JP2016114609A - 凍結割断機 - Google Patents

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Abstract

【課題】凍結割断機においてナイフ及び試料を迅速かつ簡単に交換する手段を提供することである。【解決手段】真空室110を備え、該真空室内には、試料受容部160と、試料を処理するナイフ155を受容するナイフ受容部150とが配置されている、凍結割断機であって、真空室110にはロックが設けられていて、該ロックを介して、試料及びナイフ155を、真空室内に入れることができ、位置決め装置135によって真空室内に位置決めすることができ、試料と試料受容部160とは、試料が位置決め装置によって試料受容部に取り付け可能であるように、互いに位置決め可能であって、ナイフとナイフ受容部とは、ナイフが位置決め装置によってナイフ受容部に取り付け可能であるように、互いに位置決め可能である。【選択図】図3

Description

本発明は、真空室を備えた凍結割断機並びに該凍結割断機の真空室内に試料及びナイフを取り付ける方法に関する。
凍結割断機は、例えば組織試料のような凍結された試料を処理するために用いられる。この際、凍結割断機の真空室内で、(凍結された)試料をナイフによって裁断、若しくは割断することができる。この場合、真空室若しくは真空は特に、試料を汚染する恐れのある水を回避するために用いられる。さらに、試料及びナイフは、凍結された試料が処理中に加熱されないように、主として液体窒素によって冷却される。
凍結割断機若しくは真空室には通常、覗き窓が設けられており、この窓から、処理すべき試料を見ることができる。さらに、極めて小さい試料を処理すべき場合には、例えば顕微鏡を設けることができる。
試料を入れる若しくは取り出すために、凍結割断機にはロックを設けることができ、このロックを介して、真空を破壊することなく試料を真空室に入れる若しくは試料を真空室から取り出すことができる。
例えばナイフの種類を交換するために、又は汚れたナイフを交換するために、ナイフを取り付ける若しくは取り出すためには、これまで主として、真空を破壊して、真空室に通気し、覗き窓若しくは相応のドアを介してナイフを交換しなければならなかった。この場合、欠点は、ナイフ交換の過程が、通気及び再度の真空化により極めて長くかかることにある。さらに、ナイフを交換できるように、真空室全体を室温に加熱しなければならない。
本発明の課題は、凍結割断機においてナイフ及び試料を従来よりも迅速かつ簡単に交換する手段を提供することである。
本発明によれば、独立請求項に記載の特徴を備えた凍結割断機及び、凍結割断機の真空室内に試料及びナイフを取り付ける方法が提案されている。有利な構成は、従属請求項及び以下に記載されている。
本発明による凍結割断機は、真空室を備え、該真空室内には、処理すべき試料を受容する試料受容部と、前記試料を処理するように設けられたナイフを受容するナイフ受容部とが配置されている。前記真空室にはロックが設けられていて、該ロックを介して、試料及びナイフを、前記真空室内に入れることができ、位置決め装置によって前記真空室内に位置決めすることができる。この場合、前記試料と前記試料受容部とは、前記試料が前記位置決め装置によって前記試料受容部に取り付け可能であるように、互いに位置決め可能であって、ナイフと前記ナイフ受容部とは、前記ナイフが前記位置決め装置によって前記ナイフ受容部に取り付け可能であるように、互いに位置決め可能である。
即ち、このような凍結割断機によっては、試料及びナイフを同じ1つのロックを通して交換することができる。このような構成は、試料の交換のためにも、ナイフの交換のためにも、真空室を通気し、加熱する必要はないという利点を有している。従って、試料交換、及び特にナイフ交換も極めて迅速かつ簡単に行うことができる。
ロックとは、真空密なドア(主としてスライド弁として形成されている)によって閉鎖可能な、真空室に設けられた開口を意味する。このようなロックには、真空トランスファシステム(理想的には、真空クライオトランスファシステム)がフランジ固定されている。真空トランスファシステムが真空化されている場合、真空室内の圧力損失や温度上昇なしにドアを開放することができる。位置決め装置は特にこのような真空トランスファシステムの一部であって良い。好適な真空クライオトランスファシステムは、例えばEM VCT100の名で本出願人により提供される。
好適には、前記ナイフ受容部は交換位置に移動可能であり、該交換位置で、前記ナイフを前記ナイフ受容部に取り付けることができる。ナイフ受容部はこのために、例えばレール等に沿って摺動可能であって良い。別のスライド機構が設けられても良く、このスライド機構によって、ナイフ受容部を様々な方向でスライドさせることができる。これにより、ナイフ受容部を、ロックに対して相対的にできるだけ良好な位置にもたらすことができる。従って例えば、これまでは試料を交換するために使用されていたロックを極めて簡単に、このようにして、ナイフの交換のためにも使用することができる。別の位置としては、例えば、ナイフが試料を裁断するために所望の位置をとる作業位置を設けることができる。複数の作業位置も考えられる。
好適には、前記ナイフを固定するナイフホルダを前記位置決め装置に取り付けることができ、前記ナイフホルダを前記ナイフ受容部に結合させることができる。これにより、ナイフホルダを特に簡単に、例えばスライドロッドである位置決め装置に、例えば差し込みによって取り付けることができるので、ナイフを真空室に特に簡単に取り付けることができる。
前記試料を固定する試料ホルダを前記位置決め装置に取り付けることができ、前記試料ホルダを前記試料受容部に結合させることができるならば特に有利である。これにより、試料ホルダを、ナイフホルダと同様に特に簡単に、位置決め装置に取り付けることができるので、試料を真空室に特に簡単に取り付けることができる。
好適には、前記ナイフ受容部は、前記ナイフホルダを前記ナイフ受容部に結合させる受容手段を有している。これにより、簡単かつ安定的なナイフホルダの取り付けが可能である。例えば、受容手段は、互いに間隔を置いて位置する2つのレールであって良く、このレール内にナイフホルダを挿入させることができる。
好適には、前記試料受容部は、前記試料ホルダを前記試料受容部に結合させる受容手段を有しており、特に前記ナイフホルダの前記受容手段と前記試料ホルダの前記受容手段とは同じ形式で形成されている。これにより、1つには、ナイフ受容部の場合と同様に、簡単かつ安定的な試料ホルダの取り付けが可能となる。さらに、両受容手段が同様に形成されている場合、同様のホルダを、試料ホルダ及びナイフホルダとして使用することができる。
前記ナイフホルダが、前記ナイフ受容部の前記受容手段に対応する固定手段を有していて、該固定手段は、前記ナイフホルダを前記ナイフ受容部に結合させるために前記位置決め装置によって操作可能であるならば有利である。このような固定手段は、例えばばね力によって負荷されたピンであって良い。このようなピンは、位置決め装置がスライドロッドである場合には特に、例えばこの位置決め装置の回転によって引き込むことができる。ナイフ受容部の受容手段への挿入後、このピンは受容手段に摩擦接続的にかつ/又は形状接続的に接続され得る。
好適には、前記試料ホルダは、前記試料受容部の前記受容手段に対応する固定手段を有していて、該固定手段は、前記試料ホルダを前記試料受容部に結合させるために前記位置決め装置によって操作可能であって、特に前記ナイフホルダの前記固定手段と、前記試料ホルダの前記固定手段とは同じ形式で形成されている。これにより、ナイフホルダの場合と同様に、試料受容部と試料ホルダとの間を簡単かつ確実に結合させることができる。特にこれにより、同じ形式のホルダを試料ホルダとして及びナイフホルダとして使用することができ、一方のホルダに試料を、他方のホルダにナイフを取り付けることができる。
有利には、試料受容部は、真空室内の定位置に配置されている。これにより、特に簡単な試料受容部への試料の取り付けが可能となる。さらに、試料受容部が常に同じ位置に位置していることが保証され、これにより正確に位置決めされた処理が可能である。
前記位置決め装置は、前記試料若しくはナイフを、前記真空室の内側で軸線に沿って摺動させるように構成されているならば好適である。これにより、例えばスライドロッドの形態の、単純な構成の位置決め装置が可能である。これにより、様々なナイフ受容部と組み合わせる場合には特に、ナイフの簡単な交換が可能である。好適には、位置決め装置は、真空用の磁気的に連結された回転・スライド貫通部を有している。これは、ベローズシールされた又はエラストマシールされた回転・スライド貫通部であって良い。
好適には、前記試料受容部及び/又は前記ナイフ受容部は、冷却媒体用の接続部を有している。冷却媒体は特に液体窒素であって良い。試料受容部若しくはナイフ受容部はこの場合、例えば銅ブロックを有していて良く、この銅ブロックを通して冷却媒体管路を接続することができ、冷却媒体を案内することができる。これにより、処理中における試料の継続的な冷却が保証される。
本発明による方法は、本発明による凍結割断機の真空室内に試料及びナイフを取り付けるために役立つ。この場合、第1の時点で、前記試料を前記ロックを介して前記真空室内に入れて、前記位置決め装置によって前記試料受容部に取り付け、第2の時点で、前記ナイフを前記ロックを介して前記真空室内に入れて、前記位置決め装置によって前記ナイフ受容部に取り付ける。
即ちこれにより、試料及びナイフを1つだけのロックを通して交換することができる。このような構成は、試料の交換のためにも、ナイフの交換のためにも、真空室を通気し、加熱する必要はないという利点を有している。従って、試料交換、及び特にナイフ交換も極めて迅速かつ簡単に行うことができる。
本発明のさらなる利点及び態様は、以下の説明及び添付の図面により明らかである。
上述した特徴及び以下にさらに説明する特徴は、記載した各組み合わせにおいてだけでなく、本発明の範囲を逸脱することなく、別の組み合わせ又は単独で利用することができる。
本発明を、実施態様につき図面に概略的に示し、以下に図面につき説明する。
本発明による凍結割断機の好適な態様を概略的に示した図である。 図1の凍結割断機の一部を概略的に示した図である。 図2の凍結割断機の一部を別の作業位置において概略的に示した図である。 本発明による凍結割断機用のナイフ受容部及びナイフホルダを概略的に示した図である。 本発明による凍結割断機用の試料受容部及び試料ホルダを概略的に示した図である。
図1には、本発明による凍結割断機100の好適な態様が概略的に示されている。フロント面には、覗き窓121を備えたドア120が設けられている。このドア120から、凍結割断機内部に存在している、若しくは凍結割断機内部によって形成される真空室110へとアクセスすることができる。例えばドア120に取り付けられたガラスから成っている覗き窓121により、真空室110内の経過を観察することができる。
凍結割断機100の側面には、真空室110へのアクセスを可能にするロック130が設けられている。例えば、ロック130には弁が設けられており、この弁を介して真空室110を外部に対して気密に閉鎖することができる。ロック130にはハウジング131を、例えばバヨネット接続部によって気密に取り付けることができる。ハウジング131内には、スライドロッド135として形成された位置決め装置が設けられている。このスライドロッド135は、その軸線に沿って、ハウジング131に対して相対的に摺動可能かつ回転可能であるように、例えばシール部材によって気密にハウジング131内に配置されている。スライドロッド135は、エラストマによりシールされた回転・スライド貫通部の一部である。
ハウジング131がロック130に気密に取り付けられた後、ロック130が、特にその弁がまだ閉じられている間に、例えば真空ポンプによって、ハウジング131の内部が、弁に到るまで吸い出される。十分な真空が得られた後で、弁若しくはロック130が真空室110に対して開かれる。
スライドロッド135によって、(事前にスライドロッド135に取り付けられていた)試料及びナイフを、ロック130を通して真空室110内に入れることができ、同様に再び真空室110から取り出すことができる。
図2には、凍結割断機100の一部が、特に真空室110の内側が示されている。真空室110内にはナイフ受容部150が設けられていて、このナイフ受容部150は、例えば、液体窒素によって冷却された銅ブロックを有している。ナイフ受容部150は、レール170を介して作業位置と交換位置との間を摺動可能である。
さらに、真空室110内の定置に配置されている試料受容部160が設けられている。試料受容部160は、ナイフ受容部150と同様に、液体窒素によって流過された銅ブロックとを有している。ナイフ受容部150と試料受容部160とに液体窒素を供給する冷却システムは図面を見やすくするために図示されていない。
ナイフ受容部150と試料受容部160とは、試料を裁断若しくは割断するために互いに相対的に摺動可能である。
右側には、真空室側の端部を有したスライドロッド135が示されていて、この端部には例えば試料ホルダ161が取り付けられている。試料受容部160とスライドロッド135とはこの場合、スライドロッド135の軸線に沿ったスライドロッド135の移動により、試料ホルダ161を試料受容部160に取り付けることができるように、互いに位置決め若しくは配置されている。
図3には、図2の凍結割断機100の一部が、ナイフ受容部150が交換位置にある状態で示されている。このために、ナイフ受容部150は、レール170に沿って水平方向及び垂直方向に摺動される。ナイフ受容部150の交換位置への移動は(及び相応に、作業位置への戻りも)、好適には自動的に相応の制御装置及び駆動装置によって行われる。しかしながら、例えばレバーを介した手動の調節も考えられる。
ナイフ受容部150が交換位置にある場合、ナイフ受容部150とスライドロッド135とは、スライドロッド135の軸に沿った移動により、この軸の一方の端部に取り付けられたナイフホルダをナイフ受容部150に取り付けることができるように、互いに位置決め若しくは配置されている。
図4には概略的に、例として、凍結割断機100用のナイフ受容部150とナイフホルダ151とが示されている。この場合、ナイフ受容部150は、図3に示した交換位置にある。ナイフホルダ151には保持装置154が取り付けられていて、この保持装置154は例えばスライドロッド135の一方の端部に取り付けることができる。
ナイフホルダ151は固定手段153を有していて、この固定手段153はこの例では、ばね力によって負荷されたピンとして形成されている。さらに、ナイフ155が、ナイフホルダ151の下面に、例えばねじ、又はクランプ結合によって取り付けられている。ナイフホルダ151は、そこに様々なナイフ形状及びナイフ材料を取り付けることができるように形成されている。
ナイフ受容部150は、その下面に受容手段152を有しており、それはこの態様では2つのレールの形態をしている。ナイフホルダ151を受容手段152内に挿入することにより、ナイフホルダ151をスライドロッド135によってナイフ受容部150に取り付けることができる。スライドロッド135、若しくはスライドロッド135に取り付けられた保持装置154によってピンをばね力に抗して引き込むことができ、これによりナイフホルダ151を受容手段152内に簡単に挿入することができる。このために例えば回転機構が設けられていて良く、この回転機構において、スライドロッド135は回転されて、この際にピンが引き込まれる。
ナイフホルダ151が受容手段152内の目標位置に達するとすぐに、ピンは再び解放される。受容手段152の正確な構成により、このようにして形状接続的かつ/又は摩擦接続的な結合を形成することができる。
図5には概略的に、例として、凍結割断機100用の試料受容部160と試料ホルダ161とが示されている。試料受容部160はこの場合、図2又は図3に示した位置に位置している。試料ホルダ161には保持装置164が取り付けられていて、この保持装置164は例えばスライドロッド135の一方の端部に取り付けることができる。
試料ホルダ161は固定手段163を有していて、この固定手段163はこの例では、ナイフホルダ151の固定手段153と同様に、ばね力によって負荷されたピンとして形成されている。試料ホルダ161の上面に、例えばねじ結合、クランプ結合、又は接着結合により試料を取り付けることができる。
試料受容部160は、その上面に受容手段162を有しており、それはこの態様では2つのレールの形態をしている。試料ホルダ161を受容手段162内に挿入することにより、試料ホルダ161をスライドロッド135によって試料受容部160に取り付けることができる。例えば、図5には、試料受容部160内に挿入された試料ホルダ161が示されている。
試料受容部160の受容手段162への試料ホルダ161の取り付けは、ナイフ受容部150のナイフホルダ151及び受容手段152の場合と同様に行われる。特に、固定手段163は、固定手段153と同じ形式で形成されている。保持装置164は保持装置154と同じ形式で形成されている。
従って、ナイフホルダ151と試料ホルダ161の取り付けは、同じ原理に従って行われる。相違点は単に、ナイフ受容部150が摺動する点と、試料ホルダ161に対して180°回転されてナイフホルダ151が取り付けられている点である。
ナイフホルダ151と試料ホルダ161の取り外しは、取り付けと逆の順序で行われる。ナイフホルダ151若しくは試料ホルダ161は、場合によっては調節すべき交換位置で、スライドロッド135によって、固定手段153,163を操作しながら、所属の受容部150,160から解除され、ロック130を介して取り外される。
100 凍結割断機、 110 真空室、 120 ドア、 121 覗き窓、 130 ロック、 131 ハウジング、 135 スライドロッド、 150 ナイフ受容部、 151 ナイフホルダ、 152 受容手段、 153 固定手段、 154 保持装置、 155 ナイフ、 160 試料受容部、 161 試料ホルダ、 162 受容手段、 163 固定手段、 164 保持装置、 170 レール

Claims (12)

  1. 真空室(110)を備え、該真空室(110)内には、処理すべき試料を受容する試料受容部(160)と、前記試料を処理するように設けられたナイフ(155)を受容するナイフ受容部(150)とが配置されている、凍結割断機(100)であって、
    前記真空室(110)にはロック(130)が設けられていて、該ロックを介して、試料及びナイフ(155)を、前記真空室(110)内に入れることができ、位置決め装置(135)によって前記真空室(110)内に位置決めすることができ、
    前記試料と前記試料受容部(160)とは、前記試料が前記位置決め装置(135)によって前記試料受容部(160)に取り付け可能であるように、互いに位置決め可能であって、
    前記ナイフ(155)と前記ナイフ受容部(150)とは、前記ナイフ(155)が前記位置決め装置(135)によって前記ナイフ受容部(150)に取り付け可能であるように、互いに位置決め可能であることを特徴とする、凍結割断機(100)。
  2. 前記ナイフ受容部(150)は交換位置に移動可能であり、該交換位置で、前記ナイフ(155)を前記位置決め装置(135)によって前記ナイフ受容部(150)に取り付けることができる、請求項1記載の凍結割断機(100)。
  3. 前記ナイフ(155)を固定するナイフホルダ(151)を前記位置決め装置(135)に取り付けることができ、前記ナイフホルダ(151)を前記ナイフ受容部(150)に結合させることができる、請求項1又は2記載の凍結割断機(100)。
  4. 前記試料を固定する試料ホルダ(161)を前記位置決め装置(135)に取り付けることができ、前記試料ホルダ(161)を前記試料受容部(160)に結合させることができる、請求項3記載の凍結割断機(100)。
  5. 前記ナイフ受容部(150)は、前記ナイフホルダ(151)を前記ナイフ受容部(150)に結合させる受容手段(152)を有している、請求項3又は4記載の凍結割断機(100)。
  6. 前記試料受容部(160)は、前記試料ホルダ(161)を前記試料受容部(160)に結合させる受容手段(162)を有しており、特に前記ナイフホルダ(151)の前記受容手段(152)と前記試料ホルダ(161)の前記受容手段(162)とは同じ形式で形成されている、請求項5記載の凍結割断機(100)。
  7. 前記ナイフホルダ(151)は、前記ナイフ受容部(150)の前記受容手段(152)に対応する固定手段(153)を有していて、該固定手段(153)は、前記ナイフホルダ(151)を前記ナイフ受容部(150)に結合させるために前記位置決め装置(135)によって操作可能である、請求項5又は6記載の凍結割断機(100)。
  8. 前記試料ホルダ(161)は、前記試料受容部(160)の前記受容手段(162)に対応する固定手段(163)を有していて、該固定手段(163)は、前記試料ホルダ(161)を前記試料受容部(160)に結合させるために前記位置決め装置(135)によって操作可能であって、特に前記ナイフホルダ(151)の前記固定手段(153)と、前記試料ホルダ(161)の前記固定手段(163)とは同じ形式で形成されている、請求項7記載の凍結割断機(100)。
  9. 前記試料受容部(160)は、前記真空室(110)内の定位置に配置されている、請求項1から8までのいずれか1項記載の凍結割断機(100)。
  10. 前記位置決め装置(135)は、前記試料若しくはナイフ(155)を、前記真空室(110)の内側で1つの軸線に沿って摺動させるように構成されている、請求項1から9までのいずれか1項記載の凍結割断機(100)。
  11. 前記試料受容部(160)及び/又は前記ナイフ受容部(150)は、冷却媒体用の接続部を有している、請求項1から10までのいずれか1項記載の凍結割断機(100)。
  12. 請求項1から11までのいずれか1項記載の凍結割断機(100)の真空室(110)内に試料及びナイフ(155)を取り付ける方法であって、
    第1の時点で、前記試料を前記ロック(130)を介して前記真空室(110)内に入れて、前記位置決め装置(135)によって前記試料受容部(160)に取り付け、
    第2の時点で、前記ナイフ(155)を前記ロック(130)を介して前記真空室(110)内に入れて、前記位置決め装置(135)によって前記ナイフ受容部(150)に取り付けることを特徴とする、凍結割断機の真空室に試料及びナイフを取り付ける方法。
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Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1245411A (en) * 1968-09-17 1971-09-08 N G N Ltd Improvements in and relating to microtome assemblies
JPS5331485U (ja) * 1976-08-25 1978-03-17
US4284894A (en) * 1979-02-17 1981-08-18 C. Reichert Optische Werke, Ag Cold chamber for the working objects for microscopic and electron microscopic investigations
JPH03208245A (ja) * 1990-01-08 1991-09-11 Fuji Electric Co Ltd 低温走査型電子顕微鏡
JPH10115624A (ja) * 1996-10-15 1998-05-06 Jeol Ltd 走査形プローブ顕微鏡
JP2008209303A (ja) * 2007-02-27 2008-09-11 Seiko Instruments Inc 自動薄切装置
JP4759206B2 (ja) * 2000-04-29 2011-08-31 ベンタナ・メデイカル・システムズ・インコーポレーテツド 自動型ミクロトームブレード交換器
JP2012229997A (ja) * 2011-04-26 2012-11-22 Kurabo Ind Ltd 薄切片試料作製装置
JP2013250265A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Leica Mikrosysteme Gmbh 試料を調製、とりわけ被覆するための装置
JP2014032198A (ja) * 2012-08-03 2014-02-20 Leica Biosystems Nussloch Gmbh ブレード交換装置を有するナイフホルダ
WO2014073393A1 (ja) * 2012-11-08 2014-05-15 サクラファインテックジャパン株式会社 替刃供給機構

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3699830A (en) * 1971-03-22 1972-10-24 John E P Pickett Method utilizing a disposable blade in microtome cutting
CA1072062A (en) 1976-09-02 1980-02-19 Scott Paper Company Disposable, compactable, moisture-impervious package for premoistened sheets
US5043144A (en) * 1988-10-27 1991-08-27 Honeywell Inc. Self-centering vise for holding a sample in a laboratory instrument chamber
US5092210A (en) * 1990-01-10 1992-03-03 Klaus Dern Holder for disposable blade for microtomes and the like
DE4028806C2 (de) * 1990-09-11 1998-08-27 Leica Ag Mikrotom, insbesondere Ultramikrotom mit einer Kühlkammer
US5352898A (en) * 1993-05-18 1994-10-04 Atlantic Richfield Company Method and apparatus for preparing slurry specimens for cryo-scanning electron microscopy
US5461953A (en) * 1994-03-25 1995-10-31 Mccormick; James B. Multi-dimension microtome sectioning device
DE10332799B4 (de) * 2003-07-18 2007-03-01 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Handhabung einer Probe
US7644637B2 (en) * 2006-09-25 2010-01-12 Omniprobe, Inc. Method and apparatus for transfer of samples in a controlled environment
AT508018B1 (de) * 2009-07-29 2010-10-15 Leica Mikrosysteme Gmbh Kryopräparationskammer zum manipulieren einer probe für die elektronenmikroskopie

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1245411A (en) * 1968-09-17 1971-09-08 N G N Ltd Improvements in and relating to microtome assemblies
JPS5331485U (ja) * 1976-08-25 1978-03-17
US4284894A (en) * 1979-02-17 1981-08-18 C. Reichert Optische Werke, Ag Cold chamber for the working objects for microscopic and electron microscopic investigations
JPH03208245A (ja) * 1990-01-08 1991-09-11 Fuji Electric Co Ltd 低温走査型電子顕微鏡
JPH10115624A (ja) * 1996-10-15 1998-05-06 Jeol Ltd 走査形プローブ顕微鏡
JP4759206B2 (ja) * 2000-04-29 2011-08-31 ベンタナ・メデイカル・システムズ・インコーポレーテツド 自動型ミクロトームブレード交換器
JP2008209303A (ja) * 2007-02-27 2008-09-11 Seiko Instruments Inc 自動薄切装置
JP2012229997A (ja) * 2011-04-26 2012-11-22 Kurabo Ind Ltd 薄切片試料作製装置
JP2013250265A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Leica Mikrosysteme Gmbh 試料を調製、とりわけ被覆するための装置
JP2014032198A (ja) * 2012-08-03 2014-02-20 Leica Biosystems Nussloch Gmbh ブレード交換装置を有するナイフホルダ
WO2014073393A1 (ja) * 2012-11-08 2014-05-15 サクラファインテックジャパン株式会社 替刃供給機構

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