JP2016000687A - Apparatus for supporting the setting of a manufacturing condition for silica glass crucible - Google Patents

Apparatus for supporting the setting of a manufacturing condition for silica glass crucible Download PDF

Info

Publication number
JP2016000687A
JP2016000687A JP2015131221A JP2015131221A JP2016000687A JP 2016000687 A JP2016000687 A JP 2016000687A JP 2015131221 A JP2015131221 A JP 2015131221A JP 2015131221 A JP2015131221 A JP 2015131221A JP 2016000687 A JP2016000687 A JP 2016000687A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
coincidence
unit
silica glass
glass crucible
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015131221A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5968505B2 (en
Inventor
俊明 須藤
Toshiaki Sudo
俊明 須藤
江梨子 北原
Eriko Kitahara
江梨子 北原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumco Corp
Original Assignee
Sumco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumco Corp filed Critical Sumco Corp
Priority to JP2015131221A priority Critical patent/JP5968505B2/en
Publication of JP2016000687A publication Critical patent/JP2016000687A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5968505B2 publication Critical patent/JP5968505B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/09Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould
    • C03B19/095Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould by centrifuging, e.g. arc discharge in rotating mould

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a silica glass crucible by a rotation mold method highly coincident in a three-dimensional shape for engineering data.SOLUTION: In the case where the coincidence of the three-dimensional shape between simulation data obtained on the basis of the initial physical parameter and measurement data is lower than a predetermined standard, there are set improvement physical property parameters, at which the coincidence is at or higher than a predetermined standard. In the case where the coincidence between the simulation data obtained on the basis of the initial manufacturing condition and the three-dimensional shape of the measurement data is lower than a predetermined standard, an improved manufacturing condition is set in the rotation mold method, by which the simulation data having a coincidence with the design data is at or higher than a predetermined standard. As a result, the coincidence in the three-dimensional shape between the design data of a silica glass crucible and the measured data is enhanced to a predetermined standard or higher, thereby to enhance the coincidence of the three-dimensional shape for the design data.

Description

本発明は、シリカガラスルツボの製造条件の設定を支援する装置に関する。   The present invention relates to an apparatus that supports setting of manufacturing conditions for a silica glass crucible.

シリカガラスルツボの製造方法は、一例では、回転モールドの内表面に平均粒径300μm程度のシリカ粉を堆積させてシリカ粉層を形成するシリカ粉層形成工程と、モールド側からシリカ粉層を減圧しながら、シリカ粉層をアーク熔融させることによってシリカガラス層を形成するアーク熔融工程を備える(この方法を「回転モールド法」と称する)。   The silica glass crucible manufacturing method includes, for example, a silica powder layer forming step of depositing silica powder having an average particle size of about 300 μm on the inner surface of the rotary mold to form a silica powder layer, and reducing the silica powder layer from the mold side. However, an arc melting step of forming a silica glass layer by arc melting the silica powder layer is provided (this method is referred to as “rotary molding method”).

アーク熔融工程の初期にはシリカ粉層を強く減圧することによって気泡を除去して透明シリカガラス層(以下、「透明層」と称する。)を形成し、その後、減圧を弱くすることによって気泡が残留した気泡含有シリカガラス層(以下、「気泡含有層」と称する。)を形成することによって、内表面側に透明層を有し、外表面側に気泡含有層を有する二層構造のシリカガラスルツボを形成することができる。   At the initial stage of the arc melting process, the silica powder layer is strongly depressurized to remove bubbles to form a transparent silica glass layer (hereinafter referred to as “transparent layer”). By forming a residual bubble-containing silica glass layer (hereinafter referred to as “bubble-containing layer”), a two-layered silica glass having a transparent layer on the inner surface side and a bubble-containing layer on the outer surface side A crucible can be formed.

一方、チョクラルスキー(以下、CZという。)法によりシリカガラスルツボを用いてシリコン単結晶を引上げて製造するために、固体であるシリコン単結晶と液体であるシリコン融液との固液界面形状や、この固液界面近傍の温度分布を、コンピュータによりシミュレーションを行って数値解析を行う方法の開発が精力的に行われている。   On the other hand, in order to produce a silicon single crystal by using a silica glass crucible by a Czochralski (hereinafter referred to as CZ) method, a solid-liquid interface shape between a silicon single crystal as a solid and a silicon melt as a liquid is used. In addition, a method of numerically analyzing the temperature distribution in the vicinity of the solid-liquid interface by computer simulation has been vigorously developed.

例えば、特許文献1には、メッシュ構造でモデル化したホットゾーンの各部材の物性値をコンピュータに入力し、各部材の表面温度分布をヒータの発熱量及び各部材の輻射率に基づいて求めることが記載されている。   For example, in Patent Document 1, physical property values of each member of a hot zone modeled with a mesh structure are input to a computer, and the surface temperature distribution of each member is obtained based on the amount of heat generated by the heater and the radiation rate of each member. Is described.

特開2009−190926号公報JP 2009-190926 A

しかしながら、上記特許文献1に記載の従来技術は、シリカガラスルツボを回転モールド法で製造する際のシミュレーションには用いることが困難であった。そして、シリカガラスルツボを回転モールド法で製造する際には、様々な要因により設計データとは異なる三次元形状のシリカガラスルツボが得られることが多い。そのため、これまでは、設計データと同じ三次元形状のシリカガラスルツボを実際に回転モールド法で製造することは困難であった。   However, the prior art described in Patent Document 1 has been difficult to use for simulation when a silica glass crucible is manufactured by a rotational mold method. And when manufacturing a silica glass crucible by a rotational mold method, the silica glass crucible of the three-dimensional shape different from design data is often obtained by various factors. Therefore, until now, it has been difficult to actually manufacture a silica glass crucible having the same three-dimensional shape as the design data by the rotational molding method.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、設計データに対する三次元形状の一致度が高いシリカガラスルツボを回転モールド法で製造することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to manufacture a silica glass crucible having a high degree of coincidence of three-dimensional shapes with design data by a rotational mold method.

本発明によれば、シリカガラスルツボの回転モールド法での製造条件の設定を支援する装置が提供される。この装置は、任意の型式、製造ロット又はシリアルナンバーのシリカガラスルツボの三次元形状の設計データを取得する設計データ取得部と、その設計データに基づいてシリカガラスルツボの回転モールド法での製造条件データを設定する製造条件データ設定部と、伝熱計算、流体計算及び構造計算からなる群から選ばれる1種以上の計算が可能な計算エンジンを用いて、その製造条件によって得られるシリカガラスルツボの三次元形状のシミュレーションデータを得るシミュレーション部と、その計算エンジンが用いる物性パラメータを設定する物性パラメータ設定部と、その製造条件に基づいて回転モールド法で製造されたシリカガラスルツボの三次元形状の測定データを取得する測定データ取得部と、その設計データ、そのシミュレーションデータ、その測定データのうち2種類のデータを比較対照して、両者の三次元形状の一致度を判定する一致度判定部と、そのシミュレーションデータ又は製造条件データの出力部と、を備える。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the apparatus which assists the setting of the manufacturing conditions by the rotational molding method of a silica glass crucible is provided. This device includes a design data acquisition unit that acquires design data of a three-dimensional shape of a silica glass crucible of an arbitrary model, production lot, or serial number, and manufacturing conditions of the silica glass crucible by the rotational molding method based on the design data. Using a manufacturing condition data setting unit for setting data and a calculation engine capable of one or more types selected from the group consisting of heat transfer calculation, fluid calculation and structure calculation, the silica glass crucible obtained according to the manufacturing conditions A simulation unit for obtaining three-dimensional shape simulation data, a physical property parameter setting unit for setting physical property parameters used by the calculation engine, and measurement of the three-dimensional shape of a silica glass crucible manufactured by a rotational mold method based on the manufacturing conditions Measurement data acquisition unit that acquires data, its design data, and its simulation Yondeta compares control two types of data among the measurement data includes a coincidence determination unit determines the degree of coincidence of the three-dimensional shape of both the output of the simulation data or manufacturing condition data.

また、この物性パラメータ設定部は、当初の物性パラメータに基づいて得られたそのシミュレーションデータおよびその測定データの三次元形状の一致度が所定の水準を下回っている場合には、その一致度が所定の水準以上となる改善物性パラメータを設定する改善物性パラメータ設定部を有している。そして、この製造条件設定部は、その設計データとの一致度が所定の水準以上となるシミュレーションデータが得られる回転モールド法での製造条件を設定する改善製造条件データ設定部を有している。   In addition, the physical property parameter setting unit, when the degree of coincidence of the three-dimensional shape of the simulation data and the measurement data obtained based on the initial physical property parameter is below a predetermined level, the degree of coincidence is predetermined. It has an improved physical property parameter setting unit for setting an improved physical property parameter that is equal to or higher than the standard. The manufacturing condition setting unit includes an improved manufacturing condition data setting unit that sets the manufacturing conditions in the rotational mold method for obtaining simulation data whose degree of coincidence with the design data is equal to or higher than a predetermined level.

この構成によれば、当初の物性パラメータに基づいて得られたシミュレーションデータおよび測定データの三次元形状の一致度が所定の水準を下回っている場合には、その一致度が所定の水準以上となる改善物性パラメータを設定するため、シミュレーションデータおよび測定データの三次元形状の一致度を所定の水準以上に高めることができる。また、この構成によれば、設計データとの一致度が所定の水準以上となるシミュレーションデータが得られる回転モールド法での製造条件を設定するため、設計データおよびシミュレーションデータの三次元形状の一致度を所定の水準以上に高めることができる。その結果、この構成によれば、シリカガラスルツボの設計データおよび測定データの三次元形状の一致度を所定の水準以上に高めることができる。すなわち、この構成によれば、設計データに対する三次元形状の一致度が高いシリカガラスルツボを回転モールド法で製造することができる。   According to this configuration, when the degree of coincidence of the three-dimensional shape of the simulation data and measurement data obtained based on the initial physical property parameters is below a predetermined level, the degree of coincidence is equal to or higher than the predetermined level. Since the improved physical property parameters are set, the degree of coincidence between the three-dimensional shapes of the simulation data and the measurement data can be increased to a predetermined level or more. In addition, according to this configuration, the degree of coincidence between the design data and the simulation data is set in order to set the manufacturing conditions in the rotational mold method in which the simulation data with which the degree of coincidence with the design data is a predetermined level or more can be obtained. Can be raised above a predetermined level. As a result, according to this configuration, the degree of coincidence of the three-dimensional shape of the design data and measurement data of the silica glass crucible can be increased to a predetermined level or more. That is, according to this configuration, a silica glass crucible having a high degree of coincidence of three-dimensional shapes with respect to design data can be manufactured by a rotational mold method.

また、本発明によれば、上記の装置によって得られる、シミュレーションデータを生成する装置が提供される。 Moreover, according to this invention, the apparatus which produces | generates the simulation data obtained by said apparatus is provided.

このシミュレーションデータおよび測定データの三次元形状の一致度は、上述のとおり所定の水準以上である。そのため、このシミュレーションデータを用いれば、回転モールド法で実際に製造されるシリカガラスルツボの三次元形状を精度よく予測することができる。   The degree of coincidence of the simulation data and the measurement data in the three-dimensional shape is not less than a predetermined level as described above. Therefore, if this simulation data is used, the three-dimensional shape of the silica glass crucible actually manufactured by the rotational mold method can be accurately predicted.

また、本発明によれば、上記の装置によって得られる、改善製造条件データを生成する装置が提供される。   Moreover, according to this invention, the apparatus which produces | generates the improved manufacturing condition data obtained by said apparatus is provided.

この改善製造条件データを用いた場合には、上述のとおり設計データとの一致度が所定の水準以上となるシミュレーションデータが得られる。そして、上記の装置を用いる場合には、上述のとおり当初の物性パラメータに基づいて得られたシミュレーションデータおよび測定データの三次元形状の一致度が所定の水準を下回っている場合には、その一致度が所定の水準以上となる改善物性パラメータを設定するため、シミュレーションデータおよび測定データの三次元形状の一致度を所定の水準以上に高めることができる。そのため、この改善製造条件データを用いれば、設計データに対する三次元形状の一致度が高いシリカガラスルツボを回転モールド法で製造することができる。   When this improved manufacturing condition data is used, simulation data is obtained in which the degree of coincidence with the design data is a predetermined level or higher as described above. When using the above apparatus, if the degree of coincidence of the three-dimensional shape of the simulation data and measurement data obtained based on the original physical property parameters is below a predetermined level as described above, the coincidence Since the improved physical property parameter is set so that the degree is equal to or higher than a predetermined level, the degree of coincidence between the three-dimensional shapes of the simulation data and the measurement data can be increased to a predetermined level or higher. Therefore, if this improved production condition data is used, a silica glass crucible having a high degree of coincidence of the three-dimensional shape with respect to the design data can be produced by the rotational mold method.

本発明によれば、設計データに対する三次元形状の一致度が高いシリカガラスルツボを回転モールド法で製造することができる。   According to the present invention, a silica glass crucible having a high degree of coincidence of a three-dimensional shape with design data can be manufactured by a rotational mold method.

本実施形態の装置の動作原理を説明するための概念図である。It is a conceptual diagram for demonstrating the operation principle of the apparatus of this embodiment. 本実施形態の装置を用いて得られた改善製造条件データを用いて、シリカガラスルツボの製造プロセスにおけるアーク電源および減圧機構のフィードバック制御をより緻密におこなうことについて説明するための概念図である。It is a conceptual diagram for demonstrating performing feedback control of the arc power supply and pressure-reduction mechanism more precisely in the manufacturing process of a silica glass crucible using the improved manufacturing condition data obtained using the apparatus of the present embodiment. 本実施形態の装置の全体構成を説明するための機能ブロック図である。It is a functional block diagram for demonstrating the whole structure of the apparatus of this embodiment. 本実施形態の装置のシミュレーション部、製造条件データ設定部および物性パラメータ設定部の詳しい構成を説明するための機能ブロック図である。It is a functional block diagram for demonstrating the detailed structure of the simulation part of the apparatus of this embodiment, a manufacturing condition data setting part, and a physical property parameter setting part. 本実施形態の装置で用いるシリカガラスルツボの測定データのデータ構成について説明するためのデータテーブルである。It is a data table for demonstrating the data structure of the measurement data of the silica glass crucible used with the apparatus of this embodiment. 本実施形態の装置の動作を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating operation | movement of the apparatus of this embodiment. 本実施形態の装置で用いるシリカガラスルツボの測定データをロボットアームおよび測距部を用いて測定する方法について説明するための測定工程図である。It is a measurement process figure for demonstrating the method of measuring the measurement data of the silica glass crucible used with the apparatus of this embodiment using a robot arm and a ranging part. 図7における測定原理を説明するための概念図である。It is a conceptual diagram for demonstrating the measurement principle in FIG. 図7における内部測距部の測定結果を示すグラフである。It is a graph which shows the measurement result of the internal ranging part in FIG. 図7における外部測距部の測定結果を示すグラフである。It is a graph which shows the measurement result of the external ranging part in FIG.

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In all the drawings, the same reference numerals are given to the same components, and the description will be omitted as appropriate.

<シリカガラスルツボの製造条件の設定を支援する装置>
図1は、本実施形態の装置の動作原理を説明するための概念図である。本実施形態の装置を用いてシリカガラスルツボの製造条件を設定する際には、シリカガラスルツボを三次元CADなどで設計した設計データをまず用意する。この三次元CADの設計データは、二次元CADの設計データを三次元CADの設計データに変換したものであってもよい。
<Apparatus for supporting setting of manufacturing conditions for silica glass crucible>
FIG. 1 is a conceptual diagram for explaining the operation principle of the apparatus according to the present embodiment. When setting the manufacturing conditions of the silica glass crucible using the apparatus of the present embodiment, first, design data for designing the silica glass crucible with three-dimensional CAD or the like is prepared. The three-dimensional CAD design data may be obtained by converting two-dimensional CAD design data into three-dimensional CAD design data.

次いで、その設計データに基づいてシリカガラスルツボを製造するための製造条件データ(例えば、アーク電力、減圧条件、モールド回転数などのタイムテーブル)を設定する。この場合、当初の製造条件データとしては、例えば、熟練のオペレータ又はエンジニアが過去の知識および経験に基づいて、適切であると判断した製造条件データを設定してもよい。あるいは、当初の製造条件データとしては、過去のシリカガラスルツボの製造記録において所定の型式のシリカガラスルツボの品質検査の結果が良好であった製造条件データをそのまま用いてもよい。   Next, production condition data (for example, a time table such as arc power, decompression condition, mold rotation speed) for producing a silica glass crucible is set based on the design data. In this case, as the initial manufacturing condition data, for example, manufacturing condition data determined by a skilled operator or engineer as appropriate based on past knowledge and experience may be set. Alternatively, as the initial production condition data, the production condition data in which the result of quality inspection of the silica glass crucible of a predetermined type was satisfactory in the past production record of the silica glass crucible may be used as it is.

そして、この当初設定した製造条件データを用いて、電源、カーボン電極、カーボンモールド、減圧機構などを備えるシリカガラスルツボの製造装置を用いて、モールド上に積層したシリカ粉(別名として、石英粉ともいう)を熔融してシリカガラスルツボを製造する。具体的には、回転モールドの内表面に平均粒径300μm程度のシリカ粉を堆積させてシリカ粉層を形成するシリカ粉層形成工程と、モールド側からシリカ粉層を減圧しながら、シリカ粉層をアーク熔融させることによってシリカガラス層を形成するアーク熔融工程によって、シリカガラスルツボを製造する。   Then, using this initially set manufacturing condition data, a silica glass crucible manufacturing apparatus equipped with a power source, a carbon electrode, a carbon mold, a decompression mechanism, and the like is used. To produce a silica glass crucible. Specifically, a silica powder layer forming step of depositing silica powder having an average particle size of about 300 μm on the inner surface of the rotary mold to form a silica powder layer, and the silica powder layer while reducing the pressure of the silica powder layer from the mold side A silica glass crucible is produced by an arc melting step of forming a silica glass layer by arc melting.

このとき、アーク熔融工程の初期にはシリカ粉層を強く減圧することによって気泡を除去して透明層を形成し、その後、減圧を弱くすることによって気泡が残留した気泡含有層を形成することによって、内表面側に透明層を有し、外表面側に気泡含有層を有する二層構造のシリカガラスルツボを形成することができる。   At this time, at the initial stage of the arc melting process, the silica powder layer is strongly depressurized to remove bubbles to form a transparent layer, and then the depressurization is weakened to form a bubble-containing layer in which bubbles remain. A two-layered silica glass crucible having a transparent layer on the inner surface side and a bubble-containing layer on the outer surface side can be formed.

そして、後述するロボットアームを用いてこのシリカガラスルツボの三次元形状を測定して、シリカガラスルツボの三次元形状の測定データを得る。   And the three-dimensional shape of this silica glass crucible is measured using the robot arm mentioned later, and the measurement data of the three-dimensional shape of a silica glass crucible are obtained.

また、上述の当初設定した製造条件データを用いてシリカガラスルツボを製造した場合に得られると想定されるシリカガラスルツボの三次元形状のシミュレーションデータを、例えば応力解析および熱流体解析などの数値解析手法を用いて生成する。このときに、カーボンモールド、天然石英粉、合成シリカ粉、透明層、気泡含有層などについての物性パラメータ(例えば、密度、誘電率、透磁率、磁化率、剛性率、ヤング率、導電率、分極率、硬度、比熱、線膨張率、沸点、融点、ガラス転移点、伝熱係数、ポアソン比など)を設定する。これらの物性パラメータとしては、市販のシミュレーションソフトウェアに付属するデフォルトの物性パラメータを当初の物性パラメータとして用いることができる。あるいは、熟練のオペレータ又はエンジニアが過去の知識および経験に基づいて、適切であると判断した物性パラメータを設定してもよい。   In addition, simulation data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible assumed to be obtained when the silica glass crucible is manufactured using the above-mentioned initially set manufacturing condition data, for example, numerical analysis such as stress analysis and thermal fluid analysis Generate using a technique. At this time, physical property parameters (for example, density, dielectric constant, magnetic permeability, magnetic susceptibility, rigidity, Young's modulus, electrical conductivity, polarization, etc. for carbon mold, natural quartz powder, synthetic silica powder, transparent layer, bubble-containing layer, etc. Rate, hardness, specific heat, linear expansion coefficient, boiling point, melting point, glass transition point, heat transfer coefficient, Poisson's ratio, etc.). As these physical property parameters, default physical property parameters attached to commercially available simulation software can be used as initial physical property parameters. Alternatively, a physical property parameter determined to be appropriate by a skilled operator or engineer based on past knowledge and experience may be set.

その後、上述のようにして得られたシミュレーションデータおよび測定データの一致度を計算してその一致度が所定の水準を下回る場合には、カーボンモールド、天然石英粉、合成シリカ粉、透明層、気泡含有層などについての物性パラメータを変更して、上記の一致度が所定の水準以上になるまでシミュレーションを繰り返す。その結果、上記の一致度が所定の水準以上になった物性パラメータを改善物性パラメータとして採用する。このような一致度を示す指標としては、既存の各種のパターンマッチング法を用いることができる。   Thereafter, when the degree of coincidence between the simulation data and measurement data obtained as described above is calculated and the degree of coincidence falls below a predetermined level, carbon mold, natural quartz powder, synthetic silica powder, transparent layer, air bubbles The physical property parameter for the contained layer is changed, and the simulation is repeated until the degree of coincidence becomes a predetermined level or higher. As a result, the physical property parameter having the matching degree equal to or higher than a predetermined level is adopted as the improved physical property parameter. As the index indicating the degree of coincidence, various existing pattern matching methods can be used.

続いて、その改善物性パラメータを用いた場合の設計データおよびシミュレーションデータの一致度を計算してその一致度が所定の水準を下回る場合には、シリカガラスルツボを製造するための製造条件データ(例えば、アーク電力、減圧条件、モールド回転数などのタイムテーブル)を変更して、上記の一致度が所定の水準以上になるまでシミュレーションを繰り返す。その結果、上記の一致度が所定の水準以上になった製造条件データを改善製造条件データとして採用する。このような一致度を示す指標としては、既存の各種のパターンマッチング法を同様に用いることができる。   Subsequently, when the degree of coincidence between the design data and the simulation data using the improved physical property parameter is calculated and the degree of coincidence is lower than a predetermined level, production condition data for producing a silica glass crucible (for example, , The arc power, the decompression condition, the time table of the mold rotation speed, etc.) are changed, and the simulation is repeated until the above-mentioned degree of coincidence becomes a predetermined level or more. As a result, the manufacturing condition data in which the degree of coincidence is equal to or higher than a predetermined level is adopted as the improved manufacturing condition data. As an index indicating the degree of coincidence, various existing pattern matching methods can be similarly used.

このようにすれば、当初の物性パラメータに基づいて得られたシミュレーションデータおよび測定データの三次元形状の一致度が所定の水準を下回っている場合には、その一致度が所定の水準以上となる改善物性パラメータを設定するため、シミュレーションデータおよび測定データの三次元形状の一致度を所定の水準以上に高めることができる。また、このようにすれば、設計データとの一致度が所定の水準以上となるシミュレーションデータが得られる製造条件を設定するため、設計データおよびシミュレーションデータの三次元形状の一致度を所定の水準以上に高めることができる。その結果、このようにすれば、シリカガラスルツボの設計データおよび測定データの三次元形状の一致度を所定の水準以上に高めることができる。すなわち、このようにすれば、設計データに対する三次元形状の一致度が高いシリカガラスルツボを回転モールド法で製造することができる。   In this way, if the degree of coincidence of the three-dimensional shape of the simulation data and measurement data obtained based on the initial physical property parameters is below a predetermined level, the degree of coincidence is equal to or higher than the predetermined level. Since the improved physical property parameters are set, the degree of coincidence between the three-dimensional shapes of the simulation data and the measurement data can be increased to a predetermined level or more. In addition, in this way, in order to set the manufacturing conditions for obtaining simulation data with a degree of coincidence with the design data equal to or higher than a predetermined level, the degree of coincidence between the three-dimensional shapes of the design data and the simulation data is equal to or higher than the predetermined level. Can be increased. As a result, in this way, the degree of coincidence of the three-dimensional shape of the design data and measurement data of the silica glass crucible can be increased to a predetermined level or more. That is, in this way, a silica glass crucible having a high degree of coincidence of the three-dimensional shape with respect to the design data can be manufactured by the rotational mold method.

図2は、本実施形態の装置を用いて得られた改善製造条件データを用いて、シリカガラスルツボの製造プロセスにおけるアーク電源および減圧機構のフィードバック制御をより緻密におこなうことについて説明するための概念図である。図1で説明した手法を用いて得られた改善製造条件データを用いることによって、この図に示すように、アーク電力、減圧条件、モールド回転数などのタイムテーブルにおいて、より緻密なフィードバックをかけることができる。その結果、設計データに対する三次元形状の一致度が高いシリカガラスルツボを回転モールド法で製造することができる。   FIG. 2 is a concept for explaining that the feedback control of the arc power source and the decompression mechanism is more precisely performed in the manufacturing process of the silica glass crucible using the improved manufacturing condition data obtained by using the apparatus of the present embodiment. FIG. By using the improved manufacturing condition data obtained by using the method described in FIG. 1, as shown in this figure, more precise feedback is applied in the time table of arc power, pressure reduction conditions, mold rotation speed, and the like. Can do. As a result, a silica glass crucible having a high degree of coincidence of the three-dimensional shape with the design data can be manufactured by the rotational mold method.

図3は、本実施形態の装置の全体構成を説明するための機能ブロック図である。この製造条件設定支援装置1000には、任意の型式、製造ロット又はシリアルナンバーのシリカガラスルツボの三次元形状の設計データを取得する設計データ取得部104が設けられている。この設計データ取得部104は、熟練のオペレータ又はエンジニアが操作部124を通じて入力したシリカガラスルツボの三次元形状の設計データを取得することができる。また、この設計データ取得部104は、外部のサーバ126に格納されているシリカガラスルツボの三次元形状の設計データをネットワーク118を介して取得してもよい。   FIG. 3 is a functional block diagram for explaining the overall configuration of the apparatus of the present embodiment. The manufacturing condition setting support apparatus 1000 is provided with a design data acquisition unit 104 that acquires design data of a three-dimensional shape of a silica glass crucible of an arbitrary model, manufacturing lot, or serial number. The design data acquisition unit 104 can acquire the design data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible input by the skilled operator or engineer through the operation unit 124. Further, the design data acquisition unit 104 may acquire the design data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible stored in the external server 126 via the network 118.

この製造条件設定支援装置1000には、設計データに基づいてシリカガラスルツボの製造条件データを設定する製造条件データ設定部140が設けられている。この製造条件データ設定部140は、熟練のオペレータ又はエンジニアが操作部124を通じて入力したシリカガラスルツボの製造条件データ(例えば、アーク電力、減圧条件、モールド回転数などのタイムテーブル)を当初の製造条件データとして設定することができる。また、この製造条件データ設定部140は、外部のサーバ126に格納されている過去のシリカガラスルツボの製造記録において所定の型式のシリカガラスルツボの品質検査の結果が良好であった製造条件データをネットワーク118を介して取得してもよい。   The manufacturing condition setting support apparatus 1000 is provided with a manufacturing condition data setting unit 140 that sets manufacturing condition data for a silica glass crucible based on design data. The manufacturing condition data setting unit 140 uses silica glass crucible manufacturing condition data (for example, a time table of arc power, decompression conditions, mold rotation speed, etc.) input by an experienced operator or engineer through the operation unit 124 as the initial manufacturing conditions. It can be set as data. In addition, the manufacturing condition data setting unit 140 stores the manufacturing condition data in which the result of the quality inspection of the silica glass crucible of a predetermined type is good in the past silica glass crucible manufacturing record stored in the external server 126. You may acquire via the network 118. FIG.

この製造条件設定支援装置1000には、伝熱計算、流体計算及び構造計算からなる群から選ばれる1種以上の計算が可能な計算エンジンを用いて、上記の製造条件によって得られるシリカガラスルツボの三次元形状のシミュレーションデータを応力解析および熱流体解析などの数値解析手法を用いて得るシミュレーション部112を備える。また、この製造条件設定支援装置1000には、上記のシミュレーション部112の計算エンジンが用いる物性パラメータを設定する物性パラメータ設定部106が設けられている。この物性パラメータ設定部106は、熟練のオペレータ又はエンジニアが操作部124を通じて入力したカーボンモールド、天然石英粉、合成シリカ粉、透明層、気泡含有層などについての物性パラメータ(例えば、密度、誘電率、透磁率、磁化率、剛性率、ヤング率、導電率、分極率、硬度、比熱、線膨張率、沸点、融点、ガラス転移点、伝熱係数、ポアソン比など)を当初の物性パラメータとして設定することができる。あるいは、この物性パラメータ設定部106は、外部のサーバ126に格納されている物性パラメータなどをネットワーク118を介して取得してもよい。または、この物性パラメータ設定部106は、物性パラメータ記憶部142に格納されている市販のシミュレーションソフトウェアに付属するデフォルトの物性パラメータを当初の物性パラメータとして用いることができる。   This production condition setting support apparatus 1000 uses a calculation engine capable of one or more types selected from the group consisting of heat transfer calculation, fluid calculation and structure calculation, and uses a silica glass crucible obtained according to the above manufacturing conditions. A simulation unit 112 is provided that obtains three-dimensional shape simulation data using a numerical analysis method such as stress analysis and thermal fluid analysis. In addition, the manufacturing condition setting support apparatus 1000 is provided with a physical property parameter setting unit 106 that sets physical property parameters used by the calculation engine of the simulation unit 112 described above. This physical property parameter setting unit 106 is a physical property parameter (for example, density, dielectric constant, etc.) for a carbon mold, natural quartz powder, synthetic silica powder, transparent layer, bubble-containing layer, etc. input by an experienced operator or engineer through the operation unit 124. Magnetic permeability, magnetic susceptibility, rigidity, Young's modulus, electrical conductivity, polarizability, hardness, specific heat, linear expansion coefficient, boiling point, melting point, glass transition point, heat transfer coefficient, Poisson's ratio, etc.) are set as initial physical property parameters be able to. Alternatively, the physical property parameter setting unit 106 may acquire the physical property parameters stored in the external server 126 via the network 118. Alternatively, the physical property parameter setting unit 106 can use a default physical property parameter attached to commercially available simulation software stored in the physical property parameter storage unit 142 as the initial physical property parameter.

この製造条件設定支援装置1000には、上記の製造条件に基づいて実際に製造されたシリカガラスルツボの三次元形状の測定データを取得する測定データ取得部102が設けられている。この測定データ取得部102は、後述する測定装置128から測定データをネットワーク118を介してダイレクトに取得することができる。あるいは、この測定データ取得部102は、外部のサーバ126に格納されているシリカガラスルツボの三次元形状の測定データをネットワーク118を介して取得してもよい。   The manufacturing condition setting support apparatus 1000 includes a measurement data acquisition unit 102 that acquires measurement data of a three-dimensional shape of a silica glass crucible actually manufactured based on the above manufacturing conditions. The measurement data acquisition unit 102 can directly acquire measurement data from the measurement device 128 described later via the network 118. Alternatively, the measurement data acquisition unit 102 may acquire the measurement data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible stored in the external server 126 via the network 118.

この製造条件設定支援装置1000には、上記の設計データ、上記のシミュレーションデータ、上記の測定データのうち2種類のデータを比較対照して、両者の三次元形状の一致度を判定する一致度判定部114が設けられている。この一致度判定部114は、既存の各種のパターンマッチング法を行うことができればよい。このようなパターンマッチングの手法としては残差マッチング、正規化相関法、位相限定相関、幾何マッチング、ベクトル相関、一般化ハフ変換などを好適に用いることができる。   The manufacturing condition setting support device 1000 compares and contrasts two types of data among the design data, the simulation data, and the measurement data, and determines the degree of coincidence between the three-dimensional shapes. A portion 114 is provided. The coincidence degree determination unit 114 only needs to be able to perform various existing pattern matching methods. As such a pattern matching method, residual matching, normalized correlation method, phase-only correlation, geometric matching, vector correlation, generalized Hough transform, or the like can be suitably used.

この製造条件設定支援装置1000には、シミュレーションデータ又は製造条件データの出力部116が設けられている。この出力部116は、シミュレーションデータ又は製造条件データを画像表示部122を通して画像データとして出力することができる。また、この出力部116は、シミュレーションデータ又は製造条件データをネットワーク120を介して画像表示部130、プリンタ132、サーバ134などに出力することもできる。   The manufacturing condition setting support apparatus 1000 is provided with an output unit 116 for simulation data or manufacturing condition data. The output unit 116 can output simulation data or manufacturing condition data as image data through the image display unit 122. The output unit 116 can also output simulation data or manufacturing condition data to the image display unit 130, the printer 132, the server 134, and the like via the network 120.

図4は、本実施形態の装置のシミュレーション部、製造条件データ設定部および物性パラメータ設定部の詳しい構成を説明するための機能ブロック図である。この図に示すように、上記のシミュレーション部112には、伝熱計算エンジン204、流体計算エンジン206、構造計算エンジン208などを格納する計算エンジン記憶部210が設けられている。そして、このシミュレーション部112には、これらの伝熱計算エンジン204、流体計算エンジン206、構造計算エンジン208を計算エンジン記憶部210から読み込んで、応力解析および熱流体解析などの数値解析を行う解析部202も設けられている。   FIG. 4 is a functional block diagram for explaining detailed configurations of the simulation unit, the manufacturing condition data setting unit, and the physical property parameter setting unit of the apparatus according to the present embodiment. As shown in this figure, the simulation unit 112 is provided with a calculation engine storage unit 210 for storing a heat transfer calculation engine 204, a fluid calculation engine 206, a structural calculation engine 208, and the like. The simulation unit 112 reads the heat transfer calculation engine 204, the fluid calculation engine 206, and the structural calculation engine 208 from the calculation engine storage unit 210, and performs numerical analysis such as stress analysis and thermal fluid analysis. 202 is also provided.

上記の物性パラメータ設定部106には、当初の物性パラメータに基づいて得られたシミュレーションデータおよび測定データの三次元形状の一致度が所定の水準を下回っている場合には、一致度が所定の水準以上となる改善物性パラメータを設定する改善物性パラメータ設定部402が設けられている。一致度判定部114においてシミュレーションデータおよび測定データの一致度を計算してその一致度が所定の水準を下回る場合には、一致度判定部114が物性パラメータ設定部106に物性パラメータの変更命令を受け渡す。そして、この変更命令を受け取った物性パラメータ設定部106の改善物性パラメータ設定部402は、例えば、カーボンモールド、天然石英粉、合成シリカ粉、透明層、気泡含有層などについての物性パラメータ(例えば、密度、誘電率、透磁率、磁化率、剛性率、ヤング率、導電率、分極率、硬度、比熱、線膨張率、沸点、融点、ガラス転移点、伝熱係数、ポアソン比など)を変更する。こうして変更された改善物性パラメータはシミュレーション部112に受け渡される。この改善物性パラメータを受け取ったシミュレーション部112は、改善物性パラメータを用いて再度シミュレーションを行ってシミュレーション結果を一致度判定部114に受け渡す。この一連の動作が上記の一致度が所定の水準以上になるまで繰り返される。   In the physical property parameter setting unit 106, when the degree of coincidence of the three-dimensional shape of the simulation data and measurement data obtained based on the initial physical property parameter is below a predetermined level, the degree of coincidence is a predetermined level. An improved physical property parameter setting unit 402 for setting the improved physical property parameters as described above is provided. When the coincidence determination unit 114 calculates the coincidence between the simulation data and the measurement data and the coincidence is below a predetermined level, the coincidence determination unit 114 receives a physical property parameter change instruction from the physical property parameter setting unit 106. hand over. Then, the improved physical property parameter setting unit 402 of the physical property parameter setting unit 106 that has received this change command, for example, the physical property parameters (for example, density) for carbon mold, natural quartz powder, synthetic silica powder, transparent layer, bubble-containing layer, etc. , Dielectric constant, magnetic permeability, magnetic susceptibility, rigidity, Young's modulus, electrical conductivity, polarizability, hardness, specific heat, linear expansion coefficient, boiling point, melting point, glass transition point, heat transfer coefficient, Poisson's ratio, etc.). The improved physical property parameter thus changed is transferred to the simulation unit 112. The simulation unit 112 that has received the improved physical property parameter performs a simulation again using the improved physical property parameter, and passes the simulation result to the coincidence degree determination unit 114. This series of operations is repeated until the degree of coincidence reaches a predetermined level or higher.

上記の製造条件データ設定部140には、設計データとの一致度が所定の水準以上となるシミュレーションデータが得られる製造条件を設定する改善製造条件設定部308が設けられている。この改善製造条件設定部308には、アーク放電条件設定部302、回転数設定部304、減圧条件設定部306が設けられている。一致度判定部114において設計データおよびシミュレーションデータの一致度を計算してその一致度が所定の水準を下回る場合には、一致度判定部114が製造条件データ設定部140に製造条件データの変更命令を受け渡す。そして、この変更命令を受け取った製造条件データ設定部140の改善製造条件設定部308は、アーク放電条件設定部302、回転数設定部304、減圧条件設定部306に製造条件データ(例えば、アーク電力、減圧条件、モールド回転数などのタイムテーブル)を変更させる。こうして変更された改善製造条件データはシミュレーション部112に受け渡される。この改善製造条件データを受け取ったシミュレーション部112は、改善製造条件データを用いて再度シミュレーションを行ってシミュレーション結果を一致度判定部114に受け渡す。この一連の動作が上記の一致度が所定の水準以上になるまで繰り返される。   The manufacturing condition data setting unit 140 is provided with an improved manufacturing condition setting unit 308 that sets manufacturing conditions for obtaining simulation data having a degree of coincidence with design data equal to or higher than a predetermined level. The improved manufacturing condition setting unit 308 includes an arc discharge condition setting unit 302, a rotation speed setting unit 304, and a pressure reduction condition setting unit 306. When the coincidence determination unit 114 calculates the coincidence between the design data and the simulation data and the coincidence is below a predetermined level, the coincidence determination unit 114 instructs the production condition data setting unit 140 to change the production condition data. Hand over. Upon receiving this change command, the improved manufacturing condition setting unit 308 of the manufacturing condition data setting unit 140 sends the manufacturing condition data (for example, arc power) to the arc discharge condition setting unit 302, the rotation speed setting unit 304, and the decompression condition setting unit 306. , Time conditions such as decompression conditions and mold rotation speed) are changed. The improved manufacturing condition data thus changed is transferred to the simulation unit 112. The simulation unit 112 that has received the improved manufacturing condition data performs a simulation again using the improved manufacturing condition data, and passes the simulation result to the coincidence degree determination unit 114. This series of operations is repeated until the degree of coincidence reaches a predetermined level or higher.

図5は、本実施形態の装置で用いるシリカガラスルツボの測定データのデータ構成について説明するためのデータテーブルである。この図に示すように、測定データ取得部102は、後述する測定装置128からこの図に示すようなデータ構造を有する測定データをネットワーク118を介してダイレクトに取得することができる。この測定データでは、それぞれの位置A、位置B、位置C、位置D、位置Eごとに、内側XYZ座標、外側XYZ座標、気泡含有率、FT−IRスペクトル、ラマンスペクトル、表面粗さなどのデータがテーブル形式で記録されている。   FIG. 5 is a data table for explaining the data structure of the measurement data of the silica glass crucible used in the apparatus of this embodiment. As shown in this figure, the measurement data acquisition unit 102 can directly acquire measurement data having a data structure as shown in this figure via a network 118 from a measurement device 128 described later. In this measurement data, for each position A, position B, position C, position D, position E, data such as inner XYZ coordinates, outer XYZ coordinates, bubble content, FT-IR spectrum, Raman spectrum, surface roughness, etc. Are recorded in table format.

図6は、本実施形態の装置の動作を説明するためのフローチャートである。最初に、この製造条件設定支援装置1000の電力がオンになり一連の動作が開始される。すると、まず、設計データ取得部104が外部のサーバ126に格納されているシリカガラスルツボの三次元形状の設計データをネットワーク118を介して取得する(S102)。次に、製造条件データ設定部140が、外部のサーバ126に格納されている過去のシリカガラスルツボの製造記録において所定の型式のシリカガラスルツボの品質検査の結果が良好であった製造条件データをネットワーク118を介して取得する(S104)。   FIG. 6 is a flowchart for explaining the operation of the apparatus of this embodiment. First, the power of the manufacturing condition setting support apparatus 1000 is turned on and a series of operations is started. Then, first, the design data acquisition unit 104 acquires the design data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible stored in the external server 126 via the network 118 (S102). Next, the manufacturing condition data setting unit 140 stores the manufacturing condition data in which the result of the quality inspection of the silica glass crucible of a predetermined type is good in the past silica glass crucible manufacturing record stored in the external server 126. Obtained via the network 118 (S104).

続いて、物性パラメータ設定部106が、外部のサーバ126に格納されている物性パラメータなどをネットワーク118を介して取得する(S106)。そして、シミュレーション部112が、上記の製造条件によって得られるシリカガラスルツボの三次元形状のシミュレーションデータを応力解析および熱流体解析などの数値解析手法を用いて得る(S108)。   Subsequently, the physical property parameter setting unit 106 acquires the physical property parameters stored in the external server 126 via the network 118 (S106). And the simulation part 112 obtains the simulation data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible obtained by said manufacturing conditions using numerical analysis methods, such as a stress analysis and a thermal fluid analysis (S108).

他方、上記の製造条件データを用いて、電源、カーボン電極、カーボンモールド、減圧機構などを備えるシリカガラスルツボの製造装置によって、モールド上に積層したシリカ粉を熔融して実際にシリカガラスルツボを製造する(S110)。そして、測定データ取得部102が、上記の製造条件に基づいて実際に製造されたシリカガラスルツボの三次元形状の測定データを取得する(S112)。   On the other hand, the silica glass crucible is actually manufactured by melting the silica powder laminated on the mold using the silica glass crucible manufacturing equipment equipped with the power supply, carbon electrode, carbon mold, decompression mechanism, etc. (S110). And the measurement data acquisition part 102 acquires the measurement data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible actually manufactured based on said manufacturing conditions (S112).

その後、一致度判定部114が、上記のシミュレーションデータおよび上記の測定データを比較対照して、両者の三次元形状の一致度を判定する(S114)。具体的には、一致度判定部114においてシミュレーションデータおよび測定データの一致度を計算してその一致度が所定の水準を下回るかどうか判定する(S116)。もしも、シミュレーションデータおよび測定データの一致度が所定の水準を下回る場合には、改善物性パラメータ設定部402が一致度が所定の水準以上となる改善物性パラメータを設定する(S118)。この場合、シミュレーション部112が、改善物性パラメータを用いてシミュレーションをやり直す。一方、シミュレーションデータおよび測定データの一致度が所定の水準以上である場合には、その物性パラメータをそのまま使う。   Thereafter, the coincidence determination unit 114 compares and compares the simulation data and the measurement data, and determines the coincidence between the three-dimensional shapes (S114). Specifically, the coincidence determination unit 114 calculates the coincidence between the simulation data and the measurement data, and determines whether the coincidence is below a predetermined level (S116). If the degree of coincidence between the simulation data and the measurement data is below a predetermined level, the improved physical property parameter setting unit 402 sets an improved physical property parameter that causes the degree of coincidence to be equal to or higher than the predetermined level (S118). In this case, the simulation unit 112 restarts the simulation using the improved physical property parameter. On the other hand, if the degree of coincidence between the simulation data and the measurement data is equal to or higher than a predetermined level, the physical property parameter is used as it is.

次に、一致度判定部114が、上記の設計データおよび上記のシミュレーションデータを比較対照して、両者の三次元形状の一致度を判定する(S120)。具体的には、一致度判定部114において設計データおよびシミュレーションデータの一致度を計算してその一致度が所定の水準を下回るかどうか判定する(S122)。もしも、設計データおよびシミュレーションデータの一致度が所定の水準を下回る場合には、改善製造条件設定部308が一致度が所定の水準以上となる改善製造条件データを設定する(S124)。この場合、シミュレーション部112が、改善製造条件データを用いてシミュレーションをやり直す。一方、設計データおよびシミュレーションデータの一致度が所定の水準以上である場合には、その製造条件データをそのまま使う。そして、出力部116が、シミュレーションデータ又は製造条件データをネットワーク120を介して画像表示部130、プリンタ132、サーバ134などに出力する(S126)。これで、一連の動作が終了する。   Next, the coincidence determination unit 114 compares and contrasts the design data and the simulation data, and determines the coincidence between the three-dimensional shapes (S120). Specifically, the coincidence determination unit 114 calculates the coincidence between the design data and the simulation data, and determines whether the coincidence is below a predetermined level (S122). If the degree of coincidence between the design data and the simulation data is below a predetermined level, the improved manufacturing condition setting unit 308 sets the improved manufacturing condition data that makes the degree of coincidence equal to or higher than the predetermined level (S124). In this case, the simulation unit 112 restarts the simulation using the improved manufacturing condition data. On the other hand, when the degree of coincidence between the design data and the simulation data is equal to or higher than a predetermined level, the manufacturing condition data is used as it is. Then, the output unit 116 outputs the simulation data or the manufacturing condition data to the image display unit 130, the printer 132, the server 134, etc. via the network 120 (S126). This completes a series of operations.

<シリカガラスルツボの三次元形状測定装置>
以下、図7〜図10を用いて、上記の実施形態で用いるシリカガラスルツボの三次元形状の測定データを取得するためのシリカガラスルツボの三次元形状測定方法を説明する。
<Three-dimensional shape measuring device for silica glass crucible>
Hereinafter, the three-dimensional shape measurement method of the silica glass crucible for obtaining the measurement data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible used in the above embodiment will be described with reference to FIGS.

<シリカガラスルツボ>
図7は、本実施形態の装置で用いるシリカガラスルツボの測定データをロボットアームおよび測距部を用いて測定する方法について説明するための測定工程図である。測定対象であるシリカガラスルツボ11は、内表面側に透明層13と、外表面側に気泡含有層15を有するものであり、開口部が下向きになるように回転可能な回転台9上に載置されている。シリカガラスルツボ11は、曲率が比較的大きいラウンド部11bと、上面に開口した縁部を有する円筒状の側壁部11aと、直線または曲率が比較的小さい曲線からなるすり鉢状の底部11cを有する。本実施形態において、ラウンド部とは、側壁部11aと底部11cを連接する部分で、ラウンド部の曲線の接線がシリカガラスルツボの側壁部11aと重なる点から、底部11cと共通接線を有する点までの部分のことを意味する。言い換えると、シリカガラスルツボ11の側壁部11aが曲がり始める点が側壁部11aとラウンド部11bの境界である。さらに、ルツボの底の曲率が一定の部分が底部11cであり、ルツボの底の中心からの距離が増したときに曲率が変化し始める点が底部11cとラウンド部11bとの境界である。
<Silica glass crucible>
FIG. 7 is a measurement process diagram for explaining a method of measuring the measurement data of the silica glass crucible used in the apparatus of this embodiment using a robot arm and a distance measuring unit. The silica glass crucible 11 to be measured has a transparent layer 13 on the inner surface side and a bubble-containing layer 15 on the outer surface side, and is mounted on a turntable 9 that can be rotated so that the opening portion faces downward. Is placed. The silica glass crucible 11 has a round part 11b having a relatively large curvature, a cylindrical side wall part 11a having an edge opened on the upper surface, and a mortar-shaped bottom part 11c made of a straight line or a curve having a relatively small curvature. In this embodiment, a round part is a part which connects the side wall part 11a and the bottom part 11c, from the point where the tangent of the curve of the round part overlaps with the side wall part 11a of the silica glass crucible, to the point having a common tangent with the bottom part 11c Means the part. In other words, the point where the side wall part 11a of the silica glass crucible 11 starts to bend is the boundary between the side wall part 11a and the round part 11b. Further, the portion where the curvature of the bottom of the crucible is constant is the bottom portion 11c, and the point where the curvature starts to change when the distance from the center of the bottom of the crucible increases is the boundary between the bottom portion 11c and the round portion 11b.

<内部ロボットアーム、内部測距部>
ルツボ11に覆われる位置に設けられた基台1上には、内部ロボットアーム5が設置されている。内部ロボットアーム5は、複数のアーム5aと、これらのアーム5aを回転可能に支持する複数のジョイント5bと、本体部5cを備える。本体部5cには図示しない外部端子が設けられており、外部とのデータ交換が可能になっている。内部ロボットアーム5の先端にはルツボ11の内表面形状の測定を行う内部測距部17が設けられている。内部測距部17は、ルツボ11の内表面に対してレーザー光を照射し、内表面からの反射光を検出することによって内部測距部17からルツボ11の内表面までの距離を測定する。本体部5c内には、ジョイント5b及び内部測距部17の制御を行う制御部が設けられている。制御部は、本体部5c設けられたプログラム又は外部入力信号に基づいてジョイント5bを回転させてアーム5を動かすことによって、内部測距部17を任意の三次元位置に移動させる。具体的には、内部測距部17をルツボ内表面に沿って非接触で移動させる。従って、制御部には、ルツボ内表面の大まかな形状データを与え、そのデータに従って、内部測距部17の位置を移動させる。より具体的には、例えば、図7(a)に示すようなルツボ11の開口部近傍に近い位置から測定を開始し、図7(b)に示すように、ルツボ11の底部11cに向かって内部測距部17を移動させ、移動経路上の複数の測定点において測定を行う。測定間隔は、例えば、1〜5mmであり、例えば2mmである。測定は、予め内部測距部17内に記憶されたタイミングで行うか、又は外部トリガに従って行う。測定結果は、内部測距部17内の記憶部に格納されて、測定終了後にまとめて本体部5cに送られるか、又は測定の度に、逐次本体部5cに送られるようにする。内部測距部17は、本体部5cとは別に設けられた制御部によって制御するように構成してもよい。
<Internal robot arm, internal ranging unit>
On the base 1 provided at a position covered with the crucible 11, an internal robot arm 5 is installed. The internal robot arm 5 includes a plurality of arms 5a, a plurality of joints 5b that rotatably support these arms 5a, and a main body 5c. The main body 5c is provided with an external terminal (not shown) so that data exchange with the outside is possible. An internal distance measuring unit 17 for measuring the inner surface shape of the crucible 11 is provided at the tip of the internal robot arm 5. The internal distance measuring unit 17 measures the distance from the internal distance measuring unit 17 to the inner surface of the crucible 11 by irradiating the inner surface of the crucible 11 with laser light and detecting reflected light from the inner surface. A control unit that controls the joint 5b and the internal distance measuring unit 17 is provided in the main body 5c. The control unit moves the internal distance measuring unit 17 to an arbitrary three-dimensional position by rotating the joint 5b and moving the arm 5 based on a program provided in the main body 5c or an external input signal. Specifically, the internal distance measuring unit 17 is moved in a non-contact manner along the inner surface of the crucible. Therefore, rough shape data of the inner surface of the crucible is given to the control unit, and the position of the internal distance measuring unit 17 is moved according to the data. More specifically, for example, the measurement is started from a position close to the vicinity of the opening of the crucible 11 as shown in FIG. 7A, and toward the bottom 11c of the crucible 11 as shown in FIG. 7B. The internal distance measuring unit 17 is moved to perform measurement at a plurality of measurement points on the movement path. The measurement interval is, for example, 1 to 5 mm, for example, 2 mm. The measurement is performed at a timing stored in the internal distance measuring unit 17 in advance or according to an external trigger. The measurement results are stored in the storage unit in the internal distance measuring unit 17, and are sent to the main body unit 5c collectively after the measurement is completed, or are sequentially sent to the main body unit 5c for each measurement. The internal distance measuring unit 17 may be configured to be controlled by a control unit provided separately from the main body 5c.

ルツボの開口部から底部11cまでの測定が終わると、回転台9を少し回転させ、同様の測定行う。この測定は、底部11cから開口部に向かって行ってもよい。回転台9の回転角は、精度と測定時間とを考慮して決定されるが、例えば、2〜10度である。回転角が大きすぎると測定精度が十分でなく、小さすぎると測定時間が掛かりすぎる。回転台9の回転は、内蔵プログラム又は外部入力信号に基づいて制御される。回転台9の回転角は、ロータリーエンコーダ等によって検出可能である。回転台9の回転は、内部測距部17及び後述する外部測距部19の移動と連動してすることが好ましく、これによって、内部測距部17及び外部測距部19の三次元座標の算出が容易になる。   When the measurement from the opening of the crucible to the bottom 11c is completed, the turntable 9 is slightly rotated and the same measurement is performed. This measurement may be performed from the bottom 11c toward the opening. The rotation angle of the turntable 9 is determined in consideration of accuracy and measurement time, and is, for example, 2 to 10 degrees. If the rotation angle is too large, the measurement accuracy is not sufficient, and if it is too small, it takes too much measurement time. The rotation of the turntable 9 is controlled based on a built-in program or an external input signal. The rotation angle of the turntable 9 can be detected by a rotary encoder or the like. The rotation of the turntable 9 is preferably interlocked with the movement of the internal distance measuring unit 17 and the external distance measuring unit 19 described later, so that the three-dimensional coordinates of the internal distance measuring unit 17 and the external distance measuring unit 19 can be changed. Calculation becomes easy.

後述するが、内部測距部17は、内部測距部17から内表面までの距離(内表面距離)、及び内部測距部17から透明層13と気泡含有層15の界面までの距離(界面距離)の両方を測定することができる。ジョイント5bの角度はジョイント5bに設けられたロータリーエンコーダ等によって既知であるので、各測定点での内部測距部17の位置の三次元座標及び方向が既知になるので、内表面距離及び界面距離が求まれば、内表面での三次元座標、及び界面での三次元座標が既知となる。そして、ルツボ11の開口部から底部11cまでの測定が、ルツボ11の全周に渡って行われるので、ルツボ11の内表面の三次元形状、及び界面の三次元形状が既知になる。また、内表面と界面の間の距離が既知になるので、透明層13の厚さも既知になり、透明層の厚さの三次元分布が求められる。   As will be described later, the internal distance measuring unit 17 includes a distance from the internal distance measuring unit 17 to the inner surface (inner surface distance) and a distance from the inner distance measuring unit 17 to the interface between the transparent layer 13 and the bubble-containing layer 15 (interface). Both distances can be measured. Since the angle of the joint 5b is known by a rotary encoder or the like provided in the joint 5b, the three-dimensional coordinates and direction of the position of the internal distance measuring unit 17 at each measurement point are known. Is obtained, the three-dimensional coordinates on the inner surface and the three-dimensional coordinates on the interface are known. And since the measurement from the opening part of the crucible 11 to the bottom part 11c is performed over the perimeter of the crucible 11, the three-dimensional shape of the inner surface of the crucible 11 and the three-dimensional shape of the interface become known. Further, since the distance between the inner surface and the interface is known, the thickness of the transparent layer 13 is also known, and a three-dimensional distribution of the thickness of the transparent layer is obtained.

<外部ロボットアーム、外部測距部>
ルツボ11の外部に設けられた基台3上には、外部ロボットアーム7が設置されている。外部ロボットアーム7は、複数のアーム7aと、これらのアームを回転可能に支持する複数のジョイント7bと、本体部7cを備える。本体部7cには図示しない外部端子が設けられており、外部とのデータ交換が可能になっている。外部ロボットアーム7の先端にはルツボ11の外表面形状の測定を行う外部測距部19が設けられている。外部測距部19は、ルツボ11の外表面に対してレーザー光を照射し、外表面からの反射光を検出することによって外部測距部19からルツボ11の外表面までの距離を測定する。本体部7c内には、ジョイント7b及び外部測距部19の制御を行う制御部が設けられている。制御部は、本体部7c設けられたプログラム又は外部入力信号に基づいてジョイント7bを回転させてアーム7を動かすことによって、外部測距部19を任意の三次元位置に移動させる。具体的には、外部測距部19をルツボ外表面に沿って非接触で移動させる。従って、制御部には、ルツボ外表面の大まかな形状データを与え、そのデータに従って、外部測距部19の位置を移動させる。より具体的には、例えば、図7(a)に示すようなルツボ11の開口部近傍に近い位置から測定を開始し、図7(b)に示すように、ルツボ11の底部11cに向かって外部測距部19を移動させ、移動経路上の複数の測定点において測定を行う。測定間隔は、例えば、1〜5mmであり、例えば2mmである。測定は、予め外部測距部19内に記憶されたタイミングで行うか、又は外部トリガに従って行う。測定結果は、外部測距部19内の記憶部に格納されて、測定終了後にまとめて本体部7cに送られるか、又は測定の度に、逐次本体部7cに送られるようにする。外部測距部19は、本体部7cとは別に設けられた制御部によって制御するように構成してもよい。
<External robot arm, external distance measuring unit>
An external robot arm 7 is installed on a base 3 provided outside the crucible 11. The external robot arm 7 includes a plurality of arms 7a, a plurality of joints 7b that rotatably support these arms, and a main body portion 7c. The main body 7c is provided with an external terminal (not shown) so that data exchange with the outside is possible. An external distance measuring unit 19 that measures the outer surface shape of the crucible 11 is provided at the tip of the external robot arm 7. The external distance measuring unit 19 measures the distance from the external distance measuring unit 19 to the outer surface of the crucible 11 by irradiating the outer surface of the crucible 11 with laser light and detecting the reflected light from the outer surface. A control unit that controls the joint 7b and the external distance measuring unit 19 is provided in the main body 7c. The control unit moves the external distance measuring unit 19 to an arbitrary three-dimensional position by rotating the joint 7b and moving the arm 7 based on a program provided in the main body unit 7c or an external input signal. Specifically, the external distance measuring unit 19 is moved in a non-contact manner along the outer surface of the crucible. Therefore, rough shape data of the outer surface of the crucible is given to the control unit, and the position of the external distance measuring unit 19 is moved according to the data. More specifically, for example, the measurement is started from a position close to the vicinity of the opening of the crucible 11 as shown in FIG. 7A, and toward the bottom 11c of the crucible 11 as shown in FIG. 7B. The external distance measuring unit 19 is moved to perform measurement at a plurality of measurement points on the movement path. The measurement interval is, for example, 1 to 5 mm, for example, 2 mm. The measurement is performed at a timing stored in advance in the external distance measuring unit 19 or according to an external trigger. The measurement results are stored in the storage unit in the external distance measuring unit 19 and are collectively sent to the main unit 7c after the measurement is completed, or are sequentially sent to the main unit 7c every measurement. The external distance measuring unit 19 may be configured to be controlled by a control unit provided separately from the main body unit 7c.

内部測距部17と外部測距部19は、同期させて移動させてもよいが、内表面形状の測定と外表面形状の測定は独立して行われるので、必ずしも同期させる必要はない。   The internal distance measuring unit 17 and the external distance measuring unit 19 may be moved in synchronization. However, since the measurement of the inner surface shape and the measurement of the outer surface shape are performed independently, it is not always necessary to synchronize.

外部測距部19は、外部測距部19から外表面までの距離(外表面距離)を測定することができる。ジョイント7bの角度はジョイント7bに設けられたロータリーエンコーダ等によって既知であるので、外部測距部19の位置の三次元座標及び方向が既知になるので、外表面距離が求まれば、外表面での三次元座標が既知となる。そして、ルツボ11の開口部から底部11cまでの測定が、ルツボ11の全周に渡って行われるので、ルツボ11の外表面の三次元形状が既知になる。以上より、ルツボの内表面及び外表面の三次元形状が既知になるので、ルツボの壁厚の三次元分布が求められる。   The external distance measuring unit 19 can measure the distance (outer surface distance) from the external distance measuring unit 19 to the outer surface. Since the angle of the joint 7b is known by a rotary encoder or the like provided in the joint 7b, the three-dimensional coordinates and direction of the position of the external distance measuring unit 19 are known. The three-dimensional coordinates are known. And since the measurement from the opening part of the crucible 11 to the bottom part 11c is performed over the perimeter of the crucible 11, the three-dimensional shape of the outer surface of the crucible 11 becomes known. From the above, since the three-dimensional shape of the inner surface and the outer surface of the crucible becomes known, a three-dimensional distribution of the wall thickness of the crucible is obtained.

<距離測定の詳細>
次に、図8を用いて、内部測距部17及び外部測距部19による距離測定の詳細を説明する。
図8に示すように、内部測距部17は、ルツボ11の内表面側(透明層13側)に配置され、外部測距部19は、ルツボ11の外表面側(気泡含有層15側)に配置される。内部測距部17は、出射部17a及び検出部17bを備える。外部測距部19は、出射部19a及び検出部19bを備える。また、内部測距部17及び外部測距部19は、図示しない制御部及び外部端子を備える。出射部17a及び19aは、レーザー光を出射するものであり、例えば、半導体レーザーを備えるものである。出射されるレーザー光の波長は、特に限定されないが、例えば、波長600〜700nmの赤色レーザー光である。検出部17b及び19bは、例えばCCDで構成され、光が当たった位置に基づいて三角測量法の原理に基づいてターゲットまでの距離が決定される。
<Details of distance measurement>
Next, details of distance measurement by the internal distance measuring unit 17 and the external distance measuring unit 19 will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 8, the internal distance measuring unit 17 is arranged on the inner surface side (transparent layer 13 side) of the crucible 11, and the external distance measuring unit 19 is arranged on the outer surface side of the crucible 11 (bubble containing layer 15 side). Placed in. The internal distance measuring unit 17 includes an emitting unit 17a and a detecting unit 17b. The external distance measuring unit 19 includes an emitting unit 19a and a detecting unit 19b. The internal distance measuring unit 17 and the external distance measuring unit 19 include a control unit and an external terminal (not shown). The emitting portions 17a and 19a emit laser light, and include, for example, a semiconductor laser. The wavelength of the emitted laser light is not particularly limited, but is, for example, red laser light having a wavelength of 600 to 700 nm. The detectors 17b and 19b are composed of, for example, a CCD, and the distance to the target is determined based on the principle of triangulation based on the position where the light hits.

内部測距部17の出射部17aから出射されたレーザー光は、一部が内表面(透明層13の表面)で反射し、一部が透明層13と気泡含有層15の界面で反射し、これらの反射光(内表面反射光、界面反射光)が検出部17bに当たって検出される。図8から明らかなように、内表面反射光と界面反射光は、検出部17bの異なる位置に当たっており、この位置の違いによって、内部測距部17から内表面までの距離(内表面距離)及び界面までの距離(界面距離)がそれぞれ決定される。好適な入射角θは、内表面の状態、透明層13の厚さ、気泡含有層15の状態等によって、変化しうるが例えば30〜60度である。   A part of the laser light emitted from the emitting part 17a of the internal distance measuring part 17 is reflected by the inner surface (the surface of the transparent layer 13), and partly reflected by the interface between the transparent layer 13 and the bubble-containing layer 15, These reflected lights (inner surface reflected light and interface reflected light) strike the detection unit 17b and are detected. As is apparent from FIG. 8, the inner surface reflected light and the interface reflected light hit different positions of the detection unit 17b. Due to the difference in position, the distance from the inner distance measuring unit 17 to the inner surface (inner surface distance) and The distance to the interface (interface distance) is determined. A suitable incident angle θ may vary depending on the state of the inner surface, the thickness of the transparent layer 13, the state of the bubble-containing layer 15, etc., but is, for example, 30 to 60 degrees.

図9は、市販のレーザー変位計を用いて測定された実際の測定結果を示す。図9に示すように、2つのピークが観察されており、Near側のピークが内表面反射光によるピークであり、Far側のピークが界面反射光によるピークに対応する。このように、透明層13と気泡含有層15の界面からの反射光によるピークもクリアに検出されている。従来は、このような方法で界面の特定がなされたことがなく、この結果は非常に斬新である。   FIG. 9 shows the actual measurement results measured using a commercially available laser displacement meter. As shown in FIG. 9, two peaks are observed, the near-side peak is a peak due to the inner surface reflected light, and the far-side peak corresponds to a peak due to the interface reflected light. Thus, the peak due to the reflected light from the interface between the transparent layer 13 and the bubble-containing layer 15 is also clearly detected. Conventionally, the interface has not been specified in this way, and this result is very novel.

内部測距部17から内表面までの距離が遠すぎる場合や、内表面又は界面が局所的に傾いている場合には、2つのピークが観測されない場合がある。その場合には、内部測距部17を内表面に近づけたり、内部測距部17を傾けてレーザー光の出射方向を変化させて、2つのピークが観測される位置及び角度を探索することが好ましい。また、2つのピークが同時に観測されなくても、ある位置及び角度において内表面反射光によるピークを観測し、別の位置及び角度において界面反射光によるピークを観測するようにしてもよい。また、内部測距部17が内表面に接触することを避けるために、最大近接位置を設定しておいて、ピークが観測されない場合でも、その位置よりも内表面に近づけないようにすることが好ましい。   If the distance from the internal distance measuring unit 17 to the inner surface is too far, or if the inner surface or interface is locally inclined, two peaks may not be observed. In that case, it is possible to search the position and angle at which two peaks are observed by bringing the internal distance measuring unit 17 closer to the inner surface or by tilting the internal distance measuring unit 17 to change the emission direction of the laser light. preferable. Further, even if the two peaks are not observed simultaneously, the peak due to the inner surface reflected light may be observed at a certain position and angle, and the peak due to the interface reflected light may be observed at another position and angle. In order to prevent the internal distance measuring unit 17 from coming into contact with the inner surface, a maximum proximity position is set so that even if no peak is observed, the inner distance measuring unit 17 cannot be closer to the inner surface than that position. preferable.

また、透明層13中に独立した気泡が存在する場合、この気泡からの反射光を内部測距部17が検出してしまい、透明層13と気泡含有層15の界面を適切に検出できない場合がある。従って、ある測定点Aで測定された界面の位置が前後の測定点で測定された界面の位置から大きく(所定の基準値を超えて)ずれている場合には、測定点Aでのデータを除外してもよい。また、その場合、測定点Aからわずかにずれた位置で再度測定を行って、得られたデータを採用してもよい。   In addition, when there are independent bubbles in the transparent layer 13, the internal distance measuring unit 17 may detect the reflected light from the bubbles, and the interface between the transparent layer 13 and the bubble-containing layer 15 may not be detected properly. is there. Therefore, when the position of the interface measured at a certain measurement point A is greatly deviated (exceeding a predetermined reference value) from the position of the interface measured at the preceding and following measurement points, the data at the measurement point A is It may be excluded. In that case, data obtained by performing measurement again at a position slightly deviated from the measurement point A may be employed.

また、外部測距部19の出射部19aから出射されたレーザー光は、外表面(気泡含有層15)の表面で反射し、その反射光(外表面反射光)が検出部19bに当たって検出され、検出部19b上での検出位置に基づいて外部測距部19と外表面の間の距離が決定される。図10は、市販のレーザー変位計を用いて測定された実際の測定結果を示す。図4に示すように、1つのピークのみが観察される。ピークが観測されない場合には、外部測距部19を内表面に近づけたり、外部測距部19を傾けてレーザー光の出射方向を変化させて、ピークが観測される位置及び角度を探索することが好ましい。   The laser light emitted from the emitting portion 19a of the external distance measuring section 19 is reflected by the surface of the outer surface (bubble-containing layer 15), and the reflected light (outer surface reflected light) strikes the detecting portion 19b and is detected. The distance between the external distance measuring unit 19 and the outer surface is determined based on the detection position on the detection unit 19b. FIG. 10 shows actual measurement results measured using a commercially available laser displacement meter. As shown in FIG. 4, only one peak is observed. When the peak is not observed, the external distance measuring unit 19 is brought closer to the inner surface, or the external distance measuring unit 19 is tilted to change the emission direction of the laser light to search for the position and angle at which the peak is observed. Is preferred.

本発明者らは、ルツボの性能向上や品質管理を容易にするには、ルツボの内表面の三次元形状や透明層の厚さの三次元分布のデータを取得することが必須であると考えたが、ルツボが透明体であるので、光学的に三次元形状を測定することは困難であった。ルツボ内表面に光を照射して画像を取得し、その画像を解析する方法も試してみたが、この方法では、画像の解析に非常に長い時間がかかるため、ルツボの内表面全体の三次元形状の測定には到底使えるものではなかった。   The present inventors consider that it is essential to acquire data of the three-dimensional shape of the inner surface of the crucible and the three-dimensional distribution of the thickness of the transparent layer in order to improve the performance and quality control of the crucible. However, since the crucible is a transparent body, it is difficult to optically measure the three-dimensional shape. I tried to illuminate the inner surface of the crucible to acquire an image and analyze the image, but this method takes a very long time to analyze the image. It could not be used to measure the shape.

このような状況において、本発明者らは、ルツボの内表面に対して斜め方向からレーザー光を照射したところ、ルツボ内表面からの反射光(内表面反射光)に加えて、透明層と気泡含有層の界面からの反射光(界面反射光)も検出が可能であることを見出した。透明層と気泡含有層の界面は、気泡含有率が急激に変化する面であるが、空気とガラスの界面のような明確な界面ではないため、透明層と気泡含有層の界面からの反射光が検出可能であることは驚くべき発見であった。そして、上記の実施形態のシリカガラスルツボの製造条件の設定を支援する装置は、このようなシリカガラスルツボの三次元形状測定装置の開発があって初めて可能になったものである。   In such a situation, the present inventors irradiated the laser beam from the oblique direction to the inner surface of the crucible, and in addition to the reflected light (inner surface reflected light) from the inner surface of the crucible, the transparent layer and the bubbles It was found that reflected light from the interface of the containing layer (interface reflected light) can also be detected. The interface between the transparent layer and the bubble-containing layer is a surface where the bubble content changes rapidly, but is not a clear interface such as the interface between air and glass. It was a surprising discovery that is detectable. And the apparatus which assists the setting of the manufacturing conditions of the silica glass crucible of said embodiment became possible only after development of the three-dimensional shape measuring apparatus of such a silica glass crucible.

<シリカガラスルツボの三次元形状に関連付けられた特性値>
上記の設計データ、上記のシミュレーションデータ、上記の測定データは、いずれも上記のシリカガラスルツボの三次元形状に関連付けられた特性値のデータを含んでいてもよい。この特性値としては、例えば、気泡含有率、表面粗さ、赤外吸収スペクトルおよびラマンスペクトルから選ばれる1種以上の特性値を好適に用いることができる。
<Characteristic values associated with three-dimensional shape of silica glass crucible>
The design data, the simulation data, and the measurement data may all include characteristic value data associated with the three-dimensional shape of the silica glass crucible. As this characteristic value, for example, one or more characteristic values selected from bubble content, surface roughness, infrared absorption spectrum, and Raman spectrum can be suitably used.

この場合には、一致度判定部114は、上記の設計データ、上記のシミュレーションデータ、上記の測定データのうち2つのデータに含まれる特性値の一致度も判定するように構成される。そして、改善物性パラメータ設定部402は、当初の物性パラメータに基づいて得られたシミュレーションデータおよび測定データの三次元形状又は特性値の一致度のいずれかが所定の水準を下回っている場合には、三次元形状及び特性値の一致度がともに所定の水準以上となる改善物性パラメータを設定するように構成される。また、改善製造条件設定部308は、設計データとの三次元形状及び特性値の一致度が所定の水準以上となるシミュレーションデータが得られる製造条件を設定するように構成される。   In this case, the coincidence degree determination unit 114 is configured to also determine the coincidence degree of the characteristic values included in two of the design data, the simulation data, and the measurement data. Then, the improved physical property parameter setting unit 402, when either the simulation data obtained based on the initial physical property parameters and the degree of coincidence of the measurement data or the characteristic value is below a predetermined level, The improved physical property parameter is set so that the degree of coincidence between the three-dimensional shape and the characteristic value is not less than a predetermined level. The improved manufacturing condition setting unit 308 is configured to set manufacturing conditions for obtaining simulation data in which the degree of coincidence between the three-dimensional shape and the characteristic value with the design data is equal to or higher than a predetermined level.

このように、三次元形状にくわえて、気泡含有率、表面粗さ、赤外吸収スペクトルおよびラマンスペクトルなどの特性値についても考慮に入れることによって、より一層シミュレーションの精度を高めることができる。その結果、設計データに対する三次元形状の一致度がさらに高いシリカガラスルツボを回転モールド法で製造することができる。   Thus, in addition to the three-dimensional shape, by taking into consideration the characteristic values such as the bubble content, surface roughness, infrared absorption spectrum, and Raman spectrum, the simulation accuracy can be further enhanced. As a result, a silica glass crucible having a higher degree of coincidence of the three-dimensional shape with the design data can be manufactured by the rotational mold method.

<ルツボの気泡分布の三次元分布の決定方法>
ルツボの内表面の三次元形状が求まった後は、この三次元形状上の複数の測定点において、各測定点に対応した位置のルツボの壁での気泡分布を測定することによって、気泡分布の三次元分布を決定する。各測定点でのルツボの壁での気泡分布の測定方法は、非接触式であれば特に限定されないが、焦点が合った面からの情報を選択的に取得することができる共焦点顕微鏡を用いれば気泡の位置が明確に分かるクリアな画像が取得できるので、高精度な測定が可能である。また、焦点位置をずらしながら各焦点位置の面において画像を取得して合成することによって気泡の三次元配置が分かり、各気泡のサイズが分かるので、気泡分布を求めることができる。焦点位置を移動させる方法としては、(1)ルツボを移動させたり、(2)プローブを移動させたり、(3)プローブの対物レンズを移動させたりする方法がある。
<Method for determining the three-dimensional distribution of the bubble distribution in the crucible>
After the three-dimensional shape of the inner surface of the crucible is obtained, the bubble distribution is measured by measuring the bubble distribution at the crucible wall at the position corresponding to each measurement point at a plurality of measurement points on the three-dimensional shape. Determine the three-dimensional distribution. The method of measuring the bubble distribution at the crucible wall at each measurement point is not particularly limited as long as it is a non-contact type, but a confocal microscope that can selectively acquire information from the focused surface is used. In this case, a clear image that clearly shows the position of the bubble can be acquired, so that highly accurate measurement is possible. Further, by acquiring and synthesizing an image on the surface of each focal position while shifting the focal position, the three-dimensional arrangement of the bubbles can be understood and the size of each bubble can be known, so that the bubble distribution can be obtained. Methods for moving the focal position include (1) moving the crucible, (2) moving the probe, and (3) moving the objective lens of the probe.

測定点の配置は、特に限定されないが、例えば、ルツボの開口部から底部に向かう方向には5〜20mm間隔で配置し、円周方向には例えば10〜60度間隔である。具体的な測定は、例えば、共焦点顕微鏡用プローブを内部ロボットアーム5の先端に取り付け、内部測距部17と同様の方法で、非接触で内表面に沿って移動させる。内部測距部17を移動させる際には、内表面の大雑把な三次元形状が分かっているだけで内表面の正確な三次元形状は分かっていなかったので、その大雑把な三次元形状に基づいて内部測距部17を移動させていたが、気泡分布の測定時には、内表面の正確な三次元形状が分かっているので、共焦点顕微鏡用プローブを移動させる際に、内表面とプローブとの距離を高精度に制御することが可能である。   The arrangement of the measurement points is not particularly limited. For example, the measurement points are arranged at intervals of 5 to 20 mm in the direction from the opening to the bottom of the crucible, and at intervals of 10 to 60 degrees in the circumferential direction, for example. Specifically, for example, a confocal microscope probe is attached to the tip of the internal robot arm 5 and moved along the inner surface in a non-contact manner in the same manner as the internal distance measuring unit 17. When the internal distance measuring unit 17 is moved, only the rough three-dimensional shape of the inner surface is known, but the exact three-dimensional shape of the inner surface is not known. Therefore, based on the rough three-dimensional shape. Although the internal distance measuring unit 17 has been moved, since the accurate three-dimensional shape of the inner surface is known when measuring the bubble distribution, the distance between the inner surface and the probe when moving the confocal microscope probe is measured. Can be controlled with high accuracy.

共焦点顕微鏡用プローブをルツボの開口部から底部まで移動させ、その移動経路上の複数点で気泡分布を測定した後は、回転台9を回転させて、ルツボ11の別の部位の気泡分布の測定を行う。このような方法でルツボの内表面全体に渡って気泡分布を測定することができ、その測定結果により、ルツボの気泡分布の三次元分布を決定することができる。   After the confocal microscope probe is moved from the opening to the bottom of the crucible and the bubble distribution is measured at a plurality of points on the movement path, the turntable 9 is rotated to change the bubble distribution in another part of the crucible 11. Measure. With such a method, the bubble distribution can be measured over the entire inner surface of the crucible, and the three-dimensional distribution of the crucible bubble distribution can be determined based on the measurement result.

<ルツボの内表面の表面粗さの三次元分布の決定方法>
ルツボの内表面の三次元形状が求まった後は、この三次元形状上の複数の測定点において内表面の表面粗さを測定することによって、その三次元分布を決定する。各測定点での表面粗さの測定方法は、非接触式であれば特に限定されないが、焦点が合った面からの情報を選択的に取得することができる共焦点顕微鏡を用いれば、高精度な測定が可能である。また、共焦点顕微鏡を用いれば、表面の詳細な三次元構造の情報を取得することができるので、この情報を用いて表面粗さを求めることができる。表面粗さには、中心線平均粗さRa、最大高さRmax、十点平均高さRzがあり、これらの何れを採用してもよく、表面の粗さを反映する別のパラメータを採用してもよい。なお、測定点の配置および具体的な測定方法は、上記のルツボの気泡分布の三次元分布の決定方法の場合と同様である。
<Method of determining the three-dimensional distribution of the surface roughness of the inner surface of the crucible>
After the three-dimensional shape of the inner surface of the crucible is obtained, the three-dimensional distribution is determined by measuring the surface roughness of the inner surface at a plurality of measurement points on the three-dimensional shape. The method for measuring the surface roughness at each measurement point is not particularly limited as long as it is a non-contact type, but it is highly accurate if a confocal microscope that can selectively acquire information from the focused surface is used. Measurement is possible. Further, if a confocal microscope is used, information on the detailed three-dimensional structure of the surface can be acquired, and the surface roughness can be obtained using this information. The surface roughness includes a center line average roughness Ra, a maximum height Rmax, and a ten-point average height Rz. Any of these may be adopted, and another parameter reflecting the surface roughness is adopted. May be. The arrangement of measurement points and the specific measurement method are the same as those in the above-described method for determining the three-dimensional distribution of the bubble distribution of the crucible.

<ルツボの内表面の赤外吸収スペクトルの三次元分布の決定方法>
ルツボの内表面の三次元形状が求まった後は、この三次元形状上の複数の測定点において内表面の赤外吸収スペクトルを測定することによって、その三次元分布を決定する。各測定点での赤外吸収スペクトルの測定方法は、非接触式であれば特に限定されないが、内表面に向けて赤外線を照射してその反射光を検出し、照射光のスペクトルと反射光のスペクトルの差分を求めることによって測定することができる。なお、測定点の配置および具体的な測定方法は、上記のルツボの気泡分布の三次元分布の決定方法の場合と同様である。なお、測定点の配置および具体的な測定方法は、上記のルツボの気泡分布の三次元分布の決定方法の場合と同様である。
<Method for determining the three-dimensional distribution of the infrared absorption spectrum of the inner surface of the crucible>
After the three-dimensional shape of the inner surface of the crucible is obtained, the three-dimensional distribution is determined by measuring the infrared absorption spectrum of the inner surface at a plurality of measurement points on the three-dimensional shape. The method of measuring the infrared absorption spectrum at each measurement point is not particularly limited as long as it is a non-contact type, but the reflected light is detected by irradiating infrared rays toward the inner surface. It can be measured by obtaining the spectral difference. The arrangement of measurement points and the specific measurement method are the same as those in the above-described method for determining the three-dimensional distribution of the bubble distribution of the crucible. The arrangement of measurement points and the specific measurement method are the same as those in the above-described method for determining the three-dimensional distribution of the bubble distribution of the crucible.

<ルツボの内表面のラマンスペクトルの三次元分布の決定方法>
ルツボの内表面の三次元形状が求まった後は、この三次元形状上の複数の測定点において内表面のラマンスペクトルを測定することによって、その三次元分布を決定する。各測定点でのラマンスペクトルの測定方法は、非接触式であれば特に限定されないが、内表面に向けてレーザー光を照射してそのラマン散乱光を検出することによって測定することができる。なお、測定点の配置および具体的な測定方法は、上記のルツボの気泡分布の三次元分布の決定方法の場合と同様である。
<Method of determining the three-dimensional distribution of the Raman spectrum of the inner surface of the crucible>
After the three-dimensional shape of the inner surface of the crucible is obtained, the three-dimensional distribution is determined by measuring the Raman spectrum of the inner surface at a plurality of measurement points on the three-dimensional shape. The method of measuring the Raman spectrum at each measurement point is not particularly limited as long as it is a non-contact type, but it can be measured by irradiating a laser beam toward the inner surface and detecting the Raman scattered light. The arrangement of measurement points and the specific measurement method are the same as those in the above-described method for determining the three-dimensional distribution of the bubble distribution of the crucible.

Claims (2)

シリカガラスルツボの製造条件の設定を支援する装置であって、
任意の型式、製造ロット又はシリアルナンバーのシリカガラスルツボの三次元形状の設計データを取得する設計データ取得部と、
前記設計データに基づいてシリカガラスルツボの回転モールド法での製造条件データを設定する製造条件データ設定部と、
伝熱計算、流体計算及び構造計算からなる群から選ばれる1種以上の計算が可能な計算エンジンを用いて、前記製造条件によって得られるシリカガラスルツボの三次元形状のシミュレーションデータを得るシミュレーション部と、
前記計算エンジンが用いる物性パラメータを設定する物性パラメータ設定部と、
前記製造条件に基づいて回転モールド法で製造されたシリカガラスルツボの三次元形状の測定データを取得する測定データ取得部と、
前記設計データ、前記シミュレーションデータ、前記測定データのうち2種類のデータを比較対照して、両者の三次元形状の一致度を判定する一致度判定部と、
前記シミュレーションデータ又は製造条件データの出力部と、
を備え、
前記物性パラメータ設定部は、当初の物性パラメータに基づいて得られた前記シミュレーションデータおよび前記測定データの三次元形状の一致度が所定の水準を下回っている場合には、前記一致度が所定の水準以上となる改善物性パラメータを設定する改善物性パラメータ設定部を有しており、
前記製造条件データ設定部は、前記設計データとの一致度が所定の水準以上となるシミュレーションデータが得られる回転モールド法での製造条件を設定する改善製造条件データ設定部を有している、
装置。
An apparatus for supporting the setting of manufacturing conditions for a silica glass crucible,
A design data acquisition unit for acquiring design data of the three-dimensional shape of the silica glass crucible of any model, production lot or serial number;
A production condition data setting unit for setting production condition data in a rotational molding method of the silica glass crucible based on the design data;
A simulation unit that obtains simulation data of a three-dimensional shape of a silica glass crucible obtained by the manufacturing conditions using a calculation engine capable of one or more calculations selected from the group consisting of heat transfer calculation, fluid calculation and structure calculation; ,
A physical property parameter setting unit for setting physical property parameters used by the calculation engine;
A measurement data acquisition unit that acquires measurement data of a three-dimensional shape of a silica glass crucible manufactured by a rotational mold method based on the manufacturing conditions;
The design data, the simulation data, and two types of data among the measurement data are compared and contrasted, and a degree of coincidence determination unit for determining the degree of coincidence between the three-dimensional shapes,
An output unit of the simulation data or manufacturing condition data;
With
The physical property parameter setting unit, when the degree of coincidence of the three-dimensional shape of the simulation data and the measurement data obtained based on the initial physical property parameter is below a predetermined level, the degree of coincidence is a predetermined level It has an improved physical property parameter setting unit for setting the improved physical property parameters as described above,
The manufacturing condition data setting unit has an improved manufacturing condition data setting unit for setting manufacturing conditions in a rotational mold method for obtaining simulation data having a degree of coincidence with the design data of a predetermined level or more.
apparatus.
前記改善製造条件データ設定部は、
回転モールド法でモールド内に堆積したシリカ粉層をアーク熔融させる際のアーク電力の条件を設定するアーク放電条件設定部と、
前記モールド側から前記シリカ粉層を減圧する際の減圧条件を設定する減圧条件設定部と、
前記モールドの回転数を設定する回転数設定部と、を含む、請求項1記載の装置。
The improved manufacturing condition data setting unit
An arc discharge condition setting unit for setting an arc power condition when arc melting the silica powder layer deposited in the mold by the rotary mold method;
A decompression condition setting unit for setting a decompression condition when decompressing the silica powder layer from the mold side;
The rotation number setting part which sets the rotation speed of the said mold is included, The apparatus of Claim 1.
JP2015131221A 2015-06-30 2015-06-30 Equipment that supports setting of manufacturing conditions for silica glass crucible Active JP5968505B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015131221A JP5968505B2 (en) 2015-06-30 2015-06-30 Equipment that supports setting of manufacturing conditions for silica glass crucible

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015131221A JP5968505B2 (en) 2015-06-30 2015-06-30 Equipment that supports setting of manufacturing conditions for silica glass crucible

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011290487A Division JP5773865B2 (en) 2011-12-31 2011-12-31 Apparatus for supporting setting of manufacturing conditions for silica glass crucible, simulation data generating apparatus, and improved manufacturing condition data generating apparatus

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016133304A Division JP6142052B2 (en) 2016-07-05 2016-07-05 Method for producing silica glass crucible

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016000687A true JP2016000687A (en) 2016-01-07
JP5968505B2 JP5968505B2 (en) 2016-08-10

Family

ID=55076501

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015131221A Active JP5968505B2 (en) 2015-06-30 2015-06-30 Equipment that supports setting of manufacturing conditions for silica glass crucible

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5968505B2 (en)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0316990A (en) * 1989-06-12 1991-01-24 Mitsubishi Monsanto Chem Co Analysis of optimum condition of single crystal pulling furnace and control method
US5154795A (en) * 1989-06-12 1992-10-13 Mitsubishi Kasei Polytec Company System for setting analysis condition for a thermal analysis of a fluid inside an apparatus
JP2000302590A (en) * 1999-04-16 2000-10-31 Komatsu Electronic Metals Co Ltd Production of crystal
JP2003243151A (en) * 2002-02-13 2003-08-29 Toshiba Ceramics Co Ltd Arc fusion device
JP2009190926A (en) * 2008-02-14 2009-08-27 Sumco Corp Numerical analysis method in production of silicon single crystal
US20110079047A1 (en) * 2009-10-02 2011-04-07 Japan Super Quartz Corporation Apparatus and method for manufacturing vitreous silica crucible
JP2011084421A (en) * 2009-10-14 2011-04-28 Sumco Corp Method for pulling silicon single crystal

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0316990A (en) * 1989-06-12 1991-01-24 Mitsubishi Monsanto Chem Co Analysis of optimum condition of single crystal pulling furnace and control method
US5154795A (en) * 1989-06-12 1992-10-13 Mitsubishi Kasei Polytec Company System for setting analysis condition for a thermal analysis of a fluid inside an apparatus
JP2000302590A (en) * 1999-04-16 2000-10-31 Komatsu Electronic Metals Co Ltd Production of crystal
JP2003243151A (en) * 2002-02-13 2003-08-29 Toshiba Ceramics Co Ltd Arc fusion device
JP2009190926A (en) * 2008-02-14 2009-08-27 Sumco Corp Numerical analysis method in production of silicon single crystal
US20110079047A1 (en) * 2009-10-02 2011-04-07 Japan Super Quartz Corporation Apparatus and method for manufacturing vitreous silica crucible
JP2011093782A (en) * 2009-10-02 2011-05-12 Japan Siper Quarts Corp Apparatus and method for manufacturing vitreous silica crucible
JP2011084421A (en) * 2009-10-14 2011-04-28 Sumco Corp Method for pulling silicon single crystal

Also Published As

Publication number Publication date
JP5968505B2 (en) 2016-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101623178B1 (en) Device for assisting with setting of manufacturing conditions for silica glass crucible, device for assisting with setting of manufacturing conditions for mold for manufacturing silica glass crucible, device for assisting with condition setting for raising monocrystalline silicon using silica glass crucible
JP5773866B2 (en) Apparatus for supporting setting of manufacturing conditions of silica glass crucible, simulation data generating apparatus, and improved mold design data generating apparatus
JP6123001B2 (en) Method for evaluating silica glass crucible, method for producing silicon single crystal
JP5773865B2 (en) Apparatus for supporting setting of manufacturing conditions for silica glass crucible, simulation data generating apparatus, and improved manufacturing condition data generating apparatus
JP2013133227A (en) Method for determining three-dimensional distribution of raman spectrum in silica glass crucible and method for producing silicon single crystal
JP6301531B2 (en) Method for producing silica glass crucible
JP6142052B2 (en) Method for producing silica glass crucible
JP5968505B2 (en) Equipment that supports setting of manufacturing conditions for silica glass crucible
JP2014091640A (en) Evaluation method of silica glass crucible
JP6123008B2 (en) Method for producing silica glass crucible
JP5968506B2 (en) Apparatus for supporting setting of manufacturing conditions of mold for manufacturing silica glass crucible
JP5818675B2 (en) Method for determining three-dimensional distribution of bubble distribution in silica glass crucible, method for producing silicon single crystal
JP5749149B2 (en) Method for measuring three-dimensional shape of silica glass crucible
JP5682553B2 (en) A device that supports the setting of silicon single crystal pulling conditions using a silica glass crucible.
JP6162870B2 (en) Method for producing silica glass crucible
JP5996718B2 (en) Method for measuring three-dimensional shape of silica glass crucible, method for producing silicon single crystal
JP6114795B2 (en) Method for determining three-dimensional distribution of bubble distribution in silica glass crucible, method for producing silicon single crystal
JP5946561B2 (en) Method for determining three-dimensional distribution of surface roughness of silica glass crucible, method for producing silicon single crystal
JP6123000B2 (en) Method for evaluating silica glass crucible, method for producing silicon single crystal
JP2017138322A (en) Method for determining three-dimensional arrangement of air bubble of silica grass crucible and method for evaluating silica glass crucible
JP2016155754A (en) Method of manufacturing silicon single crystal
JP5749152B2 (en) Method for measuring three-dimensional shape of surface roughness of silica glass crucible
JP5925348B2 (en) Method for producing silicon single crystal
JP2017024980A (en) Method for manufacturing silicon single crystal
JP2013133229A (en) Method for producing silicon single crystal

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160519

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160606

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160705

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5968505

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250