JP2016112628A - プラズマガス利用加工装置と方法 - Google Patents
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Abstract
Description
被加工物を冷却しながら被加工物を加工する場合に、被加工物の冷却性能を向上させる。被加工物の冷却性能を向上させることにより、微細工具の加工性能を最大限に引き出す。例えば、微細工具と被加工物との境界での冷却性能を向上させることにより、微細工具の摩耗を防止できる。
(2)工具表面状態改善
被加工物の加工中に、被加工物の切り屑またはその反応物が微細工具に付着することを防止する。これにより、微細工具の微細な表面形状を、加工中において変わることなく維持する。すなわち、同じ微細工具により、長時間、加工性能を低下させずに加工を行えるようにする。
前記加工点にプラズマガスを供給するプラズマガス供給装置を備える、ことを特徴とするプラズマガス利用加工装置が提供される。
前記プラズマガス供給装置は、前記加工点を含む、被加工物の表面領域に、プラズマガスを供給することにより、被加工物の表面を形成する炭化ケイ素を酸化させて、該表面を形成する物質を炭化ケイ素から二酸化ケイ素に変える。
電位差が印加される一対の電極と、
前記1対の電極の間における放電領域にプラズマ生成用ガスを供給するプラズマ生成用ガス供給装置とを備え、
放電領域にプラズマ生成用ガスが供給されている時に、1対の電極間に電位差が印加されることにより、放電領域を通して1対の電極間に放電が生じて、プラズマ生成用ガスからプラズマガスが生成され、プラズマガス供給装置は、生成されたプラズマガスを、前記加工点に供給する。
微細工具により被加工物を加工している時に、冷却液供給装置により、微細工具による被加工物の加工点に、冷却液を供給するとともに、プラズマガス供給装置により、前記加工点にプラズマガスを供給する、ことを特徴とするプラズマガス利用加工方法が提供される。
前記加工点を含む、被加工物の表面領域に、プラズマガスを供給することにより、被加工物の表面を形成する炭化ケイ素を酸化させて、該表面を形成する物質を炭化ケイ素から二酸化ケイ素に変える。
被加工物1は、本実施形態では、炭化ケイ素(SiC)で形成されているが、他の物質で形成されていてもよい。すなわち、本発明は、例えば硬脆材料(シリコン、石英、サファイア、窒化ケイ素、ジルコニア、超硬合金、ハイグレードステンレス鋼など)である被加工物1の微細加工にも適用可能である。
工具支持体9は、微細工具3を支持する。本実施形態では、微細工具3はエンドミルであり、工具支持体9は、エンドミル3を回転可能に支持する。すなわち、エンドミル3は、自身の中心軸まわりに回転可能に工具支持体9に支持される。
台11には、被加工物1が取り付けられる。図3の例では、被加工物1は、治具12により台11に固定される。
すなわち、微細工具3が被加工物1に接触していない状態から、微細工具3を被加工物1に接触させて被加工物1の加工を開始する加工開始時に、制御装置19は、第1の駆動装置13を制御することにより、被加工物1において、加工すべき位置に微細工具3が接触する。これにより、この位置が加工点Pmとなって、この加工点Pmにおいて微細工具3が被加工物1を切削加工する。また、加工開始時に、制御装置19は、第2の駆動装置17を制御することにより、冷却液ノズル5dが加工点Pmに冷却液を噴射できガスノズル7eが加工点Pmにプラズマガスを噴射できる位置へノズル支持体15を移動させる。また、加工開始時に、制御装置19は、ポンプ5bを作動させることにより、冷却液ノズル5dから加工点Pmへ冷却液が噴射される。さらに、加工開始時に、制御装置19は、弁7jを開けるとともにスイッチ7iを閉じることにより、プラズマ生成用ガスが、一対の電極7b,7c間の放電領域Rに供給されるとともに、電源7aから一対の電極7b,7cに電圧が印加され放電領域Rにおいて一対の電極7b,7c間で放電が生じる。したがって、プラズマ生成用ガスは、放電領域Rにおいてプラズマガスになり、このプラズマガスがガスノズル7eから加工点Pmへ噴射される。
使用ガス:プラズマ生成用ガスとして窒素ガスを用いた。
ガス流量:20LMのプラズマガス流量で、加工点Pmにプラズマガスを噴射した。
照射範囲:被加工物1表面上の半径5mm程度の領域にプラズマガスを加工点Pmに照射(噴射)した。
放電方式:一対の電極7b,7c間での放電形式として大気圧グロー放電を採用した。
印加電圧:交流100Vの電源7aにより、一対の電極7b,7c間に、周波数50Hzで8kVの電位差を印加した。
ケース7f:図2のケース7fを、直径が8mmの円筒形とし、その材質を石英とした。
被加工物1:被加工物1を、化学気相成長(chemical vapor deposition)により形成した高純度の炭化ケイ素(純度99.9995%以上のSiC)のバルク材とした。このバルク材の寸法は、縦10mm×横10mm×高さ5mmである。
送り速度:加工点Pmの移動速度を5mm/minにした。
工具回転数:エンドミル3の回転数を50000rpmとした。
冷却液:冷却液として、オイル(非塩素油脂系不水溶性油)をミストにして加工点Pmに噴射した。
本発明の実施例として、上述した条件の下で、プラズマガス利用加工装置10を用いてミーリング加工を行って、被加工物1表面に、深さ25μmの溝を多数形成した。
比較例として、加工点Pmにプラズマガスを噴射せずに、他の条件を上述の実施例と同じにして、ミーリング加工を行って、被加工物1表面に、深さ25μmの溝を多数形成した。
被加工物1において加工された加工面(溝の底面)の表面粗さとして、算術平均表面粗さと最大高さ粗さを測定した。
図5(A)から分かるように、本実施例では、加工距離が3000mmになっても、加工面の表面粗さRaは、加工開始時点の表面粗さから悪化していない。すなわち、本実施例では、加工距離によらず、加工面の表面粗さRaが低い値(0.7nm〜2.1nmの範囲内の値)に維持されている。これに対し、比較例では、加工開始時点から加工距離が増えるに従って、加工面の表面粗さRaの値が次第に高くなっており、加工距離3000mmでは、加工面の表面粗さRaが6.0nmに悪化している。
また、図5(A)から分かるように、本発明のプラズマガス利用加工装置10により、算術平均表面粗さが1nm以下である高品質な加工面を得ることを期待できる。
図5(B)から分かるように、本実施例では、加工距離が3000mmになっても、加工面の最大高さ粗さRzは、加工開始時点の最大高さ粗さRzから悪化していない。これに対して、比較例では、加工距離が2400mm以降では、最大高さ粗さRzは、大幅に悪化して200nmより大きくなり、加工距離2900mmでは加工面にクラックが発生したことにより1000nmより大きくなっている。
図6(A)は、本発明の実施例において、上述の加工距離が1000mmとなった時のエンドミル3の先端部をSEMで観察して得た画像である。図6(B)は、比較例において、上述の加工距離が1000mmとなった時のエンドミル3の先端部をSEMで撮像して得た画像である。なお、各図において、右側の画像は、左側の画像において破線で囲んだ部分の拡大図であり、棒グラフは、エネルギ分散形X線分光器(Energy Dispersive X−ray Spectrometer:EDS)により図のPoint AまたはPoint Bで得られた元素割合(アトミックパーセント)の分析結果を示す。
本実施例では、図6(A)のように、エンドミル3の先端部において切り刃として作用するエッジ部分の表面には、被加工物1の切り屑に由来する付着物が全く観察されなかった。これに対し、比較例では、図6(B)のように、エンドミル3の先端部において切り刃として作用するエッジ部分の表面には、被加工物1(SiC)の切り屑に由来する被膜状の付着物(Si)が付着していた。このように、加工点Pmへのプラズマガス噴射は、被加工物1の切り屑に由来する物質(Si)がエンドミル3への付着することの防止に、顕著な効果があった。
以下のように、本実施例ではプラズマガスにより被加工物1表面の親水性が向上していた。
被加工物1における加工点Pmへのプラズマガス噴射による作用効果(すなわち、被加工物1表面の親水性向上)を調べるために、上述した実施例において、X線光電子分光(X−ray Photoelectron Spectroscopy:XPS)により、被加工物1表面の元素組成を分析した。
図7(A)は、被加工物1にプラズマガスを噴射される前の場合を示し、図7(B)は、被加工物1にプラズマガスを噴射した後の場合を示す。図7(A)では、XPSにより得られたエネルギスペクトルにおいて、SiCに相当する黒丸の位置おいてのみ、ピークが生じているのに対し、図7(B)では、SiCに相当する結合エネルギの黒丸の位置だけでなく、SiO2に相当する結合エネルギの白丸の位置においても、エネルギスペクトルにピークが生じている。したがって、被加工物1表面にプラズマガスを噴射することにより、被加工物1の表層のみが酸化していたことが分かる。具体的には、SiCである被加工物1にプラズマガスを噴射することにより、被加工物1におけるSiCの表層のみが酸化して、優れた親水性を示すSiO2が形成されていた。
ガスノズル7eからのプラズマガスは発光しており、この光の各波長成分を分光器で測定した。この測定結果を図9に示す。図9において、OHラジカルとN2ラジカルに対応する波長でピークが生じているので、プラズマガスには、OHラジカルとN2ラジカルが含まれていることが分かる。
図10は、本発明の実施例と比較例における微細工具3の摩耗量を示す。図10において、横軸は、加工距離を示し、縦軸は、微細工具3の摩耗量を示す。図10において、印◆は、本実施例の場合の測定値であり、印■は、比較例の場合の測定値である。
図10から分かるように、本実施例では、比較例と比べて、微細工具3の摩耗量が抑えられていることが分かる。すなわち、加工距離が1000mmの時点で、比較例での摩耗量が約1.31μmであったのに対し、本実施例での摩耗量は約0.77μmであった。
プラズマガス供給装置7が、加工点Pmを含む、被加工物1の表面領域に、プラズマガスを供給することにより、プラズマガス中の活性種(特にOHラジカルまたはオゾン)の酸化力により、被加工物1の表面を形成する炭化ケイ素(SiC)を酸化させる。すなわち、被加工物1において、被加工物1の表面を含む表層部が二酸化ケイ素(SiO2)になる。二酸化ケイ素は優れた親水性を示す。したがって、被加工物1表面の親水性がさらに向上して、微細工具3と被加工物1との境界での冷却性能がさらに向上する。その結果、微細工具3の摩耗をさらに抑制できる。
また、プラズマガス供給装置7は、加工点Pmにプラズマガスを供給できる構成であればよく、上述した構成以外の構成を有していてもよい。この場合、他の点は、上述と同様であってもよく、適宜に変更してもよい。
また、第1の駆動装置13が、工具側駆動部13aと台駆動部13bのうち台駆動部13bのみにより構成されている場合には、ノズル支持体15は、台11にもうけられていてもよい。この場合、他の点は上述と同様である。
Claims (6)
- 被加工物に微細加工を行う微細工具を有する加工機と、被加工物において前記微細工具により微細加工される加工点に冷却液を供給する冷却液供給装置を備え、前記微細加工の時にプラズマガスを利用するプラズマガス利用加工装置であって、
前記加工点にプラズマガスを供給するプラズマガス供給装置を備える、ことを特徴とするプラズマガス利用加工装置。 - 前記被加工物の表面は、炭化ケイ素で形成されており、
前記プラズマガス供給装置は、前記加工点を含む、被加工物の表面領域に、プラズマガスを供給することにより、被加工物の表面を形成する炭化ケイ素を酸化させて、該表面を形成する物質を炭化ケイ素から二酸化ケイ素に変える、ことを特徴とする請求項1に記載のプラズマガス利用加工装置。 - プラズマガス供給装置は、
電位差が印加される一対の電極と、
前記1対の電極の間における放電領域にプラズマ生成用ガスを供給するプラズマ生成用ガス供給装置と、を備え、
放電領域にプラズマ生成用ガスが供給されている時に、1対の電極間に電位差が印加されることにより、放電領域を通して1対の電極間に放電が生じて、プラズマ生成用ガスからプラズマガスが生成され、プラズマガス供給装置は、生成されたプラズマガスを、前記加工点に供給する、ことを特徴とする請求項1または2に記載のプラズマガス利用加工装置。 - 前記プラズマガス供給装置は、加工点にプラズマガスを噴射するガスノズルを有する、ことを特徴とする請求項1、2または3に記載のプラズマガス利用加工装置。
- 被加工物に微細加工を行う時にプラズマガスを利用するプラズマガス利用加工方法であって、
微細工具により被加工物を加工している時に、冷却液供給装置により、微細工具による被加工物の加工点に、冷却液を供給するとともに、プラズマガス供給装置により、前記加工点にプラズマガスを供給する、ことを特徴とするプラズマガス利用加工方法。 - 前記被加工物の表面は、炭化ケイ素で形成されており、
前記加工点を含む、被加工物の表面領域に、プラズマガスを供給することにより、被加工物の表面を形成する炭化ケイ素を酸化させて、該表面を形成する物質を炭化ケイ素から二酸化ケイ素に変える、ことを特徴とする請求項5に記載のプラズマガス利用加工方法。
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