JP2015207738A - Wavelength-variable laser array and wavelength control method for wavelength-variable laser array - Google Patents

Wavelength-variable laser array and wavelength control method for wavelength-variable laser array Download PDF

Info

Publication number
JP2015207738A
JP2015207738A JP2014089181A JP2014089181A JP2015207738A JP 2015207738 A JP2015207738 A JP 2015207738A JP 2014089181 A JP2014089181 A JP 2014089181A JP 2014089181 A JP2014089181 A JP 2014089181A JP 2015207738 A JP2015207738 A JP 2015207738A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
wavelength
current
control
dfb
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014089181A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
真 下小園
Makoto Shimokozono
真 下小園
伸浩 布谷
Nobuhiro Nunotani
伸浩 布谷
石井 啓之
Hiroyuki Ishii
啓之 石井
拓也 金井
Takuya Kanai
拓也 金井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2014089181A priority Critical patent/JP2015207738A/en
Publication of JP2015207738A publication Critical patent/JP2015207738A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wavelength-variable laser array and a wavelength control method for the same that can shorten the rising time of an applied current waveform of a control current source for a wavelength-variable laser and consequently suppress wavelength drift caused by thermal fluctuation.SOLUTION: In a method of controlling the wavelength of a wavelength-variable laser array that has plural current control type wavelength-variable lasers each having an active layer and a control layer, plural DA converters connected to the respective control layers, and a control device connected to the plural DA converters, an output wavelength being variably controlled by switching the plural wavelength-variable lasers, during the operation of a first wavelength-variable laser out of the plural wavelength-variable lasers, the control device applies current from the DA converter to the control layer of a second wavelength-variable laser to operate subsequently to the first wavelength-variable laser, and the control layer of at least one third wavelength-variable laser adjacent to the second wavelength-variable laser, thereby performing thermal compensation on the wavelength-variable lasers.

Description

本発明は 波長可変半導体レーザの波長切替時間を短縮化するレーザ制御に関する技術である。   The present invention relates to a laser control technique for shortening the wavelength switching time of a tunable semiconductor laser.

波長可変レーザは波長多重伝送、光測定、光周波数掃引型OCT、レーザ光分感度計測等の幅広い分野において利用される有用な光源である。これまでに、要求される発振波長領域、出力強度、波長安定性、スペクトル線幅等に応じて種々多様な波長可変レーザが開発されてきた。波長可変レーザは、例えば、レーザの発振媒体の種類によって分類すると、ガスレーザ(CO2等)、液体(色素)レーザ(Rhodamine、Coumarrin等)、固体レーザ(Tm:YAG、Ti:Sapphier等)、半導体レーザ(GaInAsP、AlGaAs、AlGaInP、InGaN等)等の種類がある。   The wavelength tunable laser is a useful light source used in a wide range of fields such as wavelength multiplexing transmission, optical measurement, optical frequency sweep type OCT, and laser light component sensitivity measurement. Until now, various tunable lasers have been developed according to the required oscillation wavelength region, output intensity, wavelength stability, spectral line width, and the like. For example, the wavelength tunable laser is classified according to the type of laser oscillation medium, such as a gas laser (CO2 etc.), a liquid (pigment) laser (Rhodamine, Coumarin etc.), a solid state laser (Tm: YAG, Ti: Sapphier, etc.), a semiconductor laser (GaInAsP, AlGaAs, AlGaInP, InGaN, etc.).

いずれの種類の波長可変レーザも、励起エネルギー供給源(光、電気等)、利得(発振)媒体、共振器から構成されている。その中でも、利得媒体として半導体を用いた波長可変レーザは消費電力が低く、小型で取り扱いが簡単であるため、様々な分野において広く用いられる。そのため、今まで多くの種類の波長可変半導体レーザが開発されてきた。波長可変半導体レーザの特性を決める性能指数としては、出力、波長可変幅、モード安定性、隣接モード抑制比(SMSR:Side Mode Suppression Ratio)、寿命、及び発振線幅等がある。すべての性能において特性が秀でているレーザが望ましいが、通常はすべてを同時に満たすことは難しいので、使い方に応じた性能を向上させるようにレーザのチューニングを行っていく。例えば波長選択型スイッチに用いられるような波長可変半導体レーザとしては、波長可変幅が広く、高速に波長切替ができるものが要求される。   All types of tunable lasers are composed of a pump energy supply source (light, electricity, etc.), a gain (oscillation) medium, and a resonator. Among them, a wavelength tunable laser using a semiconductor as a gain medium is widely used in various fields because of low power consumption, small size, and easy handling. Therefore, many types of wavelength tunable semiconductor lasers have been developed so far. The figure of merit that determines the characteristics of a wavelength tunable semiconductor laser includes output, wavelength tunable width, mode stability, adjacent mode suppression ratio (SMSR), lifetime, and oscillation line width. Lasers with excellent characteristics in all performances are desirable, but usually it is difficult to satisfy all of them at the same time. Therefore, laser tuning is performed so as to improve performance according to usage. For example, a wavelength tunable semiconductor laser used in a wavelength selective switch is required to have a wide wavelength tunable width and capable of switching wavelengths at high speed.

波長可変半導体レーザにおいて波長を変化させるためには、主に3つの物理現象を用いる。第1は、熱印加、すなわち熱光学(TO;Thermo−Optic)効果を用いた熱印加型レーザであり、光パス交換用の高密度波長多重通信用光源として一般的に用いられている(非特許文献1参照)。熱印加による波長変化を行うと、ファブリーペロー型の波長可変レーザにおいては温度が1K上昇するごとに0.5nm増加し、分布帰還(DFB)型の波長可変レーザ及び分布フラッグ反射(DBR)型の波長可変レーザにおいては1K上昇するごとに0.1nm増加するという波長変化が得られ、波長可変領域としては5nm程度が得られる。   In order to change the wavelength in the wavelength tunable semiconductor laser, three physical phenomena are mainly used. The first is a heat application type laser using heat application, that is, a thermo-optic (TO) effect, and is generally used as a light source for high-density wavelength division multiplexing communication for optical path exchange (non- Patent Document 1). When the wavelength is changed by applying heat, in a Fabry-Perot tunable laser, the temperature increases by 0.5 nm every time the temperature rises by 1K, and a distributed feedback (DFB) tunable laser and distributed flag reflection (DBR) In the wavelength tunable laser, a wavelength change of 0.1 nm is obtained for every 1K increase, and a wavelength variable region of about 5 nm is obtained.

第2は、電圧印加型のレーザで、原理的には電気光学効果、フランツ−ケルディッシュ(Franz−Keldysh)効果、量子閉じ込めシュタルク効果(QCSE:Quantum Confined Stark Effect)を用いたものがある。電圧印加型のレーザは、屈折率の変化が速く起こる(100ps以下程度)ことが特徴であるが、屈折率の変化が小さいため、実用には適さない。   The second type is a voltage application type laser that in principle uses an electro-optic effect, a Franz-Keldysh effect, and a quantum confined stark effect (QCSE: Quantum Confined Stark Effect). The voltage application type laser is characterized in that the refractive index changes quickly (about 100 ps or less). However, since the refractive index change is small, it is not suitable for practical use.

第3は、電流印加型のレーザで、キャリア−プラズマ効果を用いる。キャリア−プラズマ効果は高速(数ns程度)な屈折率変化を伴い、かつ屈折率変化も大きいため、電流印加型のレーザは、高速に波長を切り替えることを目的とした波長可変半導体レーザにおいて用いられている。   The third is a current application type laser that uses the carrier-plasma effect. Since the carrier-plasma effect is accompanied by a fast (approximately several ns) refractive index change and a large refractive index change, a current application type laser is used in a wavelength tunable semiconductor laser for the purpose of switching the wavelength at high speed. ing.

波長可変半導体レーザを、高密度波長多重送信(DWDM;Dense Wavelength Division Multiplexing)において用いようとすると、通常は単一の波長可変半導体レーザのレーザ素子だけでは必要な波長域をカバーしきれない。そのため、必要な波長域をカバーするための方法として、レーザの自由スペクトル領域(FSR;Free Spectral Range)の違う2つ以上の共振器を設け、バーニア効果を使って発振波長域を広げるという試みが行われている。代表的なものとしてはSSG−DBR(SuperStructure Grating Distributed Bragg Reflector)レーザが挙げられる。このレーザは利得媒体の前後にFSRの異なる2種類の回折格子を配置することによって、広帯域を確保している。バーニア効果を用いたレーザは比較的小さな駆動電流で制御することができるのが特徴であるが、原理的にモード飛びが起こってしまうという欠点がある。   When a tunable semiconductor laser is used in high-density wavelength division multiplexing (DWDM), a necessary wavelength region cannot be usually covered only by a laser element of a single tunable semiconductor laser. Therefore, as a method for covering the necessary wavelength range, an attempt is made to provide two or more resonators having different free spectral ranges (FSRs) of the laser and widen the oscillation wavelength range using the vernier effect. Has been done. A typical example is an SSG-DBR (SuperStructure Grafted Distributed Bragg Reflector) laser. This laser secures a wide band by arranging two types of diffraction gratings having different FSRs before and after the gain medium. A laser using the vernier effect is characterized in that it can be controlled with a relatively small drive current, but has a drawback in that mode skip occurs in principle.

必要な波長域をカバーするためのもうひとつの試みとしては、発振波長域の異なるレーザをアレイ状に並べることにより、発振波長領域を拡張したレーザがある。その1つが分布活性型(TDA:Tunable Distribution Amplification)DFBレーザアレイである。TDA−DFBレーザアレイの特徴は、モード飛びすることなく、40nm以上の広い波長域で発振することにある(非特許文献2参照)。   As another attempt to cover the necessary wavelength range, there is a laser that expands the oscillation wavelength range by arranging lasers having different oscillation wavelength ranges in an array. One of them is a TDB (Tunable Distribution Amplification) DFB laser array. A feature of the TDA-DFB laser array is that it oscillates in a wide wavelength range of 40 nm or more without mode skipping (see Non-Patent Document 2).

一方で、TDA−DFBレーザアレイは波長変化を実現するために、数十mA程度の比較的大きな電流を必要とする場合がある。そのような場合、波長変化自体はキャリア−プラズマ効果で起こるため数nsで起こるのだが、印加した電流による局所的な温度変化が発生してしまう。温度変化による波長変動のために波長が安定するまで数ms程度かかり高速応答性に問題が生じる。したがって、TDA−DFBレーザアレイは、レーザアレイに隣接して熱補償用に電極を導入し、熱補償用の電極に対して波長制御電流と相補的な電流を印加することで、レーザチップ全体の温度変化を抑制し、結果として波長変動を抑制している(特許文献1〜3参照)。   On the other hand, the TDA-DFB laser array may require a relatively large current of about several tens of mA in order to realize wavelength change. In such a case, the wavelength change itself occurs due to the carrier-plasma effect and occurs in a few ns, but a local temperature change due to the applied current occurs. Due to wavelength fluctuations due to temperature changes, it takes about several ms until the wavelength stabilizes, causing a problem in high-speed response. Therefore, the TDA-DFB laser array introduces an electrode for thermal compensation adjacent to the laser array, and applies a current complementary to the wavelength control current to the thermal compensation electrode, so that the entire laser chip is The temperature change is suppressed, and as a result, the wavelength fluctuation is suppressed (see Patent Documents 1 to 3).

また、波長変動を抑制する他の方法として、TDA−DFBレーザアレイ内の一つのレーザから、TDA−DFBレーザアレイの他のレーザに切り替えてレーザ光を出力させる場合、すなわち利得電流の切り替えを行う場合、予め移る先のレーザの制御電極に対して電流を印加しておくことで、切り替えの発振波長変動を抑制している(特許文献4参照)。特許文献4に記載の方法では、切替先のレーザに印加する予定の利得電流と制御電流との合計値を、予め切替先のレーザの制御電極に印加しておくことにより熱補償を行い、結果として波長変動を抑制することができる。   As another method for suppressing wavelength fluctuation, when switching laser light from one laser in the TDA-DFB laser array to another laser in the TDA-DFB laser array, that is, switching the gain current. In this case, a change in oscillation wavelength is suppressed by applying a current to the control electrode of the laser to which the laser beam is moved in advance (see Patent Document 4). In the method described in Patent Document 4, thermal compensation is performed by previously applying the total value of the gain current and the control current to be applied to the switching destination laser to the control electrode of the switching destination laser. As a result, wavelength fluctuation can be suppressed.

特許第3168855号Japanese Patent No. 3168855 特許第3257185号Japanese Patent No. 3257185 特許第4850757号Japanese Patent No. 4850757 特開2011−198903号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-198903

Jens Buus, Markus-Christian Amann, and Daniel J. Blumenthal, Tunable Laser Diodes and Related Optical Sources, 2nd ed. Chapter 4Jens Buus, Markus-Christian Amann, and Daniel J. Blumenthal, Tunable Laser Diodes and Related Optical Sources, 2nd ed. Chapter 4 布谷伸浩、石井啓之、伊賀龍三 NTT技術ジャーナル 高速波長可変分布活性DFBレーザの開発Nobuhiro Nuoya, Hiroyuki Ishii, Ryuzo Iga NTT Technology Journal Development of high-speed tunable distributed active DFB laser

しかしながら、非特許文献4に記載の方法では、利得電流に相当する大電流(100mA)を制御電力に印加する際に、商用の安定化電源のような質の高い電源を用いないと、立ち上がりの早い電流を印加することが難しい。波長可変レーザの波長を制御する際に、例えば6アレイを並列に並べたTDA−DFBレーザアレイであれば、6個の安定化電源を用意しなければならず、消費電力やサイズの観点から実用的ではない。ここで、波長可変レーザアレイ装置に波長制御用の電源を組み込む形の実装をする際には、電源としてはDA(DA:Digital to Analog)コンバータを使用して、制御電極に電流もしくは電圧を印加するのが一般的である。DAコンバータは、起動時の立ち上がりこそ早いが、出力できる電流は20mA程度であり、それ以上の電流を印加したい場合はDAコンバータの後段に増幅器(アンプ)を設置して所望の電流値を得なければならない。特許文献4の方法を実際の装置に適用しようとすると、100mA程度の電流を印加する必要があるので、波長制御用の電源としては、DAコンバータだけではなく、DAコンバータの後段にさらに増幅器を配置する必要がある。しかしながら、DAコンバータの後段に増幅器を置くと、印加電流の立ち上がり時間が遅くなってしまうため、結果として波長の切替時間が遅くなってしまうという課題があった。   However, in the method described in Non-Patent Document 4, when a large current (100 mA) corresponding to a gain current is applied to the control power, a high-quality power source such as a commercial stabilized power source is not used. It is difficult to apply a fast current. When controlling the wavelength of a wavelength tunable laser, for example, if a TDA-DFB laser array in which 6 arrays are arranged in parallel, 6 stabilized power supplies must be prepared, which is practical from the viewpoint of power consumption and size. Not right. Here, when mounting a power source for wavelength control in a wavelength tunable laser array device, a DA (Digital to Analog) converter is used as the power source, and current or voltage is applied to the control electrode. It is common to do. The DA converter starts up quickly at startup, but the current that can be output is about 20 mA. If you want to apply more current, install an amplifier after the DA converter to obtain the desired current value. I must. If the method of Patent Document 4 is applied to an actual device, it is necessary to apply a current of about 100 mA. Therefore, not only a DA converter but also an amplifier is disposed at the subsequent stage of the DA converter as a power source for wavelength control. There is a need to. However, if an amplifier is placed after the DA converter, the rise time of the applied current is delayed, resulting in a problem that the wavelength switching time is delayed.

このような課題を解決するために、本発明の第1の態様は、活性層と、制御層とを有する電流制御型の複数の波長可変レーザと、前記活性層及び前記制御層のそれぞれに接続された複数のDAコンバータと、前記複数のDAコンバータに接続された制御装置とを備え、前記複数の波長可変レーザを切り替えて出力波長を可変制御する、波長可変レーザアレイの波長を制御する方法であって、前記複数の波長可変レーザのうち第1の波長可変レーザの動作中に、前記第1の波長可変レーザの次に動作する第2の波長可変レーザの制御層と、前記第2の波長可変レーザに隣接する少なくとも1つの第3の波長可変レーザの制御層とに対して、DAコンバータから電流を印加することにより波長可変レーザの熱補償を行うことを特徴とする。   In order to solve such a problem, the first aspect of the present invention is to connect a plurality of current-controlled wavelength tunable lasers each having an active layer and a control layer to each of the active layer and the control layer. A method of controlling the wavelength of a wavelength tunable laser array, comprising: a plurality of DA converters; and a control device connected to the plurality of DA converters, wherein the output wavelengths are variably controlled by switching the plurality of wavelength tunable lasers. A control layer of a second wavelength tunable laser operating next to the first wavelength tunable laser during the operation of the first wavelength tunable laser among the plurality of wavelength tunable lasers; and the second wavelength Thermal compensation of the wavelength tunable laser is performed by applying a current from a DA converter to the control layer of at least one third wavelength tunable laser adjacent to the tunable laser.

また、本発明の第2の態様は、第1の態様の方法であって、前記第1の波長可変レーザにさらに隣接する第4の波長可変レーザの制御領域に対して、DAコンバータから電流を印加して波長可変レーザの熱補償を行うことを特徴とする。   A second aspect of the present invention is the method according to the first aspect, in which a current is supplied from a DA converter to a control region of a fourth wavelength tunable laser further adjacent to the first wavelength tunable laser. It is characterized in that it is applied to perform thermal compensation of the wavelength tunable laser.

また、本発明の第3の態様は、第1の態様の方法であって、前記第2の波長可変レーザの制御領域に隣接して形成される少なくとも1つの熱補償用ヒータに対して、DAコンバータから電流を印加することにより波長可変レーザの熱補償を行うことを特徴とする   A third aspect of the present invention is the method according to the first aspect, wherein at least one heat compensation heater formed adjacent to a control region of the second wavelength tunable laser is DA. The thermal compensation of the wavelength tunable laser is performed by applying current from the converter.

本発明は、波長可変レーザアレイの制御用電流源として、立ち上がりの早いDAコンバータのみを用いた場合でも、印加電流波形の立ち上がりを高速化でき、熱変動による波長ドリフトを抑制することができる。   According to the present invention, even when only a DA converter that rises quickly is used as a current source for control of the wavelength tunable laser array, the rising of the applied current waveform can be speeded up, and wavelength drift due to thermal fluctuation can be suppressed.

本発明の実施例1にかかるレーザアレイを示す平面図である。It is a top view which shows the laser array concerning Example 1 of this invention. 図1のレーザアレイにおける、熱補償を行わない場合の設定電流である。This is a set current when thermal compensation is not performed in the laser array of FIG. 図1のレーザアレイにおける、従来の方法で熱補償を行った場合の設定電流である。This is a set current when heat compensation is performed by the conventional method in the laser array of FIG. 図1のレーザアレイの本発明にかかる方法により熱補償を行った場合の設定電流である。FIG. 3 is a set current when thermal compensation is performed by the method according to the present invention of the laser array of FIG. 本発明の実施例2にかかるレーザアレイを示す平面図である。It is a top view which shows the laser array concerning Example 2 of this invention. 図5のレーザアレイにおける、熱補償を行わない場合の設定電流である。FIG. 6 is a set current when heat compensation is not performed in the laser array of FIG. 図5のレーザアレイにおける、従来の方法で熱補償を行った場合の設定電流である。This is a set current when heat compensation is performed by the conventional method in the laser array of FIG. 図5のレーザアレイの本発明にかかる方法により熱補償を行った場合の設定電流である。FIG. 6 is a set current when thermal compensation is performed by the method according to the present invention of the laser array of FIG. 本発明の実施例3にかかるレーザアレイを示す平面図である。It is a top view which shows the laser array concerning Example 3 of this invention. 図9のレーザアレイにおける、熱補償を行わない場合の設定電流である。FIG. 10 is a set current when heat compensation is not performed in the laser array of FIG. 9. 図9のレーザアレイにおける、従来の方法で熱補償を行った場合の設定電流である。This is the set current when heat compensation is performed by the conventional method in the laser array of FIG. 図9のレーザアレイの本発明にかかる方法により熱補償を行った場合の設定電流である。FIG. 10 is a set current when thermal compensation is performed by the method according to the present invention of the laser array of FIG.

以下、図面を参照しながら本発明の実施例について詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

[実施例1]
図1は、本発明の実施例1にかかるレーザアレイ100を示す上面図である。レーザアレイ100は、電流制御型の波長可変レーザであるDBRレーザアレイであり、半導体基板110と、半導体基板110上に設けられたレーザ活性層111〜116と、半導体基板110上に設けられたレーザ制御層121〜126とを備える。レーザ活性層111とレーザ制御層121とは、半導体基板110上においてDBRレーザ101を形成する。レーザ活性層112〜116とレーザ制御層122〜126とについても、半導体基板110上においてそれぞれDBRレーザ102〜106を形成する。DBRレーザ101〜106は、それぞれ並列に配置されている。
[Example 1]
FIG. 1 is a top view showing a laser array 100 according to a first embodiment of the present invention. The laser array 100 is a DBR laser array that is a current-controlled tunable laser, and includes a semiconductor substrate 110, laser active layers 111 to 116 provided on the semiconductor substrate 110, and a laser provided on the semiconductor substrate 110. And control layers 121 to 126. The laser active layer 111 and the laser control layer 121 form the DBR laser 101 on the semiconductor substrate 110. DBR lasers 102 to 106 are also formed on the semiconductor substrate 110 for the laser active layers 112 to 116 and the laser control layers 122 to 126, respectively. The DBR lasers 101 to 106 are arranged in parallel.

また、レーザアレイ100は、レーザ活性層111〜116とそれぞれ接続された電極131〜136と、レーザ制御層121〜126とそれぞれ接続された電極141〜146と、電極131〜136にそれぞれ接続されたDAコンバータ171〜176と、電極141〜146にそれぞれ接続されたDAコンバータ151〜156と、DAコンバータ171〜176及びDAコンバータ151〜156にそれぞれ接続された制御装置170とを備える。レーザ活性層111は、DAコンバータ171から電極131を介して制御装置170からの信号が変換された電流が印加されレーザ光を発振する。また、レーザ活性層112〜116もそれぞれDAコンバータ172〜176から電極132〜136を介して制御装置170からの信号が変換された電流が印加されレーザ光を発振する。   The laser array 100 is connected to electrodes 131 to 136 connected to the laser active layers 111 to 116, electrodes 141 to 146 connected to the laser control layers 121 to 126, and electrodes 131 to 136, respectively. DA converters 171 to 176, DA converters 151 to 156 connected to electrodes 141 to 146, respectively, and a control device 170 connected to each of DA converters 171 to 176 and DA converters 151 to 156. The laser active layer 111 oscillates a laser beam when a current converted from a signal from the control device 170 is applied from the DA converter 171 through the electrode 131. The laser active layers 112 to 116 also oscillate laser beams when the DA converters 172 to 176 are applied with currents converted from signals from the control device 170 via the electrodes 132 to 136, respectively.

レーザ制御層121は、DAコンバータ151から電極141を介して、制御装置170からの信号が変換された電流が印加され、屈折率を変化させることにより出力光の波長が制御される。レーザ制御層122〜126も、それぞれDAコンバータ152〜156から電極142〜146を介して、制御装置170からの信号が変換された電流が印加され、屈折率を変化させることより出力光の波長が制御される。   The laser control layer 121 is applied with a current converted from a signal from the control device 170 from the DA converter 151 via the electrode 141, and the wavelength of the output light is controlled by changing the refractive index. The laser control layers 122 to 126 are also applied with current converted from signals from the control device 170 from the DA converters 152 to 156 via the electrodes 142 to 146, respectively, and the wavelength of the output light is changed by changing the refractive index. Be controlled.

また、レーザアレイ100は、各DBRレーザからの出力光を導波する導波路161〜166と、導波路161〜166を導波した出力光を合波する光結合器であるMMI(多モード干渉)カプラ167と、最終段で出力光の強度を調整するSOA(半導体増幅器)168と、SOA168からの出力光を導波して出力する導波路169と、SOA168に接続された電極137とを備える。各DBRレーザの発振光は、後段に配置された導波路161〜166を介してMMIカプラ167により1つに合波され、SOA168を経た後に、出力光として導波路169から出力される。SOA168は、電極137を介して、外部から電流が供給される。   The laser array 100 includes an MMI (multimode interference) that is an optical coupler that combines the waveguides 161 to 166 that guide the output light from each DBR laser and the output light that is guided through the waveguides 161 to 166. ) A coupler 167, an SOA (semiconductor amplifier) 168 that adjusts the intensity of output light at the final stage, a waveguide 169 that guides and outputs the output light from the SOA 168, and an electrode 137 connected to the SOA 168. . The oscillation light of each DBR laser is combined into one by the MMI coupler 167 via the waveguides 161 to 166 disposed in the subsequent stage, and after passing through the SOA 168, is output from the waveguide 169 as output light. The SOA 168 is supplied with current from the outside via the electrode 137.

次に、本実施例におけるレーザアレイの発振光の波長制御の方法について、説明する。DBRレーザアレイにおいて、波長を変更する場合、1のDBRレーザから他のDBRレーザに切り替えることにより発振光の波長を可変制御する。   Next, a method for controlling the wavelength of the oscillation light of the laser array in this embodiment will be described. When changing the wavelength in the DBR laser array, the wavelength of the oscillation light is variably controlled by switching from one DBR laser to another DBR laser.

このときに、切替先のDBRレーザの制御層だけでなく、切替先のDBRレーザの周辺のDBRレーザのレーザ制御層に予め電流を印加する。具体的には、複数のDBRレーザのうち1つである第1のDBRレーザの動作中に、動作中の第1のDBRレーザの次に動作する第2のDBRレーザのレーザ制御層と、第2のDBRレーザに隣接する少なくとも1つの第3のDBRレーザのレーザ制御層に対して、制御装置170が、DAコンバータから電流を印加することにより、DBRレーザの熱補償を行う。   At this time, a current is applied in advance not only to the control layer of the DBR laser at the switching destination but also to the laser control layer of the DBR laser around the DBR laser at the switching destination. Specifically, during the operation of the first DBR laser that is one of the plurality of DBR lasers, the laser control layer of the second DBR laser that operates next to the operating first DBR laser, The controller 170 applies a current from a DA converter to the laser control layer of at least one third DBR laser adjacent to the second DBR laser to perform thermal compensation of the DBR laser.

予め電流を印加する一つ一つのレーザ制御層には、DAコンバータから出力する電流を印加する。ここで、レーザ制御層に印加する電流は、DAコンバータから出力された後に増幅器により増幅することもなく、また、DAコンバータは増幅器を内蔵していないため、レーザ制御層に印加する電流は最大でも20mA程度である。第2のDBRレーザのレーザ制御層と、少なくとも1つの第3のDBRレーザのレーザ制御層とに印加する電流値の合計は、切替先のDBRレーザ(第2のDBRレーザ)のレーザ活性層に印加する予定の電流に等しくなるように設定する。   A current output from the DA converter is applied to each laser control layer to which a current is applied in advance. Here, the current applied to the laser control layer is not amplified by the amplifier after it is output from the DA converter, and since the DA converter does not have an amplifier, the current applied to the laser control layer is at most It is about 20 mA. The sum of the current values applied to the laser control layer of the second DBR laser and the laser control layer of at least one third DBR laser is added to the laser active layer of the DBR laser (second DBR laser) to be switched. Set to be equal to the current to be applied.

切替先のDBRレーザ及びその周辺のDBRレーザに予め電流を印加することにより、DBRレーザにおいて発生する発熱量を波長切替前後において一定とすることができるため、半導体基板における温度変化を抑制し、温度変化による屈折率変化を抑制する。   By applying a current in advance to the switching destination DBR laser and the surrounding DBR laser, the amount of heat generated in the DBR laser can be made constant before and after the wavelength switching. Suppresses changes in refractive index due to changes.

ここで、本実施例のレーザアレイの発振光の波長制御の例と、レーザアレイの熱補償を行わない場合及び従来技術(特許文献4に記載の方法)により熱補償を行った例とを比較して説明する。   Here, the example of the wavelength control of the oscillation light of the laser array of this embodiment is compared with the case where the thermal compensation of the laser array is not performed and the example where the thermal compensation is performed by the conventional technique (the method described in Patent Document 4). To explain.

1.熱補償を行わない場合
図2は、図1のレーザアレイ100における、熱補償を行わない場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置170は、DBRレーザ101のレーザ活性層111に70mAの電流を流し、DBRレーザ101のレーザ制御層121に5mAの電流を印加する。このときのDBRレーザ101の発振周波数は190.1THzであった(チャネル1)。次に、制御装置170は、DBRレーザ103のレーザ活性層113に70mAの電流を流し、DBRレーザ103のレーザ制御層123に5mAの電流を印加する。このときのDBRレーザ103の発振周波数は191.9THzであった(チャネル2)。
1. When Thermal Compensation is not Performed FIG. 2 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer when thermal compensation is not performed in the laser array 100 of FIG. First, the control device 170 applies a current of 70 mA to the laser active layer 111 of the DBR laser 101 and applies a current of 5 mA to the laser control layer 121 of the DBR laser 101. The oscillation frequency of the DBR laser 101 at this time was 190.1 THz (channel 1). Next, the control device 170 applies a current of 70 mA to the laser active layer 113 of the DBR laser 103 and applies a current of 5 mA to the laser control layer 123 of the DBR laser 103. At this time, the oscillation frequency of the DBR laser 103 was 191.9 THz (channel 2).

ここで、DBRレーザ101への電流印加(チャネル1)とDBRレーザ103への電流印加(チャネル2)とを1msごとに切替え、切替えたときから目標周波数の10GHz内に入った時間を切り替え時間と定義した場合、本制御方法では、切り替え時間は10μsであった。   Here, the current application to the DBR laser 101 (channel 1) and the current application to the DBR laser 103 (channel 2) are switched every 1 ms, and the time within 10 GHz of the target frequency after switching is referred to as the switching time. When defined, in this control method, the switching time was 10 μs.

2.従来技術による熱補償を行った場合
図3は、図1のレーザアレイ100における、従来技術により熱補償を行った場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置170は、DBRレーザ101のレーザ活性層111に70mAの電流を流し、DBRレーザ101のレーザ制御層121に5mAの電流を印加する(チャネル1)。ここで、DBRレーザ101の次に電流印加を行うDBRレーザ103の熱補償を行うために、制御装置170は、DBRレーザ103のレーザ制御層123に対し、予め電流を印加する。この場合に印加する電流値は、DBRレーザ103のレーザ制御層113に印加する予定の電流70mAと、レーザ制御層123に印加する予定の電流5mAとの合計値75mAである。チャネル1動作時のDBRレーザ103の全電流量とチャネル2動作時のDBRレーザ103の全電流量とを一定とすることで、発熱量を一定とすることができる。
2. FIG. 3 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer in the laser array 100 of FIG. 1 when the thermal compensation is performed according to the conventional technique. First, the controller 170 applies a current of 70 mA to the laser active layer 111 of the DBR laser 101 and applies a current of 5 mA to the laser control layer 121 of the DBR laser 101 (channel 1). Here, in order to perform thermal compensation of the DBR laser 103 that applies current next to the DBR laser 101, the control device 170 applies a current to the laser control layer 123 of the DBR laser 103 in advance. The current value to be applied in this case is a total value of 75 mA of the current 70 mA to be applied to the laser control layer 113 of the DBR laser 103 and the current 5 mA to be applied to the laser control layer 123. By making the total current amount of the DBR laser 103 during channel 1 operation and the total current amount of the DBR laser 103 during channel 2 operation constant, the amount of heat generation can be made constant.

本方法においてはレーザ制御層123に75mAの電流を印加しているが、75mAもの電流をレーザ制御層に印加する場合、レーザ制御層に接続されたDAコンバータのみからの出力電流だけでは足りず、DAコンバータの後段に増幅器を置いて電流を増幅しなければならない。   In this method, a current of 75 mA is applied to the laser control layer 123. However, when a current of 75 mA is applied to the laser control layer, the output current from only the DA converter connected to the laser control layer is not sufficient. An amplifier must be placed after the DA converter to amplify the current.

次に、制御装置170は、DBRレーザ103のレーザ活性層113に70mAの電流を流し、DBRレーザ103のレーザ制御層123に5mAの電流を印加する(チャネル2)。ここで、DBRレーザ103の次に電流印加を行うDBRレーザ101の熱補償を行うために、制御装置170は、DBRレーザ101のレーザ制御層121に対し、予め電流を印加する。この場合に印加する電流値は、DBRレーザ101のレーザ制御層111に印加する予定の電流70mAと、レーザ制御層121に印加する予定の電流5mAとの合計値75mAである。チャネル2動作時のDBRレーザ101の全電流量とチャネル1動作時のDBRレーザ101の全電流量とを一定とすることで、発熱量を一定とすることができる。   Next, the control device 170 applies a current of 70 mA to the laser active layer 113 of the DBR laser 103 and applies a current of 5 mA to the laser control layer 123 of the DBR laser 103 (channel 2). Here, in order to perform thermal compensation of the DBR laser 101 that applies current next to the DBR laser 103, the controller 170 applies a current to the laser control layer 121 of the DBR laser 101 in advance. The current value applied in this case is a total value of 75 mA of the current 70 mA to be applied to the laser control layer 111 of the DBR laser 101 and the current 5 mA to be applied to the laser control layer 121. By making the total current amount of the DBR laser 101 during channel 2 operation and the total current amount of the DBR laser 101 during channel 1 operation constant, the heat generation amount can be made constant.

ここで、チャネル1とチャネル2とを1msごとに切替えた場合、本制御方法では、切り替え時間は8μsであった。本制御方法においては、1.の熱補償を行わない場合に対して、若干切り替え時間の短縮を図ることができた。   Here, when channel 1 and channel 2 are switched every 1 ms, in this control method, the switching time is 8 μs. In this control method, Compared with the case where no thermal compensation is performed, the switching time can be slightly shortened.

3.本発明による熱補償を行った場合
図4は、図1のレーザアレイ100における、本発明にかかる方法により熱補償を行った場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置170は、DBRレーザ101のレーザ活性層111に70mAの電流を流し、DBRレーザ101のレーザ制御層121に5mAの電流を印加する(チャネル1)。ここで、制御装置170は、各DBRレーザの熱補償を行うために、DBRレーザ101以外の各DBRレーザのレーザ制御層122〜126に予め電流を印加する。ただし、電流印加はすべてのレーザ制御層に対して行う必要はなく、活性層に印加する電流値、切替先のDBRレーザとの距離に近いDBRレーザを選択する。本方法においては、DBRレーザ102のレーザ制御層122、DBRレーザ103のレーザ制御層123、及びDBRレーザ104のレーザ制御層124に20mAの電流を印加し、DBRレーザ105のレーザ制御層125に10mAの電流を印加し、DBRレーザ106のレーザ制御層126には電流を印加していない。各DBRレーザのレーザ制御層121〜125に予め印加する電流値の合計は70mAであり、DBRレーザ103のレーザ活性層113に印加する予定の電流70mAと同じ値である。したがって、チャネル切替前後においてDBRレーザ103周辺に発生する熱量の差を少なくすることができ、熱補償を行うことができる。
3. When Thermal Compensation is Performed According to the Present Invention FIG. 4 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer when the thermal compensation is performed by the method according to the present invention in the laser array 100 of FIG. First, the controller 170 applies a current of 70 mA to the laser active layer 111 of the DBR laser 101 and applies a current of 5 mA to the laser control layer 121 of the DBR laser 101 (channel 1). Here, the controller 170 applies a current in advance to the laser control layers 122 to 126 of the DBR lasers other than the DBR laser 101 in order to perform thermal compensation of the DBR lasers. However, it is not necessary to apply the current to all the laser control layers, and a DBR laser that is close to the value of the current applied to the active layer and the distance to the switching destination DBR laser is selected. In this method, a current of 20 mA is applied to the laser control layer 122 of the DBR laser 102, the laser control layer 123 of the DBR laser 103, and the laser control layer 124 of the DBR laser 104, and 10 mA is applied to the laser control layer 125 of the DBR laser 105. Current is applied, and no current is applied to the laser control layer 126 of the DBR laser 106. The sum of the current values previously applied to the laser control layers 121 to 125 of each DBR laser is 70 mA, which is the same value as the current 70 mA to be applied to the laser active layer 113 of the DBR laser 103. Therefore, the difference in the amount of heat generated around the DBR laser 103 before and after channel switching can be reduced, and thermal compensation can be performed.

本方法においては、レーザ制御層に最大20mAの電流を印加しているが、20mAの電流をレーザ制御層に印加する場合、レーザ制御層に接続されたDAコンバータから直接印加することができるため、DAコンバータ後段には増幅器は必要ない。   In this method, a maximum current of 20 mA is applied to the laser control layer, but when a current of 20 mA is applied to the laser control layer, it can be directly applied from a DA converter connected to the laser control layer. An amplifier is not required after the DA converter.

次に、制御装置170は、DBRレーザ103のレーザ活性層113に70mAの電流を流し、DBRレーザ103のレーザ制御層123に5mAの電流を印加する(チャネル2)。ここで、各DBRレーザの熱補償を行うために、制御装置170は、DBRレーザ103以外の各DBRレーザのレーザ制御層121、122、124〜126のいずれかに予め電流を印加する。本方法においては、DBRレーザ101のレーザ制御層121、DBRレーザ102のレーザ制御層122、及びDBRレーザ104のレーザ制御層124に20mAの電流を印加し、DBRレーザ105のレーザ制御層125に10mAの電流を印加し、DBRレーザ106のレーザ制御層126には電流を印加していない。   Next, the control device 170 applies a current of 70 mA to the laser active layer 113 of the DBR laser 103 and applies a current of 5 mA to the laser control layer 123 of the DBR laser 103 (channel 2). Here, in order to perform thermal compensation of each DBR laser, the controller 170 applies a current in advance to any of the laser control layers 121, 122, and 124 to 126 of each DBR laser other than the DBR laser 103. In this method, a current of 20 mA is applied to the laser control layer 121 of the DBR laser 101, the laser control layer 122 of the DBR laser 102, and the laser control layer 124 of the DBR laser 104, and 10 mA is applied to the laser control layer 125 of the DBR laser 105. Current is applied, and no current is applied to the laser control layer 126 of the DBR laser 106.

ここで、チャネル1とチャネル2とを1msごとに切替えた場合、本制御方法では、切り替え時間は2μsであった。本制御方法においては、1.の熱補償を行わない場合及び2.従来の方法により熱補償を行った場合に対して、著しい切り替え時間の短縮を図ることができた。なお、今回は6アレイの場合に関して記述したが、アレイ数が6以外の場合でも効果があるのは言うまでもない。   Here, when the channel 1 and the channel 2 are switched every 1 ms, in this control method, the switching time is 2 μs. In this control method, When no thermal compensation is performed and 2. Compared with the case where the thermal compensation is performed by the conventional method, the switching time can be remarkably shortened. Although the case of six arrays has been described this time, it goes without saying that the present invention is effective even when the number of arrays is other than six.

[実施例2]
図5は、本発明の実施例2にかかるレーザアレイ500を示す上面図である。レーザアレイ500は、電流制御型の波長可変レーザであるTDA−DFBレーザアレイであり、半導体基板510と、半導体基板510上に設けられたレーザ活性層511a〜516a、511b〜516b、511c〜516cと、半導体基板510上に設けられたレーザ制御層521a〜526a、521b〜526b、521c〜526cとを備える。レーザ活性層511a〜511cとレーザ制御層521a〜521cとは、それぞれが基板上に設けられ、半導体基板510上において交互に配置されDFBレーザ501を形成する。レーザ活性層512a〜516a、512b〜516b、512c〜516cとレーザ制御層522a〜526a、522b〜526b、522c〜526cとについても、半導体基板510上において交互に配置されDFBレーザ502〜506を形成する。DFBレーザ501〜506は、それぞれ並列に配置されている。
[Example 2]
FIG. 5 is a top view showing a laser array 500 according to the second embodiment of the present invention. The laser array 500 is a TDA-DFB laser array that is a current-controlled tunable laser, and includes a semiconductor substrate 510 and laser active layers 511a to 516a, 511b to 516b, and 511c to 516c provided on the semiconductor substrate 510. And laser control layers 521a to 526a, 521b to 526b, and 521c to 526c provided on the semiconductor substrate 510. The laser active layers 511a to 511c and the laser control layers 521a to 521c are provided on the substrate, and are alternately arranged on the semiconductor substrate 510 to form the DFB laser 501. The laser active layers 512a to 516a, 512b to 516b, 512c to 516c and the laser control layers 522a to 526a, 522b to 526b, and 522c to 526c are also alternately arranged on the semiconductor substrate 510 to form DFB lasers 502 to 506. . The DFB lasers 501 to 506 are arranged in parallel.

また、レーザアレイ500は、レーザ活性層511a〜516a、511b〜516b、511c〜516cとそれぞれ接続された電極531〜536と、レーザ制御層521a〜526a、521b〜526b、521c〜526cとそれぞれ接続された電極541〜546と、電極531〜536にそれぞれ接続されたDAコンバータ571〜576と、電極541〜546にそれぞれ接続されたDAコンバータ551〜556と、DAコンバータ571〜576及びDAコンバータ551〜556に接続された制御装置570とを備える。レーザ活性層511a〜511cはDAコンバータ571から電極531を介して制御装置570からの信号が変換された電流が印加されレーザ光を発振する。レーザ活性層512a〜516cもそれぞれDAコンバータ572〜576から電極532〜536を介して制御装置570からの信号が変換された電流が印加されレーザ光を発振する。   The laser array 500 is connected to the electrodes 531 to 536 connected to the laser active layers 511a to 516a, 511b to 516b, and 511c to 516c, and to the laser control layers 521a to 526a, 521b to 526b, and 521c to 526c, respectively. Electrodes 541-546, DA converters 571-576 connected to electrodes 531-536, DA converters 551-556 connected to electrodes 541-546, DA converters 571-576 and DA converters 551-556, respectively. And a control device 570 connected to. The laser active layers 511 a to 511 c oscillate laser light when a current converted from a signal from the control device 570 is applied from the DA converter 571 through the electrode 531. The laser active layers 512a to 516c also oscillate laser beams when the DA converters 572 to 576 are applied with currents converted from signals from the control device 570 via the electrodes 532 to 536, respectively.

レーザ制御層521a〜521cはDAコンバータ551から電極541を介して、制御装置570からの信号が変換された電流が印加され、屈折率を変化させることにより出力光の波長が制御される。レーザ制御層522a〜526cもそれぞれDAコンバータ552〜556から電極542〜546を介して、制御装置570からの信号が変換された電流が印加され、屈折率を変化させることにより出力光の波長が制御される。   The laser control layers 521a to 521c are applied with a current converted from the signal from the control device 570 from the DA converter 551 via the electrode 541, and the wavelength of the output light is controlled by changing the refractive index. The laser control layers 522a to 526c are also applied with current converted from the signal from the control device 570 from the DA converters 552 to 556 via the electrodes 542 to 546, respectively, and the wavelength of the output light is controlled by changing the refractive index. Is done.

また、レーザアレイ500は、各DFBレーザからの出力光を導波する導波路561〜566と、導波路561〜566を導波した出力光を合波する光結合器であるMMI(多モード干渉)カプラ567と、最終段で出力光の強度を調整するSOA(半導体増幅器)568と、SOA568からの出力光を導波して出力する導波路569と、SOA568に接続された電極537とを備える。各DFBレーザの発振光は、後段に配置された導波路561〜566を介してMMIカプラ567により1つに合波され、SOA568を経た後に、出力光として導波路569から出力される。SOA568は、電極537を介して、外部から電流が供給される。   The laser array 500 includes waveguides 561 to 566 that guide the output light from each DFB laser, and an MMI (multi-mode interference) that is an optical coupler that combines the output light guided through the waveguides 561 to 566. ) A coupler 567, an SOA (semiconductor amplifier) 568 that adjusts the intensity of output light at the final stage, a waveguide 569 that guides and outputs the output light from the SOA 568, and an electrode 537 that is connected to the SOA 568. . The oscillation light of each DFB laser is combined into one by the MMI coupler 567 via the waveguides 561 to 566 arranged in the subsequent stage, and after passing through the SOA 568, is output from the waveguide 569 as output light. The SOA 568 is supplied with current from the outside via the electrode 537.

次に、本実施例におけるレーザアレイの発振光の波長制御の方法について、説明する。TDA−DFBレーザアレイにおいて、波長を変更する場合、1のDFBレーザから他のDFBレーザに切り替えることにより発振光の波長を可変制御する方法がある。   Next, a method for controlling the wavelength of the oscillation light of the laser array in this embodiment will be described. When changing the wavelength in the TDA-DFB laser array, there is a method of variably controlling the wavelength of oscillation light by switching from one DFB laser to another DFB laser.

このときに、切替先のDFBレーザだけでなく、切替先のDFBレーザの周辺のDFBレーザのレーザ制御層に予め電流を印加する。具体的には、複数のDFBレーザのうち1つである第1のDFBレーザの動作中に、動作中の第1のDFBレーザの次に動作する第2のDFBレーザのレーザ制御層と、第2のDFBレーザに隣接する少なくとも1つの第3のDFBレーザのレーザ制御層に対して、各制御装置が、DAコンバータから電流を印加することにより、DFBレーザの熱補償を行う。   At this time, a current is applied in advance to the laser control layer of the DFB laser around the switching DFB laser as well as the switching DFB laser. Specifically, during the operation of the first DFB laser that is one of the plurality of DFB lasers, the laser control layer of the second DFB laser that operates next to the operating first DFB laser, Each control device applies a current from a DA converter to the laser control layer of at least one third DFB laser adjacent to the second DFB laser to perform thermal compensation of the DFB laser.

予め電流を印加する一つ一つのレーザ制御層には、DAコンバータから出力する電流を印加する。ここで、レーザ制御層に印加する電流は、DAコンバータから出力された後に増幅器により増幅することもなく、また、DAコンバータは増幅器を内蔵していないため、レーザ制御層に印加する電流は最大でも20mA程度である。第2のDFBレーザのレーザ制御層と、少なくとも1つの第3のDFBレーザのレーザ制御層とに印加する電流値の合計は、切替先のDFBレーザの活性層に印加する予定の電流に等しくなるように設定する。   A current output from the DA converter is applied to each laser control layer to which a current is applied in advance. Here, the current applied to the laser control layer is not amplified by the amplifier after it is output from the DA converter, and since the DA converter does not have an amplifier, the current applied to the laser control layer is at most It is about 20 mA. The sum of the current values applied to the laser control layer of the second DFB laser and the laser control layer of at least one third DFB laser is equal to the current scheduled to be applied to the active layer of the DFB laser to be switched to. Set as follows.

切替先のDFBレーザ及びその周辺のDFBレーザに予め電流を印加することにより、DFBレーザにおいて発生する発熱量を波長切替前後において一定とすることができるため、半導体基板における温度変化を抑制し、温度変化による屈折率変化を抑制する。   By applying a current in advance to the DFB laser at the switching destination and the surrounding DFB laser, the amount of heat generated in the DFB laser can be made constant before and after the wavelength switching, so that the temperature change in the semiconductor substrate is suppressed, Suppresses changes in refractive index due to changes.

ここで、本実施例のレーザアレイの発振光の波長制御の例と、レーザアレイの熱補償を行わない場合及び従来技術により熱補償を行った例とを比較して説明する。   Here, an example of the wavelength control of the oscillation light of the laser array of this embodiment will be described in comparison with a case where the laser array is not subjected to thermal compensation and an example where thermal compensation is performed according to the prior art.

1.熱補償を行わない場合
図6は、図5のレーザアレイ500における、熱補償を行わない場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置570は、DFBレーザ503のレーザ活性層513a〜513cに80mAの電流を流し、DFBレーザ503のレーザ制御層523a〜523cに10mAの電流を印加する(チャネル1)。このときのDFBレーザ503の発振周波数は192.0THzであった。次に、制御装置570は、DFBレーザ505のレーザ活性層515a〜515cに80mAの電流を流し、DFBレーザ505のレーザ制御層525a〜525cに15mAの電流を印加する(チャネル2)。このときのDFBレーザ505の発振周波数は194.2THzであった。
1. When Thermal Compensation is not Performed FIG. 6 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer when thermal compensation is not performed in the laser array 500 of FIG. First, the control device 570 applies a current of 80 mA to the laser active layers 513a to 513c of the DFB laser 503, and applies a current of 10 mA to the laser control layers 523a to 523c of the DFB laser 503 (channel 1). At this time, the oscillation frequency of the DFB laser 503 was 192.0 THz. Next, the control device 570 applies a current of 80 mA to the laser active layers 515a to 515c of the DFB laser 505, and applies a current of 15 mA to the laser control layers 525a to 525c of the DFB laser 505 (channel 2). At this time, the oscillation frequency of the DFB laser 505 was 194.2 THz.

ここで、DFBレーザ503への電流印加(チャネル1)とDFBレーザ505への電流印加(チャネル2)とを1msごとに切替え、切替えたときから目標周波数の10GHz内に入った時間を切り替え時間と定義した場合、本制御方法では、切り替え時間は12μsであった。   Here, the current application to the DFB laser 503 (channel 1) and the current application to the DFB laser 505 (channel 2) are switched every 1 ms, and the time within 10 GHz of the target frequency after the switching is defined as the switching time. When defined, in this control method, the switching time was 12 μs.

2.従来技術による熱補償を行った場合
図7は、図5のレーザアレイ500における、従来技術により熱補償を行った場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置570は、DFBレーザ503のレーザ活性層513a〜513cに80mAの電流を流し、DFBレーザ503のレーザ制御層523a〜523cに10mAの電流を印加する(チャネル1)。ここで、DFBレーザ503の次に電流印加を行うDFBレーザ505の熱補償を行うために、制御装置570は、DFBレーザ505のレーザ制御層525a〜525cに対し、予め電流を印加する。この場合に印加する電流値は、DFBレーザ505のレーザ制御層525a〜525cに印加する予定の電流80mAと、レーザ制御層525a〜525cに印加する予定の電流15mAとの合計値95mAである。本方法においてはレーザ制御層に95mAの電流を印加しているが、95mAもの電流をレーザ制御層に印加する場合、レーザ制御層に接続されたDAコンバータのみからの出力電流だけでは足りず、DAコンバータの後段に増幅器を置いて電流を増幅しなければならない。
2. FIG. 7 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer in the laser array 500 of FIG. 5 when the thermal compensation is performed according to the conventional technique. First, the control device 570 applies a current of 80 mA to the laser active layers 513a to 513c of the DFB laser 503, and applies a current of 10 mA to the laser control layers 523a to 523c of the DFB laser 503 (channel 1). Here, the controller 570 applies a current in advance to the laser control layers 525 a to 525 c of the DFB laser 505 in order to perform thermal compensation of the DFB laser 505 that applies current next to the DFB laser 503. The current value applied in this case is a total value of 95 mA of the current 80 mA to be applied to the laser control layers 525 a to 525 c of the DFB laser 505 and the current 15 mA to be applied to the laser control layers 525 a to 525 c. In this method, a current of 95 mA is applied to the laser control layer. However, when a current of 95 mA is applied to the laser control layer, the output current from only the DA converter connected to the laser control layer is not sufficient. An amplifier must be placed after the converter to amplify the current.

次に、制御装置570は、DFBレーザ505のレーザ活性層515a〜515cに80mAの電流を流し、DFBレーザ505のレーザ制御層525a〜525cに15mAの電流を印加する(チャネル2)。ここで、DFBレーザ505の次に電流印加を行うDFBレーザ503の熱補償を行うために、制御装置570は、DFBレーザ503のレーザ制御層523a〜523cに対し、予め電流を印加する。この場合に印加する電流値は、DFBレーザ503のレーザ活性層513a〜513cに印加する予定の電流80mAと、レーザ制御層523a〜523cに印加する予定の電流10mAとの合計値90mAである。   Next, the control device 570 applies a current of 80 mA to the laser active layers 515a to 515c of the DFB laser 505, and applies a current of 15 mA to the laser control layers 525a to 525c of the DFB laser 505 (channel 2). Here, in order to perform thermal compensation of the DFB laser 503 that applies current next to the DFB laser 505, the control device 570 applies a current to the laser control layers 523a to 523c of the DFB laser 503 in advance. The current value applied in this case is a total value of 90 mA of the current 80 mA to be applied to the laser active layers 513 a to 513 c of the DFB laser 503 and the current 10 mA to be applied to the laser control layers 523 a to 523 c.

ここで、チャネル1とチャネル2とを1msごとに切替えた場合、本制御方法では、切り替え時間は10μsであった。本制御方法においては、1.の熱補償を行わない場合に対して、若干切り替え時間の短縮を図ることができた。   Here, when the channel 1 and the channel 2 are switched every 1 ms, in this control method, the switching time is 10 μs. In this control method, Compared with the case where no thermal compensation is performed, the switching time can be slightly shortened.

3.本発明による熱補償を行った場合
図8は、図5のレーザアレイ500における、本発明にかかる方法により熱補償を行った場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置570は、DFBレーザ503のレーザ活性層513a〜513cに80mAの電流を流し、DFBレーザ503のレーザ制御層523a〜523cに10mAの電流を印加する(チャネル1)。ここで、各DFBレーザの熱補償を行うために、制御装置570は、DFBレーザ503以外の各DFBレーザのレーザ制御層521a〜522c、524a〜526cに予め電流を印加する。ただし、電流印加はすべてのレーザ制御層に対して行う必要はなく、活性層に印加する電流値、使用するDFBレーザとの距離に応じて選択する。本方法においては、DFBレーザ501のレーザ制御層521a〜521c、DFBレーザ502のレーザ制御層522a〜522c、及びDFBレーザ504のレーザ制御層524a〜524c、DFBレーザ505のレーザ制御層525a〜525cに20mAの電流を印加し、DFBレーザ506のレーザ制御層526a〜526cには電流を印加していない。各DFBレーザのレーザ制御層521a〜522c、524a〜526cに予め印加する電流値の合計は、80mAであり、DFBレーザ505のレーザ活性層515に印加する予定の電流80mAと同じ値である。したがって、切替前後においてDFBレーザ505周辺に発生する熱量の差を少なくすることができ、DFBレーザ505の熱補償を行うことができる。
3. When Thermal Compensation is Performed According to the Present Invention FIG. 8 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer when the thermal compensation is performed by the method according to the present invention in the laser array 500 of FIG. First, the control device 570 applies a current of 80 mA to the laser active layers 513a to 513c of the DFB laser 503, and applies a current of 10 mA to the laser control layers 523a to 523c of the DFB laser 503 (channel 1). Here, in order to perform thermal compensation of each DFB laser, the control device 570 applies a current in advance to the laser control layers 521a to 522c and 524a to 526c of each DFB laser other than the DFB laser 503. However, it is not necessary to apply the current to all the laser control layers, and it is selected according to the current value applied to the active layer and the distance to the DFB laser to be used. In this method, the laser control layers 521 a to 521 c of the DFB laser 501, the laser control layers 522 a to 522 c of the DFB laser 502, the laser control layers 524 a to 524 c of the DFB laser 504, and the laser control layers 525 a to 525 c of the DFB laser 505 are used. A current of 20 mA was applied, and no current was applied to the laser control layers 526a to 526c of the DFB laser 506. The sum of the current values previously applied to the laser control layers 521a to 522c and 524a to 526c of each DFB laser is 80 mA, which is the same value as the current 80 mA to be applied to the laser active layer 515 of the DFB laser 505. Therefore, the difference in the amount of heat generated around the DFB laser 505 before and after switching can be reduced, and the DFB laser 505 can be compensated for heat.

本方法においては、レーザ制御層に最大20mAの電流を印加しているが、20mAの電流をレーザ制御層に印加する場合、レーザ制御層に接続されたDAコンバータから直接印加することができるため、DAコンバータ後段には増幅器は必要ない。   In this method, a maximum current of 20 mA is applied to the laser control layer, but when a current of 20 mA is applied to the laser control layer, it can be directly applied from a DA converter connected to the laser control layer. An amplifier is not required after the DA converter.

次に、制御装置570は、DFBレーザ505のレーザ活性層515a〜515cに80mAの電流を流し、DFBレーザ505のレーザ制御層525a〜525cに15mAの電流を印加する(チャネル2)。ここで、各DFBレーザの熱補償を行うために、制御装置570は、DFBレーザ505以外の各DFBレーザのレーザ制御層521a〜524c、526a〜526cのいずれかに予め電流を印加する。本方法においては、DFBレーザ501のレーザ制御層521a〜521c、DFBレーザ502のレーザ制御層522a〜522c、及びDFBレーザ504のレーザ制御層524a〜524cに20mA、DFBレーザ503のレーザ制御層523a〜523cに15mAの電流を印加し、DFBレーザ506のレーザ制御層526a〜526cには電流を印加していない。   Next, the control device 570 applies a current of 80 mA to the laser active layers 515a to 515c of the DFB laser 505, and applies a current of 15 mA to the laser control layers 525a to 525c of the DFB laser 505 (channel 2). Here, in order to perform thermal compensation of each DFB laser, the control device 570 applies a current in advance to any of the laser control layers 521a to 524c and 526a to 526c of each DFB laser other than the DFB laser 505. In this method, the laser control layers 521 a to 521 c of the DFB laser 501, the laser control layers 522 a to 522 c of the DFB laser 502, and the laser control layers 524 a to 524 c of the DFB laser 504 are 20 mA, and the laser control layers 523 a to 523 of the DFB laser 503 are used. A current of 15 mA is applied to 523c, and no current is applied to the laser control layers 526a to 526c of the DFB laser 506.

ここで、チャネル1とチャネル2とを1msごとに切替えた場合、本制御方法では、切り替え時間は2μsであった。本制御方法においては、1.の熱補償を行わない場合及び2.従来の方法により熱補償を行った場合に対して、著しい切り替え時間の短縮を図ることができた。今回は6アレイの場合に関して記述したが、アレイ数が6以外の場合でも効果があるのは言うまでもない。   Here, when the channel 1 and the channel 2 are switched every 1 ms, in this control method, the switching time is 2 μs. In this control method, When no thermal compensation is performed and 2. Compared with the case where the thermal compensation is performed by the conventional method, the switching time can be remarkably shortened. Although the case of 6 arrays has been described this time, it goes without saying that it is effective even when the number of arrays is other than 6.

[実施例3]
図9は、本発明の実施例3にかかるレーザアレイ900を示す上面図である。レーザアレイ900は、電流制御型の波長可変レーザアレイであるTDA−DFBレーザアレイであり、半導体基板910と、半導体基板910上に設けられたレーザ活性層911a〜911c、912a〜912cと、半導体基板910上に設けられたレーザ制御層921a〜921c、922a〜922cとを備える。レーザ活性層911a〜911cとレーザ制御層921a〜921cとは、それぞれが基板上に設けられ、半導体基板910上において交互に配置されDFBレーザ901を形成する。レーザ活性層912a〜912cとレーザ制御層922a〜922cとについても、半導体基板910上において交互に配置されDFBレーザ902を形成する。DFBレーザ901及び902は、並列に配置されている。
[Example 3]
FIG. 9 is a top view showing a laser array 900 according to Embodiment 3 of the present invention. The laser array 900 is a TDA-DFB laser array that is a current-controlled tunable laser array, and includes a semiconductor substrate 910, laser active layers 911a to 911c and 912a to 912c provided on the semiconductor substrate 910, and a semiconductor substrate. 910 includes laser control layers 921a to 921c and 922a to 922c provided on 910. The laser active layers 911 a to 911 c and the laser control layers 921 a to 921 c are provided on the substrate, and are alternately arranged on the semiconductor substrate 910 to form the DFB laser 901. The laser active layers 912 a to 912 c and the laser control layers 922 a to 922 c are also alternately arranged on the semiconductor substrate 910 to form the DFB laser 902. The DFB lasers 901 and 902 are arranged in parallel.

また、レーザアレイ900は、レーザアレイの熱補償用ヒータ931a〜931c、932a〜932c、933a〜933cと、レーザ活性層911a〜911c、912a〜912cとそれぞれ接続された電極941、942と、レーザ制御層921a〜921c、92a〜922cとそれぞれ接続された電極951、952と、熱補償用ヒータ931a〜933cとそれぞれ接続された電極961〜963と、電極941、942に接続されたDAコンバータ991、992と、電極951、952、961〜963にそれぞれ接続されたDAコンバータ971〜975と、DAコンバータ991、992、971〜975に接続された制御装置990とを備える。レーザ活性層911a〜911cはDAコンバータ991から電極941を介して制御装置990からの信号が変換された電流が印加されレーザ光を発振する。レーザ活性層912a〜912cもDAコンバータ992から電極942を介して制御装置990からの信号が変換された電流が印加されレーザ光を発振する。   The laser array 900 includes laser array heat compensation heaters 931a to 931c, 932a to 932c, 933a to 933c, electrodes 941 and 942 connected to the laser active layers 911a to 911c and 912a to 912c, respectively, and laser control. Electrodes 951 and 952 connected to the layers 921a to 921c and 92a to 922c, electrodes 961 to 963 connected to the heat compensation heaters 931a to 933c, respectively, and DA converters 991 and 992 connected to the electrodes 941 and 942 And DA converters 971 to 975 connected to electrodes 951, 952, and 961 to 963, respectively, and a control device 990 connected to DA converters 991, 992, and 971 to 975. The laser active layers 911 a to 911 c oscillate laser light when a current converted from a signal from the control device 990 is applied from the DA converter 991 through the electrode 941. The laser active layers 912a to 912c also oscillate laser light when a current converted from a signal from the control device 990 is applied from the DA converter 992 through the electrode 942.

レーザ制御層921a〜921cはDAコンバータ971から電極951を介して、制御装置990からの信号が変換された電流が印加され、屈折率を変化させることにより出力光の波長が制御される。レーザ制御層922a〜922cもDAコンバータ972から電極952を介して、制御装置990からの信号が変換された電流が印加され、屈折率を変化させることにより出力光の波長が制御される。熱補償用ヒータ931a〜933cは、それぞれDAコンバータ973〜975から電極961〜963を介して、制御装置990からの信号が変換された電流が印加され、各DFBレーザの温度変化を抑制する。   The laser control layers 921a to 921c are applied with a current converted from a signal from the control device 990 from the DA converter 971 through the electrode 951, and the wavelength of the output light is controlled by changing the refractive index. The laser control layers 922a to 922c are also applied with a current converted from the signal from the control device 990 from the DA converter 972 via the electrode 952, and the wavelength of the output light is controlled by changing the refractive index. The heat compensation heaters 931a to 933c are each applied with a current converted from a signal from the control device 990 from the DA converters 973 to 975 via the electrodes 961 to 963, and suppress the temperature change of each DFB laser.

また、レーザアレイ900は、各DFBレーザからの出力光を導波する導波路981、982と、導波路981、982を導波した出力光を合波する光結合器であるMMI(多モード干渉)カプラ983と、最終段で出力光の強度を調整するSOA(半導体増幅器)984と、SOA984からの出力光を導波して出力する導波路985と、SOA984に接続された電極964とを備える。各DFBレーザの発振光は、後段に配置された導波路981、982を介してMMIカプラ983により1つに合波され、SOA984を経た後に、出力光として導波路985から出力される。SOA984は、電極964を介して、外部から電流が供給される。   The laser array 900 includes waveguides 981 and 982 that guide the output light from each DFB laser, and an MMI (multimode interference) that is an optical coupler that combines the output light guided through the waveguides 981 and 982. ) A coupler 983, an SOA (semiconductor amplifier) 984 that adjusts the intensity of output light at the final stage, a waveguide 985 that guides and outputs the output light from the SOA 984, and an electrode 964 connected to the SOA 984. . The oscillation light of each DFB laser is combined into one by the MMI coupler 983 via the waveguides 981 and 982 disposed in the subsequent stage, and after passing through the SOA 984, is output from the waveguide 985 as output light. The SOA 984 is supplied with current from the outside via the electrode 964.

次に、本実施例におけるレーザアレイの発振光の波長制御の方法について、説明する。TDA−DFBレーザアレイにおいて、波長を変更する場合、1のDFBレーザから他のDFBレーザに切り替えることにより発振光の波長を可変制御する。このとき切替先のDFBレーザの近辺の熱補償用ヒータに予め電流を印加する。具体的には、複数のDFBレーザのうち1つである第1のDFBレーザの動作中に、動作中の第1のDFBレーザの次に動作する第2のDFBレーザのレーザ制御層と、第2のDFBレーザのレーザ制御層に隣接する少なくとも1つの熱補償用ヒータに対して、制御装置990が、DAコンバータから電流を印加することにより、第2のDFBレーザの熱補償を行う。   Next, a method for controlling the wavelength of the oscillation light of the laser array in this embodiment will be described. When changing the wavelength in the TDA-DFB laser array, the wavelength of the oscillation light is variably controlled by switching from one DFB laser to another DFB laser. At this time, a current is applied in advance to the heat compensation heater in the vicinity of the DFB laser to be switched to. Specifically, during the operation of the first DFB laser that is one of the plurality of DFB lasers, the laser control layer of the second DFB laser that operates next to the operating first DFB laser, The controller 990 applies a current from a DA converter to at least one heat compensation heater adjacent to the laser control layer of the second DFB laser to perform heat compensation of the second DFB laser.

一つ一つの熱補償用ヒータには、DAコンバータから出力する電流を印加する。ここで、レーザ制御層及び熱補償用ヒータに印加する電流は、DAコンバータから出力された後に増幅器により増幅することもなく、また、DAコンバータは増幅器を内蔵していないため、レーザ制御層に印加する電流は最大でも20mA程度である。2のDFBレーザのレーザ制御層及び熱補償用ヒータに印加する電流値の合計は、切替先のDFBレーザの活性層に印加するよりも低い。   A current output from the DA converter is applied to each heat compensation heater. Here, the current applied to the laser control layer and the heat compensation heater is not amplified by the amplifier after being output from the DA converter, and since the DA converter does not have an amplifier built-in, it is applied to the laser control layer. The maximum current is about 20 mA. The sum of the current values applied to the laser control layer and the heat compensation heater of the DFB laser of 2 is lower than that applied to the active layer of the DFB laser at the switching destination.

切替先のDFBレーザ周辺の熱補償用ヒータに予め電流を印加することにより、DFBレーザにおいて発生する発熱量を波長切替前後において一定とすることができるため、半導体基板における温度変化を抑制し、温度変化による屈折率変化を抑制する。   By applying a current in advance to the heat compensation heater around the switching destination DFB laser, the amount of heat generated in the DFB laser can be made constant before and after the wavelength switching. Suppresses changes in refractive index due to changes.

ここで、本発明のレーザアレイの発振光の周波数制御の例と、レーザアレイの熱補償を行わない場合及び従来技術により熱補償を行った例とを比較して説明する。   Here, an example of the frequency control of the oscillation light of the laser array of the present invention will be described in comparison with the case where the thermal compensation of the laser array is not performed and the example where the thermal compensation is performed by the conventional technique.

1.熱補償を行わない場合
図10は、図9のレーザアレイ900における、熱補償を行わない場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置990は、DFBレーザ901のレーザ活性層911a〜911cに70mAの電流を流し、DFBレーザ901のレーザ制御層921a〜921cに10mAの電流を印加する(チャネル1)。このときのDFBレーザ901の発振周波数は190.1THzであった。次に、制御装置990は、DFBレーザ902のレーザ活性層912a〜912cに70mAの電流を流し、DFBレーザ902のレーザ制御層922a〜922cに15mAの電流を印加する(チャネル2)。このときのDFBレーザ902の発振周波数は194.2THzであった。
1. When Thermal Compensation is not Performed FIG. 10 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer when thermal compensation is not performed in the laser array 900 of FIG. First, the control device 990 applies a current of 70 mA to the laser active layers 911a to 911c of the DFB laser 901, and applies a current of 10 mA to the laser control layers 921a to 921c of the DFB laser 901 (channel 1). At this time, the oscillation frequency of the DFB laser 901 was 190.1 THz. Next, the control device 990 applies a current of 70 mA to the laser active layers 912a to 912c of the DFB laser 902, and applies a current of 15 mA to the laser control layers 922a to 922c of the DFB laser 902 (channel 2). At this time, the oscillation frequency of the DFB laser 902 was 194.2 THz.

ここで、DFBレーザ901への電流印加(チャネル1)とDFBレーザ902への電流印加(チャネル2)とを1msごとに切替え、切替えたときから目標周波数の10GHz内に入った時間を切り替え時間と定義した場合、本制御方法では、切り替え時間は13μsであった。   Here, the current application to the DFB laser 901 (channel 1) and the current application to the DFB laser 902 (channel 2) are switched every 1 ms, and the time within 10 GHz of the target frequency after the switching is defined as the switching time. When defined, in this control method, the switching time was 13 μs.

2.従来技術による熱補償を行った場合
図11は、図9のレーザアレイ900における、従来技術により熱補償を行った場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置990は、DFBレーザ901のレーザ活性層911a〜911cに70mAの電流を印加し、DFBレーザ901のレーザ制御層921a〜921cに10mAの電流を印加する(チャネル1)。ここで、DFBレーザ901の次に電流印加を行うDFBレーザ902の熱補償を行うために、制御装置990は、DFBレーザ902のレーザ制御層922a〜922cに対し、予め電流を印加する。この場合に印加する電流値は、DFBレーザ902のレーザ制御層912a〜912cに印加する予定の電流70mAと、レーザ制御層922a〜922cに印加する予定の電流15mAとの合計値85mAである。本方法においてはレーザ制御層に85mAの電流を印加しているが、85mAもの電流をレーザ制御層に印加する場合、レーザ制御層に接続されたDAコンバータのみからの出力電流だけでは足りず、DAコンバータの後段に増幅器を置いて電流を増幅しなければならない。
2. FIG. 11 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer in the laser array 900 of FIG. 9 when the thermal compensation is performed according to the conventional technique. First, the control device 990 applies a current of 70 mA to the laser active layers 911a to 911c of the DFB laser 901, and applies a current of 10 mA to the laser control layers 921a to 921c of the DFB laser 901 (channel 1). Here, in order to perform thermal compensation of the DFB laser 902 that applies current next to the DFB laser 901, the control device 990 applies a current to the laser control layers 922a to 922c of the DFB laser 902 in advance. The current value applied in this case is a total value of 85 mA of the current 70 mA to be applied to the laser control layers 912 a to 912 c of the DFB laser 902 and the current 15 mA to be applied to the laser control layers 922 a to 922 c. In this method, a current of 85 mA is applied to the laser control layer, but when a current of 85 mA is applied to the laser control layer, the output current from only the DA converter connected to the laser control layer is not sufficient. An amplifier must be placed after the converter to amplify the current.

次に、制御装置990は、DFBレーザ902のレーザ活性層912a〜912cに70mAの電流を流し、DFBレーザ902のレーザ制御層922a〜922cに15mAの電流を印加する(チャネル2)。ここで、DFBレーザ902の次に電流印加を行うDFBレーザ901の熱補償を行うために、制御装置990は、DFBレーザ901のレーザ制御層921a〜921cに対し、予め電流を印加する。この場合に印加する電流値は、DFBレーザ901のレーザ制御層911a〜911cに印加する予定の電流70mAと、レーザ制御層921a〜921cに印加する予定の電流10mAとの合計値80mAである。   Next, the control device 990 applies a current of 70 mA to the laser active layers 912a to 912c of the DFB laser 902, and applies a current of 15 mA to the laser control layers 922a to 922c of the DFB laser 902 (channel 2). Here, in order to perform thermal compensation of the DFB laser 901 that applies current next to the DFB laser 902, the control device 990 applies a current to the laser control layers 921a to 921c of the DFB laser 901 in advance. The current value applied in this case is a total value of 80 mA of the current 70 mA to be applied to the laser control layers 911 a to 911 c of the DFB laser 901 and the current 10 mA to be applied to the laser control layers 921 a to 921 c.

ここで、チャネル1とチャネル2とを1msごとに切替えた場合、本制御方法では、切り替え時間は11μsであった。   Here, when the channel 1 and the channel 2 are switched every 1 ms, in this control method, the switching time is 11 μs.

3.本発明による熱補償を行った場合
図12は、図9のレーザアレイ900における、本発明にかかる方法により熱補償を行った場合のレーザ活性層及びレーザ制御層の設定電流である。まず、制御装置990は、DFBレーザ901のレーザ活性層911a〜911cに70mAの電流を流し、DFBレーザ901のレーザ制御層921a〜921cに10mAの電流を印加する(チャネル1)。ここで、DFBレーザ902の熱補償を行うために、制御装置990は、DFBレーザ902の脇に配置されている熱補償用ヒータ932a〜932c、933a〜933cに予め電流を印加する。本実施例では、実施例1及び2と異なり各DFBレーザのレーザ制御層に電流を印加するものではなく、熱補償用ヒータに電流を印加するものであるが、熱補償用ヒータは熱発生効率が4倍であるため、レーザ制御層に印加する電流よりも少量の電流で効果を発揮する。本方法においては、熱補償用ヒータに11.25mAの電流を印加しているが、11.25mAの電流を熱補償用ヒータに印加する場合、熱補償用ヒータに接続されたDAコンバータから直接印加することができるため、DAコンバータ後段には増幅器は必要ない。
3. When Thermal Compensation is Performed According to the Present Invention FIG. 12 shows set currents of the laser active layer and the laser control layer when the thermal compensation is performed by the method according to the present invention in the laser array 900 of FIG. First, the control device 990 applies a current of 70 mA to the laser active layers 911a to 911c of the DFB laser 901, and applies a current of 10 mA to the laser control layers 921a to 921c of the DFB laser 901 (channel 1). Here, in order to perform thermal compensation of the DFB laser 902, the control device 990 applies a current in advance to the heaters 932 a to 932 c and 933 a to 933 c arranged on the side of the DFB laser 902. In this embodiment, unlike the first and second embodiments, a current is not applied to the laser control layer of each DFB laser, but a current is applied to the heat compensation heater. Is 4 times, the effect is exhibited with a smaller amount of current than that applied to the laser control layer. In this method, a current of 11.25 mA is applied to the heat compensation heater, but when a current of 11.25 mA is applied to the heat compensation heater, it is directly applied from the DA converter connected to the heat compensation heater. Therefore, an amplifier is not required after the DA converter.

次に、制御装置990は、DFBレーザ902のレーザ活性層912a〜912cに70mAの電流を流し、DFBレーザ902のレーザ制御層922a〜922cに20mAの電流を印加する(チャネル2)。ここで、DFBレーザ901の熱補償を行うために、制御装置990は、DFBレーザ901の脇に配置されている熱補償用ヒータ931a〜931c、932a〜932cに予め電流を印加する。本方法においては、熱補償用ヒータ931a〜931c、932a〜932cに10mAの電流を印加している。   Next, the control device 990 applies a current of 70 mA to the laser active layers 912a to 912c of the DFB laser 902, and applies a current of 20 mA to the laser control layers 922a to 922c of the DFB laser 902 (channel 2). Here, in order to perform heat compensation of the DFB laser 901, the control device 990 applies a current in advance to the heat compensation heaters 931a to 931c and 932a to 932c arranged on the side of the DFB laser 901. In this method, a current of 10 mA is applied to the heat compensation heaters 931a to 931c and 932a to 932c.

ここで、チャネル1とチャネル2とを1msごとに切替えた場合、本制御方法では、切り替え時間は1μsであった。本制御方法においては、1.の熱補償を行わない場合及び2.従来の方法により熱補償を行った場合に対して、著しい切り替え時間の短縮を図ることができた。今回は2アレイの場合に関して記述したが、アレイ数が2以外の場合でも効果があるのは言うまでもない。   Here, when the channel 1 and the channel 2 are switched every 1 ms, in this control method, the switching time is 1 μs. In this control method, When no thermal compensation is performed and 2. Compared with the case where the thermal compensation is performed by the conventional method, the switching time can be remarkably shortened. Although the case of two arrays has been described this time, it goes without saying that it is effective even when the number of arrays is other than two.

100、500、900 レーザアレイ
101〜106 DBRレーザ
501〜506、901、902 DFBレーザ
110、510、910 半導体基板
111a〜116c、511a〜516c、911a〜911c、912a〜912c レーザ活性層
121a〜126c、521a〜526c、921a〜921c、922a〜922c レーザ制御層
131〜137、141〜146、531〜537、541〜546、941、942、951、952、961〜964 電極
151〜156、171〜176、551〜556、571〜576、971〜975、991、992 DAコンバータ
161〜166、169、561〜566、569、981、982、985 導波路
167、567、983 MMIカプラ
168、568 SOA
170、570、990 制御装置
931a〜931c、932a〜932c、933a〜933c 熱補償用ヒータ
100, 500, 900 Laser array 101-106 DBR laser 501-506, 901, 902 DFB laser 110, 510, 910 Semiconductor substrate 111a-116c, 511a-516c, 911a-911c, 912a-912c Laser active layer 121a-126c, 521a to 526c, 921a to 921c, 922a to 922c Laser control layers 131 to 137, 141 to 146, 531 to 537, 541 to 546, 941, 942, 951, 952, 961 to 964 Electrodes 151 to 156, 171 to 176, 551-556, 571-576, 971-975, 991, 992 DA converter 161-166, 169, 561-566, 569, 981, 982, 985 Waveguides 167, 567, 983 MMI couplers 168, 568 SOA
170, 570, 990 Controllers 931a to 931c, 932a to 932c, 933a to 933c Heat compensation heater

Claims (3)

活性層と、制御層とを有する電流制御型の複数の波長可変レーザと、前記活性層及び前記制御層のそれぞれに接続された複数のDAコンバータと、前記複数のDAコンバータに接続された制御装置とを備え、前記複数の波長可変レーザを切り替えて出力波長を可変制御する、波長可変レーザアレイの波長を制御する方法であって、
前記複数の波長可変レーザのうち第1の波長可変レーザの動作中に、前記第1の波長可変レーザの次に動作する第2の波長可変レーザの制御層と、前記第2の波長可変レーザに隣接する少なくとも1つの第3の波長可変レーザの制御層とに対して、DAコンバータから電流を印加することにより波長可変レーザの熱補償を行う
ことを特徴とする方法。
A plurality of current-controlled wavelength tunable lasers having an active layer and a control layer; a plurality of DA converters connected to each of the active layer and the control layer; and a control device connected to the plurality of DA converters A method for controlling the wavelength of the wavelength tunable laser array, wherein the output wavelength is variably controlled by switching the plurality of wavelength tunable lasers,
During the operation of the first wavelength tunable laser among the plurality of wavelength tunable lasers, the control layer of the second wavelength tunable laser that operates next to the first wavelength tunable laser, and the second wavelength tunable laser A method of performing thermal compensation of a wavelength tunable laser by applying a current from a DA converter to at least one adjacent control layer of a third wavelength tunable laser.
前記第3の波長可変レーザにさらに隣接する第4の波長可変レーザの制御領域に対して、DAコンバータから電流を印加して波長可変レーザの熱補償を行うことを特徴とする請求項1に記載の方法。   2. The thermal compensation of the wavelength tunable laser is performed by applying a current from a DA converter to a control region of the fourth wavelength tunable laser further adjacent to the third wavelength tunable laser. the method of. 前記第2の波長可変レーザの制御領域に隣接して形成される少なくとも1つの熱補償用ヒータに対して、DAコンバータから電流を印加することにより波長可変レーザの熱補償を行うことを特徴とする請求項1に記載の方法。   Thermal compensation of the wavelength tunable laser is performed by applying a current from a DA converter to at least one thermal compensation heater formed adjacent to the control region of the second wavelength tunable laser. The method of claim 1.
JP2014089181A 2014-04-23 2014-04-23 Wavelength-variable laser array and wavelength control method for wavelength-variable laser array Pending JP2015207738A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014089181A JP2015207738A (en) 2014-04-23 2014-04-23 Wavelength-variable laser array and wavelength control method for wavelength-variable laser array

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014089181A JP2015207738A (en) 2014-04-23 2014-04-23 Wavelength-variable laser array and wavelength control method for wavelength-variable laser array

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015207738A true JP2015207738A (en) 2015-11-19

Family

ID=54604306

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014089181A Pending JP2015207738A (en) 2014-04-23 2014-04-23 Wavelength-variable laser array and wavelength control method for wavelength-variable laser array

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2015207738A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017228564A (en) * 2016-06-20 2017-12-28 日本電信電話株式会社 Variable wavelength semiconductor laser array and control method of variable wavelength semiconductor laser array
US11070027B2 (en) 2016-05-16 2021-07-20 Mitsubishi Electric Corporation Variable wavelength light source and method for controlling wavelength switching of variable wavelength light source

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07249818A (en) * 1994-03-08 1995-09-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Frequency stabilization method of frequency-variable semiconductor laser
JP2005101039A (en) * 2003-09-22 2005-04-14 Furukawa Electric Co Ltd:The Variable wavelength laser, variable wavelength laser array element, and control method thereof
JP2008218947A (en) * 2007-03-08 2008-09-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Wavelength tunable semiconductor laser element and control device, and control method
JP2009500833A (en) * 2005-06-30 2009-01-08 インフィネラ コーポレイション Wavelength lock and output control system for multi-channel optical integrated circuits (PICS)
JP2011198903A (en) * 2010-03-18 2011-10-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Method and device for controlling wavelength-variable laser array element

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07249818A (en) * 1994-03-08 1995-09-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Frequency stabilization method of frequency-variable semiconductor laser
JP2005101039A (en) * 2003-09-22 2005-04-14 Furukawa Electric Co Ltd:The Variable wavelength laser, variable wavelength laser array element, and control method thereof
JP2009500833A (en) * 2005-06-30 2009-01-08 インフィネラ コーポレイション Wavelength lock and output control system for multi-channel optical integrated circuits (PICS)
JP2008218947A (en) * 2007-03-08 2008-09-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Wavelength tunable semiconductor laser element and control device, and control method
JP2011198903A (en) * 2010-03-18 2011-10-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Method and device for controlling wavelength-variable laser array element

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11070027B2 (en) 2016-05-16 2021-07-20 Mitsubishi Electric Corporation Variable wavelength light source and method for controlling wavelength switching of variable wavelength light source
JP2017228564A (en) * 2016-06-20 2017-12-28 日本電信電話株式会社 Variable wavelength semiconductor laser array and control method of variable wavelength semiconductor laser array

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7656911B2 (en) External resonator type wavelength-variable laser
JP5737777B2 (en) Method and apparatus for controlling wavelength tunable laser array element
JP6522772B2 (en) Independent control of oscillation wavelength and output power of semiconductor laser
JP2009026996A (en) Method of controlling semiconductor laser
US20180287343A1 (en) Laser with sampled grating distributed bragg reflector
JP2015012093A (en) Optical semiconductor element
JP6186864B2 (en) Semiconductor laser
JP2011108896A (en) Semiconductor laser device
US20190296517A1 (en) Laser with a controllable output wavelength
Kanai et al. High-accuracy, sub-μs wavelength switching with thermal drift suppression in tunable distributed amplification (TDA-) DFB laser array
JP2015207738A (en) Wavelength-variable laser array and wavelength control method for wavelength-variable laser array
JP2015115411A (en) High-speed wavelength sweep light source
JP2018060974A (en) Semiconductor optical integrated element
JP4864858B2 (en) Tunable laser beam generator
JP5457239B2 (en) Wavelength control method and wavelength control apparatus for optical element
JP6510895B2 (en) Wavelength tunable laser array and wavelength control method for wavelength tunable laser array
JP2014203853A (en) Control method of high-speed wavelength variable laser, and wavelength control device
JP6231934B2 (en) Wavelength control device for tunable laser
JP6730868B2 (en) Tunable semiconductor laser
JP6180666B1 (en) Wavelength variable light source and wavelength switching control method for wavelength variable light source
JP5638676B2 (en) Wavelength control method and wavelength control apparatus for optical element
US11552454B1 (en) Integrated laser source
JP6626412B2 (en) Wavelength tunable semiconductor laser array and method of controlling wavelength tunable semiconductor laser array
JP2012156414A (en) Semiconductor laser element and semiconductor laser device
JP2012222352A (en) Beat signal generating device for use in terahertz system, terahertz system and use of beat signal generating device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160715

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170517

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170530

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170905

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180306