JP2017000990A - Substrate processing device - Google Patents

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Kenichi Murano
賢一 村野
裕司 岡本
Yuji Okamoto
裕司 岡本
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing device which inhibits occurrence of airflow flowing in through holes without complicating a structure of a stage.SOLUTION: A holding surface of a stage holds a substrate provided with through holes. Suction holes open on the holding surface. A negative pressure is generated in each suction hole. A first plug member is detachably stuffed into each suction hole. The first plug member closes the suction hole while stuffed into the suction hole. An inner surface of the suction hole is formed into a shape which supports the first plug member.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、基板をステージに吸着して基板の処理を行う基板処理装置に関する。   The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a substrate by attracting the substrate to a stage.

インクジェットヘッドから膜材料を液滴化して吐出することにより、基板の表面に膜を形成する技術が下記の特許文献1及び2に開示されている。膜を形成する基板として、例えばスルーホールが形成されたプリント基板が挙げられる。膜の形成時に、この基板がステージに吸着される。ステージには、複数の吸引孔が設けられている。吸引孔内を負圧にすることにより、基板がステージに吸着される。   Patent Documents 1 and 2 below disclose a technique for forming a film on the surface of a substrate by forming a film material into droplets from an inkjet head and discharging the film material. An example of a substrate on which a film is formed is a printed board on which through holes are formed. When the film is formed, the substrate is adsorbed on the stage. A plurality of suction holes are provided in the stage. By making the inside of the suction hole negative, the substrate is adsorbed on the stage.

基板のスルーホールと、ステージの吸引孔とが重なると、スルーホールを通る気流が生じる。インクジェットヘッドから吐出された液滴の飛翔経路が、この気流の影響を受ける場合がある。液滴の飛翔経路が目標経路からずれると、形成される膜の形状にゆがみが生じる。   When the through hole of the substrate and the suction hole of the stage overlap, an airflow passing through the through hole is generated. The flight path of the droplets ejected from the inkjet head may be affected by this air flow. When the droplet flight path deviates from the target path, the shape of the formed film is distorted.

特許文献1に開示された装置では、このスルーホールと重なる吸引孔を塞ぐことによって、気流の発生を防止している。吸引孔を塞ぐ機構として、電磁弁等のアクチュエータが挙げられている。その他の例として、気流の発生によって変位することにより吸引孔を塞ぐ可動部材が挙げられている。   In the apparatus disclosed in Patent Document 1, airflow is prevented from occurring by closing a suction hole overlapping with the through hole. As a mechanism for closing the suction hole, an actuator such as an electromagnetic valve is cited. Other examples include a movable member that closes the suction hole by being displaced by the generation of an air current.

特許文献2に開示された装置では、ステージの一部の吸引孔を変位させることにより、スルーホールと吸引孔との重なりが回避される。ステージの一部の吸引孔を変位させるために、ステージが面内方向に関して複数の部分に分割されている。分割された複数の部分の相対位置を変化させることにより、一部の吸引孔を変位させることができる。   In the apparatus disclosed in Patent Document 2, overlapping of the through hole and the suction hole is avoided by displacing a part of the suction hole of the stage. In order to displace some suction holes of the stage, the stage is divided into a plurality of parts in the in-plane direction. A part of the suction holes can be displaced by changing the relative positions of the divided parts.

特開2014−108388号公報JP 2014-108388 A 特開2014−116391号公報JP 2014-116391 A

従来の装置では、基板のスルーホールを通る気流の発生を抑制するために、ステージにアクチュエータや可動部分を設けている。このため、ステージの構造が複雑になってしまう。本発明の目的は、ステージの構造を複雑にすることなく、スルーホールを通る気流の発生を抑制することができる基板処理装置を提供することである。   In the conventional apparatus, an actuator and a movable part are provided on the stage in order to suppress the generation of airflow through the through hole of the substrate. For this reason, the structure of the stage becomes complicated. The objective of this invention is providing the substrate processing apparatus which can suppress generation | occurrence | production of the airflow which passes along a through hole, without making the structure of a stage complicated.

本発明の一観点によると、
スルーホールが形成された基板を保持する保持面を有するステージと、
前記保持面に開口し、内部が負圧にされる複数の吸引孔と、
複数の前記吸引孔の各々の内部に着脱可能に詰め込まれ、前記吸引孔に詰め込まれた状態で前記吸引孔を塞ぐ第1の栓部材と
を有し、
前記吸引孔の内面は、前記第1の栓部材を支持する形状とされている基板処理装置が提供される。
According to one aspect of the invention,
A stage having a holding surface for holding a substrate on which a through hole is formed;
A plurality of suction holes that open to the holding surface and have negative pressure inside;
Removably packed inside each of the plurality of suction holes, and having a first plug member that closes the suction holes in a state packed in the suction holes,
A substrate processing apparatus is provided in which the inner surface of the suction hole is shaped to support the first plug member.

スルーホールと重なる吸引孔に第1の栓部材を詰め込むことにより、スルーホールを通る気流の発生を抑制することができる。第1の栓部材が着脱可能であるため、基板の種別に応じて、スルーホールと重なる吸引孔を容易に塞ぐことができる。   By filling the first plug member into the suction hole that overlaps the through hole, it is possible to suppress the generation of airflow through the through hole. Since the first plug member is detachable, the suction hole overlapping the through hole can be easily closed according to the type of the substrate.

図1は、実施例による基板製造装置の概略図である。FIG. 1 is a schematic view of a substrate manufacturing apparatus according to an embodiment. 図2Aは、実施例による基板製造装置のステージの平面図であり、図2Bは、処理対象の基板の平面図である。FIG. 2A is a plan view of the stage of the substrate manufacturing apparatus according to the embodiment, and FIG. 2B is a plan view of the substrate to be processed. 図3は、実施例による基板製造装置の出力装置に出力された情報の一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an example of information output to the output device of the substrate manufacturing apparatus according to the embodiment. 図4Aは、実施例による基板製造装置のステージ及びヘッドユニットの部分断面図であり、図4Bは、第1の栓部材の斜視図である。FIG. 4A is a partial cross-sectional view of the stage and the head unit of the substrate manufacturing apparatus according to the embodiment, and FIG. 4B is a perspective view of the first plug member. 図5Aは、他の実施例による基板処理装置のステージの断面図であり、図5B及び図5Cは、それぞれ第1の栓部材及び第2の栓部材の斜視図である。FIG. 5A is a cross-sectional view of a stage of a substrate processing apparatus according to another embodiment, and FIGS. 5B and 5C are perspective views of a first plug member and a second plug member, respectively. 図6は、さらに他の実施例による基板処理装置のステージの断面図である。FIG. 6 is a sectional view of a stage of a substrate processing apparatus according to still another embodiment. 図7Aは、さらに他の実施例による基板処理装置で用いられる第1の栓部材の平面図であり、図7Bは、図7Aの一点鎖線7B−7Bにおける断面図であり、図7Cは、第1の栓部材の底面図であり、図7Dは、図7Cの一点鎖線7D−7Dにおける断面図である。7A is a plan view of a first plug member used in a substrate processing apparatus according to still another embodiment, FIG. 7B is a cross-sectional view taken along one-dot chain line 7B-7B in FIG. 7A, and FIG. FIG. 7D is a cross-sectional view taken along one-dot chain line 7D-7D in FIG. 7C. 図8A及び図8Bは、図4A〜図4Bに示した実施例で用いられていた第1の栓部材の変形例の断面図であり、図8C及び図8Dは、それぞれ図5A〜図5Cに示した実施例で用いられていた第1の栓部材及び第2の栓部材の変形例の断面図であり、図8Eは、図7A〜図7Dに示した実施例で用いられていた第1の栓部材の変形例の平面図であり、図8Fは、図8Eの一点鎖線8F−8Fにおける断面図である。8A and 8B are cross-sectional views of modifications of the first plug member used in the embodiment shown in FIGS. 4A to 4B, and FIGS. 8C and 8D are FIGS. 5A to 5C, respectively. FIG. 8E is a cross-sectional view of a variation of the first plug member and the second plug member used in the illustrated embodiment, and FIG. 8E illustrates the first plug used in the embodiment illustrated in FIGS. 7A to 7D. FIG. 8F is a sectional view taken along one-dot chain line 8F-8F in FIG. 8E. 図9A及び図9Bは、さらに他の実施例による基板処理装置のステージ及び第1の栓部材の断面図である。9A and 9B are cross-sectional views of a stage and a first plug member of a substrate processing apparatus according to still another embodiment. 図10A及び図10Bは、図9A及び図9Bに示した実施例の変形例による基板処理装置のステージ及び第1の栓部材の断面図である。10A and 10B are cross-sectional views of the stage and the first plug member of the substrate processing apparatus according to a modification of the embodiment shown in FIGS. 9A and 9B.

図1に、実施例による基板製造装置の概略図を示す。定盤20の上に、移動機構21によりステージ22が支持されている。ステージ22の上面(保持面)に、プリント配線板等の基板50が保持される。移動機構21は、ステージ22を水平面に平行な二方向に移動させる。   FIG. 1 is a schematic view of a substrate manufacturing apparatus according to an embodiment. A stage 22 is supported on the surface plate 20 by a moving mechanism 21. A substrate 50 such as a printed wiring board is held on the upper surface (holding surface) of the stage 22. The moving mechanism 21 moves the stage 22 in two directions parallel to the horizontal plane.

定盤20の上方に、ヘッドユニット30及び撮像装置33が、支持部材24よって支持されている。支持部材24として、例えば門型フレームが用いられる。ヘッドユニット30は、支持機構31を介して支持部材24に支持されており、ステージ22に対して昇降可能である。   The head unit 30 and the imaging device 33 are supported by the support member 24 above the surface plate 20. As the support member 24, for example, a portal frame is used. The head unit 30 is supported by the support member 24 via the support mechanism 31 and can be moved up and down with respect to the stage 22.

撮像装置33は、基板50の表面に形成されている配線パターン、アライメントマーク、基板50に形成された膜パターン等を撮像する。撮像されて得られた画像データが、制御装置70に入力される。ヘッドユニット30は、インクジェットヘッド及び硬化用光源を含む。インクジェットヘッドの複数のノズル孔から基板50に向けて、光硬化性(例えば紫外線硬化性)の膜材料の液滴(例えばソルダーレジスト等の液滴)を吐出する。吐出された膜材料が、基板50の表面に付着する。基板50に付着した膜材料に、硬化用光源からの紫外線が照射されることにより、膜材料が硬化する。   The imaging device 33 images a wiring pattern, an alignment mark, a film pattern formed on the substrate 50, and the like formed on the surface of the substrate 50. Image data obtained by imaging is input to the control device 70. The head unit 30 includes an inkjet head and a curing light source. Droplets (for example, droplets of solder resist, etc.) of a photo-curable (for example, ultraviolet curable) film material are ejected from a plurality of nozzle holes of the inkjet head toward the substrate 50. The discharged film material adheres to the surface of the substrate 50. When the film material adhering to the substrate 50 is irradiated with ultraviolet rays from a curing light source, the film material is cured.

制御装置70が、移動機構21、ヘッドユニット30、及び撮像装置33を制御する。制御装置70は記憶装置73を含む。記憶装置73に、制御装置70の処理ユニットが実行するコンピュータプログラム、及び制御装置70の動作に必要な種々のデータが格納されている。オペレータが、入力装置71を通して制御装置70に、種々の指令(コマンド)や、制御に必要な数値データを入力する。制御装置70は、出力装置72からオペレータに対して各種情報を出力する。   The control device 70 controls the moving mechanism 21, the head unit 30, and the imaging device 33. The control device 70 includes a storage device 73. The storage device 73 stores a computer program executed by the processing unit of the control device 70 and various data necessary for the operation of the control device 70. An operator inputs various commands (commands) and numerical data necessary for control to the control device 70 through the input device 71. The control device 70 outputs various information from the output device 72 to the operator.

図2Aにステージ22の平面図を示す。ステージ22の保持面23に、複数の吸引孔40が分布している。複数の吸引孔40は、例えば保持面23の面内に行列状に分布する。保持面23に、基板50(図1)を位置決めするための位置決め構造41が設けられている。位置決め構造41は、例えば3か所または4か所に設けられた突起を含む。基板50の縁をこれらの突起に突き当てることにより、ステージ22に対する基板50の位置決めが行われる。   FIG. 2A shows a plan view of the stage 22. A plurality of suction holes 40 are distributed on the holding surface 23 of the stage 22. The plurality of suction holes 40 are distributed in a matrix, for example, in the plane of the holding surface 23. A positioning structure 41 for positioning the substrate 50 (FIG. 1) is provided on the holding surface 23. The positioning structure 41 includes, for example, protrusions provided at three or four locations. By positioning the edge of the substrate 50 against these protrusions, the substrate 50 is positioned with respect to the stage 22.

図2Bに、基板50の平面図を示す。基板50に複数のスルーホール51が形成されている。スルーホール51の配置は、基板50の種別ごとに異なる。さらに、配線パターン52、グランドパターン53等の金属パターンが形成されている。   FIG. 2B shows a plan view of the substrate 50. A plurality of through holes 51 are formed in the substrate 50. The arrangement of the through holes 51 differs depending on the type of the substrate 50. Further, metal patterns such as a wiring pattern 52 and a ground pattern 53 are formed.

制御装置70の記憶装置73(図1)に、基板50に形成すべき膜パターンの形状を定義する画像データ、基板に形成されているスルーホール51の位置を定義する位置データ、ステージ22に形成されている吸引孔40の位置を定義する位置データが格納されている。移動機構21(図1)に取り付けられているエンコーダからの情報が制御装置70に入力される。制御装置70は、エンコーダからの情報に基づき、ステージ22の位置を検知することができる。   In the storage device 73 (FIG. 1) of the control device 70, image data defining the shape of the film pattern to be formed on the substrate 50, position data defining the position of the through hole 51 formed in the substrate, and formation on the stage 22 The position data defining the position of the suction hole 40 is stored. Information from an encoder attached to the moving mechanism 21 (FIG. 1) is input to the control device 70. The control device 70 can detect the position of the stage 22 based on information from the encoder.

制御装置70(図1)は、記憶装置73に格納されているスルーホール51の位置データ、及び吸引孔40の位置データに基づいて、基板50を保持面23に保持した状態で、スルーホール51と重なる吸引孔40を抽出する。さらに、抽出された吸引孔40を特定する情報を出力装置72に出力する。   The control device 70 (FIG. 1) is configured to hold the substrate 50 on the holding surface 23 based on the position data of the through hole 51 and the position data of the suction hole 40 stored in the storage device 73. The suction hole 40 that overlaps is extracted. Further, information specifying the extracted suction hole 40 is output to the output device 72.

図3に、出力装置72に出力された情報の一例を示す。出力装置72は、画像を表示する表示画面を含む。出力装置72の表示画面に、ステージ22(図2A)の画像22A、及び複数の吸引孔40(図2A)の画像40Aが表示される。複数の吸引孔40の画像40Aのうち、スルーホール51と重なる吸引孔40の画像40Aに、識別マーク42が付される。図3では、識別マーク42として、吸引孔40の画像40Aを取り囲む円周が用いられている。その他に、スルーホール51と重なる吸引孔40を特定するために、画像40Aの色、大きさ、形状等を、他の吸引孔40と異ならせてもよい。   FIG. 3 shows an example of information output to the output device 72. The output device 72 includes a display screen for displaying an image. On the display screen of the output device 72, an image 22A of the stage 22 (FIG. 2A) and an image 40A of the plurality of suction holes 40 (FIG. 2A) are displayed. Among the images 40A of the plurality of suction holes 40, an identification mark 42 is attached to the image 40A of the suction holes 40 that overlaps the through holes 51. In FIG. 3, the circumference surrounding the image 40 </ b> A of the suction hole 40 is used as the identification mark 42. In addition, the color, size, shape, and the like of the image 40 </ b> A may be different from those of the other suction holes 40 in order to identify the suction holes 40 that overlap with the through holes 51.

図4Aに、ステージ22及びヘッドユニット30の部分断面図を示す。ステージ22の保持面23に基板50が載せられている。基板50に、複数のスルーホール51が形成されている。ステージ22の上方にヘッドユニット30が支持されている。ヘッドユニット30は、インクジェットヘッド35及び硬化用光源(図4Aには現れていない)を含む。インクジェットヘッド35の底面に複数のノズル孔36が設けられている。ノズル孔36から膜材料の液滴37が基板50に向けて吐出される。   FIG. 4A shows a partial cross-sectional view of the stage 22 and the head unit 30. A substrate 50 is placed on the holding surface 23 of the stage 22. A plurality of through holes 51 are formed in the substrate 50. A head unit 30 is supported above the stage 22. The head unit 30 includes an inkjet head 35 and a curing light source (not shown in FIG. 4A). A plurality of nozzle holes 36 are provided on the bottom surface of the inkjet head 35. A droplet 37 of a film material is discharged from the nozzle hole 36 toward the substrate 50.

ステージ22に複数の吸引孔40が設けられている。吸引孔40の各々は、保持面23に開口する。さらに、吸引孔40の各々は、ステージ22内に形成された吸引流路45に繋がる。吸引ポンプ46が吸引流路45を介して吸引孔40の内部空間を吸引する。これにより、吸引孔40の内部が負圧(大気圧より低い圧力)になる。これにより、基板50がステージ22に吸着される。基板50のスルーホール51と重なる吸引孔40Bに、第1の栓部材60が詰め込まれている。第1の栓部材60は、吸引孔40に対して着脱可能である。   A plurality of suction holes 40 are provided in the stage 22. Each of the suction holes 40 opens in the holding surface 23. Further, each of the suction holes 40 is connected to a suction flow path 45 formed in the stage 22. The suction pump 46 sucks the internal space of the suction hole 40 through the suction flow path 45. Thereby, the inside of the suction hole 40 becomes negative pressure (pressure lower than atmospheric pressure). Thereby, the substrate 50 is attracted to the stage 22. A first plug member 60 is packed in the suction hole 40 </ b> B overlapping the through hole 51 of the substrate 50. The first plug member 60 can be attached to and detached from the suction hole 40.

図4Bに、第1の栓部材60の斜視図を示す。第1の栓部材60の外形は円柱状であり、その平断面は吸引孔40の流路断面にほぼ整合する。吸引孔40(図4A)の内面は、第1の栓部材60を支持する形状とされている。例えば、吸引孔40の内面に段差43が形成されており、この段差43が第1の栓部材60を支持する。第1の栓部材60の上面は、保持面23と同一の高さまたは保持面23よりも低い位置に支持される。このため、保持面23に基板50を保持する際に、第1の栓部材60が基板50の吸着を妨げることはない。   FIG. 4B shows a perspective view of the first plug member 60. The external shape of the first plug member 60 is a columnar shape, and the flat cross section thereof substantially matches the flow path cross section of the suction hole 40. The inner surface of the suction hole 40 (FIG. 4A) is shaped to support the first plug member 60. For example, a step 43 is formed on the inner surface of the suction hole 40, and the step 43 supports the first plug member 60. The upper surface of the first plug member 60 is supported at the same height as the holding surface 23 or at a position lower than the holding surface 23. For this reason, when the substrate 50 is held on the holding surface 23, the first stopper member 60 does not hinder the adsorption of the substrate 50.

第1の栓部材60が吸引孔40を塞ぐと、第1の栓部材60が詰め込まれた吸引孔40内には気流が発生しない。このため、吸引孔40に重なっているスルーホール51を通る気流も発生しない。気流が発生しないため、インクジェットヘッド35から吐出された液滴の飛翔経路が気流の影響を受けて変化することもない。   When the first plug member 60 closes the suction hole 40, no airflow is generated in the suction hole 40 in which the first plug member 60 is packed. For this reason, the airflow which passes through the through hole 51 which overlaps with the suction hole 40 is not generated. Since no airflow is generated, the flight path of the droplets ejected from the inkjet head 35 does not change under the influence of the airflow.

実施例においては、スルーホール51と重なる吸引孔40が出力装置72(図3)に表示される。このため、オペレータは、出力装置72(図3)に表示された情報を確認して、第1の栓部材60を詰め込むべき吸引孔40を容易に特定することができる。   In the embodiment, the suction hole 40 overlapping the through hole 51 is displayed on the output device 72 (FIG. 3). For this reason, the operator can easily identify the suction hole 40 into which the first plug member 60 should be packed by confirming the information displayed on the output device 72 (FIG. 3).

上記実施例では、スルーホール51を通る気流の発生を抑制するための可動機構を、ステージ22に取り付ける必要がない。このため、ステージ22のコスト増や、故障の発生頻度の増加を回避することができる。第1の栓部材60が着脱可能であるため、スルーホール51の配置の異なる基板50に、容易に対応可能である。   In the above embodiment, there is no need to attach a movable mechanism for suppressing the generation of airflow through the through hole 51 to the stage 22. For this reason, it is possible to avoid an increase in the cost of the stage 22 and an increase in the occurrence frequency of failures. Since the first plug member 60 can be attached and detached, it is possible to easily cope with the substrates 50 in which the through holes 51 are arranged differently.

上記実施例では、インクジェットヘッドを含む基板製造装置について説明したが、上記実施例によるステージ22、吸引孔40、及び第1の栓部材60を含む構成は、他の基板処理装置に適用することも可能である。特に、基板表面上の空間で局所的に発生する気流が基板処理に悪影響を与えるような場合に、顕著な効果が期待できる。   In the above embodiment, the substrate manufacturing apparatus including the inkjet head has been described. However, the configuration including the stage 22, the suction hole 40, and the first plug member 60 according to the above embodiment may be applied to other substrate processing apparatuses. Is possible. In particular, a remarkable effect can be expected when an air flow locally generated in a space on the substrate surface adversely affects the substrate processing.

次に、図5A〜図5Cを参照して、他の実施例について説明する。以下、図1〜図4Bに示した実施例との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。   Next, another embodiment will be described with reference to FIGS. 5A to 5C. Hereinafter, differences from the embodiment shown in FIGS. 1 to 4B will be described, and description of common configurations will be omitted.

図5Aに、本実施例による基板処理装置のステージ22の断面図を示す。図1〜図4Bに示した実施例では、スルーホール51と重なる吸引孔40のみに第1の栓部材60が詰め込まれる。本実施例においては、すべての吸引孔40に、第1の栓部材60及び第2の栓部材61のいずれかが詰め込まれる。   FIG. 5A shows a cross-sectional view of the stage 22 of the substrate processing apparatus according to the present embodiment. In the embodiment shown in FIGS. 1 to 4B, the first plug member 60 is packed only in the suction hole 40 that overlaps the through hole 51. In this embodiment, all the suction holes 40 are filled with either the first plug member 60 or the second plug member 61.

スルーホール51と重なる吸引孔40Bには、第1の栓部材60が詰め込まれ、スルーホール51と重ならない吸引孔40Cには、第2の栓部材61が詰め込まれる。   The first plug member 60 is packed into the suction hole 40B that overlaps with the through hole 51, and the second plug member 61 is packed into the suction hole 40C that does not overlap with the through hole 51.

図5B及び図5Cに、それぞれ第1の栓部材60及び第2の栓部材61の斜視図を示す。第1の栓部材60及び第2の栓部材61は、共に円柱状の外形を有する。第1の栓部材60は、中身が詰まった円柱状であるが、第2の栓部材61には、底面から上面に達する貫通孔62が形成されている。第2の栓部材61の外径は、第1の栓部材60の外径と同一である。   5B and 5C are perspective views of the first plug member 60 and the second plug member 61, respectively. Both the first plug member 60 and the second plug member 61 have a cylindrical outer shape. The first plug member 60 has a cylindrical shape filled with the contents, but the second plug member 61 has a through-hole 62 reaching from the bottom surface to the top surface. The outer diameter of the second plug member 61 is the same as the outer diameter of the first plug member 60.

吸引孔40(図5A)に第1の栓部材60が詰め込まれると、その吸引孔40はほぼ完全に塞がれる。このため、吸引孔40を通る気流は発生しない。これに対し、吸引孔40に第2の栓部材61が詰め込まれても、貫通孔62を通って気流が発生し得る。スルーホール51と重なる吸引孔40Bに第1の栓部材60が詰め込まれ、スルーホール51と重ならない吸引孔40Cに第2の栓部材61が詰め込まれる。   When the first plug member 60 is packed in the suction hole 40 (FIG. 5A), the suction hole 40 is almost completely closed. For this reason, an airflow passing through the suction hole 40 is not generated. On the other hand, even if the second plug member 61 is packed in the suction hole 40, an air flow can be generated through the through hole 62. The first plug member 60 is packed into the suction hole 40B that overlaps with the through hole 51, and the second plug member 61 is packed into the suction hole 40C that does not overlap with the through hole 51.

スルーホール51と重なる吸引孔40Bに第1の栓部材60が詰め込まれることにより、スルーホール51を通る気流の発生を抑制することができる。スルーホール51と重ならない吸引孔40には、貫通孔62を有する第2の栓部材61が詰め込まれるため、貫通孔62を通して基板50を吸着することができる。第2の栓部材61は、吸引孔40の流路断面を縮小する機能を有する。   By filling the first plug member 60 into the suction hole 40 </ b> B that overlaps with the through hole 51, it is possible to suppress the generation of airflow through the through hole 51. Since the second plug member 61 having the through hole 62 is packed in the suction hole 40 that does not overlap with the through hole 51, the substrate 50 can be adsorbed through the through hole 62. The second plug member 61 has a function of reducing the flow path cross section of the suction hole 40.

図4A及び図4Bに示した実施例においては、第1の栓部材60の外径が、保持面23に配置される開口部の内径に等しい。これに対し、図5A〜図5Cに示した実施例では、第2の栓部材61の貫通孔62の寸法が、図4A及び図4Bに示した実施例の吸引孔40の寸法に対応する。第1の栓部材60及び第2の栓部材61の外径は、貫通孔62の内径より大きい。図5A〜図5Cに示した実施例で用いられる第1の栓部材60及び第2の栓部材61を、図4A及び図4Bに示した実施例で用いられる第1の栓部材60よりも大きくすることが可能である。このため、図4A及び図4Bに示した実施例に比べて、第1の栓部材60及び第2の栓部材61の取り扱いが容易になる。   In the embodiment shown in FIGS. 4A and 4B, the outer diameter of the first plug member 60 is equal to the inner diameter of the opening disposed on the holding surface 23. On the other hand, in the embodiment shown in FIGS. 5A to 5C, the dimension of the through hole 62 of the second plug member 61 corresponds to the dimension of the suction hole 40 of the embodiment shown in FIGS. 4A and 4B. The outer diameters of the first plug member 60 and the second plug member 61 are larger than the inner diameter of the through hole 62. The first plug member 60 and the second plug member 61 used in the embodiment shown in FIGS. 5A to 5C are larger than the first plug member 60 used in the embodiment shown in FIGS. 4A and 4B. Is possible. Therefore, the first plug member 60 and the second plug member 61 can be handled more easily than in the embodiment shown in FIGS. 4A and 4B.

次に、図6を参照して、さらに他の実施例について説明する。以下、図1〜図4Bに示した実施例との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。   Next, still another embodiment will be described with reference to FIG. Hereinafter, differences from the embodiment shown in FIGS. 1 to 4B will be described, and description of common configurations will be omitted.

図6に、本実施例による基板処理装置のステージ22の断面図を示す。本実施例においては、吸引孔40が、大径部401と小径部402とを含む。大径部401が保持面23に開口する。小径部402は、大径部401の底面において大径部401に連続し、大径部401より小さな流路断面を有する。   FIG. 6 is a sectional view of the stage 22 of the substrate processing apparatus according to this embodiment. In the present embodiment, the suction hole 40 includes a large diameter portion 401 and a small diameter portion 402. The large diameter portion 401 opens in the holding surface 23. The small-diameter portion 402 is continuous with the large-diameter portion 401 on the bottom surface of the large-diameter portion 401 and has a smaller channel cross section than the large-diameter portion 401.

スルーホール51と重なる吸引孔40Bの大径部401に第1の栓部材60が詰め込まれる。スルーホール51と重ならない吸引孔40Cは開放された状態である。吸引孔40を流れる気流の流量は、主として小径部402の流路断面の大きさで制限される。一例として、小径部402の流路断面が、図4Aに示した実施例の吸引孔40の流路断面とほぼ等しい。   The first plug member 60 is packed in the large diameter portion 401 of the suction hole 40B that overlaps the through hole 51. The suction hole 40C that does not overlap with the through hole 51 is in an open state. The flow rate of the airflow flowing through the suction hole 40 is mainly limited by the size of the cross section of the small diameter portion 402. As an example, the channel cross section of the small diameter portion 402 is substantially equal to the channel cross section of the suction hole 40 of the embodiment shown in FIG. 4A.

大径部401の内径を大きくすることにより、第1の栓部材60を大きくすることが可能である。これにより、第1の栓部材60の取り扱いが容易になる。大径部401を大きくしても、吸引孔40を流れる気流の流量は小径部402の内径で制限される。このため、大径部401の大きさとは独立して、所望の流量を維持することが可能である。   The first plug member 60 can be enlarged by increasing the inner diameter of the large diameter portion 401. Thereby, handling of the 1st stopper member 60 becomes easy. Even if the large diameter portion 401 is enlarged, the flow rate of the airflow flowing through the suction hole 40 is limited by the inner diameter of the small diameter portion 402. For this reason, it is possible to maintain a desired flow rate independently of the size of the large diameter portion 401.

次に、図7A〜図7Dを参照して、さらに他の実施例について説明する。以下、図5A〜図5Cに示した実施例との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。   Next, still another embodiment will be described with reference to FIGS. 7A to 7D. Hereinafter, differences from the embodiment shown in FIGS. 5A to 5C will be described, and description of common configurations will be omitted.

図5A〜図5Cに示した実施例では、吸引孔40を塞ぐ第1の栓部材60と、吸引孔40の流路断面を縮小する第2の栓部材61が準備される。図7A〜図7Dに示した実施例では、一種類の第1の栓部材60のみが準備される。   In the embodiment shown in FIGS. 5A to 5C, a first plug member 60 that closes the suction hole 40 and a second plug member 61 that reduces the flow path cross section of the suction hole 40 are prepared. In the embodiment shown in FIGS. 7A to 7D, only one type of first plug member 60 is prepared.

図7Aに第1の栓部材60の平面図を示し、図7Cに、第1の栓部材60の底面図を示す。図7B及び7Dに、それぞれ図7Aの一点鎖線7B−7Bにおける断面図、及び図7Cの一点鎖線7D−7Dにおける断面図を示す。   FIG. 7A shows a plan view of the first plug member 60, and FIG. 7C shows a bottom view of the first plug member 60. 7B and 7D are cross-sectional views taken along one-dot chain line 7B-7B in FIG. 7A and cross-sectional views along one-dot chain line 7D-7D in FIG. 7C, respectively.

第1の栓部材60の内部に、第1の栓部材60の表面の第1の箇所65(図7A)から第2の箇所66(図7C)まで繋がる中継流路67(図7B、図7D)が形成されている。第1の箇所65は第1の栓部材60の上面に位置し、第2の箇所66は第1の栓部材60の底面に位置する。   A relay channel 67 (FIGS. 7B and 7D) connected to the inside of the first plug member 60 from the first location 65 (FIG. 7A) to the second location 66 (FIG. 7C) on the surface of the first plug member 60. ) Is formed. The first location 65 is located on the upper surface of the first plug member 60, and the second location 66 is located on the bottom surface of the first plug member 60.

吸引孔40は、図6に示した吸引孔40と同様に、大径部401と小径部402とを含む。第1の栓部材60は、大径部401に詰め込まれる。   The suction hole 40 includes a large diameter portion 401 and a small diameter portion 402, similarly to the suction hole 40 shown in FIG. The first plug member 60 is packed in the large diameter portion 401.

図7Bは、第1の栓部材60が、その上面が上方を向く姿勢(第2の姿勢)で大径部401に詰め込まれた状態を示す。この状態で、第2の箇所66が小径部402の開口部からずれた位置に配置される。このため、大径部401に繋がる小径部402の開口部が、第1の栓部材60の底面で塞がれる。これにより、吸引孔40を通る気流が発生しない状態が得られる。   FIG. 7B shows a state in which the first plug member 60 is packed in the large-diameter portion 401 in a posture (second posture) with its upper surface facing upward. In this state, the second portion 66 is disposed at a position shifted from the opening of the small diameter portion 402. For this reason, the opening of the small diameter portion 402 connected to the large diameter portion 401 is blocked by the bottom surface of the first plug member 60. Thereby, the state where the airflow which passes along the suction hole 40 does not generate | occur | produce is obtained.

図7Dに、第1の栓部材60が、その底面が上方を向く姿勢(第1の姿勢)で大径部401に詰め込まれた状態を示す。この状態で、第1の栓部材60の第1の箇所65が、小径部402の開口部に重なる。このため、小径部402が中継流路67に繋がる。これにより、吸引孔40を通る気流が発生する状態が得られる。   FIG. 7D shows a state in which the first plug member 60 is packed in the large-diameter portion 401 in a posture (first posture) with the bottom surface facing upward. In this state, the first portion 65 of the first plug member 60 overlaps the opening of the small diameter portion 402. For this reason, the small diameter portion 402 is connected to the relay flow path 67. Thereby, the state which the airflow which passes along the suction hole 40 generate | occur | produces is obtained.

図7A〜図7Dに示した実施例では、大径部401に詰め込まれる第1の栓部材60の姿勢を変化させることにより、吸引孔40を通る気流が発生し得る状態と、気流が発生しない状態とのいずれかが実現される。   In the embodiment shown in FIGS. 7A to 7D, by changing the posture of the first plug member 60 packed in the large-diameter portion 401, a state where an air flow passing through the suction hole 40 can be generated and an air flow is not generated. One of the states is realized.

第1の栓部材60の上面が上方を向く第2の姿勢と、底面が上方を向く第1の姿勢とを容易に判別可能にするために、第1の栓部材60の上面と底面とを異なる色に着色してもよい。これにより、各吸引孔40が、気流の発生しない状態になっているか否かを容易に判別することができる。   In order to easily distinguish the second posture in which the upper surface of the first plug member 60 faces upward and the first posture in which the bottom surface faces upward, the upper surface and the bottom surface of the first plug member 60 are Different colors may be used. Thereby, it can be easily determined whether or not each suction hole 40 is in a state where no airflow is generated.

次に、図8A〜図8Fを参照して、上記実施例の変形例について説明する。   Next, a modification of the above embodiment will be described with reference to FIGS. 8A to 8F.

図8Aは、図4A〜図4Bに示した実施例で用いられていた第1の栓部材60の変形例を示す。図8Aに示した変形例では、第1の栓部材60が、強磁性材料または永久磁石からなる埋込部材68を含む。第1の栓部材60の、埋込部材68以外の部分は、例えば樹脂で形成される。図8Bに示すように、樹脂部材にねじ込まれたねじを埋込部材68として用いてもよい。埋め込むねじとして、イモねじ(無頭ねじ)を用いることも可能である。埋込部材68の表面の一部が露出する場合には、防錆のために、露出した領域の表面処理を行うことが好ましい。   FIG. 8A shows a modification of the first plug member 60 used in the embodiment shown in FIGS. 4A to 4B. In the modification shown in FIG. 8A, the first plug member 60 includes an embedded member 68 made of a ferromagnetic material or a permanent magnet. The portions of the first plug member 60 other than the embedding member 68 are made of resin, for example. As shown in FIG. 8B, a screw screwed into the resin member may be used as the embedding member 68. It is also possible to use a potato screw (headless screw) as the screw to be embedded. When a part of the surface of the embedded member 68 is exposed, it is preferable to perform a surface treatment of the exposed region for rust prevention.

強磁性材料または永久磁石からなる埋込部材68が第1の栓部材60に埋め込まれているため、第1の栓部材60に磁石または強磁性材料を近付けることにより、第1の栓部材60を吸引孔40(図4A)から容易に取り出すことができる。   Since the embedded member 68 made of a ferromagnetic material or a permanent magnet is embedded in the first plug member 60, the first plug member 60 is moved by bringing the magnet or the ferromagnetic material close to the first plug member 60. It can be easily taken out from the suction hole 40 (FIG. 4A).

図8C及び図8Dは、それぞれ図5A〜図5Cに示した実施例で用いられていた第1の栓部材60及び第2の栓部材61の変形例を示す。第1の栓部材60及び第2の栓部材61が、埋込部材68を含む。埋込部材68は、強磁性材料または永久磁石で形成される。   8C and 8D show modified examples of the first plug member 60 and the second plug member 61 used in the embodiment shown in FIGS. 5A to 5C, respectively. The first plug member 60 and the second plug member 61 include an embedded member 68. The embedded member 68 is formed of a ferromagnetic material or a permanent magnet.

図8Eに、図7A〜図7Dに示した実施例で用いられていた第1の栓部材60の変形例を示す。図8Eは、第1の栓部材60の平面図を示し、図8Fは、図8Eの一点鎖線8F−8Fにおける断面図を示す。第1の栓部材60が、その内部に埋込部材68を含む。埋込部材68は、強磁性材料または永久磁石で形成される。   FIG. 8E shows a modification of the first plug member 60 used in the embodiment shown in FIGS. 7A to 7D. 8E shows a plan view of the first plug member 60, and FIG. 8F shows a cross-sectional view taken along one-dot chain line 8F-8F in FIG. 8E. The first plug member 60 includes an embedded member 68 therein. The embedded member 68 is formed of a ferromagnetic material or a permanent magnet.

図8C〜図8Fに示した変形例においても、第1の栓部材60または第2の栓部材61に磁石または強磁性材料を近付けることにより、第1の栓部材60を吸引孔40(図4A)から容易に取り出すことができる。   8C to 8F, the first plug member 60 is attracted to the suction hole 40 (FIG. 4A) by bringing a magnet or a ferromagnetic material closer to the first plug member 60 or the second plug member 61. ) Easily.

次に、図9A〜図9Bを参照して、さらに他の実施例による基板処理装置について説明する。以下、図7A〜図7Cに示した実施例との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。   Next, a substrate processing apparatus according to still another embodiment will be described with reference to FIGS. 9A to 9B. Hereinafter, differences from the embodiment shown in FIGS. 7A to 7C will be described, and description of common configurations will be omitted.

図9A及び図9Bに、本実施例による基板処理装置のステージ22及び第1の栓部材60の断面図を示す。吸引孔40の大径部401に第1の栓部材60が詰め込まれている。第1の栓部材60の中に中継流路67が形成されている。図9Aは、第1の栓部材60が小径部402の開口部を塞いだ状態を示している。図9Bは、小径部402が第1の栓部材60内の中継流路67に繋がった状態を示している。図9Bに示した第1の栓部材60の姿勢を「第1の姿勢」といい、図9Aに示した第1の栓部材60の姿勢を「第2の姿勢」ということとする。   9A and 9B are sectional views of the stage 22 and the first plug member 60 of the substrate processing apparatus according to this embodiment. The first plug member 60 is packed in the large diameter portion 401 of the suction hole 40. A relay channel 67 is formed in the first plug member 60. FIG. 9A shows a state where the first plug member 60 blocks the opening of the small diameter portion 402. FIG. 9B shows a state where the small diameter portion 402 is connected to the relay flow path 67 in the first plug member 60. The posture of the first plug member 60 illustrated in FIG. 9B is referred to as a “first posture”, and the posture of the first plug member 60 illustrated in FIG. 9A is referred to as a “second posture”.

第1の栓部材60は、大径部401に詰め込まれた状態で、上下反転可能な外形を有する。このため、第1の栓部材60は、大径部401内で、第1の姿勢から第2の姿勢へ、及びその逆に姿勢を変化させることができる。例えば、第1の栓部材60は球状の外形を有し、大径部401の中で自由に回転することができる。   The first plug member 60 has an outer shape that can be turned upside down while being packed in the large-diameter portion 401. For this reason, the posture of the first plug member 60 can be changed from the first posture to the second posture and vice versa in the large-diameter portion 401. For example, the first plug member 60 has a spherical outer shape and can freely rotate in the large diameter portion 401.

第1の栓部材60が第1の姿勢または第2の姿勢をとるとき、磁束の向きが上下方向と平行なるように、第1の栓部材60が励磁されている。第1の栓部材60自体を強磁性材料で形成し、この強磁性材料を励磁してもよいし、樹脂材料内に永久磁石を埋め込んでもよい。一例として、第1の栓部材60が第1の姿勢をとるとき(図9B)、S極が上方を向き、第2の姿勢をとるとき(図9A)、N極が上方を向く例が示されている。   When the first plug member 60 takes the first posture or the second posture, the first plug member 60 is excited so that the direction of the magnetic flux is parallel to the vertical direction. The first plug member 60 itself may be formed of a ferromagnetic material, and this ferromagnetic material may be excited, or a permanent magnet may be embedded in the resin material. As an example, when the first plug member 60 takes the first posture (FIG. 9B), when the S pole faces upward, and when the second posture (FIG. 9A) takes, the N pole faces upward. Has been.

磁石80のS極またはN極を第1の栓部材60に近づけると、磁力によって第1の栓部材60が、第1の姿勢から第2の姿勢に、またはその逆に切り替わる。このため、吸引孔40を通る気流が発生し得る状態と、気流が発生しない状態とを、容易に切り替えることができる。   When the S pole or N pole of the magnet 80 is brought close to the first plug member 60, the first plug member 60 is switched from the first position to the second position or vice versa by the magnetic force. For this reason, it is possible to easily switch between a state where an airflow passing through the suction hole 40 can be generated and a state where no airflow is generated.

図10A及び図10Bに、図9A及び図9Bに示した第1の栓部材60の変形例を示す。図10A及び図10Bに示した変形例では、第1の栓部材60が、中央が盛り上がったディスク形状(碁石形状)を有する。この第1の栓部材60が吸引孔40の大径部401に詰め込まれている。図10A及び図10Bは、それぞれ第1の栓部材60が第2の姿勢及び第1の姿勢をとっている状態を示す。   10A and 10B show a modification of the first plug member 60 shown in FIGS. 9A and 9B. 10A and 10B, the first plug member 60 has a disk shape (meteorite shape) with a raised center. The first plug member 60 is packed in the large diameter portion 401 of the suction hole 40. 10A and 10B show a state in which the first plug member 60 is in the second posture and the first posture, respectively.

第1の栓部材60の外周の縁と、大径部401の側面とは、円筒面ではなく、ほぼ円周状の線で接触する。このため、図9A及び図9Bに示した実施例と同様に、第1の栓部材60に磁石80を近付けることにより、第1の栓部材60の上下を容易に反転させることができる。   The outer peripheral edge of the first plug member 60 and the side surface of the large-diameter portion 401 are in contact with a substantially circumferential line, not a cylindrical surface. For this reason, similarly to the embodiment shown in FIGS. 9A and 9B, the upper and lower sides of the first plug member 60 can be easily inverted by bringing the magnet 80 closer to the first plug member 60.

図9A及び図9Bに示したように、第1の栓部材60の外形が球状である場合、第1の栓部材60は第1の姿勢及び第2の姿勢以外の種々の姿勢を取り得る。これに対し、図10A及び図10Bに示した実施例では、第1の姿勢及び第2の姿勢以外の姿勢が不安定である。このため、第1の栓部材60が、第1の姿勢及び第2の姿勢以外の姿勢をとることを回避することができる。   As shown in FIGS. 9A and 9B, when the outer shape of the first plug member 60 is spherical, the first plug member 60 can take various postures other than the first posture and the second posture. On the other hand, in the embodiments shown in FIGS. 10A and 10B, postures other than the first posture and the second posture are unstable. For this reason, it can avoid that the 1st plug member 60 takes attitudes other than a 1st attitude | position and a 2nd attitude | position.

以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。   Although the present invention has been described with reference to the embodiments, the present invention is not limited thereto. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications, improvements, combinations, and the like can be made.

20 定盤
21 移動機構
22 ステージ
22A ステージの画像
23 保持面
24 支持部材
30 ヘッドユニット
31 支持機構
33 撮像装置
35 インクジェットヘッド
36 ノズル孔
37 膜材料の液滴
40 吸引孔
40A 吸引孔の画像
40B スルーホールと重なる吸引孔
40C スルーホール51と重ならない吸引孔
41 位置決め構造
42 識別マーク
43 段差
45 吸引流路
46 吸引ポンプ
50 基板
51 スルーホール
52 配線パターン
53 グランドパターン
60 第1の栓部材
61 第2の栓部材
62 貫通孔
65 第1の箇所
66 第2の箇所
67 中継流路
68 埋込部材
70 制御装置
71 入力装置
72 出力装置
73 記憶装置
80 磁石
401 大径部
402 小径部
20 Surface plate 21 Moving mechanism 22 Stage 22A Stage image 23 Holding surface 24 Support member 30 Head unit 31 Support mechanism 33 Imaging device 35 Inkjet head 36 Nozzle hole 37 Film material droplet 40 Suction hole 40A Suction hole image 40B Through hole Suction hole 41 that overlaps with through hole 51 Suction hole 41 that does not overlap with through hole 51 Positioning structure 42 Identification mark 43 Step 45 Suction channel 46 Suction pump 50 Substrate 51 Through hole 52 Wiring pattern 53 Ground pattern 60 First plug member 61 Second plug Member 62 Through-hole 65 First location 66 Second location 67 Relay channel 68 Embedding member 70 Control device 71 Input device 72 Output device 73 Storage device 80 Magnet 401 Large diameter portion 402 Small diameter portion

Claims (7)

スルーホールが形成された基板を保持する保持面を有するステージと、
前記保持面に開口し、内部が負圧にされる複数の吸引孔と、
複数の前記吸引孔の各々の内部に着脱可能に詰め込まれ、前記吸引孔に詰め込まれた状態で前記吸引孔を塞ぐ第1の栓部材と
を有し、
前記吸引孔の内面は、前記第1の栓部材を支持する形状とされている基板処理装置。
A stage having a holding surface for holding a substrate on which a through hole is formed;
A plurality of suction holes that open to the holding surface and have negative pressure inside;
Removably packed inside each of the plurality of suction holes, and having a first plug member that closes the suction holes in a state packed in the suction holes,
The substrate processing apparatus, wherein an inner surface of the suction hole is configured to support the first plug member.
さらに、
制御装置と、
出力装置と
を有し、
前記制御装置は、
前記基板に形成されている前記スルーホールの位置データ、及び前記保持面内における前記吸引孔の位置データが格納される記憶装置を含み、
前記記憶装置に格納されている前記スルーホールの位置データ、及び前記吸引孔の位置データに基づいて、前記基板を前記保持面に保持した状態で、前記スルーホールと重なる前記吸引孔を抽出し、抽出された前記吸引孔を特定する情報を前記出力装置に出力する請求項1に記載の基板処理装置。
further,
A control device;
An output device,
The controller is
A storage device for storing position data of the through holes formed in the substrate and position data of the suction holes in the holding surface;
Based on the position data of the through hole stored in the storage device and the position data of the suction hole, the suction hole overlapping the through hole is extracted in a state where the substrate is held on the holding surface, The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein information specifying the extracted suction holes is output to the output device.
さらに、膜材料の液滴を、前記ステージに保持された前記基板に向けて吐出するインクジェットヘッドを有し、
前記制御装置は、前記インクジェットヘッドからの液滴の吐出を制御する請求項2に記載の基板処理装置。
Furthermore, it has an inkjet head for discharging droplets of a film material toward the substrate held on the stage,
The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the control device controls ejection of droplets from the inkjet head.
前記第1の栓部材は、永久磁石または強磁性材料を含む請求項1乃至3のいずれか1項に記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the first plug member includes a permanent magnet or a ferromagnetic material. さらに、
複数の前記吸引孔の各々の内部に着脱可能に詰め込まれ、前記吸引孔に詰め込まれた状態で前記吸引孔の流路断面を縮小する第2の栓部材を有する請求項1乃至4のいずれか1項に記載の基板処理装置。
further,
5. The device according to claim 1, further comprising: a second plug member that is detachably packed in each of the plurality of suction holes, and that reduces a cross-section of the flow path of the suction holes in a state of being packed in the suction holes. 2. The substrate processing apparatus according to item 1.
前記吸引孔の各々は、
前記保持面に開口する大径部と、
前記大径部の底面において前記大径部に連続し、前記大径部の流路断面よりも小さな流路断面を有する小径部と
を含み、
前記第1の栓部材の内部に、前記第1の栓部材の表面の第1の箇所から第2の箇所まで繋がる中継流路が形成されており、
前記第1の栓部材を第1の姿勢で前記大径部に詰め込むと、前記小径部が前記中継流路に繋がることにより、前記中継流路を介して前記基板が吸引され、
前記第1の栓部材を第2の姿勢で前記大径部に詰め込むと、前記第1の栓部材によって前記小径部が塞がれ、前記基板が吸引されない状態になる請求項1乃至4のいずれか1項に記載の基板処理装置。
Each of the suction holes is
A large diameter portion opening in the holding surface;
Including a small-diameter portion that is continuous with the large-diameter portion at the bottom surface of the large-diameter portion and has a smaller channel cross-section than the channel cross-section of the large-diameter portion,
Inside the first plug member, a relay channel that is connected from the first location to the second location on the surface of the first plug member is formed,
When the first plug member is packed into the large diameter portion in the first posture, the small diameter portion is connected to the relay flow path, whereby the substrate is sucked through the relay flow path,
5. The device according to claim 1, wherein when the first plug member is packed into the large-diameter portion in the second posture, the small-diameter portion is blocked by the first plug member, and the substrate is not sucked. The substrate processing apparatus according to claim 1.
前記第1の栓部材が永久磁石を含み、
磁力によって前記第1の姿勢から前記第2の姿勢に、または前記第2の姿勢から前記第1の姿勢に切り替わる請求項6に記載の基板処理装置。
The first plug member includes a permanent magnet;
The substrate processing apparatus according to claim 6, wherein the substrate processing apparatus is switched from the first posture to the second posture or from the second posture to the first posture by a magnetic force.
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