JP2016205380A - ひずみセンサを解析し、タービン部品のひずみを監視するためのデータ取得装置、システム、および方法 - Google Patents

ひずみセンサを解析し、タービン部品のひずみを監視するためのデータ取得装置、システム、および方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2016205380A
JP2016205380A JP2016078552A JP2016078552A JP2016205380A JP 2016205380 A JP2016205380 A JP 2016205380A JP 2016078552 A JP2016078552 A JP 2016078552A JP 2016078552 A JP2016078552 A JP 2016078552A JP 2016205380 A JP2016205380 A JP 2016205380A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analysis
image
light
data acquisition
strain sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016078552A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6816971B2 (ja
Inventor
ジェイソン・リー・バーンサイド
Lee Burnside Jason
グレゴリー・リー・ホーヴィス
Lee Hovis Gregory
ウィリアム・エフ・ランソン
F Ranson William
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JP2016205380A publication Critical patent/JP2016205380A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6816971B2 publication Critical patent/JP6816971B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M5/00Investigating the elasticity of structures, e.g. deflection of bridges or air-craft wings
    • G01M5/0091Investigating the elasticity of structures, e.g. deflection of bridges or air-craft wings by using electromagnetic excitation or detection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/90Determination of colour characteristics
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B23/00Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies; Viewfinders; Optical aiming or sighting devices
    • G02B23/24Instruments or systems for viewing the inside of hollow bodies, e.g. fibrescopes
    • G02B23/2476Non-optical details, e.g. housings, mountings, supports
    • G02B23/2484Arrangements in relation to a camera or imaging device

Abstract

【課題】基準オブジェクトを解析するためのデータ取得装置、およびタービン部品の変形を監視するシステムを提供する。
【解決手段】データ取得装置は、長手方向軸線104を有し、レンズ組立体110と、画像を生成するために、レンズ組立体110から光を受けて処理する、レンズ組立体と通信する画像取り込み装置120とを備える。データ取得装置は、光源130と、後端144で光源に連結された光管140とをさらに含む。光管は、前端142と後端144との間の長手方向軸線に沿って延び、光源から光管を通じて光を送って、前端から光を放射するように動作可能である。データ取得装置は、画像取り込み装置および光源を起動するように動作可能な、アクチュエータをさらに含む。
【選択図】図5

Description

本開示は、一般にデータ取得装置、およびひずみセンサ等の基準オブジェクトを解析する方法に関し、かつひずみセンサを解析するためにこのような装置を使用する、タービン部品のひずみを監視するシステムに関する。
ターボ機械は、発電や航空機エンジン等の分野で広く使用されている。例えば、従来のガスタービンシステムは、圧縮機区画、燃焼器区画、および少なくとも1つのタービン区画を含む。圧縮機区画は、空気が圧縮機区画を通って流れる際に、空気を圧縮するように構成される。空気は、次に圧縮機区画から燃焼器区画へと流れ、燃料と混合されて燃やされ、高温ガス流を発生させる。高温ガス流はタービン区画に供給され、タービン区画は、高温ガス流からエネルギーを取り出すことによって、圧縮機、発電機その他様々な負荷に動力を供給するように、高温ガス流を使用する。
ターボ機械の動作中は、ターボ機械内、および特にターボ機械のタービン区画内にある、タービンブレード等のターボ機械の(集合的にタービン部品として知られる)様々な部品は、高温および応力のためにクリープを起こす場合がある。タービンブレードの場合、クリープによってブレードの部分または全体が伸長して、ブレード先端がタービンケーシング等の静止構造体に接触し、動作中に望ましくない振動および/または性能低下を引き起こす可能性がある。
したがって、タービン部品のクリープを監視することが望ましい。タービン部品のクリープを監視する1つの手法は、部品にひずみセンサを構成し、クリープひずみに関連する変形を監視するために、様々な間隔でひずみセンサを解析することである。しかしながら、このような変形は、多くの場合、元の寸法の0.01%程度であるため、ひずみ監視用の特殊な装置が必要になる。このようなひずみセンサを監視するための、現在知られている取得ツールおよび技術は、場合によっては、このような用途用に望ましい十分な低ひずみ、高コントラスト、小規模の画像を提供することができない。
したがって、タービン部品のひずみを監視するための代替的なシステムおよび方法が、当技術分野で求められている。さらに、ひずみセンサ等の基準オブジェクトを解析するための、代替的なデータ取得装置および方法が、当技術分野で求められている。タービン部品のひずみセンサによる監視用に、十分に低ひずみで、高コントラストで、小規模な画像を提供するシステム、装置、および方法が、特に有利となるであろう。
米国特許出願公開第2013/0202192号明細書
本発明の態様および利点は、以下の説明である程度述べられ、この説明から明らかとなり、あるいは本発明の実施によって知ることができる。
本開示の一実施形態によれば、基準オブジェクトを解析するためのデータ取得装置が提供される。データ取得装置は、長手方向軸線を有し、レンズ組立体と、画像を生成するために、レンズ組立体から光を受けて処理する、レンズ組立体と通信する画像取り込み装置とを備える。データ取得装置は、光源と、後端で光源に連結された光管とをさらに含む。光管は、前端と後端との間の長手方向軸線に沿って延び、光源から光管を通じて光を送って、前端から光を放射するように動作可能である。データ取得装置は、画像取り込み装置および光源を起動するように動作可能な、アクチュエータをさらに含む。
本開示の別の実施形態によれば、タービン部品の変形を監視するシステムが提供される。タービン部品は、外面を有する。本システムは、タービン部品の外面に構成可能なひずみセンサと、ひずみセンサを解析するデータ取得装置とを備える。データ取得装置は、レンズ組立体と、画像を生成するために、レンズ組立体から光を受けて処理する、レンズ組立体と通信する画像取り込み装置とを含む。データ取得装置は、光源と、後端で光源に連結された光管とをさらに含む。光管は、前端と後端との間の長手方向軸線に沿って延び、光源から光管を通じて光を送って、前端から光を放射するように動作可能である。データ取得装置は、画像取り込み装置および光源を起動するように動作可能な、アクチュエータ、およびシェルをさらに含み、シェルは、レンズ組立体、画像取り込み装置、光源、および光管を囲む。データ取得装置は、光管の前端に近接して配置された複数のスペーサをさらに備える。複数のスペーサはそれぞれ、シェルから延び、データ取得装置が、タービン部品の外面と接触する動作位置にあるときに、光管の前端をタービン部品の外面から離間する大きさにされる。
本開示の別の実施形態によれば、ひずみセンサを解析する方法が提供される。この方法は、ひずみセンサ部分を、ひずみセンサの画像内で、画像の第1の解析を実行することによって、背景部分に対して配置するステップを含む。この方法は、画像の第2の解析を実行することによって、ひずみセンサ部分のひずみセンサ表示を識別するステップをさらに含む。この方法は、画像のひずみセンサ部分の第3の解析を実行することによって、ひずみセンサ部分の品質解析を実施するステップをさらに含み、第3の解析は、第1の解析よりも高いビット深度を使用する。
本発明のこれらその他の特徴、態様、および利点は、以下の説明、および添付の特許請求の範囲を参照すれば、よりよく理解されるであろう。本明細書に組み込まれ、本明細書の一部を構成する添付の図面は、本発明の実施形態を示し、明細書の記載と併せて、本発明の原理を説明するために供される。
最良の態様を含み、当業者を対象とする、本発明の完全かつ実施可能な程度の開示が本明細書に記載され、以下の添付の図面を参照する。
本開示の一実施形態による、ひずみセンサを備える例示的なタービン部品の斜視図である。 本開示の一実施形態による、例示的なひずみセンサの上面図である。 本開示の一実施形態による、タービン部品のひずみを監視するシステムの側面図である。 本開示の一実施形態による、データ取得装置の斜視図である。 本開示の一実施形態による、データ取得装置の斜視断面図である。 本開示の一実施形態による、例示目的のために様々な部品が影で示されている、データ取得装置の側面図である。 本開示の一実施形態による、データ取得装置の光管の斜視図である。 本開示の一実施形態による、例示的なひずみセンサの画像を示す。 本開示の一実施形態による、方法を示すフローチャートである。
ここで、本発明の実施形態を詳しく参照し、その1つ以上の例を図面に示す。それぞれの例は、本発明を限定するためではなく、本発明の説明のために提供される。実際に、本発明の範囲または精神から逸脱することなく、本発明に様々な修正および変更がなされ得ることが、当業者には明らかであろう。例えば、1つの実施形態の一部として図示または説明されている特徴は、さらなる実施形態を得るために、別の実施形態で使用することができる。したがって、本発明は、添付の特許請求の範囲およびその均等物の範囲内で行われる、このような修正および変更を網羅することが意図される。
ここで図1を参照すると、タービン部品10が、タービン部品の外面11の一部に構成された、ひずみセンサ40と共に示されている。タービン部品10は、高温用途に利用されるような様々な特定の部品(例えば、ニッケルまたはコバルト基の超合金を含む部品)を含むことができる。例えば、いくつかの実施形態では、タービン部品10は、燃焼部品、または高温ガス流路部品を含むことができる。いくつかの特定の実施形態では、タービン部品10は、バケット、ブレード、ベーン、ノズル、シュラウド、ロータ、トランジションピースまたはケーシングを含むことができる。他の実施形態では、タービン部品10は、ガスタービン、産業用ガスタービン、蒸気タービン等の部品のような、タービンのその他の任意の部品を含むことができる。
タービン部品10は、ひずみセンサ40が構成された外面11を有する。本開示によるひずみセンサ40は、蒸着法、他の適当な積層造形法(additive manufacturing technique)、レーザーアブレーション、彫り込み、機械加工等のサブトラクティブ法、アニーリング、直接的な表面変色、または反射率に局所的な変化をもたらす技術等の外観変更技術、適切な取り付け装置、または接着、溶接、ろう付け等の技術を用いた、事前形成されたひずみセンサ40の取り付け、あるいはひずみセンサ40の部品として機能する、外面11の既存の特徴の識別を含む、任意適当な技術を用いて、外面11上に構成することができる。
ここで図1および図2を参照すると、ひずみセンサ40は、タービン部品10の外面11の一部に構成されている。ひずみセンサ40は、通常、少なくとも2つの基準点41および42を含み、これは、複数の時間間隔で、少なくとも2つの基準点41と42との間の距離Dを測定するのに使用することができる。当業者には理解されるように、これらの測定値は、タービン部品10のその領域での、ひずみ、ひずみ速度、クリープ、疲労、応力等の量を判定するのに役立つ。少なくとも2つの基準点41および42は、その間の距離Dが測定できる限り、特定のタービン部品10に応じて、様々な距離で様々な場所に配置することができる。また、少なくとも2つの基準点41および42は、それらが一貫して識別可能であり、その間の距離Dを測定するのに使用できる限り、点、直線、円、ボックスその他任意の幾何学的または非幾何学的形状を有していてもよい。
ひずみセンサ40は、様々な異なる形状、大きさ、および配置の基準点41および42を組み込むこと等によって、様々な異なる構成および断面を有することができる。例えば、図2に示すように、ひずみセンサ40は、様々な形状および大きさを有する、様々な異なる基準点を含むことができる。このような実施形態は、(図示されているような)最も外側の基準点同士の間、2つの内部または外部の基準点同士の間、あるいはそれらの任意の組み合わせ等の、多様な距離測定値Dをもたらすことができる。このような多様性は、多様な位置にわたってひずみ測定値を提供することによって、タービン部品10の特定の部分に、より堅固なひずみ解析をさらにもたらすことができる。
また、ひずみセンサ40の寸法は、例えば、タービン部品10、ひずみセンサ40の位置、目標とする測定値の精度、適用技術、および光学的測定法に依存していてもよい。例えば、いくつかの実施形態では、ひずみセンサ40は、1ミリメートル未満から300ミリメートルより大きい範囲までの、長さおよび幅を有していてもよい。また、ひずみセンサ40は、下にあるタービン部品10の性能に著しい影響を与えることなく、用途およびその後の光学識別に適した、任意の厚さを有することができる。特に、この厚さは面11から離れる正の厚さ(例えば積層法が使用されている場合)であってもよく、あるいは面11に入る負の厚さ(例えばサブトラクティブ法が使用されている場合)であってもよい。例えば、いくつかの実施形態では、ひずみセンサ40は、約0.01ミリメートル未満から、1ミリメートルを超える厚さを有していてもよい。いくつかの実施形態では、ひずみセンサ40は、ほぼ均一な厚さを有することができる。このような実施形態は、第1の基準点41と第2の基準点42との間の、後のひずみ計算のためのより正確な測定を容易にするのに役立てることができる。
いくつかの実施形態では、ひずみセンサ40は、正に適用された正方形または長方形を含むことができ、第1および第2の基準点41、42は、この正方形または長方形の対向する2辺を含む。他の実施形態では、ひずみセンサ40は、負の空間45(すなわち、ひずみセンサ材料が適用されない領域)によって分離された、少なくとも2つの適用された基準点41および42を含むことができる。負の空間45は、例えば、タービン部品10の外面11の露出した部分を含んでいてもよい。これに代えて、またはこれに加えて、負の空間45は、少なくとも2つの基準点41および42の材料とは異なる、後に適用される視覚的に対照的な材料を含むことができる(逆の場合も同様)。
図2に示すように、いくつかの実施形態では、ひずみセンサ40は、固有の識別子(以下「UID」)47を含むことができる。UID47は、特定のひずみセンサ40の識別を容易にする、各種のバーコード、ラベル、タグ、シリアル番号、パターンその他の識別システムを含むことができる。いくつかの実施形態では、UID47は、これに加えて、またはこれに代えて、ひずみセンサ40が積層された、タービン部品10またはタービン全体についての情報を含むことができる。これにより、UID47は、過去、現在および将来の動作の追跡に相関する測定に役立つように、特定のひずみセンサ40、タービン部品10、さらにはタービン全体の識別および追跡を補助することができる。
ひずみセンサ40は、これにより、様々なタービン部品10の、1つ以上の様々な位置に構成することができる。例えば、上述したように、ひずみセンサ40は、バケット、ブレード、ベーン、ノズル、シュラウド、ロータ、トランジションピースまたはケーシングに構成されてもよい。このような実施形態では、ひずみセンサ40は、ユニットの動作中に様々な力を受けることが知られている、例えば翼形部、プラットフォーム、先端その他任意適当な位置に、またはこれらに近接した、1つ以上の位置に構成することができる。また、ひずみセンサ40は、高温を受けることが知られている、1つ以上の位置に積層されてもよい。例えば、ひずみセンサ40は、高温ガス流路、または燃焼タービン部品10に構成することができる。
いくつかの実施形態では、複数のひずみセンサ40は、単一のタービン部品10に、または複数のタービン部品10に構成されてもよい。例えば、個々のタービン部品10の周囲のより多くの位置でひずみを判定できるように、複数のひずみセンサ40が、様々な位置で単一のタービン部品10(例えばバケット)に構成されてもよい。これに代えて、またはこれに加えて、複数の類似のタービン部品10(例えば複数のバケット)は、各特定のタービン部品10が受けるひずみ量を他の類似のタービン部品10と比較できるように、標準的な位置に構成されたひずみセンサ40をそれぞれ有することができる。さらにいくつかの実施形態では、同一のタービンユニットの、複数の異なるタービン部品10(例えば同一のタービン用のバケットおよびベーン)は、タービン全体の中の異なる位置で受けるひずみ量が判定できるように、その上に構成されたひずみセンサ40をそれぞれ有することができる。
ここで図3を参照すると、タービン部品10の変形を監視するためのシステム100が提供される。システム100は、上述したように、例えば、1つ以上のタービン部品10の外面11に構成可能な、1つ以上のひずみセンサ40を備えることができる。さらに、システム100は、ひずみセンサ40等の1つ以上の基準オブジェクトを解析するための、データ取得装置102をさらに備えることができる。
本開示によるデータ取得装置102は、有利には、ひずみセンサ40の解析を向上させるのに役立てることができる。特に、このようなデータ取得装置102は、有利には、タービン部品10のひずみセンサ40での監視に特に有用な、低ひずみで、高コントラストで、小規模な画像を提供することができる。例えば、いくつかの実施形態では、本開示によるデータ取得装置102は、約15ミクロンまでの解像度、0.001ミリメートルまでの総合精度、および/あるいは、5マイクロひずみまたは0.000005inch/inchまでの測定精度を有する画像を提供することができる。このような画像を提供するために、かつ本明細書で説明されるように、本開示によるデータ取得装置102は、有利には、例えば、最適な光源のスタンドオフ距離および光角度をもたらす機能、ならびにひずみセンサ40等の、画像化される基準オブジェクトに対して、最適で一貫した撮像角度をもたらす機能等の、いくつかの画像最適化機能を含む。
ここで図3〜図7を参照すると、本開示によるデータ取得装置102の実施形態が提供される。本開示による装置102は、前端106と後端108との間で画定され、長手方向軸線104に沿って延びている。前端106は、撮像用に、通常はタービン部品10の外面11等の、表面に接触する端部であってもよい。本明細書で説明されるように、装置102は、前端106が外面11等の表面と接触するように配置することができ、さらにひずみセンサ40等の基準オブジェクトが、装置102ののぞき窓109内にあるように配置される。のぞき窓109は、通常、装置102のレンズ組立体110で見える領域として画定することができる。光は、次に、画像を生成するために、画像取り込み装置120によって受けられて処理され、これらの画像は、本明細書で説明されるように解析することができる。
装置102は、したがって、例えば、レンズ組立体110および画像取り込み装置120を備える。レンズ組立体110は、通常、長手方向軸線104に沿って、前端112と後端114との間に延びることができ、画像取り込み装置120で処理するために、レンズ組立体110が見る画像を拡大することができる。いくつかの実施形態のレンズ組立体110は、例えば、適切なカメラレンズ、テレスコープレンズ等であってもよく、必要な倍率をもたらすために離間された1つ以上のレンズを含んでいてもよい。特に、本明細書で説明されるような用途に必要な倍率は、必ずしもきわめて大きいものである必要はなく、例えば、約0.5〜2倍以上の倍率であってもよい。
画像取り込み装置120は、通常は、レンズ組立体110から光を受けて処理するために、レンズ組立体110と通信して画像を生成する。例示的な実施形態では、例えば、画像取り込み装置120は、一般的に理解されているように、デジタル画像等の画像を生成するために、カメラレンズから光を受けて処理するカメラセンサであってもよい。特に、本明細書で説明されるような用途に必要な解像度は、必ずしもきわめて大きいものである必要はなく、例えば、約1.5メガピクセル以上であってもよい。
画像取り込み装置120はまた、通常は、画像取り込み装置120および装置102からの画像を記憶および解析するための、例えば適切な有線または無線接続を介して、適切なハードウェアおよび/またはソフトウェアと通信することができる。このようなハードウェアおよび/またはソフトウェアは、例えば通常は、上述したように、変形やひずみが発生しているかどうかを判定するために、ひずみセンサ40を解析することができる。
装置102は、例えば、光源130をさらに備えることができる。光源は、通常、撮像の目的でひずみセンサ40等の基準オブジェクトを照らすために、光を供給することができる。光源130は、示されている例示的な実施形態では、装置102の前端106から離間されている。例えば、光源130は、レンズ組立体110の前端112に近接して配置することができ、装置102の前端106から離間されてもよい。光源130は、例えば、1つ以上の発光ダイオード(「LED」)その他の発光部品132を含むことができる。発光部品132は、例えば、環状の配列で離間されていてもよい。光源130は、発光部品132が取り付けられて配置される、リング134をさらに備えることができる。光源130および発光部品132は、通常、選択的に起動することができ、起動すると、のぞき窓109内を照らす光を供給することができる。
装置102は、例えば、光管140をさらに備えることができ、これは、光源130から光管140を通じて光を送るように動作可能である。光管140は、前端142と後端144との間の長手方向軸線104に沿って延び、光源から光管140を通じて光を送って、前端142から光を放射するように動作可能である。例えば、示されている例示的な実施形態では、光管140は、光管140と光源130とが接触するように、後端144で光源130に連結することができる。発光部品132は、例えば、光管140の後端144に画定された凹部145内に配置することができる。光が、例えば発光部品132等の光源130から放射されると、この光は、光管140を通って移動し、前端142から放射され得る。
光管140は、例えば、光管140を通じて光を移動させることが可能な、適切なプラスチックで形成することができる。例えば、例示的な実施形態では、光管140は、透明であっても透明でなくてもよい、半透明のプラスチックで形成することができる。いくつかの実施形態では、光管140は、約10mJ/cm2〜14mJ/cm2の臨界露光、および/または約50mJ/cm2〜60mJ/cm2の間に0.010インチの厚さを与える露光を有する材料で形成されてもよい。
すでに述べたように、光は後端144から前端142に向かって光管140を移動し、前端142から放射される。いくつかの例示的な実施形態では、光管140の外面146は、1つ以上の面取り部147を含むことができ、これは、光が光管140を通って移動する際に、最適な出力のために、焦点および照準を定めるのを補助することができる。外面146の各面取り部147は、長手方向軸線104に沿って、(光管140の内部149を画定する)内面148に向かって先細にすることができる。例えば、示されているように、面取り部147は、光が光管140に入った後に、まず光の焦点を合わせるために、後端144に近接して設けることができる。これに加えて、またはこれに代えて、面取り部147は、光管140の前部に設けることができる。この面取り部147は、前端142に近接していてもよく、あるいは前端142を含んでいてもよい。特に、この面取り部147が前端142を含むとき、この面取り部147は、のぞき窓109内での最適な配光のために、前端142から放射される際に焦点を合わせることができる。例えば、示されているような例示的な実施形態では、光は、約30〜45度等の、約20度から約50度までの入射角150で、前端142から放射されてもよい。この範囲内の入射角は、特にタービン部品の基準特徴を見るときに、のぞき窓109内に最適な配光をもたらすことができ、例示的な実施形態では、この入射角は、前端142を含む面取り部147によってもたらすことができる。
図示されている例示的な実施形態では、光管140は、通常は円筒形であり、したがって、円形の断面形状を有する。しかしながら、あるいは光管140は、楕円形、長方形、三角形その他任意適当な多角形の断面形状を有していてもよい。
特に、光管140はまた、のぞき窓109を画定する。詳細には、内面148および内部149が、のぞき窓109を画定する。装置102が、基準オブジェクトが構成されている面の所定の位置にあるとき、基準オブジェクトの画像は、レンズ組立体110から見え、示されているように、内部149を介して、画像取り込み装置120によって受け取られる。したがって、レンズ組立体110の前端112は、光管140の後端144に近接して配置することができる。
光が前端142に到達する前に、光管140から放射されることによる光の損失を防ぐために、例示的な実施形態では、外側シュラウド160および/または内側シュラウド162が、データ取得装置102に含まれていてもよい。シュラウド160、162はそれぞれ、光管140の外面146および内面148に近接して、かつ必要に応じてこれらと接触するように配置され、光管140を通じて光が通るのを防ぐ不透明材料で形成することができる。したがって、光管140を通って移動する際にシュラウド160、162にぶつかる光は、逃げることなく、光管140内で向きを変えることができる。例えば、例示的な実施形態では、シュラウド160、162のうちの1つまたは両方が、アルミニウム等の適切な金属で形成されてもよい。外側シュラウド160は、光管140の外面146の少なくとも一部を囲むことができ、内側シュラウド162は、光管140の内面148の少なくとも一部を囲むことができる。
のぞき窓109の位置の最適な照射をさらに容易にするために、装置102は、光管140の前端142に近接して配置された、1つ以上のスペーサ170をさらに含むことができる。例示的な実施形態では、装置102が、外面11等の両平面の表面、および非平面の表面で最適なバランスをとれるように、3つのスペーサ170が用いられている。しかしながら、任意適当な数のスペーサが、本開示の範囲および精神に含まれることが理解されるべきである。
スペーサ170は、基準オブジェクトに最適な照射がもたらされ、画像取り込み装置120がレンズ組立体110から最適な画像を受け取るように、装置102が、基準オブジェクトが構成されている面と接触する動作位置にあるときに、光管140と外面11との間に最適な間隔をもたらす大きさにされて配置される。例えば、例示的な実施形態では、各スペーサは、複数のスペーサ170のそれぞれの前端172と、光管140の前端142との間の、長手方向軸線104に沿う距離174が、約0.4〜0.5インチ等の、約0.25インチから約0.75インチの間になるような大きさにしてもよい。したがって、各スペーサ170は、装置102が、タービン部品10その他の物体の外面11と接触した動作位置にあるときに、長手方向軸線104に沿って、約0.4〜0.5インチ等の、約0.25から0.75インチの間の距離176で、光管140の前端142を、タービン部品10その他の物体の外面11から離間する大きさにしてもよい。
装置102は、例示的な実施形態では、アクチュエータ180をさらに含む。アクチュエータ180は、装置102の他の部品を起動するように動作可能な、例えばボタン、スイッチその他の適切な部品であってもよい。例えば、アクチュエータ180は、(適切な有線または無線接続を介して)画像取り込み装置120および光源130と通信することができる。画像取り込み装置120および光源130を起動するように、アクチュエータ180が作動すると、発光部品132は、光を放射するために起動し、画像取り込み装置120は、1つ以上の画像を受け取るように起動することができる。これらの部品は、次に、アクチュエータ180の追加的な作動により、自動的に、あるいは手動のいずれかで動作を停止される。
装置102は、通常は装置102の様々な他の部品を囲んで収容するシェル190をさらに含む。例えば、シェル190は、レンズ組立体110、画像取り込み装置120、光源130、および光管140を囲むことができる。シェル190は、シェル190を介して作動できるアクチュエータ180をさらに囲んでもよく、あるいはアクチュエータ180は、シェル190を介して突出していてもよい。特に、スペーサ170の前端172は、装置102が上述したような動作位置にあるときに、シェル190を表面から離間するように、長手方向軸線104に沿って、シェル190から外向きに延びていてもよい。
例示的な実施形態では、本明細書で説明されるような装置102は、本明細書で説明されるような画像解析のために、手動で操作できる手持ち式装置であることに留意するべきである。しかしながら、本開示は、手持ち式装置に限定されないことが理解されるべきである。むしろ、例えば自動化装置、および/または例えば、手動で動作されるかまたは自動化された、ロボット装置等に取り付けられた装置を含む、任意適当な装置は、本開示の範囲および精神に含まれる。
ここで図8および図9を参照すると、本開示はさらに、ひずみセンサ40等の基準オブジェクトを解析する方法300に関する。例示的な実施形態では、画像取り込み装置120は、本開示による方法300を介して解析された画像を取得するために使用することができる。しかしながら、本開示は、画像取り込み装置120、およびそこから取り込まれる画像に限定されることはなく、むしろ、本開示によれば、基準オブジェクトの任意適当な画像が解析できることが理解されるべきである。
上述したように、画像取り込み装置120は、通常は、画像取り込み装置120および装置102からの画像を記憶および解析するための、例えば適切な有線または無線接続を介して、適切なハードウェアおよび/またはソフトウェアと通信することができる。したがって、画像取り込み装置120は、このような適切なハードウェアおよび/またはソフトウェアを含むことができる、プロセッサ200をさらに備えていてもよい。例示的な実施形態では、プロセッサ200は、本明細書で説明される、様々な方法300のステップを実行することができる。
概して、本明細書で用いる「プロセッサ」という用語は、当該技術分野においてコンピュータに含まれるものと言われている集積回路を指すのみならず、コントローラ、マイクロコントローラ、マイクロコンピュータ、プログラマブル論理コントローラ(PLC)、特定用途向け集積回路その他のプログラマブル回路を指す。プロセッサ200はまた、入力を受けて様々な他の部品に制御信号を送信するための、様々な入出力チャネルを含み、これにより、プロセッサ200は、レンズ組立体110、光源130、画像取り込み装置120等と通信する。
方法300は、例えば、画像312の第1の解析を実行することによって、(ひずみセンサ40等の)基準オブジェクトの画像312内で、(ひずみセンサ部分314等の)基準オブジェクト部分314を、背景部分316に対して配置するステップ310を含むことができる。第1の解析は、通常、色深度の相違に基づいて、基準オブジェクト部分314を背景部分316と区別する解析である。第1の解析は、画像312を画定する個々のピクセル318、またはピクセルのグループ319で実行することができる。例えば、例示的な実施形態では、マルチピクセルグループ319で、バイナリ色深度解析が行われる。バイナリ解析が発生するために、画像のbpp(bits−per−pixel)、すなわち128、256等は、2つのグループ(通常は、明るい色深度を含むグループと、暗い色深度を含むグループと)に分割される。各グループは、基準オブジェクト部分314、または背景部分316に分類される。例えば、バイナリ色深度解析によって、暗い色深度のピクセルまたはマルチピクセルのグループ319を、基準オブジェクト部分314を示すものとして分類することができ、明るい色深度のピクセルまたはマルチピクセルのグループ319を、背景部分316を示すものとして分類することができる。
代替的な実施形態では、第1の解析は、バイナリ解析である必要はない。例えば、第1の解析は、本明細書で説明される適切なグレースケール解析か、または画像312を画定するピクセル318の色深度の、他の適切な比較であってもよい。
ステップ310では、通常、画像312内で、基準オブジェクト部分314を配置することができる。さらに、いくつかの実施形態では、第1の解析から得られた情報は、次に、閾値が満たされているかどうかを判定するために、このような情報の所定の閾値と比較することができる。所定の閾値は、例えば、基準オブジェクトの1つ以上の寸法、画像312の平面における、基準オブジェクト部分314の所望の位置および配向等を含むことができる。いくつかの実施形態では、所定の閾値が満たされている場合は、このような充足を知らせるために、装置102にフィードバック信号を提供することができる。例えば、表示灯195を点灯させてもよい。
方法300は、例えば、(画像312全体、または基準オブジェクト部分314等の)画像312の第2の解析を実行することによって、基準オブジェクト部分314の、(ひずみセンサの表示等の)基準オブジェクト表示を識別するステップ320をさらに含むことができる。ひずみセンサ40に対して、ひずみセンサの表示は、例えば、基準点41、42、固有の識別子47その他のひずみセンサ40の識別可能な構成要素を含むことができる。一般に、基準オブジェクト表示は、基準オブジェクトの識別可能な構成要素であり、基準オブジェクトに関するいくつかの情報を提供する。
第2の解析は、通常、色深度の相違に基づいて、基準オブジェクト部分314を背景部分316とさらに区別し、かつ様々な基準オブジェクト表示を区別する解析である。第2の解析は、画像312を画定する、個々のピクセル318、またはピクセルのグループ319で実行することができる。例えば、例示的な実施形態では、単一のピクセル318で、バイナリ色深度解析が行われる。代替的な実施形態では、第2の解析は、バイナリ解析である必要はない。例えば、第2の解析は、本明細書で説明される適切なグレースケール解析か、または画像312を画定するピクセル318の色深度の、他の適切な比較であってもよい。
ステップ320では、通常、画像312内で、基準オブジェクト部分314をさらに配置することができ、画像312が撮られた基準オブジェクトからの情報の収集をさらに容易にすることができる。例えば、基準点41、42の存在を確認することができ、基準オブジェクトの情報の識別は、固有の識別子47から収集することができる。さらに、いくつかの実施形態では、第2の解析から得られた情報は、次に、閾値が満たされているかどうかを判定するために、このような情報の所定の閾値と比較することができる。所定の閾値は、例えば、基準点41、42等の、表示の所定のレベルを含むことができ、これは、確認することができる。
方法300は、例えば、(画像312全体、または基準オブジェクト部分314等の)画像312の第3の解析を実行することによって、基準オブジェクト部分314の品質解析を実施するステップ330をさらに含むことができる。第3の解析は、通常、色深度の相違に基づいて、基準オブジェクト部分314を背景部分316とさらに区別し、かつ様々な基準オブジェクト表示をさらに区別する解析である。例示的な実施形態では、第3の解析は、第1の解析よりも高いビット深度を用いる。さらに、いくつかの実施形態では、第3の解析は、第2の解析よりも高いビット深度を用いる。第3の解析は、個々のピクセル318、または個々のピクセルのサブセクションで実行することができる。例えば、ピクセル318は、100のサブセクション、1000のサブセクション、10,000のサブセクションその他任意適当な数のサブセクションに分割することができ、第3の解析は、個々のサブセクションで実行することができる。例示的な実施形態では、画像のbpp、すなわち128、256等で、グレースケール解析が行われる。例えば、いくつかの実施形態では、256bppのグレースケール解析が行われる。したがって、各ピクセル318、またはそのサブセクションは、128、256等の色深度スケール毎に、特定の色深度を有するものとして分類される。
ステップ330では、通常、例えば、隣接するピクセル318またはそのサブセクション同士のコントラストを解析することによって、画像312の強度を解析できるようにすることができる。例えば、基準オブジェクト部分314の端部またはその表示等の、基準オブジェクト部分314の特徴の境界におけるピクセル間のコントラストは、通常は高いことが望ましく、これによって、基準オブジェクト部分314またはその表示と、背景部分316等との間の区別を示す。さらに、ステップ330では、通常、例えば、基準オブジェクト部分314の様々な特徴の、ピクセル318またはそのサブセクションの幅を解析することによって、画像312の鮮明度を解析できるようにすることができる。例えば、基準オブジェクト部分314の端部またはその表示等の、基準オブジェクト部分314の特徴の幅は、通常は小さいことが望ましく、これによって、背景部分316等に対する、基準オブジェクト部分314またはその表示の、画像の鮮明度を示す。さらに、いくつかの実施形態では、第3の解析から得られた情報は、次に、閾値が満たされているかどうかを判定するために、このような情報の所定の閾値と比較することができる。所定の閾値は、例えば、所定の強度および鮮明度のレベルを含むことができる。
ステップ310、320および/または330は、通常、画像312が本明細書で説明されているような、後のひずみ解析等のその後の解析のために保存するのに十分な品質かどうかを判定するために用いることができる。例えば、説明されているように、いくつかの実施形態では、各ステップ310、320、330の色解析から得られた情報は、様々な所定の閾値と比較することができる。例示的な実施形態では、方法300は、配置するステップ310、識別するステップ320、および/または実施するステップ330のそれぞれが必要とされる所定の閾値を満たすときに、画像312を保存するステップ340をさらに含むことができる。このような画像312は、後の基準オブジェクトの解析に使用することができる。
いくつかの実施形態では、方法300は、保存した画像312を、1つ以上の予め保存された画像312と比較するステップ350をさらに含むことができる。予め保存された画像312は、通常は、基準オブジェクト解析の同様の反復の中で、すなわち特定の期間中に画像を取得するための、装置102およびプロセッサ200の同様の動作中に、保存された画像312である。通常、その表示の相違等の、基準オブジェクト部分314同士の間の相違は、解析することができる。画像は、1回のみの反復中に撮られるため、最適には、相違がないか、あってもわずかであるべきである。通常、閾値は、閾値ひずみ等の、特定の相違に対して設定することができる。例えば、閾値ひずみは、5マイクロひずみ、10マイクロひずみ、20マイクロひずみ等であってもよい。相違が閾値を超える場合は、これは、外部の力が画像の精度に影響しているのを示している可能性があり、したがってユーザは、解析を中止して、関連するシステム100、装置102、プロセッサ200等の品質検査を行うことができる。
本明細書で説明されるステップ310、320、および/または330は、例示的な実施形態では、プロセッサ200が画像取り込み装置120から画像を受信したときに、リアルタイムで行えることに留意するべきである。
方法300は、基準オブジェクトを解析するために、装置102等の装置を最初に動作させる様々なステップをさらに含むことができる。例えば、方法300は、光源130等の光源を起動するステップ360を含むことができる。光源130は、自動化システム内で自動的に、またはユーザがアクチュエータ180を押下する等の、ユーザによる入力に応答して手動で、(例えばプロセッサ200によって)起動することができる。さらに、方法300は、画像を解析するために、プロセッサ200を起動するステップ370を含むことができる。このステップによれば、プロセッサ200は、ステップ310、320および/または330が行われるモードに入ることができる。このような起動は、自動化システム内で自動的に、またはユーザがアクチュエータ180を押下する等の、ユーザによる入力に応答して手動で、(例えばプロセッサ200によって)発生してもよい。さらに、方法300は、基準オブジェクトが構成されている、タービン部品10の外面11等の外面に、装置102等の装置を接触させるステップ380を含むことができる。本明細書で説明される例示的な実施形態では、スペーサ170は、外面11に接触することができる。このような接触は、(プロセッサ200によって)自動化システム内で自動的に、またはユーザが手動で発生させてもよい。特に、例示的な実施形態では、ステップ370は、ステップ360の後に発生してもよい。ステップ310〜350は、このようなステップの後に発生してもよい。
ここに記載された説明は、最良の態様を含む本発明を開示するため、また、任意の装置またはシステムの作成および使用、ならびに任意の組み合わせられた方法の実行を含み、当業者が本発明を実施できるようにするために例を用いる。本発明の特許性のある範囲は、特許請求の範囲によって定義され、当業者が思いつく他の例を含み得る。このような他の例は、特許請求の範囲の文言と異ならない構成要素を含む場合、または特許請求の範囲の文言とごくわずかしか異ならない同等の構成要素を含む場合は、特許請求の範囲内であることが意図される。
10 タービン部品
11 外面
40 ひずみセンサ
41 第1の基準点
、42 第2の基準点
45 負の空間
47 固有の識別子
100 システム
102 装置
104 長手方向軸線
106 前端
108 後端
109 のぞき窓
110 レンズ組立体
112 前端
114 後端
120 画像取り込み装置
130 光源
132 発光部品
134 リング
140 光管
142 前端
144 後端
145 凹部
146 外面
147 面取り部
148 内面
149 内部
150 入射角
160 外側シュラウド
162 内側シュラウド
170 スペーサ
172 前端
174、176 距離
180 アクチュエータ
190 シェル
195 表示灯
200 プロセッサ
300 方法
310 ステップ
312 画像
314 基準オブジェクト部分、ひずみセンサ部分
316 背景部分
318 ピクセル
319 マルチピクセルグループ
320 ステップ
321 ステップ
322 ステップ
323 ステップ
324 ステップ
325 ステップ
326 ステップ
327 ステップ
328 ステップ
329 ステップ
330 ステップ
331 ステップ
332 ステップ
333 ステップ
334 ステップ
335 ステップ
336 ステップ
337 ステップ
338 ステップ
339 ステップ
340 ステップ
341 ステップ
342 ステップ
343 ステップ
344 ステップ
345 ステップ
346 ステップ
347 ステップ
348 ステップ
349 ステップ
350 ステップ
360 ステップ
370 ステップ
380 ステップ

Claims (15)

  1. 基準オブジェクト(41、42)を解析するデータ取得装置(102)であって、前記データ取得装置(102)は、長手方向軸線(104)を有し、かつ
    レンズ組立体(110)と、
    画像(312)を生成するために、前記レンズ組立体(110)から光を受けて処理する、前記レンズ組立体(110)と通信する画像取り込み装置(120)と、
    光源(130)と、
    後端(144)で前記光源(130)に連結され、前端(142)と前記後端(144)との間で、前記長手方向軸線(104)に沿って延びる光管(140)であって、前記光管(140)は、前記光源(130)から光管(140)を通じて光を送り、前記光を前記前端(142)から放射するように動作可能な、光管(140)と、
    前記画像取り込み装置(120)、および前記光源(130)を起動するように動作可能なアクチュエータ(180)とを備える、データ取得装置(102)。
  2. 前記光管(140)の外面(146)の少なくとも一部を囲む外側シュラウド(160)をさらに備える、請求項1に記載のデータ取得装置(102)。
  3. 前記光管(140)の内面(148)の少なくとも一部を囲む内側シュラウド(162)をさらに備える、請求項1乃至2のいずれか1項に記載のデータ取得装置(102)。
  4. 前記光管(140)の前記外面(146)が、面取り部(147)を有し、前記面取り部(147)が、前記長手方向軸線(104)に沿って、前記光管(140)の前記内面(148)に向かって先細になっている、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のデータ取得装置(102)。
  5. 前記面取り部(147)が、前記前端(142)を有する、請求項4に記載のデータ取得装置(102)。
  6. 光が、約20〜50度の入射角(150)で、前記光管(140)の前記前端(142)から放射される、請求項1〜5のいずれか一項に記載のデータ取得装置(102)。
  7. 前記光管(140)の前記前端(142)に近接して配置された複数のスペーサ(170)をさらに備える、請求項1乃至6のいずれか1項に記載のデータ取得装置(102)。
  8. 基準オブジェクト部分(314)を、前記基準オブジェクト部分(314)の画像(312)内で、前記画像(312)の第1の解析を実行することによって、背景部分(316)に対して配置し、
    前記画像(312)の第2の解析を実行することによって、前記基準オブジェクト部分(314)の基準オブジェクト表示を識別し、
    前記画像(312)の前記基準オブジェクト部分(314)の第3の解析を実行することによって、前記基準オブジェクト部分(314)の品質解析を実施し、前記第3の解析は、前記第1の解析よりも高いビット深度を使用するように構成された、
    プロセッサ(200)をさらに備える、請求項1乃至7のいずれか1項に記載のデータ取得装置(102)。
  9. ひずみセンサ(40)を解析する方法であって、
    ひずみセンサ部分(314)を、前記ひずみセンサ(40)の画像(312)内で、前記画像(312)の第1の解析を実行することによって、背景部分(316)に対して配置するステップと、
    前記画像(312)の第2の解析を実行することによって、前記ひずみセンサ部分(314)のひずみセンサ表示を識別するステップと、
    前記画像(312)の前記ひずみセンサ部分(314)の第3の解析を実行することによって、前記ひずみセンサ部分(314)の品質解析を実施するステップであって、前記第3の解析は、前記第1の解析よりも高いビット深度を使用する、実施するステップとを含む、
    方法。
  10. 前記第1の解析が、前記画像の前記ひずみセンサ部分(314)のマルチピクセルグループのバイナリ解析である、請求項9に記載の方法。
  11. 前記第2の解析が、前記画像(312)の前記ひずみセンサ部分(314)の単一のピクセルのバイナリ解析である、請求項9乃至10のいずれか1項に記載の方法。
  12. 前記第3の解析が、256bppのグレースケール解析である、請求項9乃至11のいずれか1項に記載の方法(300)。
  13. 光源(130)を起動する前記ステップをさらに含む、請求項9乃至12のいずれか1項に記載の方法(300)。
  14. 前記配置するステップ、前記識別するステップ、および前記実施するステップのそれぞれが所定の閾値を満たすときに、前記画像(312)を保存するステップをさらに含む、請求項9乃至13のいずれか1項に記載の方法(300)。
  15. 前記画像(312)を予め保存された画像(312)と比較するステップをさらに含む、請求項14に記載の方法(300)。
JP2016078552A 2015-04-15 2016-04-11 ひずみセンサを解析し、タービン部品のひずみを監視するためのデータ取得装置、システム、および方法 Active JP6816971B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/687,170 US9557164B2 (en) 2015-04-15 2015-04-15 Data acquisition devices, systems and method for analyzing strain sensors and monitoring turbine component strain
US14/687,170 2015-04-15

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016205380A true JP2016205380A (ja) 2016-12-08
JP6816971B2 JP6816971B2 (ja) 2021-01-20

Family

ID=55806136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016078552A Active JP6816971B2 (ja) 2015-04-15 2016-04-11 ひずみセンサを解析し、タービン部品のひずみを監視するためのデータ取得装置、システム、および方法

Country Status (4)

Country Link
US (2) US9557164B2 (ja)
EP (1) EP3081899B1 (ja)
JP (1) JP6816971B2 (ja)
CN (1) CN106052579B (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10697760B2 (en) * 2015-04-15 2020-06-30 General Electric Company Data acquisition devices, systems and method for analyzing strain sensors and monitoring component strain
US9967523B2 (en) 2015-12-16 2018-05-08 General Electric Company Locating systems and methods for components
US10557372B2 (en) 2015-12-17 2020-02-11 General Electric Company Systems and methods for assessing strain of components in turbomachines
JP6658024B2 (ja) * 2016-02-04 2020-03-04 コニカミノルタ株式会社 駆動装置及び歪み制御方法
US10132615B2 (en) * 2016-12-20 2018-11-20 General Electric Company Data acquisition devices, systems and method for analyzing passive strain indicators and monitoring turbine component strain
US10502551B2 (en) * 2017-03-06 2019-12-10 General Electric Company Methods for monitoring components using micro and macro three-dimensional analysis
US20190376411A1 (en) * 2018-06-11 2019-12-12 General Electric Company System and method for turbomachinery blade diagnostics via continuous markings
CN109341990A (zh) * 2018-10-26 2019-02-15 北京工业大学 畸变荷载下钢箱梁结构的实验加载装置及其加载方法
CN113738459A (zh) * 2020-05-29 2021-12-03 上海梅山钢铁股份有限公司 一种智能型盘车控制装置及控制方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1012011A (ja) * 1996-06-18 1998-01-16 Moritex Corp 照明装置
JP2000035608A (ja) * 1998-07-17 2000-02-02 Fine Opt Kk 小型電荷結合素子カメラ接写用照明装置
JP2003156628A (ja) * 2001-11-20 2003-05-30 Nissei Electric Co Ltd 光ファイバ照明用集光器
US20040233421A1 (en) * 2001-05-08 2004-11-25 Wolfgang Weinhold Method and device for examining an object in a contactless manner, especially for examining the surface form of the same
JP2012510760A (ja) * 2008-12-01 2012-05-10 マーベル ワールド トレード リミテッド ビット解像度の向上
JP2014115220A (ja) * 2012-12-11 2014-06-26 Japan Fine Ceramics Center 構造物の歪・応力計測方法及び歪・応力センサ
JP2014196739A (ja) * 2013-03-14 2014-10-16 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ ターボ機械構成要素監視システム及びその方法

Family Cites Families (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3037622A1 (de) 1980-10-04 1982-04-22 Theodor Prof. Dr.-Ing. 1000 Berlin Gast Optoelektronisches messverfahren und einrichtungen zum bestimmen der oberflaechenguete streuend reflektierender oberflaechen
US4528856A (en) 1984-01-17 1985-07-16 Westinghouse Electric Corp. Eddy current stress-strain gauge
DE3502008A1 (de) 1985-01-23 1986-07-24 Standard Elektrik Lorenz Ag, 7000 Stuttgart Dehnungsaufnehmer
DE3532690A1 (de) 1985-09-13 1987-03-26 Ulrich Breitmeier Verfahren zur messung der oberflaechenrauheit von werkstuecken sowie geraet zu seiner durchfuehrung
US4746858A (en) 1987-01-12 1988-05-24 Westinghouse Electric Corp. Non destructive testing for creep damage of a ferromagnetic workpiece
US5730701A (en) * 1995-09-12 1998-03-24 Olympus Optical Co., Ltd. Endoscope
DE19632763C2 (de) 1996-08-14 1998-09-10 Holger Moritz Meßkopf für die Beobachtung der Photolackentwicklung
GB2326228B (en) * 1997-06-10 2000-05-24 British Aerospace Non-contact deformation measurement
US6189386B1 (en) * 1997-12-05 2001-02-20 Ford Global Technologies, Inc. Method of using a microscopic digital imaging strain gauge
US6175644B1 (en) 1998-05-01 2001-01-16 Cognex Corporation Machine vision system for object feature analysis and validation based on multiple object images
US6574363B1 (en) * 1998-11-13 2003-06-03 Flexi-Coil Ltd. Method for color detection in video images
IL131092A (en) 1999-07-25 2006-08-01 Orbotech Ltd Optical inspection system
US6796939B1 (en) * 1999-08-26 2004-09-28 Olympus Corporation Electronic endoscope
DE19960880A1 (de) 1999-12-17 2001-06-21 Abb Research Ltd Messvorrichtung
EP1285224A1 (de) 2000-05-16 2003-02-26 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und vorrichtung zum bestimmen der 3d-form eines objektes
CA2419252C (en) * 2000-08-31 2011-03-29 Center For Advanced Science And Technology Incubation, Ltd. Optical tactile sensor
US7697966B2 (en) 2002-03-08 2010-04-13 Sensys Medical, Inc. Noninvasive targeting system method and apparatus
US6986287B1 (en) 2002-09-30 2006-01-17 Nanodynamics Inc. Method and apparatus for strain-stress sensors and smart skin for aircraft and space vehicles
ES2330998T3 (es) * 2002-12-12 2009-12-18 Siemens Aktiengesellschaft Procedimiento para medir la distancia a una pieza constructiva guiada a lo largo de una superficie de referencia y ejecucion del procedimiento.
US6983659B2 (en) 2003-01-22 2006-01-10 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Turbine blade creep life evaluating method, turbine blade creep elongation strain measuring apparatus, and turbine blade
JP2005006856A (ja) * 2003-06-18 2005-01-13 Olympus Corp 内視鏡装置
DE102004032484B3 (de) 2004-07-05 2005-11-24 Infineon Technologies Ag Sensor und Verfahren zum Herstellen eines Sensors
US7477995B2 (en) * 2005-02-03 2009-01-13 Direct Measurements Inc. Optical linear strain gage
US7533818B2 (en) 2005-06-28 2009-05-19 Direct Measurements Inc. Binary code symbol for non-linear strain measurement and apparatus and method for analyzing and measuring strain therewith
US7421370B2 (en) 2005-09-16 2008-09-02 Veeco Instruments Inc. Method and apparatus for measuring a characteristic of a sample feature
US7576347B2 (en) * 2005-10-24 2009-08-18 General Electric Company Method and apparatus for optically inspecting an object using a light source
US7303373B2 (en) * 2005-10-31 2007-12-04 General Electric Company Wind turbine systems, monitoring systems and processes for monitoring stress in a wind turbine blade
US7689003B2 (en) 2006-03-20 2010-03-30 Siemens Energy, Inc. Combined 2D and 3D nondestructive examination
US7441464B2 (en) 2006-11-08 2008-10-28 Honeywell International Inc. Strain gauge sensor system and method
US8514278B2 (en) * 2006-12-29 2013-08-20 Ge Inspection Technologies Lp Inspection apparatus having illumination assembly
EP2126712A4 (en) 2007-02-23 2014-06-04 Direct Measurements Inc NON-LINEAR DIFFERENTIAL STRESS MEASUREMENT FROM A BINARY CODE SYMBOL
US7849752B2 (en) 2007-10-24 2010-12-14 Argon St, Inc. Method and system for passive wireless strain gauge
EP2438552A4 (en) 2009-03-24 2017-08-23 General Electric Company Directly applied read and transmit - digital strain encoder and digital load cell
US8600147B2 (en) * 2009-06-03 2013-12-03 The United States of America as represented by the Secreatary of the Navy System and method for remote measurement of displacement and strain fields
FR2949152A1 (fr) 2009-08-17 2011-02-18 Eads Europ Aeronautic Defence Jauge de deformation et systeme de localisation spatiale de telles jauges
JP5458262B2 (ja) 2009-09-03 2014-04-02 国立大学法人佐賀大学 ひずみ計測方法、ひずみ計測装置およびプログラム
CN102498368B (zh) * 2009-09-18 2016-11-02 伊利诺斯工具制品有限公司 包括光学应变仪的远程位移传感器的装置及其系统
US9128063B2 (en) 2010-11-24 2015-09-08 Pratt & Whitney Canada Corp. Non-contact stress measuring device
DK2597302T3 (da) 2011-11-23 2014-05-19 Siemens Ag Bestemmelse af en samlet belastning af en vindmølle i vinkelafsnit
CN103226060B (zh) 2012-01-31 2016-08-24 通用电气公司 风力涡轮叶片的检测系统和方法
US8818078B2 (en) 2012-02-03 2014-08-26 Solar Turbines Inc. Apparatus and method for optically measuring creep
US8994845B2 (en) * 2012-04-27 2015-03-31 Blackberry Limited System and method of adjusting a camera based on image data
EP2679778B1 (en) 2012-06-27 2019-08-21 Ansaldo Energia IP UK Limited A method for measuring geometry deformations of a turbine component
US9311566B2 (en) 2012-08-03 2016-04-12 George Mason Research Foundation, Inc. Method and system for direct strain imaging
WO2014031957A1 (en) 2012-08-23 2014-02-27 Siemens Energy, Inc. System and method for visual inspection and 3d white light scanning of off-line industrial gas turbines and other power generation machinery
DE102012108776A1 (de) 2012-09-18 2014-03-20 Technische Universität München Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung von Betriebszuständen von Rotorblättern
WO2015006434A1 (en) 2013-07-09 2015-01-15 United Technologies Corporation Counterfeit proofing of plated polymers
US9207154B2 (en) 2013-10-22 2015-12-08 General Electric Company Method and system for creep measurement
US20150239043A1 (en) 2014-02-21 2015-08-27 Siemens Energy, Inc. Cast Features for Location and Inspection
US9964402B2 (en) 2015-04-24 2018-05-08 Faro Technologies, Inc. Two-camera triangulation scanner with detachable coupling mechanism
US20160354174A1 (en) 2015-06-05 2016-12-08 Innovative In Vivo Sensing, Llc Wireless strain sensing device

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1012011A (ja) * 1996-06-18 1998-01-16 Moritex Corp 照明装置
JP2000035608A (ja) * 1998-07-17 2000-02-02 Fine Opt Kk 小型電荷結合素子カメラ接写用照明装置
US20040233421A1 (en) * 2001-05-08 2004-11-25 Wolfgang Weinhold Method and device for examining an object in a contactless manner, especially for examining the surface form of the same
JP2003156628A (ja) * 2001-11-20 2003-05-30 Nissei Electric Co Ltd 光ファイバ照明用集光器
JP2012510760A (ja) * 2008-12-01 2012-05-10 マーベル ワールド トレード リミテッド ビット解像度の向上
JP2014115220A (ja) * 2012-12-11 2014-06-26 Japan Fine Ceramics Center 構造物の歪・応力計測方法及び歪・応力センサ
JP2014196739A (ja) * 2013-03-14 2014-10-16 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ ターボ機械構成要素監視システム及びその方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20170102229A1 (en) 2017-04-13
US9869545B2 (en) 2018-01-16
CN106052579B (zh) 2020-03-10
EP3081899A1 (en) 2016-10-19
CN106052579A (zh) 2016-10-26
US20160305770A1 (en) 2016-10-20
US9557164B2 (en) 2017-01-31
EP3081899B1 (en) 2019-06-12
JP6816971B2 (ja) 2021-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6816971B2 (ja) ひずみセンサを解析し、タービン部品のひずみを監視するためのデータ取得装置、システム、および方法
US9846933B2 (en) Systems and methods for monitoring components
US10697760B2 (en) Data acquisition devices, systems and method for analyzing strain sensors and monitoring component strain
JP6367895B2 (ja) 成形された冷却孔の自動測定方法及びシステム
JP2018119952A (ja) 部品歪みを評価するためのシステムおよび方法
JP6838836B2 (ja) 構成部品のための突き止めシステムおよび方法
US9953408B2 (en) Methods for monitoring components
US10502551B2 (en) Methods for monitoring components using micro and macro three-dimensional analysis
US10132615B2 (en) Data acquisition devices, systems and method for analyzing passive strain indicators and monitoring turbine component strain
US20170358073A1 (en) Systems and Methods for Monitoring Components
US9909860B2 (en) Systems and methods for monitoring component deformation
EP3623788B1 (en) Automated distress ranking system
EP3168568A1 (en) Systems and methods for monitoring components
EP3361212B1 (en) Passive strain indicator
JP2017096941A (ja) 構成部品の歪を監視するためのシステムおよび方法
WO2019032356A1 (en) SYSTEMS AND METHODS FOR MONITORING COMPONENTS

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190227

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20190521

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200124

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200123

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200324

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200612

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200707

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201224

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6816971

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350