JP2015520941A - 複数注入のために基板を位置合わせするためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (15)
- 基板を処理する方法であって、
イオンを基板に注入して注入特徴構造を形成するステップと、
前記注入特徴構造の位置を測定するステップと、
前記注入特徴に関連する既知の位置にて基準を前記基板上に配置するステップと、
続く処理ステップにて前記基準の位置を検出するステップと、
前記続く処理ステップの間、前記基準の位置を用いて前記注入特徴構造に位置合わせするステップと、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記注入特徴構造の位置を測定するステップは、前記基準を検出するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記注入特徴構造の位置を測定するステップは、CCDカメラ、赤外線カメラ、フォトダイオードおよびレーザーの少なくとも1つを用いて前記基準を検出するステップを含む、請求項2に記載の方法。
- CCDカメラ、赤外線カメラ、フォトダイオードおよびレーザーの少なくとも1つを用いて、マスクの位置を調整して前記基準に位置合わせするステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記イオンを前記基板に注入するステップの前に、前記基準を前記基板上に配置する、請求項1に記載の方法。
- 前記基準は、前記イオンを前記基板に注入するステップに続いて前記基板上に配置される、請求項1に記載の方法。
- 前記イオンを前記基板に注入するステップの前に、前記基準を前記基板のエッジまたはコーナーの少なくとも1つに登録するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記イオンを前記基板に注入するステップの前に、前記基準を前記基板の第1および第2の隣接するエッジに登録するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記イオンを前記基板に注入するステップの後に、前記基板を熱アニールするステップを含み、前記注入特徴構造は前記熱アニール前には光学的に視認でき、前記熱アニール後には視認不可能であり、前記基準は熱アニールの結果光学的に視認できる、請求項1に記載の方法。
- ワークピースに注入する装置であって、
イオンを基板に注入して注入特徴構造を形成するイオン注入機と、
前記基板上の基準の位置を検出する検出器と、
前記基準の前記位置を測定し、
マスクの位置を調整して前記基準に位置合わせしてマスクを位置合わせし、
前記イオン注入機を用いて前記マスクを介してイオンを前記基板に注入するための命令を実行するプロセッサと、
を備えることを特徴とする装置。 - 前記マスクを並進させて前記マスクを前記基準に位置合わせするように構成されたアクチュエーターをさらに備える、請求項10に記載の装置。
- 前記基準の前記位置の測定は前記検出器を用い、前記検出器は、CCDカメラ、赤外線カメラ、フォトダイオードおよびレーザーからなるリストから選択される、請求項10に記載の装置。
- 基板を処理する方法であって、
イオンを基板に注入して光学的に見える注入特徴構造を形成するステップと、
前記基板を熱アニールするステップであって、前記熱アニールは、前記注入特徴構造を光学的に見えなくし、前記熱アニールの結果前記基板上の基準は光学的に見える、ステップと、
マスクの位置を調節して基準に位置合わせして前記マスクを前記注入特徴構造に位置合わせするステップと、
前記マスクを介してイオンを前記基板に注入するステップと、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記基板への熱アニールの前に前記基準を前記基板に適用するステップを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記基準から前記基板の第1および第2の隣接するエッジまでの距離を測定するステップと、前記測定された距離を前記調整ステップに用いるステップとを含む、請求項13に記載の方法。
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