JP2016200649A - 照明光学装置、およびデバイス製造方法 - Google Patents
照明光学装置、およびデバイス製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016200649A JP2016200649A JP2015078857A JP2015078857A JP2016200649A JP 2016200649 A JP2016200649 A JP 2016200649A JP 2015078857 A JP2015078857 A JP 2015078857A JP 2015078857 A JP2015078857 A JP 2015078857A JP 2016200649 A JP2016200649 A JP 2016200649A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter
- optical
- light source
- light
- rod
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70833—Mounting of optical systems, e.g. mounting of illumination system, projection system or stage systems on base-plate or ground
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0033—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
- G02B19/0047—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B11/00—Cleaning flexible or delicate articles by methods or apparatus specially adapted thereto
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0004—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
- G02B19/0028—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed refractive and reflective surfaces, e.g. non-imaging catadioptric systems
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70008—Production of exposure light, i.e. light sources
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70075—Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70191—Optical correction elements, filters or phase plates for controlling intensity, wavelength, polarisation, phase or the like
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70225—Optical aspects of catadioptric systems, i.e. comprising reflective and refractive elements
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70233—Optical aspects of catoptric systems, i.e. comprising only reflective elements, e.g. extreme ultraviolet [EUV] projection systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
図9は、本実施形態における光学フィルタ202を示す図である。ここで、図9を用いて、本実施形態による光学フィルタ202の取り付け誤差の影響を低減する効果について説明する。なお、本実施形態では、光学フィルタ202内の1b、1d、2a、2e、4a、4e、5b、5dの位置にフィルタパターンを設けているが、フィルタパターンの配置はこれに限られない。
次に、被照明面110の照明領域での照度不均一性を補正する時の実施形態について説明する。まず、図11(a)は、被照明面110の照明領域の照度分布を示す図である。そして、その照度分布は、被照明面110の中心部が最も低く、周辺に近付くにつれて、徐々に高くなる状態について示している。次に、図11(b)は被照明面110における照度分布のX断面照度116を示しており、図11(a)に示すX断面115上の照度分布を示している。なお、被照明面110の照度分布は周辺に向けて徐々に高くなる状態を示しているため、X座標に依存して2次形状のような断面形状をしていると想定する。
本実施形態では、フィルタパターンの遮光形状をフィルタパターン別に変化させて、被照明面110の照度分布をより良好な分布にする場合について説明する。まず、図16に示すように、光学フィルタ202内のフィルタパターン1b、2a、4e、5dは光学フィルタ121と同形状の遮光体を設けている。そして、フィルタパターン1d、2e、4a、5bは、フィルタパターン1b、2a、4e、5dに設けた遮光体よりも透過領域が狭いパターンを設けている。このようなフィルタパターンを設けた光学フィルタを161と定義する。
本発明の実施形態にかかるデバイスの製造方法は、例えば、半導体デバイス等のマイクロデバイスや微細構造を有する素子等のデバイスを製造するのに好適である。本実施形態のデバイスの製造方法は、原版に形成されているパターンを基板に塗布された感光剤に上記の照明光学装置を用いて転写する工程(基板を露光する工程)と、かかる工程で潜像パターンが形成された基板を現像する工程とを含む。さらに、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。本実施形態のデバイスの製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
105 集光光学系
106 ロッド型オプティカルインテグレータ
202 光学フィルタ
Claims (7)
- 光源からの光で被照明面を照明する照明光学装置であって、
入射した前記光を内面で複数回反射させて複数の2次光源像を形成するオプティカルインテグレータと、
前記2次光源像の光量を調整する複数の光量調整要素を有する光量調整部と、
前記光量調整部と前記オプティカルインテグレータの射出端面とが共役関係となるように構成された集光光学系を備え、
前記光量調整要素は、前記オプティカルインテグレータにおいて、第1の方向での反射回数が奇数回と偶数回である2次光源と第2の方向での反射回数が奇数回と偶数回である2次光源に対応する位置であって、反射が起こらない2次光源に対応しない位置に設けられる
ことを特徴とする照明光学装置。 - 前記光量調整要素は、点対称な位置のそれぞれに設けられている
ことを特徴とする請求項1に記載の照明光学装置。 - 前記光量調整要素は、位置によって形状が異なる遮光体を有する
ことを特徴とする請求項1または2に記載の照明光学装置。 - 反射回数が奇数回の前記2次光源に対応する前記光量調整要素の数と反射回数が偶数回の前記2次光源に対応する前記光量調整要素の数が同数である
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の照明光学装置。 - 前記オプティカルインテグレータは、ロッド型オプティカルインテグレータである
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の照明光学装置。 - 原版に形成されているパターンの像を基板に転写する露光装置であって、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の照明光学装置を備え、
前記照明光学装置は、前記原版の被照明面を照明する
ことを特徴とする露光装置。 - 請求項6に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
前記工程で露光された前記基板を現像する工程とを含む
ことを特徴とするデバイスの製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015078857A JP6544972B2 (ja) | 2015-04-08 | 2015-04-08 | 照明光学装置、およびデバイス製造方法 |
TW105107917A TWI611272B (zh) | 2015-04-08 | 2016-03-15 | 照明光學設備及裝置製造方法 |
US15/084,949 US9841589B2 (en) | 2015-04-08 | 2016-03-30 | Illumination optical apparatus and device manufacturing method |
KR1020160040796A KR102035163B1 (ko) | 2015-04-08 | 2016-04-04 | 조명 광학장치, 및 디바이스 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015078857A JP6544972B2 (ja) | 2015-04-08 | 2015-04-08 | 照明光学装置、およびデバイス製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016200649A true JP2016200649A (ja) | 2016-12-01 |
JP2016200649A5 JP2016200649A5 (ja) | 2018-05-24 |
JP6544972B2 JP6544972B2 (ja) | 2019-07-17 |
Family
ID=57111726
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015078857A Active JP6544972B2 (ja) | 2015-04-08 | 2015-04-08 | 照明光学装置、およびデバイス製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9841589B2 (ja) |
JP (1) | JP6544972B2 (ja) |
KR (1) | KR102035163B1 (ja) |
TW (1) | TWI611272B (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102439935B1 (ko) * | 2018-02-27 | 2022-09-02 | 가부시키가이샤 오크세이사쿠쇼 | 투영 노광 장치 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000057459A1 (fr) * | 1999-03-24 | 2000-09-28 | Nikon Corporation | Méthode d'exposition et dispositif correspondant |
JP2000269114A (ja) * | 1999-03-16 | 2000-09-29 | Nikon Corp | 照明装置、露光装置及び露光方法 |
JP2004055856A (ja) * | 2002-07-19 | 2004-02-19 | Canon Inc | 照明装置、それを用いた露光装置及びデバイス製造方法 |
US20050134820A1 (en) * | 2003-12-22 | 2005-06-23 | Asml Netherlands B.V. | Method for exposing a substrate, patterning device, and lithographic apparatus |
JP2005294845A (ja) * | 2004-04-02 | 2005-10-20 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置、照明装置、及び強度分布を回転させるための光学要素 |
JP2008191496A (ja) * | 2007-02-06 | 2008-08-21 | Sharp Corp | プロジェクタ |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6281967B1 (en) * | 2000-03-15 | 2001-08-28 | Nikon Corporation | Illumination apparatus, exposure apparatus and exposure method |
KR101441840B1 (ko) * | 2003-09-29 | 2014-11-04 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광장치, 노광방법 및 디바이스 제조방법 |
US7843549B2 (en) * | 2007-05-23 | 2010-11-30 | Asml Holding N.V. | Light attenuating filter for correcting field dependent ellipticity and uniformity |
-
2015
- 2015-04-08 JP JP2015078857A patent/JP6544972B2/ja active Active
-
2016
- 2016-03-15 TW TW105107917A patent/TWI611272B/zh active
- 2016-03-30 US US15/084,949 patent/US9841589B2/en active Active
- 2016-04-04 KR KR1020160040796A patent/KR102035163B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000269114A (ja) * | 1999-03-16 | 2000-09-29 | Nikon Corp | 照明装置、露光装置及び露光方法 |
WO2000057459A1 (fr) * | 1999-03-24 | 2000-09-28 | Nikon Corporation | Méthode d'exposition et dispositif correspondant |
JP2004055856A (ja) * | 2002-07-19 | 2004-02-19 | Canon Inc | 照明装置、それを用いた露光装置及びデバイス製造方法 |
US20050134820A1 (en) * | 2003-12-22 | 2005-06-23 | Asml Netherlands B.V. | Method for exposing a substrate, patterning device, and lithographic apparatus |
JP2005294845A (ja) * | 2004-04-02 | 2005-10-20 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置、照明装置、及び強度分布を回転させるための光学要素 |
JP2008191496A (ja) * | 2007-02-06 | 2008-08-21 | Sharp Corp | プロジェクタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20160299437A1 (en) | 2016-10-13 |
TWI611272B (zh) | 2018-01-11 |
TW201636743A (zh) | 2016-10-16 |
KR102035163B1 (ko) | 2019-10-22 |
US9841589B2 (en) | 2017-12-12 |
KR20160120664A (ko) | 2016-10-18 |
JP6544972B2 (ja) | 2019-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3259657B2 (ja) | 投影露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法 | |
TWI579657B (zh) | 光學積分器、照明光學系統、曝光裝置以及元件製造方法 | |
JP4356695B2 (ja) | 照明光学系、投影露光装置、マイクロデバイスの製造方法 | |
US10133185B2 (en) | Illumination optical apparatus and device manufacturing method | |
JPH11317348A (ja) | 投影露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法 | |
KR101892766B1 (ko) | 반사 결상 광학계, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
JP2002110529A (ja) | 投影露光装置及び該装置を用いたマイクロデバイス製造方法 | |
JP2004055856A (ja) | 照明装置、それを用いた露光装置及びデバイス製造方法 | |
KR102212855B1 (ko) | 조명 광학계, 리소그래피 장치, 및 물품 제조 방법 | |
JP6544972B2 (ja) | 照明光学装置、およびデバイス製造方法 | |
JP5388019B2 (ja) | 露光照明装置及び露光パターンの位置ずれ調整方法 | |
US10459343B2 (en) | Illumination device | |
JP3811923B2 (ja) | 照明光学系 | |
KR20120100996A (ko) | 반사 결상 광학계, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
JP5201061B2 (ja) | 補正フィルター、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 | |
JPH0936026A (ja) | 投影露光装置及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法 | |
JP2010067943A (ja) | 補正ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 | |
JP5187631B2 (ja) | 補正ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 | |
JPH0794403A (ja) | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 | |
CN112352203A (zh) | 具有校正特征的光均质化元件 | |
JP2023148840A (ja) | 照明光学系、露光装置および物品製造方法 | |
JP2017198759A (ja) | 照明装置、照明方法、露光装置、およびデバイス製造方法 | |
JP2013165196A (ja) | 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 | |
JP2010157650A (ja) | 補正ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 | |
JP2004111494A (ja) | 照明装置及び露光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180403 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180403 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190208 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190226 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190426 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190521 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190618 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6544972 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |