JP2016000354A - Photographing control device and method thereof, radiation moving image photographing device and program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、入射した放射線を電荷として検出するセンサを制御する撮影制御装置及びその制御方法、並びに、当該制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関する。 The present invention relates to an imaging control apparatus that controls a sensor that detects incident radiation as an electric charge, a control method therefor, and a program for causing a computer to execute the control method.
従来、ガラス基板上に成膜し形成したアモルファスシリコンやポリシリコンを材料とし、光電変換素子とTFTとを含む画素を2次元状に配列したセンサを用いた画像撮影装置が知られている。この画像撮影装置では、TFTを用いたマトリクス駆動を行うことにより、各光電変換素子で光電変換された電荷をセンサから読み出すものが一般的である。 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known an image photographing apparatus using a sensor in which pixels including a photoelectric conversion element and a TFT are two-dimensionally arranged using amorphous silicon or polysilicon formed on a glass substrate as a material. In general, the image capturing apparatus reads out electric charges photoelectrically converted by each photoelectric conversion element from a sensor by performing matrix driving using TFTs.
また、例えば、医療の分野等においては、放射線の一種であるX線を被写体に照射(「曝射」ともいう)して、当該被写体を透過したX線を検出し、当該被写体のX線画像の撮影を行うX線画像撮影装置(放射線画像撮影装置)が用いられている。このX線画像撮影装置の駆動方法に関しては、例えば、下記の特許文献1に示されている。 Further, for example, in the medical field or the like, an X-ray that is a kind of radiation is irradiated onto a subject (also referred to as “exposure”), X-rays transmitted through the subject are detected, and an X-ray image of the subject is detected. An X-ray imaging apparatus (radiation imaging apparatus) that performs the imaging is used. A method for driving the X-ray imaging apparatus is disclosed in Patent Document 1 below, for example.
また、近年、静止画の撮影だけでなく、動画の撮影が可能なX線画像撮影装置が提案されており、例えば、下記の特許文献2に示されている。
In recent years, an X-ray image capturing apparatus capable of capturing not only a still image but also a moving image has been proposed. For example,
また、近年、いわゆるオフセット補正を行う機能を有するX線画像撮影装置が提案されている。 In recent years, X-ray imaging apparatuses having a function of performing so-called offset correction have been proposed.
図7は、一般的なオフセット補正を説明するためのタイミングチャートである。
なお、図7には、X線の照射として、パルス状に照射する場合のタイミングが示されている。また、図7には、センサにおける電荷の蓄積及び読み出しとして、1フレームのフレーム時間内において、X線の照射時の電荷の蓄積及び読み出し、及び、X線の非照射時の電荷の蓄積及び読み出しを行う場合のタイミングが示されている。また、図7において、F1は第1フレーム目、F2は第2フレーム目、F3は第3フレーム目、F4は第4フレーム目、F5は第5フレーム目をそれぞれ示している。
FIG. 7 is a timing chart for explaining general offset correction.
FIG. 7 shows the timing when X-ray irradiation is performed in a pulsed manner. Further, FIG. 7 shows charge accumulation and readout in the sensor as charge accumulation and readout during X-ray irradiation and charge accumulation and readout during X-ray non-irradiation within a frame time of one frame. The timing for performing is shown. In FIG. 7, F1 indicates the first frame, F2 indicates the second frame, F3 indicates the third frame, F4 indicates the fourth frame, and F5 indicates the fifth frame.
ここで、電荷の読み出し時間をTr、X線の照射時の電荷の蓄積時間をTw11、X線の非照射時の電荷の蓄積時間をTw12とする。また、X線を照射して撮影されたX線画像の画素値をVx、X線の非照射の状態で撮影されたダーク画像の画素値をVd、オフセット補正後のX線画像の画素値(オフセット補正値)をVoとすると、一般的にオフセット補正値Voは、以下の(1)式で計算できる。
Vo=Vx−Vd ・・・(1)
Here, it is assumed that the charge readout time is Tr, the charge accumulation time when X-ray irradiation is performed is Tw11, and the charge accumulation time when X-ray irradiation is not performed is Tw12. In addition, the pixel value of the X-ray image taken by irradiating X-rays is Vx, the pixel value of the dark image taken without X-rays is Vd, and the pixel value of the X-ray image after offset correction ( If the offset correction value) is Vo, the offset correction value Vo can be generally calculated by the following equation (1).
Vo = Vx−Vd (1)
また、X線の非照射時に蓄積される単位時間あたりの電荷量をCd、X線の照射時に蓄積される単位時間あたりの電荷量をCxとすると、画素値Vx及びVdは、それぞれ、以下の(2)式及び(3)式で近似できる。
Vx=A・(Cd+Cx)・Tw11 ・・・(2)
Vd=A・Cd・Tw12 ・・・(3)
ここで、Aは蓄積された電荷量を電圧に換算するための比例定数である。
Also, assuming that the charge amount per unit time accumulated during non-irradiation with X-rays is Cd and the charge amount per unit time accumulated during X-ray irradiation is Cx, the pixel values Vx and Vd are respectively It can be approximated by equations (2) and (3).
Vx = A · (Cd + Cx) · Tw11 (2)
Vd = A · Cd · Tw12 (3)
Here, A is a proportional constant for converting the amount of accumulated charge into a voltage.
また、完全にオフセットを除去するには、電荷の蓄積時間Tw11と電荷の蓄積時間Tw12が等しいことが望まれる。そこで、電荷の蓄積時間Tw11と電荷の蓄積時間Tw12が等しいとすると、(1)式、(2)式及び(3)式より、オフセット補正値Voは、以下の(4)式で計算できる。
Vo=A・Cx・Tw11 ・・・(4)
この(4)式をから、オフセットが除去できることが分かる。
In order to completely remove the offset, it is desirable that the charge accumulation time Tw11 and the charge accumulation time Tw12 are equal. Therefore, if the charge accumulation time Tw11 and the charge accumulation time Tw12 are equal, the offset correction value Vo can be calculated by the following equation (4) from the equations (1), (2), and (3).
Vo = A · Cx · Tw11 (4)
It can be seen from this equation (4) that the offset can be removed.
また、その時のX線画像の1フレームのフレーム時間をTf11とすると、以下の(5)式が成り立つ。
Tf11=2・(Tr+Tw11) ・・・(5)
Further, assuming that the frame time of one frame of the X-ray image at that time is Tf11, the following equation (5) is established.
Tf11 = 2 · (Tr + Tw11) (5)
そのため、電荷の蓄積時間Tw11は、(5)式より、以下の(6)式で計算できる。
Tw11=Tf11/2−Tr ・・・(6)
Therefore, the charge accumulation time Tw11 can be calculated by the following equation (6) from the equation (5).
Tw11 = Tf11 / 2−Tr (6)
また、X線の照射時間をTxとすると、電荷の蓄積時間Tw11は、X線照射時間Txよりも大きい(長い)必要があるために、以下の(7)式を満たす必要がある。
Tw11>Tx ・・・(7)
Further, assuming that the X-ray irradiation time is Tx, the charge accumulation time Tw11 needs to be longer (longer) than the X-ray irradiation time Tx, and therefore it is necessary to satisfy the following expression (7).
Tw11> Tx (7)
センサには、経時的にオフセット電圧がゆらぐという特徴があるために、背景技術で説明したオフセット補正を考慮する必要がある。 Since the sensor has a characteristic that the offset voltage fluctuates with time, it is necessary to consider the offset correction described in the background art.
背景技術で説明した図7のタイミングチャートでは、完全にオフセットを除去して確実なオフセット補正を行うために、X線の照射時の電荷の蓄積時間Tw11とX線の非照射時の電荷の蓄積時間Tw12を等しい時間としている。しかしながら、この場合、1フレームのフレーム時間は上述した(5)式で計算されるが、撮影する際のフレームレートを向上させることが困難であるという問題があった。 In the timing chart of FIG. 7 described in the background art, the charge accumulation time Tw11 at the time of X-ray irradiation and the charge accumulation at the time of non-X-ray irradiation are performed in order to completely remove the offset and perform the reliable offset correction. The time Tw12 is set equal. However, in this case, the frame time of one frame is calculated by the above-described equation (5), but there is a problem that it is difficult to improve the frame rate at the time of shooting.
本発明は上述した問題点に鑑みてなされたものであり、確実なオフセット補正を行うと共に、フレームレートを従来よりも向上させることができるようにすることを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to perform reliable offset correction and to improve the frame rate as compared with the conventional art.
本発明の撮影制御装置は、入射した放射線を電荷として検出するセンサを制御する撮影制御装置であって、放射線発生手段から放射線を照射し、前記センサで検出された電荷に基づく放射線画像を撮影する処理を行う放射線画像撮影手段と、前記放射線発生手段からの放射線を非照射の状態で、前記センサで検出された電荷に基づくダーク画像を撮影する処理を行うダーク画像撮影手段と、前記放射線画像と前記ダーク画像の撮影における前記センサの電荷の蓄積時間を設定する蓄積時間設定手段と、前記ダーク画像撮影手段により撮影されたダーク画像であって、前記放射線画像の撮影時間外に撮影された撮影時間外ダーク画像に基づいて、第1のオフセット値を算出する第1のオフセット値算出手段と、前記ダーク画像撮影手段により撮影されたダーク画像であって、前記放射線画像の撮影時間内に撮影された撮影時間内ダーク画像に基づいて、第2のオフセット値を算出する第2のオフセット値算出手段と、前記第1のオフセット値及び前記第2のオフセット値を用いて、前記放射線画像のオフセット補正を行うオフセット補正手段とを有する。 An imaging control apparatus according to the present invention is an imaging control apparatus that controls a sensor that detects incident radiation as an electric charge, irradiates the radiation from a radiation generation unit, and captures a radiographic image based on the electric charge detected by the sensor. A radiation image photographing means for performing processing, a dark image photographing means for performing processing for photographing a dark image based on the charge detected by the sensor in a state in which radiation from the radiation generating means is not irradiated, and the radiation image An accumulation time setting means for setting an accumulation time of the charge of the sensor in photographing the dark image, and a dark image photographed by the dark image photographing means, and a photographing time photographed outside the radiation image photographing time A first offset value calculating means for calculating a first offset value based on the outside dark image and the dark image photographing means; A second offset value calculating means for calculating a second offset value based on the dark image within the imaging time captured within the imaging time of the radiographic image, and the first offset Offset correction means for performing offset correction of the radiographic image using the value and the second offset value.
本発明によれば、確実なオフセット補正を行えると共に、フレームレートを従来よりも向上させることができる。 According to the present invention, reliable offset correction can be performed, and the frame rate can be improved as compared with the prior art.
次に、本発明に係る撮影制御装置の諸実施形態について説明する。
なお、以下に示す本発明に係る撮影制御装置の諸実施形態の説明においては、放射線としてX線を適用したX線画像撮影装置の例を示すが、本発明においてはこれに限定されない。本発明の放射線としては、X線に限らず、例えば、α線、β線、γ線、光線なども含まれるものとし、これらの放射線を用いて撮影された放射線画像を処理する装置も本発明に含まれるものとする。
Next, various embodiments of the imaging control apparatus according to the present invention will be described.
In the following description of the embodiments of the imaging control apparatus according to the present invention, an example of an X-ray imaging apparatus to which X-rays are applied as radiation is shown, but the present invention is not limited to this. The radiation of the present invention is not limited to X-rays, and includes, for example, α-rays, β-rays, γ-rays, light rays, and the like, and an apparatus for processing a radiographic image captured using these radiations is also included in the present invention. Shall be included.
(第1の実施形態)
以下に、添付図面を用いて、本発明の第1の実施形態について説明する。
(First embodiment)
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
図1は、本発明の第1の実施形態に係るX線画像撮影装置(撮影制御装置)の概略構成の一例を示すブロック図である。
図1に示すように、第1の実施形態に係るX線画像撮影装置10は、X線発生部1と、操作入力部2と、制御部3と、センサ4と、表示部5と、ROM6と、RAM7と、蓄積部8を有して構成されている。また、制御部3には、X線画像撮影部31と、ダーク画像撮影部32と、フレーム時間決定部33と、蓄積時間設定部34と、第1のオフセット値算出部35と、第2のオフセット値算出部36と、オフセット補正部37が機能構成として含まれている。
FIG. 1 is a block diagram showing an example of a schematic configuration of an X-ray imaging apparatus (imaging control apparatus) according to the first embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 1, an
X線発生部(放射線発生部)1は、被写体(被検者)20に対してパルス状にX線1aを連続して発生することができるものであり、例えば、X線管球で構成されている。 The X-ray generation unit (radiation generation unit) 1 is capable of continuously generating X-rays 1a in a pulse shape with respect to the subject (subject) 20, and is composed of, for example, an X-ray tube. ing.
操作入力部2は、ユーザがX線画像撮影装置10に対して入力指示を行う際に操作されるものである。この操作入力部2には、X線発生部1からX線1aを発生させる際にユーザが操作する照射スイッチ2aが含まれている。
The
制御部3は、例えば、ROM6に記憶されているプログラム等を読み出し、これに基づいてX線画像撮影装置10の全体の制御を行う。特に、本実施形態において、制御部3は、ROM6に記憶されているプログラム等に基づいて、31〜37の各機能構成における処理を実現する。
For example, the
ここで、X線画像撮影部(放射線画像撮影部)31は、センサ4における電荷の蓄積中にX線発生部1からX線を照射し、その後、センサ4から電荷の読み出しを行うことにより、X線画像の撮影処理を行う。ダーク画像撮影部32は、X線発生部1からのX線を非照射の状態でセンサ4の電荷の蓄積を行い、その後、センサ4から電荷の読み出しを行うことにより、ダーク画像の撮影処理を行う。
Here, the X-ray image capturing unit (radiation image capturing unit) 31 emits X-rays from the X-ray generation unit 1 during charge accumulation in the sensor 4, and then reads out charges from the sensor 4. X-ray image capturing processing is performed. The dark
フレーム時間決定部33は、X線画像の1フレームの撮影時間(フレーム時間)を決定する。蓄積時間設定部34は、X線画像及びダーク画像の撮影におけるセンサ4での電荷の蓄積時間(本実施形態では、後述する第1の蓄積時間と第2の蓄積時間)を設定する。 The frame time determination unit 33 determines the imaging time (frame time) of one frame of the X-ray image. The accumulation time setting unit 34 sets the charge accumulation time (in the present embodiment, a first accumulation time and a second accumulation time, which will be described later) in the sensor 4 when taking an X-ray image and a dark image.
第1のオフセット値算出部35は、ダーク画像撮影部32により撮影されたダーク画像であって、X線画像の撮影時間外(フレーム時間外)に撮影された撮影時間外ダーク画像に基づいて、第1のオフセット値を算出する。第2のオフセット値算出部36は、ダーク画像撮影部32により撮影されたダーク画像であって、X線画像の撮影時間内(フレーム時間内)に撮影された撮影時間内ダーク画像に基づいて、第2のオフセット値を算出する。オフセット補正部37は、第1のオフセット値及び第2のオフセット値を用いて、X線画像のオフセット補正を行う。
The first offset value calculation unit 35 is a dark image captured by the dark
センサ4は、制御部3(X線画像撮影部31)の制御に基づいて、X線発生部1から照射され、被写体20を透過したX線1aを電気信号(電荷)として検出する。また、センサ4は、制御部3(ダーク画像撮影部32)の制御に基づいて、X線発生部1からのX線1aを非照射の状態、即ちダーク状態での電気信号(電荷)を検出する。 The sensor 4 detects the X-ray 1a irradiated from the X-ray generation unit 1 and transmitted through the subject 20 as an electric signal (charge) based on the control of the control unit 3 (X-ray image capturing unit 31). The sensor 4 detects an electric signal (charge) in a non-irradiated state, that is, a dark state, of the X-ray 1a from the X-ray generation unit 1 based on the control of the control unit 3 (dark image capturing unit 32). To do.
このセンサ4には、例えば、光電変換素子とTFTとを含む画素が2次元状に配列されており、この場合、各画素上には、例えば蛍光体が設けられて形成される。そして、この場合、センサ4に入射したX線は蛍光体で可視光に変換され、変換された可視光が各画素の光電変換素子に入射し、各光電変換素子において、可視光に応じた電荷が生成される。なお、本実施形態では、上述した蛍光体及び光電変換素子によって、入射したX線を電荷に変換する「変換素子」を構成する形態であるが、例えば蛍光体を設けずに、入射したX線を直接電荷に変換する、いわゆる直接変換型の変換素子を構成する形態であってもよい。したがって、以降の説明においては、センサ4に、「変換素子」が2次元状に配列されているものとして説明を行う。 In the sensor 4, for example, pixels including photoelectric conversion elements and TFTs are two-dimensionally arranged. In this case, for example, a phosphor is provided on each pixel. In this case, the X-rays incident on the sensor 4 are converted into visible light by the phosphor, and the converted visible light enters the photoelectric conversion element of each pixel, and the charge corresponding to the visible light in each photoelectric conversion element. Is generated. In the present embodiment, the above-described phosphor and photoelectric conversion element form a “conversion element” that converts incident X-rays into electric charges. For example, incident X-rays are provided without providing a phosphor. Alternatively, a so-called direct conversion type conversion element that directly converts the light into a charge may be used. Accordingly, in the following description, it is assumed that “conversion elements” are arranged in a two-dimensional manner on the sensor 4.
また、既に背景技術で説明したように、センサ4は、各変換素子の電荷の蓄積と電荷の読み出しを交互に繰り返して、X線画像及びダーク画像を撮影することができるものである。 Further, as already described in the background art, the sensor 4 can take an X-ray image and a dark image by alternately repeating charge accumulation and charge readout of each conversion element.
表示部5は、制御部3の制御に基づいて、センサ4から読み出された電荷に基づくX線画像や、操作UI等を表示するものである。
The
ROM6には、例えば、制御部3に、後述の図2及び図6に示す処理、並びに、その他のX線画像撮影装置の制御に必要なプログラム等が記憶されている。
In the ROM 6, for example, the
RAM7は、例えば、制御部3が各種の制御を行う時に用いられ、例えば、制御部3により計算処理された各種の情報や、ユーザが操作入力部2を介して入力した各種の情報等を一時的に記憶する。
The RAM 7 is used, for example, when the
蓄積部8は、例えば、センサ4から読み出された電荷に基づく各X線画像(各放射線画像)や各ダーク画像の画像データ等を蓄積して記憶するものである。 The accumulation unit 8 accumulates and stores, for example, each X-ray image (each radiation image) based on the charges read from the sensor 4 and image data of each dark image.
図1において、制御部3は、照射スイッチ2aが操作されオンとなると、X線発生部1からパルス状にX線1aが照射されるように制御する。また、制御部3は、X線1aのパルスに同期して、センサ4から、被写体(被検者)20を透過したX線1aに基づく電荷を読み出してX線画像を生成し、オフセット補正処理を含む画像処理を行った後、当該X線画像を表示部5に表示する。
In FIG. 1, when the
次に、第1の実施形態に係るX線画像撮影装置10の処理手順について説明する。
図2は、本発明の第1の実施形態に係るX線画像撮影装置(撮影制御装置)の処理手順の一例を示すフローチャートである。
Next, a processing procedure of the
FIG. 2 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure of the X-ray imaging apparatus (imaging control apparatus) according to the first embodiment of the present invention.
まず、ステップS101において、ユーザから操作入力部2を介して撮影条件の入力がなされると、制御部3は、これを検知し、操作入力部2を介して入力した各種の情報を、例えば、RAM7に記憶し設定する。ここで、本実施形態では、ユーザにより、フレームレートFr、センサ4の電荷の読み出し時間Tr、X線の照射時間Tx、X線画像の撮影枚数(X線の照射パルス数)等が撮影条件として入力され、これらの情報がRAM7に記憶されるものとする。
First, in step S <b> 101, when an imaging condition is input from the user via the
続いて、ステップS102において、制御部3は、ユーザにより照射スイッチ2aが操作され、当該照射スイッチ2aがオンとなったか否かを判定する。この判定の結果、照射スイッチ2aがオンでない場合には、ステップS102で照射スイッチ2aがオンとなったと判定されるまで、ステップS102で待機する。
Subsequently, in step S102, the
一方、ステップS102の判定の結果、照射スイッチ2aがオンとなった場合には、ステップS103に進む。ステップS103に進むと、制御部3のフレーム時間決定部33は、X線画像の1フレームの撮影時間(フレーム時間)を決定する。
On the other hand, as a result of the determination in step S102, if the
具体的に、本実施形態においては、フレーム時間決定部33は、ステップS101により得られたフレームレートFrの情報を用いて、1フレームの撮影時間(フレーム時間)Tf1を、以下の(8)式を計算することにより決定する。
Tf1=1/Fr ・・・(8)
Specifically, in the present embodiment, the frame time determination unit 33 uses the information of the frame rate Fr obtained in step S101 to set the shooting time (frame time) Tf1 of one frame as the following equation (8). Is determined by calculating
Tf1 = 1 / Fr (8)
そして、フレーム時間決定部33は、算出された1フレームの撮影時間(フレーム時間)Tf1の情報を、例えば、RAM7に記憶し設定する。 Then, the frame time determination unit 33 stores and sets information of the calculated shooting time (frame time) Tf1 of one frame in the RAM 7, for example.
続いて、ステップS104において、制御部3の蓄積時間設定部34は、ステップS103で決定された1フレームの撮影時間に応じて、センサ4での電荷における第1の蓄積時間を設定する。続いて、ステップS105において、蓄積時間設定部34は、ステップS103で決定された1フレームの撮影時間に応じて、センサ4での電荷における第2の蓄積時間を設定する。このステップS104及びS105の具体的な処理を、図3を用いて以下に説明する。
Subsequently, in step S104, the accumulation time setting unit 34 of the
図3は、本発明の第1の実施形態に係るX線画像撮影装置(撮影制御装置)の動作の一例を示し、動画撮影モードにおけるX線の照射のタイミング、及び、センサの電荷の蓄積と電荷の読み出しのタイミングの一例を示すタイミングチャートである。この図3に示すタイミングチャートは、図7と比較して、1フレームのフレーム時間(撮影時間)が短い場合を示している。即ち、Tf1<Tf11の場合を示している。 FIG. 3 shows an example of the operation of the X-ray imaging apparatus (imaging control apparatus) according to the first embodiment of the present invention, the timing of X-ray irradiation in the moving image imaging mode, and the accumulation of charge in the sensor. It is a timing chart which shows an example of the timing of read-out of an electric charge. The timing chart shown in FIG. 3 shows a case where the frame time (shooting time) of one frame is shorter than that in FIG. That is, the case of Tf1 <Tf11 is shown.
図3では、センサ4の各変換素子における電荷の蓄積と電荷の読み出しを交互に繰り返し、1フレームの撮影時間内(フレーム時間内)で、X線画像撮影部31によるX線画像の撮影処理と、ダーク画像撮影部32によるダーク画像の撮影が行われている。また、図3に示すタイミングチャートでは、最初にX線画像を撮影し、次にダーク画像を撮影する場合を示している。
In FIG. 3, charge accumulation and charge readout in each conversion element of the sensor 4 are alternately repeated, and X-ray image photographing processing by the X-ray
また、図3に示すタイミングチャートでは、X線を照射してX線画像を撮影する前に、即ち、X線画像の撮影時間外(フレーム時間外)に、ダーク画像撮影部32が、予めダーク画像(撮影時間外ダーク画像)を2回撮影する場合を示している。ここで、このX線画像を撮影する前に撮影されるダーク画像について、電荷の蓄積時間の長いダーク画像を第1ダーク画像(第1の撮影時間外ダーク画像)、蓄積時間の短いダーク画像を第2ダーク画像(第2の撮影時間外ダーク画像)と称する。また、各X線画像の撮影時間内(フレーム時間内)撮影されるダーク画像を第3ダーク画像(撮影時間内ダーク画像)と称する。
Further, in the timing chart shown in FIG. 3, before the X-ray image is captured by irradiating X-rays, that is, outside the X-ray image capturing time (outside the frame time), the dark
また、図3に示す各フレームは、それぞれ、オフセット補正後の1枚のX線画像が生成されるタイミングを示し、F1は1番目のフレーム、F2は2番目のフレーム、F3は3番目のフレーム、F4は4番目のフレームをそれぞれ示している。 Also, each frame shown in FIG. 3 indicates the timing at which one X-ray image after offset correction is generated. F1 is the first frame, F2 is the second frame, and F3 is the third frame. , F4 indicate the fourth frame, respectively.
図3では、1フレームの撮影時間(フレーム時間)をTf1、X線の照射時間をTx、センサ4の電荷の読み出し時間をTrとしている。また、本実施形態では、第1ダーク画像とX線画像(放射線画像)を撮影する際の電荷の蓄積時間を同じ第1の蓄積時間Tw1とし、第2ダーク画像と第3ダーク画像を撮影する際の電荷の蓄積時間を同じ第2の蓄積時間Tw2とする。そして、蓄積時間設定部34は、第2の蓄積時間Tw2を第1の蓄積時間Tw1よりも短く設定する。 In FIG. 3, the imaging time (frame time) of one frame is Tf1, the X-ray irradiation time is Tx, and the charge readout time of the sensor 4 is Tr. In the present embodiment, the charge accumulation time when photographing the first dark image and the X-ray image (radiation image) is set to the same first accumulation time Tw1, and the second dark image and the third dark image are photographed. The charge accumulation time at that time is the same second accumulation time Tw2. Then, the accumulation time setting unit 34 sets the second accumulation time Tw2 to be shorter than the first accumulation time Tw1.
ステップS103で決定された1フレームの撮影時間(フレーム時間)Tf1、ステップS101で設定された電荷の読み出し時間Tr、蓄積時間設定部34で設定する第1の蓄積時間Tw1及び第2の蓄積時間Tw2には、以下の(9)式の関係が成り立つ。
Tf1=2Tr+Tw1+Tw2 ・・・(9)
The imaging time (frame time) Tf1 determined in step S103, the charge readout time Tr set in step S101, the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2 set by the accumulation time setting unit 34 The following equation (9) holds.
Tf1 = 2Tr + Tw1 + Tw2 (9)
(9)式より、電荷の読み出し時間Trは一定時間であるので、1フレームの撮影時間(フレーム時間)Tf1が小さく(短く)なると、第1の蓄積時間Tw1と第2の蓄積時間Tw2とを加算した値は小さく(短く)なる。逆に、1フレームの撮影時間(フレーム時間)Tf1が大きく(長く)なると、第1の蓄積時間Tw1と第2の蓄積時間Tw2とを加算した値は大きく(長く)なる。 According to the equation (9), since the charge readout time Tr is a fixed time, when the imaging time (frame time) Tf1 of one frame becomes small (short), the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2 are obtained. The added value becomes smaller (shorter). On the contrary, when the photographing time (frame time) Tf1 of one frame becomes large (long), the value obtained by adding the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2 becomes large (long).
ここで、第1の蓄積時間Tw1の最小値をTmin1、第2の蓄積時間Tw2の最小値をTmin2として、以下の(10)式及び(11)式の関係が成り立つと仮定する。
Tw1=Tmin1+α ・・・(10)
Tw2=Tmin2+α ・・・(11)
ここで、αは1フレームの撮影時間(フレーム時間)に応じて変化する変数である。即ち、ここでは、1フレームの撮影時間が小さくなると第1の蓄積時間Tw1と第2の蓄積時間Tw2は同じ値だけ小さくなり、逆に、1フレームの撮影時間が大きくなると第1の蓄積時間Tw1と第2の蓄積時間Tw2は同じ値だけ大きくなると仮定する。
Here, assuming that the minimum value of the first accumulation time Tw1 is Tmin1 and the minimum value of the second accumulation time Tw2 is Tmin2, it is assumed that the following equations (10) and (11) are satisfied.
Tw1 = Tmin1 + α (10)
Tw2 = Tmin2 + α (11)
Here, α is a variable that changes according to the shooting time (frame time) of one frame. That is, here, when the imaging time of one frame is reduced, the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2 are reduced by the same value, and conversely, when the imaging time of one frame is increased, the first accumulation time Tw1. And the second accumulation time Tw2 are assumed to increase by the same value.
そして、(9)式、(10)式及び(11)式を用いて、それぞれ、第1の蓄積時間Tw1、第2の蓄積時間Tw2について整理すると、以下の(12)式及び(13)式が得られる。
Tw1=(Tf1+Tmin1−Tmin2)/2−Tr ・・・(12)
Tw2=(Tf1−Tmin1+Tmin2)/2−Tr ・・・(13)
Then, when the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2 are arranged using the equations (9), (10), and (11), respectively, the following equations (12) and (13) Is obtained.
Tw1 = (Tf1 + Tmin1-Tmin2) / 2-Tr (12)
Tw2 = (Tf1-Tmin1 + Tmin2) / 2-Tr (13)
ここで、第1の蓄積時間の最小値Tmin1は、X線の照射時間Txよりも大きく(長く)なければならないので、以下の(14)式を満たす必要がある。
Tmin1>Tx ・・・(14)
Here, since the minimum value Tmin1 of the first accumulation time must be longer (longer) than the X-ray irradiation time Tx, it is necessary to satisfy the following expression (14).
Tmin1> Tx (14)
また、第2の蓄積時間の最小値Tmin2は、任意な値に設定することができるが、実施形態では、以下の(15)式が成り立つように設定する。
Tmin1>Tmin2 ・・・(15)
The minimum value Tmin2 of the second accumulation time can be set to an arbitrary value, but in the embodiment, it is set so that the following expression (15) is satisfied.
Tmin1> Tmin2 (15)
まず、蓄積時間設定部34は、(14)式より、ステップS101で設定されたX線の照射時間Txに基づいて、第1の蓄積時間の最小値Tmin1を設定することができる。その後、蓄積時間設定部34は、(15)式より、設定した第1の蓄積時間の最小値Tmin1に基づいて、第2の蓄積時間の最小値Tmin2を設定することができる。 First, the accumulation time setting unit 34 can set the minimum value Tmin1 of the first accumulation time based on the X-ray irradiation time Tx set in step S101 from the equation (14). Thereafter, the accumulation time setting unit 34 can set the minimum value Tmin2 of the second accumulation time based on the set minimum value Tmin1 of the first accumulation time from the equation (15).
また、(10)式、(11)式、(14)式及び(15)式から、以下の(16)式及び(17)式が成り立つ。
Tw1>Tx ・・・(16)
Tw1>Tw2 ・・・(17)
Moreover, the following (16) Formula and (17) Formula hold from (10) Formula, (11) Formula, (14) Formula, and (15) Formula.
Tw1> Tx (16)
Tw1> Tw2 (17)
通常、X線の照射時間Txは数ミリ秒から十数ミリ秒の値であるので、第1の蓄積時間の最小値Tmin1も数ミリ秒から十数ミリ秒の値である。また、第2の蓄積時間の最小値Tmin2は、1ミリ秒程度である。 Usually, since the X-ray irradiation time Tx is a value from several milliseconds to several tens of milliseconds, the minimum value Tmin1 of the first accumulation time is also a value from several milliseconds to several tens of milliseconds. Further, the minimum value Tmin2 of the second accumulation time is about 1 millisecond.
蓄積時間設定部34は、設定した第1の蓄積時間の最小値Tmin1及び第2の蓄積時間の最小値Tmin2と、ステップS101で設定されたX線の照射時間Tx及び電荷の読み出し時間Trに基づいて、(12)式により第1の蓄積時間Tw1を設定する。同様に、蓄積時間設定部34は、(13)式により第2の蓄積時間Tw2を設定する。この際、蓄積時間設定部34は、(16)式及び(17)式を満たすように、第1の蓄積時間Tw1及び第2の蓄積時間Tw2を設定する。 The accumulation time setting unit 34 is based on the set first accumulation time minimum value Tmin1 and second accumulation time minimum value Tmin2, and the X-ray irradiation time Tx and the charge readout time Tr set in step S101. Thus, the first accumulation time Tw1 is set by the equation (12). Similarly, the accumulation time setting unit 34 sets the second accumulation time Tw2 by the equation (13). At this time, the accumulation time setting unit 34 sets the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2 so as to satisfy the expressions (16) and (17).
そして、蓄積時間設定部34は、設定した第1の蓄積時間Tw1及び第2の蓄積時間Tw2の情報を、例えば、RAM7に記憶する。 Then, the accumulation time setting unit 34 stores information of the set first accumulation time Tw1 and second accumulation time Tw2 in the RAM 7, for example.
本実施形態では、(17)式より、第2の蓄積時間Tw2を第1の蓄積時間Tw1よりも短く(小さく)設定するので、1フレームの撮影時間を短く(小さく)することができ、フレームレートを向上させることができる。 In the present embodiment, the second accumulation time Tw2 is set shorter (smaller) than the first accumulation time Tw1 from the equation (17), so that the shooting time of one frame can be shortened (smaller), and the frame The rate can be improved.
ただし、この場合、第1の蓄積時間Tw1と第2の蓄積時間Tw2とでは、電荷の蓄積時間が異なるので、背景技術で説明した(1)式ではオフセットを完全に除去することができない。即ち、本実施形態では、第1ダーク画像と第3ダーク画像を撮影する際の電荷の蓄積時間を第1の蓄積時間Tw1とし、第2ダーク画像とX線画像を撮影する際の電荷の蓄積時間を第2の蓄積時間Tw2としている。そのため、本実施形態では、以下に示すステップS106以降の処理を行う。 However, in this case, since the charge accumulation time differs between the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2, the offset cannot be completely removed by the equation (1) described in the background art. That is, in this embodiment, the charge accumulation time when photographing the first dark image and the third dark image is defined as the first accumulation time Tw1, and the charge accumulation when photographing the second dark image and the X-ray image. The time is the second accumulation time Tw2. For this reason, in the present embodiment, the processing after step S106 shown below is performed.
ステップS106において、制御部3のダーク画像撮影部32は、X線画像撮影部31によるX線画像の撮影が行われる前に、即ち、X線画像の撮影時間外(フレーム時間外)に、X線発生部1からのX線1aを非照射の状態で、ダーク画像を撮影する処理を行う。この際、撮影されるダーク画像は、撮影時間外ダーク画像となる。
In step S106, the dark
具体的に、本実施形態では、ダーク画像撮影部32は、第1ダーク画像(第1の撮影時間外ダーク画像)と、第2ダーク画像(第2の撮影時間外ダーク画像)を撮影する処理を行う。この際、図3に示すように、第1ダーク画像は、電荷の蓄積時間を第1の蓄積時間Tw1として撮影処理されたものであり、第2ダーク画像は、電荷の蓄積時間を第2の蓄積時間Tw2として撮影処理されたものである。そして、ダーク画像撮影部32は、この第1ダーク画像及び第2ダーク画像の画像データを、例えば、蓄積部8に記憶する。
Specifically, in this embodiment, the dark
続いて、ステップS107において、第1のオフセット値算出部35は、ステップS106で撮影されたダーク画像に基づいて、第1のオフセット値を算出する。 Subsequently, in step S107, the first offset value calculation unit 35 calculates a first offset value based on the dark image photographed in step S106.
具体的に、本実施形態では、ステップS106において第1ダーク画像及び第2ダーク画像を撮影しているため、第1のオフセット値算出部35は、これらの画像に基づいて、第1のオフセット値を算出する。 Specifically, in the present embodiment, since the first dark image and the second dark image are captured in step S106, the first offset value calculation unit 35 uses the first offset value based on these images. Is calculated.
ここで、第1のオフセット値をVo1、第1ダーク画像の画素値をVd1、第2ダーク画像の画素値をVd2とすると、第1のオフセット値算出部35は、第1のオフセット値Vo1を、以下の(18)式により算出する。
Vo1=Vd1−Vd2 ・・・(18)
この際、第1のオフセット値算出部35は、第1ダーク画像及び第2ダーク画像の画素毎に第1のオフセット値Vo1を算出する。
Here, when the first offset value is Vo1, the pixel value of the first dark image is Vd1, and the pixel value of the second dark image is Vd2, the first offset value calculation unit 35 sets the first offset value Vo1. It is calculated by the following equation (18).
Vo1 = Vd1−Vd2 (18)
At this time, the first offset value calculation unit 35 calculates the first offset value Vo1 for each pixel of the first dark image and the second dark image.
そして、第1のオフセット値算出部35は、算出した第1のオフセット値Vo1を、例えば、RAM7に記憶する。 Then, the first offset value calculation unit 35 stores the calculated first offset value Vo1 in the RAM 7, for example.
その後、X線画像の撮影時間が開始されると、続いて、ステップS108において、制御部3のX線画像撮影部31は、センサ4における電荷の蓄積中にX線発生部1から被写体20にX線1aを照射し、X線画像を撮影する処理を行う。この際、図3に示すように、X線画像の撮影処理は、センサ4での電荷の蓄積時間を第1の蓄積時間Tw1として行われる。そして、X線画像撮影部31は、このX線画像の画像データを、例えば、蓄積部8に記憶する。
Thereafter, when the radiographing time of the X-ray image is started, subsequently, in step S108, the X-ray
続いて、ステップS109において、ダーク画像撮影部32は、当該X線画像の1フレームの撮影時間内(フレーム時間内)に、X線発生部1からのX線1aを非照射の状態で、ダーク画像を撮影する処理を行う。この際、撮影されるダーク画像は、撮影時間内ダーク画像となる。
Subsequently, in step S109, the dark
具体的に、本実施形態では、ダーク画像撮影部32は、図3に示すように、電荷の蓄積時間を第2の蓄積時間Tw2とする第3ダーク画像(撮影時間内ダーク画像)を撮影する処理を行う。そして、ダーク画像撮影部32は、この第3ダーク画像の画像データを、例えば、蓄積部8に記憶する。
Specifically, in the present embodiment, as shown in FIG. 3, the dark
続いて、ステップS110において、第2のオフセット値算出部36は、ステップS109で撮影された第3ダーク画像に基づいて、第2のオフセット値を算出する。 Subsequently, in step S110, the second offset value calculator 36 calculates a second offset value based on the third dark image photographed in step S109.
具体的に、本実施形態では、制御部3の第2のオフセット値算出部36は、第3ダーク画像の各画素値を検出して、第3ダーク画像の画素毎に第2のオフセット値を算出する。そして、第2のオフセット値算出部36は、算出した第2のオフセット値を、例えば、RAM7に記憶する。
Specifically, in the present embodiment, the second offset value calculation unit 36 of the
続いて、ステップS111において、制御部3のオフセット補正部37は、ステップS107で算出された第1のオフセット値及びステップS110で算出された第2のオフセット値を用いて、ステップS108で撮影されたX線画像のオフセット補正を行う。
Subsequently, in step S111, the offset
このステップS111におけるオフセット補正処理を以下に説明する。
ここで、図3に示すように、ステップS108で撮影されたX線画像の画素値をVx、第3ダーク画像の画素値、即ち第2のオフセット値をVd3、オフセット補正後のX線画像の画素値をVo2とする。この場合、オフセット補正部37は、ステップS108で撮影されたX線画像を、以下の(19)式によりオフセット補正する。
Vo2=Vx−Vd3−Vo1 ・・・(19)
この際、オフセット補正部37は、X線画像の画素毎にオフセット補正を行う。
The offset correction process in step S111 will be described below.
Here, as shown in FIG. 3, the pixel value of the X-ray image captured in step S108 is Vx, the pixel value of the third dark image, that is, the second offset value is Vd3, and the X-ray image of the X-ray image after offset correction is used. Let the pixel value be Vo2. In this case, the offset
Vo2 = Vx−Vd3−Vo1 (19)
At this time, the offset
既に背景技術で述べたように、X線の非照射時に蓄積される単位時間あたりの電荷量をCd、X線の照射時に蓄積される単位時間あたりの電荷量をCxとすると、画素値Vd1、Vd2、Vx及びVd3は、それぞれ、以下の(20)式〜(23)式で近似できる。
Vd1=A・Cd・Tw1 ・・・(20)
Vd2=A・Cd・Tw2 ・・・(21)
Vx=A・(Cd+Cx)・Tw1 ・・・(22)
Vd3=A・Cd・Tw2 ・・・(23)
As already described in the background art, assuming that the charge amount per unit time accumulated during non-irradiation of X-rays is Cd and the charge amount per unit time accumulated during X-ray irradiation is Cx, the pixel value Vd1, Vd2, Vx, and Vd3 can be approximated by the following equations (20) to (23), respectively.
Vd1 = A · Cd · Tw1 (20)
Vd2 = A · Cd · Tw2 (21)
Vx = A · (Cd + Cx) · Tw1 (22)
Vd3 = A · Cd · Tw2 (23)
そして、(18)式〜(23)式から、オフセット補正後のX線画像の画素値Vo2は、(24)式に示すものとなる。
Vo2=A・Cx・Tw1 ・・・(24)
この(24)式で示すように、オフセット補正後のX線画像の画素値Vo2には、オフセット成分である電荷量Cdが含まれておらず、これにより、X線画像からオフセットが除去できることが分かる。
From the equations (18) to (23), the pixel value Vo2 of the X-ray image after the offset correction is shown in the equation (24).
Vo2 = A · Cx · Tw1 (24)
As shown by the equation (24), the pixel value Vo2 of the X-ray image after the offset correction does not include the charge amount Cd that is an offset component, and thus the offset can be removed from the X-ray image. I understand.
そして、オフセット補正部37は、オフセット補正後のX線画像の画像データを、例えば、蓄積部8に記憶する。その後、必要に応じて、制御部3は、当該X線画像を表示部5に表示する。
Then, the offset
続いて、ステップS112において、制御部3は、ステップS101で設定したX線画像の撮影枚数(X線の照射パルス数)における撮影が終了したか否かを判断する。この判断の結果、ステップS101で設定したX線画像の撮影枚数(X線の照射パルス数)における撮影が終了していない場合には、ステップS108に戻る。
Subsequently, in step S112, the
一方、ステップS112の判断の結果、ステップS101で設定したX線画像の撮影枚数(X線の照射パルス数)における撮影が終了した場合には、図2に示すフローチャートの処理を終了する。 On the other hand, as a result of the determination in step S112, if the imaging for the number of X-ray images to be captured (number of X-ray irradiation pulses) set in step S101 is completed, the processing of the flowchart shown in FIG.
本実施形態では、図2に示すように、ステップS107の(18)式を用いた第1のオフセット値の算出処理は、X線画像撮影部31によるX線1aを照射したX線画像の撮影処理(S108)の前に行われる。また、図2に示すように、ステップS111の(19)式を用いたX線画像のオフセット補正処理は、X線発生部1からX線1aを照射する毎に行われる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the first offset value calculation process using the equation (18) in step S107 is performed by taking an X-ray image irradiated with the X-ray 1a by the X-ray
なお、第1の実施形態では、1フレームの撮影時間(フレーム時間)の決定に際して、フレーム時間決定部33が(8)式を用いた計算により決定していたが、この形態に限定されるものではない。例えば、ステップS101においてユーザから操作入力部2を介して直接入力された1フレームの撮影時間(フレーム時間)を検知して、これを1フレームの撮影時間(フレーム時間)として決定する形態であってもよい。
In the first embodiment, when determining the shooting time (frame time) of one frame, the frame time determination unit 33 is determined by calculation using the equation (8). However, the present invention is limited to this mode. is not. For example, it is a form in which the photographing time (frame time) of one frame directly input from the user via the
また、第1の実施形態では、31〜37の各構成部を、制御部3がROM6に記憶されているプログラムを実行することによりソフトウェアで実現するようにしているが、例えば、当該各構成部をハードウェアで実現するようにしてもよい。
In the first embodiment, each of the
また、第1の実施形態では、第1のオフセット値算出部35は、(18)式を計算することにより第1のオフセット値Vo1を算出するようにしているが、この形態に限定されるものではない。例えば、第1ダーク画像と第2ダーク画像を撮影する際の電荷の増幅率が異なる場合には、第1のオフセット値算出部35は、第1のオフセット値Vo1を、以下の(25)式により算出する。
Vo1=Vd1−B・Vd2 ・・・(25)
ここで、Bは定数である。
In the first embodiment, the first offset value calculation unit 35 calculates the first offset value Vo1 by calculating the equation (18). However, the present invention is limited to this form. is not. For example, in the case where the charge amplification factors for capturing the first dark image and the second dark image are different, the first offset value calculation unit 35 sets the first offset value Vo1 as the following equation (25). Calculated by
Vo1 = Vd1−B · Vd2 (25)
Here, B is a constant.
また、第1の実施形態では、オフセット補正部37は、(19)式を計算することにより、X線画像をオフセット補正処理するようにしているが、この形態に限定されるものではない。例えば、X線画像と第3ダーク画像を撮影する際の電荷のオフセット値なる場合には、オフセット補正部37は、以下の(26)式を計算することにより、X線画像のオフセット補正処理を行う。
Vo2=Vx−Vd3−Vo1+C ・・・(26)
ここで、Cは定数である。
In the first embodiment, the offset
Vo2 = Vx−Vd3−Vo1 + C (26)
Here, C is a constant.
また、第1の実施形態では、第1の蓄積時間Tw1及び第2の蓄積時間Tw2が、それぞれ、(10)式及び(11)式が成り立つと仮定しているが、この形態に限定されるものではない。例えば、第1の蓄積時間Tw1及び第2の蓄積時間Tw2が、それぞれ、以下の(27)式及び(28)式が成り立つと仮定してもよい。
Tw1=Tmin1+β ・・・(27)
Tw2=Tmin2 ・・・(28)
即ち、第2の蓄積時間Tw2は小さな値の固定値とし、一方、第1の蓄積時間Tw1は1フレームの撮影時間(フレーム時間)が変化すると(10)式と同じように変化すると仮定する。
Further, in the first embodiment, it is assumed that the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2 satisfy the expressions (10) and (11), respectively, but the present invention is limited to this form. It is not a thing. For example, it may be assumed that the following equations (27) and (28) hold for the first accumulation time Tw1 and the second accumulation time Tw2, respectively.
Tw1 = Tmin1 + β (27)
Tw2 = Tmin2 (28)
That is, it is assumed that the second accumulation time Tw2 is a small fixed value, while the first accumulation time Tw1 changes in the same manner as the equation (10) when the photographing time (frame time) of one frame changes.
また、第1の実施形態では、第1のオフセット値算出部35は、X線の照射直前の第1ダーク画像と第2ダーク画像を用いて第1のオフセット値を算出するようにしているが、この形態に限定されるものではない。本実施形態では、X線の照射以前のダーク画像を用いるものであれば、必ずしもX線の照射直前である必要は無い。また、本実施形態で用いる第1のオフセット値は、X線の照射以前であれば、定期的に再計算して算出してもよい。 In the first embodiment, the first offset value calculation unit 35 calculates the first offset value using the first dark image and the second dark image immediately before the X-ray irradiation. However, it is not limited to this form. In the present embodiment, if a dark image before X-ray irradiation is used, it is not always necessary to be immediately before X-ray irradiation. Further, the first offset value used in the present embodiment may be calculated by periodically recalculating it before X-ray irradiation.
また、第1の実施形態では、第1のオフセット値算出部35は、第1ダーク画像及び第2ダーク画像の2つのダーク画像(撮影時間外ダーク画像)を用いて第1のオフセット値を算出するようにしているが、この形態に限定されるものではない。例えば、第1のオフセット値算出部35は、撮影時間外ダーク画像として、2つのダーク画像を用いずに、1つのダーク画像を用いて、第1のオフセット値を算出するようにした形態も適用可能である。この場合、第1のオフセット値算出部35は、当該1つのダーク画像の各画素値を検出して、当該1つのダーク画像の画素毎に第1のオフセット値を算出する。そして、当該1つのダーク画像を用いる場合には、(18)式、(20)式及び(21)式を考慮して電荷の蓄積時間を(Tw1−Tw2)とすれば、第1ダーク画像及び第2ダーク画像に替えて当該1つのダーク画像を適用することができる。そして、この形態を採る場合、ステップS108以降の処理については、第1の実施形態で示したものと同様に処理を行うことができる。 In the first embodiment, the first offset value calculation unit 35 calculates the first offset value using two dark images (dark images outside the shooting time) of the first dark image and the second dark image. However, the present invention is not limited to this form. For example, the first offset value calculation unit 35 may apply a form in which the first offset value is calculated using one dark image instead of two dark images as dark images outside the photographing time. Is possible. In this case, the first offset value calculation unit 35 detects each pixel value of the one dark image, and calculates a first offset value for each pixel of the one dark image. When the one dark image is used, if the charge accumulation time is (Tw1-Tw2) in consideration of the equations (18), (20), and (21), the first dark image and The one dark image can be applied instead of the second dark image. And when this form is taken, about the process after step S108, a process can be performed similarly to what was shown in 1st Embodiment.
(第2の実施形態)
以下に、添付図面を用いて、本発明の第2の実施形態について説明する。
(Second Embodiment)
Below, the 2nd Embodiment of this invention is described using an accompanying drawing.
ここで、第2の実施形態に係るX線画像撮影装置(撮影制御装置)の概略構成は、図1に示す第1の実施形態に係るX線画像撮影装置10の概略構成と同様である。また、第2の実施形態に係るX線画像撮影装置10の処理手順は、図2に示すステップS108の処理とステップS109の処理の順序を逆にしたものである。
Here, the schematic configuration of the X-ray imaging apparatus (imaging control apparatus) according to the second embodiment is the same as the schematic configuration of the
図4は、本発明の第2の実施形態に係るX線画像撮影装置(撮影制御装置)の動作の一例を示し、動画撮影モードにおけるX線の照射のタイミング、及び、センサの電荷の蓄積と電荷の読み出しのタイミングの一例を示すタイミングチャートである。この図4に示すタイミングチャートにおいて、図3に示すタイミングチャートと同様の構成については、同じ符号を付している。 FIG. 4 shows an example of the operation of the X-ray imaging apparatus (imaging control apparatus) according to the second embodiment of the present invention, the timing of X-ray irradiation in the moving image imaging mode, and the accumulation of charge in the sensor. It is a timing chart which shows an example of the timing of read-out of an electric charge. In the timing chart shown in FIG. 4, the same components as those in the timing chart shown in FIG.
図4は、1フレームの撮影時間内(フレーム時間内)で、最初に第3ダーク画像(撮影時間内ダーク画像)の撮影を行い、次に、X線画像を撮影する場合を示している。また、X線1aを照射する前のX線画像の撮影時間外(フレーム時間外)に撮影するダーク画像は、最初に第2ダーク画像が撮影され、次に、第1ダーク画像を撮影する順序で撮影される。これは、第1ダーク画像とX線画像とが対応しており、また、第2ダーク画像と第3ダーク画像とが対応しているため、X線画像と第3ダーク画像の撮影の順序が逆になったことに伴い、第1ダーク画像と第2ダーク画像の撮影の順序を逆にしたものである。 FIG. 4 shows a case where the third dark image (dark image within the shooting time) is first shot and then the X-ray image is shot within the shooting time of one frame (within the frame time). In addition, as for the dark image to be photographed outside the photographing time (outside the frame time) of the X-ray image before the X-ray 1a is irradiated, the second dark image is photographed first, and then the first dark image is photographed. Taken at. This is because the first dark image and the X-ray image correspond to each other, and the second dark image and the third dark image correspond to each other. Along with this, the order of photographing the first dark image and the second dark image is reversed.
(第3の実施形態)
以下に、添付図面を用いて、本発明の第3の実施形態について説明する。
(Third embodiment)
Hereinafter, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
図5は、本発明の第3の実施形態に係るX線画像撮影装置(撮影制御装置)の概略構成の一例を示すブロック図である。この図5において、図1に示す構成と同様の構成については、同じ符号を付している。 FIG. 5 is a block diagram showing an example of a schematic configuration of an X-ray imaging apparatus (imaging control apparatus) according to the third embodiment of the present invention. In FIG. 5, the same components as those shown in FIG.
第3の実施形態に係るX線画像撮影装置30には、第1の実施形態に係るX線画像撮影装置10の構成に加えて、制御部330内に、比較部38が更に設けられている。さらに、第3の実施形態では、蓄積時間設定部34において、第1の実施形態における第1の蓄積時間及び第2の蓄積時間に加えて、後述する第3の蓄積時間を更に設定する。
The
次に、第3の実施形態に係るX線画像撮影装置30の処理手順について説明する。
図6は、本発明の第3の実施形態に係るX線画像撮影装置(撮影制御装置)の処理手順の一例を示すフローチャートである。この図6において、図2に示す処理ステップと同様の処理ステップについては、同じ符号を付している。
Next, a processing procedure of the
FIG. 6 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure of the X-ray imaging apparatus (imaging control apparatus) according to the third embodiment of the present invention. In FIG. 6, the same processing steps as the processing steps shown in FIG.
まず、第3の実施形態では、図2に示すステップS101〜S103の処理を経る。 First, in the third embodiment, the processes of steps S101 to S103 shown in FIG. 2 are performed.
続いて、ステップS301において、蓄積時間設定部34は、ステップS103で決定された1フレームの撮影時間に応じて、X線画像に係る電荷の蓄積時間と撮影時間内ダーク画像に係る電荷の蓄積時間とを同じ時間とした場合の第3の蓄積時間を計算する。このステップS301の具体的な処理を以下に説明する。 Subsequently, in step S301, the accumulation time setting unit 34 determines the charge accumulation time related to the X-ray image and the charge accumulation time related to the dark image within the imaging time according to the imaging time of one frame determined in step S103. And the third accumulation time is calculated. Specific processing in step S301 will be described below.
具体的に、蓄積時間設定部34は、第3の蓄積時間として、背景技術で説明した(6)式を用いて、電荷の蓄積時間Tw11を計算する。この第3の蓄積時間Tw11は、図7に示すX線画像(画素値Vx)に係る電荷の蓄積時間に相当するものである。また、この(6)式により計算される第3の蓄積時間Tw11は、その前提として、図7に示す撮影時間内ダーク画像(画素値Vd)に係る電荷の蓄積時間Tw12と同じ時間とされている。なお、この際の1フレームの撮影時間(フレーム時間)はTf11である。 Specifically, the accumulation time setting unit 34 calculates the charge accumulation time Tw11 as the third accumulation time using the equation (6) described in the background art. The third accumulation time Tw11 corresponds to the charge accumulation time related to the X-ray image (pixel value Vx) shown in FIG. Further, the third accumulation time Tw11 calculated by the equation (6) is assumed to be the same time as the charge accumulation time Tw12 related to the dark image (pixel value Vd) within the photographing time shown in FIG. Yes. Note that the shooting time (frame time) of one frame at this time is Tf11.
続いて、ステップS302において、制御部330の比較部38は、ステップS301で算出された第3の蓄積時間と基準となる基準時間とを比較し、第3の蓄積時間が基準時間よりも長い(大きい)か否かを判断する。
Subsequently, in step S302, the
ここで、本実施形態では、基準時間として、X線の照射時間Txを適用する。即ち、ステップS302では、第3の蓄積時間Tw11がX線の照射時間Txよりも長い(大きい)か否か、つまり(7)式を満たすか否かが判断される。 Here, in this embodiment, the X-ray irradiation time Tx is applied as the reference time. That is, in step S302, it is determined whether the third accumulation time Tw11 is longer (larger) than the X-ray irradiation time Tx, that is, whether the equation (7) is satisfied.
ステップS302の判断の結果、第3の蓄積時間が基準時間よりも長くない、即ち、第3の蓄積時間が基準時間以下である場合には、ステップS104に進み、第1の実施形態における図2に示すステップS104〜S112の処理が行われる。この場合、図3に示すタイミングチャートが実行される。なお、図7に示すステップS104以降の処理については、第1の実施形態の処理手順としているが、第2の実施形態の処理手順を適用し、図4に示すタイミングチャートを実行する形態であってもよい。 As a result of the determination in step S302, if the third accumulation time is not longer than the reference time, that is, if the third accumulation time is equal to or less than the reference time, the process proceeds to step S104, and FIG. 2 in the first embodiment. Steps S104 to S112 shown in FIG. In this case, the timing chart shown in FIG. 3 is executed. Note that the processing after step S104 shown in FIG. 7 is the processing procedure of the first embodiment, but the processing procedure of the second embodiment is applied and the timing chart shown in FIG. 4 is executed. May be.
一方、ステップS302の判断の結果、第3の蓄積時間が基準時間よりも長い場合には、ステップS303に進む。ステップS303に進むと、蓄積時間設定部34は、X線画像に係る電荷の蓄積時間と撮影時間内ダーク画像に係る電荷の蓄積時間とを同じ第3の蓄積時間として設定する。 On the other hand, as a result of the determination in step S302, if the third accumulation time is longer than the reference time, the process proceeds to step S303. In step S303, the accumulation time setting unit 34 sets the charge accumulation time related to the X-ray image and the charge accumulation time related to the dark image within the imaging time as the same third accumulation time.
具体的に、蓄積時間設定部34は、図7に示すX線画像(画素値Vx)に係る電荷の蓄積時間と撮影時間内ダーク画像(画素値Vd)に係る電荷の蓄積時間とを同じ第3の蓄積時間Tw11として設定する。蓄積時間設定部34は、設定した第3の蓄積時間Tw11の情報を、例えば、RAM7に記憶する。 Specifically, the accumulation time setting unit 34 sets the same charge accumulation time for the X-ray image (pixel value Vx) shown in FIG. 7 and the charge accumulation time for the dark image (pixel value Vd) within the imaging time. 3 is set as an accumulation time Tw11. The accumulation time setting unit 34 stores information on the set third accumulation time Tw11 in the RAM 7, for example.
その後、X線画像の撮影時間が開始されると、続いて、ステップS304において、制御部330のX線画像撮影部31は、センサ4における電荷の蓄積中にX線発生部1から被写体20にX線1aを照射し、X線画像を撮影する処理を行う。この際、図7に示すように、X線画像の撮影処理は、センサ4での電荷の蓄積時間を第3の蓄積時間Tw11として行われる。そして、X線画像撮影部31は、このX線画像の画像データを、例えば、蓄積部8に記憶する。
Thereafter, when the radiographing time of the X-ray image is started, subsequently, in step S304, the X-ray
続いて、ステップS305において、制御部330のダーク画像撮影部32は、当該X線画像の1フレームの撮影時間内(フレーム時間内)に、X線発生部1からのX線1aを非照射の状態で、撮影時間内ダーク画像を撮影する処理を行う。この際、撮影時間内ダーク画像の撮影処理は、センサ4での電荷の蓄積時間を第3の蓄積時間Tw11として行われる。そして、X線画像撮影部31は、この撮影時間内ダーク画像の画像データを、例えば、蓄積部8に記憶する。
Subsequently, in step S305, the dark
続いて、ステップS306において、制御部330のオフセット補正部37は、ステップS305で撮影された撮影時間内ダーク画像を用いて、ステップS304で撮影されたX線画像のオフセット補正を行う。
Subsequently, in step S306, the offset
具体的に、オフセット補正部37は、ステップS304で撮影されたX線画像の画素値をVx、ステップS304で撮影された撮影時間内ダーク画像の画素値をVdとすると、(1)式の計算を行って、X線画像のオフセット補正を行う。この(1)式による計算により、オフセット補正後のX線画像の画素値Voが得られ、オフセット補正部37は、X線画像の画素毎にオフセット補正を行う。そして、オフセット補正部37は、オフセット補正後のX線画像の画像データを、例えば、蓄積部8に記憶する。その後、必要に応じて、制御部3は、当該X線画像を表示部5に表示する。
Specifically, the offset
続いて、ステップS307において、制御部3は、ステップS101で設定したX線画像の撮影枚数(X線の照射パルス数)における撮影が終了したか否かを判断する。この判断の結果、ステップS101で設定したX線画像の撮影枚数(X線の照射パルス数)における撮影が終了していない場合には、ステップS304に戻る。
Subsequently, in step S307, the
一方、ステップS307の判断の結果、ステップS101で設定したX線画像の撮影枚数(X線の照射パルス数)における撮影が終了した場合には、図6に示すフローチャートの処理を終了する。 On the other hand, as a result of the determination in step S307, if the imaging for the number of X-ray images (number of X-ray irradiation pulses) set in step S101 is completed, the processing of the flowchart shown in FIG.
本発明の各実施形態に係るX線画像撮影装置10によれば、確実なオフセット補正を行えると共に、フレームレートを従来よりも向上させることができる。
According to the
前述した各実施形態に係るX線画像撮影装置を構成する図1及び図5の各構成部、並びに当該X線画像撮影装置の制御方法を示す図2及び図6の各ステップは、ROM6に記憶されたプログラムが動作することによって実現できる。このプログラム及び当該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は本発明に含まれる。 1 and FIG. 5 constituting the X-ray imaging apparatus according to each of the embodiments described above, and the steps of FIG. 2 and FIG. 6 showing the control method of the X-ray imaging apparatus are stored in the ROM 6. It can be realized by operating the programmed program. This program and a computer-readable storage medium storing the program are included in the present invention.
具体的に、前記プログラムは、例えばCD−ROMのような記憶媒体に記録し、或いは各種伝送媒体を介し、コンピュータに提供される。前記プログラムを記録する記憶媒体としては、CD−ROM以外に、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、光磁気ディスク、不揮発性メモリカード等を用いることができる。他方、前記プログラムの伝送媒体としては、プログラム情報を搬送波として伝搬させて供給するためのコンピュータネットワーク(LAN、インターネットの等のWAN、無線通信ネットワーク等)システムにおける通信媒体を用いることができる。また、この際の通信媒体としては、光ファイバ等の有線回線や無線回線などが挙げられる。 Specifically, the program is recorded in a storage medium such as a CD-ROM, or provided to a computer via various transmission media. As a storage medium for recording the program, a flexible disk, a hard disk, a magnetic tape, a magneto-optical disk, a nonvolatile memory card, and the like can be used in addition to the CD-ROM. On the other hand, as the transmission medium of the program, a communication medium in a computer network (LAN, WAN such as the Internet, wireless communication network, etc.) system for propagating and supplying program information as a carrier wave can be used. In addition, examples of the communication medium at this time include a wired line such as an optical fiber, a wireless line, and the like.
また、コンピュータが供給されたプログラムを実行することにより各実施形態に係るX線画像撮影装置の機能が実現されるだけではない。そのプログラムがコンピュータにおいて稼働しているOS(オペレーティングシステム)或いは他のアプリケーションソフト等と共同して各実施形態に係るX線画像撮影装置の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発明に含まれる。また、供給されたプログラムの処理の全て、或いは一部がコンピュータの機能拡張ボードや機能拡張ユニットにより行われて各実施形態に係るX線画像撮影装置の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発明に含まれる。 Further, the function of the X-ray imaging apparatus according to each embodiment is not only realized by executing a program supplied by a computer. The program is also included in the present invention even when the function of the X-ray imaging apparatus according to each embodiment is realized in cooperation with an OS (operating system) or other application software running on the computer. It is. In addition, when all or part of the processing of the supplied program is performed by a function expansion board or function expansion unit of a computer and the functions of the X-ray imaging apparatus according to each embodiment are realized, the program is It is included in the present invention.
また、前述した本実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。 In addition, all of the above-described embodiments are merely examples of implementation in carrying out the present invention, and the technical scope of the present invention should not be construed as being limited thereto. . That is, the present invention can be implemented in various forms without departing from the technical idea or the main features thereof.
本発明に係る撮影制御装置は、確実なオフセット補正を行える共に、フレームレートを従来よりも向上させることができる。したがって、より高速で高品質な放射線画像の撮影を行う放射線画像撮影装置が求められる医療分野において、有効な利用が期待される。 The imaging control apparatus according to the present invention can perform reliable offset correction and can improve the frame rate as compared with the conventional art. Therefore, it is expected to be effectively used in the medical field where a radiographic imaging apparatus that captures a radiographic image at a higher speed is required.
1:X線発生部(放射線発生部)
2:操作入力部
2a:照射スイッチ
3:制御部
31:X線画像撮影部
32:ダーク画像撮影部
33:フレーム時間決定部
34:蓄積時間設定部
35:第1のオフセット値算出部
36:第2のオフセット値算出部
37:オフセット補正部
4:センサ
5:表示部
6:ROM
7:RAM
8:蓄積部
10:X線画像撮影装置(撮影制御装置)
20:被写体(被検者)
1: X-ray generator (radiation generator)
2:
7: RAM
8: Accumulator 10: X-ray imaging apparatus (imaging control apparatus)
20: Subject (subject)
本発明は、撮影制御装置及びその制御方法、放射線動画像撮影装置、並びに、プログラムに関する。 The present invention, shadow control apparatus and a control method thereof Ta, radiation moving image capturing apparatus, and a program.
本発明の撮影制御装置は、放射線を検出して放射線画像データを得るセンサによる動画撮影を制御する撮影制御装置であって、前記放射線の照射の周期を示す情報に対応する、前記センサによる電荷の第1の蓄積時間及び前記第1の蓄積時間よりも蓄積時間が短い第2の蓄積時間を設定する設定手段と、前記放射線の照射の開始指示があったか否かを判定する判定手段と、前記放射線の照射が開始される前に、前記センサに対し放射線が照射されない状態で、前記第1の蓄積時間に前記センサに蓄積された電荷に基づく第1のダーク画像及び前記第2の蓄積時間に前記センサに蓄積された電荷に基づく第2のダーク画像を撮影する制御処理を行うダーク画像撮影手段と、前記第1のダーク画像及び前記第2のダーク画像のうちの少なくとも1つのダーク画像に基づいてオフセットデータを取得するオフセットデータ取得手段と、前記放射線の照射の開始指示があったと判定された後に、前記放射線画像データを繰り返し取得する放射線画像データ取得手段と、前記放射線画像データを前記オフセットデータに基づき補正する補正手段と、を有する。
また、本発明は、上述した撮影制御装置の制御方法、上述した撮影制御装置を含む放射線動画像撮影装置、並びに、上述した撮影制御装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを含む。
Imaging control apparatus of the present invention is an imaging control device for controlling a moving image by the sensor to obtain a radiation image data by detecting Radiation, corresponding to the information indicating the period of irradiation of said radiation, electric charge by the sensor Setting means for setting the first accumulation time and the second accumulation time shorter than the first accumulation time, determination means for determining whether or not an instruction to start irradiation of the radiation has been given, and Before radiation irradiation is started, the first dark image and the second accumulation time based on the charge accumulated in the sensor in the first accumulation time in a state where the sensor is not irradiated with radiation. and dark imaging means for performing a control process for photographing a second dark image based on the charge stored in the sensor, at least one of said first dark image and the second dark image Offset data acquisition means for acquiring offset data based on the dark image of the image, radiation image data acquisition means for repeatedly acquiring the radiation image data after it has been determined that there has been an instruction to start the radiation irradiation, and the radiation image Correction means for correcting data based on the offset data .
The present invention also includes a control method for the above-described imaging control device, a radiographic image capturing device including the above-described imaging control device, and a program for causing a computer to execute the above-described control method for the imaging control device.
Claims (16)
放射線発生手段から放射線を照射し、前記センサで検出された電荷に基づく放射線画像を撮影する処理を行う放射線画像撮影手段と、
前記放射線発生手段からの放射線を非照射の状態で、前記センサで検出された電荷に基づくダーク画像を撮影する処理を行うダーク画像撮影手段と、
前記放射線画像と前記ダーク画像の撮影における前記センサの電荷の蓄積時間を設定する蓄積時間設定手段と、
前記ダーク画像撮影手段により撮影されたダーク画像であって、前記放射線画像の撮影時間外に撮影された撮影時間外ダーク画像に基づいて、第1のオフセット値を算出する第1のオフセット値算出手段と、
前記ダーク画像撮影手段により撮影されたダーク画像であって、前記放射線画像の撮影時間内に撮影された撮影時間内ダーク画像に基づいて、第2のオフセット値を算出する第2のオフセット値算出手段と、
前記第1のオフセット値及び前記第2のオフセット値を用いて、前記放射線画像のオフセット補正を行うオフセット補正手段と
を有することを特徴とする撮影制御装置。 An imaging control device that controls a sensor that detects incident radiation as an electric charge,
Radiation image capturing means for performing processing for irradiating radiation from the radiation generating means and capturing a radiation image based on the charge detected by the sensor;
Dark image capturing means for performing processing for capturing a dark image based on the electric charge detected by the sensor in a state in which radiation from the radiation generating means is not irradiated;
An accumulation time setting means for setting an accumulation time of charge of the sensor in photographing the radiation image and the dark image;
First offset value calculation means for calculating a first offset value based on a dark image taken by the dark image photographing means and outside the photographing time of the radiographic image. When,
Second offset value calculation means for calculating a second offset value based on a dark image taken by the dark image photographing means and taken within the photographing time of the radiographic image. When,
An imaging control apparatus comprising: an offset correction unit that performs offset correction of the radiation image using the first offset value and the second offset value.
前記第1のオフセット値算出手段は、前記第1の撮影時間外ダーク画像と前記第2の撮影時間外ダーク画像とに基づいて、前記第1のオフセット値を算出することを特徴とする請求項1に記載の撮影制御装置。 The dark image capturing means captures a first non-shooting time dark image and a second non-shooting time dark image as the non-shooting time dark image,
The first offset value calculation means calculates the first offset value based on the first non-shooting time dark image and the second non-shooting time dark image. The imaging control apparatus according to 1.
前記第1のオフセット値算出手段は、前記第1のオフセット値を、
Vo1=Vd1−Vd2
により算出することを特徴とする請求項2又は3に記載の撮影制御装置。 If the first offset value is Vo1, the pixel value of the first non-shooting time dark image is Vd1, and the pixel value of the second non-shooting time dark image is Vd2,
The first offset value calculating means calculates the first offset value as follows:
Vo1 = Vd1-Vd2
The imaging control apparatus according to claim 2, wherein the imaging control apparatus calculates the image by:
前記オフセット補正手段は、前記放射線画像を、
Vo2=Vx−Vd3−Vo1
により前記オフセット補正を行うことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮影制御装置。 If the pixel value of the radiation image is Vx, the first offset value is Vo1, the second offset value is Vd3, and the pixel value of the radiation image after the offset correction is Vo2,
The offset correction means, the radiographic image,
Vo2 = Vx−Vd3−Vo1
The imaging control apparatus according to claim 1, wherein the offset correction is performed by the method.
前記第3の蓄積時間と基準となる基準時間とを比較する比較手段を更に有し、
前記比較手段による比較の結果、前記第3の蓄積時間が前記基準時間の以下である場合に、前記蓄積時間設定手段は、前記第1の撮影時間外ダーク画像に係る前記電荷の蓄積時間と前記放射線画像に係る前記電荷の蓄積時間とを同じ第1の蓄積時間として設定し、前記第2の撮影時間外ダーク画像に係る前記電荷の蓄積時間と前記撮影時間内ダーク画像に係る前記電荷の蓄積時間とを同じ第2の蓄積時間として設定することを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載の撮影制御装置。 The accumulation time setting means further sets the charge accumulation time related to the radiographic image and the charge accumulation time related to the dark image within the imaging time as the same time according to the radiographic image capturing time. To calculate the third accumulation time of
A comparison means for comparing the third accumulation time with a reference time as a reference;
As a result of the comparison by the comparison means, when the third accumulation time is equal to or less than the reference time, the accumulation time setting means is configured to determine the charge accumulation time relating to the dark image outside the first imaging time and the charge accumulation time. The charge accumulation time for the radiographic image is set as the same first accumulation time, and the charge accumulation time for the dark image outside the second imaging time and the charge accumulation for the dark image within the imaging time are set. 5. The photographing control apparatus according to claim 2, wherein the time is set as the same second accumulation time.
前記蓄積時間設定手段は、前記第1の蓄積時間を、
Tw1=(Tf1+Tmin1−Tmin2)/2−Tr
により設定することを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1項に記載の撮影制御装置。 The first accumulation time is Tw1, the radiographic imaging time is Tf1, the charge readout time of the sensor is Tr, the first accumulation time is the minimum value Tmin1, and the second accumulation time is the minimum value. Let Tmin2 be
The accumulation time setting means sets the first accumulation time as
Tw1 = (Tf1 + Tmin1-Tmin2) / 2-Tr
The imaging control device according to claim 8, wherein the imaging control device is set according to claim 8.
前記蓄積時間設定手段は、前記第2の蓄積時間を、
Tw2=(Tf1−Tmin1+Tmin2)/2−Tr
により設定することを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1項に記載の撮影制御装置。 The second accumulation time is Tw2, the radiographic imaging time is Tf1, the charge readout time of the sensor is Tr, the first accumulation time is the minimum value Tmin1, and the second accumulation time is the minimum value. Let Tmin2 be
The accumulation time setting means sets the second accumulation time as
Tw2 = (Tf1-Tmin1 + Tmin2) / 2-Tr
The imaging control device according to claim 8, wherein the imaging control device is set according to claim 8.
前記蓄積時間設定手段は、前記第2の蓄積時間を、
Tw11=Tf11/2−Tr
により設定することを特徴とする請求項10又は11に記載の撮影制御装置。 When the third accumulation time is Tw11, the radiographic image capturing time is Tf11, and the charge readout time of the sensor is Tr,
The accumulation time setting means sets the second accumulation time as
Tw11 = Tf11 / 2−Tr
The imaging control device according to claim 10 or 11, wherein the imaging control device is set by the following.
前記放射線画像と前記ダーク画像の撮影における前記センサでの前記電荷の蓄積時間を設定する蓄積時間設定ステップと、
前記ダーク画像撮影手段により撮影されたダーク画像であって、前記放射線画像の撮影時間外に撮影された撮影時間外ダーク画像に基づいて、第1のオフセット値を算出する第1のオフセット値算出ステップと、
前記ダーク画像撮影手段により撮影されたダーク画像であって、前記放射線画像の撮影時間内に撮影された撮影時間内ダーク画像に基づいて、第2のオフセット値を算出する第2のオフセット値算出ステップと、
前記第1のオフセット値及び前記第2のオフセット値を用いて、前記放射線画像のオフセット補正を行うオフセット補正ステップと
を有することを特徴とする撮影制御装置の制御方法。 A sensor that detects incident radiation as an electric charge, a radiation image capturing unit that performs processing for irradiating radiation from the radiation generating unit and capturing a radiographic image based on the electric charge detected by the sensor, and radiation from the radiation generating unit In a non-irradiated state, a dark image capturing unit that performs processing for capturing a dark image based on the charge detected by the sensor,
An accumulation time setting step for setting an accumulation time of the charge in the sensor in capturing the radiation image and the dark image;
A first offset value calculating step of calculating a first offset value based on a dark image captured by the dark image capturing unit and captured outside the capturing time of the radiographic image. When,
A second offset value calculating step of calculating a second offset value based on a dark image captured by the dark image capturing means and captured within the capturing time of the radiographic image. When,
An imaging control apparatus control method comprising: an offset correction step for performing offset correction of the radiation image using the first offset value and the second offset value.
前記放射線画像と前記ダーク画像の撮影における前記センサでの前記電荷の蓄積時間を設定する蓄積時間設定ステップと、
前記ダーク画像撮影手段により撮影されたダーク画像であって、前記放射線画像の撮影時間外に撮影された撮影時間外ダーク画像に基づいて、第1のオフセット値を算出する第1のオフセット値算出ステップと、
前記ダーク画像撮影手段により撮影されたダーク画像であって、前記放射線画像の撮影時間内に撮影された撮影時間内ダーク画像に基づいて、第2のオフセット値を算出する第2のオフセット値算出ステップと、
前記第1のオフセット値及び前記第2のオフセット値を用いて、前記放射線画像のオフセット補正を行うオフセット補正ステップと
をコンピュータに実行させるためのプログラム。 A sensor that detects incident radiation as an electric charge, a radiation image capturing unit that performs processing for irradiating radiation from the radiation generating unit and capturing a radiographic image based on the electric charge detected by the sensor, and radiation from the radiation generating unit A program for causing a computer to execute a control method of an imaging control device including dark image capturing means for performing processing for capturing a dark image based on the charge detected by the sensor in a non-irradiated state,
An accumulation time setting step for setting an accumulation time of the charge in the sensor in capturing the radiation image and the dark image;
A first offset value calculating step of calculating a first offset value based on a dark image captured by the dark image capturing unit and captured outside the capturing time of the radiographic image. When,
A second offset value calculating step of calculating a second offset value based on a dark image captured by the dark image capturing means and captured within the capturing time of the radiographic image. When,
A program for causing a computer to execute an offset correction step of performing offset correction of the radiation image using the first offset value and the second offset value.
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