measurement target electric wire 6 can be further prevented from coming off from the insertion recess 33.

また、上記の検出プローブ1では、各切欠き面33a,33bを基準平面PLを基準として第1シールド筒体21の基端部側に傾斜させる構成を採用しているが、この構成に限定されず、例えば、図11に示すように、各切欠き面33a,33bを共に基準平面PLと平行にする構成や、図示はしないが、先端側切欠き面33aを基準平面PLと平行にし、かつ基端側切欠き面33bを基端部側に傾斜させる構成や、先端側切欠き面33aを基端部側に傾斜させ、かつ基端側切欠き面33bを基準平面PLと平行にする構成を採用することもできる。   In addition, the detection probe 1 employs a configuration in which the notch surfaces 33a and 33b are inclined toward the proximal end portion of the first shield cylinder 21 with respect to the reference plane PL. However, the detection probe 1 is limited to this configuration. For example, as shown in FIG. 11, the notch surfaces 33a and 33b are both parallel to the reference plane PL, and although not shown, the tip side notch surface 33a is parallel to the reference plane PL, and A configuration in which the base end side notch surface 33b is inclined toward the base end portion side, or a configuration in which the distal end side notch surface 33a is inclined toward the base end portion side and the base end side notch surface 33b is parallel to the reference plane PL. Can also be adopted.

また、上記の検出プローブ1(つまり、検出電極ユニット3)では、図8,10に示すように、検出電極23の先端面23aと測定対象電線6の芯線6aとが容量結合している状態(容量結合状態)、つまり、測定対象電線6が挿入凹部33内で先端側切欠き面33aと先端面23aとで挟持されている状態において、シールド部材(シールド導体5bの電位と同電位の部材)の存在しない挿入凹部33の開口部分を介して、外乱の影響を若干ではあるが受ける可能性のある構成となっている。   In the detection probe 1 (that is, the detection electrode unit 3), as shown in FIGS. 8 and 10, the tip surface 23a of the detection electrode 23 and the core wire 6a of the measurement target electric wire 6 are capacitively coupled ( (Capacitive coupling state), that is, in a state where the measurement target electric wire 6 is sandwiched between the distal end side notch surface 33a and the distal end surface 23a in the insertion recess 33, a shield member (a member having the same potential as the potential of the shield conductor 5b) Through the opening portion of the insertion recess 33 where there is no presence, there is a configuration that may be slightly affected by disturbance.

このような検出電極23に対する外乱の影響を低減する構成として、図12に示す検出電極ユニット3のように、上記した容量結合状態において挿入凹部33から第1シールド筒体21の外部に露出する検出電極23の外周面23bを覆う絶縁被覆24に導電体層36を形成して(検出電極23と第1シールド筒体21との間に導電体層36を配設して)、検出電極23の外周面23bおよび絶縁被覆24をさらに導電体層36で覆う構成を採用することができる。この場合、導電体層36は、導電性材料(例えば、金属材料)を用いて、例えば0.1mm未満(一例として0.01mm程度)の厚みで絶縁被覆24の表面に形成されている。また、この構成では、第1シールド筒体21の内面との接触(電気的接触)によって導電体層36が第1シールド筒体21と同電位となることで、導電体層36が検出電極用シールド材として機能する。   As a configuration for reducing the influence of disturbance on the detection electrode 23 as described above, detection is exposed from the insertion recess 33 to the outside of the first shield cylinder 21 in the capacitive coupling state as in the detection electrode unit 3 shown in FIG. A conductor layer 36 is formed on the insulating coating 24 covering the outer peripheral surface 23b of the electrode 23 (the conductor layer 36 is disposed between the detection electrode 23 and the first shield cylinder 21), and the detection electrode 23 A configuration in which the outer peripheral surface 23b and the insulating coating 24 are further covered with the conductor layer 36 can be employed. In this case, the conductor layer 36 is formed on the surface of the insulating coating 24 with a thickness of, for example, less than 0.1 mm (for example, about 0.01 mm) using a conductive material (for example, a metal material). Further, in this configuration, the conductor layer 36 has the same potential as that of the first shield cylinder 21 due to contact (electrical contact) with the inner surface of the first shield cylinder 21, so that the conductor layer 36 is used for the detection electrode. Functions as a shielding material.

この構成によれば、容量結合状態において挿入凹部33から第1シールド筒体21の外部に露出する検出電極23の外周面23bに検出電極用シールド材として機能する導電体層36を形成したことにより、検出電極23に対する外乱の影響を十分に低減させることができる。   According to this configuration, by forming the conductor layer 36 functioning as the detection electrode shield material on the outer peripheral surface 23b of the detection electrode 23 exposed from the insertion recess 33 to the outside of the first shield cylinder 21 in the capacitive coupling state. The influence of disturbance on the detection electrode 23 can be sufficiently reduced.

また、この構成によれば、導電体層36で検出電極用シールド材を構成したことにより、検出電極用シールド材を薄くすることができるため、検出電極用シールド材としての導電体層36で覆われた検出電極23を収容する第1シールド筒体21を細く構成することができる結果、互いに近接している複数の電線の中から1本の測定対象電線6だけを第1シールド筒体21の先端部に装着する(先端部に形成されている挿入凹部33内に挿入させる)作業を容易に行うことができる。   In addition, according to this configuration, since the detection electrode shield material is configured by the conductor layer 36, the detection electrode shield material can be thinned, and therefore, the detection electrode shield material is covered with the conductor layer 36. As a result, the first shield cylinder 21 that accommodates the broken detection electrode 23 can be configured to be thin. As a result, only one measurement target electric wire 6 is connected to the first shield cylinder 21 from among a plurality of adjacent wires. It is possible to easily perform the operation of attaching to the distal end (inserting into the insertion recess 33 formed in the distal end).

また、容量結合状態における外乱の影響を低減する他の構成として、図13に示す検出電極ユニット3のように、導電体層36に代えて、金属製(導電性材料製)の筒体37を検出電極23と第1シールド筒体21との間に配設し、容量結合状態において挿入凹部33から第1シールド筒体21の外部に露出する検出電極23の外周面23bおよびその外周面23bを覆う絶縁被覆24を、筒体37でさらに覆う構成を採用することもでき、この構成においても、第1シールド筒体21の内面との接触(電気的接触)によって筒体37が第1シールド筒体21と同電位となることで、筒体37が検出電極用シールド材として機能する。このため、この構成においても、検出電極23に対する外乱の影響を十分に低減させることができる。   As another configuration for reducing the influence of disturbance in the capacitive coupling state, a metal (made of conductive material) cylinder 37 is used instead of the conductor layer 36 as in the detection electrode unit 3 shown in FIG. An outer peripheral surface 23b of the detection electrode 23 and the outer peripheral surface 23b that are disposed between the detection electrode 23 and the first shield cylindrical body 21 and are exposed to the outside of the first shield cylindrical body 21 from the insertion recess 33 in the capacitive coupling state. It is also possible to employ a configuration in which the insulating coating 24 to be covered is further covered with a cylindrical body 37. In this configuration, the cylindrical body 37 is also in contact with the inner surface of the first shield cylindrical body 21 (electrical contact). By having the same potential as the body 21, the cylinder 37 functions as a shield material for the detection electrode. For this reason, also in this structure, the influence of the disturbance with respect to the detection electrode 23 can fully be reduced.

また、この構成によれば、筒体37で検出電極用シールド材を構成したことにより、検出電極23を筒体37に挿入し、その筒体37を第1シールド筒体21に挿入するだけの簡易な工程で検出電極23と第1シールド筒体21との間に検出電極用シールド材としての筒体37を配設することができるため、検出プローブ1の組立効率を十分に向上させることができる。   Further, according to this configuration, the detection electrode 23 is inserted into the cylindrical body 37 and the cylindrical body 37 is only inserted into the first shield cylindrical body 21 by forming the detection electrode shielding material with the cylindrical body 37. Since the cylindrical body 37 as the detection electrode shielding material can be disposed between the detection electrode 23 and the first shield cylindrical body 21 by a simple process, the assembly efficiency of the detection probe 1 can be sufficiently improved. it can.

また、筒体37を検出電極23と第1シールド筒体21との間に配設する検出電極ユニット3では、図13に示すように、容量結合状態において筒体37の先端部37aが検出電極23の先端面23a(先端面23aを覆っている絶縁被覆24)と面一の状態および先端部37aが先端面23aよりも軸線L方向に沿って第1シールド筒体21の基端部側(同図における右側)に位置する状態のいずれかの状態とする構成を採用することができる。この構成によれば、検出電極23の先端面23aから筒体37の先端部37aが突出していないため、挿入凹部33を構成する先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとで測定対象電線6を挟持する際に、筒体37の先端部37aによって測定対象電線6が損傷を受けたり切断されたりする事態を確実に防止することができる。   Further, in the detection electrode unit 3 in which the cylindrical body 37 is disposed between the detection electrode 23 and the first shield cylindrical body 21, as shown in FIG. 13, the distal end portion 37a of the cylindrical body 37 is the detection electrode in the capacitive coupling state. The distal end surface 23a of the first shield cylindrical body 21 is located on the same side as the distal end surface 23a (insulating coating 24 covering the distal end surface 23a) and the distal end portion 37a is closer to the proximal end side of the first shield cylinder 21 along the axis L direction. A configuration in which one of the states located on the right side in FIG. According to this configuration, since the distal end portion 37 a of the cylindrical body 37 does not protrude from the distal end surface 23 a of the detection electrode 23, measurement is performed at the distal end side notch surface 33 a constituting the insertion recess 33 and the distal end surface 23 a of the detection electrode 23. When sandwiching the target electric wire 6, it is possible to reliably prevent the measurement target electric wire 6 from being damaged or cut by the distal end portion 37a of the cylindrical body 37.

また、この測定装置MDは、電圧測定機能以外に電流測定機能を備える構成であってもよく、さらには、測定した電圧値および電流値に基づいて抵抗を測定する抵抗測定機能や電力を測定する電力測定機能などの他の測定機能を備える構成であってもよい。   Further, the measuring device MD may be configured to have a current measuring function in addition to the voltage measuring function, and further measure a resistance measuring function and power for measuring resistance based on the measured voltage value and current value. The configuration may include other measurement functions such as a power measurement function.

次に、検出プローブの他の一例としての図14,15に示す電圧検出プローブ101(以下、単に「検出プローブ101」ともいう)について説明する。なお、以下の説明において、上記した検出プローブ1と同様の構成要素については、同じ符号を付して、重複する説明を省略する。この検出プローブ101は、グリップ部2および検出電極ユニット103を備えて構成されている。この検出電極ユニット103では、図14,15に示すように、検出電極23が第2シールド筒体22(グリップ部2)に固定され、第1シールド筒体21が軸線L方向に沿って第2シールド筒体22に対して移動可能に構成されている。つまり、この構成においても、検出電極23は、第1シールド筒体21に対して相対的に移動可能に第1シールド筒体21内に収納されている。   Next, a voltage detection probe 101 (hereinafter also simply referred to as “detection probe 101”) shown in FIGS. 14 and 15 as another example of the detection probe will be described. In addition, in the following description, the same code | symbol is attached | subjected about the component similar to the above-mentioned detection probe 1, and the overlapping description is abbreviate | omitted. The detection probe 101 includes the grip portion 2 and the detection electrode unit 103. In this detection electrode unit 103, as shown in FIGS. 14 and 15, the detection electrode 23 is fixed to the second shield cylinder 22 (grip part 2), and the first shield cylinder 21 is second along the axis L direction. The shield cylinder 22 is configured to be movable. That is, also in this configuration, the detection electrode 23 is accommodated in the first shield cylinder 21 so as to be movable relative to the first shield cylinder 21.

この場合、図14に示すように、第1シールド筒体21がグリップ部2の基端部(同図における右側の端部)側に移動させられているときには、検出電極23の先端面23aが第1シールド筒体21の先端部(第1蓋体25)側に位置して挿入凹部33が閉塞される。また、図15に示すように、第1シールド筒体21がグリップ部2の先端部(同図における左側の端部)側に移動させられているときには、検出電極23の先端面23aが第1シールド筒体21の先端部から離間して、挿入凹部33が開放される。   In this case, as shown in FIG. 14, when the first shield cylinder 21 is moved to the base end portion (the right end portion in the figure) of the grip portion 2, the front end surface 23a of the detection electrode 23 is The insertion recess 33 is closed by being positioned on the distal end portion (first lid body 25) side of the first shield cylinder 21. Further, as shown in FIG. 15, when the first shield cylinder 21 is moved to the distal end portion (the left end portion in the figure) of the grip portion 2, the distal end surface 23a of the detection electrode 23 is the first. The insertion recess 33 is opened away from the tip of the shield cylinder 21.

また、この検出電極ユニット103では、図14,15に示すように、第2シールド筒体22内の先端部側(両図における左端部側)に配設された付勢部材131(一例として、導電性材料(例えば、金属材料)製の圧縮コイルばね)によって第1シールド筒体21がグリップ部2の基端部側に付勢されている。なお、引張コイルばねで構成された付勢部材131を、第2シールド筒体22内の基端部側(両図における右端部側)に配設する構成を採用することもできる。   Moreover, in this detection electrode unit 103, as shown in FIGS. 14 and 15, the urging member 131 (as an example) disposed on the distal end side (the left end side in both drawings) in the second shield cylindrical body 22 is used. The first shield cylinder 21 is urged toward the base end side of the grip portion 2 by a compression coil spring made of a conductive material (for example, a metal material). In addition, the structure which arrange | positions the biasing member 131 comprised with the tension coil spring in the base end part side (the right end part side in both figures) in the 2nd shield cylinder 22 is also employable.

この検出プローブ101を備えた測定装置MDを用いて測定対象電線6の電圧V1を測定する際には、まず、図14に示す矢印方向の外力F1を操作レバー32のつまみ部32cに指で加え、つまみ部32cを同図に示す位置から図15に示す位置まで付勢部材131の付勢力に抗して移動させる(操作レバー32に対する移動操作)。この際に、この移動操作に応じて第1シールド筒体21が図14に示す矢印方向に移動させられる。これにより、挿入凹部33が、検出電極23で閉塞された状態(図14に示す状態)から、開口された状態(図15に示す状態)に移行する。次いで、図16に示すように、開口状態となった挿入凹部33内に測定対象電線6を挿入する。   When measuring the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 using the measuring device MD including the detection probe 101, first, an external force F1 in the direction of the arrow shown in FIG. 14 is applied to the knob portion 32c of the operation lever 32 with a finger. The knob portion 32c is moved from the position shown in FIG. 15 to the position shown in FIG. 15 against the urging force of the urging member 131 (moving operation on the operation lever 32). At this time, the first shield cylinder 21 is moved in the direction of the arrow shown in FIG. 14 according to this moving operation. As a result, the insertion recess 33 shifts from the state closed by the detection electrode 23 (state shown in FIG. 14) to the opened state (state shown in FIG. 15). Next, as shown in FIG. 16, the measurement target electric wire 6 is inserted into the insertion recess 33 that has been opened.

続いて、つまみ部32cから指を離す。この際に、図16に示すように、第1シールド筒体21が、付勢部材31の付勢力F2によってグリップ部2の基端部側に押動させられる結果、検出電極23の先端面23aと挿入凹部33の先端側切欠き面33aとによって測定対象電線6が挟持される。以上により、検出プローブ101による測定対象電線6のクランプ作業(装着作業)が完了する。次いで、本体ユニット4の各部が各処理を実行することにより、測定対象電線6の電圧V1が測定される。   Subsequently, the finger is released from the knob portion 32c. At this time, as shown in FIG. 16, the first shield cylinder 21 is pushed toward the proximal end side of the grip portion 2 by the biasing force F <b> 2 of the biasing member 31. And the measurement object electric wire 6 is clamped by the front end side notch surface 33a of the insertion recess 33. Thus, the clamping operation (mounting operation) of the measurement target electric wire 6 by the detection probe 101 is completed. Next, the voltage V <b> 1 of the measurement target electric wire 6 is measured by each part of the main unit 4 performing each process.

この検出プローブ101およびこの検出プローブ101を備えた測定装置MDでは、第1シールド筒体21が軸線L方向に沿って移動可能に構成されている。この場合、検出電極23を移動させる構成では、操作レバー32の支柱部32aを検出電極23に連結するために、支柱部32aを挿通させるガイド孔(第2シールド筒体22の第2ガイド孔34と同様のガイド孔)等を第1シールド筒体21に形成する必要があり、その分シールド効果が低下する。これに対して第1シールド筒体21を移動させるこの検出プローブ101および測定装置MDでは、第1シールド筒体21にガイド孔を形成する必要がないため、その分、検出電極23を移動させる構成よりもシールド効果を高めることができる。   In the detection probe 101 and the measuring device MD including the detection probe 101, the first shield cylinder 21 is configured to be movable along the axis L direction. In this case, in the configuration in which the detection electrode 23 is moved, a guide hole (second guide hole 34 of the second shield cylindrical body 22) through which the support column 32 a is inserted in order to connect the support column 32 a of the operation lever 32 to the detection electrode 23. It is necessary to form the same guide hole) and the like in the first shield cylinder 21 and the shield effect is reduced accordingly. On the other hand, in the detection probe 101 and the measuring apparatus MD that move the first shield cylinder 21, there is no need to form a guide hole in the first shield cylinder 21, so that the detection electrode 23 is moved accordingly. The shield effect can be enhanced more.

また、この検出プローブ101においても、上記した検出プローブ1と同様にして、容量結合状態における外乱の影響を低減するために、図17に示すように、容量結合状態において挿入凹部33から第1シールド筒体21の外部に露出する検出電極23の外周面23bを覆う絶縁被覆24に、検出電極用シールド材として機能する導電体層36を形成して(検出電極23と第1シールド筒体21との間に導電体層36を配設して)、検出電極23の外周面23bおよび絶縁被覆24をさらに導電体層36で覆う構成が採用されている。このため、この構成においても、検出電極23に対する外乱の影響も十分に低減させることができる。   Also in this detection probe 101, in order to reduce the influence of disturbance in the capacitive coupling state, as shown in FIG. 17, the first shield from the insertion recess 33 is capacitively coupled as shown in FIG. A conductor layer 36 that functions as a shield material for the detection electrode is formed on the insulating coating 24 that covers the outer peripheral surface 23b of the detection electrode 23 exposed to the outside of the cylindrical body 21 (the detection electrode 23 and the first shield cylindrical body 21). The conductor layer 36 is disposed between the outer peripheral surface 23 b and the insulating coating 24 of the detection electrode 23 and the conductor layer 36 further covers the outer peripheral surface 23 b and the insulating coating 24. For this reason, also in this configuration, the influence of disturbance on the detection electrode 23 can be sufficiently reduced.

また、容量結合状態における外乱の影響を低減する他の構成として、図18に示す検出電極ユニット103のように、導電体層36に代えて、検出電極用シールド材として機能する金属製(導電性材料製)の筒体37を検出電極23と第1シールド筒体21との間に配設し、容量結合状態において挿入凹部33から第1シールド筒体21の外部に露出する検出電極23の外周面23bおよびその外周面23bを覆う絶縁被覆24を、筒体37でさらに覆う構成を採用することもできる。この構成においても、検出電極23に対する外乱の影響も十分に低減させることができる。   Further, as another configuration for reducing the influence of disturbance in the capacitive coupling state, a metal (conductivity) functioning as a shield material for the detection electrode instead of the conductor layer 36 as in the detection electrode unit 103 shown in FIG. A cylindrical body 37 made of a material is disposed between the detection electrode 23 and the first shield cylinder 21, and the outer periphery of the detection electrode 23 exposed from the insertion recess 33 to the outside of the first shield cylinder 21 in the capacitive coupling state. A configuration in which the insulating coating 24 covering the surface 23b and the outer peripheral surface 23b thereof is further covered with the cylindrical body 37 may be employed. Also in this configuration, the influence of disturbance on the detection electrode 23 can be sufficiently reduced.

また、筒体37を検出電極23と第1シールド筒体21との間に配設する検出電極ユニット103では、図18に示すように、容量結合状態において筒体37の先端部37aが検出電極23の先端面23a(先端面23aを覆っている絶縁被覆24)と面一の状態および先端部37aが先端面23aよりも軸線L方向に沿って第1シールド筒体21の基端部側(同図における右側)に位置する状態のいずれかの状態とすることもできる。この構成によれば、検出電極23の先端面23aから筒体37の先端部37aが突出していないため、挿入凹部33を構成する先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとで測定対象電線6を挟持する際に、筒体37の先端部37aによって測定対象電線6が損傷を受けたり切断されたりする事態を確実に防止することができる。   Further, in the detection electrode unit 103 in which the cylindrical body 37 is disposed between the detection electrode 23 and the first shield cylindrical body 21, as shown in FIG. 18, the distal end portion 37a of the cylindrical body 37 is the detection electrode in the capacitive coupling state. The distal end surface 23a of the first shield cylindrical body 21 is located on the same side as the distal end surface 23a (insulating coating 24 covering the distal end surface 23a) and the distal end portion 37a is closer to the proximal end side of the first shield cylinder 21 along the axis L direction than the distal end surface 23a. Any of the states located on the right side in FIG. According to this configuration, since the distal end portion 37 a of the cylindrical body 37 does not protrude from the distal end surface 23 a of the detection electrode 23, measurement is performed at the distal end side notch surface 33 a constituting the insertion recess 33 and the distal end surface 23 a of the detection electrode 23. When sandwiching the target electric wire 6, it is possible to reliably prevent the measurement target electric wire 6 from being damaged or cut by the distal end portion 37a of the cylindrical body 37.

また、容量結合状態における外乱の影響を低減するさらに他の構成として、図19に示す検出電極ユニット103のように、検出電極用シールド材として機能する筒体37を第1シールド筒体21の外側に配設し、容量結合状態において挿入凹部33から第1シールド筒体21の外部に露出する検出電極23の外周面23bおよびその外周面23bを覆う絶縁被覆24を、筒体37でさらに覆う構成を採用することもできる。この構成においても、検出電極23に対する外乱の影響も十分に低減させることができる。   As still another configuration for reducing the influence of disturbance in the capacitive coupling state, a cylindrical body 37 that functions as a shield material for the detection electrode is provided outside the first shield cylindrical body 21 as in the detection electrode unit 103 shown in FIG. The outer peripheral surface 23b of the detection electrode 23 exposed to the outside of the first shield cylindrical body 21 from the insertion recess 33 in the capacitive coupling state and the insulating coating 24 covering the outer peripheral surface 23b are further covered with the cylindrical body 37. Can also be adopted. Also in this configuration, the influence of disturbance on the detection electrode 23 can be sufficiently reduced.

また、筒体37を検出電極23と第1シールド筒体21との間に配設したり、筒体37を第1シールド筒体21の外側に配設したりする検出電極ユニット103においても、図18,19に示すように、容量結合状態において筒体37の先端部37aが検出電極23の先端面23a(先端面23aを覆っている絶縁被覆24)と面一の状態および先端部37aが先端面23aよりも軸線L方向に沿って第1シールド筒体21の基端部側(同図における右側)に位置する状態のいずれかの状態とする構成を採用することができる。この構成においても、検出電極23の先端面23aから筒体37の先端部37aが突出していないため、挿入凹部33を構成する先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとで測定対象電線6を挟持する際に、筒体37の先端部37aによって測定対象電線6が損傷を受けたり切断されたりする事態を確実に防止することができる。   Further, in the detection electrode unit 103 in which the cylinder 37 is disposed between the detection electrode 23 and the first shield cylinder 21, or the cylinder 37 is disposed outside the first shield cylinder 21, As shown in FIGS. 18 and 19, in the capacitive coupling state, the distal end portion 37a of the cylindrical body 37 is flush with the distal end surface 23a of the detection electrode 23 (insulating coating 24 covering the distal end surface 23a) and the distal end portion 37a It is possible to adopt a configuration in which one of the states located on the proximal end side (the right side in the figure) of the first shield cylinder 21 along the axis L direction from the distal end surface 23a can be employed. Also in this configuration, since the distal end portion 37a of the cylindrical body 37 does not protrude from the distal end surface 23a of the detection electrode 23, the measurement target is the front end side notch surface 33a constituting the insertion recess 33 and the distal end surface 23a of the detection electrode 23. When the electric wire 6 is clamped, it is possible to reliably prevent the measurement target electric wire 6 from being damaged or cut by the distal end portion 37a of the cylindrical body 37.

また、グリップ部2を備えて検出プローブ1,101を構成した例について上記したが、グリップ部2を備えていない検出プローブ(検出電極ユニット3だけで構成された検出プローブ)を採用することもできる。この構成では、例えば、検出プローブ(検出電極ユニット3)を、本体ユニット4が収容される筐体に固定して使用したり、検出プローブ(検出電極ユニット3)を、移動機構に固定して使用(移動機構を作動させて測定対象電線6をクランプ)したりする使用形態に適用することができる。   Further, although the example in which the detection probe 1 or 101 is configured with the grip portion 2 has been described above, a detection probe that does not include the grip portion 2 (a detection probe configured only with the detection electrode unit 3) may be employed. . In this configuration, for example, the detection probe (detection electrode unit 3) is used while being fixed to a housing in which the main unit 4 is accommodated, or the detection probe (detection electrode unit 3) is used while being fixed to a moving mechanism. The present invention can be applied to a usage pattern in which the measurement target electric wire 6 is clamped by operating the moving mechanism.

1,101 検出プローブ
5 シールドケーブル
5a 芯線
5b シールド導体
6 測定対象電線
21 第1シールド筒体
23 検出電極
24 絶縁被覆
33 挿入凹部
33a 先端側切欠き面
33b 基端側切欠き面
36 導電体層
37 筒体
37a 先端部
L 軸線
PL 基準平面
1,101 detection probe
5 Shielded cable 5a Core wire 5b Shield conductor
6 Measurement target wire 21 First shield cylinder 23 Detecting electrode 24 Insulation coating 33 Insertion recess 33a Tip side notch surface 33b Base end notch surface 36 Conductor layer 37 Tube 37a Tip
L axis PL Reference plane

Claims (11)

導電性材料製の筒状体で形成されると共に先端部における外周壁の一部が軸線に対して交差する方向に沿って切り欠かれて測定対象電線を挿入可能な挿入凹部が当該先端部に形成されたシールド筒体と、
先端面および外周面が絶縁被覆で覆われた導電性材料製の柱状体で形成されて前記軸線方向に沿って前記シールド筒体に対して相対的に移動可能に当該シールド筒体内に収納された検出電極とを備え、
前記検出電極は、当該シールド筒体に対して相対的に移動させられて前記先端面が前記挿入凹部に位置したときに、当該挿入凹部に挿入されている状態の前記測定対象電線と前記絶縁被覆を介して前記先端面が容量結合可能に構成されている電圧検出プローブ。
An insertion recess that is formed of a cylindrical body made of a conductive material and in which a part of the outer peripheral wall at the tip is cut out along the direction intersecting the axis and into which the measurement target electric wire can be inserted is formed at the tip. A formed shield cylinder;
The front end surface and the outer peripheral surface are formed of a columnar body made of a conductive material covered with an insulating coating, and are housed in the shield cylinder so as to be movable relative to the shield cylinder along the axial direction. A detection electrode,
When the detection electrode is moved relative to the shield cylinder and the tip surface is positioned in the insertion recess, the measurement target electric wire and the insulation coating in a state of being inserted in the insertion recess A voltage detection probe in which the distal end surface is configured to be capable of capacitive coupling via a pin.
前記挿入凹部を構成する前記シールド筒体の切欠き面のうちの前記先端部側に位置する先端側切欠き面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として基端部側に傾斜している請求項1記載の電圧検出プローブ。   Of the cut-out surfaces of the shield cylindrical body constituting the insertion recess, the front-end cut-out surface located on the front-end portion side is inclined toward the base end portion with reference to a reference plane orthogonal to the axis. The voltage detection probe according to claim 1. 前記挿入凹部を構成する前記シールド筒体の切欠き面のうちの前記基端部側に位置する基端側切欠き面は、前記基準平面を基準として、前記先端側切欠き面よりも前記基端部側に傾斜している請求項2記載の電圧検出プローブ。   Of the cut-out surfaces of the shield cylindrical body constituting the insertion recess, a base-side cut-out surface located on the base end side is more than the base-side cut-out surface with respect to the reference plane. The voltage detection probe according to claim 2, wherein the voltage detection probe is inclined toward the end side. 前記検出電極を前記挿入凹部方向に常時付勢する付勢部材を備え、
前記検出電極は、前記付勢部材の付勢力によって前記シールド筒体内を前記挿入凹部方向に摺動させられて、前記挿入凹部を構成する前記シールド筒体の切欠き面のうちの前記先端部側に位置する先端側切欠き面と前記先端面との間で、当該挿入凹部に挿入されている前記測定対象電線を挟持する請求項1から3のいずれかに記載の電圧検出プローブ。
A biasing member that constantly biases the detection electrode in the direction of the insertion recess;
The detection electrode is slid in the direction of the insertion recess in the shield cylinder by the biasing force of the biasing member, and is on the tip end side of the cutout surface of the shield cylinder that constitutes the insertion recess. The voltage detection probe according to any one of claims 1 to 3, wherein the measurement target electric wire inserted into the insertion recess is sandwiched between a front end side notch surface located at the front end and the front end surface.
前記先端面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として前記先端部側に傾斜している請求項1から4のいずれかに記載の電圧検出プローブ。   5. The voltage detection probe according to claim 1, wherein the tip surface is inclined toward the tip portion with reference to a reference plane orthogonal to the axis. 前記検出電極と前記シールド筒体との間には、前記測定対象電線と前記先端面との容量結合状態において前記挿入凹部から前記シールド筒体の外部に露出する前記検出電極の前記外周面を覆う前記絶縁被覆をさらに覆う導電性材料製の検出電極用シールド材が配設されている請求項1から5のいずれかに記載の電圧検出プローブ。   Between the detection electrode and the shield cylinder, the outer peripheral surface of the detection electrode exposed from the insertion recess to the outside of the shield cylinder is covered in a capacitive coupling state between the measurement target electric wire and the tip surface. The voltage detection probe according to any one of claims 1 to 5, wherein a shield material for a detection electrode made of a conductive material that further covers the insulating coating is disposed. 前記検出電極用シールド材は、筒体で構成されている請求項6記載の電圧検出プローブ。   The voltage detection probe according to claim 6, wherein the detection electrode shield member is formed of a cylindrical body. 前記検出電極用シールド材は、前記絶縁被覆の表面に形成された導電体層で構成されている請求項6記載の電圧検出プローブ。   The voltage detection probe according to claim 6, wherein the detection electrode shielding material is formed of a conductor layer formed on a surface of the insulating coating. 前記シールド筒体の外側には、前記測定対象電線と前記先端面との容量結合状態において前記挿入凹部から前記シールド筒体の外部に露出する前記検出電極の前記外周面を覆う前記絶縁被覆をさらに覆う導電性材料製の検出電極用シールド材が配設されている請求項1から5のいずれかに記載の電圧検出プローブ。   The insulating coating that covers the outer peripheral surface of the detection electrode that is exposed from the insertion recess to the outside of the shield cylinder in a capacitive coupling state between the measurement target electric wire and the tip surface is further provided on the outer side of the shield cylinder. The voltage detection probe according to claim 1, wherein a shielding material for a detection electrode made of a conductive material is disposed. 前記検出電極用シールド材は、前記容量結合状態において当該検出電極用シールド材の先端部が前記検出電極の前記先端面と面一の状態および当該先端部が当該先端面よりも前記軸線方向に沿って前記シールド筒体の基端部側に位置する状態のいずれかの状態となるように構成されている請求項6から9のいずれかに記載の電圧検出プローブ。   In the capacitively coupled state, the detection electrode shield material is in a state in which the distal end portion of the detection electrode shield material is flush with the distal end surface of the detection electrode, and the distal end portion is closer to the axial direction than the distal end surface. The voltage detection probe according to any one of claims 6 to 9, wherein the voltage detection probe is configured to be in any of the states positioned on the proximal end side of the shield cylinder. 請求項1から10のいずれかに記載の電圧検出プローブと、
前記電圧検出プローブが接続される本体ユニットと、
前記本体ユニット内に配設されて、前記芯線および前記検出電極を介して前記測定対象電線の電圧を検出すると共に当該電圧に応じて変化する電圧信号を出力する電圧検出部と、
前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧信号に基づいて前記測定対象電線の前記電圧に追従する電圧を生成すると共に前記シールド導体に印加する電圧生成部と、
前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧生成部で生成される前記電圧に基づいて前記測定対象電線の前記電圧を測定する処理部とを備え、
前記電圧検出部は、前記電圧生成部で生成される前記電圧の電位を基準とするフローティング電圧で作動する測定装置。
A voltage detection probe according to any one of claims 1 to 10,
A main unit to which the voltage detection probe is connected;
A voltage detection unit disposed in the main body unit for detecting a voltage of the measurement target electric wire via the core wire and the detection electrode and outputting a voltage signal that changes in accordance with the voltage;
A voltage generator disposed in the main body unit, generating a voltage following the voltage of the measurement target wire based on the voltage signal and applying the voltage to the shield conductor;
A processing unit disposed in the main unit and measuring the voltage of the measurement target wire based on the voltage generated by the voltage generation unit;
The voltage detector is a measuring device that operates with a floating voltage based on the potential of the voltage generated by the voltage generator.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018132346A (en) * 2017-02-14 2018-08-23 日置電機株式会社 Voltage detection device
JP2018204963A (en) * 2017-05-30 2018-12-27 日置電機株式会社 Sensor and measurement device
EP3502713A2 (en) 2017-12-25 2019-06-26 Hioki Denki Kabushiki Kaisha Sensor and measuring apparatus
JP2019105519A (en) * 2017-12-12 2019-06-27 日置電機株式会社 Sensor
DE102021211206A1 (en) 2020-10-13 2022-04-14 Hioki E.E. Corporation sensor
JP7471994B2 (en) 2020-10-13 2024-04-22 日置電機株式会社 Sensors

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05264672A (en) * 1992-01-14 1993-10-12 Hewlett Packard Co <Hp> Capacitive coupling probe, signal capturing method and test system
JPH09211046A (en) * 1996-02-02 1997-08-15 Hitachi Ltd Method and apparatus for non-contact detection of potential
JP2003204371A (en) * 2001-08-29 2003-07-18 Sensor Technologies Inc Analyzer sensor
US6756799B1 (en) * 2002-04-18 2004-06-29 Richard Bryon Seltzer Multi-meter test lead system
JP2010286347A (en) * 2009-06-11 2010-12-24 Hioki Ee Corp Device for detecting voltage

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05264672A (en) * 1992-01-14 1993-10-12 Hewlett Packard Co <Hp> Capacitive coupling probe, signal capturing method and test system
JPH09211046A (en) * 1996-02-02 1997-08-15 Hitachi Ltd Method and apparatus for non-contact detection of potential
JP2003204371A (en) * 2001-08-29 2003-07-18 Sensor Technologies Inc Analyzer sensor
US6756799B1 (en) * 2002-04-18 2004-06-29 Richard Bryon Seltzer Multi-meter test lead system
JP2010286347A (en) * 2009-06-11 2010-12-24 Hioki Ee Corp Device for detecting voltage

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018132346A (en) * 2017-02-14 2018-08-23 日置電機株式会社 Voltage detection device
JP2018204963A (en) * 2017-05-30 2018-12-27 日置電機株式会社 Sensor and measurement device
JP2019105519A (en) * 2017-12-12 2019-06-27 日置電機株式会社 Sensor
JP6995601B2 (en) 2017-12-12 2022-01-14 日置電機株式会社 Sensor
EP3502713A2 (en) 2017-12-25 2019-06-26 Hioki Denki Kabushiki Kaisha Sensor and measuring apparatus
US10761115B2 (en) 2017-12-25 2020-09-01 Hioki Denki Kabushiki Kaisha Sensor and measuring apparatus
DE102021211206A1 (en) 2020-10-13 2022-04-14 Hioki E.E. Corporation sensor
JP7471994B2 (en) 2020-10-13 2024-04-22 日置電機株式会社 Sensors

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