JP2016114613A - Particle size distribution measuring apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、粒度分布測定装置に関するものである。 The present invention relates to a particle size distribution measuring apparatus.
この種の粒度分布測定装置は、粒度分布測定に際して測定条件を設定するための設定項目（例えば、試料の循環速度や超音波の印加時間等）及び測定結果が妥当か否かを判断するための評価パラメータ（例えば平均径やモード径等の粒度等）が非常に多い。そのため、試料に対して最適な測定条件を設定すること及びその測定条件の評価を行うことが極めて困難である。 This type of particle size distribution measuring device is used to determine whether or not the setting items for setting the measurement conditions for particle size distribution measurement (for example, the circulation speed of the sample, the application time of ultrasonic waves, etc.) and the measurement results are appropriate. There are many evaluation parameters (for example, particle sizes such as average diameter and mode diameter). Therefore, it is extremely difficult to set an optimum measurement condition for the sample and to evaluate the measurement condition.
ここで、測定条件を設定するための設定項目の入力を容易にするものとしては、特許文献１に示すように、各設定項目毎にガイダンス表示を行い、このガイダンス表示に基づいてオペレータが尤もらしい測定条件を設定して、粒度分布測定を行えるようにしたものがある。 Here, as for facilitating the input of setting items for setting measurement conditions, as shown in Patent Document 1, guidance display is performed for each setting item, and the operator is likely based on this guidance display. Some have set measurement conditions to enable particle size distribution measurement.
しかしながら、測定条件の設定項目の入力を簡単化したとしても、その測定条件が試料に対して最適か否かは、例えば平均径やモード径等の粒度を含む測定結果との関係で判断する必要がある。このことから依然として、最適な測定結果を得るためには試行錯誤的に測定条件を設定する必要があり、その設定が難しいという問題がある。 However, even if the input of measurement condition setting items is simplified, it is necessary to determine whether the measurement conditions are optimal for the sample in relation to the measurement results including the particle size such as the average diameter and mode diameter. There is. For this reason, in order to obtain an optimum measurement result, it is necessary to set measurement conditions by trial and error, and there is a problem that the setting is difficult.
そこで本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、個々の試料に対する最適な測定条件を定めるため、その測定条件の評価を容易にすることをその主たる課題とするものである。 Therefore, the present invention has been made to solve the above problems, and in order to determine the optimum measurement conditions for each sample, the main problem is to facilitate the evaluation of the measurement conditions. is there.
すなわち本発明に係る粒度分布測定装置は、試料の粒度分布測定を行う装置本体と、オペレータからの入力を受け付けて前記装置本体の駆動制御を行うとともに、当該装置本体からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器とを備えた粒度分布測定装置であって、前記インタフェース機器が、粒度分布測定を行うために設定すべき操作パラメータの値と、当該操作パラメータの各値に対応した、前記装置本体の測定結果を用いて得られた評価パラメータの値との関係をグラフ表示することを特徴とする。 In other words, the particle size distribution measuring apparatus according to the present invention receives a measurement result from the apparatus main body while performing drive control of the apparatus main body by receiving an input from the operator and an apparatus main body for measuring the particle size distribution of the sample. A particle size distribution measuring apparatus comprising the interface device, wherein the interface device has an operation parameter value to be set in order to perform the particle size distribution measurement, and the device body corresponding to each value of the operation parameter. The relationship with the value of the evaluation parameter obtained using the measurement result is displayed in a graph.
ここで、操作パラメータは、オペレータが入力操作すべきパラメータであり、粒度分布測定を行うための装置本体の測定条件を決定する測定条件パラメータと、測定結果を演算するための演算条件パラメータとを含むものである。測定条件パラメータは、例えば試料の循環速度、超音波発振器の動作時間（超音波の印加時間）、超音波の強度、データの取り込み回数、測定中の超音波発振器の動作の有無、試料濃度等であり、演算条件パラメータは、例えば試料（粒子、溶媒）の屈折率等である。また、評価パラメータは、測定条件が個々の試料に対して最適か否か判断するためのものであり、例えば平均径、中央径やモード径等の粒度、粒度分布の標準偏差、粒度分布の残差平方和、分布関数（例えば所定粒度を有する粒子の割合）等である。 Here, the operation parameter is a parameter to be input by the operator, and includes a measurement condition parameter for determining the measurement condition of the apparatus main body for performing the particle size distribution measurement and a calculation condition parameter for calculating the measurement result. It is a waste. The measurement condition parameters include, for example, the circulation speed of the sample, the operation time of the ultrasonic oscillator (application time of the ultrasonic wave), the intensity of the ultrasonic wave, the number of data acquisition, the presence or absence of the operation of the ultrasonic oscillator during measurement, the sample concentration, etc. The calculation condition parameter is, for example, a refractive index of a sample (particle, solvent) or the like. The evaluation parameters are used to determine whether or not the measurement conditions are optimal for each sample. For example, the average diameter, the median diameter, the mode diameter, etc., the standard deviation of the particle size distribution, the remainder of the particle size distribution, and the like. Difference sum of squares, distribution function (for example, ratio of particles having a predetermined particle size), and the like.
このようなものであれば、操作パラメータの値と、当該操作パラメータの各値に対応した評価パラメータの値との関係をグラフ表示することによって、グラフ上に表示された評価パラメータの値に基づいて、どの操作パラメータの値が最適であるかを容易に評価できるようになる。したがって、種々の操作パラメータ毎に評価パラメータとの関係をグラフ表示して、評価パラメータの値に基づいて各操作パラメータの最適な値を選択することによって、試料毎に最適な測定条件を容易に設定できるようになる。 If it is such, based on the value of the evaluation parameter displayed on the graph, the relationship between the value of the operation parameter and the value of the evaluation parameter corresponding to each value of the operation parameter is displayed in a graph. It becomes possible to easily evaluate which operation parameter value is optimum. Therefore, it is easy to set the optimal measurement conditions for each sample by displaying the relationship with the evaluation parameters in graphs for each of the various operation parameters and selecting the optimal values for each operation parameter based on the values of the evaluation parameters. become able to.
また、前記インタフェース機器が、グラフ表示する操作パラメータの種類及び／又は評価パラメータの種類を変更可能に構成されていることが望ましい。これならば、操作パラメータの種類を変更することによって、各操作パラメータ毎にグラフを表示する必要が無く画面上に表示するグラフの数を減らすことができ、視認性を高めることができる。また、評価パラメータを変更することによって、各操作パラメータ毎に評価しやすい評価パラメータとの関係を表示することができ、最適な値を選択しやすくなる。 The interface device is preferably configured to be able to change the type of operation parameter and / or the type of evaluation parameter to be displayed in a graph. In this case, by changing the type of the operation parameter, it is not necessary to display a graph for each operation parameter, the number of graphs displayed on the screen can be reduced, and visibility can be improved. Further, by changing the evaluation parameter, it is possible to display the relationship with the evaluation parameter that is easy to evaluate for each operation parameter, and it becomes easy to select an optimum value.
測定結果の全体像を把握しながら操作パラメータの評価を行えるようにしてオペレータによる評価を容易にするためには、前記インタフェース機器が、前記装置本体からの測定結果及び前記グラフを同一画面上に表示するものであることが望ましい。 The interface device displays the measurement result and the graph from the apparatus main body on the same screen so that the operator can easily evaluate the operation parameter while grasping the whole image of the measurement result. It is desirable to do.
このように構成した本発明によれば、個々の試料に対する最適な測定条件を定めるため、その測定条件の評価を容易にすることができる。 According to the present invention configured as described above, since the optimum measurement condition for each sample is determined, the measurement condition can be easily evaluated.
以下に本発明に係る粒度分布測定装置の一実施形態について図面を参照して説明する。 An embodiment of a particle size distribution measuring apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
本実施形態にかかる粒度分布測定装置１００は、試料に光を照射した際に生じる回折光や散乱光の強度の角度分布や揺らぎを測定し、その測定結果をドップラー原理やＭＩＥ散乱理論に基づいて演算することで試料中に含まれる粒子群の粒度分布を測定するものであり、実測定にかかる種々の処理を行う装置本体２と、その装置本体２と通信可能に接続され、当該装置本体２における前記各処理の内容及び処理手順を制御するとともに前記装置本体２からの測定結果を受け付けて表示するインタフェース機器３とを備えている。 The particle size distribution measuring apparatus 100 according to the present embodiment measures the angular distribution and fluctuation of the intensity of diffracted light and scattered light generated when a sample is irradiated with light, and the measurement result is based on the Doppler principle or MIE scattering theory. The particle size distribution of the particle group contained in the sample is measured by calculation, and is connected to the apparatus main body 2 that performs various processes related to actual measurement, and the apparatus main body 2 so as to be communicable. And an interface device 3 that controls the contents and processing procedures of each of the processes and receives and displays the measurement results from the apparatus main body 2.
まず装置本体２につき、各部を説明する。 First, each part of the apparatus main body 2 will be described.
装置本体２は、図２に示すように、測定対象となる粒子群を内部に分散させたセル２１と、その粒子群にレンズ２２を介して光を照射する光源たる半導体レーザ２３と、セル２１を透過した透過光及びセル２１で回折又は／及び散乱した回折散乱光の強度分布を検出する複数の検出器２４と、各検出器２４から出力される光強度信号に少なくとも基づいて粒度分布を算出したり、この装置本体２内の前述した各機器の監視／制御を行ったり、前記インタフェース機器３との間で種々のデータの送受信を行ったりする専用の本体側コンピュータとを備えた、いわゆる回折／散乱式のものである。 As shown in FIG. 2, the apparatus main body 2 includes a cell 21 in which a particle group to be measured is dispersed inside, a semiconductor laser 23 as a light source that irradiates the particle group with light through a lens 22, and a cell 21. The particle size distribution is calculated based at least on a plurality of detectors 24 for detecting the intensity distribution of the transmitted light that has been transmitted through the cell 21 and the diffracted and scattered light diffracted and / or scattered by the cell 21, and the light intensity signal output from each detector 24. So-called diffraction provided with a dedicated main body computer for monitoring / controlling the above-mentioned devices in the device main body 2 and for transmitting / receiving various data to / from the interface device 3. / Scattering type.
セル２１は、水等の分散媒中に測定対象となる粒子群を分散させてなる試料を収容する透明のもので、図示しないセルホルダ等によってセル収容室（図示しない）の所定位置に着脱可能に取り付けられている。本実施形態では、このセル２１を循環湿式タイプのものとし、図示しない試料循環流路上に設けている。この試料循環流路上には攪拌用モータや循環ポンプ、粒子群投入口等（図示しない）が設けられており、セル２１内部の試料を循環させている。 The cell 21 is a transparent one that contains a sample in which a particle group to be measured is dispersed in a dispersion medium such as water, and is detachable at a predetermined position in a cell storage chamber (not shown) by a cell holder (not shown). It is attached. In this embodiment, the cell 21 is of a circulation wet type and is provided on a sample circulation channel (not shown). On the sample circulation channel, a stirring motor, a circulation pump, a particle group inlet, etc. (not shown) are provided to circulate the sample inside the cell 21.
半導体レーザ２３はコヒーレントな光を発するものであり、光軸や、照射する光の強度を調整可能なものである。 The semiconductor laser 23 emits coherent light, and can adjust the optical axis and the intensity of irradiated light.
検出器２４は、半導体レーザ２３の光軸上、及びセル２１を中心として光軸から所定角度範囲内の、例えば同一円周上に複数離散配置されており、光軸上を直進する透過光や試料により様々な角度へ散乱する散乱光の角度毎の強度を検出するものである。各検出器２４は入射した光の強度に応じた光強度信号を出力する。 A plurality of detectors 24 are discretely arranged on the optical axis of the semiconductor laser 23 and within a predetermined angle range from the optical axis with respect to the cell 21, for example, on the same circumference, and transmitted light traveling straight on the optical axis The intensity of the scattered light scattered at various angles by the sample is detected. Each detector 24 outputs a light intensity signal corresponding to the intensity of the incident light.
本体側コンピュータは、構造的にはＣＰＵ、メモリ、Ａ／Ｄコンバータ、Ｉ／Ｏインタフェース、通信インタフェース等を備えた専用のコンピュータであり、そのメモリに記憶させた所定プログラムに基づいて前記ＣＰＵや周辺機器が動作することにより、本体側制御部２６や本体側送受信部２５としての機能を発揮するものである。 The main body computer is structurally a dedicated computer equipped with a CPU, memory, A / D converter, I / O interface, communication interface, etc., and the CPU and peripherals based on a predetermined program stored in the memory Functions of the main body side control unit 26 and the main body side transmitting / receiving unit 25 are exhibited by the operation of the device.
本体側制御部２６は、後述するインタフェース機器３から送信されてくるコマンドを解釈する解釈機能や、その解釈結果等に基づき、検出器２４、半導体レーザ２３、前記撹拌用モータ、循環ポンプ等を監視／制御する監視制御機能、あるいは各検出器２４から出力された光強度信号を受信し、それらの値からＭＩＥ散乱理論を基礎としたアルゴリズムにしたがって粒度分布を表す粒度分布データを算出する粒度分布算出機能等を備えている。 The main body side control unit 26 monitors the detector 24, the semiconductor laser 23, the stirring motor, the circulation pump, and the like based on an interpretation function for interpreting a command transmitted from the interface device 3 to be described later and an interpretation result thereof. Particle size distribution calculation that receives the light intensity signals output from each detector 24 and calculates the particle size distribution data representing the particle size distribution according to an algorithm based on the MIE scattering theory. It has functions.
本体側送受信部２５は、前記通信インタフェースを利用して構成されるもので、前記粒度分布データを本体側制御部２６から受け取ってインタフェース機器３に送信したり、インタフェース機器３からのコマンドを受信し、半導体レーザ２３の光軸調整や前記攪拌用モータの回転制御等を行わせるべく前記本体側制御部２６に送り付けたりする。 The main body side transmitting / receiving unit 25 is configured using the communication interface, and receives the particle size distribution data from the main body side control unit 26 and transmits it to the interface device 3 or receives a command from the interface device 3. Then, the optical axis of the semiconductor laser 23 is adjusted, the rotation of the stirring motor is controlled, and the like are sent to the main body control unit 26.
次にインタフェース機器３につき、説明する。 Next, the interface device 3 will be described.
インタフェース機器３は、例えばパーソナルコンピュータ等の汎用コンピュータであり、構造的には図３に示すように、ＣＰＵ３０１、メモリ３０２、通信ネットワークや前記本体側コンピュータに接続するためのＵＳＢポート、モデム等の通信インタフェース３０３、ディスプレイ３０４、マウスやキーボードといった入力手段３０５等を備える。 The interface device 3 is a general-purpose computer such as a personal computer. Structurally, as shown in FIG. 3, the interface device 3 has a CPU 301, a memory 302, a communication network, a USB port for connecting to the main body computer, a modem, and the like. An interface 303, a display 304, an input unit 305 such as a mouse and a keyboard, and the like are provided.
そして、前記メモリ３０２に所定のプログラムをインストールし、そのプログラムに基づいてＣＰＵ３０１や周辺機器が協働することにより、図１に示すように、送受信部３１、データ管理部３２、表示部３３、パラメータデータ格納部３４等として機能する。 Then, a predetermined program is installed in the memory 302, and the CPU 301 and peripheral devices cooperate with each other based on the program, so that as shown in FIG. 1, the transmission / reception unit 31, the data management unit 32, the display unit 33, the parameter It functions as the data storage unit 34 or the like.
各部３１〜３４を説明する。 Each part 31-34 is demonstrated.
送受信部３１は、前記通信インタフェース３０３を利用して構成されるもので、装置本体２が行う処理（ステップ）毎に、そのステップを構成する１又は複数のコマンド（ステップを構成する処理要素（例えば、前記攪拌用モータの回転数の設定や前記循環ポンプを制御することによる流速の設定等））を、対応するパラメータとともに前記装置本体２に送信するとともに、送信された前記コマンドに基づいて前記装置本体２が行った処理（ステップ）の結果を示す結果データを受信するものである。 The transmission / reception unit 31 is configured using the communication interface 303, and for each process (step) performed by the apparatus main body 2, one or a plurality of commands (processing elements (for example, processing elements configuring the step) (for example, steps)). , Setting of the number of rotations of the stirring motor and setting of the flow rate by controlling the circulation pump, etc.) are transmitted to the apparatus main body 2 together with corresponding parameters, and the apparatus is based on the transmitted command. Result data indicating the result of the process (step) performed by the main body 2 is received.
データ管理部３２は、予めオペレータにより設定された初期の測定条件（初期のパラメータ値）の下で得られた測定結果データを送受信部３１から取得して、当該測定結果データを用いて、操作パラメータ毎にその各値を変化させて各値における測定結果データを演算するものである。そして、その演算データ（操作パラメータの各値及び当該各値に対応する評価パラメータの値を示す。）を表示部３３に出力する。 The data management unit 32 acquires the measurement result data obtained under the initial measurement conditions (initial parameter values) set in advance by the operator from the transmission / reception unit 31, and uses the measurement result data to operate the operation parameter. Each value is changed every time, and measurement result data at each value is calculated. Then, the calculation data (representing each value of the operation parameter and the value of the evaluation parameter corresponding to each value) is output to the display unit 33.
またデータ管理部３２は、オペレータが入力手段３０５を操作することによって入力される操作パラメータの入力値（オペレータ選択値）を受け付けて、パラメータデータ格納部３４に出力して、パラメータデータ格納部３４に格納する、又は既に所定値が格納されている場合には前記オペレータ選択値に更新して格納する。 In addition, the data management unit 32 receives an input value (operator selection value) of an operation parameter input by the operator operating the input unit 305, and outputs the operation parameter to the parameter data storage unit 34. Store or update to the operator selection value when a predetermined value is already stored.
なお、このデータ管理部３２は、オペレータによって選択された又は予め決められたシーケンスデータを、前記シーケンスデータ格納部（不図示）から取得したり、入力画面（不図示）で設定されたパラメータの値を取得してコマンドに付帯させたり、入力画面で新たに設定されたシーケンスデータを、前記シーケンスデータ格納部に新規又は更新格納したりする等、各種データの管理を行うものでもある。ここでシーケンスデータとは、装置本体２が行う処理の手順を示すデータである。 The data management unit 32 acquires the sequence data selected or predetermined by the operator from the sequence data storage unit (not shown) or the parameter values set on the input screen (not shown). The data is attached to the command and the various types of data are managed, such as newly or updatedly storing the sequence data newly set on the input screen in the sequence data storage unit. Here, the sequence data is data indicating a procedure of processing performed by the apparatus main body 2.
パラメータデータ格納部３４は、メモリ３０２の所定領域に設定されるもので、前記オペレータの入力手段３０５の操作によって入力された操作パラメータのパラメータ値を示すデータを格納するものである。具体的にパラメータデータ格納部３４は、各試料に対応する測定条件を示す操作パラメータのパラメータ値を、当該試料に対応付けて格納するものである。例えば、パラメータデータ格納部３４は、試料Ｘに対する操作条件として、操作パラメータａのパラメータ値ａ（Ｘ）、操作パラメータｂのパラメータ値ｂ（Ｘ）、操作パラメータｃのパラメータ値ｃ（Ｘ）、…というパラメータ値のグループを試料Ｘの識別子を付して格納している。 The parameter data storage unit 34 is set in a predetermined area of the memory 302, and stores data indicating the parameter value of the operation parameter input by the operation of the input means 305 of the operator. Specifically, the parameter data storage unit 34 stores parameter values of operation parameters indicating measurement conditions corresponding to each sample in association with the sample. For example, the parameter data storage unit 34 includes, as operation conditions for the sample X, the parameter value a (X) of the operation parameter a, the parameter value b (X) of the operation parameter b, the parameter value c (X) of the operation parameter c,. Is stored with the sample X identifier.
操作パラメータは、オペレータが入力操作すべきパラメータであり、粒度分布測定を行うための装置本体の測定条件を決定する測定条件パラメータと、測定結果を演算するための演算条件パラメータとを含むものである。測定条件パラメータは、例えば試料の循環速度（循環ポンプ速度）、超音波発振器の動作時間（超音波の印加時間）、超音波の強度、測定中の超音波発振器の動作の有無、データの取り込み回数、試料濃度等である。なお、超音波発振器の動作の有無におけるパラメータの値とは、「動作有り」又は「動作無し」である。 The operation parameter is a parameter to be input by the operator, and includes a measurement condition parameter for determining the measurement condition of the apparatus main body for performing the particle size distribution measurement and a calculation condition parameter for calculating the measurement result. The measurement condition parameters include, for example, the circulation speed of the sample (circulation pump speed), the operation time of the ultrasonic oscillator (application time of ultrasonic waves), the intensity of the ultrasonic wave, the presence / absence of the operation of the ultrasonic oscillator during measurement, and the number of data acquisitions. , Sample concentration and the like. Note that the value of the parameter in the presence / absence of the operation of the ultrasonic oscillator is “with operation” or “without operation”.
一方評価パラメータは、測定条件が個々の試料に対して最適か否か判断するためのものであり、例えば平均径、中央径やモード径等の粒度、粒度分布の標準偏差、粒度分布の残差平方和、分布関数（例えば所定粒度を有する粒子の割合）等である。 On the other hand, the evaluation parameters are for determining whether the measurement conditions are optimal for each sample. For example, the average diameter, the median diameter, the mode diameter, etc., the standard deviation of the particle size distribution, the residual of the particle size distribution The sum of squares, the distribution function (for example, the ratio of particles having a predetermined particle size), and the like.
表示部３３は、ディスプレイ３０４を制御するもので、入力画面表示機能（入力画面表示部としての機能）、結果表示機能（結果表示部としての機能）等を有している。入力画面表示機能とは、測定条件を設定するために必要なパラメータの入力をするための入力画面を表示する機能である。結果表示機能とは、装置本体２から送信されてきた粒度分布データ等の測定結果データの内容を、所定形式で表示する機能である。 The display unit 33 controls the display 304, and has an input screen display function (function as an input screen display unit), a result display function (function as a result display unit), and the like. The input screen display function is a function for displaying an input screen for inputting parameters necessary for setting measurement conditions. The result display function is a function for displaying the contents of measurement result data such as particle size distribution data transmitted from the apparatus main body 2 in a predetermined format.
ここで、結果表示機能について説明する。 Here, the result display function will be described.
表示部３３は、送受信部３１から取得した測定結果データにより得られる粒度分布グラフをディスプレイ３０４の画面上に表示するとともに、当該測定結果データから得られる評価用グラフをディスプレイ３０４の画面上に表示するものである。 The display unit 33 displays a particle size distribution graph obtained from the measurement result data acquired from the transmission / reception unit 31 on the screen of the display 304 and displays an evaluation graph obtained from the measurement result data on the screen of the display 304. Is.
具体的に表示部３３は、図４に示すように、粒度分布グラフ等の測定結果グラフＧ１及び１又は複数の評価用グラフＧ２、Ｇ３を一覧表示するグラフサマリ表示画面Ｗ１と、図５に示すように、測定結果グラフＧ１を個別表示する測定結果グラフ表示画面Ｗ２と、図６又は図７に示すように、評価用グラフＧ２、Ｇ３を個別表示する評価用グラフ表示画面Ｗ３、Ｗ４とを切り替え可能にディスプレイ３０４上に表示する。 Specifically, as shown in FIG. 4, the display unit 33 is a graph summary display screen W1 for displaying a list of measurement result graphs G1, such as a particle size distribution graph, and one or a plurality of evaluation graphs G2, G3, and FIG. As described above, the measurement result graph display screen W2 for individually displaying the measurement result graph G1 and the evaluation graph display screens W3 and W4 for individually displaying the evaluation graphs G2 and G3 as shown in FIG. 6 or 7 are switched. Display on the display 304 as possible.
本実施形態の評価用グラフＧ２、Ｇ３は２次元グラフであり、一方の軸（例えば横軸）を所定の操作パラメータとし、他方の軸（例えば縦軸）を所定の評価パラメータとして、操作パラメータの各値において、その値に対応する評価パラメータ（例えば粒子径）の演算値をグラフ上に表示することによって構成される。 The evaluation graphs G2 and G3 of the present embodiment are two-dimensional graphs, and one axis (for example, the horizontal axis) is set as a predetermined operation parameter, and the other axis (for example, the vertical axis) is set as a predetermined evaluation parameter. For each value, the calculated value of the evaluation parameter (for example, particle diameter) corresponding to the value is displayed on the graph.
グラフサマリ表示画面Ｗ１は、１つの測定結果グラフ（粒度分布グラフ）Ｇ１と、２つの評価用グラフＧ２、Ｇ３とを同一画面上に一覧表示するように構成されている。グラフサマリ表示において左下に表示されている評価用グラフＧ２は粒度分布特性を示す２次元グラフであり、横軸を屈折率、縦軸を粒子径とし、パーセント粒子径（粒度Ｄ１０、Ｄ５０、Ｄ９０）を表示した場合を示している。これはすなわち、粒子径と通過分積算度（％）との関係を示す粒度分布グラフにおいて、通過分積算度が１０％（粒度Ｄ１０（代表小粒子径））である時の粒子径、通過分積算度が５０％（粒度Ｄ５０（代表中央粒子径））である時の粒子径、通過分積算度が９０％（粒度Ｄ９０（代表大粒子径））である時の粒子径をそれぞれの指定された屈折率に従って演算した結果である。粒子径の値をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ９０で比較することにより、どの屈折率が適しているかを評価することができる。通過分積算度（％）の値は、１０％、５０％、９０％が好ましいが、これに限るものではなく、代表粒子径（粒度分布データを積算分布グラフ形式で表示したときのグラフ上の所定各点における粒子径）を変更しても良く、またその数も３点に限られず、減少又はさらに増加させても良い。 The graph summary display screen W1 is configured to display a list of one measurement result graph (particle size distribution graph) G1 and two evaluation graphs G2 and G3 on the same screen. The graph G2 for evaluation displayed at the lower left in the graph summary display is a two-dimensional graph showing the particle size distribution characteristics, where the horizontal axis represents the refractive index, the vertical axis represents the particle size, and the percent particle size (particle size D10, D50, D90). Is displayed. That is, in the particle size distribution graph showing the relationship between the particle diameter and the accumulated amount of passage (%), the particle diameter and the passage amount when the accumulated amount of passage is 10% (particle size D10 (representative small particle diameter)). The particle diameter when the integration degree is 50% (particle size D50 (representative median particle diameter)) and the particle diameter when the passing degree integration degree is 90% (particle size D90 (representative large particle diameter)) are respectively designated. It is the result calculated according to the refractive index. By comparing the particle diameter values with D10, D50, and D90, it is possible to evaluate which refractive index is suitable. Passage integration degree (%) is preferably 10%, 50%, and 90%, but is not limited to this. Representative particle diameter (on the graph when the particle size distribution data is displayed in integrated distribution graph format) The particle diameter at each predetermined point) may be changed, and the number thereof is not limited to three, and may be decreased or further increased.
一方、右下に表示されている評価用グラフＧ３は演算結果特性を示す２次元グラフであり、横軸に屈折率、縦軸に残差平方和（Ｒパラメータ）を表示した場合を示している。残差平方和とは、Ｘ軸を光強度分布、Ｙ軸を粒度分布とし、回帰式から求められるＹ’の値からの粒度分布値のばらつきを示し、この値が小さいほど回帰式の当てはまりが良いことを示している。本実施形態でこのように２つの評価用グラフＧ２、Ｇ３を表示しているのは、評価する性質の異なるグラフを表示するためである。 On the other hand, the evaluation graph G3 displayed in the lower right is a two-dimensional graph showing the calculation result characteristics, and shows a case where the horizontal axis represents the refractive index and the vertical axis represents the residual sum of squares (R parameter). . The residual sum of squares represents the variation in the particle size distribution value from the value of Y ′ obtained from the regression equation with the light intensity distribution on the X axis and the particle size distribution on the Y axis, and the smaller the value, the more the regression equation is applied. Shows good things. The reason why the two evaluation graphs G2 and G3 are displayed in this way in this embodiment is to display graphs having different properties to be evaluated.
また表示部３３は、オペレータがカーソル（マウスポインタ等）を操作して、図示しない表示切り替えボタンを押すことによって、グラフサマリ表示画面Ｗ１から、当該グラフサマリ表示画面Ｗ１に表示されている各グラフＧ１〜Ｇ３のみを個別に表示する。具体的に表示部３３は、グラフサマリ表示画面Ｗ１（図４参照）から測定結果グラフ表示画面Ｗ２（図５参照）、評価用グラフ表示画面Ｗ３、Ｗ４（図６又は図７参照）に切り替えて、それら測定結果グラフＧ１又は評価用グラフＧ２、Ｇ３を拡大表示する。 Further, the display unit 33 operates from the graph summary display screen W1 to each graph G1 displayed on the graph summary display screen W1 when the operator operates a cursor (such as a mouse pointer) and presses a display switching button (not shown). Only ~ G3 is displayed individually. Specifically, the display unit 33 switches from the graph summary display screen W1 (see FIG. 4) to the measurement result graph display screen W2 (see FIG. 5) and the evaluation graph display screens W3 and W4 (see FIG. 6 or FIG. 7). The measurement result graph G1 or the evaluation graphs G2 and G3 are enlarged and displayed.
さらに表示部３３は、評価用グラフＧ２において、操作パラメータの種類及び評価パラメータの種類を変更して表示するように構成されている。具体的には、オペレータがカーソル（マウスポインタ等）を操作して、図示しない操作パラメータ変更ボタンを押すことによって、順繰りに操作パラメータを変更する。また、一方、オペレータがカーソル（マウスポインタ等）を操作して、図示しない評価パラメータ変更ボタンを押すことによって、順繰りに評価パラメータを変更する。なお、例えば、操作パラメータの表示変更及び評価パラメータの表示変更においては、パラメータ変更ボタンを押すことによって、複数のパラメータ名を選択的に入力可能とするプルダウンリストを表示して、当該プルダウンリスト中から選択できるように構成しても良い。 Further, the display unit 33 is configured to change and display the type of operation parameter and the type of evaluation parameter in the evaluation graph G2. Specifically, the operator operates the cursor (such as a mouse pointer) and presses an operation parameter change button (not shown) to change the operation parameters in order. On the other hand, when the operator operates a cursor (such as a mouse pointer) and presses an evaluation parameter change button (not shown), the evaluation parameters are sequentially changed. For example, in the display change of the operation parameter and the display change of the evaluation parameter, a pull-down list for selectively inputting a plurality of parameter names is displayed by pressing the parameter change button. You may comprise so that it can select.
次に、本実施形態の粒度分布測定装置１００を用いた測定条件の評価に関して説明する。 Next, evaluation of measurement conditions using the particle size distribution measuring apparatus 100 of the present embodiment will be described.
まずオペレータは、インタフェース機器３のディスプレイ３０４に表示される初期画面（図示しない）で、シーケンスを選択するなど、必要な初期操作を行う。そしてデータ管理部３２が、オペレータによって選択されたシーケンスデータをシーケンスデータ格納部３４から取得する。また、オペレータは、上記のシーケンスにおいて設定すべき各操作パラメータの初期値を入力手段を用いて入力すると、データ管理部３２が、当該初期値を前記コマンドに付帯させる。なお、前記コマンドに付帯させる初期値は、オペレータにより入力されたものの他、予めパラメータデータ格納部３４に格納されている過去に用いられたパラメータ値であっても良い。 First, the operator performs necessary initial operations such as selecting a sequence on an initial screen (not shown) displayed on the display 304 of the interface device 3. The data management unit 32 acquires the sequence data selected by the operator from the sequence data storage unit 34. Further, when the operator inputs the initial value of each operation parameter to be set in the above sequence using the input means, the data management unit 32 attaches the initial value to the command. The initial value attached to the command may be a parameter value used in the past stored in advance in the parameter data storage unit 34 in addition to the value input by the operator.
そして送受信部３１が、パラメータを付帯させた前記コマンドを装置本体２に送信する。 Then, the transmission / reception unit 31 transmits the command accompanied by the parameter to the apparatus main body 2.
装置本体２では、送信されてきた前記コマンド等を本体側送受信部２５が受信し、本体側制御部２６がコマンド等を解釈して、検出器２４、半導体レーザ２３、前記撹拌用モータ、循環ポンプ等を監視／制御する。また、各検出器２４から出力された光強度信号を受信し、それらの値からＭＩＥ散乱理論を基礎としたアルゴリズムにしたがって粒度分布を表す粒度分布データを少なくとも算出する。そして、その粒度分布データを含む測定結果データをインタフェース機器３に返信する。 In the apparatus main body 2, the main body side transmitting / receiving unit 25 receives the transmitted command and the like, and the main body side control unit 26 interprets the command and the like, and the detector 24, the semiconductor laser 23, the stirring motor, the circulation pump Etc. are monitored / controlled. Further, the light intensity signals output from the detectors 24 are received, and at least particle size distribution data representing the particle size distribution is calculated according to an algorithm based on the MIE scattering theory from those values. Then, the measurement result data including the particle size distribution data is returned to the interface device 3.
この測定結果データを受信した送受信部３１は、その測定結果データをデータ管理部３２及び表示部３３に出力する。 The transmission / reception unit 31 that has received the measurement result data outputs the measurement result data to the data management unit 32 and the display unit 33.
そうするとデータ管理部３２は、測定結果データを用いて、各操作パラメータの値を所定範囲で変化させて、その各値における評価パラメータの値を演算する。そして、各操作パラメータの各値に各評価パラメータの演算値を関連付けてなる演算データを表示部３３に出力する。 Then, the data management unit 32 changes the value of each operation parameter within a predetermined range using the measurement result data, and calculates the value of the evaluation parameter at each value. Then, calculation data obtained by associating the calculation values of the evaluation parameters with the values of the operation parameters is output to the display unit 33.
そして、測定結果データ及び演算データを受け付けた表示部３３は、グラフサマリ表示画面Ｗ１上に測定結果グラフＧ１及び評価用グラフＧ２、Ｇ３を表示する。このとき、グラフサマリ表示画面Ｗ１上に表示される測定結果グラフＧ１は、粒度分布グラフに限られず、その他のグラフ、例えば各検出器２４の光強度を示す光強度分布グラフであっても良いし、それらグラフを表示切り替え可能に構成しても良い。また、評価用グラフＧ２、Ｇ３は、初期表示するグラフの種類は適宜選択可能である。 Then, the display unit 33 that has received the measurement result data and the calculation data displays the measurement result graph G1 and the evaluation graphs G2 and G3 on the graph summary display screen W1. At this time, the measurement result graph G1 displayed on the graph summary display screen W1 is not limited to the particle size distribution graph, and may be another graph, for example, a light intensity distribution graph indicating the light intensity of each detector 24. The graphs may be configured to be switchable. In addition, for the evaluation graphs G2 and G3, the type of graph to be initially displayed can be selected as appropriate.
また、表示部３３は、オペレータにより画面表示切り替え操作が行われると、グラフサマリ表示画面Ｗ１、測定結果グラフ表示画面Ｗ２又は評価用グラフ表示画面Ｗ３、Ｗ４の間で相互に切り替えて表示する。 Further, when the screen display switching operation is performed by the operator, the display unit 33 switches between the graph summary display screen W1, the measurement result graph display screen W2, or the evaluation graph display screens W3 and W4.
グラフサマリ表示上の評価用グラフＧ２、Ｇ３又は個別表示された評価用グラフＧ２、Ｇ３に基づいて、オペレータが、評価パラメータ変更ボタンを押すことにより評価パラメータの種類を変更しつつ、最適な操作パラメータの値を図示しない入力画面により入力する。この入力値は、データ管理部３２によりパラメータデータ格納部３４に格納される。次に、オペレータが操作パラメータ変更ボタンを押すことによって、表示部３３は評価用グラフＧ２、Ｇ３の横軸の操作パラメータの種類を変更して表示する。 Based on the evaluation graphs G2 and G3 on the graph summary display or individually displayed evaluation graphs G2 and G3, the operator changes the type of the evaluation parameter by pressing the evaluation parameter change button, and the optimum operation parameter Is entered on an input screen (not shown). This input value is stored in the parameter data storage unit 34 by the data management unit 32. Next, when the operator presses an operation parameter change button, the display unit 33 changes and displays the type of operation parameter on the horizontal axis of the evaluation graphs G2 and G3.
このように全ての操作パラメータを変更しながら、各操作パラメータ毎に最適な値を選択して入力する。そして試料毎に上記操作により各操作パラメータの最適値を選択することによって、試料毎に最適な測定条件が得られる。このように得られた測定条件は、次回以降の対応する試料の測定において、シーケンスのコマンドに付帯されるパラメータとして用いられる。 Thus, while changing all the operation parameters, an optimum value is selected and inputted for each operation parameter. Then, by selecting the optimum value of each operation parameter for each sample by the above operation, the optimum measurement condition can be obtained for each sample. The measurement conditions obtained in this way are used as parameters attached to the sequence command in the measurement of the corresponding sample after the next time.
＜本実施形態の効果＞
このように構成した本実施形態に係る粒度分布測定装置１００によれば、操作パラメータの値と、当該操作パラメータの各値に対応した評価パラメータの値との関係をグラフ表示することによって、グラフ上に表示された評価パラメータの値に基づいて、どの操作パラメータの値が最適であるかを容易に評価できるようになる。したがって、種々の操作パラメータ毎に評価パラメータとの関係をグラフ表示して、評価パラメータの値に基づいて各操作パラメータの最適な値を選択することによって、試料毎に最適な測定条件を容易に設定できるようになる。
<Effect of this embodiment>
According to the particle size distribution measuring apparatus 100 according to the present embodiment configured as described above, the graph displays the relationship between the value of the operation parameter and the value of the evaluation parameter corresponding to each value of the operation parameter. It is possible to easily evaluate which operation parameter value is optimal based on the value of the evaluation parameter displayed on the screen. Therefore, it is easy to set the optimal measurement conditions for each sample by displaying the relationship with the evaluation parameters in graphs for each of the various operation parameters and selecting the optimal values for each operation parameter based on the values of the evaluation parameters. become able to.
＜その他の変形実施形態＞
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
<Other modified embodiments>
The present invention is not limited to the above embodiment.
例えば、前記実施形態では、評価用グラフが２次元グラフであったが、その他、図８に示すように、例えばＸ軸、Ｙ軸の２軸に異なる種類の操作パラメータの値をとり、残りの１軸（Ｚ軸）に評価パラメータの値をとるようにして構成しても良い。この場合、３次元グラフの表示角度を変更可能に構成することによってオペレータが評価しやすくすることが考えられる。３次元グラフの３軸の設定としては、２軸に異なる評価パラメータの値をとり、残りの１軸に評価パラメータの値をとるようにしても良い。 For example, in the above-described embodiment, the evaluation graph is a two-dimensional graph. However, as shown in FIG. 8, for example, the values of different types of operation parameters are taken on two axes, the X axis and the Y axis, and the remaining You may comprise so that the value of an evaluation parameter may be taken on 1 axis (Z axis). In this case, it is conceivable that the operator can easily evaluate by configuring the display angle of the three-dimensional graph to be changeable. As the setting of the three axes of the three-dimensional graph, different evaluation parameter values may be taken on the two axes, and the evaluation parameter values may be taken on the remaining one axis.
また、前記実施形態のように、１つの評価用グラフ上で操作パラメータ及び／又は評価パラメータの種類を変更可能に構成しているが、１つの評価用グラフ上では、操作パラメータ及び／又は評価パラメータを変更せずに、各操作パラメータ及び／又は各評価パラメータ毎にそれぞれ評価用グラフを表示するように構成しても良い。 Further, as in the above-described embodiment, the operation parameter and / or the type of evaluation parameter can be changed on one evaluation graph. However, on one evaluation graph, the operation parameter and / or evaluation parameter can be changed. The evaluation graph may be displayed for each operation parameter and / or each evaluation parameter without changing the above.
さらに、グラフサマリ表示画面には、２つ以上の異なる測定結果グラフを表示するようにしても良いし、評価用グラフの数も２つに限られず、１つであっても良いし、３つ以上であっても良い。 Furthermore, two or more different measurement result graphs may be displayed on the graph summary display screen, and the number of evaluation graphs is not limited to two, and may be one or three. It may be above.
その上、前記実施形態では、測定結果データを用いて、操作パラメータの値を所定範囲で変化させることによって評価パラメータの値を演算するように構成しているが、操作パラメータの値を１点又は複数点の代表値に変化させることによって、評価パラメータの値を演算するように構成しても良い。 In addition, in the above-described embodiment, the measurement parameter value is calculated by changing the value of the operation parameter within a predetermined range using the measurement result data. You may comprise so that the value of an evaluation parameter may be calculated by changing to the representative value of several points.
その上、この粒度分布測定装置は、トータルとしてインタフェース装置と装置本体としての機能さえあればよく、インタフェース装置と装置本体とが物理的に一体のものであっても構わないし、２乃至それ以上の機器に分離していても前記実施形態同様の作用効果を奏し得る。 In addition, the particle size distribution measuring device only needs to function as an interface device and a device body as a whole, and the interface device and the device body may be physically integrated. Even if it is separated into devices, the same effects as those of the above embodiment can be obtained.
その他、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。 In addition, it goes without saying that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
１００ ・・・粒度分布測定装置
２ ・・・装置本体
３ ・・・インタフェース機器
Ｇ１ ・・・測定結果グラフ
Ｇ２、Ｇ３・・・評価用グラフ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Particle size distribution measuring apparatus 2 ... Apparatus main body 3 ... Interface apparatus G1 ... Measurement result graph G2, G3 ... Evaluation graph
Claims (4)
前記インタフェース機器が、粒度分布測定を行うために設定すべき操作パラメータの値と、当該操作パラメータの各値に対応した、前記装置本体の測定結果を用いて得られた評価パラメータの値との関係を示す評価用グラフ及び前記装置本体からの測定結果を示す測定結果グラフを同時に表示するものであり、
前記評価用グラフが、一方の軸を前記操作パラメータとし、他方の軸を前記評価パラメータとしたものであることを特徴とする粒度分布測定装置。 A particle size distribution measuring apparatus comprising: an apparatus main body for measuring a particle size distribution of a sample; and an interface device that receives input from an operator and performs drive control of the apparatus main body, and receives and displays a measurement result from the apparatus main body Because
Relationship between the value of the operation parameter to be set for the interface device to perform particle size distribution measurement and the value of the evaluation parameter obtained by using the measurement result of the apparatus main body corresponding to each value of the operation parameter Simultaneously displaying a graph for evaluation and a measurement result graph indicating a measurement result from the apparatus main body,
The particle size distribution measuring apparatus, wherein the evaluation graph has one axis as the operation parameter and the other axis as the evaluation parameter.
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021100514A1 (en) * | 2019-11-19 | 2021-05-27 | 株式会社堀場製作所 | Device for measuring particle diameter distribution, and method for measuring particle diameter distribution |
| JP7452338B2 (en) | 2020-09-04 | 2024-03-19 | 株式会社島津製作所 | Material testing machine and control method for material testing machine |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0484736A (en) * | 1990-07-27 | 1992-03-18 | Shimadzu Corp | Method for measuring particle size distribution |
| JPH0674892A (en) * | 1992-08-25 | 1994-03-18 | Fine Ceramics Center | Method and apparatus for measuring particle size distribution using laser diffraction scattering |
| JPH1019759A (en) * | 1996-06-28 | 1998-01-23 | Shimadzu Corp | Particle size distribution measuring apparatus |
| JP2001033375A (en) * | 1999-07-21 | 2001-02-09 | Shimadzu Corp | Laser diffraction/scattering type grain size distribution- measuring device |
| JP2003232715A (en) * | 2002-02-06 | 2003-08-22 | Horiba Ltd | Grain size distribution-measuring apparatus |
| JP2003232718A (en) * | 2002-02-06 | 2003-08-22 | Horiba Ltd | Particle size distribution-measuring apparatus |
| JP2008111810A (en) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Shimadzu Corp | Comparison method of light intensity distribution data of diffracted/scattered light, and particle size distribution measuring device |
| JP2008164539A (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-17 | Horiba Ltd | Particle size distribution measuring apparatus |
-
2016
- 2016-02-15 JP JP2016026399A patent/JP6189985B2/en active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0484736A (en) * | 1990-07-27 | 1992-03-18 | Shimadzu Corp | Method for measuring particle size distribution |
| JPH0674892A (en) * | 1992-08-25 | 1994-03-18 | Fine Ceramics Center | Method and apparatus for measuring particle size distribution using laser diffraction scattering |
| JPH1019759A (en) * | 1996-06-28 | 1998-01-23 | Shimadzu Corp | Particle size distribution measuring apparatus |
| JP2001033375A (en) * | 1999-07-21 | 2001-02-09 | Shimadzu Corp | Laser diffraction/scattering type grain size distribution- measuring device |
| JP2003232715A (en) * | 2002-02-06 | 2003-08-22 | Horiba Ltd | Grain size distribution-measuring apparatus |
| JP2003232718A (en) * | 2002-02-06 | 2003-08-22 | Horiba Ltd | Particle size distribution-measuring apparatus |
| JP2008111810A (en) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Shimadzu Corp | Comparison method of light intensity distribution data of diffracted/scattered light, and particle size distribution measuring device |
| JP2008164539A (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-17 | Horiba Ltd | Particle size distribution measuring apparatus |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021100514A1 (en) * | 2019-11-19 | 2021-05-27 | 株式会社堀場製作所 | Device for measuring particle diameter distribution, and method for measuring particle diameter distribution |
| GB2606074A (en) * | 2019-11-19 | 2022-10-26 | Horiba Ltd | Device for measuring particle diameter distribution, and method for measuring particle diameter distribution |
| GB2606074B (en) * | 2019-11-19 | 2023-11-08 | Horiba Ltd | Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method |
| JP7452338B2 (en) | 2020-09-04 | 2024-03-19 | 株式会社島津製作所 | Material testing machine and control method for material testing machine |
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