JP2016212151A - 光変調器の駆動電圧設定方法及び駆動電圧を設定した光変調器 - Google Patents

光変調器の駆動電圧設定方法及び駆動電圧を設定した光変調器 Download PDF

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Abstract

【課題】変調振幅電圧の振幅が変動している場合にも光電力の損失変動を小さくして、光電力の損失を最小にする半導体光位相変調器の駆動電圧導出法を提供する。【解決手段】本発明は、基板上の半導体をコアにもつ2本のアーム導波路と、2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相変調電極であって、それぞれには、同じ値のバイアス電圧と、互いに逆相となる交流成分とを持つ変調振幅電圧とが合成された変調電圧が印加される位相変調電極とを備える光変調器における駆動電圧導出方法であって、変調振幅電圧の振幅を基準の値に設定するステップと、基準の値に所望の値を増減させた値及び増減させた値における光電力の損失差を求めるステップと、バイアス電圧を変動させながら損失の差の絶対値を算出し、損失差が最小になるバイアス電圧の値を導出するステップと、位相変調電極に印加する変調電圧のバイアス電圧を、導出したバイアス電圧の値に設定するステップとを備える。【選択図】図4

Description

本発明は、光変調器の駆動電圧設定方法及び駆動電圧を設定した光変調器に関し、より詳細には、InP系化合物半導体からなる光導波路を用いたIQ光変調器の位相変調電極に印加される変調電圧を調整して、光電力の損失を減少させるように駆動電圧を設定する方法及び光変調器に関する。
大容量光通信向けの光変調器として、InP系化合物半導体からなる光導波路を用いたIQ光変調器が盛んに研究開発されている(例えば非特許文献1)。図1は、一般的なIQ光変調器の構成を示す上面図である。図1のIQ光変調器100は、2つの子マッハツェンダ干渉計(Mach−Zehnder Interferometer:MZI)をアーム導波路にとして有する親MZIとして構成される。具体的には、IQ光変調器100は、入力導波路101と、入力導波路101に入力が接続された1×2多モード干渉計(Multimode Interferometer:MMI)102と、1×2MMI102の出力にそれぞれ光導波路103及び104を介して接続された子MZI110及び120とを備える。また、IQ光変調器100は、子MZI110及び120のそれぞれの出力に光導波路105及び106を介して入力が接続された2×2MMI107と、2×2MMI107の出力に接続された出力導波路108および109とを備える。2つの子MZIは、一方がIチャネル用MZI110であり、他方がQチャネル用MZI120である。
Iチャネル用MZI110は、入力に接続された1×2MMI111と、1×2MMI111のそれぞれの出力に接続されたアーム導波路112及び113と、アーム導波路112及び113のそれぞれの出力に接続された2×1MMI114とを備える。Qチャネル用MZI120は、入力に接続された1×2MMI121と、1×2MMI121のそれぞれの出力に接続されたアーム導波路122及び123と、アーム導波路122及び123のそれぞれの出力に接続された2×1MMI124とを備える。アーム導波路112の上面には位相変調電極115及び位相調整電極117が、アーム導波路113の上面には位相変調電極116及び位相調整電極118が形成されている。また、アーム導波路122の上面には位相変調電極125及び位相調整電極127が、アーム導波路123の上面には位相変調電極126及び位相調整電極128が形成されている。導波路105及び106の上面には、それぞれπ/2位相調整電極131及び132が形成される。
次に、InP系化合物半導体からなるIQ光変調器の動作原理を説明する。アーム導波路112の上面に形成された位相変調電極115及び位相調整電極117は、アーム導波路112の光導波層へ電界を印加する。アーム導波路113の上面に形成された位相変調電極116及び位相調整電極118、アーム導波路122の上面に形成された位相変調電極125及び位相調整電極127、並びにアーム導波路123の上面に形成された位相変調電極126及び位相調整電極128も、それぞれアーム導波路113、122及び123の光導波層へ電界を印加する。位相変調電極115及び116、並びに位相調整電極117及び118に電圧を与えることによって、ポッケルス効果および量子閉じ込めシュタルク効果(QCSE)を介して、アーム導波路内の屈折率が変化する。アーム導波路内の屈折率の変化を用いて、Iチャネル用MZI110及びQチャネル用MZI120から、それぞれ0とπの位相状態を生成する。IQ光変調器100の後段の2×2MMI107は、Iチャネル用MZI110及びQチャネル用MZI120において生成した二つの位相状態(0及びπ)を直交状態で合成する。具体的には、一方の光信号に90度の位相差をあたえて合成することによって、4つの位相状態(0、π/2、π及び3π/2)を生成することができる。
アーム導波路112の上面に形成された位相変調電極115及びアーム導波路113の上面に形成された位相変調電極116は、高周波の電圧を与えるための電極である。位相変調電極115及び116には、位相変調を行うための変調振幅電圧(交流成分)と、変調振幅電圧を減少するためのバイアス電圧(直流電圧)が合成された変調電圧が与えられており、位相変調電極115及び116それぞれに与えられる変調振幅電圧は互いに逆相となっている。一方、アーム導波路112の上面に形成された位相調整電極117及びアーム導波路113の上面に形成された位相調整電極118は、位相調整を行うための直流電圧を与えるための電極である。位相調整電極117及び118は、電圧無印加時に損失が最小となるように(Null点)、いずれか一方の位相調整電極に直流電圧を印加している。
ここで、Iチャネル用MZI110へ入力する光信号の電界成分をEinとし、出力光信号の電界成分をEoutとし、MZIの光出力方程式を使用してこれらの値を算出する。Ein及びEoutは、MZIの光出力方程式により、
と表される。ここで、MMIinは1×2MMIの伝達マトリクス、MMIoutは2×1MMIの伝達マトリクス、Armはアーム導波路の伝達マトリクスであり、それぞれ、
で表される。ここで、θは結合器の結合角度(ラジアン)、φrf(Vup)は位相変調電極115にVupの電圧を印加した際の位相変化量を示し、
は位相調整電極117による位相変化量を示し、φrf(Vdn)は位相変調電極116にVdnの電圧を印加した際の位相変化量を示し、
は位相調整電極118による位相変化量を示し、βrf(Vup)は位相変調電極115にVupの電圧を印加した際の吸収係数を示し、
は位相調整電極117による吸収係数を示し、βrf(Vdn)は位相変調電極116にVdnの電圧を印加した際の吸収係数を示し、
は位相調整電極118による吸収係数を示す。MZIの干渉条件が同相となるとき、損失は最小となりNull点となるので、位相調整電極117及び118の位相変化量は、
もしくは、
とすればよい。また、変調電圧は、バイアス電圧(直流成分)と変調振幅電圧(交流成分)を合成した電圧であり、各位相変調電極に印加される変調振幅電圧はそれぞれ逆相となるため、
up=Vb+ΔV (7)
dn=Vb−ΔV (8)
となる。ここで、Vbがバイアス電圧、ΔVが変調振幅電圧を示す。
次に、光電力(Iout)を算出する。光電力は、電界(Eout)と複素共役との積であり、式(4)、式(5)、式(7)、式(8)を用いれば、光電力が計算できる。以下では、説明のため光電力を簡略化して説明する。値はわずかに変わるが、半導体光変調器の動作原理を説明するのに支障はない。
一般的に、InP系化合物半導体からなる光導波路を用いたIQ光変調器のバイアス電圧(Vb)は5〜20V、変調振幅電圧の振幅(変調振幅電圧の絶対値の最大値)が1V程度であり、変調振幅電圧による吸収損失の変化が無視できると仮定すれば、
となる。また、位相変調電極に比べ位相調整電極による吸収損失がはるかに小さいことを仮定すれば、
が成立する。さらに、1×2MMIの結合率を理想的に50%として仮定すれば、θ=π/4となる。以上を用いて、式(1)〜(4)を整理すると、
が得られる。式(12)の位相変化量φおよび吸収係数βは電圧(V)によって変化し、下式で表すことができる(非特許文献2参照)。
ここで、Vは電圧、φrf(V)の単位はラジアン、α(V)の単位はデシベル(dB)である。また、p1、p2、a1、a2は、エピタキシャルウエハの層構造、電圧印加領域の導波路構造に依存し、実験的に決定されるパラメータである。ここで、Vb>>ΔV、式(7)、(13)より、
となる。ここで、φ(Vb)はバイアス電圧(直流電圧)による直流成分の位相変化量であり、Δφrfは交流電圧によって高速に位相変化するものある。同様に、Vb>>ΔV、(8)、(13)より、
となる。式(12)、(16)、(17)より、
が得られる。出力される光の電界(Eout)の位相成分は偏角に等しく、0<Δφrf<π/2で位相は、
となり、−π/2<Δφrf<0で位相
となる。つまり、変調振幅電圧(ΔV)を変えることによって、出力される光電界(Eout)はπの位相変化が得られ、MZIを用いて位相変調することができる。ここで、二本のアーム導波路間における位相差の絶対値(|2Δφrf|)がとなる、二本のアーム導波路の電圧差の絶対値(|2ΔV|)を、Vπ電圧と定義する。
R. A. Griffin et al., "InP Mach-Zehnder Modulator Platform for 10/40/100/200-Gb/s Operation", J. of selected topics in quantum electronics, Vol.19, No. 6, Nov. 2013. I. Betty et al., "An empirical model for high yield manufacturing of 10Gb/s negative chirp InP Mach-Zehnder modulators", in proc., OFC’2005, OWE5, Anaheim, California.
IQ光変調器等の半導体光変調器を駆動するための電圧は、位相変調電極に印加されるバイアス電圧、変調振幅電圧、そして、位相調整電極に印加される調整電圧の3種類がある。IQ光変調器から出力される光電力の損失を最小にするためには、この、バイアス電圧、変調振幅電圧、及び調整電圧の駆動電圧をそれぞれ調整しなければならない。調整電圧は、電圧無印加時に損失が最小となるように、いずれか一方の位相調整電極に直流電圧を印加することにより調整することは上述した。一方で、ここで、バイアス電圧及び変調振幅電圧については、位相変調電極に印加される変調振幅電圧の振幅を一定値に固定し、バイアス電圧を変化させて、Iチャネル(Qチャネル)MZIからの光電力が最大(つまり光電力の損失が最小)となるように調整する手法が一般的に使用される(損失最小化法)。しかし、損失最小化法を使用して導出したバイアス電圧及び変調振幅電圧により駆動電圧を調整した場合、変調振幅電圧の振幅が微小量だけ変動すると、光電力の損失についても変動してしまう。そのため、光電力の損失が最小とすることができないという問題が生じる。この問題について数式を用いて説明する。
MZIからの出力の光電界(Eout)は、式(17)、(18)より、
である。光電力(Iout)は、電界と複素共役との積であり、さらに、IoutをdB表記にすると、
となる。式(20)より、光電力(Iout)は、バイアス電圧(Vb)と変調振幅電圧(ΔV)により求めことができる。損失最小化法においては、変調振幅電圧の振幅ΔVを一定にして、Ioutの損失最小となるバイアス電圧Vbを設定することにより、最適なバイアス電圧Vbを決定していたが、この方法によれば、決定したVbを代入した上で変調振幅電圧の振幅ΔVを変動させると、光電力の損失も変動してしまう。以下、その様子を図において示す。
図2は、変調振幅電圧(ΔV)の振幅を一定とした場合の損失のバイアス電圧(Vb)依存性を示す図である。図3は、図2において損失が最小のときのバイアス電圧(Vb)における変調振幅電圧(ΔV)の光電圧(Iout)依存性である。たとえば、波長を1550nm、変調振幅電圧の振幅ΔV=1Vとして固定して、損失のバイアス電圧(Vb)依存性を調べる。ΔV=1Vと固定した場合には、損失は、バイアス電圧Vb=9Vの時に最小となり、この値(9V)を最適なバイアス電圧と決定していた。このとき、図3において、バイアス電圧Vb=9Vとして、変調振幅電圧(ΔV)の光電圧(Iout)依存性を調べる。バイアス電圧Vb=9Vとしたときには、図2において固定した変調振幅電圧ΔVにおいて、損失は極小値になっていない。つまり、バイアス電圧の最適値を用いるために固定した変調振幅電圧(ΔV)に対して、損失は最小とはならず、また、二本のアーム導波路の電圧の差の絶対値(|2ΔV|)もVπ電圧とはなっていない。
その結果、変調振幅電圧の振幅が変動すると、光電力の損失にも変動が生じてしまい、光電力の損失が最小とならないという問題があり、位相変調時の信号品質を劣化させる。
本発明は、このような問題に対処するために、変調振幅電圧の振幅が変動している場合にも光電力の損失変動を小さくして、光電力の損失を最小にする半導体光位相変調器の駆動電圧導出法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の第1の態様は、基板上の半導体をコアにもつ2本のアーム導波路と、前記2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相変調電極であって、それぞれには、同じ値のバイアス電圧と、互いに逆相となる交流成分とを持つ変調振幅電圧とが合成された変調電圧が印加される位相変調電極とを備える光変調器における駆動電圧設定方法であって、前記変調振幅電圧の振幅を基準の値に設定するステップと、前記基準の値に所望の値を増加させた値及び減少させた値における光電力の損失差を求めるステップと、前記バイアス電圧を変動させながらさらに前記損失差を求め、前記損失差が最小になるバイアス電圧の値を導出するステップと、前記位相変調電極に印加する前記バイアス電圧を、前記損失差が最小になるバイアス電圧の値に設定するステップとを備えることを特徴とする。
また、本発明の第2の態様は、第1の態様の光変調器の駆動設定導出方法であって、前記変調振幅電圧の振幅を前記基準の値に設定するステップは、前記基準の値における光電力の損失が最小となるように、前記バイアス電圧を仮決めするステップを備え、前記光電力の損失差を求めるステップは、前記仮決めしたバイアス電圧において、前記基準の値を所望の値だけ増加させて光電力の損失を算出するステップと、前記仮決めしたバイアス電圧において、前記基準の値から所望の値だけ減少させて光電力の損失を算出するステップと、前記基準の値を所望の値だけ増加させて算出した光電力の損失と、前記基準の値から所望の値だけ減少させて算出した光電力の損失との差の絶対値を求めて前記光電力の損失差とするステップとを備え、前記損失差が最小になるバイアス電圧の値を導出するステップは、前記バイアス電圧を一定値変動させ、前記光電力の損失差を求めるステップを繰り返すことを含むことを特徴とする。
また、本発明の第3の態様は、第1又は第2の態様の光変調器の駆動電圧設定方法であって、前記光変調器は、前記2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相調整電極であって、電圧無印加時に損失が最小となるように、いずれか一方に直流電圧が印加される位相調整電極をさらに備えることを特徴とする。
また、本発明の第4の態様は、基板上の半導体をコアにもつ2本のアーム導波路と、前記2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相変調電極であって、それぞれには、同じ値のバイアス電圧と、互いに逆相となる交流成分とを持つ変調振幅電圧とが合成された変調電圧が印加される位相変調電極とを備える光変調器であって、前記バイアス電圧は、前記変調振幅電圧の振幅の基準の値に所望の値を増加させた値と減少させた値とにおける光電力の損失差が最小になるように設定されていることを特徴とする。
また、本発明の第5の態様は、第4の態様の光変調器であって、前記基準の値における損失が最小となるように、前記バイアス電圧を仮決めして前記基準の値を求め、前記仮決めしたバイアス電圧において、前記基準の値を所望の値だけ増加させて光電力の損失を算出し、前記仮決めしたバイアス電圧において、前記基準の値から所望の値だけ減少させて光電力の損失を算出し、前記基準の値を所望の値だけ増加させて算出した光電力の損失と、前記基準の値から所望の値だけ減少させて算出した光電力の損失との差の絶対値を求めて損失差とし、
前記バイアス電圧を一定値変動させ、前記光電力の損失差を求めるステップを繰り返して前記損失差が最小になるバイアス電圧の値を導出することを特徴とする。
また、本発明の第6の態様は、第4又は第5の態様の光変調器であって、前記2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相調整電極であって、電圧無印加時に損失が最小となるように、いずれか一方に直流電圧が印加される位相調整電極をさらに備えることを特徴とする。
本発明によれば、IQ光変調器の位相変調電極に印加される変調振幅電圧の振幅が変動している場合に、光電力の損失変動を小さくして、光電力の損失を最小にすることが可能となる。
一般的なIQ光変調器の構成を示す上面図である。 変調振幅電圧の振幅を一定とした場合の光電力の損失のバイアス電圧依存性を示す図である。 図2において損失が最小のときのバイアス電圧における変調振幅電圧の光電力の損失依存性を示す図である。 本発明の1実施形態にかかるIQ光変調器の構成を示す上面図である。 図1のIQ光変調器のA−A´部分における光導波路の断面図を示す。 図1のIQ光変調器のB−B´部分における光導波路の断面図を示す。 本実施形態の駆動電圧設定法におけるバイアス電圧導出法のフローを示す図である。 本発明の1実施例における、変調振幅電圧の振幅を基準値から一定範囲だけ変化させた場合の光電力の損失差のバイアス電圧依存性を示す図である。 図8において損失差が最小のときのバイアス電圧における変調振幅電圧の光電力の損失依存性である。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳細に説明する。
[IQ光変調器の構成]
図4は、本発明の1実施形態にかかるIQ光変調器の構成を示す上面図である。図4のIQ光変調器400は、InP系化合物半導体からなる光導波路を用いたIQ光変調器であり、2つの子MZIをアーム導波路として有する親MZIとして構成される。具体的には、IQ光変調器400は、入力導波路401と、入力導波路401に入力が接続された1×2MMI402と、1×2MMI402の出力にそれぞれ光導波路403及び404を介して接続された子MZI410及び420とを備える。また、IQ光変調器400は、子MZI410及び420のそれぞれの出力に光導波路405及び406を介して入力が接続された2×2MMI407と、2×2MMI407の出力に接続された出力導波路408および409とを備える。2つの子MZIは、一方がIチャネル用MZI410であり、他方がQチャネル用MZI420である。
Iチャネル用MZI410は、入力に接続された1×2MMI411と、1×2MMI411のそれぞれの出力に接続されたアーム導波路412及び413と、アーム導波路412及び413のそれぞれの出力に接続された2×1MMI414とを備える。Qチャネル用MZI420は、入力に接続された1×2MMI421と、1×2MMI421のそれぞれの出力に接続されたアーム導波路422及び423と、アーム導波路422及び423のそれぞれの出力に接続された2×1MMI424とを備える。アーム導波路412の上面には位相変調電極415及び位相調整電極417が、アーム導波路413の上面には位相変調電極416及び位相調整電極418が形成されている。また、アーム導波路422の上面には位相変調電極425及び位相調整電極427が、アーム導波路423の上面には位相変調電極426及び位相調整電極428が形成されている。導波路405及び406の上面には、それぞれπ/2位相調整電極431及び432が形成される。
[IQ光変調器の断面構造]
図5は、図1のIQ光変調器400のA−A´部分における光導波路の断面図を示す。光導波路のA−A´部分は、位相変調電極による電界印加領域である。IQ光変調器400は、反絶縁性(SI)−InP基板501上に、n型InP下部クラッド層502、ノンドープInPクラッド層503、多重量子井戸層(MQWコア層)504、ノンドープInPクラッド層505、p型InAlAs層506、n型InP上部クラッド層507を積層したものである。導波構造は、コアの両脇をエッチングにより除去したハイメサ構造であり、ハイメサ構造の表面には保護膜としてのSiO2膜511を堆積している。さらに、SiO2膜511を覆うように、BCB512が形成され、ハイメサ構造の保護および表面の平坦化を行っている。光導波層となるMQWコア層504へ電界を印加するため、SiO2膜511およびBCB512はハイメサの上部の一部が除去されている。また、n−InPクラッド層502の上部には接地電極509及び510が設けられている。
図6は、図1のIQ光変調器400のB−B´部分における光導波路の断面図を示す。光導波路のA−A´部分は、電界非印加領域である。IQ光変調器400は、反絶縁性(SI)−InP基板601上に、n型InP下部クラッド層602、ノンドープのInPクラッド層603、多重量子井戸層(MQWコア層)604、ノンドープのInPクラッド層605、p型InAlAs層606、n型InP上部クラッド層607を積層したものである。導波構造は、コアの両脇をエッチングにより除去したハイメサ構造であり、ハイメサ構造の表面には保護膜としてのSiO2膜611を堆積している。さらに、それらを覆うように、BCB612が形成され、ハイメサ構造の保護および表面の平坦化を行っている。図5の電界印加領域部分と類似しているが、電極をもたないため、SiO2膜611およびBCB612はハイメサ構造上部で除去されることなく、ハイメサ構造を覆うように形成されている。
[IQ光変調器の動作原理]
次に、InP系化合物半導体からなるIQ光変調器の動作原理を説明する。入力導波路401から入射した光信号は、1×2MMI402により2分岐される。分岐された一方の光信号は導波路403を介してIチャネル用MZI410に入射され、MMI411により分岐される。分岐された他方の光信号は導波路404を介してQチャネル用MZI420に入射され、MMI421により分岐される。MMI411により2分岐された光信号は、アーム導波路412及び413に入射される。MMI421により2分岐された光信号は、アーム導波路422及び423に入射される。
アーム導波路412の上面に形成された位相変調電極415及び位相調整電極417は、アーム導波路412の光導波層へ電界を印加する。アーム導波路413の上面に形成された位相変調電極416及び位相調整電極418、アーム導波路422の上面に形成された位相変調電極425及び位相調整電極427、並びにアーム導波路423の上面に形成された位相変調電極426及び位相調整電極428も、それぞれアーム導波路413、422及び423の光導波層へ電界を印加する。位相変調電極415及び416、並びに位相調整電極417及び418に電圧を与えることによって、ポッケルス効果および量子閉じ込めシュタルク効果(QCSE)を介して、アーム導波路内の屈折率が変化する。アーム導波路内の屈折率の変化を用いて、Iチャネル用MZI410及びQチャネル用MZI420から、それぞれ0とπの位相状態を生成する。IQ光変調器400の後段の2×2MMI407は、Iチャネル用MZI410及びQチャネル用MZI420において生成した二つの位相状態(0及びπ)を直交状態で合成する。具体的には、一方の光信号に90度の位相差をあたえて合成することによって、4つの位相状態(0、π/2、π及び3π/2)を生成することができる。
アーム導波路112の上面に形成された位相変調電極415及びアーム導波路413の上面に形成された位相変調電極416は、数十GHzの高周波信号を与えてで光信号を変調するための電極である。位相変調電極415及び416には、位相変調を行うための変調振幅電圧(交流成分)と、変調振幅電圧を減少するためのバイアス電圧(直流電圧)が合成された変調電圧が印加されており、位相変調電極415及び416それぞれに与えられる変調振幅電圧は互いに逆相となっている。一方、アーム導波路412の上面に形成された位相調整電極417及びアーム導波路413の上面に形成された位相調整電極418は、子MZIのアーム導波路間の位相ずれを補償するために位相調整を行う直流電圧を与える電極である。位相調整電極417及び418は、電圧無印加時に損失が最小となるように(光出力が光OFF状態:Null点)、いずれか一方の位相調整電極に直流電圧を印加している。
その結果、式(20)に基づき、IチャネルMZI410からの光出力は光ON状態(光出力状態)となり、かつ、その位相は0とπを高速に切り替える(位相変調する)ことができる。さらに、IチャネルMZI410及びQチャネルMZI420からの二つの光信号の位相差が90度となるように、π/2位相調整電極431および432を駆動し、2×2MMI407を用いて光信号を合成することで、4つの位相状態をもつ変調信号(QPSK信号)を生成することができる。
[IQ光変調器の駆動電圧設定]
本発明の目的である、変調振幅電圧の振幅の変動に対して光電力の損失変動を小さくするIQ光変調器の駆動電圧設定法について説明する。MZIの光電力Ioutは、式(20)の通り近似的に記述できる。式(20)は、第一項のSinの項と、第二項のバイアス電圧に伴った光電力の損失に関する項がある。光電力Ioutは、変調振幅電圧を固定して損失が最小となるようにバイアス電圧を決定したとしても、光電力の損失を最小とすることができない。
そこで、本実施形態では、変調振幅電圧の振幅を基準値からわずかな値だけ変化させ、光電力の損失差を算出することによって、変調振幅電圧の振幅の変動に対して損失差が小さくなるように、バイアス電圧を設定する。以下、本実施形態のバイアス電圧の決定について説明する。
まず、変調振幅電圧の振幅の基準値を設定し、変調振幅電圧の振幅を、基準値から微小な値だけ前後に変化させ、変化させた変調振幅電圧における光電力の損失を比較して損失差を求める。この光電力の損失差について、バイアス電圧を変化させながら求め、光電力の損失差が最小となるバイアス電圧の値を導出する。導出されたバイアス電圧の値を、位相変調電極に印加されるバイアス電圧の最適値として設定される。
具体的なバイアス電圧導出法についてさらに説明する。図7は、本実施形態の駆動電圧設定法におけるバイアス電圧導出法のフローを示す図である。本方法は、まず、ステップ701において開始し、ステップ702において、変調振幅電圧の振幅ΔVを一定値に固定し、バイアス電圧Vb(および位相調整電圧)を変化させて、Iチャネル用MZI410(図4)からの光電力の損失が最小となるようなVbの値を導出し、導出した値にバイアス電圧Vbを仮決めする。ステップ703において、仮決めしたバイアス電圧Vbの値において、変調振幅電圧の振幅ΔVをわずかな値(αとする)上昇させた後、光電力の損失の値(L1)を記録する。ステップ704において、仮決めしたバイアス電圧Vbの値において、変調振幅電圧の振幅ΔVをわずかな値(α)下降させた後、光電力の損失の値(L2)を記録する。ステップ705において、変調振幅電圧の振幅ΔVを上下させた際の損失の値の差の絶対値(|L2−L1|)を、損失差ΔLとして算出する。
次に、バイアス電圧を変動させて、一定範囲のバイアス電圧における損失差ΔL算出するが、まず、ステップ706において、仮決めしたバイアス電圧Vbの値が、探索を必要とする範囲の値に達したかどうかを判断する。探索を必要とする範囲の値に達していない場合(図7中Noの場合)、ステップ707において、バイアス電圧Vbをわずかな値だけ増加(Vb+β)又は減少(Vb−β)させ、増加又は減少させた値を新たなバイアス電圧Vbの仮決め値として設定し、ステップ703に戻り、ステップ703〜705を繰り返す。一方で、バイアス電圧Vbの値が、初期値(ステップ706におけるVb)から探索を必要とする範囲に達した場合(図7中Yesの場合)、ステップ707において損失差ΔLが最小となるVbの値(Vbmin)を導出する。その後、ステップ708にて終了する。バイアス電圧Vbをわずかな値だけ変動させながら、損失差が最小となるバイアス電圧(Vbmin)を導出することにより、導出したバイアス電圧Vbを最適駆動値として設定することができる。
[実施例]
図8は、本発明の1実施例における、変調振幅電圧(ΔV)の振幅を基準値から一定範囲だけ変化させた場合の光電力の損失差のバイアス電圧(Vb)依存性を示す図である。図9は、図8において損失差が最小のときのバイアス電圧(Vb)における変調振幅電圧(ΔV)の光電力(Iout)依存性を示す図である。
本実施例において、波長を1550nmとし、変調振幅電圧の振幅の基準値を1Vとして、変調振幅電圧の振幅ΔVを1Vから±0.2V変化させた場合の光電力の損失差(変調振幅電圧の振幅が0.8Vと1.2Vの時の光電力の損失差)の絶対値を、バイアス電圧Vb=7.9Vから0.2Vずつ変化させながら記録している。本実施例においては、バイアス電圧が9.9Vの時、変調振幅電圧の振幅が0.8Vと1.2Vの時の光電力の損失差がゼロとなる。波長1550nm、バイアス電圧Vbmin=9.9Vのとき、図9に示すように変調振幅電圧の振幅が1Vにおいて損失の極小値が得られている。また、これは、二本のアーム導波路の電圧の差の絶対値(|2ΔV|)がVπ電圧となっている、とも言える。従って、変調振幅電圧の振幅の変動に対して損失変動が小さくなる傾向をもつ。
[補足事項]
(保護膜の限定)
本実施形態において、例えば図5のように、半導体に密着する保護膜としてSiO2膜511を用いた。ただし、本実施形態においては、SiO2膜に限らず、SiN膜やSiON膜といった他の絶縁膜であっても、水分の浸入を防ぐといったバリア性の向上が期待できれば保護膜として使用可能である。また、保護幕の膜厚が1μm以下であれば導波路層へ加える応力はわずかである。その場合は、ハイメサ構造内部にかかる応力はBCB512からの応力が主となるが、図5のように導波路上面のBCB512を除去すると、応力緩和の効果が得られる。また、保護膜を、SiO2膜ではなく光導波路と同種の材料である反絶縁性のInP膜を側面に再成長させたものを用いても、このInP保護膜による応力はわずかであるため同様な効果が期待できる。
また、ハイメサ構造を覆う保護膜および表面の平坦化のための材料として、BCB512を用いているが、材料はBCBに限らず、その他の有機系材料であってもInPよりも熱膨張係数が大きいものであれば、有機系材料からの応力が存在する。従って有機系材料による保護膜を除去すればため、BCBの場合と同様に、応力緩和の効果が得られる。
(上部クラッド再成長)
本実施形態の非電界印加領域の光導波層より上部の半導体層には、p型InAlAs層506およびn型InPクラッド層507を含む。これらの層に導波光のモードフィールドが分布すると、光吸収となり損失増加要因となる。そこで、これらのn型もしくはp型ドープされた半導体層を除去し、SI型InP層を導波層の上部に再成長を行うことにより低損失な光導波路が可能となる。本実施形態においても、電界印加領域以外は前述のSI型InP層を上部クラッドに用いてもよい。
(半導体断面構造の限定)
本実施例では、例えば図5のようにn−p−i―n構造を有するIQ光変調器400において効果を確認した。しかし、これに限らずたとえば、非特許文献4に示されるようなp−i−n構造を有する光変調器であっても、ハイメサ構造を覆う有機系材料の熱膨張係数がハイメサ構造を構成する半導体に比べ十分大きい場合には、同様な効果得られることを付記する。また、その際、P型の上部クラッド層を除去し、ノンドープInP層を導波層の上部に再成長を行うことにより低損失な光導波路が可能となる。そこで、電界印加領域以外は前述のノンドープInP層を上部クラッドに用いたものでもよい。
(変調振幅電圧の限定)
IQ光変調器において、実際には位相変調電極に印加される変調振幅電圧は時間的に高速に変動する。その際、高速変調時の損失は平均化され、本実施形態における損失とは異なる値となる。しかし、それらは比例関係にあるため、同様な探索方法で最適電圧を見つけることができる。
100、400 MZI
101、103、104、105、106、108、109、401、403、404、405、406、408、409 導波路
102、111、121、402、411、421 1×2MMI
107、407 2×2MMI
110、410 Iチャネル用MZI
112、113、121、123、412、413、421、423 アーム導波路
114、124、414、424 2×1MMI
115、116、125、126、415、416、425、426 位相変調電極
117、118、127、128、417、418、427、428 位相調整電極
120、420 Qチャネル用MZI
131、132、431、432 π/2位相調整電極
501、601 SI−InP基板
502、602 n−InPクラッド層
503、505、603、605 ノンドープInPクラッド層
504、604 多重量子井戸層
506、606 p型InAlAs層
507、607 n型InPクラッド層
508 変調電極
509、510 設置電極
511、611 SiO2
512、612 BCB

Claims (6)

  1. 基板上の半導体をコアにもつ2本のアーム導波路と、
    前記2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相変調電極であって、それぞれには、同じ値のバイアス電圧と、互いに逆相となる交流成分とを持つ変調振幅電圧とが合成された変調電圧が印加される位相変調電極と
    を備える光変調器における駆動電圧設定方法であって、
    前記変調振幅電圧の振幅を基準の値に設定するステップと、
    前記基準の値に所望の値を増加させた値及び減少させた値における光電力の損失差を求めるステップと、
    前記バイアス電圧を変動させながらさらに前記損失差を求め、前記損失差が最小になるバイアス電圧の値を導出するステップと、
    前記位相変調電極に印加する前記バイアス電圧を、前記損失差が最小になるバイアス電圧の値に設定するステップと
    を備えることを特徴とする光変調器の駆動電圧設定方法。
  2. 前記変調振幅電圧の振幅を前記基準の値に設定するステップは、
    前記基準の値における光電力の損失が最小となるように、前記バイアス電圧を仮決めするステップを備え、
    前記光電力の損失差を求めるステップは、
    前記仮決めしたバイアス電圧において、前記基準の値を所望の値だけ増加させて光電力の損失を算出するステップと、
    前記仮決めしたバイアス電圧において、前記基準の値から所望の値だけ減少させて光電力の損失を算出するステップと、
    前記基準の値を所望の値だけ増加させて算出した光電力の損失と、前記基準の値から所望の値だけ減少させて算出した光電力の損失との差の絶対値を求めて前記光電力の損失差とするステップと
    を備え、
    前記損失差が最小になるバイアス電圧の値を導出するステップは、前記バイアス電圧を一定値変動させ、前記光電力の損失差を求めるステップを繰り返すことを含むことを特徴とする請求項1に記載の光変調器の駆動電圧設定方法。
  3. 前記光変調器は、前記2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相調整電極であって、電圧無印加時に損失が最小となるように、いずれか一方に直流電圧が印加される位相調整電極をさらに備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の光変調器の駆動電圧設定方法。
  4. 基板上の半導体をコアにもつ2本のアーム導波路と、
    前記2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相変調電極であって、それぞれには、同じ値のバイアス電圧と、互いに逆相となる交流成分とを持つ変調振幅電圧とが合成された変調電圧が印加される位相変調電極と
    を備え、前記バイアス電圧は、前記変調振幅電圧の振幅の基準の値に所望の値を増加させた値と減少させた値とにおける光電力の損失差が最小になるように設定されていることを特徴とする光変調器。
  5. 前記基準の値における損失が最小となるように、前記バイアス電圧を仮決めして前記基準の値を求め、
    前記仮決めしたバイアス電圧において、前記基準の値を所望の値だけ増加させて光電力の損失を算出し、前記仮決めしたバイアス電圧において、前記基準の値から所望の値だけ減少させて光電力の損失を算出し、前記基準の値を所望の値だけ増加させて算出した光電力の損失と、前記基準の値から所望の値だけ減少させて算出した光電力の損失との差の絶対値を求めて損失差とし、
    前記バイアス電圧を一定値変動させ、前記光電力の損失差を求めるステップを繰り返して前記損失差が最小になるバイアス電圧の値を導出する
    ことを特徴とする請求項4に記載の光変調器。
  6. 前記2本のアーム導波路のそれぞれの上面に形成された位相調整電極であって、電圧無印加時に損失が最小となるように、いずれか一方に直流電圧が印加される位相調整電極をさらに備えることを特徴とする請求項4又は5に記載の光変調器。
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