JP2016143869A - Exposure device, and method of manufacturing article - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、露光装置、および物品の製造方法に関する。 The present invention relates to an exposure apparatus and a method for manufacturing an article.
フラットパネルディスプレイや半導体デバイスの製造には、マスクなどの原版のパターンを、レジストが塗布されたガラスプレートやウェハなどの基板に転写する露光装置が用いられる。このような露光装置には、例えば、凹面鏡、凸面鏡、および台形ミラーなどの光学素子を有し、原版のパターンを基板に投影するオフナー型の投影光学系が用いられる。 For the manufacture of flat panel displays and semiconductor devices, an exposure apparatus is used that transfers an original pattern such as a mask to a substrate such as a glass plate or wafer coated with a resist. In such an exposure apparatus, for example, an Offner type projection optical system that has optical elements such as a concave mirror, a convex mirror, and a trapezoidal mirror and projects an original pattern onto a substrate is used.
投影光学系では、凹面鏡などの光学素子が露光光の一部を吸収して発熱することにより、投影光学系の内部において温度分布が形成され、光路上に屈折率の分布が生じることがある。この場合、原版のパターンを基板に精度よく転写することが困難になりうる。特許文献1には、投影光学系の内部に気体を供給して、投影光学系の内部の温度を制御する方法が提案されている。
In the projection optical system, an optical element such as a concave mirror absorbs part of the exposure light and generates heat, so that a temperature distribution is formed inside the projection optical system, and a refractive index distribution may occur on the optical path. In this case, it may be difficult to accurately transfer the pattern of the original plate to the substrate.
特許文献1には、投影光学系の内部において基板側から原版側に向かう方向に沿った気体の流れが生じるように、投影光学系の内部に気体を供給する方法が記載されている。しかしながら、特許文献1に記載されたように気体を供給してしまうと、例えば、台形ミラーの原版側の反射面に対し、当該反射面の温度の上昇を抑制するように気体を供給することが困難になることがある。また、台形ミラーの基板側の反射面に吹き付けられた気体によって投影光学系の内部において乱流が生じることがある。その結果、投影光学系の光路上に屈折率の分布が生じ、原版のパターンを基板に精度よく転写することが不十分になりうる。
そこで、本発明は、原版のパターンを基板に精度よく転写するために有利な露光装置を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide an exposure apparatus that is advantageous for accurately transferring a pattern of an original to a substrate.
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての露光装置は、露光光を用いて、原版のパターンを基板に転写する露光装置であって、前記露光光を反射する反射面を有する光学素子を含み、前記原版の前記パターンを前記基板に投影する投影光学系と、前記光学素子に対して、前記反射面に沿った方向に気体を噴出して、前記反射面に沿うように気体を供給する供給部と、を含み、前記供給部は、前記反射面に沿った気体の流れの方向が、前記露光光が前記反射面に入射する方向および前記露光光が前記反射面で反射される方向を含む面に交差する方向になるように気体を供給する、ことを特徴とする。 In order to achieve the above object, an exposure apparatus according to one aspect of the present invention is an exposure apparatus that transfers an original pattern to a substrate using exposure light, and has an optical surface that reflects the exposure light. A projection optical system that includes an element and projects the pattern of the original plate onto the substrate; and a gas is ejected to the optical element in a direction along the reflection surface, and the gas is aligned along the reflection surface. A supply unit that supplies gas, and the supply unit reflects the direction of gas flow along the reflection surface, the direction in which the exposure light is incident on the reflection surface, and the exposure light is reflected by the reflection surface. A gas is supplied so as to be in a direction crossing a plane including the direction.
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。 Further objects and other aspects of the present invention will become apparent from the preferred embodiments described below with reference to the accompanying drawings.
本発明によれば、例えば、原版のパターンを基板に精度よく転写するために有利な露光装置を提供することができる。 According to the present invention, for example, it is possible to provide an exposure apparatus that is advantageous for accurately transferring an original pattern onto a substrate.
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材ないし要素については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described with reference to the accompanying drawings. In addition, in each figure, the same reference number is attached | subjected about the same member thru | or element, and the overlapping description is abbreviate | omitted.
<第1実施形態>
本発明に係る第1実施形態の露光装置100について説明する。図1は、第1実施形態の露光装置100を示す概略図である。第1実施形態の露光装置100は、例えば、スリット光を用いて基板6を走査露光する露光装置であり、照明光学系1と、アライメントスコープ2と、原版ステージ4と、投影光学系5と、基板ステージ7と、制御部8とを含みうる。制御部8は、例えばCPUやメモリなどを含み、露光装置100の各部を制御する(基板6の走査露光を制御する)。
<First Embodiment>
An
照明光学系1は、例えばHgランプなどの光源から射出された光(露光光)で原版3(例えばマスク)を照明する。原版3および基板6は、原版ステージ4および基板ステージ7によってそれぞれ保持されており、投影光学系5を介して光学的にほぼ共役な位置(投影光学系5の物体面および像面の位置)に配置される。投影光学系5は、所定の投影倍率(例えば1倍)を有し、原版3に形成されたパターンを基板6に投影する。そして、原版ステージ4および基板ステージ7を投影光学系5の物体面と平行な方向(例えばY方向)に、投影光学系5の投影倍率に応じた速度比で走査させる。これにより、原版3に形成されたパターンを基板6に転写することができる。また、アライメントスコープ2は、原版3のアライメントマークと基板6のアライメントマークとを、投影光学系5を介して同時に検出することができるように構成されている。
The illumination
このような露光装置100では、例えば、図1に示すように、凹面鏡5a、凸面鏡5b、台形ミラー5c、第1透過素子5d1および第2透過素子5d2などの光学素子を鏡筒5eの内部に有し、原版3のパターンを基板6に投影する投影光学系5が用いられる。光学素子の1つとしての台形ミラー5cは、原版3を介して投影光学系5に入射した光(露光光9)を凹面鏡5aに向けて反射する第1反射面5c1と、凹面鏡5aで反射された露光光9を基板6に向けて反射する第2反射面5c2とを含む複数の反射面を有する。凹面鏡5a、凸面鏡5bおよび台形ミラー5cはそれぞれ、線膨張係数の比較的小さい硝材によって形成されることが好ましい。また、第1透過素子5d1は、原版3と台形ミラー5cの第1反射面5c1との間における光路上に配置され、第2透過素子5d2は、台形ミラー5cの第2反射面5c2と基板6との間における光路上に配置されうる。第1透過素子5d1および第2透過素子5d2はそれぞれ、例えば平行平板ガラスなどによって構成され、露光光9の光軸に対して傾けることにより投影光学系5の結像性能を変化させることができる。第1透過素子5d1および第2透過素子5d2はそれぞれ、露光光9に対しする吸収率が零に近い材質(例えば石英ガラス)によって形成されることが好ましい。ここで、図1に示す台形ミラー5cは、第1反射面5c1および第2反射面5c2が1つの部材に形成されるように構成されているが、それに限られるものではない。例えば、第1反射面5c1および第2反射面5c2がそれぞれ異なる部材に形成されるように構成されていてもよい。また、第1反射面5c1および第2反射面5c2は、平面であることが好ましい。
In such an
照明光学系1から射出し、原版3および第1透過素子5d1を透過した露光光9は、台形ミラー5cの第1反射面5c1で反射され、凹面鏡5aの第1面5a1(+Z方向側の面)に入射する。凹面鏡5aの第1面5a1で反射した露光光9は、凸面鏡5bで反射し、凹面鏡5aの第2面5a2(−Z方向側の面)に入射する。凹面鏡5aの第2面5a2で反射した露光光は、台形ミラー5cの第2反射面5c2で反射され、第2透過素子5d2を通過して基板上に結像する。
The
投影光学系5は、例えば、露光光9が凸面鏡5bに入射する方向および露光光9が凸面鏡5bで反射される方向を含む面に垂直であり、かつ光学的な瞳となる凸面鏡5bの中心を通る面10に対し、露光光9の光路が面対称になるように構成されている。このような構成では、一般的には、ディストーションなどの非対称収差が発生しにくい。しかしながら、投影光学系5では、凹面鏡5aや凸面鏡5b、台形ミラー5cなどの光学素子が露光光9の一部を吸収して発熱するため、発熱した光学素子によって投影光学系5の内部の気体が温められ、投影光学系5の内部において温度分布が形成されうる。例えば、凹面鏡5aおよび凸面鏡5bが露光光9の一部を吸収して発熱した場合、凹面鏡5aや凸面鏡5bの表面で暖められた気体が上方に移動し、投影光学系5の内部において温度分布が形成される。その結果、投影光学系5の内部における光路上に屈折率の分布が生じて非対称収差が発生してしまい、原版3のパターンを基板6に精度よく転写することが困難になりうる。そのため、第1実施形態の露光装置100には、投影光学系5における凹面鏡5aなどの光学素子の温度が上昇することを抑制するように、投影光学系5の内部に気体を供給する第1供給部11aおよび第2供給部11bが設けられている。
The projection
まず、第2供給部11bの構成から説明する。第2供給部11bは、例えば、少なくとも凹面鏡5aと凸面鏡5bの間に気体を供給する。図1に示す投影光学系5の構成では、凹面鏡5aや凸面鏡5bなどの光学素子で暖められた気体は上方に移動するため、面10と平行な方向に気体を供給すると、投影光学系5の内部に熱だまりが生じることがある。そのため、第2供給部11bは、図1の矢印13aで示すように、凹面鏡5aと凸面鏡5bとの間において、基板側から原版側に向かう方向に気体の流れが生じるように、少なくとも凹面鏡5aと凸面鏡5bとの間に気体を供給する構成となっている。例えば、第2供給部11bは、凹面鏡5aと凸面鏡5bとの間における気体の流れの方向が、露光光が凸面鏡5bに入射する方向および露光光が凸面鏡5bで反射される方向を含む面に平行な方向(面10に垂直な方向)になるように気体を供給するとよい。また、露光装置100は、第2供給部11bから射出され、少なくとも凹面鏡5aと凸面鏡5bとの間を流れた気体を回収する第2回収部12bを含みうる。
First, the configuration of the
ここで、第2供給部11bによって上述のように投影光学系5の内部に気体を供給してしまうと、例えば、台形ミラー5cの第1反射面5c1に対し、第1反射面5c1の温度の上昇を抑制するように気体を供給することが困難になることがある。また、台形ミラー5cの第2反射面5c2に吹き付けられた気体によって投影光学系5の内部において乱流が生じることがある。その結果、投影光学系5の光路上に屈折率の分布が生じ、原版3のパターンを基板6に精度よく転写することが不十分になりうる。さらに、台形ミラー5cの第1反射面5c1と第2反射面5c2とに供給される気体の温度や量が互いに異なると、第1反射面5c1および第2反射面5c2に形成される温度分布が互いに異なる。この場合においても、原版3のパターンを基板6に精度よく転写することが不十分になりうる。
Here, thereby supplying gas to the inside of the projection
したがって、第1実施形態の露光装置100は、図2に示すように、台形ミラー5cに対して、台形ミラー5cの反射面に沿った方向に気体を噴出して、当該反射面に沿うように気体を供給する第1供給部11aを含みうる。図2は、投影光学系5をZ方向から見たときの図であり、凹面鏡5a、凸面鏡5bおよび台形ミラー5cの第1反射面5c1が図示されている。図2における矢印14aは、図1における二重丸13a(◎)と同様に、第1供給部11aによって投影光学系5の内部に供給された気体の流れの方向(例えば、−Y方向)を示している。また、図2における二重丸14b(◎)は、図1における矢印13bと同様に、第2供給部11bによって投影光学系5の内部に供給された気体の流れの方向(例えば、+Z方向)を示している。
Therefore, as shown in FIG. 2, the
第1供給部11aは、台形ミラー5cの反射面に沿った気体の流れの方向が、露光光9が当該反射面に入射する方向および露光光9が当該反射面で反射される方向を含む面と交差する方向になるように、台形ミラー5cに対して気体を供給する。例えば、第1供給部11aは、台形ミラー5cの反射面に沿った気体の流れの方向と、露光光9が当該反射面に入射する方向および露光光9が当該反射面で反射される方向を含む面との間の角度が80度から100度の範囲に収まるように気体を供給するとよい。特に、台形ミラー5cの反射面に沿った気体の流れの方向が、露光光9の入射方向および反射方向を含む面に垂直な方向であることが好ましい。このとき、台形ミラー5cの反射面に沿うように第1供給部11aによって供給された気体の流れの方向と、第2供給部11bによって供給された凹面鏡5aと凸面鏡5bとの間における気体の流れの方向とが異なりうる。また、露光装置100は、第1供給部11aから射出され、台形ミラー5cの反射面を沿って流れた気体を回収する第1回収部12aを含みうる。
The
次に、台形ミラー5cにおいて、第1反射面5c1に沿った気体の流れの方向と、第2反射面5c2に沿った気体の流れの方向との関係について、図3を参照しながら説明する。図3は、凹面鏡5a側から凸面鏡5bおよび台形ミラー5cを見たときの図である。台形ミラー5cの反射面に沿うように気体を供給すると、当該反射面には、気体の上流から下流に向かって温度が高くなるような温度分布が形成される。そのため、第1供給部11aは、基板6に投影される原版3のパターンの像に対して第1反射面5c1の温度分布が与える影響(例えば歪み)が、第2反射面5c2の温度分布によって低減されるように気体を供給することが好ましい。
Then, the
例えば、第1実施形態における投影光学系5の構成では、図3に示すように、第1反射面5c1における原版3のパターンの像と、第2反射面5c2における原版3のパターンの像とが反転する。図3では、説明をわかり易くするため、原版3には「R」型のパターンが形成されているものとする。この場合、第1反射面5c1に沿った気体の流れの方向と第2反射面5c2に沿った気体の流れの方向とが同じになるように、第1供給部11aによって台形ミラー5cに対して気体を供給するとよい。このように台形ミラー5cに対して気体を供給することで、基板6に投影される原版3のパターンの像に対して第1反射面5c1の温度分布が与える影響を、第2反射面5c2の温度分布によって低減させることができる。一方、例えば、第1反射面5c1と第2反射面5c2との間の光路中にレンズなどが配置されることにより、図4に示すように、第1反射面5c1における原版3のパターンの像と第2反射面5c2における原版3のパターンの像とが反転されない場合を想定する。この場合では、第1反射面5c1に沿った気体の流れの方向と第2反射面5c2に沿った気体の流れの方向とが反対になるように、第1供給部11aによって台形ミラー5cに対して気体を供給するとよい。
For example, in the configuration of the projection
ここで、露光装置100では、台形ミラー5cの反射面に沿って流れる気体の周りに存在する気体の入れ替えを行うため、台形ミラー5cに対する気体の供給を、第1供給部11aに加えて、例えば第2供給部11bによって行ってもよい。この場合、台形ミラー5cの反射面に沿った気体の流れを妨げないように、第2供給部11bにより台形ミラー5cに対して供給される気体の流量が、第1供給部11aにより台形ミラー5cに対して供給される気体の流量より小さいことが好ましい。また、投影光学系5(鏡筒5e)の内部の圧力が、外部の圧力に対して小さいと、投影光学系5の光学素子がくもる原因となる物質を、投影光学系5の内部に引き込んでしまうことがある。そのため、第1供給部11aおよび第2供給部11bは、第1回収部12aおよび第2回収部12bが投影光学系5の内部から回収する気体の総量より多い量の気体を投影光学系5の内部に供給するとよい。これにより、投影光学系5の内部の圧力が外部の圧力より小さくなることを抑制することができる、
さらに、第1供給部11aおよび第2供給部11bはそれぞれ、投影光学系5の光学素子の温度がそれぞれ目標温度になるように、投影光学系5の内部に供給される気体の流量および温度の少なくとも一方を制御する構成であってもよい。例えば、第1供給部11aは、台形ミラー5cの反射面の温度が目標温度になるように、台形ミラー5cに対して供給する気体の流量および温度の少なくとも一方を制御する。目標温度は、例えば、露光装置100の性能が許容範囲に収まるような温度に設定されるとよい。
Here, in the
Further, each of the
上述したように、第1実施形態の露光装置100では、投影光学系5における台形ミラー5cの第1反射面5c1および第2反射面5c2のそれぞれに沿うように気体を供給する第1供給部11aが設けられる。これにより、露光装置100は、第1反射面5c1および第2反射面5c2のそれぞれに生じる温度分布を制御して、原版3のパターンを基板6に精度よく転写することができる。ここで、第1実施形態において、第1供給部11bは、台形ミラー5cの第1反射面5c1および第2反射面5c2のそれぞれに沿うように気体を供給したが、第1反射面5c1および第2反射面5c2の一方のみに沿うように気体を供給してもよい。
As described above, in the
<物品の製造方法の実施形態>
本発明の実施形態に係る物品の製造方法は、例えば、半導体デバイス等の電子デバイスや微細構造を有する素子等の物品を製造するのに好適である。本実施形態の物品の製造方法は、基板に塗布された感光剤に上記の露光装置を用いて潜像パターンを形成する工程(基板を露光する工程)と、かかる工程で潜像パターンが形成された基板を現像する工程とを含む。更に、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。本実施形態の物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
<Embodiment of Method for Manufacturing Article>
The method for manufacturing an article according to the embodiment of the present invention is suitable for manufacturing an article such as an electronic device such as a semiconductor device or an element having a fine structure. In the method for manufacturing an article according to the present embodiment, a latent image pattern is formed on the photosensitive agent applied to the substrate using the above-described exposure apparatus (a step of exposing the substrate), and the latent image pattern is formed in this step. Developing the substrate. Further, the manufacturing method includes other well-known steps (oxidation, film formation, vapor deposition, doping, planarization, etching, resist stripping, dicing, bonding, packaging, and the like). The method for manufacturing an article according to the present embodiment is advantageous in at least one of the performance, quality, productivity, and production cost of the article as compared with the conventional method.
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。 As mentioned above, although preferred embodiment of this invention was described, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to these embodiment, A various deformation | transformation and change are possible within the range of the summary.
1:照明光学系、2:アライメントスコープ、3:原版、4:原版ステージ、5:投影光学系、6:基板、7:基板ステージ、8:制御部 1: illumination optical system, 2: alignment scope, 3: original plate, 4: original plate stage, 5: projection optical system, 6: substrate, 7: substrate stage, 8: control unit
Claims (13)
前記露光光を反射する反射面を有する光学素子を含み、前記原版の前記パターンを前記基板に投影する投影光学系と、
前記光学素子に対して、前記反射面に沿った方向に気体を噴出して、前記反射面に沿うように気体を供給する供給部と、
を含み、
前記供給部は、前記反射面に沿った気体の流れの方向が、前記露光光が前記反射面に入射する方向および前記露光光が前記反射面で反射される方向を含む面に交差する方向になるように気体を供給する、ことを特徴とする露光装置。 An exposure apparatus for transferring a pattern of an original to a substrate using exposure light,
A projection optical system that includes an optical element having a reflecting surface that reflects the exposure light, and that projects the pattern of the original onto the substrate;
A supply unit that ejects gas in a direction along the reflection surface and supplies the gas along the reflection surface with respect to the optical element;
Including
In the supply unit, the direction of the gas flow along the reflection surface intersects a plane including a direction in which the exposure light is incident on the reflection surface and a direction in which the exposure light is reflected by the reflection surface. An exposure apparatus characterized by supplying a gas so as to become.
前記供給部は、前記第1反射面および前記第2反射面のそれぞれに沿うように気体を供給する、ことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 The optical element includes a plurality of the first reflection surfaces that reflect the exposure light incident on the projection optical system via the original plate, and a second reflection surface that reflects the exposure light toward the substrate. Having a reflective surface,
The exposure apparatus according to claim 1, wherein the supply unit supplies a gas along each of the first reflection surface and the second reflection surface.
前記露光装置は、前記凸面鏡と前記凹面鏡との間における気体の流れの方向が、前記反射面に沿った気体の流れの方向と異なるように、前記凸面鏡と前記凹面鏡との間に気体を供給する第2供給部を更に含む、ことを特徴とする請求項2乃至4のうちいずれか1項に記載の露光装置。 The projection optical system reflects the exposure light reflected by the convex mirror and the first reflecting surface toward the convex mirror and reflects the exposure light reflected by the convex mirror toward the second reflecting surface. Further including a concave mirror,
The exposure apparatus supplies gas between the convex mirror and the concave mirror so that a gas flow direction between the convex mirror and the concave mirror is different from a gas flow direction along the reflective surface. The exposure apparatus according to claim 2, further comprising a second supply unit.
前記原版を介して入射した前記露光光を反射する第1反射面と、前記基板に向けて前記露光光を反射する第2反射面とを有する光学素子を含み、前記原版の前記パターンを前記基板上に投影する投影光学系と、
前記光学素子に対して、前記第1反射面および第2反射面のそれぞれに沿うように気体を供給する供給部と、
を含み、
前記供給部は、前記基板に投影される前記パターンの像に対して前記第1反射面の温度分布が与える影響が、前記第2反射面の温度分布によって低減されるように気体を供給する、ことを特徴とする露光装置。 An exposure apparatus for transferring an original pattern onto a substrate using exposure light,
An optical element having a first reflection surface that reflects the exposure light incident through the original plate and a second reflection surface that reflects the exposure light toward the substrate, wherein the pattern of the original plate is the substrate. A projection optical system for projecting on top,
A supply unit for supplying a gas along each of the first reflection surface and the second reflection surface to the optical element;
Including
The supply unit supplies gas so that the influence of the temperature distribution of the first reflection surface on the image of the pattern projected on the substrate is reduced by the temperature distribution of the second reflection surface. An exposure apparatus characterized by that.
前記工程で露光された前記基板を現像する工程と、
を含むことを特徴とする物品の製造方法。 A step of exposing the substrate using the exposure apparatus according to any one of claims 1 to 12,
Developing the substrate exposed in the step;
A method for producing an article comprising:
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