JP2016529645A - X線検出 - Google Patents
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Abstract
Description
a)X線管の焦点スポットからのX線放射を生成する段階であって、前記X線放射は主要部分および参照部分を含み、前記主要部分は前記参照部分とは相異なり、前記主要部分および前記参照部分は、基面(base plane)を基準に測られる、焦点スポットにおける頂点からの仰角である最小(αmin,MAIN、αmin,REF)および最大(αmax,MAIN、αmax,REF)取り出し角(take-off angle)の間にあり、前記X線放射は主要部分および参照部分を含み、前記参照部分と主要部分の最小取り出し角(αmin,MAIN、αmin,REF)は互いに等しく、前記参照部分と主要部分の最大取り出し角は互いに等しい(αmax,MAIN、αmax,REF)、段階と;
b)参照フィルタを使って前記参照部分をフィルタリングする段階と;
c)前記参照部分を検出する段階と;
d)前記参照部分の特性を表わす参照信号を出力する段階と;
e)補正信号を計算する段階と;
f)前記補正信号を出力する段階とを含む。
・回転陽極上の焦点スポットに当たるよう陰極から電子を放出することによってX線放射を生成する段階。前記X線放射は主要部分および参照部分を含み、前記主要部分は前記参照部分とは相異なり、前記主要部分および前記参照部分は、基面(base plane)を基準に測られる、焦点スポットにおける頂点からの仰角である最小(αmin,MAIN、αmin,REF)および最大(αmax,MAIN、αmax,REF)取り出し角(take-off angle)の間にある。前記参照部分と主要部分の最小および最大取り出し角は互いに等しい。
・本方法は、次いで、参照フィルタを使って前記参照部分をフィルタリングする段階304を含む。
・次いで、前記参照部分を検出する段階306がある。
・本方法は次いで、前記参照部分の特性を表わす参照信号を出力する段階308を含む。
・次いで、本方法は、前記参照信号から信号を計算する段階310を含む。
・最後に、本方法は、前記信号を出力する段階312を含む。
Claims (18)
- 信号を提供するよう動作可能なX線管収容アセンブリーであって、当該X線管収容アセンブリーは:
・焦点スポットからのX線放射を生成するX線管と;
・参照フィルタと;
参照検出器と;
・コントローラとを有しており、
前記X線放射は、主要部分および参照部分を含み、前記主要部分は前記参照部分とは相異なり、
前記主要部分および前記参照部分は、基面を基準に測られる、前記焦点スポットにある頂点からの仰角である最小および最大取り出し角の間にあり、
前記参照部分および前記主要部分の最小取り出し角は互いに等しく、前記参照部分および前記主要部分の最大取り出し角は互いに等しく、
前記参照フィルタは、前記参照検出器による前記参照部分の検出の前に前記参照部分をフィルタリングするよう構成され、
前記参照検出器は、前記参照部分を検出して参照信号を与えるよう構成され、
前記コントローラは、前記参照信号に基づいて信号を計算するよう構成されている、
X線管収容アセンブリー。 - 当該X線管収容アセンブリーが、参照X線窓および主要X線窓をもつX線収容部(132)を有しており、それにより、動作においては、前記参照X線窓が参照ビームを提供し、前記主要X線窓が主要ビームを提供する、請求項1記載のX線管収容アセンブリー(132)。
- 当該X線管収容アセンブリーは、X線を前記参照ビームと前記主要ビームに分離するよう、回転陽極X線管内部に配置されたX線に対して不透明なオブジェクトを有する、請求項1または2記載のX線管収容アセンブリー。
- 当該X線管収容アセンブリーがさらに、前記参照検出器と前記参照フィルタとの中間に配置された減衰器を有する、請求項1ないし3のうちいずれか一項記載のX線管収容アセンブリー。
- 前記参照フィルタは曝露と曝露の間に交換されることができる、請求項1ないし4のうちいずれか一項記載のX線管収容アセンブリー。
- 前記参照検出器と前記減衰器の中間に位置され、前記焦点スポットに焦点を合わされた散乱防止グリッドを有する、請求項4または5記載のX線管収容アセンブリー。
- X線ブロッカーをさらに有しており、前記X線ブロッカーは空間解像スリットをもち、よって前記参照検出器と一緒になって強度分布の端から前記焦点スポットの位置を検出する一次元焦点スポット・スリット・カメラを形成するよう構成される、請求項1ないし6のうちいずれか一項記載のX線管収容アセンブリー。
- 前記参照検出器の前面に配置されて空間解像ストライプを形成する不透明なワイヤをさらに有しており、該空間解像ストライプは、よって前記参照検出器と一緒になって強度分布のパターンから前記焦点スポットの位置を検出するよう構成される、請求項1ないし7のうちいずれか一項記載のX線管収容アセンブリー。
- 二つの空間解像スリットが直交に位置されて、二次元焦点スポット・スリット・カメラを形成し、該カメラは、動作において、測定された参照ビームのパターンから前記焦点スポットの位置を検出するよう構成される、請求項7または8記載のX線管収容アセンブリー。
- 前記参照フィルタが異なるフィルタ値をもつ複数のフィルタを有しており、前記一次元または二次元の焦点スポット・スリット・カメラは、異なる減衰器値をもつさらなる複数の減衰器を有しており、それにより、前記スリット・カメラの前記参照検出器は減衰器およびフィルタの複数の組み合わせの背後で前記参照ビームを検出する、請求項7ないし9のうちいずれか一項記載のX線管収容アセンブリー。
- 前記フィルタおよび前記さらなる減衰器の諸組み合わせが前記参照ビームの全体をカバーする、請求項10記載のX線管収容アセンブリー。
- 複数の一次元または二次元の焦点スポット・スリット・カメラが設けられ、一緒になってマルチ・スリット焦点スポット・カメラをなし、前記複数の一次元または二次元の焦点スポット・スリット・カメラのスリットのうち少なくとも第一および第二のスリットが、前記参照検出器のピクセル境界に対してオフセットされている、請求項7ないし11のうちいずれか一項記載音X線管収容アセンブリー。
- 前記コントローラは、少なくとも一つの参照検出器の少なくとも一つの出力から:スペクトル変動性、管電圧、前記焦点スポットの位置、前記焦点スポットのサイズ、前記焦点スポットの強度、管電流、管加齢、動的陽極回転不安定性、周期的陽極回転不安定性、前記焦点スポットの位置もしくは形状の磁気歪みおよび前記焦点スポットの形状もしくは位置の重力歪みからなる群からの少なくとも一つのパラメータを計算するよう構成されている、請求項1ないし12のうちいずれか一項記載のX線管収容アセンブリー。
- 前記参照フィルタおよび前記参照検出器が前記回転陽極X線管の容器内に配置される、請求項1記載のX線管収容アセンブリー。
- 複数の参照ビームが提供され、前記複数の参照ビームのそれぞれは参照検出器に関連付けられ、当該管収容アセンブリーは、動作において、前記複数の参照ビームからの信号を選択するまたは組み合わせるよう構成されている、請求項1ないし14のうちいずれか一項記載のX線管収容アセンブリー。
- ・X線管収容アセンブリーと;
・変更可能なオブジェクト前のX線フィルタと;
・オブジェクト後の検出器と;
・処理ユニットとをもつX線撮像システムであって、
前記X線管収容アセンブリーは、請求項1ないし15のうちいずれか一項記載のX線管収容アセンブリーであり、
前記オブジェクト前のX線フィルタは、前記X線管収容アセンブリーにおける少なくとも一つの参照フィルタ値にマッチし、
前記オブジェクト後の検出器は、前記X線管収容アセンブリー内の前記参照検出器と同じ型であり、
前記処理ユニットは、前記X線管収容アセンブリーから前記補正信号を受領し、該補正信号を前記オブジェクト後の検出器からのデータを補正するために使う、
X線撮像システム。 - 前記オブジェクト前のX線フィルタは、前記X線管収容アセンブリー内の前記少なくとも一つの参照フィルタとは異なる、請求項15記載のX線撮像システム。
- X線管収容アセンブリーのX線放出特性の変化を表わす信号を決定する方法であって:
a)X線管の焦点スポットからのX線放射を生成する段階であって、前記X線放射は主要部分および参照部分を含み、前記主要部分は前記参照部分とは相異なり、前記主要部分および前記参照部分は、基面を基準に測られる、前記焦点スポットにある頂点からの仰角である最小および最大取り出し角の間にあり、前記X線放射は主要部分および参照部分を含み、前記参照部分と主要部分の最小取り出し角は互いに等しく、前記参照部分と主要部分の最大取り出し角は互いに等しい、段階と;
b)参照フィルタを使って前記参照部分をフィルタリングする段階と;
c)前記参照部分を検出する段階と;
d)前記参照部分の特性を表わす参照信号を出力する段階と;
e)信号を計算する段階と;
f)前記信号を出力する段階とを含む、
方法。
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