JP2015212630A - 3次元形状測定装置、3次元データ連結方法、3次元形状測定方法、構造物製造システム、及び構造物製造方法 - Google Patents
3次元形状測定装置、3次元データ連結方法、3次元形状測定方法、構造物製造システム、及び構造物製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015212630A JP2015212630A JP2014094567A JP2014094567A JP2015212630A JP 2015212630 A JP2015212630 A JP 2015212630A JP 2014094567 A JP2014094567 A JP 2014094567A JP 2014094567 A JP2014094567 A JP 2014094567A JP 2015212630 A JP2015212630 A JP 2015212630A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dimensional data
- unit
- dimensional
- measurement
- shape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【課題】測定対象が撮像部の撮像視野に収まらないとき、各測定結果をつなぎ合わせることで測定対象全体の3次元形状を測定する際に、複数の3次元データの連結処理を短時間に行う3次元形状測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象2の3次元形状を示す3次元データを測定する測定部60Aと、測定部60Aの姿勢を検出する検出部80と、3次元データと測定部60Aの姿勢との関連を求める処理部66とを備え、複数の3次元データの連結処理を短時間に行う。
【選択図】図3
【解決手段】測定対象2の3次元形状を示す3次元データを測定する測定部60Aと、測定部60Aの姿勢を検出する検出部80と、3次元データと測定部60Aの姿勢との関連を求める処理部66とを備え、複数の3次元データの連結処理を短時間に行う。
【選択図】図3
Description
本発明は、3次元形状測定装置、3次元データ連結方法、3次元形状測定方法、構造物製造システム、及び構造物製造方法に関する。
測定対象の3次元形状を測定する手法として位相シフト法が知られている。この位相シフト法を用いた3次元形状測定装置は、投影部、撮像部、及び演算処理部を備えている。この投影部は、正弦波状の光強度の分布を有する縞状の光(以下、パターン光という。)を測定対象に投影するとともに、初期位相を例えばπ/2ずつ3回シフトさせる。撮像部は投影部の位置と異なる位置に配置されている。この撮像部は、縞の初期位相が0、π/2、π、3π/2のパターン光が投影された状態で、それぞれ測定対象を撮像する。演算処理部は、撮像部が撮像した4つの画像における各画素の輝度データを所定の演算式に当てはめ、測定対象の面形状に応じた各画素における初期位相0の縞の位相を求める。そして、演算処理部は、三角測量の原理を利用して、各画素における縞の位相から測定対象の3次元データ(測定対象の3次元形状を示す3次元座標データ)を算出する。この位相シフト法を利用した装置は、例えば、特許文献1に開示されている。
上記の場合において、例えば測定対象が撮像部の撮像視野に収まらないときには、3次元形状測定装置は、測定対象の異なる位置をそれぞれ測定し、各測定結果をつなぎ合わせることで測定対象全体の3次元形状を測定する。測定結果をつなぎ合わせる際には、例えば測定結果の一部同士を重ねあわせる、連結処理が行われる。
連結処理では、撮像部が測定対象の第1部分を撮像し、測定対象の第1部分と一部重なる第2部分を撮像する。演算処理部は、第1部分及び第2部分についてそれぞれ3次元データを算出する。さらに、演算処理部は、測定対象の表面の特徴点に基づいて第1部分と第2部分とが重なる部分をサーチし、この部分を重ねることにより第1部分の3次元データと第2部分の3次元データとを連結する。このような処理を測定対象の全体が撮像されるまで繰り返し実行することで、測定対象全体の3次元形状が測定される。これによれば、測定対象が大きな物体であった場合でも、測定対象全体の3次元形状を容易に測定することができる。
演算処理部が第1部分と第2部分とが重なる部分をサーチする際に、あらゆる姿勢(方向)でのサーチを試みる必要がある。従って、演算処理部による連結処理に時間がかかってしまう。
本発明の態様では、複数の3次元データの連結処理を短時間に行うことを目的とする。
本発明の第1態様によれば、測定対象の3次元形状を示す3次元データを測定する測定部と、測定部の姿勢を検出する検出部と、3次元データと測定部の姿勢との関連を求める処理部とを備える3次元形状測定装置が提供される。
本発明の第2態様によれば、測定対象の3次元形状を示す複数の3次元データと、該3次元データを測定した測定部の姿勢と3次元データとの関連を取得し、複数の3次元データを関連に基づいて連結する3次元データ連結方法が提供される。
本発明の第3態様によれば、測定対象の異なる複数の部分の形状を示す3次元データを測定し、3次元データを測定した測定部の姿勢を検出し、3次元データと測定部の姿勢との関連を求め、関連に基づいて複数の部分の3次元データを連結する3次元形状測定方法が提供される。
本発明の第4態様によれば、構造物の形状に関する設計情報を作製する設計装置と、設計情報に基づいて構造物を作製する成形装置と、作製された構造物の形状を測定する請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の3次元形状測定装置と、3次元形状測定装置によって得られた構造物の形状に関する形状情報と設計情報とを比較する検査装置とを含む構造物製造システムが提供される。
本発明の第5態様によれば、構造物の形状に関する設計情報を作製することと、設計情報に基づいて構造物を作製することと、作製された構造物の形状を請求項8記載の3次元形状測定方法で測定することと、3次元形状測定方法によって得られた構造物の形状に関する形状情報と設計情報とを比較することとを含む構造物製造方法が提供される。
本発明の態様によれば、複数の3次元データの連結処理を短時間に行うことができる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。ただし、本発明はこれに限定されるものではない。また、図面においては、実施形態を説明するため、一部分を大きく又は強調して記載するなど適宜縮尺を変更して表現している。
<第1実施形態>
図1は、3次元形状測定装置1の一例を示す図である。また、図2は、投影領域200における縞パターンの強度分布を示す図である。なお、図1において、紙面の右方向をX1軸とし、X1軸と直交するある方向をY1軸とし、X1軸及びY1軸と直交する方向をZ1軸としている。また、図1に示すように3軸座標系を設定した場合、図2においては、紙面の上方向がX1軸となり、紙面の右方向がY1軸となり、紙面の裏から表に向かう方向がZ1軸となる。
図1は、3次元形状測定装置1の一例を示す図である。また、図2は、投影領域200における縞パターンの強度分布を示す図である。なお、図1において、紙面の右方向をX1軸とし、X1軸と直交するある方向をY1軸とし、X1軸及びY1軸と直交する方向をZ1軸としている。また、図1に示すように3軸座標系を設定した場合、図2においては、紙面の上方向がX1軸となり、紙面の右方向がY1軸となり、紙面の裏から表に向かう方向がZ1軸となる。
3次元形状測定装置1は、位相シフト法を用いて測定対象(被測定物、被検物)2の3次元形状を測定する装置である。3次元形状測定装置1は、図1に示すように、投影部10と、撮像部50と、演算処理部60と、検出部としての加速度センサ80とを備える。
投影部10は、ライン状の光、すなわち、一次元の光(以下、ライン光100という。)を投影領域200に対して投影(投光)する。この投影部10は、図1に示すように、光生成部20と、投影光学系30と、走査部40とを有する。光生成部20は、レーザ光源・集光レンズ・シリンドリカルレンズなどを備え、無変調なライン光100を生成する。投影光学系30は、光生成部20で生成されたライン光100の1次像を投影領域200の所定の位置に結像させる。投影光学系30は、一つ又は複数の集光レンズなどの透過光学素子又は反射光学素子によって構成される。投影光学系30から出射されたライン光100は、走査部40を介して投影領域200に対して投影される。投影領域において、ライン光100の一次元の方向が第2の方向D2(図1のX1軸方向)である。投影領域200における第2の方向D2の長さは、投影部10がライン光100を投影する際の視野角θと、投影部10(つまり走査部40)から測定対象2までの距離とによって決定される。図1に示す例では、測定対象2は投影領域200内に配置されている。
走査部40は、投影領域200においてライン光100を第1の方向D1(図1のY1軸方向)に走査(スキャン)する。走査部40は、例えばMEMSミラー(MEMS:Micro Electro Mechanical System)で構成される。MEMSミラーは、所定の回動周期で振動する微小反射鏡である。このMEMSミラーは、所定の振幅角及び所定の振動周波数で振動しつつ一次元のライン光100を反射する。これにより、一次元のライン光100は、投影領域200においてMEMSミラーの振動周期(振動周期=1/振動周波数)で走査される。走査方向である第1の方向D1は、図1に示すように、第2の方向D2と直交する方向である。走査方向が第1の方向D1となるように、MEMSミラーの回動方向が設定される。また、投影領域200における第1の方向D1の長さは、MEMSミラーの振幅角と、投影部10(つまり走査部40)から測定対象2までの距離とによって決定される。
図2に示すように、光生成部20からのライン光100は走査に応じて光強度が正弦波状に変化する。従って、走査部40がライン光100を第1の方向D1に走査することにより、投影領域200において、第1の方向D1に沿って正弦波状の周期的な光強度の分布を有する縞パターンが現れる。この縞パターンのことを「パターン光」という。位相シフト法では、このような縞パターンが3次元形状の測定に用いられる。縞パターンは、明るい部分(図2の白い部分)と暗い部分(図2の黒い部分)とに徐々に変化する明暗パターンを有する。また、第1の方向D1を明暗の方向又は濃淡の方向ともいう。図2に示す縞パターンは、第2の方向D2に所定の長さを有しており、第1の方向D1に所定の長さにわたって走査されることで、矩形状の投影領域200が空間上に形成される。
投影領域200において、縞パターンの各部分における縞の位相は所定時間毎にπ/2ずつ3回シフトされる。投影部10は、演算処理部60からの指令信号に基づいて、ライン光100の正弦波の周期と走査部40の振動とを同期させるタイミングを変化させることにより、縞パターンの位相をシフトさせる。ここで、同期とは例えば走査部40の振動の角速度が変化する場合は、その角速度の変化にライン光100の正弦波の位相を合わせることを含む。
撮像部50は投影部10の位置と異なる位置に配置されている。この撮像部50は、ライン光100が投影された測定対象2を撮像する。撮像領域(撮像視野)は、撮像部50により1回に撮像される範囲である。この撮像領域は、投影領域200の領域内であって、この投影領域200よりも狭い領域とされている。ただし、撮像領域は、少なくとも投影領域200の領域外にはみ出さなければよい。例えば、撮像領域は投影領域200と同じ領域であってもよい。なお、撮像領域とは後述の処理に用いる領域であり、撮像部50により実際に撮像される領域は投影領域200より大きくてもよい。
撮像部50は、受光光学系(撮影レンズ)51及び撮像装置52を有している。受光光学系51は、撮像領域上の測定対象2の表面より反射された縞パターンを受光し、受光した縞パターンの像を撮像装置52に結像させる。撮像装置52は、受光光学系51からの縞パターンに基づいて測定対象2の画像データを生成するとともに、生成した画像データを記憶する。上述したように、投影領域200における縞パターンの位相は所定時間毎にπ/2ずつ3回シフトされる。撮像装置52は、縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2のタイミングにおいて、それぞれ測定対象2を撮像して画像データを生成する。ここで初期位相とは、左から右へ走査される縞パターンの左端の位相を意味する。
演算処理部60は、光生成部20によるライン光100の生成を制御する。また、演算処理部60は、光生成部20で生成されるライン光100の正弦波(時間に対して正弦波状に変化する正弦波)の周期と走査部40の振動周期とを同期させるように、光生成部20と走査部40とを制御する。また、演算処理部60は、縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2のタイミングにおいて撮像部50に測定対象2を撮像させるように、撮像部50の撮像タイミングを制御する。また、演算処理部60は、撮像部50が撮像した4つの画像データ(縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2のときの画像データ)における各画素の輝度データ(信号強度)に基づいて、測定対象2の3次元形状を示す3次元データ(3次元座標データ)を算出する。
また、演算処理部60は、加速度センサ80により検出される、3次元形状測定装置1に加わる加速度を示す加速度情報を取得する。そして、演算処理部60は、取得した加速度情報に基づいて重力方向ベクトル(3次元形状測定装置1が受ける重力方向の加速度のベクトル)を検出する。そして、演算処理部60は、3次元データの算出時において、加速度情報に基づいて検出した重力方向ベクトルを3次元データに付加する。また、演算処理部60は、測定対象2が撮像部50の撮像領域に収まらない場合には、複数の3次元データそれぞれに付加された重力方向ベクトルの向きを確認しつつ、複数の3次元データを連結(フィッティング)する処理(連結処理)を実行する。
加速度センサ80は、センサ自体(つまり3次元形状測定装置1)の3軸方向(X1軸方向、Y1軸方向、Z1軸方向)の直線加速度を検出する3軸加速度センサである。加速度センサ80は、検出した加速度を示す加速度情報を演算処理部60に出力する。
次に、図3を参照して3次元形状測定装置1に含まれる投影部10、撮像部50、演算処理部60、及び加速度センサ80の詳細な構成について説明する。図3は、図1に示す3次元形状測定装置1の構成を示すブロック図である。図3に示すように、投影部10は、レーザコントローラ21、レーザダイオード(光源)22、ライン生成部23、投影光学系30、及び走査部40を有している。すなわち、図1に示す光生成部20は、レーザコントローラ21、レーザダイオード22、及びライン生成部23を有している。
レーザコントローラ21は、制御部62からの指令信号に基づいてレーザダイオード22によるレーザ光の照射を制御する。レーザダイオード22は、レーザコントローラ21からの制御信号に基づいてライン生成部23に対してレーザ光を照射する光源である。このレーザダイオード22は、走査部40の動きに応じた電圧信号が入力されることにより、時間の経過とともに光強度が正弦波状に変化するレーザ光を照射する。ライン生成部23は、レーザダイオード22が照射したレーザ光から一次元のライン光100を生成する。
投影光学系30は、図1において説明したように、ライン生成部23が生成したライン光100を投影する。走査部40は、図1において説明したように、ライン生成部23が生成した一次元のライン光100を走査方向(投影領域200における第1の方向D1)に沿って走査する。なお、図3において、第1の方向D1は紙面と垂直な方向とし、第2の方向D2は紙面内における左右方向(横方向)としている。
撮像部50は、受光光学系51、CCD撮像装置52a(電荷結合素子(Charge Coupled Device)を用いたカメラ)、及び画像メモリ52bを有している。すなわち、図1に示す撮像装置52は、CCD撮像装置52a及び画像メモリ52bを有している。受光光学系51は、図1において説明したように、撮像領域上の測定対象2の表面より反射された縞パターンを受光し、測定対象2の表面に投影された縞パターンをCCD撮像装置52aの受光面に結像させる。
CCD撮像装置52aは、受光面における像の光の強度を強度に応じた電荷量に光電変換し、その電荷量を順次読み出して電気信号に変換する。これにより、縞パターンが投光された測定対象2の画像データが生成される。画像データは画素毎の輝度データによって構成される。例えば、画像データは512×512=262144画素とされている。また、1枚の撮像範囲は23cm角とされている。CCD撮像装置52aは、縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2のタイミングにおいて、それぞれ測定対象2を撮像して画像データを生成する。画像メモリ52bは、CCD撮像装置52aが生成した画像データを記憶する。
演算処理部60は、操作部61、制御部62、設定情報記憶部63、取込メモリ64、演算部65、処理部66、記憶部67、及び連結処理部68を有している。図3に示すように、演算処理部60の構成のうち、操作部61、制御部62、設定情報記憶部63、取込メモリ64、及び演算部65は、測定対象2の3次元データを測定するための測定部60Aを構成する。なお、演算処理部60における制御部62、演算部65、処理部66、及び連結処理部68は、CPU(Central Processing Unit)などの演算処理装置が制御プログラムに従って実行する処理に相当する。
操作部61は、使用者の操作に応じた操作信号を制御部62に出力する。この操作部61は、例えば、使用者によって操作されるボタン、スイッチ、表示装置70の表示画面上のタッチパネルなどにより構成される。
制御部62は、設定情報記憶部63に記憶されている制御プログラムに従って以下の制御を実行する。制御部62は、レーザコントローラ21に指令信号を出力することにより、レーザダイオード22からレーザ光を照射させる。このとき、制御部62は、指令信号において、レーザ光の照射の開始及び終了だけでなく、レーザ光の光強度(レーザ出力)についても指令する。レーザコントローラ21は、制御部62からの指令信号で指令された光強度のレーザ光を照射させるように、レーザダイオード22を制御する。
また、制御部62は、レーザコントローラ21及び走査部40に指令信号を出力することにより、レーザダイオード22における光強度と走査部(MEMSミラー)40の振動とを投影される縞パターンの強度変化が正弦波となるように、レーザコントローラ21及び走査部40を制御する。なお、レーザダイオード22における光強度の正弦波の周期と走査部40の振動との同期がとれていない場合、走査部40が往復振動する毎に縞パターンにおける縞の位置がずれてしまう。また、制御部62は、レーザコントローラ21及び走査部40に指令信号を出力することにより、縞パターンの位相が所定時間毎にπ/2ずつ順にシフトしていくように、レーザコントローラ21及び走査部40を制御する。なお、走査部40が左から右に走査する場合の左端の位相を初期位相と呼ぶ。また、1つの縞パターンの撮像完了に応じて縞パターンの位相をシフトさせてもよい。
また、制御部62は、走査部40及びCCD撮像装置52aに指令信号を出力することにより、CCD撮像装置52aによる測定対象2の撮像を、走査部40による縞パターンの複数回の走査に同期するように制御する。具体的には、走査部40の振動周波数は500Hz(すなわち、走査部40の振動周期は往復2ms)とされ、CCD撮像装置52aのシャッター速度(すなわち、CCD撮像装置52aの撮像時間)は40msとされているものとする。この場合、CCD撮像装置52aが1枚の画像を撮像する間に、走査部40はライン光100を20往復走査する。このように、制御部62は、CCD撮像装置52aによる1回の測定対象2の撮像を、走査部40によるライン光100の20往復の走査に同期させる。また、制御部62は、CCD撮像装置52aに指令信号を出力することにより、CCD撮像装置52aによる測定対象2の撮像を、縞パターンの位相がシフトされるタイミングと同期させる。
設定情報記憶部63は、制御部62に制御を実行させるための制御プログラムを記憶する。また、設定情報記憶部63は、演算部65に3次元形状の演算処理を実行させるための制御プログラムを記憶する。また、設定情報記憶部63は、演算部65の演算処理において縞パターンの位相から測定対象2の撮像部50を基準とする3次元データである座標を算出する際に用いるキャリブレーション情報なども記憶する。また、設定情報記憶部63は、処理部66に姿勢検出処理(図6参照)を実行させるための制御プログラムを記憶する。さらに、設定情報記憶部63は、連結処理部68に連結処理(図7参照)を実行させるための制御プログラムを記憶する。
取込メモリ64は、画像メモリ52bに記憶された画像データを取り込んで記憶する。この取込メモリ64は、縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2のときの4つの画像データそれぞれに対応した記憶領域が設けられている。例えば、縞パターンの初期位相が0のときの画像データが画像メモリ52bに記憶され、その画像データが取込メモリ64の第1記憶領域に記憶される。また、縞パターンの初期位相がπ/2のときの画像データが画像メモリ52bに記憶され、その画像データが取込メモリ64の第2記憶領域に記憶される。また、縞パターンの初期位相がπのときの画像データが画像メモリ52bに記憶され、その画像データが取込メモリ64の第3記憶領域に記憶される。また、縞パターンの初期位相が3π/2のときの画像データが画像メモリ52bに記憶され、その画像データが取込メモリ64の第4記憶領域に記憶される。
演算部65は、設定情報記憶部63に記憶されている制御プログラムやキャリブレーション情報に従って、取込メモリ64の4つの記憶領域に記憶された画像データから測定対象2の3次元形状データ(3次元形状の座標データ)を算出する。本実施形態においては、測定対象2が撮像部50の撮像領域に収まらず、演算部65は、撮像部50が測定対象2の異なる位置から撮像した4つの画像データに基づいて複数の3次元データを算出する。
処理部66は、加速度センサ80から出力される加速度情報を取得し、取得した加速度情報に基づいて重力方向ベクトルを検出する。そして、処理部66は、検出した重力方向ベクトルを3次元データに付加する。ここで、重力方向ベクトルは、3次元データ算出時における3次元形状測定装置1の姿勢を示す姿勢情報として3次元データに付加される。記憶部67は、処理部66によって重力方向ベクトルが付加された3次元データを記憶する。
連結処理部68は、使用者による操作部61の操作に応じて、又は自動的に、記憶部67に記憶された複数の3次元データを読み出す。連結処理部68は、読み出した複数の3次元データそれぞれに付加された重力方向ベクトルの向きを略一致させた上で、測定対象2の表面の特徴点(例えば測定対象2上の角や突起など)に基づいて複数の3次元データの重なる部分をサーチする。そして、連結処理部68は、サーチした重なる部分を重ねることで複数の3次元データを連結する連結処理を実行する。連結処理部68は、連結処理を施した3次元データに基づいて表示装置70の表示画面に測定対象2の3次元形状の疑似画像を表示させる制御を実行する。
表示装置70は、測定対象2の3次元形状の疑似画像を表示する装置である。この表示装置70は、例えば液晶ディスプレイなどで構成される。なお、図1においては、表示装置70は3次元形状測定装置1に含まれていなかったが、3次元形状測定装置1に含まれてもよい。
本実施形態において、3次元形状測定装置1は、例えば持ち運び可能な小型の装置として構成される。このような装置の場合、投影部10、撮像部50、演算処理部60、表示装置70、及び加速度センサ80は、持ち運び可能な大きさの筐体内に収容される。かかる構成によれば、測定者は、3次元形状測定装置1を測定対象2がある現場まで容易に持ち運ぶことができる。また、例えば大型装置の裏面や背面など、定置型の形状測定装置では測定が難しい測定対象2に対して、容易に形状を測定することができる。
次に、図4を参照して位相シフト法の原理について説明する。位相シフト法は、三角測量の原理を利用して距離を計測する方法である。位相シフト法においては、正弦波状の縞パターンの位相をシフトさせて撮像した縞パターン画像を解析することにより距離を計測する。このときに投影部から投影される縞パターンは、上述したように、位相をπ/2ずつシフトさせた4種類の画像となる。
縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2とシフトする毎に、縞の濃淡が位相差に対応する分だけずれて投影される。測定対象2が撮像領域内に位置している場合は、測定対象2の表面に縞パターンが現れる。撮像部50(すなわちCCD撮像装置52a)は、表面に縞パターンが現れた測定対象2を、縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2のタイミングにおいてそれぞれ撮像する。これにより、縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2のときの4つの画像が得られる。これらの画像を「縞パターン画像」という。
輝度値In(x,y)(n=0,1,2,3)は各位相の縞パターンが投影されたときに撮像された各画像の所定画素(x,y)の輝度値である。すなわち、I0は初期位相0の縞パターンが投影されたときに撮像された画像の輝度値である。I1は初期位相π/2の縞パターンが投影されたときに撮像された画像の輝度値である。I2は初期位相πの縞パターンが投影されたときに撮像された画像の輝度値である。I3は初期位相3π/2の縞パターンが投影されたときに撮像された画像の輝度値である。この輝度値In(x,y)(n=0,1,2,3)は下記の式(1)で表される。
In(x,y)=A(x,y)cos(φ(x,y)+nπ/2)+B(x,y)・・・(1)
図4は、所定画素の輝度値から求められる正弦波を示す波形図である。図4に示すように、式(1)において、B(x,y)はバイアス成分を示す。また、A(x,y)は撮像時の正弦波のコントラストの強さを示す。また、φ(x,y)は所定画素(x,y)における正弦波の位相である。4つの画像上の同一画素(同一位置)での輝度値I0〜I3は、図4に示すように、物体の表面性状や色などにより絶対的な値は変化する。しかし、相対的な輝度値の差は、常に縞パターンの位相差分だけの変化を示す。従って、所定画素(x,y)おける縞パターンの位相φ(x,y)は、4つの画像の同一画素における輝度値から下記の式(2)で求められる。
φ(x,y)=tan−1{(I3(x,y)−I1(x,y))/(I0(x,y)−I2(x,y))}・・・(2)
このように、画像の画素毎に正弦波の初期位相0の時の位相を求めることができる。位相φ(x,y)が等しい点を連結して得られる線(等位相線)が、光切断法における切断線と同じく物体をある平面で切断した断面の形状を表す。従って、この位相φ(x,y)に基づいて三角測量の原理により3次元形状(画像の各点での高さ情報)が求められる。
位相回復された各画素の位相は、縞パターンの縞ごとの位相、すなわち−π〜πの間の値となる。このため、物体の連続した3次元形状を導出するためには、複数の縞の絶対位相を求める必要がある。すなわち、各縞の位相をつなぎ合わせることで、絶対位相を求めることができる。このような処理を位相接続(アンラッピング)という。
上記した位相シフト法における位相接続において、測定対象2の面形状が滑らかに変化する連続的な面形状であるときは、1本の縞に相当する2πの位相を−π〜π〜3π〜5π・・・と単純につなげることが可能である。しかし、測定対象2の面形状が急な段差変化があるような不連続な面形状であるときは、その位相がどの縞の位相であるかがわからなくなる。例えば、ある縞の位相が−π〜πの位相であるか、π〜3πの位相であるかがわからなくなる。この場合、位相が連続して接続されない、いわゆる位相飛び現象が生じる。このような位相飛び現象を防止するため、本実施形態では、位相シフト法と空間コード法を組み合わせて測定対象2の3次元形状を測定する。従って、本実施形態においては、投影部10は、投影領域200において、位相シフト法で用いる縞パターンを投影するとともに、空間コード法で用いる空間コードパターンを投影する。なお、この空間コードパターンのことも、縞パターンと同様に「パターン光」という。空間コードパターンは、投影領域200における第1の方向D1(に沿って光強度のプロファイルが矩形波状となっている。
次に、第1実施形態に係る3次元形状測定装置1の動作について説明する。
図5は、形状測定処理の一例を示すフローチャートである。図5に示すように、制御部62は、レーザダイオード22をオンにするようにレーザコントローラ21に指令信号を出力する。レーザコントローラ21は、制御部62からの指令信号に基づいてレーザダイオード22をオンにする(ステップS1)。また、制御部62は、走査部40に指令信号を出力することにより、走査部40による走査を開始させる(ステップS2)。そして、制御部62は、使用者による測定開始操作が行われたか否かを判定する(ステップS3)。
使用者により測定開始操作が行われると(ステップS3:YES)、すなわち、制御部62は操作部61から測定開始操作が行われたことを表す信号を入力すると、制御部62は標準パターンを撮像する(ステップS4)。この処理において、レーザダイオード22は、無変調の光強度(ハイレベル一定の光強度)のレーザ光を出力する。ライン生成部23が、レーザダイオード22から出力されたレーザ光から一次元のライン光100を生成する。そして、走査部40が一次元のライン光100を走査することにより、標準パターンが投影領域200に投影される。CCD撮像装置52aは、標準パターンを撮像して標準画像の画像データを生成する。標準画像の画像データは、一旦、画像メモリ52bに格納された後、取込メモリ64に設けられた記憶領域(標準画像領域)に記憶される。
次に、制御部62は、空間コードパターンを撮像する(ステップS5)。次に、制御部62は、空間コードパターンに対応する白黒参照パターンをそれぞれ投影し撮像する(ステップS6)。
次に、制御部62は、縞の位相がπ/2ずつシフトされた4つの縞パターンを撮像する(ステップS7)。CCD撮像装置52aは、制御部62からの指令信号に基づいて、縞パターンの初期位相が0、π/2、π、3π/2のタイミングにおいて、それぞれ測定対象2を撮像して4つの縞パターン画像の画像データを生成する。CCD撮像装置52aが撮像した各位相の縞パターン画像の画像データは、一旦、画像メモリ52bに格納された後、それぞれ、取込メモリ64に設けられた各記憶領域(第1記憶領域、第2記憶領域、第3記憶領域、第4記憶領域)に順に記憶される。
その後、演算部65は、取込メモリ64の記憶領域に記憶された4つの縞パターン画像の画像データに基づいて、各画素の初期位相0における位相分布φ(i,j)を求める。すなわち、位相回復処理を実行する(ステップS8)。そして、演算部65は、取込メモリ64の空間コード領域に記憶された画像データに基づいて測定対象2を−π〜πの位相に相当する空間コードとして認識する。次に、演算部65は、認識した各領域の空間コードに基づいて縞パターン画像の縞の次数を検出する(ステップS9)。
演算部65は、ステップS9の処理において特定した各縞の次数を用いて位相接続処理(アンラッピング処理)を行う(ステップS10)。すなわち、演算部65は、縞の次数に基づいて、n本目の縞が画像上においてどの位置にあるのかを特定する。そして、演算部65は、−π〜πの間で求めたn本目の縞の位相回復値を正しく接続する。これにより、連続した初期位相分布φ’(i,j)が求められる。その後、演算部65は、上述した三角測量の原理を用いて、ステップS10において求めた初期位相0における位相分布φ’(i,j)から、測定対象2の3次元形状の座標データX(x,y,z)を算出する(ステップS11)。なお、測定対象2の3次元形状の座標データXが3次元データである。この座標データXはCCD撮像装置52を基準とする座標として求められる。
使用者は、測定対象2が撮像領域に収まらないときには、3次元形状測定装置1を移動させる。そして、使用者は、測定開始操作を行うことにより、異なる位置から測定対象2を撮像する(ステップS3〜S7参照)。このとき、撮像部50は、測定対象2を前回撮像した部分と一部重なる部分を撮像する。そして、演算部65は、撮像部50が撮像した画像データに基づいて測定対象2の3次元データを算出する(ステップS8〜S11参照)。このような処理を測定対象2の全体が撮像されるまで繰り返し実行することで、測定対象2全体の3次元形状が測定される。
図6は、第1実施形態の姿勢検出処理を示すフローチャートである。図6に示す処理において、処理部66は、加速度センサ80から出力される加速度情報を取得する(ステップS20)。本実施形態においては、加速度センサ80は、常時、3次元形状測定装置1が受ける加速度を検出し、検出した加速度を示す加速度情報を演算処理部60に出力する。従って、処理部66は、加速度センサ80から出力される加速度情報を常に取得している。なお、処理部66は、演算部65により3次元データが算出されたと判定した場合に、加速度センサ80から出力される加速度情報を取得してもよい。
処理部66は、演算部65により3次元データが算出されたか否かを判定する(ステップS21)。処理部66は、演算部65により3次元データが算出されたと判定した場合は(ステップS21:YES)、加速度センサ80から取得した加速度情報(3次元データの算出時の加速度情報)に基づいて重力方向ベクトルを検出する(ステップS22)。
ここで、演算部65による3次元データの算出時(すなわち撮像部50による画像データの生成時)において3次元形状測定装置1が静止している場合は、3次元形状測定装置1が受ける加速度は重力方向のみである。従って、加速度センサ80からの加速度情報が示す加速度は重力方向の加速度であるので、処理部66は加速度情報が示す加速度の量及び向きを重力方向ベクトルとして検出することができる。一方、演算部65による3次元データの算出時において使用者の手ぶれが生じている場合は、3次元形状測定装置1は重力方向以外の方向の加速度を受ける。この場合、加速度センサ80からの加速度情報が示す加速度は重力方向の加速度であるとは限らない。そこで、処理部66は、例えば、3次元データの算出時の前後所定期間における3軸方向(X1軸方向、Y1軸方向、Z1軸方向)の加速度の平均値をそれぞれ算出する。処理部66は、算出した3軸方向の加速度の平均値をそれぞれローパスフィルタでフィルタリングし、フィルタリング後の値から加速度ベクトルを求める。手ぶれは往復移動となる場合が多いのでこれにより手ぶれ成分が相殺され、3次元データの測定時に手ぶれが生じた場合でも、処理部66が加速度情報に基づいて重力方向ベクトルを検出することができる。
処理部66は、図5のステップS11で算出した3次元データに、ステップS22で検出した重力方向ベクトルを付加する(ステップS23)。上述したように、重力方向ベクトルは、3次元データ算出時における3次元形状測定装置1の姿勢(方向、向き)を示す姿勢情報として3次元データに付加される。その後、処理部66は、重力方向ベクトルを付加した3次元データを記憶部67に記憶する(ステップS24)。なお、処理部66は、演算部65により複数の3次元データが算出された場合は、複数の3次元データそれぞれに重力方向ベクトルを付加した上で記憶部67に記憶する。
図7は、第1実施形態の連結処理を示すフローチャートである。なお、連結処理部68は、使用者による操作部61の操作に応じて、又は自動的に、図7に示す連結処理を実行する。図7に示す処理において、連結処理部68は、記憶部67に記憶されている複数の3次元データを読み出し、読み出した複数の3次元データそれぞれから特徴点を抽出する(ステップS31)。
図8は、複数の3次元データの連結前後の状態を示す図である。図8において、連結前の3次元データとして、測定対象の一部分の曲面の3次元形状を示す3次元データ501と、測定対象における3次元データ501と一部重なる部分の曲面の3次元形状を示す3次元データ502とを示している。3次元データ501には重力方向ベクトル511が付加され、3次元データ502には重力方向ベクトル512が付加されている(ステップS23参照)。また、3次元データ501,502には、それぞれ特徴点となり得る3本の線521,522,523が曲面上に形成されている。図8に示す例では、連結処理部68は、ステップS31において、3次元データ501から特徴点として3本の線521,522,523を抽出し、3次元データ502からも特徴点として3本の線521,522,523を抽出する。
次に、連結処理部68は、複数の3次元データに付加された重力方向ベクトルの向きを一致させる(ステップS32)。図8に示す例では、3次元データ501に付加された重力方向ベクトル511の向きと、3次元データ502に付加された重力方向ベクトル512の向きとを同じ方向に(つまり重力方向ベクトルの向きが平行になるように)一致させる。
次に、連結処理部68は、3次元データから抽出した特徴点を照合して複数の3次元データを連結する(ステップS33)。図8に示す例では、連結処理部68は、3次元データ501,502に付加された重力方向ベクトル511,512の向きを一致させつつ、特徴点として抽出した3本の線521,522,523が重なるように3次元データ501,502の少なくとも一方を移動させて、3本の線521,522,523が一致した位置で3次元データ501,502を連結する。図8において、連結後の3次元データが3次元データ503である。なお、連結処理部68は、ステップS31〜S33に示す処理を繰り返し実行することにより、測定対象全体の3次元データを連結する。
その後、連結処理部68は、連結後の3次元データ(3次元形状の座標データ)に基づいて表示装置70の表示画面に測定対象2の3次元形状を表示させる。3次元形状は、3次元空間内の点の集合である点群を疑似的な立体画像として表示される。なお、点群データである3次元座標を、たとえば(x、y、z)の形式で表示することもできる。
表示装置70は、測定対象2の3次元形状を表示するだけでなく、撮像部50により撮像された画像を表示する構成であってもよい。すなわち、連結処理部68は、取込メモリ64に記憶された画像データに基づいて、撮像部50が撮像した画像を表示装置70に表示させてもよい。このような構成によれば、使用者が撮像部50により撮像された画像に基づいて、撮像現場で測定対象2が正確に撮像されたか否かを確認することができる。
また、表示装置70は、撮像部50により撮像された画像、及び演算部65により算出された3次元形状、のうち少なくとも一方を表示する構成であってもよい。この場合、撮像部50により撮像された画像、及び3次元形状算出部65により算出された3次元形状、のうち少なくとも一方に基づいて、使用者は撮像現場で測定対象2が正確に撮像されたか否かを確認することができる。その後、使用者は、3次元形状測定装置1をコンピュータなどに接続して、画像や3次元形状をコンピュータなどに取り込む。そして、使用者は、コンピュータなどの表示部に画像や3次元形状を表示させることができる。
なお、演算部65が3次元形状の点群データの算出に失敗した失敗部分や、測定対象2の形状によって影となったオルクージョン部分については、使用者が確認可能な態様で表示する。例えば、連結処理部68は、失敗部分を赤色で点滅表示し、オルクージョン部分を青色で点滅表示する。また、演算部65が算出した3次元形状の点群データや、連結処理部68が連結した3次元形状の点群データは、使用者が持ち運び可能なSDカードなどの不揮発性の記憶媒体に記憶されてもよい。
以上に説明したように、第1実施形態では、測定対象2の3次元形状を示す3次元データを測定する測定部60Aと、測定部60Aの姿勢(つまり3次元形状測定装置1の姿勢)を検出する検出部80と、3次元データと測定部60Aの姿勢との関連を求める処理部66とを備える。このような構成によれば、3次元データに関連付けられた測定部60Aの姿勢に基づいて複数の3次元データの連結(フィッティング)を行うことができ、複数の3次元データの連結処理を短時間に行うことができる。
また、第1実施形態では、3次元データと測定部60Aの姿勢との関連に基づいて、複数の3次元データの連結処理を行う連結処理部68を更に備える。このような構成によれば、複数の3次元データの連結処理の時間を短縮することができるとともに、複数の3次元データの誤った連結を防止することができる。すなわち、連結処理部68が複数の3次元データの連結を行う際に、3次元データと関連付けられた測定部60Aの姿勢(方向)については3次元データの重複部分のサーチを行う必要がなくなる。従って、複数の3次元データの連結処理の時間を短縮することができる。また、連結処理部68が複数の3次元データの連結を行う際に、3次元データに関連付けられた測定部60Aの姿勢(方向)が一致するように複数の3次元データの方向に制約がかかるので、この制約に合致しない特徴点は除外される。従って、連結処理部68が測定対象2の表面のノイズなどを特徴点として抽出した場合でも、そのような特徴点に基づいて複数の3次元データの連結処理が行わることが防止される。
また、第1実施形態では、検出部80は、測定部60Aの姿勢として測定部60Aが受ける重力方向を検出する。このような構成によれば、測定部60A(つまり3次元形状測定装置1)が常に受けている重力加速度に基づいて測定部60Aの姿勢を検出することができる。従って、処理部66は3次元データと測定部60Aの姿勢との関連を確実に求めることができる。
<第2実施形態>
上記した第1実施形態では、処理部66が加速度センサ80からの加速度情報に基づいて重力方向ベクトルを検出し、検出した重力方向ベクトルを3次元データに付加し、連結処理部68が3次元データに付加された重力方向ベクトルの向きを一致させつつ複数の3次元データの連結を行っていた。第2実施形態では、このような構成に加えて、処理部66が前回の3次元データ算出時から今回の3次元データ算出時までの時間の姿勢変化量及びその姿勢変化量の誤差範囲を算出し、連結処理部68が姿勢変化量及び誤差範囲に基づいて複数の3次元データを粗整列させた上で、複数の3次元データの連結を行う。
上記した第1実施形態では、処理部66が加速度センサ80からの加速度情報に基づいて重力方向ベクトルを検出し、検出した重力方向ベクトルを3次元データに付加し、連結処理部68が3次元データに付加された重力方向ベクトルの向きを一致させつつ複数の3次元データの連結を行っていた。第2実施形態では、このような構成に加えて、処理部66が前回の3次元データ算出時から今回の3次元データ算出時までの時間の姿勢変化量及びその姿勢変化量の誤差範囲を算出し、連結処理部68が姿勢変化量及び誤差範囲に基づいて複数の3次元データを粗整列させた上で、複数の3次元データの連結を行う。
第2実施形態における3次元形状測定装置1は、図1及び図3に示した構成と同様である。ただし、第2実施形態における加速度センサ(検出部)80は、センサ自体の3軸回り(X1軸回り、Y1軸回り、Z1軸回り)の角加速度を検出する3軸ジャイロセンサと、センサ自体の3軸方向(X1軸方向、Y1軸方向、Z1軸方向)の直線加速度を検出する3軸加速度センサとで構成される。すなわち、第2実施形態における加速度センサ80は、3軸回り及び3軸方向の6要素の加速度を検出可能なセンサである。加速度センサ80は、検出した加速度(角加速度、直線加速度)を示す加速度情報を演算処理部60(処理部66)に出力する。
図9は、第2実施形態の姿勢検出処理を示すフローチャートである。なお、図9におけるステップS20〜S23の処理は、図6におけるステップS20〜S23の処理と同様であるため、重複する説明を省略する。ただし、ステップS22における重力方向ベクトルの検出は、処理部66が加速度センサ80の3軸加速度センサが検出する3軸方向(X1軸方向、Y1軸方向、Z1軸方向)の直線加速度に基づいて行われる。
処理部66は、加速度センサ80からの加速度情報に基づいて、前回の3次元データ算出時から今回の3次元データ算出時までの時間における3次元形状測定装置1の姿勢変化量を算出する(ステップS25)。また、処理部66は、ステップS24で算出した姿勢変化量の誤差範囲を算出する(ステップS26)。
図10は、加速度及び姿勢変化量を示すグラフである。図10の上図に示す加速度は、加速度センサ80が検出する6要素の加速度のうちの1つの要素の加速度(例えばX1軸方向の加速度)を示している。また、図10の下図に示す姿勢変化量は、図10の上図に示す加速度が3次元形状測定装置1に加わった場合の3次元形状測定装置1の姿勢変化量(すなわち、3次元形状測定装置1の位置の変化量)を示している。図10において、T0及びT1のタイミングにおいて演算部65が3次元データを算出したものとする。
処理部66は、加速度センサ80からの加速度情報に基づいて図10の上図に示すような加速度を検出した場合、加速度の2重積分を行うことにより、前回の3次元データ算出のタイミングT0から今回の3次元データ算出のタイミングT1までの時間における3次元形状測定装置1の位置V0から位置V1までの変化量を姿勢変化量として算出する。また、処理部66は、予め求められている加速度センサ80の検出精度を示す値(係数)と、タイミングT0からタイミングT1までの時間とをかけあわせることにより、3次元形状測定装置1が実際に存在していると想定される位置の範囲を誤差範囲として算出する。
処理部66は、ステップS25で算出した姿勢変化量と、ステップS26で算出した誤差範囲とを3次元データに付加する(ステップS27)。その後、処理部66は、重力方向ベクトルを付加した3次元データを記憶部67に記憶する(ステップS28)。なお、図10では、ある1つの要素の加速度を示しているが、他の5つの要素(xyzの3軸方向の平行移動と3軸周りの回転移動のうちの残りの5つの要素)の加速度についても同様に姿勢変化量と誤差範囲とが算出され、その姿勢変化量と誤差範囲とが3次元データに付加される。
図11は、第2実施形態の連結処理を示すフローチャートである。なお、図11におけるステップS31及びS32の処理は、図7におけるステップS31及びS32の処理と同様であるため、重複する説明を省略する。連結処理部68は、3次元データに付加されている姿勢変化量に基づいて複数の3次元データを並べる(ステップS32A)。すなわち、連結処理部68は、複数の3次元データそれぞれの位置を姿勢変化量に基づいて確認し、確認した位置に複数の3次元データをそれぞれ整列させる。これにより、複数の3次元データの粗い精度の位置合わせが行われたことになる。
次に、連結処理部68は、3次元データに付加されている誤差範囲内において、重力方向ベクトルの向きを一致させつつ、3次元データから抽出した特徴点を照合して複数の3次元データを連結する(ステップS32B)。このように、誤差範囲内において特徴点の照合を行うので、第1実施形態の場合よりも、さらに連結処理の時間を短縮することができる。また、連結処理部68が複数の3次元データの連結を行う際に、姿勢変化量及び誤差範囲によって3次元データの位置及び方向に制約がかかるので、ノイズの除去効果が大きくなる。従って、連結処理部68が測定対象2の表面のノイズなどを特徴点として抽出した場合でも、そのような特徴点に基づいて複数の3次元データの連結処理が行わることがより一層防止される。なお、第2実施形態において、重力方向ベクトルを用いない構成であってもよい。すなわち、処理部66は図9のステップS22及びS23を実行せず、連結処理部68は図11のステップS32を実行しない構成であってもよい。
上記した第1実施形態及び第2実施形態では、処理部66が加速度センサ80からの加速度情報に基づいて重力方向ベクトルを検出し、検出した重力方向ベクトルを3次元データに付加し、連結処理部68が3次元データに付加された重力方向ベクトルの向きを一致させつつ複数の3次元データの連結を行っていた。しかし、このような構成に限定されず、3次元形状測定装置1は、例えば地磁気を利用して方位を検出する磁気コンパスを備え、磁気コンパスが常に一定の方向(例えば北の方向、南の方向)を検出する。そして、処理部66は、3次元データの算出時に、磁気コンパスが検出した方向を3次元データに付加する。そして、連結処理部68は、磁気コンパスが検出した方向を一致させつつ、複数の3次元データを連結する。このような構成によっても、複数の3次元データの連結処理を短時間に行うことができるとともに、誤った3次元データの連結を防止することができる。
また、信号を送信する送信機を所定の基準位置に設けるとともに、3次元形状測定装置1は、送信機からの信号を受信する受信機を備える。そして、処理部66は、受信機が受信する信号に基づいて、送信機の基準位置を確認し、基準位置の方向のベクトルを3次元データに付加する。そして、連結処理部68は、3次元データに付加されたベクトルの向きを一致させつつ、複数の3次元データを連結する。このような構成によっても、複数の3次元データの連結処理を短時間に行うことができるとともに、誤った3次元データの連結を防止することができる。
<構造物製造システム及び構造物製造方法>
図12は、構造物製造システムの実施形態の一例を示すブロック図である。図12に示す構造物製造システムSYSは、上記した3次元形状測定装置1、設計装置710、成形装置720、制御装置(検査装置)730、及びリペア装置740を有している。なお、構造物製造システムSYSは、第1実施形態の3次元形状測定装置1に代えて、第2実施形態の3次元形状測定装置1A又は第3実施形態の形状測定装置を有する構成でもよい。
図12は、構造物製造システムの実施形態の一例を示すブロック図である。図12に示す構造物製造システムSYSは、上記した3次元形状測定装置1、設計装置710、成形装置720、制御装置(検査装置)730、及びリペア装置740を有している。なお、構造物製造システムSYSは、第1実施形態の3次元形状測定装置1に代えて、第2実施形態の3次元形状測定装置1A又は第3実施形態の形状測定装置を有する構成でもよい。
設計装置710は、構造物の形状に関する設計情報を作製する。そして、設計装置710は、作製した設計情報を成形装置720及び制御装置730に送信する。ここで、設計情報とは、たとえば複数の2次元設計情報から求められた構造物の各位置の座標を示す情報である。また、被測定物は、構造物である。
成形装置720は、設計装置710から送信された設計情報に基づいて構造物を成形する。この成形装置720の成形工程は、鋳造、鍛造、又は切削などが含まれる。3次元形状測定装置1は、成形装置720により作製された構造物(測定対象2)の3次元形状、すなわち構造物の座標を測定する。そして、3次元形状測定装置1は、測定した座標を示す情報(以下、形状情報という。)を制御装置730に送信する。
制御装置730は、座標記憶部731及び検査部732を有している。座標記憶部731は、設計装置710から送信される設計情報を記憶する。検査部732は、座標記憶部731から設計情報を読み出す。また、検査部732は、座標記憶部731から読み出した設計情報と、3次元形状測定装置1から送信される形状情報とを比較する。そして、検査部732は、比較結果に基づき、構造物が設計情報の通りに成形されたか否かを検査する。
また、検査部732は、成形装置720により成形された構造物が良品であるか否かを判定する。構造物が良品であるか否かは、例えば、設計情報と形状情報との誤差が所定の閾値の範囲内であるか否かにより判定する。そして、検査部732は、構造物が設計情報の通りに成形されていない場合は、その構造物を設計情報の通りに修復することができるか否かを判定する。修復することができると判定した場合は、検査部732は、比較結果に基づき、不良部位と修復量を算出する。そして、検査部732は、不良部位を示す情報(以下、不良部位情報という。)と、修復量を示す情報(以下、修復量情報という。)と、をリペア装置740に送信する。
リペア装置740は、制御装置730から送信された不良部位情報と修復量情報とに基づいて、構造物の不良部位を加工する。
図13は、構造物製造システムSYSによる処理を示すフローチャートであり、構造物製造方法の実施形態の一例を示している。図13に示すように、設計装置710は、構造物の形状に関する設計情報を作製する(ステップS41)。設計装置710は、作製した設計情報を成形装置720及び制御装置730に送信する。制御装置730は、設計装置710から送信された設計情報を受信する。そして、制御装置730は、受信した設計情報を座標記憶部731に記憶する。
次に、成形装置720は、設計装置710が作製した設計情報に基づいて構造物を成形する(ステップS42)。そして、3次元形状測定装置1は、成形装置720が成形した構造物の3次元形状を測定する(ステップS43)。その後、3次元形状測定装置1は、構造物の測定結果である形状情報を制御装置730に送信する。次に、検査部732は、3次元形状測定装置1から送信された形状情報と、座標記憶部731に記憶されている設計情報とを比較して、構造物が設計情報の通りに成形されたか否か検査する(ステップS44)。
次に、検査部732は、構造物が良品であるか否かを判定する(ステップS45)。構造物が良品であると判定した場合は(ステップS45:YES)、構造物製造システムSYSによる処理を終了する。一方、検査部732は、構造物が良品でないと判定した場合は(ステップS45:NO)、検査部732は、構造物を修復することができるか否かを判定する(ステップS46)。
検査部732が構造物を修復することができると判定した場合は(ステップS46:YES)、検査部732は、ステップS44の比較結果に基づいて、構造物の不良部位と修復量を算出する。そして、検査部732は、不良部位情報と修復量情報とをリペア装置740に送信する。リペア装置740は、不良部位情報と修復量情報とに基づいて構造物のリペア(再加工)を実行する(ステップS47)。そして、ステップS43の処理に移行する。すなわち、リペア装置740がリペアを実行した構造物に対してステップS43以降の処理が再度実行される。一方、検査部732が構造物を修復することができないと判定した場合は(ステップS46:NO)、構造物製造システムSYSによる処理を終了する。
このように、構造物製造システムSYS及び構造物製造方法では、3次元形状測定装置1による構造物の測定結果に基づいて、検査部732が設計情報の通りに構造物が作製されたか否かを判定する。これにより、成形装置720により作製された構造物が良品であるか否か精度よく判定することができるとともに、その判定の時間を短縮することができる。また、上記した構造物製造システムSYSでは、検査部732により構造物が良品でないと判定された場合に、直ちに構造物のリペアを実行することができる。
なお、上記した構造物製造システムSYS及び構造物製造方法において、リペア装置740が加工を実行することに代えて、成形装置720が再度加工を実行するように構成してもよい。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は、上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能である。また、上記の実施形態で説明した要件の1つ以上は、省略されることがある。そのような変更又は改良、省略した形態も本発明の技術的範囲に含まれる。また、上記した実施形態を適宜組み合わせて適用することも可能である。
また、上記した各実施形態において、第1の方向D1と第2の方向D2とが直交していたが、第1の方向D1と第2の方向D2とが異なる方向であれば直交していなくてもよい。例えば、第2の方向D2は、第1の方向D1に対して60度や80度の角度に設定されてもよい。
また、上記した各実施形態において、各図面では光学素子を一つ又は複数で表しているが、特に使用する数を指定しない限り、同様の光学性能を発揮させるものであれば、使用する光学素子の数は任意である。
また、上記した各実施形態において、走査部40は、パターン光を反射又は回折する光学素子を用いているがこれに限定されない。例えば、屈折光学素子や、平行平板ガラス等が用いられてもよい。レンズ等の屈折光学素子を光軸に対して振動させることでパターン光を走査させてもよい。なお、この屈折光学素子としては、投影光学系30の一部の光学素子が用いられてもよい。
また、上記した各実施形態において、撮像部50としてCCD撮像装置52aが用いられるがこれに限定されない。例えば、CCD撮像装置に代えて、CMOSイメージセンサ(CMOS:Complementary Metal Oxide Semiconductor:相補性金属酸化膜半導体)などのイメージセンサが用いられてもよい。
また、上記した各実施形態において、位相シフト法に用いる縞パターンの位相を一周期の間に4回シフトさせる4バケット法が用いられるが、これに限定されない。例えば、0・π/2・π・3π/2の縞パターンを投影した後に再び0位相の縞パターンを投影する5バケット法や、さらにπ/2位相の縞パターンを投影する6バケット法などが用いられてもよい。
また、上記した各実施形態において、いずれも位相シフト法が用いられているが、空間コード法のみを用いて測定対象2の3次元形状を測定するものでもよい。
また、上記した第1実施形態においては、縞パターンの撮像前に空間コードパターンを撮像していれば、その他のパターンの撮像の順序は問わない。また、上記した第2実施形態においては、縞パターンの撮像前に白黒参照パターンを撮像していれば、その他のパターンの撮像の順序は問わない。
また、上記した各実施形態において、縞パターンや空間コードパターンを白色及び黒色で表していたが、これに限定されず、いずれか一方又は双方が着色されたものでもよい。例えば、縞パターンや空間コードパターンは、白色と赤色とで生成されるものでもよい。
また、上記した各実施形態において、空間コードはバイナリコードを用いているが、グレイコードが用いられてもよい。グレイコードは、バイナリコードと符号の付け方が異なる。このため、空間コードパターンのストライプのパターンも異なるパターンが用いられる。
また、上記した各実施形態において、標準画像を取得しているが、この標準画像は取得しなくてもよい。
また、走査部40としてMEMSミラー等の振動ミラーが用いられる場合、角速度の不均一に対応して、レーザダイオードからの光の強度を変更させてもよい。例えば、投影領域200における走査方向の端部付近では光強度を強くし、中央付近では光強度を低下させるように、レーザダイオードを制御してもよい。これにより、投影領域200の端部と中央部とで生じる明るさの不均一を抑制できる。
また、3次元形状測定装置1の一部の構成をコンピュータにより実現してもよい。例えば、演算部処理部60をコンピュータにより実現してもよい。この場合、コンピュータは、記憶部に記憶された形状測定プログラムに従って、第1の方向D1に沿って異なる強度の分布を有するパターン光を生成する光生成処理と、パターン光を第1の方向D1とは異なる測定対象2上の第2の方向D2に沿って走査する走査処理と、パターン光が投光された測定対象2を撮像する撮像処理と、撮像処理で得られた測定対象2の像に応じた信号強度に基づいて、測定対象2の形状を算出する演算処理と、を実行する。なお、上述の各実施形態の要件は、適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。また、法令で許容される限りにおいて、上述の各実施形態及び変形例で引用した装置などに関する全ての公開公報及び米国特許の開示を援用して本文の記載の一部とする。
SYS…構造物製造システム、1…形状測定装置、2…測定対象、10…投影部、20…光生成部、40…走査部、50…撮像部、60…演算処理部、60A…測定部、65…演算部、66…処理部、67…記憶部、68…連結処理部、100…ライン光、200…投影領域
Claims (10)
- 測定対象の3次元形状を示す3次元データを測定する測定部と、
前記測定部の姿勢を検出する検出部と、
前記3次元データと前記測定部の姿勢との関連を求める処理部とを備える3次元形状測定装置。 - 前記3次元データと前記測定部の姿勢との関連に基づいて、複数の3次元データの連結処理を行う連結処理部を更に備える請求項1に記載の3次元形状測定装置。
- 前記検出部は、前記測定部の姿勢として前記測定部が受ける重力方向を検出する請求項1または請求項2に記載の3次元形状測定装置。
- 前記3次元データと前記測定部の姿勢との関連が、前記3次元データを規定する座標系における前記測定部の姿勢を示す方向である請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の3次元形状測定装置。
- 測定対象の3次元形状を示す複数の3次元データと、該3次元データを測定した測定部の姿勢と前記3次元データとの関連を取得し、
前記複数の3次元データを前記関連に基づいて連結する3次元データ連結方法。 - 前記測定部の姿勢とは該測定部が受ける重力方向である請求項5に記載の3次元データ連結方法。
- 前記3次元データと前記測定部の姿勢との関連が、前記3次元データを規定する座標系における前記測定部の姿勢を示す方向である請求項5または請求項6に記載の3次元データ連結方法。
- 測定対象の異なる複数の部分の形状を示す3次元データを測定し、
前記3次元データを測定した測定部の姿勢を検出し、
前記3次元データと前記測定部の姿勢との関連を求め、
前記関連に基づいて前記複数の部分の3次元データを連結する3次元形状測定方法。 - 構造物の形状に関する設計情報を作製する設計装置と、
前記設計情報に基づいて前記構造物を作製する成形装置と、
作製された前記構造物の形状を測定する請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の3次元形状測定装置と、
前記3次元形状測定装置によって得られた前記構造物の形状に関する形状情報と前記設計情報とを比較する検査装置とを含む構造物製造システム。 - 構造物の形状に関する設計情報を作製することと、
前記設計情報に基づいて前記構造物を作製することと、
作製された前記構造物の形状を請求項8記載の3次元形状測定方法で測定することと、
前記3次元形状測定方法によって得られた前記構造物の形状に関する形状情報と前記設計情報とを比較することとを含む構造物製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014094567A JP2015212630A (ja) | 2014-05-01 | 2014-05-01 | 3次元形状測定装置、3次元データ連結方法、3次元形状測定方法、構造物製造システム、及び構造物製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014094567A JP2015212630A (ja) | 2014-05-01 | 2014-05-01 | 3次元形状測定装置、3次元データ連結方法、3次元形状測定方法、構造物製造システム、及び構造物製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015212630A true JP2015212630A (ja) | 2015-11-26 |
Family
ID=54696974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014094567A Pending JP2015212630A (ja) | 2014-05-01 | 2014-05-01 | 3次元形状測定装置、3次元データ連結方法、3次元形状測定方法、構造物製造システム、及び構造物製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2015212630A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019074361A (ja) * | 2017-10-13 | 2019-05-16 | 国立大学法人東京工業大学 | 3次元計測用プロジェクタおよび3次元計測装置 |
-
2014
- 2014-05-01 JP JP2014094567A patent/JP2015212630A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019074361A (ja) * | 2017-10-13 | 2019-05-16 | 国立大学法人東京工業大学 | 3次元計測用プロジェクタおよび3次元計測装置 |
JP7011290B2 (ja) | 2017-10-13 | 2022-01-26 | 国立大学法人東京工業大学 | 3次元計測用プロジェクタおよび3次元計測装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10724960B2 (en) | Inspection system and inspection method | |
US9170097B2 (en) | Hybrid system | |
EP1788345A1 (en) | Image processing device and image processing method performing 3d measurement | |
JP4830871B2 (ja) | 3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法 | |
CN104335005A (zh) | 3d扫描以及定位系统 | |
CN106595519A (zh) | 一种基于激光mems投影的柔性三维轮廓测量方法及装置 | |
JP2017075887A (ja) | 振動検出装置、検査装置、振動検出方法、及び振動検出プログラム | |
US11300402B2 (en) | Deriving topology information of a scene | |
KR101562467B1 (ko) | 스마트 폰을 이용한 3차원 형상 측정 장치 | |
JP2009115612A (ja) | 3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法 | |
CN112602118B (zh) | 图像处理装置和三维测量系统 | |
CN103486979A (zh) | 混合系统 | |
US20180180407A1 (en) | Image processing apparatus and image processing method | |
JP4516949B2 (ja) | 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法 | |
KR20230065978A (ko) | 구조화된 광을 사용하여 장면에서 평면 표면들을 직접 복구하기 위한 시스템, 방법 및 매체 | |
JP5611875B2 (ja) | 情報表示装置、情報表示方法、及びプログラム | |
WO2019198534A1 (ja) | 振動解析装置、振動解析装置の制御方法、振動解析プログラムおよび記録媒体 | |
JP2017125801A (ja) | 三次元形状測定方法、変位測定方法、三次元形状測定装置、変位測定装置、構造物製造方法、構造物製造システム、及び三次元形状測定プログラム | |
JP4797109B2 (ja) | 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法 | |
KR20200046789A (ko) | 이동하는 물체의 3차원 데이터를 생성하는 방법 및 장치 | |
JP2010175554A (ja) | 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法 | |
JP2015206749A (ja) | 三次元データの連結方法、形状測定方法、三次元データの連結装置、形状測定装置、構造物製造方法、構造物製造システム、及び形状測定プログラム | |
JP2015212630A (ja) | 3次元形状測定装置、3次元データ連結方法、3次元形状測定方法、構造物製造システム、及び構造物製造方法 | |
JP2016011930A (ja) | 三次元データの連結方法、測定方法、測定装置、構造物製造方法、構造物製造システム、及び形状測定プログラム | |
JP5895733B2 (ja) | 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 |