JP2016021199A - 炎感知器 - Google Patents

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Abstract

【課題】従来、炎感知器に汚損度測定用発光素子と汚損度測定用受光素子を設けて、受光素子前方に設けられた受光窓の汚損度を測定していた。しかし、汚損度測定用発光素子の発光部である灯部の位置が回路基板から遠い位置にあるため、発光方向を調整する必要がある。更に、調整を行っても発光方向が安定せず、汚損度測定用受光素子の受光量にばらつきが生じるおそれがあった。
【解決手段】汚損度測定用発光素子を回路基板に取り付けるための固定スペーサを設け、固定スペーサに汚損度測定用発光素子の灯部を位置決め固定することで、汚損度測定用発光素子の発光方向を所定の方向に固定する。
【選択図】図1

Description

本発明は、火災の検出を行う炎感知器に関するものであり、更に述べると、受光窓の
汚損度測定試験機能を有する炎感知器に関するものである。
炎感知器には、受光窓が設けられており、炎から放射される赤外線は、この受光窓を透過した後に受光素子で受光される。そのため、前記受光窓が粉塵等によって汚れていると、前記赤外線が透過しにくくなるので、精度の高い炎検出を行うことが困難となる。
そこで、上記問題に対して、本体カバーの略中央に設けられた受光窓の汚損度を測定するために、本体カバー内部に設けられた試験光を照射する試験光源と、受光窓の裏面近傍に設けられ、試験光源から光を受光する受光素子とを備えた汚損度測定試験機能付き火災検知器が開発されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2005−122437号公報
図7は特許文献1に記載された従来の炎感知器である。実施例1の炎感知器と同じ構成については、一部について符号を省略している。図2は炎感知器を天井設置時に下方から見た図であり、図7はそのI−I線概略縦断面図である。1000は炎感知器、7は受光窓、8は受光素子、3は本体カバー、22は汚損度測定用受光素子、100は汚損度測定用発光素子を示す。
汚損度測定用発光素子100は、近赤外線波長帯域の試験光を発光する発光ダイオードであり、そのリード線部100bはソケット100cを介して回路基板5に取り付けられている。この汚損度測定用発光素子100の灯部100aは第2の収容室21内において本体カバー3の最下面裏側に近接して位置しており、そのリード線部100bが折り曲げられることで、その灯部100aが、所定の曲げ角度、例えば18度で曲げられて受光窓7に向けられるともに、後述する汚損度測定用受光素子22と互いの光軸が対向する向きに向けられている。
汚損度測定用発光素子100からの試験光を受光する汚損度測定用受光素子22は、開口部6の開口内を避けた位置で、回路基板5に直付けされて搭載されている。
ここで、前記開口を避けた位置とは、該開口と相対位置でない位置であり、前記開口から外光が入り込みにくい領域をいい、例えば、受光素子収容部13の外側である。汚損度測定用受光素子22は、可視光から近赤外線までの波長帯域に感度を有するSiフォトダイオードであり、その受光面は可視光カット部材により構成されている。汚損度測定用受光素子22は、回路基板5において受光素子収容部13を介して汚損度測定用発光素子100の反対側に位置し、更にそのリード線部22bが折り曲げられて、その受光部22aは、汚損度測定用発光素子100と互いの光軸が対向する向きに向けられている。
そして、試験光は受光窓7の汚損度により減衰するため、汚損度測定用受光素子22の出力から、その汚損度を測定することができる。
しかしながら、上記した従来の炎感知器1000では、汚損度測定用発光素子100における灯部100aの位置が回路基板5から遠い位置にあるために、製造時に発光方向を調整する必要があった。更に、調整を行っても発光方向が安定せず、汚損度測定用受光素子22の受光量にばらつきが生じるおそれがあった。
本発明は、上記事情に鑑み、炎感知器において汚損度測定用発光素子の発光方向及び汚損度測定用受光素子の受光量にばらつきがないようにすることを目的とする。
本発明は前記課題を解決するものであり、次のとおりのものである。
本体と、前記本体に連結され開口部を有する本体カバーとからなるケースと、前記ケース内に収容される回路基板と、赤外線を透過させる素材からなる受光窓を介して、前記開口部から入射される炎から放射された赤外線を受光する受光素子と、前記受光窓の汚損度測定試験を行うための試験光を発光する汚損度測定用発光素子と、前記受光窓を介して前記試験光を受光する汚損度測定用受光素子と、を備えてなる炎感知器であって、前記汚損度測定用発光素子を前記回路基板に取り付けるための固定スペーサを設け、前記固定スペーサに前記汚損度測定用発光素子の灯部を位置決め固定することで、前記汚損度測定用発光素子の発光方向が所定の方向に固定されることを特徴とする炎感知器。
本願の発明は、次の効果を奏する。
(1)製造時に汚損度測定用発光素子の発光方向を調整する必要がなく、製造工程数が低減されて生産性が向上する。
(2)汚損度測定用発光素子の発光方向が安定するため、歩留まりを高めることができる。
(3)発光素子を生産時に正確な位置に固定することができ、また、現場での振動等による外的要因を受けにくくなることから、現場での異常誤作動を低減することができる。
実施例1における炎感知器。図2のI−I線概略縦断面図である。 従来および実施例1の炎感知器を天井設置時に下方から見た図。 実施例1における汚損度測定用発光素子10の斜視図。 実施例1における固定スペーサ50。 実施例1において、回路基板5に固定スペーサ50等を取り付けた状態を示す図。 汚損度測定用発光素子10の発光特性。 従来の炎感知器。図2のI−I線概略縦断面図である。
以下、この発明の実施形態について説明する。従来例の図7と同じ部分には共通の符号を付す。
図1は、本発明の実施例1を示す炎感知器1の図で、図2のI−I線概略縦断面図である。
炎感知器1は、本体2と、本体2に連結される本体カバー3とからなるケース4を備えており、図示しない刃金具により取り付けベースに結合されて天井面等に取り付けられるものである。図2は、炎感知器1を天井に取り付けた状態で、下方から見た図である
本体カバー3は、截頭円錐状に形成されるとともに、底面中央の凹状部には、開口を有する底壁6bと側壁6aとから形成される開口部6が形成されている。更に、本体カバー3には、キャップ嵌合部11が形成されており、このキャップ嵌合部11に嵌合されて、動作確認灯9と汚損度測定用発光素子10を収容するメタクリル樹脂材質からなる透明な透光キャップ11aが設けられている。
受光素子8は、受光素子収容部13に収容され、その受光部8aが本体カバー3の開口部6との相対位置に位置する如く回路基板5に搭載されている。受光素子収容部13は、受光素子8の周囲を囲み、かつ、受光素子8の受光部8aとの相対位置にバンドパスフィルタ14を固定する円筒状の受光素子ホルダ15と、この受光素子ホルダ15の前面に配置された受光窓7と、受光素子ホルダ15が収容され、受光素子8の受光部8aとの相対位置に受光窓7を固定する、メタクリル樹脂材質からなる透明な円筒状の受光素子カバー16とからなる。受光素子カバー16は、汚損度測定用発光素子10が発する試験光を後述する汚損度測定用受光素子22に向けて透過する第3の透光窓16aを備えている。
この受光素子カバー16は、凹状部の開口部6の底壁6b内面に当接しているので、前記開口部6の開口は、前記受光素子収容部13につながっているような状態となっている。この受光素子収容部13では、受光素子カバー16と受光素子ホルダ15とが対応する複数個の係止孔16bと突起15c(図1において1組のみ示す)により係合17が形成され、受光素子ホルダ15が回路基板5に係合(図示省略)されることで、回路基板5に取り付けられている。なお、バンドパスフィルタ14は、特定の波長帯の範囲内にある光線のみを透過させる性質を有するもので、本実施の形態においては、炎から放射されるCO共鳴放射の波長帯域の赤外線のみを透過させるために用いられている。又、受光窓7は、赤外線を透過させる素材、例えば、サファイアガラスからなる。
これにより、炎感知器1において、炎から放射された赤外線は、本体カバー3の開口部6から入射されて受光窓7及びバンドパスフィルタ14を透過し、受光素子8の受光部8aに受光されることとなり、受光素子8がその赤外線を検出して炎の発生を感知することができるようになっている。
透光キャップ11aは、動作確認灯9を収容し、動作確認灯9用の第1の透光窓18を有する第1の収容室19と、汚損度測定用発光素子10を収容し、汚損度測定用発光素子10用の第2の透光窓20を有する第2の収容室21とを備えている。なお、第1の収容室19は、回路基板5側の面を有しない略箱状であり、第2の収容室21は、回路基板5側及び本体カバー3表面側の面を有しない略箱状である。第2の収容室21の本体カバー3表面側の面は、本体カバー3で塞がれている。
透光キャップ11aにおいて、第1の透光窓18は、四角錘状に形成されるとともに表面が梨地状に形成され、本体カバー3の表面より外方に突出して設けられており、第2の透光窓20は、第2の収容室21の側壁21aに形成され、本体カバー3の開口部6に臨んで設けられている。
ケース4内に収容される回路基板5には、炎を感知する受光素子8と共に動作確認灯9、汚損度測定用発光素子10と汚損度測定用受光素子22が接続される。本発明の実施例1では、動作確認灯9と汚損度測定用発光素子10は固定スペーサ50に搭載された状態で回路基板5に固定されている。固定スペーサ50は回路基板5から下方に延びて汚損度測定用発光素子10の灯部10aを位置決め固定することで、灯部10aの発光方向が所定の方向に固定される。
図3は、汚損度測定用発光素子10の斜視図であり、灯部10aとリード線部10bを有する。
図4は、固定スペーサ50である。炎感知器1を天井に設置した際には上下が逆になる。図4(a)は側面図、図4(b)は斜め上方(天井設置状態では斜め下方)から見た図である。図4については炎感知器1の天井設置状態ではなく図4の上下関係で説明する。固定スペーサ50は側面から見て、図4(a)に示したように高台部50aと低台部50bが接続された構造となっており、下部には3つの固定脚50cがある。固定スペーサ50はこの固定脚50cにより回路基板5に固定される。
高台部50aにはその上部に灯部搭載部50dがあり、その低台部50b側に灯背固定部50eが、逆側の両側に灯前側固定部50fがある。図4(b)に示したように、灯前側固定部50fは二つに分かれており、その間に灯前溝50gがある。これらの構造により汚損度測定用発光素子10の灯部10aを固定する。
また、高台部50aにはリード線収納溝50hがその両側面に設けられ、下部にはリード線挿入孔50iが設けられている。これらを介して汚損度測定用発光素子10のリード線部10bが回路基板5に直付けされる。
低台部50bの上部には確認灯搭載部50jがあり、その面から下部に向けて確認灯リード線挿入部50kが設けられている。そして、動作確認灯9が搭載され、リード線部9bが確認灯リード線挿入部50kを介して回路基板5に直付けされる。
図5は、汚損度測定用発光素子10等を回路基板5に取り付けた状態を表す図である。汚損度測定用発光素子10は、動作確認灯9と共に固定スペーサ50に取り付けたうえで、回路基板5に取り付けられている。汚損度測定用発光素子10は固定スペーサ50の灯部搭載部50dに跨るようにして設置され、その灯部10aは灯背固定部50eと灯前側固定部50fにより固定され、そのリード線部10bはリード線収納溝50hに収納されてリード線挿入孔50iを通り回路基板5に接続されている。また、動作確認灯9は確認灯搭載部50jに搭載され、確認灯リード線挿入部50kを通り回路基板5に接続されている。さらに汚損度測定用受光素子22も回路基板5に取り付けられている。灯部10aは回路基板5から離れた位置にあり、回路基板5近傍に取り付けた汚損度測定用受光素子22に向かって近赤外線の試験光を発光する。図5の矢印で示したように、近赤外線は受光窓7から入り、第3の透光窓16aを透過して汚損度測定用受光素子22で受光される。灯部10aは固定スペーサ50の先端に固定されているので位置や方向がずれることはない。
汚損度測定用発光素子10と動作確認灯9は固定スペーサ50に搭載された状態で透光キャップ11aに挿入される。汚損度測定用発光素子10は第2の収容室21内に位置し、灯部10aからの光は第2の透光窓20を介して汚損度測定用受光素子22へ向けて放出される。また、動作確認灯9は、その発光部9aが透光キャップ11aの第1の収容室19内に位置する。
図6は、実施例1における汚損度測定用発光素子10の発光特性である。この素子では、10度近傍の発光量が最も高いが、本実施例では−20〜−30度の方向の発光を用いる。すなわち、汚損度測定用受光素子22の方向が−20〜−30度になるように設置される。この方向では灯部10aの方向を変える必要がないだけでなく、角度が少し変わったとしても発光量はほとんど変わらないので、発光強度に角度安定性がある。この点でも汚損度測定用受光素子22のばらつきは生じにくい。
汚損度測定用発光素子10からの光を受光する汚損度測定用受光素子22は、開口部6の開口内を避けた位置で、回路基板5に直付けされて搭載されている。
ここで、前記開口を避けた位置とは、該開口と相対位置でない位置であり、前記開口から外光が入り込みにくい領域をいい、例えば、受光素子収容部13の外側である。汚損度測定用受光素子22は、可視光から近赤外線までの波長帯域に感度を有するSiフォトダイオードであり、その受光面は可視光カット部材により構成されている。汚損度測定用受光素子22は、回路基板5において受光素子収容部13を介して汚損度測定用発光素子10の反対側に位置し、更にそのリード線部22bが折り曲げられて、その受光部22aが、所定の曲げ角度で曲げられて、汚損度測定用発光素子10と互いの光軸が対向する向きに向けられている。
次に、実施例1の炎感知器における動作について説明する。
火災監視時:
図1において、受光素子8は、受光窓7を介して炎を監視している。火災が発生すると、火災により発生した赤外線は、開口部6の開口、受光窓7及びバンドパスフィルタ14を透過して受光素子8に受光されるので、火災が検出できる。
受光窓の汚損度測定試験時:
汚損度測定用発光素子10に給電すると近赤外線の試験光が発生する。そして、灯部10aは固定スペーサ50によって位置固定されており、その試験光は図1,5に示すように、透光キャップ11aの第2の透光窓20、受光窓7、受光素子ホルダ15の切欠部15a、受光素子カバー16の第3の透光窓16a、を透過して汚損度測定用受光素子22に正確に受光される。
試験光は受光窓7の汚損度により減衰するため、汚損度測定用受光素子22の出力から、その汚損度を測定する。
測定した汚損度により受光素子8から得られる信号の補正や、炎感知器1の異常報知が行われる。
なお、受光素子収容部13は、防風機能をもち、受光素子8が外気の影響を受けることを防止することができる。
この発明の他の複数の実施例を、実施例1との相違点を示して説明する。
(1)汚損度測定用発光素子10と汚損度測定用受光素子22の位置を逆にして、汚損度測定用受光素子22を固定スペーサ50に搭載する。これにより受光方向が固定されるので受光感度が安定する。また、汚損度測定用発光素子10と汚損度測定用受光素子22との両方を固定部品等により固定するようにしてもよい。
(2)固定スペーサ50を回路基板5から斜め方向に傾いて突出した形状とする。そうすると、実施例1のように汚損度測定用発光素子10の斜め方向の発光を用いなくても、固定スペーサ50の傾きを変えれば任意の方向の発光を用いることができ、発光特性が異なる種々の発光素子を用いることができる。また、当該方向が汚損度測定用受光素子22に向くように、固定スペーサ50は灯部10aが当接する灯部搭載部50dの近傍のみ傾けても良く、汚損度測定用発光素子10のリード線部10bを通過させるための固定スペーサ50の灯部搭載部50d、リード線収納溝50h、リード線挿入孔50i等に任意の角度を設けてもよい。これらの場合には、第2の収容室21が固定スペーサ50等を収容できる形状と大きさになるように透光キャップ11a等を設計する。
(3)実施例1では、固定スペーサ50は回路基板5に固定されて灯部10aの方向を規定するが、本体カバー3に固定してもよい。この場合には、汚損度測定用発光素子10等を搭載した固定スペーサ50を本体カバー3に固定した後で、はんだ付けやコネクタによってリード線部10b等を回路基板5に接続する。
また、図6における−20〜−30度の方向の角度安定性を有した発光特性のみを利用して、灯部10aを固定スペーサ50に固定せずに、従来のように設置しても良い。
1 炎感知器、2 本体、3 本体カバー、4 ケース、5 回路基板、6 開口部、7 受光窓、8 受光素子、9 動作確認灯、10 汚損度測定用発光素子、10a 灯部、10b リード線部、11 キャップ嵌合部、11a 透光キャップ、13 受光素子収容部、14 バンドパスフィルタ、15 受光素子ホルダ、16 受光素子カバー、16a 第3の透光窓、18 第1の透光窓、19 第1の収容室、20 第2の透光窓、21 第2の収容室、21a 側壁、22 汚損度測定用受光素子、50 固定スペーサ、50a 高台部、50b 低台部、50c 固定脚、50d 灯部搭載部、50e 灯背固定部、50f 灯前側固定部、50g 灯前溝、50h リード線収納溝、50i リード線挿入孔、50j 確認灯搭載部、50k 確認灯リード線挿入部、100 汚損度測定用発光素子、100a 灯部、100b リード線部、100c スペーサ、1000 炎感知器

Claims (2)

  1. 本体と、前記本体に連結され、開口部を有する本体カバーとからなるケースと、
    前記ケース内に収容される回路基板と、
    赤外線を透過させる素材からなる受光窓を介して、前記開口部から入射される炎から放射された赤外線を受光する受光素子と、
    前記受光窓の汚損度測定試験を行うための試験光を発光する汚損度測定用発光素子と、
    前記受光窓を介して前記試験光を受光する汚損度測定用受光素子と、を備えてなる炎感知器であって、
    前記汚損度測定用発光素子を前記回路基板に取り付けるための固定スペーサを設け、
    前記固定スペーサに前記汚損度測定用発光素子の灯部を位置決め固定することで、前記汚損度測定用発光素子の発光方向が所定の方向に固定されることを特徴とする炎感知器。
  2. 前記汚損度測定用発光素子は、前記固定スペーサを介して前記回路基板に取り付けられた状態で、前記汚損度測定用受光素子の方向の発光強度に角度安定性があることを特徴とする請求項1に記載の炎感知器。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07175985A (ja) * 1993-12-20 1995-07-14 Nohmi Bosai Ltd 火災検知器
JP2005122437A (ja) * 2003-10-16 2005-05-12 Nohmi Bosai Ltd 炎感知器
JP2010073019A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Nittan Co Ltd 炎感知器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07175985A (ja) * 1993-12-20 1995-07-14 Nohmi Bosai Ltd 火災検知器
JP2005122437A (ja) * 2003-10-16 2005-05-12 Nohmi Bosai Ltd 炎感知器
JP2010073019A (ja) * 2008-09-19 2010-04-02 Nittan Co Ltd 炎感知器

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