JP2016075576A - Sensor device and method for manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a highly-sensitive sensor device having an opening for entrance of outer air, such as a moisture sensor or a pressure sensor, and a method for manufacturing the sensor device at low cost.SOLUTION: In the sensor device, an installation substrate 7a has a through-hole 10 and is installed with a sensor chip 2 with its surface facing the hole, and the sensor chip 2 is sealed with resin. Part of the resin remains in a stage by a region blocking section, forming a gap between the surface of the sensor chip and a through-hole formation region.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、湿度センサ、圧力センサ等のセンサ装置およびその製造方法に関し、特に湿度、圧力等をパッケージ内に導入する開口部を備えたセンサ装置およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a sensor device such as a humidity sensor and a pressure sensor, and a manufacturing method thereof, and more particularly to a sensor device including an opening for introducing humidity, pressure, and the like into a package and a manufacturing method thereof.

近年、各種センサの小型化、軽量化に伴い、携帯用機器への搭載が進んでおり、スマートフォンやヘルスケア機器に温湿度計や気圧計が搭載されてきている。例えば、気圧を測定する圧力センサは、圧力センサチップを中空パッケージに実装し、パッケージの内部と外部を連通させるため、パッケージの一部に開口部を設ける構造となっている(例えば特許文献1)。   In recent years, as various sensors have been reduced in size and weight, they have been installed in portable devices, and temperature and humidity meters and barometers have been installed in smartphones and healthcare devices. For example, a pressure sensor for measuring atmospheric pressure has a structure in which a pressure sensor chip is mounted in a hollow package and an opening is provided in a part of the package in order to communicate the inside and outside of the package (for example, Patent Document 1). .

ところで小型化、軽量化された半導体装置のパッケージを形成する場合、複数のチップを基板上に実装させた後、樹脂により一括封止し、樹脂と実装基板をダイシングソーを用いて切断するMAP(Mold Array Package)方式と呼ばれる方法を採用するのが生産性向上のためには好ましい。一般的に、ダイシングソーを用いて切断を行う場合、切断時に発生する熱を冷却するためにパッケージに冷却水をかけながら切断を行う必要がある。   By the way, when forming a package of a semiconductor device that is reduced in size and weight, a plurality of chips are mounted on a substrate, then collectively sealed with resin, and the resin and the mounting substrate are cut using a dicing saw (MAP) It is preferable to adopt a method called “Mold Array Package” method in order to improve productivity. In general, when cutting using a dicing saw, it is necessary to perform cutting while applying cooling water to the package in order to cool the heat generated during the cutting.

上記特許文献1では、切断方法について言及されていないが、ダイシングソーを用いて切断する方法では、パッケージの開口部からパッケージ内部に水や切削屑が入り込んでしまい好ましくない。   The above-mentioned Patent Document 1 does not mention the cutting method, but the method of cutting using a dicing saw is not preferable because water and cutting waste enter the package through the opening of the package.

このような問題を解消する方法として図9に示す圧力センサパッケージが提案されている。図9において、図9(a)は圧力センサパッケージの断面図、図9(b)は圧力センサパッケージの蓋部を取り外したパッケージ内部の平面図、図9(c)は図9(b)のA−A´面の断面図を示している。図9に示すように、パッケージ本体30内にセンサチップ31が実装され、ワイヤによりセンサチップ31の電極とパッケージの電極とが接続されている。センサチップ31には、図9(a)に示すように真空状態の空間部からなるキャビティ32が形成されており、ダイアフラム33が、パッケージ本体30と蓋部34との間の空間35の圧力に応じてゆがみ、ダイアフラム33上に形成された図示しないピエゾ抵抗の抵抗値の変化から圧力を検出する構成となっている。また、パッケージ本体30には、図9(b)(c)に示すように、パッケージ外部と連通する圧力導入孔36が形成されている。   As a method for solving such a problem, a pressure sensor package shown in FIG. 9 has been proposed. 9A is a cross-sectional view of the pressure sensor package, FIG. 9B is a plan view of the inside of the package with the lid portion of the pressure sensor package removed, and FIG. 9C is a plan view of FIG. 9B. A cross-sectional view of the AA ′ plane is shown. As shown in FIG. 9, a sensor chip 31 is mounted in a package body 30, and an electrode of the sensor chip 31 and an electrode of the package are connected by a wire. As shown in FIG. 9A, the sensor chip 31 is formed with a cavity 32 formed of a space portion in a vacuum state, and the diaphragm 33 is adjusted to the pressure in the space 35 between the package body 30 and the lid portion 34. Accordingly, the pressure is detected from a change in the resistance value of a piezoresistor (not shown) formed on the diaphragm 33. Further, as shown in FIGS. 9B and 9C, the package body 30 is formed with a pressure introducing hole 36 communicating with the outside of the package.

ここで個片化の際、圧力導入孔36から水、切削屑等の異物が流入するのを防止するため、パッケージ本体30の底面側から、径を小さくした形状となっている。この種のパッケージは特許文献2に開示されており、図9に示す構造の他、圧力導入孔36をパッケージ本体側面に形成するとともに、パッケージ内側から外側に向かった下がる傾斜面を形成する例や、圧力貫通孔に通気樹脂を充填する例も開示されている。   In this case, in order to prevent foreign matters such as water and cutting waste from flowing in from the pressure introduction hole 36 during the separation, the shape is reduced from the bottom surface side of the package body 30. This type of package is disclosed in Patent Document 2. In addition to the structure shown in FIG. 9, an example in which the pressure introduction hole 36 is formed on the side surface of the package body and an inclined surface that descends from the inside to the outside of the package is formed. An example of filling the pressure through hole with a ventilation resin is also disclosed.

特開2011−64509号公報JP 2011-64509 A 特開2012−207931号公報JP 2012-207931 A

ところで、従来提案されているセンサ用パッケージにおいて、圧力導入孔36から水が侵入しないようにするためには、その直径を0.1mm程度と非常に小さくする必要がある。しかし圧力導入孔36の径が小さくなると、センサ特性への影響が無視できなくなってしまう。   By the way, in the conventionally proposed sensor package, in order to prevent water from entering from the pressure introducing hole 36, it is necessary to make its diameter as small as about 0.1 mm. However, if the diameter of the pressure introduction hole 36 is reduced, the influence on the sensor characteristics cannot be ignored.

また、空気を通し、水を通さない通気樹脂を圧力導入孔に充填することも提案されているが、通気樹脂の存在によって、応答スピード等特性への影響が懸念される。   In addition, it has been proposed to fill the pressure introduction hole with a ventilation resin that allows air to pass therethrough but does not allow water to pass therethrough. However, the presence of the ventilation resin may affect the response speed and other characteristics.

さらにまた、個片化の際、圧力導入孔36に水、切削屑等の異物が混入するのを防止するため、パッケージ本体30の底面側をダイシングテープ等に接着させると、特性テストを行う際には、一旦ダイシングテープを除去し、パッケージ端子37を露出させる必要があるため、別のテープに貼り付け直すか、センサ装置を1個ずつピックアップする必要があり、製造コストの上昇を招いてしまう。   Furthermore, in order to prevent foreign matter such as water and cutting chips from entering the pressure introducing hole 36 during singulation, if the bottom surface side of the package body 30 is adhered to a dicing tape or the like, a characteristic test is performed. In this case, it is necessary to remove the dicing tape once to expose the package terminal 37. Therefore, it is necessary to reattach to another tape or to pick up sensor devices one by one, resulting in an increase in manufacturing cost. .

そこで本発明は、上記問題点を解消し、湿度センサ、圧力センサ等外気を導入する開口部を備えたセンサ装置であって、感度が高く、低コストで製造することができるセンサ装置およびその製造方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention solves the above problems and is a sensor device having an opening for introducing outside air, such as a humidity sensor and a pressure sensor, which has high sensitivity and can be manufactured at low cost, and its manufacture It aims to provide a method.

上記目的を達成するため、本願請求項1に係る発明は、基材表面に電極パターンが形成された実装基板上にセンサチップを実装し、樹脂封止したセンサ装置において、前記実装基板は、チップ実装面に前記センサチップ表面に形成された電極と接続するセンサチップ電極接続部と、該センサチップ電極接続部に囲まれた部分に形成された前記基材を貫通する貫通孔と、該貫通孔と前記センサチップ電極接続部との間に樹脂堰き止め部とを備え、前記チップ実装面の裏面側の外部実装面に外部接続部を備え、前記樹脂堰き止め部の高さが、該樹脂堰き止め部と前記センサチップ電極接続部との間の前記基材表面の高さより高く形成されていることにより、該基材表面と前記樹脂堰き止め部との間に段部が形成され、前記センサチップ電極接続部と前記センサチップ表面に形成された電極が接続され、前記チップ実装面表面の前記実装基板および前記センサチップ上が封止樹脂により被覆され、前記センサチップ表面と前記実装基板表面の前記段部との間に前記封止樹脂の一部が入り込んでいるとともに、前記センサチップ表面と前記樹脂堰き止め部との間に空間が残り、該空間は前記貫通孔によりセンサ装置外部と連通するように封止されていることを特徴とする。   In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 of the present application provides a sensor device in which a sensor chip is mounted on a mounting substrate having an electrode pattern formed on the surface of a base material, and the mounting substrate is a chip. A sensor chip electrode connection portion connected to an electrode formed on the surface of the sensor chip on the mounting surface, a through hole penetrating the base material formed in a portion surrounded by the sensor chip electrode connection portion, and the through hole And a sensor damming portion between the sensor chip electrode connecting portion and an external connecting portion on the external mounting surface on the back side of the chip mounting surface, the height of the resin damming portion being A step portion is formed between the base material surface and the resin damming portion by being formed higher than the height of the base material surface between the stop portion and the sensor chip electrode connection portion, and the sensor Chip electrode connection The electrodes formed on the surface of the sensor chip are connected, the mounting substrate on the surface of the chip mounting surface and the sensor chip are covered with a sealing resin, and the sensor chip surface and the stepped portion on the surface of the mounting substrate A part of the sealing resin is inserted in between, and a space remains between the sensor chip surface and the resin damming portion, and the space is sealed so as to communicate with the outside of the sensor device through the through hole. It is characterized by being.

本願請求項2に係る発明は、センサチップを基材表面に電極パターンが形成された実装基板に実装し、樹脂封止するセンサ装置の製造方法において、チップ実装面に、前記センサチップ表面に形成された電極と接続されるセンサチップ電極接続部と、該センサチップ電極接続部に囲まれ、前記基材を貫通する貫通孔の一方が開口部が開口し、該貫通孔と前記センサチップ電極接続部との間に樹脂堰き止め部とを備え、該樹脂堰き止め部と前記センサチップ電極接続部との間に前記基材表面が露出することにより段部が形成され、前記チップ実装面の裏面側の外部実装面に、外部接続部を備え、前記貫通孔の他方の開口部が開口している実装基板を用意する工程と、前記センサチップ表面が、前記貫通孔に対向するように前記センサチップ電極部と前記センサチップ表面に形成された電極を接続する工程と、前記実装基板のチップ実装面に露出する前記実装基板および前記センサチップ上を被覆し、前記センサチップ表面と前記実装基板のチップ実装面との間に封止樹脂を注入するとともに、前記段部に前記封止樹脂が溜まり、前記センサチップ表面と前記樹脂堰き止め部との間に空間を残すように樹脂封止を行う工程と、前記実装基板の外部実装面側から、テープ材により前記外部実装面に開口する貫通孔を塞いだ状態で個片化する工程と、を含むことを特徴とする。   The invention according to claim 2 of the present application is a method of manufacturing a sensor device in which a sensor chip is mounted on a mounting substrate having an electrode pattern formed on the surface of a base material and is resin-sealed. A sensor chip electrode connecting portion connected to the formed electrode, and one of the through holes penetrating the base material surrounded by the sensor chip electrode connecting portion has an opening, and the through hole and the sensor chip electrode connection A resin damming portion between the resin damming portion and a stepped portion formed by exposing the substrate surface between the resin damming portion and the sensor chip electrode connecting portion, and the back surface of the chip mounting surface. Providing a mounting substrate having an external connection portion on the external mounting surface on the side and having the other opening of the through hole open, and the sensor chip surface facing the through hole Tip electrode Connecting the electrodes formed on the sensor chip surface, covering the mounting substrate and the sensor chip exposed on the chip mounting surface of the mounting substrate, and covering the sensor chip surface and the chip mounting surface of the mounting substrate. A step of injecting a sealing resin between and sealing the resin so that the sealing resin accumulates in the stepped portion, leaving a space between the sensor chip surface and the resin damming portion; And a step of separating from the external mounting surface side of the mounting substrate in a state where a through hole opened to the external mounting surface is closed with a tape material.

本願請求項3に係る発明は、請求項2記載のセンサ装置の製造方法において、樹脂封止する工程は、減圧状態で、前記実装基板のチップ実装面に露出する前記実装基板および前記チップ上を樹脂シートで被覆し、前記減圧状態を破り常圧状態にすることにより前記樹脂シートを加圧し、前記段部に前記封止樹脂が溜まり、前記センサチップ表面と前記樹脂堰き止め部との間に空間を残すように樹脂封止することを特徴とする。   The invention according to claim 3 of the present application is the method for manufacturing a sensor device according to claim 2, wherein the resin sealing step is performed in a reduced pressure state on the mounting substrate and the chip exposed on the chip mounting surface of the mounting substrate. Covering with a resin sheet, pressurizing the resin sheet by breaking the reduced pressure state to normal pressure state, the sealing resin is collected in the stepped portion, and between the sensor chip surface and the resin damming portion It is characterized by resin sealing so as to leave a space.

本願請求項4に係る発明は、請求項2または3いずれか記載のセンサ装置の製造方法において、前記個片化する工程は、前記封止樹脂にダイシング用テープ材を貼り付ける工程を含み、前記個片化工程の後、前記実装基板の外部実装面から前記テープ材を剥離し、前記貫通孔を通してセンサ装置内部の空間と外部とが連通した状態で、前記ダイシング用テープ材上に個片化したセンサ装置を整列配置する工程を含むことを特徴とする。   The invention according to claim 4 of the present application is the method for manufacturing a sensor device according to claim 2, wherein the step of separating includes a step of attaching a tape material for dicing to the sealing resin, After the singulation step, the tape material is peeled off from the external mounting surface of the mounting substrate, and is separated into pieces on the dicing tape material in a state where the space inside the sensor device communicates with the outside through the through hole. And a step of arranging and arranging the sensor devices.

本願請求項5に係る発明は、請求項4記載のセンサ装置の製造方法において、前記ダイシング用テープ材上に整列配置したセンサ装置に、前記センサチップがセンシングする物理量を印加して前記センサ装置の特性テストを行う工程を含むことを特徴とする。   The invention according to claim 5 of the present application is the method for manufacturing a sensor device according to claim 4, wherein a physical quantity sensed by the sensor chip is applied to the sensor device arranged and arranged on the tape material for dicing. The method includes a step of performing a characteristic test.

本発明のセンサ装置は、センサチップ電極接続部とセンサチップ表面に形成された電極との接続部分が封止樹脂によって被覆されているため、耐湿性、耐振動性などの信頼性が向上できる。またこのような構造を採ることで、センサチップ表面に形成された電極をアルミニウムで構成することができ、高価な金を使用する必要がなくなり、製造コストを抑えることができるという利点がある。   In the sensor device of the present invention, since the connection portion between the sensor chip electrode connection portion and the electrode formed on the sensor chip surface is covered with the sealing resin, reliability such as moisture resistance and vibration resistance can be improved. Further, by adopting such a structure, there is an advantage that the electrode formed on the surface of the sensor chip can be made of aluminum, it is not necessary to use expensive gold, and the manufacturing cost can be suppressed.

また、本発明の製造方法によるセンサ装置は、個片化の工程では、パッケージ内部の空間とパッケージ外部を連通する貫通孔は、テープ材(保護テープ16)により被覆されているため、ダイシングソーを用いて切断しても、パッケージ内部に水や切削屑が入り込むことを防止するので、生産性の優れたMAP方式により形成することが可能となった。   Further, in the sensor device according to the manufacturing method of the present invention, the dicing saw is used because the through hole that communicates the space inside the package and the outside of the package is covered with the tape material (protective tape 16) in the process of dividing. Even if it is cut by using it, water and cutting waste are prevented from entering the inside of the package, so that it can be formed by the MAP method having excellent productivity.

さらにまた個片化後は、貫通孔を被覆するテープ材を剥離することで、パッケージ内部の空間とパッケージ外部が連通した状態となり、しかもダイシング用テープ材(ダイシングテープ20)上に個片化したセンサ装置が外部接続部を表面に露出して整列した状態となるため、その後の特性テストや実装のピックアップが容易になるという利点がある。   Furthermore, after separation into pieces, the tape material covering the through-holes is peeled off, so that the space inside the package and the outside of the package are in communication with each other and are separated into pieces on the dicing tape material (dicing tape 20). Since the sensor device is in an aligned state with the external connection portions exposed on the surface, there is an advantage that subsequent characteristic tests and mounting pick-ups are facilitated.

特に、パッケージ内部の空間とパッケージ外部が連通した状態でダイシング用テープ材上に整列配置されているため、センサチップがセンシングする物理量を印加しながら特性テストを行うことができ、非常に作業性が良いという利点がある。また、MAP方式により一体成形することにより発生する内在応力は、個片化によって開放されているため、センサ装置としての正確な特性テストを行うことができるという利点もある。   In particular, since the internal space of the package and the outside of the package are in line with each other on the dicing tape material, the characteristic test can be performed while applying the physical quantity sensed by the sensor chip, which is very workable. There is an advantage of being good. Further, since the internal stress generated by integral molding by the MAP method is released by dividing into individual pieces, there is an advantage that an accurate characteristic test as a sensor device can be performed.

本発明のセンサ装置の説明図である。It is explanatory drawing of the sensor apparatus of this invention. 本発明のセンサ装置の製造方法の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention. 本発明のセンサ装置の製造方法の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention. 本発明のセンサ装置の製造方法の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention. 本発明のセンサ装置の製造方法の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention. 本発明のセンサ装置の製造方法の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention. 本発明のセンサ装置の製造方法の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention. 本発明のセンサ装置の製造方法の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention. 従来のこの種のセンサ装置の説明図である。It is explanatory drawing of this kind of conventional sensor apparatus.

本発明のセンサ装置は、貫通孔を備えた実装基板に、センサチップ表面が貫通孔に対向するようにセンサチップを実装し、樹脂封止する構造となっている。また封止樹脂の一部は、樹脂堰き止め部により形成される段部まで流入し、この段部に溜まることでそれ以上の流入が止まり、センサチップ表面と実装基板表面(樹脂堰き止め部表面)との間に空間が残る構造となっている。   The sensor device of the present invention has a structure in which a sensor chip is mounted on a mounting substrate having a through hole so that the surface of the sensor chip faces the through hole and is resin-sealed. A part of the sealing resin flows into the step formed by the resin damming portion, and when it accumulates in this step, further inflow stops, and the sensor chip surface and the mounting substrate surface (the surface of the resin damming portion) ) And a space remains between them.

本発明のセンサ装置の製造方法は、貫通孔をテープ材で被覆した状態で切断し、個片化するため、生産性の優れたMAP方式を採用することを可能としている。また、樹脂溜まりとして機能する段部を形成することで、封止樹脂がセンサチップ表面と実装基板表面との間に深く入り込むことを防ぐ構造を形成することができる。また段部は、センサチップ表面の電極とセンサチップ電極接続部とが接続する部分より内側に位置するため、その接続部は封止樹脂により被覆される構造を形成することができる。以下、本発明の実施例について詳細に説明する。   Since the manufacturing method of the sensor device of the present invention is cut and separated into pieces with the through holes covered with the tape material, it is possible to adopt the MAP method with excellent productivity. Further, by forming the step portion functioning as a resin reservoir, it is possible to form a structure that prevents the sealing resin from entering deeply between the sensor chip surface and the mounting substrate surface. Further, since the step portion is located inside the portion where the electrode on the surface of the sensor chip and the sensor chip electrode connecting portion are connected, the connecting portion can be formed to be covered with the sealing resin. Examples of the present invention will be described in detail below.

まず、本発明の実施例について圧力センサを例にとり、詳細に説明する。図1は本発明の圧力センサの説明図で、貫通孔を通る面の断面図である。図1において1はセンサ本体、2はセンサチップ、3はキャビティ、4はダイアフラム、5はセンサチップ電極、6はバンプ電極、7は実装基板を構成する基材、8は空間、9は樹脂堰き止め部、10は貫通孔、11はバンプ電極6を介してセンサチップ2の表面に形成された電極と接続し、貫通孔10を取り囲むように複数個形成されている電極パターンの一部を構成するセンサチップ電極接続部、12は基材7の裏面側に露出し、センサ本体1の周囲に沿って複数個形成されている電極パターンの一部を構成する外部接続部、13は補助電極部、14は樹脂堰き止め部9とセンサチップ電極接続部11との間に基材7が露出することにより、基材7の表面の高さと樹脂堰き止め部9表面の高さとの間に生じる段部、15は封止樹脂である。以下の説明では表面にセンサチップ電極接続部11、樹脂堰き止め部9、外部接続部12、補助電極部13等が形成された実装基材7を実装基板7aとして説明する。なお、実装基板は、基材として有機材料、無機材料のいずれでも良い。   First, an embodiment of the present invention will be described in detail by taking a pressure sensor as an example. FIG. 1 is an explanatory view of a pressure sensor according to the present invention, and is a sectional view of a surface passing through a through hole. In FIG. 1, 1 is a sensor body, 2 is a sensor chip, 3 is a cavity, 4 is a diaphragm, 5 is a sensor chip electrode, 6 is a bump electrode, 7 is a base material constituting a mounting substrate, 8 is a space, and 9 is a resin weir. Stop portions 10 are through-holes, 11 is connected to electrodes formed on the surface of the sensor chip 2 via the bump electrodes 6, and constitutes a part of a plurality of electrode patterns formed so as to surround the through-holes 10. Sensor chip electrode connection portion 12, 12 is an external connection portion that is exposed on the back surface side of the substrate 7, and forms a part of a plurality of electrode patterns formed around the sensor body 1, and 13 is an auxiliary electrode portion , 14 is a step generated between the height of the surface of the base material 7 and the surface of the resin damming portion 9 when the base material 7 is exposed between the resin damming portion 9 and the sensor chip electrode connecting portion 11. Part 15 is a sealing resinIn the following description, the mounting substrate 7 having the sensor chip electrode connecting portion 11, the resin damming portion 9, the external connecting portion 12, the auxiliary electrode portion 13 and the like formed on the surface will be described as a mounting substrate 7a. The mounting substrate may be an organic material or an inorganic material as a base material.

センサチップ2には、従来例で説明したセンサチップ同様、真空状態の空間部からなるキャビティ3が形成されており、ダイアフラム4が、センサチップ2と実装基板7aとの間の空間8の圧力に応じてゆがみ、ダイアフラム4上に形成された図示しないピエゾ抵抗の抵抗値の変化から圧力を検出する構成となっている。   Similar to the sensor chip described in the conventional example, the sensor chip 2 is formed with a cavity 3 composed of a space portion in a vacuum state, and the diaphragm 4 has a pressure in the space 8 between the sensor chip 2 and the mounting substrate 7a. Accordingly, the pressure is detected from a change in the resistance value of a piezoresistor (not shown) formed on the diaphragm 4 in response.

ここで本発明では、実装基板7aのセンサチップ2に対向する部分に貫通孔10が形成されている。この貫通孔10は直径が0.2mm(開口面積0.031mm2)程度の円形とすることで、センサチップ2の高速応答性を確保している。 Here, in the present invention, the through hole 10 is formed in a portion of the mounting substrate 7a facing the sensor chip 2. The through-hole 10 has a circular shape with a diameter of about 0.2 mm (opening area 0.031 mm 2 ), thereby ensuring high-speed response of the sensor chip 2.

また、実装基板7aのチップ実装面には、センサチップ2の表面に形成されたセンサチップ電極5とバンプ電極6を介して接続するセンサチップ電極接続部11と、樹脂堰き止め部9が形成されており、チップ実装面の裏面の外部実装面には、外部接続部12が形成されている。また、樹脂堰き止め部9とセンサチップ電極接続部11との間には、基材7が露出し、基材7の表面の高さが樹脂堰き止め部9およびセンサチップ電極接続部11の表面の高さより低くなることで段部14が形成されている。本発明は、この段部14により拡げられた空間に封止樹脂が留まり、封止樹脂15がセンサチップ2の下側の奥深くまで入り込むことを防止し、センサチップ2表面と実装基板7a表面との間に空間8が残り、この空間8は貫通孔10を通してセンサ装置外部と連通するように構成している。なお、図1では、封止樹脂15の一部が樹脂堰き止め部9上に一部乗り上げた状態に図示しているが、必ずしもこのような形状とすることが必須ではない。   Further, on the chip mounting surface of the mounting substrate 7a, a sensor chip electrode connecting portion 11 connected via the bump electrode 6 and the sensor chip electrode 5 formed on the surface of the sensor chip 2 and a resin damming portion 9 are formed. The external connection portion 12 is formed on the external mounting surface on the back surface of the chip mounting surface. Further, the base material 7 is exposed between the resin damming portion 9 and the sensor chip electrode connecting portion 11, and the height of the surface of the base material 7 is the surface of the resin damming portion 9 and the sensor chip electrode connecting portion 11. The step portion 14 is formed by being lower than the height of. In the present invention, the sealing resin stays in the space expanded by the stepped portion 14, and the sealing resin 15 is prevented from entering deep under the sensor chip 2, and the surface of the sensor chip 2 and the surface of the mounting substrate 7a A space 8 remains between the two, and the space 8 is configured to communicate with the outside of the sensor device through the through hole 10. In FIG. 1, a part of the sealing resin 15 is illustrated as partially riding on the resin damming portion 9, but such a shape is not necessarily required.

次に本発明の圧力センサの製造方法について説明する。まず、実装基板について説明する。図2は本発明に使用する実装基板の一例の一部を拡大した図で、チップ実装面の一部拡大図である。図2に示すように、チップ実装面には、貫通孔10が形成され、これを取り囲むように樹脂堰き止め部9とセンサチップ表面に形成された電極と接続するセンサチップ電極接続部11が形成されている。図2では、10個のセンサチップ電極接続部11が形成されている。なお、チップ実装面の裏面の外部実装面には、チップ実装面同様、貫通孔10が開口し、これを取り囲むように樹脂堰き止め部9に相当する補助電極部13と外部接続部12が形成されている。補助電極部13は、センサ装置の実装に用いられるものではないが、機械的強度の弱い有機材料を基材7として使用する際には、樹脂封止時に基材7が変形することを防ぐため形成するのが望ましい。従って、基材7として厚く機械的強度の強い有機材料(例えば、厚さ0.2mm程度以上)やセラミック等の無機材料を使用する際には、必ずしも必要ではない。   Next, the manufacturing method of the pressure sensor of this invention is demonstrated. First, the mounting substrate will be described. FIG. 2 is an enlarged view of a part of an example of a mounting substrate used in the present invention, and is a partially enlarged view of a chip mounting surface. As shown in FIG. 2, a through-hole 10 is formed on the chip mounting surface, and a resin damming portion 9 and a sensor chip electrode connection portion 11 connected to an electrode formed on the surface of the sensor chip are formed so as to surround the through hole 10. Has been. In FIG. 2, ten sensor chip electrode connecting portions 11 are formed. In addition, on the external mounting surface on the back surface of the chip mounting surface, the through-hole 10 is opened like the chip mounting surface, and the auxiliary electrode portion 13 and the external connection portion 12 corresponding to the resin damming portion 9 are formed so as to surround the through hole 10. Has been. The auxiliary electrode portion 13 is not used for mounting the sensor device, but when using an organic material having low mechanical strength as the base material 7, it prevents the base material 7 from being deformed during resin sealing. It is desirable to form. Therefore, it is not always necessary when using an organic material that is thick and strong in mechanical strength (for example, a thickness of about 0.2 mm or more) or ceramic as the base material 7.

本実施例の実装基板は、板厚が0.15mm程度で、電極パターンとなる金属膜を基材表面に積層した実装基板を用意し、金属膜をパターニングすることで所望の電極パターン等を形成することができる。   The mounting substrate of this example has a plate thickness of about 0.15 mm, prepares a mounting substrate in which a metal film to be an electrode pattern is laminated on the substrate surface, and forms a desired electrode pattern, etc. by patterning the metal film can do.

次に実装基板7aのチップ実装面側のセンサチップ電極接続部11と、センサチップ2表面に形成されたセンサチップ電極5をバンプ電極6を介してフリップチップ接続する。このような接続構造とすることで、センサチップ2に形成されているキャビティ3が実装基板7aに形成されている貫通孔10に対向する構造となる。一方、実装基板7aの実装面側に開口する貫通孔は、保護テープ16(テープ材に相当)を貼り付けることによって塞がれる(図3)。この保護テープ16は、厚さ30μm程度で耐熱性に優れた材料からなるものを選択するのが望ましい。具体的にはポリイミドテープ、ポリエチレンテレフタレートテープを使用することで、200℃以上の耐熱性が得られる。また保護テープ16の接着材は、UV光を照射することで接着性が低下するものを使用すると、後述する保護テープ16の剥離の際、好適である。   Next, the sensor chip electrode connection portion 11 on the chip mounting surface side of the mounting substrate 7 a and the sensor chip electrode 5 formed on the surface of the sensor chip 2 are flip-chip connected via the bump electrodes 6. With such a connection structure, the cavity 3 formed in the sensor chip 2 faces the through hole 10 formed in the mounting substrate 7a. On the other hand, the through-hole opened to the mounting surface side of the mounting substrate 7a is closed by applying a protective tape 16 (corresponding to a tape material) (FIG. 3). The protective tape 16 is preferably selected from a material having a thickness of about 30 μm and excellent heat resistance. Specifically, heat resistance of 200 ° C. or higher can be obtained by using a polyimide tape or a polyethylene terephthalate tape. Moreover, when the adhesive of the protective tape 16 is one whose adhesiveness is reduced by irradiating with UV light, it is preferable when the protective tape 16 described later is peeled off.

次に、樹脂封止を行う。まず、センサチップ2を実装した実装基板7aを減圧容器17内の加熱プレート18上に載置し、減圧容器17内を1×104Pa程度まで減圧する。樹脂シート19およびダイシングテープ20は、減圧された状態で、ローラー21を使い周囲を隙間無く貼り付ける(図4)。ここで使用する樹脂シート19は、流動性の少ない樹脂を選択する。一例としてナガセケムテックス社製のA2029を使用した。またダイシングテープ20は、後述する個片化後にセンサ装置を配列保持するためのテープであり、塩化ビニル(PVC)、ポリオレフィン(PO)基材等からなる一般的なダイシングテープを使用することができる。この貼り付けの際、加熱プレート18で80℃程度に加熱される。 Next, resin sealing is performed. First, the mounting substrate 7a on which the sensor chip 2 is mounted is placed on the heating plate 18 in the decompression vessel 17, and the inside of the decompression vessel 17 is decompressed to about 1 × 10 4 Pa. The resin sheet 19 and the dicing tape 20 are pasted without gaps using a roller 21 in a decompressed state (FIG. 4). As the resin sheet 19 used here, a resin having low fluidity is selected. As an example, A2029 manufactured by Nagase ChemteX Corporation was used. The dicing tape 20 is a tape for arranging and holding the sensor device after separation into individual pieces, which will be described later, and a general dicing tape made of vinyl chloride (PVC), polyolefin (PO) base material, or the like can be used. . At the time of this pasting, it is heated to about 80 ° C. by the heating plate 18.

その後、減圧容器17を大気圧に戻すと、樹脂シート19で囲まれる内部の圧力と外部の圧力差により樹脂シート19が隙間に入り込み樹脂封止されることになる。図5は、樹脂封止された状態を示す図である。図5に示すように、樹脂シート19が隙間に流入して封止樹脂15が形成される。ここで封止樹脂15の一部は、段部14上まで流入していく。しかし本発明では、樹脂堰き止め部9が形成されているため、さらに貫通孔10は、保護テープ16によって塞がれているため、封止樹脂15の隙間への流入は所定の位置で止まり、空間8が残ることになる。なお、空間8の容積は、図4で説明した減圧容器内の圧力や、使用する樹脂シート19の種類、さらに加熱プレート18による加熱条件、接合後のバンプ6の高さ等を変えることで、再現性良く制御することができる。   Thereafter, when the decompression container 17 is returned to the atmospheric pressure, the resin sheet 19 enters the gap due to the difference between the internal pressure surrounded by the resin sheet 19 and the external pressure, and is sealed with resin. FIG. 5 is a diagram showing a resin-sealed state. As shown in FIG. 5, the resin sheet 19 flows into the gap to form the sealing resin 15. Here, a part of the sealing resin 15 flows up onto the stepped portion 14. However, in the present invention, since the resin damming portion 9 is formed, the through hole 10 is further blocked by the protective tape 16, so that the flow of the sealing resin 15 into the gap stops at a predetermined position, Space 8 will remain. The volume of the space 8 can be changed by changing the pressure in the decompression container described in FIG. 4, the type of the resin sheet 19 to be used, the heating condition by the heating plate 18, the height of the bump 6 after bonding, etc. It can be controlled with good reproducibility.

個片化は、通常の方法により行う。即ち、封止樹脂15表面に接着したダイシングテープ20面の反対側から、ダイシングソー22を用いて個片化する。この個片化は、水をかけながらダイシングソー22を回転させて切断する。このときダイシングソー22は実装基板7a、封止樹脂15を切断し、ダイシングテープ20に達する。保護テープ16は実装基板7aに密着しており、貫通孔10は保護テープ16によって被覆された状態が保たれる。その結果、貫通孔10内に水や切断屑26が入り込むことはない。また、実装基板7aには保護テープ16が接着しているため、ダイシングソー22が、実装基板7aの連結部を切断して電極を形成する際に、センサチップ電極接続部や外部接続部にバリ等が発生することも防止できる。   The singulation is performed by a normal method. That is, it is separated into pieces using a dicing saw 22 from the side opposite to the surface of the dicing tape 20 bonded to the surface of the sealing resin 15. This separation is performed by rotating the dicing saw 22 while applying water. At this time, the dicing saw 22 cuts the mounting substrate 7 a and the sealing resin 15 and reaches the dicing tape 20. The protective tape 16 is in close contact with the mounting substrate 7 a, and the through hole 10 is kept covered with the protective tape 16. As a result, water and cutting waste 26 do not enter the through hole 10. Further, since the protective tape 16 is adhered to the mounting substrate 7a, when the dicing saw 22 cuts the connecting portion of the mounting substrate 7a to form an electrode, the sensor chip electrode connecting portion and the external connecting portion are not variably formed. Etc. can also be prevented.

次に保護テープ16にUV光を照射して接着強度を低下させた後、低下した接着強度より強い接着力を有する別のテープ材24を保護テープ16上に貼り付け、別のテープ材24とともに保護テープ16を剥離、除去する。保護テープ16の除去により、貫通孔10は、外部と連通し、圧力センサとして機能することになる。この状態から個片化された圧力センサをそれぞれピックアップして所望の実装を行うことができる。このように本発明によれば、MAP方式により開口部を備えた圧力センサを形成することが可能となった。   Next, after irradiating the protective tape 16 with UV light to reduce the adhesive strength, another tape material 24 having an adhesive strength stronger than the reduced adhesive strength is pasted on the protective tape 16, together with another tape material 24. The protective tape 16 is peeled off and removed. By removing the protective tape 16, the through hole 10 communicates with the outside and functions as a pressure sensor. From this state, individual pressure sensors can be picked up to perform desired mounting. As described above, according to the present invention, it is possible to form a pressure sensor having an opening by the MAP method.

次に、圧力センサの製造工程中で性能テストを行う場合について説明する。実施例1で説明したように、ダイシングテープ20上に個片化された圧力センサが整列した状態となったところで、性能テストを行う。通常の半導体集積回路における電気特性のテストと異なり、圧力センサに所望の圧力が印加された状態で性能テストを行う。例えば、図8に示すコンタクトプローブ25、冷熱プレート26を含むテスト装置を圧力を可変できるボックス内に収納し、所望の圧力印加時の圧力センサの出力を測定し、圧力センサの良否判定を行う。本発明の圧力センサは、ダイシングテープ20上に整列した状態となっているため、コンタクトプローブ25を外部接続部12に接触させ、通常の方法で特性テストを行うことが可能となる。   Next, a case where a performance test is performed during the manufacturing process of the pressure sensor will be described. As described in the first embodiment, when the pressure sensors separated on the dicing tape 20 are aligned, a performance test is performed. Unlike an electrical characteristic test in a normal semiconductor integrated circuit, a performance test is performed in a state where a desired pressure is applied to the pressure sensor. For example, the test apparatus including the contact probe 25 and the cooling / heating plate 26 shown in FIG. 8 is housed in a box capable of varying the pressure, and the output of the pressure sensor when a desired pressure is applied is measured to determine whether the pressure sensor is good or bad. Since the pressure sensor of the present invention is aligned on the dicing tape 20, the contact probe 25 is brought into contact with the external connection portion 12 and a characteristic test can be performed by a normal method.

パッケージ本体にクラックや剥離等が発生している場合、この性能テスト工程で不良品として選別することができる。   If a crack or peeling occurs in the package body, it can be selected as a defective product in this performance test process.

図8に示すような冷熱プレート26上に圧力センサを載置してウエハテストを行う場合、ダイシングテープ20としてPVCやPO基材を選択すると、70℃〜−20℃程度の温度範囲で可変することが可能となる。ダイシングテープ20は、図示しない吸着手段によって冷熱プレート26上に固定しても良い。また減圧状態でテストすることで、吸着手段による固定が不十分となる場合には、機械的な固定手段により固定しても良い。冷熱プレート26は、ペルチェ素子や恒温液体を流す配管を埋め込んだステンレス材等の金属で構成することで、特性テストを行う圧力センサを所望の温度に、迅速かつ安定に到達させることが可能となる。   When a wafer test is performed by placing a pressure sensor on the cold plate 26 as shown in FIG. 8, if a PVC or PO base material is selected as the dicing tape 20, the temperature can be varied in a temperature range of about 70 ° C. to −20 ° C. It becomes possible. The dicing tape 20 may be fixed on the cold / hot plate 26 by a suction means (not shown). Further, if the fixing by the suction means becomes insufficient by testing in a reduced pressure state, it may be fixed by a mechanical fixing means. The cold plate 26 is made of a metal such as a stainless steel material in which a Peltier element or a pipe for flowing a constant temperature liquid is embedded, so that a pressure sensor for performing a characteristic test can reach a desired temperature quickly and stably. .

以上、本発明の実施例について圧力センサを例にとり説明したが、本発明のセンサ装置は圧力センサに限定されるものではなく、パッケージ内部に搭載するセンサチップの種類を種々変更することで、湿度センサ等、センサ内に外部の物理量を導入して検知するためにパッケージに開口部を備える必要のあるセンサに適用することができる。   As described above, the embodiment of the present invention has been described by taking the pressure sensor as an example. However, the sensor device of the present invention is not limited to the pressure sensor, and humidity can be changed by variously changing the type of sensor chip mounted inside the package. The present invention can be applied to a sensor such as a sensor that needs to have an opening in a package in order to introduce and detect an external physical quantity in the sensor.

1: センサ本体、2、31:圧力センサチップ、3、32:キャビティ、4、33:ダイアフラム、5:センサチップ電極、6:バンプ電極、7:基材、7a:実装基板、8、35:空間、9:樹脂堰き止め部、10:貫通孔、11:センサチップ電極接続端子、12:外部接続部、13:プリモールド樹脂、14:段部、15:封止樹脂、16:保護テープ、17:減圧容器、18:加熱プレート、19:樹脂シート、20:ダイシングテープ、21:ローラー、22:ダイシングソー、23:切断屑、24:別のテープ材、25:コンタクトプローブ、29:冷熱プレート、30:パッケージ本体、34:蓋部、36:圧力導入孔 1: Sensor body, 2, 31: Pressure sensor chip, 3, 32: Cavity, 4, 33: Diaphragm, 5: Sensor chip electrode, 6: Bump electrode, 7: Base material, 7a: Mounting substrate, 8, 35: Space, 9: Resin damming portion, 10: Through hole, 11: Sensor chip electrode connection terminal, 12: External connection portion, 13: Pre-molded resin, 14: Stepped portion, 15: Sealing resin, 16: Protective tape, 17: decompression container, 18: heating plate, 19: resin sheet, 20: dicing tape, 21: roller, 22: dicing saw, 23: cutting waste, 24: another tape material, 25: contact probe, 29: cold plate , 30: package body, 34: lid, 36: pressure introduction hole

Claims (5)

基材表面に電極パターンが形成された実装基板上にセンサチップを実装し、樹脂封止したセンサ装置において、
前記実装基板は、チップ実装面に前記センサチップ表面に形成された電極と接続するセンサチップ電極接続部と、該センサチップ電極接続部に囲まれた部分に形成された前記基材を貫通する貫通孔と、該貫通孔と前記センサチップ電極接続部との間に樹脂堰き止め部とを備え、前記チップ実装面の裏面側の外部実装面に外部接続部を備え、
前記樹脂堰き止め部の高さが、該樹脂堰き止め部と前記センサチップ電極接続部との間の前記基材表面の高さより高く形成されていることにより、該基材表面と前記樹脂堰き止め部との間に段部が形成され、
前記センサチップ電極接続部と前記センサチップ表面に形成された電極が接続され、
前記チップ実装面表面の前記実装基板および前記センサチップ上が封止樹脂により被覆され、前記センサチップ表面と前記実装基板表面の前記段部との間に前記封止樹脂の一部が入り込んでいるとともに、前記センサチップ表面と前記樹脂堰き止め部との間に空間が残り、該空間は前記貫通孔によりセンサ装置外部と連通するように封止されていることを特徴とするセンサ装置。
In a sensor device in which a sensor chip is mounted on a mounting substrate in which an electrode pattern is formed on the surface of a base material and resin-sealed,
The mounting substrate has a sensor chip electrode connecting portion connected to an electrode formed on the surface of the sensor chip on a chip mounting surface, and a penetrating through the base material formed in a portion surrounded by the sensor chip electrode connecting portion. A hole and a resin damming portion between the through-hole and the sensor chip electrode connection portion, and an external connection portion on the external mounting surface on the back side of the chip mounting surface,
The height of the resin damming portion is higher than the height of the surface of the base material between the resin damming portion and the sensor chip electrode connecting portion, whereby the base material surface and the resin damming portion are formed. A step is formed between the
The sensor chip electrode connection portion and the electrode formed on the sensor chip surface are connected,
The mounting substrate and the sensor chip on the surface of the chip mounting surface are covered with a sealing resin, and a part of the sealing resin enters between the sensor chip surface and the stepped portion of the mounting substrate surface. The sensor device is characterized in that a space remains between the surface of the sensor chip and the resin damming portion, and the space is sealed so as to communicate with the outside of the sensor device through the through hole.
センサチップを基材表面に電極パターンが形成された実装基板に実装し、樹脂封止するセンサ装置の製造方法において、
チップ実装面に、前記センサチップ表面に形成された電極と接続されるセンサチップ電極接続部と、該センサチップ電極接続部に囲まれ、前記基材を貫通する貫通孔の一方が開口部が開口し、該貫通孔と前記センサチップ電極接続部との間に樹脂堰き止め部とを備え、該樹脂堰き止め部と前記センサチップ電極接続部との間に前記基材表面が露出することにより段部が形成され、前記チップ実装面の裏面側の外部実装面に、外部接続部を備え、前記貫通孔の他方の開口部が開口している実装基板を用意する工程と、
前記センサチップ表面が、前記貫通孔に対向するように前記センサチップ電極部と前記センサチップ表面に形成された電極を接続する工程と、
前記実装基板のチップ実装面に露出する前記実装基板および前記センサチップ上を被覆し、前記センサチップ表面と前記実装基板のチップ実装面との間に封止樹脂を注入するとともに、前記段部に前記封止樹脂が溜まり、前記センサチップ表面と前記樹脂堰き止め部との間に空間を残すように樹脂封止を行う工程と、
前記実装基板の外部実装面側から、テープ材により前記外部実装面に開口する貫通孔を塞いだ状態で個片化する工程と、を含むことを特徴とするセンサ装置の製造方法。
In a method for manufacturing a sensor device, a sensor chip is mounted on a mounting substrate having an electrode pattern formed on the surface of a base material and sealed with a resin.
On the chip mounting surface, a sensor chip electrode connecting portion connected to the electrode formed on the sensor chip surface, and one of the through holes that are surrounded by the sensor chip electrode connecting portion and penetrates the base material has an opening. And a resin damming portion is provided between the through hole and the sensor chip electrode connecting portion, and the substrate surface is exposed between the resin damming portion and the sensor chip electrode connecting portion. A step of preparing a mounting substrate in which a portion is formed, the external mounting surface on the back surface side of the chip mounting surface is provided with an external connection portion, and the other opening of the through hole is opened;
Connecting the sensor chip electrode portion and the electrode formed on the sensor chip surface such that the sensor chip surface faces the through hole;
Covering the mounting substrate and the sensor chip exposed on the chip mounting surface of the mounting substrate, injecting a sealing resin between the sensor chip surface and the chip mounting surface of the mounting substrate, and to the stepped portion Resin sealing so that the sealing resin accumulates, leaving a space between the sensor chip surface and the resin damming portion;
A method of manufacturing the sensor device, comprising the step of: separating from the external mounting surface side of the mounting substrate in a state where a through-hole opened in the external mounting surface is closed with a tape material.
請求項2記載のセンサ装置の製造方法において、樹脂封止する工程は、減圧状態で、前記実装基板のチップ実装面に露出する前記実装基板および前記チップ上を樹脂シートで被覆し、前記減圧状態を破り常圧状態にすることにより前記樹脂シートを加圧し、前記段部に前記封止樹脂が溜まり、前記センサチップ表面と前記樹脂堰き止め部との間に空間を残すように樹脂封止することを特徴とするセンサ装置の製造方法。   3. The method of manufacturing a sensor device according to claim 2, wherein the resin sealing step includes covering the mounting substrate exposed on the chip mounting surface of the mounting substrate and the chip with a resin sheet in a reduced pressure state, and reducing the reduced pressure state. The resin sheet is pressurized by breaking to a normal pressure state, and the sealing resin accumulates in the stepped portion, and the resin sealing is performed so as to leave a space between the sensor chip surface and the resin damming portion. A method for manufacturing a sensor device. 請求項2または3いずれか記載のセンサ装置の製造方法において、前記個片化する工程は、前記封止樹脂にダイシング用テープ材を貼り付ける工程を含み、前記個片化工程の後、前記実装基板の外部実装面から前記テープ材を剥離し、前記貫通孔を通してセンサ装置内部の空間と外部とが連通した状態で、前記ダイシング用テープ材上に個片化したセンサ装置を整列配置する工程を含むことを特徴とするセンサ装置の製造方法。   4. The method of manufacturing a sensor device according to claim 2, wherein the step of separating includes a step of attaching a dicing tape material to the sealing resin, and the mounting is performed after the separating step. Separating the tape material from the external mounting surface of the substrate, and arranging the separated sensor device on the tape material for dicing in a state where the space inside the sensor device communicates with the outside through the through-hole. A method for manufacturing a sensor device, comprising: 請求項4記載のセンサ装置の製造方法において、前記ダイシング用テープ材上に整列配置したセンサ装置に、前記センサチップがセンシングする物理量を印加して前記センサ装置の特性テストを行う工程を含むことを特徴とするセンサ装置の製造方法。   5. The method of manufacturing a sensor device according to claim 4, further comprising: applying a physical quantity sensed by the sensor chip to the sensor device arranged and arranged on the dicing tape material to perform a characteristic test of the sensor device. A method for manufacturing a sensor device.
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