JP2015191816A - Organic el display device, method of manufacturing organic el display device, and electronic apparatus - Google Patents

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信夫 小澤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an organic EL display device, a method of manufacturing the organic EL display device, and an electronic apparatus, capable of improving reliability by an easier method.SOLUTION: An organic EL display device includes: an element substrate having a first electrode, an organic layer containing a luminous layer and a second electrode on a first substrate in this order; and a counter element which is arranged opposite to the element substrate and has a conductive layer on an organic material layer provided on the element substrate side of the second electrode. The conductive layer has a hole which reaches at least one or more organic material layers.

Description

本開示は、有機エレクトロルミネセンス(EL;Electro Luminescence)現象を利用して発光する有機EL表示装置およびその製造方法ならびにそのような有機EL表示装置を備えた電子機器に関する。   The present disclosure relates to an organic EL display device that emits light using an organic electroluminescence (EL) phenomenon, a manufacturing method thereof, and an electronic apparatus including such an organic EL display device.

上面発光型(トップエミッション方式)の有機EL表示装置では、上部電極を透明電極材料により構成し、基板と反対側の面(上面)から光を取り出す。上部電極として用いられる透明導電材料は、一般的に、金属材料よりも高い抵抗値を有する。このため、より大型の有機EL表示装置では、表示面の端部領域から中央領域に向かうほど電圧降下の影響により表示性能が低下する。これに対して、上部電極の膜厚を厚くすると抵抗値が下がり、表示面内における電圧降下は緩和されるものの、対向電極の可視光透過率が低下し、発光素子の光取り出し効率が低下するという問題が生じる。   In the top emission type (top emission type) organic EL display device, the upper electrode is made of a transparent electrode material, and light is extracted from the surface (upper surface) opposite to the substrate. The transparent conductive material used as the upper electrode generally has a higher resistance value than the metal material. For this reason, in a larger organic EL display device, the display performance decreases due to the influence of the voltage drop from the end region of the display surface toward the central region. On the other hand, when the thickness of the upper electrode is increased, the resistance value is lowered and the voltage drop in the display surface is reduced, but the visible light transmittance of the counter electrode is lowered and the light extraction efficiency of the light emitting element is lowered. The problem arises.

そこで、光取り出し側の基板(対向基板)に第2電極(上記、上部電極に相当)と電気的に接続される補助電極を形成した上面発光型の有機EL表示装置が提案されている(例えば、特許文献1,2参照)。このような有機EL表示装置では、表示領域において、対向基板側に形成された補助電極およびピラーとその表面を覆う透明導電膜とを第2電極と接続させることによって、第2電極の電圧降下を防いでいる。   Therefore, a top emission organic EL display device has been proposed in which an auxiliary electrode electrically connected to a second electrode (corresponding to the upper electrode) is formed on a light extraction side substrate (counter substrate) (for example, Patent Documents 1 and 2). In such an organic EL display device, the voltage drop of the second electrode is reduced by connecting the auxiliary electrode and pillar formed on the counter substrate side and the transparent conductive film covering the surface thereof to the second electrode in the display region. It is preventing.

特開2011−103205号公報JP 2011-103205 A 特開2013−196919号公報JP 2013-196919 A

しかしながら、上記有機EL表示装置では、対向基板側のカラーフィルタ上に補助電極や透明導電膜のような金属の導電層と形成するため、カラーフィルタ内に水分等が残存する虞がある。カラーフィルタに含まれる水分等は、表示装置を組み立てた後、徐々に封止材を介して有機EL素子に浸透し、非発光欠陥の発生や発光寿命が短くなるといった信頼性の低下の原因となり、歩留まりを低下させる。一般的に、カラーフィルタに含まれる水分等はベーク処理によって除去することができるが、カラーフィルタが金属の導電層によって覆われた有機EL表示装置では、高温あるいは真空下での長時間のベーク処理が必要となり、生産性が低下するという問題があった。   However, in the organic EL display device, since a metal conductive layer such as an auxiliary electrode or a transparent conductive film is formed on the color filter on the counter substrate side, moisture or the like may remain in the color filter. Moisture contained in the color filter gradually penetrates into the organic EL element through the sealing material after assembling the display device, causing a decrease in reliability such as generation of non-light emitting defects and shortened light emitting lifetime. , Reduce the yield. In general, moisture and the like contained in the color filter can be removed by baking. However, in an organic EL display device in which the color filter is covered with a metal conductive layer, baking is performed for a long time at high temperature or under vacuum. Is necessary, and there is a problem that productivity decreases.

本開示はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、より簡易な方法で信頼性を向上させることが可能な有機EL表示装置および有機EL表示装置の製造方法ならびに電子機器を提供することにある。   The present disclosure has been made in view of such problems, and an object thereof is to provide an organic EL display device, a method for manufacturing the organic EL display device, and an electronic apparatus capable of improving reliability by a simpler method. There is.

本開示の有機EL表示装置は、第1基板上に、第1電極、発光層を含む有機層および第2電極をこの順に有する素子基板と、素子基板に対向配置され、第2基板の素子基板側に設けられた有機材料層上に導電層を有する対向基板とを備え、導電層は少なくとも1つ以上の有機材料層に達する孔部を有するものである。   An organic EL display device according to the present disclosure includes an element substrate having a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on a first substrate, an element substrate facing the element substrate, and an element substrate of the second substrate A counter substrate having a conductive layer on an organic material layer provided on the side, and the conductive layer has a hole reaching at least one organic material layer.

本開示の有機EL表示装置の製造方法は、第1基板上に、第1電極、発光層を含む有機層および第2電極をこの順に有する素子基板を形成する工程と、第2基板上に、有機材料層および導電層をこの順に有する対向基板を形成する工程と、導電層に有機材料層に達する少なくとも1つ以上の孔部を形成する工程と、素子基板と対向基板とを対向配置し、貼り合わせる工程とを含むものである。   A method of manufacturing an organic EL display device according to the present disclosure includes a step of forming an element substrate having a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on a first substrate; A step of forming a counter substrate having an organic material layer and a conductive layer in this order; a step of forming at least one hole reaching the organic material layer in the conductive layer; and an element substrate and the counter substrate, And a step of bonding.

本開示の電子機器は、上記本開示の有機EL表示装置を備えたものである。   An electronic apparatus according to the present disclosure includes the organic EL display device according to the present disclosure.

本開示の有機EL表示装置およびその製造方法ならびに電子機器では、対向基板に設けられた有機材料層上の導電層に、有機材料層に達する孔部を設けることにより、有機材料層に含まれる水分等の除去が容易になる。   In the organic EL display device, the manufacturing method thereof, and the electronic device of the present disclosure, moisture contained in the organic material layer is provided by providing a hole reaching the organic material layer in the conductive layer on the organic material layer provided on the counter substrate. Etc. are easily removed.

本開示の有機EL表示装置およびその製造方法ならびに電子機器によれば、有機材料層上の導電層に有機材料層に達する孔部を設け、有機材料層に含まれる水分等を容易に除去できるようにしたので、より簡易な方法で信頼性を向上させることが可能となる。なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれの効果であってもよい。   According to the organic EL display device, the manufacturing method thereof, and the electronic device of the present disclosure, a hole reaching the organic material layer is provided in the conductive layer on the organic material layer so that moisture and the like contained in the organic material layer can be easily removed. Therefore, the reliability can be improved by a simpler method. Note that the effects described here are not necessarily limited, and may be any effects described in the present disclosure.

本開示の一実施形態に係る有機EL表示装置の構成を表す断面図である。It is sectional drawing showing the structure of the organic electroluminescence display which concerns on one Embodiment of this indication. 図1に示した対向基板の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the counter substrate shown in FIG. 1. 図2に示した対向基板の詳細構成を表す断面図である。It is sectional drawing showing the detailed structure of the opposing board | substrate shown in FIG. 図2に示した対向基板の詳細構成を表す断面図である。It is sectional drawing showing the detailed structure of the opposing board | substrate shown in FIG. 図1に示した素子基板の形成工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the formation process of the element substrate shown in FIG. 図4Aに続く工程を表す断面図である。It is sectional drawing showing the process of following FIG. 4A. 図4Bに続く工程を表す断面図である。FIG. 4B is a cross-sectional diagram illustrating a process following the process in FIG. 4B. 図5Aに続く工程を表す断面図である。It is sectional drawing showing the process of following FIG. 5A. 図5Bに続く工程を表す断面図である。It is sectional drawing showing the process of following FIG. 5B. 図6Aに続く工程を表す断面図である。It is sectional drawing showing the process of following FIG. 6A. 図6に続く工程を表す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a process following FIG. 6. 図1に示した対向基板の形成工程を説明するための断面図および平面図である。It is sectional drawing and a top view for demonstrating the formation process of the opposing board | substrate shown in FIG. 図8に続く工程を表す断面図および平面図である。It is sectional drawing and the top view showing the process of following FIG. 図9に続く工程を表す断面図および平面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view and a plan view illustrating a process following FIG. 9. 図10に続く工程を表す断面図および平面図である。It is sectional drawing and the top view showing the process following FIG. 素子基板および対向基板の接着工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the adhesion process of an element substrate and a counter substrate. 各条件と対向基板中の水分含有量との関係を表す特性図である。It is a characteristic view showing the relationship between each condition and the water content in a counter substrate. 各実施の形態に係る表示装置の周辺回路を含む全体構成を表す図である。It is a figure showing the whole structure containing the peripheral circuit of the display apparatus which concerns on each embodiment. 図14に示した画素の回路構成を表す図である。It is a figure showing the circuit structure of the pixel shown in FIG. 図1に示した表示装置を含むモジュールの概略構成を表す平面図である。It is a top view showing schematic structure of the module containing the display apparatus shown in FIG. 適用例1の外観を表す斜視図である。14 is a perspective view illustrating an appearance of application example 1. FIG.

以下、本開示の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
1.実施の形態(導電層に有機材料層に達する孔部を形成した例)
2.表示装置の全体構成例,画素回路構成例
3.適用例(電子機器への適用例)
Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings. The description will be given in the following order.
1. Embodiment (Example in which a hole reaching the organic material layer is formed in the conductive layer)
2. 2. Example of overall configuration of display device, pixel circuit configuration example Application example (application example to electronic equipment)

<1.実施の形態>
[構成]
図1は、本開示の一実施の形態に係る有機EL表示装置(有機EL表示装置1)の断面構成を表したものである。有機EL表示装置1は、例えば、画素として複数の有機EL素子10Aが形成された素子基板10上に、封止層30を介して対向基板20が貼り合わされたものであり、光を対向基板20の上方から取り出すトップエミッション型の有機EL表示装置である。この有機EL表示装置1では、例えば赤(R),緑(G),青(B),白(W)の4色のサブピクセルにより1つのピクセルが構成されている。
<1. Embodiment>
[Constitution]
FIG. 1 illustrates a cross-sectional configuration of an organic EL display device (organic EL display device 1) according to an embodiment of the present disclosure. In the organic EL display device 1, for example, a counter substrate 20 is bonded to an element substrate 10 on which a plurality of organic EL elements 10 </ b> A are formed as pixels via a sealing layer 30. It is a top emission type organic EL display device taken out from above. In the organic EL display device 1, for example, one pixel is composed of sub-pixels of four colors of red (R), green (G), blue (B), and white (W).

(素子基板10)
素子基板10では、表示領域(後述の表示領域50)を構成する画素として、有機EL素子10Aが、例えばマトリクス状に複数配置されている。例えば、素子基板10では、第1基板11上に、画素の駆動素子として、ゲート電極12a、ゲート絶縁膜12b、図示しないソース電極,ドレイン電極および半導体層を含むTFT(Thin Film Transistor)12が画素毎に配設されている。このTFT12上には、層間絶縁膜12cを介して配線層13が設けられている。配線層13は、層間絶縁膜12cに設けられたコンタクトプラグを通じて、例えばTFT12のソース電極またはドレイン電極に電気的に接続されている。これらのTFT12および配線層13を含む画素回路は、層間絶縁膜14によって覆われている。素子基板10では、この層間絶縁膜14上に、表示領域50を構成する画素としての有機EL素子10Aが複数配置されている。
(Element substrate 10)
In the element substrate 10, a plurality of organic EL elements 10A are arranged in a matrix, for example, as pixels constituting a display area (a display area 50 described later). For example, in the element substrate 10, a TFT (Thin Film Transistor) 12 including a gate electrode 12 a, a gate insulating film 12 b, a source electrode, a drain electrode, and a semiconductor layer (not shown) is provided on the first substrate 11 as a pixel driving element. It is arranged for each. A wiring layer 13 is provided on the TFT 12 via an interlayer insulating film 12c. The wiring layer 13 is electrically connected to, for example, a source electrode or a drain electrode of the TFT 12 through a contact plug provided in the interlayer insulating film 12c. The pixel circuit including these TFT 12 and wiring layer 13 is covered with an interlayer insulating film 14. In the element substrate 10, a plurality of organic EL elements 10 </ b> A as pixels constituting the display region 50 are arranged on the interlayer insulating film 14.

第1基板11は、例えばガラス基板あるいはプラスチック基板からなる。ガラス基板としては、例えば、高歪点ガラス、ソーダ石灰ガラス(Na2O・CaO・SiO2)、硼珪酸ガラス(Na2O・B23・SiO2)、フォルステライト(2MgO・SiO2)および鉛ガラス(Na2O・PbO・SiO2)等が挙げられる。あるいは、これらのガラスの表面に絶縁膜が形成されたものであってもよいし、他にも石英、シリコン、金属等の表面に絶縁膜が形成されたものを用いることもできる。プラスチック基板としては、例えば、ポリメチルメタクリレート(ポリメタクリル酸メチル,PMMA)、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリビニルフェノール(PVP)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリイミド(PI)、ポリカーボネート(PC)あるいはポリエチレンテレフタレート(PET)等の有機ポリマーが挙げられる。なお、プラスチック基板は、可撓性を有するフィルム状あるいはシート状の形態のものも含む。 The first substrate 11 is made of, for example, a glass substrate or a plastic substrate. Examples of the glass substrate include high strain point glass, soda lime glass (Na 2 O · CaO · SiO 2 ), borosilicate glass (Na 2 O · B 2 O 3 · SiO 2 ), and forsterite (2MgO · SiO 2). ) And lead glass (Na 2 O · PbO · SiO 2 ). Alternatively, those having an insulating film formed on the surface of these glasses may be used, or those having an insulating film formed on the surface of quartz, silicon, metal, or the like may be used. Examples of the plastic substrate include polymethyl methacrylate (polymethyl methacrylate, PMMA), polyvinyl alcohol (PVA), polyvinyl phenol (PVP), polyethersulfone (PES), polyimide (PI), polycarbonate (PC), and polyethylene terephthalate. And organic polymers such as (PET). Note that the plastic substrate includes a flexible film or sheet.

TFT12は、例えば後述の画素回路40におけるトランジスタ3A,3Bに相当するものであり、その構成は例えば逆スタガ構造(ボトムゲート構造)でもよいしスタガ構造(トップゲート構造)であってもよい。   The TFT 12 corresponds to, for example, transistors 3A and 3B in the pixel circuit 40 described later, and the configuration thereof may be, for example, an inverted stagger structure (bottom gate structure) or a stagger structure (top gate structure).

層間絶縁膜12c,14は、酸化シリコン(SiO2)、BPSG、PSG、BSG、AsSG、PbSG、SiON、SOG(スピンオングラス)、低融点ガラス、ガラスペーストといったSiO2系無機材料、SiN系無機材料、およびポリイミド等の樹脂材料のうちのいずれかよりなる単層膜か、あるいはそれらのうちの2種以上よりなる積層膜である。 The interlayer insulating films 12c and 14 are made of SiO 2 inorganic material such as silicon oxide (SiO 2 ), BPSG, PSG, BSG, AsSG, PbSG, SiON, SOG (spin on glass), low melting point glass, glass paste, SiN inorganic material. And a single layer film made of any of resin materials such as polyimide, or a laminated film made of two or more of them.

配線層13は、導電性金属よりなり、例えば下部電極15との接触面には、下部電極15に対する接触抵抗が小さな金属またはそのような金属酸化物を有することが望ましい。   The wiring layer 13 is made of a conductive metal. For example, the contact surface with the lower electrode 15 desirably has a metal having a low contact resistance with respect to the lower electrode 15 or such a metal oxide.

層間絶縁膜14は、平坦性に優れた材料からなることが望ましい。層間絶縁膜14の構成材料としては、上記層間絶縁膜12cと同様の材料を用いてもよいし、異なる絶縁材料を用いてもよい。   The interlayer insulating film 14 is preferably made of a material having excellent flatness. As a constituent material of the interlayer insulating film 14, the same material as the interlayer insulating film 12c may be used, or a different insulating material may be used.

有機EL素子10Aは、例えば下部電極15、発光層を含む有機層17、高抵抗層18および上部電極19がこの順に積層されたものである。下部電極15は、層間絶縁膜14に設けられたコンタクトホールを通じて、配線層13に電気的に接続されている。素子基板10では、複数の有機EL素子10Aはそれぞれ、層間絶縁膜14上に形成された画素間絶縁膜16によって素子分離されている。具体的には、画素間絶縁膜16には、下部電極15に対向して開口が形成されており、この開口において、上記のような下部電極15、有機層17、高抵抗層18および上部電極19の積層構造が形成されている。   In the organic EL element 10A, for example, a lower electrode 15, an organic layer 17 including a light emitting layer, a high resistance layer 18, and an upper electrode 19 are laminated in this order. The lower electrode 15 is electrically connected to the wiring layer 13 through a contact hole provided in the interlayer insulating film 14. In the element substrate 10, each of the plurality of organic EL elements 10 </ b> A is separated by an inter-pixel insulating film 16 formed on the interlayer insulating film 14. Specifically, an opening is formed in the inter-pixel insulating film 16 so as to face the lower electrode 15. In this opening, the lower electrode 15, the organic layer 17, the high resistance layer 18, and the upper electrode as described above are formed. 19 stacked structures are formed.

下部電極15は、有機EL素子10A毎に設けられている。下部電極15の構成材料としては、例えばアノードとして機能する場合には、例えば白金(Pt),金(Au),銀(Ag),クロム(Cr),タングステン(W),ニッケル(Ni),銅(Cu),鉄(Fe),コバルト(Co),タンタル(Ta)等の仕事関数の高い金属の単体あるいはそのような金属の合金が挙げられる。合金としては、例えば、銀を主成分とし、0.3重量%〜1重量%のパラジウム(Pd)と、0.3重量%〜1重量%の銅とを含むAg−Pd−Cu合金、あるいはAl−Nd合金を挙げることができる。あるいは、下部電極15は、上記のような金属元素の単体または合金よりなる金属膜と、ITO等の透明導電膜との積層構造を有していてもよい。下部電極15は、正孔注入性の高い材料により構成されていることが望ましいが、そうでない材料(アルミニウム(Al)あるいはアルミニウムを含む合金等)であっても、適切な正孔注入層を設けることによってアノードとして使用することができる。この下部電極15の厚みは、例えば10nm〜1000nmである。なお、ボトムエミッション型の場合には、透明導電膜、例えばインジウムとスズの酸化物(ITO)、インジウム亜鉛オキシド(IZO)、および酸化亜鉛(ZnO)とアルミニウム(Al)との合金のうちのいずれかよりなる単層膜または2種以上からなる積層膜により構成されている。   The lower electrode 15 is provided for each organic EL element 10A. For example, platinum (Pt), gold (Au), silver (Ag), chromium (Cr), tungsten (W), nickel (Ni), copper can be used as the constituent material of the lower electrode 15 when it functions as an anode. A simple substance of a metal having a high work function such as (Cu), iron (Fe), cobalt (Co), tantalum (Ta), or an alloy of such a metal can be used. As the alloy, for example, an Ag—Pd—Cu alloy containing silver as a main component and containing 0.3 wt% to 1 wt% palladium (Pd) and 0.3 wt% to 1 wt% copper, or Al-Nd alloy can be mentioned. Alternatively, the lower electrode 15 may have a laminated structure of a metal film made of a single metal element or an alloy as described above and a transparent conductive film such as ITO. The lower electrode 15 is preferably made of a material having a high hole-injecting property, but an appropriate hole-injecting layer is provided even if it is a material other than that (such as aluminum (Al) or an alloy containing aluminum). Can be used as an anode. The thickness of the lower electrode 15 is, for example, 10 nm to 1000 nm. In the case of the bottom emission type, any of transparent conductive films such as indium and tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), and an alloy of zinc oxide (ZnO) and aluminum (Al) is used. It is comprised by the single layer film | membrane which consists of these, or the laminated film which consists of 2 or more types.

画素間絶縁膜16は、有機EL素子10Aの下部電極15と上部電極19との絶縁性を確保すると共に、それぞれの画素領域を区画(分離)するためのものである。画素間絶縁膜16は、平坦性に優れると共に、水分による有機層17の劣化を防止して発光輝度を維持するために吸水率の低い絶縁材料から構成することが望ましく、例えばポリイミド樹脂、アクリル樹脂あるいはノボラック樹脂等よりなる。この画素間絶縁膜16の開口配列に応じて、複数の有機EL素子10Aの配列は、例えばストライプ配列、ダイアゴナル配列、デルタ配列、あるいは、レクタングル配列とされる。   The inter-pixel insulating film 16 is for ensuring insulation between the lower electrode 15 and the upper electrode 19 of the organic EL element 10A and partitioning (separating) each pixel region. The inter-pixel insulating film 16 is preferably made of an insulating material having a low water absorption rate in order to maintain the light emission luminance while preventing the deterioration of the organic layer 17 due to moisture, as well as being excellent in flatness. Alternatively, it is made of a novolac resin or the like. Depending on the opening arrangement of the inter-pixel insulating film 16, the arrangement of the plurality of organic EL elements 10A is, for example, a stripe arrangement, a diagonal arrangement, a delta arrangement, or a rectangle arrangement.

有機層17は、少なくとも有機電界発光層(以下、単に発光層という)を含み、本実施の形態では、この発光層(例えば、白色発光層)が全画素に共通の層として形成されている。これにより、画素毎の塗り分けプロセスを省いている。白色発光層としては、青色発光層および黄色発光層を積層したもの、あるいは、青色、緑色、赤色の発光層を積層したもの等が挙げられる。赤色発光層としては、例えば赤色発光材料,正孔輸送性材料および電子輸送性材料のうち少なくとも1種を含み、例えば4,4−ビス(2,2−ジフェニルビニン)ビフェニル(DPVBi)に2,6−ビス[(4'−メトキシジフェニルアミノ)スチリル]−1,5−ジシアノナフタレン(BSN)を混合したものから構成されている。緑色発光層は、例えば、緑色発光材料,正孔輸送性材料および電子輸送性材料のうち少なくとも1種を含み、例えば、ADNやDPVBiにクマリン6を混合したものから構成されている。青色発光層は、例えば、青色発光材料,正孔輸送性材料および電子輸送性材料のうち少なくとも1種を含み、例えば、DPVBiに4,4'−ビス[2−{4−(N,N−ジフェニルアミノ)フェニル}ビニル]ビフェニル(DPAVBi)を混合したものから構成されている。有機層17には、このような発光層の他にも、例えば、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層等が積層されていてもよい。また、電子輸送層と上部電極19との間には、例えばリチウム(Li)、セシウム(Cs)、カルシウム(Ca)、バリウム(Ba)、インジウム(In)あるいはマグネシウム(Mg)等の酸化物または複合酸化物よりなる電子注入層が設けられていてもよい。更に、これらの積層構造をユニット(便宜上、タンデムユニットと呼ぶ)として、2つ以上のタンデムユニットが接続層を介して積層されていてもよい。   The organic layer 17 includes at least an organic electroluminescent layer (hereinafter simply referred to as a light emitting layer). In the present embodiment, this light emitting layer (for example, a white light emitting layer) is formed as a common layer for all pixels. Thereby, the painting process for each pixel is omitted. Examples of the white light emitting layer include those obtained by laminating a blue light emitting layer and a yellow light emitting layer, and those obtained by laminating blue, green and red light emitting layers. The red light emitting layer includes, for example, at least one of a red light emitting material, a hole transporting material, and an electron transporting material, such as 4,4-bis (2,2-diphenylbinine) biphenyl (DPVBi). , 6-bis [(4′-methoxydiphenylamino) styryl] -1,5-dicyanonaphthalene (BSN). The green light emitting layer includes, for example, at least one of a green light emitting material, a hole transporting material, and an electron transporting material, and is composed of, for example, a mixture of ADN or DPVBi and coumarin 6. The blue light emitting layer includes, for example, at least one of a blue light emitting material, a hole transporting material, and an electron transporting material. For example, 4,4′-bis [2- {4- (N, N− Diphenylamino) phenyl} vinyl] biphenyl (DPAVBi) is mixed. In addition to such a light emitting layer, for example, a hole injection layer, a hole transport layer, an electron transport layer, and the like may be stacked on the organic layer 17. Further, between the electron transport layer and the upper electrode 19, for example, an oxide such as lithium (Li), cesium (Cs), calcium (Ca), barium (Ba), indium (In), or magnesium (Mg) or the like An electron injection layer made of a complex oxide may be provided. Furthermore, two or more tandem units may be stacked via a connection layer with these stacked structures as units (referred to as tandem units for convenience).

高抵抗層18は、有機層17と上部透明電極19の間において、透明かつ電気抵抗率の高い材料、例えば酸化ニオブ(Nb25)、ITOあるいはIZOにより構成されている。高抵抗層18を設けることにより、下部電極15および上部電極19間に電圧を印加したときに、例えば異物等に起因して、それらの電極間に短絡が発生することを抑制し、欠陥画素あるいは欠線の発生を防止することができる。この高抵抗層18の電気抵抗率は、例えば1×106Ω・m〜1×108Ω・mであることが望ましい。但し、高抵抗層18は、必要に応じて設けられればよく、有機層17上に直に上部電極19が形成されていてもよい。 The high resistance layer 18 is made of a transparent and high electrical resistivity material such as niobium oxide (Nb 2 O 5 ), ITO or IZO between the organic layer 17 and the upper transparent electrode 19. By providing the high resistance layer 18, when a voltage is applied between the lower electrode 15 and the upper electrode 19, the occurrence of a short circuit between the electrodes due to, for example, foreign matter is suppressed, and defective pixels or Occurrence of a broken line can be prevented. The electrical resistivity of the high resistance layer 18 is preferably 1 × 10 6 Ω · m to 1 × 10 8 Ω · m, for example. However, the high resistance layer 18 may be provided as necessary, and the upper electrode 19 may be formed directly on the organic layer 17.

上部電極19は、有機層17と高抵抗層18を介して電気的に接続され、複数の有機EL素子10Aに共通して設けられている。本実施の形態では、トップエミッション型であることから、この上部電極19は、透明導電膜よりなる。透明導電膜としては、例えばインジウムとスズの酸化物(ITO)、InZnO(インジウ亜鉛オキシド)、および酸化亜鉛(ZnO)とアルミニウム(Al)との合金のうちのいずれかよりなる単層膜または2種以上からなる積層膜である。この上部電極19の厚みは、例えば10nm〜500nmである。ここで、上記のような透明導電膜は高抵抗であるため、通常電圧降下を抑制するために、厚膜化してシート抵抗を下げる必要があり、これによって光学特性を損なうことがある。これに対し、本実施の形態では、後述するように、対向基板20に導電層24を設けることにより電圧降下が抑制されることから、上部電極19を薄膜化して、良好な光学特性を得ることができる。   The upper electrode 19 is electrically connected via the organic layer 17 and the high resistance layer 18 and is provided in common to the plurality of organic EL elements 10A. In the present embodiment, since it is a top emission type, the upper electrode 19 is made of a transparent conductive film. As the transparent conductive film, for example, a single-layer film made of indium and tin oxide (ITO), InZnO (indium zinc oxide), or an alloy of zinc oxide (ZnO) and aluminum (Al) or 2 It is a laminated film composed of seeds or more. The thickness of the upper electrode 19 is, for example, 10 nm to 500 nm. Here, since the transparent conductive film as described above has a high resistance, in order to suppress a normal voltage drop, it is necessary to reduce the sheet resistance by increasing the film thickness, which may impair the optical characteristics. On the other hand, in the present embodiment, as will be described later, since the voltage drop is suppressed by providing the conductive layer 24 on the counter substrate 20, the upper electrode 19 is thinned to obtain good optical characteristics. Can do.

(封止層30)
封止層30は、素子基板10を封止すると共に、素子基板10と対向基板20との接着層となるものであり、外部から有機層17への水分の侵入を防止する目的と、機械的な強度を増す目的で形成される。封止層30は、例えば紫外線(UV)硬化樹脂あるいは熱硬化樹脂等により構成されている。この封止層30は、基板外周部にダム材(外壁)として設けられた樹脂層310aと、この樹脂層310によって囲まれた領域内に形成された樹脂層310b(いずれも図1には図示せず)とを有している。なお、これらのうち、有機EL素子10Aに対向する樹脂層310bでは、有機層17から発光した光の透過率が80%以上であることが望ましい。一方、ダム材としての樹脂層310aについては、透過率については特に制限されないが、水分の透過率が低いことが重要である。図1では、封止層30として、これらのうち樹脂層310bの一部に対応する部分が示されている。
(Sealing layer 30)
The sealing layer 30 seals the element substrate 10 and serves as an adhesive layer between the element substrate 10 and the counter substrate 20, and has the purpose of preventing moisture from entering the organic layer 17 from the outside, and mechanically. It is formed for the purpose of increasing the strength. The sealing layer 30 is made of, for example, an ultraviolet (UV) curable resin or a thermosetting resin. The sealing layer 30 includes a resin layer 310a provided as a dam material (outer wall) on the outer periphery of the substrate, and a resin layer 310b formed in a region surrounded by the resin layer 310 (both shown in FIG. 1). Not shown). Of these, the resin layer 310b facing the organic EL element 10A desirably has a transmittance of light emitted from the organic layer 17 of 80% or more. On the other hand, regarding the resin layer 310a as the dam material, the transmittance is not particularly limited, but it is important that the moisture transmittance is low. In FIG. 1, as the sealing layer 30, a portion corresponding to a part of the resin layer 310b is shown.

封止層30の厚みは、例えば3〜20μmが好適である。20μm以下とすることにより、有機EL素子10Aと後述のカラーフィルタ層との間の距離を適切に保持し、表示面を斜めから見たときと正面から見たときの輝度変化や色度変化を抑制して、良好な視野角特性を得ることができる。また、3μm以上とすることにより、封止時に異物等が挟み込まれた場合であっても、その異物が有機EL素子10Aを加圧することに起因する不良が発生を抑制することができる。   The thickness of the sealing layer 30 is preferably 3 to 20 μm, for example. By setting the thickness to 20 μm or less, the distance between the organic EL element 10A and a color filter layer described later is appropriately maintained, and the luminance change and chromaticity change when the display surface is viewed obliquely and when viewed from the front are reduced. Suppressing and obtaining a good viewing angle characteristic. Moreover, by setting it as 3 micrometers or more, even if it is a case where a foreign material etc. are pinched | interposed at the time of sealing, generation | occurrence | production of the defect resulting from the foreign material pressing 10A of organic EL elements can be suppressed.

(対向基板20)
対向基板20は、第2基板21の一面(素子基板10側の面)に、カラーフィルタ(CF)、ブラックマトリクス(BM)およびオーバーコート(OC)層を含むCF/BM/OC層22(有機材料層)が形成されたものである。このCF/BM/OC層22上には、所定の位置にピラー23(導電性部材)および導電層24Aが配設されており、これらCF/BM/OC層22、ピラー23および導電層24Aを覆うように導電層24Bが形成されている。本実施の形態では、導電層24Aおよび導電層24Bには下層に設けられているCF/BM/OC層22に達する複数の孔部H(H1,H2)が形成されている。第2基板21は、上記第1基板11の構成材料として挙げたものと同様のものから構成され、第1基板11と同一の材料から構成されてもよいし、異なっていてもよいが、第2基板21は、透明性を有する材料よりなる。以下、この対向基板20の各部の構成について詳細に説明する。
(Opposing substrate 20)
The counter substrate 20 has a CF / BM / OC layer 22 (organic) including a color filter (CF), a black matrix (BM), and an overcoat (OC) layer on one surface of the second substrate 21 (the surface on the element substrate 10 side). Material layer) is formed. On the CF / BM / OC layer 22, pillars 23 (conductive members) and a conductive layer 24A are disposed at predetermined positions. The CF / BM / OC layer 22, the pillars 23, and the conductive layer 24A are disposed on the CF / BM / OC layer 22. A conductive layer 24B is formed to cover it. In the present embodiment, a plurality of holes H (H1, H2) reaching the CF / BM / OC layer 22 provided in the lower layer are formed in the conductive layer 24A and the conductive layer 24B. The second substrate 21 is made of the same material as the constituent material of the first substrate 11 and may be made of the same material as the first substrate 11 or may be different. The two substrates 21 are made of a transparent material. Hereinafter, the configuration of each part of the counter substrate 20 will be described in detail.

図2は、対向基板20を封止層30側からみた平面構成を表したものである。図3Aおよび図3Bは、それぞれ、図2におけるI−I線およびII−II線における対向基板20の断面構成を拡大して示したものである。   FIG. 2 illustrates a planar configuration of the counter substrate 20 as viewed from the sealing layer 30 side. 3A and 3B are enlarged views of the cross-sectional configuration of the counter substrate 20 taken along lines II and II-II in FIG. 2, respectively.

対向基板20の一面には、ブラックマトリクスとして遮光層221が設けられており、この遮光層221には、各有機EL素子10Aに対向して、遮光層221を貫通する開口部A1が設けられている。各開口部A1には、それぞれを埋め込むように、カラーフィルタを構成する赤色樹脂層220R、緑色樹脂層220Gおよび青色樹脂層220Bが形成されている。具体的には、本実施の形態では、上述したようにR,G,B,Wの4画素を1ピクセルとした構成であるため、例えば、2×2の配列で4画素が配置され、4つの開口部A1のいずれかに赤色樹脂層220R、緑色樹脂層220Gおよび青色樹脂層220Bが形成されている。なお、W画素については、カラーフィルタを設ける必要はないが、必要に応じて、輝度調整のための透過率制御フィルタが設けられていてもよい。   A light shielding layer 221 is provided on one surface of the counter substrate 20 as a black matrix, and the light shielding layer 221 is provided with an opening A1 penetrating the light shielding layer 221 so as to face each organic EL element 10A. Yes. In each opening A1, a red resin layer 220R, a green resin layer 220G, and a blue resin layer 220B constituting a color filter are formed so as to be embedded therein. Specifically, in the present embodiment, as described above, the four pixels R, G, B, and W are configured as one pixel, and therefore, for example, four pixels are arranged in a 2 × 2 array. A red resin layer 220R, a green resin layer 220G, and a blue resin layer 220B are formed in any one of the two openings A1. In addition, although it is not necessary to provide a color filter for the W pixel, a transmittance control filter for luminance adjustment may be provided as necessary.

赤色樹脂層220R,緑色樹脂層220G,青色樹脂層220Bはそれぞれ、特定の波長域の光を選択的に透過する(他の波長の光は吸収する)カラーフィルタである。これにより、各画素では、有機層17から発せられた白色光を、R,G,Bのいずれかの色光として出射させることができる。但し、W画素(高輝度画素)では、有機層17から発せられた白色光を、カラーフィルタによって吸収させることなく、そのまま白色光として取り出す。このような赤色樹脂層220R,緑色樹脂層220G,青色樹脂層220Bは、例えば感光性樹脂に、染料あるいは顔料を混入したものである。また、各層の厚みは、必要とされる色度等に応じて適宜設定されればよいが、例えば0.1μm〜5μmである。   Each of the red resin layer 220R, the green resin layer 220G, and the blue resin layer 220B is a color filter that selectively transmits light in a specific wavelength range (absorbs light of other wavelengths). Thereby, in each pixel, the white light emitted from the organic layer 17 can be emitted as one of R, G, and B color lights. However, in the W pixel (high luminance pixel), the white light emitted from the organic layer 17 is extracted as white light as it is without being absorbed by the color filter. Such a red resin layer 220R, a green resin layer 220G, and a blue resin layer 220B are obtained by mixing a dye or a pigment in a photosensitive resin, for example. Further, the thickness of each layer may be appropriately set according to the required chromaticity and the like, and is, for example, 0.1 μm to 5 μm.

遮光層221は、例えば感光性樹脂に、黒色の顔料等を混入したものである。これらの樹脂遮光層221Dおよびカラーフィルタ層を覆うように、第2基板21の全面にわたってオーバーコート層222(保護層)が形成されている。オーバーコート層222は、カラーフィルタ層を保護する機能を有し、例えばアクリル樹脂等の有機材料によって形成される。   The light shielding layer 221 is, for example, a mixture of a black pigment or the like in a photosensitive resin. An overcoat layer 222 (protective layer) is formed over the entire surface of the second substrate 21 so as to cover the resin light shielding layer 221D and the color filter layer. The overcoat layer 222 has a function of protecting the color filter layer, and is formed of an organic material such as an acrylic resin.

このように、対向基板20の一面にはCF/BM/OC層22が設けられており、このCF/BM/OC層22上には導電層24が設けられている。導電層24は一部が多層構造を有し、例えばパターニングされた導電層24Aと第2基板21の全面にわたって設けられた導電層24Bとからなる。   As described above, the CF / BM / OC layer 22 is provided on one surface of the counter substrate 20, and the conductive layer 24 is provided on the CF / BM / OC layer 22. A part of the conductive layer 24 has a multilayer structure, and includes, for example, a patterned conductive layer 24A and a conductive layer 24B provided over the entire surface of the second substrate 21.

導電層24Aは、上部電極19の補助電極として機能するものであり、即ち、上部電極19(透明導電膜)よりも電気抵抗率が低くなるような材料および膜厚により構成されている。導電層24Aは所定の位置に形成されており、例えば遮光層221と同様のパターン形状を有している。具体的には、図2に示したように、各画素を囲むように格子状に形成されている。またこの他、たとえばX軸方向に延在する帯状に形成していてもよい。   The conductive layer 24A functions as an auxiliary electrode of the upper electrode 19, that is, is made of a material and a film thickness that have a lower electrical resistivity than the upper electrode 19 (transparent conductive film). The conductive layer 24 </ b> A is formed at a predetermined position, and has a pattern shape similar to that of the light shielding layer 221, for example. Specifically, as shown in FIG. 2, it is formed in a lattice shape so as to surround each pixel. In addition, for example, it may be formed in a strip shape extending in the X-axis direction.

この導電層24Aは、例えば、下部電極15をアノード、上部電極19をカソードとした場合には、例えば画素部の周辺領域に設けられたカソードコンタクト部に接続されている。これにより、上部電極19側から取り出された電流は、導電層24Aおよびカソードコンタクト部を介して素子基板10側の電源に戻ってくる。なお、下部電極15をカソードとした場合であっても、同様に、画素部周辺部にアノードコンタクト部を形成することで電気的には等価になる。   For example, when the lower electrode 15 is an anode and the upper electrode 19 is a cathode, the conductive layer 24A is connected to, for example, a cathode contact portion provided in a peripheral region of the pixel portion. Thereby, the current extracted from the upper electrode 19 side returns to the power source on the element substrate 10 side via the conductive layer 24A and the cathode contact portion. Even when the lower electrode 15 is a cathode, it is electrically equivalent by forming an anode contact portion around the pixel portion.

導電層24Aは、導電性が高く、且つ、空気中で酸化しにくい材料により構成されていることが好ましい。具体的には、例えば、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、金(Au)、銅(Cu)、クロム(Cr)、亜鉛(Zn)、鉄(Fe)、タングステン(W)およびコバルト(Co)等の金属の単体あるいはそのような金属の合金が挙げられる。アルミニウムは比較的酸化しやすいので、表面をモリブデン(Mo)またはチタン(Ti)等で被覆して構成することが好ましい。   The conductive layer 24A is preferably made of a material that is highly conductive and hardly oxidizes in the air. Specifically, for example, aluminum (Al), silver (Ag), gold (Au), copper (Cu), chromium (Cr), zinc (Zn), iron (Fe), tungsten (W) and cobalt (Co) ) And the like, or alloys of such metals. Since aluminum is relatively easy to oxidize, it is preferable to cover the surface with molybdenum (Mo) or titanium (Ti).

導電層24Aの厚みは、電圧降下を十分に抑えるために、有機EL表示装置の特性に応じて適宜設定されればよいが、100nm〜1000nm程度が好適である。導電特性を考慮すると100nm以上が好適であり、製膜プロセスの負荷を考慮すると、1000nm以下が好適である。   The thickness of the conductive layer 24A may be appropriately set according to the characteristics of the organic EL display device in order to sufficiently suppress the voltage drop, but is preferably about 100 nm to 1000 nm. 100 nm or more is preferable when considering the conductive characteristics, and 1000 nm or less is preferable when considering the load of the film forming process.

このような導電層24Aの一例としては、例えば、第2基板21の側から順に、Al(300nm)/Mo(50nm)の2層積層膜が挙げられる。この他にも、Mo(50nm)/Al(300nm)/Mo(50nm)の3層積層膜であってもよいし、Ag合金(300nm)の単層膜であってもよい。   As an example of such a conductive layer 24A, for example, a two-layer laminated film of Al (300 nm) / Mo (50 nm) in order from the second substrate 21 side can be given. In addition, a three-layer laminated film of Mo (50 nm) / Al (300 nm) / Mo (50 nm) may be used, or a single layer film of Ag alloy (300 nm) may be used.

導電層24Bは、例えばITO等の透明導電膜よりなり、厚みは例えば10nm〜5000nmである。導電層24Bは、ここではピラー23の表面だけでなく、赤色樹脂層220R,緑色樹脂層220G,青色樹脂層220B等が設けられた表示領域50の全面にわたって設けられている。このため、導電層24Bは透明性を有することが好ましいが、必ずしも透明性を有している必要はない。   The conductive layer 24B is made of a transparent conductive film such as ITO, and has a thickness of 10 nm to 5000 nm, for example. Here, the conductive layer 24B is provided not only on the surface of the pillar 23 but also over the entire display area 50 where the red resin layer 220R, the green resin layer 220G, the blue resin layer 220B, and the like are provided. For this reason, although it is preferable that the conductive layer 24B has transparency, it does not necessarily need to have transparency.

本実施の形態では、導電層24(24A,24B)には、図2および図3A,3Bに示したように導電層24を貫通してCF/BM/OC層22に達する複数の孔部Hが設けられている。孔部Hは、補助配線としての導電層24(特に、導電層24A)の電気抵抗が上がらない程度、例えば導電層24の全面にわたって万遍無く、例えば導電層24の形成領域に対して50%程度の割合で一様に設けられていることが好ましい。本実施の形態では、格子状に設けられた導電層24Aには、図2に示したように複数の孔部H2Aが一様に形成されている。第2基板21の全面に設けられた導電層24Bには、図2に示したように画素の開口と略同一の孔部(孔部H1)が形成されている。なお、画素の開口部(開孔A3)には導電層24Aは形成されていないため、画素上には図3Aに示したように、導電層24Aに形成された孔部H1によってCF/BM/OC層22が露出される。更に、導電層24Bには、導電層24Aに形成された孔部H2Aと同じ位置に孔部(孔部H2B)が形成されており、これにより、図3Bに示したように、各画素間にCF/BM/OC層22まで貫通する孔部2が形成される。なお、孔部H2は、導電層24Aに形成された孔部H2Aと導電層24Bに形成された孔部H2Bとが必ずしも完全に一致している必要はなく、各孔部H2A,H2Bの少なくとも一部が重なり、CF/BM/OC層22まで貫通していればよい。このように、導電層24に、これら孔部Hを形成することによってCF/BM/OC層22の一部が露出され、後述するベーク処理において孔部HからCF/BM/OC層22に含まれる水分等を除去することができる。   In the present embodiment, the conductive layer 24 (24A, 24B) includes a plurality of holes H that penetrate the conductive layer 24 and reach the CF / BM / OC layer 22 as shown in FIGS. 2 and 3A, 3B. Is provided. The hole H has a degree that the electric resistance of the conductive layer 24 (particularly the conductive layer 24A) as the auxiliary wiring does not increase, for example, the entire surface of the conductive layer 24, for example, 50% of the region where the conductive layer 24 is formed. It is preferable that they are uniformly provided at a ratio of about. In the present embodiment, a plurality of holes H2A are uniformly formed in the conductive layer 24A provided in a lattice shape as shown in FIG. In the conductive layer 24B provided on the entire surface of the second substrate 21, a hole (hole H1) substantially the same as the opening of the pixel is formed as shown in FIG. Note that since the conductive layer 24A is not formed in the opening (opening A3) of the pixel, the CF / BM / is formed on the pixel by the hole H1 formed in the conductive layer 24A as shown in FIG. 3A. The OC layer 22 is exposed. Further, in the conductive layer 24B, a hole (hole H2B) is formed at the same position as the hole H2A formed in the conductive layer 24A. Thus, as shown in FIG. A hole 2 penetrating to the CF / BM / OC layer 22 is formed. It should be noted that the hole H2 does not necessarily need to completely match the hole H2A formed in the conductive layer 24A and the hole H2B formed in the conductive layer 24B, and at least one of the holes H2A and H2B. It is only necessary that the portions overlap and penetrate to the CF / BM / OC layer 22. In this way, by forming these hole portions H in the conductive layer 24, a part of the CF / BM / OC layer 22 is exposed and included in the CF / BM / OC layer 22 from the hole portions H in the baking process described later. Moisture and the like can be removed.

ピラー23は、素子基板10および対向基板20間のスペーサとして機能すると共に、詳細は後述するが、導電層24Aと、素子基板10の上部電極19とを電気的に接続するための部材である。このため、ピラー23は、導電性を有する材料から構成されることが望ましいが、絶縁材料から構成されていてもよい。例えば、ピラー23は、導電層24A上にフォトレジスト等の感光性樹脂を用いて形成され、その表面は導電層24Bによって被覆されている。   The pillar 23 functions as a spacer between the element substrate 10 and the counter substrate 20 and is a member for electrically connecting the conductive layer 24 </ b> A and the upper electrode 19 of the element substrate 10, as will be described in detail later. For this reason, the pillar 23 is preferably made of a conductive material, but may be made of an insulating material. For example, the pillar 23 is formed on the conductive layer 24A using a photosensitive resin such as a photoresist, and the surface thereof is covered with the conductive layer 24B.

このピラー23は、対向基板20の面内に複数、例えば、図2に示したようにY方向に隣接する画素間にそれぞれ配設される。このため、複数のピラー23の高さのばらつきを吸収し得る程度以上の弾性を有していることが望ましい。ピラー23の形成時に高さにばらつきが生じると、封止時に上部電極19と最初にコンタクトする部分(比較的高いピラー23)と、時間的に後からコンタクトする部分(比較的低いピラー23)が生じる。ピラー23が十分な弾性を有していれば、高さのあるピラー23を弾性変形により縮めてコンタクトさせることができ、低いピラー23の高さに合わせてセルギャップを規定することができる。ピラー23に高さのばらつきが生じた場合であっても、基板全面でのコンタクトが可能となる。まら、ピラー23が弾性を有することで、高さのばらつきに起因して生じるクラックの発生を抑制することもできる。   A plurality of pillars 23 are disposed in the surface of the counter substrate 20, for example, between pixels adjacent in the Y direction as shown in FIG. For this reason, it is desirable to have elasticity more than the extent which can absorb the dispersion | variation in the height of the some pillar 23. FIG. If the height of the pillar 23 varies, the first contact portion with the upper electrode 19 (relatively high pillar 23) at the time of sealing and the later contact portion (relatively low pillar 23) in time. Arise. If the pillars 23 have sufficient elasticity, the pillars 23 having a height can be contracted by elastic deformation and contacted, and the cell gap can be defined in accordance with the height of the low pillars 23. Even when the height of the pillars 23 varies, the entire substrate can be contacted. Furthermore, since the pillar 23 has elasticity, it is possible to suppress the occurrence of cracks caused by the variation in height.

(上部電極19と導電層24Aの電気的接続)
本実施の形態では、上記のように、第2基板上に、遮光膜221、カラーフィルタ220およびオーバーコート層222がこの順に形成されており、オーバーコート層222上には補助電極としての導電層24Aが局所的に形成されている。この導電層24A上には、素子基板10側に突出するピラー23が設けられ、これらピラー23および導電層24Aを含む第2基板21の全面が導電層24Bによって覆われている。ピラー23の先端部分では、導電層24Bと、素子基板10の上部電極19とが接触している。これにより。ピラー23および導電層24Bを介して、上部電極10と導電層24A(補助電極)とが電気的に接続されている。
(Electric connection between upper electrode 19 and conductive layer 24A)
In the present embodiment, as described above, the light shielding film 221, the color filter 220, and the overcoat layer 222 are formed in this order on the second substrate, and a conductive layer as an auxiliary electrode is formed on the overcoat layer 222. 24A is locally formed. On the conductive layer 24A, pillars 23 projecting toward the element substrate 10 are provided, and the entire surface of the second substrate 21 including the pillars 23 and the conductive layer 24A is covered with the conductive layer 24B. At the tip of the pillar 23, the conductive layer 24B and the upper electrode 19 of the element substrate 10 are in contact with each other. By this. The upper electrode 10 and the conductive layer 24A (auxiliary electrode) are electrically connected via the pillar 23 and the conductive layer 24B.

このように、ピラー23を用いて上部電極19と導電層24Aとの電気的接続を確保する場合、ピラー23を対向基板20側に予め形成しておくことから、接続位置を明確に規定することができる。   In this way, when the electrical connection between the upper electrode 19 and the conductive layer 24A is secured using the pillar 23, the pillar 23 is formed in advance on the counter substrate 20 side, so that the connection position is clearly defined. Can do.

[製造方法]
上記のような有機EL表示装置1は、例えば次のようにして製造することができる。図4〜図12は、有機EL表示装置1の製造工程を表したものである。
[Production method]
The organic EL display device 1 as described above can be manufactured, for example, as follows. 4 to 12 show the manufacturing process of the organic EL display device 1.

(素子基板10の作製)
まず、素子基板10を作製する。具体的には、図4Aに示したように、第1基板11上に、公知の薄膜形成プロセスにより、ゲート電極12a、ゲート絶縁膜12bおよび層間絶縁膜12c等を順次形成することにより、TFT12を形成した後、このTFT12に導通する配線層13を形成する。
(Preparation of element substrate 10)
First, the element substrate 10 is produced. Specifically, as shown in FIG. 4A, the gate electrode 12a, the gate insulating film 12b, the interlayer insulating film 12c, and the like are sequentially formed on the first substrate 11 by a known thin film forming process, so that the TFT 12 is formed. After the formation, a wiring layer 13 that conducts to the TFT 12 is formed.

続いて、図4Bに示したように、層間絶縁膜14を形成する。具体的には、まず、基板全面にわたって、上述した材料よりなる層間絶縁膜14を、例えばCVD法、塗布法、スパッタリング法、あるいは各種印刷法等を用いて成膜する。この後、例えばフォトリソグラフィ法を用いたエッチングにより、層間絶縁膜14の配線層13に対向する領域にコンタクトホールA2を形成する。   Subsequently, as shown in FIG. 4B, an interlayer insulating film 14 is formed. Specifically, first, the interlayer insulating film 14 made of the above-described material is formed over the entire surface of the substrate using, for example, a CVD method, a coating method, a sputtering method, or various printing methods. Thereafter, a contact hole A2 is formed in a region facing the wiring layer 13 of the interlayer insulating film 14 by etching using, for example, a photolithography method.

次いで、図5Aに示したように、下部電極15を形成する。即ち、まず、層間絶縁膜14上に、コンタクトホールA2を埋め込むように、上述した材料よりなる下部電極15を、例えばスパッタリング法等により成膜する。この後、成膜した下部電極15を、例えばフォトリソグラフィ法を用いたエッチングにより、所定の形状にパターニングすると共に画素毎に分離する。   Next, as shown in FIG. 5A, the lower electrode 15 is formed. That is, first, the lower electrode 15 made of the above-described material is formed on the interlayer insulating film 14 by, for example, a sputtering method so as to fill the contact hole A2. Thereafter, the deposited lower electrode 15 is patterned into a predetermined shape and separated for each pixel by etching using, for example, a photolithography method.

続いて、図5Bに示したように、画素間絶縁膜16を形成する。即ち、まず、基板全面にわたって、上述した材料よりなる画素間絶縁膜16を成膜した後、下部電極15に対応する領域に開口部A3を形成する。この際、画素間絶縁膜16として感光性樹脂を用いる場合には、成膜後、フォトマスクを用いて露光することにより開口部A3を形成可能である。また、開口部A3の形成後、必要に応じてリフローを行ってもよい。この開口部A3がいわゆる各画素の発光領域(画素開口)となる。   Subsequently, as shown in FIG. 5B, an inter-pixel insulating film 16 is formed. That is, first, after the inter-pixel insulating film 16 made of the above-described material is formed over the entire surface of the substrate, the opening A3 is formed in a region corresponding to the lower electrode 15. At this time, when a photosensitive resin is used as the inter-pixel insulating film 16, the opening A3 can be formed by exposure using a photomask after film formation. Further, after the opening A3 is formed, reflow may be performed as necessary. This opening A3 becomes a so-called light emitting region (pixel opening) of each pixel.

次に、図6Aに示したように、有機層17を形成する。本実施の形態では、上述したように、各画素に共通の発光層(例えば白色発光層)を形成することから、例えば赤色、緑色、青色の各発光材料を基板全面にわたって、例えば真空蒸着法により順次成膜する。あるいは、有機層17の形成方法としては、この真空蒸着法の他にも、スクリーン印刷法やインクジェット印刷法といった印刷法および塗布法を用いてもよい。また、転写用基板上に、レーザ光吸収層と有機層との積層体を形成しておき、この転写用基板にレーザ照射を行うことで転写用基板から有機層を分離して転写する、といったレーザ転写法を用いてもよい。なお、有機層17として、上記発光層の他に、正孔輸送層や電子輸送層等を形成する際には、いずれの層も発光層と真空一貫プロセスにより形成されることが望ましい。   Next, as shown in FIG. 6A, the organic layer 17 is formed. In this embodiment, as described above, since a common light emitting layer (for example, a white light emitting layer) is formed in each pixel, for example, red, green, and blue light emitting materials are spread over the entire surface of the substrate by, for example, vacuum deposition. Films are sequentially formed. Alternatively, as a method for forming the organic layer 17, in addition to the vacuum deposition method, a printing method such as a screen printing method or an ink jet printing method and a coating method may be used. In addition, a laminate of a laser light absorption layer and an organic layer is formed on the transfer substrate, and the organic layer is separated from the transfer substrate by transferring the laser to the transfer substrate, and transferred. A laser transfer method may be used. In addition to the light emitting layer described above, when the hole transport layer, the electron transport layer, or the like is formed as the organic layer 17, it is desirable that all layers are formed by a vacuum consistent process with the light emitting layer.

続いて、図6Bに示したように、上述した材料よりなる高抵抗層18を、有機層17上の全面にわたって、例えばスパッタ法、蒸着法あるいはCVD法等により形成する。   Subsequently, as shown in FIG. 6B, the high resistance layer 18 made of the above-described material is formed over the entire surface of the organic layer 17 by, for example, sputtering, vapor deposition, CVD, or the like.

次いで、図7に示したように、上述した透明導電膜よりなる上部電極19を、例えばスパッタ法により基板全面にわたって形成する。このようにして、素子基板10を形成する。   Next, as shown in FIG. 7, the upper electrode 19 made of the above-described transparent conductive film is formed over the entire surface of the substrate by, for example, sputtering. In this way, the element substrate 10 is formed.

(対向基板20の作製)
一方、対向基板20を、例えば次のようにして作製する。図8〜図10は、対向基板20の作製工程を表すものである。
(Preparation of counter substrate 20)
On the other hand, the counter substrate 20 is manufactured as follows, for example. 8 to 10 show a manufacturing process of the counter substrate 20.

具体的には、まず、図8に示したように、第2基板21上に、遮光層221およびカラーフィルタ層をそれぞれパターン形成する。次いで、図9に示したように、遮光層221およびカラーフィルタ220を覆って、オーバーコート層222を例えばスリットコータ法、スパッタ法により形成する。   Specifically, first, as shown in FIG. 8, the light shielding layer 221 and the color filter layer are respectively patterned on the second substrate 21. Next, as shown in FIG. 9, the overcoat layer 222 is formed by, for example, a slit coater method or a sputtering method so as to cover the light shielding layer 221 and the color filter 220.

続いて、図10に示したように、オーバーコート層222上に、上述した導電層24Aを構成する低抵抗材料を、例えばスパッタ法により成膜した後、例えばフォトリソグラフィ法を用いたエッチングによりパターニングすることにより導電層24Aを形成する。このとき、画素部における孔部H1と共に、孔部H2Aを形成する。   Subsequently, as shown in FIG. 10, a low-resistance material constituting the conductive layer 24A described above is formed on the overcoat layer 222 by, for example, a sputtering method, and then patterned by, for example, etching using a photolithography method. Thus, the conductive layer 24A is formed. At this time, the hole H2A is formed together with the hole H1 in the pixel portion.

次いで、図11に示したように、導電層24A上の選択的な領域に、ピラー23を形成する。ピラー23としては、例えばフォトスペーサ等に用いられる感光性アクリル樹脂を使用することができ、このような感光性樹脂をフォトマスクを用いて露光することにより形成する。この後、例えば基板全面にわたって、例えばスパッタ法により導電層24Bを形成する。このとき、導電層24Aとピラー23の表面に形成された導電層24Bとが電気的に接続される。   Next, as shown in FIG. 11, pillars 23 are formed in selective regions on the conductive layer 24A. As the pillar 23, for example, a photosensitive acrylic resin used for a photo spacer or the like can be used, and the photosensitive resin is formed by exposing such a photosensitive resin using a photomask. Thereafter, the conductive layer 24B is formed over the entire surface of the substrate, for example, by sputtering. At this time, the conductive layer 24A and the conductive layer 24B formed on the surface of the pillar 23 are electrically connected.

続いて、この導電層24Bに、導電層24Aで形成した孔部H2Aと同位置と、表示領域の画素の開口部A3の両方に、カラーフィルタ220まで達する状態の孔部H2B,H1を、通常のリソグラフィー工程のパターニングによって形成する。ここでは、図2,図3Bに示したように、導電層24Bに、導電層24Aで形成した孔部と同じサイズの、例えば5μm×5μmの矩形上の孔部を、幅方向および長さ方向にそれぞれ10μmの間隔を有して形成することとする。また、画素の開口部A3に相当する領域を、開口のサイズに合わせて矩形上に形成することとする。このようにして、画素の非開口部に相当する領域、導電層24Aと導電層24Bの両方を貫通する孔部H2と、開口部A3に相当する領域に導電層24Bを貫通する孔部H1が形成され、それぞれの孔部H1,H2の表面は、CF/BM/OC層22が露出された状態が形成される。   Subsequently, the holes H2B and H1 in a state of reaching the color filter 220 at both the same position as the hole H2A formed by the conductive layer 24A and the opening A3 of the pixel in the display region are formed on the conductive layer 24B. It is formed by patterning in the lithography process. Here, as shown in FIG. 2 and FIG. 3B, in the conductive layer 24B, a rectangular hole of, for example, 5 μm × 5 μm having the same size as the hole formed in the conductive layer 24A is formed in the width direction and the length direction. Each of them is formed with an interval of 10 μm. In addition, an area corresponding to the opening A3 of the pixel is formed on a rectangle in accordance with the size of the opening. In this way, the region corresponding to the non-opening portion of the pixel, the hole portion H2 that penetrates both the conductive layer 24A and the conductive layer 24B, and the hole portion H1 that penetrates the conductive layer 24B in the region corresponding to the opening portion A3 are formed. As a result, the CF / BM / OC layer 22 is exposed on the surface of each of the holes H1 and H2.

次に、対向基板20を、微小異物を除去するために純水でスピン洗浄を行った後、ベーク処理を行う。このとき、導電膜に形成した孔部を通して、CF/BM/OC層22内部に残存している水分などが除去される。例えば、150℃で30分のベーク処理で、CF/BM/OC層22内の水分などは確実に除去される。   Next, the counter substrate 20 is subjected to spin cleaning with pure water in order to remove minute foreign substances, and then subjected to a baking process. At this time, moisture remaining in the CF / BM / OC layer 22 is removed through the hole formed in the conductive film. For example, moisture in the CF / BM / OC layer 22 is reliably removed by baking at 150 ° C. for 30 minutes.

導電層24Aと導電層24Bに形成される孔部H1,H2は、開口が大きいほうが望ましいが、導電層24A上の面積を小さくしてしまうと、抵抗が下がってしまうので、50%程度の割合で形成されたほうがよい。また、孔部H1,H2は均等に配列されたほうが、CF/BM/OC層22の水分などを除去しやすい。また、孔部H1,H2の形状は、ここでは矩形状としたが、円形あるいはライン状でもかまわない。   The holes H1 and H2 formed in the conductive layer 24A and the conductive layer 24B preferably have a large opening. However, if the area on the conductive layer 24A is reduced, the resistance decreases, so the ratio is about 50%. It is better to be formed with. In addition, it is easier to remove moisture and the like from the CF / BM / OC layer 22 if the holes H1 and H2 are arranged evenly. The shape of the holes H1 and H2 is rectangular here, but it may be circular or linear.

なお、導電層24の孔部H1,H2の形成方法として、通常のリソグラフィー工程のパターニングを用いたが、この方法に限定されるものではなく、例えば、レーザアブレーションなどの方法で、導電層24を除去することも可能である。   In addition, although the patterning of the normal lithography process was used as a formation method of the holes H1 and H2 of the conductive layer 24, it is not limited to this method. For example, the conductive layer 24 is formed by a method such as laser ablation. It is also possible to remove it.

(貼り合わせ(封止)工程)
次に、上記のようにしてそれぞれ作製した素子基板10および対向基板20を、封止層30を介して貼り合わせる。この際、例えば、ODF(One Drop Fill)法と呼ばれる成膜手法を用いるのが好ましい。ODF法とは、素子基板10(あるいは対向基板20)上に、複数の樹脂滴(樹脂ドロップ)を等間隔に配置し、真空中で両基板を圧着させる手法である。この後、大気に開放することで、基板にかかる圧力(大気圧)により樹脂滴が基板間に充填される。このようにして樹脂を充填した後、樹脂を硬化させる。
(Lamination (sealing) process)
Next, the element substrate 10 and the counter substrate 20 manufactured as described above are bonded to each other through the sealing layer 30. At this time, for example, it is preferable to use a film forming technique called an ODF (One Drop Fill) method. The ODF method is a method in which a plurality of resin droplets (resin drops) are arranged at equal intervals on the element substrate 10 (or the counter substrate 20), and both substrates are pressure-bonded in a vacuum. Thereafter, the resin droplets are filled between the substrates by the pressure (atmospheric pressure) applied to the substrates by opening to the atmosphere. After filling the resin in this way, the resin is cured.

具体的には、まず、図12(A)に示したように、真空チャンバー内のプレート280A,280B間に素子基板10および対向基板20を対向配置させ、例えば素子基板10上に、封止層30として、樹脂層310a(ダム材)を素子基板10aの外周に沿って塗布した後、樹脂層310aによって囲まれた領域内に、樹脂層310bを、例えば樹脂材料を等間隔で複数個所に滴下する。ここで、樹脂層310a,310bは、硬化前の状態では、液体またはゲル状であるが、樹脂層310aは比較的粘性が高い材料からなり、樹脂層310bは、粘性の低い材料からなる。   Specifically, first, as shown in FIG. 12A, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are arranged to face each other between the plates 280A and 280B in the vacuum chamber, and the sealing layer is formed on the element substrate 10, for example. 30, after the resin layer 310a (dam material) is applied along the outer periphery of the element substrate 10a, the resin layer 310b, for example, a resin material is dropped at a plurality of locations at equal intervals in the region surrounded by the resin layer 310a. To do. Here, the resin layers 310a and 310b are in a liquid or gel state before being cured, but the resin layer 310a is made of a material having a relatively high viscosity, and the resin layer 310b is made of a material having a low viscosity.

続いて、図12(B)に示したように、プレート280A,280Bを用いて、機械的に素子基板10および対向基板20を圧着する。これにより、素子基板10および対向基板20間の領域では、樹脂層310aによって囲まれる領域内において、樹脂層310bが広がる。   Subsequently, as shown in FIG. 12B, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are mechanically pressure-bonded using the plates 280A and 280B. Thereby, in the region between the element substrate 10 and the counter substrate 20, the resin layer 310b spreads in the region surrounded by the resin layer 310a.

この後、図12(C)に示したように、素子基板10および対向基板20をチャンバー内から取り出し、大気に曝すと、大気圧によって素子基板10および対向基板20へ更に圧力がかかり、基板間が樹脂層310a,310bにより満たされる。最後に、樹脂層310a,310bを硬化させることにより、封止層30を形成する。以上により、図1に示した有機EL表示装置1を完成する。   Thereafter, as shown in FIG. 12C, when the element substrate 10 and the counter substrate 20 are taken out from the chamber and exposed to the atmosphere, the element substrate 10 and the counter substrate 20 are further pressurized by the atmospheric pressure, and the gap between the substrates is increased. Is filled with the resin layers 310a and 310b. Finally, the sealing layers 30 are formed by curing the resin layers 310a and 310b. Thus, the organic EL display device 1 shown in FIG. 1 is completed.

なお、樹脂層310a,310bとしては、熱硬化樹脂を用いても、光硬化樹脂を用いてもよいが、光硬化樹脂の場合にはカラーフィルタ層を透過する波長により硬化するものを用いる。または、光遅延型硬化樹脂を用いてもよく、この場合には、圧着前に予め光照射を行い、樹脂が完全に硬化する前に上記のようにして基板間に樹脂を充填させ、この後、再度光照射を行って樹脂を完全に硬化させる。   As the resin layers 310a and 310b, a thermosetting resin or a photocuring resin may be used. In the case of the photocuring resin, a resin that cures at a wavelength that transmits the color filter layer is used. Alternatively, a light delay type curable resin may be used. In this case, light irradiation is performed in advance before pressure bonding, and the resin is filled between the substrates as described above before the resin is completely cured. Then, light irradiation is performed again to completely cure the resin.

[作用・効果]
有機EL表示装置1では、各画素では、図示しない駆動回路から供給される走査信号等に応じ、画素(有機EL素子10A)毎に、下部電極15および上部電極19を通じて有機層17に所定の駆動電流が注入される。これにより、有機層17の発光層では、正孔と電子との再結合により発光が生じる。有機層17から生じた光(白色光)は、高抵抗層18、上部電極19,封止層30および対向基板20を透過することにより、表示光として取り出される。対向基板20を通過する際、画素毎に対応する色のカラーフィルタ層(W画素では開口部H1)をそれぞれ透過することにより、R,G,B,Wのいずれかの色光として取り出される。
[Action / Effect]
In the organic EL display device 1, in each pixel, predetermined driving is performed on the organic layer 17 through the lower electrode 15 and the upper electrode 19 for each pixel (organic EL element 10 </ b> A) according to a scanning signal or the like supplied from a driving circuit (not shown). Current is injected. Thereby, in the light emitting layer of the organic layer 17, light emission occurs due to recombination of holes and electrons. Light (white light) generated from the organic layer 17 is extracted as display light by passing through the high resistance layer 18, the upper electrode 19, the sealing layer 30 and the counter substrate 20. When passing through the counter substrate 20, the light passes through the color filter layer (opening portion H <b> 1 in the W pixel) corresponding to each pixel, and is extracted as one of R, G, B, and W color light.

このように、トップエミッション型の有機EL表示装置1では、対向基板20の側にカラーフィルタ層が形成され、有機層17から発せられた白色光を上部電極19側から取り出し、カラーフィルタ層を透過させることによって、カラーの表示を実現する。このため、上部電極19としては、高抵抗な透明導電膜を用いる必要があるが、光学的な観点から上部電極19を厚膜化しにくい。上部電極19を薄膜化するとその分抵抗が高くなり、電圧降下が生じる。また、上述したように、大型化、高精細化に伴って、画素部内の領域毎の配線抵抗のばらつきが無視できなくなり、電圧降下に起因する面内輝度のばらつきが生じる。   Thus, in the top emission type organic EL display device 1, the color filter layer is formed on the counter substrate 20, the white light emitted from the organic layer 17 is extracted from the upper electrode 19 side, and is transmitted through the color filter layer. By doing so, color display is realized. For this reason, it is necessary to use a high-resistance transparent conductive film as the upper electrode 19, but it is difficult to increase the thickness of the upper electrode 19 from an optical viewpoint. When the thickness of the upper electrode 19 is reduced, the resistance increases accordingly, and a voltage drop occurs. Also, as described above, with the increase in size and definition, the variation in wiring resistance for each region in the pixel portion cannot be ignored, resulting in variation in in-plane luminance due to voltage drop.

そこで、前述したように、対向基板側に低抵抗なメタルよりなる補助電極およびピラーの表面を覆う透明導電膜と上部電極とを電気的に接続することによって上部電極の電圧降下を抑制する方法が考えられる。しかしながら、対向基板側にはカラーフィルタ層等の有機材料からなる層(有機材料層)が形成されており、上記透明導電膜は、これら有機材料層を覆うように形成されるため、有機材料層に含まれる水分等を除去することが困難となる。有機材料層に含まれる水分等は、表示装置を組み立てた後、徐々に封止層を介して有機EL素子に浸透し、非発光欠陥や発光寿命の低下といった問題の原因となる。また、有機材料層中の水分等は高温あるいは真空下での長時間のベーク処理を行うことによって除去することは可能であるが、生産性が低下するという問題が発生する。   Therefore, as described above, there is a method for suppressing the voltage drop of the upper electrode by electrically connecting the upper electrode to the auxiliary electrode made of low-resistance metal on the opposite substrate side and the transparent conductive film covering the surface of the pillar. Conceivable. However, a layer (organic material layer) made of an organic material such as a color filter layer is formed on the counter substrate side, and the transparent conductive film is formed so as to cover these organic material layers. It becomes difficult to remove moisture and the like contained in the water. Moisture or the like contained in the organic material layer gradually penetrates into the organic EL element through the sealing layer after the display device is assembled, and causes problems such as non-light emitting defects and a decrease in light emission lifetime. In addition, moisture and the like in the organic material layer can be removed by baking for a long time at a high temperature or in a vacuum, but there is a problem that productivity is lowered.

これに対して、本実施の形態では、対向基板20に設けられた上記有機材料層に相当するCF/BM/OC層22上に設けられた導電層24(24A,24B)にCF/BM/OC層22まで達する孔部H(H1,H2)を形成した。図13は、対向基板がガラスのみで構成された場合を基準として、各構成および各ベーク条件における対向基板の水分含有量を相対的に表したものである。表1は、各構成、各ベーク条件および対向基板に含まれる水分量(水分含有量)をまとめたものである。図13および表1から以下のことがわかる。まず、条件2と条件3とを比較すると、有機材料からなるカラーフィルタ(CF)上に金属材料からなる補助配線を設けることで同じ条件でベーク処理を行ってもカラーフィルタに含まれる水分が除去されず、対向基板に含まれる水分量が大きく増加した。この条件3と条件4〜条件6とを比較すると、ベーク条件を激しくするに従って(具体的には加熱条件を150℃から190℃に(条件4)、さらに処理時間を30分から120分に(条件5)、さらに、真空中で行う(条件6))対向基板に含まれる水分量は減少した。これに対して、本実施の形態である、補助配線(導電層24)に孔部(孔部H)を形成した条件7では、条件2および条件3と同じベーク処理にて、対向基板に含まれる水分量を条件6以下の値まで低減することができた。このように、CF/BM/OC層22上に設けられた導電層24(24A,24B)にCF/BM/OC層22まで達する孔部H(H1,H2)を形成することにより、低温短時間(例えば150℃で30分)といった穏やかな条件でのベーク処理によってCF/BM/OC層22中に含まれる水分等を除去することが可能となる。   In contrast, in the present embodiment, CF / BM / is applied to the conductive layer 24 (24A, 24B) provided on the CF / BM / OC layer 22 corresponding to the organic material layer provided on the counter substrate 20. Holes H (H1, H2) reaching the OC layer 22 were formed. FIG. 13 relatively represents the moisture content of the counter substrate in each configuration and each baking condition with reference to the case where the counter substrate is composed only of glass. Table 1 summarizes each configuration, each baking condition, and the moisture content (moisture content) contained in the counter substrate. The following can be understood from FIG. 13 and Table 1. First, when comparing Condition 2 and Condition 3, moisture contained in the color filter is removed even if baking is performed under the same conditions by providing an auxiliary wiring made of a metal material on a color filter (CF) made of an organic material. The amount of water contained in the counter substrate was greatly increased. When this condition 3 is compared with conditions 4 to 6, the baking conditions are increased (specifically, the heating condition is changed from 150 ° C. to 190 ° C. (condition 4), and the treatment time is further changed from 30 minutes to 120 minutes (conditions 5) Further, in a vacuum (Condition 6)) The amount of water contained in the counter substrate decreased. On the other hand, in condition 7 in which the hole (hole H) is formed in the auxiliary wiring (conductive layer 24), which is the present embodiment, the same bake treatment as in conditions 2 and 3 is included in the counter substrate. The amount of water produced could be reduced to a value of 6 or less. Thus, by forming the hole H (H1, H2) reaching the CF / BM / OC layer 22 in the conductive layer 24 (24A, 24B) provided on the CF / BM / OC layer 22, the low temperature short It is possible to remove moisture and the like contained in the CF / BM / OC layer 22 by baking under mild conditions such as time (for example, 150 ° C. for 30 minutes).

Figure 2015191816
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以上のように本実施の形態では、有機材料によって構成された層を含むCF/BM/OC層22上に設けられた導電層24(24A,24B)にCF/BM/OC層22まで達する孔部H(H1,H2)を形成するようにした。これにより、より簡易な方法でCF/BM/OC層22中の水分等の除去が可能となり、有機EL素子への水分の侵入による非発光欠陥や発光寿命の短縮等を防ぐことが可能となる。即ち、高い信頼性を有する表示装置を提供することが可能となる。   As described above, in the present embodiment, the holes reaching the CF / BM / OC layer 22 in the conductive layer 24 (24A, 24B) provided on the CF / BM / OC layer 22 including the layer made of an organic material. Part H (H1, H2) was formed. Accordingly, it is possible to remove moisture and the like in the CF / BM / OC layer 22 by a simpler method, and it is possible to prevent non-luminous defects and shortened emission lifetime due to moisture intrusion into the organic EL element. . That is, it is possible to provide a display device having high reliability.

また、CF/BM/OC層22に含まれる水分等の除去が上記のような穏やかな条件で可能となるため、生産性が向上する。   In addition, the removal of moisture and the like contained in the CF / BM / OC layer 22 can be performed under the above-described mild conditions, so that productivity is improved.

更に、本実施の形態では、画素の開口部A3に合わせて透明導電材料からなる導電層24Bに孔部H1を形成するようにしたので、導電層24Bが有する光吸収がよくなり、発光効率が上昇する。これにより、消費電力を低下させることが可能となる。   Furthermore, in this embodiment, since the hole H1 is formed in the conductive layer 24B made of a transparent conductive material in accordance with the opening A3 of the pixel, the light absorption of the conductive layer 24B is improved and the light emission efficiency is improved. To rise. Thereby, power consumption can be reduced.

更にまた、本実施の形態では、カラーフィルタ220および遮光層221上にオーバーコート層222を形成することにより、導電層24のパターニング時に使用するエッチング液等からカラーフィルタ220および遮光層221が保護され、これらの損傷を抑制できる。   Furthermore, in this embodiment, by forming the overcoat layer 222 on the color filter 220 and the light shielding layer 221, the color filter 220 and the light shielding layer 221 are protected from an etching solution or the like used when patterning the conductive layer 24. , These damages can be suppressed.

<2.表示装置の全体構成、画素回路構成>
上記実施の形態等に係る有機EL表示装置(以下、単に表示装置という)の全体構成および画素回路構成について説明する。図14は、有機ELディスプレイとして用いられる表示装置の周辺回路を含む全体構成を表すものである。このように、例えば基板11上には、有機EL素子を含む複数の画素PXLCがマトリクス状に配置されてなる表示領域50が形成され、この表示領域50の周辺に、信号線駆動回路としての水平セレクタ(HSEL)51と、走査線駆動回路としてのライトスキャナ(WSCN)52と、電源線駆動回路としての電源スキャナ(DSCN)53とが設けられている。
<2. Overall configuration of display device, pixel circuit configuration>
The overall configuration and pixel circuit configuration of the organic EL display device (hereinafter simply referred to as a display device) according to the above-described embodiment and the like will be described. FIG. 14 shows an overall configuration including peripheral circuits of a display device used as an organic EL display. Thus, for example, a display region 50 in which a plurality of pixels PXLC including organic EL elements are arranged in a matrix is formed on the substrate 11, and a horizontal line as a signal line driving circuit is formed around the display region 50. A selector (HSEL) 51, a write scanner (WSCN) 52 as a scanning line drive circuit, and a power supply scanner (DSCN) 53 as a power supply line drive circuit are provided.

表示領域50において、列方向には複数(整数n個)の信号線DTL1〜DTLnが配置され、行方向には、複数(整数m個)の走査線WSL1〜WSLmおよび電源線DSL1〜DSLmがそれぞれ配置されている。また、各信号線DTLと各走査線WSLとの交差点に、各画素PXLC(R、G、B,Wに対応する画素のいずれか1つ)が設けられている。各信号線DTLは水平セレクタ51に接続され、この水平セレクタ51から各信号線DTLへ映像信号が供給されるようになっている。各走査線WSLはライトスキャナ52に接続され、このライトスキャナ52から各走査線WSLへ走査信号(選択パルス)が供給されるようになっている。各電源線DSLは電源スキャナ53に接続され、この電源スキャナ53から各電源線DSLへ電源信号(制御パルス)が供給されるようになっている。   In the display area 50, a plurality of (integer n) signal lines DTL1 to DTLn are arranged in the column direction, and a plurality (integer m) scanning lines WSL1 to WSLm and power supply lines DSL1 to DSLm are respectively arranged in the row direction. Is arranged. In addition, each pixel PXLC (any one of pixels corresponding to R, G, B, and W) is provided at the intersection of each signal line DTL and each scanning line WSL. Each signal line DTL is connected to a horizontal selector 51, and a video signal is supplied from the horizontal selector 51 to each signal line DTL. Each scanning line WSL is connected to a write scanner 52, and a scanning signal (selection pulse) is supplied from the write scanner 52 to each scanning line WSL. Each power supply line DSL is connected to a power supply scanner 53, and a power supply signal (control pulse) is supplied from the power supply scanner 53 to each power supply line DSL.

図15は、画素PXLCにおける具体的な回路構成例を表したものである。各画素PXLCは、有機EL素子5Dを含む画素回路40を有している。この画素回路40は、サンプリング用トランジスタ3Aおよび駆動用トランジスタ3Bと、保持容量素子3Cと、有機EL素子3Dとを有するアクティブ型の駆動回路である。これらのうち、トランジスタ3A(またはトランジスタ3B)が、上記実施の形態等のTFT12に相当し、有機EL素子3Dが、上記実施の形態等の有機EL素子10Aに相当する。   FIG. 15 illustrates a specific circuit configuration example in the pixel PXLC. Each pixel PXLC has a pixel circuit 40 including an organic EL element 5D. The pixel circuit 40 is an active driving circuit having a sampling transistor 3A and a driving transistor 3B, a storage capacitor element 3C, and an organic EL element 3D. Among these, the transistor 3A (or transistor 3B) corresponds to the TFT 12 in the above-described embodiment, and the organic EL element 3D corresponds to the organic EL element 10A in the above-described embodiment.

サンプリング用トランジスタ3Aは、そのゲートが対応する走査線WSLに接続され、そのソースおよびドレインのうちの一方が対応する信号線DTLに接続され、他方が駆動用トランジスタ3Bのゲートに接続されている。駆動用トランジスタ3Bは、そのドレインが対応する電源線DSLに接続され、ソースが有機EL素子3Dのアノードに接続されている。また、この有機EL素子3Dのカソードは、接地配線3Hに接続されている。なお、この接地配線3Hは、全ての画素PXLCに対して共通に配線されている。保持容量素子3Cは、駆動用トランジスタ3Bのソースとゲートとの間に配置されている。   Sampling transistor 3A has its gate connected to corresponding scanning line WSL, one of its source and drain connected to corresponding signal line DTL, and the other connected to the gate of driving transistor 3B. The drive transistor 3B has a drain connected to the corresponding power supply line DSL and a source connected to the anode of the organic EL element 3D. The cathode of the organic EL element 3D is connected to the ground wiring 3H. The ground wiring 3H is wired in common to all the pixels PXLC. The storage capacitor element 3C is disposed between the source and gate of the driving transistor 3B.

サンプリング用トランジスタ3Aは、走査線WSLから供給される走査信号(選択パルス)に応じて導通することにより、信号線DTLから供給される映像信号の信号電位をサンプリングし、保持容量素子3Cに保持するものである。駆動用トランジスタ3Bは、所定の第1電位(図示せず)に設定された電源線DSLから電流の供給を受け、保持容量素子3Cに保持された信号電位に応じて、駆動電流を有機EL素子3Dへ供給するものである。有機EL素子3Dは、この駆動用トランジスタ3Bから供給された駆動電流により、映像信号の信号電位に応じた輝度で発光するようになっている。   The sampling transistor 3A conducts according to the scanning signal (selection pulse) supplied from the scanning line WSL, thereby sampling the signal potential of the video signal supplied from the signal line DTL and holding it in the storage capacitor element 3C. Is. The driving transistor 3B is supplied with a current from a power supply line DSL set to a predetermined first potential (not shown), and changes the driving current to an organic EL element according to the signal potential held in the holding capacitor element 3C. Supply to 3D. The organic EL element 3D emits light with a luminance corresponding to the signal potential of the video signal by the driving current supplied from the driving transistor 3B.

このような回路構成では、走査線WSLから供給される走査信号(選択パルス)に応じてサンプリング用トランジスタ3Aが導通することにより、信号線DTLから供給された映像信号の信号電位がサンプリングされ、保持容量素子3Cに保持される。また、上記第1電位に設定された電源線DSLから駆動用トランジスタ3Bへ電流が供給され、保持容量素子3Cに保持された信号電位に応じて、駆動電流が有機EL素子3D(赤色、緑色および青色の各有機EL素子)へ供給される。そして、各有機EL素子3Dは、供給された駆動電流により、映像信号の信号電位に応じた輝度で発光する。これにより、表示装置において、映像信号に基づく映像表示がなされる。   In such a circuit configuration, the sampling transistor 3A is turned on according to the scanning signal (selection pulse) supplied from the scanning line WSL, whereby the signal potential of the video signal supplied from the signal line DTL is sampled and held. It is held in the capacitive element 3C. In addition, a current is supplied from the power supply line DSL set to the first potential to the driving transistor 3B, and the driving current is changed to the organic EL element 3D (red, green and red) according to the signal potential held in the holding capacitor element 3C. To each blue organic EL element). Each organic EL element 3D emits light with a luminance corresponding to the signal potential of the video signal by the supplied drive current. Thereby, video display based on the video signal is performed on the display device.

<3.適用例>
以下、上記実施の形態等の有機EL表示装置(以下、表示装置という)の電子機器への適用例について説明する。電子機器としては、例えばテレビジョン装置,デジタルカメラ,ノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話等の携帯端末装置あるいはビデオカメラ等が挙げられる。言い換えると、上記表示装置は、外部から入力された映像信号あるいは内部で生成した映像信号を、画像あるいは映像として表示するあらゆる分野の電子機器に適用することが可能である。
<3. Application example>
Hereinafter, application examples of the organic EL display device (hereinafter referred to as a display device) such as the above-described embodiment to an electronic device will be described. Examples of the electronic device include a television device, a digital camera, a notebook personal computer, a mobile terminal device such as a mobile phone, or a video camera. In other words, the display device can be applied to electronic devices in various fields that display a video signal input from the outside or a video signal generated inside as an image or video.

(モジュール)
上記表示装置は、例えば図16に示したようなモジュールとして、後述の適用例1等の種々の電子機器に組み込まれる。このモジュールは、例えば、第1基板11の一辺に、第2基板21から露出した領域210を設け、この露出した領域210に、水平セレクタ51、ライトスキャナ52および電源スキャナ53の配線を延長して外部接続端子(図示せず)を形成したものである。この外部接続端子には、信号の入出力のためのフレキシブルプリント配線基板(FPC;Flexible Printed Circuit)220が設けられていてもよい。
(module)
The display device is incorporated into various electronic devices such as application example 1 described later, for example, as a module shown in FIG. In this module, for example, a region 210 exposed from the second substrate 21 is provided on one side of the first substrate 11, and the wiring of the horizontal selector 51, the light scanner 52 and the power scanner 53 is extended to the exposed region 210. External connection terminals (not shown) are formed. The external connection terminal may be provided with a flexible printed circuit (FPC) 220 for signal input / output.

(適用例1)
図17は、テレビジョン装置の外観を表したものである。このテレビジョン装置は、例えば、フロントパネル310およびフィルターガラス320を含む映像表示画面部300を有しており、この映像表示画面部300が上記表示装置に相当する。
(Application example 1)
FIG. 17 illustrates the appearance of a television device. This television apparatus has, for example, a video display screen unit 300 including a front panel 310 and a filter glass 320, and the video display screen unit 300 corresponds to the display device.

以上、実施の形態および適用例を挙げて本開示を説明したが、本開示はこれらの実施の形態等に限定されず、種々の変形が可能である。例えば、上記実施の形態等において説明した各層の材料および厚み、または成膜方法および成膜条件等は限定されるものではなく、他の材料および厚みとしてもよく、または他の成膜方法および成膜条件としてもよい。例えば、上記実施の形態では、遮光膜221を樹脂材料を用いて形成したが、例えば、無機材料からなる多層膜として形成してもよい。   While the present disclosure has been described with the embodiment and application examples, the present disclosure is not limited to the embodiment and the like, and various modifications can be made. For example, the material and thickness of each layer described in the above embodiment and the like, or the film formation method and film formation conditions are not limited, and other materials and thicknesses may be used. It is good also as film | membrane conditions. For example, in the above embodiment, the light shielding film 221 is formed using a resin material, but may be formed as a multilayer film made of an inorganic material, for example.

また、上記実施の形態等では、有機EL表示装置の一例として、R,G,B,Wの4画素を用いてカラー表示を行うものを例示したが、必ずしもこのような4画素を利用したものでなくともよく、R,G,Bの3画素を用いたものであってもよい。対向基板にカラーフィルタ層や遮光層等の樹脂層を有するものであれば、本開示内容を適用することができる。   Further, in the above-described embodiment and the like, as an example of the organic EL display device, an example of performing color display using four pixels of R, G, B, and W is exemplified. However, the device using such four pixels is not necessarily used. It may not be, and it may be one using three pixels of R, G and B. The present disclosure can be applied as long as the counter substrate has a resin layer such as a color filter layer or a light shielding layer.

更に、上記実施の形態等では、有機EL素子10Aの構成を具体的に挙げて説明したが、全ての層を備える必要はなく、また、他の層を更に備えていてもよい。また、上記実施の形態等では、有機層17における発光層を各画素に共通して形成したが、画素毎に発光層が分離されていてもよいし、画素毎にR,G,Bの各色の発光層のいずれかが設けられていてもよい。   Furthermore, in the above-described embodiment and the like, the configuration of the organic EL element 10A has been specifically described, but it is not necessary to include all layers, and other layers may be further included. In the above-described embodiment and the like, the light emitting layer in the organic layer 17 is formed in common for each pixel. However, the light emitting layer may be separated for each pixel, or each color of R, G, B for each pixel. Any of the light emitting layers may be provided.

加えて、上記実施の形態等では、アクティブマトリクス型の表示装置の場合について説明したが、本開示はパッシブマトリクス型の表示装置への適用も可能である。更にまた、アクティブマトリクス駆動のための画素駆動回路の構成は、上記実施の形態で説明したものに限られず、必要に応じて容量素子やトランジスタを追加してもよい。その場合、画素駆動回路の変更に応じて、上述した信号線駆動回路120や走査線駆動回路130のほかに、必要な駆動回路を追加してもよい。   In addition, in the above-described embodiment and the like, the case of an active matrix display device has been described, but the present disclosure can also be applied to a passive matrix display device. Furthermore, the configuration of the pixel driving circuit for active matrix driving is not limited to that described in the above embodiment, and a capacitor or a transistor may be added as necessary. In that case, a necessary driving circuit may be added in addition to the signal line driving circuit 120 and the scanning line driving circuit 130 described above in accordance with the change of the pixel driving circuit.

また、上記実施の形態等では、トップエミッション型の有機EL表示装置を例示して説明したが、本開示の有機EL表示装置は、ボトムエミッション型の有機EL表示装置にも適用可能である。特に、上部電極を例えば透明導電膜等の高抵抗な導電膜により構成する場合に好適に適用可能である。   In the above-described embodiment and the like, the top emission type organic EL display device has been described as an example. However, the organic EL display device of the present disclosure can also be applied to a bottom emission type organic EL display device. In particular, the present invention can be suitably applied when the upper electrode is made of a high-resistance conductive film such as a transparent conductive film.

なお、本明細書中に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、また、他の効果があってもよい。   In addition, the effect described in this specification is an illustration to the last, and is not limited, Moreover, there may exist another effect.

なお、本開示は以下のような構成を取ることも可能である。
(1)
第1基板上に、第1電極、発光層を含む有機層および第2電極をこの順に有する素子基板と、
前記素子基板に対向配置され、第2基板の前記素子基板側に設けられた有機材料層上に導電層を有する対向基板とを備え、
前記導電層は少なくとも1つ以上の前記有機材料層に達する孔部を有する
有機EL表示装置。
(2)
それぞれ発光素子を有する複数の画素が配設された表示領域を有し、前記孔部は前記表示領域の前記複数の画素に対応する位置にそれぞれ設けられている、
上記(1)に記載の有機EL表示装置。
(3)
それぞれ発光素子を有する複数の画素が配設された表示領域を有し、前記孔部は前記表示領域の前記複数の画素間に設けられている、
上記(1)または(2)に記載の有機EL表示装置。
(4)
前記画素間に設けられた前記孔部は、前記表示領域の全面にわたって複数設けられている、
上記(3)に記載の有機EL表示装置。
(5)
前記導電層は複数の無機膜を積層したものである、
上記(1)乃至(4)に記載の有機EL表示装置。
(6)
前記導電層は、前記第2基板の全面を覆う第1導電層と前記第2基板の少なくとも一部に配設された第2導電層とからなる、
上記(1)〜(5)のいずれかに記載の有機EL表示装置。
(7)
前記第2導電層と前記第2電極との間に導電性部材が配設されると共に、前記導電性部材は前記第1導電層によって被覆されている、
上記(6)に記載の有機EL表示装置。
(8)
前記導電性部材は少なくとも表面が導電性を有する柱状部材である、
上記(7)に記載の有機EL表示装置。
(9)
前記有機材料層は、遮光層と、複数の色要素を有するカラーフィルタと、オーバーコートとを含む、
上記(1)乃至(8)のいずれかに記載の有機EL表示装置。
(10)
第1基板上に、第1電極、発光層を含む有機層および第2電極をこの順に有する素子基板を形成する工程と、
第2基板上に、有機材料層および導電層をこの順に有する対向基板を形成する工程と、
前記導電層に前記有機材料層に達する少なくとも1つ以上の孔部を形成する工程と、
前記素子基板と前記対向基板とを対向配置し、貼り合わせる工程と
を含む有機EL表示装置の製造方法。
(11)
前記孔部を形成したのち、前記対向基板にベーク処理を行う、
上記(10)に記載の有機EL表示装置の製造方法。
(12)
前記素子基板と前記対向基板とを封止層を介して貼り合わせる、
上記(10)に記載の有機EL表示装置の製造方法。
(13)
有機EL表示装置を備え、
前記有機EL表示装置は、
第1基板上に、第1電極、発光層を含む有機層および第2電極をこの順に有する素子基板と、
前記素子基板に対向配置され、第2基板の前記素子基板側に設けられた有機材料層上に導電層を有する対向基板とを備え、
前記導電層は少なくとも1つ以上の前記有機材料層に達する孔部を有する
電子機器。
In addition, this indication can also take the following structures.
(1)
An element substrate having a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on the first substrate;
A counter substrate disposed opposite to the element substrate and having a conductive layer on an organic material layer provided on the element substrate side of a second substrate;
The organic EL display device, wherein the conductive layer has a hole reaching at least one organic material layer.
(2)
Each having a display area in which a plurality of pixels each having a light-emitting element are disposed, and the holes are respectively provided at positions corresponding to the plurality of pixels in the display area;
The organic EL display device according to (1) above.
(3)
Each having a display area in which a plurality of pixels each having a light emitting element are arranged, and the hole is provided between the plurality of pixels in the display area;
The organic EL display device according to (1) or (2).
(4)
A plurality of the hole portions provided between the pixels are provided over the entire surface of the display region;
The organic EL display device according to (3) above.
(5)
The conductive layer is a laminate of a plurality of inorganic films.
The organic EL display device according to any one of (1) to (4) above.
(6)
The conductive layer includes a first conductive layer covering the entire surface of the second substrate and a second conductive layer disposed on at least a part of the second substrate.
The organic EL display device according to any one of (1) to (5) above.
(7)
A conductive member is disposed between the second conductive layer and the second electrode, and the conductive member is covered with the first conductive layer.
The organic EL display device according to (6) above.
(8)
The conductive member is a columnar member having at least a surface having conductivity.
The organic EL display device according to (7) above.
(9)
The organic material layer includes a light shielding layer, a color filter having a plurality of color elements, and an overcoat.
The organic EL display device according to any one of (1) to (8).
(10)
Forming an element substrate having a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on the first substrate;
Forming a counter substrate having an organic material layer and a conductive layer in this order on the second substrate;
Forming at least one or more holes reaching the organic material layer in the conductive layer;
And a step of arranging the element substrate and the counter substrate so as to face each other and bonding them together.
(11)
After forming the hole, the counter substrate is baked.
The manufacturing method of the organic electroluminescence display as described in said (10).
(12)
Bonding the element substrate and the counter substrate through a sealing layer,
The manufacturing method of the organic electroluminescence display as described in said (10).
(13)
With an organic EL display,
The organic EL display device
An element substrate having a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on the first substrate;
A counter substrate disposed opposite to the element substrate and having a conductive layer on an organic material layer provided on the element substrate side of a second substrate;
The electronic device has a hole that reaches at least one of the organic material layers.

1…有機EL表示装置、10…素子基板、10A…有機EL素子、11…第1基板、12…TFT、13…配線層、14…層間絶縁膜、15…下部電極、16…画素間絶縁膜、17…有機層、18…高抵抗層、19…上部電極、20…対向基板、21…第2基板、22…CF/BM/OC層、23…ピラー、24…導電膜、30…封止層、220R…赤色樹脂層、220G…緑色樹脂層、220B…青色樹脂層、221…遮光層、222…オーバーコート層。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Organic EL display apparatus, 10 ... Element board | substrate, 10A ... Organic EL element, 11 ... 1st board | substrate, 12 ... TFT, 13 ... Wiring layer, 14 ... Interlayer insulating film, 15 ... Lower electrode, 16 ... Insulating film between pixels , 17 ... Organic layer, 18 ... High resistance layer, 19 ... Upper electrode, 20 ... Counter substrate, 21 ... Second substrate, 22 ... CF / BM / OC layer, 23 ... Pillar, 24 ... Conductive film, 30 ... Sealing Layer, 220R ... red resin layer, 220G ... green resin layer, 220B ... blue resin layer, 221 ... light shielding layer, 222 ... overcoat layer.

Claims (13)

第1基板上に、第1電極、発光層を含む有機層および第2電極をこの順に有する素子基板と、
前記素子基板に対向配置され、第2基板の前記素子基板側に設けられた有機材料層上に導電層を有する対向基板とを備え、
前記導電層は少なくとも1つ以上の前記有機材料層に達する孔部を有する
有機EL表示装置。
An element substrate having a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on the first substrate;
A counter substrate disposed opposite to the element substrate and having a conductive layer on an organic material layer provided on the element substrate side of a second substrate;
The organic EL display device, wherein the conductive layer has a hole reaching at least one organic material layer.
それぞれ発光素子を有する複数の画素が配設された表示領域を有し、前記孔部は前記表示領域の前記複数の画素に対応する位置にそれぞれ設けられている、請求項1に記載の有機EL表示装置。   2. The organic EL according to claim 1, further comprising: a display region in which a plurality of pixels each having a light emitting element are disposed, wherein the hole portion is provided at a position corresponding to the plurality of pixels in the display region. Display device. それぞれ発光素子を有する複数の画素が配設された表示領域を有し、前記孔部は前記表示領域の前記複数の画素間に設けられている、請求項1に記載の有機EL表示装置。   2. The organic EL display device according to claim 1, further comprising: a display area in which a plurality of pixels each having a light emitting element are disposed, wherein the hole is provided between the plurality of pixels in the display area. 前記画素間に設けられた前記孔部は、前記表示領域の全面にわたって複数設けられている、請求項3に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 3, wherein a plurality of the hole portions provided between the pixels are provided over the entire surface of the display region. 前記導電層は複数の無機膜を積層したものである、請求項1に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 1, wherein the conductive layer is a laminate of a plurality of inorganic films. 前記導電層は、前記第2基板の全面を覆う第1導電層と前記第2基板の少なくとも一部に配設された第2導電層とからなる、請求項1に記載の有機EL表示装置。   2. The organic EL display device according to claim 1, wherein the conductive layer includes a first conductive layer covering the entire surface of the second substrate and a second conductive layer disposed on at least a part of the second substrate. 前記第2導電層と前記第2電極との間に導電性部材が配設されると共に、前記導電性部材は前記第1導電層によって被覆されている、請求項6に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 6, wherein a conductive member is disposed between the second conductive layer and the second electrode, and the conductive member is covered with the first conductive layer. . 前記導電性部材は少なくとも表面が導電性を有する柱状部材である、請求項7に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 7, wherein the conductive member is a columnar member having at least a surface having conductivity. 前記有機材料層は、遮光層と、複数の色要素を有するカラーフィルタと、オーバーコートとを含む、請求項1に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 1, wherein the organic material layer includes a light shielding layer, a color filter having a plurality of color elements, and an overcoat. 第1基板上に、第1電極、発光層を含む有機層および第2電極をこの順に有する素子基板を形成する工程と、
第2基板上に、有機材料層および導電層をこの順に有する対向基板を形成する工程と、
前記導電層に前記有機材料層に達する少なくとも1つ以上の孔部を形成する工程と、
前記素子基板と前記対向基板とを対向配置し、貼り合わせる工程と
を含む有機EL表示装置の製造方法。
Forming an element substrate having a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on the first substrate;
Forming a counter substrate having an organic material layer and a conductive layer in this order on the second substrate;
Forming at least one or more holes reaching the organic material layer in the conductive layer;
And a step of arranging the element substrate and the counter substrate so as to face each other and bonding them together.
前記孔部を形成したのち、前記対向基板にベーク処理を行う、請求項10に記載の有機EL表示装置の製造方法。   The method of manufacturing an organic EL display device according to claim 10, wherein the counter substrate is baked after forming the hole. 前記素子基板と前記対向基板とを封止層を介して貼り合わせる、請求項10に記載の有機EL表示装置の製造方法。   The method for manufacturing an organic EL display device according to claim 10, wherein the element substrate and the counter substrate are bonded together through a sealing layer. 有機EL表示装置を備え、
前記有機EL表示装置は、
第1基板上に、第1電極、発光層を含む有機層および第2電極をこの順に有する素子基板と、
前記素子基板に対向配置され、第2基板の前記素子基板側に設けられた有機材料層上に導電層を有する対向基板とを備え、
前記導電層は少なくとも1つ以上の前記有機材料層に達する孔部を有する
電子機器。
With an organic EL display,
The organic EL display device
An element substrate having a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on the first substrate;
A counter substrate disposed opposite to the element substrate and having a conductive layer on an organic material layer provided on the element substrate side of a second substrate;
The electronic device has a hole that reaches at least one of the organic material layers.
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