JP2016151682A - 光ファイバ装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】光ファイバの異常を検出する精度が低下することを抑制できる光ファイバ装置を提供する。【解決手段】光ファイバ装置は、第1の光L1と、第1の光の波長と異なる波長である第2の光L2とが、第1の面31aに入射される少なくとも一つの光ファイバ31と、第2の光L2を検出する検出部43と、を備え、光ファイバ31は、第1の光L1を透過し且つ第2の光L2を反射する反射部31cを第1の面31aに備え、検出部43は、反射部31cで反射する第2の光L2を検出する。【選択図】図3
Description
本発明は、光ファイバを備える光ファイバ装置に関する。
従来、光ファイバを備える光ファイバ装置として、互いに波長の異なる第1の光と第2の光とが光ファイバの第1の面に入射される光ファイバ装置が、知られている(例えば、特許文献1)。該光ファイバ装置は、光ファイバの第2の面から出射された第1及び第2の光のうち、第2の光のみを反射部材で反射し、反射部材で反射した第2の光を検出している。
反射部材で反射された第2の光は、光ファイバの第2の面から入射して第1の面から出射した後に、検出されている。そして、検出される光に基づいて、例えば、光ファイバの折れ、光ファイバの劣化、光ファイバの脱落等といった光ファイバの異常を検出することができる。
ところで、特許文献1に係る光ファイバ装置においては、光ファイバの第2の面から出射した光が、反射部材で反射されて、再び光ファイバの第2の面に入射されるまでに、外乱の影響(例えば、反射部材の劣化等)を受けることがある。斯かる場合、検出される光の精度が低下するため、光ファイバの異常を検出する精度が低下する。
よって、本発明は、斯かる事情に鑑み、光ファイバの異常を検出する精度が低下することを抑制できる光ファイバ装置を提供することを課題とする。
本発明に係る光ファイバ装置は、第1の光と、前記第1の光の波長と異なる波長である第2の光とが、第1の面に入射される少なくとも一つの光ファイバと、前記第2の光を検出する検出部と、を備え、前記光ファイバは、前記第1の光を透過し且つ前記第2の光を反射する反射部を前記第1の面に備え、前記検出部は、前記反射部で反射する前記第2の光を検出する。
また、光ファイバ装置は、複数の前記光ファイバの第2の面側同士を結束する結束部を備え、前記検出部は、前記光ファイバの前記反射部で反射する前記第2の光を、各光ファイバごとに検出するために、複数備えられる、という構成でもよい。
また、光ファイバ装置は、前記第1の光を出射する第1の光源部と、前記第2の光を出射する第2の光源部と、を備える、という構成でもよい。
また、光ファイバ装置は、電気回路を有する基板を備え、前記第1の光源部は、前記第1の光を出射する半導体レーザを備え、前記第2の光源部は、前記第2の光を出射する半導体レーザを備え、前記検出部は、前記第2の光を受ける受光素子を備え、前記各半導体レーザと前記受光素子とは、同一の基板に搭載される、という構成でもよい。
また、光ファイバ装置は、前記光ファイバの前記反射部を透過した前記第1の光を、投射光として用いる画像投影装置である、という構成でもよい。
以上の如く、本発明に係る光ファイバ装置は、光ファイバの異常を検出する精度が低下することを抑制できる、という優れた効果を奏する。
以下、光ファイバ装置における一実施形態について、図1〜図3を参酌して説明する。なお、各図(図4及び図5も同様)において、図面の寸法比と実際の寸法比とは、必ずしも一致していない。
図1に示すように、本実施形態に係る光ファイバ装置1は、画像投影装置である。光ファイバ装置1は、それぞれ異なる色の光を出射する複数(本実施形態においては3つ)の光源装置2(2R,2G,2B)と、光源装置2から出射された光が入射される光ファイバユニット3とを備えている。該光ファイバユニット3は、二つの光ファイバ31,31を備えており、該二つの光ファイバ31,31の他方側で結束される構造、所謂、バンドル構造である。
光ファイバ装置1は、光ファイバユニット3から出射された光で光画像を形成してスクリーン100に投影する画像投影部10を備えている。また、光ファイバ装置1は、各部2,10に電気を供給する電源11と、各部2,10を制御する制御部12とを備えている。
光源装置2は、第1の色(例えば、赤色)の光を出射する第1の光源装置2Rと、第2の色(例えば、緑色)の光を出射する第2の光源装置2Gと、第3の色(例えば、青色)の光を出射する第3の光源装置2Bとを備えている。本実施形態においては、画像投影部10は、複数の光源装置2と複数の光ファイバユニット3とにより、第1〜第3の色の光を分離した状態で、入射されている。
光源装置2は、光を出射する二つの光源ユニット4,4と、各光源ユニット4を収容する本体部5とを備えている。該本体部5は、光ファイバユニット3の各光ファイバ31の一方側の端部と接続する接続部5a,5aを備えている。なお、光源装置2は、光源ユニット4を一つ又は三つ以上備えている、という構成でもよい。
画像投影部10は、各光源装置2から出射された光が光ファイバユニット3を経由して入射されて光画像を形成する画像形成光学系13と、画像形成光学系13から出射された光画像を入射してスクリーン100に投影する投影光学系(例えば、投影レンズ)14とを備えている。また、画像投影部10は、各光学系13,14を収容する画像投影本体部15を備えている。該画像投影本体部15は、各光ファイバユニット3の光ファイバ31の他方側の端部と接続する複数の接続部15aを備えている。
画像形成光学系13は、光源装置2から出射された光のうち所定の偏光成分のみを透過する偏光ビームスプリッタ13aと、偏光ビームスプリッタ13aから出射された光を変調することで光画像にする空間変調素子13bと、各空間変調素子13bで透過された光を合成するダイクロイックプリズム13cとを備えている。また、画像形成光学系13は、各光ファイバ31から出射された光を平行光にするコリメータレンズ13dと、第1及び第3の光源装置2R,2Bから出射されたレーザ光を反射する反射ミラー13eとを備えている。
本実施形態においては、各空間変調素子13bは、透過型液晶素子としている。なお、画像形成光学系13は、反射型液晶素子又はデジタルマイクロミラーデバイスである空間変調素子13bを備える、という構成でもよい。
図2及び図3に示すように、光源ユニット4は、第1の光L1を出射する第1の光源部41と、第2の光L2を出射する第2の光源部42と、第2の光L2を検出する検出部43と、電気回路を有する基板44とを備えている。また、光源ユニット4は、各光源部41,42及び検出部43と、光ファイバユニット3との間に配置される光学系45を備えている。
本実施形態においては、第1の光L1は、可視光である。例えば、第1の光源装置2Rにおける第1の光源部41は、波長が590〜693nmである光を出射し、第2の光源装置2Gにおける第1の光源部41は、波長が498〜580nmである光を出射し、第3の光源装置2Bにおける第1の光源部41は、波長が410〜496nmである光を出射している。図2及び図3(図4及び図5も同様)において、第1の光L1(具体的には、第1の光L1の光軸)は、二点鎖線で示している。
第2の光L2は、第1の光L1の波長よりも長い波長としている。本実施形態においては、第2の光L2は、赤外光である。例えば、各光源装置2における第2の光源部42は、波長が780〜2000nmである光を出射している。図2及び図3(図4及び図5も同様)において、第2の光L2(具体的には、第2の光L2の光軸)は、破線で示している。
第1の光源部41は、第1の光L1を出射する複数(図2及び図3においては、三つ)の半導体レーザ41aを備えている。第2の光源部42は、第2の光L2を出射する半導体レーザ42aを備えている。検出部43は、第2の光L2を受ける受光素子43aを備えている。そして、各半導体レーザ41a,42aと受光素子43aとは、同一の基板44に搭載されている。なお、第1の光源部41においては、半導体レーザ41aは、一つ、二つ、又は四つ以上備えられている、という構成でもよい。
光学系45は、各半導体レーザ41a,42aが出射した光L1,L2を平行な光にする複数のコリメータレンズ45aと、コリメータレンズ45aから出射された光L1,L2を反射する複数の反射ミラー45bと、反射ミラー45bで反射された光L1,L2を収束させて光ファイバ31の第1の面31aに入射させる収束レンズ45cとを備えている。
また、光学系45は、受光素子43aに向けて光L2を反射する反射ミラー45dを備えている。これにより、反射部31cで反射した第2の光L2は、収束レンズ45cを透過し、反射ミラー45dで反射した後に、検出部43で検出される。
光ファイバユニット3は、複数の光ファイバ31,31の他方側、即ち、第2の面31b側同士を結束する結束部32を備えている。また、光ファイバ31は、第1の面31aに、第1の光L1を透過し且つ第2の光L2を反射する反射部31cを備えている。例えば、反射部31cは、真空蒸着又はスパッタにより、誘電体多層膜(本実施形態においては、赤外光反射膜)を、光ファイバ31の第1の面31aに形成されて成る。
本実施形態に係る光ファイバ装置1の構成については以上の通りであり、次に、本実施形態に係る光ファイバ装置1の光ファイバ31の異常を検出する方法について、図2及び図3を参酌して、説明する。
図2に示すように、第1の光源部41から出射された第1の光L1と、第2の光源部42から出射された第2の光L2とは、光学系45を経由して、光ファイバ31の第1の面31aに入射される。これにより、第1の光L1と、第1の光L1の波長と異なる波長である第2の光L2とが、光ファイバ31の第1の面31aに入射される。
このとき、図3に示すように、第1の光L1は、反射部31cを透過し、光ファイバ31の第2の面31bから出射し、その後、画像投影部10に向けて出射する。即ち、画像投影装置である光ファイバ装置1は、光ファイバ31の反射部31cを透過した第1の光L1を、投射光として用いている。
一方、第2の光L2は、反射部31cで反射され、その後、収束レンズ45cを透過し、該透過した第2の光L2の一部は、反射ミラー45dで反射された後、検出部43で受光される。なお、検出部43は、第2の光L2を効率的に検出するために、第2の光L2の光軸上に配置されている。
これにより、光ファイバ31の第1の面31aが汚れたり、光ファイバ31の第1の面31aが劣化したり、光ファイバユニット3の光ファイバ31の一方側(第1の面31a側)の端部が、本体部5の接続部5aから外れたりした場合には、検出部43で検出する第2の光L2の光量が低下する。したがって、このような光ファイバ31の異常を検出することができる。
なお、制御部12は、検出部43で検出する第2の光L2の光量に基づいて、光ファイバ31の正常又は異常を判定する。そして、制御部12は、光ファイバ31が異常であると判定した際に、電源11が各光源部41,42に電気を供給することを停止するように、電源11を制御すると共に、外部へ出力(警報出力、表示出力)する。
また、図2及び図3において図示していないが、検出部43は、複数備えられている。具体的には、検出部43は、各光源ユニット4ごとに備えられている。これにより、各光ファイバ31ごとに、光ファイバ31の異常を検出することができる。
以上より、本実施形態に係る光ファイバ装置1は、第1の光L1と、前記第1の光L1の波長と異なる波長である第2の光L2とが、第1の面31aに入射される少なくとも一つの光ファイバ31と、前記第2の光L2を検出する検出部43と、を備え、前記光ファイバ31は、前記第1の光L1を透過し且つ前記第2の光L2を反射する反射部31cを前記第1の面31aに備え、前記検出部43は、前記反射部31cで反射する前記第2の光L2を検出する。
斯かる構成によれば、光ファイバ31は、第1の光L1を透過し且つ第2の光L2を反射する反射部31cを第1の面31aに備えている。これにより、第1の光L1と、第1の光L1の波長と異なる波長である第2の光L2とが、光ファイバ31の第1の面31aに入射されると、第1の光L1は、反射部31cを透過する一方、第2の光L2は、反射部31cで反射する。
そして、検出部43は、光ファイバ31の反射部31cで反射した第2の光L2を検出する。これにより、第2の光L2は、光ファイバ31の第1の面31aから下流側(例えば、光ファイバ31の内部、画像投影部10)で外乱の影響を受けることなく、検出部43で検出されている。したがって、光ファイバ31の第1の面31aの汚れ、光ファイバ31の第1の面31aの劣化、光ファイバ31の脱落等といった光ファイバ31の異常を検出する精度が低下することを抑制できる。
また、本実施形態に係る光ファイバ装置1は、複数の前記光ファイバ31,31の第2の面31b側同士を結束する結束部32を備え、前記検出部43は、前記光ファイバ31の前記反射部31cで反射する前記第2の光L2を、各光ファイバ31ごとに検出するために、複数備えられる、という構成である。
斯かる構成によれば、結束部32は、複数の光ファイバ31,31の第2の面31b側同士を結束している。そして、反射部31cが各光ファイバ31の第1の面31aに配置されているため、各光ファイバ31の第1の面31aに入射された第2の光L2,L2同士が混ざることを防止している。
さらに、検出部43は、複数備えられているため、光ファイバ31の第1の面31aに配置される反射部31cで反射される第2の光L2は、各検出部43で、各光ファイバ31ごとに検出されている。これにより、第2の面31b側同士が結束されている複数の光ファイバ31,31に対して、各光ファイバ31ごとに異常を検出することができる。
また、本実施形態に係る光ファイバ装置1は、前記第1の光L1を出射する第1の光源部41と、前記第2の光L2を出射する第2の光源部42と、を備える、という構成である。
また、本実施形態に係る光ファイバ装置1は、電気回路を有する基板44を備え、前記第1の光源部41は、前記第1の光L1を出射する半導体レーザ41aを備え、前記第2の光源部42は、前記第2の光L2を出射する半導体レーザ42aを備え、前記検出部43は、前記第2の光L2を受ける受光素子43aを備え、前記各半導体レーザ41a,42aと前記受光素子43aとは、同一の基板44に搭載される、という構成である。
斯かる構成によれば、第1の光源部41は、第1の光L1を出射する半導体レーザ41aを備えており、第2の光源部42は、第2の光L2を出射する半導体レーザ42aを備えており、検出部43は、第2の光L2を受ける受光素子43aを備えている。そして、各半導体レーザ41a,42aと受光素子43aとは、同一の基板44に搭載されている。これにより、例えば、各半導体レーザ41a,42a及び受光素子43aに対する配線を、該基板44に対して行えばよいため、配線を簡素化することができる。
また、本実施形態に係る光ファイバ装置1は、前記光ファイバ31の前記反射部31cを透過した前記第1の光L1を、投射光として用いる画像投影装置である、という構成である。
なお、光ファイバ装置は、上記した実施形態の構成に限定されるものではなく、また、上記した作用効果に限定されるものではない。また、光ファイバ装置は、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。例えば、下記する各種の変更例に係る構成や方法等を任意に選択して、上記した実施形態に係る構成や方法等に採用してもよいことは勿論である。
上記実施形態に係る光ファイバ装置1においては、各半導体レーザ41a,42aと受光素子43aとは、同一の基板44に搭載される、という構成である。しかしながら、光ファイバ装置は、斯かる構成に限られない。例えば、光ファイバ装置においては、図4及び図5に示すように、各半導体レーザ41a,42と受光素子43aとは、異なる基板44,47に搭載されている、という構成でもよい。
図4及び図5に係る光源ユニット4は、各半導体レーザ41a,42aが搭載される第1の基板44と、受光素子43aが搭載される第2の基板47とを備えている。そして、第1の基板44と第2の基板47とは、離間している。具体的には、第1の基板44と第2の基板47とは、熱的に絶縁されており、互いに熱伝導することを防止できている。これにより、各半導体レーザ41a,42aから発生する熱が、受光素子43aに熱伝導されることを防止できるため、受光素子43aが故障することや受光素子43aが誤検出することを防止することができる。
また、上記実施形態に係る光ファイバ装置1においては、反射部31cで反射された第2の光L2は、収束レンズ45cを透過し、反射ミラー45dで反射された後、検出部43で受光される、という構成である。しかしながら、光ファイバ装置は、斯かる構成に限られない。例えば、光ファイバ装置においては、反射部31cで反射された第2の光L2は、収束レンズ45cを透過した後、直接、検出部43で受光される、という構成でもよく、また、例えば、光ファイバ装置においては、図4及び図5に示すように、反射部31cで反射された第2の光L2は、直接、検出部43で受光される、という構成でもよい。
図4及び図5に係る光ファイバ装置1においては、図4に示すように、第1の光源部41から出射された第1の光L1と、第2の光源部42から出射された第2の光L2とは、光学系45を経由して、光ファイバ31の第1の面31aに入射される。このとき、図5に示すように、第1の光L1は、反射部31cを透過する一方、第2の光L2は、反射部31cで反射される。その後、第2の光L2の一部は、直接、検出部43で受光される。なお、検出部43は、第2の光L2を効率的に検出するために、第2の光L2の光軸上に配置されている。
また、上記実施形態に係る光ファイバ装置1においては、光ファイバユニット3は、二つの光ファイバ31,31を備えている、という構成である。しかしながら、光ファイバ装置は、斯かる構成に限られない。例えば、光ファイバ装置においては、光ファイバユニット3は、一つの光ファイバを備えている、という構成でもよく、また、三つ以上の光ファイバ31を備えている、という構成でもよい。
また、上記実施形態に係る光ファイバ装置1においては、検出部43は、受光する光量を検出する、所謂、光センサである、という構成である。しかしながら、光ファイバ装置は、斯かる構成に限られない。例えば、光ファイバ装置においては、検出部43は、受光する熱量を検出する、所謂、熱センサである、という構成でもよい。
また、上記実施形態に係る光ファイバ装置1においては、第1の光L1は、可視光である、という構成である。しかしながら、光ファイバ装置は、斯かる構成に限られない。例えば、光ファイバ装置においては、第1の光L1は、紫外光である、という構成でもよく、赤外光である、という構成でもよい。
また、上記実施形態に係る光ファイバ装置1においては、第2の光L2は、第1の光L1の波長よりも長い波長の光である、という構成である。しかしながら、光ファイバ装置は、斯かる構成に限られない。例えば、光ファイバ装置においては、第2の光L2は、第1の光L1の波長よりも短い波長の光である、という構成でもよい。例えば、第2の光L2は、紫外光である、という構成でもよく、また、第1の光L1の波長と異なる波長である可視光である、という構成でもよい。
また、上記実施形態に係る光ファイバ装置1においては、画像投影部10は、第1〜第3の色の光を分離した状態で入射される、という構成である。しかしながら、光ファイバ装置は、斯かる構成に限られない。例えば、光ファイバ装置においては、画像投影部10は、第1〜第3の色の光を合成された状態で入射され、当該合成された光を、第1〜第3の色の光に分離した後、画像形成光学系13に入射させる、という構成でもよい。
また、上記実施形態に係る光ファイバ装置1は、画像投影装置である、という構成である。しかしながら、光ファイバ装置は、斯かる構成に限られない。例えば、光ファイバ装置は、光を用いて露光を行う露光装置である、という構成でもよく、所定領域を照らす照明装置である、という構成でもよい。
また、光ファイバ装置においては、第2の光源部42は、連続的に第2の光L2を出射する、という構成でもよく、また、断続的に第2の光L2を出射する、という構成でもよい。
また、光ファイバ装置においては、例えば、装置が起動する際に、第2の光源部42が小さい出力で第2の光L2を出射し、その後、制御部12が、光ファイバ31が正常であると判定した後に、各光源部41,42は、定格の出力で各光L1,L2を出力する、という構成でもよい。
1…光ファイバ装置、2…光源装置、2R…第1の光源装置、2G…第2の光源装置、2B…第3の光源装置、3…光ファイバユニット、4…光源ユニット、5…本体部、5a…接続部、10…画像投影部、11…電源、12…制御部、13…画像形成光学系、13a…偏光ビームスプリッタ、13b…空間変調素子、13c…ダイクロイックプリズム、13d…コリメータレンズ、13e…反射ミラー、14…投影光学系、15…画像投影本体部、15a…接続部、31…光ファイバ、31a…第1の面、31b…第2の面、31c…反射部、32…結束部、41…第1の光源部、41a…半導体レーザ、42…第2の光源部、42a…半導体レーザ、43…検出部、43a…受光素子、44…(第1の)基板、45…光学系、45a…コリメータレンズ、45b…反射ミラー、45c…収束レンズ、45d…反射ミラー、47…第2の基板、100…スクリーン、L1…第1の光、L2…第2の光
Claims (5)
- 第1の光と、前記第1の光の波長と異なる波長である第2の光とが、第1の面に入射される少なくとも一つの光ファイバと、
前記第2の光を検出する検出部と、を備え、
前記光ファイバは、前記第1の光を透過し且つ前記第2の光を反射する反射部を前記第1の面に備え、
前記検出部は、前記反射部で反射する前記第2の光を検出する光ファイバ装置。 - 複数の前記光ファイバの第2の面側同士を結束する結束部を備え、
前記検出部は、前記光ファイバの前記反射部で反射する前記第2の光を、各光ファイバごとに検出するために、複数備えられる請求項1に記載の光ファイバ装置。 - 前記第1の光を出射する第1の光源部と、
前記第2の光を出射する第2の光源部と、を備える請求項1又は2に記載の光ファイバ装置。 - 電気回路を有する基板を備え、
前記第1の光源部は、前記第1の光を出射する半導体レーザを備え、
前記第2の光源部は、前記第2の光を出射する半導体レーザを備え、
前記検出部は、前記第2の光を受ける受光素子を備え、
前記各半導体レーザと前記受光素子とは、同一の基板に搭載される請求項3に記載の光ファイバ装置。 - 前記光ファイバの前記反射部を透過した前記第1の光を、投射光として用いる画像投影装置である請求項1〜4の何れか1項に記載の光ファイバ装置。
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JP2021125365A (ja) * | 2020-02-05 | 2021-08-30 | ウシオ電機株式会社 | 光源ユニット、その光源ユニットを備えるファイバ光源装置 |
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