JP2016041218A - データ処理方法及びｏｃｔ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】スウェプトソース光コヒーレンストモグラフィー（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）において、より高精度に固定パターンノイズの除去が可能な技術を提供する。
【解決手段】所定の波長掃引範囲を有する波長掃引光源を用いたスウェプトソースＯＣＴの手法によりＡラインごとに収集された収集データを処理するデータ処理方法は、所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された収集データを取得し、取得された収集データから所定の波長幅を有し基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成し、生成された処理データに基づいて当該Ａラインの画像を形成する。
【選択図】図５

Description

この発明は、光コヒーレンストモグラフィー（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下、ＯＣＴ）の手法により収集された収集データを処理するデータ処理方法及びＯＣＴ装置に関する。

近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成するＯＣＴが注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。たとえば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化されている。このようなＯＣＴの手法を用いた装置（ＯＣＴ装置）は被検眼の様々な部位の観察に適用可能であり、また高精細な画像を取得できることから、様々な眼科疾患の診断に応用されている。

ＯＣＴ装置の中でフーリエドメインＯＣＴの手法を用いた装置では、取得された収集データに固定パターンノイズ（Ｆｉｘｅｄ Ｐａｔｔｅｒｎ Ｎｏｉｓｅ：以下、ＦＰＮ）が潜在し、場合によっては除去しきれずに画像上に顕在化して画質を低下させることが知られている。

図１９に、ＦＰＮの説明図を示す。図１９は、所定の被測定物体の断層像（Ｂスキャン画像）ＩＭＧ２の一例を表す。断層像ＩＭＧ２の縦方向は深度方向（ｚ方向）を表し、横方向は走査方向（ｘｙ平面における所定方向）を表す。ＯＣＴ装置内に設けられた走査手段は、被測定物体に対して信号光の照射位置を走査方向に走査する。断層像ＩＭＧ２は、各照射位置におけるＡスキャン画像を走査方向に並べることにより取得される。図１９では、断層像ＩＭＧ２は、たとえば１０２４ライン分のＡスキャン画像を用いて構成される。Ａスキャン画像は、当該Ａラインにおける反射強度プロファイルを表し、この反射強度プロファイルは、当該Ａラインにおける干渉光のスペクトルに基づいて取得される。断層像ＩＭＧ２には、被測定物体の形態に対応する信号ＳＧ１に加え、ノイズＮ１、Ｎ２が描出されている。ノイズＮ１、Ｎ２は、信号光の照射位置（Ａラインの位置）にかかわらず、所定の深度方向の位置におけるＦＰＮとして描出される。

スペクトラルドメインＯＣＴの手法を用いた装置（以下、ＳＤ−ＯＣＴ）では、たとえば各照射位置におけるＡライン方向に平均スペクトルを算出し、測定されたスペクトルから平均スペクトルを差し引くことにより、図１９に示すようなＦＰＮを除去することができる。

しかしながら、スウェプトソースＯＣＴの手法を用いた装置（以下、ＳＳ−ＯＣＴ）では、ＳＤ−ＯＣＴと同様の手法を用いても、図１９に示すようなＦＰＮを除去することができない。この要因として、光源の制御タイミングと光源からの光の出射タイミングとの間の時間軸方向の揺らぎ（ジッター）等が考えられている。さらに、ジッタ―の影響により、ＳＳ−ＯＣＴはＳＤ−ＯＣＴに比べて位相情報を用いた画像化（Ｄｏｐｐｌｅｒ ＯＣＴ、Ｐｈａｓｅ Ｖａｒｉａｎｃｅ ＯＣＴなど）に不向きであると考えられている。

このようなＳＳ−ＯＣＴにおけるジッターの影響を低減する手法については、非特許文献１や非特許文献２に開示されている。非特許文献１や非特許文献２には、ファイバーブラッググレーティング（Ｆｉｂｅｒ Ｂｒａｇｇ Ｇｒａｔｉｎｇ：以下、ＦＢＧ）によりトリガー信号を生成し、生成されたトリガー信号を基準に干渉光の位相を合わせてから画像を形成することによりＦＰＮの除去を行う手法が開示されている。

Ｍｅｎｇ−Ｔｓａｎ Ｔｓａｉ ｅｔ ａｌ．、"Ｍｉｃｒｏｖａｓｃｕｌａｒ Ｉｍａｇｉｎｇ Ｕｓｉｎｇ Ｓｗｅｐｔ−Ｓｏｕｒｃｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ ｗｉｔｈ Ｓｉｎｇｌｅ−Ｃｈａｎｎｅｌ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ"、Ａｐｐｌｉｅｄ Ｐｈｙｓｉｃｓ Ｅｘｐｒｅｓｓ ４（２０１１）、ｐｐ．０９７００１−１〜０９７００１−３ ＷｏｏＪｈｏｎ Ｃｈｏｉ ｅｔ ａｌ．、"Ｐｈａｓｅ−ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ ｓｗｅｐｔ−ｓｏｕｒｃｅ ｏｐｔｉｃａｌ ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ ｉｍａｇｉｎｇ ｏｆ ｔｈｅ ｈｕｍａｎ ｒｅｔｉｎａ ｗｉｔｈ ａ ｖｅｒｔｉｃａｌ ｃａｖｉｔｙ ｓｕｒｆａｃｅ−ｅｍｉｔｔｉｎｇ ｌａｓｅｒ ｌｉｇｈｔ ｓｏｕｒｃｅ"、ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴＴＥＲＳ、Ｖｏｌ．３８、Ｎｏ．３、２０１３ Ｆｅｂｒｕａｒｙ １、ｐｐ．３３８−３４０

しかしながら、非特許文献１や非特許文献２に開示された手法であっても、干渉光のスペクトルの振幅とトリガー信号の振幅との関係やトリガー信号のサンプリング間隔によってはＦＰＮを除去することができない場合がある。

この発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、ＳＳ−ＯＣＴにおいて、より高精度にＦＰＮの除去が可能な技術を提供することにある。

上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、所定の波長掃引範囲を有する波長掃引光源を用いたスウェプトソースＯＣＴの手法によりＡラインごとに収集された収集データを処理するデータ処理方法であって、前記所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された収集データを取得し、取得された前記収集データから所定の波長幅を有し前記基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成し、生成された前記処理データに基づいて当該Ａラインの画像を形成するデータ処理方法である。
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載のデータ処理方法であって、前記処理データの境界近傍またはその外部の特定波長位置に前記基準信号が配置される。
また、請求項３に記載の発明は、請求項１または請求項２に記載のデータ処理方法であって、前記所定の波長幅を有する窓関数を前記収集データに適用することにより前記処理データを生成する。
また、請求項４に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載のデータ処理方法であって、前記波長掃引光源から出射して参照光路を通過した光における前記所定の波長位置に前記基準信号を付与して生成された光を検出して得られた参照データを取得し、互いの基準信号の位相が一致された前記収集データと前記参照データとの差分データを求め、前記求められた前記差分データに基づいて前記処理データを生成する。
また、請求項５に記載の発明は、請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載のデータ処理方法であって、取得された前記収集データのうち前記基準信号と前記所定の波長位置関係にある部分データの幅が前記所定の波長幅よりも狭い場合、前記部分データに補間データを付加して得られたデータに基づいて前記処理データを生成する。
また、請求項６に記載の発明は、請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載のデータ処理方法であって、取得された前記収集データのうち前記基準信号と前記所定の波長位置関係にある部分データの幅が前記所定の波長幅よりも狭い場合、前記部分データと同じ波長幅を有する前記処理データを生成する。
また、請求項７に記載の発明は、請求項２に記載のデータ処理方法であって、前記処理データの内部、且つ、その境界近傍に前記基準信号が配置される場合、前記収集データにおける少なくとも前記基準信号の近傍領域のデータを加工する。
また、請求項８に記載の発明は、請求項７に記載のデータ処理方法であって、前記近傍領域の周囲のデータに基づいて前記近傍領域のデータの値域を設定し、設定された前記値域に基づいて前記近傍領域のデータを加工する。
また、請求項９に記載の発明は、請求項８に記載のデータ処理方法であって、前記周囲のデータのうち前記近傍領域に隣接するデータ以外のデータに基づいて前記値域を設定する。
また、請求項１０に記載の発明は、請求項１〜請求項９のいずれか一項に記載のデータ処理方法であって、取得された前記収集データの強度を所定の方向に沿って順に参照することにより前記基準信号に相当するデータ位置を特定し、特定された前記データ位置と前記所定の波長位置関係になるように前記処理データを生成する。
また、請求項１１に記載の発明は、所定の波長掃引範囲を有する波長掃引光源を用いたスウェプトソースＯＣＴの手法により収集データをＡラインごとに収集するＯＣＴ装置であって、前記所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された収集データを取得する取得部と、取得された前記収集データから所定の波長幅を有し前記基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成し、生成された前記処理データに基づいて当該Ａラインの画像を形成する画像形成部と、を含むＯＣＴ装置である。
また、請求項１２に記載の発明は、請求項１１に記載のＯＣＴ装置であって、前記取得部は、前記基準信号の半値幅以下の周期でスウェプトソースＯＣＴの手法によって生成される干渉信号をサンプリングすることにより前記収集データを取得する。
また、請求項１３に記載の発明は、請求項１１または請求項１２に記載のＯＣＴ装置であって、前記処理データの境界近傍またはその外部の特定波長位置に前記基準信号が配置される。
また、請求項１４に記載の発明は、請求項１１〜請求項１３のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置であって、前記画像形成部は、前記所定の波長幅を有する窓関数を前記収集データに適用することにより前記処理データを生成する。
また、請求項１５に記載の発明は、請求項１１〜請求項１４のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置であって、前記取得部は、前記波長掃引光源から出射して参照光路を通過した光における前記所定の波長位置に前記基準信号を付与して生成された光を検出して得られた参照データを取得し、前記画像形成部は、互いの基準信号の位相が一致された前記収集データと前記参照データとの差分データを求め、求められた前記差分データに基づいて前記処理データを生成する。
また、請求項１６に記載の発明は、請求項１１〜請求項１５のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置であって、取得された前記収集データのうち前記基準信号と前記所定の波長位置関係にある部分データの幅が前記所定の波長幅よりも狭い場合、前記画像形成部は、前記部分データに補間データを付加して得られたデータに基づいて前記処理データを生成する。
また、請求項１７に記載の発明は、請求項１１〜請求項１５のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置であって、取得された前記収集データのうち前記基準信号と前記所定の波長位置関係にある部分データの幅が前記所定の波長幅よりも狭い場合、前記画像形成部は、前記部分データと同じ波長幅を有する前記処理データを生成する。
また、請求項１８に記載の発明は、請求項１３に記載のＯＣＴ装置であって、前記処理データの内部、且つ、その境界近傍に前記基準信号が配置される場合、前記画像形成部は、前記収集データにおける少なくとも前記基準信号の近傍領域のデータを加工する。
また、請求項１９に記載の発明は、請求項１８に記載のＯＣＴ装置であって、前記画像形成部は、前記近傍領域の周囲のデータに基づいて前記近傍領域のデータの値域を設定し、設定された前記値域に基づいて前記近傍領域のデータを加工する。
また、請求項２０に記載の発明は、請求項１９に記載のＯＣＴ装置であって、前記画像形成部は、前記周囲のデータのうち前記近傍領域に隣接するデータ以外のデータに基づいて前記値域を設定する。
また、請求項２１に記載の発明は、請求項１１〜請求項２０のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置であって、前記画像形成部は、取得された前記収集データの強度を所定の方向に沿って順に参照することにより前記基準信号に相当するデータ位置を特定し、特定された前記データ位置と前記所定の波長位置関係になるように前記処理データを生成する。

この発明によれば、ＳＳ−ＯＣＴにおいて、より高精度にＦＰＮの除去が可能になる。これにより、ＳＳ−ＯＣＴにおいて、従来に比べてより高精度にＦＰＮが除去された画像の取得が可能となる。

第１実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の動作の一例を表すフロー図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の動作の一例を表すフロー図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 第１実施形態の第２変形例に係る参照スペクトル及び干渉スペクトルの説明図である。 第１実施形態の第２変形例に係る差分データの説明図である。 第１実施形態の第２変形例に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 第１実施形態の第２変形例に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 第１実施形態の第３変形例に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 第１実施形態の第４変形例に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 第２実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略図である。 第２実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略図である。 第３実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略図である。 第３実施形態に係るＯＣＴ装置の構成の一例を表す概略図である。 第３実施形態に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 ＦＰＮの説明図である。

この発明に係るＯＣＴ装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。この発明に係るＯＣＴ装置は、ＯＣＴの手法を用いて被測定物体の断層像や３次元画像を形成する。この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。

以下の実施形態では、被測定物体を生体眼（被検眼、眼底）とし、フーリエドメインタイプのＯＣＴの手法を用いて眼底のＯＣＴ計測を行うＯＣＴ装置が適用された眼底撮影装置について説明する。特に、実施形態に係る眼底撮影装置は、スウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を用いて眼底のＯＣＴ画像を取得することが可能であり、さらに、眼底を撮影することにより眼底像を取得することが可能である。また、この実施形態ではＯＣＴ装置と眼底カメラとを組み合わせた装置について説明するが、眼底カメラ以外の眼底撮影装置、たとえばＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）、スリットランプ、眼科手術用顕微鏡などに、この実施形態に係る構成を有するＯＣＴ装置を組み合わせることも可能である。また、この実施形態に係る構成を、単体のＯＣＴ装置に組み込むことも可能である。

〔第１実施形態〕
［構成］
図１〜図３に示すように、眼底撮影装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、眼底のＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。

〔眼底カメラユニット〕
図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを角膜側から見た正面画像（眼底像）を取得するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、たとえば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、たとえば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像、又は近赤外光若しくは可視光を照明光として用いたモノクロの静止画像であってもよい。眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、たとえばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。

眼底カメラユニット２には、被検者の顔を支持するための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、照明光学系１０と撮影光学系３０とが設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ（単にＣＣＤと呼ぶことがある）３５、３８。）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの信号光を眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光をＯＣＴユニット１００に導く。

照明光学系１０の観察光源１１は、たとえばハロゲンランプにより構成される。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆを照明する。なお、観察光源としてＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）を用いることも可能である。

観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ２２により屈折され、ダイクロイックミラー４６を透過し、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ミラー３２により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー３３Ａを透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、たとえば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された眼底反射光に基づく画像（観察画像）が表示される。なお、撮影光学系３０のピントが前眼部に合わせられている場合、被検眼Ｅの前眼部の観察画像が表示される。

撮影光源１５は、たとえばキセノンランプにより構成される。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された眼底反射光に基づく画像（撮影画像）が表示される。なお、観察画像を表示する表示装置３と撮影画像を表示する表示装置３は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。また、被検眼Ｅを赤外光で照明して同様の撮影を行う場合には、赤外の撮影画像が表示される。また、撮影光源としてＬＥＤを用いることも可能である。

ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用指標を表示する。固視標は被検眼Ｅを固視させるための指標であり、眼底撮影時やＯＣＴ計測時などに使用される。

ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー３３Ａにて反射され、ミラー３２に反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過し、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。被検眼Ｅの固視位置としては、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。また、固視標の表示位置を任意に変更することも可能である。

更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系５０とフォーカス光学系６０が設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための指標（アライメント指標）を生成する。フォーカス光学系６０は、眼底Ｅｆに対してフォーカス（ピント）を合わせるための指標（スプリット指標）を生成する。

アライメント光学系５０のＬＥＤ５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過し、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜に投影される。

アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２、ダイクロイックミラー４６及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ミラー３２により反射され、ハーフミラー３３Ａを透過し、ダイクロイックミラー３３に反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント指標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい（オートアライメント機能）。

フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット指標板６３により２つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５に反射され、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット指標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う（オートフォーカス機能）。また、スプリット指標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。

ダイクロイックミラー４６は、眼底撮影用の光路からＯＣＴ計測用の光路を分岐させている。ダイクロイックミラー４６は、ＯＣＴ計測に用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。このＯＣＴ計測用の光路には、ＯＣＴユニット１００側から順に、コリメータレンズユニット４０と、光路長変更部４１と、ガルバノスキャナ４２と、合焦レンズ４３と、ミラー４４と、リレーレンズ４５とが設けられている。

光路長変更部４１は、図１に示す矢印の方向に移動可能とされ、ＯＣＴ計測用の光路の光路長を変更する。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部４１は、たとえばコーナーキューブと、これを移動する機構とを含んで構成される。

ガルバノスキャナ４２は、ＯＣＴ計測用の光路を通過する光（信号光ＬＳ）の進行方向を変更する。それにより、眼底Ｅｆを信号光ＬＳで走査することができる。ガルバノスキャナ４２は、たとえば、信号光ＬＳをｘ方向に走査するガルバノミラーと、ｙ方向に走査するガルバノミラーと、これらを独立に駆動する機構とを含んで構成される。それにより、信号光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。

〔ＯＣＴユニット〕
図２を参照しつつＯＣＴユニット１００の構成の一例を説明する。ＯＣＴユニット１００には、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、波長掃引光源（波長走査光源）からの光を信号光と参照光とに分割し、眼底Ｅｆを経由した信号光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系における干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット２００に送られる。

光源ユニット１０１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、所定の波長掃引範囲で出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引光源（波長走査光源）を含んで構成される。光源ユニット１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。光源ユニット１０１から出力された光を符号Ｌ０で示す。

光源ユニット１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバ１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏光状態が調整される。偏波コントローラ１０３は、たとえばループ状にされた光ファイバ１０２に対して外部から応力を与えることで、光ファイバ１０２内を導かれる光Ｌ０の偏光状態を調整する。

偏波コントローラ１０３により偏光状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバ１０４によりファイバカプラ１０５に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束となる。平行光束となった参照光ＬＲは、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、コーナーキューブ１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲと信号光ＬＳの光路長（光学距離）を合わせるための遅延手段として作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと信号光ＬＳの分散特性を合わせるための分散補償手段として作用する。

コーナーキューブ１１４は、コリメータ１１１により平行光束となった参照光ＬＲの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ１１４に入射する参照光ＬＲの光路と、コーナーキューブ１１４から出射する参照光ＬＲの光路とは平行である。また、コーナーキューブ１１４は、参照光ＬＲの入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により参照光ＬＲの光路（参照光路）の長さが変更される。

コーナーキューブ１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３、及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバ１１７に入射し、偏波コントローラ１１８に導かれて参照光ＬＲの偏光状態が調整される。

光路長補正部材１１２、分散補償部材１１３、及びコーナーキューブ１１４は、ファイバカプラ１０５とコリメータレンズユニット４０との間に配置されていてもよい。この場合、コーナーキューブ１１４は、信号光ＬＳ及びその戻り光に双方向に移動可能とされる。この移動により信号光ＬＳの光路（信号光路）の長さが変更される。

偏波コントローラ１１８は、たとえば、偏波コントローラ１０３と同様の構成を有する。偏波コントローラ１１８により偏光状態が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ１１９によりアッテネータ１２０に導かれて、演算制御ユニット２００の制御の下で光量が調整される。アッテネータ１２０により光量が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ１２１によりファイバカプラ１２２に導かれる。

ファイバカプラ１０５により生成された信号光ＬＳは、光ファイバ１２７により導かれ、コリメータレンズユニット４０により平行光束とされる。平行光束にされた信号光ＬＳは、光路長変更部４１、ガルバノスキャナ４２、合焦レンズ４３、ミラー４４、及びリレーレンズ４５を経由してダイクロイックミラー４６に到達する。そして、信号光ＬＳは、ダイクロイックミラー４６により反射され、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに照射される。信号光ＬＳは、眼底Ｅｆの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。眼底Ｅｆによる信号光ＬＳの後方散乱光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０５に導かれ、光ファイバ１２８を経由してファイバカプラ１２２に到達する。

ファイバカプラ１２２は、光ファイバ１２８を介して入射された信号光ＬＳと、光ファイバ１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ１２２は、所定の分岐比（たとえば５０：５０）で、信号光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバカプラ１２２から出射した一対の干渉光ＬＣのうち一方の干渉光ＬＣは、光ファイバ１２３によりＦＢＧ１３０に導かれる。一対の干渉光ＬＣのうち他方の干渉光ＬＣは、光ファイバ１２４により検出器１２５に導かれる。

ＦＢＧ１３０は、光ファイバ１２３により導かれた干渉光ＬＣのうち所定の波長成分だけを反射し、且つ、それ以外の波長成分を透過させる。ＦＢＧ１３０は、たとえば光ファイバのコア部の屈折率がグレーティング周期で長手方向に変化するように形成された光学素子である。このようなＦＢＧ１３０に干渉光ＬＣが入射すると、グレーティング周期に対応したブラッグ波長に対してのみ互いに強め合う方向に干渉することにより、ブラッグ波長に対応した波長成分の光だけが反射し、それ以外の波長成分の光が透過する。したがって、ブラッグ波長（所定の波長）に対応したグレーティング周期で光ファイバのコア部の屈折率が変化するように形成することで、当該ブラッグ波長の波長成分だけを反射するＦＢＧが得られる。

この実施形態では、後述の参照スペクトルと干渉スペクトルとの位相補正を行うための後述の基準信号が各スペクトルの所定の波長位置に配置される。そのため、ＦＢＧ１３０におけるブラッグ波長は、光源ユニット１０１内の波長掃引光源による所定の波長掃引範囲内の波長であり、且つ、後述の画像化範囲（Ｉｍａｇｉｎｇ Ｒａｎｇｅ）の境界近傍またはその外部の特定波長位置における波長とすることが可能である。このようなＦＢＧ１３０を透過した光は、光ファイバ１２６により検出器１２５に導かれる。

検出器１２５は、光ファイバ１２４、１２６により導かれた一対の干渉光をそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出信号（検出結果）の差分を出力するバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ：以下、ＢＰＤ）である。検出器１２５は、基準信号を含む収集データ（参照スペクトル、干渉スペクトル）のうち、基準信号が配置された波長位置（たとえば１つの波長位置）における波高値のみが所定の飽和値となり、基準信号以外の信号成分の波高値が飽和値より低くなるように検出信号を出力することが可能である。こうすることで、基準信号と（それ以外の）信号成分との識別が容易になり、基準信号が配置された波長位置の特定が容易になる。

この実施形態では、ＦＢＧ１３０は、少なくともブラッグ波長の波長成分を除く波長成分を有する光を透過させる。したがって、波長掃引光源によりブラッグ波長の出射光が出射されたタイミングでは、検出器１２５は、アンバランス状態の一対の干渉光を検出する。これらを検出した検出器１２５は、たとえば所定の波高値を有する検出信号を出力する。この実施形態では、たとえば一連の波長掃引毎に（Ａライン毎に）、上記の検出信号が、ＤＡＱ（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）１４０に送られる。

ＤＡＱ１４０は、光源ユニット１０１からＡトリガー信号Ａｔｒ及びｋクロックＫＣを受け、Ａトリガー信号Ａｔｒ及びｋクロックＫＣに基づいて、検出器１２５により得られた検出結果を取り込む。Ａトリガー信号Ａｔｒは、Ａライン毎に出力される波長掃引の開始タイミングに対応したトリガー信号である。Ａトリガー信号Ａｔｒは、たとえば光源ユニット１０１において生成される。ｋクロックＫＣは、掃引される波長の切り替えタイミングに対応したクロックである。画像を形成するために抽出される収集データの波長位置の範囲である画像化範囲は、Ａトリガー信号Ａｔｒの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちタイミングが早い方のエッジを基準に、所定の波長幅を有するように設定される。こうすることで、後述する参照スペクトル及び干渉スペクトルの少なくとも一方の位相の補正量（シフト量）が大きくなった場合であっても、波長掃引光源の波長掃引範囲内で画像化範囲を確保することが可能となる。

光源ユニット１０１では、図３に示すように、光源装置３００は、図示しない光源制御部からの波長掃引開始トリガー信号を受け、所定の波長掃引範囲内で波長掃引を開始する。光源装置３００により出射された光は、光ファイバ３０１により光分岐器３０２に導かれる。光分岐器３０２は、光源装置３００からの光を所定の分岐比（たとえば９５：５）で分岐することにより、光Ｌ０（９５％）と分岐光（５％）とを生成する。光Ｌ０は、光ファイバ３０３を介して出射端３０４より出射される。

一方、光分岐器３０２により生成された分岐光は、光ファイバ３０５により光分岐器３０６に導かれる。光分岐器３０６は、この分岐光を所定の分岐比（たとえば５０：５０）でさらに分岐することにより、一対のサブ分岐光を生成する。光分岐器３０６により生成された一対のサブ分岐光の一方は、光ファイバ３０７により遅延光学素子３０８に導かれる。遅延光学素子３０８は、光ファイバ３０７により導かれた光を所定の光路長分だけ遅延させる。遅延光学素子３０８により遅延した光は、光ファイバ３１１によりファイバカプラ３１０に導かれる。他方のサブ分岐光は、光ファイバ３０９によりファイバカプラ３１０に導かれる。ファイバカプラ３１０は、光ファイバ３０９、３１１を介して入射された一対の光を合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ３１０は、所定の分岐比（たとえば５０：５０）で干渉光を分岐することにより、一対の干渉光を生成する。ファイバカプラ３１０から出射した一対の干渉光は、光ファイバにより検出器３１５に導かれる。検出器３１５は、たとえばＢＰＤを含むことが可能である。検出器３１５は、一対の干渉光を検出することにより、遅延光学素子３０８により遅延させた光路長分の幅を有するパルス状の検出信号を出力する。この検出信号は、光ファイバ３１２を介して出射端３１３よりｋクロックＫＣとして出力される。また、光源ユニット１０１は、波長掃引開始トリガー信号に対応したＡトリガー信号Ａｔｒを出力端子３１４より出力する。Ａトリガー信号Ａｔｒは、波長掃引開始トリガー信号であってもよいし、波長掃引開始トリガー信号に基づいて生成された信号（波長掃引開始トリガー信号から所定の遅延時間だけ遅延した信号）であってもよい。

なお、図３において、検出器３１５は、フォトダイオード（Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ：以下、ＰＤ）であってもよい。ＰＤは、ファイバカプラ３１０により生成された一対の干渉光の一方のみを検出する。

このように出力されたＡトリガー信号Ａｔｒ及びｋクロックＫＣを受け、ＤＡＱ１４０は、Ａトリガー信号Ａｔｒにより規定されるＡラインの波長掃引開始タイミングを基準に、ｋクロックＫＣにより規定される波長の切り替えタイミングで検出器１２５により得られた検出結果を取り込む。ＤＡＱ１４０は、取り込んだ検出結果を演算制御ユニット２００に送る。

演算制御ユニット２００は、たとえば一連の波長掃引毎に（Ａライン毎に）、検出器１２５により得られた検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことで断層像を形成する。演算制御ユニット２００は、形成された画像を表示装置３に表示させる。

この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。ＯＣＴユニット１００、コリメータレンズユニット４０、光路長変更部４１、ガルバノスキャナ４２、合焦レンズ４３、ミラー４４、リレーレンズ４５、及び対物レンズ２２は、この実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。この干渉光学系と演算制御ユニット２００は、この実施形態に係る「ＯＣＴ装置」の一例である。この干渉光学系は、この実施形態に係る「取得部」の一例である。

〔演算制御ユニット〕
演算制御ユニット２００の構成について説明する。演算制御ユニット２００は、検出器１２５から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様である。

また、演算制御ユニット２００は、眼底カメラユニット２、表示装置３及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。たとえば演算制御ユニット２００は、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。

また、眼底カメラユニット２の制御として、演算制御ユニット２００は、観察光源１１、撮影光源１５及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、合焦レンズ３１、４３の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、光路長変更部４１の移動制御、ガルバノスキャナ４２の動作制御などを行う。

また、ＯＣＴユニット１００の制御として、演算制御ユニット２００は、光源ユニット１０１の動作制御、コーナーキューブ１１４の移動制御、検出器１２５の動作制御、アッテネータ１２０の動作制御、偏波コントローラ１０３、１１８の動作制御などを行う。

演算制御ユニット２００は、たとえば、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼底撮影装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、各種の回路基板、たとえばＯＣＴ画像を形成するための回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。

眼底カメラユニット２、表示装置３、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００は、一体的に（つまり単一の筺体内に）構成されていてもよいし、２つ以上の筐体に別れて構成されていてもよい。

〔制御系〕
眼底撮影装置１の制御系の構成について図４及び図５を参照しつつ説明する。

（制御部）
眼底撮影装置１の制御系は、制御部２１０を中心に構成される。制御部２１０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。制御部２１０には、主制御部２１１と記憶部２１２が設けられている。

（主制御部）
主制御部２１１は前述の各種制御を行う。特に、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２の合焦駆動部３１Ａ、光路長変更部４１及びガルバノスキャナ４２、更にＯＣＴユニット１００の光源ユニット１０１、参照駆動部１１４Ａ、偏波コントローラ１０３、１１８、アッテネータ１２０、検出器１２５を制御する。

合焦駆動部３１Ａは、合焦レンズ３１を光軸方向に移動させる。それにより、撮影光学系３０の合焦位置が変更される。なお、主制御部２１１は、図示しない光学系駆動部を制御して、眼底カメラユニット２に設けられた光学系を３次元的に移動させることができる。この制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとピント合わせが実行される。トラッキングは、被検眼Ｅを動画撮影して得られる画像に基づき被検眼Ｅの位置や向きに合わせて装置光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。

参照駆動部１１４Ａは、参照光の光路に設けられたコーナーキューブ１１４を、この光路に沿って移動させる。それにより、参照光の光路長が変更される。

また、主制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。

（記憶部）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、たとえば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部２１２には、眼底撮影装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（画像形成部）
画像形成部２２０は、検出器１２５からの検出信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部２２０は、干渉光学系による干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼Ｅの画像を形成する。この処理には、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理に加えて、後述のＦＰＮを除去する処理が含まれている。

画像形成部２２０は、たとえば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。また、この明細書では、「処理データ」は、ＦＦＴを施す前のデータであるものとして説明する。また、「干渉スペクトル」は、説明の便宜上、被検眼Ｅを経由した信号光の戻り光を用いた干渉光により生成されたスペクトルとして説明する。

この実施形態では、干渉光学系は、波長掃引光源の所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された干渉スペクトルや参照スペクトルを取得する。基準信号は、上記のＦＢＧのブラッグ波長に対応した波長位置に配置された信号である。ＤＡＱ１４０は、検出器１２５により得られた検出結果を、この基準信号の半値幅以下の周期でサンプリングすることにより干渉スペクトルや参照スペクトルを収集データとして取得することが可能である。また、収集データは、干渉光学系以外の別の装置やユニットや光学系により事前に取得されたものであってもよい。

画像形成部２２０は、取得された収集データから基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成する。処理データは、波長軸上において、当該Ａラインの画像を形成するための画像化範囲に対応した所定の波長幅を有するデータである。基準信号と所定の波長位置関係にある処理データの例として、波長軸上において、処理データが有する画像化範囲の境界近傍に基準信号が配置される場合や処理データが有する画像化範囲の外部の特定波長位置に基準信号が配置される場合などがある。画像形成部２２０は、生成された処理データに基づいて当該Ａラインの画像を形成する。

画像形成部２２０は、基準信号を基準として設定される画像化範囲の処理データに基づいて画像を形成する。処理データは、基準信号を基準に位相が補正され、参照スペクトルと共通の基準信号とノイズ成分とが除去された干渉スペクトルから生成される。そのため、ジッター等に起因したＦＰＮが除去された画像の取得が可能となる。また、画像化に必要な波長位置に基準信号が配置された場合に比べて、当該波長位置における干渉スペクトルも画像化に寄与することができるため、画質の劣化を防止することが可能となる。さらに、干渉スペクトルの信号成分の振幅に対し基準信号の振幅を十分に大きくすることができるため、信号成分に基準信号が埋もれて基準信号を検出できないといった事態を回避することができ、より高精度にＦＰＮを除去することが可能となる。

このような画像形成部２２０は、たとえば、スペクトル記憶部２２１と、位相補正部２２２と、処理データ生成部２２３とを設けることにより実現される。処理データ生成部２２３は、差分算出部２２３Ａと、窓関数適用部２２３Ｂとを含んで構成される。

（スペクトル記憶部）
画像形成部２２０は、被検眼Ｅに対するＯＣＴ計測により得られた干渉スペクトルと別途取得した参照スペクトル（参照データ）とを用いることにより、処理データを生成する。参照スペクトルは、波長掃引光源から出射して参照光路を通過した光におけるブラッグ波長に対応した波長位置に基準信号を付与して生成された光を、ＯＣＴユニット１００により検出することによって取得される。たとえば、主制御部２１１により被検眼Ｅを経由した信号光ＬＳの戻り光が検出されないようにガルバノスキャナ４２を所定の方向に向けた状態で、干渉光学系は、参照スペクトルを取得することが可能である。

参照スペクトルは、たとえば干渉スペクトルの取得直前に取得される。この場合、画像形成部２２０は、取得された参照スペクトルをスペクトル記憶部２２１に記憶させる。スペクトル記憶部２２１に記憶された参照スペクトルは、ＦＦＴを施す前のデータである。

なお、ＯＣＴ計測環境や干渉光学系などの構成部材（特にＦＢＧ）の周囲環境が変化すると、処理データやそこに含まれる基準信号も変化することが知られている。そのため、参照スペクトルと干渉スペクトルの取得タイミング差ができるだけ短いことが望ましい。たとえば、ＦＢＧの周囲の温度変化の影響を最小限に抑えるため、眼底撮影装置１は、所定の時間（たとえば、１０分）ごとに参照スペクトルの取得を自動または手動で行うようにしてもよい。また、光学系の構成部材の配置状態（合焦位置など）が変化する毎に、眼底撮影装置１は、参照スペクトルの取得を自動または手動で行うようにしてもよい。また、被検者が変わる毎に、眼底撮影装置１は、参照スペクトルの取得を自動または手動で行うようにしてもよい。

（位相補正部）
干渉光学系は、波長掃引光源の所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された干渉スペクトル（干渉データ）を収集データとしてＡライン毎に取得する。位相補正部２２２は、取得された干渉スペクトルとスペクトル記憶部２２１に記憶された参照スペクトルとの位相が一致するように、干渉スペクトル及び参照スペクトルの少なくとも一方の位相を補正する。

また、参照スペクトルは、干渉スペクトルの取得直後に取得されてもよい。この場合、画像形成部２２０は、事前に取得された干渉スペクトルをスペクトル記憶部２２１に記憶させる。スペクトル記憶部２２１に記憶された干渉スペクトルは、ＦＦＴを施す前のデータである。位相補正部２２２は、取得された参照スペクトルとスペクトル記憶部２２１に記憶された干渉スペクトルとの位相が一致するように、干渉スペクトル及び参照スペクトルの少なくとも一方の位相を補正する。

このように位相補正部２２２は、互いの基準信号の位相が一致するように、干渉スペクトル及び参照スペクトルの少なくとも一方の位相を補正することが可能である。

たとえば、位相補正部２２２は、参照スペクトル及び干渉スペクトルの一方に含まれる基準信号について波長軸上おける波長位置を求める。位相補正部２２２は、信号成分より波高値が大きい信号を基準信号として検出し、検出された基準信号の波長位置を特定することが可能である。位相補正部２２２は、特定された波長位置を基準に参照スペクトル及び干渉スペクトルの他方を波長軸に沿ってシフトすることにより、互いの基準信号の位相が一致された干渉スペクトル及び参照スペクトルを得ることが可能である。

また、たとえば、位相補正部２２２は、参照スペクトル及び干渉スペクトルのそれぞれに含まれる基準信号について波長軸上における波長位置を求める。位相補正部２２２は、両者の波長位置の差がキャンセルされるように、参照スペクトル及び干渉スペクトルの少なくとも一方を波長軸に沿ってシフトすることにより、互いの基準信号の位相が一致された干渉スペクトル及び参照スペクトルを得ることが可能である。

また、たとえば、位相補正部２２２は、参照スペクトルと干渉スペクトルとの差分を求める。位相補正部２２２は、求められた各波長位置における差分の和が最小となるように、参照スペクトル及び干渉スペクトルの少なくとも一方を波長軸に沿ってシフトすることにより、互いの基準信号の位相が一致された干渉スペクトル及び参照スペクトルを得ることが可能である。

また、たとえば、位相補正部２２２は、参照スペクトルと干渉スペクトルとの相関値を求める。位相補正部２２２は、求められた相関値が最大となるように、参照スペクトル及び干渉スペクトルの少なくとも一方を波長軸に沿ってシフトすることにより、互いの基準信号の位相が一致された干渉スペクトル及び参照スペクトルを得ることが可能である。また、たとえば、参照スペクトルと干渉スペクトルの各々に対しＦＦＴを施した後、位相情報を基に相関を求める、いわゆる位相相関限定法を利用して補正することも可能である。

（処理データ生成部）
処理データ生成部２２３は、位相補正部２２２により位相が補正された干渉スペクトル（収集データ）から処理データを生成する。

この実施形態では、差分算出部２２３Ａは、位相補正部２２２により互いの基準信号の位相が一致された干渉スペクトルと参照スペクトルとの差分データを算出する。干渉スペクトル及び参照スペクトルの双方に基準信号が含まれ、且つ、両者の基準信号の位相が一致するため、差分データにおいては、基準信号が除去される。また、同一の要因に起因して干渉スペクトル及び参照スペクトルの双方に含まれるノイズ成分についても、差分データにおいては、除去される。したがって、差分データは、実質的に、本来の信号成分だけを含む。

処理データ生成部２２３（画像形成部２２０）は、差分算出部２２３Ａにより算出された差分データから処理データを生成する。たとえば、処理データ生成部２２３は、差分算出部２２３Ａにより算出された差分データを処理データとして生成することが可能である。生成された処理データは、上記のように、基準信号及びノイズ成分が除去され、且つ、本来の信号成分だけが残るデータである。

また、処理データ生成部２２３は、差分算出部２２３Ａにより算出された差分データに対して窓関数（ｓｋｅｗ Ｗｉｎｄｏｗ）を適用することにより処理データを生成することも可能である。処理データ生成部２２３では、窓関数適用部２２３Ｂが、差分データに対し窓関数を適用することにより処理データを生成する。窓関数は、上記の画像化範囲に対応した所定の波長幅を有する関数である。窓関数の例として、矩形窓、ガウス窓、ハン窓、サイン窓などを表す関数がある。この場合、生成された処理データは、窓関数にしたがって波長位置毎に重み付けされるため、画像化範囲の境界近傍に差分データに基準信号やノイズ成分が残存する場合でも、その影響をより一層低減することができるようになる。

また、窓関数適用部２２３Ｂは、位相補正部２２２により参照スペクトルとの間で互いの基準信号の位相が一致するように位相が補正された干渉スペクトルに対して窓関数を適用することにより処理データを生成することも可能である。

画像形成部２２０は、処理データ生成部２２３により生成された処理データ（スペクトル）に基づいて被検眼Ｅの画像を形成する。すなわち、画像形成部２２０は、処理データ生成部２２３により生成された処理データにＦＦＴなどを施すことで被検眼Ｅの画像を形成する。

（データ処理部）
データ処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、データ処理部２３０は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理を実行する。また、データ処理部２３０は、眼底カメラユニット２により得られた画像（眼底像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、データ処理部２３０は、トラッキングの実行時において、被検眼Ｅの前眼部を動画撮影して得られた画像を解析して被検眼Ｅの位置及び向きを求める処理を行う。

データ処理部２３０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２４０Ａ等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層像を、走査線の位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

以上のように機能するデータ処理部２３０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をマイクロプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。

（ユーザインターフェイス）
ユーザインターフェイス２４０には、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂとが含まれる。表示部２４０Ａは、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスや表示装置３を含んで構成される。操作部２４０Ｂは、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。操作部２４０Ｂには、眼底撮影装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。たとえば眼底カメラユニット２が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部２４０Ｂは、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部２４０Ａは、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

なお、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。たとえばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部２４０Ｂは、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部２４０Ｂに対する操作内容は、電気信号として制御部２１０に入力される。また、表示部２４０Ａに表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部２４０Ｂとを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。

［動作例］
眼底撮影装置１の動作について説明する。

図６に、眼底撮影装置１の動作例のフロー図を示す。この動作例には、画像に基づく被検眼Ｅと装置光学系との位置合わせの処理と、画像に基づく走査領域の設定処理とが含まれる。位置合わせの処理には、ＯＣＴ計測のためのアライメント（オートアライメント）、ピント合わせ（オートフォーカス）、トラッキング（オートトラッキング）が含まれる。

（Ｓ１）
まず、観察光源１１からの照明光（可視カットフィルタ１４により近赤外光となる）で眼底Ｅｆを連続照明することにより、眼底Ｅｆの近赤外動画像の取得を開始する。この近赤外動画像は、連続照明が終了するまでリアルタイムで得られる。この動画像を構成する各フレームの画像は、フレームメモリ（記憶部２１２）に一時記憶され、データ処理部２３０に逐次送られる。

なお、被検眼Ｅには、アライメント光学系５０によるアライメント指標と、フォーカス光学系６０によるスプリット指標とが投影されている。よって、近赤外動画像にはアライメント指標とスプリット指標とが描出されている。これら指標を用いてアライメントやピント合わせを行うことができる。また、被検眼Ｅには、ＬＣＤ３９による固視標も投影されている。被検者は、この固視標を凝視するように指示を受ける。

（Ｓ２）
データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより得られるフレームを逐次に解析して、アライメント視標の位置を求め、光学系の移動量を算出する。制御部２１０は、データ処理部２３０により算出された光学系の移動量に基づいて図示しない光学系駆動部を制御することにより、オートアライメントを行う。

（Ｓ３）
データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより得られるフレームを逐次に解析して、スプリット視標の位置を求め、合焦レンズ３１の移動量を算出する。制御部２１０は、データ処理部２３０により算出された合焦レンズ３１の移動量に基づいて合焦駆動部３１Ａを制御することにより、オートフォーカスを行う。

（Ｓ４）
続いて、制御部２１０は、オートトラッキングを開始する。具体的には、データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより逐次に得られるフレームをリアルタイムで解析して、被検眼Ｅの動き（位置の変化）を監視する。制御部２１０は、逐次に取得される被検眼Ｅの位置に合わせて光学系を移動させるように図示しない光学系駆動部を制御する。それにより、被検眼Ｅの動きに対して光学系をリアルタイムで追従させることができ、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持することが可能となる。

（Ｓ５）
制御部２１０は、近赤外動画像を表示部２４０Ａにリアルタイムで表示させる。ユーザは、操作部２４０Ｂを用いることにより、この近赤外動画像上に走査領域を設定する。設定される走査領域は１次元領域でも２次元領域でもよい。

なお、信号光ＬＳの走査態様や注目部位（視神経乳頭、黄斑部、病変部等）があらかじめ設定されている場合などには、これら設定内容に基づいて制御部２１０が走査領域を設定するように構成することも可能である。具体的には、データ処理部２３０による画像解析により注目部位を特定し、制御部２１０が、この注目部位を含むように（たとえば、この注目部位が中心に位置するように）所定パターンの領域を設定する。

また、過去に実施されたＯＣＴ計測と同じ走査領域を設定する場合（いわゆるフォローアップ）、制御部２１０は、この過去の走査領域をリアルタイム近赤外動画像上に再現して設定することができる。その具体例として、制御部２１０は、過去の検査で設定された走査領域を表す情報（走査態様等）と、この走査領域が設定された近赤外眼底像（静止画、たとえばフレームでよい）とを対応付けて記憶部２１２に記憶している（実用上は、患者ＩＤや左右眼情報とも対応付けられる）。制御部２１０は、過去の近赤外眼底像と現在の近赤外動画像のフレームとの位置合わせを行い、過去の近赤外眼底像における走査領域に対応する現在の近赤外動画像中の画像領域を特定する。これにより、過去の検査で適用された走査領域が現在の近赤外動画像に対して設定される。

（Ｓ６）
制御部２１０は、光源ユニット１０１や光路長変更部４１を制御するとともに、Ｓ５で設定された走査領域に基づいてガルバノスキャナ４２を制御することにより、眼底ＥｆのＯＣＴ計測を行う。

画像形成部２２０は、上記のように、参照スペクトルとＯＣＴ計測により得られた干渉光のスペクトルとから処理データを生成し、生成された処理データに基づいて眼底Ｅｆの当該Ａラインの断層像（画像）を形成する。走査態様が３次元スキャンである場合、データ処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された複数の断層像に基づいて眼底Ｅｆの３次元画像を形成する。以上で、この動作例は終了となる（エンド）。

なお、上記のＳ４、Ｓ５の順序を入れ替えてもよい。また、上記のＳ４、Ｓ５では、近赤外動画像を表示させ、この近赤外動画像上に走査領域を設定しているが、走査領域の設定態様はこれに限定されるものではない。たとえば、近赤外動画像における一のフレームの画像（基準画像と呼ぶ）を表示させるとともに、そのバックグラウンドでオートトラッキングを実行する。基準画像上に走査領域が設定されると、制御部２１０は、基準画像と、現にオートトラッキングに供されている画像との間の位置合わせを行うことにより、基準画像上に設定された走査領域に対応するリアルタイム近赤外動画像中の画像領域を特定する。この処理によっても上記ステップＳ４、Ｓ５と同様にリアルタイム近赤外動画像中に走査領域を設定できる。更に、この方法によれば、静止画像上に走査領域を設定することができるので、現にオートトラッキングされている動画像上に設定する場合よりも作業の容易化や確実化を図ることができる。

図７に、図６のＯＣＴ計測（Ｓ６）の動作例のフロー図を示す。図７は、事前に参照スペクトルが取得された場合の動作例を表す。図８Ａ及び図８Ｂに、図７の各ステップの動作説明図を示す。図８Ａ及び図８Ｂは、プロファイルＣ１〜Ｃ５と、干渉信号プロファイルＣ６とを表す。プロファイルＣ１〜Ｃ５は、それぞれ横軸がピクセル位置（インデックス）を表し、縦軸が強度を表す。干渉信号プロファイルＣ６は、横軸が眼底Ｅｆの深度（ｚ）方向の座標位置を表し、縦軸がパワーを表す。ピクセル位置は、ＦＦＴでの周波数（波長）に対応する変数である。波数は周波数に比例するため、ピクセル位置は波数に対応する変数でもある。また、ピクセル位置は、眼底Ｅｆの深度（ｚ）方向の座標位置にも対応する変数である。

（Ｓ１１）
スペクトル記憶部２２１には、事前に取得された当該Ａラインについての参照スペクトルが記憶されている。この参照スペクトルは、波長λ０に対応する波長位置に基準信号が配置される。図８ＡのプロファイルＣ２に示すように、ジッター等に起因して基準信号のピクセル位置がＰ０となる。また、この参照スペクトルには、ノイズ成分が含まれている。

まず、干渉光学系は、被検眼Ｅについて当該Ａラインの干渉スペクトルを取得する。この干渉スペクトルにもまた、波長λ０に対応する波長位置に基準信号が配置される。しかしながら、図８ＡのプロファイルＣ１に示すように、ジッター等に起因して基準信号のピクセル位置がＰ１となる。また、この干渉スペクトルには、参照スペクトルと同様のノイズ成分が含まれている。

（Ｓ１２）
位相補正部２２２は、Ｓ１１において取得された干渉スペクトルと事前にスペクトル記憶部２２１に記憶された参照スペクトルとの位相が一致するように、干渉スペクトルの位相を補正する。たとえば、位相補正部２２２は、スペクトル記憶部２２１に記憶された参照スペクトルに含まれる基準信号の波長位置（波長位置に対応するピクセル位置）を求め、干渉スペクトルに含まれる基準信号の波長位置が当該求められた波長位置になるように、干渉スペクトルの位相を補正する。

（Ｓ１３）
差分算出部２２３Ａは、Ｓ１２において互いの基準信号の位相が一致された干渉スペクトルと参照スペクトルとの差分データを算出する。たとえば、差分算出部２２３Ａは、波長位置毎に干渉スペクトル（図８ＡのプロファイルＣ１）と参照スペクトル（図８ＡのプロファイルＣ２）との差分を算出することにより差分データ（図８ＡのプロファイルＣ３）を算出する。図８ＡのプロファイルＣ３に示す差分データにおいては、基準信号及び両者に共通のノイズ成分が除去され、本来の信号成分だけが残る。

（Ｓ１４）
窓関数適用部２２３Ｂは、Ｓ１３において差分算出部２２３Ａにより算出された差分データに窓関数を適用することにより処理データを生成する。窓関数は、図８ＡのプロファイルＣ４に示すように画像化範囲Ｄ１に対応する所定の波長幅を有する。この実施形態では、画像化範囲Ｄ１の外部の波長位置（λ０）に基準信号が配置される。たとえば、窓関数適用部２２３Ｂは、波長位置毎に差分データ（図８ＡのプロファイルＣ３）と窓関数（図８ＡのプロファイルＣ４）とを乗算する（畳み込み積分する）ことにより処理データ（図８ＢのプロファイルＣ５）を生成する。画像化範囲Ｄ１の中央部と比較して画像化範囲Ｄ１の境界近傍の重み付けが小さい窓関数を差分データに適用することにより、画像化範囲Ｄ１内でその境界近傍に基準信号が配置されノイズ成分が残った場合であっても、その影響を抑え、画質の劣化を防止することができるようになる。

（Ｓ１５）
画像形成部２２０は、Ｓ１４において得られた処理データに対し、公知のＦＦＴを施す。画像形成部２２０は、ＦＦＴ処理により得られた実数部と虚数部とを用いて、各ピクセル位置（インデックスの値）について当該Ａラインの各画素について振幅成分を求める。図８Ｂの干渉信号プロファイルＣ６は、ＦＦＴ処理により得られた点像分布関数（Ｐｏｉｎｔ Ｓｐｒｅａｄ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ：ＰＳＦ）の一例である。

（Ｓ１６）
たとえばＢスキャン画像を構成するＡライン数（１０２４ライン）分の処理が終了したとき（ステップＳ１６：Ｎ）、画像形成部２２０は、一連の処理を終了する（エンド）。一方、Ｂスキャン画像を構成するＡライン数分の処理が終了していないとき（ステップＳ１６：Ｙ）、画像形成部２２０は、ステップＳ１１に戻って、次のＡラインについて、同様の処理を繰り返す。

１断層像を構成する全画素の振幅成分が求められると、画像形成部２２０は、たとえば、振幅成分Ａｍに対し２０×ｌｏｇ_１０（Ａｍ＋１）により対数変換を施す。その後、画像形成部２２０は、１断層像内で基準ノイズレベルを決め、この基準ノイズレベルを基準に、上記のように対数変換された振幅成分に応じて各画素に対し所定の輝度値範囲内のいずれかの値を割り当てる。画像形成部２２０は、割り当てられた各画素の輝度値を用いて画像を形成する。

図９に、この実施形態に係る処理により取得された断層像の一例を表す。図９は、図１９と同様の被測定物体の断層像（Ｂスキャン画像）であり、縦方向が深度方向（ｚ方向）を表し、横方向が走査方向（ｘｙ平面における所定方向）を表す。

図９に示す断層像ＩＭＧ１は、各照射位置におけるＡスキャン画像を走査方向に並べることにより取得される。Ａスキャン画像は、上記のように互いの基準信号の位相が一致された干渉スペクトルと参照スペクトルとの差分データに対し窓関数を適用することにより生成された処理データを用いて取得されたものである。この実施形態によれば、図１９に現れたＦＰＮが除去された断層像を安定して取得することが可能となる。

［効果］
眼底撮影装置１は、実施形態に係るＯＣＴ装置装置が適用された眼底撮影装置の一例である。以下、実施形態に係るＯＣＴ装置の効果について説明する。

ＯＣＴ装置は、所定の波長掃引範囲を有する波長掃引光源を用いたＳＳ−ＯＣＴの手法により収集データをＡラインごとに収集する。ＯＣＴ装置は、干渉光学系（取得部）と、画像形成部２２０とを含む。干渉光学系は、たとえば、ＯＣＴユニット１００、コリメータレンズユニット４０、光路長変更部４１、ガルバノスキャナ４２、合焦レンズ４３、ミラー４４、リレーレンズ４５、及び対物レンズ２２を含む。干渉光学系は、所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された収集データを取得する。画像形成部２２０は、取得された収集データから所定の波長幅を有し基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成し、生成された処理データに基づいて当該Ａラインの画像を形成する。

このような構成によれば、ＳＳ−ＯＣＴにおいて、波長掃引光源の所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された収集データを取得し、取得された収集データから、所定の波長幅を有する処理データであって基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成するようにしたので、基準信号に基づいてジッターの影響を受けない処理データの生成が可能になる。したがって、このような処理データに基づいて、ジッターに起因したＦＰＮが除去された画像の取得が可能になる。

また、干渉光学系は、基準信号の半値幅以下の周期でＳＳ−ＯＣＴの手法によって生成される干渉スペクトルをサンプリングすることにより収集データを取得してもよい。

このような構成によれば、ジッターの影響で基準信号の位相がシフトした場合でも、サンプリングされた干渉スペクトルの位相の変化を低減することができる。

また、処理データの境界近傍またはその外部の特定波長位置に基準信号が配置されてもよい。

このような構成によれば、基準信号の付与による画像への影響を最小限にすることが可能である。

また、画像形成部２２０は、所定の波長幅を有する窓関数を収集データに適用することにより処理データを生成してもよい。

このような構成によれば、窓関数により波長位置毎に重み付けすることが可能であるため、所定の波長幅内の波長位置に基準信号やノイズ成分が残存していた場合であっても、これらの波長位置の重み付けを小さくすることで、画質への影響を最小限にすることができる。

また、干渉光学系は、波長掃引光源から出射して参照光路を通過した光における所定の波長位置に基準信号を付与して生成された光を検出して得られた参照データを取得し、画像形成部２２０は、互いの基準信号の位相が一致された収集データと参照データとの差分データを求め、求められた差分データに基づいて処理データを生成してもよい。

このような構成によれば、参照データと共通の基準信号やノイズ成分を収集データから除去することが可能になるので、簡素な構成で、従来に比べてより高精度にＦＰＮが除去された画像の取得が可能となる。

また、この実施形態の構成をデータ処理方法に適用することが可能である。この場合、所定の波長掃引範囲を有する波長掃引光源を用いたＳＳ−ＯＣＴの手法によりＡラインごとに収集された収集データを処理するデータ処理方法は、所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された収集データを取得し、取得された収集データから所定の波長幅を有し基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成し、生成された処理データに基づいて当該Ａラインの画像を形成する。

また、このデータ処理方法では、処理データの境界近傍またはその外部の特定波長位置に基準信号が配置されてもよい。また、このデータ処理方法では、所定の波長幅を有する窓関数を収集データに適用することにより処理データを生成してもよい。

また、このデータ処理方法では、波長掃引光源から出射して参照光路を通過した光における所定の波長位置に基準信号を付与して生成された光を検出して得られた参照データを取得し、互いの基準信号の位相が一致された収集データと参照データとの差分データを求め、求められた差分データに基づいて処理データを生成してもよい。

〔変形例〕
上記の実施形態の変形例を説明する。以下の各変形例を、上記実施形態で説明した任意の構成に組み合わせることができる。

［第１変形例］
第１実施形態においてジッターの影響が大きい場合、基準信号に基づいて位相を補正すると、差分データや処理データの波長軸方向の幅が所定の画像化範囲に対応した波長幅より狭くなる場合がある。この場合、画像化範囲内のデータの連続性が損なわれ、このデータの不連続性がノイズとして画像に描出されてしまうことがある。

この変形例では、このような場合に、画像形成部２２０は、取得された収集データのうち、基準信号に基づいて位相が補正されたデータ（部分データ）に対して補間処理を施すことにより得られたデータに基づいて処理データを生成することが可能である。

たとえば、画像形成部２２０は、当該部分データに補間データを付加して得られたデータに基づいて処理データを生成する。補間データは、画像化範囲に対応した波長幅から当該部分データの波長軸方向の幅を差し引いた波長幅（補間データ波長幅）を有するデータである。このような補間データの例として、補間データ波長幅分の所定値（たとえば「０」）からなるデータや、補間対象の前後の値を用いた公知の補間処理により得られた補間データ波長幅分のデータなどがある。

また、画像形成部２２０は、補間処理を行うことなく、そのまま所定の波長幅を有する処理データを生成するようにしてもよい。すなわち、取得された収集データのうち、基準信号に基づいて位相が補正された部分データの波長軸方向の幅が画像化範囲に対応した波長幅よりも狭い場合、画像形成部２２０は、部分データと同じ波長幅を有する処理データを生成することも可能である。これにより、処理負荷の軽減が可能になる。

［効果］
この変形例に係るＯＣＴ装置では、取得された収集データのうち基準信号と所定の波長位置関係にある部分データの幅が所定の波長幅よりも狭い場合、画像形成部２２０は、部分データに補間データを付加して得られたデータに基づいて処理データを生成してもよい。

このような構成によれば、画像化範囲内のデータの不連続性に起因としたノイズが画像に描出されてしまう事態を回避することができる。

また、この変形例に係るＯＣＴ装置では、取得された収集データのうち基準信号と所定の波長位置関係にある部分データの幅が所定の波長幅よりも狭い場合、画像形成部は、部分データと同じ波長幅を有する処理データを生成してもよい。

［第２変形例］
第１実施形態またはその第１変形例において、基準信号（トリガー信号）のサンプリング間隔によっては、差分データに基準信号が残存し、このまま差分データに対しＦＦＴ処理を施すと、画像にノイズが描出される場合がある。

図１０Ａに、干渉スペクトルと参照スペクトルのプロファイルの一例を示す。図１０Ａは、横軸にピクセル位置を表し、縦軸に強度を表す。また、図１０Ａは、基準信号が位置するピクセル位置「１２５８」近傍の干渉スペクトルと参照スペクトルのプロファイルの一例を表す。

図１０Ｂに、差分データのプロファイルの一例を示す。図１０Ｂに示す差分データは、図１０Ａの干渉スペクトルと参照スペクトルとの差分データである。図１０Ｂは、横軸にピクセル位置を表し、縦軸に強度を表す。また、図１０Ｂは、ピクセル位置「１２５８」近傍の差分データの一例を表す。

ジッターやスペクトルのサンプリング間隔等に起因して、参照スペクトルＣ１０に含まれる基準信号及び干渉スペクトルＣ１１に含まれる基準信号は、図１０Ａに示すように、ピクセル位置「１２５８」近傍で変化の態様が他の範囲におけるそれと異なる場合がある。このような参照スペクトルＣ１０と干渉スペクトルＣ１１との差分データＣ１２においては、図１０Ｂに示すように、基準信号が残存する。基準信号が残存すると、画像化範囲内のデータの連続性が損なわれ、このデータの不連続性に起因したノイズが画像に描出されてしまうことがある。

この変形例では、画像形成部２２０は、少なくとも基準信号の近傍領域のデータを加工することで、画像化範囲内のデータの不連続性の解消を図ることが可能である。なお、この明細書では、「基準信号の近傍領域」は、基準信号を含まない領域を意味するものとする。

たとえば、画像形成部２２０は、基準信号の近傍領域の参照スペクトルと干渉スペクトルを加工する。基準信号の近傍領域の例として、基準信号が位置するピクセル位置の前後の２ピクセル、３ピクセルまたは５ピクセル分の領域などがある。

図１１Ａ及び図１１Ｂに、第２変形例に係る画像形成部２２０の動作説明図を示す。図１１Ａは、画像形成部により加工された干渉スペクトルと参照スペクトルのプロファイルの一例を示す。図１１Ａは、図１０Ａ等と同様に、横軸にピクセル位置を表し、縦軸に強度を表す。また、図１１Ａは、基準信号が位置するピクセル位置「１２５８」近傍の干渉スペクトルと参照スペクトルのプロファイルの一例を表す。図１１Ｂは、図１１Ａの干渉スペクトルと参照スペクトルとの差分データのプロファイルの一例を示す。図１１Ｂは、横軸にピクセル位置を表し、縦軸に強度を表す。また、図１１Ｂは、ピクセル位置「１２５８」近傍の差分データの一例を表す。

たとえば、画像形成部２２０は、基準信号の近傍領域の参照スペクトルと干渉スペクトルの強度を一致させる。これにより、図１１Ａに示すように、参照スペクトルＣ１０は参照スペクトルＣ１０´となり、干渉スペクトルＣ１１は干渉スペクトルＣ１１´となる。したがって、図１１Ｂに示すように、差分データＣ１２´は、基準信号の近傍領域において「０」になる。

これにより、差分データに基準信号が残存することがなくなり、ノイズの描出を抑えた画像を安定して取得することが可能になる。特に、画像化範囲内の波長位置に基準信号が配置される場合（すなわち、処理データの内部、且つ、その境界近傍に基準信号が配置される場合）、差分データに基準信号が残存することによるノイズの影響を抑えることが可能になる。

［効果］
この変形例に係るＯＣＴ装置では、処理データの内部、且つ、その境界近傍に基準信号が配置される場合、画像形成部２２０は、収集データにおける少なくとも基準信号の近傍領域のデータを加工してもよい。

このような構成によれば、差分データに基準信号が残存した場合でも、画像へのノイズの描出を抑えることが可能になる。

［第３変形例］
差分データに基準信号が残存し、このまま差分データに対しＦＦＴ処理を施すと、画像にノイズが描出される場合に、画像化範囲内のデータの不連続性を解消する手法は、第２変形例に係る手法に限定されるものではない。

第３変形例では、画像形成部２２０は、基準信号の近傍領域の周囲のデータに基づいてデータの値域を設定し、設定された値域に基づいて当該周囲のデータを加工する。

図１２に、第３変形例に係る画像形成部２２０の動作説明図を示す。図１２は、干渉スペクトルと参照スペクトルとの差分データのプロファイルの一例を示す。図１２は、横軸にピクセル位置を表し、縦軸に強度を表す。また、図１２は、ピクセル位置「１２５８」近傍の差分データの一例を表す。

図１２に示す差分データの場合、ピクセル位置「１２５７」、「１２５９」におけるデータに起因した画像化範囲内のデータの不連続性により、ノイズが画像に描出されてしまう可能性がある。第３変形例に係る画像形成部２２０は、基準信号のピクセル位置「１２５８」から前後の数ピクセル分のデータに基づいて、当該データの値域ＡＲを設定する。

たとえば、画像形成部２２０は、当該数ピクセル分のデータの最大値及び最小値を検出することにより、値域ＡＲの上限値及び下限値を設定することが可能である。また、たとえば、画像形成部２２０は、当該数ピクセル分のデータの正方向の平均値及び負方向の平均値を求め、求められた２つの平均値のうち絶対値が大きい方を採用し、採用された絶対値が強度「０」からの絶対値となるように値域ＡＲの上限値及び下限値を設定することが可能である。

画像形成部２２０は、このように設定された値域ＡＲ内に当該周囲のデータが収まるようにデータを加工する。たとえば、図１２の場合、画像形成部２２０は、ピクセル位置「１２５７」、「１２５９」におけるデータが値域ＡＲ内に収まるように、ピクセル位置「１２５７」、「１２５９」におけるデータを加工する。

なお、基準信号（たとえば、ピクセル位置「１２５８」）の近傍領域（たとえば、ピクセル位置「１２５７」、「１２５９」）の周囲のデータ（たとえば、ピクセル位置「１２５１」〜「１２５６」、「１２６０」〜「１２６５」）のうち基準信号のピクセル位置に近いデータは、差分データに基準信号を残存させる要因となる可能性が高いと考えられる。そこで、画像形成部２２０は、基準信号の近傍領域の周囲のデータのうち当該近傍領域から遠い位置のデータを用いて値域ＡＲを設定することも可能である。すなわち、画像形成部２２０は、当該周囲のデータのうち近傍領域に１以上の波長位置について隣接するデータ（たとえばピクセル位置「１２５６」や「１２６０」）を除くデータに基づいて値域ＡＲを設定する。これにより、差分データに基準信号を残存させる要因を減らし、ノイズの描出を抑えた画像を安定して取得することが可能になる。特に、画像化範囲内の波長位置に基準信号が配置される場合、差分データに基準信号が残存することによるノイズの影響を抑えることが可能になる。

また、画像形成部２２０は、基準信号の近傍領域の周囲のデータにかかわらず、あらかじめ決められた値域ＡＲの上限値及び下限値を設定してもよい。

［効果］
この変形例に係るＯＣＴ装置では、画像形成部２２０は、基準信号の近傍領域の周囲のデータに基づいて近傍領域のデータの値域を設定し、設定された値域に基づいて近傍領域のデータを加工してもよい。

また、この変形例に係るＯＣＴ装置では、画像形成部２２０は、基準信号の近傍領域の周囲のデータのうち近傍領域に隣接するデータ以外のデータに基づいて値域を設定してもよい。

上記のような構成によれば、基準信号の前後のデータを加工することによりデータの不連続性を解消することができるので、画像へのノイズの描出を抑えることが可能になる。

［第４変形例］
第１実施形態またはその変形例において、波長掃引光源やその他の光学系を構成する光学部材に起因して、取得された参照スペクトルや干渉スペクトルに基準信号と同様のピーク信号が含まれる場合がある。

図１３に、第４変形例における干渉スペクトルのプロファイルの一例を示す。図１３は、横軸にピクセル位置を表し、縦軸に強度を表す。

図１３に示す干渉スペクトルは、ブラッグ波長に対応したピクセル位置Ｐ２０に配置された基準信号の他に、波長掃引光源やその他の光学部材に起因したピクセル位置Ｐ２１に配置されたピーク信号を含む。ピーク信号のピクセル位置Ｐ２１を基準信号のピクセル位置Ｐ２０として誤検出すると、参照スペクトルと干渉スペクトルとの位相合わせが失敗し、取得される断層像の画質が劣化する。

第４変形例では、画像形成部２２０は、取得された収集データの強度を所定の方向に沿って順に参照することにより基準信号に相当するピクセル位置Ｐ２０（データ位置）を特定する。所定の方向の例として、ピクセル位置を示すインデックスが単調変化（たとえば単調増加）する方向や、画像化範囲の中央部から画像化範囲の境界に向かう方向などがある。または、波長掃引光源のＡトリガー信号に相当する波長λＡとサンプリング間隔δλ、ブラッグ波長λＢが既知の場合、基準信号が出現するインデックスはおおよそ予想がつき、そのインデックス周囲に限定して参照することも可能である。

画像形成部２２０は、特定された基準信号を用いて、互いの基準信号の位相が一致するように参照スペクトル及び干渉スペクトルの少なくとも一方の位相を補正する。画像形成部２２０は、位相が一致された参照スペクトル及び干渉スペクトルから差分データを生成する。画像形成部２２０は、生成された差分データに対し窓関数を適用することにより処理データを生成する。すなわち、画像形成部２２０は、特定された基準信号のピクセル位置（波長位置）と所定の波長位置関係になるように処理データを生成する。

これにより、基準信号とピーク信号とがスペクトルに含まれた場合であっても、意図する基準信号を精度良く検出することが可能になり、取得された断層像の画質の劣化を防止することが可能になる。

［効果］
この変形例に係るＯＣＴ装置では、画像形成部２２０は、取得された収集データの強度を所定の方向に沿って順に参照することにより基準信号に相当するデータ位置を特定し、特定されたデータ位置と所定の波長位置関係になるように処理データを生成してもよい。

このような構成によれば、基準信号を精度良く検出することが可能になり、取得された断層像の画質の劣化を防止することが可能になる。

〔第２実施形態〕
ＯＣＴ装置が適用された眼底撮影装置の構成は、第１実施形態またはその変形例の構成に限定されるものではない。以下、第２実施形態に係る眼底撮影装置の構成について、第１実施形態との相違点を中心に説明する。

図１４に、第２実施形態に係る眼底撮影装置の構成例を示す。図１４において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第２実施形態に係る眼底撮影装置１ａの構成が図１に示す第１実施形態に係る眼底撮影装置１の構成と異なる点は、分散補償部材４７が追加された点と、ＯＣＴユニット１００に代えてＯＣＴユニット１００ａが設けられた点である。分散補償部材４７は、コリメータレンズユニット４０と光路長変更部４１との間の信号光路に配置される。分散補償部材４７は、分散補償部材１１３と同様に、参照光ＬＲと信号光ＬＳの分散特性を合わせるための分散補償手段として作用する。

図１５に、図１４のＯＣＴユニット１００ａの構成例を示す。図１５において、図２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第２実施形態に係るＯＣＴユニット１００ａの構成が図２に示す第２実施形態に係るＯＣＴユニット１００と異なる点は、光源ユニット１０１と偏波コントローラ１０３との間にアッテネータ４００が配置されている点と、参照光路に配置される光学部材等である。

具体的には、光源ユニット１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりアッテネータ４００に導かれて、演算制御ユニット２００の制御の下で光量が調整される。アッテネータ４００により光量が調整された光は、光ファイバ４０１により偏波コントローラ１０３に導かれて、その偏光状態が調整される。

偏波コントローラ１０３により偏光状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバ１０４によりファイバカプラ１０５に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ１１０によりアッテネータ１２０に導かれる。アッテネータ１２０により光量が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ４０２により偏波コントローラ１１８に導かれて、その偏光状態が調整される。

このようなＯＣＴユニット１００ａを有する眼底撮影装置１ａに対し、第１実施形態のいずれかの変形例を適用することが可能である。眼底撮影装置１ａの動作は、第１実施形態またはその変形例と同様である。したがって、第２実施形態に係る眼底撮影装置１ａによれば、第１実施形態またはその変形例と同様の効果を得ることができる。また、第２実施形態の構成によれば、ＯＣＴユニット１００ａをファイバ系で構成することが可能になり、光学部材の不要な反射等を防止しつつ、ＯＣＴユニット１００ａの小型化を実現することができる。

〔第３実施形態〕
第１実施形態、その変形例、または第２実施形態では、光源ユニット１０１からＡトリガー信号Ａｔｒ及びｋクロックＫＣを受け、Ａトリガー信号Ａｔｒ及びｋクロックＫＣに基づいて、検出器１２５により得られた検出結果が取り込まれる場合について説明した。第３実施形態では、ｋクロックにＡトリガー信号を重畳させることにより、光源ユニットからｋクロックのみを受け、ｋクロックに基づいて検出器１２５により得られた検出結果を取り込むことができる。

以下、第２実施形態に係る眼底撮影装置の構成について、第１実施形態との相違点を中心に説明する。

図１６に、第３実施形態に係るＯＣＴユニットの構成例を示す。図１６において、図２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。第３実施形態に係る眼底撮影装置は、図１の構成においてＯＣＴユニット１００に代えて図１６に示すＯＣＴユニット１００ｂが適用された構成を有する。

第３実施形態に係るＯＣＴユニット１００ｂの構成が図２に示す第２実施形態に係るＯＣＴユニット１００と異なる点は、光源ユニット１０１に代えて光源ユニット１０１ｂが設けられる点と、ＤＡＱ１４０に代えてＤＡＱ１４０ｂが設けられる点と、ＦＢＧ１３０が削除された点である。光源ユニット１０１ｂは、ＤＡＱ１４０ｂに対しｋクロックＫＣ´を供給する。ｋクロックＫＣ´は、Ａトリガー信号Ａｔｒと同一タイミングで変化する信号をｋクロックＫＣに重畳することにより得られる。

図１７に、図１６の光源ユニット１０１ｂの構成例を示す。図１７において、図３と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。図１８に、図１７に示す光源ユニット１０１ｂの動作説明図を示す。図１８は、ｋクロックＫＣ´、Ａトリガー信号Ａｔｒ、ｋクロックのタイミング、及び干渉信号のそれぞれの波形の一例を表す。図１８は、横軸に時間軸を表し、縦軸に強度を表す。

光源ユニット１０１ｂの構成が図３に示す光源ユニット１０１の構成と異なる点は、ファイバカプラ３１０により生成された一対の干渉光の一方の干渉光の光路にＦＢＧが設けられた点である。具体的には、ファイバカプラ３１０から出射した一対の干渉光の一方は、光ファイバ５００により検出器３１５に導かれる。ファイバカプラ３１０から出射した一対の干渉光の他方は、光ファイバ５０１によりＦＢＧ５０２に導かれる。ＦＢＧ５０２は、ＦＢＧ１３０と同様の構成を有し、所定の波長位置の波長成分の光を反射するようにブラッグ波長が調整されている。所定の波長位置の例として、Ａトリガー信号Ａｔｒの変化タイミング（立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジ）に対応した波長位置がある。ＦＢＧ５０２を透過した光は、光ファイバ５０３により検出器３１５に導かれる。

この実施形態では、ＦＢＧ５０２は、少なくともブラッグ波長の波長成分を除く波長成分を有する光を透過させる。したがって、Ａトリガー信号Ａｔｒの変化タイミングで、検出器３１５により検出される一対の干渉光はアンバランス状態となる。これを検出した検出器１２５は、第１実施形態と同様に生成されたパルス状のｋクロックに対し、所定の波高値を有する信号が重畳された検出信号を出力する。この検出信号は、光ファイバ３１２を介して出射端３１３よりｋクロックＫＣ´として出力される。

なお、図１７において、検出器３１５は、ＰＤであってもよい。ＰＤは、ＦＢＧ５０２を透過した光を検出する。

ＤＡＱ１４０ｂは、ｋクロックＫＣ´のゼロクロス点と、ｋクロックＫＣ´に重畳された検出信号のピクセル位置（波長位置、重畳タイミング）とを検出する。たとえば、ＤＡＱ１４０ｂは、ｋクロックＫＣ´のゼロクロス点を検出するための第１コンパレータと、ｋクロックＫＣ´に重畳された検出信号のピクセル位置を検出するための第２コンパレータとを含んで構成される。第１コンパレータ及び第２コンパレータには、ｋクロックＫＣ´が入力され、各コンパレータが独立したコンパレート動作を行うことにより、ｋクロックＫＣ´のゼロクロス点と、ｋクロックＫＣ´に重畳された検出信号のピクセル位置とを独立に検出することが可能である。

このような構成によれば、たとえば光学的に生成されたｋクロックＫＣ´だけをＤＡＱ１４０ｂに供給することができるので、電気的に生成されジッターを含んだＡトリガー信号ＡｔｒをＤＡＱ１４０ｂに供給する必要がなくなり、非常に高精度に位相を補正することが可能になる。そのため、第１実施形態、その変形例、または第２実施形態と比較して、より高精度にＦＰＮが除去された画像の取得が可能になる。また、処理データ内に基準信号を導入する場合に付随するノイズへの対応が不要となり、処理が単純かつ、良好な画像を安定的に取得することが可能になる。また、このような構成の場合、処理データのサンプリング速度より高速にこれらタイミング信号をサンプリングしてもよい。この場合、より高精度なサブピクセル単位での位相補正が可能となる。

なお、第３実施形態では、図１６の構成を有するＯＣＴユニット１００ｂにおいてｋクロックＫＣ´を用いる場合について説明したが、図１５に示す構成を有するＯＣＴユニット１００ａにおいてｋクロックＫＣ´を用いるようにしてもよい。

（その他の変形例）
以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形（省略、置換、付加等）を適宜に施すことが可能である。

上記の実施形態では、ｋクロックを用いる場合について説明したが、ＤＡＱの内部クロックを利用したサンプリングを適用した場合にも同様の手法を採ることができる。十分高速な内部クロックによって信号及び基準信号を取得して位相を補正することにより、上記の実施形態と同様に、ＳＳ−ＯＣＴ固有の問題である位相の不安定性を解消し、たとえばＦＰＮの除去能力を向上させることができる。

上記の実施形態またはその変形例では、ファイバカプラにより生成された一対の干渉光の一方の光路にＦＢＧを設け、一対の干渉光の他方とＦＢＧを透過した光により基準信号を所望の波長位置に配置する場合について説明したが、これに限定されるものではない。たとえば、光源ユニットからの光Ｌ０を分岐することにより得られた分岐光をサーキュレータを介してＦＢＧに導き、ＦＢＧにより反射された光により基準信号を所望の波長位置に配置するようにしてもよい。

上記の実施形態においては、光路長変更部４１の位置を変更することにより、信号光ＬＳの光路と参照光ＬＲの光路との光路長差を変更しているが、この光路長差を変更する手法はこれに限定されるものではない。たとえば、参照光の光路に反射ミラー（参照ミラー）を配置し、この参照ミラーを参照光の進行方向に移動させて参照光の光路長を変更することによって、当該光路長差を変更することが可能である。また、被検眼Ｅに対して眼底カメラユニット２やＯＣＴユニット１００、１００ａを移動させて信号光ＬＳの光路長を変更することにより当該光路長差を変更するようにしてもよい。また、特に被測定物体が生体部位でない場合などには、被測定物体を深度方向（ｚ方向）に移動させることにより光路長差を変更することも可能である。

上記の実施形態またはその変形例を実現するためのコンピュータプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ／ＤＶＤ−ＲＡＭ／ＤＶＤ−ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。

また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

１、１ａ 眼底撮影装置
２ 眼底カメラユニット
１０ 照明光学系
３０ 撮影光学系
３１ 合焦レンズ
３１Ａ 合焦駆動部
４１ 光路長変更部
４２ ガルバノスキャナ
５０ アライメント光学系
６０ フォーカス光学系
１００、１００ａ、１００ｂ ＯＣＴユニット
１０１、１０１ｂ 光源ユニット
１０５、１２２ ファイバカプラ
１１４ コーナーキューブ
１１４Ａ 参照駆動部
１２５ 検出器
２００ 演算制御ユニット
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１２ 記憶部
２２０ 画像形成部
２２１ スペクトル記憶部
２２２ 位相補正部
２２３ 処理データ生成部
２２３Ａ 差分算出部
２２３Ｂ 窓関数適用部
２３０ データ処理部
２４０Ａ 表示部
２４０Ｂ 操作部
Ｅ 被検眼
Ｅｆ 眼底
ＬＳ 信号光
ＬＲ 参照光
ＬＣ 干渉光

Claims (21)

1. 所定の波長掃引範囲を有する波長掃引光源を用いたスウェプトソースＯＣＴの手法によりＡラインごとに収集された収集データを処理するデータ処理方法であって、
   前記所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された収集データを取得し、
   取得された前記収集データから所定の波長幅を有し前記基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成し、
   生成された前記処理データに基づいて当該Ａラインの画像を形成する
   データ処理方法。
2. 前記処理データの境界近傍またはその外部の特定波長位置に前記基準信号が配置される
   ことを特徴とする請求項１に記載のデータ処理方法。
3. 前記所定の波長幅を有する窓関数を前記収集データに適用することにより前記処理データを生成する
   ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載のデータ処理方法。
4. 前記波長掃引光源から出射して参照光路を通過した光における前記所定の波長位置に前記基準信号を付与して生成された光を検出して得られた参照データを取得し、
   互いの基準信号の位相が一致された前記収集データと前記参照データとの差分データを求め、
   前記求められた前記差分データに基づいて前記処理データを生成する
   ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載のデータ処理方法。
5. 取得された前記収集データのうち前記基準信号と前記所定の波長位置関係にある部分データの幅が前記所定の波長幅よりも狭い場合、前記部分データに補間データを付加して得られたデータに基づいて前記処理データを生成する
   ことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載のデータ処理方法。
6. 取得された前記収集データのうち前記基準信号と前記所定の波長位置関係にある部分データの幅が前記所定の波長幅よりも狭い場合、前記部分データと同じ波長幅を有する前記処理データを生成する
   ことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載のデータ処理方法。
7. 前記処理データの内部、且つ、その境界近傍に前記基準信号が配置される場合、前記収集データにおける少なくとも前記基準信号の近傍領域のデータを加工する
   ことを特徴とする請求項２に記載のデータ処理方法。
8. 前記近傍領域の周囲のデータに基づいて前記近傍領域のデータの値域を設定し、
   設定された前記値域に基づいて前記近傍領域のデータを加工する
   ことを特徴とする請求項７に記載のデータ処理方法。
9. 前記周囲のデータのうち前記近傍領域に隣接するデータ以外のデータに基づいて前記値域を設定する
   ことを特徴とする請求項８に記載のデータ処理方法。
10. 取得された前記収集データの強度を所定の方向に沿って順に参照することにより前記基準信号に相当するデータ位置を特定し、
    特定された前記データ位置と前記所定の波長位置関係になるように前記処理データを生成する
    ことを特徴とする請求項１〜請求項９のいずれか一項に記載のデータ処理方法。
11. 所定の波長掃引範囲を有する波長掃引光源を用いたスウェプトソースＯＣＴの手法により収集データをＡラインごとに収集するＯＣＴ装置であって、
    前記所定の波長掃引範囲内における所定の波長位置に基準信号があらかじめ付与された収集データを取得する取得部と、
    取得された前記収集データから所定の波長幅を有し前記基準信号と所定の波長位置関係にある処理データを生成し、生成された前記処理データに基づいて当該Ａラインの画像を形成する画像形成部と、
    を含むＯＣＴ装置。
12. 前記取得部は、前記基準信号の半値幅以下の周期でスウェプトソースＯＣＴの手法によって生成される干渉信号をサンプリングすることにより前記収集データを取得する
    ことを特徴とする請求項１１に記載のＯＣＴ装置。
13. 前記処理データの境界近傍またはその外部の特定波長位置に前記基準信号が配置される
    ことを特徴とする請求項１１または請求項１２に記載のＯＣＴ装置。
14. 前記画像形成部は、前記所定の波長幅を有する窓関数を前記収集データに適用することにより前記処理データを生成する
    ことを特徴とする請求項１１〜請求項１３のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。
15. 前記取得部は、前記波長掃引光源から出射して参照光路を通過した光における前記所定の波長位置に前記基準信号を付与して生成された光を検出して得られた参照データを取得し、
    前記画像形成部は、互いの基準信号の位相が一致された前記収集データと前記参照データとの差分データを求め、求められた前記差分データに基づいて前記処理データを生成する
    ことを特徴とする請求項１１〜請求項１４のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。
16. 取得された前記収集データのうち前記基準信号と前記所定の波長位置関係にある部分データの幅が前記所定の波長幅よりも狭い場合、前記画像形成部は、前記部分データに補間データを付加して得られたデータに基づいて前記処理データを生成する
    ことを特徴とする請求項１１〜請求項１５のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。
17. 取得された前記収集データのうち前記基準信号と前記所定の波長位置関係にある部分データの幅が前記所定の波長幅よりも狭い場合、前記画像形成部は、前記部分データと同じ波長幅を有する前記処理データを生成する
    ことを特徴とする請求項１１〜請求項１５のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。
18. 前記処理データの内部、且つ、その境界近傍に前記基準信号が配置される場合、前記画像形成部は、前記収集データにおける少なくとも前記基準信号の近傍領域のデータを加工する
    ことを特徴とする請求項１３に記載のＯＣＴ装置。
19. 前記画像形成部は、前記近傍領域の周囲のデータに基づいて前記近傍領域のデータの値域を設定し、設定された前記値域に基づいて前記近傍領域のデータを加工する
    ことを特徴とする請求項１８に記載のＯＣＴ装置。
20. 前記画像形成部は、前記周囲のデータのうち前記近傍領域に隣接するデータ以外のデータに基づいて前記値域を設定する
    ことを特徴とする請求項１９に記載のＯＣＴ装置。
21. 前記画像形成部は、取得された前記収集データの強度を所定の方向に沿って順に参照することにより前記基準信号に相当するデータ位置を特定し、特定された前記データ位置と前記所定の波長位置関係になるように前記処理データを生成する
    ことを特徴とする請求項１１〜請求項２０のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。

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