JP2016200420A - Imaging apparatus and inspection device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、撮像画像に基づいて撮像対象の傷や異物等の検出に用いる撮像装置及び検査装置に関する。 The present invention relates to an imaging apparatus and an inspection apparatus that are used to detect scratches, foreign objects, and the like of an imaging target based on a captured image.
従来、撮像対象の外観検査は、撮像対象の検査部位に応じて事前に複数のカメラを固定配置して、複数の方向から撮像対象を撮像して検査している。この外観検査は、撮像対象に対する撮像方向が固定され、撮像対象に想定外の傷や異物等が生じている場合にはカメラの配置構成を変更して検査しなければならない。そこで、この種の外観検査に用いる検査装置として、複数のカメラや照明を撮像対象に対して相対的に移動可能に配置して、複数のカメラで撮像対象を様々な方向から撮像して検査するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, in an appearance inspection of an imaging target, a plurality of cameras are fixedly arranged in advance according to an inspection site of the imaging target, and the imaging target is imaged and inspected from a plurality of directions. In this appearance inspection, when an imaging direction with respect to an imaging target is fixed and an unexpected scratch or a foreign object is generated on the imaging target, it is necessary to inspect by changing the arrangement of the cameras. Therefore, as an inspection apparatus used for this type of appearance inspection, a plurality of cameras and illumination are arranged so as to be relatively movable with respect to the imaging target, and the imaging target is imaged from various directions and inspected by the plurality of cameras. Those are known (for example, see Patent Document 1).
しかしながら、特許文献1に記載の検査装置は、複数のカメラに加えて、各カメラを個別に移動させるための移動機構を設けなければならないため、装置全体が大型化すると共に部品点数が増加してコストが増大するという問題があった。さらに、撮像対象の撮像部位に応じて各カメラを適切に移動制御しなければならず、装置構成及び制御構成が複雑になっていた。 However, since the inspection apparatus described in Patent Document 1 must be provided with a moving mechanism for moving each camera individually in addition to a plurality of cameras, the entire apparatus becomes larger and the number of parts increases. There was a problem that the cost increased. Furthermore, it is necessary to appropriately control the movement of each camera according to the imaging region to be imaged, and the apparatus configuration and the control configuration are complicated.
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、装置全体を大型化することなく、安価かつ簡易な構成で撮像対象を適切に撮像することができる撮像装置及び検査装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such points, and an object thereof is to provide an imaging apparatus and an inspection apparatus that can appropriately capture an imaging target with an inexpensive and simple configuration without increasing the size of the entire apparatus. And
本発明の撮像装置は、撮像対象が設置されるステージと、放物面状の鏡面によって前記ステージ上の前記撮像対象を覆うミラー部材と、前記ミラー部材の鏡面を用いて前記ステージ上の前記撮像対象を撮像する光学系と、前記ステージの前記撮像対象と前記光学系とを相対的に離間又は接近させる移動機構とを備え、前記離間又は接近方向を軸方向とし、当該軸方向に垂直な方向から前記ミラー部材の鏡面に入射した光の焦点に前記撮像対象が位置付けられていることを特徴とする。 The imaging apparatus of the present invention includes a stage on which an imaging target is installed, a mirror member that covers the imaging target on the stage with a parabolic mirror surface, and the imaging on the stage using a mirror surface of the mirror member. An optical system for imaging an object; and a moving mechanism for relatively separating or approaching the imaging object of the stage and the optical system, wherein the separation or approach direction is an axial direction, and a direction perpendicular to the axial direction The imaging object is positioned at the focal point of light incident on the mirror surface of the mirror member.
この構成によれば、軸方向に垂直な方向からの光は放物面状の鏡面のどの位置でも焦点に位置付けられた撮像対象に向けて反射され、焦点に位置付けられた撮像対象からの光は放物面状の鏡面のどの位置でも軸方向に垂直な方向に反射される。このため、撮像対象に対して光学系が離間又は接近することによって、撮像対象に対する光の当たり方や、撮像対象の見え方を調整することができる。よって、装置全体を大型化することなく、安価かつ簡易な構成で撮像対象を適切に撮像することができる。なお、焦点に撮像対象が位置付けられるとは、撮像対象の中心が焦点に位置付けられる構成に限定されず、撮像対象の一部が焦点に重なる位置や、鏡面と焦点を結ぶ光路を撮像対象が遮るような略焦点に位置付けられる構成も含む。 According to this configuration, light from a direction perpendicular to the axial direction is reflected toward the imaging target positioned at the focal point at any position on the parabolic mirror surface, and light from the imaging target positioned at the focal point is reflected Any position on the parabolic mirror surface is reflected in a direction perpendicular to the axial direction. For this reason, when the optical system separates or approaches the imaging target, it is possible to adjust how the light hits the imaging target and how the imaging target looks. Therefore, it is possible to appropriately capture an imaging target with an inexpensive and simple configuration without increasing the size of the entire apparatus. Note that the imaging target is positioned at the focal point is not limited to the configuration in which the center of the imaging target is positioned at the focal point, and the imaging target blocks a position where a part of the imaging target overlaps the focal point and an optical path connecting the mirror surface and the focal point. Such a configuration positioned at a substantially focal point is also included.
また本発明の上記撮像装置において、前記ミラー部材の鏡面は、前記軸方向をz軸方向とするxyz座標空間で、fを任意の定数としたときに、式(1)で示される回転放物面状に形成されている。
式(1)
z4−16f2x2−16f2y2−8f2z2+16f4=0
この構成によれば、xyz座標空間の原点が焦点になり、原点に撮像対象を位置付けて撮像することができる。
In the imaging device of the present invention, the mirror surface of the mirror member may be a paraboloid represented by Expression (1) when f is an arbitrary constant in an xyz coordinate space in which the axial direction is the z-axis direction. It is formed in a planar shape.
Formula (1)
z 4 -16f 2 x 2 -16f 2 y 2 -8f 2 z 2 + 16f 4 = 0
According to this configuration, the origin of the xyz coordinate space becomes the focal point, and the imaging object can be positioned at the origin and imaging can be performed.
また本発明の上記撮像装置において、前記光学系は、前記軸方向に垂直な方向から前記ミラー部材の鏡面を撮像する撮像部を有し、前記移動機構は、前記ステージの前記撮像対象と前記撮像部とを相対的に離間又は接近させる。この構成によれば、焦点に位置付けられた撮像対象から放物面状の鏡面に入射された光は、放物面状の鏡面のどの位置でも、軸方向に垂直な方向に反射される。よって、撮像部が鏡面から鏡像を取り込む位置を軸方向で変えることで、撮像対象の見え方を調整することができる。 In the imaging apparatus according to the aspect of the invention, the optical system may include an imaging unit that captures an image of a mirror surface of the mirror member from a direction perpendicular to the axial direction, and the moving mechanism may include the imaging target of the stage and the imaging The part is relatively separated or approached. According to this configuration, light incident on the parabolic mirror surface from the imaging object positioned at the focal point is reflected in a direction perpendicular to the axial direction at any position on the parabolic mirror surface. Therefore, the appearance of the imaging target can be adjusted by changing the position where the imaging unit captures the mirror image from the mirror surface in the axial direction.
また本発明の上記撮像装置において、前記軸方向を回転軸として、前記ステージの前記撮像対象と前記光学系とを相対的に回転させる回転機構を備える。この構成によれば、光学系が鏡面から鏡像を取り込む位置を回転方向で変えることで、撮像対象を適切な向きから撮像することができる。 The imaging apparatus of the present invention further includes a rotation mechanism that relatively rotates the imaging target of the stage and the optical system with the axial direction as a rotation axis. According to this configuration, the imaging target can be imaged from an appropriate direction by changing the position at which the optical system captures the mirror image from the mirror surface in the rotation direction.
また本発明の上記撮像装置において、前記ステージに前記撮像対象が設置される設置台が設けられ、前記回転機構は前記設置台を前記光学系に対して回転させる。この構成によれば、撮像部に対して撮像対象の向きが回転するため、光学系が鏡面から鏡像を取り込む位置を回転方向で固定させた状態で、撮像対象を適切な向きから撮像することができる。 In the imaging apparatus of the present invention, an installation table on which the imaging target is installed is provided on the stage, and the rotation mechanism rotates the installation table with respect to the optical system. According to this configuration, since the orientation of the imaging target rotates with respect to the imaging unit, the imaging target can be imaged from an appropriate orientation in a state where the position where the optical system captures the mirror image from the mirror surface is fixed in the rotation direction. it can.
また本発明の上記撮像装置において、前記ミラー部材の鏡面が放物面の一部からなる部分放物面状に形成されている。この構成によれば、撮像部が鏡面から鏡像を取り込む位置が回転方向で固定されているため、鏡面が部分放物面で形成されていても撮像対象を撮像することができる。 In the imaging device according to the aspect of the invention, the mirror surface of the mirror member is formed in a partial paraboloid shape including a part of a paraboloid. According to this configuration, since the position at which the imaging unit captures the mirror image from the mirror surface is fixed in the rotation direction, the imaging target can be imaged even if the mirror surface is formed of a partial paraboloid.
また本発明の上記撮像装置において、前記光学系は、前記撮像対象を前記軸方向から撮像する撮像部と、当該軸方向に垂直な方向から前記ミラー部材の鏡面を照明する照明部とを有し、前記移動機構は、前記ステージの前記撮像対象と前記照明部とを相対的に離間又は接近させる。この構成によれば、照明部から放物面状の鏡面に入射された光は、放物面状の鏡面のどの位置でも、焦点に位置付けられた撮像対象に向けて反射される。よって、照明部が鏡面を照明する位置を軸方向で変えることで、撮像対象に対する光の当たり方を調整することができる。 In the imaging apparatus of the present invention, the optical system includes an imaging unit that images the imaging target from the axial direction, and an illumination unit that illuminates the mirror surface of the mirror member from a direction perpendicular to the axial direction. The moving mechanism relatively separates or approaches the imaging target of the stage and the illumination unit. According to this configuration, the light incident on the parabolic mirror surface from the illumination unit is reflected toward the imaging object positioned at the focal point at any position on the parabolic mirror surface. Therefore, by changing the position where the illuminating unit illuminates the mirror surface in the axial direction, it is possible to adjust how the light strikes the imaging target.
また本発明の上記撮像装置において、前記照明部が、前記ミラー部材の鏡面を全周に亘って照明する円盤型照明である。この構成によれば、円盤型照明から出射された光により、撮像対象の撮像部位を周囲から照明することができる。 Moreover, the said imaging device of this invention WHEREIN: The said illumination part is disk type illumination which illuminates the mirror surface of the said mirror member over a perimeter. According to this configuration, the imaging region to be imaged can be illuminated from the surroundings by the light emitted from the disk-type illumination.
また本発明の上記撮像装置において、前記軸方向を回転軸として、前記ステージに設けられた設置台上の撮像対象と前記照明部とを相対的に回転させる回転機構を備え、前記照明部が、前記ミラー部材の鏡面を部分的に照明するスポット照明である。この構成によれば、スポット照明から出射されたスポット光により、撮像対象の撮像部位を部分的に照明することができる。 The imaging apparatus of the present invention may further include a rotation mechanism that relatively rotates the imaging target on the installation table provided on the stage and the illumination unit with the axial direction as a rotation axis, and the illumination unit includes: It is spot illumination which partially illuminates the mirror surface of the mirror member. According to this configuration, the imaging region to be imaged can be partially illuminated by the spot light emitted from the spot illumination.
また本発明の上記撮像装置において、前記ミラー部材の鏡面が放物面の一部からなる部分放物面状に形成されている。この構成によれば、スポット光によって鏡面を照射する位置が回転方向で固定されているため、鏡面が部分放物面で形成されていても撮像対象を部分的に照明することができる。 In the imaging device according to the aspect of the invention, the mirror surface of the mirror member is formed in a partial paraboloid shape including a part of a paraboloid. According to this configuration, since the position at which the mirror surface is irradiated with the spot light is fixed in the rotation direction, the imaging target can be partially illuminated even if the mirror surface is formed as a partial paraboloid.
本発明の検査装置は、上記の撮像装置と、前記撮像装置で撮像された撮像画像の画像処理により前記撮像対象を検査する画像処理装置とを備えたことを特徴とする。この構成によれば、装置全体を大型化することなく、安価かつ簡易な構成で撮像対象を撮像し、撮像画像に基づいて撮像対象に生じた傷や異物を検査することができる。 An inspection apparatus according to the present invention includes the above-described imaging apparatus and an image processing apparatus that inspects the imaging target by image processing of a captured image captured by the imaging apparatus. According to this configuration, it is possible to capture an imaging target with an inexpensive and simple configuration without increasing the size of the entire apparatus, and to inspect a scratch or a foreign object generated on the imaging target based on the captured image.
本発明によれば、撮像対象に対して光学系が離間又は接近されることで、光学系に取り込まれる撮像対象の見え方や撮像対象に対する光の当たり方が可変されるので、装置全体を大型化することなく、安価かつ簡易な構成で撮像対象を適切に照明して撮像することができる。 According to the present invention, since the optical system is separated or approached with respect to the imaging target, the appearance of the imaging target captured by the optical system and the way the light hits the imaging target can be changed. Therefore, the imaging target can be appropriately illuminated and imaged with an inexpensive and simple configuration.
以下、添付図面を参照して、本実施の形態に係る検査装置について説明する。なお、本実施の形態に係る検査装置は、放物面状の内面を鏡面にしたミラー部材を用いて撮像する撮像装置を備えた構成であれば、どのように構成されていてもよい。また、以下の説明では、z軸方向で撮像対象と光学系の離間又は接近する構成を例示して説明するが、撮像対象と光学系の離間又は接近方向は特に限定されない。また、以下の各実施の形態では、説明の便宜上、同一の構成には同一の符号を付して説明する。図1は、第1の実施の形態に係る検査装置の模式図である。図2は、第1の実施の形態に係るミラー部材の説明図である。 Hereinafter, an inspection apparatus according to the present embodiment will be described with reference to the accompanying drawings. Note that the inspection apparatus according to the present embodiment may be configured in any way as long as it includes an imaging apparatus that captures an image using a mirror member having a parabolic inner surface as a mirror surface. In the following description, a configuration in which the imaging target and the optical system are separated or approached in the z-axis direction will be described as an example, but the separation or approaching direction of the imaging target and the optical system is not particularly limited. In the following embodiments, for convenience of explanation, the same components are denoted by the same reference numerals. FIG. 1 is a schematic diagram of an inspection apparatus according to the first embodiment. FIG. 2 is an explanatory diagram of the mirror member according to the first embodiment.
図1に示すように、検査装置1は、撮像装置11で撮像された撮像画像を、画像処理装置12において画像処理することで撮像対象Wを検査するように構成されている。この検査装置1では、事前に想定した撮像部位の不良の検査だけでなく、事前に想定していない撮像部位の不良の検査も求められている。このため、固定された方向からだけではなく、様々な方向から撮像対象Wを撮像する必要があるが、複数の撮像部(カメラ)や複雑な移動機構を用いなければならない。そこで、本実施の形態に係る撮像装置11は、ドーム状のミラー部材31を用いて撮像対象Wに対する撮像方向を可変させている。
As shown in FIG. 1, the inspection apparatus 1 is configured to inspect the imaging target W by performing image processing on the captured image captured by the
図2Aに示すように、ミラー部材31の鏡面32の断面形状は、xz座標系で次式(2)に示される放物線になっている。ここで、p≦x≦1であって、pは0と1の間の値を持つ定数であり、fは任意の定数である。この式(2)で示される放物線は原点が焦点になっている。
式(2)
y2=−4f(x−f)
この放物線では、焦点(原点)から出射されて放物線で反射された光は全てz軸と垂直な方向に進むため、z軸と垂直な方向から放物線に視点を向けた位置に応じて、焦点を異なる方向から見た像を得ることが可能になっている。
As shown in FIG. 2A, the cross-sectional shape of the
Formula (2)
y 2 = -4f (x-f )
In this parabola, all the light emitted from the focal point (origin) and reflected by the parabola travels in a direction perpendicular to the z-axis, so the focal point is focused according to the position where the viewpoint is directed to the parabola from the direction perpendicular to the z-axis. It is possible to obtain images viewed from different directions.
図2Bに示すように、放物線をz軸回りに回転させてできるミラー部材31の鏡面32は、xyz座標空間で式(3)に示される回転放物面になっている。
式(3)
z4−16f2x2−16f2y2−8f2z2+16f4=0
このように、撮像装置11では、ミラー部材31の放物面状の鏡面32の性質を利用することで撮像対象Wに対する撮像方向を可変させることが可能になっている。
As shown in FIG. 2B, the
Formula (3)
z 4 -16f 2 x 2 -16f 2 y 2 -8f 2 z 2 + 16f 4 = 0
Thus, in the
図1に戻り、撮像装置11の基台21には、撮像対象Wの設置台24を有するステージ23が設けられている。ステージ23上には、放物面状の鏡面32によって設置台24上の撮像対象Wを覆うドーム状のミラー部材31が設けられている。設置台24上の撮像対象Wは、ステージ23上でz軸方向(軸方向)に垂直な方向からミラー部材31の鏡面32に入射した光の焦点(原点)に位置付けられている。ミラー部材31の内面は、回転放物面状の鏡面32になっており、焦点に設置された撮像対象Wからの光をz軸方向に垂直な方向に反射させている。また、ミラー部材31の頂点部分には、ミラー部材31の内外を連ねる開口33が形成されている。
Returning to FIG. 1, the
ミラー部材31の開口33には、ミラー部材31の鏡面32を介してステージ23上の撮像対象Wを撮像する光学系41が差し込まれている。光学系41のケース42は筒状に形成されており、ケース42の下端側の側面にミラー部材31の鏡面32に向けた開口43が形成されている。ケース42の上端側には撮像面を下方に向けた撮像部44が設置され、ケース42の下端側には開口43から入射した光を撮像部44の撮像面に向けて反射するミラー46が設置されている。撮像対象Wからの光はミラー部材31の放物面状の鏡面32で側方に向けて反射された後、ミラー46で上方に向けて反射されることで撮像部44に取り込まれる。
An
また、基台21上には支柱部51が立設されており、支柱部51にはステージ23上の撮像対象Wに対して光学系41を離間又は接近させる移動機構55が設けられている。移動機構55は、アーム52に支持された光学系41をz軸方向に移動させることで、ミラー部材31に対する光学系41の高さを調整している。アーム52には、z軸を回転軸としてステージ23の撮像対象Wに対して光学系41を回転させる回転機構56が設けられている。回転機構56は、光学系41全体をz軸回りに回転させることで、ミラー部材31の鏡面32に対する光学系41の向きを水平方向で調整している。
Further, a
焦点に位置付けられた撮像対象Wからの光は、放物面状の鏡面32のどの位置でもz軸方向に垂直な方向に反射される。このため、鏡面32に対して光学系41をz軸方向に動かすことで、撮像対象Wからの斜め方向の光を光学系41に取り込むことができ、撮像対象Wの斜め上方からの見え方が変更される。さらに、鏡面32に対して光学系41をz軸回りに回転させることで、撮像対象Wの見える向きが変更される。このように、移動機構55及び回転機構56によってミラー部材31の鏡面32に対する光学系41の視点を動かすことで、撮像対象Wを様々な方向から見た像を取得している。
The light from the imaging target W positioned at the focal point is reflected in a direction perpendicular to the z-axis direction at any position on the
なお、第1の実施の形態においては、撮像対象Wを照らす照明部が光学系41に設けられていてもよいし、ミラー部材31の内側に設けられていてもよい。また、撮像装置11に照明部が設けられずに、ミラー部材31の開口33と光学系41のケース42との隙間から外部の光がミラー部材31の内側に取り込まれてもよい。
In the first embodiment, an illumination unit that illuminates the imaging target W may be provided in the
画像処理装置12は、撮像装置11に撮像された撮像画像に対して画像処理を施すことで、撮像対象Wの不良を検出している。画像処理装置12による画像処理は特に限定されないが、例えば、撮像画像と事前に用意した基準画像とを比較する方法や、正規化相関係数に基づくテンプレートマッチング等の方法により撮像対象の不良を検出してもよい。また、第1の実施の形態では、画像処理装置12によって撮像対象Wの不良を検出する構成にしたが、オペレータの目視によって撮像画像から撮像対象Wの不良を確認するようにしてもよい。
The
図3を参照して、撮像装置による撮像動作について説明する。図3は、第1の実施の形態に係る撮像装置による撮像動作の説明図である。ここでは、光学系に照明部が設けられて、ミラー部材の鏡面を介して撮像対象が照射されているものとする。 With reference to FIG. 3, the imaging operation by the imaging device will be described. FIG. 3 is an explanatory diagram of an imaging operation performed by the imaging apparatus according to the first embodiment. Here, it is assumed that an illumination unit is provided in the optical system and the imaging target is irradiated through the mirror surface of the mirror member.
図3に示すように、移動機構55によって光学系41が上方位置に位置付けられ、回転機構56によって光学系41の向きが所定の向きにむけられると、撮像対象Wから真上に近い斜め方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P1でz軸と垂直な方向に反射されて光学系41に取り込まれる。光学系41に取り込まれた光はミラー46によって真上に位置する撮像部44に向けて反射される。これにより、鏡面32の反射位置P1における撮像対象Wの鏡像が撮像部44によって撮像され、真上に近い方向から撮像対象Wを見たときの撮像画像が取得される。
As shown in FIG. 3, when the
そして、移動機構55によって光学系41が下方位置に位置付けられると、撮像対象Wから水平に近い斜め方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P2でz軸と垂直な方向に反射されて光学系41に取り込まれる。光学系41に取り込まれた光はミラー46によって真上に位置する撮像部44に向けて反射される。これにより、鏡面32の反射位置P2における撮像対象Wの鏡像が撮像部44によって撮像され、水平に近い方向から撮像対象Wを見たときの撮像画像が取得される。このように、鏡面32から鏡像を取り込む位置を変えることで、撮像対象Wを様々な方向から見た像を得ることが可能になっている。
When the
以上のように、第1の実施の形態に係る撮像装置11は、撮像対象Wに対する撮像部44のz軸方向の移動及びz軸回りの回転によって、鏡面32から鏡像を取り込む位置を変えることで、撮像対象Wの見え方を調整することができる。よって、撮像対象Wの撮像部位を様々な方向から撮像して撮像画像を得ることができ、検査装置1を大型化することなく、安価かつ簡易な構成で撮像対象を適切に撮像して検査することができる。
As described above, the
なお、第1の実施の形態では、光学系41(撮像部44)がz軸方向に移動可能でz軸回りに回転可能な構成にしたが、この構成に限定されない。光学系41とステージ23上の撮像対象Wとがz軸方向に相対的に離間又は接近されると共に、光学系41とステージ23上の撮像対象Wとがz軸回りに相対的に回転される構成であればよい。例えば、図4に示すように、光学系41の代わりにステージ23がz軸方向に移動可能でz軸回りに回転可能な構成にしてもよい。
In the first embodiment, the optical system 41 (imaging unit 44) is configured to be movable in the z-axis direction and rotatable about the z-axis, but is not limited to this configuration. The
図4を参照して、第2の実施の形態に係る検査装置について説明する。第2の実施の形態に係る検査装置は、撮像装置のステージがz軸方向に移動及びz軸回りに回転する点で第1の実施の形態に係る検査装置と相違している。なお、第2の実施の形態においては、第1の実施の形態と同一の構成については説明を省略する。図4は、第2の実施の形態に係る撮像装置による撮像動作の説明図である。ここでは、光学系に照明部が設けられて、ミラー部材の鏡面を介して撮像対象が照射されているものとする。 An inspection apparatus according to the second embodiment will be described with reference to FIG. The inspection apparatus according to the second embodiment is different from the inspection apparatus according to the first embodiment in that the stage of the imaging apparatus moves in the z-axis direction and rotates around the z-axis. In the second embodiment, the description of the same configuration as that of the first embodiment is omitted. FIG. 4 is an explanatory diagram of an imaging operation performed by the imaging apparatus according to the second embodiment. Here, it is assumed that an illumination unit is provided in the optical system and the imaging target is irradiated through the mirror surface of the mirror member.
図4に示すように、第2の実施の形態に係る撮像装置11は、ステージ23から下方に支持部25が延びており、この支持部25に光学系41に対してステージ23上の撮像対象Wを離間又は接近させる移動機構55が設けられている。移動機構55は、ステージ23上のミラー部材31をz軸方向に移動させることで、光学系41に対するミラー部材31の高さを調整している。支持部25の下部には、z軸を回転軸として光学系41に対してステージ23上の撮像対象Wを回転させる回転機構56が設けられている。回転機構56は、ステージ23全体をz軸回りに回転させることで、光学系41に対する撮像対象Wの向きを水平方向で調整している。
As shown in FIG. 4, in the
このように構成された撮像装置11では、移動機構55によってステージ23が上方位置に位置付けられ、回転機構56によってステージ23が所定の向きに向けられると、撮像対象Wから水平に近い斜め方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P3でz軸と垂直な方向に反射されて光学系41に取り込まれる。光学系41に取り込まれた光はミラー46によって真上に位置する撮像部44に向けて反射される。これにより、鏡面32の反射位置P3における撮像対象Wの鏡像が撮像部44によって撮像され、水平に近い方向から撮像対象Wを見たときの撮像画像が取得される。
In the
そして、移動機構55によってステージ23が下方位置に位置付けられると、撮像対象Wから真上に近い斜め方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P4でz軸と垂直な方向に反射されて光学系41に取り込まれる。光学系41に取り込まれた光はミラー46によって真上に位置する撮像部44に向けて反射される。これにより、鏡面32の反射位置P4における撮像対象Wの鏡像が撮像部44によって撮像され、真上に近い方向から撮像対象Wを見たときの撮像画像が取得される。
Then, when the
以上のように、第2の実施の形態に係る撮像装置11においても、ステージ23のz軸方向の移動及びz軸回りの回転によって鏡面32から鏡像を取り込む位置を変えることで、撮像対象Wの見え方を調整することができる。よって、撮像対象Wの撮像部位を様々な方向から撮像して検査することができる。
As described above, also in the
また、第1、第2の実施の形態の他にも、光学系41がz軸方向に移動可能でステージ23がz軸回りに回転可能な構成でもよいし、光学系41がz軸回りに回転可能でステージ23がz軸方向に移動可能でも良い。さらに、図5に示すように、光学系41がz軸方向に移動可能でステージ23上の設置台24がz軸回りに回転可能な構成にしてもよい。
In addition to the first and second embodiments, the
図5を参照して、第3の実施の形態に係る検査装置について説明する。第3の実施の形態に係る検査装置は、撮像装置のステージ上の設置台がz軸回りに回転する点で第1の実施の形態に係る検査装置と相違している。なお、第3の実施の形態においては、第1の実施の形態と同一の構成については説明を省略する。図5は、第3の実施の形態に係る撮像装置による撮像動作の説明図である。ここでは、光学系に照明部が設けられて、ミラー部材の鏡面を介して撮像対象が照射されているものとする。 An inspection apparatus according to the third embodiment will be described with reference to FIG. The inspection apparatus according to the third embodiment is different from the inspection apparatus according to the first embodiment in that an installation base on the stage of the imaging apparatus rotates around the z axis. In the third embodiment, the description of the same configuration as that of the first embodiment is omitted. FIG. 5 is an explanatory diagram of an imaging operation performed by the imaging apparatus according to the third embodiment. Here, it is assumed that an illumination unit is provided in the optical system and the imaging target is irradiated through the mirror surface of the mirror member.
図5に示すように、第3の実施の形態に係る撮像装置11は、設置台24から下方に回転軸26が延びており、この回転軸26の下部に光学系41に対して設置台24上の撮像対象Wを回転させる回転機構56が設けられている。回転機構56は、設置台24をz軸回りに回転させることで、光学系41に対する撮像対象Wの向きを水平方向で調整している。なお、第3の実施の形態に係る撮像装置11は、第1の実施の形態と同様に、基台21上の支柱部51に、ステージ23上の撮像対象Wに対して光学系41を離間又は接近させる移動機構55が設けられている。
As shown in FIG. 5, in the
このように構成された撮像装置11では、移動機構55によって光学系41が上方位置に位置付けられ、回転機構56によって設置台24が所定の向きに向けられると、撮像対象Wから真上に近い斜め方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P5でz軸と垂直な方向に反射されて光学系41に取り込まれる。光学系41に取り込まれた光はミラー46によって真上に位置する撮像部44に向けて反射される。これにより、鏡面32の反射位置P5における撮像対象Wの鏡像が撮像部44によって撮像され、真上に近い方向から撮像対象Wを見たときの撮像画像が取得される。
In the
そして、移動機構55によって光学系41が下方位置に位置付けられると、撮像対象Wから水平に近い斜め方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P6でz軸と垂直な方向に反射されて光学系41に取り込まれる。光学系41に取り込まれた光はミラー46によって真上に位置する撮像部44に向けて反射される。これにより、鏡面32の反射位置P6における撮像対象Wの鏡像が撮像部44によって撮像され、水平に近い方向から撮像対象Wを見たときの撮像画像が取得される。
When the
以上のように、第3の実施の形態に係る撮像装置11においても、光学系41のz軸方向の移動によって鏡面32から鏡像を取り込む位置を変えることで、鏡面32から鏡像を取り込む位置を回転方向で固定させた状態で、撮像対象を適切な向きから撮像することができる。よって、撮像対象Wの撮像部位を様々な方向から撮像して検査することができる。
As described above, also in the
上記の第3の実施の形態に係る撮像装置11では、光学系41の向きを変えることなく、光学系41がミラー部材31の一部分を用いて撮像対象Wの鏡像を取り込むため、ミラー部材31がドーム状に形成されている必要がない。このため、図6に示す第4の実施の形態のように、ドーム形状を切り欠いたミラー部材31を用いてもよい。この場合、ミラー部材31の鏡面32が放物面の一部からなる部分放物面状に形成されている。鏡面32から鏡像を取り込む位置が回転方向で固定されているため、鏡面32が部分放物面で形成されていても撮像対象Wを撮像することができる。
In the
上記した第1−第4の実施の形態では、撮像部44によってミラー部材31の鏡面32に映る鏡像を撮像する構成にしたが、この構成に限定されない。ミラー部材31の鏡面32を用いてステージ23上の撮像対象Wを撮像する構成であればよく、図7に示すように、照明部47によってミラー部材31の鏡面32を介して撮像対象Wを照明して、撮像部44によって真上から撮像対象Wを撮像する構成にしてもよい。この場合、図8に示すように、ミラー部材31の鏡面32の断面形状は、上記式(2)で示される放物線であり、放物線にz軸に垂直な方向から入射された光は全て焦点に向かって進むため、放物線に対する入射位置に応じて撮像対象を様々な方向から照らすことが可能になっている。
In the first to fourth embodiments described above, the mirror image reflected on the
図7を参照して、第5の実施の形態に係る検査装置について説明する。なお、第5の実施の形態においては、第1の実施の形態と同一の構成については説明を省略する。図7は、第5の実施の形態に係る撮像装置による撮像動作の説明図である。 With reference to FIG. 7, an inspection apparatus according to a fifth embodiment will be described. Note that in the fifth embodiment, description of the same configuration as in the first embodiment will be omitted. FIG. 7 is an explanatory diagram of an imaging operation performed by the imaging apparatus according to the fifth embodiment.
図7に示すように、撮像装置11の基台21には、撮像対象Wの設置台24を有するステージ23が設けられている。ステージ23上には、放物面状の鏡面32によって設置台24上の撮像対象Wを覆うドーム状のミラー部材31が設けられている。設置台24上の撮像対象Wは、ステージ23上でz軸方向(軸方向)に垂直な方向からミラー部材31に入射した光の焦点(原点位置)に位置付けられている。ミラー部材31の内面は、回転放物面状の鏡面32になっており、z軸に垂直な方向からの光を焦点に向かう方向に反射させている。また、ミラー部材31の頂点部分には、ミラー部材31の内外を連ねる開口33が形成されている。
As shown in FIG. 7, the
ミラー部材31の開口33の上方には、撮像対象Wをz軸方向から撮像する撮像部44が位置付けられ、ミラー部材31の開口33の下方には、z軸方向に垂直な方向からミラー部材31の鏡面32を照明する照明部47が位置付けられている。第5の実施の形態では、この撮像部44と照明部47とを含んで光学系41が構成されている。撮像部44は、ステージ23に立設された支柱部53によって撮像面を真下に向けて支持されている。照明部47は、撮像部44の光軸を避けるようにリング状に形成されており、ミラー部材31の鏡面32を全周(360°)に亘って照明する円盤型照明で構成されている。
An
照明部47から周囲に放射された光は、ミラー部材31の放物面状の鏡面32で焦点に向けて反射されて、鏡面32からの反射光によって撮像対象Wが周囲から照明される。そして、照明部47によって照明された撮像対象Wが真上に位置する撮像部44によって撮像される。この場合、照明部47が撮像部44の光軸を避けてリング状に形成されているため、撮像部44による撮像が照明部47に阻害されることがない。なお、照明部47は、例えば、LED(Light Emitting Diode)をリング状に配置して構成されてもよいし、リング状の蛍光灯を配置して構成されてもよい。
The light emitted from the
また、基台21上には支柱部51が立設されており、支柱部51にはステージ23上の撮像対象Wに対して照明部47を離間又は接近させる移動機構55が設けられている。移動機構55は、アーム52に支持された照明部47をz軸方向に移動させることで、ミラー部材31に対する照明部47の高さを調整している。照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光は、放物面状の鏡面32のどの位置でも焦点に位置付けられた撮像対象Wに向けて反射される。このため、鏡面32に対して照明部47をz軸方向に動かすことで、撮像対象に対する光の当たり方を変えることができ、撮像画像の明るさが調整される。
Further, a
このように構成された撮像装置11では、移動機構55によって照明部47が上方位置に位置付けられると、照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P9で焦点に向けて反射されて撮像対象Wが周囲から照明される。これにより、撮像対象Wが真上に近い方向から照明されるため、真上に位置する撮像部44によって明るめの撮像画像が取得される。
In the
そして、移動機構55によって照明部47が下方位置に位置付けられると、照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P10で焦点に向けて反射されて撮像対象Wが周囲から照明される。これにより、撮像対象Wが水平に近い方向から照明されるため、撮像部44によって暗めの撮像画像が取得される。このように、ミラー部材31の鏡面32を照明する位置を変えることで、撮像対象Wを様々な方向から照明した像を得ることが可能になっている。
When the
以上のように、第5の実施の形態に係る撮像装置11は、照明部47のz軸方向の移動によって鏡面32が照明される位置を変えることで、撮像対象Wに対する光の当たり方を調整することができる。よって、照明部47からの光により撮像対象Wの撮像部位を周囲から照明して撮像することができる。
As described above, the
なお、第5の実施の形態では、照明部47がz軸方向に移動可能な構成にしたが、この構成に限定されない。照明部47とステージ23上の撮像対象Wとが相対的に離間又は接近される構成であればよい。例えば、図9に示すように、照明部47の代わりにステージ23がz軸方向に移動可能な構成にしてもよい。
In the fifth embodiment, the
図9を参照して、第6の実施の形態に係る検査装置について説明する。第6の実施の形態に係る検査装置は、撮像装置のステージがz軸方向に移動する点で第5の実施の形態に係る検査装置と相違している。なお、第6の実施の形態においては、第5の実施の形態と同一の構成については説明を省略する。図9は、第6の実施の形態に係る撮像装置による撮像動作の説明図である。 With reference to FIG. 9, an inspection apparatus according to a sixth embodiment will be described. The inspection apparatus according to the sixth embodiment is different from the inspection apparatus according to the fifth embodiment in that the stage of the imaging apparatus moves in the z-axis direction. Note that in the sixth embodiment, description of the same configuration as in the fifth embodiment is omitted. FIG. 9 is an explanatory diagram of an imaging operation performed by the imaging apparatus according to the sixth embodiment.
図9に示すように、第6の実施の形態に係る撮像装置11は、ステージ23から下方に支持部25が延びており、この支持部25には照明部47に対してステージ23上の撮像対象Wを離間又は接近させる移動機構55が設けられている。移動機構55は、ステージ23上のミラー部材31をz軸方向に移動させることで、照明部47に対するミラー部材31の高さを調整している。
As shown in FIG. 9, in the
このように構成された撮像装置11では、移動機構55によってステージ23が上方位置に位置付けられると、照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P11で焦点に向けて反射されて撮像対象Wが周囲から照明される。これにより、撮像対象Wが水平に近い方向から照明されるため、真上に位置する撮像部44によって暗めの撮像画像が取得される。
In the
そして、移動機構55によって照明部47が下方位置に位置付けられると、照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P12で焦点に向けて反射されて撮像対象Wが周囲から照明される。これにより、撮像対象Wが真上に近い方向から照明されるため、真上に位置する撮像部44によって明るめの撮像画像が取得される。
When the
以上のように、第6の実施の形態に係る撮像装置11においても、ステージ23のz軸方向の移動によって鏡面32が照明される位置を変えることで、撮像対象Wに対する光の当たり方を調整することができる。よって、照明部47からの光により撮像対象Wの撮像部位を周囲から照明して撮像することができる。
As described above, also in the
なお、第6の実施の形態では、照明部47がミラー部材31の鏡面32を全周(360°)に亘って照明する円盤型照明で構成されたが、この構成に限定されない。照明部47は、ミラー部材31の鏡面32を照明可能な構成であればよく、図10に示すように、ミラー部材31の鏡面32を部分的に照明するスポット照明で構成されてもよい。
In the sixth embodiment, the
図10を参照して、第7の実施の形態に係る検査装置について説明する。第7の実施の形態に係る検査装置は、照明部がz軸回りに回転可能なスポット照明である点で第5の実施の形態に係る検査装置と相違している。なお、第7の実施の形態においては、第5の実施の形態と同一の構成については説明を省略する。図10は、第7の実施の形態に係る撮像装置による撮像動作の説明図である。 With reference to FIG. 10, an inspection apparatus according to a seventh embodiment will be described. The inspection apparatus according to the seventh embodiment is different from the inspection apparatus according to the fifth embodiment in that the illumination unit is spot illumination that can rotate around the z axis. Note that in the seventh embodiment, description of the same configuration as in the fifth embodiment is omitted. FIG. 10 is an explanatory diagram of an imaging operation performed by the imaging apparatus according to the seventh embodiment.
図10に示すように、第7の実施の形態に係る撮像装置11は、移動機構55に連結されたアーム52に回転機構56を介して照明部47が支持されている。照明部47は、撮像部44の光軸を避けるようにリング状に形成されており、リング状の一方向からミラー部材31の鏡面32を部分的に照明するスポット照明で構成されている。この場合、照明部47が撮像部44の光軸を避けてリング状に形成されているため、撮像部44による撮像が照明部47に阻害されることがない。なお、照明部47は、例えば、LEDを配置して構成されてもよいし、光ファイバを用いて光源(不図示)から光を導いて構成されてもよい。なお、スポット照明はスポット径が可変可能に構成されてもよい。
As shown in FIG. 10, in the
このように構成された撮像装置11では、移動機構55によって照明部47が上方位置に位置付けられ、回転機構56によって照明部47の向きが調整されると、照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P13で焦点に向けて反射されて撮像対象Wがスポット照明される。これにより、撮像対象Wが真上に近い方向から照明されるため、真上に位置する撮像部44によって明るめの撮像画像が取得される。
In the
そして、移動機構55によって照明部47が下方位置に位置付けられると、照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P14で焦点に向けて反射されて撮像対象Wがスポット照明される。これにより、撮像対象Wが水平に近い方向から照明されるため、真上に位置する撮像部44によって暗めの撮像画像が取得される。
When the
以上のように、第7の実施の形態に係る撮像装置11においても、照明部47のz軸方向の移動及びz軸回りの回転によって鏡面32が照明される位置を変えることで、撮像対象Wに対する光の当たり方を調整することができる。よって、照明部47からのスポット光により撮像対象Wの撮像部位を部分的に照明して撮像することができる。なお、第7の実施の形態においては、照明部47をz軸方向に移動させる代わりに、ステージ23をz軸方向に移動させてもよい。
As described above, also in the
なお、第7の実施の形態では、スポット照明である照明部47が回転可能な構成にしたが、この構成に限定されない。例えば、図11に示すように、照明部47の代わりに設置台24がz軸回りに回転可能な構成にしてもよい。
In the seventh embodiment, the
図11を参照して、第8の実施の形態に係る検査装置について説明する。第8の実施の形態に係る検査装置は、設置台がz軸回りに回転可能である点で第7の実施の形態に係る検査装置と相違している。なお、第8の実施の形態においては、第7の実施の形態と同一の構成については説明を省略する。図11は、第8の実施の形態に係る撮像装置による撮像動作の説明図である。 With reference to FIG. 11, an inspection apparatus according to an eighth embodiment will be described. The inspection apparatus according to the eighth embodiment is different from the inspection apparatus according to the seventh embodiment in that the installation table can rotate around the z axis. Note that in the eighth embodiment, description of the same configuration as in the seventh embodiment is omitted. FIG. 11 is an explanatory diagram of an imaging operation performed by the imaging apparatus according to the eighth embodiment.
第8の実施の形態に係る撮像装置11は、設置台24から下方に回転軸26が延びており、この回転軸26の下部に照明部47に対して設置台24上の撮像対象Wを回転させる回転機構56が設けられている。回転機構56は、設置台24をz軸回りに回転させることで、照明部47に対する撮像対象Wの向きを水平方向で調整している。なお、第8の実施の形態に係る撮像装置11は、第7の実施の形態と同様に、基台21上の支柱部51に、ステージ23上の撮像対象Wに対して光学系41を離間又は接近させる移動機構55が設けられている。
In the
このように構成された撮像装置11では、移動機構55によって照明部47が上方位置に位置付けられ、回転機構56によって設置台24が所定の向きに向けられると、照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P15で焦点に向けて反射されて撮像対象Wがスポット照明される。これにより、撮像対象Wが真上に近い方向から照明されるため、真上に位置する撮像部44によって明るめの撮像画像が取得される。
In the
そして、移動機構55によって照明部47が下方位置に位置付けられると、照明部47からz軸方向に垂直な方向に進む光が、ミラー部材31の鏡面32の反射位置P16で焦点に向けて反射されて撮像対象Wがスポット照明される。これにより、撮像対象Wが水平に近い方向から照明されるため、真上に位置する撮像部44によって暗めの撮像画像が取得される。
When the
以上のように、第8の実施の形態に係る撮像装置11においても、照明部47のz軸方向の移動及び設置台24のz軸回りの回転によって鏡面32が照明される位置を変えることで、撮像対象Wに対する光の当たり方を調整することができる。よって、照明部47からのスポット光により撮像対象Wの撮像部位を部分的に照明して撮像することができる。なお、第8の実施の形態においては、照明部47をz軸方向に移動させる代わりに、ステージ23をz軸方向に移動させてもよい。
As described above, also in the
上記の第8の実施の形態に係る撮像装置11では、照明部47の向きを変えることなく、照明部47がミラー部材31の一部分を用いて撮像対象Wを照明するため、ミラー部材31がドーム状に形成されている必要がない。このため、図12に示す第9の実施の形態のように、ドーム形状を切り欠いたミラー部材31を用いてもよい。この場合、ミラー部材31の鏡面32が放物面の一部からなる部分放物面状に形成されている。スポット光によって鏡面32を照明する位置が回転方向で固定されているため、鏡面32が部分放物面で形成されていても撮像対象Wを部分的に照明することができる。
In the
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can change and implement variously. In the above-described embodiment, the size, shape, and the like illustrated in the accompanying drawings are not limited to this, and can be appropriately changed within a range in which the effect of the present invention is exhibited. In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the object of the present invention.
例えば、上記各実施の形態において、ステージ23の設置台24に撮像対象Wが設置される構成にしたが、この構成に限定されない。ステージ23が設置台24を有さずに、ステージ23上に直に撮像対象Wが設置される構成にしてもよい。
For example, in each of the above embodiments, the imaging target W is installed on the
また、上記各実施の形態において、ミラー部材31がドーム状に形成される構成にしたが、この構成に限定されない。ミラー部材31は、撮像対象Wを覆う放物面状の鏡面32を有する構成であれば、どのように形成されてもよい。また、ミラー部材31の内面全体が放物面状の鏡面32で形成されている必要がなく、ミラー部材31の内面の一部が放物面状の鏡面32で形成されていればよい。
Moreover, in each said embodiment, although the
また、上記各実施の形態において、ミラー部材31の鏡面32が式(3)に示す回転放物面状に形成される構成にしたが、この構成に限定されない。ミラー部材31の鏡面32は、撮像対象Wと光学系41とが相対的に離間又は接近する方向を軸方向とし、この軸方向に対して垂直な方向から入射した光を焦点に向けて反射するような放物面状に形成されていればよい。
Moreover, in each said embodiment, although the
また、第1−第4の実施の形態において、光学系41がz軸方向に垂直な方向からの光をミラー46で真上に反射して撮像部44で撮像する構成にしたが、この構成に限定されない。光学系41は、ミラー46を有していなくてもよく、撮像部44がz軸方向に垂直な方向からの光を直に撮像できるように、撮像部44の撮像面がz軸方向に垂直な方向に向けられていてもよい。
In the first to fourth embodiments, the
なお、上記した各実施の形態において、焦点に撮像対象Wが位置付けられるとは、撮像対象Wの中心が焦点に位置付けられる構成に限定されず、撮像対象Wの一部が焦点に重なる位置や、鏡面32と焦点を結ぶ光路を撮像対象Wが遮るような略焦点に位置付けられる構成も含む。
In each of the above-described embodiments, the imaging target W being positioned at the focal point is not limited to a configuration in which the center of the imaging target W is positioned at the focal point, and a position where a part of the imaging target W overlaps the focal point, A configuration in which the optical path connecting the
以上説明したように、本発明は、装置全体を大型化することなく、安価かつ簡易な構成で撮像対象を適切に撮像することができるという効果を有し、特に、撮像対象の傷や異物等の検出に用いる撮像装置及び検査装置に有用である。 As described above, the present invention has an effect that an imaging target can be appropriately captured with an inexpensive and simple configuration without increasing the size of the entire apparatus. It is useful for an imaging device and an inspection device used for detection of the above.
1 検査装置
11 撮像装置
12 画像処理装置
23 ステージ
24 設置台
31 ミラー部材
32 鏡面
41 光学系
44 撮像部
47 照明部
55 移動機構
56 回転機構
W 撮像対象
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (11)
放物面状の鏡面によって前記ステージ上の前記撮像対象を覆うミラー部材と、
前記ミラー部材の鏡面を用いて前記ステージ上の前記撮像対象を撮像する光学系と、
前記ステージの前記撮像対象と前記光学系とを相対的に離間又は接近させる移動機構とを備え、
前記離間又は接近方向を軸方向とし、当該軸方向に垂直な方向から前記ミラー部材の鏡面に入射した光の焦点に前記撮像対象が位置付けられていることを特徴とする撮像装置。 A stage on which an imaging target is installed;
A mirror member that covers the imaging target on the stage with a parabolic mirror surface;
An optical system for imaging the imaging object on the stage using a mirror surface of the mirror member;
A moving mechanism that relatively separates or approaches the imaging target of the stage and the optical system;
An imaging apparatus in which the imaging target is positioned at a focal point of light incident on a mirror surface of the mirror member from a direction perpendicular to the axial direction, the separation or approaching direction being an axial direction.
式(1)
z4−16f2x2−16f2y2−8f2z2+16f4=0 The mirror surface of the mirror member is formed in a paraboloidal shape represented by Expression (1) when x is an xyz coordinate space with the axial direction being the z-axis direction and f is an arbitrary constant. The imaging apparatus according to claim 1, wherein the imaging apparatus is characterized.
Formula (1)
z 4 -16f 2 x 2 -16f 2 y 2 -8f 2 z 2 + 16f 4 = 0
前記移動機構は、前記ステージの前記撮像対象と前記撮像部とを相対的に離間又は接近させることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像装置。 The optical system has an imaging unit that images the mirror surface of the mirror member from a direction perpendicular to the axial direction,
The imaging apparatus according to claim 1, wherein the moving mechanism relatively separates or approaches the imaging target of the stage and the imaging unit.
前記回転機構は前記設置台を前記光学系に対して回転させることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。 An installation base on which the imaging target is installed on the stage is provided,
The imaging apparatus according to claim 4, wherein the rotation mechanism rotates the installation base with respect to the optical system.
前記移動機構は、前記ステージの前記撮像対象と前記照明部とを相対的に離間又は接近させることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像装置。 The optical system includes an imaging unit that images the imaging target from the axial direction, and an illumination unit that illuminates the mirror surface of the mirror member from a direction perpendicular to the axial direction.
The imaging apparatus according to claim 1, wherein the moving mechanism relatively separates or approaches the imaging target of the stage and the illumination unit.
前記照明部が、前記ミラー部材の鏡面を部分的に照明するスポット照明であることを特徴とする請求項7に記載の撮像装置。 A rotation mechanism that relatively rotates the imaging target on the installation table provided on the stage and the illumination unit with the axial direction as a rotation axis,
The imaging apparatus according to claim 7, wherein the illumination unit is spot illumination that partially illuminates a mirror surface of the mirror member.
前記撮像装置で撮像された撮像画像の画像処理により前記撮像対象を検査する画像処理装置とを備えたことを特徴とする検査装置。 An imaging device according to any one of claims 1 to 10,
An inspection apparatus comprising: an image processing apparatus that inspects the imaging target by image processing of a captured image captured by the imaging apparatus.
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Cited By (1)
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WO2022131279A1 (en) * | 2020-12-17 | 2022-06-23 | 日立Astemo株式会社 | Appearance inspection device and appearance inspection method |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022131279A1 (en) * | 2020-12-17 | 2022-06-23 | 日立Astemo株式会社 | Appearance inspection device and appearance inspection method |
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