JP2014073207A - 眼科撮影装置 - Google Patents

Abstract

【課題】深さ方向の画質の劣化が無く信頼性の高い画像を取得できる眼科撮影装置を提供する。
【解決手段】眼科撮影装置は計測部と形成部を有する。計測部は、信号光の被検眼からの戻り光と参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、信号光で被検眼を走査する走査部を含む。形成部は、走査に伴い得られた干渉光の検出結果に基づき断層像を形成する。干渉光学系は、第１分割部材、第２分割部材、合成部材及び検出部を含む。第１分割部材は戻り光の光路を２以上の光路に分割する。第２分割部材は参照光の光路を光路長が異なる２以上の光路に分割する。合成部材は戻り光の光路と参照光の光路を合成する。検出部は２以上の干渉光を検出する。形成部は第１形成部と第２形成部を含む。第１形成部は検出部による検出結果に基づいて２以上の断層像を形成する。第２形成部はこれら断層像の合成断層像を形成する。
【選択図】図２

Description

この発明は、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）を用いて被検眼の画像を取得する眼科撮影装置に関する。

近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成するＯＣＴが注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴのような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。たとえば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化されている。

特許文献１には、スペクトラルドメイン（Ｓｐｅｃｔｒａｌ Ｄｏｍａｉｎ：ＳＤ）ＯＣＴの手法を用いた装置が記載されている。ＳＤ−ＯＣＴは、低コヒーレンス光を信号光と参照光に分割し、被測定物体を経由した信号光と参照光とを干渉させて得られる干渉縞のスペクトル分布を解析することで断層像を形成する。干渉縞と断層像との関係として、干渉縞の周波数が断層像の位置に相当し、干渉縞の周波数のコントラストが断層像の信号強度に相当する。つまり、干渉縞のコントラストは、断層像の画質に影響する。

他のタイプのＯＣＴとして、スウェプトソース（Ｓｗｅｐｔ Ｓｏｕｒｃｅ：ＳＳ）タイプが知られている（特許文献２）。ＳＳ−ＯＣＴは、被測定物体に照射される光の波長を走査（波長掃引）し、各波長の光の反射光と参照光とを重ね合わせて得られる干渉光を検出してスペクトル強度分布を取得し、それに対してフーリエ変換を施すことにより断層像を形成する。

ＳＤ−ＯＣＴでは、ラインＣＣＤを受光素子とする分光器を用いて干渉光を検出している。分解可能な空間周波数はラインＣＣＤの画素サイズに応じて決定されるので、高い周波数におけるコントラストが低下する。

また、分光された干渉光の波長成分は、ラインＣＣＤの受光面に一直線に並んで結像されるので、隣接する波長成分の結像スポットが重なりあってクロストークが発生し、干渉信号のコントラストを低下させる。

以上のような理由による干渉信号のコントラストの低下により、干渉信号から形成される画像の画質は深さ方向に進むにつれて劣化する。この現象は、シグナルロールオフ又はシグナルディケイと呼ばれる（たとえば特許文献３を参照）。

特開２０１０−２１０２６７号公報 特開２００７−２４６７７号公報 特表２０１１−５２８１９１号公報

上記のようにＳＤ−ＯＣＴにおいてシグナルディケイは避けられない。特許文献１に記載の技術では、コントラストが高い低周波数の干渉縞の位置に応じて参照光の光路長を変更しつつ深さ方向に複数回の計測を行ない、これら計測結果をつなぎ合わせることによって深さ方向の画質の劣化を回避している。

この従来技術では異なるタイミングで複数回の計測を行なっているが、生体眼を計測対象とする場合、固視微動等により被検眼が計測中に移動するため、信頼性の高い画像を得ることができない。

この発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、その目的は、深さ方向の画質の劣化が無く、かつ信頼性の高い画像を取得することが可能な技術を提供することにある。

上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、前記信号光の被検眼からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記信号光で前記被検眼を走査する走査部とを含み、光コヒーレンストモグラフィを用いた前記被検眼の計測を行う計測部と、前記走査に伴い前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて、前記被検眼の断層像を形成する形成部とを有する眼科撮影装置であって、前記干渉光学系は、前記信号光の戻り光の光路を２以上の光路に分割する第１分割部材と、前記参照光の光路を光路長が異なる２以上の光路に分割する第２分割部材と、前記戻り光の前記２以上の光路のそれぞれと、前記参照光の前記２以上の光路のうちの１つとを合成する合成部材と、前記合成部材により生成された２以上の干渉光をそれぞれ検出する検出部とを含み、前記形成部は、前記検出部による前記２以上の干渉光の検出結果に基づいて、前記走査部による信号光の走査位置に沿う断面における２以上の断層像を形成する第１形成部と、前記２以上の断層像を合成して合成断層像を形成する第２形成部とを含み、前記合成断層像を表示部に表示させる。
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の眼科撮影装置であって、前記光源は、低コヒーレンス光を出力し、前記検出部は、前記２以上の干渉光のそれぞれを分光する分光部材と、前記分光部材により得られた前記２以上の干渉光のそれぞれのスペクトル分布を検出するラインセンサとを含み、前記第１形成部は、前記ラインセンサにより検出されたスペクトル分布をフーリエ変換することで前記２以上の断層像を形成することを特徴とする。
また、請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の眼科撮影装置であって、前記光源は、出力光の波長を掃引可能な波長掃引光源であり、前記検出部は、前記２以上の干渉光をそれぞれ検出する検出素子を含み、前記第１形成部は、前記波長掃引光源による波長の掃引に伴い前記検出素子により得られた検出結果に基づいてスペクトル分布を求め、前記スペクトル分布をフーリエ変換することで前記２以上の断層像を形成することを特徴とする。
また、請求項４に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置であって、前記計測部は、前記参照光の前記２以上の光路の光路長の差を変更する変更部を含むことを特徴とする。
また、請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の眼科撮影装置であって、前記干渉光学系は、前記参照光の前記２以上の光路の途中にそれぞれに設けられた反射部材を含み、前記変更部は、前記反射部材を移動させることにより前記光路長の差を変更することを特徴とする。
また、請求項６に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置であって、前記表示部は、前記第１形成部により形成された２以上の断層像のそれぞれを表示可能であることを特徴とする。
また、請求項７に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置であって、前記計測部及び／又は前記形成部を制御して、前記２以上の断層像のうちのいずれかを選択的に形成させる制御部を有することを特徴とする。
また、請求項８に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置であって、前記計測部は、複数のタイミングでそれぞれ前記被検眼の計測を行い、前記複数のタイミングを含む期間に前記被検眼を動画撮影して正面画像を取得する撮影部と、前記動画撮影により得られる前記正面画像に基づき前記干渉光学系を移動させることにより、前記被検眼の動きに前記干渉光学系の位置を追従させる追従制御部とを有し、前記第１形成部及び前記第２の形成部は、前記複数のタイミングのそれぞれについて前記合成断層像を形成し、前記形成部は、前記複数のタイミングの合成断層像を重ね合わせて１の断層像を形成する重ね合わせ処理部を含むことを特徴とする。
また、請求項９に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置であって、前記計測部により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて、前記参照光の前記２以上の光路のうちの１の光路の光路長を前記被検眼の所定の深さ位置に合わせるように調整し、更に、当該１の光路以外の光路の光路長を他の深さ位置に合わせるように調整する制御部を有することを特徴とする。
また、請求項１０に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置であって、前記参照光の前記２以上の光路のうちの２つの光路の間の光路長の差に基づいて、当該２つの光路に対応する前記被検眼の２つの深さ位置の間の距離を算出する算出部を有することを特徴とする。
また、請求項１１に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置であって、前記参照光の光路に反射ミラーが設けられており、前記第２分割部材は、前記反射ミラーの前段に設けられ、前記参照光の一部を反射し他の一部を透過させる光学部材を含むことを特徴とする。
また、請求項１２に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置であって、前記第２形成部は、前記被検眼の深さ方向における画像化範囲を延長して前記２以上の断層像に基づく前記合成断層像を形成することを特徴とする。
また、請求項１３に記載の発明は、請求項１２に記載の眼科撮影装置であって、前記計測部及び前記形成部の動作モードを強度近視モードに設定する設定部と、前記強度近視モードが設定されたときに、前記第２形成部に前記画像化範囲の延長を行わせる制御部とを有することを特徴とする。

この発明によれば、深さ方向の画質の劣化が無く、かつ信頼性の高い画像を取得することが可能である。

実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の使用形態の一例を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の使用形態の一例を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の使用形態の一例を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の変形例の構成の一例を表す概略ブロック図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の変形例の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の変形例の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の変形例の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の変形例を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の変形例を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の変形例を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の変形例を説明するための概略図である。

この発明に係る眼科撮影装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。眼科撮影装置は、ＯＣＴを用いて眼底の断層像や３次元画像を形成する。この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。

以下の実施形態では、スペクトラルドメインタイプ及びスウェプトソースタイプのＯＣＴを適用した構成について説明するが、これら以外のタイプのＯＣＴを用いる眼科撮影装置に対して、この発明に係る構成を適用することも可能である。また、実施形態では、眼底の正面画像を取得する眼底カメラをＯＣＴ装置に組み合わせた装置について説明するが、眼底カメラ以外の撮影装置、たとえばＳＬＯ、スリットランプ、眼科手術用顕微鏡などをＯＣＴ装置に組み合わせることも可能である。また、実施形態では眼底の検査を行うための装置について説明するが、この発明の眼科撮影装置による検査部位は眼底には限られず、たとえば角膜や水晶体等の任意の部位であってよい。また、正面画像を取得する必要がない場合には、実施形態で説明する構成を単体のＯＣＴ装置に組み込むことが可能である。

［構成］
図１及び図２に示すように、眼科撮影装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、眼底のＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。

〔眼底カメラユニット〕
図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを角膜側から見た正面画像（眼底像）を取得するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、たとえば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、たとえば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像、又は近赤外光若しくは可視光を照明光として用いたモノクロの静止画像であってもよい。眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、たとえばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。

眼底カメラユニット２には、被検者の顔を支持するための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、照明光学系１０と撮影光学系３０が設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ（単にＣＣＤと呼ぶことがある）３５、３８。）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの信号光を眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光をＯＣＴユニット１００に導く。

照明光学系１０の観察光源１１は、たとえばハロゲンランプにより構成される。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆを照明する。なお、観察光源としてＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）を用いることも可能である。

観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ２２により屈折され、ダイクロイックミラー４６を透過し、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ミラー３２により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー４０を透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、たとえば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された眼底反射光に基づく画像（観察画像）が表示される。なお、撮影光学系３０のピントが前眼部に合わせられている場合、被検眼Ｅの前眼部の観察画像が表示される。

撮影光源１５は、たとえばキセノンランプにより構成される。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された眼底反射光に基づく画像（撮影画像）が表示される。なお、観察画像を表示する表示装置３と撮影画像を表示する表示装置３は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。また、被検眼Ｅを赤外光で照明して同様の撮影を行う場合には、赤外の撮影画像が表示される。また、撮影光源としてＬＥＤを用いることも可能である。

ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用指標を表示する。固視標は被検眼Ｅを固視させるための指標であり、眼底撮影時やＯＣＴ計測時などに使用される。

ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー４０にて反射され、ミラー３２に反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過し、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。被検眼Ｅの固視位置としては、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。また、固視標の表示位置を任意に変更することも可能である。

更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系５０とフォーカス光学系６０が設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための指標（アライメント指標）を生成する。フォーカス光学系６０は、眼底Ｅｆに対してフォーカス（ピント）を合わせるための指標（スプリット指標）を生成する。

アライメント光学系５０のＬＥＤ５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過し、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜に投影される。

アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２、ダイクロイックミラー４６及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ミラー３２により反射され、ハーフミラー４０を透過し、ダイクロイックミラー３３に反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント指標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい（オートアライメント機能）。

フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット指標板６３により２つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５に反射され、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット指標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う（オートフォーカス機能）。また、スプリット指標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。

ダイクロイックミラー４６は、眼底撮影用の光路からＯＣＴ計測用の光路を分岐させている。ダイクロイックミラー４６は、ＯＣＴ計測に用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。このＯＣＴ計測用の光路には、ＯＣＴユニット１００側から順に、コリメータレンズユニット４０と、光路長変更部４１と、ガルバノスキャナ４２と、合焦レンズ４３と、ミラー４４と、リレーレンズ４５とが設けられている。

光路長変更部４１は、図１に示す矢印の方向に移動可能とされ、ＯＣＴ計測用の光路の光路長を変更する。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部４１は、たとえばコーナーキューブと、これを移動する機構とを含んで構成される。

ガルバノスキャナ４２は、ＯＣＴ計測用の光路を通過する光（信号光ＬＳ）の進行方向を変更する。それにより、眼底Ｅｆを信号光ＬＳで走査することができる。ガルバノスキャナ４２は、たとえば、信号光ＬＳをｘ方向に走査するガルバノミラーと、ｙ方向に走査するガルバノミラーと、これらを独立に駆動する機構とを含んで構成される。それにより、信号光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。

〔ＯＣＴユニット〕
図２を参照しつつＯＣＴユニット１００の構成の一例を説明する。ＯＣＴユニット１００には、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、光源からの光を信号光と参照光に分割し、眼底Ｅｆを経由した信号光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。この検出結果（検出信号）は演算制御ユニット２００に送られる。

なお、スウェプトソースタイプのＯＣＴ装置の場合には、低コヒーレンス光源を出力する光源の代わりに波長掃引光源が設けられるとともに、干渉光をスペクトル分解する光学部材が設けられない。一般に、ＯＣＴユニット１００の構成については、光コヒーレンストモグラフィのタイプに応じた公知の技術を任意に適用することができる。

光源ユニット１０１は広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば、近赤外領域の波長帯（約８００ｎｍ〜９００ｎｍ程度）を含み、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する。なお、人眼では視認できない波長帯、たとえば１０４０〜１０６０ｎｍ程度の中心波長を有する近赤外光を低コヒーレンス光Ｌ０として用いてもよい。

光源ユニット１０１は、スーパールミネセントダイオード（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ：ＳＬＤ）や、ＬＥＤや、ＳＯＡ（Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｏｐｔｉｃａｌ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）等の光出力デバイスを含んで構成される。

光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ１１０を介してコリメータ１１１に導かれて平行光束となる。平行光束となった参照光ＬＲの光路は、ハーフミラー１２０によって２つの光路に分割される。ハーフミラー１２０を透過した参照光ＬＲの成分を第１参照光ＬＲ１と呼び、ハーフミラー１２０により反射された参照光ＬＲの成分を第２参照光ＬＲ２と呼ぶことにする。また、第１参照光ＬＲ１の光路を第１参照光路と呼び、第２参照光ＬＲ２の光路を第２参照光路と呼ぶ。

第１参照光路には、コーナーキューブ１１２と、コリメータ１１３と、光ファイバ１１４とが設けられている。コーナーキューブ１１２は、第１参照光ＬＲ１の進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ１１２に入射する第１参照光ＬＲ１の光路と、コーナーキューブ１１２から出射する第１参照光ＬＲ１の光路とは平行である。また、コーナーキューブ１１２は、第１参照光ＬＲ１の入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により第１参照光路の光路長が変更される。コーナーキューブ１１２を経由した第１参照光ＬＲ１は、コリメータ１１３によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバ１１４に入射し、ファイバカプラ１４０に導かれる。

第２参照光路には、反射ミラー１２１と、コーナーキューブ１２２と、コリメータ１２３と、光ファイバ１２４とが設けられている。反射ミラー１２１は、ハーフミラー１２０による反射成分である第２参照光ＬＲ２を反射して、その進行方向を変える。コーナーキューブ１２２は、反射ミラー１２１により反射された第２参照光ＬＲ２の進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ１２２に入射する第２参照光ＬＲ２の光路と、コーナーキューブ１２２から出射する第２参照光ＬＲ２の光路とは平行である。また、コーナーキューブ１２２は、第２参照光ＬＲ２の入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により第２参照光路の光路長が変更される。コーナーキューブ１２２を経由した第２参照光ＬＲ２は、コリメータ１２３によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバ１２４に入射し、ファイバカプラ１５０に導かれる。

なお、この実施形態では参照光路を２つの光路に分割する場合について説明するが、３つ以上の光路に分割するように構成することも可能である。その場合、分割後の各参照光路に上記と同様の光学部材が設けられる。また、光ファイバ１１０の途中、第１参照光路及び第２参照光路のうちの少なくとも１つに、アッテネータ、偏波コントローラ、アイソレータ等の光学部材を設けることが可能である。アッテネータは、演算制御ユニット２００の制御の下、光ファイバに導かれる参照光の光量を自動で調整する。偏波コントローラは、たとえばループ状にされた光ファイバに対して外部から応力を与えることで、この光ファイバ内を導かれる参照光の偏光状態を調整する。アイソレータは、一方向の光のみを通過させ、逆方向の光を遮断するように機能する。

他方、ファイバカプラ１０３により生成された信号光ＬＳは、光ファイバ１３０により導かれ、コリメータレンズユニット４０により平行光束とされる。更に、信号光ＬＳは、光路長変更部４１、ガルバノスキャナ４２、合焦レンズ４３、ミラー４４、及びリレーレンズ４５を経由してダイクロイックミラー４６に到達する。そして、信号光ＬＳは、ダイクロイックミラー４６により反射され、対物レンズ１１により屈折されて眼底Ｅｆに照射される。信号光ＬＳは、眼底Ｅｆの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。眼底Ｅｆによる信号光ＬＳの後方散乱光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０３に導かれ、光ファイバ１３１を経由してファイバカプラ１３２に到達する。

ファイバカプラ１３２は、光ファイバ１３１を介して入射された信号光ＬＳの光路を２つの光路に分割する。ファイバカプラ１３２から光ファイバ１３３を介してファイバカプラ１４０に到達する光路を第１信号光路と呼び、ファイバカプラ１３２から光ファイバ１３４を介してファイバカプラ１５０に到達する光路を第２信号光路と呼ぶ。第１信号光路を進行する信号光ＬＳの成分を第１信号光ＬＳ１と呼び、第２信号光路を進行する信号光ＬＳの成分を第２信号光ＬＳ２と呼ぶ。なお、信号光ＬＳの光路を分割する個数は３以上であってもよいが、分割後の信号光路の個数と分割後の参照光路の個数とは同じとされる。

ファイバカプラ１４０は、光ファイバ１３３を介して入射された第１信号光ＬＳ１と、光ファイバ１１４を介して入射された第１参照光ＬＲ１とを干渉させる。これにより生成された第１干渉光ＬＣ１は、光ファイバ１４１により導かれて出射端１４２から出射される。更に、第１干渉光ＬＣ１は、コリメータレンズ１４３により平行光束とされ、回折格子１６０により分光（スペクトル分解）され、集光レンズ１６１により集光されてラインセンサ１７０の受光面に投影される。

また、ファイバカプラ１５０は、光ファイバ１３４を介して入射された第２信号光ＬＳ２と、光ファイバ１２４を介して入射された第２参照光ＬＲ２とを干渉させる。これにより生成された第２干渉光ＬＣ２は、光ファイバ１５１により導かれて出射端１５２から出射される。更に、第２干渉光ＬＣ２は、コリメータレンズ１５３により平行光束とされ、回折格子１６０により分光され、集光レンズ１６２により集光されてラインセンサ１７０の受光面に投影される。

なお、回折格子１６０は透過型であるが、たとえば反射型の回折格子など、他の形態の分光素子を用いることも可能である。また、第１干渉光ＬＣ１と第２干渉光ＬＣ２とを同じ回折格子１６０で分光しているが、異なる回折格子を用いて各干渉光ＬＣ１、ＬＣ２を分光するように構成することも可能である。また、第１干渉光ＬＣ１と第２干渉光ＬＣ２とを同じラインセンサ１７０で検出しているが、異なるラインセンサを用いて各干渉光ＬＣ１、ＬＣ２を検出するように構成することも可能である。

回折格子１６０により分光された第１干渉光ＬＣ１は、ラインセンサ１７０における複数の受光素子の配列方向に広がって進行してラインセンサ１７０に到達する。第２干渉光ＬＣ２についても同様である。より具体的には、ラインセンサ１７０の受光面（つまり複数の受光素子）は、その中央位置を境に２つの領域に分割されており、一方の領域に第１干渉光ＬＣ１のスペクトル成分が投射され、他方の領域に第２干渉光ＬＣ２のスペクトル成分が投射される。つまり、ラインセンサ１７０は、その受光面の第１領域で第１干渉光ＬＣ１のスペクトル分布を検出し、第２領域で第２干渉光ＬＣ２のスペクトル分布を検出する。なお、３つ以上の干渉光を検出する場合についても同様に構成できる。

ラインセンサ１７０は、第１干渉光ＬＣ１のスペクトル分布と、第２干渉光ＬＣ２のスペクトル分布とをそれぞれ検出して電荷に変換する。ラインセンサ１７０は、この電荷を蓄積して検出信号を生成し、これを演算制御ユニット２００に送る。

この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。また、ＣＣＤからなるラインセンサに代えて、他の形態の受光素子、たとえばＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）からなるラインセンサを用いることが可能である。また、ラインセンサに代えてエリアセンサを用いることも可能である。

〔演算制御ユニット〕
演算制御ユニット２００の構成について説明する。演算制御ユニット２００は、ラインセンサ１７０から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴ装置と同様である。

また、演算制御ユニット２００は、眼底カメラユニット２、表示装置３及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。たとえば演算制御ユニット２００は、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。

また、眼底カメラユニット２の制御として、演算制御ユニット２００は、観察光源１１、撮影光源１５及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、合焦レンズ３１、４３の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、光路長変更部４１の移動制御、ガルバノスキャナ４２の動作制御などを行う。

また、ＯＣＴユニット１００の制御として、演算制御ユニット２００は、光源ユニット１０１の動作制御、コーナーキューブ１１２及び１２２の移動制御、ラインセンサ１７０の動作制御、アッテネータの動作制御、偏波コントローラの動作制御、アイソレータの動作制御などを行う。

演算制御ユニット２００は、たとえば、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科撮影装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、各種の回路基板、たとえばＯＣＴ画像を形成するための回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。

眼底カメラユニット２、表示装置３、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００は、一体的に（つまり単一の筺体内に）構成されていてもよいし、２つ以上の筐体に別れて構成されていてもよい。

〔制御系〕
眼科撮影装置１の制御系の構成について図３及び図４を参照しつつ説明する。

（制御部）
眼科撮影装置１の制御系は、制御部２１０を中心に構成される。制御部２１０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。制御部２１０には、主制御部２１１と記憶部２１２が設けられている。

（主制御部）
主制御部２１１は前述の各種制御を行う。特に、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２の合焦駆動部３１Ａ、光路長変更部４１及びガルバノスキャナ４２、更にＯＣＴユニット１００の光源ユニット１０１、第１参照駆動部１１２Ａ及び第２参照駆動部１２２Ａを制御する。

合焦駆動部３１Ａは、合焦レンズ３１を光軸方向に移動させる。それにより、撮影光学系３０の合焦位置が変更される。なお、主制御部２１１は、図示しない光学系駆動部を制御して、眼底カメラユニット２に設けられた光学系を３次元的に移動させることができる。この制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとピント合わせが実行される。トラッキングは、被検眼Ｅを動画撮影して得られる画像に基づき被検眼Ｅの位置や向きに合わせて装置光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。

第１参照駆動部１１２Ａは、第１参照光路に設けられたコーナーキューブ１１２を、第１参照光路に沿って移動させる。それにより、第１参照光路の光路長が変更される。また、第２参照駆動部１２２Ａは、第２参照光路に設けられたコーナーキューブ１２２を、第２参照光路に沿って移動させる。それにより、第２参照光路の光路長が変更される。よって、第１参照駆動部１１２Ａ及び第２参照駆動部１２２Ａの一方又は双方を動作させることにより、第１参照光路と第２参照光路との光路長の差を変更することができる。第１参照駆動部１１２Ａと第２参照駆動部１２２Ａは「変更部」として機能する。なお、参照光路を３つ以上に分割する場合には、分割後の各参照光路に、当該参照光路に沿って移動可能なコーナーキューブが設けられる。

また、主制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。

図４に示すように、主制御部２１１には駆動制御部２１３と表示制御部２１４が設けられている。駆動制御部２１３は、第１参照駆動部１１２Ａと第２参照駆動部１２２Ａをそれぞれ独立に制御する。表示制御部２１４は、表示部２４０Ａに情報を表示させる。これらの具体的な動作については後述する。

（記憶部）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、たとえば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部２１２には、眼科撮影装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（画像形成部）
画像形成部２２０は、ラインセンサ１７０からの検出信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成する。この処理には、従来のスペクトラルドメインタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。他のタイプのＯＣＴ装置の場合、画像形成部２２０は、そのタイプに応じた公知の処理を実行する。画像形成部２２０は「形成部」として機能する。

画像形成部２２０は、たとえば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。

画像形成部２２０には、断層像形成部２２１と合成処理部２２２が設けられている。断層像形成部２２１は、ラインセンサ１７０の上記第１領域の受光素子による検出結果としての第１検出信号に基づいて、眼底Ｅｆの第１断層像を形成する。また、断層像形成部２２１は、ラインセンサ１７０の上記第２領域の受光素子による検出結果としての第２検出信号に基づいて、眼底Ｅｆの第２断層像を形成する。第１断層像及び第２断層像を形成する処理は、上記の要領で行われる。断層像形成部２２１は「第１形成部」として機能する。なお、３つ以上の干渉光を検出する構成が適用される場合には、干渉光と同じ個数の断層像がそれぞれ形成される。

合成処理部２２２は、断層像形成部２２１により形成された第１断層像と第２断層像を合成する。この合成処理により得られた画像を合成断層像と呼ぶ。合成処理で用いられる画像処理は、任意の公知技術を含む。合成処理の例として、重ね合わせ処理や貼り合わせ処理がある。

重ね合わせ処理は、必要に応じて複数の画像の位置合わせを行った後に、これら画像を重ね合わせる画像処理である。より具体的に説明すると、重ね合わせ処理は、複数の画像の画素を対応付け、対応する複数の画素の画素値から１つの画素値を求め、得られた画素値を有する画素で１つの画像（合成断層像）を形成する手法である。複数の画素値から１つの画素値を求める処理の例として、複数の画素値の統計値（平均値、中央値、最大値、最小値、重み付け平均値等）を求める処理、複数の画素値を加算して得られる値を所定の階調範囲に当てはめる処理などがある。

貼り合わせ処理は、複数の画像のそれぞれから画像領域を抽出し、抽出された画像領域を組み合わせて１つの画像（合成断層像）を形成する画像処理である。なお、抽出された画像領域に重複する領域（いわゆる「のりしろ」）が存在する場合、この重複領域について上記重ね合わせ処理を行うことができる。

貼り合わせ処理の例として、第１参照光路の光路長に対応する眼底Ｅｆの深さ位置及びその周辺に相当する画像領域を第１断層像から抽出し、第２参照光路の光路長に対応する眼底Ｅｆの深さ位置及びその周辺の画像領域を第２断層像から抽出し、抽出された２つの画像領域を組み合わせて合成断層像を形成することができる。

第１参照光路の光路長が眼底Ｅｆの脈絡膜側に設定され、かつ第２参照光路の光路長が硝子体側に設定された場合における貼り合わせ処理の具体例を説明する。合成処理部２２２は、第１断層像を解析して網膜（脈絡膜と硝子体の間に位置する）における所定深さ位置を特定し、当該深さ位置より深い部分、つまり当該深さ位置よりも脈絡膜側の部分に相当する画像領域（第１画像領域）を、第１断層像から抽出する。また、合成処理部２２２は、第２断層像を解析して網膜の当該深さ位置を特定し、当該深さ位置より浅い部分、つまり当該深さ位置よりも硝子体側の部分に相当する画像領域（第２画像領域）を、第２断層像から抽出する。ここで、当該深さ位置の近傍の画像領域を上記重複領域として用いてもよい。また、当該深さ位置は、たとえば、第１参照光路の光路長に対応する第１深さ位置と、第２参照光路の光路長に対応する第２深さ位置との中央位置とされる。なお、光路長に対応する深さ位置は、たとえば検出信号の強度（干渉強度）に基づいて特定することができる。

（画像処理部）
画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部２３０は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理を実行する。また、画像処理部２３０は、眼底カメラユニット２により得られた画像（眼底像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部２３０は、トラッキングの実行時において、被検眼Ｅの前眼部を動画撮影して得られた画像を解析して被検眼Ｅの位置及び向きを求める処理を行う。

画像処理部２３０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、画像処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２４０Ａ等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層像を、走査線の位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

以上のように機能する画像処理部２３０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をマイクロプロセッサに実行させるコンピュータプログラムが予め格納されている。

（ユーザインターフェイス）
ユーザインターフェイス２４０には、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂとが含まれる。表示部２４０Ａは、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスや表示装置３を含んで構成される。操作部２４０Ｂは、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。操作部２４０Ｂには、眼科撮影装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。たとえば眼底カメラユニット２が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部２４０Ｂは、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部２４０Ａは、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

なお、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。たとえばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部２４０Ｂは、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部２４０Ｂに対する操作内容は、電気信号として制御部２１０に入力される。また、表示部２４０Ａに表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部２４０Ｂとを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。

［使用形態］
眼科撮影装置１の使用形態の例を説明する。

（第１の使用形態）
ＯＣＴ計測の準備としてアライメントとピント合わせが行われる。更に、駆動制御部２１３は、第１参照駆動部１１２Ａ及び第２参照駆動部１２２Ａを制御して、コーナーキューブ１１２及び１２２の位置合わせを行う。この使用形態では、眼底Ｅｆの脈絡膜側の深さ位置（第１深さ位置）に対応する位置に第１参照光路のコーナーキューブ１１２が配置され、硝子体側の深さ位置（第２深さ位置）に対応する位置に第２参照光路のコーナーキューブ１２２が配置される。それにより、ファイバカプラ１０３からコーナーキューブ１１２を経由してファイバカプラ１４０に至る第１参照光ＬＲ１の光路長と、ファイバカプラ１０３から第１深さ位置で折り返してファイバカプラ１４０に至る第１信号光ＬＳ１の光路長とが等しくなり、かつ、ファイバカプラ１０３からコーナーキューブ１２２を経由してファイバカプラ１５０に至る第２参照光ＬＲ２の光路長と、ファイバカプラ１０３から第２深さ位置で折り返してファイバカプラ１５０に至る第２信号光ＬＳ２の光路長とが等しくなる。また、ユーザは、操作部２４０Ｂを用いて信号光ＬＳの走査パターンを設定する。

操作部２４０Ｂを用いてＯＣＴ計測の開始指示がなされると、主制御部２１１は、光源ユニット１０１及びガルバノスキャナ４２を制御して、設定された走査パターンでのＯＣＴ計測を実行させる。

ラインセンサ１７０は２０４８個の受光素子が直線状に配列されたものであるとする。この直線状の配列に沿って２０４８個の受光素子を符号１７０（０）〜１７０（２０４７）で表す。１０２４個の受光素子１７０（０）〜１７０（１０２３）の一部又は全部が第１干渉光ＬＣ１のスペクトル成分の検出に割り当てられ、１０２４個の受光素子１７０（１０２４）〜１７０（２０４７）の一部又は全部が第２干渉光ＬＣ２のスペクトル成分の検出に割り当てられる。

このような構成により、図５に示すような干渉信号（スペクトル分布）が得られる。符号ＳＤ１は第１干渉光ＬＣ１のスペクトル分布を示し、符号ＳＤ２は第２干渉光ＬＣ２のスペクトル分布を示す。

断層像形成部２２１は、第１スペクトル分布ＳＤ１に対してＦＦＴ等を施すことにより第１断層像を形成し、第２スペクトル分布ＳＤ２に対してＦＦＴ等を施すことにより第２断層像を形成する。第１断層像及び第２断層像の例を図６に示す。

第１断層像Ｇ１は脈絡膜側の第１深さ位置に対応する光路長を有する第１参照光路でＯＣＴ計測を行なって得られた画像であるから、第１深さ位置での干渉強度が最大であり、第１参照光路から遠ざかるほど干渉強度が低下していく。よって、第１断層像Ｇ１においては、脈絡膜及びその近傍に相当する画像は比較的明瞭に描画され、硝子体側の眼底表面に相当する画像は比較的不明瞭に描画される。図６では、眼底表面の画像を点線で描写することにより、このような第１断層像Ｇ１の描画態様を表している。

これに対し、第２断層像Ｇ２は硝子体側の第２深さ位置に対応する光路長を有する第２参照光路でＯＣＴ計測を行なって得られた画像であるから、第２深さ位置での干渉強度が最大であり、第２参照光路から遠ざかるほど干渉強度が低下していく。よって、第２断層像Ｇ２においては、硝子体及びその近傍に相当する画像は比較的明瞭に描画され、脈絡膜に相当する画像は比較的不明瞭に描画される。なお、図６において、第１深さ位置のｚ座標値は第２深さ位置のｚ座標値よりも大きい。つまり、第１深さ位置は第２深さ位置よりも深い位置にある。図６では、脈絡膜の画像を点線で描写することにより、このような第２断層像Ｇ２の描画態様を表している。

合成処理部２２２は、第１断層像Ｇ１と第２断層像Ｇ２との合成断層像Ｇを形成する（図７を参照）。合成断層像Ｇは、第１断層像Ｇ１及び第２断層像Ｇ２と比較して、全ての深さ位置における画像が明瞭に描画される。

表示制御部２１４は、合成処理部２２２により形成された合成断層像Ｇを表示部２４０Ａに表示させる。なお、表示制御部２１４は、断層像形成部２２１により形成された第１断層像Ｇ１及び／又は第２断層像Ｇ２を表示部２４０Ａに表示させることもできる。

（第２の使用形態）
所定の深さ位置に対応する断層像を選択的に形成させることができる。その第１の例として、主制御部２１１は、第１参照光路のみを使用して、当該光路長に対応する深さ位置を最大干渉強度位置とする断層像を形成させることができる。ここで、第１参照光路のみを使用する方法として、第２参照光路にシャッタを設けることができる。

第２の例として、主制御部２１１は、第１及び第２の参照光路の双方を使用しつつ、断層像形成部２２１を制御して第１参照光路に対応する断層像のみを選択的に形成させることができる。

より一般に、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行うための光学系（計測部）及び／又は画像形成部２２０を制御することにより、上記した断層像の選択的形成処理を実行させる。

（第３の使用形態）
参照光路の光路長を自動設定する使用形態について説明する。まず、駆動制御部２１３は、第１参照駆動部１１２Ａを制御し、第１参照光路のコーナーキューブ１１２を所定の初期位置に配置させる。このとき、たとえば臨床データに基づく位置に第２参照光路のコーナーキューブ１２２を配置させることができる。このコーナーキューブ１２２の位置は、たとえば、第１参照光路の光路長と第２参照光路の光路長との差（光路長差）が、正常眼の統計データにおける第１深さ位置と第２深さ位置との間の距離（眼底表面と脈絡膜との間の距離）に等しくなるような位置である。

主制御部２１１は、この設定状態において眼底ＥｆのＯＣＴ計測（予備計測）を実行させる。断層像形成部２２１は、予備計測により得られた第１干渉光ＬＣ１の検出結果に基づいて、第１参照光路の光路長を眼底Ｅｆの所定の深さ位置に合わせるように調整する。この所定の深さ位置は、上記したコーナーキューブ１１２の初期位置に対応する深さ位置である。また、この調整処理は、画像処理部２３０が予備計測に基づく第１断層像ＬＣ１の画質を示す所定の指標を算出し、この指標が所定の閾値以上になるように駆動制御部２１３がコーナーキューブ１１２を移動させることにより行われる。つまり、この調整処理は、第１干渉光ＬＣ１の干渉信号の強度（干渉強度）が所定の閾値以上になるように参照光路の光路長を調整するものである。この調整処理において、駆動制御部２１３は、第１参照駆動部１１２Ａとともに第２参照駆動部１２２Ａを制御して、上記光路長差を維持するように２つのコーナーキューブ１１２及び１２２を移動させる。

第１参照光路の光路長の調整が完了したら、第２参照光路の光路長の調整に移行する。第２参照光路の光路長の調整処理は、更なる予備計測により得られた第２干渉光ＬＣ２の干渉強度が所定の閾値以上になるように、駆動制御部２１３が第２参照光路のコーナーキューブ１２２を移動させることにより行われる。

以上の準備が完了した後に、主制御部２１１は、眼底ＥｆのＯＣＴ計測を実行させて合成断層像を形成させる。

［作用・効果］
眼科撮影装置１の作用及び効果について説明する。

眼科撮影装置１は、計測部と、形成部と、表示部とを有する。計測部は、光コヒーレンストモグラフィを用いた被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ）の計測を行う。計測部は、干渉光学系と、走査部とを含む。干渉光学系は、光源ユニット１０１からの光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割し、信号光ＬＳの被検眼Ｅからの戻り光と参照光ＬＲとの干渉光を検出する。走査部は、信号光ＬＳで被検眼Ｅを走査するガルバノスキャナ４２である。形成部は、ガルバノスキャナ４２による信号光ＬＳの走査に伴い干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて、被検眼Ｅの断層像を形成する。

干渉光学系は、第１分割部材と、第２分割部材と、合成部材と、検出部とを含む。第１分割部材は、信号光ＬＳの戻り光の光路を２つの光路に分割するものであり、ファイバカプラ１３２がこれに該当する。第２分割部材は、参照光ＬＲの光路を光路長が異なる２つの光路に分割するものであり、ハーフミラー１２０がこれに該当する。合成部材は、信号光ＬＳの戻り光の各光路に対して、参照光ＬＲの光路のうちの１つを合成するものであり、ファイバカプラ１４０及び１５０がこれに該当する。検出部は、合成部材により生成された２つの干渉光ＬＣ１及びＬＣ２をそれぞれ検出するものであり、回折格子１６０（分光部材）とラインセンサ１７０とを含んで構成される。

形成部は、第１形成部と、第２形成部とを含む。第１形成部は、検出部による２つの干渉光ＬＣ１及びＬＣ２の検出結果に基づいて、走査部による信号光ＬＳの走査位置に沿う断面における２つの断層像Ｇ１及びＧ２を形成するものであり、断層像形成部２２１がこれに該当する。第２形成部は、２つの断層像Ｇ１及びＧ２を合成して合成断層像Ｇを形成するものであり、合成処理部２２２がこれに該当する。表示制御部２１４は、第２形成部により形成された合成断層像Ｇを表示部２４０Ａに表示させる

このように構成された眼科撮影装置１によれば、干渉強度が最大となる深さ位置が異なる２つ（以上）のＯＣＴ計測を同時に行なって２つ（以上）の断層像を形成し、これらの合成断層像を形成することができる。したがって、深さ方向の画質の劣化が無く、かつ信頼性の高い画像を取得することが可能である。

また、眼科撮影装置１は、第１形成部により形成された２（以上）の断層像のそれぞれを表示できるように構成されている。それにより、たとえば或る深さ位置のみを観察したい場合などにおいて、画像形成部２２０のリソースを節約しつつ目的の断層像を観察することができる。また、第１形成部により形成された断層像を観察することにより、装置や計測に不都合が発生していないか把握することができる。また、第２形成部が複数の画像合成処理を選択的に実行可能に構成されている場合において、第１形成部により形成された画像に基づいて画像合成処理を選択することが可能となる。

また、眼科撮影装置１は、所定の深さ位置に対応する断層像を選択的に形成させることができる（第２の使用形態）。それにより、装置のリソースを節約しつつ目的の深さ位置の断層像を選択的に取得することが可能である。

また、眼科撮影装置１は、参照光路の光路長を自動設定することができる（第３の使用形態）。それにより、参照光路の光路長の設定作業の容易化や短時間化を図ることが可能である。

［変形例］
上記実施形態の変形例を説明する。以下の各変形例を、上記実施形態で説明した任意の構成に組み合わせることができる。

（第１の変形例）
被検眼Ｅをトラッキングしつつ複数のタイミングでＯＣＴ計測を行って複数の合成断層像を取得し、これら合成断層像を重ね合わせて１つの断層像を形成することができる。それにより、ランダムなノイズが低減された高画質で、深さ方向の画質の劣化が無く、かつ信頼性の高い画像を取得することが可能となる。

この変形例の眼科撮影装置は、上記実施形態と同様のハードウェア構成を有する（図１及び図２を参照）。特に、この眼科撮影装置は、被検眼Ｅを動画撮影して正面画像（観察画像）を取得する眼底カメラユニット２を有する。眼底カメラユニット２は「撮影部」として機能する。主制御部２１１は、ＯＣＴ計測が行われる複数のタイミングを含む期間、つまり少なくとも複数回のＯＣＴ計測を行なっている期間において、被検眼Ｅの動画撮影を行うように眼底カメラユニット２を制御する。また、この眼科撮影装置のソフトウェア構成は上記実施形態のそれを踏襲している（図３を参照）。追加的な構成については以下に説明する。

この眼科撮影装置の構成例を図８に示す。この眼科撮影装置は、干渉光学系を移動させる光学系駆動部２Ａを有する。この変形例の光学系駆動部２Ａは、眼底カメラユニット２を移動させるようになっている。主制御部２１１は追従制御部２１５を有する。追従制御部２１５は、光学系駆動部２Ａを制御し、上記実施形態で説明したトラッキングを実行させる。トラッキングとは、被検眼Ｅを動画撮影して得られる観察画像に基づき被検眼Ｅの位置や向きに合わせて装置光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。

画像形成部２２０には重ね合わせ処理部２２３が追加的に設けられている。重ね合わせ処理部２２３は、複数のタイミングで行われたＯＣＴ計測に基づき合成処理部２２２により形成された複数の合成断層像を重ね合わせて１つの断層像を形成する。重ね合わせ処理が施される複数の合成断層像は、トラッキングによって位置合わせがほぼなされている。更に正確な位置合わせが必要な場合には、たとえば眼底Ｅｆの特徴点（視神経乳頭、黄斑部、血管等）に基づく画像マッチングなどの画像処理を行うことができる。

この眼科撮影装置の動作について説明する。準備段階においてアライメントとピント合わせを行い、トラッキングを開始する。

ＯＣＴ計測の開始指示がなされると、主制御部２１１は、眼底Ｅｆの同一の走査ラインに沿うＯＣＴ計測を所定回数実行させる。断層像形成部２２１は、この反復的なＯＣＴ計測のそれぞれにより得られた第１干渉光ＬＣ１の検出結果及び第２干渉光ＬＣ２の検出結果に基づいて、第１断層像及び第２断層像を形成する。合成処理部２２２は、各ＯＣＴ計測に対応する第１断層像及び第２断層像に基づく合成断層像を形成する。それにより、複数の合成断層像が得られる。

重ね合わせ処理部２２３は、これら合成断層像を重ね合わせて１枚の断層像を形成する。表示制御部２１４は、重ね合わせ処理部２２３により形成された断層像を表示部２４０Ａに表示させる。

（第２の変形例）
上記実施形態の構成を用いて、眼軸長等の眼内距離を求めることができる。主制御部２１１は、参照光ＬＲの２以上の光路のうちの２つの光路の間の光路長の差に基づいて、この２つの光路に対応する被検眼Ｅの２つの深さ位置の間の距離を算出する。この処理を行う主制御部２１１は「算出部」として機能する。

この眼内距離算出処理の具体例として、この変形例の眼科撮影装置は、上記実施形態と同じＯＣＴ計測を行なって合成断層像Ｇを形成する。更に、主制御部２１１は、第１参照光路と第２参照光路との光路長差を算出する。この算出処理は、駆動制御部２１３による２つのコーナーキューブ１１２及び１２２の移動制御の内容に基づいて実行される。算出された光路長差は、第１参照光路の光路長に対応する眼底Ｅｆの深さ位置（脈絡膜側の深さ位置）と、第２参照光路の光路長に対応する眼底Ｅｆの深さ位置（硝子体側の深さ位置）との間の距離に相当する。主制御部２１１は、算出された眼内距離を表示部２４０Ａに表示させる。

（第３の変形例）
上記実施形態ではハーフミラー１２０を用いて参照光路を分割しているが、参照光路の分割形態はこれに限定されるものではない。参照光路の他の分割形態を図９Ａ及び図９Ｂに示す。

図９Ａには、図２の参照光路に代わる部分のみが記載されている。図９Ａに示す参照光路は、コリメータ１１１から参照光ＬＲが出射した先の位置に斜設された反射ミラー１１５と、コリメータ１１１と反射ミラー１１５との間に斜設されたハーフミラー１２５を含んで構成される。この変形例では、参照光ＬＲの進行方向に対する反射ミラー１１５の傾斜角度とハーフミラー１２５の傾斜角度とが異なっている。

ハーフミラー１２５の反射率（透過率）は任意である。ハーフミラー１２５は「参照光の一部を反射し他の一部を透過させる光学部材」として機能する。

反射ミラー１１５は、第１参照駆動部１１２Ａにより参照光ＬＲの進行方向に沿って移動される。ハーフミラー１２５は、第２参照駆動部１２２Ａにより参照光ＬＲの進行方向に沿って移動される。なお、反射ミラー１１５の移動と同期して、コリメータ１１３が反射ミラー１１５の移動方向に直交する方向（つまり、反射ミラー１１５による反射光の進行方向の位置）に移動される。同様に、ハーフミラー１２５の移動と同期して、コリメータ１２３が反射ミラー１２５の移動方向に直交する方向（つまり、反射ミラー１２５による反射光の進行方向の位置）に移動される。

コリメータ１１１から出射した参照光ＬＲは、ハーフミラー１２５に到達する。ハーフミラー１２５を透過した参照光ＬＲの成分が第１参照光ＬＲ１となる。また、ハーフミラー１２５に反射された参照光ＬＲの成分が第２参照光ＬＲ２となる。

第１参照光ＬＲ１は、反射ミラー１１５により入射方向と異なる方向（非平行な方向）に反射され、ハーフミラー１２５を透過し、その先に配置されたコリメータ１１３に入射する。これ以降は同様である。

第２参照光ＬＲ２は、ハーフミラー１２５に対する参照光ＬＲの入射方向と異なる方向に進行し、その先に配置されたコリメータ１２３に入射する。これ以降は同様である。

図９Ｂに示す参照光路について説明する。なお、この変形例の信号光路の構成は図２と同様である。

ファイバカプラ１０３により生成された参照光ＬＲは、光ファイバ１９０を介してファイバカプラ１９１に導かれる。ファイバカプラ１９１は、参照光ＬＲを第１参照光ＬＲ１と第２参照光ＬＲ２に分割する。第１参照光ＬＲ１は、光ファイバ１９２によりファイバカプラ１４０に導かれ、第１信号光ＬＳ１と干渉して第１干渉光ＬＣ１を生成する。

一方、第２参照光ＬＲ２は、光ファイバ１９３によりコリメータ１１１に導かれて平行光束となる。平行光束となった第２参照光ＬＲ２の光路には、コーナーキューブ１９５と、コリメータ１９６と、光ファイバ１９７とが設けられている。コーナーキューブ１９５は、第２参照光ＬＲ２の進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ１９５に入射する第２参照光ＬＲ２の光路と、コーナーキューブ１９５から出射する第２参照光ＬＲ２の光路とは平行である。また、コーナーキューブ１９５は、第２参照光ＬＲ２の入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により第２参照光ＬＲ２の光路長が変更される。コーナーキューブ１９５を経由した第２参照光ＬＲ２は、コリメータ１９６によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバ１９７に入射し、ファイバカプラ１５０に導かれる。それにより、第２参照光ＬＲ２は、第２信号光ＬＳ２と干渉して第２干渉光ＬＣ２を生成する。

このような構成によれば、コーナーキューブ１９５を移動させることにより、第１参照光ＬＲ１と第２参照光ＬＲ２との間の光路長差を変更することができる。また、光路長変更部４１を移動させることにより、第１参照光ＬＲ１及び第２参照光ＬＲ２の光路長に対して信号光ＬＳの光路長を変更することができる。

なお、図９Ｂの例では参照光ＬＲの光路を２つに分割しているが、同様の構成を信号光ＬＳ側に設けることで信号光ＬＳを分割するようにしてもよい。たとえば、第１信号光ＬＳ１又は第２信号光ＬＳ２の光路に、コリメータ１９４、コーナーキューブ１９５、コリメータ１９６及び光ファイバ１９７に相当する光学系を設けるとともに、コーナーキューブ１９５に相当する部材を移動する機構を設けることが可能である。

（第４の変形例）
上記実施形態はスペクトラルドメインタイプである。この変形例ではスウェプトソースタイプの光学系の構成例を説明する。

この変形例は、光源ユニット１０１と、干渉光の検出系を除いて、上記実施形態と同様である（図２を参照）。この変形例のＯＣＴユニット１００の構成例を図１０に示す。光源ユニット１０１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、出力光の波長を掃引可能な波長掃引光源を含む。

検出系は、２以上の干渉光をそれぞれ検出する検出素子を含む。この検出系は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、たとえば２個のフォトダイオードを互いの光電流を相殺するように接続してなるバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ ＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ：ＰＢＤ）を含んで構成される。図１０に示す構成では、第１干渉光ＬＣ１を導く光ファイバ１４１の後段にバランスドフォトダイオード１８１が設けられ、第２干渉光ＬＣ２を導く光ファイバ１５１の後段にバランスドフォトダイオード１８２が設けられている。

断層像形成部２２１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、光源ユニット１０１による波長の掃引に伴いバランスドフォトダイオード１８１により得られた第１干渉光ＬＣ１の検出結果に基づいてスペクトル分布を求め、このスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことで第１断層像を形成する。同様に、断層像形成部２２１は、光源ユニット１０１による波長の掃引に伴いバランスドフォトダイオード１８２により得られた第２干渉光ＬＣ２の検出結果に基づいてスペクトル分布を求め、このスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことで第２断層像を形成する。合成処理部２２２は、第１断層像と第２断層像を合成して合成断層像を形成する。表示制御部２１４は、形成された合成断層像を表示部２４０Ａに表示させる。

（第５の変形例）
上記実施形態は、被検眼Ｅの異なる深さ位置に合わせたＯＣＴ計測を同時に行うものである。また、ラインセンサ１７０の受光素子の個数は決まっているので、深さ方向（ｚ方向）において画像を描画できる範囲（画像化範囲）には制限がある。したがって、被検眼Ｅの画像がデフォルトサイズのフレームに入り切らない場合や、折り返し画像がフレーム端部に表れる場合がある。たとえば、被検眼Ｅが強度近視である場合、眼軸長が長く眼球が楕円形状であり、図１１に示すように眼底Ｅｆの画像が深さ方向（ｚ方向）に伸びて折り返し画像Ｈが表れることがある。この変形例は、このような場合においても好適な画像を得るためのものである。

強度近視の被検眼Ｅに対して、上記実施形態で説明したＯＣＴ計測を行う。それにより、図１２Ａに示すような第１断層像Ｊ１と、図１２Ｂに示すような第２断層像Ｊ２が得られる。第１断層像Ｊ１は、脈絡膜側の深さ位置の干渉強度が最大となるようにして行われたＯＣＴ計測によるものである。第１断層像Ｊ１において、眼底Ｅｆの画像はフレームの上側（−ｚ側）に偏って描画される。これに対し、第２断層像Ｊ２は、硝子体側の深さ位置の干渉強度が最大となるようにして行われたＯＣＴ計測によるものである。第２断層像Ｊ２において、眼底Ｅｆの画像はフレームの下側（＋ｚ側）に偏って描画される。

合成処理部２２２は、眼底Ｅｆの深さ方向（ｚ方向）における画像化範囲を延長して、第１断層像Ｊ１及び第２断層像Ｊ２に基づく合成断層像を形成する。

この合成処理において、合成処理部２２２は、まず、フレームをｚ方向に延長する。この処理は、第１断層像Ｊ１及び第２断層像Ｊ２に基づいて延長幅を決定するものでもよいし、あらかじめ決められた延長幅を適用するものでもよい。前者の例として、第１断層像Ｊ１における眼底Ｅｆの画像と第２断層像Ｊ２における眼底Ｅｆの画像とをマッチングして貼り合わせ、この貼り合わせ画像のｚ方向の長さを求め、この長さと第１断層像Ｊ１（又は第２断層像Ｊ２）のｚ方向の長さとの差を算出し、この差を延長幅とする。後者の例として、臨床データに基づいて求められた延長量を適用する。

延長幅が決定されたら、合成処理部２２２は、この延長幅だけフレームをｚ方向に延長し、この拡大されたフレームに合成断層像を描画する。このように拡大されたフレームに描画された合成断層像の例を図１３に示す。図１３のΔｚは延長幅を示し、符号Ｊは合成断層像を示している。

このような合成処理を行うことにより、眼底Ｅｆの画像全体を観察することが可能となる。

この合成処理を行うか行わないかの判断は、手動で又は自動で行われる。手動で判断する場合の例として、この合成処理を実行する動作モードを指定可能なユーザインターフェイスを設けることができる。この動作モードとしては、強度近視の被検眼の計測を行うときに指定される「強度近視モード」がある。

自動で判断する場合の例として、断層像形成部２２１により形成された断層像（たとえば第１断層像Ｊ１）を解析して、眼底Ｅｆの画像がフレームに収まっているか否か判断し、画像がフレームに収まっていないと判断された場合に当該動作モードを行うように制御することができる。

（その他の変形例）
以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形（省略、置換、付加等）を適宜に施すことが可能である。

上記の実施形態においては、光路長変更部４１の位置を変更することにより、信号光ＬＳの光路と参照光ＬＲの光路との光路長差を変更しているが、この光路長差を変更する手法はこれに限定されるものではない。たとえば、参照光の光路に反射ミラー（参照ミラー）を配置し、この参照ミラーを参照光の進行方向に移動させて参照光の光路長を変更することによって、当該光路長差を変更することが可能である。また、被検眼Ｅに対して眼底カメラユニット２やＯＣＴユニット１００を移動させて信号光ＬＳの光路長を変更することにより当該光路長差を変更するようにしてもよい。また、特に被測定物体が生体部位でない場合などには、被測定物体を深度方向（ｚ方向）に移動させることにより光路長差を変更することも可能である。

上記の実施形態を実現するためのコンピュータプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ／ＤＶＤ−ＲＡＭ／ＤＶＤ−ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。

また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

１ 眼科撮影装置
２ 眼底カメラユニット
１０ 照明光学系
３０ 撮影光学系
３１ 合焦レンズ
３１Ａ 合焦駆動部
４１ 光路長変更部
４２ ガルバノスキャナ
５０ アライメント光学系
６０ フォーカス光学系
１００ ＯＣＴユニット
１０１ 光源ユニット
１０３、１３２、１４０、１５０ ファイバカプラ
１１２、１２２ コーナーキューブ
１１２Ａ 第１参照駆動部
１２０ ハーフミラー
１２２Ａ 第２参照駆動部
１６０ 回折格子
１７０ ラインセンサ
２００ 演算制御ユニット
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１２ 記憶部
２１３ 駆動制御部
２１４ 表示制御部
２２０ 画像形成部
２２１ 断層像形成部
２２２ 合成処理部
２２３ 重ね合わせ処理部
２３０ 画像処理部
２４０Ａ 表示部
２４０Ｂ 操作部
Ｅ 被検眼
Ｅｆ 眼底
ＬＳ 信号光
ＬＳ１ 第１信号光
ＬＳ２ 第２信号光
ＬＲ 参照光
ＬＲ１ 第１参照光
ＬＲ２ 第２参照光
ＬＣ 干渉光
ＬＣ１ 第１干渉光
ＬＣ２第２干渉光

Claims (13)

1. 光源からの光を信号光と参照光とに分割し、前記信号光の被検眼からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記信号光で前記被検眼を走査する走査部とを含み、光コヒーレンストモグラフィを用いた前記被検眼の計測を行う計測部と、
   前記走査に伴い前記干渉光学系により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて、前記被検眼の断層像を形成する形成部と
   を有する眼科撮影装置であって、
   前記干渉光学系は、
   前記信号光の戻り光の光路を２以上の光路に分割する第１分割部材と、
   前記参照光の光路を光路長が異なる２以上の光路に分割する第２分割部材と、
   前記戻り光の前記２以上の光路のそれぞれと、前記参照光の前記２以上の光路のうちの１つとを合成する合成部材と、
   前記合成部材により生成された２以上の干渉光をそれぞれ検出する検出部と
   を含み、
   前記形成部は、
   前記検出部による前記２以上の干渉光の検出結果に基づいて、前記走査部による信号光の走査位置に沿う断面における２以上の断層像を形成する第１形成部と、
   前記２以上の断層像を合成して合成断層像を形成する第２形成部と
   を含み、
   前記合成断層像を表示部に表示させる眼科撮影装置。
2. 前記光源は、低コヒーレンス光を出力し、
   前記検出部は、
   前記２以上の干渉光のそれぞれを分光する分光部材と、
   前記分光部材により得られた前記２以上の干渉光のそれぞれのスペクトル分布を検出するラインセンサと
   を含み、
   前記第１形成部は、前記ラインセンサにより検出されたスペクトル分布をフーリエ変換することで前記２以上の断層像を形成する
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科撮影装置。
3. 前記光源は、出力光の波長を掃引可能な波長掃引光源であり、
   前記検出部は、前記２以上の干渉光をそれぞれ検出する検出素子を含み、
   前記第１形成部は、前記波長掃引光源による波長の掃引に伴い前記検出素子により得られた検出結果に基づいてスペクトル分布を求め、前記スペクトル分布をフーリエ変換することで前記２以上の断層像を形成する
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科撮影装置。
4. 前記計測部は、前記参照光の前記２以上の光路の光路長の差を変更する変更部を含むことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
5. 前記干渉光学系は、前記参照光の前記２以上の光路の途中にそれぞれに設けられた反射部材を含み、
   前記変更部は、前記反射部材を移動させることにより前記光路長の差を変更する
   ことを特徴とする請求項４に記載の眼科撮影装置。
6. 前記表示部は、前記第１形成部により形成された２以上の断層像のそれぞれを表示可能であることを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
7. 前記計測部及び／又は前記形成部を制御して、前記２以上の断層像のうちのいずれかを選択的に形成させる制御部を有することを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
8. 前記計測部は、複数のタイミングでそれぞれ前記被検眼の計測を行い、
   前記複数のタイミングを含む期間に前記被検眼を動画撮影して正面画像を取得する撮影部と、
   前記動画撮影により得られる前記正面画像に基づき前記干渉光学系を移動させることにより、前記被検眼の動きに前記干渉光学系の位置を追従させる追従制御部と
   を有し、
   前記第１形成部及び前記第２の形成部は、前記複数のタイミングのそれぞれについて前記合成断層像を形成し、
   前記形成部は、前記複数のタイミングの合成断層像を重ね合わせて１の断層像を形成する重ね合わせ処理部を含む
   ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
9. 前記計測部により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて、前記参照光の前記２以上の光路のうちの１の光路の光路長を前記被検眼の所定の深さ位置に合わせるように調整し、更に、当該１の光路以外の光路の光路長を他の深さ位置に合わせるように調整する制御部を有することを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
10. 前記参照光の前記２以上の光路のうちの２つの光路の間の光路長の差に基づいて、当該２つの光路に対応する前記被検眼の２つの深さ位置の間の距離を算出する算出部を有することを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
11. 前記参照光の光路に反射ミラーが設けられており、
    前記第２分割部材は、前記反射ミラーの前段に設けられ、前記参照光の一部を反射し他の一部を透過させる光学部材を含む
    ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
12. 前記第２形成部は、前記被検眼の深さ方向における画像化範囲を延長して前記２以上の断層像に基づく前記合成断層像を形成することを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
13. 前記計測部及び前記形成部の動作モードを強度近視モードに設定する設定部と、
    前記強度近視モードが設定されたときに、前記第２形成部に前記画像化範囲の延長を行わせる制御部と
    を有することを特徴とする請求項１２に記載の眼科撮影装置。

Images