JP2016080608A - Temperature measurement device and method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、ルビーなどの結晶からなる蛍光材料を用いた蛍光温度センサによる温度測定装置および温度測定方法に関する。 The present invention relates to a temperature measuring device and a temperature measuring method using a fluorescent temperature sensor using a fluorescent material made of a crystal such as ruby.
流体の温度測定には、例えば、熱電対および測温抵抗体を用いた温度センサが用いられている。温度測定対象が腐食性ガスや腐食性溶液の場合、上述した温度センサを保護管に収容し、腐食環境から温度センサを保護している。しかしながら、このような構成では、保護管を介した温度測定になるため、温度測定の応答が著しく遅くなる。 For the temperature measurement of the fluid, for example, a temperature sensor using a thermocouple and a resistance temperature detector is used. When the temperature measurement target is a corrosive gas or a corrosive solution, the above-described temperature sensor is housed in a protective tube to protect the temperature sensor from a corrosive environment. However, in such a configuration, since the temperature measurement is performed via the protective tube, the response of the temperature measurement is significantly slowed down.
これに対し、ルビーなどの結晶からなる蛍光材料を用いた蛍光温度センサによれば、腐食環境においても、検出部となるルビーの耐腐食性が高いため、これを保護管に収容することなく、温度測定に供することが可能となる(非特許文献1,2参照)。このため、保護管に測温抵抗体を収容した温度センサに対し、蛍光温度センサは、応答速度が1桁程度早くなる。 On the other hand, according to the fluorescence temperature sensor using a fluorescent material made of a crystal such as ruby, even in a corrosive environment, the ruby serving as the detection part has high corrosion resistance, so it is not accommodated in a protective tube. It becomes possible to use for temperature measurement (refer nonpatent literatures 1 and 2). For this reason, the response speed of the fluorescent temperature sensor is about one digit faster than the temperature sensor in which the resistance temperature detector is housed in the protective tube.
ところで、蛍光温度センサは、蛍光体結晶の表面に汚れが付着すると、光学特性に変化が生じて測定結果がシフトする。蛍光体結晶が、温度測定対象の流体に接触している構成では、接触面に汚れが付着しやすい状態となる。一般には、定期的に蛍光温度センサを取り外して洗浄し、また、洗浄後に再較正(温度補正)している。 By the way, in the fluorescence temperature sensor, when dirt adheres to the surface of the phosphor crystal, the optical characteristics change and the measurement result shifts. In the configuration in which the phosphor crystal is in contact with the fluid whose temperature is to be measured, dirt is likely to adhere to the contact surface. In general, the fluorescent temperature sensor is periodically removed and cleaned, and re-calibration (temperature correction) is performed after cleaning.
しかしながら、定期的な温度補正が実施されるまでの期間は、測定結果のシフトの状態を把握することができず、シフトしている場合、プロセスに影響を及ぼすことになる。また、上述したような定期的な洗浄・温度補正は、プロセスを中断することになり、頻繁に実施することができない。このように、蛍光温度センサを用いた温度測定では、正確な温度測定ができない場合が発生するという問題がある。 However, during the period until the periodic temperature correction is performed, the shift state of the measurement result cannot be grasped, and if it is shifted, the process is affected. In addition, the periodic cleaning / temperature correction as described above interrupts the process and cannot be performed frequently. Thus, in the temperature measurement using a fluorescence temperature sensor, there exists a problem that the case where an exact temperature measurement cannot be performed occurs.
本発明は、以上のような問題点を解消するためになされたものであり、蛍光体結晶に汚れが付着する環境であっても、蛍光温度センサを用いてより正確に温度測定ができるようにすることを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and enables temperature measurement more accurately using a fluorescent temperature sensor even in an environment where dirt is attached to a phosphor crystal. The purpose is to do.
本発明に係る温度測定装置は、保護管と、測定対象と接触する接触領域を備えて保護管の一端に固定された蛍光体結晶と、保護管の他端から装入され、蛍光体結晶への励起光および蛍光体結晶からの蛍光を導波する光ファイバと、保護管の内部に配置された温度補正用の非光学式の補正用温度センサと、前記蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値または補正用温度センサによって得られた温度測定値の設定されている時間における変化幅を検出する変化幅検出部と、変化幅検出部による設定値以下の変化幅の検出により、補正用温度センサによって得られた温度測定値で、蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値を補正する補正部とを備える。 The temperature measuring device according to the present invention includes a protective tube, a phosphor crystal having a contact region in contact with an object to be measured, fixed to one end of the protective tube, and inserted from the other end of the protective tube, into the phosphor crystal. An optical fiber that guides excitation light and fluorescence from the phosphor crystal, a non-optical correction temperature sensor for temperature correction disposed inside the protective tube, and temperature measurement by fluorescence from the phosphor crystal Temperature change value detection unit for detecting a change width at a set time of a temperature measurement value obtained by a value or a correction temperature sensor, and a correction temperature sensor by detecting a change width equal to or less than a set value by the change width detection unit And a correction unit that corrects the temperature measurement value due to the fluorescence from the phosphor crystal with the temperature measurement value obtained by the above.
また、本発明に係る温度測定方法は、保護管と、測定対象と接触する接触領域を備えて保護管の一端に固定された蛍光体結晶と、保護管の他端から装入され、蛍光体結晶への励起光および蛍光体結晶からの蛍光を導波する光ファイバと、保護管の内部に配置された温度補正用の非光学式の補正用温度センサとを備える蛍光温度センサの温度補正方法であって、前記蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値または補正用温度センサによって得られた温度測定値の設定されている時間における変化幅を検出する変化幅検出ステップと、設定値以下の変化幅の検出により、補正用温度センサによって得られた温度測定値で、蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値を補正する補正ステップとを備える。 The temperature measuring method according to the present invention includes a protective tube, a phosphor crystal having a contact region in contact with a measurement object, and fixed to one end of the protective tube, and is inserted from the other end of the protective tube. Temperature correction method for fluorescent temperature sensor, comprising optical fiber for guiding excitation light to crystal and fluorescence from phosphor crystal, and non-optical correction temperature sensor for temperature correction arranged inside protective tube A change width detection step for detecting a change width in a set time of a temperature measurement value obtained by fluorescence from the phosphor crystal or a temperature measurement value obtained by a correction temperature sensor, and a change less than the set value A correction step of correcting the temperature measurement value by the fluorescence from the phosphor crystal with the temperature measurement value obtained by the correction temperature sensor by detecting the width.
以上説明したことにより、本発明によれば、蛍光体結晶に汚れが付着する環境であっても、蛍光温度センサを用いてより正確に温度測定ができるという優れた効果が得られる。 As described above, according to the present invention, it is possible to obtain an excellent effect that temperature measurement can be performed more accurately using a fluorescent temperature sensor even in an environment where dirt is adhered to the phosphor crystal.
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[実施の形態1]
はじめに、本発明の実施の形態1について説明する。図1は、本発明の実施の形態1における温度測定装置の構成を示す構成図である。この装置は、まず、保護管101と、測定対象と接触する接触領域を備えて保護管101の一端に固定された蛍光体結晶102と、保護管101の他端から装入され、蛍光体結晶102への励起光および蛍光体結晶102からの蛍光を導波する光ファイバ103とを備える。また、保護管101の内部には、温度補正用の非光学式の補正用温度センサ104が配置されている。補正用温度センサ104は、例えば、熱電対や測温抵抗体から構成されている。
[Embodiment 1]
First, Embodiment 1 of the present invention will be described. FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of a temperature measurement device according to Embodiment 1 of the present invention. This apparatus first includes a
蛍光体結晶102は、例えば、ルビーである。ルビーは、酸化アルミニウム単結晶体にクロムイオン(Cr3+)が添加された結晶である。よく知られているように、例えば中心波長550nmの励起光照射により、波長694.3nmを中心とした蛍光を発する。この蛍光の寿命が、温度によって変化する。
The
まず、励起光制御部111に制御された発光ダイオード112を出射し、ダイクロイックフィルター113を反射して集光レンズ114を通過した励起光が、光ファイバ103を導波して蛍光体結晶102に到達する。このようにして励起光が照射された蛍光体結晶102は、蛍光を発する。この蛍光は、光ファイバ103を導波して集光レンズ114で集光され、ダイクロイックフィルター113を透過してフォトダイオード115で受光され、光電変換されて検出信号として出力される。出力された検出信号は、温度信号生成部116により温度信号(温度測定値)とされる。
First, the excitation light emitted from the
上述した構成に加え、実施の形態1では、温度信号生成部121,変化幅検出部122,補正部123を備える。温度信号生成部121は、補正用温度センサ104における抵抗変化などから、温度信号を出力する。
In addition to the above-described configuration, the first embodiment includes a temperature
変化幅検出部122は、補正用温度センサ104によって得られた温度測定値の設定されている時間における変化幅を検出する。実施の形態1では、温度信号生成部121より出力される温度信号における、設定時間内の変化幅を検出する。例えば、5秒間における温度信号の変化幅を検出する。
The
補正部123は、変化幅検出部122による設定値以下の変化幅の検出により、補正用温度センサ104によって得られた温度測定値で、蛍光体結晶102からの蛍光による温度測定値を補正する。実施の形態1では、設定値以下の変化幅が検出されると、この時点において温度信号生成部121より出力される温度信号で、温度信号生成部116における温度補正を実施する。
The correction unit 123 corrects the temperature measurement value due to the fluorescence from the
次に、実施の形態1における温度測定方法について図2のフローチャートを用いて説明する。まず、ステップS201で、設定されている補正実施時刻になると、ステップS202で、変化幅検出部122が、補正用温度センサ104によって得られている温度測定値の設定されている時間における変化幅を検出する。例えば、5秒間における温度信号の変化幅を検出する。
Next, the temperature measurement method in Embodiment 1 is demonstrated using the flowchart of FIG. First, in step S201, when the set correction execution time is reached, in step S202, the change
次に、ステップS203で、補正部123が、検出された温度信号変化幅が設定値より小さいかどうかを判定する。検出された温度信号変化幅が設定値より大きい場合(ステップS203のn)、再度、補正用温度センサ104によって得られている温度測定値の設定されている時間における変化幅を検出する。これに対し、検出された温度信号変化幅が設定値より小さい場合(ステップS203のy)、ステップS204に進み、この時点において温度信号生成部121より出力される温度信号で、温度信号生成部116における温度補正を実施する。この後、動作停止の指示が受け付けられるまで(ステップS205)、上記動作を継続する。
Next, in step S203, the correction unit 123 determines whether or not the detected temperature signal change width is smaller than a set value. When the detected temperature signal change width is larger than the set value (n in step S203), the change width in the set time of the temperature measurement value obtained by the
補正用温度センサ104は、保護管101に収容されており、測定対象に触れることがないため、腐食性流体の場合でも素子やリード線の腐食による抵抗値変化(測温抵抗体の場合)により温度測定値がシフトすることはない。しかしながら、測温抵抗体などを用いた補正用温度センサ104は、完全に保護管内に収納されるため、蛍光温度センサに比較して応答速度が遅い。例えば、図3に示すように、蛍光温度センサの応答(a)に比較して、保護官に収容された白金による測温抵抗体を用いた補正用温度センサの応答(b)は遅い。
The
一方、測定対象のプロセス温度は、常に一定で推移しているわけではなく、変化している。このように温度が変化している過程では、上述したように応答速度が異なるため、測温抵抗体などを用いた補正用温度センサによる温度測定値と、蛍光温度センサによる温度測定値とは、異なることになる。従って、単に、設定されている時刻において、補正用温度センサ104による温度測定値で、温度信号生成部116における温度補正を実施すると、誤った温度測定がなされる状態となる。
On the other hand, the process temperature to be measured does not always remain constant but changes. In the process of changing the temperature in this way, the response speed is different as described above. Therefore, the temperature measurement value by the correction temperature sensor using the resistance temperature detector and the temperature measurement value by the fluorescence temperature sensor are: Will be different. Therefore, if temperature correction is performed in the temperature
ここで、図3からも明らかなように、例えば5秒間の応答性の変化幅が5程度に小さい箇所では、応答性の差がほぼなく、測温抵抗体による温度測定値と、正常(清浄)な状態の蛍光温度センサによる温度測定値とは、ほぼ一致しているものとすることができる。従って、変化幅検出部122により、補正用温度センサ104による温度測定値の変化が設定値(例えば1℃)より小さくなった時点では、補正用温度センサ104による温度測定値が、蛍光体結晶102に汚れの付着していない状態における温度信号生成部116による温度測定値に等しいものとすることができる。これらの知見をもとに、実施の形態1では、補正用温度センサ104による温度測定値の変化が設定値(例えば1℃)より小さくなった時点において、補正用温度センサ104による温度測定値で、温度信号生成部116における温度補正を実施するようにした。
Here, as is apparent from FIG. 3, there is almost no difference in responsiveness, for example, at a location where the change in responsiveness for 5 seconds is as small as about 5, and the temperature measured by the resistance temperature detector is normal (clean). The temperature measurement value obtained by the fluorescent temperature sensor in the above state can be substantially in agreement. Therefore, when the change in the temperature measurement value by the
[実施の形態2]
次に、本発明の実施の形態2について説明する。図4は、本発明の実施の形態2における温度測定装置の構成を示す構成図である。この装置は、まず、保護管101と、測定対象と接触する接触領域を備えて保護管101の一端に固定された蛍光体結晶102と、保護管101の他端から装入され、蛍光体結晶102への励起光および蛍光体結晶102からの蛍光を導波する光ファイバ103とを備える。また、保護管101の内部には、温度補正用の非光学式の補正用温度センサ104が配置されている。補正用温度センサ104は、例えば、熱電対や測温抵抗体から構成されている。
[Embodiment 2]
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a configuration diagram showing the configuration of the temperature measurement device according to Embodiment 2 of the present invention. This apparatus first includes a
蛍光体結晶102は、例えば、ルビーである。ルビーは、酸化アルミニウム単結晶体にクロムイオン(Cr3+)が添加された結晶である。よく知られているように、例えば中心波長550nmの励起光照射により、波長694.3nmを中心とした蛍光を発する。この蛍光の寿命が、温度によって変化する。
The
まず、励起光制御部111に制御された発光ダイオード112を出射し、ダイクロイックフィルター113を反射して集光レンズ114を通過した励起光が、光ファイバ103を導波して蛍光体結晶102に到達する。このようにして励起光が照射された蛍光体結晶102は、蛍光を発する。この蛍光は、光ファイバ103を導波して集光レンズ114で集光され、ダイクロイックフィルター113を透過してフォトダイオード115で受光され、光電変換されて検出信号として出力される。出力された検出信号は、温度信号生成部116により温度信号(温度測定値)とされる。
First, the excitation light emitted from the
また、実施の形態2では、温度信号生成部121,変化幅検出部422,補正部423を備える。温度信号生成部121は、前述した実施の形態1と同様であり、補正用温度センサ104における抵抗変化などから、温度信号を出力する。
In the second embodiment, a temperature
変化幅検出部422は、蛍光体結晶からの蛍光により得られた温度測定値の設定されている時間間隔における単位時間当たりの温度変化を検出する。実施の形態2では、温度信号生成部116より出力される温度信号における、設定時間内で単位時間当たりの温度変化(変化幅)を検出する。例えば、蛍光体結晶からの蛍光により得られた温度測定の単位時間当たりの変化幅を、設定されている30秒間、検出し続ける。
The
補正部423は、変化幅検出部422による設定値(例えば0.1℃)以下の変化幅の検出により、補正用温度センサ104によって得られた温度測定値で、蛍光体結晶102からの蛍光による温度測定値を補正する。実施の形態2では、設定値以下の変化幅が検出されると、この時点において温度信号生成部121より出力される温度信号で、温度信号生成部116における温度補正を実施する。
The
次に、実施の形態2における温度測定方法について図5のフローチャートを用いて説明する。まず、ステップS501で、設定されている補正実施時刻になると、ステップS502で、変化幅検出部422が、蛍光体結晶102からの蛍光による温度測定値の、設定されている時間(例えば30秒)における温度変化幅を検出する。
Next, the temperature measurement method in Embodiment 2 is demonstrated using the flowchart of FIG. First, when the set correction execution time is reached in step S501, in step S502, the change
次に、ステップS503で、補正部423が、検出されている温度測定値の単位時間当たりの変化幅が設定値より小さいかどうかを判定する。検出された温度信号変化幅が設定値より大きい場合(ステップS503のn)、ステップS502に戻る。
Next, in step S503, the
これに対し、検出された温度信号変化幅が設定値より小さい場合(ステップS503のy)、ステップS504に進み、この時点において温度信号生成部121より出力される温度信号で、温度信号生成部116における温度補正を実施する。この後、動作停止の指示が受け付けられるまで(ステップS505)、上記動作を継続する。
On the other hand, when the detected temperature signal change width is smaller than the set value (y in step S503), the process proceeds to step S504, and the temperature signal output from the temperature
補正用温度センサ104は、保護管101に収容されており、測定対象に触れることがないため、腐食性流体の場合でも素子やリード線の腐食による抵抗値変化(測温抵抗体の場合)により、温度測定値がシフトすることはない。しかしながら、測温抵抗体などを用いた補正用温度センサ104は、完全に保護管内に収納されるため、蛍光温度センサに比較して応答速度が遅い。例えば、図3を用いて説明したように、蛍光温度センサの応答(a)に比較して、保護官に収容された白金による測温抵抗体を用いた補正用温度センサの応答(b)は遅い。
The
一方、測定対象のプロセス温度は、常に一定で推移しているわけではなく、変化している。このように温度が変化している過程では、上述したように応答速度が異なるため、測温抵抗体などを用いた補正用温度センサによる温度測定値と、蛍光温度センサによる温度測定値とは、異なることになる。従って、単に、設定されている時刻において、補正用温度センサ104による温度測定値で、温度信号生成部116における温度補正を実施すると、誤った温度測定がなされる状態となる。
On the other hand, the process temperature to be measured does not always remain constant but changes. In the process of changing the temperature in this way, the response speed is different as described above. Therefore, the temperature measurement value by the correction temperature sensor using the resistance temperature detector and the temperature measurement value by the fluorescence temperature sensor are: Will be different. Therefore, if temperature correction is performed in the temperature
ここで、図3からも明らかなように、例えば30秒間、測定対象の温度が一定であれば、応答性の差による到達温度の差がほぼ無くなり、測温抵抗体による温度測定値と、正常(清浄)な状態の蛍光温度センサによる温度測定値とは、ほぼ一致しているものとすることができる。従って、変化幅検出部422により、所定時間内で、蛍光温度センサによる温度測定値の変化幅が設定値(例えば0.1℃)より小さくなった時点では、測定対象の温度が十分に安定していると判断し、補正用温度センサ104による温度測定値が、蛍光体結晶102に汚れの付着していない状態における温度信号生成部116による温度測定値に等しいものとすることができる。
Here, as is clear from FIG. 3, for example, if the temperature of the measurement target is constant for 30 seconds, the difference in the reached temperature due to the difference in responsiveness is almost eliminated, and the temperature measurement value by the resistance thermometer and normal It can be assumed that the measured temperature value by the fluorescent temperature sensor in a (clean) state substantially coincides. Therefore, when the change width of the temperature measurement value by the fluorescence temperature sensor becomes smaller than a set value (for example, 0.1 ° C.) within a predetermined time by the change
これらの知見をもとに、実施の形態2では、所定時間内で、蛍光温度センサによる温度測定値の変化幅が設定値(例えば0.1℃)より小さくなった時点において、補正用温度センサ104による温度測定値で、温度信号生成部116における温度補正を実施するようにした。
Based on these findings, in the second embodiment, the temperature sensor for correction is used when the change width of the temperature measurement value by the fluorescence temperature sensor becomes smaller than a set value (for example, 0.1 ° C.) within a predetermined time. The temperature correction by the temperature
なお、所定時間内で検出している変化幅が設定値以下とならない場合、測定対象の温度が変化している状態と考えることができる。上述したように、補正用温度センサ104の応答速度は遅いため、測定対象の温度が変化している状態における補正用温度センサ104の温度測定値は、正しい測定結果とすることはできない。従って、所定時間(例えば30秒)の間に、蛍光体結晶102からの蛍光による温度測定値の変化幅が設定値より小さくならない場合、この状態を測定対象の温度が変化しているものとし、温度の補正をしないものとした。
In addition, when the change width detected within the predetermined time does not become the set value or less, it can be considered that the temperature of the measurement target is changing. As described above, since the response speed of the
以上に説明したように、本発明では、蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値または補正用温度センサによって得られた温度測定値の設定されている時間における変化幅が設定値以下であることが検出されると、補正用温度センサによって得られた温度測定値で、蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値を補正するようにしたので、蛍光体結晶に汚れが付着する環境であっても、蛍光温度センサを用いてより正確に温度測定ができるようになる。 As described above, in the present invention, the change width in the set time of the temperature measurement value obtained by the fluorescence from the phosphor crystal or the temperature measurement value obtained by the correction temperature sensor may be equal to or less than the set value. When detected, the temperature measurement value obtained by the temperature sensor for correction is used to correct the temperature measurement value due to fluorescence from the phosphor crystal, so even in an environment where dirt adheres to the phosphor crystal, The temperature can be measured more accurately using the fluorescent temperature sensor.
なお、本発明は以上に説明した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で、当分野において通常の知識を有する者により、多くの変形および組み合わせが実施可能であることは明白である。例えば、蛍光体結晶は、ルビーに限るものではなく、MgAl2O4,YAlO3,イットリウム・アルミニウム・ガーネットなどの結晶から構成してもよい。 The present invention is not limited to the embodiment described above, and many modifications and combinations can be implemented by those having ordinary knowledge in the art within the technical idea of the present invention. It is obvious. For example, the phosphor crystal is not limited to ruby, and may be composed of crystals such as MgAl 2 O 4 , YAlO 3 , yttrium, aluminum, and garnet.
また、蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値を常に監視し、温度測定値変化幅が設定値(例えば0.1℃)以下の状態となる時間を計測し、この時間が30秒以上となった(30秒以上継続した)場合、補正用温度センサによる測定結果で補正を実施するようにしてもよい。 Also, the temperature measurement value due to the fluorescence from the phosphor crystal is constantly monitored, and the time during which the temperature measurement value change width is less than the set value (for example, 0.1 ° C.) is measured, and this time becomes 30 seconds or more. If (continues for 30 seconds or more), the correction may be performed based on the measurement result of the correction temperature sensor.
101…保護管、102…蛍光体結晶、103…光ファイバ、104…補正用温度センサ、111…励起光制御部、112…発光ダイオード、113…ダイクロイックフィルター、114…集光レンズ、115…フォトダイオード、116…温度信号生成部、121…温度信号生成部、122…変化幅検出部、123…補正部。
DESCRIPTION OF
Claims (2)
測定対象と接触する接触領域を備えて前記保護管の一端に固定された蛍光体結晶と、
前記保護管の他端から装入され、前記蛍光体結晶への励起光および前記蛍光体結晶からの蛍光を導波する光ファイバと、
前記保護管の内部に配置された温度補正用の非光学式の補正用温度センサと
を備える蛍光温度センサの温度補正方法であって、
前記蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値または前記補正用温度センサによって得られた温度測定値の設定されている時間における変化幅を検出する変化幅検出ステップと、
設定値以下の前記変化幅の検出により、前記補正用温度センサによって得られた温度測定値で、前記蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値を補正する補正ステップと
を備えることを特徴とする温度測定方法。 A protective tube,
A phosphor crystal fixed to one end of the protective tube with a contact region in contact with the measurement object;
An optical fiber that is inserted from the other end of the protective tube and guides excitation light to the phosphor crystal and fluorescence from the phosphor crystal;
A temperature correction method for a fluorescent temperature sensor, comprising: a non-optical correction temperature sensor for temperature correction disposed inside the protective tube,
A change width detection step of detecting a change width in a set time of a temperature measurement value by fluorescence from the phosphor crystal or a temperature measurement value obtained by the correction temperature sensor;
And a correction step of correcting a temperature measurement value obtained by fluorescence from the phosphor crystal with a temperature measurement value obtained by the correction temperature sensor by detecting the change width equal to or less than a set value. Measuring method.
測定対象と接触する接触領域を備えて前記保護管の一端に固定された蛍光体結晶と、
前記保護管の他端から装入され、前記蛍光体結晶への励起光および前記蛍光体結晶からの蛍光を導波する光ファイバと、
前記保護管の内部に配置された温度補正用の非光学式の補正用温度センサと、
前記蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値または前記補正用温度センサによって得られた温度測定値の設定されている時間における変化幅を検出する変化幅検出部と、
前記変化幅検出部による設定値以下の前記変化幅の検出により、前記補正用温度センサによって得られた温度測定値で、前記蛍光体結晶からの蛍光による温度測定値を補正する補正部と
を備えることを特徴とする温度測定装置。 A protective tube,
A phosphor crystal fixed to one end of the protective tube with a contact region in contact with the measurement object;
An optical fiber that is inserted from the other end of the protective tube and guides excitation light to the phosphor crystal and fluorescence from the phosphor crystal;
A non-optical correction temperature sensor for temperature correction disposed inside the protective tube;
A change width detector for detecting a change width in a set time of a temperature measurement value by fluorescence from the phosphor crystal or a temperature measurement value obtained by the correction temperature sensor;
A correction unit that corrects a temperature measurement value due to fluorescence from the phosphor crystal with a temperature measurement value obtained by the correction temperature sensor by detecting the change width equal to or less than a set value by the change width detection unit. A temperature measuring device characterized by that.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2014
- 2014-10-21 JP JP2014214191A patent/JP2016080608A/en active Pending
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CN112880881A (en) * | 2021-03-31 | 2021-06-01 | 同济大学 | Experimental system for researching temperature sensitivity characteristic of photoluminescence solution luminous intensity |
CN112880881B (en) * | 2021-03-31 | 2022-02-01 | 同济大学 | Experimental system for researching temperature sensitivity characteristic of photoluminescence solution luminous intensity |
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