JP2016512776A - X線画像における構造のコンピュータ援用検出のための方法およびx線システム - Google Patents
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Abstract
Description
Lij(h,g,tij(t1,t2,t3,α)|yij) 式(1)。
Lij(hij(h0,gx,gy),g,tij(t1,t2,t3,α)|yij) 式(2)。
hij(h0,gx,gy)=h0+igx+jgy 式(3)。
Lij(hij(h0,gx,gy),g(x,y),tij(t1,t2,t3,α)|yij) 式(4)。
52 X線検出器
54 オブジェクト
56 X線放射
58 圧迫板
60 マイクロプロセッサ
62 ディスプレイ
64 圧迫板傾斜
66a、b 入力装置
70 構造のコンピュータ援用検出のための方法
72 スペクトル画像情報の取得
74 関心対象となる組織構造の検出
80 構造のコンピュータ援用検出のための方法
82 少なくとも二つのX線画像の取得
84 少なくとも一つのさらなるX線画像の決定
86 前記少なくとも一つのさらなるX線画像の評価
90 構造のコンピュータ援用検出のための方法
92 複数のさらなるX線画像の決定
94 前記複数のさらなるX線画像の評価
96 少なくとも一つのさらなるX線画像を決定
Claims (17)
- X線画像における構造のコンピュータ援用検出のための方法であって、
オブジェクトのスペクトルX線画像情報を取得する段階であって、前記スペクトルX線画像情報は少なくとも一つのX線画像をなす、段階と、
コンピュータ援用検出アルゴリズムを用いることによって前記X線画像中の関心対象となる組織構造を検出する段階とを含み、
前記X線画像中の関心対象となる組織構造を検出する段階は、前記コンピュータ援用検出アルゴリズムが組織構造形状について前記X線画像を評価し、前記組織構造形状を複数のあらかじめ決定された組織構造形状と比較するよう適応されていることを含み、
前記コンピュータ援用検出アルゴリズムは、関心対象となる前記組織構造を検出するために、前記X線画像のスペクトル情報を評価するよう適応されている、
方法。 - 少なくとも二つの異なるX線エネルギーに対応する少なくとも二つのX線画像を取得する段階と、
前記少なくとも二つのX線画像から少なくとも一つのさらなるX線画像を決定する段階であって、前記少なくとも一つのさらなるX線画像は、定義されたエネルギー依存の重み付けを有するX線画像である、段階と、
前記組織構造形状を検出するために前記少なくとも一つのさらなるX線画像を評価する段階とをさらに含む、
請求項1記載の方法。 - 前記スペクトルX線画像情報は、個々のX線エネルギーをもつ少なくとも二つのX線画像に分離可能である、請求項1または2記載の方法。
- 複数のさらなるX線画像を決定する段階であって、各さらなるX線画像は定義された個々のエネルギー依存の重み付けを有する、段階と、
前記組織構造形状を検出するために前記複数のさらなるX線画像を評価する段階と、
前記複数のさらなるX線画像から少なくとも一つのX線画像を、ある組織構造形状の可視性を最適化または最小化することによって、決定する段階とをさらに含む、
請求項2ないし4のうちいずれか一項記載の方法。 - 前記複数のさらなるX線画像から少なくとも一つのX線画像を、ある組織構造形状の可視性を最適化または最小化することによって、決定する段階が、前記少なくとも一つのX線画像の関連付けられたエネルギー依存の重み付けを決定することを含む、請求項5記載の方法。
- 決定された前記関連付けられたエネルギー依存の重み付けは、関心対象となるある組織構造のエネルギー依存の可視性を用いることによって、関心対象となる前記組織構造を検出するために用いられる、請求項6記載の方法。
- 前記エネルギー依存の重み付けが、実質的に単一エネルギーの重み付け、帯域通過重み付け、低域通過重み付け、高域通過重み付けおよびノッチ重み付けのうちの一つである、請求項2ないし7のうちいずれか一項記載の方法。
- オブジェクトのスペクトルX線画像情報を取得する段階およびコンピュータ援用検出アルゴリズムを用いることによって前記X線画像中の関心対象となる組織構造を検出する段階が、X線画像に対して第一にコンピュータ援用検出アルゴリズムを、第二にスペクトル評価を実行すること、X線画像に対して第一にスペクトル評価を、第二にコンピュータ援用検出アルゴリズムを実行すること、およびX線画像に対して組み合わされたスペクトル・コンピュータ援用検出アルゴリズムを実行することのうちの一つを含む、請求項1ないし8のうちいずれか一項記載の方法。
- マンモグラフィー・システムにおける使用のための請求項1ないし9のうちいずれか一項記載の方法であって、オブジェクトのスペクトルX線画像情報を取得する段階がさらに、
前記X線画像中の関心対象となる組織構造を検出する前に、組織高さ勾配または組織物質勾配の少なくとも一方について補償することを含む、
方法。 - 前記補償が、
Lij(hij(h0,gx,gy),g(x,y),tij(t1,t2,t3,α)|yij)
を用いる、請求項10記載の方法。 - 請求項1ないし11のうちいずれか一項記載の方法を実行するよう適応されている処理要素を有するX線システム、特にマンモグラフィー・システム。
- スペクトル光子計数システムとして適応されている、請求項12記載のX線システム。
- 請求項1ないし11のうちいずれか一項記載の方法を実行するよう適応されたコンピュータ・プログラムが記憶されているコンピュータ可読媒体。
- 実行されたときに請求項12または13記載のシステムを制御して請求項1ないし11のうちいずれか一項記載の方法を実行させるよう適応されているプログラム要素。
- 請求項12または13記載のシステムを制御して請求項1ないし11のうちいずれか一項記載の方法を実行させるためのコンピュータ・プログラムを実行する処理要素。
- 請求項12または13記載のシステムを動作させるための請求項1ないし11のうちいずれか一項記載の方法の使用。
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