JP2016009335A - Test preparation device and test preparation program - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To save labor in storing and to suppress leak of a test.SOLUTION: A test preparation device includes: storage means which stores a plurality of test questions and attribution information for each test question; receiving means which receives a selection condition of the test questions; test question selecting means which collates the attribution information and the selection condition, selects a test question from a plurality of test questions on the basis of the collated result, and outputs the test question.

Description

本発明は、試験作成装置及び試験作成プログラムに関する。   The present invention relates to a test creation device and a test creation program.

通常、学力等を評価するためのペーパ試験を行う場合には、予め試験作成者が試験問題を検討して作成し、作成した試験問題を用紙に印刷し、試験時に、試験用紙を受験者に配布して実施する。また、下記特許文献1には、上述したペーパ試験とは異なり、インターネットを通じてサーバ装置から受験生の端末に試験問題を提供する学習システムが開示されている。   In general, when conducting a paper test to evaluate academic ability, the test creator reviews and prepares the test questions in advance, prints the prepared test questions on paper, and sends the test paper to the test taker during the test. Distribute and implement. Patent Document 1 below discloses a learning system that provides test questions from a server device to a terminal of an examinee through the Internet, unlike the paper test described above.

特開2004−117947号公報JP 2004-117947 A

ところで、上記従来技術では、試験問題が印刷された試験用紙、またはサーバ装置に記憶される試験データを、例えば数日前に作成し、試験当日まで外部に漏洩しないように保管する必要があるが、上記試験用紙や試験データを漏洩しないようにどのように保管するべきなのかが問題であった。   By the way, in the above prior art, it is necessary to prepare test data on which a test question is printed, or test data stored in the server device, for example, several days ago and store it so as not to leak outside until the test day. The problem was how to store the test paper and test data so as not to leak.

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、保管の手間を省き、試験の漏洩を抑制することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and an object thereof is to save the labor of storage and suppress the leakage of the test.

上記目的を達成するために、本発明では、試験作成装置に係る第1の解決手段として、複数の試験問題を記憶すると共に前記試験問題毎の属性情報を記憶する記憶手段と、前記試験問題の選択条件を受け付ける受付手段と、前記属性情報と前記選択条件とを照合し、照合結果に基づいて複数の前記試験問題の中から試験問題を選択し、該試験問題を出力する試験問題選択手段とを具備する、という手段を採用する。   In order to achieve the above object, in the present invention, as a first solution means related to the test creation apparatus, a storage means for storing a plurality of test questions and storing attribute information for each test problem, A receiving means for receiving a selection condition, a test question selection means for checking the attribute information and the selection condition, selecting a test question from a plurality of the test questions based on a check result, and outputting the test question; The means of comprising is adopted.

本発明では、試験作成装置に係る第2の解決手段として、上記第1の解決手段において、前記属性情報には、試験問題の標準解答時間が含まれ、前記選択条件には、試験時間と、前記試験時間に対する選択された試験問題の標準解答時間の合計値の割合を示す時間率と、時間率誤差とが含まれ、前記試験問題選択手段は、前記試験時間に前記時間率を乗じた値と、前記標準解答時間の合計値との誤差が前記時間率誤差との範囲に収まるように試験問題を選択する、という手段を採用する。   In the present invention, as the second solving means relating to the test creation device, in the first solving means, the attribute information includes a standard answer time of a test question, and the selection condition includes a test time, A time rate indicating a ratio of a total value of standard answer times of the selected test questions to the test time, and a time rate error, and the test question selection means is a value obtained by multiplying the test time by the time rate. And a test question is selected so that an error from the total value of the standard answer times falls within the range of the time rate error.

本発明では、試験作成装置に係る第3の解決手段として、上記第1または第2の解決手段において、前記属性情報には、総得点における試験問題の得点の割合である配点率が含まれ、前記選択条件には、前記総得点が含まれ、前記試験問題選択手段は、前記総得点と前記配点率との乗算値を各試験問題の配点とし、前記配点の合計値が前記総得点と一致するようにするように試験問題を選択する、という手段を採用する。   In the present invention, as the third solving means relating to the test creation device, in the first or second solving means, the attribute information includes a scoring rate which is a ratio of the score of the test questions in the total score, The selection condition includes the total score, and the test question selection means uses a multiplication value of the total score and the score rate as a score of each test question, and the total value of the score matches the total score Adopt a means of selecting test questions so that they do.

本発明では、試験作成装置に係る第4の解決手段として、上記第1〜第3の解決手段のいずれか1つにおいて、前記属性情報には、難易度が含まれ、前記試験問題選択手段は、前記難易度と一致するように試験問題を選択する、という手段を採用する。   In the present invention, as the fourth solving means related to the test creation device, in any one of the first to third solving means, the attribute information includes a difficulty level, and the test question selecting means is , A method of selecting a test question so as to coincide with the difficulty level is adopted.

本発明では、試験作成プログラムに係る解決手段として、上記第1または第2の解決手段において、コンピュータの外部あるいは内部に設けられた記憶装置に記憶される複数の試験問題の中から試験問題を選択するための選択条件が入力された場合、前記試験問題の属性情報と前記選択条件とを照合し、照合結果に基づいて複数の前記試験問題の中から試験問題を選択し、該試験問題を出力する試験問題出力処理を
コンピュータに実行させる、という手段を採用する。
In the present invention, as a solution relating to the test creation program, a test question is selected from a plurality of test questions stored in a storage device provided outside or inside the computer in the first or second solution. When the selection condition for performing the test is input, the attribute information of the test question is compared with the selection condition, the test problem is selected from a plurality of the test questions based on the comparison result, and the test problem is output. Adopting a method that causes the computer to execute test question output processing.

本発明によれば、複数の試験問題を記憶すると共に前記試験問題毎の属性情報を記憶する記憶手段と、前記試験問題の選択条件を受け付ける受付手段と、前記属性情報と前記選択条件とを照合し、照合結果に基づいて複数の前記試験問題の中から試験問題を選択し、該試験問題を出力する試験問題選択手段とを具備することによって、試験作成者が選択条件を入力するだけで即座に試験を作成することができるので、保管の手間を省き、試験の漏洩を抑制することができる。   According to the present invention, a storage unit that stores a plurality of test questions and stores attribute information for each test question, a reception unit that receives selection conditions for the test questions, and the attribute information and the selection conditions are collated. And a test question selection means for selecting a test question from a plurality of the test questions based on the collation result and outputting the test question, so that the test creator can immediately input the selection condition. Therefore, it is possible to save the labor of storage and suppress the leakage of the test.

本発明の一実施形態に係る試験作成装置、プリンタ、端末及び通信ネットワークによって構成されるシステムを示す模式図である。It is a mimetic diagram showing the system constituted by the test creation device concerning one embodiment of the present invention, a printer, a terminal, and a communication network. 本発明の一実施形態に係る試験作成装置の機能構成図である。It is a functional lineblock diagram of a test creation device concerning one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態に係る試験作成装置に記憶される試験問題データを示すデータテーブルの模式図である。It is a schematic diagram of the data table which shows the test question data memorize | stored in the test preparation apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る試験作成装置における選択条件入力画面(a)及び出力設定入力画面(b)を示す図である。It is a figure which shows the selection condition input screen (a) and output setting input screen (b) in the test creation apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る試験作成装置に記憶される分野別の選択条件詳細入力画面を示す図である。It is a figure which shows the selection condition detailed input screen according to field memorize | stored in the test preparation apparatus which concerns on one Embodiment of this invention.

以下、図面を参照して、本発明の一実施形態について説明する。
本実施形態に係る試験作成装置Sは、教育科目における学力を評価するための学力試験等を作成する、例えば、デスクトップ型またはノート型のパーソナルコンピュータであり、図1に示すように、通信ネットワークNtを介してプリンタP及び複数の端末T1〜Tnに接続されている。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
The test creation apparatus S according to the present embodiment is, for example, a desktop or notebook personal computer that creates an academic ability test for evaluating academic ability in an educational subject. As shown in FIG. Are connected to the printer P and a plurality of terminals T1 to Tn.

また、試験作成装置Sは、図2に示すように、操作部1、通信部2、表示部3及び補助記憶部4、主記憶部5及び演算処理部6を備えている。なお、操作部1は、本実施形態における選択条件受付手段である。また、補助記憶部4は、本実施形態における記憶手段である。また、演算処理部6は、本実施形態における試験問題選択手段を構成するものである。   As shown in FIG. 2, the test creation device S includes an operation unit 1, a communication unit 2, a display unit 3, an auxiliary storage unit 4, a main storage unit 5, and an arithmetic processing unit 6. The operation unit 1 is a selection condition receiving unit in this embodiment. The auxiliary storage unit 4 is a storage unit in the present embodiment. Moreover, the arithmetic processing part 6 comprises the test question selection means in this embodiment.

操作部1は、キーボード及びマウス等の入力デバイスである。
通信部2は、通信ネットワークNt接続され、端末T1〜Tnと信号を送受信する通信インタフェースである。
表示部3は、例えば、液晶カラーディスプレイであり、演算処理部6の制御指令に基づいて各種画像を表示する。
The operation unit 1 is an input device such as a keyboard and a mouse.
The communication unit 2 is a communication interface that is connected to the communication network Nt and transmits and receives signals to and from the terminals T1 to Tn.
The display unit 3 is, for example, a liquid crystal color display, and displays various images based on a control command from the arithmetic processing unit 6.

補助記憶部4は、例えばフラッシュメモリまたはハードディスク等の補助記憶装置であり、演算処理部6によって実行される制御プログラム、例えば、試験作成プログラム4a等を記憶する。上記試験作成プログラム4aは、補助記憶部4に記憶される試験問題データの中から試験問題を選択するためのプログラムである。   The auxiliary storage unit 4 is, for example, an auxiliary storage device such as a flash memory or a hard disk, and stores a control program executed by the arithmetic processing unit 6, for example, a test creation program 4a. The test creation program 4 a is a program for selecting a test question from the test question data stored in the auxiliary storage unit 4.

また、補助記憶部4は、複数の試験問題が登録されたデータベースである上述した試験問題データを記憶している。試験問題データは、図3に示すように、試験問題、その解答、さらに試験問題毎の属性情報が分野毎に登録されたデータテーブルである。   The auxiliary storage unit 4 stores the above-described test question data which is a database in which a plurality of test questions are registered. As shown in FIG. 3, the test question data is a data table in which test questions, their answers, and attribute information for each test question are registered for each field.

上記分野は、各試験問題が属する科目分野を示す情報であり、例えば、数学における「因数分解」、「2次方程式」、「証明」及び「確率」等の教育課程における各数学分野等を示す。また、上記分野は、試験問題が属する科目、つまり、単に「英語」、「数学」、「国語」、「歴史」及び「化学」等の各科目を区別するため情報であってもよい。   The above field is information indicating the subject field to which each examination question belongs, and for example, indicates each mathematics field in the curriculum such as “factorization”, “quadratic equation”, “proof” and “probability” in mathematics. . The field may be information for distinguishing subjects to which the examination questions belong, that is, subjects such as “English”, “mathematics”, “national language”, “history”, and “chemistry”.

また、上記属性情報には、例えば、図3に示すように、「難易度」、「標準解答時間」、「配点率」及び「期間」が含まれている。
上記難易度は、各試験問題の難易度を示す情報であり、例えば、「1」〜「10」の10段階で各試験問題の難易度を示している。
また、上記標準解答時間は、各試験問題の標準的な解答時間を示す情報であり、例えば、各試験問題の標準的な解答時間である「1分」、「2分」、「5分」及び「10分」等の時間を示している。
The attribute information includes, for example, “difficulty”, “standard answer time”, “scoring rate”, and “period” as shown in FIG.
The degree of difficulty is information indicating the degree of difficulty of each test problem. For example, the degree of difficulty of each test problem is indicated in 10 levels “1” to “10”.
The standard answer time is information indicating the standard answer time of each test question. For example, the standard answer time of each test question is “1 minute”, “2 minutes”, “5 minutes”. And time such as “10 minutes”.

また、上記配点率は、総得点における各試験問題の得点の割合を示す情報であり、例えば、総得点における各試験問題の得点の割合として「1/1000」、「3/1000」及び「50/1000」等の値を示している。演算処理部6は、選択条件として設定される総得点と、各試験問題の配点率との乗算値を、各試験問題の配点とする。
また、上記期間は、各試験問題の通常の実施期間であり、例えば、「a(4〜6月)」、「b(7〜9月)」、「c(10〜12月)」及び「d(1〜3月)」の4つの期間を示している。
The scoring rate is information indicating the ratio of each test question score in the total score. For example, the ratio of each test question score in the total score is "1/1000", "3/1000" and "50 A value such as “/ 1000” is shown. The arithmetic processing unit 6 uses a multiplication value of the total score set as the selection condition and the score rate of each test question as the score of each test question.
The above period is a normal implementation period for each test question. For example, “a (April to June)”, “b (July to September)”, “c (October to December)” and “ d (1 to 3 months) ".

主記憶部5は、ROM(Read Only Memory)及びRAM(Random Access Memory)から構成されている主記憶装置である。主記憶部5は、演算処理部6の制御指令に基づいて、補助記憶部4に記憶されている試験作成プログラム4a等などの制御プログラムや、試験問題データに登録されている各種試験問題や各試験問題の属性情報を読み出し、記憶する。   The main storage unit 5 is a main storage device composed of a ROM (Read Only Memory) and a RAM (Random Access Memory). Based on the control command of the arithmetic processing unit 6, the main storage unit 5 controls the control program such as the test creation program 4 a stored in the auxiliary storage unit 4, various test questions registered in the test question data, Read and store attribute information of exam questions.

演算処理部6は、CPU(Central Processing Unit)から構成される演算処理装置である。演算処理部6は、主記憶部5に記憶される試験作成プログラム4a等などの制御プログラムに基づいて試験作成装置Sの全体動作を制御する。詳細については後述するが、演算処理部6は、各種の処理の一環として、補助記憶部4に記憶される試験問題データの中から試験問題を選択して、試験の作成を行う。   The arithmetic processing unit 6 is an arithmetic processing device composed of a CPU (Central Processing Unit). The arithmetic processing unit 6 controls the overall operation of the test creation device S based on a control program such as the test creation program 4 a stored in the main storage unit 5. As will be described in detail later, the arithmetic processing unit 6 creates a test by selecting a test question from the test question data stored in the auxiliary storage unit 4 as part of various processes.

プリンタPは、例えば、電子写真方式やインクジェット方式に基づいて記録紙に画像形成するものであり、試験作成装置Sと通信ネットワークNtを介して接続されている。プリンタPは、試験を記録髪に画像形成するために使用される画像形成装置である。   The printer P forms an image on a recording sheet based on, for example, an electrophotographic system or an inkjet system, and is connected to the test creation device S via a communication network Nt. The printer P is an image forming apparatus used for forming an image of a test on recording hair.

端末T1〜Tnは、デスクトップ型やノート型のパーソナルコンピュータ、タブレット端末または携帯電話であり、試験作成装置Sと通信ネットワークNtを介して接続されている。端末T1〜Tnは、受験者によって試験の解答を入力するために使用される端末装置である。   The terminals T1 to Tn are desktop or notebook personal computers, tablet terminals, or mobile phones, and are connected to the test creation device S via a communication network Nt. The terminals T1 to Tn are terminal devices used for inputting test answers by the examinee.

通信ネットワークNtは、ローカルエリアネットワーク及び公衆インターネットから構成され、試験作成装置Sと、プリンタP及び端末T1〜TnやプリンタPとを接続する。   The communication network Nt includes a local area network and the public Internet, and connects the test creation device S to the printer P, the terminals T1 to Tn, and the printer P.

次に、このように構成された試験作成装置Sの動作について、詳しく説明する。   Next, the operation of the test creation apparatus S configured as described above will be described in detail.

例えば、試験作成装置Sを使用して試験を作成しようとするユーザは、まず、試験作成装置Sの操作部1を操作して、試験作成プログラム4aを試験作成装置Sに起動させるための操作指示を入力する。   For example, a user who intends to create a test using the test creation apparatus S first operates the operation unit 1 of the test creation apparatus S to operate the test creation program 4a on the test creation apparatus S. Enter.

ここで、試験作成装置Sの演算処理部6は、以下の特徴的な処理を行う。最初に、演算処理部6は、試験作成プログラム4aを起動させるための操作指示が入力されると、主記憶部5に補助記憶部4から試験作成プログラム4aを読み出させて記憶させ、主記憶部5に記憶された試験作成プログラム4aを起動、つまり、試験作成プログラム4aを実行する。   Here, the arithmetic processing unit 6 of the test creation device S performs the following characteristic processing. First, when an operation instruction for starting the test creation program 4a is input, the arithmetic processing unit 6 causes the main storage unit 5 to read and store the test creation program 4a from the auxiliary storage unit 4, and store it in the main memory. The test creation program 4a stored in the unit 5 is activated, that is, the test creation program 4a is executed.

続いて、ユーザは、試験作成装置Sによって試験作成プログラム4aが起動されると、試験作成装置Sの操作部1を操作することによって、補助記憶部4に記憶される試験問題データから試験問題を選択するための選択条件と、選択された試験問題を出力するための出力設定とを入力する。   Subsequently, when the test creation program 4 a is activated by the test creation device S, the user operates the operation unit 1 of the test creation device S to retrieve test questions from the test question data stored in the auxiliary storage unit 4. A selection condition for selecting and an output setting for outputting the selected test question are input.

演算処理部6は、上記選択条件が入力されると、試験作成プログラム4aに従って、上述した試験問題の属性情報と選択条件とを照合し、照合結果に基づいて複数の試験問題の中から試験問題を選択することによって試験を作成し、出力設定に従って該試験問題を出力、つまり、出力設定に従ってプリンタPに試験を記録紙に印字させる、あるいは端末T1〜Tnに試験データを出力する。また、演算処理部6は、選択した試験の解答を同時に出力するようにしてもよい。   When the selection condition is input, the arithmetic processing unit 6 collates the attribute information of the above-described test problem with the selection condition according to the test creation program 4a, and selects a test problem from a plurality of test problems based on the collation result. A test is created by selecting, and the test question is output according to the output setting, that is, the test is printed on the recording paper by the printer P according to the output setting, or test data is output to the terminals T1 to Tn. Further, the arithmetic processing unit 6 may simultaneously output the answers of the selected tests.

例えば、演算処理部6は、表示部3に、ユーザに選択条件を入力させるための選択条件入力画像(例えば、図4(a)に示す画面)を表示させる。上記選択条件には、例えば、「試験時間」、「時間率」、「時間率誤差」、「総得点」、「難易度」及び「期間」が含まれる(図4(a)参照)。
上記試験時間は、作成対象となる試験の試験時間を示すものである。
For example, the arithmetic processing unit 6 causes the display unit 3 to display a selection condition input image (for example, a screen shown in FIG. 4A) for allowing the user to input a selection condition. The selection conditions include, for example, “test time”, “time rate”, “time rate error”, “total score”, “difficulty”, and “period” (see FIG. 4A).
The test time indicates the test time of the test to be created.

また、上記時間率は、試験時間に対する選択された試験問題の標準解答時間の合計値の割合を示すものである。
また、上記時間率誤差は、試験時間に時間率を乗じた値と、標準解答時間の合計値との誤差の範囲を示すものである。
The time ratio indicates the ratio of the total value of the standard answer times of the selected test questions to the test time.
The time rate error indicates a range of errors between a value obtained by multiplying the test time by the time rate and the total value of the standard answer times.

また、上記総得点は、作成対象となる試験の総得点を示すものである。
上記難易度は、上述した試験問題の属性情報である難易度を指定するためのものである。
上記期間は、上述した試験問題の属性情報である期間を指定するためのものである。
The total score indicates the total score of the test to be created.
The difficulty level is for designating the difficulty level that is the attribute information of the above-described test question.
The period is for designating a period that is attribute information of the above-mentioned examination question.

演算処理部6は、試験時間に時間率を乗じた値と、標準解答時間の合計値との誤差が時間率誤差との範囲に収まるように試験問題を選択する。
また、演算処理部6は、総得点と配点率との乗算値を各試験問題の配点とし、配点の合計値が総得点と一致するようにするように試験問題を選択する。
The arithmetic processing unit 6 selects a test problem so that an error between a value obtained by multiplying the test time by the time rate and a total value of the standard answer times falls within the range of the time rate error.
In addition, the arithmetic processing unit 6 selects a test question so that the total value of the score matches the total score, with the multiplication value of the total score and the score rate as the score of each test question.

また、演算処理部6は、選択条件として入力された難易度によって指定された試験問題を選択する。
また、演算処理部6は、選択条件として入力された期間によって指定された試験問題を選択する。なお、演算処理部6は、選択条件として期間が入力されていない場合には、全ての試験問題を選択対象とする。
In addition, the arithmetic processing unit 6 selects a test question specified by the degree of difficulty input as the selection condition.
Further, the arithmetic processing unit 6 selects a test question designated by a period input as a selection condition. Note that the arithmetic processing unit 6 selects all test questions as selection targets when no period is input as a selection condition.

また、演算処理部6は、表示部3に、ユーザに出力設定を入力させるための出力設定入力画像(例えば、図4(b)に示す画面)を表示させる。上記出力設定には、例えば、「選択日時」、「日時設定」及び「出力方法」が含まれる(図4(b)参照)。   Further, the arithmetic processing unit 6 causes the display unit 3 to display an output setting input image (for example, a screen shown in FIG. 4B) for allowing the user to input output settings. The output setting includes, for example, “selected date”, “date setting”, and “output method” (see FIG. 4B).

上記選択日時は、選択条件入力後すぐに試験問題を選択して出力するための「決定後即」と、上記日時設定に設定された日時に試験問題を選択して出力するための「日時設定」と2つの設定値からなり、ユーザに2つの設定値のいずれかを選択させるためのものである。   The above selection date and time are “immediate after decision” for selecting and outputting test questions immediately after inputting selection conditions, and “date and time setting” for selecting and outputting test questions at the date and time set in the above date and time settings. ”And two setting values, and is for the user to select one of the two setting values.

また、上記日時設定は、上記選択日時において「日時設定」が選択された場合に有効となり、試験問題の選択を行う日時をユーザに設定させるためのものである。
また、上記出力方法は、プリンタPに試験を記録紙に印字させる、あるいは端末T1〜Tnに試験データを出力するかをユーザに選択させるためのものである。
演算処理部6は、上述した出力設定に従って該試験問題を出力、つまり、出力設定に従ってプリンタPに試験を記録紙に印字させる、あるいは端末T1〜Tnに試験データを出力する。
The date and time setting is effective when “date and time setting” is selected in the selected date and time, and is for allowing the user to set the date and time for selecting a test question.
The output method is for allowing the user to select whether the printer P prints a test on a recording sheet or outputs test data to the terminals T1 to Tn.
The arithmetic processing unit 6 outputs the test problem according to the output setting described above, that is, causes the printer P to print the test on a recording sheet according to the output setting, or outputs test data to the terminals T1 to Tn.

また、本実施形態において、演算処理部6は、表示部3に、図4(a)に示す選択条件入力画面に加えて、図5に示す選択条件詳細入力画面を表示させ、さらに、選択条件を受け付けるようにしてもよい。ここで、選択条件詳細入力画面では、選択条件として、例えば、図5に示すように、「難易度」、「試験時間」、「配点」、「期間」及び「選択」を受け付ける。   In the present embodiment, the arithmetic processing unit 6 causes the display unit 3 to display a selection condition detail input screen shown in FIG. 5 in addition to the selection condition input screen shown in FIG. May be accepted. Here, on the selection condition detail input screen, for example, as shown in FIG. 5, “difficulty”, “test time”, “scoring”, “period”, and “selection” are accepted as selection conditions.

上記難易度は、各分野別の試験問題の属性情報である難易度を指定するためのものである。
また上記試験時間は、各分野別の試験時間を示すものである。
また、上記配点は、各分野別の配点を示すものである。
また、上記期間は、各分野別の試験問題の属性情報である期間を指定するためのものである。なお、演算処理部6は、選択条件入力画面に期間が入力されなかった場合、選択条件詳細入力画面に入力された期間に基づいて試験問題を選択するようにしてよい。なお、選択条件詳細入力画面に、期間が入力されていない場合には、全ての問題が選択対象となる。
また、上記選択は、各分野の試験問題を選択するか否かを指定するものである。
The degree of difficulty is for designating the degree of difficulty that is attribute information of test questions for each field.
Moreover, the said test time shows the test time according to each field.
Moreover, the said score shows the score for every field.
The period is for designating a period that is attribute information of examination questions for each field. In addition, when the period is not input on the selection condition input screen, the arithmetic processing unit 6 may select a test question based on the period input on the selection condition detail input screen. Note that if no period is input on the selection condition detail input screen, all problems are selected.
The above selection specifies whether or not to select a test question in each field.

ここで、演算処理部6は、選択条件詳細入力画面に入力された試験時間の合計値や、配点の合計値が、選択条件入力画面に入力された試験時間や総得点と異なる場合には、表示部3に警告画面を表示するようにしてもよい。   Here, when the total value of the test time and the total value of the scoring input on the selection condition details input screen are different from the test time and the total score input on the selection condition input screen, the arithmetic processing unit 6 A warning screen may be displayed on the display unit 3.

また、端末T1〜Tnは、試験データが試験作成装置Sから配信されると、予め配布された受験者のIDが入力された場合に、試験データに基づく試験の実施を、受験者に許可する。   Further, when the test data is distributed from the test creation device S, the terminals T1 to Tn permit the examinee to perform a test based on the test data when the pre-distributed ID of the examinee is input. .

また、端末T1〜Tnでは、試験データが配信されて、試験が開始されると、受験者によって入力された解答データを、試験作成装置Sに送信する。この際、端末T1〜Tnは、例えば、試験終了後に、一括して試験作成装置Sに解答データを送信するようにしてもよいし、また、試験中に逐次、試験作成装置Sに解答データを送信するようにしてもよい。   Further, in the terminals T1 to Tn, when the test data is distributed and the test is started, the answer data input by the examinee is transmitted to the test creation device S. At this time, the terminals T1 to Tn, for example, may send the answer data to the test creation device S in a lump after the test is completed, or sequentially send the answer data to the test creation device S during the test. You may make it transmit.

例えば、端末T1〜Tnは、試験終了後に、一括して試験作成装置Sに解答データを送信することによって、試験中の負荷が低減されるので、受験者にスムーズな操作性を提供することができる。また、端末T1〜Tnは、試験中に逐次試験作成装置Sに解答データを送信することによって、ダウンした場合に生じる解答データの消滅を抑制することができる。   For example, the terminals T1 to Tn collectively send the answer data to the test creation device S after the end of the test, thereby reducing the load during the test and providing the test taker with a smooth operability. it can. Further, the terminals T1 to Tn can suppress the disappearance of the answer data that occurs when the terminal is down by transmitting the answer data to the sequential test creation device S during the test.

また、端末T1〜Tnは、試験作成装置Sから配信された試験データに基づいて、科目が数学である場合には、電卓機能を停止したり、また科目が国語である場合には、漢字変換機能を停止したり、また電子ペンによる入力を許可したりしてもよい。
また、試験作成装置Sからに配信された試験データには、科目が英語である場合には、リスニング用の音声データが含まれていてもよい。
Further, the terminals T1 to Tn stop the calculator function when the subject is mathematics based on the test data distributed from the test creation device S, or convert the kanji when the subject is Japanese. The function may be stopped or input with an electronic pen may be permitted.
Also, the test data distributed from the test creation device S may include audio data for listening when the subject is English.

さらに、試験作成装置Sにおいて、演算処理部6は、端末T1〜Tnから解答データを受信すると、解答データの採点や、各受験者IDの偏差値、さらに各受験者IDの分野毎の偏差値を算出するようにしてよい。なお、試験作成装置Sの代わりに、他の装置が端末T1〜Tnから解答データを受信するようにして、該装置が、解答データの採点や、各受験者IDの偏差値、さらに各受験者IDの分野毎の偏差値を算出するようにしてもよい。   Further, in the test creation device S, when the arithmetic processing unit 6 receives the answer data from the terminals T1 to Tn, the answer data is scored, the deviation value of each examinee ID, and the deviation value of each examinee ID for each field. May be calculated. Instead of the test preparation device S, another device receives the answer data from the terminals T1 to Tn so that the device scores the answer data, the deviation value of each examinee ID, and each examinee. A deviation value for each field of ID may be calculated.

このような本実施形態によれば、演算処理部6が、試験問題の属性情報と選択条件とを照合し、照合結果に基づいて複数の試験問題の中から試験問題を選択し、該試験問題を出力する、つまり、即試験問題を選択して出力することができるので、保管の手間を省き、試験データの漏洩を抑制することができる。   According to the present embodiment, the arithmetic processing unit 6 collates the attribute information of the test problem with the selection condition, selects a test problem from a plurality of test problems based on the collation result, and the test problem , That is, the test questions can be selected and output immediately, so that the labor of storage can be saved and the leakage of test data can be suppressed.

このような本実施形態によれば、複数の試験問題を記憶すると共に前記試験問題毎の属性情報を記憶する補助記憶部4と、試験問題の選択条件を受け付ける操作部1と、属性情報と選択条件とを照合し、照合結果に基づいて複数の試験問題の中から試験問題を選択し、該試験問題を出力する演算処理部6とを具備することによって、ユーザ(試験作成者)が選択条件を入力するだけで即座に試験を作成することができるので、保管の手間を省き、試験の漏洩を抑制することができる   According to this embodiment, the auxiliary storage unit 4 that stores a plurality of test questions and stores attribute information for each test question, the operation unit 1 that receives selection conditions for the test questions, and attribute information and selection The user (test creator) selects the test condition by selecting the test problem from a plurality of test problems based on the collation result and outputting the test problem. Tests can be created immediately by simply entering, thus saving labor and suppressing test leaks

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されることなく、例えば以下のような変形が考えられる。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to the said embodiment, For example, the following modifications can be considered.

(1)上記実施形態において、試験作成装置Sは、補助記憶部4に試験作成プログラム4aが最初から記憶されているものであってもよいし、また、各種記憶媒体(例えば、CD等)に記憶される試験作成プログラム4aあるいは、外部から試験作成プログラム4aをダウンロードし、補助記憶部4に試験作成プログラム4aをインストールするようにしてもよい。 (1) In the above embodiment, the test creation device S may be one in which the test creation program 4a is stored in the auxiliary storage unit 4 from the beginning, or in various storage media (for example, CD). The test creation program 4a stored or the test creation program 4a may be downloaded from the outside, and the test creation program 4a may be installed in the auxiliary storage unit 4.

(2)例えば、決められた試験会場に端末T1〜Tnが設置され、試験会場に設けられたWiFi等の無線LANを用いて端末T1〜Tnが通信を行う場合には、以下のような処理を実行するようにしてもよい。 (2) For example, when the terminals T1 to Tn are installed at a predetermined test site and the terminals T1 to Tn communicate using a wireless LAN such as WiFi provided at the test site, the following processing is performed. May be executed.

まず、端末T1〜Tnは、受験者によって入力デバイスが操作されて、試験会場に設けられた無線LANへの接続が選択され、試験会場の無線LANのパスワードが入力されて接続が確立した場合には、試験会場のパスワードを発行し、該パスワードを表示デバイス等を用いて報知する。   First, the terminals T1 to Tn are operated when the input device is operated by the examinee, the connection to the wireless LAN provided in the test site is selected, and the connection to the test site is entered by inputting the wireless LAN password. Issues a test venue password and reports the password using a display device or the like.

その後、端末T1〜Tnは、受験者によって入力デバイスが試験データを表示デバイスに表示するための操作が行われると、パスワード入力画面を表示デバイスに表示させ、発行した試験会場のパスワードがパスワード入力画面に入力されると、次に、受験者のIDを受け付けるID入力画面を表示し、受験者のIDがID入力画面に入力されると、受験者による試験の実施を受け付けるようにしてもよい。   After that, when an operation is performed by the examinee so that the input device displays the test data on the display device, the terminals T1 to Tn display a password input screen on the display device, and the issued test venue password is the password input screen. Next, an ID input screen for accepting the examinee's ID may be displayed, and when the examinee's ID is entered on the ID input screen, the test by the examinee may be accepted.

また、決められた試験会場に設置された端末T1〜Tnを用いて実施された試験の解答データについては、試験作成装置Sでデータ分析を行うようにしてもよい。つまり、試験作成装置Sにおいて、演算処理部6は、試験会場に設置されていない端末T1〜Tnを用いて実施された試験に対する解答データではなく、試験会場に設置された端末T1〜Tnを用いて実施された試験に対する解答データのみを用いて、例えば、各試験問題の解答率等のデータ分析を行うようにしてもよい。なお、試験作成装置Sの代わりに、他の装置が端末T1〜Tnから解答データを受信する場合には、該装置が、試験作成装置Sに代わって、上記データ分析を行うようにしてもよい。   In addition, regarding the answer data of the test performed using the terminals T1 to Tn installed in the determined test venue, the test creation device S may perform data analysis. That is, in the test creation device S, the arithmetic processing unit 6 uses the terminals T1 to Tn installed in the test hall, not the answer data for the test performed using the terminals T1 to Tn that are not installed in the test hall. For example, data analysis such as the answer rate of each test question may be performed using only the answer data for the exams conducted. When another device receives answer data from the terminals T1 to Tn instead of the test creation device S, the device may perform the data analysis instead of the test creation device S. .

(3)上記試験作成装置Sは、通信ネットワークNtを介して複数の端末T1〜Tnに直接試験データを提供したが、本発明はこれに限定されない。例えば、試験作成装置Sによって作成された試験データを、試験企画団体によって管理されるサーバ装置に提供し、該サーバ装置から、複数の端末T1〜Tnに試験データを提供するようにしてもよい。 (3) Although the test creation apparatus S directly provides test data to the plurality of terminals T1 to Tn via the communication network Nt, the present invention is not limited to this. For example, the test data created by the test creation device S may be provided to a server device managed by a test planning organization, and the test data may be provided from the server device to a plurality of terminals T1 to Tn.

(4)上記試験作成装置Sは、補助記憶部4に複数の試験問題が登録されたデータベースである試験問題データを記憶しているが、本発明はこれに限定されない。例えば、試験問題データの容量が大きい場合には、補助記憶部4の代わりに、サーバ装置に試験問題データを記憶させるようにしてもよい。 (4) Although the test creation device S stores test question data that is a database in which a plurality of test questions are registered in the auxiliary storage unit 4, the present invention is not limited to this. For example, when the capacity of the test question data is large, the test question data may be stored in the server device instead of the auxiliary storage unit 4.

S…試験作成装置、P…プリンタ、T1〜Tn…端末、Nt…通信ネットワーク、1…操作部、2…通信部、3…表示部、4…補助記憶部、5…主記憶部、6…演算処理部、4a…試験作成プログラム   DESCRIPTION OF SYMBOLS S ... Test preparation apparatus, P ... Printer, T1-Tn ... Terminal, Nt ... Communication network, 1 ... Operation part, 2 ... Communication part, 3 ... Display part, 4 ... Auxiliary memory part, 5 ... Main memory part, 6 ... Arithmetic processing unit, 4a ... Test creation program

Claims (5)

複数の試験問題を記憶すると共に前記試験問題毎の属性情報を記憶する記憶手段と、
前記試験問題の選択条件を受け付ける受付手段と、
前記属性情報と前記選択条件とを照合し、照合結果に基づいて複数の前記試験問題の中から試験問題を選択し、該試験問題を出力する試験問題選択手段とを具備することを特徴とする試験作成装置。
Storage means for storing a plurality of test questions and storing attribute information for each of the test questions;
Accepting means for accepting selection conditions for the examination questions;
Test attribute selecting means for comparing the attribute information with the selection condition, selecting a test question from a plurality of the test questions based on a result of the verification, and outputting the test question. Test creation device.
前記属性情報には、試験問題の標準解答時間が含まれ、
前記選択条件には、試験時間と、前記試験時間に対する選択された試験問題の標準解答時間の合計値の割合を示す時間率と、時間率誤差とが含まれ、
前記試験問題選択手段は、前記試験時間に前記時間率を乗じた値と、前記標準解答時間の合計値との誤差が前記時間率誤差との範囲に収まるように試験問題を選択することを特徴とする請求項1に記載の試験作成装置。
The attribute information includes a standard answer time of a test question,
The selection condition includes a test time, a time rate indicating a ratio of a total value of standard answer times of the selected test questions to the test time, and a time rate error,
The test question selection means selects a test question so that an error between a value obtained by multiplying the test time by the time rate and a total value of the standard answer times falls within a range of the time rate error. The test creation device according to claim 1.
前記属性情報には、総得点における試験問題の得点の割合である配点率が含まれ、
前記選択条件には、前記総得点が含まれ、
前記試験問題選択手段は、前記総得点と前記配点率との乗算値を各試験問題の配点とし、前記配点の合計値が前記総得点と一致するように試験問題を選択することを特徴とする請求項1または2に記載の試験作成装置。
The attribute information includes a scoring rate that is a ratio of the score of the test questions in the total score,
The selection condition includes the total score,
The test question selecting means uses a multiplication value of the total score and the scoring rate as a score of each test question, and selects the test question so that a total value of the score matches the total score. The test preparation apparatus according to claim 1 or 2.
前記属性情報には、難易度が含まれ、
前記試験問題選択手段は、前記難易度と一致するように試験問題を選択することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の試験作成装置。
The attribute information includes a difficulty level,
The test creation device according to claim 1, wherein the test question selection unit selects a test question so as to coincide with the difficulty level.
コンピュータの外部あるいは内部に設けられた記憶装置に記憶される複数の試験問題の中から試験問題を選択するための選択条件が入力された場合、前記試験問題の属性情報と前記選択条件とを照合し、照合結果に基づいて複数の前記試験問題の中から試験問題を選択し、該試験問題を出力する試験問題出力処理を
コンピュータに実行させることを特徴とする試験作成プログラム。
When a selection condition for selecting a test question from a plurality of test questions stored in a storage device provided outside or inside the computer is input, the attribute information of the test question is compared with the selection condition And a test creation program for causing a computer to execute a test question output process for selecting a test question from a plurality of the test questions based on a collation result and outputting the test question.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106781783A (en) * 2016-12-28 2017-05-31 重庆足下科技有限公司 A kind of data processing method and data processing equipment

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002024369A (en) * 2000-07-06 2002-01-25 Chiyoma Abiru Method and system for providing test service
JP2003085296A (en) * 2001-09-06 2003-03-20 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Method and device for evaluating test question and its program and storage medium with its program stored thereon
JP2003271050A (en) * 2002-03-15 2003-09-25 Toppan Printing Co Ltd System, method, and program for creating examination question
JP2013250311A (en) * 2012-05-30 2013-12-12 Encourage Inc Device, system, method and program for supporting problem creation
JP2014029572A (en) * 2012-07-31 2014-02-13 Sharp Corp Image forming apparatus and image forming system

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002024369A (en) * 2000-07-06 2002-01-25 Chiyoma Abiru Method and system for providing test service
JP2003085296A (en) * 2001-09-06 2003-03-20 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Method and device for evaluating test question and its program and storage medium with its program stored thereon
JP2003271050A (en) * 2002-03-15 2003-09-25 Toppan Printing Co Ltd System, method, and program for creating examination question
JP2013250311A (en) * 2012-05-30 2013-12-12 Encourage Inc Device, system, method and program for supporting problem creation
JP2014029572A (en) * 2012-07-31 2014-02-13 Sharp Corp Image forming apparatus and image forming system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106781783A (en) * 2016-12-28 2017-05-31 重庆足下科技有限公司 A kind of data processing method and data processing equipment

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