JP2016503226A - 最適化された磁気分路を備えた質量分析器 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (8)
- 質量分析器(200)であって、
イオン源(210)と、
静電気セクタ(240)と、
前記静電気セクタの下流に配置された、前記イオン源を起源とするイオンを、それらの質量対電荷比に応じて分離するための非スキャニング型磁気セクタ(220)と、
検出手段(230、232)と、
前記静電気セクタの下流で、かつ前記磁気セクタの上流に配置された磁気分路(250)とを備え、
前記磁気分路は、前記磁気セクタのフリンジ磁界が不均一になるように、前記磁気セクタのイオン入口面(222)に対してある角度で配置されることを特徴とする質量分析計。 - 請求項1に記載の質量分析器であって、
前記磁気分路(250)が、前記静電気セクタ(240)の出口面(241)と平行に配置されていることを特徴とする質量分析器。 - 請求項1または2に記載の質量分析器であって、
前記静電気セクタ(240)が、その出口面(241)が、前記磁気セクタ(220)の前記入口面(222)に垂直な方向に対して90度未満の角度をなすように配置されていることを特徴とする質量分析器。 - 請求項1〜3のいずれかに記載の質量分析器であって、
前記静電気セクタ(240)が、その出口面(241)が、前記磁気セクタ(220)の前記入口面(222)に垂直な方向に対して概ね38度の角度をなすように配置されていることを特徴とする質量分析器。 - 請求項1〜4のいずれかに記載の質量分析器であって、
前記磁気分路(250)が、鉄製であることを特徴とする質量分析器。 - 請求項1〜5のいずれかに記載の質量分析器であって、
前記磁気分路(250)が、前記イオン源(210)を起源とするイオンビームの通路のために適合された開口を含むことを特徴とする質量分析計。 - 請求項1〜6のいずれかに記載の質量分析器であって、
真空の筐体を更に含むことを特徴とする質量分析器。 - 請求項1〜7のいずれかに記載の質量分析器であって、
サンプル入口を更に含むことを特徴とする質量分析器。
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---|---|---|---|---|
JP2019509584A (ja) * | 2016-02-08 | 2019-04-04 | ルクセンブルク インスティトゥート オブ サイエンス アンド テクノロジー(リスト) | 質量分析計のための浮遊磁石 |
JP2019509585A (ja) * | 2016-02-19 | 2019-04-04 | ルクセンブルク インスティトゥート オブ サイエンス アンド テクノロジー(リスト) | 質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム |
JP2020507883A (ja) * | 2016-12-19 | 2020-03-12 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・カナダ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences Canada, Inc. | 無機および有機質量分析法システムおよびその使用方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1400532A (en) * | 1972-09-01 | 1975-07-16 | Du Pont | Magnetic mass spectrometer |
JPS54153296U (ja) * | 1978-04-14 | 1979-10-24 | ||
JPH02270256A (ja) * | 1989-04-11 | 1990-11-05 | Jeol Ltd | 同時検出型質量分析装置 |
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Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3337728A (en) * | 1964-10-09 | 1967-08-22 | Friedman Lewis | Mass spectrograph ion source wherein a pulsed arc is produced by vibrating one electrode |
US4472631A (en) * | 1982-06-04 | 1984-09-18 | Research Corporation | Combination of time resolution and mass dispersive techniques in mass spectrometry |
US5389793A (en) * | 1983-08-15 | 1995-02-14 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and methods for ion implantation |
FR2558988B1 (fr) * | 1984-01-27 | 1987-08-28 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Spectrometre de masse, a grande clarte, et capable de detection multiple simultanee |
US5317151A (en) | 1992-10-30 | 1994-05-31 | Sinha Mahadeva P | Miniaturized lightweight magnetic sector for a field-portable mass spectrometer |
US6979818B2 (en) * | 2003-07-03 | 2005-12-27 | Oi Corporation | Mass spectrometer for both positive and negative particle detection |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1400532A (en) * | 1972-09-01 | 1975-07-16 | Du Pont | Magnetic mass spectrometer |
JPS54153296U (ja) * | 1978-04-14 | 1979-10-24 | ||
JPH02270256A (ja) * | 1989-04-11 | 1990-11-05 | Jeol Ltd | 同時検出型質量分析装置 |
JPH0765784A (ja) * | 1993-08-24 | 1995-03-10 | Jeol Ltd | 質量分析装置の磁場部 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019509584A (ja) * | 2016-02-08 | 2019-04-04 | ルクセンブルク インスティトゥート オブ サイエンス アンド テクノロジー(リスト) | 質量分析計のための浮遊磁石 |
JP2019509585A (ja) * | 2016-02-19 | 2019-04-04 | ルクセンブルク インスティトゥート オブ サイエンス アンド テクノロジー(リスト) | 質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム |
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JP2020507883A (ja) * | 2016-12-19 | 2020-03-12 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・カナダ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences Canada, Inc. | 無機および有機質量分析法システムおよびその使用方法 |
US11056327B2 (en) | 2016-12-19 | 2021-07-06 | Perkinelmer Health Sciences Canada, Inc. | Inorganic and organic mass spectrometry systems and methods of using them |
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