JP2016072239A - Anisotropic conductive film, and connection method - Google Patents

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Jun Yamamoto
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    • H01B5/16Non-insulated conductors or conductive bodies characterised by their form comprising conductive material in insulating or poorly conductive material, e.g. conductive rubber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R11/00Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
    • H01R11/01Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts characterised by the form or arrangement of the conductive interconnection between the connecting locations
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an anisotropic conductive film which allows for both prevention of short circuit across adjacent electrodes and conduction between counter electrodes.SOLUTION: An anisotropic conductive film has a conductive particle containing layer containing particles having a conductive core material, and particles having an insulating coating formed of an energy-beam curing resin composition on the surface of the conductive core material, and thermosetting resin, and an insulating adhesive layer containing thermosetting resin.SELECTED DRAWING: Figure 1C

Description

本発明は、異方性導電フィルム、及び前記異方性導電フィルムを用いた接続方法に関する。   The present invention relates to an anisotropic conductive film and a connection method using the anisotropic conductive film.

従来より、電子部品を基板と接続する手段として、導電性粒子が分散された熱硬化性樹脂を剥離フィルムに塗布したテープ状の接続材料(例えば、異方性導電フィルム(ACF;Anisotropic Conductive Film))が用いられている。   Conventionally, as a means for connecting an electronic component to a substrate, a tape-like connection material in which a thermosetting resin in which conductive particles are dispersed is applied to a release film (for example, anisotropic conductive film (ACF)) ) Is used.

この異方性導電フィルムは、例えば、フレキシブルプリント基板(FPC)やICチップの端子(電極)と、LCDパネルのガラス基板上に形成されたITO(Indium Tin Oxide)電極とを接続する場合を始めとして、種々の電極同士を接着すると共に電気的に接続する場合に用いられている。   This anisotropic conductive film is used, for example, to connect a flexible printed circuit board (FPC) or IC chip terminal (electrode) to an ITO (Indium Tin Oxide) electrode formed on a glass substrate of an LCD panel. As described above, it is used when various electrodes are bonded and electrically connected.

近年、電子部品は、より小型化、集積化が進んでいる。そのため、前記電子部品の有する電極は、隣接する電極間のピッチがより小さく(ファインピッチ)なりつつある。ところが、異方性導電フィルムに用いられる導電成分は、球状のものが多く、その大きさも直径数μm以上のものが多く用いられている。このような異方性導電フィルムを用いて、小型化、集積化の進んだ電極間ピッチの小さい電極を接続すると、隣接する電極間の絶縁抵抗が十分とれないという問題がある。   In recent years, electronic components have been further miniaturized and integrated. For this reason, in the electrodes of the electronic component, the pitch between adjacent electrodes is becoming smaller (fine pitch). However, the conductive component used for the anisotropic conductive film is often spherical and has a size of several μm or more. When such an anisotropic conductive film is used to connect electrodes having a small inter-electrode pitch that has been miniaturized and integrated, there is a problem that insulation resistance between adjacent electrodes cannot be sufficiently obtained.

そこで、ファインピッチの接続においては、樹脂を用いて絶縁コートされた導電性粒子を用いて、ショートリスクを低減する技術が提案されている。絶縁コートに用いる樹脂としては、例えば、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂などが挙げられる。
絶縁コートされた導電性粒子を使用することで、ある程度のショートリスクの低減は可能になっているが、対向する電極間に捕捉された導電性粒子は絶縁コートを破って導通する必要があるため、絶縁コートそのものの強度はある程度弱く設計される。そのため、絶縁コートされた導電性粒子であっても、電極間に詰まった状態で部材の熱収縮による応力を受けた場合には、絶縁コートが破れてしまいショートが発生してしまうという問題がある。
Therefore, in the fine pitch connection, a technique for reducing the risk of short-circuiting has been proposed by using conductive particles that are insulation-coated with a resin. Examples of the resin used for the insulating coat include a thermoplastic resin and a thermosetting resin.
By using conductive particles coated with insulation, the risk of short-circuiting can be reduced to some extent, but conductive particles trapped between the opposing electrodes must break the insulation coat and become conductive. The strength of the insulating coat itself is designed to be somewhat weak. Therefore, even if the conductive particles are coated with insulation, there is a problem that when the stress is caused by the thermal contraction of the member in a state of being clogged between the electrodes, the insulation coat is broken and a short circuit occurs. .

導電性粒子の絶縁コートに関しては、前記熱可塑性樹脂、前記熱硬化性樹脂の他に、活性エネルギー線硬化性樹脂を用いる技術が提案されている(例えば、特許文献1及び2参照)。しかし、これらの提案の技術でも、ファインピッチ接続において、隣接電極間のショート防止と、対向電極間の導通とを両立することはできていない。   Regarding the insulating coating of conductive particles, a technique using an active energy ray curable resin in addition to the thermoplastic resin and the thermosetting resin has been proposed (see, for example, Patent Documents 1 and 2). However, even these proposed techniques cannot achieve both short-circuit prevention between adjacent electrodes and conduction between opposing electrodes in fine pitch connection.

特開平6−96620号公報JP-A-6-96620 特開平11−306861号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-306861

本発明は、従来における前記諸問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、隣接電極間のショート防止と、対向電極間の導通とを両立できる異方性導電フィルム、及び前記異方性導電フィルムを用いた接続方法を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to solve the above-described problems and achieve the following objects. That is, an object of the present invention is to provide an anisotropic conductive film capable of achieving both short-circuit prevention between adjacent electrodes and conduction between counter electrodes, and a connection method using the anisotropic conductive film.

前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。即ち、
<1> 導電性芯材、及び前記導電性芯材の表面に活性エネルギー線硬化性樹脂組成物から形成された絶縁皮膜を有する粒子、並びに熱硬化性樹脂を含有する導電性粒子含有層と、
熱硬化性樹脂を含有する絶縁性接着層と、
を有することを特徴とする異方性導電フィルムである。
<2> 導電性粒子含有層の平均厚みが、絶縁性接着層の平均厚み未満である前記<1>に記載の異方性導電フィルムである。
<3> 活性エネルギー線硬化性樹脂組成物が、(メタ)アクリレート樹脂を含有する前記<1>から<2>のいずれかに記載の異方性導電フィルムである。
<4> 導電性粒子含有層が、アニオン系硬化剤を含有し、
絶縁性接着層が、アニオン系硬化剤を含有する、
前記<1>から<3>のいずれかに記載の異方性導電フィルムである。
<5> 活性エネルギー線を透過する基板、及び前記活性エネルギー線を透過しない配線を有する配線基板の前記配線と、電子部品の端子とを接続させる接続方法であって、
前記配線基板の前記配線上に、前記<1>から<4>のいずれかに記載の異方性導電フィルムを配置する第1の配置工程と、
前記異方性導電フィルム上に、前記電子部品を、前記電子部品の前記端子が前記異方性導電フィルムと接するように配置する第2の配置工程と、
前記配線基板側から、前記異方性導電フィルムに前記活性エネルギー線を照射する活性エネルギー線照射工程と、
前記電子部品を加熱押圧部材により加熱及び押圧する加熱押圧工程とを含むことを特徴とする接続方法である。
<6> 第2の配置工程が、導電性粒子含有層の熱硬化性樹脂の硬化温度未満且つ前記硬化温度−10℃以上で、前記異方性導電フィルムを加熱及び押圧する仮固定処理を含む前記<5>に記載の接続方法である。
Means for solving the problems are as follows. That is,
<1> Conductive core material, particles having an insulating film formed from an active energy ray-curable resin composition on the surface of the conductive core material, and a conductive particle-containing layer containing a thermosetting resin;
An insulating adhesive layer containing a thermosetting resin;
It is an anisotropic conductive film characterized by having.
<2> The anisotropic conductive film according to <1>, wherein the average thickness of the conductive particle-containing layer is less than the average thickness of the insulating adhesive layer.
<3> The anisotropic conductive film according to any one of <1> to <2>, wherein the active energy ray-curable resin composition contains a (meth) acrylate resin.
<4> The conductive particle-containing layer contains an anionic curing agent,
The insulating adhesive layer contains an anionic curing agent;
The anisotropic conductive film according to any one of <1> to <3>.
<5> A connection method for connecting the wiring of a wiring board having a substrate that transmits active energy rays and a wiring that does not transmit active energy rays, and a terminal of an electronic component,
A first disposing step of disposing the anisotropic conductive film according to any one of <1> to <4> on the wiring of the wiring substrate;
A second disposing step of disposing the electronic component on the anisotropic conductive film so that the terminal of the electronic component is in contact with the anisotropic conductive film;
An active energy ray irradiating step of irradiating the anisotropic conductive film with the active energy ray from the wiring board side;
And a heating and pressing step of heating and pressing the electronic component with a heating and pressing member.
<6> The second arrangement step includes a temporary fixing process in which the anisotropic conductive film is heated and pressed at a temperature lower than the curing temperature of the thermosetting resin of the conductive particle-containing layer and at the curing temperature of −10 ° C. or higher. The connection method according to <5>.

本発明によれば、従来における前記諸問題を解決し、前記目的を達成することができ、隣接電極間のショート防止と、対向電極間の導通とを両立できる異方性導電フィルム、及び前記異方性導電フィルムを用いた接続方法を提供することができる。   According to the present invention, the conventional problems can be solved, the object can be achieved, and the anisotropic conductive film capable of achieving both prevention of short-circuit between adjacent electrodes and conduction between counter electrodes, and the different A connection method using an anisotropic conductive film can be provided.

図1Aは、本発明の接続方法の一例における第1の配置工程を説明するための概略図である。FIG. 1A is a schematic diagram for explaining a first arrangement step in an example of the connection method of the present invention. 図1Bは、本発明の接続方法の一例における第2の配置工程を説明するための概略図である。FIG. 1B is a schematic diagram for explaining a second arrangement step in an example of the connection method of the present invention. 図1Cは、本発明の接続方法の一例における活性エネルギー線照射工程を説明するための概略図である。FIG. 1C is a schematic diagram for explaining an active energy ray irradiation step in an example of the connection method of the present invention. 図1Dは、本発明の接続方法の一例における加熱押圧工程を説明するための概略図である。FIG. 1D is a schematic diagram for explaining a heating and pressing step in an example of the connection method of the present invention.

(異方性導電フィルム)
本発明の異方性導電フィルムは、導電性粒子含有層と、絶縁性接着層とを有し、更に必要に応じて、その他の成分を有する。
(Anisotropic conductive film)
The anisotropic conductive film of the present invention has a conductive particle-containing layer and an insulating adhesive layer, and further contains other components as necessary.

<導電性粒子含有層>
前記導電性粒子含有層は、粒子と、熱硬化性樹脂とを少なくとも含有し、好ましくは硬化剤を含有し、更に必要に応じて、その他の成分を含有する。
<Conductive particle-containing layer>
The conductive particle-containing layer contains at least particles and a thermosetting resin, preferably contains a curing agent, and further contains other components as necessary.

<<粒子>>
前記粒子は、導電性芯材と、絶縁皮膜とを有し、更に必要に応じて、その他の成分を有する。
前記粒子において、前記絶縁皮膜は、前記導電性芯材の表面に形成されている。
<< Particles >>
The particles include a conductive core material and an insulating film, and further include other components as necessary.
In the particles, the insulating film is formed on the surface of the conductive core material.

−導電性芯材−
前記導電性芯材としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、金属粒子、金属被覆樹脂粒子などが挙げられる。
-Conductive core material-
There is no restriction | limiting in particular as said electroconductive core material, According to the objective, it can select suitably, For example, a metal particle, a metal covering resin particle, etc. are mentioned.

前記金属粒子としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ニッケル、コバルト、銀、銅、金、パラジウムなどが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
これらの中でも、ニッケル、銀、銅が好ましい。これらの金属粒子は、表面酸化を防ぐ目的で、その表面に金、パラジウムを施していてもよい。
There is no restriction | limiting in particular as said metal particle, According to the objective, it can select suitably, For example, nickel, cobalt, silver, copper, gold | metal | money, palladium etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
Among these, nickel, silver, and copper are preferable. These metal particles may be provided with gold or palladium on the surface for the purpose of preventing surface oxidation.

前記金属被覆樹脂粒子としては、樹脂粒子の表面を金属で被覆した粒子であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、樹脂粒子の表面をニッケル、銅、金、及びパラジウムの少なくともいずれかの金属で被覆した粒子などが挙げられる。
前記樹脂粒子への金属の被覆方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、無電解めっき法、スパッタリング法などが挙げられる。
前記樹脂粒子の材質としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、スチレン−ジビニルベンゼン共重合体、ベンゾグアナミン樹脂、架橋ポリスチレン樹脂、アクリル樹脂、スチレン−シリカ複合樹脂などが挙げられる。
The metal-coated resin particles are not particularly limited as long as the surfaces of the resin particles are coated with metal, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, the surface of the resin particles is nickel, copper, gold And particles coated with at least any one metal of palladium.
There is no restriction | limiting in particular as the coating method of the metal to the said resin particle, According to the objective, it can select suitably, For example, an electroless-plating method, sputtering method, etc. are mentioned.
There is no restriction | limiting in particular as a material of the said resin particle, According to the objective, it can select suitably, For example, a styrene- divinylbenzene copolymer, a benzoguanamine resin, a crosslinked polystyrene resin, an acrylic resin, a styrene-silica composite resin etc. Is mentioned.

−絶縁皮膜−
前記絶縁皮膜は、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物から形成される。前記異方性導電フィルムが、異方性導電接続に使用される前においては、前記絶縁皮膜は、活性エネルギー線により硬化してはいない。
前記絶縁皮膜は、無加圧の状態で複数の前記粒子が接触している場合に、前記粒子同士に導通が生じない程度の絶縁性を有していればよい。
-Insulation film-
The insulating film is formed from an active energy ray-curable resin composition. Before the anisotropic conductive film is used for anisotropic conductive connection, the insulating film is not cured by active energy rays.
The insulating film only needs to have an insulating property that does not cause conduction between the particles when a plurality of the particles are in contact with each other in an unpressurized state.

−−活性エネルギー線硬化性樹脂組成物−−
前記活性エネルギー線硬化性樹脂組成物としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、(メタ)アクリレート樹脂と、光重合開始剤とを少なくとも含有し、更に必要に応じて、その他の成分を含有する。
-Active energy ray curable resin composition-
The active energy ray-curable resin composition is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. For example, it contains at least a (meth) acrylate resin and a photopolymerization initiator, and further required. Depending on the situation, other components are contained.

−−−(メタ)アクリレート樹脂−−−
前記(メタ)アクリレート樹脂は、アクリレート基及びメタクリレート基の少なくともいずれかを含有する樹脂である。
前記(メタ)アクリレート樹脂は、前記光重合開始剤から発生したラジカル種により(メタ)アクリレート基が重合して、硬化する。
前記(メタ)アクリレート樹脂としては、例えば、エポキシ(メタ)アクリレート樹脂、ウレタン(メタ)アクリレート樹脂などが挙げられる。
--- (Meth) acrylate resin ---
The (meth) acrylate resin is a resin containing at least one of an acrylate group and a methacrylate group.
In the (meth) acrylate resin, the (meth) acrylate group is polymerized by the radical species generated from the photopolymerization initiator and cured.
Examples of the (meth) acrylate resin include epoxy (meth) acrylate resin and urethane (meth) acrylate resin.

−−−光重合開始剤−−−
前記光重合開始剤としては、例えば、以下の化合物などが挙げられる。
ベンゾフェノン
ベンゾインとそのアルキルエーテル類(例えば、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル等)
アセトフェノン類(例えば、アセトフェノン、ヒドロキシフェニルケトン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシ−2−フェニルアセトフェノン、1,1−ジクロロアセトフェノン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパン−1−オン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−1−ブタノン等)
アントラキノン類(例えば、2−メチルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−t−ブチルアントラキノン、1−クロロアントラキノン、2−アミルアントラキノン等)
--- Photopolymerization initiator ---
Examples of the photopolymerization initiator include the following compounds.
Benzophenone Benzoin and its alkyl ethers (for example, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, etc.)
Acetophenones (for example, acetophenone, hydroxyphenyl ketone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxy-2-phenylacetophenone, 1,1-dichloroacetophenone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-hydroxy 2-methyl-1-phenylpropan-1-one, 1- [4- (2-hydroxyethoxy) phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 2-methyl-1- [4- (Methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -1-butanone, etc.)
Anthraquinones (for example, 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2-t-butylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2-amylanthraquinone, etc.)

−−−その他の成分−−−
前記その他の成分としては、例えば、単官能(メタ)アクリレートなどが挙げられる。
--- Other ingredients ---
As said other component, monofunctional (meth) acrylate etc. are mentioned, for example.

前記粒子の平均粒子経としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、1μm〜30μmが好ましく、2μm〜10μmがより好ましく、3μm〜6μmが特に好ましい。
前記平均粒子径は、例えば、走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて、粒子50個の粒子径を測定し、それを算術平均することにより求めることができる。
There is no restriction | limiting in particular as an average particle diameter of the said particle | grains, Although it can select suitably according to the objective, 1 micrometer-30 micrometers are preferable, 2 micrometers-10 micrometers are more preferable, and 3 micrometers-6 micrometers are especially preferable.
The average particle diameter can be determined, for example, by measuring the particle diameter of 50 particles using a scanning electron microscope (SEM) and arithmetically averaging them.

前記粒子の平均粒子径は、前記導電性粒子含有層の平均厚み未満であることが好ましい。   The average particle diameter of the particles is preferably less than the average thickness of the conductive particle-containing layer.

前記粒子は、例えば、前記導電性芯材を、前記活性エネルギー線硬化性樹脂組成物で被覆することにより作製することができる。
前記被覆の方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、機械エネルギーによる物理化学的変化を利用した乾式方式などが挙げられる。
前記乾式方式で前記導電性芯材の表面に前記絶縁皮膜を形成できる装置としては、例えば、メカノミル(商品名、株式会社徳寿工作所製)、ハイブリダイザー(株式会社奈良機械製作所製、商品名:NHSシリーズ)などが挙げられる。
前記乾式方式では、例えば、前記導電性芯材と、粉末状の前記活性エネルギー線硬化性樹脂組成物とを、前記装置で処理することにより、前記粒子を得ることができる。
The particles can be produced, for example, by coating the conductive core material with the active energy ray-curable resin composition.
There is no restriction | limiting in particular as the method of the said coating | cover, According to the objective, it can select suitably, For example, the dry system etc. which utilized the physicochemical change by mechanical energy are mentioned.
Examples of the apparatus capable of forming the insulating film on the surface of the conductive core by the dry method include, for example, Mechanomill (trade name, manufactured by Tokuju Kogakusho Co., Ltd.), Hybridizer (manufactured by Nara Machinery Co., Ltd., trade name: NHS series).
In the dry method, for example, the particles can be obtained by treating the conductive core material and the powdered active energy ray-curable resin composition with the apparatus.

<<熱硬化性樹脂>>
前記熱硬化性樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、エポキシ樹脂、アクリル樹脂などが挙げられる。
<< Thermosetting resin >>
There is no restriction | limiting in particular as said thermosetting resin, According to the objective, it can select suitably, For example, an epoxy resin, an acrylic resin, etc. are mentioned.

前記エポキシ樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、それらの変性エポキシ樹脂などが挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as said epoxy resin, According to the objective, it can select suitably, For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, novolak type epoxy resin, those modified epoxy resins etc. are mentioned. .

前記アクリル樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、アクリル化合物、液状アクリレートなどが挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as said acrylic resin, According to the objective, it can select suitably, For example, an acrylic compound, liquid acrylate, etc. are mentioned.

これらの中でも、前記熱硬化性樹脂は、後述するアニオン系硬化剤と組み合わせた際に、活性エネルギー線により硬化しにくい点で、エポキシ樹脂が好ましい。   Among these, the epoxy resin is preferable because the thermosetting resin is difficult to be cured by active energy rays when combined with an anionic curing agent described later.

前記導電性粒子含有層における前記熱硬化性樹脂の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記導電性粒子含有層100質量部に対して、10質量部〜50質量部が好ましく、20質量部〜40質量部がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said thermosetting resin in the said electroconductive particle content layer, Although it can select suitably according to the objective, 10 mass with respect to 100 mass parts of the said electroconductive particle content layer. Part-50 mass parts is preferable, and 20 mass parts-40 mass parts is more preferable.

<<硬化剤>>
前記硬化剤としては、前記熱硬化性樹脂を硬化させる硬化剤であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、カチオン系硬化剤、アニオン系硬化剤などが挙げられる。
これらの中でも、前記硬化剤は、活性エネルギー線により活性種を発生しにくい点で、アニオン系硬化剤が好ましい。
<< Curing agent >>
The curing agent is not particularly limited as long as it is a curing agent that cures the thermosetting resin, and can be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include a cationic curing agent and an anionic curing agent. It is done.
Among these, the curing agent is preferably an anionic curing agent in that active species are not easily generated by active energy rays.

前記カチオン系硬化剤としては、熱によりカチオン種を発生し、前記熱硬化性樹脂をカチオン硬化させる硬化剤であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、オニウム塩などが挙げられる。
前記オニウム塩としては、例えば、スルホニウム塩、ヨードニウム塩などが挙げられる。
前記スルホニウム塩としては、例えば、トリアリールスルホニウム塩などが挙げられる。
前記オニウム塩における対アニオンとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、SbF 、AsF 、PF 、BF 、CHSO 、CFSO などが挙げられる。
The cationic curing agent is not particularly limited as long as it is a curing agent that generates cationic species by heat and cationically cures the thermosetting resin, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, onium Examples include salt.
Examples of the onium salt include a sulfonium salt and an iodonium salt.
Examples of the sulfonium salt include a triarylsulfonium salt.
The counter anion in the onium salt is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. For example, SbF 6 , AsF 6 , PF 6 , BF 4 , CH 3 SO 3 , CF 3 SO 3 — and the like.

前記アニオン系硬化剤としては、熱により前記熱硬化性樹脂をアニオン硬化させる硬化剤であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、イミダゾール硬化剤、ポリチオール硬化剤、アミン硬化剤などが挙げられる。
これらの中でも、低温での硬化性に優れる点で、イミダゾール硬化剤が好ましい。
The anionic curing agent is not particularly limited as long as it is a curing agent that anionically cures the thermosetting resin by heat, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, imidazole curing agent, polythiol curing agent And amine curing agents.
Among these, an imidazole curing agent is preferable because it is excellent in curability at low temperatures.

前記イミダゾール硬化剤としては、例えば、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテート、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物などが挙げられる。   Examples of the imidazole curing agent include 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino. -6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid Examples include adducts.

前記ポリチオール硬化剤としては、例えば、トリメチロールプロパントリス−3−メルカプトプロピオネート、ペンタエリスリトールテトラキス−3−メルカプトプロピオネート、ジペンタエリスリトールヘキサ−3−メルカプトプロピオネートなどが挙げられる。   Examples of the polythiol curing agent include trimethylolpropane tris-3-mercaptopropionate, pentaerythritol tetrakis-3-mercaptopropionate, dipentaerythritol hexa-3-mercaptopropionate, and the like.

前記アミン硬化剤としては、例えば、ヘキサメチレンジアミン、オクタメチレンジアミン、デカメチレンジアミン、3,9−ビス(3−アミノプロピル)−2,4,8,10−テトラスピロ[5.5]ウンデカン、ビス(4−アミノシクロヘキシル)メタン、メタフェニレンジアミン、ジアミノジフェニルスルホンなどが挙げられる。   Examples of the amine curing agent include hexamethylene diamine, octamethylene diamine, decamethylene diamine, 3,9-bis (3-aminopropyl) -2,4,8,10-tetraspiro [5.5] undecane, and bis. (4-aminocyclohexyl) methane, metaphenylenediamine, diaminodiphenyl sulfone and the like can be mentioned.

前記導電性粒子含有層における前記硬化剤の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記導電性粒子含有層100質量部に対して、20質量部〜60質量部が好ましく、30質量部〜50質量部がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said hardening | curing agent in the said electroconductive particle content layer, Although it can select suitably according to the objective, 20 mass parts-with respect to 100 mass parts of the said electroconductive particle content layer. 60 mass parts is preferable, and 30 mass parts-50 mass parts is more preferable.

<<その他の成分>>
前記その他の成分としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、膜形成樹脂、シランカップリング剤などが挙げられる。
<< Other ingredients >>
There is no restriction | limiting in particular as said other component, According to the objective, it can select suitably, For example, film forming resin, a silane coupling agent, etc. are mentioned.

−膜形成樹脂−
前記膜形成樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、フェノキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、飽和ポリエステル樹脂、ウレタン樹脂、ブタジエン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリオレフィン樹脂などが挙げられる。前記膜形成樹脂は、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、製膜性、加工性、接続信頼性の点からフェノキシ樹脂が好ましい。
前記フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA及びエピクロルヒドリンにより合成される樹脂などが挙げられる。
前記フェノキシ樹脂は、適宜合成したものを使用してもよいし、市販品を使用してもよい。
-Film forming resin-
There is no restriction | limiting in particular as said film formation resin, According to the objective, it can select suitably, For example, phenoxy resin, unsaturated polyester resin, saturated polyester resin, urethane resin, butadiene resin, polyimide resin, polyamide resin, polyolefin Resin etc. are mentioned. The film forming resin may be used alone or in combination of two or more. Among these, phenoxy resin is preferable from the viewpoint of film forming property, processability, and connection reliability.
Examples of the phenoxy resin include a resin synthesized from bisphenol A and epichlorohydrin.
As the phenoxy resin, an appropriately synthesized product or a commercially available product may be used.

前記導電性粒子含有層における前記膜形成樹脂の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記導電性粒子含有層100質量部に対して、10質量部〜50質量部が好ましく、20質量部〜40質量部がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said film formation resin in the said electroconductive particle content layer, Although it can select suitably according to the objective, 10 mass parts with respect to 100 mass parts of the said electroconductive particle content layer. -50 mass parts is preferable, and 20 mass parts-40 mass parts is more preferable.

−シランカップリング剤−
前記シランカップリング剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、エポキシ系シランカップリング剤、アクリル系シランカップリング剤、チオール系シランカップリング剤、アミン系シランカップリング剤などが挙げられる。
-Silane coupling agent-
The silane coupling agent is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. Examples thereof include an epoxy silane coupling agent, an acrylic silane coupling agent, a thiol silane coupling agent, and an amine silane. A coupling agent etc. are mentioned.

前記導電性粒子含有層における前記シランカップリング剤の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記導電性粒子含有層100質量部に対して、0.1質量部〜3.0質量部が好ましく、0.5質量部〜2.0質量部がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said silane coupling agent in the said electroconductive particle content layer, Although it can select suitably according to the objective, It is 0.00 with respect to 100 mass parts of the said electroconductive particle content layer. 1 mass part-3.0 mass parts are preferable, and 0.5 mass part-2.0 mass parts are more preferable.

前記導電性粒子含有層の平均厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、1μm〜30μmが好ましく、3μm〜10μmがより好ましく、5μm〜8μmが特に好ましい。
ここで、前記平均厚みは、任意に前記導電性粒子含有層の5箇所の厚みを測定した際の算術平均値である。
There is no restriction | limiting in particular as average thickness of the said electroconductive particle content layer, Although it can select suitably according to the objective, 1 micrometer-30 micrometers are preferable, 3 micrometers-10 micrometers are more preferable, and 5 micrometers-8 micrometers are especially preferable.
Here, the said average thickness is an arithmetic mean value at the time of measuring the thickness of five places of the said electroconductive particle content layer arbitrarily.

前記導電性粒子含有層の平均厚みは、前記絶縁性接着層の平均厚み未満であることが、隣接電極間のショート防止と、対向電極間の導通とを高度に両立できる点で、好ましい。前記導電性粒子含有層の平均厚みと、前記絶縁性接着層の平均厚みとの差〔(絶縁性接着層の平均厚み)−(導電性粒子含有層の平均厚み)〕は、2μm〜15μmがより好ましく、4μm〜10μmが特に好ましい。   It is preferable that the average thickness of the conductive particle-containing layer is less than the average thickness of the insulating adhesive layer in that both prevention of shorting between adjacent electrodes and conduction between counter electrodes can be achieved at a high level. The difference between the average thickness of the conductive particle-containing layer and the average thickness of the insulating adhesive layer [(average thickness of the insulating adhesive layer) − (average thickness of the conductive particle-containing layer)] is 2 μm to 15 μm. More preferably, 4 μm to 10 μm is particularly preferable.

<絶縁性接着層>
前記絶縁性接着層は、熱硬化性樹脂を少なくとも含有し、好ましくは硬化剤を含有し、更に必要に応じて、その他の成分を含有する。
<Insulating adhesive layer>
The insulating adhesive layer contains at least a thermosetting resin, preferably contains a curing agent, and further contains other components as necessary.

<<熱硬化性樹脂>>
前記熱硬化性樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、エポキシ樹脂、アクリル樹脂などが挙げられる。
<< Thermosetting resin >>
There is no restriction | limiting in particular as said thermosetting resin, According to the objective, it can select suitably, For example, an epoxy resin, an acrylic resin, etc. are mentioned.

前記エポキシ樹脂としては、例えば、前記導電性粒子含有層の前記熱硬化性樹脂の説明において例示した前記エポキシ樹脂などが挙げられる。
前記アクリル樹脂としては、例えば、前記導電性粒子含有層の前記熱硬化性樹脂の説明において例示した前記アクリル樹脂などが挙げられる。
これらの中でも、前記熱硬化性樹脂は、活性エネルギー線により硬化しにくい点で、エポキシ樹脂が好ましい。
Examples of the epoxy resin include the epoxy resin exemplified in the description of the thermosetting resin of the conductive particle-containing layer.
As said acrylic resin, the said acrylic resin etc. which were illustrated in description of the said thermosetting resin of the said electroconductive particle content layer are mentioned, for example.
Among these, the thermosetting resin is preferably an epoxy resin in that it is hard to be cured by active energy rays.

前記絶縁性接着層における前記熱硬化性樹脂の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記絶縁性接着層100質量部に対して、5質量部〜45質量部が好ましく、15質量部〜35質量部がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said thermosetting resin in the said insulating contact bonding layer, Although it can select suitably according to the objective, 5 mass parts-with respect to 100 weight parts of the said insulating contact bonding layers 45 mass parts is preferable, and 15 mass parts-35 mass parts is more preferable.

<<硬化剤>>
前記硬化剤としては、前記熱硬化性樹脂を硬化させる硬化剤であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、カチオン系硬化剤、アニオン系硬化剤などが挙げられる。
これらの中でも、前記硬化剤は、活性エネルギー線により活性種を発生しにくい点で、アニオン系硬化剤が好ましい。
<< Curing agent >>
The curing agent is not particularly limited as long as it is a curing agent that cures the thermosetting resin, and can be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include a cationic curing agent and an anionic curing agent. It is done.
Among these, the curing agent is preferably an anionic curing agent in that active species are not easily generated by active energy rays.

前記カチオン系硬化剤としては、熱によりカチオン種を発生し、前記熱硬化性樹脂をカチオン硬化させる硬化剤であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記導電性粒子含有層の前記硬化剤の説明において例示した前記硬化剤などが挙げられる。   The cationic curing agent is not particularly limited as long as it is a curing agent that generates cationic species by heat and cationically cures the thermosetting resin, and can be appropriately selected according to the purpose. The said hardening | curing agent etc. which were illustrated in description of the said hardening | curing agent of an electroconductive particle content layer are mentioned.

前記アニオン系硬化剤としては、熱により前記熱硬化性樹脂をアニオン硬化させる硬化剤であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記導電性粒子含有層の前記硬化剤の説明において例示した前記アニオン系硬化剤などが挙げられる。   The anionic curing agent is not particularly limited as long as it is a curing agent that anionically cures the thermosetting resin by heat, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, the conductive particle-containing layer Examples include the anionic curing agent exemplified in the description of the curing agent.

前記絶縁性接着層における前記硬化剤の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記絶縁性接着層100質量部に対して、20質量部〜60質量部が好ましく、30質量部〜50質量部がより好ましい。   The content of the curing agent in the insulating adhesive layer is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. Part is preferable, and 30 to 50 parts by mass is more preferable.

<<その他の成分>>
前記その他の成分としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、膜形成樹脂、シランカップリング剤などが挙げられる。
<< Other ingredients >>
There is no restriction | limiting in particular as said other component, According to the objective, it can select suitably, For example, film forming resin, a silane coupling agent, etc. are mentioned.

−膜形成樹脂−
前記膜形成樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記導電性粒子含有層の説明において例示した前記膜形成樹脂などが挙げられる。 前記膜形成樹脂としては、製膜性、加工性、接続信頼性の点からフェノキシ樹脂が好ましい。
-Film forming resin-
There is no restriction | limiting in particular as said film formation resin, According to the objective, it can select suitably, For example, the said film formation resin etc. which were illustrated in description of the said electroconductive particle content layer are mentioned. As the film-forming resin, a phenoxy resin is preferable from the viewpoint of film forming property, processability, and connection reliability.

前記絶縁性接着層における前記膜形成樹脂の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記絶縁性接着層100質量部に対して、15質量部〜55質量部が好ましく、25質量部〜45質量部がより好ましい。   The content of the film-forming resin in the insulating adhesive layer is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. A mass part is preferable and 25 mass parts-45 mass parts are more preferable.

−シランカップリング剤−
前記シランカップリング剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、エポキシ系シランカップリング剤、アクリル系シランカップリング剤、チオール系シランカップリング剤、アミン系シランカップリング剤などが挙げられる。
-Silane coupling agent-
The silane coupling agent is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the intended purpose. Examples thereof include an epoxy silane coupling agent, an acrylic silane coupling agent, a thiol silane coupling agent, and an amine silane. A coupling agent etc. are mentioned.

前記絶縁性接着層における前記シランカップリング剤の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記絶縁性接着層100質量部に対して、0.1質量部〜3.0質量部が好ましく、0.5質量部〜2.0質量部がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said silane coupling agent in the said insulating contact bonding layer, Although it can select suitably according to the objective, 0.1 mass with respect to 100 mass parts of said insulating contact bonding layers. Part to 3.0 parts by weight is preferable, and 0.5 part to 2.0 parts by weight is more preferable.

前記絶縁性接着層の平均厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、5μm〜50μmが好ましく、7μm〜30μmがより好ましく、10μm〜15μmが特に好ましい。
ここで、前記平均厚みは、任意に前記絶縁性接着層の5箇所の厚みを測定した際の算術平均値である。
There is no restriction | limiting in particular as average thickness of the said insulating contact bonding layer, Although it can select suitably according to the objective, 5 micrometers-50 micrometers are preferable, 7 micrometers-30 micrometers are more preferable, and 10 micrometers-15 micrometers are especially preferable.
Here, the said average thickness is an arithmetic mean value at the time of measuring the thickness of five places of the said insulating contact bonding layers arbitrarily.

前記異方性導電フィルムの平均厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。   There is no restriction | limiting in particular as average thickness of the said anisotropic conductive film, According to the objective, it can select suitably.

(接続方法)
本発明の接続方法は、第1の配置工程と、第2の配置工程と、活性エネルギー線照射工程と、加熱押圧工程とを少なくとも含み、更に必要に応じて、その他の工程を含む。
前記接続方法は、配線基板の配線と電子部品の端子とを異方性導電フィルムにより接続させる接続方法である。
(Connection method)
The connection method of the present invention includes at least a first arrangement step, a second arrangement step, an active energy ray irradiation step, and a heating and pressing step, and further includes other steps as necessary.
The connection method is a connection method in which the wiring of the wiring board and the terminal of the electronic component are connected by an anisotropic conductive film.

<第1の配置工程>
前記第1の配置工程は、配線基板の配線上に、本発明の前記異方性導電フィルムを配置する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
前記第1の配置工程においては、配線基板の配線上に、前記異方性導電フィルムを、前記導電性粒子含有層が前記配線と接するように配置することが好ましい。
<First arrangement step>
The first disposing step is not particularly limited as long as it is a step of disposing the anisotropic conductive film of the present invention on the wiring of the wiring board, and can be appropriately selected according to the purpose.
In the first arrangement step, it is preferable that the anisotropic conductive film is arranged on the wiring of the wiring board so that the conductive particle-containing layer is in contact with the wiring.

<<配線基板>>
前記配線基板は、基板と、配線とを少なくも有し、更に必要に応じて、その他の部材を有する。
<< wiring board >>
The wiring board includes at least a board and wiring, and further includes other members as necessary.

−基板−
前記基板としては、活性エネルギー線を透過する基板であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、プラスチック基板、ガラス基板などが挙げられる。
前記基板の形状、大きさ、構造としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
ここで、「活性エネルギー線を透過する」とは、前記活性エネルギー線硬化性樹脂組成物における硬化成分(例えば、(メタ)アクリレート樹脂)が硬化するのに必要な波長の活性エネルギー線を、前記硬化成分が硬化するのに必要な程度に透過するものであればよく、前記波長の活性エネルギー線の透過率が100%である必要はない。
-Board-
The substrate is not particularly limited as long as it is a substrate that transmits active energy rays, and can be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include a plastic substrate and a glass substrate.
There is no restriction | limiting in particular as a shape, a magnitude | size, and a structure of the said board | substrate, According to the objective, it can select suitably.
Here, “transmitting active energy rays” means that active energy rays having a wavelength necessary for curing a curing component (for example, (meth) acrylate resin) in the active energy ray-curable resin composition, Any material may be used as long as it transmits to the extent necessary for the curing component to cure, and the transmittance of the active energy ray having the above wavelength does not need to be 100%.

−配線−
前記配線としては、前記活性エネルギー線を透過しない配線であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
前記配線は、前記基板上に配されている。
前記配線の材質としては、例えば、金、銀、銅、アルミニウムなどが挙げられる。
前記配線の形状、大きさ、構造としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
ここで、「活性エネルギー線を透過しない」とは、前記活性エネルギー線硬化性樹脂組成物における硬化成分(例えば、(メタ)アクリレート樹脂)が硬化するのに必要な波長の活性エネルギー線を、前記硬化成分が硬化しない程度に透過しないものであればよく、前記波長の活性エネルギー線の透過率が0%である必要はない。しかし、前記配線は、前記活性エネルギー線の透過率が0%であることが好ましい。
−Wiring−
The wiring is not particularly limited as long as it is a wiring that does not transmit the active energy ray, and can be appropriately selected according to the purpose.
The wiring is arranged on the substrate.
Examples of the material of the wiring include gold, silver, copper, and aluminum.
There is no restriction | limiting in particular as a shape, a magnitude | size, and a structure of the said wiring, According to the objective, it can select suitably.
Here, “does not transmit active energy rays” means that active energy rays having a wavelength necessary for curing a curing component (for example, (meth) acrylate resin) in the active energy ray-curable resin composition, Any material that does not transmit the cured component to the extent that it does not cure may be used, and the transmittance of the active energy ray having the above-described wavelength does not need to be 0%. However, the wiring preferably has a transmittance of 0% for the active energy rays.

<第2の配置工程>
前記第2の配置工程としては、前記異方性導電フィルム上に、前記電子部品を、前記電子部品の前記端子が前記異方性導電フィルムと接するように配置する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記導電性粒子含有層の前記熱硬化性樹脂の硬化温度よりも低い温度、且つできるだけ高温で前記異方性導電フィルムを加熱及び押圧する仮固定処理を含むことが、隣接電極間のショート防止と、対向電極間の導通とを高度に両立できる点で、好ましい。この際には、通常よりも高い圧力(例えば、5MPa〜40MPa)で押圧することが好ましい。また、加熱及び押圧の時間としては、0.5秒間〜2秒間が好ましい。
ここで、「熱硬化性樹脂の硬化温度」は、レオメータによる溶融粘度測定(昇温速度30℃/min)の際の、最低溶融粘度を示す温度である。
また、「前記導電性粒子含有層の前記熱硬化性樹脂の硬化温度よりも低い温度、且つできるだけ高温」としては、前記硬化温度未満且つ前記硬化温度−10℃以上が好ましく、前記硬化温度未満且つ前記硬化温度−5℃以上がより好ましい。
<Second arrangement step>
The second arrangement step is not particularly limited as long as it is a step of arranging the electronic component on the anisotropic conductive film so that the terminals of the electronic component are in contact with the anisotropic conductive film. However, the anisotropic conductive film is temporarily heated and pressed at a temperature lower than the curing temperature of the thermosetting resin of the conductive particle-containing layer and as high as possible. It is preferable that the fixing process is included in that the prevention of a short circuit between adjacent electrodes and the conduction between the counter electrodes can be highly compatible. In this case, it is preferable to press at a pressure higher than usual (for example, 5 MPa to 40 MPa). Further, the heating and pressing time is preferably 0.5 second to 2 seconds.
Here, the “curing temperature of the thermosetting resin” is a temperature indicating the lowest melt viscosity when the melt viscosity is measured with a rheometer (temperature increase rate: 30 ° C./min).
Moreover, as "the temperature lower than the curing temperature of the thermosetting resin of the conductive particle-containing layer and as high as possible", the curing temperature is preferably less than the curing temperature and the curing temperature of -10 ° C or more, less than the curing temperature and The curing temperature is more preferably −5 ° C. or higher.

<<電子部品>>
前記電子部品としては、接続の対象となる、端子を有する電子部品であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ICチップ、TABテープ、液晶パネルなどが挙げられる。前記ICチップとしては、例えば、フラットパネルディスプレイ(FPD)における液晶画面制御用ICチップなどが挙げられる。
<< Electronic parts >>
The electronic component is not particularly limited as long as it is an electronic component having a terminal to be connected, and can be appropriately selected according to the purpose. Examples thereof include an IC chip, a TAB tape, and a liquid crystal panel. It is done. Examples of the IC chip include a liquid crystal screen control IC chip in a flat panel display (FPD).

<活性エネルギー線照射工程>
前記活性エネルギー線照射工程としては、前記配線基板側から、前記異方性導電フィルムに前記活性エネルギー線を照射する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<Active energy ray irradiation process>
The active energy ray irradiation step is not particularly limited as long as it is a step of irradiating the anisotropic conductive film with the active energy ray from the wiring board side, and can be appropriately selected according to the purpose.

前記活性エネルギー線としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記導電性芯材を被覆する前記絶縁皮膜を硬化させやすい点で、紫外線が好ましい。前記紫外線の波長としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、200nm〜400nmなどが挙げられる。
前記活性エネルギー線の照射源としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、LEDランプ、YAGレーザ、キセノンランプ、ハロゲンランプなどが挙げられる。
前記活性エネルギー線の照射量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
There is no restriction | limiting in particular as said active energy ray, Although it can select suitably according to the objective, A ultraviolet-ray is preferable at the point which hardens | cures the said insulating film which coat | covers the said electroconductive core material. There is no restriction | limiting in particular as a wavelength of the said ultraviolet-ray, According to the objective, it can select suitably, For example, 200 nm-400 nm etc. are mentioned.
There is no restriction | limiting in particular as an irradiation source of the said active energy ray, According to the objective, it can select suitably, For example, an LED lamp, a YAG laser, a xenon lamp, a halogen lamp etc. are mentioned.
There is no restriction | limiting in particular as irradiation amount of the said active energy ray, According to the objective, it can select suitably.

前記活性エネルギー線照射工程を行うことにより、隣接電極間(配線基板上の配線間)の前記粒子における前記絶縁皮膜は、硬化する。一方、対向電極間(配線基板の配線と、電子部品の端子との間)の前記粒子における前記絶縁皮膜は硬化しない。
そのため、前記活性エネルギー線照射工程の後に行われる加熱及び押圧の際、隣接電極間の前記粒子における前記絶縁皮膜は破れず、隣接電極間の絶縁性は保たれる。一方、対向電極間の前記粒子における前記絶縁皮膜は破れ、前記導電性芯材が前記配線、及び前記端子と接触するため、対向電極間の導通が得られる。
By performing the active energy ray irradiation step, the insulating film on the particles between adjacent electrodes (between wirings on the wiring board) is cured. On the other hand, the insulating film on the particles between the counter electrodes (between the wiring of the wiring board and the terminals of the electronic component) is not cured.
Therefore, at the time of heating and pressing performed after the active energy ray irradiation step, the insulating film on the particles between the adjacent electrodes is not broken, and the insulation between the adjacent electrodes is maintained. On the other hand, since the insulating coating on the particles between the counter electrodes is broken and the conductive core material is in contact with the wiring and the terminals, conduction between the counter electrodes is obtained.

<加熱押圧工程>
前記加熱押圧工程としては、前記電子部品を加熱押圧部材により加熱及び押圧する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<Heat pressing process>
The heating and pressing step is not particularly limited as long as it is a step of heating and pressing the electronic component with a heating and pressing member, and can be appropriately selected according to the purpose.

前記加熱押圧部材としては、例えば、加熱機構を有する押圧部材などが挙げられる。前記加熱機構を有する押圧部材としては、例えば、ヒートツールなどが挙げられる。
前記加熱の温度としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、130℃〜200℃が好ましい。
前記押圧の圧力としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、40MPa〜100MPaが好ましい。
前記加熱及び押圧の時間としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、3秒間〜15秒間が好ましい。
Examples of the heating and pressing member include a pressing member having a heating mechanism. Examples of the pressing member having the heating mechanism include a heat tool.
There is no restriction | limiting in particular as temperature of the said heating, Although it can select suitably according to the objective, 130 to 200 degreeC is preferable.
There is no restriction | limiting in particular as the pressure of the said press, Although it can select suitably according to the objective, 40 MPa-100 MPa are preferable.
There is no restriction | limiting in particular as time of the said heating and a press, Although it can select suitably according to the objective, 3 seconds-15 seconds are preferable.

本発明の接続方法の一例について、図1A〜図1Dを用いて説明する。
まず、図1Aに示すように、基板1及び配線2を有する配線基板上に、導電性粒子含有層3と、絶縁性接着層4とを有する異方性導電フィルムを配置する(第1の配置工程)。この際、導電性粒子含有層3が配線2と接するように配置する。
導電性粒子含有層3は、熱硬化性樹脂と、粒子とを有する。前記粒子は、導電性芯材31と、導電性芯材31の表面に形成された絶縁皮膜32とを有する。
An example of the connection method of the present invention will be described with reference to FIGS. 1A to 1D.
First, as shown in FIG. 1A, an anisotropic conductive film having a conductive particle-containing layer 3 and an insulating adhesive layer 4 is arranged on a wiring board having a substrate 1 and a wiring 2 (first arrangement). Process). At this time, the conductive particle-containing layer 3 is disposed so as to be in contact with the wiring 2.
The conductive particle-containing layer 3 has a thermosetting resin and particles. The particles include a conductive core material 31 and an insulating film 32 formed on the surface of the conductive core material 31.

続いて、図1Bに示すように、異方性導電フィルム上に、電子部品5を、電子部品5の端子6が、前記異方性導電フィルムと接するように配置する(第2の配置工程)。
この際、導電性粒子含有層の熱硬化性樹脂の硬化温度よりも低い温度、且つできるだけ高温で、前記異方性導電フィルムを加熱及び押圧する仮固定処理を含むことが好ましい。
Subsequently, as shown in FIG. 1B, the electronic component 5 is arranged on the anisotropic conductive film so that the terminals 6 of the electronic component 5 are in contact with the anisotropic conductive film (second arrangement step). .
At this time, it is preferable to include a temporary fixing process in which the anisotropic conductive film is heated and pressed at a temperature lower than the curing temperature of the thermosetting resin of the conductive particle-containing layer and as high as possible.

続いて、図1Cに示すように、前記配線基板側から、前記異方性導電フィルムに活性エネルギー線を照射する(活性エネルギー線照射工程)。
そうすると、隣接電極間(配線基板上の配線2間)の前記粒子における絶縁皮膜32は、硬化する。一方、対向電極間(配線基板の配線2と、電子部品5の端子6との間)の前記粒子における絶縁皮膜32は硬化しない。
Then, as shown to FIG. 1C, an active energy ray is irradiated to the said anisotropic conductive film from the said wiring board side (active energy ray irradiation process).
Then, the insulating film 32 on the particles between the adjacent electrodes (between the wirings 2 on the wiring board) is cured. On the other hand, the insulating film 32 on the particles between the counter electrodes (between the wiring 2 of the wiring board and the terminal 6 of the electronic component 5) is not cured.

続いて、図1Dに示すように、電子部品を加熱押圧部材により加熱及び押圧する(加熱押圧工程)。
そうすると、隣接電極間の前記粒子における絶縁皮膜32は破れず、隣接電極間の絶縁性は保たれる。
一方、対向電極間の前記粒子の絶縁皮膜32は、前記粒子が変形する際に破れる。そうすると、導電性芯材31が、配線2、及び端子6と接触するため、対向電極間の導通が得られる。
なお、導電性粒子含有層と絶縁性接着層とで、同種の熱硬化性樹脂、膜形成樹脂、硬化剤などを用いている場合、加熱押圧工程後に、導電性粒子含有層と絶縁性接着層との界面は不明瞭になり、ほぼ一体化する。
Then, as shown to FIG. 1D, an electronic component is heated and pressed with a heating press member (heating press process).
If it does so, the insulating film 32 in the said particle | grains between adjacent electrodes will not be torn, but the insulation between adjacent electrodes will be maintained.
On the other hand, the insulating film 32 of the particles between the counter electrodes is broken when the particles are deformed. Then, since the conductive core material 31 comes into contact with the wiring 2 and the terminal 6, conduction between the counter electrodes is obtained.
When the same kind of thermosetting resin, film-forming resin, curing agent, etc. are used for the conductive particle-containing layer and the insulating adhesive layer, the conductive particle-containing layer and the insulating adhesive layer are used after the heating and pressing step. The interface with becomes unclear and almost integrated.

本発明の前記異方性導電フィルム、及び本発明の前記接続方法は、隣接電極間のショート防止と、対向電極間の導通とを両立できることから、隣接電極間のピッチが狭い(いわゆるファインピッチ)接続に好適に用いることができる。前記ピッチとしては、20μm以下でも対応可能であり、15μmでも対応可能である。   Since the anisotropic conductive film of the present invention and the connection method of the present invention can achieve both short-circuit prevention between adjacent electrodes and conduction between counter electrodes, the pitch between adjacent electrodes is narrow (so-called fine pitch). It can be suitably used for connection. The pitch can be 20 μm or less, and can be 15 μm.

以下、本発明の実施例を説明するが、本発明は、これらの実施例に何ら限定されるものではない。   Examples of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to these examples.

(製造例1)
<粒子の作製>
粒子は、導電性芯材を、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物で被覆することにより作製した。具体的には以下のようにして、作製した。
導電性芯材(AUL704、積水化学社製、平均粒子径4μm)90質量部と、粉末状の活性エネルギー線硬化性樹脂組成物〔ウレタン(メタ)アクリレート樹脂と光重合開始剤とを含有〕10質量部とを、ハイブリダイザー(株式会社奈良機械製作所製、商品名:NHSシリーズ)に入れて、処理した。なお、ハイブリダイザーにおける処理条件は、回転速度16,000rpm、反応槽温度60℃とした。
得られた粒子の平均粒子径は、4.1μmであった。
(Production Example 1)
<Preparation of particles>
The particles were prepared by coating a conductive core material with an active energy ray-curable resin composition. Specifically, it was produced as follows.
90 parts by mass of conductive core material (AUL704, manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd., average particle size 4 μm) and powdered active energy ray-curable resin composition [containing urethane (meth) acrylate resin and photopolymerization initiator] 10 The mass part was placed in a hybridizer (trade name: NHS series, manufactured by Nara Machinery Co., Ltd.) and processed. The processing conditions in the hybridizer were a rotational speed of 16,000 rpm and a reaction vessel temperature of 60 ° C.
The average particle diameter of the obtained particles was 4.1 μm.

(製造例2)
<粒子の作製>
製造例1において、ウレタン(メタ)アクリレート樹脂をエポキシ(メタ)アクリレート樹脂に代えた以外は、製造例1と同様にして、粒子を得た。
得られた粒子の平均粒子径は、4.1μmであった。
(Production Example 2)
<Preparation of particles>
Particles were obtained in the same manner as in Production Example 1 except that the urethane (meth) acrylate resin was replaced with an epoxy (meth) acrylate resin in Production Example 1.
The average particle diameter of the obtained particles was 4.1 μm.

(製造例3)
<粒子の作製>
製造例1において、導電性芯材を被覆する材料を、粉末状の活性エネルギー線硬化性樹脂組成物〔ウレタン(メタ)アクリレート樹脂と光重合開始剤とを含有〕から、ウレタン(メタ)アクリレート樹脂のみに代えた以外は、製造例1と同様にして、粒子を得た。
得られた粒子の平均粒子径は、4.1μmであった。
(Production Example 3)
<Preparation of particles>
In Production Example 1, the material for covering the conductive core material is changed from a powdery active energy ray-curable resin composition (containing a urethane (meth) acrylate resin and a photopolymerization initiator) to a urethane (meth) acrylate resin. Particles were obtained in the same manner as in Production Example 1, except that only the above was used.
The average particle diameter of the obtained particles was 4.1 μm.

(実施例1)
<異方性導電フィルムの作製>
−導電性粒子含有層の作製−
フェノキシ樹脂(品名:YP50、新日鐵住金化学株式会社製)30質量部、エポキシ樹脂(品名:EP828、三菱化学株式会社製)30質量部、アミン系硬化剤(品名:PHX3941HP、旭化成株式会社製、イミダゾール硬化剤)40質量部、シランカップリング剤(品名:A−187、モメンティブパフォーマンスマテリアルズ社製)1質量部、及び製造例1で作製した粒子35質量部を、撹拌装置(自転公転ミキサー、あわとり練太郎、シンキー社製)を用いて均一に混合した。混合後の配合物をシリコーン処理したPET(ポリエチレンテレフタレート)上に乾燥後の平均厚みが5μmとなるように塗布し、70℃で5分間乾燥し、導電性粒子含有層を作製した。
Example 1
<Preparation of anisotropic conductive film>
-Production of conductive particle-containing layer-
Phenoxy resin (Product name: YP50, manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) 30 parts by mass, Epoxy resin (Product name: EP828, manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) 30 parts by mass, Amine-based curing agent (Product name: PHX3941HP, manufactured by Asahi Kasei Corporation) , Imidazole curing agent) 40 parts by mass, silane coupling agent (product name: A-187, manufactured by Momentive Performance Materials) 1 part by mass, and 35 parts by mass of particles produced in Production Example 1 , Awatori Nerita, manufactured by Shinky Corp.). The blended mixture was applied onto a silicone-treated PET (polyethylene terephthalate) so that the average thickness after drying was 5 μm, and dried at 70 ° C. for 5 minutes to prepare a conductive particle-containing layer.

−絶縁性接着層の作製−
フェノキシ樹脂(品名:YP50、新日鐵住金化学株式会社製)25質量部、エポキシ樹脂(品名:EP828、三菱化学株式会社製)35質量部、アミン系硬化剤(品名:PHX3941HP、旭化成株式会社製、イミダゾール硬化剤)40質量部、及びシランカップリング剤(品名:A−187、モメンティブパフォーマンスマテリアルズ社製)1質量部を、撹拌装置(自転公転ミキサー、あわとり練太郎、シンキー社製)を用いて均一に混合した。混合後の配合物をシリコーン処理したPET(ポリエチレンテレフタレート)上に乾燥後の平均厚みが15μmとなるように塗布し、70℃で5分間乾燥し、絶縁性接着層を作製した。
-Production of insulating adhesive layer-
Phenoxy resin (Product name: YP50, manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) 25 parts by mass, Epoxy resin (Product name: EP828, manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) 35 parts by mass, Amine-based curing agent (Product name: PHX3941HP, manufactured by Asahi Kasei Corporation) 40 parts by mass of imidazole curing agent) and 1 part by mass of silane coupling agent (product name: A-187, manufactured by Momentive Performance Materials Co., Ltd.) with a stirrer (spinning revolving mixer, Aritori Kentaro, manufactured by Shinky Co., Ltd.) Used to mix evenly. The blended mixture was applied onto a silicone-treated PET (polyethylene terephthalate) so that the average thickness after drying was 15 μm, and dried at 70 ° C. for 5 minutes to produce an insulating adhesive layer.

得られた導電性粒子含有層と、絶縁性接着層とを貼り合わせ、異方性導電フィルムを得た。   The obtained conductive particle-containing layer and the insulating adhesive layer were bonded together to obtain an anisotropic conductive film.

<接合体の製造>
以下の方法により、COG(Chip on Glass)実装を行った。
配線基板として、ITO櫛型配線が形成された厚み0.7mmのガラス基板を用いた。
電子部品として、試験用ICチップ(サイズ:1.8mm×20mm、厚み:0.5mm、金メッキバンプのサイズ:13μm×80μm、バンプ高さ:15μm、バンプ間スペース:12μm)を用いた。
前記配線基板の配線上に、異方性導電フィルムを導電性粒子含有層が前記配線と接するように配置した。続いて、異方性導電フィルムの絶縁性接着層上に前記電子部品を配置し、平均厚み50μmのテフロン(登録商標)シートを緩衝材として用い、加熱ツールにより、100℃、10MPa、1秒間の条件で、前記電子部品を加熱及び押圧し、仮固定を行った。続いて、前記配線基板側から、前記異方性導電フィルムに、UV照射(400mW×2sec照射、オムロン社製 UV LED光源、ZUV−C20H, ZUV−H20MCを使用)を行った。続いて、平均厚み50μmのテフロン(登録商標)シートを緩衝材として用い、加熱ツールにより、200℃、60MPa、5秒間の条件で、前記電子部品を加熱及び押圧し、接続を行い、接合体を得た。
<Manufacture of joined body>
COG (Chip on Glass) mounting was performed by the following method.
A glass substrate having a thickness of 0.7 mm on which an ITO comb wiring was formed was used as the wiring substrate.
As an electronic component, a test IC chip (size: 1.8 mm × 20 mm, thickness: 0.5 mm, gold-plated bump size: 13 μm × 80 μm, bump height: 15 μm, bump space: 12 μm) was used.
On the wiring of the wiring substrate, an anisotropic conductive film was disposed so that the conductive particle-containing layer was in contact with the wiring. Subsequently, the electronic component is disposed on the insulating adhesive layer of the anisotropic conductive film, and a Teflon (registered trademark) sheet having an average thickness of 50 μm is used as a buffer material. Under the conditions, the electronic component was heated and pressed, and temporarily fixed. Subsequently, UV irradiation (400 mW × 2 sec irradiation, UV LED light source manufactured by OMRON Corporation, ZUV-C20H, ZUV-H20MC was used) was performed on the anisotropic conductive film from the wiring board side. Subsequently, a Teflon (registered trademark) sheet having an average thickness of 50 μm is used as a buffer material, and the electronic component is heated and pressed under the conditions of 200 ° C., 60 MPa, and 5 seconds with a heating tool to perform connection, Obtained.

<評価>
以下の評価に供した。結果を表1−1に示した。
<Evaluation>
It used for the following evaluation. The results are shown in Table 1-1.

<<ショート発生確率>>
上記で作製した接合体について、ハイレジスタンスメータ(品番:ハイレジスタンスメータ 4339B、Agilent社製)を用いて16chの端子間の抵抗値(Ω)を測定した。具体的には、2端子法にて電圧30Vを印加したときの抵抗値が10Ω以下のchをショートとみなし、以下の評価基準で評価を行った。
〔評価基準〕
○:ショートが発生したchの数が、0
△:ショートが発生したchの数が、1〜2
×:ショートが発生したchの数が、3〜16
<< Short occurrence probability >>
About the joined body produced above, the resistance value (Ω) between the terminals of 16ch was measured using a high resistance meter (product number: high resistance meter 4339B, manufactured by Agilent). Specifically, a ch having a resistance value of 10 8 Ω or less when a voltage of 30 V was applied by the two-terminal method was regarded as a short, and evaluation was performed according to the following evaluation criteria.
〔Evaluation criteria〕
○: The number of channels with a short circuit is 0
Δ: The number of channels with a short circuit is 1-2
X: The number of channels in which a short circuit occurred is 3 to 16

<<導通抵抗値>>
上記で作製した接合体について、デジタルマルチメータ(品番:デジタルマルチメータ7555、横河電機社製)を用いて30chの端子−ITO配線間の抵抗値(Ω)を測定した。具体的には、4端子法にて電流1mAを流したときの、85℃85%RHで500時間経過後の抵抗値(導通抵抗値、Ω)を測定した。以下の評価基準で評価を行った。
〔評価基準〕
○:10Ω未満
△:10Ω以上50Ω未満
×:50Ω以上
<< Conduction resistance value >>
About the joined body produced above, the resistance value (Ω) between the 30ch terminal and the ITO wiring was measured using a digital multimeter (product number: digital multimeter 7555, manufactured by Yokogawa Electric Corporation). Specifically, the resistance value (conduction resistance value, Ω) after lapse of 500 hours was measured at 85 ° C. and 85% RH when a current of 1 mA was passed by the four-terminal method. Evaluation was performed according to the following evaluation criteria.
〔Evaluation criteria〕
○: Less than 10Ω Δ: 10Ω or more and less than 50Ω ×: 50Ω or more

(実施例2〜7、及び比較例1〜3)
<異方性導電フィルムの作製、及び接合体の製造>
実施例1において、導電性粒子含有層(ACF層)の組成、絶縁性接着層(NCF層)の組成、及びそれらの平均厚み、仮固定時の加熱及び押圧条件、並びにUV照射の有無を、表1−1、及び表1−2に記載のとおりに変更した以外は、実施例1と同様にして、異方性導電フィルムの作製、及び接合体の製造を行った。
実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−1、及び表1−2に示した。
(Examples 2-7 and Comparative Examples 1-3)
<Production of anisotropic conductive film and production of joined body>
In Example 1, the composition of the conductive particle-containing layer (ACF layer), the composition of the insulating adhesive layer (NCF layer), and their average thickness, heating and pressing conditions during temporary fixing, and the presence or absence of UV irradiation, Except having changed as described in Table 1-1 and Table 1-2, it carried out similarly to Example 1, and produced the anisotropic conductive film and manufacture of the conjugate | zygote.
Evaluation similar to Example 1 was performed. The results are shown in Table 1-1 and Table 1-2.

Figure 2016072239
Figure 2016072239

Figure 2016072239
表1−1、及び表1−2中、AUL−704は、導電性粒子(Ni/Auメッキ、樹脂コア、積水化学工業株式会社製、平均粒子径4μm)である。PKHHは、フェノキシ樹脂(巴化学工業株式会社製)である。JER806は、ビスフェノールF型エポキシ樹脂(三菱化学株式会社製)である。
Figure 2016072239
In Table 1-1 and Table 1-2, AUL-704 is conductive particles (Ni / Au plating, resin core, manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd., average particle diameter 4 μm). PKHH is a phenoxy resin (manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd.). JER806 is a bisphenol F type epoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).

実施例1〜7では、ショート発生防止と、導通確保とが両立できていた。
導電性粒子含有層の平均厚みが5μm〜8μmである場合に、特に優れた結果が得られた(実施例1〜2、実施例5〜7参照)。
導電性粒子含有層の平均厚みが、8μmを超えると、対向電極間における粒子の捕捉性が若干低下する。また、活性エネルギー線が、配線の側面から回折して対向電極間の粒子に届き、対向電極間の粒子の絶縁皮膜も若干硬化する。さらに、基板から遠い粒子にも活性エネルギー線が届きにくくなる。それらの結果により、導電性粒子含有層の平均厚みが8μmを超えると、ショート発生防止と、導通確保とが、導電性粒子含有層の平均厚みが5μm〜8μmである場合よりも低下した。
第2の配置工程において、導電性粒子含有層の熱硬化性樹脂の硬化温度よりも低い温度、且つできるだけ高温(前記硬化温度未満且つ前記硬化温度−10℃以上)で、異方性導電フィルムを加熱及び押圧する場合(実施例1〜2、実施例5〜7参照)の方が、そうしない場合(実施例4)よりも、導通抵抗値が優れていた。
比較例1〜4では、ショート発生防止と、導通確保とが、両立できなかった。従来の絶縁コート導電性粒子を用いた比較例3でも、ファインピッチ12μmには対応できず、ショート発生防止と、導通確保とが、両立できなかった。
In Examples 1 to 7, it was possible to achieve both prevention of occurrence of short circuit and securing of conduction.
When the average thickness of the conductive particle-containing layer was 5 μm to 8 μm, particularly excellent results were obtained (see Examples 1-2 and Examples 5-7).
When the average thickness of the conductive particle-containing layer exceeds 8 μm, the trapping property of the particles between the counter electrodes is slightly lowered. Further, the active energy rays are diffracted from the side surface of the wiring and reach the particles between the counter electrodes, and the insulating film of the particles between the counter electrodes is also slightly cured. Furthermore, it becomes difficult for active energy rays to reach particles far from the substrate. According to these results, when the average thickness of the conductive particle-containing layer exceeded 8 μm, prevention of short-circuiting and securing of conduction were reduced as compared with the case where the average thickness of the conductive particle-containing layer was 5 μm to 8 μm.
In the second arrangement step, the anisotropic conductive film is formed at a temperature lower than the curing temperature of the thermosetting resin of the conductive particle-containing layer and as high as possible (less than the curing temperature and the curing temperature of −10 ° C. or more). When heated and pressed (see Examples 1-2 and Examples 5-7), the conduction resistance value was superior to when not (Example 4).
In Comparative Examples 1 to 4, prevention of short-circuiting and securing of conduction were not compatible. Even in Comparative Example 3 using conventional insulating coat conductive particles, it was not possible to cope with a fine pitch of 12 μm, and it was impossible to achieve both prevention of short-circuiting and ensuring of conduction.

本発明の前記異方性導電フィルム、及び本発明の前記接続方法は、隣接電極間のショート防止と、対向電極間の導通とを両立できることから、隣接電極間のピッチが狭い(いわゆるファインピッチ)接続に好適に用いることができる。   Since the anisotropic conductive film of the present invention and the connection method of the present invention can achieve both short-circuit prevention between adjacent electrodes and conduction between counter electrodes, the pitch between adjacent electrodes is narrow (so-called fine pitch). It can be suitably used for connection.

1 基板
2 配線
3 導電性粒子含有層
31 導電性芯材
32 絶縁皮膜
4 絶縁性接着層
5 電子部品
6 端子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board | substrate 2 Wiring 3 Conductive particle content layer 31 Conductive core material 32 Insulating film 4 Insulating adhesive layer 5 Electronic component 6 Terminal

Claims (6)

導電性芯材、及び前記導電性芯材の表面に活性エネルギー線硬化性樹脂組成物から形成された絶縁皮膜を有する粒子、並びに熱硬化性樹脂を含有する導電性粒子含有層と、
熱硬化性樹脂を含有する絶縁性接着層と、
を有することを特徴とする異方性導電フィルム。
A conductive core material, particles having an insulating film formed from an active energy ray-curable resin composition on the surface of the conductive core material, and a conductive particle-containing layer containing a thermosetting resin;
An insulating adhesive layer containing a thermosetting resin;
An anisotropic conductive film comprising:
導電性粒子含有層の平均厚みが、絶縁性接着層の平均厚み未満である請求項1に記載の異方性導電フィルム。   The anisotropic conductive film according to claim 1, wherein the average thickness of the conductive particle-containing layer is less than the average thickness of the insulating adhesive layer. 活性エネルギー線硬化性樹脂組成物が、(メタ)アクリレート樹脂を含有する請求項1から2のいずれかに記載の異方性導電フィルム。   The anisotropic conductive film according to claim 1, wherein the active energy ray-curable resin composition contains a (meth) acrylate resin. 導電性粒子含有層が、アニオン系硬化剤を含有し、
絶縁性接着層が、アニオン系硬化剤を含有する、
請求項1から3のいずれかに記載の異方性導電フィルム。
The conductive particle-containing layer contains an anionic curing agent,
The insulating adhesive layer contains an anionic curing agent;
The anisotropic conductive film in any one of Claim 1 to 3.
活性エネルギー線を透過する基板、及び前記活性エネルギー線を透過しない配線を有する配線基板の前記配線と、電子部品の端子とを接続させる接続方法であって、
前記配線基板の前記配線上に、請求項1から4のいずれかに記載の異方性導電フィルムを配置する第1の配置工程と、
前記異方性導電フィルム上に、前記電子部品を、前記電子部品の前記端子が前記異方性導電フィルムと接するように配置する第2の配置工程と、
前記配線基板側から、前記異方性導電フィルムに前記活性エネルギー線を照射する活性エネルギー線照射工程と、
前記電子部品を加熱押圧部材により加熱及び押圧する加熱押圧工程とを含むことを特徴とする接続方法。
A connection method for connecting the wiring of a wiring board having a substrate that transmits active energy rays and a wiring that does not transmit active energy rays, and a terminal of an electronic component,
A first disposing step of disposing the anisotropic conductive film according to any one of claims 1 to 4 on the wiring of the wiring substrate;
A second disposing step of disposing the electronic component on the anisotropic conductive film so that the terminal of the electronic component is in contact with the anisotropic conductive film;
An active energy ray irradiating step of irradiating the anisotropic conductive film with the active energy ray from the wiring board side;
And a heating and pressing step of heating and pressing the electronic component with a heating and pressing member.
第2の配置工程が、導電性粒子含有層の熱硬化性樹脂の硬化温度未満且つ前記硬化温度−10℃以上で、前記異方性導電フィルムを加熱及び押圧する仮固定処理を含む請求項5に記載の接続方法。   The second disposing step includes a temporary fixing process in which the anisotropic conductive film is heated and pressed at a temperature lower than the curing temperature of the thermosetting resin of the conductive particle-containing layer and at the curing temperature of -10 ° C or higher. The connection method described in 1.
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