JP6679408B2 - Voltage detection probe and measuring device - Google Patents

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JP6679408B2 JP2016093813A JP2016093813A JP6679408B2 JP 6679408 B2 JP6679408 B2 JP 6679408B2 JP 2016093813 A JP2016093813 A JP 2016093813A JP 2016093813 A JP2016093813 A JP 2016093813A JP 6679408 B2 JP6679408 B2 JP 6679408B2
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Description

本発明は、測定対象電線の電圧を検出可能に構成された電圧検出プローブ、およびこの電圧検出プローブを備えた測定装置に関するものである。   The present invention relates to a voltage detection probe configured to detect the voltage of an electric wire to be measured, and a measuring device including the voltage detection probe.

この種の電圧検出プローブとして、本願出願人は、下記の特許文献1〜3において、種々の形態の電圧検出プローブ(以下、単に「検出プローブ」ともいう)を開示している。例えば、特許文献1では、閉状態において測定対象電線を取り囲んで環状の閉磁路を形成する磁気コアが内蔵されたクランプ部を備えた検出プローブを開示している。また、特許文献2では、電圧測定用センサ基板を収容するセンサ基板収容部と、回動軸を介してセンサ基板収容部に回動可能に軸支されて、測定対象導線をセンサ基板収容部との間で挟持する測定対象電線押付け部とを備えた構成の検出プローブを開示している。また、特許文献3では、内部に電圧検出用の検知電極と磁石とが配置された電圧検出部を備え、電圧検出部が設けられた測定プローブの先端部を磁石の磁力によって位置決めしつつ測定対象電線に押し当てる構成の検出プローブを開示している。これらの検出プローブは、いずれも、その検出用の電極を測定対象電線の導電部位に直接接触させることなく互いに容量結合させるだけで、この導電部位の電圧を検出し得る検出プローブ(いわゆる非接触型電圧検出プローブ)として構成されている。   As this type of voltage detection probe, the applicant of the present application discloses various forms of voltage detection probe (hereinafter, also simply referred to as “detection probe”) in Patent Documents 1 to 3 below. For example, Patent Document 1 discloses a detection probe that includes a clamp portion that includes a magnetic core that surrounds an electric wire to be measured in a closed state to form an annular closed magnetic circuit. Further, in Patent Document 2, a sensor substrate housing portion that houses a voltage measuring sensor substrate, and a measurement target conductor wire that is rotatably supported by the sensor substrate housing portion via a pivot shaft and serves as a sensor substrate housing portion. Disclosed is a detection probe having a configuration in which a measurement target electric wire pressing portion is sandwiched between the detection probes. Further, in Patent Document 3, a voltage detection unit in which a detection electrode for voltage detection and a magnet are arranged is provided, and the measurement target while positioning the tip of the measurement probe provided with the voltage detection unit by the magnetic force of the magnet. A detection probe configured to press against an electric wire is disclosed. All of these detection probes are capable of detecting the voltage of the conductive part of the electric wire to be measured (so-called non-contact type) by capacitively coupling the electrode for detection to the conductive part of the electric wire to be measured without directly contacting the conductive part. Voltage detection probe).

ここで、上記の検出プローブは、電圧検出用の電極の近傍に、磁気コアが配置されていたり、クランプや挟持のための機構が配置されていたり、磁石が配置されていたりする構成のため、外形、特に電圧検出用の電極を含む部位の形状が大きくなっている。このため、上記の検出プローブでは、例えば、束ねられた複数の電線のうちの1本の電線の電圧を測定するときには、1本の電線だけを挟持することができないため、このような形態での測定が困難となっている。   Here, the above-mentioned detection probe, in the vicinity of the electrode for voltage detection, a magnetic core is arranged, a mechanism for clamping or clamping is arranged, or a structure in which a magnet is arranged, The outer shape, in particular, the shape of the portion including the electrode for voltage detection is large. Therefore, in the above detection probe, for example, when measuring the voltage of one of the bundled electric wires, it is not possible to hold only one electric wire. Measurement is difficult.

このような課題を解決する手段として、出願人は、次のような検出プローブを開発している。この検出プローブは、絶縁材料製のグリップ部と、先端部に挿入凹部が形成されて基端部がグリップ部に連結されたシールド筒体と、先端面および外周面が絶縁被覆で覆われた金属製の柱状体で形成されたシールド筒体内に摺動自在に収納された検出電極とを備えて構成されている。また、検出電極は、グリップ部にスライド可能に配設された操作レバーに対する操作に応じて摺動(移動)させられる。この場合、検出電極は、シールド筒体に形成された第2ガイド孔に挿通された操作レバーの支柱部の先端部に連結されている。この検出プローブでは、操作レバーを操作して検出電極をシールド筒体の先端部に向けて摺動させて挿入凹部に挿入されている電線に検出電極の先端面を当接させ、この状態で電線の電圧を測定することが可能となっている。このため、この検出プローブでは、シールド筒体や検出電極を細く形成することで、束ねられた複数の電線のうちの1本の電線だけを確実かつ容易に挟持することができるため、このような電線の電圧を確実に測定することが可能となっている。   As a means for solving such a problem, the applicant has developed the following detection probe. This detection probe includes a grip portion made of an insulating material, a shield cylinder body having an insertion recess formed at the tip end portion and a base end portion connected to the grip portion, and a metal having a tip end surface and an outer peripheral surface covered with an insulating coating. And a detection electrode slidably housed in a shield cylinder formed of a columnar body made of aluminum. Further, the detection electrode is slid (moved) in response to an operation on an operation lever slidably arranged on the grip portion. In this case, the detection electrode is connected to the tip of the column of the operating lever that is inserted into the second guide hole formed in the shield cylinder. In this detection probe, the operation lever is operated to slide the detection electrode toward the tip of the shield cylinder to bring the tip of the detection electrode into contact with the wire inserted in the insertion recess. It is possible to measure the voltage of. For this reason, in this detection probe, by forming the shield cylinder and the detection electrode to be thin, it is possible to reliably and easily hold only one of the bundled electric wires. It is possible to reliably measure the voltage of the wire.

特開2012−137496号公報(第5頁、第1図)Japanese Patent Laid-Open No. 2012-137496 (page 5, FIG. 1) 特開2014−52329号公報(第5−8頁、第1−3図)Japanese Patent Laid-Open No. 2014-52329 (pages 5-8, FIGS. 1-3) 特開2014−163670号公報(第5−8頁、第1−3図)Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-163670 (pages 5-8, FIGS. 1-3)

ところが、出願人が開発している上記の検出プローブにも、改善すべき以下の課題が存在する。すなわち、出願人が開発している検出プローブ(シールド筒体の先端部で電線を挟持する検出プローブ)では、シールド筒体に形成された第2ガイド孔に挿通された操作レバーの支柱部の先端部に検出電極が連結されている。このため、この検出プローブでは、第2ガイド孔の存在によって外乱の影響を受け、これによって電圧の測定精度が低下するおそれがあり、この点の改善が望まれている。   However, the above-mentioned detection probe developed by the applicant also has the following problems to be improved. That is, in the detection probe developed by the applicant (the detection probe in which the electric wire is sandwiched by the tip portion of the shield cylinder), the tip of the column portion of the operation lever inserted into the second guide hole formed in the shield cylinder. The detection electrode is connected to the section. Therefore, in this detection probe, the presence of the second guide hole may be affected by disturbance, which may reduce the accuracy of voltage measurement, and improvement of this point is desired.

本発明は、かかる課題を改善するためになされたものであり、外乱の影響を十分に低減して電圧を正確に測定し得る電圧検出プローブおよび測定装置を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in order to improve such a problem, and a main object of the present invention is to provide a voltage detection probe and a measurement device capable of accurately measuring the voltage by sufficiently reducing the influence of disturbance.

上記目的を達成すべく請求項1記載の電圧検出プローブは、先端部における外周壁の一部が軸線に対して交差する方向に沿って切り欠かれて測定対象電線を挿入可能な挿入凹部が当該先端部に形成された導電性を有する筒状の第1シールド体と、前記第1シールド体の基端部側が挿入される導電性を有する筒状の第2シールド体と、先端面および外周面が絶縁被覆で覆われた導電性を有する柱状体で形成されると共に前記第1シールド体内に収納された検出電極とを備え、前記第1シールド体および前記検出電極のいずれか一方は、操作レバーの移動操作に応じて前記軸線の方向に沿って移動可能に構成されて、前記挿入凹部に挿入されている前記測定対象電線に前記先端面の前記絶縁被覆が当接したときに当該挿入凹部と当該先端面とによって当該挿入されている測定対象電線を挟持すると共に当該先端面が当該絶縁被覆を介して当該挿入されている測定対象電線と容量結合可能に構成され、前記操作レバーは、つまみ部と、前記第2シールド体に形成されたガイド孔に挿通されて前記いずれか一方に接続された支柱部とを備え、前記第2シールド体の内側および外側の少なくとも一方には、前記支柱部に取り付けられて前記操作レバーに対する前記移動操作に応じて移動可能に構成され、前記挿入されている測定対象電線を挟持したときに前記ガイド孔を遮蔽する第3シールド体が配設されている。 In order to achieve the above object, the voltage detection probe according to claim 1 is provided with an insertion concave portion into which a measurement target electric wire can be inserted by cutting out a part of an outer peripheral wall at a tip end along a direction intersecting the axis. Conductive tubular first shield body formed at the tip portion, conductive tubular second shield body into which the base end side of the first shield body is inserted, tip surface and outer peripheral surface Is formed of a conductive columnar body covered with an insulating coating and is housed in the first shield body, and one of the first shield body and the detection electrode is an operating lever. Is configured to be movable along the direction of the axis according to the moving operation of the insertion concave portion when the insulating coating of the distal end surface comes into contact with the measurement target electric wire inserted into the insertion concave portion. Due to the tip surface The said front end surface while clamping the measured wires are inserted is the inserted measurable target wire and the capacitive coupling is configured through the insulating coating Te, the operating lever includes a handle portion, said first A support part that is inserted into a guide hole formed in the two shield body and is connected to one of the two, and at least one of an inner side and an outer side of the second shield body is attached to the support part. A third shield body is provided that is movable according to the movement operation of the operation lever and that shields the guide hole when the inserted measurement target electric wire is sandwiched.

請求項2記載の電圧検出プローブは、請求項1記載の電圧検出プローブにおいて、前記第1シールド体が前記軸線の方向に沿って移動可能に構成されている。   The voltage detection probe according to a second aspect is the voltage detection probe according to the first aspect, wherein the first shield body is configured to be movable along the direction of the axis.

請求項3記載の電圧検出プローブは、請求項1または2記載の電圧検出プローブにおいて、前記第3シールド体が前記第2シールド体の内側に配設されている。   According to a third aspect of the voltage detection probe of the first or second aspect, the third shield body is arranged inside the second shield body.

請求項4記載の電圧検出プローブは、請求項1から3のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記第3シールド体は円筒状に形成されている。   A voltage detection probe according to a fourth aspect is the voltage detection probe according to any of the first to third aspects, wherein the third shield body is formed in a cylindrical shape.

請求項5記載の電圧検出プローブは、請求項1から4のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記挿入凹部を構成する前記第1シールド体の切欠き面のうちの前記先端部側に位置する先端側切欠き面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として前記基端部側に傾斜している。   The voltage detection probe according to claim 5 is the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 4, wherein the voltage detection probe is located on the tip end side of the cutout surface of the first shield body that forms the insertion recess. The front end side cutout surface is inclined toward the base end portion side with reference to a reference plane orthogonal to the axis.

請求項6記載の電圧検出プローブは、請求項5記載の電圧検出プローブにおいて、前記挿入凹部を構成する前記第1シールド体の切欠き面のうちの前記基端部側に位置する基端側切欠き面は、前記基準平面を基準として、前記先端側切欠き面よりも前記基端部側に傾斜している。   The voltage detection probe according to claim 6 is the voltage detection probe according to claim 5, wherein a base end side cut located on the base end side of the cutout surface of the first shield body forming the insertion recess. The notch surface is inclined toward the base end side with respect to the tip side notch surface with the reference plane as a reference.

請求項7記載の電圧検出プローブは、請求項1から6のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記検出電極を前記挿入凹部方向に常時付勢する付勢部材を備え、前記検出電極は、前記付勢部材の付勢力によって前記第1シールド体内を前記挿入凹部方向に摺動させられて、前記挿入凹部を構成する前記第1シールド体の切欠き面のうちの前記先端部側に位置する先端側切欠き面と前記先端面との間で、前記挿入されている測定対象電線を挟持する。 The voltage detection probe according to claim 7 is the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 6, further comprising a biasing member that constantly biases the detection electrode in the insertion recess direction, and the detection electrode includes: The first shield body is slid in the insertion recess direction by the urging force of the urging member, and is positioned on the tip end side of the cutout surface of the first shield body forming the insertion recess. in between the tip side cutout surface the front end surface, to clamp the constant target wire measurement that have been the insertion.

請求項8記載の電圧検出プローブは、請求項1から7のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記先端面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として前記先端部側に傾斜している。   The voltage detection probe according to claim 8 is the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 7, wherein the tip end surface is inclined toward the tip end side with reference to a reference plane orthogonal to the axis. .

請求項9記載の電圧検出プローブは、請求項1から8のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記挿入されている測定対象電線との容量結合状態において前記挿入凹部から前記第1シールド体の外部に露出する前記検出電極における前記絶縁被覆で覆われた前記外周面は、当該第1シールド体と電気的に接触する導電体層で覆われている。 Voltage detection probe according to claim 9, wherein, in the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 8, from the insertion recess of the first shield member in capacitive coupling state between the measured wire being the insertion The outer peripheral surface of the detection electrode that is exposed to the outside and is covered with the insulating coating is covered with a conductor layer that is in electrical contact with the first shield body.

請求項10記載の測定装置は、請求項1から9のいずれかに記載の電圧検出プローブと、前記電圧検出プローブに接続された本体ユニットと、前記本体ユニット内に配設されて、前記検出電極を介して前記挿入されている測定対象電線の電圧を検出すると共に当該電圧に応じて変化する電圧信号を出力する電圧検出部と、前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧信号に基づいて前記挿入されている測定対象電線の前記電圧に追従する電圧を生成する電圧生成部と、前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧生成部で生成される前記電圧に基づいて前記挿入されている測定対象電線の前記電圧を測定する処理部とを備え、前記電圧検出部は、前記電圧生成部で生成される前記電圧の電位を基準とするフローティング電圧で作動する。 A measuring device according to claim 10 is the voltage detecting probe according to any one of claims 1 to 9, a main body unit connected to the voltage detecting probe, and the measuring electrode disposed in the main body unit. A voltage detection unit that detects the voltage of the inserted electric wire to be measured through and outputs a voltage signal that changes according to the voltage, and is provided in the main body unit, and based on the voltage signal. A voltage generator that generates a voltage that follows the voltage of the inserted electric wire to be measured, and the voltage generator that is disposed in the main body unit and that is inserted based on the voltage generated by the voltage generator. And a processing unit that measures the voltage of the electric wire to be measured, and the voltage detection unit operates at a floating voltage based on the potential of the voltage generated by the voltage generation unit.

請求項1記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置では、操作レバーの支柱部に取り付けられて操作レバーに対する移動操作に応じて移動可能に構成されて、測定対象電線を挟持したときに第2シールド体のガイド孔を遮蔽する第3シールド体が第2シールド体の内側および外側の少なくとも一方に配設されている。このため、この検出プローブおよび測定装置によれば、測定対象電線を挟持した状態においてガイド孔が遮蔽されない構成と比較して、検出電極に対する外乱の影響を十分に低減させることができる結果、測定対象電線の電圧を正確に測定することができる。   In the voltage detection probe according to claim 1 and the measurement device according to claim 10, when the electric wire to be measured is clamped, the voltage detection probe is attached to a support column of the operation lever and is movable according to a movement operation on the operation lever. A third shield body that shields the guide hole of the second shield body is disposed on at least one of the inside and the outside of the second shield body. Therefore, according to the detection probe and the measurement device, the influence of the disturbance on the detection electrode can be sufficiently reduced as compared with the configuration in which the guide hole is not shielded when the measurement target wire is sandwiched. It is possible to accurately measure the voltage of the electric wire.

請求項2記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置では、第1シールド体が軸線の方向に沿って移動可能に構成されている。この場合、検出電極を移動させる構成では、操作レバーの支柱部を検出電極に連結するために、支柱部を挿通させるガイド孔(第2シールド体のガイド孔と同様のガイド孔)等を第1シールド体に形成する必要があり、その分シールド効果が低下する。これに対して第1シールド体を移動させるこの検出プローブおよび測定装置では、第1シールド体にガイド孔等を形成する必要がないため、その分、検出電極を移動させる構成よりもシールド効果を高めることができる。   In the voltage detection probe according to claim 2 and the measurement device according to claim 10, the first shield body is configured to be movable along the direction of the axis. In this case, in the configuration in which the detection electrode is moved, a guide hole (a guide hole similar to the guide hole of the second shield body) through which the support column is inserted in order to connect the support column of the operation lever to the detection electrode is provided. It is necessary to form the shield body, and the shield effect is reduced accordingly. On the other hand, in this detection probe and measurement device that moves the first shield body, since it is not necessary to form guide holes or the like in the first shield body, the shield effect is increased by that amount as compared with the configuration in which the detection electrode is moved. be able to.

請求項3記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置によれば、第3シールド体を第2シールド体の内側に配設したことにより、第3シールド体を第2シールド体の外側に配設する構成と比較して検出プローブを小型化することができる。   According to the voltage detection probe of claim 3 and the measuring device of claim 10, the third shield body is provided inside the second shield body, so that the third shield body is provided outside the second shield body. The detection probe can be downsized as compared with the configuration provided.

請求項4記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置によれば、第3シールド体を円筒状に形成したことにより、検出電極を第3シールド体で取り囲むことができるため、第3シールド体によるシールド効果をさらに高めることができる。   According to the voltage detection probe of the fourth aspect and the measuring device of the tenth aspect, since the third shield body is formed in a cylindrical shape, the detection electrode can be surrounded by the third shield body. The shield effect of the body can be further enhanced.

請求項5記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置によれば、先端側切欠き面が基端部側に傾斜する構成のため、挿入凹部内に挿入された測定対象電線が検出電極の先端面によって先端側切欠き面に押し付けられた状態(検出電極の先端面と先端側切欠き面とで挟持された状態)において、測定対象電線を挿入凹部から外れにくくすることができる。   According to the voltage detection probe of claim 5 and the measurement device of claim 10, since the tip-side cutout surface is inclined toward the base end side, the electric wire to be measured inserted in the insertion recess is the detection electrode. It is possible to prevent the electric wire to be measured from coming off from the insertion recessed portion in a state in which it is pressed against the tip-side cutout surface by the tip end surface (state where it is sandwiched between the tip end surface of the detection electrode and the tip-side cutout surface).

請求項6記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置によれば、基端側切欠き面が先端側切欠き面よりも基端部側に傾斜する構成のため、上記のような先端側切欠き面を傾けたときの効果(挿入凹部から測定対象電線を外れにくくできるとの効果)を維持しつつ、各切欠き面間の軸線の方向に沿った距離を、挿入凹部を構成する奥側の切欠き面から離間するに従って徐々に広くする構成(挿入凹部の開口幅を徐々に広くする構成)にできるため、測定対象電線の挿入凹部内への挿入の容易性を高めることができる。   According to the voltage detection probe of claim 6 and the measuring device of claim 10, the proximal cutout surface is inclined toward the proximal end side with respect to the distal cutout surface. While maintaining the effect of tilting the side cutout surface (the effect that it is difficult to detach the measurement target wire from the insertion recessed portion), the distance along the axial direction between the cutout surfaces constitutes the insertion recessed portion. Since it can be configured to gradually widen with increasing distance from the notch surface on the far side (the configuration in which the opening width of the insertion recess is gradually widened), the ease of inserting the measurement target wire into the insertion recess can be enhanced. .

請求項7記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置によれば、挿入凹部内に挿入された測定対象電線を、付勢部材の付勢力により、第1シールド体の先端側切欠き面と検出電極の先端面との間で挟持することができるため、電圧検出プローブから手を放した状態においても、測定対象電線が挿入凹部内に位置する状態が維持される結果、測定対象電線の電圧の測定作業についての作業性を向上させることができる。   According to the voltage detection probe of claim 7 and the measuring device of claim 10, the measurement target electric wire inserted in the insertion concave portion is notched by the urging force of the urging member. Since it can be sandwiched between the probe and the tip surface of the detection electrode, the measurement target wire is maintained in the insertion recess even when the voltage detection probe is released. It is possible to improve workability in voltage measurement work.

請求項8記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置によれば、検出電極の先端面を第1シールド体の先端部側に傾斜する斜面に形成したことにより、挿入凹部内に挿入された測定対象電線が検出電極の先端面によって先端側切欠き面に押し付けられた状態(検出電極の先端面と先端側切欠き面とで挟持された状態)において、測定対象電線を挿入凹部から一層外れにくくすることができる。   According to the voltage detection probe of claim 8 and the measuring device of claim 10, the tip end surface of the detection electrode is formed into an inclined surface that is inclined toward the tip end side of the first shield body, so that it is inserted into the insertion recess. When the electric wire to be measured is pressed against the notch surface on the tip side by the tip surface of the detection electrode (sandwiched between the tip surface of the detection electrode and the notch surface on the tip side), the electric wire to be measured is further removed from the insertion recess. It can be hard to come off.

請求項9記載の電圧検出プローブおよび請求項10記載の測定装置によれば、検出電極の外周面(絶縁被覆の表面)をさらに導電体層で覆う構成としたことにより、第1シールド体の内面との接触(電気的接触)によって第1シールド体と同電位となることでシールド部材として機能するこの導電体層における挿入凹部の開口部分から露出する部位で、挿入凹部の開口部分の一部を閉塞して(挿入凹部の開口部分におけるシールド部材の存在しない領域の面積を低減して)、測定対象電線に対する外乱の影響をより低減させることができる。   According to the voltage detection probe of claim 9 and the measurement device of claim 10, the inner surface of the first shield body is configured by further covering the outer peripheral surface (surface of the insulating coating) of the detection electrode with a conductor layer. A part of the opening portion of the insertion recess is exposed at a portion exposed from the opening portion of the insertion recess in this conductor layer that functions as a shield member by being brought into contact with (electrical contact with) the same potential as the first shield body. It is possible to further reduce the influence of disturbance on the electric wire to be measured by closing (reducing the area of the region where the shield member does not exist in the opening portion of the insertion recess).

検出プローブ1の構成を示す斜視図である。It is a perspective view showing a configuration of a detection probe 1. 図1において軸線Lを含む平面に沿ってグリップ部2を切断した状態での検出プローブ1のW−W線断面図(検出電極23によって挿入凹部33が閉塞された状態での断面図)である。FIG. 2 is a sectional view taken along line WW of the detection probe 1 in a state in which the grip portion 2 is cut along a plane including the axis L in FIG. 1 (a sectional view in a state in which the insertion recess 33 is closed by the detection electrode 23). . 図2の軸線Lを含む平面に沿って切断した検出電極ユニット3の断面図である。It is sectional drawing of the detection electrode unit 3 cut | disconnected along the plane containing the axis line L of FIG. 図1において軸線Lを含む平面に沿ってグリップ部2を切断した状態での検出プローブ1のW−W線断面図(挿入凹部33が開口している状態での断面図)である。FIG. 2 is a sectional view taken along line WW of the detection probe 1 (a sectional view in a state in which an insertion recess 33 is open) in a state in which the grip portion 2 is cut along a plane including the axis L in FIG. 1. 図4の軸線Lを含む平面に沿って切断した検出電極ユニット3の断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of the detection electrode unit 3 taken along a plane including the axis L of FIG. 4. 図1において軸線Lを含む平面に沿ってグリップ部2を切断した状態での検出プローブ1のW−W線断面図(挿入凹部33の先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとの間で測定対象電線6が挟持されている状態での断面図)である。1 is a sectional view taken along line WW of the detection probe 1 in a state where the grip portion 2 is cut along a plane including the axis L (a tip-side cutout surface 33a of the insertion recess 33 and a tip surface 23a of the detection electrode 23). It is sectional drawing in the state in which the electric wire 6 for measurement is clamped between. 第1シールド筒体21の先端部の構成を説明するための要部拡大断面図(挿入凹部33が開口している状態での拡大断面図)である。FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of an essential part (an enlarged cross-sectional view in a state where an insertion recess 33 is opened) for explaining a configuration of a tip portion of the first shield tubular body 21. 第1シールド筒体21の先端部の構成を説明するための要部拡大断面図(測定対象電線6が挟持されている状態での拡大断面図)である。FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of an essential part (an enlarged cross-sectional view in a state where a measurement target electric wire 6 is held) for explaining a configuration of a tip end portion of a first shield tubular body 21. 測定装置MDの構成図である。It is a block diagram of measuring device MD. 検出電極23の先端面23aの他の構成を説明するための要部拡大断面図(測定対象電線6が挟持されている状態での拡大断面図)である。FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of an essential part (an enlarged cross-sectional view in a state where the measurement target electric wire 6 is held) for explaining another configuration of the tip end surface 23a of the detection electrode 23. 第1シールド筒体21のさらなる他の先端部の構成を説明するための要部拡大断面図(挿入凹部33が開口している状態での拡大断面図)である。FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of an essential part (an enlarged cross-sectional view in a state where an insertion recess 33 is open) for explaining the configuration of still another tip portion of the first shield tubular body 21. 検出電極23の先端部の他の構成を説明するための要部拡大断面図(測定対象電線6が挟持されている状態での拡大断面図)である。FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of an essential part (an enlarged cross-sectional view in a state where the measurement target electric wire 6 is held) for explaining another configuration of the tip end portion of the detection electrode 23. グリップ部2の半体(同図における手前側半体)を取り外した状態の検出プローブ101の側面図である。FIG. 3 is a side view of the detection probe 101 with a half body (front half body in the figure) of the grip portion 2 removed. グリップ部2の半体(同図における手前側半体)を取り外した状態において第1シールド筒体21をグリップ部2の先端部側(基端部から離間する向き)に移動させた状態の検出プローブ101の側面図である。Detection of the state in which the first shield cylinder 21 is moved to the tip end side of the grip part 2 (direction away from the base end part) in a state where the half part of the grip part 2 (front half in the figure) is removed 3 is a side view of the probe 101. FIG. グリップ部2の半体(同図における手前側半体)を取り外した状態において測定対象電線6を挟持した状態の検出プローブ101の側面図である。FIG. 6 is a side view of the detection probe 101 in a state in which the measurement target electric wire 6 is sandwiched in a state in which a half body (a front half body in the same figure) of the grip portion 2 is removed.

以下、電圧検出プローブおよび測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of a voltage detection probe and a measuring device will be described with reference to the accompanying drawings.

最初に、図1に示す電圧検出プローブとしての電圧検出プローブ1(以下、単に「検出プローブ1」ともいう)の構成について、図面を参照して説明する。   First, the configuration of the voltage detection probe 1 (hereinafter, also simply referred to as “detection probe 1”) as the voltage detection probe shown in FIG. 1 will be described with reference to the drawings.

この検出プローブ1は、一例として、図1に示すように、グリップ部2および検出電極ユニット3を備え、後述の本体ユニット4(図9参照)と共に測定装置MDを構成する。また、検出プローブ1は、シールドケーブル5を介して本体ユニット4と接続されると共に、検出電極ユニット3の先端に設けられた後述の挿入凹部33内に測定対象電線6(図4参照)を挿入して使用される。本実施の形態でのシールドケーブル5とは、信号伝送用の配線、およびこの配線をシールドするシールド導体を備えたケーブルであって、例えば、信号伝送用の配線としての芯線およびこの芯線を覆うシールド導体を備えたシールド線(同軸ケーブルを含む)や、ツイストペア線を含んでいる。本例では一例として、図2に示すように、芯線5aおよびこの芯線5aを覆うシールド導体5bを備えたシールド線をシールドケーブル5の一例として挙げて説明する。   As an example, the detection probe 1 includes a grip portion 2 and a detection electrode unit 3 as shown in FIG. 1, and constitutes a measuring device MD together with a main body unit 4 (see FIG. 9) described later. Further, the detection probe 1 is connected to the main body unit 4 via the shielded cable 5, and the measurement target electric wire 6 (see FIG. 4) is inserted into an insertion recess 33 described later provided at the tip of the detection electrode unit 3. Then used. The shielded cable 5 in the present embodiment is a cable provided with wiring for signal transmission and a shield conductor that shields this wiring, and includes, for example, a core wire as wiring for signal transmission and a shield covering the core wire. It includes shielded wires (including coaxial cables) with conductors and twisted pair wires. In this example, as an example, as shown in FIG. 2, a shield wire including a core wire 5a and a shield conductor 5b that covers the core wire 5a will be described as an example of the shield cable 5.

グリップ部2は、使用者によって把持される部材であって、一例として、図1,2に示すように、合成樹脂材料などの電気的絶縁性を有する材料(以下、単に絶縁材料ともいう)を用いて検出電極ユニット3を収容可能な中空の柱状体に形成されている。また、グリップ部2の先端部(図1,2における左側の端部)側の端面11には、検出電極ユニット3の後述する第1シールド筒体21(第1シールド体)が挿通される貫通孔11aが形成されている。また、グリップ部2の基端部(図1,2における右側の端部)側の端面13には、図2に示すように、貫通孔13aが形成されている。シールドケーブル5は、シールドケーブル5に一体的に取り付けられた自在ブッシュ5cがこの貫通孔13aに嵌め込まれることにより、グリップ部2の基端部に連結されている。   The grip portion 2 is a member gripped by a user, and as an example, as shown in FIGS. 1 and 2, a material having electrical insulation properties (hereinafter, also simply referred to as an insulation material) such as a synthetic resin material. The detection electrode unit 3 is formed into a hollow columnar body. Further, a first shield cylinder body 21 (first shield body) of the detection electrode unit 3, which will be described later, is inserted through the end surface 11 of the grip portion 2 on the tip end side (the left end portion in FIGS. 1 and 2). The hole 11a is formed. Further, as shown in FIG. 2, a through hole 13a is formed in the end surface 13 of the grip portion 2 on the base end portion (right end portion in FIGS. 1 and 2) side. The shield cable 5 is connected to the base end portion of the grip portion 2 by fitting a free bush 5c integrally attached to the shield cable 5 into the through hole 13a.

また、グリップ部2の外周壁の外面には、一例として、グリップ部2の長さ方向(後述する軸線L(図1,2参照)と平行な方向)に沿って延びる長溝15が形成されると共に、この長溝15の底壁(グリップ部2の外周壁の一部の部位)には、グリップ部2の長さ方向に沿って延びる第1ガイド孔16がこの底壁を貫通して形成されている。   Further, on the outer surface of the outer peripheral wall of the grip portion 2, as an example, a long groove 15 extending along the length direction of the grip portion 2 (direction parallel to an axis L (see FIGS. 1 and 2) described later) is formed. At the same time, a first guide hole 16 extending along the length direction of the grip portion 2 is formed in the bottom wall of the long groove 15 (a part of the outer peripheral wall of the grip portion 2) so as to penetrate the bottom wall. ing.

検出電極ユニット3は、一例として、図2〜6に示すように、第1シールド筒体21、第2シールド筒体22(第2シールド体)、検出電極23、絶縁被覆24、第1蓋体25、第2蓋体26、第3蓋体27、絶縁筒体28、ガイド筒体29、連結ピン30、付勢部材31および操作レバー32を備えている。   As an example, the detection electrode unit 3 includes a first shield tube body 21, a second shield tube body 22 (second shield body), a detection electrode 23, an insulating coating 24, and a first lid body, as shown in FIGS. 25, a second lid 26, a third lid 27, an insulating cylinder 28, a guide cylinder 29, a connecting pin 30, a biasing member 31, and an operating lever 32.

第1シールド筒体21は、図3,5に示すように導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて外形が一例として直径3mm〜5mm程度の筒状の剛性体(本例では一例として円筒状体)に形成されると共に、先端部(図2〜6では左端部)には、この先端部における外周壁の一部が軸線Lに対して交差する方向(本例では一例として直交する方向)に沿って例えば切削加工などの手法によって切り欠かれて測定対象電線6(図4,6,8参照)が挿入される挿入凹部33が形成されている。なお、本例での測定対象電線6は、図8に示すように、芯線6aが絶縁被覆6bで覆われた被覆電線である。また、第1シールド筒体21は、図3,5に示すように、基端部側(両図における右側)が第2シールド筒体22に収容された状態で第2シールド筒体22に固定されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the first shield tube body 21 is made of a conductive material (metal material having conductivity) and has an outer shape of, for example, a cylindrical rigid body having a diameter of about 3 mm to 5 mm (in this example, an example). As a cylindrical body), and at the tip portion (the left end portion in FIGS. 2 to 6), a part of the outer peripheral wall at the tip portion intersects the axis L (in this example, it is orthogonal. Insertion direction 33, into which the electric wire 6 to be measured (see FIGS. 4, 6 and 8) is inserted by being cut out by a method such as cutting. The electric wire 6 to be measured in this example is a covered electric wire in which the core wire 6a is covered with an insulating coating 6b as shown in FIG. Further, as shown in FIGS. 3 and 5, the first shield tube body 21 is fixed to the second shield tube body 22 with the base end side (right side in both figures) being accommodated in the second shield tube body 22. Has been done.

挿入凹部33は、本例では一例として、図2,5に示すように(詳細には図5の要部拡大図である図7に示すように)、この挿入凹部33を構成する第1シールド筒体21の各切欠き面33a,33b,33cのうちの第1シールド筒体21の先端部側に位置する先端側切欠き面33aは、軸線Lと直交する基準平面PLを基準として第1シールド筒体21の基端部側に傾斜する構成(つまり、軸線L(軸線Lを含む仮想平面)と先端側切欠き面33aとの角度θ1を鋭角にする構成)となっている。この構成により、挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6が、後述するようにして検出電極23における先端部側の端面23a(以下、先端面23aともいう)によって先端側切欠き面33aに押し付けられた状態(図6,8参照)のときに、挿入凹部33から外れにくくなっている。   The insertion recess 33 is, as an example in this example, as shown in FIGS. 2 and 5 (in detail, as shown in FIG. 7, which is an enlarged view of a main part of FIG. 5), the first shield forming the insertion recess 33. Of the respective cutout surfaces 33a, 33b, 33c of the tubular body 21, the tip-side cutout surface 33a located on the tip end side of the first shield tubular body 21 is first based on the reference plane PL orthogonal to the axis L. The shield cylinder 21 is inclined toward the base end side (that is, the angle θ1 between the axis L (virtual plane including the axis L) and the tip-side cutout surface 33a is an acute angle). With this configuration, the electric wire 6 to be measured inserted into the insertion recess 33 is formed on the tip-side notch surface 33a by the end surface 23a (hereinafter, also referred to as the tip surface 23a) on the tip end side of the detection electrode 23 as described later. In the pressed state (see FIGS. 6 and 8), it is difficult for the insertion recess 33 to come off.

本例では一例として、各切欠き面33a,33b,33cのうちの第1シールド筒体21の基端部側に位置する基端側切欠き面33bは、軸線Lと直交する基準平面PL(図7参照)を基準として、先端側切欠き面33aよりも第1シールド筒体21の基端部側に傾斜する構成(つまり、軸線L(軸線Lを含む仮想平面)と先端側切欠き面33aとの角度θ2を角度θ1よりも小さくなる状態で鋭角にする構成)となっている。この構成により、上記のような先端側切欠き面33aを傾けたときの効果(挿入凹部33から測定対象電線6を外れにくくできるとの効果)を維持しつつ、各切欠き面33a,33b間の軸線Lの方向に沿った距離を奥側切欠き面33c(挿入凹部33を構成する奥側の切欠き面)から離間するに従って徐々に広くする構成(挿入凹部33の開口幅を徐々に広くする構成)にし得るため、測定対象電線6の挿入凹部33内への挿入の容易性を高めることが可能となっている。   In the present example, as an example, the base end side notch surface 33b located on the base end side of the first shield tubular body 21 among the notch surfaces 33a, 33b, 33c is a reference plane PL (which is orthogonal to the axis L). With reference to FIG. 7) as a reference, a configuration (that is, an axis L (a virtual plane including the axis L)) and a tip-side notch surface that are inclined toward the base end side of the first shield tubular body 21 with respect to the tip-side notch surface 33a The angle θ2 with respect to 33a is made acute when the angle θ2 is smaller than the angle θ1). With this configuration, while maintaining the effect of tilting the tip-side notch surface 33a as described above (the effect of making it difficult to detach the measurement target electric wire 6 from the insertion recess 33), the gap between the notch surfaces 33a and 33b is maintained. A configuration in which the distance along the direction of the axis L is gradually widened as the distance from the rear side cutout surface 33c (the rear side cutout surface forming the insertion recess 33) is increased (the opening width of the insertion recess 33 is gradually increased. Therefore, it is possible to increase the ease of inserting the electric wire 6 to be measured into the insertion recess 33.

また、本例では、奥側切欠き面33cは、一例として軸線Lとほぼ平行な平面となる構成であるが、この構成に限定されるものではなく、弧状面に形成する構成を採用することもできる。   Further, in the present example, the rear side notch surface 33c is, for example, a configuration that is a plane substantially parallel to the axis L, but the configuration is not limited to this configuration, and a configuration in which it is formed in an arcuate surface is adopted. You can also

本例の検出プローブ1が使用される測定対象電線6は、背景技術で説明した各種の検出プローブでは装着することが困難であった導体、例えば、通常は他の同じような小径な配線材と共に結束された状態で引き回される小径な配線材の1本などのように、他の導体(他の配線材など)と極めて近接した状態で存在している1本の小径な配線材(被覆電線)である。   The electric wire 6 to be measured, in which the detection probe 1 of this example is used, is a conductor that is difficult to mount with the various detection probes described in the background art, for example, together with other similar small diameter wiring materials. One small-diameter wiring material that exists in close proximity to other conductors (such as other wiring materials), such as one small-diameter wiring material that is drawn around in a bound state Electric wire).

このため、この検出プローブ1の検出電極ユニット3では、第1シールド筒体21として、このような小径の配線材が測定対象電線6として挿入可能な幅および深さの挿入凹部33を先端部に形成し得る限りにおいて、より細い筒状の剛性体を使用することが可能となっている。また、測定対象電線6とこの測定対象電線6に隣接する他の配線材との間の距離が短い状態であっても測定対象電線6を選択的に挿入凹部33に挿入できるようにするためにも、第1シールド筒体21に使用する筒状の剛性体は、なるべく細いものであるのが好ましい。例えば、上記のような小径(直径が約2mm)の配線材を収容するためには、挿入凹部33は、例えば、2mmよりも若干深い深さで、かつ2mmよりも若干広い幅(開口幅)に形成する必要がある。このため、第1シールド筒体21は、上記したように、一例として直径3mm〜5mm程度の筒状の剛性体で形成するのが好ましい。   Therefore, in the detection electrode unit 3 of the detection probe 1, as the first shield tube body 21, the insertion recess 33 having a width and a depth into which the wiring material having such a small diameter can be inserted as the electric wire 6 to be measured is provided at the tip. It is possible to use a thinner tubular rigid body as long as it can be formed. In addition, in order to allow the measurement-target electric wire 6 to be selectively inserted into the insertion recess 33 even when the distance between the measurement-target electric wire 6 and another wiring member adjacent to the measurement-target electric wire 6 is short. However, it is preferable that the tubular rigid body used for the first shield tubular body 21 be as thin as possible. For example, in order to accommodate a wiring member having a small diameter (diameter of about 2 mm) as described above, the insertion recessed portion 33 has, for example, a depth slightly deeper than 2 mm and a width (opening width) slightly wider than 2 mm. Need to be formed. Therefore, as described above, the first shield tubular body 21 is preferably formed of a tubular rigid body having a diameter of about 3 mm to 5 mm, for example.

第2シールド筒体22は、図3,5に示すように導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて外形が一例として直径7mm〜10mm程度の筒状の剛性体(本例では一例として円筒状体)に形成され、図2,4に示すように、グリップ部2内に収容された状態でグリップ部2に固定されている。また、第2シールド筒体22の外周壁には、第2シールド筒体22の長さ方向(軸線Lの方向)に沿って延びる第2ガイド孔(貫通孔)34(ガイド孔に相当する)が形成されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the second shield cylinder 22 is made of a conductive material (metal material having conductivity) and has an outer shape of, for example, a cylindrical rigid body having a diameter of about 7 mm to 10 mm (in this example, an example). And is fixed to the grip portion 2 while being accommodated in the grip portion 2 as shown in FIGS. Further, a second guide hole (through hole) 34 (corresponding to a guide hole) extending along the length direction (direction of the axis L) of the second shield tubular body 22 is provided on the outer peripheral wall of the second shield tubular body 22. Are formed.

検出電極23は、図3,5に示すように導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて外形が柱状体(第1シールド筒体21の断面形状に合致した断面形状の柱状体。本例では一例として円柱状体)に形成されている。また、検出電極23は、一例として、連結ピン30が接続される基端部側の端面(図3,5中の右端面)を除く他の表面(先端面23a(左端面)および外周面)が絶縁被覆24で覆われている。この絶縁被覆24は、一例として電気的絶縁性を有する合成樹脂材料などを用いて、例えば0.1mm未満(一例として0.05mm程度)の厚みで形成されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the detection electrode 23 is made of a conductive material (metal material having conductivity) and has an outer shape of a columnar body (a columnar body having a cross-sectional shape that matches the cross-sectional shape of the first shield tubular body 21). In this example, as an example, it is formed into a cylindrical body). Further, the detection electrode 23 is, for example, other surfaces (the tip end surface 23a (left end surface) and the outer peripheral surface) excluding the end surface on the base end side (the right end surface in FIGS. 3 and 5) to which the connecting pin 30 is connected. Are covered with an insulating coating 24. The insulating coating 24 is formed of, for example, a synthetic resin material having an electrical insulating property, and has a thickness of, for example, less than 0.1 mm (about 0.05 mm as an example).

また、このようにして表面に絶縁被覆24が形成された検出電極23は、図3,5に示すように、軸線Lの方向に沿って摺動自在(グリップ部2に対して移動可能)に第1シールド筒体21内に収納されている。また、検出電極23は、図3に示すように、先端面23aが後述するように第1シールド筒体21における先端部側の開口部に装着された第1蓋体25と当接する状態において、基端部側が第1シールド筒体21の基端部側から突出する長さに規定されている。また、本例では、検出電極23の先端面23aは、図7に示すように、基準平面PLと平行な平面で形成されている。   Further, the detection electrode 23 having the insulating coating 24 formed on the surface in this manner is slidable (movable with respect to the grip portion 2) along the direction of the axis L, as shown in FIGS. It is housed in the first shield tubular body 21. Further, as shown in FIG. 3, the detection electrode 23 is in a state in which the front end surface 23a is in contact with the first lid body 25 attached to the front end side opening of the first shield tube body 21 as described later, The base end side is defined to have a length protruding from the base end side of the first shield cylinder 21. Further, in this example, the tip end surface 23a of the detection electrode 23 is formed by a plane parallel to the reference plane PL, as shown in FIG.

第1蓋体25は、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて形成されて、第1シールド筒体21における先端部(図2,3では左端部)側の開口部に圧入や溶着などの手法(電気的に接続される手法)によって装着されることで、この開口部を閉塞する。第2蓋体26は、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて形成されて、第2シールド筒体22における先端部(図2,3では左端部)側の開口部に圧入や溶着などの手法(電気的に接続される手法)によって装着されている。また、第2蓋体26は、中央部分に貫通孔26aが形成されている。上記の第1シールド筒体21は、その基端部側がこの貫通孔26a内に挿入されると共に、溶着などの導通状態を確保し得る手法によって第2蓋体26に接合(固定)されている。   The first lid 25 is formed of a conductive material (metal material having conductivity), and is press-fitted into the opening of the first shield cylinder 21 on the tip (left end in FIGS. 2 and 3) side. The opening is closed by being attached by a method such as welding (electrically connected method). The second lid 26 is formed of a conductive material (metal material having conductivity), and is press-fitted into the opening portion of the second shield cylinder 22 on the tip end side (the left end side in FIGS. 2 and 3). It is attached by a technique such as welding (a technique of electrically connecting). Further, the second lid 26 has a through hole 26a formed in the central portion. The first shield cylinder body 21 is inserted (fixed) to the second cover body 26 by a method such as welding, in which the base end portion side is inserted into the through hole 26a and a conductive state can be secured. .

第3蓋体27は、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて形成されて、第2シールド筒体22における基端部(図2,3では右端部)側の開口部に圧入や溶着などの手法(電気的に接続される手法)によって装着されている。また、第3蓋体27は、中央部分に貫通孔27aが形成されている。なお、本例では一例として、第1シールド筒体21と第1蓋体25とを別体に形成すると共に、第2シールド筒体22と第2蓋体26および第3蓋体27とを別体に形成する構成を採用しているが、第1シールド筒体21と第1蓋体25とを一体的に形成する構成や、第2蓋体26および第3蓋体27のうちの少なくとも一方(第2蓋体26だけ、第3蓋体27だけ、または第2蓋体26および第3蓋体27の双方)を第2シールド筒体22と一体的に形成する構成を採用することもできる。   The third lid 27 is formed of a conductive material (metal material having conductivity), and is press-fitted into the opening of the second shield cylinder 22 on the base end (right end in FIGS. 2 and 3) side. It is attached by a method such as welding or welding (a method of electrically connecting). Further, the third lid 27 has a through hole 27a formed in the central portion. In this example, as an example, the first shield tubular body 21 and the first lid body 25 are separately formed, and the second shield tubular body 22, the second lid body 26, and the third lid body 27 are separately provided. Although the configuration of forming the body is adopted, the configuration of integrally forming the first shield tubular body 21 and the first lid body 25, or at least one of the second lid body 26 and the third lid body 27. It is also possible to adopt a configuration in which (only the second lid 26, only the third lid 27, or both the second lid 26 and the third lid 27) is integrally formed with the second shield tubular body 22. .

絶縁筒体28は、図3,5に示すように、絶縁材料を用いて筒状体(本例では一例として円筒状体)に形成されて、第3蓋体27の貫通孔27a内に装着されている。この絶縁筒体28は、後述するように絶縁筒体28内に挿着されるガイド筒体29と第3蓋体27とを電気的に絶縁するためのものである。したがって、同図に示す構成では、絶縁筒体28は、第2シールド筒体22における基端部側の内面にも接する長さに形成されているが、貫通孔27a内にのみ配置される構成としてもよいのは勿論である。   As shown in FIGS. 3 and 5, the insulating cylindrical body 28 is formed into a cylindrical body (in this example, a cylindrical body as an example) using an insulating material, and is mounted in the through hole 27 a of the third lid body 27. Has been done. The insulating tubular body 28 is for electrically insulating the guide tubular body 29 inserted into the insulating tubular body 28 from the third lid body 27 as described later. Therefore, in the configuration shown in the figure, the insulating tubular body 28 is formed to have a length that also contacts the inner surface of the second shield tubular body 22 on the proximal end side, but is arranged only in the through hole 27a. Needless to say,

ガイド筒体29は、図3,5に示すように、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて一端側(図3中の左端側)が開口し、他端側(図3中の右端側)が閉塞する筒状体(本例では一例として円筒状体)に形成されている。なお、本例では、ガイド筒体29における他端側の端面に、シールドケーブル5の芯線5aを挿入して半田付けするための筒状突起29aが形成されているが、この筒状突起29aの形成は任意である。また、ガイド筒体29は、開口する端部側から絶縁筒体28内に圧入などされることで、この絶縁筒体28を介在させた状態で第3蓋体27に固定されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the guide tubular body 29 is made of a conductive material (metal material having conductivity) and has one end side (left end side in FIG. 3) opened and the other end side (see FIG. 3). Is formed in a tubular body (a cylindrical body as an example in this example) which is closed at the right end side thereof. In this example, a cylindrical projection 29a for inserting and soldering the core wire 5a of the shielded cable 5 is formed on the end surface on the other end side of the guide cylindrical body 29. Formation is arbitrary. The guide cylinder 29 is fixed to the third lid body 27 with the insulation cylinder 28 interposed by being press-fitted into the insulation cylinder 28 from the opening end side.

連結ピン30は、図3,5に示すように、導電性材料(導電性を有する金属材料)を用いて柱状体(ガイド筒体29の断面形状に合致した断面形状の柱状体。本例では一例として円柱状体)に形成されている。また、連結ピン30は、一端側(図3中の左端側)がガイド筒体29から突出する状態で、他端側(図3中の右端側)がガイド筒体29内に摺動自在に挿入されている。また、連結ピン30は、一端側が検出電極23の基端側に導通状態が確保された状態で連結されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the connecting pin 30 is made of a conductive material (a metal material having conductivity) and has a columnar body (a columnar body having a cross-sectional shape that matches the cross-sectional shape of the guide tubular body 29. In the present example. As an example, it is formed in a columnar body). Further, the connecting pin 30 is slidable in the guide cylinder 29 on the other end side (right end side in FIG. 3) while one end side (left end side in FIG. 3) protruding from the guide cylinder 29. Has been inserted. Further, the connecting pin 30 is connected to the base end side of the detection electrode 23 at one end side in a state where electrical continuity is secured.

付勢部材31は、一例として導電性材料(導電性を有する金属材料)製の圧縮コイルばねで構成されて、図3,5に示すように、ガイド筒体29内に、このガイド筒体29における閉塞された他端側の内面と、連結ピン30の他端側の端面との間に縮長状態(押し縮められた状態)で収容されている。この構成により、付勢部材31は、連結ピン30をその一端側がガイド筒体29から常時突出する方向(第1シールド筒体21の先端部方向)に付勢する。また、これにより、付勢部材31は、連結ピン30に連結された検出電極23、さらには後述するようにこの検出電極23に連結された操作レバー32についても、第1シールド筒体21の先端部方向に常時付勢する。   The urging member 31 is composed of a compression coil spring made of a conductive material (metal material having conductivity) as an example, and as shown in FIGS. It is accommodated in a contracted state (a compressed state) between the closed inner surface on the other end side and the end surface on the other end side of the connecting pin 30. With this configuration, the urging member 31 urges the connecting pin 30 in a direction in which one end side of the connecting pin 30 always projects from the guide tubular body 29 (a tip end direction of the first shield tubular body 21). Further, as a result, the biasing member 31 causes the tip of the first shield cylinder body 21 to detect the detection electrode 23 connected to the connection pin 30 and further the operation lever 32 connected to the detection electrode 23 as described later. Always bias in the direction of the section.

操作レバー32は、図3,5に示すように、第2シールド筒体22の第2ガイド孔34に挿通されている直方体状の支柱部32aと、支柱部32aにおける第2ガイド孔34から外方に突出する部位の先端に形成されたつまみ部32cとを備え、これらの部材が絶縁材料を用いて一体的に形成されて構成されている。また、操作レバー32は、支柱部32aにおける第2シールド筒体22の内側に延出する端部(図3,5での下端部)が検出電極23(検出電極23における第1シールド筒体21から突出する基端部側)に連結されている。   As shown in FIGS. 3 and 5, the operation lever 32 is positioned outside the rectangular parallelepiped support portion 32a inserted into the second guide hole 34 of the second shield tubular body 22 and the second guide hole 34 in the support portion 32a. A knob portion 32c formed at the tip of the portion projecting inward is provided, and these members are integrally formed by using an insulating material. Further, in the operation lever 32, the end portion (the lower end portion in FIGS. 3 and 5) of the support portion 32a extending inside the second shield tubular body 22 is the detection electrode 23 (the first shield tubular body 21 in the detection electrode 23). It is connected to the base end side protruding from).

この構成により、例えばグリップ部2を把持する使用者の親指からつまみ部32cが第2シールド筒体22における基端部方向への外力F1(図4,5参照)を受けたときには、操作レバー32は、支柱部32aが第2ガイド孔34によってガイドされた状態で、付勢部材31の付勢力に抗して検出電極23および連結ピン30と共に第2シールド筒体22における基端部方向に移動する。一方、操作レバー32は、上記の外力F1が解除されたときには、付勢部材31の付勢力F2(図6参照)により、検出電極23および連結ピン30と共に第2シールド筒体22における先端部方向に、検出電極23の先端部が第1蓋体25に当接するまで移動する。   With this configuration, for example, when the knob 32c from the user's thumb holding the grip 2 receives the external force F1 (see FIGS. 4 and 5) toward the base end of the second shield cylinder 22, the operation lever 32 is operated. Moves toward the base end portion of the second shield cylinder 22 together with the detection electrode 23 and the connecting pin 30 against the urging force of the urging member 31 in a state where the column portion 32a is guided by the second guide hole 34. To do. On the other hand, when the external force F1 is released, the operation lever 32 is moved by the urging force F2 of the urging member 31 (see FIG. 6) together with the detection electrode 23 and the connecting pin 30 toward the tip end portion of the second shield cylinder 22. First, the tip of the detection electrode 23 moves until it comes into contact with the first lid 25.

また、この構成の検出電極ユニット3では、図3,5に示すように、第2シールド筒体22の外側に(第2シールド筒体22の外面に沿って)フランジ部32bが配設され、このフランジ部32bが、操作レバー32の支柱部32aにおける第2ガイド孔34から突出する部位に取り付けられている。したがって、フランジ部32bは、操作レバー32に対する移動操作に応じて、第2シールド筒体22の外面と接触した状態で外面に沿って移動(摺動)させられる。この場合、フランジ部32bは、導電性材料(例えば、第2シールド筒体22を構成する材料と同じ材料)を用いて断面が円弧状(樋状)に形成されており、第2シールド筒体22に接触することで、第2シールド筒体22と同電位となっている。また、フランジ部32bは、第2シールド筒体22における第2ガイド孔34の長さ(操作レバー32の移動方向(軸線Lの方向)に沿った長さ)よりもやや長く形成されている。このフランジ部32bは、挿入凹部33の先端側切欠き面33aと検出電極23の端面23aとによって測定対象電線6を挟持した状態(図6に示す状態)において、第2ガイド孔34を遮蔽する第3シールド体として機能する。   Further, in the detection electrode unit 3 having this configuration, as shown in FIGS. 3 and 5, the flange portion 32b is arranged outside the second shield cylinder 22 (along the outer surface of the second shield cylinder 22). The flange portion 32b is attached to a portion of the support portion 32a of the operation lever 32 that protrudes from the second guide hole 34. Therefore, the flange portion 32b is moved (slipped) along the outer surface of the second shield tubular body 22 in a state of being in contact with the outer surface of the second shield tubular body 22 in response to a moving operation on the operation lever 32. In this case, the flange portion 32b is formed of a conductive material (for example, the same material as the material forming the second shield cylinder 22) in an arc shape (gutter shape) in cross section, and the second shield cylinder body is formed. By being in contact with 22, the second shield cylinder 22 has the same potential. The flange portion 32b is formed to be slightly longer than the length of the second guide hole 34 in the second shield tubular body 22 (the length along the moving direction of the operation lever 32 (the direction of the axis L)). The flange portion 32b shields the second guide hole 34 when the measurement target electric wire 6 is sandwiched by the tip-side cutout surface 33a of the insertion recess 33 and the end surface 23a of the detection electrode 23 (the state shown in FIG. 6). Functions as a third shield body.

また、この構成の検出電極ユニット3では、検出電極23、検出電極23に連結される連結ピン30、およびこの連結ピン30が挿入されているガイド筒体29のほぼ全体が、互いに同じ電位(シールドケーブル5のシールド導体5bの電位)に規定された第1シールド筒体21、第2シールド筒体22、第1シールド筒体21の先端部側の開口部に挿着された第1蓋体25、第2シールド筒体22の先端部側の開口部を閉塞する第2蓋体26、および第2シールド筒体22の基端部側の開口部を閉塞する第3蓋体27で覆われた構成(つまり、シールド導体5bの電位でシールドされた構成)となっている。   In addition, in the detection electrode unit 3 having this configuration, the detection electrode 23, the connection pin 30 connected to the detection electrode 23, and the guide cylinder 29 into which the connection pin 30 is inserted are substantially entirely the same potential (shield). The first shield cylinder body 21, the second shield cylinder body 22, and the first lid body 25 inserted into the opening on the tip end side of the first shield cylinder body 21 defined by the potential of the shield conductor 5b of the cable 5). , Covered with a second lid 26 that closes the opening on the tip end side of the second shield cylinder 22 and a third lid 27 that closes the opening on the base end side of the second shield cylinder 22. It is configured (that is, shielded by the potential of the shield conductor 5b).

このように構成された検出電極ユニット3は、図2,4,6に示すように、第1シールド筒体21がグリップ部2の端面11に形成された貫通孔11aに挿通され、かつ操作レバー32の支柱部32aがグリップ部2の第1ガイド孔16に挿通されてつまみ部32cがグリップ部2の長溝15内に配置された状態で、グリップ部2内に収容されている。したがって、第1シールド筒体21は、その基端部がグリップ部2内に収容された検出電極ユニット3の第2蓋体26に固定された状態でグリップ部2内に収容された構成であるため、検出プローブ1全体として見たときにその基端部がグリップ部2に連結されている状態と等価となっている。   In the detection electrode unit 3 configured as described above, as shown in FIGS. 2, 4 and 6, the first shield tube body 21 is inserted into the through hole 11 a formed in the end surface 11 of the grip portion 2 and the operation lever is provided. The support column 32 a of 32 is inserted into the first guide hole 16 of the grip part 2, and the knob part 32 c is arranged in the long groove 15 of the grip part 2 and is accommodated in the grip part 2. Therefore, the first shield tube body 21 is housed in the grip part 2 in a state where the base end part thereof is fixed to the second lid body 26 of the detection electrode unit 3 housed in the grip part 2. Therefore, when the detection probe 1 as a whole is viewed, it is equivalent to a state in which the base end portion is connected to the grip portion 2.

また、グリップ部2の端面13には、シールドケーブル5の端部が、図2,4,6に示すように、この端面13に形成された貫通孔13aに自在ブッシュ5cが嵌め入れられた状態で接続されている。また、このシールドケーブル5におけるグリップ部2内に位置する端部では、シールドケーブル5の芯線5aが筒状突起29aに半田付けされることでガイド筒体29に接続され、かつシールドケーブル5のシールド導体5bが検出電極ユニット3を構成する第3蓋体27に半田付けされている(つまり、第1シールド筒体21は、第2蓋体26、第2シールド筒体22および第3蓋体27を介してシールド導体5bに接続されている)。   Further, the end portion of the shielded cable 5 is fitted to the end surface 13 of the grip portion 2 as shown in FIGS. 2, 4 and 6 in which the universal bush 5c is fitted in the through hole 13a formed in the end surface 13. Connected by. At the end portion of the shielded cable 5 located inside the grip portion 2, the core wire 5a of the shielded cable 5 is soldered to the tubular protrusion 29a to be connected to the guide tubular body 29, and the shielded cable 5 is shielded. The conductor 5b is soldered to the third lid body 27 that constitutes the detection electrode unit 3 (that is, the first shield tubular body 21 includes the second lid body 26, the second shield tubular body 22, and the third lid body 27). Is connected to the shield conductor 5b via.

本体ユニット4は、図9に示すように、一例として、主電源回路51、DC/DCコンバータ(以下、単に「コンバータ」ともいう)52、電圧検出部53、電流電圧変換用の抵抗54、電圧生成部55、電圧計56、処理部57および表示部58を備えている。   As shown in FIG. 9, the main body unit 4 includes, as an example, a main power supply circuit 51, a DC / DC converter (hereinafter, also simply referred to as “converter”) 52, a voltage detection unit 53, a current-voltage conversion resistor 54, and a voltage. A generator 55, a voltmeter 56, a processor 57, and a display 58 are provided.

主電源回路51は、本体ユニット4の上記の各構成要素53〜58を作動させるための正電圧Vddおよび負電圧Vss(第1基準電位としてのグランドG1の電位を基準として生成される絶対値が同じで、互いの極性の異なる直流電圧)を出力する。コンバータ52は、一例として互いに電気的に絶縁された一次巻線および二次巻線を有する絶縁型のトランスと、このトランスの一次巻線を駆動する駆動回路と、トランスの二次巻線に誘起される交流電圧を整流平滑する直流変換部(いずれも図示せず)とを備えて、一次側に対して二次側が電気的に絶縁された絶縁型電源として構成されている。   The main power supply circuit 51 has a positive voltage Vdd and a negative voltage Vss for operating the above-described respective constituent elements 53 to 58 of the main body unit 4 (absolute values generated with reference to the potential of the ground G1 as the first reference potential). In the same way, DC voltages with mutually different polarities) are output. The converter 52 includes, for example, an insulating transformer having a primary winding and a secondary winding electrically insulated from each other, a drive circuit for driving the primary winding of the transformer, and a secondary winding of the transformer. And a DC converter (not shown) for rectifying and smoothing the generated AC voltage, and the secondary side is electrically insulated from the primary side.

このコンバータ52では、入力した正電圧Vddおよび負電圧Vssに基づいて駆動回路が作動して、正電圧Vddが印加された状態にあるトランスの一次巻線を駆動して二次巻線に交流電圧を誘起させる。また、直流変換部が、この交流電圧を整流して平滑する。これにより、コンバータ52の二次側から、この二次側の内部基準電位(第2基準電位)G2を基準とする正電圧Vf+および負電圧Vf−がフローティング状態(グランドG1、正電圧Vddおよび負電圧Vssと電気的に分離された状態)で生成される。このようにして生成されたフローティング電圧としての正電圧Vf+および負電圧Vf−は、第2基準電位G2と共に電圧検出部53に供給される。なお、正電圧Vf+および負電圧Vf−は、絶対値がほぼ同一で、極性が互いに異なる直流電圧として生成される。   In this converter 52, the drive circuit operates based on the input positive voltage Vdd and negative voltage Vss to drive the primary winding of the transformer in the state where the positive voltage Vdd is applied, and the AC voltage is applied to the secondary winding. Induce. Further, the DC converter rectifies and smoothes this AC voltage. As a result, from the secondary side of converter 52, positive voltage Vf + and negative voltage Vf− based on this internal reference potential (second reference potential) G2 on the secondary side are in a floating state (ground G1, positive voltage Vdd and negative). It is generated in a state of being electrically separated from the voltage Vss. The positive voltage Vf + and the negative voltage Vf− as the floating voltage generated in this way are supplied to the voltage detection unit 53 together with the second reference potential G2. The positive voltage Vf + and the negative voltage Vf- are generated as DC voltages having substantially the same absolute value and different polarities.

電圧検出部53は、電流電圧変換回路53a、積分回路53b、駆動回路53cおよび絶縁回路53d(一例として駆動回路53cによって駆動されるフォトカプラを図示しているが、例えば、図示はしないが、フォトカプラに代えて絶縁トランスを使用する構成など、他の種々の構成を採用することができる)を備え、電圧検出部53における基準電位が上記の第2基準電位G2に規定された状態で、コンバータ52から正電圧Vf+および負電圧Vf−の供給を受けて作動する。   The voltage detection unit 53 includes a current-voltage conversion circuit 53a, an integration circuit 53b, a driving circuit 53c, and an insulating circuit 53d (a photo coupler driven by the driving circuit 53c is shown as an example, but, for example, although not shown, (Various other configurations such as a configuration using an insulating transformer in place of the coupler can be adopted), and the converter in a state where the reference potential in the voltage detection unit 53 is regulated to the second reference potential G2. The positive voltage Vf + and the negative voltage Vf- are supplied from 52 to operate.

電流電圧変換回路53aは、一例として、非反転入力端子が抵抗を介して電圧検出部53における第2基準電位G2に規定された部位に接続(以下、「第2基準電位G2に接続」ともいう)されると共に、反転入力端子がシールドケーブル5の芯線5a(つまり、この芯線5aを介して検出プローブ1の検出電極23)に接続され、かつ帰還抵抗が反転入力端子と出力端子との間に接続された第1演算増幅器を備えて構成されている。この電流電圧変換回路53aは、第1演算増幅器が正電圧Vf+および負電圧Vf−で作動して、測定対象電線6の電圧V1と第2基準電位G2(電圧生成部55から出力される電圧信号V4の電圧でもある)との電位差Vdi(図9参照)に起因して、この電位差Vdiに応じた電流値で測定対象電線6と検出電極23との間に流れる検出電流(電流信号)Iを検出電圧信号V2に変換して出力する。この場合、検出電圧信号V2は、その振幅が電流信号Iの振幅に比例して変化する。   In the current-voltage conversion circuit 53a, as an example, the non-inverting input terminal is connected via a resistor to the portion of the voltage detection unit 53 defined by the second reference potential G2 (hereinafter, also referred to as “connected to the second reference potential G2”). In addition, the inverting input terminal is connected to the core wire 5a of the shielded cable 5 (that is, the detection electrode 23 of the detection probe 1 via the core wire 5a), and the feedback resistor is provided between the inverting input terminal and the output terminal. It is configured with a first operational amplifier connected. In the current-voltage conversion circuit 53a, the first operational amplifier operates at the positive voltage Vf + and the negative voltage Vf-, and the voltage V1 of the measurement target wire 6 and the second reference potential G2 (the voltage signal output from the voltage generation unit 55). Due to a potential difference Vdi (which is also the voltage of V4) (see FIG. 9), a detection current (current signal) I flowing between the measurement target electric wire 6 and the detection electrode 23 is obtained at a current value corresponding to the potential difference Vdi. The detected voltage signal V2 is converted and output. In this case, the amplitude of the detection voltage signal V2 changes in proportion to the amplitude of the current signal I.

積分回路53bは、一例として、非反転入力端子が抵抗を介して第2基準電位G2に接続されると共に、反転入力端子が入力抵抗を介して第1演算増幅器の出力端子に接続され、かつ帰還コンデンサが反転入力端子と出力端子との間に接続された第2演算増幅器を備えて構成されている。この積分回路53bは、第2演算増幅器が正電圧Vf+および負電圧Vf−で作動して、検出電圧信号V2を積分することにより、上記の電位差Vdiに比例して電圧値が変化する積分信号V3を生成して出力する。   In the integrating circuit 53b, for example, the non-inverting input terminal is connected to the second reference potential G2 via a resistor, the inverting input terminal is connected to the output terminal of the first operational amplifier via the input resistor, and the feedback is performed. The capacitor comprises a second operational amplifier connected between the inverting input terminal and the output terminal. In the integrating circuit 53b, the second operational amplifier operates with the positive voltage Vf + and the negative voltage Vf-, and integrates the detected voltage signal V2, so that the integrated signal V3 whose voltage value changes in proportion to the above potential difference Vdi. Is generated and output.

駆動回路53cは、積分信号V3のレベルに応じて絶縁回路53dをリニア領域で駆動し、駆動された絶縁回路53dは、この積分信号V3を電気的に分離して新たな積分信号(第1信号)V3aとして出力する。つまり、電圧検出部53は、検出プローブ1と相俟って、測定対象電線6の電圧V1を示す積分信号V3aを出力する。   The drive circuit 53c drives the insulating circuit 53d in the linear region in accordance with the level of the integrated signal V3, and the driven insulating circuit 53d electrically separates the integrated signal V3 to generate a new integrated signal (first signal). ) Output as V3a. That is, the voltage detection unit 53 outputs the integrated signal V3a indicating the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 in cooperation with the detection probe 1.

電流電圧変換用の抵抗54は、一端が負電圧Vssに接続されると共に、他端が電圧検出部53内の対応する絶縁回路53d(本例ではフォトカプラにおけるフォトトランジスタのコレクタ端子)に接続されている。   One end of the current-voltage converting resistor 54 is connected to the negative voltage Vss, and the other end is connected to the corresponding insulating circuit 53d in the voltage detecting section 53 (in this example, the collector terminal of the phototransistor in the photocoupler). ing.

電圧生成部55は、積分信号V3aを入力して増幅することにより、電圧信号V4を生成して、電圧検出部53における第2基準電位G2に規定された部位に印加する。この電圧信号V4はその電圧が後述するように測定対象電線6の電圧V1に応じて変化する。これにより、第2基準電位G2を基準とするフローティング電圧である正電圧Vf+および負電圧Vf−は、電圧信号V4の電圧に応じて変化するフローティング電圧となる。   The voltage generator 55 inputs and amplifies the integrated signal V3a to generate a voltage signal V4, and applies the voltage signal V4 to a portion of the voltage detector 53 defined by the second reference potential G2. This voltage signal V4 changes according to the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 as described later. As a result, the positive voltage Vf + and the negative voltage Vf−, which are floating voltages based on the second reference potential G2, become floating voltages that change according to the voltage of the voltage signal V4.

この電圧生成部55は、一例として、電圧検出部53の第2基準電位G2(第2基準電位G2と同電位のシールドケーブル5のシールド導体5b)、検出電極23および電圧検出部53(電流電圧変換回路53a、積分回路53b、駆動回路53cおよび絶縁回路53d(本例ではフォトカプラ))と共にフィードバックループを形成して、電位差Vdiを減少させるように積分信号V3aを増幅する増幅動作を行うことにより、電圧信号V4を生成する。   As an example, the voltage generation unit 55 includes the second reference potential G2 of the voltage detection unit 53 (the shield conductor 5b of the shield cable 5 having the same potential as the second reference potential G2), the detection electrode 23, and the voltage detection unit 53 (current voltage). By forming a feedback loop together with the conversion circuit 53a, the integration circuit 53b, the drive circuit 53c, and the insulation circuit 53d (photocoupler in this example), by performing an amplification operation for amplifying the integration signal V3a so as to reduce the potential difference Vdi. , Voltage signal V4 is generated.

本例では、一例として、電圧生成部55は、図9に示すように、増幅回路55a、位相補償回路55bおよび昇圧回路55cを備えて構成されている。ここで、増幅回路55aは、積分信号V3aを入力して増幅することにより、電圧信号V4aを生成する。この場合、増幅回路55aは、積分信号V3aの電圧値についての絶対値の増加・減少に対応して、電圧値の絶対値が変化する電圧信号V4aを増幅動作によって生成する。位相補償回路55bは、フィードバック制御動作の安定化(発振防止)を図るため、電圧信号V4aを入力してその位相を調整して電圧信号V4bとして出力する。昇圧回路55cは、一例として昇圧トランスを用いて構成されて、電圧信号V4bを所定の倍率で昇圧することにより(極性は変えずに絶対を増加させることにより)、電圧信号V4を生成して第2基準電位G2に印加する。電圧計56は、グランドG1の電位を基準として電圧信号V4を測定すると共に、その電圧値をディジタルデータに変換して電圧データDvとして出力する。   In this example, as an example, the voltage generator 55 includes an amplifier circuit 55a, a phase compensation circuit 55b, and a booster circuit 55c, as shown in FIG. Here, the amplifier circuit 55a generates the voltage signal V4a by inputting and amplifying the integrated signal V3a. In this case, the amplification circuit 55a generates the voltage signal V4a whose absolute value of the voltage value changes by the amplification operation in response to the increase / decrease of the absolute value of the voltage value of the integrated signal V3a. The phase compensation circuit 55b inputs the voltage signal V4a, adjusts the phase thereof, and outputs the voltage signal V4b in order to stabilize the feedback control operation (prevent oscillation). The booster circuit 55c is configured by using a booster transformer as an example, and generates the voltage signal V4 by boosting the voltage signal V4b by a predetermined multiplication factor (by increasing the absolute value without changing the polarity). 2 Applied to the reference potential G2. The voltmeter 56 measures the voltage signal V4 with the potential of the ground G1 as a reference, converts the voltage value into digital data, and outputs it as voltage data Dv.

処理部57は、CPUおよびメモリ(いずれも図示せず)を備えて構成されて、電圧計56から出力される電圧データDvに基づいて測定対象電線6の電圧V1を算出する電圧算出処理を実行する。また、処理部57は、電圧算出処理で算出した電圧V1を表示部58に表やグラフの形式で表示させる。表示部58は、一例として、液晶ディスプレイなどのモニタ装置で構成されている。   The processing unit 57 includes a CPU and a memory (neither of which is shown), and executes a voltage calculation process of calculating the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 based on the voltage data Dv output from the voltmeter 56. To do. The processing unit 57 also causes the display unit 58 to display the voltage V1 calculated in the voltage calculation process in the form of a table or a graph. The display unit 58 is composed of, for example, a monitor device such as a liquid crystal display.

この検出プローブ1および本体ユニット4を備えた測定装置MDを用いて測定対象電線6の電圧V1を測定する際には、第1シールド筒体21の先端部に形成された挿入凹部33内に測定対象電線6を挿入する。   When the voltage V1 of the electric wire 6 to be measured is measured using the measuring device MD including the detection probe 1 and the main body unit 4, the measurement is performed in the insertion recess 33 formed at the tip of the first shield cylinder 21. Insert the target electric wire 6.

具体的には、まず、図4に示す矢印方向の外力F1を操作レバー32のつまみ部32cに手(具体的には指)で加えることにより、つまみ部32c(つまり、操作レバー32全体)を図2に示す位置から図4に示す位置まで付勢部材31の付勢力に抗してスライドさせる(矢印方向にスライドさせる)ことで、第1シールド筒体21内において検出電極23を摺動(スライド)させる。これにより、検出プローブ1を、図2に示すように挿入凹部33が検出電極23で閉塞された状態から、図4に示すように挿入凹部33が開口された状態に移行させる。次いで、開口状態となった挿入凹部33内に測定対象電線6を挿入する。この場合、測定対象電線6は被覆電線であるため、測定対象電線6の芯線6aと第1シールド筒体21とは電気的に絶縁された状態に維持されている。   Specifically, first, by applying an external force F1 in the arrow direction shown in FIG. 4 to the knob portion 32c of the operation lever 32 by hand (specifically, a finger), the knob portion 32c (that is, the entire operation lever 32) is moved. By sliding from the position shown in FIG. 2 to the position shown in FIG. 4 against the biasing force of the biasing member 31 (sliding in the direction of the arrow), the detection electrode 23 is slid in the first shield cylinder 21 ( Slide). As a result, the detection probe 1 is moved from the state in which the insertion recess 33 is closed by the detection electrode 23 as shown in FIG. 2 to the state in which the insertion recess 33 is opened as shown in FIG. Next, the electric wire 6 to be measured is inserted into the insertion recess 33 that has been opened. In this case, since the electric wire 6 to be measured is a covered electric wire, the core wire 6a of the electric wire 6 to be measured and the first shield tubular body 21 are maintained in an electrically insulated state.

また、特にこの検出プローブ1では、図1〜図6、詳細には図8に示すように、挿入凹部33を構成する基端側切欠き面33bが先端側切欠き面33aよりも第1シールド筒体21の基端部側に傾斜する構成であり、各切欠き面33a,33b間の軸線Lの方向に沿った距離が挿入凹部33の奥側から開口部側に向かうに従って徐々に広くなる構成となっていることから、測定対象電線6を挿入凹部33内に容易に挿入することが可能になっている。   In addition, particularly in this detection probe 1, as shown in FIGS. 1 to 6 and in detail in FIG. 8, the base end side cutout surface 33b forming the insertion recess 33 is more than the front end side cutout surface 33a than the first shield. It is configured to incline toward the base end side of the tubular body 21, and the distance along the direction of the axis L between the notch surfaces 33a and 33b gradually increases from the inner side of the insertion recess 33 toward the opening side. Because of the configuration, the electric wire 6 to be measured can be easily inserted into the insertion recess 33.

続いて、つまみ部32cから手(指)を離す。これにより、つまみ部32cに加わっていた外力F1がなくなるため、付勢部材31の付勢力F2により、ガイド筒体29内において連結ピン30が第1シールド筒体21方向に押動される。また、検出電極23が、この連結ピン30で押動されて、第1シールド筒体21内を第1蓋体25方向に向けて、図6,8に示すように検出電極23における先端面23aと先端側切欠き面33aとの間で測定対象電線6を挟持する位置まで摺動(スライド)する。以上により、検出プローブ1の測定対象電線6へのクランプ作業(装着作業)が完了する。   Then, the hand (finger) is released from the knob portion 32c. As a result, the external force F1 applied to the knob portion 32c disappears, and thus the urging force F2 of the urging member 31 pushes the connecting pin 30 in the guide cylinder 29 toward the first shield cylinder 21. Further, the detection electrode 23 is pushed by the connecting pin 30 so that the inside of the first shield cylinder 21 is directed toward the first lid 25, and as shown in FIGS. And slides to the position where the electric wire 6 to be measured is sandwiched between the and the notch surface 33a on the tip side. By the above, the clamping work (mounting work) of the detection probe 1 to the measurement target electric wire 6 is completed.

ここで、この検出プローブ1では、図6に示すように、検出電極23の先端面23aと先端側切欠き面33aとで測定対象電線6を挟持した状態では、第2シールド筒体22に形成されている第2ガイド孔34が、第2シールド筒体22の外側に配設されているフランジ部32bによって遮蔽される。このため、この検出プローブ1では、測定対象電線6を挟持した状態において第2ガイド孔34が遮蔽されない構成と比較して、検出電極23に対する外乱の影響(例えば、他の導体からの影響)を十分に低減させることが可能となっている。   Here, in this detection probe 1, as shown in FIG. 6, when the measurement target electric wire 6 is sandwiched between the tip surface 23a of the detection electrode 23 and the tip side notch surface 33a, it is formed on the second shield cylinder 22. The formed second guide hole 34 is shielded by the flange portion 32b arranged outside the second shield tubular body 22. Therefore, in this detection probe 1, the influence of disturbance on the detection electrode 23 (for example, the influence from another conductor) is compared with the configuration in which the second guide hole 34 is not shielded in the state where the measurement target electric wire 6 is sandwiched. It is possible to reduce it sufficiently.

この検出プローブ1では、このようにして測定対象電線6が挟持されることにより、挿入凹部33内に測定対象電線6が挿入された状態が維持される。したがって、検出プローブ1から手を放した状態においても、測定対象電線6の電圧V1を測定する際に重要となる測定対象電線6の芯線6aと検出電極23の先端面23aとの間に形成される静電容量C0(図8参照)の容量値が大きく変動するといった事態の発生が十分に回避されている。これにより、この検出プローブ1は、その検出用の電極である検出電極23を測定対象電線6の芯線6aに直接接触させることなく互いに容量結合させるだけで、この測定対象電線6の電圧V1を正確に検出し得るいわゆる導体(金属)非接触型の電圧検出プローブとして機能することが可能に構成されている。   In this detection probe 1, the electric wire 6 to be measured is thus sandwiched, so that the electric wire 6 to be measured is maintained in the insertion recess 33. Therefore, even when the detection probe 1 is released, it is formed between the core wire 6a of the measurement target electric wire 6 and the tip surface 23a of the detection electrode 23, which is important when measuring the voltage V1 of the measurement target electric wire 6. The occurrence of a situation in which the capacitance value of the electrostatic capacitance C0 (see FIG. 8) varies greatly is sufficiently avoided. As a result, the detection probe 1 can accurately detect the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 only by capacitively coupling the detection electrode 23, which is an electrode for the detection, to each other without directly contacting the core wire 6a of the measurement target electric wire 6 with each other. It is configured so that it can function as a so-called conductor (metal) non-contact type voltage detection probe that can detect a voltage.

また、特にこの検出プローブ1では、図8等に示すように、測定対象電線6を挟持する先端側切欠き面33aが基準平面PLを基準として第1シールド筒体21の基端部側に傾斜する構成(つまり、軸線Lと先端側切欠き面33aとの角度θ1が鋭角となる構成)であるため、基準平面PLと平行な平面に形成された検出電極23の先端面23aと相俟って、測定対象電線6を挟持する先端側切欠き面33aと先端面23aとの間の隙間を挿入凹部33の奥側から開口側に向かうに従って徐々に狭くし得る構成となっている。これにより、この検出プローブ1では、挿入凹部33内に測定対象電線6が挿入された状態を一層確実に維持することが可能になっている。   Further, particularly in this detection probe 1, as shown in FIG. 8 and the like, the tip-side cutout surface 33a for sandwiching the measurement target electric wire 6 is inclined toward the base end side of the first shield tubular body 21 with reference to the reference plane PL. (That is, the angle θ1 between the axis L and the tip-side notch surface 33a is an acute angle), it cooperates with the tip surface 23a of the detection electrode 23 formed on a plane parallel to the reference plane PL. Thus, the gap between the tip-side cutout surface 33a that holds the measurement target electric wire 6 and the tip surface 23a can be gradually narrowed from the inner side of the insertion recess 33 toward the opening side. As a result, in the detection probe 1, it is possible to more reliably maintain the state in which the measurement target electric wire 6 is inserted into the insertion recess 33.

この状態において、測定対象電線6の電圧V1と、電圧検出部53の第2基準電位G2の電圧(第2基準電位G2と同電位となるシールドケーブル5のシールド導体5b、検出電極ユニット3の第3蓋体27、第2シールド筒体22、第2蓋体26、第1シールド筒体21および第1蓋体25の各電圧。つまり、電圧信号V4の電圧)との電位差Vdiが増加しているとき(例えば、電圧V1の上昇に起因して電位差Vdiが増加しているとき)には、本体ユニット4の電圧検出部53では、測定対象電線6から検出電極23を介して電流電圧変換回路53aに流れ込む電流信号Iの電流量が増加する。この場合、電流電圧変換回路53aは、出力している検出電圧信号V2の電圧値を低下させる。積分回路53bでは、この検出電圧信号V2の低下に起因して、第2演算増幅器の出力端子からコンデンサを介して反転入力端子に向けて流れる電流が増加する。このため、積分回路53bは、積分信号V3の電圧を上昇させる。また、この積分信号V3の電圧上昇に伴い、駆動回路53cのトランジスタが深いオン状態に移行する。これにより、絶縁回路53d(フォトカプラ)では、その発光ダイオードに流れる電流が増加し、フォトトランジスタの抵抗が減少する。したがって、抵抗54の抵抗値とフォトトランジスタの抵抗値とで電位差(Vdd−Vss)が分圧されて生成される積分信号V3aは、その電圧値が低下する。   In this state, the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 and the voltage of the second reference potential G2 of the voltage detection unit 53 (the shield conductor 5b of the shield cable 5 having the same potential as the second reference potential G2, the detection electrode unit 3 The respective voltages of the third lid 27, the second shield cylinder 22, the second lid 26, the first shield cylinder 21 and the first lid 25. That is, the potential difference Vdi from the voltage of the voltage signal V4) increases. When the potential difference Vdi is increasing due to the increase of the voltage V1 (for example, when the potential difference Vdi is increasing), the voltage detecting unit 53 of the main body unit 4 causes the current-voltage conversion circuit from the measurement target electric wire 6 via the detection electrode 23. The current amount of the current signal I flowing into 53a increases. In this case, the current-voltage conversion circuit 53a reduces the voltage value of the output detection voltage signal V2. In the integrating circuit 53b, the current flowing from the output terminal of the second operational amplifier to the inverting input terminal via the capacitor increases due to the decrease in the detected voltage signal V2. Therefore, the integration circuit 53b raises the voltage of the integration signal V3. Further, as the voltage of the integrated signal V3 rises, the transistor of the drive circuit 53c shifts to the deep ON state. As a result, in the insulating circuit 53d (photocoupler), the current flowing through the light emitting diode increases and the resistance of the phototransistor decreases. Therefore, the integrated signal V3a generated by dividing the potential difference (Vdd-Vss) between the resistance value of the resistor 54 and the resistance value of the phototransistor has a reduced voltage value.

また、本体ユニット4では、電圧生成部55が、この積分信号V3aに基づいて、生成している電圧信号V4の電圧値を上昇させる。この測定装置MDでは、このようにしてフィードバックループを構成する電流電圧変換回路53a、積分回路53b、駆動回路53c、絶縁回路53dおよび電圧生成部55が、測定対象電線6の電圧V1の上昇を検出して、電圧信号V4の電圧値を上昇させるフィードバック制御動作を実行することにより、電圧検出部53の第2基準電位G2等の電圧(電圧信号V4の電圧)を電圧V1に追従させる。   Further, in the main body unit 4, the voltage generation unit 55 increases the voltage value of the generated voltage signal V4 based on the integrated signal V3a. In this measurement device MD, the current-voltage conversion circuit 53a, the integration circuit 53b, the drive circuit 53c, the insulation circuit 53d, and the voltage generation unit 55 that form the feedback loop in this way detect an increase in the voltage V1 of the measurement target electric wire 6. Then, by performing the feedback control operation of increasing the voltage value of the voltage signal V4, the voltage of the second reference potential G2 or the like of the voltage detection unit 53 (the voltage of the voltage signal V4) is made to follow the voltage V1.

また、電圧V1の低下に起因して電位差Vdiが増加したときには、検出電極23を介して電流電圧変換回路53aから測定対象電線6に流れ出る(流出する)電流信号Iの電流量が増加する。この際には、フィードバックループを構成する電流電圧変換回路53a等が上記のフィードバック制御動作とは逆の動作でのフィードバック制御動作を実行して、電圧信号V4の電圧を低下させることにより、電圧検出部53の第2基準電位G2等の電圧(電圧信号V4の電圧)を電圧V1に追従させる。   Further, when the potential difference Vdi increases due to the decrease in the voltage V1, the current amount of the current signal I flowing out (flowing out) from the current-voltage conversion circuit 53a to the measurement target electric wire 6 via the detection electrode 23 increases. At this time, the current-voltage conversion circuit 53a or the like forming the feedback loop executes a feedback control operation that is the reverse of the above feedback control operation to reduce the voltage of the voltage signal V4, thereby performing voltage detection. The voltage of the second reference potential G2 or the like of the portion 53 (the voltage of the voltage signal V4) is caused to follow the voltage V1.

このようにして、測定装置MDでは、電圧検出部53の第2基準電位G2等の電圧(電圧信号V4の電圧)を電圧V1に追従させるフィードバック制御動作が短時間に実行されて、電圧検出部53の第2基準電位G2等の電圧(電流電圧変換回路53aの第1演算増幅器のバーチャルショートにより、検出電極23の電圧でもある)が電圧V1に一致させられる(収束させられる)。電圧計56は、電圧信号V4の電圧値をリアルタイムで計測して、その電圧値を示す電圧データDvを出力する。また、電圧信号V4は、測定対象電線6の電圧V1に一旦収束した後は、フィードバックループを構成する各構成要素が上記のように動作することにより、電圧V1の変動に追従する。したがって、測定対象電線6の電圧V1を示す電圧データDvが電圧計56から連続して出力される。   In this way, in the measuring device MD, the feedback control operation of causing the voltage of the second reference potential G2 or the like of the voltage detection unit 53 (the voltage of the voltage signal V4) to follow the voltage V1 is executed in a short time, and the voltage detection unit is executed. The voltage such as the second reference potential G2 of 53 (which is also the voltage of the detection electrode 23 due to the virtual short circuit of the first operational amplifier of the current-voltage conversion circuit 53a) is matched (converged) with the voltage V1. The voltmeter 56 measures the voltage value of the voltage signal V4 in real time and outputs voltage data Dv indicating the voltage value. In addition, after the voltage signal V4 once converges on the voltage V1 of the electric wire 6 to be measured, each constituent element of the feedback loop operates as described above to follow the fluctuation of the voltage V1. Therefore, the voltage data Dv indicating the voltage V1 of the electric wire 6 to be measured is continuously output from the voltmeter 56.

処理部57は、電圧計56から出力された電圧データDvを入力してメモリに記憶する。次いで、処理部57は、電圧算出処理を実行して、電圧データDvに基づいて測定対象電線6の電圧V1を算出してメモリに記憶する。最後に、処理部57は、メモリに記憶されている測定結果(電圧V1)を表示部58に表示させる。これにより、測定装置MDによる測定対象電線6の電圧V1の測定が完了する。   The processing unit 57 inputs the voltage data Dv output from the voltmeter 56 and stores it in the memory. Next, the processing unit 57 executes the voltage calculation process, calculates the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 based on the voltage data Dv, and stores the voltage V1 in the memory. Finally, the processing unit 57 causes the display unit 58 to display the measurement result (voltage V1) stored in the memory. This completes the measurement of the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 by the measuring device MD.

ここで、この検出プローブ1では、上記したように、測定対象電線6を挟持した状態(図6に示す状態)において、フランジ部32bによって第2シールド筒体22の第2ガイド孔34が遮蔽されているため、検出電極23に対する外乱の影響(例えば、他の導体からの影響)が十分に低減されている。このため、この検出プローブ1では、電圧V1を正確に測定することが可能となっている。   Here, in the detection probe 1, as described above, the second guide hole 34 of the second shield tubular body 22 is shielded by the flange portion 32b when the measurement target electric wire 6 is held (the state shown in FIG. 6). Therefore, the influence of the disturbance on the detection electrode 23 (for example, the influence from other conductors) is sufficiently reduced. Therefore, the detection probe 1 can accurately measure the voltage V1.

引き続き、他の測定対象電線6の電圧V1を測定する際には、まず、図4に示す矢印方向の外力F1を操作レバー32のつまみ部32cに加えることにより、操作レバー32をグリップ部2の基端部方向に向けてスライドさせて、検出電極23についても同方向に摺動(スライド)させることで、挿入凹部33の先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとの間での測定対象電線6の挟持状態を解消する。次いで、挿入凹部33内から測定対象電線6を外す(測定対象電線6のクランプ状態を解消する)。これにより、検出プローブ1を次の測定対象電線6に装着(クランプ)することが可能となる。   Subsequently, when measuring the voltage V1 of the other electric wire 6 to be measured, first, an external force F1 in the direction of the arrow shown in FIG. 4 is applied to the knob portion 32c of the operation lever 32 to move the operation lever 32 to the grip portion 2. By sliding (sliding) in the same direction as the detection electrode 23 by sliding toward the base end direction, the tip side notch surface 33a of the insertion recess 33 and the tip end surface 23a of the detection electrode 23 are formed. The clamped state of the electric wire 6 to be measured is eliminated. Then, the electric wire 6 to be measured is removed from the inside of the insertion recess 33 (the clamped state of the electric wire 6 to be measured is released). This allows the detection probe 1 to be attached (clamped) to the next electric wire 6 to be measured.

このように、この検出プローブ1および測定装置MDでは、操作レバー32の支柱部32aに取り付けられて操作レバー32に対する移動操作に応じて移動可能に構成されて、測定対象電線6を挟持したときに第2シールド筒体22の第2ガイド孔34を遮蔽するフランジ部32bが第2シールド筒体22の外側に配設されている。このため、この検出プローブ1および測定装置MDによれば、測定対象電線6を挟持した状態において第2ガイド孔34が遮蔽されない構成と比較して、検出電極23に対する外乱の影響を十分に低減させることができる結果、測定対象電線6の電圧V1を正確に測定することができる。   As described above, the detection probe 1 and the measuring device MD are attached to the column portion 32a of the operation lever 32 and configured to be movable according to the movement operation on the operation lever 32, and when the measurement target electric wire 6 is clamped. A flange portion 32 b that shields the second guide hole 34 of the second shield tubular body 22 is arranged outside the second shield tubular body 22. Therefore, according to the detection probe 1 and the measurement device MD, the influence of the disturbance on the detection electrode 23 is sufficiently reduced as compared with the configuration in which the second guide hole 34 is not shielded while the measurement target electric wire 6 is sandwiched. As a result, the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 can be accurately measured.

また、この検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDでは、挿入凹部33を構成する第1シールド筒体21の各切欠き面33a,33b,33cのうちの先端部側に位置する先端側切欠き面33aが、基準平面PLを基準として基端部側に傾斜する構成となっている。したがって、この検出プローブ1およびこの測定装置MDによれば、挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6が検出電極23の先端面23aによって先端側切欠き面33aに押し付けられた状態(先端面23aと先端側切欠き面33aとで挟持された状態)において、測定対象電線6を挿入凹部33から外れにくくすることができる。   Further, in the detection probe 1 and the measuring device MD equipped with the detection probe 1, the detection probe 1 is located on the tip end side of the cutout surfaces 33a, 33b, 33c of the first shield cylindrical body 21 forming the insertion recess 33. The notch surface 33a on the tip end side is configured to be inclined toward the base end portion with reference to the reference plane PL. Therefore, according to this detection probe 1 and this measurement device MD, the measurement target electric wire 6 inserted into the insertion recess 33 is pressed against the tip side notch surface 33a by the tip surface 23a of the detection electrode 23 (tip surface). It is possible to make it difficult for the electric wire 6 to be measured to come off from the insertion concave portion 33 in a state where it is sandwiched between 23a and the notch surface 33a on the tip side.

また、この検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDでは、挿入凹部33を構成する第1シールド筒体21の各切欠き面33a,33b,33cのうちの基端部側に位置する基端側切欠き面33bが、基準平面PLを基準として、先端側切欠き面33aよりも基端部側に傾斜する構成となっている。したがって、この検出プローブ1およびこの測定装置MDによれば、上記のような先端側切欠き面33aを傾けたときの効果(挿入凹部33から測定対象電線6を外れにくくできるとの効果)を維持しつつ、各切欠き面33a,33b間の軸線Lの方向に沿った距離を奥側切欠き面33c(挿入凹部33を構成する奥側の切欠き面)から離間するに従って徐々に広くする構成(挿入凹部33の開口幅を徐々に広くする構成)にできるため、測定対象電線6の挿入凹部33内への挿入の容易性を高めることができる。   In addition, in the detection probe 1 and the measuring device MD including the detection probe 1, the position is located on the proximal end side of the cutout surfaces 33a, 33b, 33c of the first shield cylindrical body 21 forming the insertion recess 33. The base end side cutout surface 33b is inclined toward the base end side with respect to the front end side cutout surface 33a with reference to the reference plane PL. Therefore, according to this detection probe 1 and this measuring device MD, the effect when the tip side notch surface 33a is tilted as described above (the effect that the measurement target electric wire 6 cannot be easily removed from the insertion recess 33) is maintained. At the same time, the distance between the cutout surfaces 33a and 33b along the direction of the axis L is gradually increased as the distance from the backside cutout surface 33c (the backside cutout surface forming the insertion recess 33) is increased. Since the opening width of the insertion recess 33 can be gradually increased, the ease of inserting the measurement target electric wire 6 into the insertion recess 33 can be improved.

また、この検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDによれば、挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6を、付勢部材31の付勢力により、第1シールド筒体21の先端側切欠き面33aと検出電極23の先端面23aとの間で挟持することができるため、検出プローブ1から手を放した状態においても、測定対象電線6が挿入凹部33内に位置する状態が維持される結果、電圧V1の測定作業についての作業性を向上させることができる。   Further, according to the detection probe 1 and the measuring device MD equipped with the detection probe 1, the electric wire 6 to be measured inserted in the insertion recess 33 is moved by the urging force of the urging member 31 to the first shield cylindrical body 21. Since it can be sandwiched between the tip-side cutout surface 33a of the device and the tip surface 23a of the detection electrode 23, the electric wire 6 to be measured is located in the insertion recess 33 even when the detection probe 1 is released. As a result of the state being maintained, workability in measuring the voltage V1 can be improved.

また、上記の検出プローブ1では、検出電極23の先端面23aは基準平面PLと平行な平面に形成されているが、図10に示すように、第1シールド筒体21の先端部側に傾斜する斜面に形成する構成を採用することもできる。この構成の検出プローブ1およびこの検出プローブ1を備えた測定装置MDによれば、挿入凹部33内に挿入された測定対象電線6が検出電極23の先端面23aによって先端側切欠き面33aに押し付けられた状態(先端面23aと先端側切欠き面33aとで挟持された状態)において、測定対象電線6を挿入凹部33から一層外れにくくすることができる。   Further, in the detection probe 1 described above, the tip end surface 23a of the detection electrode 23 is formed in a plane parallel to the reference plane PL, but as shown in FIG. 10, it is inclined toward the tip end side of the first shield tubular body 21. It is also possible to adopt a configuration in which it is formed on a slope. According to the detection probe 1 of this configuration and the measuring device MD equipped with this detection probe 1, the measurement target electric wire 6 inserted into the insertion recess 33 is pressed against the tip-side cutout surface 33a by the tip surface 23a of the detection electrode 23. In this state (the state in which the measurement target electric wire 6 is sandwiched between the front end surface 23a and the front end side cutout surface 33a), the electric wire 6 to be measured can be further prevented from coming off from the insertion recess 33.

また、上記の検出プローブ1では、各切欠き面33a,33bを基準平面PLを基準として第1シールド筒体21の基端部側に傾斜させる構成を採用しているが、この構成に限定されず、例えば、図11に示すように、各切欠き面33a,33bを共に基準平面PLと平行にする構成や、図示はしないが、先端側切欠き面33aを基準平面PLと平行にし、かつ基端側切欠き面33bを基端部側に傾斜させる構成や、先端側切欠き面33aを基端部側に傾斜させ、かつ基端側切欠き面33bを基準平面PLと平行にする構成を採用することもできる。   Further, in the detection probe 1 described above, each notch surface 33a, 33b is configured to be inclined toward the base end side of the first shield tubular body 21 with the reference plane PL as a reference, but is not limited to this configuration. For example, as shown in FIG. 11, the notch surfaces 33a and 33b are both parallel to the reference plane PL, or although not shown, the tip-side notch surface 33a is parallel to the reference plane PL, and A configuration in which the proximal cutout surface 33b is inclined toward the proximal end portion, or a configuration in which the distal cutout surface 33a is inclined toward the proximal end portion and the proximal cutout surface 33b is parallel to the reference plane PL. Can also be adopted.

また、上記の検出プローブ1(つまり、検出電極ユニット3)では、図8,10に示すように、検出電極23の先端面23aと測定対象電線6の芯線6aとが容量結合している状態(容量結合状態)、つまり、測定対象電線6が挿入凹部33内で先端側切欠き面33aと先端面23aとで挟持されている状態において、シールド部材(シールド導体5bの電位と同電位の部材)の存在しない挿入凹部33の開口部分を介して測定対象電線6が外乱の影響を若干ではあるが受ける可能性のある構成となっているが、この可能性をできる限り低減するのが好ましい。   Further, in the detection probe 1 (that is, the detection electrode unit 3), as shown in FIGS. 8 and 10, the tip end surface 23a of the detection electrode 23 and the core wire 6a of the measurement target electric wire 6 are capacitively coupled ( (Capacitively coupled state), that is, in a state where the electric wire 6 to be measured is sandwiched between the tip-side notch surface 33a and the tip surface 23a in the insertion recess 33, a shield member (a member having the same potential as the shield conductor 5b). Although there is a possibility that the electric wire 6 to be measured may be slightly affected by the disturbance through the opening portion of the insertion concave portion 33 in which there is no such a possibility, it is preferable to reduce this possibility as much as possible.

そこで、図12に示す構成の検出電極ユニット3のように、第1シールド筒体21の内面と接触状態となっている検出電極23の外周面(本例では、絶縁被覆24で覆われた検出電極23の外周面(絶縁被覆24の表面)をさらに導電体層36で覆う構成を採用することにより、第1シールド筒体21の内面との接触(電気的接触)によって第1シールド筒体21と同電位となることで上記のシールド部材として機能するこの導電体層36における挿入凹部33の開口部分から露出する部位で、この挿入凹部33の開口部分の一部を閉塞して(挿入凹部33の開口部分におけるシールド部材の存在しない領域の面積を低減して)、測定対象電線6に対する外乱の影響をより低減させることができる。この場合、導電体層36は、導電性金属材料を用いて、例えば0.1mm未満(一例として0.01mm程度)の厚みで絶縁被覆24の表面に形成することができる。   Therefore, like the detection electrode unit 3 having the configuration shown in FIG. 12, the outer peripheral surface of the detection electrode 23 that is in contact with the inner surface of the first shield cylinder 21 (in this example, the detection covered with the insulating coating 24). By adopting a structure in which the outer peripheral surface of the electrode 23 (the surface of the insulating coating 24) is further covered with the conductor layer 36, the first shield cylinder 21 is brought into contact (electrical contact) with the inner surface of the first shield cylinder 21. A part of the opening portion of the insertion recess 33 is closed at a portion exposed from the opening portion of the insertion recess 33 in the conductor layer 36 that functions as the above-mentioned shield member by having the same potential as the insertion recess 33 (the insertion recess 33 (The area of the area where the shield member does not exist in the opening portion of 1) can be reduced) to further reduce the influence of disturbance on the measurement target electric wire 6. In this case, the conductor layer 36 is made of a conductive metal material. With, it can be formed on the surface of the insulating coating 24 with a thickness of for example less than 0.1 mm (about 0.01mm as one example).

また、この測定装置MDは、電圧測定機能以外に電流測定機能を備える構成であってもよく、さらには、測定した電圧値および電流値に基づいて抵抗を測定する抵抗測定機能や電力を測定する電力測定機能などの他の測定機能を備える構成であってもよい。   Further, the measuring device MD may be configured to have a current measuring function in addition to the voltage measuring function, and further, to measure resistance based on the measured voltage value and current value and to measure power. It may be configured to have another measurement function such as a power measurement function.

次に、検出プローブの他の一例としての図13,14に示す電圧検出プローブ101(以下、単に「検出プローブ101」ともいう)について説明する。なお、以下の説明において、上記した検出プローブ1と同様の構成要素については、同じ符号を付して、重複する説明を省略する。この検出プローブ101では、第2シールド筒体22がグリップ部2に固定されている。また、この検出プローブ101では、両図に示すように、第1シールド筒体21が第2シールド筒体22に対して(つまり、グリップ部2に対して)軸線Lの方向に沿って移動可能に構成されている。また、この検出プローブ101では、検出電極23がグリップ部2に固定されている。   Next, a voltage detection probe 101 (hereinafter, also simply referred to as “detection probe 101”) shown in FIGS. 13 and 14 as another example of the detection probe will be described. In addition, in the following description, the same components as those of the detection probe 1 described above will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. In this detection probe 101, the second shield tubular body 22 is fixed to the grip portion 2. Moreover, in this detection probe 101, as shown in both figures, the first shield cylinder 21 is movable with respect to the second shield cylinder 22 (that is, with respect to the grip portion 2) along the direction of the axis L. Is configured. Further, in this detection probe 101, the detection electrode 23 is fixed to the grip portion 2.

この場合、図13に示すように、第1シールド筒体21がグリップ部2の基端部(同図における右側の端部)側に移動させられているときには、検出電極23の先端面23aが第1シールド筒体21の先端部(第1蓋体25)側に位置して挿入凹部33が閉塞される。また、図14に示すように、第1シールド筒体21がグリップ部2の先端部(同図における左側の端部)側に移動させられているときには、検出電極23の先端面23aが第1シールド筒体21の先端部から離間して、挿入凹部33が開放される。   In this case, as shown in FIG. 13, when the first shield tubular body 21 is moved to the base end portion (the right end portion in the figure) side of the grip portion 2, the tip end surface 23a of the detection electrode 23 is The insertion recess 33 is closed at the tip end (first lid 25) side of the first shield cylinder 21. Further, as shown in FIG. 14, when the first shield tubular body 21 is moved toward the tip end portion (the left end portion in the figure) of the grip portion 2, the tip end surface 23a of the detection electrode 23 is the first end. The insertion recess 33 is opened apart from the tip of the shield cylinder 21.

また、この検出プローブ101では、図13,14に示すように、操作レバー32が、第2シールド筒体22の第2ガイド孔34に挿通された支柱部32aと、支柱部32aの先端に形成されたつまみ部32cとを備え、これらの部材が絶縁材料を用いて一体的に形成されて構成されている。また、支柱部32aにおける第2シールド筒体22および後述する第3シールド筒体123の内側に延出する端部(図13,14において下側の不図示の端部)が第1シールド筒体21に連結されている。   Further, in this detection probe 101, as shown in FIGS. 13 and 14, the operation lever 32 is formed at the column portion 32a inserted into the second guide hole 34 of the second shield cylinder 22 and at the tip of the column portion 32a. And a knob portion 32c that has been formed. These members are integrally formed by using an insulating material. In addition, the end portions (the lower end portions (not shown) in FIGS. 13 and 14 on the lower side in FIGS. 13 and 14) of the column portion 32a extending inward of the second shield tubular body 22 and the third shield tubular body 123 described later are the first shield tubular bodies. It is connected to 21.

また、この検出プローブ101では、図13,14に示すように、第2シールド筒体22(両図では、第2シールド筒体22を破線で示している)の内側に(第2シールド筒体22の内面に沿って)筒状(一例として円筒状)の第3シールド筒体123が配設され、この第3シールド筒体123が、操作レバー32の支柱部32aに取り付けられている。したがって、第3シールド筒体123は、操作レバー32に対する移動操作に応じて、第2シールド筒体22の内面と接触した状態で内面に沿って移動(摺動)させられる。この場合、第3シールド筒体123は、導電性材料(例えば、第2シールド筒体22を構成する材料と同じ材料)を用いて筒状(例えば、円筒状)に形成されており、第2シールド筒体22に接触することで、第2シールド筒体22と同電位となっている。また、第3シールド筒体123は、第2シールド筒体22における第2ガイド孔34の長さ(操作レバー32の移動方向(軸線Lの方向)に沿った長さ)と同程度の長さに形成されている。この第3シールド筒体123は、挿入凹部33の先端側切欠き面33aと検出電極23の端面23aとによって測定対象電線6を挟持した状態(図15に示す状態)において、第2ガイド孔34を遮蔽する第3シールド体として機能する。   In addition, in this detection probe 101, as shown in FIGS. 13 and 14, inside the second shield cylinder 22 (the second shield cylinder 22 is shown by a broken line in both figures) (the second shield cylinder). A tubular (cylindrical as an example) third shield tubular body 123 is disposed along the inner surface of 22. The third shield tubular body 123 is attached to the column portion 32 a of the operation lever 32. Therefore, the third shield tubular body 123 is moved (slipped) along the inner surface of the second shield tubular body 22 in a state of being in contact with the inner surface of the second shield tubular body 22 in response to a moving operation on the operation lever 32. In this case, the third shield tubular body 123 is formed in a tubular shape (for example, a cylindrical shape) using a conductive material (for example, the same material as the material forming the second shield tubular body 22). By contacting the shield cylinder 22, the potential is the same as that of the second shield cylinder 22. The length of the third shield cylinder 123 is similar to the length of the second guide hole 34 in the second shield cylinder 22 (the length along the moving direction of the operation lever 32 (the direction of the axis L)). Is formed in. The third shield cylinder 123 has the second guide hole 34 in a state where the electric wire 6 to be measured is sandwiched by the tip-side cutout surface 33a of the insertion recess 33 and the end surface 23a of the detection electrode 23 (the state shown in FIG. 15). And functions as a third shield body that shields.

また、この検出プローブ101では、図13,14に示すように、第2シールド筒体22内における第2蓋体26と第3シールド筒体123との間に、付勢部材131が配設されている。付勢部材131は、一例として導電性材料(例えば、金属材料)製の圧縮コイルばねで構成されて、縮長状態(押し縮められた状態)で収容されている。この構成により、第3シールド筒体123、第3シールド筒体123に取り付けられている操作レバー32、および操作レバー32の支柱部32aに連結されている第1シールド筒体21が、付勢部材131によってグリップ部2の基端部側に付勢されている。なお、引張コイルばねで構成された付勢部材131を、第2シールド筒体22内における第3蓋体27と第3シールド筒体123との間に配設する構成を採用することもできる。   Further, in this detection probe 101, as shown in FIGS. 13 and 14, a biasing member 131 is arranged between the second lid body 26 and the third shield tubular body 123 in the second shield tubular body 22. ing. The urging member 131 is composed of a compression coil spring made of a conductive material (for example, a metal material) as an example, and is accommodated in a contracted state (a compressed state). With this configuration, the third shield tubular body 123, the operation lever 32 attached to the third shield tubular body 123, and the first shield tubular body 21 connected to the column portion 32a of the operation lever 32 are the biasing members. It is urged toward the base end side of the grip portion 2 by 131. It is also possible to adopt a configuration in which the biasing member 131 formed of a tension coil spring is arranged between the third lid body 27 and the third shield tubular body 123 in the second shield tubular body 22.

この検出プローブ101を備えた測定装置MDを用いて測定対象電線6の電圧V1を測定する際には、まず、図13に示す矢印方向の外力F1を操作レバー32のつまみ部32cに指で加え、つまみ部32cを同図に示す位置から図14に示す位置まで付勢部材131の付勢力に抗して移動させる(操作レバー32に対する移動操作)。この際に、この移動操作に応じて第1シールド筒体21が同図に示す矢印方向に移動させられる。これにより、挿入凹部33が、検出電極23で閉塞された状態(図13に示す状態)から、開口された状態(図14に示す状態)に移行する。次いで、図15に示すように、開口状態となった挿入凹部33内に測定対象電線6を挿入する。   When measuring the voltage V1 of the electric wire 6 to be measured using the measuring device MD equipped with this detection probe 101, first, an external force F1 in the direction of the arrow shown in FIG. 13 is applied to the knob portion 32c of the operating lever 32 with a finger. , The knob portion 32c is moved from the position shown in the figure to the position shown in FIG. 14 against the urging force of the urging member 131 (moving operation with respect to the operation lever 32). At this time, the first shield cylinder 21 is moved in the direction of the arrow shown in the figure in accordance with this moving operation. As a result, the insertion recess 33 shifts from the state in which the detection electrode 23 is closed (the state shown in FIG. 13) to the state in which it is opened (the state shown in FIG. 14). Next, as shown in FIG. 15, the electric wire 6 to be measured is inserted into the insertion recess 33 that is in the open state.

続いて、つまみ部32cから指を離す。この際に、図15に示すように、第3シールド筒体123、操作レバー32および第1シールド筒体21が、付勢部材31の付勢力F2によってグリップ部2の基端部側に押動させられる。この結果、同図に示すように、検出電極23の先端面23aと挿入凹部33の先端側切欠き面33aとによって測定対象電線6が挟持される。以上により、検出プローブ101による測定対象電線6のクランプ作業(装着作業)が完了する。次いで、本体ユニット4の各部が各処理を実行することにより、測定対象電線6の電圧V1が測定される。   Then, the finger is released from the knob portion 32c. At this time, as shown in FIG. 15, the third shield cylinder 123, the operating lever 32, and the first shield cylinder 21 are pushed toward the base end side of the grip portion 2 by the urging force F2 of the urging member 31. To be made. As a result, as shown in the figure, the electric wire 6 to be measured is clamped by the tip end surface 23a of the detection electrode 23 and the tip end side notch surface 33a of the insertion recess 33. By the above, the clamping work (mounting work) of the electric wire 6 to be measured by the detection probe 101 is completed. Then, each unit of the main body unit 4 executes each process, and thereby the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 is measured.

ここで、この検出プローブ1では、図15に示すように、検出電極23の先端面23aと挿入凹部33の先端側切欠き面33aとで測定対象電線6を挟持した状態では、第2シールド筒体22に形成されている第2ガイド孔34が、第2シールド筒体22の内側に配設されている第3シールド筒体123によって遮蔽される。このため、この検出プローブ101、および検出プローブ101を備えた測定装置MDにおいても、測定対象電線6を挟持した状態において第2ガイド孔34が遮蔽されない構成と比較して、検出電極23に対する外乱の影響(例えば、他の導体からの影響)を十分に低減させることができる結果、測定対象電線6の電圧V1を正確に測定することができる。   Here, in this detection probe 1, as shown in FIG. 15, when the electric wire 6 to be measured is sandwiched between the tip surface 23a of the detection electrode 23 and the tip side notch surface 33a of the insertion recess 33, the second shield tube The second guide hole 34 formed in the body 22 is shielded by the third shield cylindrical body 123 arranged inside the second shield cylindrical body 22. For this reason, even in the detection probe 101 and the measurement device MD including the detection probe 101, the disturbance to the detection electrode 23 is reduced as compared with the configuration in which the second guide hole 34 is not shielded in the state where the measurement target electric wire 6 is held. As a result of being able to sufficiently reduce the influence (for example, the influence from other conductors), the voltage V1 of the measurement target electric wire 6 can be accurately measured.

また、この検出プローブ101およびこの検出プローブ101を備えた測定装置MDでは、第1シールド筒体21が軸線Lの方向に沿って移動可能に構成されている。この場合、検出電極23を移動させる構成では、操作レバー32の支柱部32aを検出電極23に連結するために、支柱部32aを挿通させるガイド孔(第2シールド筒体22の第2ガイド孔34と同様のガイド孔)等を第1シールド筒体21に形成する必要があり、その分シールド効果が低下する。これに対して第1シールド筒体21を移動させるこの検出プローブ101および測定装置MDでは、第1シールド筒体21にガイド孔を形成する必要がないため、その分、検出電極23を移動させる構成よりもシールド効果を高めることができる。   Further, in the detection probe 101 and the measuring device MD provided with the detection probe 101, the first shield cylinder 21 is configured to be movable along the direction of the axis L. In this case, in the configuration in which the detection electrode 23 is moved, in order to connect the support column 32a of the operation lever 32 to the detection electrode 23, a guide hole through which the support column 32a is inserted (the second guide hole 34 of the second shield cylinder 22). It is necessary to form a guide hole similar to the above) in the first shield cylinder 21, and the shield effect is reduced accordingly. On the other hand, in the detection probe 101 and the measuring device MD that move the first shield cylinder 21, it is not necessary to form the guide hole in the first shield cylinder 21, so the detection electrode 23 is moved by that amount. The shield effect can be enhanced more than that.

また、この検出プローブ101およびこの検出プローブ101を備えた測定装置MDによれば、第3シールド筒体123を第2シールド筒体22の内側に配設したことにより、第3シールド筒体123を第2シールド筒体22の外側に配設する構成とは異なり、第3シールド筒体123を第2シールド筒体22の外側に配設するためのスペースを第2シールド筒体22とグリップ部2との間に設ける必要がないため、第3シールド筒体123を第2シールド筒体22の外側に配設する構成と比較して検出プローブ101を小型化することができる。   Further, according to the detection probe 101 and the measuring device MD equipped with the detection probe 101, the third shield cylinder 123 is disposed inside the second shield cylinder 22 so that the third shield cylinder 123 is removed. Unlike the configuration in which the third shield cylinder 123 is arranged outside the second shield cylinder 22, a space for disposing the third shield cylinder 123 outside the second shield cylinder 22 is provided in the second shield cylinder 22 and the grip portion 2. Since it is not necessary to provide it between the second shield cylindrical body 123 and the third shield cylindrical body 123, the detection probe 101 can be downsized as compared with the configuration in which the third shield cylindrical body 123 is arranged outside the second shield cylindrical body 22.

また、この検出プローブ101およびこの検出プローブ101を備えた測定装置MDによれば、第3シールド筒体123を円筒状に形成したことにより、検出電極23を第3シールド筒体123で取り囲むことができるため、第3シールド筒体123によるシールド効果をさらに高めることができる。   Further, according to the detection probe 101 and the measuring device MD including the detection probe 101, the detection electrode 23 can be surrounded by the third shield cylindrical body 123 by forming the third shield cylindrical body 123 in a cylindrical shape. Therefore, the shield effect of the third shield cylinder 123 can be further enhanced.

なお、電圧検出プローブの構成は上記した構成に限定されない。例えば、上記した電圧検出プローブ1(検出電極23を軸線Lの方向に沿って移動させる構成)において、第3シールド体として機能するフランジ部32bを第2シールド筒体22の内側に配設する構成や、第2シールド筒体22の内側および外側の双方に配設する構成を採用することもできる。また、上記した電圧検出プローブ1において、フランジ部32bに代えて、筒状(円筒状)の第3シールド体を採用することもできる。また、上記した検出プローブ101(第1シールド筒体21を軸線Lの方向に沿って移動させる構成)において、第3シールド筒体123を第2シールド筒体22の外側に配設する構成や内側および外側の双方に配設する構成を採用することもできる。また、上記した検出プローブ101において、筒状の第3シールド筒体123に代えて、断面が円弧状(樋状)の第3シールド体を採用することもできる。   The configuration of the voltage detection probe is not limited to the above configuration. For example, in the above-described voltage detection probe 1 (configuration in which the detection electrode 23 is moved along the direction of the axis L), the flange portion 32b functioning as the third shield body is arranged inside the second shield tubular body 22. Alternatively, it is possible to adopt a configuration in which the second shield tubular body 22 is provided both inside and outside. Further, in the voltage detection probe 1 described above, a tubular (cylindrical) third shield body may be employed instead of the flange portion 32b. Further, in the above-described detection probe 101 (the configuration in which the first shield tubular body 21 is moved along the direction of the axis L), the configuration in which the third shield tubular body 123 is arranged outside the second shield tubular body 22 and the inside It is also possible to adopt a configuration in which it is arranged both on the outside and outside. Further, in the above-described detection probe 101, a third shield body having a circular arc section (trough shape) can be adopted instead of the third shield tube body 123 having a tubular shape.

また、グリップ部2を備えて検出プローブ1,101を構成した例について上記したが、グリップ部2を備えていない検出プローブ(検出電極ユニット3だけで構成された検出プローブ)を採用することもできる。この構成では、例えば、検出プローブ(検出電極ユニット3)を、本体ユニット4が収容される筐体に固定して使用したり、検出プローブ(検出電極ユニット3)を、移動機構に固定して使用(移動機構を作動させて測定対象電線6をクランプ)したりする使用形態に適用することができる。   Further, although the example in which the detection probes 1 and 101 are provided with the grip portion 2 is described above, a detection probe not provided with the grip portion 2 (a detection probe configured only with the detection electrode unit 3) can be adopted. . In this configuration, for example, the detection probe (detection electrode unit 3) is used by being fixed to the housing that houses the main body unit 4, or the detection probe (detection electrode unit 3) is used by being fixed to the moving mechanism. The present invention can be applied to a usage mode in which the moving mechanism is operated to clamp the electric wire 6 to be measured.

1,101 検出プローブ
2 グリップ部
5 シールドケーブル
5a 芯線
5b シールド導体
6 測定対象電線
16 第1ガイド孔
21 第1シールド筒体
22 第2シールド筒体
23 検出電極
24 絶縁被覆
32 操作レバー
32a 支柱部
32c つまみ部
33 挿入凹部
33a 先端側切欠き面
33b 基端側切欠き面
34 第2ガイド孔
123 第3シールド筒体
L 軸線
PL 基準平面
1,101 Detection probe
2 grip part
5 Shielded cable 5a Core wire 5b Shield conductor
6 Wire to be Measured 16 First Guide Hole 21 First Shield Cylindrical Body 22 Second Shield Cylindrical Body 23 Detecting Electrode 24 Insulation Coating 32 Operation Lever 32a Support Part 32c Knob 33 Insertion Recess 33a Tip Cutout 33b Base Cut Notch surface 34 Second guide hole 123 Third shield cylinder
L axis PL Reference plane

Claims (10)

先端部における外周壁の一部が軸線に対して交差する方向に沿って切り欠かれて測定対象電線を挿入可能な挿入凹部が当該先端部に形成された導電性を有する筒状の第1シールド体と、
前記第1シールド体の基端部側が挿入される導電性を有する筒状の第2シールド体と、
先端面および外周面が絶縁被覆で覆われた導電性を有する柱状体で形成されると共に前記第1シールド体内に収納された検出電極とを備え、
前記第1シールド体および前記検出電極のいずれか一方は、操作レバーの移動操作に応じて前記軸線の方向に沿って移動可能に構成されて、前記挿入凹部に挿入されている前記測定対象電線に前記先端面の前記絶縁被覆が当接したときに当該挿入凹部と当該先端面とによって当該挿入されている測定対象電線を挟持すると共に当該先端面が当該絶縁被覆を介して当該挿入されている測定対象電線と容量結合可能に構成され、
前記操作レバーは、つまみ部と、前記第2シールド体に形成されたガイド孔に挿通されて前記いずれか一方に接続された支柱部とを備え、
前記第2シールド体の内側および外側の少なくとも一方には、前記支柱部に取り付けられて前記操作レバーに対する前記移動操作に応じて移動可能に構成され、前記挿入されている測定対象電線を挟持したときに前記ガイド孔を遮蔽する第3シールド体が配設されている電圧検出プローブ。
A cylindrical first shield having conductivity, in which a part of the outer peripheral wall at the tip portion is cut out along the direction intersecting the axis to insert an insertion recess into which the electric wire to be measured can be inserted is formed. Body and
A tubular second shield body having conductivity, into which the base end side of the first shield body is inserted;
A detection electrode which is formed of a conductive columnar body having a tip end surface and an outer peripheral surface covered with an insulating coating and is housed in the first shield body;
One of the first shield body and the detection electrode is configured to be movable along the direction of the axis according to a movement operation of an operation lever, and is connected to the measurement target electric wire inserted in the insertion recess. A measurement in which the inserted electric wire to be measured is sandwiched between the insertion concave portion and the tip surface when the insulation coating on the tip surface abuts, and the tip surface is inserted through the insulation coating . It is configured so that it can be capacitively coupled to the target wire,
The operation lever includes a knob portion and a column portion that is inserted into a guide hole formed in the second shield body and is connected to one of the two.
At least one of the inner side and the outer side of the second shield body is attached to the column portion and configured to be movable according to the moving operation of the operation lever, and when the inserted electric wire to be measured is clamped. A voltage detection probe in which a third shield body that shields the guide hole is provided.
前記第1シールド体が前記軸線の方向に沿って移動可能に構成されている請求項1記載の電圧検出プローブ。   The voltage detection probe according to claim 1, wherein the first shield body is configured to be movable along the direction of the axis. 前記第3シールド体が前記第2シールド体の内側に配設されている請求項1または2記載の電圧検出プローブ。   The voltage detection probe according to claim 1, wherein the third shield body is arranged inside the second shield body. 前記第3シールド体は円筒状に形成されている請求項1から3のいずれかに記載の電圧検出プローブ。   The voltage detection probe according to claim 1, wherein the third shield body is formed in a cylindrical shape. 前記挿入凹部を構成する前記第1シールド体の切欠き面のうちの前記先端部側に位置する先端側切欠き面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として前記基端部側に傾斜している請求項1から4のいずれかに記載の電圧検出プローブ。   Of the cutout surfaces of the first shield body forming the insertion recessed portion, a tip side notch surface located on the tip end side is inclined toward the base end side with reference to a reference plane orthogonal to the axis. The voltage detection probe according to any one of claims 1 to 4. 前記挿入凹部を構成する前記第1シールド体の切欠き面のうちの前記基端部側に位置する基端側切欠き面は、前記基準平面を基準として、前記先端側切欠き面よりも前記基端部側に傾斜している請求項5記載の電圧検出プローブ。   Of the cutout surfaces of the first shield body forming the insertion recessed portion, the proximal end side cutout surface located on the proximal end portion side is more than the distal end side cutout surface with respect to the reference plane. The voltage detection probe according to claim 5, which is inclined toward the base end side. 前記検出電極を前記挿入凹部方向に常時付勢する付勢部材を備え、
前記検出電極は、前記付勢部材の付勢力によって前記第1シールド体内を前記挿入凹部方向に摺動させられて、前記挿入凹部を構成する前記第1シールド体の切欠き面のうちの前記先端部側に位置する先端側切欠き面と前記先端面との間で、前記挿入されている測定対象電線を挟持する請求項1から6のいずれかに記載の電圧検出プローブ。
A biasing member that constantly biases the detection electrode in the insertion recess direction,
The detection electrode is slid in the first shield body in the insertion recess direction by the urging force of the urging member, and the tip of the cutout surface of the first shield body forming the insertion recess is formed. between the front end side cutout surface located on part side of the front end surface, the voltage detection probe according to any one of claims 1 to 6 for holding the constant target wire measurement that have been the insertion.
前記先端面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として前記先端部側に傾斜している請求項1から7のいずれかに記載の電圧検出プローブ。   The voltage detection probe according to claim 1, wherein the tip end surface is inclined toward the tip end side with reference to a reference plane orthogonal to the axis. 前記挿入されている測定対象電線との容量結合状態において前記挿入凹部から前記第1シールド体の外部に露出する前記検出電極における前記絶縁被覆で覆われた前記外周面は、当該第1シールド体と電気的に接触する導電体層で覆われている請求項1から8のいずれかに記載の電圧検出プローブ。 The outer peripheral surface of the detection electrode exposed from the insertion recess to the outside of the first shield body in the capacitively coupled state with the inserted electric wire to be measured is covered with the first shield body. The voltage detection probe according to any one of claims 1 to 8, which is covered with a conductor layer that electrically contacts. 請求項1から9のいずれかに記載の電圧検出プローブと、
前記電圧検出プローブに接続された本体ユニットと、
前記本体ユニット内に配設されて、前記検出電極を介して前記挿入されている測定対象電線の電圧を検出すると共に当該電圧に応じて変化する電圧信号を出力する電圧検出部と、
前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧信号に基づいて前記挿入されている測定対象電線の前記電圧に追従する電圧を生成する電圧生成部と、
前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧生成部で生成される前記電圧に基づいて前記挿入されている測定対象電線の前記電圧を測定する処理部とを備え、
前記電圧検出部は、前記電圧生成部で生成される前記電圧の電位を基準とするフローティング電圧で作動する測定装置。
The voltage detection probe according to any one of claims 1 to 9,
A main unit connected to the voltage detection probe,
A voltage detection unit disposed in the main body unit, which detects the voltage of the inserted measurement target electric wire via the detection electrode and outputs a voltage signal that changes according to the voltage,
A voltage generator disposed in the main body unit, which generates a voltage that follows the voltage of the inserted electric wire to be measured based on the voltage signal;
A processing unit disposed in the main body unit, for measuring the voltage of the inserted electric wire to be measured based on the voltage generated by the voltage generation unit,
The voltage detection unit is a measuring device that operates with a floating voltage based on a potential of the voltage generated by the voltage generation unit.
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