JP2015200880A - Anti-reflection film, polarizing plate, cover glass, image display device, and manufacturing method for anti-reflection film - Google Patents

Anti-reflection film, polarizing plate, cover glass, image display device, and manufacturing method for anti-reflection film Download PDF

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PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an anti-reflection film having a moth-eye structure which has high pencil hardness and prevents particles from dropping out therefrom when stress is applied thereto.SOLUTION: An anti-reflection film comprises a base material and an anti-reflection layer containing a binder resin that contains at least one of a structure derived from (B) below and a structure derived from (C) below and has a moth-eye structure comprising a concavo-convex pattern formed by metal oxide particles (A) described below on a surface thereof on a side opposite an interface with the base material. (A) metal oxide particles having hydroxyl groups on surfaces thereof and having an average primary diameter of 50 to 380 nm, inclusive. (B) a compound having a polymerizable group comprising a (meth)acryloyl group, or a polymerizable group other than a (meth)acryloyl group constituted only of atoms selected from a group of a hydrogen atom, carbon atom, nitrogen atom, and oxygen atom. (C) a compound having a (meth)acryloyl group and a silicon atom directly bonded with at least one of a hydroxyl group and hydrolyzable group.

Description

本発明は、反射防止フィルム、偏光板、カバーガラス、及び画像表示装置、並びに反射防止フィルムの製造方法に関する。   The present invention relates to an antireflection film, a polarizing plate, a cover glass, an image display device, and a method for producing an antireflection film.

陰極管表示装置(CRT)、プラズマディスプレイ(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)、蛍光表示ディスプレイ(VFD)、フィールドエミッションディスプレイ(FED)、及び液晶表示装置(LCD)のような画像表示装置では、表示面での外光の反射によるコントラスト低下や像の映り込みを防止するために反射防止フィルムを設けることがある。また、画像表示装置以外でも反射防止フィルムにより反射防止機能を付与する場合がある。   In image display devices such as cathode ray tube display (CRT), plasma display (PDP), electroluminescence display (ELD), fluorescent display (VFD), field emission display (FED), and liquid crystal display (LCD), An antireflection film may be provided in order to prevent a decrease in contrast and reflection of an image due to reflection of external light on the display surface. In addition to the image display device, an antireflection function may be provided by an antireflection film.

反射防止フィルムとして、基材表面に周期が可視光の波長以下の微細な凹凸形状を有する反射防止フィルム、いわゆるモスアイ(moth eye)構造を有する反射防止フィルムが知られている。モスアイ構造により、擬似的に空気から基材の内部のバルク材料に向かって屈折率が連続的に変化する屈折率傾斜層を作り出し、光の反射を防止することができる。   As an antireflection film, an antireflection film having a fine uneven shape with a period equal to or less than the wavelength of visible light on the surface of the substrate, that is, an antireflection film having a so-called moth eye structure is known. With the moth-eye structure, it is possible to create a refractive index gradient layer in which the refractive index continuously changes from air to the bulk material inside the substrate, thereby preventing light reflection.

モスアイ構造を有する反射防止フィルムとして、特許文献1には、透明樹脂モノマーと微粒子を含有する塗布液を透明基材上に塗布し、硬化して微粒子が分散した透明樹脂を形成し、その後、透明樹脂をエッチングすることにより製造された凹凸構造を有する反射防止フィルムが記載されている。
特許文献2には、基材上に設けた超微粒子含有の硬化バインダー層をドライエッチングすることにより超微粒子を硬化バインダー層の残部で固着させた状態で露出させた反射防止部材が記載されている。
また、特許文献3には、テトラエトキシシランと超微粒子を含む塗布液をガラス基材上に塗布し、焼成することでテトラエトキシシランが分解してできたSiOの薄膜により超微粒子を固着させた反射防止体を製造することが記載されている。
As an antireflection film having a moth-eye structure, Patent Document 1 discloses that a coating liquid containing a transparent resin monomer and fine particles is applied on a transparent substrate and cured to form a transparent resin in which the fine particles are dispersed. An antireflection film having an uneven structure manufactured by etching a resin is described.
Patent Document 2 describes an antireflection member in which ultrafine particles are exposed in a state where they are fixed in the remaining portion of the cured binder layer by dry etching a cured binder layer containing ultrafine particles provided on a substrate. .
In Patent Document 3, a coating liquid containing tetraethoxysilane and ultrafine particles is applied onto a glass substrate and baked to fix ultrafine particles with a thin SiO 2 film formed by decomposition of tetraethoxysilane. Manufacturing an antireflection body is described.

特開2009−139796号公報JP 2009-139796 A 特開平7−104103号公報JP-A-7-104103 特開平5−13021号公報Japanese Patent Laid-Open No. 5-13021

しかしながら、特許文献1〜3に記載された反射防止部材は、粒子により形成されているモスアイ構造に強い応力を付与すると粒子が脱落するという問題が発生することが分かった。   However, it has been found that the antireflection members described in Patent Documents 1 to 3 have a problem that the particles fall off when a strong stress is applied to the moth-eye structure formed by the particles.

本発明の課題は、表面にモスアイ構造を有する反射防止フィルムにおいて、モスアイ構造の鉛筆硬度が高く、かつモスアイ構造に強い応力を付与しても粒子が脱落しない反射防止フィルムを提供することにある。また、本発明の別の課題は、この反射防止フィルムを含む偏光板、カバーガラス、及び画像表示装置、並びに反射防止フィルムの製造方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an antireflection film having a moth-eye structure on the surface, which has a high pencil hardness of the moth-eye structure and does not drop particles even when a strong stress is applied to the moth-eye structure. Another object of the present invention is to provide a polarizing plate, a cover glass, an image display device, and a method for producing the antireflection film including the antireflection film.

本発明者らは、鋭意検討の結果、モスアイ構造を有する反射防止層を形成するための材料として特定の成分を用いることで上記課題を解決できることを見出した。
すなわち、本発明は下記構成である。
As a result of intensive studies, the present inventors have found that the above problem can be solved by using a specific component as a material for forming an antireflection layer having a moth-eye structure.
That is, the present invention has the following configuration.

[1]
基材と、
下記(A)、(B)及び(C)を含有する反射防止層形成用組成物から形成された反射防止層と
を有する反射防止フィルムであって、
上記反射防止層は、下記(B)に由来する構造及び下記(C)に由来する構造の少なくとも1種を含むバインダー樹脂を含み、かつ上記基材側の界面とは反対側の表面に下記(A)の金属酸化物粒子により形成された凹凸形状からなるモスアイ構造を有し、
上記反射防止層の凹凸形状は、隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、上記隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとの比であるB/Aが0.5以上である、反射防止フィルム。
(A)表面にヒドロキシル基を有する平均一次粒径が50nm以上380nm以下の金属酸化物粒子。
(B)重合性基として(メタ)アクリロイル基、又は、水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成される(メタ)アクリロイル基以外の重合性基を有し、1分子中に3個以上の重合性基を有する重量平均分子量1000以下の化合物。
(C)(メタ)アクリロイル基を有し、かつヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子を有する重量平均分子量300以上1000以下の化合物。
[2]
上記化合物(C)が、上記(メタ)アクリロイル基中のカルボニル基を構成する炭素原子と、上記ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子との間に、炭素原子を4つ以上有する化合物である、[1]に記載の反射防止フィルム。
[3]
上記化合物(C)の上記ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子の数に対する上記(メタ)アクリロイル基の数の比が1.1以上3.0以下である、[1]又は[2]に記載の反射防止フィルム。
[4]
上記化合物(C)が、上記(メタ)アクリロイル基中のカルボニル基を構成する炭素原子と、上記ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子との間に、ウレタン結合を有する化合物である、[1]〜[3]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
[5]
上記(B)の含有質量と上記(C)の含有質量の和に対する上記(C)の含有質量の比が0.2以上0.8以下である[1]〜[4]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
[6]
上記(A)の金属酸化物粒子が、(メタ)アクリロイル基を有する化合物で表面修飾された金属酸化物粒子である[1]〜[5]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
[7]
上記反射防止層形成用組成物において、上記(A)の金属酸化物粒子が上記(C)の化合物で表面修飾されている、[1]〜[5]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。[8]
上記金属酸化物粒子がシリカ粒子である[1]〜[7]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
[9]
上記金属酸化物粒子が焼成シリカ粒子である[1]〜[8]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
[10]
上記基材と上記反射防止層との間にハードコート層を有する[1]〜[9]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
[11]
偏光子と、偏光子を保護する少なくとも1枚の保護フィルムとを有する偏光板であって、保護フィルムの少なくとも1枚が[1]〜[10]のいずれか1項に記載の反射防止フィルムである偏光板。
[12]
[1]〜[10]のいずれか1項に記載の反射防止フィルムを保護フィルムとして有するカバーガラス。
[13]
[1]〜[10]のいずれか1項に記載の反射防止フィルム、又は[11]に記載の偏光板を有する画像表示装置。
[14]
基材と反射防止層とを有する反射防止フィルムの製造方法であって、
上記反射防止層は、上記基材側の界面とは反対側の表面に下記(A)の金属酸化物粒子により形成された凹凸形状からなるモスアイ構造を有し、
上記反射防止層の凹凸形状は、隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、上記隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとの比であるB/Aが0.5以上であり、
下記(A)、(B)及び(C)を含有する反射防止層形成用組成物を上記基材上に塗布して、下記(B)及び(C)を硬化させる工程を有する、反射防止フィルムの製造方法。
(A)表面にヒドロキシル基を有する平均一次粒径が50nm以上380nm以下の金属酸化物粒子。
(B)1分子中に3個以上の(メタ)アクリロイル基を有する重量平均分子量1000以下の化合物。ただし、上記化合物(B)が(メタ)アクリロイル基以外の重合性基を有する場合は、上記重合性基は、水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成された重合性基である。
(C)(メタ)アクリロイル基を有し、かつヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子を有する重量平均分子量300以上1000以下の化合物。
[1]
A substrate;
An antireflection film having an antireflection layer formed from the composition for forming an antireflection layer containing the following (A), (B) and (C),
The antireflection layer includes a binder resin including at least one of a structure derived from the following (B) and a structure derived from the following (C), and the following (on the surface opposite to the interface on the substrate side) ( A) having a moth-eye structure composed of irregularities formed of metal oxide particles of A),
The concave-convex shape of the antireflection layer is such that B / A, which is a ratio of the distance A between the apexes of adjacent convex portions and the distance B between the centers of the adjacent convex portions and the concave portions, is 0.5 or more. An anti-reflection film.
(A) Metal oxide particles having a hydroxyl group on the surface and an average primary particle size of 50 nm or more and 380 nm or less.
(B) having a polymerizable group other than a (meth) acryloyl group composed of only a (meth) acryloyl group or an atom selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom as a polymerizable group; A compound having a weight average molecular weight of 1000 or less and having 3 or more polymerizable groups in the molecule.
(C) A compound having a (meth) acryloyl group and having a silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded, having a weight average molecular weight of 300 to 1,000.
[2]
The compound (C) is a carbon atom between a carbon atom constituting the carbonyl group in the (meth) acryloyl group and a silicon atom to which at least one of the hydroxyl group and the hydrolyzable group is directly bonded. The antireflective film according to [1], which is a compound having 4 or more.
[3]
The ratio of the number of (meth) acryloyl groups to the number of silicon atoms to which at least one of the hydroxyl group and hydrolyzable group of the compound (C) is directly bonded is 1.1 or more and 3.0 or less, The antireflection film according to [1] or [2].
[4]
The compound (C) is a urethane bond between the carbon atom constituting the carbonyl group in the (meth) acryloyl group and the silicon atom to which at least one of the hydroxyl group and the hydrolyzable group is directly bonded. The antireflection film according to any one of [1] to [3], wherein the antireflection film is a compound having:
[5]
Any one of [1] to [4], wherein the ratio of the mass of (C) to the sum of the mass of (B) and the mass of (C) is 0.2 or more and 0.8 or less. The antireflection film as described in 1.
[6]
The antireflection film according to any one of [1] to [5], wherein the metal oxide particles (A) are metal oxide particles whose surfaces are modified with a compound having a (meth) acryloyl group.
[7]
The antireflection layer according to any one of [1] to [5], wherein in the composition for forming an antireflection layer, the metal oxide particles (A) are surface-modified with the compound (C). the film. [8]
The antireflection film according to any one of [1] to [7], wherein the metal oxide particles are silica particles.
[9]
The antireflection film according to any one of [1] to [8], wherein the metal oxide particles are fired silica particles.
[10]
The antireflection film according to any one of [1] to [9], which has a hard coat layer between the substrate and the antireflection layer.
[11]
A polarizing plate having a polarizer and at least one protective film for protecting the polarizer, wherein at least one of the protective films is the antireflection film according to any one of [1] to [10]. A polarizing plate.
[12]
A cover glass having the antireflection film according to any one of [1] to [10] as a protective film.
[13]
The image display apparatus which has an antireflection film of any one of [1]-[10], or a polarizing plate of [11].
[14]
A method for producing an antireflection film having a substrate and an antireflection layer,
The antireflection layer has a moth-eye structure having a concavo-convex shape formed by the metal oxide particles of the following (A) on the surface opposite to the interface on the substrate side,
The concave-convex shape of the antireflection layer is such that B / A, which is a ratio of the distance A between the apexes of adjacent convex portions and the distance B between the centers of the adjacent convex portions and the concave portions, is 0.5 or more. And
The antireflection film which has the process of apply | coating the composition for antireflection layer containing the following (A), (B) and (C) on the said base material, and hardening the following (B) and (C). Manufacturing method.
(A) Metal oxide particles having a hydroxyl group on the surface and an average primary particle size of 50 nm or more and 380 nm or less.
(B) A compound having three or more (meth) acryloyl groups in one molecule and having a weight average molecular weight of 1,000 or less. However, when the compound (B) has a polymerizable group other than the (meth) acryloyl group, the polymerizable group is a polymerization composed only of atoms selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom. Sex group.
(C) A compound having a (meth) acryloyl group and having a silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded, having a weight average molecular weight of 300 to 1,000.

本発明によれば、表面にモスアイ構造を有する反射防止フィルムにおいて、モスアイ構造の鉛筆硬度が高く、かつモスアイ構造に強い応力を付与しても粒子が脱落しない反射防止フィルムを提供することができる。また、本発明によれば、この反射防止フィルムを含む偏光板、カバーガラス、及び画像表示装置、並びに反射防止フィルムの製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the antireflection film which has a moth eye structure on the surface can provide the antireflection film which has high pencil hardness of a moth eye structure, and a particle | grain does not drop even if a strong stress is given to a moth eye structure. Moreover, according to this invention, the polarizing plate containing this antireflection film, a cover glass, an image display apparatus, and the manufacturing method of an antireflection film can be provided.

本発明の反射防止フィルムの一例を示す断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows an example of the antireflection film of this invention.

以下、本発明に係る好ましい実施の形態について詳細に説明する。以下に記載する構成要件の説明は、本発明の代表的な実施態様に基づいてなされることがあるが、本発明はそのような実施態様に限定されるものではない。
本明細書において数値が物性値、特性値等を表す場合に、「(数値1)〜(数値2)」という記載は「(数値1)以上(数値2)以下」の意味を表す。
また、「(メタ)アクリレート」はアクリレート及びメタクリレートの少なくとも一方を表し、「(メタ)アクリル」はアクリル及びメタクリルの少なくとも一方を表し、「(メタ)アクリロイル」は、アクリロイル及びメタクリロイルの少なくとも一方を表す。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail. The description of the constituent elements described below may be made based on typical embodiments of the present invention, but the present invention is not limited to such embodiments.
In the present specification, when a numerical value represents a physical property value, a characteristic value, etc., the description “(numerical value 1) to (numerical value 2)” means “(numerical value 1) or more and (numerical value 2) or less”.
Further, “(meth) acrylate” represents at least one of acrylate and methacrylate, “(meth) acryl” represents at least one of acrylic and methacryl, and “(meth) acryloyl” represents at least one of acryloyl and methacryloyl. .

[反射防止フィルム]
本発明の反射防止フィルムは、
基材と、
下記(A)、(B)及び(C)を含有する反射防止層形成用組成物から形成された反射防止層と
を有する反射防止フィルムであって、
上記反射防止層は、下記(B)に由来する構造及び下記(C)に由来する構造の少なくとも1種を含むバインダー樹脂を含み、かつ上記基材側の界面とは反対側の表面に下記(A)の金属酸化物粒子により形成された凹凸形状からなるモスアイ構造を有し、
上記反射防止層の凹凸形状は、隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、上記隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとの比であるB/Aが0.5以上である、反射防止フィルムである。
(A)表面にヒドロキシル基を有する平均一次粒径が50nm以上380nm以下の金属酸化物粒子。
(B)重合性基として(メタ)アクリロイル基、又は、水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成される(メタ)アクリロイル基以外の重合性基を有し、1分子中に3個以上の重合性基を有する重量平均分子量1000以下の化合物。
(C)(メタ)アクリロイル基を有し、かつヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子を有する重量平均分子量300以上1000以下の化合物。
[Antireflection film]
The antireflection film of the present invention is
A substrate;
An antireflection film having an antireflection layer formed from the composition for forming an antireflection layer containing the following (A), (B) and (C),
The antireflection layer includes a binder resin including at least one of a structure derived from the following (B) and a structure derived from the following (C), and the following (on the surface opposite to the interface on the substrate side) ( A) having a moth-eye structure composed of irregularities formed of metal oxide particles of A),
The concave-convex shape of the antireflection layer is such that B / A, which is a ratio of the distance A between the apexes of adjacent convex portions and the distance B between the centers of the adjacent convex portions and the concave portions, is 0.5 or more. It is an antireflection film.
(A) Metal oxide particles having a hydroxyl group on the surface and an average primary particle size of 50 nm or more and 380 nm or less.
(B) having a polymerizable group other than a (meth) acryloyl group composed of only a (meth) acryloyl group or an atom selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom as a polymerizable group; A compound having a weight average molecular weight of 1000 or less and having 3 or more polymerizable groups in the molecule.
(C) A compound having a (meth) acryloyl group and having a silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded, having a weight average molecular weight of 300 to 1,000.

以下、本発明の反射防止フィルムについて詳細に説明する。   Hereinafter, the antireflection film of the present invention will be described in detail.

本発明の反射防止フィルムの好ましい実施形態の一例を図1に示す。
図1の反射防止フィルム10は、基材1と反射防止層2とを有する。反射防止層2は、基材1側の界面とは反対側の表面に金属酸化物粒子3により形成された凹凸形状からなるモスアイ構造を有する。
反射防止層2は、金属酸化物粒子3と、バインダー樹脂4とを含んでなる。
An example of a preferred embodiment of the antireflection film of the present invention is shown in FIG.
The antireflection film 10 in FIG. 1 has a base material 1 and an antireflection layer 2. The antireflection layer 2 has a moth-eye structure having a concavo-convex shape formed by metal oxide particles 3 on the surface opposite to the interface on the substrate 1 side.
The antireflection layer 2 includes metal oxide particles 3 and a binder resin 4.

(モスアイ構造)
本発明の反射防止フィルムの基材上の一方、または両面に設けた反射防止層は、(A)の金属酸化物粒子によって形成された凹凸形状からなるモスアイ構造を有する。
ここで、モスアイ構造とは、光の反射を抑制するための物質(材料)の加工された表面であって、周期的な微細構造パターンをもった構造のことを指す。特に、可視光の反射を抑制する目的の場合には、780nm未満の周期の微細構造パターンをもった構造のことを指す。微細構造パターンの周期が380nm未満であると、反射光の色味がなくなり好ましい。また、周期が100nm以上であると波長380nmの光が微細構造パターンを認識でき、反射防止性に優れるため好ましい。モスアイ構造の有無は、走査型電子顕微鏡(SEM)、原子間力顕微鏡(AFM)等により表面形状を観察し、上記微細構造パターンが出来ているかどうか調べることによって確認することができる。
(Moth eye structure)
The antireflection layer provided on one side or both sides of the base material of the antireflection film of the present invention has a moth-eye structure having a concavo-convex shape formed by the metal oxide particles of (A).
Here, the moth-eye structure is a processed surface of a substance (material) for suppressing light reflection, and refers to a structure having a periodic fine structure pattern. In particular, for the purpose of suppressing the reflection of visible light, it refers to a structure having a fine structure pattern with a period of less than 780 nm. It is preferable that the period of the fine structure pattern is less than 380 nm because the color of the reflected light is eliminated. A period of 100 nm or more is preferable because light with a wavelength of 380 nm can recognize a fine structure pattern and is excellent in antireflection properties. The presence or absence of the moth-eye structure can be confirmed by observing the surface shape with a scanning electron microscope (SEM), an atomic force microscope (AFM), or the like, and examining whether the fine structure pattern is formed.

本発明の反射防止フィルムの反射防止層の凹凸形状は、隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとの比であるB/Aが0.5以上である。B/Aが0.5以上であると、凸部同士の距離に対して凹部の深さが大きくなり、空気から反射防止層内部にかけてより緩やかに屈折率が変化する屈折率傾斜層を作ることができるため、反射率を低減できる。
B/Aは、硬化後の反射防止層におけるバインダー樹脂と金属酸化物粒子の体積比により制御することができる。そのため、バインダー樹脂と金属酸化物粒子の配合比を適切に設計することが重要である。また、バインダー樹脂がモスアイ構造を作製する工程の中で基材に浸透したり、揮発したりすることにより反射防止層におけるバインダー樹脂と金属酸化物粒子の体積比が反射防止層形成用組成物中の配合比と異なる場合もあるため、基材とのマッチングを適切に設定することも重要である。
更に、B/Aを0.5以上にし、反射率を低減させるためには凸部を形成する金属酸化物粒子は均一に、高い充填率で敷き詰められていることが好ましい。また充填率が高すぎないことも重要であり、充填率が高すぎると隣り合う粒子同士が接触して凹凸構造のB/Aを小さくしてしまうためである。上記観点から、凸部を形成する金属酸化物粒子の含有量は、反射防止層全体で均一になるように調整されるのが好ましい。充填率は、SEMなどにより表面から凸部を形成する金属酸化物粒子を観察したときの最も表面側に位置した粒子の面積占有率として測定することができ、30%〜95%が好ましく、40〜90%がより好ましく、50〜85%が更に好ましい。
The concavo-convex shape of the antireflection layer of the antireflection film of the present invention is B / A, which is a ratio of the distance A between the apexes of adjacent convex portions and the distance B between the center and the concave portion between the apexes of adjacent convex portions. Is 0.5 or more. When B / A is 0.5 or more, the depth of the concave portion increases with respect to the distance between the convex portions, and a refractive index gradient layer in which the refractive index changes more gradually from the air to the inside of the antireflection layer is formed. Therefore, the reflectance can be reduced.
B / A can be controlled by the volume ratio of the binder resin and the metal oxide particles in the antireflection layer after curing. Therefore, it is important to appropriately design the blending ratio between the binder resin and the metal oxide particles. Further, the volume ratio of the binder resin and the metal oxide particles in the antireflection layer is increased in the composition for forming the antireflection layer by allowing the binder resin to permeate the substrate or volatilize in the process of producing the moth-eye structure. Therefore, it is also important to set the matching with the base material appropriately.
Furthermore, in order to make B / A 0.5 or more and reduce the reflectance, it is preferable that the metal oxide particles forming the convex portions are uniformly spread with a high filling rate. In addition, it is important that the filling rate is not too high. If the filling rate is too high, adjacent particles come into contact with each other and the B / A of the concavo-convex structure is reduced. From the above viewpoint, it is preferable that the content of the metal oxide particles forming the convex portion is adjusted so as to be uniform throughout the antireflection layer. The filling rate can be measured as the area occupancy of the particles located on the most surface side when observing the metal oxide particles forming the convex portions from the surface by SEM or the like, and is preferably 30% to 95%, -90% is more preferable, and 50-85% is still more preferable.

隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとの比であるB/Aの測定方法について、以下に、より具体的に説明する。
B/Aは、反射防止フィルムの断面SEM観察により測定することができる。反射防止フィルム試料をミクロトームで切削して断面を出し、適切な倍率(5000倍程度)でSEM観察する。観察し易いように、試料にはカーボン蒸着、エッチング等適切な処理を施してもよい。B/Aは、空気と試料が作る界面において、隣り合う凸部の頂点間の距離をA、隣り合う凸部の頂点を含み基材面と垂直な面内にて、隣り合う凸部の頂点を結ぶ直線とその垂直二等分線が粒子またはバインダー樹脂に到達する点である凹部との距離をBとして、100点測長したとき、B/Aの平均値として算出する。
SEM写真においては、写っているすべての凹凸について、隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとを正確に測長できない場合もあるが、その場合はSEM画像で手前側に写っている凸部と凹部に着目して測長すればよい。
なお、凹部は、SEM画像で測長する2つの隣り合う凸部を形成する粒子と同じ深度において測長することが必要である。より手前側に写っている粒子などまでの距離をBとして測長してしまうと、Bを小さく見積もってしまう場合があるからである。
A method for measuring B / A, which is a ratio of the distance A between the apexes of adjacent convex portions and the distance B between the center between the apexes of adjacent convex portions and the concave portion, will be described in more detail below.
B / A can be measured by cross-sectional SEM observation of the antireflection film. The antireflection film sample is cut with a microtome to obtain a cross section, and SEM observation is performed at an appropriate magnification (about 5000 times). For easy observation, the sample may be subjected to appropriate processing such as carbon deposition and etching. B / A is the distance between the vertices of adjacent protrusions at the interface between the air and the sample, and the vertices of adjacent protrusions in the plane perpendicular to the substrate surface including the vertices of the adjacent protrusions. The distance between the straight line connecting the two and the vertical bisector reaching the particle or the binder resin is B, and when 100 points are measured, the average value of B / A is calculated.
In the SEM photograph, there are cases where the distance A between the vertices of the adjacent convex portions and the distance B between the vertices of the adjacent convex portions and the concave portion B cannot be measured accurately with respect to all the projected and recessed portions. However, in that case, the length may be measured by paying attention to the convex portion and the concave portion shown on the near side in the SEM image.
Note that the concave portion needs to be measured at the same depth as the particles forming the two adjacent convex portions to be measured in the SEM image. This is because if the distance to a particle or the like reflected on the near side is measured as B, B may be estimated small.

B/Aは、0.6以上であることが好ましく、0.7以上であることがより好ましく、0.8以上であることが更に好ましい。また、モスアイ構造が強固に固定化でき、耐擦傷性に優れるという観点からは、0.9以下であることが好ましい。   B / A is preferably 0.6 or more, more preferably 0.7 or more, and still more preferably 0.8 or more. Moreover, from the viewpoint that the moth-eye structure can be firmly fixed and has excellent scratch resistance, it is preferably 0.9 or less.

(金属酸化物粒子)
反射防止層のモスアイ構造を形成する金属酸化物粒子について説明する。
反射防止層形成用組成物に含有される(A)の金属酸化物粒子は、表面にヒドロキシル基を有する平均一次粒径が50nm以上380nm以下の金属酸化物粒子である。
なお、出来上がった反射防止層においては、(A)の金属酸化物粒子の表面のヒドロキシル基は(C)の化合物のケイ素原子に直接結合したヒドロキシル基(シラノール基)又はケイ素原子に直接結合した加水分解可能な基が加水分解してできたシラノール基と縮合反応することにより一部又は全部が消失する場合がある。この縮合反応により金属酸化物粒子が(C)の化合物と強固に結合されるため、強い応力を付与しても金属酸化物粒子がより脱落しにくくなるため好ましい。
(Metal oxide particles)
The metal oxide particles forming the moth-eye structure of the antireflection layer will be described.
The metal oxide particles (A) contained in the composition for forming an antireflection layer are metal oxide particles having an average primary particle size having a hydroxyl group on the surface of 50 nm to 380 nm.
In the completed antireflection layer, the hydroxyl group on the surface of the metal oxide particle (A) is a hydroxyl group (silanol group) directly bonded to a silicon atom of the compound (C) or a hydrolyzed bond directly bonded to a silicon atom. A part or all of the decomposable group may disappear due to a condensation reaction with a silanol group formed by hydrolysis. Since the metal oxide particles are strongly bonded to the compound (C) by this condensation reaction, it is preferable because the metal oxide particles are more difficult to fall off even when a strong stress is applied.

(A)の金属酸化物粒子の平均一次粒径は50nm以上380nm以下であり、100nm以上320nm以下であることが好ましく、120nm以上250nm以下であることがより好ましい。金属酸化物粒子の平均一次粒径が50nm以上であると粒子の凝集を抑えることができるので好ましい。また、ヘイズ抑制の観点から380nm以下であると好ましく、300nm以下であることがより好ましく、さらに220nm以下であることが特に好ましい。
金属酸化物粒子の平均一次粒径は、体積平均粒径の累積の50%粒径を指す。反射防止層中に含まれる金属酸化物粒子の平均一次粒径を測定する場合には、電子顕微鏡写真により測定することが出来る。例えば、反射防止フィルムの切片TEM像を撮影し、一次粒子100個のそれぞれの直径を測長してその体積を算出し、体積平均粒径の累積の50%粒径を平均一次粒径とすることができる。粒子が球径でない場合には、長径と短径の平均値をその一次粒子の直径とみなす。
The average primary particle size of the metal oxide particles (A) is from 50 nm to 380 nm, preferably from 100 nm to 320 nm, and more preferably from 120 nm to 250 nm. It is preferable that the average primary particle diameter of the metal oxide particles is 50 nm or more because aggregation of the particles can be suppressed. Further, from the viewpoint of haze suppression, it is preferably 380 nm or less, more preferably 300 nm or less, and particularly preferably 220 nm or less.
The average primary particle size of the metal oxide particles refers to the 50% cumulative particle size of the volume average particle size. When measuring the average primary particle diameter of the metal oxide particles contained in the antireflection layer, it can be measured by an electron micrograph. For example, a section TEM image of the antireflection film is taken, the diameter of each of the 100 primary particles is measured to calculate the volume, and the 50% cumulative particle size of the volume average particle size is defined as the average primary particle size. be able to. When the particle is not a spherical diameter, the average value of the major axis and the minor axis is regarded as the diameter of the primary particle.

本発明において、粒子表面のヒドロキシル基量を次のように定義する。ヒドロキシル基量は、固体29Si NMR(29Si CP/MAS)で測定する。金属酸化物粒子の表面の金属元素Mがn個のヒドロキシル基と結合しているもののシグナル強度をQnとしたとき粒子表面のヒドロキシル基量は、存在するQn×n÷(粒子半径(単位:nm)の二乗)の総和とする。例えば、粒子がシリカ(粒子半径Rとする)の場合は、中性酸素4原子と結合したケイ素(シグナル強度Q0)、中性酸素3原子とヒドロキシル基1つに結合したケイ素(シグナル強度Q1)、中性酸素2原子とヒドロキシル基2つに結合したケイ素(シグナル強度Q2)が存在し、粒子表面のヒドロキシル基量は、(Q1×1+Q2×2)÷Rである。シリカの場合は、シグナル強度Q2を与えるシグナルは−91〜−94ppm、シグナル強度Q1を与えるシグナルは−100〜−102ppm、シグナル強度Q0を与えるシグナルは−109〜−111ppmの化学シフトを有する。
表面にヒドロキシル基が多いほど、反応量が多くなり好ましい。1.00×10−4〜4.00×10−1が好ましく、5.00×10−4〜3.50×10−1がより好ましく、1.00×10−3〜3.00×10−1がさらに好ましい。
In the present invention, the amount of hydroxyl groups on the particle surface is defined as follows. The amount of hydroxyl groups is measured by solid 29 Si NMR ( 29 Si CP / MAS). Although the metal element M on the surface of the metal oxide particle is bonded to n hydroxyl groups, the amount of hydroxyl group on the particle surface is Qn × n ÷ (particle radius (unit: nm ) Squared). For example, when the particle is silica (with a particle radius R), silicon bonded to 4 neutral oxygen atoms (signal intensity Q0), silicon bonded to 3 neutral oxygen atoms and one hydroxyl group (signal intensity Q1) , there silicon bonded to two neutral oxygen 2 atoms and hydroxyl groups (signal intensity Q2) is, the particle surface hydroxyl group content is (Q1 × 1 + Q2 × 2 ) ÷ R 2. In the case of silica, the signal giving signal intensity Q2 has a chemical shift of −91 to −94 ppm, the signal giving signal intensity Q1 has a chemical shift of −100 to −102 ppm, and the signal giving signal intensity Q0 has a chemical shift of −109 to −111 ppm.
The more hydroxyl groups on the surface, the greater the amount of reaction, which is preferable. 1.00 × 10 −4 to 4.00 × 10 −1 is preferable, 5.00 × 10 −4 to 3.50 × 10 −1 is more preferable, and 1.00 × 10 −3 to 3.00 × 10. -1 is more preferable.

(A)の金属酸化物粒子としては、(メタ)アクリロイル基を有する化合物で表面修飾された金属酸化物粒子であることが好ましい。この好ましい態様を第一の態様と呼ぶ。(メタ)アクリロイル基を有する化合物は、(メタ)アクリロイル基を有するシランカップリング剤であることが好ましい。また、表面処理とはシランカップリング処理であることが好ましい。
(メタ)アクリロイル基を有する化合物で表面修飾された金属酸化物粒子を用いることで、(C)の化合物の(メタ)アクリロイル基、及び(B)の化合物の(メタ)アクリロイル基と架橋し、金属酸化物粒子がバインダー樹脂に強固に固定され、得られるモスアイ構造の鉛筆硬度がより高くなり、強い応力を付与しても金属酸化物粒子がより脱落しにくくなるため好ましい。
表面処理方法の具体例及びその好ましい例は、特開2007−298974号公報の[0119]〜[0147]の記載を参照できる。
第一の態様では、(C)の含有量は(A)の含有量に対して質量比で0.01以上6.0以下であることが好ましい。
The metal oxide particles (A) are preferably metal oxide particles that are surface-modified with a compound having a (meth) acryloyl group. This preferred embodiment is referred to as the first embodiment. The compound having a (meth) acryloyl group is preferably a silane coupling agent having a (meth) acryloyl group. The surface treatment is preferably a silane coupling treatment.
By using metal oxide particles surface-modified with a compound having a (meth) acryloyl group, the (meth) acryloyl group of the compound (C) and the (meth) acryloyl group of the compound (B) are cross-linked. Since the metal oxide particles are firmly fixed to the binder resin and the pencil hardness of the resulting moth-eye structure is higher, and even when a strong stress is applied, the metal oxide particles are more difficult to drop off, which is preferable.
For specific examples of the surface treatment method and preferred examples thereof, reference can be made to the descriptions in [0119] to [0147] of JP-A-2007-298974.
In 1st aspect, it is preferable that content of (C) is 0.01 or more and 6.0 or less by mass ratio with respect to content of (A).

また、反射防止層形成用組成物において、(A)の金属酸化物粒子が(C)の化合物で表面修飾されている態様も好ましい。この好ましい態様を第二の態様と呼ぶ。この態様によれば、前述のように、(A)の金属酸化物粒子の表面のヒドロキシル基が(C)の化合物のケイ素原子に直接結合したヒドロキシル基(シラノール基)又はケイ素原子に直接結合した加水分解可能な基が加水分解してできたシラノール基と縮合反応することにより金属酸化物粒子が(C)の化合物と強固に結合される。更に、(A)の金属酸化物粒子の表面に修飾した(C)の化合物の(メタ)アクリロイル基は、(B)の化合物の(メタ)アクリロイル基と架橋するため、金属酸化物粒子がバインダー樹脂に強固に固定され、得られるモスアイ構造の鉛筆硬度がより高くなり、鉛筆硬度試験の後に消しゴムで擦る様な応力付与後の粒子の密着性確認を行っても金属酸化物粒子がより脱落しにくくなるため好ましい。更に、この第二の態様は上記第一の態様に比べて、少ない量の(C)の化合物を用いて、同程度の効果を得ることができるという利点もある。
第二の態様では、(A)の表面に修飾される(C)の含有量は(A)の含有量に対して質量比で0.001以上0.3以下であることが好ましい。
Moreover, in the composition for forming an antireflection layer, an embodiment in which the metal oxide particles (A) are surface-modified with the compound (C) is also preferable. This preferred embodiment is referred to as the second embodiment. According to this aspect, as described above, the hydroxyl group on the surface of the metal oxide particle (A) is directly bonded to the hydroxyl group (silanol group) or silicon atom directly bonded to the silicon atom of the compound (C). When the hydrolyzable group undergoes a condensation reaction with a silanol group formed by hydrolysis, the metal oxide particles are firmly bonded to the compound (C). Further, since the (meth) acryloyl group of the compound (C) modified on the surface of the metal oxide particle (A) is cross-linked with the (meth) acryloyl group of the compound (B), the metal oxide particles are bonded to the binder. The pencil hardness of the resulting moth-eye structure is firmly fixed to the resin, and even after the pencil hardness test, the metal oxide particles fall off more even after checking the adhesion of the particles after applying stress such as rubbing with an eraser. Since it becomes difficult, it is preferable. Further, the second aspect has an advantage that the same effect can be obtained by using a small amount of the compound (C) as compared with the first aspect.
In 2nd aspect, it is preferable that content of (C) modified on the surface of (A) is 0.001 or more and 0.3 or less by mass ratio with respect to content of (A).

金属酸化物粒子としては、シリカ粒子、チタニア粒子、ジルコニア粒子、五酸化アンチモン粒子などが挙げられるが、多くのバインダーと屈折率が近いためヘイズを発生しにくく、かつモスアイ構造が形成し易い観点からシリカ粒子が好ましい。   Examples of the metal oxide particles include silica particles, titania particles, zirconia particles, and antimony pentoxide particles. From the viewpoint that moth-eye structures are easily formed because haze is hardly generated because the refractive index is close to that of many binders. Silica particles are preferred.

金属酸化物粒子は、焼成シリカ粒子であることが特に好ましい。
焼成シリカ粒子は、加水分解が可能なシリコン化合物を水と触媒とを含む有機溶媒中で加水分解、縮合させることによってシリカ粒子を得た後、シリカ粒子を焼成するという公知の技術により製造することができ、たとえば特開2003−176121号公報、特開2008−137854号公報などを参照することができる。
焼成シリカ粒子を製造する原料のシリコン化合物としては特に限定されないが、テトラクロロシラン、メチルトリクロロシラン、フェニルトリクロロシラン、ジメチルジクロロシラン、ジフェニルジクロロシラン、メチルビニルジクロロシラン、トリメチルクロロシラン、メチルジフェニルクロロシラン等のクロロシラン化合物;テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトライソプロポキシシラン、テトラブトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、トリメトキシビニルシラン、トリエトキシビニルシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−(2−アミノエチルアミノ)プロピルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−クロロプロピルメチルジメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン、ジメトキシジエトキシシラン、トリメチルメトキシシラン、トリメチルエトキシシラン等のアルコキシシラン化合物;テトラアセトキシシラン、メチルトリアセトキシシラン、フェニルトリアセトキシシラン、ジメチルジアセトキシシラン、ジフェニルジアセトキシシラン、トリメチルアセトキシシラン等のアシロキシシラン化合物;ジメチルシランジオール、ジフェニルシランジオール、トリメチルシラノール等のシラノール化合物;等が挙げられる。上記例示のシラン化合物のうち、アルコキシシラン化合物が、より入手し易く、かつ、得られる焼成シリカ粒子に不純物としてハロゲン原子が含まれることが無いので特に好ましい。本発明にかかる焼成シリカ粒子の好ましい形態としては、ハロゲン原子の含有量が実質的に0%であり、ハロゲン原子が検出されないことが好ましい。
焼成温度は特に限定されないが、800〜1300℃が好ましく、1000℃〜1200℃がより好ましい。
The metal oxide particles are particularly preferably calcined silica particles.
The calcined silica particles are manufactured by a known technique in which silica particles are obtained by hydrolyzing and condensing a hydrolyzable silicon compound in an organic solvent containing water and a catalyst, and then the silica particles are calcined. For example, JP2003-176121A, JP2008-137854A, and the like can be referred to.
Although it does not specifically limit as a raw material silicon compound which manufactures a burning silica particle, Chlorosilanes, such as tetrachlorosilane, methyltrichlorosilane, phenyltrichlorosilane, dimethyldichlorosilane, diphenyldichlorosilane, methylvinyldichlorosilane, trimethylchlorosilane, methyldiphenylchlorosilane Compounds: tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetraisopropoxysilane, tetrabutoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, trimethoxyvinylsilane, triethoxyvinylsilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-chloro Propyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3- (2-aminoethylamino) propyltrimethoxy Silane, phenyltrimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, 3-chloropropylmethyldimethoxysilane, Alkoxysilane compounds such as diphenyldimethoxysilane, diphenyldiethoxysilane, dimethoxydiethoxysilane, trimethylmethoxysilane, trimethylethoxysilane; tetraacetoxysilane, methyltriacetoxysilane, phenyltriacetoxysilane, dimethyldiacetoxysilane, diphenyldiacetoxysilane Acyloxysilane compounds such as trimethylacetoxysilane; dimethylsilanediol, diphenylsilanediol, tri Silanol compounds such as chill silanol; and the like. Of the above-exemplified silane compounds, the alkoxysilane compound is particularly preferred because it is more easily available and the resulting fired silica particles do not contain halogen atoms as impurities. As a preferred form of the calcined silica particles according to the present invention, it is preferred that the halogen atom content is substantially 0% and no halogen atoms are detected.
Although a calcination temperature is not specifically limited, 800-1300 degreeC is preferable and 1000 degreeC-1200 degreeC is more preferable.

金属酸化物粒子の形状は、球形が最も好ましいが、不定形等の球形以外であっても問題無い。
また、シリカ粒子については、結晶質でも、アモルファスのいずれでもよい。
金属酸化物粒子は市販されている粒子を焼成して用いてもよい。具体的な例としては、IPA−ST−L(平均一次粒径50nm、日産化学工業(株)製シリカゾル)、IPA−ST−ZL(平均一次粒径80nm、日産化学工業(株)製シリカゾル)、スノーテックスMP−1040(平均一次粒径100nm、日産化学工業(株)製シリカ)、スノーテックスMP−2040(平均一次粒径200nm、日産化学工業(株)製シリカ)、シーホスターKE−P10(平均一次粒径150nm、日本触媒(株)製アモルファスシリカ)、シーホスターKE−P20(平均一次粒径200nm、日本触媒(株)製アモルファスシリカ)、ASFP−20(平均一次粒径200nm、日本電気化学工業(株)製アルミナ)などを好ましく用いることができる。さらに本願要件を満たすものであれば、市販されている粒子をそのまま用いても良い。
The shape of the metal oxide particles is most preferably spherical, but there is no problem even if the shape is not spherical such as indefinite.
The silica particles may be either crystalline or amorphous.
The metal oxide particles may be used by firing commercially available particles. As specific examples, IPA-ST-L (average primary particle size 50 nm, silica sol manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.), IPA-ST-ZL (average primary particle size 80 nm, silica sol manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) , Snowtex MP-1040 (average primary particle size 100 nm, silica manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.), Snowtex MP-2040 (average primary particle size 200 nm, silica manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.), Seahoster KE-P10 ( Average primary particle size 150 nm, Nippon Shokubai Co., Ltd. amorphous silica), Seahoster KE-P20 (average primary particle size 200 nm, Nippon Shokubai Co., Ltd. amorphous silica), ASFP-20 (average primary particle size 200 nm, Nippon Electrochemical) (Alumina manufactured by Kogyo Co., Ltd.) and the like can be preferably used. Furthermore, as long as the requirements of the present application are satisfied, commercially available particles may be used as they are.

反射防止層形成用組成物中の全固形分に対する(A)金属酸化物粒子の含有量は、10質量%以上95質量%以下が好ましく、35質量%以上90質量%以下がより好ましく、65質量%以上85質量%以下が更に好ましい。   The content of the metal oxide particles (A) with respect to the total solid content in the composition for forming an antireflection layer is preferably 10% by mass to 95% by mass, more preferably 35% by mass to 90% by mass, and more preferably 65% by mass. % To 85% by mass is more preferable.

(バインダー樹脂)
反射防止層のバインダー樹脂について説明する。
反射防止層のバインダー樹脂は、反射防止層形成用組成物中の下記(B)に由来する構造及び下記(C)に由来する構造の少なくとも1種を含む。
(B)重合性基として(メタ)アクリロイル基、又は、水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成される(メタ)アクリロイル基以外の重合性基を有し、1分子中に3個以上の重合性基を有する重量平均分子量1000以下の化合物。
(C)(メタ)アクリロイル基を有し、かつヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子を有する重量平均分子量300以上1000以下の化合物。
ここで、(B)に由来する構造とは、化合物(B)の重合性基が反応して得られる構造であり、(C)に由来する構造とは、化合物(C)の(メタ)アクリロイル基、ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくともいずれかが反応して得られる構造である。
(Binder resin)
The binder resin for the antireflection layer will be described.
The binder resin of the antireflection layer contains at least one of a structure derived from the following (B) and a structure derived from the following (C) in the composition for forming an antireflection layer.
(B) having a polymerizable group other than a (meth) acryloyl group composed of only a (meth) acryloyl group or an atom selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom as a polymerizable group; A compound having a weight average molecular weight of 1000 or less and having 3 or more polymerizable groups in the molecule.
(C) A compound having a (meth) acryloyl group and having a silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded, having a weight average molecular weight of 300 to 1,000.
Here, the structure derived from (B) is a structure obtained by the reaction of the polymerizable group of compound (B), and the structure derived from (C) is the (meth) acryloyl of compound (C). It is a structure obtained by reacting at least one of a group, a hydroxyl group and a hydrolyzable group.

<化合物(B)>
反射防止層形成用組成物に含有される化合物(B)について説明する。
化合物(B)は、重合性基として(メタ)アクリロイル基、又は、水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成される(メタ)アクリロイル基以外の重合性基を有し、1分子中に3個以上の重合性基を有する重量平均分子量1000以下の化合物である。
水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成される(メタ)アクリロイル基以外の重合性基の具体例としては下記式(Q−1)〜(Q−14)のいずれかで表される基が挙げられるが、これらに限定されない。
<Compound (B)>
The compound (B) contained in the composition for forming an antireflection layer will be described.
Compound (B) has a polymerizable group other than a (meth) acryloyl group or a (meth) acryloyl group composed only of an atom selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom as a polymerizable group. And a compound having 3 or more polymerizable groups in one molecule and having a weight average molecular weight of 1000 or less.
Specific examples of the polymerizable group other than the (meth) acryloyl group composed only of an atom selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom include any of the following formulas (Q-1) to (Q-14). The group represented by these is mentioned, However, It is not limited to these.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

化合物(B)が有する重合性基としては、(メタ)アクリロイル基が好ましい。   As the polymerizable group that the compound (B) has, a (meth) acryloyl group is preferable.

化合物(B)は1分子中に、重合性基を3.0個以上有することが好ましく、4.0個以上有することがより好ましく、5.0個以上有することが更に好ましい。
化合物(B)の具体例としては、アルキレングリコールの(メタ)アクリル酸エステル類、ポリオキシアルキレングリコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類、アルコールの(メタ)アクリル酸エステル類、エチレンオキシドあるいはプロピレンオキシド付加物の(メタ)アクリル酸エステル類、エポキシ(メタ)アクリレート類、ウレタン(メタ)アクリレート類、ポリエステル(メタ)アクリレート類等を挙げることができる。
The compound (B) preferably has 3.0 or more polymerizable groups in one molecule, more preferably 4.0 or more, and still more preferably 5.0 or more.
Specific examples of the compound (B) include alkylene glycol (meth) acrylic acid esters, polyoxyalkylene glycol (meth) acrylic acid diesters, alcohol (meth) acrylic acid esters, ethylene oxide or propylene oxide adducts. (Meth) acrylic acid esters, epoxy (meth) acrylates, urethane (meth) acrylates, polyester (meth) acrylates, and the like.

中でも、アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル類が好ましく、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル類が特に好ましい。例えば、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、PO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO変性リン酸トリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,2,3−シクロヘキサンテトラメタクリレート、ウレタンアクリレート、ポリエステルポリアクリレート、カプロラクトン変性トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート等が挙げられる。   Among these, esters of alcohol and (meth) acrylic acid are preferable, and esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid are particularly preferable. For example, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, PO modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO Modified tri (meth) acrylate phosphate, trimethylolethane tri (meth) acrylate, ditrimethylolpropane tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa ( (Meth) acrylate, pentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,2,3-cyclohexanetetramethacrylate, urethane acrylate Polyester polyacrylate and caprolactone-modified tris (acryloyloxyethyl) isocyanurate.

化合物(B)の重量平均分子量は1000以下であり、100以上800以下が好ましく、200以上700以下がより好ましい。化合物(B)の重量平均分子量が1000以下であると架橋密度を高くできるため硬度の観点で好ましい。
重量平均分子量は、下記装置、カラムを使用し、下記条件で測定したGPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)により、溶媒THF(テトラヒドロフラン)、示差屈折計検出によるポリスチレン換算で表した値である。
[装置名] TOSOH HLC−8220GPC
[カラム] TOSOH TSKgel Super HZM−H
(4.6mm×15cm)を3本接続して使用。
[カラム温度] 25℃
[試料濃度] 0.1質量%
[流速] 0.35ml/min
[校正曲線] TOSOH製TSK標準ポリスチレン Mw=2800000〜1050までの7サンプルによる校正曲線を使用。
The weight average molecular weight of the compound (B) is 1000 or less, preferably 100 or more and 800 or less, and more preferably 200 or more and 700 or less. When the weight average molecular weight of the compound (B) is 1000 or less, the crosslinking density can be increased, which is preferable from the viewpoint of hardness.
The weight average molecular weight is a value expressed in terms of polystyrene by detection with a solvent THF (tetrahydrofuran) and a differential refractometer by GPC (gel permeation chromatography) measured under the following conditions using the following apparatus and column.
[Device Name] TOSOH HLC-8220GPC
[Column] TOSOH TSKgel Super HZM-H
Three (4.6 mm x 15 cm) are connected and used.
[Column temperature] 25 ° C
[Sample concentration] 0.1% by mass
[Flow rate] 0.35 ml / min
[Calibration Curve] A calibration curve with 7 samples from TSKOH TSK standard polystyrene Mw = 2800000 to 1050 is used.

反射防止層形成用組成物中の全固形分に対する(B)の含有量は、1.0質量%以上70.0質量%以下が好ましく、2.5質量%以上42.0質量%以下がより好ましく、6.0質量%以上20.0質量%以下が更に好ましい。   The content of (B) with respect to the total solid content in the composition for forming an antireflection layer is preferably 1.0% by mass or more and 70.0% by mass or less, and more preferably 2.5% by mass or more and 42.0% by mass or less. Preferably, it is more preferably 6.0% by mass or more and 20.0% by mass or less.

<化合物(C)>
反射防止層形成用組成物に含有される化合物(C)について説明する。
化合物(C)は、(メタ)アクリロイル基を有し、かつヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子を有する重量平均分子量300以上1000以下の化合物である。
<Compound (C)>
The compound (C) contained in the composition for forming an antireflection layer will be described.
The compound (C) is a compound having a (meth) acryloyl group and having a silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded, having a weight average molecular weight of 300 to 1,000.

化合物(C)の加水分解可能な基は、好ましくはアルコキシ基であり、炭素数1〜3のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基が最も好ましい。   The hydrolyzable group of the compound (C) is preferably an alkoxy group, preferably an alkoxy group having 1 to 3 carbon atoms, and most preferably a methoxy group.

同一分子中の(メタ)アクリロイル基とヒドロキシル基及び加水分解可能な基の両方が反応し易い観点から、化合物(C)は、(メタ)アクリロイル基中のカルボニル基を構成する炭素原子と、ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子との間に、炭素原子を4つ以上有する化合物であることが好ましい。
化合物(C)における、(メタ)アクリロイル基中のカルボニル基を構成する炭素原子と、ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子との間の炭素原子の数は4以上12以下がより好ましく、6以上10以下が更に好ましい。
このような化合物の具体例としては、以下が挙げられる。
From the viewpoint that both the (meth) acryloyl group, the hydroxyl group and the hydrolyzable group in the same molecule easily react, the compound (C) contains a carbon atom constituting a carbonyl group in the (meth) acryloyl group, a hydroxyl group A compound having 4 or more carbon atoms between a silicon atom to which at least one of a group and a hydrolyzable group is directly bonded is preferable.
In the compound (C), the number of carbon atoms between the carbon atom constituting the carbonyl group in the (meth) acryloyl group and the silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded is 4 It is more preferably 12 or less and further preferably 6 or more and 10 or less.
Specific examples of such compounds include the following.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
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Figure 2015200880
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Figure 2015200880
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1分子中の(メタ)アクリロイル基1個以上を化合物(B)と反応させる観点から、化合物(C)のヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子の数に対する(メタ)アクリロイル基の数の比は1.1以上3.0以下であることが好ましい。
このような化合物の具体例としては、以下が挙げられる。
From the viewpoint of reacting one or more (meth) acryloyl groups in one molecule with the compound (B), the number of silicon atoms to which at least one of the hydroxyl group and the hydrolyzable group of the compound (C) is directly bonded ( The ratio of the number of (meth) acryloyl groups is preferably 1.1 or more and 3.0 or less.
Specific examples of such compounds include the following.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
Figure 2015200880

バインダーの膜強度を確保する観点から、化合物(C)は、(メタ)アクリロイル基中のカルボニル基を構成する炭素原子と、ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子との間に、ウレタン結合を有する化合物であることが好ましい。
このような化合物の具体例としては、以下が挙げられる。
From the viewpoint of securing the film strength of the binder, the compound (C) is a silicon atom in which a carbon atom constituting a carbonyl group in the (meth) acryloyl group is directly bonded to at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group. It is preferable that it is a compound which has a urethane bond between these.
Specific examples of such compounds include the following.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
Figure 2015200880

化合物(C)の重量平均分子量は300以上1000以下であり、300以上800以下が好ましく、300以上600以下がより好ましい。化合物(C)の重量平均分子量が300以上1000以下であると同一分子中の(メタ)アクリロイル基とヒドロキシル基及び加水分解可能な基の両方が反応し易く、かつモスアイ形状を得られやすい観点で好ましい。
重量平均分子量は、下記装置、カラムを使用し、下記条件で測定したGPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)により、溶媒THF(テトラヒドロフラン)、示差屈折計検出によるポリスチレン換算で表した値である。
[装置名] TOSOH HLC−8220GPC
[カラム] TOSOH TSKgel Super HZM−H
(4.6mm×15cm)を3本接続して使用。
[カラム温度] 25℃
[試料濃度] 0.1質量%
[流速] 0.35ml/min
[校正曲線] TOSOH製TSK標準ポリスチレン Mw=2800000〜1050までの7サンプルによる校正曲線を使用。
The weight average molecular weight of the compound (C) is from 300 to 1,000, preferably from 300 to 800, and more preferably from 300 to 600. When the weight average molecular weight of the compound (C) is 300 or more and 1000 or less, both the (meth) acryloyl group, the hydroxyl group and the hydrolyzable group in the same molecule are easily reacted, and a moth-eye shape is easily obtained. preferable.
The weight average molecular weight is a value expressed in terms of polystyrene by detection with a solvent THF (tetrahydrofuran) and a differential refractometer by GPC (gel permeation chromatography) measured under the following conditions using the following apparatus and column.
[Device Name] TOSOH HLC-8220GPC
[Column] TOSOH TSKgel Super HZM-H
Three (4.6 mm x 15 cm) are connected and used.
[Column temperature] 25 ° C
[Sample concentration] 0.1% by mass
[Flow rate] 0.35 ml / min
[Calibration Curve] A calibration curve with 7 samples from TSKOH TSK standard polystyrene Mw = 2800000 to 1050 is used.

化合物(C)中の(メタ)アクリロイル基の数は、1分子中に1〜8個が好ましく、2〜4個がより好ましい。   The number of (meth) acryloyl groups in the compound (C) is preferably 1 to 8 and more preferably 2 to 4 in one molecule.

反射防止層形成用組成物中の全固形分に対する(C)の含有量は、1.0質量%以上70.0質量%以下が好ましく、2.5質量%以上42.0質量%以下がより好ましく、6.0質量%以上20.0質量%以下が更に好ましい。   The content of (C) with respect to the total solid content in the composition for forming an antireflection layer is preferably 1.0% by mass or more and 70.0% by mass or less, and more preferably 2.5% by mass or more and 42.0% by mass or less. Preferably, it is more preferably 6.0% by mass or more and 20.0% by mass or less.

化合物(C)の具体例を以下にも示すが、本発明はこれらに限定されない。   Although the specific example of a compound (C) is also shown below, this invention is not limited to these.

Figure 2015200880
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Figure 2015200880
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Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
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粒子―バインダーを強固に密着させ、かつバインダー強度の確保の観点から、前述の第二の態様であってかつバインダー樹脂形成用化合物として(C)を含まない態様以外の場合は、(B)の含有量と(C)の含有量の和に対する(C)の含有量の質量比が0.1以上0.9以下であることが好ましく、0.2以上0.8以下であることがより好ましく、0.3以上0.7以下であることがさらに好ましく、0.4以上0.6以下であることが特に好ましい。   From the viewpoint of firmly adhering the particle-binder and ensuring the binder strength, in the case of the second embodiment described above and other than the embodiment not including (C) as the binder resin forming compound, The mass ratio of the content of (C) to the sum of the content and the content of (C) is preferably 0.1 or more and 0.9 or less, and more preferably 0.2 or more and 0.8 or less. And more preferably 0.3 or more and 0.7 or less, and particularly preferably 0.4 or more and 0.6 or less.

(基材)
本発明の反射防止フィルムにおける基材は、反射防止フィルムの基材として一般的に使用される透光性を有する基材であれは特に制限はないが、プラスチック基材やガラス基材が好ましい。
プラスチック基材としては、種々用いることができ、例えば、セルロース系樹脂;セルロースアシレート(トリアセテートセルロース、ジアセチルセルロース、アセテートブチレートセルロース)等、ポリエステル樹脂;ポリエチレンテレフタレート等、(メタ)アクリル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリカーボネート、ポリスチレン、オレフィン系樹脂等を含有する基材が挙げられ、セルロースアシレート、ポリエチレンテレフタレート、又は(メタ)アクリル系樹脂を含有する基材が好ましく、セルロースアシレートを含有する基材がより好ましい。セルロースアシレートとしては、特開2012−093723号公報に記載の基材等を好ましく用いることが出来る。
プラスチック基材の厚さは、通常、10μm〜1000μm程度であるが、取り扱い性が良好で、透光性が高く、かつ十分な強度が得られるという観点から20μm〜200μmが好ましく、25μm〜100μmがより好ましい。プラスチック基材の透光性としては、可視光の透過率が90%以上のものが好ましい。
(Base material)
The base material in the antireflection film of the present invention is not particularly limited as long as it is a base material having translucency generally used as the base material of the antireflection film, but a plastic base material and a glass base material are preferable.
Various plastic substrates can be used, such as cellulose resin; cellulose acylate (triacetate cellulose, diacetyl cellulose, acetate butyrate cellulose), polyester resin; polyethylene terephthalate, (meth) acrylic resin, polyurethane, etc. Base materials containing polycarbonate resins, polycarbonates, polystyrenes, olefin resins, etc., preferably cellulose acylates, polyethylene terephthalates, or substrates containing (meth) acrylic resins, and substrates containing cellulose acylates Is more preferable. As the cellulose acylate, the base material described in JP 2012-093723 A can be preferably used.
The thickness of the plastic substrate is usually about 10 μm to 1000 μm, but 20 μm to 200 μm is preferable, and 25 μm to 100 μm is preferable from the viewpoint of good handleability, high translucency, and sufficient strength. More preferred. As a light-transmitting property of the plastic substrate, a material having a visible light transmittance of 90% or more is preferable.

(他の機能層)
本発明の反射防止フィルムは、反射防止層以外の機能層を有していてもよい。
たとえば、基材と反射防止層との間にハードコート層を有する態様が好ましく挙げられる。また、密着性を付与するための易接着層、帯電防止性を付与するための層等を備えていても良く、これらを複数備えていても良い。
(Other functional layers)
The antireflection film of the present invention may have a functional layer other than the antireflection layer.
For example, the aspect which has a hard-coat layer between a base material and an antireflection layer is mentioned preferably. Further, an easy adhesion layer for imparting adhesion, a layer for imparting antistatic properties, or the like may be provided, or a plurality of these may be provided.

[反射防止フィルムの製造方法]
本発明の反射防止フィルムの製造方法は特に限定されないが、生産効率の観点からは塗布法を用いた製造方法が好ましい。
すなわち、反射防止フィルムの製造方法は、
基材と反射防止層とを有する反射防止フィルムの製造方法であって、
上記反射防止層は、上記基材側の界面とは反対側の表面に下記(A)の金属酸化物粒子により形成された凹凸形状からなるモスアイ構造を有し、
上記反射防止層の凹凸形状は、隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、上記隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとの比であるB/Aが0.5以上であり、
下記(A)、(B)及び(C)を含有する反射防止層形成用組成物を上記基材上に塗布して、下記(B)及び(C)を硬化させる工程を有する、反射防止フィルムの製造方法である。
(A)表面にヒドロキシル基を有する平均一次粒径が50nm以上380nm以下の金属酸化物粒子。
(B)1分子中に3個以上の(メタ)アクリロイル基を有する重量平均分子量1000以下の化合物。ただし、上記化合物(B)が(メタ)アクリロイル基以外の重合性基を有する場合は、上記重合性基は、水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成された重合性基である。
(C)(メタ)アクリロイル基を有し、かつヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子を有する重量平均分子量300以上1000以下の化合物。
[Method for producing antireflection film]
Although the manufacturing method of the antireflection film of the present invention is not particularly limited, a manufacturing method using a coating method is preferable from the viewpoint of production efficiency.
That is, the manufacturing method of the antireflection film is:
A method for producing an antireflection film having a substrate and an antireflection layer,
The antireflection layer has a moth-eye structure having a concavo-convex shape formed by the metal oxide particles of the following (A) on the surface opposite to the interface on the substrate side,
The concave-convex shape of the antireflection layer is such that B / A, which is a ratio of the distance A between the apexes of adjacent convex portions and the distance B between the centers of the adjacent convex portions and the concave portions, is 0.5 or more. And
The antireflection film which has the process of apply | coating the composition for antireflection layer containing the following (A), (B) and (C) on the said base material, and hardening the following (B) and (C). It is a manufacturing method.
(A) Metal oxide particles having a hydroxyl group on the surface and an average primary particle size of 50 nm or more and 380 nm or less.
(B) A compound having three or more (meth) acryloyl groups in one molecule and having a weight average molecular weight of 1,000 or less. However, when the compound (B) has a polymerizable group other than the (meth) acryloyl group, the polymerizable group is a polymerization composed only of atoms selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom. Sex group.
(C) A compound having a (meth) acryloyl group and having a silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded, having a weight average molecular weight of 300 to 1,000.

反射防止層形成用組成物は、溶媒、重合開始剤、金属錯体化合物、粒子の分散剤、レベリング剤、防汚剤等を含んでいてもよい。
溶媒としては、微粒子と極性が近い物を選ぶのが分散性を向上させる観点で好ましい。具体的には、例えば微粒子が金属酸化物粒子の場合にはアルコール系の溶剤が好ましく、メタノール、エタノール、2−プロパノール、1−プロパノール、ブタノールなどが挙げられる。また、例えば微粒子が疎水化表面修飾がされた金属樹脂粒子の場合には、ケトン系、エステル系、カーボネート系、アルカン、芳香族系等の溶剤が好ましく、メチルエチルケトン(MEK)、炭酸ジメチル、酢酸メチル、アセトン、メチレンクロライド、シクロヘキサノンなどが挙げられる。これらの溶剤は、分散性を著しく悪化させない範囲で複数種混ぜて用いてもかまわない。
粒子の分散剤は、粒子同士の凝集力を低下させることにより、粒子を均一に配置させ易くすることができる。分散剤としては、特に限定されないが、硫酸塩、リン酸塩などのアニオン性化合物、脂肪族アミン塩、四級アンモニウム塩などのカチオン性化合物、非イオン性化合物、高分子化合物が好ましく、吸着基と立体反発基それぞれの選択の自由度が高いため高分子化合物がより好ましい。分散剤としては市販品を用いることもできる。例えば、ビックケミー・ジャパン(株)製のDISPERBYK160、DISPERBYK161、DISPERBYK162、DISPERBYK163、DISPERBYK164、DISPERBYK166、DISPERBYK167、DISPERBYK171、DISPERBYK180、DISPERBYK182、DISPERBYK2000、DISPERBYK2001、DISPERBYK2164、Bykumen、BYK−P104、BYK−P104S、BYK−220S、Anti−Terra203、Anti−Terra204、Anti−Terra205(以上商品名)などが挙げられる。
レベリング剤は、塗布液の表面張力を低下させることにより、塗布後の液を安定させ粒子やバインダー樹脂を均一に配置させ易くすることができる。例えば、特開2004−331812号公報、特開2004−163610号公報に記載の化合物等を用いることができる。
防汚剤は、モスアイ構造に撥水撥油性を付与することにより、汚れや指紋の付着を抑制することができる。例えば、特開2012−88699号公報に記載の化合物等を用いることができる。
金属錯体化合物は、添加することにより、化合物(C)の加水分解を促進させ、反応性を高めることができる。金属錯体化合物としては、金属原子とそれに配位する配位子を含むものであれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−iso−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−iso−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジルコニウムテトラアセチルアセトナート、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−iso−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−iso−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジルコニウムテトラエチルアセトアセテート、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ビス(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−iso−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−tert−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−iso−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−tert−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、アルミニウムトリスアセチルアセトナート、ジ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−iso−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−tert−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−iso−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−tert−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、アルミニウムトリスエチルアセトアセテート、モノ(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ビス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウムなどが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
The composition for forming an antireflection layer may contain a solvent, a polymerization initiator, a metal complex compound, a particle dispersant, a leveling agent, an antifouling agent, and the like.
A solvent having a polarity close to that of the fine particles is preferably selected from the viewpoint of improving dispersibility. Specifically, for example, when the fine particles are metal oxide particles, an alcohol solvent is preferable, and examples thereof include methanol, ethanol, 2-propanol, 1-propanol, and butanol. For example, when the fine particles are metal resin particles having a hydrophobic surface modified, ketone-based, ester-based, carbonate-based, alkane, aromatic-based solvents are preferable, and methyl ethyl ketone (MEK), dimethyl carbonate, methyl acetate are preferable. , Acetone, methylene chloride, cyclohexanone and the like. These solvents may be used in a mixture of a plurality of types as long as the dispersibility is not significantly deteriorated.
The particle dispersing agent can facilitate uniform arrangement of the particles by reducing the cohesive force between the particles. The dispersant is not particularly limited, but is preferably an anionic compound such as a sulfate or phosphate, a cationic compound such as an aliphatic amine salt or a quaternary ammonium salt, a nonionic compound or a polymer compound. And a steric repulsion group are more preferred because they have a high degree of freedom in selection. A commercial item can also be used as a dispersing agent. For example, BYK Japan made of (stock) DISPERBYK160, DISPERBYK161, DISPERBYK162, DISPERBYK163, DISPERBYK164, DISPERBYK166, DISPERBYK167, DISPERBYK171, DISPERBYK180, DISPERBYK182, DISPERBYK2000, DISPERBYK2001, DISPERBYK2164, Bykumen, BYK-P104, BYK-P104S, BYK-220S, Anti-Terra 203, Anti-Terra 204, Anti-Terra 205 (named above) are listed.
By reducing the surface tension of the coating solution, the leveling agent can stabilize the solution after coating and facilitate the uniform arrangement of particles and binder resin. For example, the compounds described in JP-A-2004-331812 and JP-A-2004-163610 can be used.
The antifouling agent can suppress adhesion of dirt and fingerprints by imparting water and oil repellency to the moth-eye structure. For example, compounds described in JP 2012-88699 A can be used.
By adding the metal complex compound, hydrolysis of the compound (C) can be promoted and the reactivity can be increased. The metal complex compound is not particularly limited as long as it contains a metal atom and a ligand coordinated thereto, and can be appropriately selected depending on the purpose. For example, di-n-propoxy bis (acetyl Acetonato) zirconium, di-iso-propoxy bis (acetylacetonato) zirconium, di-n-butoxy bis (acetylacetonato) zirconium, di-tert-butoxy bis (acetylacetonato) zirconium, mono-n -Propoxy-tris (acetylacetonato) zirconium, mono-iso-propoxy-tris (acetylacetonato) zirconium, mono-n-butoxy-tris (acetylacetonato) zirconium, mono-tert-butoxy-tris (acetylacetonate) ) Zirconium, zirconi Mutaacetylacetonate, di-n-propoxy bis (ethyl acetoacetate) zirconium, di-iso-propoxy bis (ethyl acetoacetate) zirconium, di-n-butoxy bis (ethyl acetoacetate) zirconium, di- tert-butoxy bis (ethyl acetoacetate) zirconium, mono-n-propoxy tris (ethyl acetoacetate) zirconium, mono-iso-propoxy tris (ethyl acetoacetate) zirconium, mono-n-butoxy tris (ethyl acetoacetate) Acetate) zirconium, mono-tert-butoxy-tris (ethylacetoacetate) zirconium, zirconium tetraethylacetoacetate, mono (acetylacetonato) tris (ethylacetoacetate) ) Zirconium, bis (acetylacetonato) bis (ethylacetoacetate) zirconium, tris (acetylacetonato) mono (ethylacetoacetate) zirconium, di-n-propoxy mono (acetylacetonato) aluminum, di-iso -Propoxy mono (acetylacetonato) aluminum, di-n-butoxy mono (acetylacetonato) aluminum, di-tert-butoxy mono (acetylacetonato) aluminum, mono-n-propoxybis (acetylacetonate) ) Aluminum, mono-iso-propoxy bis (acetylacetonate) aluminum, mono-n-butoxy bis (acetylacetonate) aluminum, mono-tert-butoxy bis (acetylacetonate) ) Aluminum, aluminum trisacetylacetonate, di-n-propoxy mono (ethyl acetoacetate) aluminum, di-iso-propoxy mono (ethyl acetoacetate) aluminum, di-n-butoxy mono (ethyl acetoacetate) aluminum , Di-tert-butoxy mono (ethyl acetoacetate) aluminum, mono-n-propoxy bis (ethyl acetoacetate) aluminum, mono-iso-propoxy bis (ethyl acetoacetate) aluminum, mono-n-butoxy bis (Ethyl acetoacetate) aluminum, mono-tert-butoxy bis (ethyl acetoacetate) aluminum, aluminum trisethyl acetoacetate, mono (acetylacetonate) bis (d Le acetoacetate) aluminum, bis (acetylacetonate) mono (ethylacetoacetate) and aluminum. These may be used alone or in combination of two or more.

(重合開始剤)
反射防止層形成用組成物は重合開始剤を含むことが好ましく、光重合開始剤を含むことがより好ましい。
光重合開始剤としては、アセトフェノン類、ベンゾイン類、ベンゾフェノン類、ホスフィンオキシド類、ケタール類、アントラキノン類、チオキサントン類、アゾ化合物、過酸化物類、2,3−ジアルキルジオン化合物類、ジスルフィド化合物類、フルオロアミン化合物類、芳香族スルホニウム類、ロフィンダイマー類、オニウム塩類、ボレート塩類、活性エステル類、活性ハロゲン類、無機錯体、クマリン類などが挙げられる。光重合開始剤の具体例、及び好ましい態様、市販品などは、特開2009−098658号公報の段落[0133]〜[0151]に記載されており、本発明においても同様に好適に用いることができる。
「最新UV硬化技術」{(株)技術情報協会}(1991年)、p.159、及び、「紫外線硬化システム」加藤清視著(平成元年、総合技術センター発行)、p.65〜148にも種々の例が記載されており本発明に有用である。
(Polymerization initiator)
The composition for forming an antireflection layer preferably contains a polymerization initiator, and more preferably contains a photopolymerization initiator.
As photopolymerization initiators, acetophenones, benzoins, benzophenones, phosphine oxides, ketals, anthraquinones, thioxanthones, azo compounds, peroxides, 2,3-dialkyldione compounds, disulfide compounds, Examples include fluoroamine compounds, aromatic sulfoniums, lophine dimers, onium salts, borate salts, active esters, active halogens, inorganic complexes, and coumarins. Specific examples, preferred embodiments, commercially available products, and the like of the photopolymerization initiator are described in paragraphs [0133] to [0151] of JP-A-2009-098658, and can be suitably used in the present invention as well. it can.
“Latest UV Curing Technology” {Technical Information Association, Inc.} (1991), p. 159, and “UV Curing System” written by Kiyomi Kato (published by the General Technology Center in 1989), p. Various examples are also described in 65-148 and are useful in the present invention.

反射防止層形成用組成物の塗布方法としては、特に限定されず公知の方法を用いることができる。例えば、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ローラーコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法、ダイコート法等が挙げられる。   A method for applying the composition for forming an antireflection layer is not particularly limited, and a known method can be used. Examples include dip coating, air knife coating, curtain coating, roller coating, wire bar coating, gravure coating, and die coating.

均一に塗布しやすい観点から、反射防止層形成用組成物の固形分濃度は、10質量%以上80質量%以下であることが好ましく、20質量%以上60質量%以下であることがより好ましい。   From the viewpoint of easy application uniformly, the solid content concentration of the composition for forming an antireflection layer is preferably 10% by mass or more and 80% by mass or less, and more preferably 20% by mass or more and 60% by mass or less.

[偏光板]
本発明の偏光板は、偏光子と、偏光子を保護する少なくとも1枚の保護フィルムとを有する偏光板であって、保護フィルムの少なくとも1枚が本発明の反射防止フィルムである。
[Polarizer]
The polarizing plate of the present invention is a polarizing plate having a polarizer and at least one protective film for protecting the polarizer, and at least one of the protective films is the antireflection film of the present invention.

偏光子には、ヨウ素系偏光膜、二色性染料を用いる染料系偏光膜やポリエン系偏光膜がある。ヨウ素系偏光膜及び染料系偏光膜は、一般にポリビニルアルコール系フィルムを用いて製造することができる。   Examples of the polarizer include an iodine polarizing film, a dye polarizing film using a dichroic dye, and a polyene polarizing film. The iodine-based polarizing film and the dye-based polarizing film can be generally produced using a polyvinyl alcohol film.

[カバーガラス]
本発明のカバーガラスは、本発明の反射防止フィルムを保護フィルムとして有する。反射防止フィルムの基材がガラスのものであってもよいし、プラスチックフィルム基材を有する反射防止フィルムをガラス支持体上に貼り付けたものであってもよい。
[cover glass]
The cover glass of the present invention has the antireflection film of the present invention as a protective film. The base material of the antireflection film may be made of glass, or an antireflection film having a plastic film base material may be pasted on a glass support.

[画像表示装置]
本発明の画像表示装置は、本発明の反射防止フィルム又は偏光板を有する。
本発明の反射防止フィルム及び偏光板は液晶表示装置(LCD)、プラズマディスプレイパネル(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)や陰極管表示装置(CRT)のような画像表示装置に好適に用いることができ、特に液晶表示装置が好ましい。
一般的に、液晶表示装置は、液晶セル及びその両側に配置された2枚の偏光板を有し、液晶セルは、2枚の電極基板の間に液晶を担持している。更に、光学異方性層が、液晶セルと一方の偏光板との間に一枚配置されるか、又は液晶セルと双方の偏光板との間に2枚配置されることもある。液晶セルは、TNモード、VAモード、OCBモード、IPSモード又はECBモードであることが好ましい。
[Image display device]
The image display device of the present invention has the antireflection film or the polarizing plate of the present invention.
The antireflection film and polarizing plate of the present invention are preferably used for image display devices such as liquid crystal display devices (LCD), plasma display panels (PDP), electroluminescence displays (ELD), and cathode ray tube display devices (CRT). In particular, a liquid crystal display device is preferable.
In general, a liquid crystal display device has a liquid crystal cell and two polarizing plates arranged on both sides thereof, and the liquid crystal cell carries a liquid crystal between two electrode substrates. Furthermore, one optically anisotropic layer may be disposed between the liquid crystal cell and one polarizing plate, or two optically anisotropic layers may be disposed between the liquid crystal cell and both polarizing plates. The liquid crystal cell is preferably in TN mode, VA mode, OCB mode, IPS mode or ECB mode.

以下に実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。以下の実施例に示す材料、試薬、物質の量とその割合、操作等は本発明の趣旨から逸脱しない限り適宜変更することができる。従って、本発明の範囲は以下の具体例に制限されるものではない。   The present invention will be described more specifically with reference to the following examples. The amounts, ratios and operations of materials, reagents, and substances shown in the following examples can be appropriately changed without departing from the spirit of the present invention. Therefore, the scope of the present invention is not limited to the following specific examples.

(ハードコート層付き基材の作製)
セルローストリアセテートフィルム(TDH60UF、富士フイルム(株)製)上に、下記組成のハードコート層形成用塗布液を塗布し、窒素パージしながら空冷メタルハライドランプで照射量60mJ/cmの紫外線を照射して硬化し、膜厚8μmのハードコート層を形成した。このようにしてハードコート層付き基材を作製した。
(Production of substrate with hard coat layer)
A cellulose triacetate film (TDH60UF, manufactured by Fuji Film Co., Ltd.) is coated with a coating solution for forming a hard coat layer having the following composition, and irradiated with ultraviolet rays having an irradiation amount of 60 mJ / cm 2 with an air-cooled metal halide lamp while purging with nitrogen. It hardened | cured and formed the hard-coat layer with a film thickness of 8 micrometers. Thus, the base material with a hard-coat layer was produced.

<ハードコート層形成用塗布液の組成>
A−TMMT 44.6質量部
イルガキュア127 1.9質量部
メチルエチルケトン 10.7質量部
メチルイソブチルケトン 37.5質量部
酢酸メチル 5.4質量部
<Composition of coating liquid for forming hard coat layer>
A-TMMT 44.6 parts by mass Irgacure 127 1.9 parts by mass Methyl ethyl ketone 10.7 parts by mass Methyl isobutyl ketone 37.5 parts by mass Methyl acetate 5.4 parts by mass

(反射防止層形成用塗布液の調製)
下記表1の組成となるように各成分をミキシングタンクに投入し、60分間攪拌し、30分間超音波分散機により分散し、孔径5μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して反射防止層形成用塗布液とした。
下記表1の(A)、(B)及び(C)として、下記表2に記載の素材を用いて、各実施例及び比較例の反射防止層形成用組成物を調製した。
(Preparation of coating solution for antireflection layer formation)
Each component is put into a mixing tank so as to have the composition shown in Table 1 below, stirred for 60 minutes, dispersed with an ultrasonic disperser for 30 minutes, and filtered through a polypropylene filter having a pore size of 5 μm to form a coating solution for forming an antireflection layer. It was.
As (A), (B) and (C) in Table 1 below, compositions for forming an antireflection layer in each Example and Comparative Example were prepared using the materials described in Table 2 below.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

上記表1において、各成分の配合量の単位は「質量部」を表す。
また、バインダー樹脂形成用化合物として、(B)と(C)を合計で32.4質量部となるように用いた。
In Table 1 above, the unit of the amount of each component represents “parts by mass”.
Moreover, (B) and (C) were used as a binder resin forming compound so that it might become 32.4 mass parts in total.

(反射防止フィルムの作製)
ハードコート層付き基材のハードコート層上に、(A)、(B)及び(C)として下記表2に記載の素材を用いた各反射防止層形成用組成物をグラビアコーターを用いて塗布し、120℃で5分間乾燥した後、酸素濃度が0.1体積%以下の雰囲気になるように窒素パージしながら空冷メタルハライドランプで照射量600mJ/cmの紫外線を照射して硬化し、実施例1〜34及び比較例1〜5の反射防止フィルムを作製した。
(Preparation of antireflection film)
On the hard coat layer of the substrate with a hard coat layer, each antireflection layer forming composition using the materials shown in Table 2 below as (A), (B) and (C) is applied using a gravure coater. Then, after drying at 120 ° C. for 5 minutes, it was cured by irradiating with an ultraviolet ray with an irradiation amount of 600 mJ / cm 2 with an air-cooled metal halide lamp while purging with nitrogen so that the atmosphere had an oxygen concentration of 0.1% by volume or less. The antireflection film of Examples 1-34 and Comparative Examples 1-5 was produced.

セルローストリアセテートフィルム(TDH60UF、富士フイルム(株)製)のかわりに、フジタックTG60UL(富士フイルム(株)製)を用い、下記表3の組成の反射防止層形成用組成物を用いた以外は実施例1と同様にして実施例35〜51の反射防止フィルムを作製した。   Example except that Fujitac TG60UL (manufactured by FUJIFILM Corporation) was used instead of the cellulose triacetate film (TDH60UF, manufactured by FUJIFILM Corporation), and the composition for forming an antireflection layer having the composition shown in Table 3 below was used. In the same manner as in Example 1, antireflection films of Examples 35 to 51 were produced.

(反射防止フィルムの評価)
以下の方法により反射防止フィルムの諸特性の評価を行った。結果を表2に示す。
(Evaluation of antireflection film)
Various characteristics of the antireflection film were evaluated by the following methods. The results are shown in Table 2.

(積分反射率)
反射防止フィルムの裏面(セルローストリアセテートフィルム側)をサンドペーパーで粗面化した後に黒色インクで処理し、裏面反射をなくした状態で、分光光度計V−550(日本分光(株)製)にアダプターARV−474を装着して、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における積分反射率を測定し、平均反射率を算出して反射防止性を評価した。
(Integral reflectance)
The back surface of the antireflection film (cellulose triacetate film side) is roughened with sandpaper, then treated with black ink, and the back surface reflection is eliminated. The adapter is attached to the spectrophotometer V-550 (manufactured by JASCO Corporation). With ARV-474 attached, the integrated reflectance at an incident angle of 5 ° was measured in the wavelength region of 380 to 780 nm, and the average reflectance was calculated to evaluate the antireflection property.

(鉛筆硬度試験及び鉛筆硬度試験後の消しゴム擦り試験)
反射防止層表面に対して、鉛筆硬度試験(H/2H/3H)を実施し、その後、消しゴムにて鉛筆を除去した。
鉛筆硬度試験は、25℃、相対湿度60%の条件で2時間調湿した後、JIS−S6006が規定する試験用鉛筆を用いて、JIS−K5400が規定する鉛筆硬度評価法で行った。
ラビングテスターを用いて、鉛筆試験部の消しゴム擦りを行った。
評価環境条件:25℃、60%RH。
擦り材:試料と接触するテスターの擦り先端部(1cm×1cm)にプラスチック消しゴム{(株)トンボ鉛筆製“MONO”}を固定した。
擦り速度:2cm/秒
荷重:250g/cm
先端部接触面積:1cm×1cm
擦り回数:50往復
鉛筆試験未実施部と実施部のSEM写真から粒子の個数を数え、粒子の残存率を算出した。
粒子残存率=(鉛筆硬度試験実施部の単位面積当たりの粒子の個数/鉛筆硬度試験未実施部の単位面積当たりの粒子の個数)×100
A:粒子残存率80%以上
B:粒子残存率60%以上80%未満
C:粒子残存率60%未満
(Pencil hardness test and eraser rub test after pencil hardness test)
A pencil hardness test (H / 2H / 3H) was performed on the surface of the antireflection layer, and then the pencil was removed with an eraser.
The pencil hardness test was performed by the pencil hardness evaluation method specified by JIS-K5400 using a test pencil specified by JIS-S6006 after humidity was adjusted for 2 hours at 25 ° C. and a relative humidity of 60%.
Using a rubbing tester, the pencil test part was rubbed with an eraser.
Evaluation environmental conditions: 25 ° C., 60% RH.
Rubbing material: A plastic eraser {"MONO" manufactured by Dragonfly Pencil Co., Ltd.) was fixed to the rubbing tip (1 cm x 1 cm) of the tester that was in contact with the sample.
Rub speed: 2 cm / sec
Load: 250 g / cm 2
Tip contact area: 1 cm x 1 cm
Number of rubbing: 50 reciprocations The number of particles was counted from SEM photographs of the pencil test unexecuted part and the implemented part, and the residual ratio of the particles was calculated.
Particle residual ratio = (number of particles per unit area of pencil hardness test execution part / number of particles per unit area of pencil hardness test non-execution part) × 100
A: Particle residual ratio of 80% or more B: Particle residual ratio of 60% or more and less than 80% C: Particle residual ratio of less than 60%

(B/A)
反射防止フィルム試料をミクロトームで切削して断面を出し、断面にカーボン蒸着後10分間エッチング処理した。走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて5000倍で20視野観察、撮影した。得られた画像で、空気と試料が作る界面において、隣り合う凸部の頂点間の距離A、隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bを100点測長し、B/Aの平均値として算出した。
(B / A)
The antireflection film sample was cut with a microtome to obtain a cross section, and the cross section was etched for 10 minutes after carbon deposition. Using a scanning electron microscope (SEM), 20 fields of view were observed and photographed at a magnification of 5000 times. In the obtained image, at the interface between the air and the sample, the distance A between the vertices of the adjacent convex portions and the distance B between the vertices of the adjacent convex portions and the concave portion are measured by 100 points, and B / A It was calculated as an average value.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
Figure 2015200880

表2及び表3において、(C)/((B)+(C))は、化合物(B)と化合物(C)の合計の含有量に対する化合物(C)の含有量の質量比である。
実施例19〜28、39〜48は、金属酸化物粒子(A)の表面処理カップリング剤として、化合物(C)に相当する化合物を用いている(前述の第二の態様に相当する)。
In Table 2 and Table 3, (C) / ((B) + (C)) is a mass ratio of the content of the compound (C) to the total content of the compound (B) and the compound (C).
In Examples 19 to 28 and 39 to 48, a compound corresponding to the compound (C) is used as the surface treatment coupling agent for the metal oxide particles (A) (corresponding to the second aspect described above).

使用した化合物を以下に示す。
イルガキュア127:光重合開始剤(BASFジャパン(株)製)
KE−S10:シーホスターKE−S10 日本触媒製
KE−S30:シーホスターKE−S30 日本触媒製
The compounds used are shown below.
Irgacure 127: Photopolymerization initiator (manufactured by BASF Japan Ltd.)
KE-S10: Sea Hoster KE-S10 Nippon Shokubai KE-S30: Sea Hoster KE-S30 Nippon Shokubai

[シリカ粒子A1の合成]
撹拌機、滴下装置および温度計を備えた容量200Lの反応器に、メチルアルコール67.54kgと、28質量%アンモニア水(水および触媒)26.33kgとを仕込み、撹拌しながら液温を33℃に調節した。一方、滴下装置に、テトラメトキシシラン12.70kgをメチルアルコール5.59kgに溶解させた溶液を仕込んだ。反応器中の液温を33℃に保持しながら、滴下装置から上記溶液を1時間かけて滴下し、滴下終了後、さらに1時間、液温を上記温度に保持しながら撹拌することにより、テトラメトキシシランの加水分解および縮合を行い、シリカ粒子前駆体を含有する分散液を得た。この分散液を、瞬間真空蒸発装置(ホソカワミクロン(株)社製クラックス・システムCVX−8B型)を用いて加熱管温度175℃、減圧度200torr(27kPa)の条件で気流乾燥させることにより、シリカ粒子A1を得た。平均粒径は200nm、粒径の分散度(Cv値):3.5%であった。
[Synthesis of Silica Particle A1]
A 200 L reactor equipped with a stirrer, a dropping device and a thermometer was charged with 67.54 kg of methyl alcohol and 26.33 kg of 28% by mass aqueous ammonia (water and catalyst), and the liquid temperature was kept at 33 ° C. while stirring. Adjusted. Meanwhile, a dropping device was charged with a solution prepared by dissolving 12.70 kg of tetramethoxysilane in 5.59 kg of methyl alcohol. While maintaining the liquid temperature in the reactor at 33 ° C., the above solution was dropped from the dropping device over 1 hour, and after completion of the dropping, stirring was further performed for 1 hour while maintaining the liquid temperature at the above temperature. Hydrolysis and condensation of methoxysilane was performed to obtain a dispersion containing a silica particle precursor. Silica particles were obtained by air-drying this dispersion under the conditions of a heated tube temperature of 175 ° C. and a reduced pressure of 200 torr (27 kPa) using an instantaneous vacuum evaporator (Crox System CVX-8B type manufactured by Hosokawa Micron Corporation). A1 was obtained. The average particle size was 200 nm, and the degree of dispersion (Cv value) of the particle size was 3.5%.

[焼成シリカ粒子A2の作製]
シリカ粒子A1 5kgをルツボに入れ、電気炉を用いて1050℃で1時間焼成した後、冷却して、次いで粉砕機を用いて粉砕し、分級前焼成シリカ粒子を得た。さらにジェット粉砕分級機(日本ニューマ社製IDS−2型)を用いて解砕および分級を行うことにより焼成シリカ粒子A2を得た。得られたシリカ粒子の平均粒径は0.20μm、粒径の分散度(Cv値):3.5%であった。
[Preparation of calcined silica particles A2]
5 kg of silica particles A1 were put in a crucible, fired at 1050 ° C. for 1 hour using an electric furnace, cooled, and then ground using a grinder to obtain pre-classified fired silica particles. Furthermore, the pulverized silica particles A2 were obtained by crushing and classifying using a jet pulverizing and classifying machine (IDS-2 type manufactured by Nippon Puma Co., Ltd.). The average particle size of the obtained silica particles was 0.20 μm, and the degree of particle size dispersion (Cv value) was 3.5%.

[シランカップリング剤処理シリカ粒子A3−C1〜A3−C6の作製]
分級前焼成シリカ粒子A2 5kgを、加熱ジャケットを備えた容量20Lのヘンシェルミキサ(三井鉱山株式会社製FM20J型)に仕込んだ。焼成シリカ粒子A2を撹拌しているところに、C1〜C6 45gを、メチルアルコール90gに溶解させた溶液を滴下して混合した。その後、混合撹拌しながら150℃まで約1時間かけて昇温し、150℃で12時間保持して加熱処理を行った。加熱処理では、掻き落とし装置を撹拌羽根とは逆方向に常時回転させながら、壁面付着物の掻き落としを行った。また、適宜、へらを用いて壁面付着物を掻き落とすことも行った。加熱後、冷却し、ジェット粉砕分級機を用いて解砕および分級を行い、シランカップリング剤処理シリカ粒子A3−C1〜A3−C6を得た。いずれも平均粒径は0.21μm、粒径の分散度(Cv値):3.7%であった。
[Production of Silane Coupling Agent-treated Silica Particles A3-C1 to A3-C6]
5 kg of pre-classified sintered silica particles A2 were charged into a 20 L Henschel mixer (FM20J type, manufactured by Mitsui Mining Co., Ltd.) equipped with a heating jacket. While the fired silica particles A2 were being stirred, a solution prepared by dissolving 45 g of C1 to C6 in 90 g of methyl alcohol was added dropwise and mixed. Then, it heated up to 150 degreeC over about 1 hour, mixing and stirring, and heat-processed by hold | maintaining at 150 degreeC for 12 hours. In the heat treatment, scrapes on the wall surface were scraped while the scraping device was always rotated in the direction opposite to the stirring blade. Moreover, the wall deposits were also scraped off using a spatula as appropriate. After heating, the mixture was cooled and pulverized and classified using a jet pulverizer to obtain silane coupling agent-treated silica particles A3-C1 to A3-C6. In all cases, the average particle size was 0.21 μm, and the degree of particle size dispersion (Cv value) was 3.7%.

[C1]
還流冷却器、温度計を付けたフラスコに信越化学工業製KBE−9007 13.6gとペンタエリスリトールトリアクリレート16.4gとジラウリン酸ジブチル錫0.1g、トルエン70.0gを添加し、室温で12時間撹拌した。撹拌後、メチルハイドロキノン500ppmを加え、減圧留去を行いC1を得た。
[C1]
To a flask equipped with a reflux condenser and a thermometer, 13.6 g of Shin-Etsu Chemical KBE-9007, 16.4 g of pentaerythritol triacrylate, 0.1 g of dibutyltin dilaurate and 70.0 g of toluene were added, and 12 hours at room temperature. Stir. After stirring, 500 ppm of methylhydroquinone was added and distilled off under reduced pressure to obtain C1.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

[C2]
還流冷却器、温度計を付けたフラスコに信越化学工業製KBE−9007 9.1gと1,3−ジアクリロイルオキシ−2−プロパノール 20.9g ジラウリン酸ジブチル錫0.1g、トルエン70.0gを添加し、室温で12時間撹拌した。撹拌後、メチルハイドロキノン500ppmを加え、減圧留去を行いC2を得た。
[C2]
To a flask equipped with a reflux condenser and a thermometer, 9.1 g of Shin-Etsu Chemical KBE-9007, 20.9 g of 1,3-diacryloyloxy-2-propanol, 0.1 g of dibutyltin dilaurate and 70.0 g of toluene were added. And stirred at room temperature for 12 hours. After stirring, 500 ppm of methylhydroquinone was added and distilled off under reduced pressure to obtain C2.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

[C3]
還流冷却器、温度計を付けたフラスコに信越化学工業製KBE−9007 19.3gとグリセリン1,3−ビスアクリラート3.9g、2−ヒドロキシエチルアクリレート 6.8g ジラウリン酸ジブチル錫0.1g、トルエン70.0gを添加し、室温で12時間撹拌した。撹拌後、メチルハイドロキノン500ppmを加え、減圧留去を行いC3を得た。
[C3]
In a flask equipped with a reflux condenser and a thermometer, 19.3 g of KBE-9007 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., 3.9 g of glycerol 1,3-bisacrylate, 6.8 g of 2-hydroxyethyl acrylate, 0.1 g of dibutyltin dilaurate, 70.0 g of toluene was added and stirred at room temperature for 12 hours. After stirring, 500 ppm of methylhydroquinone was added and distilled off under reduced pressure to obtain C3.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
Figure 2015200880

[C5]
還流冷却器、温度計を付けたフラスコに信越化学工業製KBE−9007 9.1gとジペンタエリスリトールペンタアクリレート 20.9g ジラウリン酸ジブチル錫0.1g、トルエン70.0gを添加し、室温で12時間撹拌した。撹拌後減圧留去を行いC5を得た。
[C5]
To a flask equipped with a reflux condenser and a thermometer, 9.1 g of KBE-9007 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., 20.9 g of dipentaerythritol pentaacrylate, 0.1 g of dibutyltin dilaurate and 70.0 g of toluene were added, and 12 hours at room temperature. Stir. After stirring, it was distilled off under reduced pressure to obtain C5.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
Figure 2015200880

[C7]信越化学工業製 X−40−2671G
X−40−2671Gは、特開2007−41495号公報に記載の一般式(2)で表される。ここで、Rは水素原子、Yは、*−COO−**、Lは、炭素数3の連結基(C)、R、R、Rはメトキシ基、R、Rはメチル基である。重量平均分子量は、1300〜1900であった。
[C7] X-40-2671G manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
X-40-2671G is represented by the general formula (2) described in JP2007-41495A. Here, R 1 is a hydrogen atom, Y is * -COO-**, L is a linking group having 3 carbon atoms (C 3 H 6 ), R 2 , R 3 and R 4 are methoxy groups, R 5 , R 6 is a methyl group. The weight average molecular weight was 1300-1900.

Figure 2015200880
Figure 2015200880

Figure 2015200880
Figure 2015200880

KAYARAD PET−30:ペンタエリスリトールテトラアクリレートとペンタエリスリトールトリアクリレートの混合物(日本化薬(株)製)
KAYARAD DPHA:ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(日本化薬(株)製)
ライトエステルHO−250(N):ヒドロキシルエチルメタクリレート(共栄社化学(株)製)
A−DPH :ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(新中村工業製)
A−TMMT :ペンタエリスリトールテトラアクリレート(新中村工業製)
KAYARAD PET-30: A mixture of pentaerythritol tetraacrylate and pentaerythritol triacrylate (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
KAYARAD DPHA: Mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
Light ester HO-250 (N): hydroxylethyl methacrylate (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.)
A-DPH: Dipentaerythritol hexaacrylate (manufactured by Shin-Nakamura Kogyo)
A-TMMT: Pentaerythritol tetraacrylate (manufactured by Shin-Nakamura Kogyo)

1 基材
2 反射防止層
3 金属酸化物粒子
4 バインダー樹脂
10 反射防止フィルム
A 隣り合う凸部の頂点間の距離
B 隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Base material 2 Antireflection layer 3 Metal oxide particle 4 Binder resin 10 Antireflection film A Distance between the vertices of the adjacent convex portions B Distance between the centers of the adjacent convex portions and the concave portions

Claims (14)

基材と、
下記(A)、(B)及び(C)を含有する反射防止層形成用組成物から形成された反射防止層と
を有する反射防止フィルムであって、
前記反射防止層は、下記(B)に由来する構造及び下記(C)に由来する構造の少なくとも1種を含むバインダー樹脂を含み、かつ前記基材側の界面とは反対側の表面に下記(A)の金属酸化物粒子により形成された凹凸形状からなるモスアイ構造を有し、
前記反射防止層の凹凸形状は、隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、該隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとの比であるB/Aが0.5以上である、反射防止フィルム。
(A)表面にヒドロキシル基を有する平均一次粒径が50nm以上380nm以下の金属酸化物粒子。
(B)重合性基として(メタ)アクリロイル基、又は、水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成される(メタ)アクリロイル基以外の重合性基を有し、1分子中に3個以上の重合性基を有する重量平均分子量1000以下の化合物。
(C)(メタ)アクリロイル基を有し、かつヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子を有する重量平均分子量300以上1000以下の化合物。
A substrate;
An antireflection film having an antireflection layer formed from the composition for forming an antireflection layer containing the following (A), (B) and (C),
The antireflection layer includes a binder resin including at least one of a structure derived from the following (B) and a structure derived from the following (C), and the following (on the surface opposite to the interface on the substrate side) ( A) having a moth-eye structure composed of irregularities formed of metal oxide particles of A),
The concave-convex shape of the antireflection layer is such that B / A, which is a ratio of the distance A between the apexes of adjacent convex portions and the distance B between the centers of the adjacent convex portions and the concave portions, is 0.5 or more. An anti-reflection film.
(A) Metal oxide particles having a hydroxyl group on the surface and an average primary particle size of 50 nm or more and 380 nm or less.
(B) having a polymerizable group other than a (meth) acryloyl group composed of only a (meth) acryloyl group or an atom selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom as a polymerizable group; A compound having a weight average molecular weight of 1000 or less and having 3 or more polymerizable groups in the molecule.
(C) A compound having a (meth) acryloyl group and having a silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded, having a weight average molecular weight of 300 to 1,000.
前記化合物(C)が、前記(メタ)アクリロイル基中のカルボニル基を構成する炭素原子と、前記ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子との間に、炭素原子を4つ以上有する化合物である、請求項1に記載の反射防止フィルム。   The compound (C) is a carbon atom between a carbon atom constituting a carbonyl group in the (meth) acryloyl group and a silicon atom to which at least one of the hydroxyl group and the hydrolyzable group is directly bonded. The antireflection film according to claim 1, which is a compound having 4 or more. 前記化合物(C)の前記ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子の数に対する前記(メタ)アクリロイル基の数の比が1.1以上3.0以下である、請求項1又は2に記載の反射防止フィルム。   The ratio of the number of (meth) acryloyl groups to the number of silicon atoms to which at least one of the hydroxyl group and hydrolyzable group of the compound (C) is directly bonded is 1.1 or more and 3.0 or less, The antireflection film according to claim 1 or 2. 前記化合物(C)が、前記(メタ)アクリロイル基中のカルボニル基を構成する炭素原子と、前記ヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子との間に、ウレタン結合を有する化合物である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。   The compound (C) is a urethane bond between a carbon atom constituting a carbonyl group in the (meth) acryloyl group and a silicon atom to which at least one of the hydroxyl group and the hydrolyzable group is directly bonded. The antireflection film according to any one of claims 1 to 3, which is a compound having 前記(B)の含有質量と前記(C)の含有質量の和に対する前記(C)の含有質量の比が0.2以上0.8以下である請求項1〜4のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。   The ratio of the mass of (C) to the sum of the mass of (B) and the mass of (C) is 0.2 or more and 0.8 or less. Antireflection film. 前記(A)の金属酸化物粒子が、(メタ)アクリロイル基を有する化合物で表面修飾された金属酸化物粒子である請求項1〜5のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to any one of claims 1 to 5, wherein the metal oxide particles (A) are metal oxide particles surface-modified with a compound having a (meth) acryloyl group. 前記反射防止層形成用組成物において、前記(A)の金属酸化物粒子が前記(C)の化合物で表面修飾されている、請求項1〜5のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to any one of claims 1 to 5, wherein in the composition for forming an antireflection layer, the metal oxide particles (A) are surface-modified with the compound (C). 前記金属酸化物粒子がシリカ粒子である請求項1〜7のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to any one of claims 1 to 7, wherein the metal oxide particles are silica particles. 前記金属酸化物粒子が焼成シリカ粒子である請求項1〜8のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to claim 1, wherein the metal oxide particles are fired silica particles. 前記基材と前記反射防止層との間にハードコート層を有する請求項1〜9のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。   The antireflection film according to claim 1, further comprising a hard coat layer between the substrate and the antireflection layer. 偏光子と、偏光子を保護する少なくとも1枚の保護フィルムとを有する偏光板であって、保護フィルムの少なくとも1枚が請求項1〜10のいずれか1項に記載の反射防止フィルムである偏光板。   Polarized light having a polarizer and at least one protective film for protecting the polarizer, wherein at least one of the protective films is the antireflection film according to any one of claims 1 to 10. Board. 請求項1〜10のいずれか1項に記載の反射防止フィルムを保護フィルムとして有するカバーガラス。   The cover glass which has an antireflection film of any one of Claims 1-10 as a protective film. 請求項1〜10のいずれか1項に記載の反射防止フィルム、又は請求項11に記載の偏光板を有する画像表示装置。   The image display apparatus which has an antireflection film of any one of Claims 1-10, or a polarizing plate of Claim 11. 基材と反射防止層とを有する反射防止フィルムの製造方法であって、
前記反射防止層は、前記基材側の界面とは反対側の表面に下記(A)の金属酸化物粒子により形成された凹凸形状からなるモスアイ構造を有し、
前記反射防止層の凹凸形状は、隣り合う凸部の頂点間の距離Aと、該隣り合う凸部の頂点間の中心と凹部との距離Bとの比であるB/Aが0.5以上であり、
下記(A)、(B)及び(C)を含有する反射防止層形成用組成物を前記基材上に塗布して、下記(B)及び(C)を硬化させる工程を有する、反射防止フィルムの製造方法。
(A)表面にヒドロキシル基を有する平均一次粒径が50nm以上380nm以下の金属酸化物粒子。
(B)1分子中に3個以上の(メタ)アクリロイル基を有する重量平均分子量1000以下の化合物。ただし、該化合物(B)が(メタ)アクリロイル基以外の重合性基を有する場合は、該重合性基は、水素原子、炭素原子、窒素原子及び酸素原子から選ばれる原子のみから構成された重合性基である。
(C)(メタ)アクリロイル基を有し、かつヒドロキシル基及び加水分解可能な基の少なくとも1種が直接結合したケイ素原子を有する重量平均分子量300以上1000以下の化合物。
A method for producing an antireflection film having a substrate and an antireflection layer,
The antireflection layer has a moth-eye structure having a concavo-convex shape formed of metal oxide particles of the following (A) on the surface opposite to the interface on the substrate side,
The concave-convex shape of the antireflection layer is such that B / A, which is a ratio of the distance A between the apexes of adjacent convex portions and the distance B between the centers of the adjacent convex portions and the concave portions, is 0.5 or more. And
The antireflection film which has the process of apply | coating the composition for antireflection layer containing the following (A), (B) and (C) on the said base material, and hardening the following (B) and (C). Manufacturing method.
(A) Metal oxide particles having a hydroxyl group on the surface and an average primary particle size of 50 nm or more and 380 nm or less.
(B) A compound having three or more (meth) acryloyl groups in one molecule and having a weight average molecular weight of 1,000 or less. However, when the compound (B) has a polymerizable group other than the (meth) acryloyl group, the polymerizable group is a polymerization composed only of atoms selected from a hydrogen atom, a carbon atom, a nitrogen atom and an oxygen atom. Sex group.
(C) A compound having a (meth) acryloyl group and having a silicon atom to which at least one of a hydroxyl group and a hydrolyzable group is directly bonded, having a weight average molecular weight of 300 to 1,000.
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