JP2015163878A - Deterioration diagnosis device of insulation material, deterioration diagnosis method, and deterioration diagnosis program - Google Patents

Deterioration diagnosis device of insulation material, deterioration diagnosis method, and deterioration diagnosis program Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To diagnose deterioration of insulation material.SOLUTION: A deterioration diagnosis device 1 includes a document output tool 23. The document output tool 23 estimates an insulation resistance value of insulating material on the basis of an actual value 14 of an evaluation item previously set for insulating material, a type (A, B) of an instrument including the insulating material, and unit space information (21A, 21B) corresponding to that type. The document output tool 23 obtains a remaining lifetime of the insulating material on the basis of the estimated insulation resistance value.

Description

本発明の実施形態は、使用されている絶縁材料の劣化状態を診断する劣化診断装置、劣化診断方法、及び劣化診断プログラムに関する。   Embodiments described herein relate generally to a deterioration diagnosis apparatus, a deterioration diagnosis method, and a deterioration diagnosis program for diagnosing a deterioration state of a used insulating material.

電力設備は、社会インフラストラクチャを支える重要な設備であり、長期の安定稼動が求められる。安定稼動のためには、電力設備の劣化状態を把握し、保全・更新を計画的に実施する必要がある。電力設備の導体支持又はバリヤなどに使用される絶縁材料は、材料自体の経年劣化、設置環境に浮遊する塵埃又はガスの付着などにより絶縁性が低下する場合がある。絶縁材料の絶縁性が低下すると放電又はトラッキングが発生するため、絶縁材料の絶縁性の低下は設備停止の原因となる。したがって、絶縁材料は、劣化診断の対象とされる傾向にある。   Electric power facilities are important facilities that support social infrastructure, and long-term stable operation is required. In order to ensure stable operation, it is necessary to grasp the state of deterioration of power facilities and to carry out maintenance and renewal systematically. Insulating materials used for conductor support or barriers of electric power facilities may deteriorate in insulation properties due to aging of the materials themselves, adhesion of dust or gas floating in the installation environment, and the like. When the insulating property of the insulating material is lowered, discharge or tracking is generated. Therefore, the lowered insulating property of the insulating material causes the facility to stop. Therefore, insulating materials tend to be targeted for degradation diagnosis.

設置環境に基づく絶縁材料の劣化は、上記の塵埃又はガスの付着のよる汚損のみではなく、絶縁材料の成分と反応する環境因子からも影響を受ける。絶縁材料の成分と反応する環境因子が存在する環境では、通常の経年劣化を上回る速度で、絶縁材料が劣化する場合がある。例えば、無機充填材として炭酸カルシウムが使用される絶縁材料は、この炭酸カルシウムが塩素系ガス又は窒素酸化物ガスなどと反応すると、絶縁材料表面に塩化カルシウム又は硝酸カルシウムが形成される。これらの塩化カルシウム又は硝酸カルシウムなどの物質は、湿度40%RH以下の低湿度であっても水分を吸入して潮解する。したがって、絶縁材料表面に塩化カルシウム又は硝酸カルシウムが形成された場合、低湿度条件であっても、絶縁材料の表面が結露し、漏れ電流が流れ、絶縁が破壊され、設備停止となる場合があると考えられる。   The deterioration of the insulating material based on the installation environment is affected not only by the above-mentioned contamination due to the adhesion of dust or gas, but also by environmental factors that react with the components of the insulating material. In an environment where there are environmental factors that react with the components of the insulating material, the insulating material may deteriorate at a rate that exceeds normal aging. For example, in an insulating material using calcium carbonate as an inorganic filler, when the calcium carbonate reacts with a chlorine-based gas or a nitrogen oxide gas, calcium chloride or calcium nitrate is formed on the surface of the insulating material. These substances such as calcium chloride or calcium nitrate deliquesce by inhaling moisture even at a low humidity of 40% RH or less. Therefore, when calcium chloride or calcium nitrate is formed on the surface of the insulating material, the surface of the insulating material may condense, leakage current will flow, insulation may be destroyed, and the equipment may be shut down even under low humidity conditions. it is conceivable that.

特許第4121430号公報Japanese Patent No. 4112430

標準化と品質管理 Vol.58 No.8 第68頁−第74頁Standardization and quality control Vol. 58 No. 8 Pages 68-74

本発明の実施形態は、絶縁材料の劣化状態を診断するための劣化診断装置、劣化診断方法、及び劣化診断プログラムを提供することを目的とする。   An embodiment of the present invention aims to provide a deterioration diagnosis device, a deterioration diagnosis method, and a deterioration diagnosis program for diagnosing a deterioration state of an insulating material.

第1の実施形態によれば、劣化診断装置は、推定手段と、診断手段とを具備する。推定手段は、絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の実測値と、前記絶縁材料を備える機器の型式と、当該型式に対応する単位空間情報とに基づいて、前記絶縁材料の絶縁抵抗値を推定する。診断手段は、推定手段によって推定された絶縁抵抗値に基づいて前記絶縁材料の余寿命を求める。   According to the first embodiment, the deterioration diagnosis apparatus includes an estimation unit and a diagnosis unit. The estimation means is based on an actual measurement value of an evaluation item set in advance for the insulating material, a model of a device including the insulating material, and unit space information corresponding to the model, and an insulation resistance of the insulating material. Estimate the value. The diagnosis means obtains the remaining life of the insulating material based on the insulation resistance value estimated by the estimation means.

第2の実施形態によれば、劣化診断方法は、処理装置が、絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の実測値と、絶縁材料を備える機器の型式と、当該型式に対応する単位空間情報とに基づいて絶縁材料の絶縁抵抗値を推定すること、処理装置が、推定された前記絶縁抵抗値に基づいて絶縁材料の余寿命を求めること、を具備する。   According to the second embodiment, the deterioration diagnosis method is a method in which the processing apparatus has an actual measurement value of an evaluation item set in advance for an insulating material, a model of a device including the insulating material, and a unit corresponding to the model. Estimating the insulation resistance value of the insulating material based on the spatial information, and determining the remaining life of the insulating material based on the estimated insulation resistance value.

第3の実施形態によれば、劣化診断プログラムは、コンピュータに、絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の実測値と、絶縁材料を備える機器の型式と、記憶装置に記憶されている当該型式に対応する単位空間情報とに基づいて、絶縁材料の絶縁抵抗値を推定し、推定結果を前記記憶装置に記憶することを実行させる。また、劣化診断プログラムは、コンピュータに、記憶装置に記憶されている推定結果に基づいて前記絶縁材料の余寿命を求め、余寿命を記憶装置に記憶することを実行させる。   According to the third embodiment, the deterioration diagnosis program is stored in the computer in the measured value of the evaluation items set in advance for the insulating material, the model of the device including the insulating material, and the storage device. Based on the unit space information corresponding to the model, the insulation resistance value of the insulating material is estimated, and the estimation result is stored in the storage device. In addition, the deterioration diagnosis program causes the computer to obtain the remaining life of the insulating material based on the estimation result stored in the storage device and to store the remaining life in the storage device.

第1の実施形態に係る劣化診断装置の構成の一例を示すブロック図。The block diagram which shows an example of a structure of the deterioration diagnostic apparatus which concerns on 1st Embodiment. 絶縁材料の絶縁抵抗値と測定時の温度・湿度条件との関係の一例を示すグラフ。The graph which shows an example of the relationship between the insulation resistance value of an insulating material, and temperature and humidity conditions at the time of measurement. 第1の実施形態に係る劣化診断装置の診断内容の一例を示すグラフ。The graph which shows an example of the diagnostic content of the degradation diagnostic apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る劣化診断装置の動作の第1の例を示すフローチャート。The flowchart which shows the 1st example of operation | movement of the deterioration diagnostic apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る劣化診断装置の動作の第2の例を示すフローチャート。The flowchart which shows the 2nd example of operation | movement of the deterioration diagnostic apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る劣化診断装置の動作の第3の例を示すフローチャート。9 is a flowchart showing a third example of the operation of the deterioration diagnosis apparatus according to the first embodiment. T法の推定式を生成するための特性要因の一例を示す要因効果図。The factor effect figure which shows an example of the characteristic factor for producing | generating the estimation formula of T method. 実測の絶縁抵抗値と、T法によって推定された絶縁抵抗値との相関関係の一例を示すグラフ。The graph which shows an example of correlation with the measured insulation resistance value and the insulation resistance value estimated by the T method. 絶縁材料の実測の絶縁抵抗値、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値、悪環境の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値の比較の一例を示す表。The table | surface which shows an example of the comparison of the insulation resistance value estimated based on the measured insulation resistance value of the insulation material, the insulation resistance value estimated based on the measured evaluation item value, and the evaluation item value of bad environment. 推定式の定数及び係数の切り替えの一例を示すテーブル。The table which shows an example of the constant of an estimation formula, and switching of a coefficient. 推定式の一部に含まれる関数Li(Xi)の一例を示すグラフ。The graph which shows an example of the function L i (X i ) included in a part of the estimation formula. 絶縁材料を備える機器の型式を考慮した劣化診断装置の構成の一例を示すブロック図。The block diagram which shows an example of a structure of the deterioration diagnostic apparatus in consideration of the model of an apparatus provided with an insulating material.

以下、図面を参照しながら本発明の各実施の形態について説明する。なお、以下の説明において、略または実質的に同一の機能および構成要素については、同一符号を付し、必要に応じて説明を行う。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the following description, substantially the same or substantially the same functions and components are denoted by the same reference numerals, and will be described as necessary.

(第1の実施形態)
本実施形態においては、例えば受電設備、変電設備、スイッチギヤなどのような各種の電力機器又は電力設備に使用される絶縁材料の劣化状態を推定・診断する劣化診断装置について説明する。本実施形態では、診断の一例として、絶縁材料の余寿命を求める。
(First embodiment)
In the present embodiment, a deterioration diagnosis apparatus for estimating and diagnosing the deterioration state of insulating materials used in various types of power equipment or power equipment such as power receiving equipment, substation equipment, and switch gear will be described. In this embodiment, the remaining life of an insulating material is calculated | required as an example of a diagnosis.

本実施形態においては、経年的な絶縁材料の劣化に加えて、絶縁材料の設置環境から影響を受ける絶縁材料の劣化を含めて劣化診断が行われる。   In this embodiment, in addition to the deterioration of the insulating material over time, the deterioration diagnosis is performed including the deterioration of the insulating material affected by the installation environment of the insulating material.

図1は、本実施形態に係る劣化診断装置の構成の一例を示すブロック図である。   FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of the deterioration diagnosis apparatus according to the present embodiment.

劣化診断装置1は、入力部2、記憶装置3、推定部4,5、診断部5、推定部6〜8、出力部9を具備する。   The degradation diagnosis apparatus 1 includes an input unit 2, a storage device 3, estimation units 4 and 5, a diagnosis unit 5, estimation units 6 to 8, and an output unit 9.

本実施形態においては、例えば、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂などの絶縁材料が診断対象となる。本実施形態においては、絶縁材料の絶縁抵抗値としては、例えば、絶縁材料の表面絶縁抵抗値、log絶縁抵抗値が、劣化診断に用いられる。   In the present embodiment, for example, an insulating material such as a polyester resin, an epoxy resin, or a phenol resin is a diagnosis target. In the present embodiment, as the insulation resistance value of the insulating material, for example, the surface insulation resistance value and the log insulation resistance value of the insulating material are used for deterioration diagnosis.

図2は、絶縁材料の絶縁抵抗値と測定時の温度・湿度条件との関係の一例を示すグラフである。この図2の例では、それぞれ、20℃、40℃、60℃の新品の絶縁材料と、20℃、40℃、60℃の劣化品の絶縁材料とに関し、50%RH、60%RH、70%RH、80%RH、95%RHの湿度における絶縁抵抗の値(Ω)を示している。   FIG. 2 is a graph showing an example of the relationship between the insulation resistance value of the insulating material and the temperature / humidity conditions at the time of measurement. In the example of FIG. 2, 50% RH, 60% RH, and 70% with respect to new insulating materials of 20 ° C., 40 ° C., and 60 ° C. and deteriorated insulating materials of 20 ° C., 40 ° C., and 60 ° C., respectively. Insulation resistance values (Ω) at humidity of% RH, 80% RH, and 95% RH are shown.

この図2に図示されるように、新しい絶縁材料の場合には、温度・湿度に関係なく、絶縁抵抗値はほぼ一定の値を示す。劣化した絶縁材料の場合には、測定時の温度が高いほど絶縁抵抗値は低下しやすい。また、絶縁材料の絶縁抵抗値は、測定時の湿度が高いほど絶縁抵抗値は低下しやすく、同じ絶縁材料であっても湿度が異なれば数桁の測定誤差が生じる。   As shown in FIG. 2, in the case of a new insulating material, the insulation resistance value is almost constant regardless of temperature and humidity. In the case of a deteriorated insulating material, the insulation resistance value tends to decrease as the temperature during measurement increases. Further, the insulation resistance value of the insulating material tends to decrease as the humidity at the time of measurement increases. Even with the same insulating material, a measurement error of several digits occurs if the humidity is different.

このように、絶縁材料の絶縁抵抗値は、温度及び湿度などのような外部環境のノイズから影響を受ける。   Thus, the insulation resistance value of the insulating material is affected by external environmental noise such as temperature and humidity.

そこで、本実施形態に係る劣化診断装置1は、外部環境のノイズの影響を受けても高精度に絶縁抵抗値を推定するために、絶縁抵抗値と高い相関又は逆相関を持つ評価項目(材料特性など)の値を用いる。   Therefore, the degradation diagnosis apparatus 1 according to the present embodiment has an evaluation item (material) that has a high correlation or an inverse correlation with the insulation resistance value in order to estimate the insulation resistance value with high accuracy even under the influence of noise from the external environment. Value).

上述したように、梅雨時などのような高温・高湿の環境において長く使用される絶縁抵抗の絶縁抵抗値は、急激に低下する可能性がある。   As described above, the insulation resistance value of the insulation resistance that is used for a long time in a high temperature and high humidity environment such as during a rainy season may rapidly decrease.

そこで、本実施形態に係る劣化診断装置1は、上記の実際の環境における絶縁抵抗値に加えて、想定される悪環境での絶縁抵抗値を推定する。   Therefore, the degradation diagnosis apparatus 1 according to the present embodiment estimates an insulation resistance value in an assumed adverse environment in addition to the insulation resistance value in the actual environment.

これにより、本実施形態に係る劣化診断装置1は、絶縁抵抗値の維持に悪影響を与える環境でどの程度絶縁抵抗値が低下するかを推定し、悪環境での絶縁材料の余寿命を予測することができる。例えば保守者などのユーザ1Uは、絶縁抵抗値の低下に基づいて機器又は設備が停止される前に、部品又は機器を交換することができる。   Thereby, the degradation diagnosis apparatus 1 according to the present embodiment estimates how much the insulation resistance value decreases in an environment that adversely affects the maintenance of the insulation resistance value, and predicts the remaining life of the insulating material in a bad environment. be able to. For example, the user 1U such as a maintenance person can replace the parts or the equipment before the equipment or the equipment is stopped based on the decrease in the insulation resistance value.

以下で、図1に示す劣化診断装置1の各構成要素について説明する。   Below, each component of the deterioration diagnostic apparatus 1 shown in FIG. 1 is demonstrated.

本実施形態に係る劣化診断装置1は、第1の動作において、実測値である絶縁抵抗値と、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値とを比較し、推定方法の精度を診断する。   In the first operation, the degradation diagnosis apparatus 1 according to the present embodiment compares the insulation resistance value, which is an actually measured value, with the insulation resistance value estimated based on the actually measured evaluation item value, and increases the accuracy of the estimation method. Diagnose.

また、劣化診断装置1は、第2の動作において、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値に基づいて絶縁材料の余寿命を診断する。   In the second operation, the deterioration diagnosis apparatus 1 diagnoses the remaining life of the insulating material based on the insulation resistance value estimated based on the actually measured evaluation item value.

さらに、劣化診断装置1は、第3の動作において、劣化が進行すると想定される悪環境の評価項目値に基づいて絶縁抵抗値を推定し、悪環境での絶縁材料の余寿命を診断する。   Further, in the third operation, the deterioration diagnosis apparatus 1 estimates an insulation resistance value based on an evaluation item value of a bad environment where deterioration is assumed to progress, and diagnoses the remaining life of the insulating material in the bad environment.

入力部2は、ユーザ1U、又は、各種の外部装置(例えば、センサ、端末、他のシステムなど)1Aから、劣化診断装置1内で使用される推定方法の推定精度が許容される範囲か否かを診断するための許容範囲10、絶縁材料が正常でないと判断する絶縁抵抗値を示すしきい値11、絶縁抵抗値の推定式の係数及び定数などを含むパラメータ12、絶縁材料の実測の絶縁抵抗値とその時間情報とを含む実測の絶縁抵抗データ13、実測の評価項目値とその測定時間情報とを含む実測の評価項目データ14、悪環境の評価項目値と該当する時間情報とを含む悪環境の評価項目データ15、などの各種情報を入力し、入力された情報を記憶装置3に記憶する。この入力部2は、ネットワーク経由で、各種情報を受信するとしてもよい。なお、許容範囲10、しきい値11は、実験などで求めることができる。   Whether or not the input unit 2 is within a range in which the estimation accuracy of the estimation method used in the deterioration diagnosis device 1 is allowed from the user 1U or various external devices (for example, sensors, terminals, other systems, etc.) 1A. An allowable range 10 for determining whether or not the insulation material is not normal, a threshold value 11 indicating an insulation resistance value, a parameter 12 including a coefficient and a constant of an estimation formula of the insulation resistance value, and an insulation of actually measured insulation material Measured insulation resistance data 13 including the resistance value and its time information, Measured evaluation item data 14 including the measured evaluation item value and its measurement time information, and an evaluation item value of the adverse environment and corresponding time information Various information such as the evaluation item data 15 for bad environment is input, and the input information is stored in the storage device 3. The input unit 2 may receive various information via a network. The permissible range 10 and the threshold value 11 can be obtained through experiments or the like.

以下において、時間情報は、使用期間を用いる場合を説明するが、単に日時などのような他の時間情報が用いられてもよい。   In the following, the time information will be described using a usage period, but other time information such as date and time may be used.

記憶装置3は、入力部2によって受け付けられた各種情報、及び推定部4、診断部5、推定部6、診断部7によって求められた各種情報を記憶する。   The storage device 3 stores various types of information received by the input unit 2 and various types of information obtained by the estimation unit 4, the diagnosis unit 5, the estimation unit 6, and the diagnosis unit 7.

推定部4は、記憶装置3に記憶されているパラメータ12、実測の評価項目データ14に基づいて、多変量解析(例えば、T法)を用いて実測環境での絶縁抵抗値を推定する。   The estimation unit 4 estimates the insulation resistance value in the actual measurement environment using multivariate analysis (for example, T method) based on the parameter 12 and the actual evaluation item data 14 stored in the storage device 3.

なお、以下においては、推定方法としてT法を用いる場合を例として説明するが、他の推定方法を用いるとしてもよい。   In the following, a case where the T method is used as an estimation method will be described as an example, but another estimation method may be used.

推定部4は、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と対応する使用期間とを含む推定結果16を記憶装置3に記憶する。例えば、パラメータ12は、T法で用いる多項式の係数及び定数を含む。評価項目値は、絶縁材料の絶縁抵抗値と高い相関又は逆相関を持つ。   The estimation unit 4 stores an estimation result 16 including the insulation resistance value estimated based on the actually measured evaluation item value and the corresponding usage period in the storage device 3. For example, the parameter 12 includes polynomial coefficients and constants used in the T method. The evaluation item value has a high correlation or inverse correlation with the insulation resistance value of the insulating material.

診断部6は、記憶装置3に記憶されている許容範囲10、実測の絶縁抵抗データ13、推定結果16に基づいて、この劣化診断装置1に用いられているT法が適切か否かを診断する。例えば、診断部6は、実測の絶縁抵抗値と、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値とを比較し、差が許容範囲10を越える場合には、パラメータ12とT法とのうちの少なくとも一方が適切でないと診断する。   The diagnosis unit 6 diagnoses whether or not the T method used in the deterioration diagnosis device 1 is appropriate based on the allowable range 10, the actually measured insulation resistance data 13, and the estimation result 16 stored in the storage device 3. To do. For example, the diagnosis unit 6 compares the measured insulation resistance value with the insulation resistance value estimated based on the actually measured evaluation item value, and if the difference exceeds the allowable range 10, the parameter 12 and the T method Diagnose that at least one of is not appropriate.

そして、診断部6は、推定方法が適切か否かを示す診断結果17を記憶装置3に記憶する。   Then, the diagnosis unit 6 stores a diagnosis result 17 indicating whether or not the estimation method is appropriate in the storage device 3.

診断部7は、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と該当する使用期間とに基づいて、使用期間に対応する絶縁抵抗値の変化を示す推定曲線を求める。例えば、この診断部7は、未使用時の絶縁抵抗値と、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値とその使用期間とに基づいて、絶縁抵抗値の変化量を求める。なお、診断部7は、未使用時の絶縁抵抗値を用いることなく、互いに異なる使用期間における実測の評価項目値に基づいて推定された複数の絶縁抵抗値とそれぞれの使用期間とに基づいて、推定曲線を求めるとしてもよい。   The diagnosis unit 7 obtains an estimated curve indicating a change in the insulation resistance value corresponding to the use period based on the insulation resistance value estimated based on the actually measured evaluation item value and the corresponding use period. For example, the diagnosis unit 7 obtains the amount of change in the insulation resistance value based on the insulation resistance value when not in use, the insulation resistance value estimated based on the actually measured evaluation item value, and the usage period. In addition, the diagnosis unit 7 does not use the insulation resistance value when not in use, and based on the plurality of insulation resistance values estimated based on the actually measured evaluation item values in different use periods and the respective use periods, An estimated curve may be obtained.

さらに、診断部7は、推定曲線としきい値11とに基づいて、推定曲線がしきい値11以下となる時点を求め、絶縁材料の実測環境での余寿命(残りの有効期間)を求める。   Further, the diagnosis unit 7 obtains a time point at which the estimated curve becomes equal to or less than the threshold value 11 based on the estimated curve and the threshold value 11, and obtains the remaining life (remaining effective period) of the insulating material in the actually measured environment.

そして、診断部7は、絶縁材料の実測環境での余寿命を含む診断結果18を記憶装置3に記憶する。   Then, the diagnosis unit 7 stores the diagnosis result 18 including the remaining life in the measured environment of the insulating material in the storage device 3.

推定部5は、記憶装置3に記憶されているパラメータ12、悪環境の評価項目値15に基づいて、推定部4と同様の多変量解析を用いて悪環境での絶縁抵抗値を推定する。そして、推定部5は、悪環境の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と対抗する使用期間とを含む推定結果19を記憶装置3に記憶する。   The estimation unit 5 estimates the insulation resistance value in the adverse environment using the multivariate analysis similar to that of the estimation unit 4 based on the parameter 12 and the evaluation item value 15 of the adverse environment stored in the storage device 3. And the estimation part 5 memorize | stores the estimation result 19 containing the use period which opposes the insulation resistance value estimated based on the evaluation item value of bad environment in the memory | storage device 3. FIG.

診断部8は、悪環境の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と該当する使用期間とに基づいて、悪環境での使用期間に対応する絶縁抵抗値の変化を示す悪環境の推定曲線を求める。   The diagnosis unit 8 estimates the bad environment indicating a change in the insulation resistance value corresponding to the use period in the bad environment based on the insulation resistance value estimated based on the evaluation item value of the bad environment and the corresponding use period. Find a curve.

さらに、診断部8は、悪環境の推定曲線としきい値11とに基づいて、悪環境の推定曲線がしきい値11以下となる時点を求め、絶縁材料の悪環境での余寿命(残りの有効期間)を求める。   Further, the diagnosis unit 8 obtains a point in time when the estimation curve of the adverse environment becomes equal to or less than the threshold value 11 based on the estimation curve of the adverse environment and the threshold value 11, and the remaining life in the adverse environment of the insulating material (the remaining (Effective period).

そして、診断部8は、絶縁材料の悪環境での余寿命を含む診断結果20を記憶装置3に記憶する。   Then, the diagnosis unit 8 stores the diagnosis result 20 including the remaining life in the adverse environment of the insulating material in the storage device 3.

出力部9は、ユーザ1U、又は、各種の外部装置1Aに、記憶装置3に記憶されている診断結果17,18,20などの各種情報を出力する。例えば、出力部9は、診断結果17,18,20を表示するとしてもよく、送信するとしてもよい。   The output unit 9 outputs various types of information such as diagnostic results 17, 18, and 20 stored in the storage device 3 to the user 1U or various external devices 1A. For example, the output unit 9 may display or transmit the diagnostic results 17, 18, and 20.

図3は、本実施形態に係る劣化診断装置1の診断内容の一例を示すグラフである。   FIG. 3 is a graph showing an example of diagnosis contents of the deterioration diagnosis apparatus 1 according to the present embodiment.

この図3において、横軸は、診断対象である絶縁材料の使用期間である。縦軸は、絶縁材料のlog絶縁抵抗値である。   In FIG. 3, the horizontal axis represents the period of use of the insulating material that is the object of diagnosis. The vertical axis represents the log insulation resistance value of the insulating material.

例えば、T法によって実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と、実測の絶縁抵抗値との差が、許容範囲10を越える場合には、T法による推定方法の精度が低いと診断される。   For example, when the difference between the insulation resistance value estimated based on the evaluation item value measured by the T method and the measured insulation resistance value exceeds the allowable range 10, the accuracy of the estimation method by the T method is low. Diagnosed.

絶縁材料は、使用期間が長くなるほど、絶縁抵抗値が下がる。例えば、新品の絶縁材料の絶縁抵抗値(推定された他の実測環境での絶縁抵抗値でもよい)、実測の評価項目値に基づいて推定された実測環境での絶縁抵抗値、使用期間に基づいて得られる推定曲線から、絶縁抵抗値がしきい値11以下となる時点が推定される。そして、絶縁抵抗値がしきい値11以下となる時点と現時点との差より、絶縁材料の実測環境での余寿命が求められる。   The insulation resistance value of the insulating material decreases as the usage period becomes longer. For example, based on the insulation resistance value of a new insulation material (may be the estimated insulation resistance value in another actual measurement environment), the insulation resistance value in the actual measurement environment estimated based on the actual evaluation item value, and the period of use From the estimated curve obtained in this way, the time point at which the insulation resistance value becomes the threshold value 11 or less is estimated. Then, the remaining life of the insulating material in the measured environment is determined from the difference between the time when the insulation resistance value becomes the threshold value 11 or less and the current time.

また、新品の絶縁材料の絶縁抵抗値(推定された他の悪環境での絶縁抵抗値でもよい)、悪環境の評価項目値に基づいて推定された悪環境での絶縁抵抗値、使用期間に基づいて得られる推定曲線から、悪環境での絶縁抵抗値がしきい値11以下となる時点が推定される。そして、悪環境での絶縁抵抗値がしきい値11以下となる時点と現時点との差より、絶縁材料の悪環境での余寿命が求められる。   In addition, the insulation resistance value of a new insulation material (may be an estimated insulation resistance value in another adverse environment), the insulation resistance value in an adverse environment estimated based on the evaluation item value of the adverse environment, and the period of use From the estimated curve obtained based on this, the time point at which the insulation resistance value in the adverse environment becomes the threshold value 11 or less is estimated. And the remaining life in the bad environment of an insulating material is calculated | required from the difference between the time when the insulation resistance value in bad environment becomes the threshold value 11 or less, and the present time.

図4は、本実施形態に係る劣化診断装置1の動作の第1の例を示すフローチャートである。   FIG. 4 is a flowchart showing a first example of the operation of the deterioration diagnosis apparatus 1 according to the present embodiment.

ステップS1において、劣化診断装置1の推定部4は、例えばT法で用いられるパラメータ12、実測の評価項目値と使用期間とを含む評価項目データ14に基づいて、T法による解析を行い、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と試用期間とを含む推定結果16を求める。   In step S1, the estimation unit 4 of the degradation diagnosis apparatus 1 performs analysis by the T method based on the evaluation item data 14 including, for example, the parameter 12 used in the T method, the actually evaluated evaluation item value, and the usage period. An estimation result 16 including the insulation resistance value estimated based on the evaluation item value and the trial period is obtained.

ステップS2において、劣化診断装置1の診断部6は、実測の絶縁抵抗値と使用期間とを含む実測の絶縁抵抗データ13と、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と使用期間とを含む推定結果16とに基づいて、実測の絶縁抵抗値と実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値との差を求める。   In step S <b> 2, the diagnosis unit 6 of the deterioration diagnosis apparatus 1 performs the measured insulation resistance data 13 including the measured insulation resistance value and the usage period, and the insulation resistance value and the usage period estimated based on the measured evaluation item value. The difference between the actually measured insulation resistance value and the estimated insulation resistance value based on the actually measured evaluation item value is obtained.

ステップS3において、診断部6は、この差が許容範囲10より大きいか否か判断する。   In step S <b> 3, the diagnosis unit 6 determines whether this difference is larger than the allowable range 10.

差が許容範囲10より大きい場合、ステップS4Aにおいて、診断部6は、推定方法とパラメータ11とのうちの少なくとも一方の精度に関する警告を含む診断結果17を生成し、記憶装置3に記憶する。   When the difference is larger than the allowable range 10, in step S4A, the diagnosis unit 6 generates a diagnosis result 17 including a warning regarding the accuracy of at least one of the estimation method and the parameter 11, and stores the diagnosis result 17 in the storage device 3.

差が許容範囲10以下の場合、ステップS4Bにおいて、診断部6は、推定方法とパラメータ11が正常である(推定精度が十分である)ことを示す情報を含む診断結果17を生成し、記憶装置3に記憶する。   When the difference is equal to or smaller than the allowable range 10, in step S4B, the diagnosis unit 6 generates a diagnosis result 17 including information indicating that the estimation method and the parameter 11 are normal (estimation accuracy is sufficient), and the storage device 3 is stored.

ステップS5において、出力部9は、記憶装置3に記憶されている診断結果17を出力する。   In step S <b> 5, the output unit 9 outputs the diagnosis result 17 stored in the storage device 3.

図5は、本実施形態に係る劣化診断装置1の動作の第2の例を示すフローチャートである。   FIG. 5 is a flowchart showing a second example of the operation of the deterioration diagnosis apparatus 1 according to this embodiment.

ステップT1は、上記ステップS1と同様であり、劣化診断装置1の推定部4は、パラメータ12、実測の評価項目データ14に基づいて解析を行い、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と使用期間とを含む推定結果16を生成する。   Step T1 is the same as step S1 described above, and the estimation unit 4 of the deterioration diagnosis apparatus 1 performs analysis based on the parameter 12 and the actually measured evaluation item data 14, and the insulation estimated based on the actually measured evaluation item value. An estimation result 16 including the resistance value and the use period is generated.

ステップT2において、劣化診断装置1の診断部7は、新品の絶縁材料の絶縁抵抗値(他の絶縁抵抗値とその使用期間でもよい)、実測の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値とその使用期間、しきい値11に基づいて、絶縁材料の実測環境での余寿命を含む診断結果17を生成し、診断結果18を記憶装置3に記憶する。実測環境での余寿命は、例えば、新品の絶縁抵抗値、現時点までの使用期間、T法で推定された絶縁抵抗値から推定曲線を生成し、この推定曲線がしきい値11と交わる時点を求め、この求められた時点から現時点までの使用期間を引くことで算出される。   In step T2, the diagnosis unit 7 of the deterioration diagnosis apparatus 1 determines the insulation resistance value of the new insulation material (other insulation resistance values and their usage periods may be used) and the insulation resistance value estimated based on the actually evaluated evaluation item values. The diagnostic result 17 including the remaining life of the insulating material in the actual measurement environment is generated based on the usage period and the threshold value 11, and the diagnostic result 18 is stored in the storage device 3. The remaining life in the actual measurement environment is, for example, an estimated curve generated from a new insulation resistance value, a period of use up to the present time, and an insulation resistance value estimated by the T method. It is calculated by subtracting the period of use from the determined time point to the present time.

ステップT3において、出力部9は、記憶装置3に記憶されている診断結果18を出力する。   In step T <b> 3, the output unit 9 outputs the diagnosis result 18 stored in the storage device 3.

図6は、本実施形態に係る劣化診断装置1の動作の第3の例を示すフローチャートである。   FIG. 6 is a flowchart showing a third example of the operation of the deterioration diagnosis apparatus 1 according to this embodiment.

ステップU1において、劣化診断装置1の推定部5は、パラメータ12、悪環境の評価項目データ15に基づいて解析を行い、悪環境の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値と使用期間とを含む推定結果19を生成する。悪環境の評価項目データ15は、例えば、絶縁材料を含む設備・機器が設置されている場所ごとに任意の期間(例えば年間)を通じて温度及び湿度を測定し、この測定された温度及び湿度のうち、最も高い温度及び湿度を含むとしてもよい。   In step U1, the estimation unit 5 of the degradation diagnosis apparatus 1 performs analysis based on the parameter 12 and the evaluation item data 15 of the bad environment, and the insulation resistance value estimated based on the evaluation item value of the bad environment, the use period, and the like. The estimation result 19 including is generated. The evaluation item data 15 for the bad environment includes, for example, measuring temperature and humidity over an arbitrary period (for example, annually) for each place where equipment / equipment including an insulating material is installed, and out of the measured temperature and humidity The highest temperature and humidity may be included.

ステップU2において、劣化診断装置1の診断部8は、新品の絶縁材料の絶縁抵抗値(他の悪環境での絶縁抵抗値とその使用期間でもよい)、悪環境の評価項目値に基づいて推定された絶縁抵抗値とその使用期間、しきい値11に基づいて、絶縁材料の悪環境での余寿命を含む診断結果20を生成し、診断結果20を記憶装置3に記憶する。悪環境での余寿命は、例えば、新品の絶縁抵抗値、現時点までの使用期間、T法で推定された悪環境での絶縁抵抗値から悪環境での推定曲線を生成し、この悪環境での推定曲線がしきい値11と交わる時点を求め、この求められた時点から現時点までの使用期間を引くことで算出される。   In step U2, the diagnosis unit 8 of the deterioration diagnosis apparatus 1 estimates based on the insulation resistance value of the new insulation material (the insulation resistance value in another adverse environment and its use period) and the evaluation item value of the adverse environment. Based on the insulation resistance value, the period of use thereof, and the threshold value 11, a diagnostic result 20 including the remaining life in an adverse environment of the insulating material is generated, and the diagnostic result 20 is stored in the storage device 3. The remaining life in a bad environment is, for example, by generating an estimated curve in a bad environment from a new insulation resistance value, the period of use up to the present time, and the insulation resistance value in a bad environment estimated by the T method. Is calculated by subtracting the period of use from the determined time point to the current time point.

ステップU3において、出力部9は、記憶装置3に記憶されている診断結果20を出力する。   In step U <b> 3, the output unit 9 outputs the diagnosis result 20 stored in the storage device 3.

通常の環境下では絶縁性が良好と診断される絶縁材料であっても、梅雨時など絶縁材料にとって悪い環境下では、絶縁抵抗値が急激に低下する場合がある。しかしながら、本実施形態のように悪環境での余寿命を推定することにより、ユーザは悪環境下で絶縁性が低下する傾向を把握することができる。   Even if the insulation material is diagnosed as having good insulation under a normal environment, the insulation resistance value may suddenly decrease in an environment that is bad for the insulation material, such as during a rainy season. However, by estimating the remaining life in a bad environment as in the present embodiment, the user can grasp the tendency for the insulation to decrease in the bad environment.

図7は、T法の推定式を生成するための特性要因の一例を示す要因効果図である。   FIG. 7 is a factor effect diagram showing an example of a characteristic factor for generating an estimation formula of the T method.

この図7において、縦軸(Y)は、log絶縁抵抗値を示し、横軸(X)は、各評価項目を示す。図7では、各評価項目において、Xの値が変わると、Yの値がどのように変化するかが表現されている。図7のXに対するYの変化率が大きいほど(傾きが大きいほど)、Yへの影響は大きいことを意味する。   In FIG. 7, the vertical axis (Y) represents the log insulation resistance value, and the horizontal axis (X) represents each evaluation item. FIG. 7 represents how the value of Y changes when the value of X changes in each evaluation item. The greater the rate of change of Y with respect to X in FIG. 7 (the greater the slope), the greater the effect on Y.

本実施形態に係るT法は、項目選択の信頼性向上を図るために正逆直交表を使用している。   The T method according to the present embodiment uses a forward / reverse orthogonal table in order to improve the reliability of item selection.

図8は、実測の絶縁抵抗値(真値)と、T法によって推定された絶縁抵抗値(推定値)との相関関係の一例を示すグラフである。   FIG. 8 is a graph showing an example of the correlation between the actually measured insulation resistance value (true value) and the insulation resistance value (estimated value) estimated by the T method.

この図8において、横軸は実測の絶縁抵抗値であり、縦軸は推定された絶縁抵抗値(推定値)である。この実測の絶縁抵抗値と推定された絶縁抵抗値とが近いほど、推定精度は高い。   In FIG. 8, the horizontal axis represents the actually measured insulation resistance value, and the vertical axis represents the estimated insulation resistance value (estimated value). The closer the measured insulation resistance value is to the estimated insulation resistance value, the higher the estimation accuracy.

図9は、絶縁材料の実測のlog絶縁抵抗値、実測環境で(実際に測定された評価項目値を用いて)推定されたlog絶縁抵抗値、悪環境で推定されたlog絶縁抵抗値の比較の一例を示すテーブルである。   FIG. 9 is a comparison of the measured log insulation resistance value of the insulating material, the log insulation resistance value estimated in the actual measurement environment (using the actually measured evaluation item value), and the log insulation resistance value estimated in the adverse environment. It is a table which shows an example.

この図9において、各行について、実測のlog絶縁抵抗値と、実測環境で推定されたlog絶縁抵抗値との差は、許容範囲10内となることが望まれる。   In FIG. 9, for each row, the difference between the measured log insulation resistance value and the log insulation resistance value estimated in the actual measurement environment is preferably within the allowable range 10.

使用期間が長いほど、悪環境でのlog絶縁抵抗値は、実測のlog絶縁抵抗値及び実測環境で推定されたlog絶縁抵抗値よりも小さくなる。   The longer the period of use, the smaller the log insulation resistance value in a bad environment than the measured log insulation resistance value and the log insulation resistance value estimated in the actual measurement environment.

本実施形態において、評価項目は、測定者などのユーザ1Uが設備設置場所で測定可能又はサンプルを持ち帰って評価できる項目であるとする。さらに、評価項目は、設備及び絶縁材料を破壊することなく、かつ、傷付けることなく測定可能な項目であるとする。評価項目は、設備運転中に測定可能な項目であることが好ましい。評価項目は、定期点検など設備を停止する機会に同時に測定できる項目であってもよい。   In the present embodiment, it is assumed that the evaluation item is an item that can be measured by the user 1U such as a measurer at a facility installation place or by taking back a sample. Furthermore, the evaluation items are items that can be measured without destroying and damaging the equipment and the insulating material. The evaluation item is preferably an item that can be measured during the operation of the facility. The evaluation item may be an item that can be measured at the same time when the facility is stopped, such as periodic inspection.

例えば、評価項目としては、温度、湿度、色相(明度L*、色度a*、色度b*)、光沢度(入射角20°、60°、85°)、反射率(赤色光反射率、青色光反射率、緑色光反射率)、接触角、表面粗さ、汚損度、イオン含有量(フッ素イオン、塩素イオン、亜硝酸イオン、硝酸イオン、硫酸イオン、リン酸イオン、ナトリウムイオン、アンモニウムイオン、カリウムイオン、マグネシウムイオン、カルシウムイオン)などが用いられる。この中でも、特に、温度、湿度、色相、光沢度、汚損度、イオン含有率は、絶縁材料の絶縁抵抗値と相関性が高く、評価項目として使用されることが好ましい。この理由として、絶縁材料は、経年劣化によって、表面が粗くなり、光沢(つや)がなくなり、変色するためである。なお、絶縁材料の絶縁抵抗値は、設置環境にもよるが、空気中に浮遊している塵埃、イオン性物質が付着、堆積し、表面に導電性物質が溜まることで低下する場合もあるため、空気中に浮遊している塵埃の量、イオン性物質の量を評価項目に用いるとしてもよい。   For example, as evaluation items, temperature, humidity, hue (lightness L *, chromaticity a *, chromaticity b *), glossiness (incidence angles 20 °, 60 °, 85 °), reflectance (red light reflectance) , Blue light reflectance, green light reflectance), contact angle, surface roughness, fouling degree, ion content (fluorine ion, chlorine ion, nitrite ion, nitrate ion, sulfate ion, phosphate ion, sodium ion, ammonium) Ions, potassium ions, magnesium ions, calcium ions) and the like. Among these, in particular, temperature, humidity, hue, glossiness, fouling degree, and ion content are highly correlated with the insulation resistance value of the insulating material, and are preferably used as evaluation items. The reason for this is that the insulating material becomes rough due to aging, loses its gloss (gloss), and changes color. Note that the insulation resistance value of the insulating material depends on the installation environment, but it may decrease due to adhesion and accumulation of dust and ionic substances floating in the air and accumulation of conductive substances on the surface. The amount of dust floating in the air and the amount of ionic substances may be used as evaluation items.

本実施形態において、log絶縁抵抗値は、下記の(1)式のように、定数、評価項目値、係数の一次式で表される。   In the present embodiment, the log insulation resistance value is expressed by a linear expression of a constant, an evaluation item value, and a coefficient as in the following expression (1).

Y=C+n11+n22+n33+…+nii …(1)
ここで、Yはlog絶縁抵抗値、Cは定数、X1〜Xiは各評価項目値(評価項目の測定値)、n1〜niは評価項目の係数である。
Y = C + n 1 X 1 + n 2 X 2 + n 3 X 3 +... + N i X i (1)
Here, Y is a log insulation resistance value, C is a constant, X 1 to X i are evaluation item values (measurement values of evaluation items), and n 1 to n i are coefficients of the evaluation items.

絶縁材料の絶縁抵抗値を実測すると、外部環境ノイズを含む値が測定される可能性がある。これに対して、(1)式によってYを算出すると、ノイズに影響されない絶縁抵抗値を得ることができる。   When the insulation resistance value of the insulating material is actually measured, a value including external environmental noise may be measured. On the other hand, when Y is calculated by the equation (1), an insulation resistance value that is not affected by noise can be obtained.

設備稼働中においては絶縁抵抗値を測定することが困難であるが、(1)式を用いることによって、設備稼働中であっても絶縁材料の絶縁抵抗値を求め、寿命診断を行うことができる。   Although it is difficult to measure the insulation resistance value during the operation of the facility, by using the equation (1), the insulation resistance value of the insulating material can be obtained and the life diagnosis can be performed even during the operation of the facility. .

実際に絶縁材料が使用された環境における絶縁抵抗値を得ることが困難な場合であっても、(1)式に温度、湿度などの外部環境条件を入力することによって、実際の使用環境に対応する絶縁抵抗値を推定し、絶縁材料の寿命を把握し、メンテナンスを効果的に行うことができる。   Even if it is difficult to obtain the insulation resistance value in the environment where the insulation material is actually used, it is possible to respond to the actual use environment by inputting external environment conditions such as temperature and humidity into the equation (1). The insulation resistance value to be estimated can be estimated, the life of the insulating material can be grasped, and maintenance can be performed effectively.

そして、本実施形態では、絶縁材料にとって悪環境となる高温度、高湿度の条件下で、絶縁材料が使用された場合の絶縁抵抗値を推定することができる。   In this embodiment, it is possible to estimate the insulation resistance value when the insulating material is used under the conditions of high temperature and high humidity, which is a bad environment for the insulating material.

図10は、推定式の定数及び係数の切り替えの一例を示すテーブルである。   FIG. 10 is a table showing an example of switching of constants and coefficients of the estimation formula.

この図10において、条件R1の定数及び係数は、高湿度域で使用される定数及び係数である。条件R2の定数及び係数は、低湿度域で使用される定数及び係数である。絶縁材料を含む設備の設置領域における湿度がある値以上の場合には、条件R1の定数及び係数を用いてlog絶縁抵抗値が推定される。湿度がある値未満の場合には、条件R2の定数及び係数を用いてlog絶縁抵抗値が推定される。   In FIG. 10, the constants and coefficients of the condition R1 are constants and coefficients used in the high humidity region. The constants and coefficients of the condition R2 are constants and coefficients used in the low humidity region. When the humidity in the installation area of the equipment including the insulating material is equal to or higher than a certain value, the log insulation resistance value is estimated using the constant and coefficient of the condition R1. When the humidity is less than a certain value, the log insulation resistance value is estimated using the constant and coefficient of the condition R2.

絶縁材料の種類によっては、高湿度の環境と低湿度の環境とで、log絶縁抵抗値の変化が大きく異なる場合がある。このような場合に、図10のように、(1)式の定数及び係数を湿度に応じて切り替えることにより、log絶縁抵抗値の推定精度を向上させることができる。   Depending on the type of insulating material, the change in the log insulation resistance value may differ greatly between a high humidity environment and a low humidity environment. In such a case, as shown in FIG. 10, the accuracy of estimating the log insulation resistance value can be improved by switching the constant and coefficient of the equation (1) according to the humidity.

なお、この図10では、高湿度域と低湿度域とで(1)式の定数及び係数を切り替える場合を例として説明しているが、他の基準により(1)式の定数及び係数を切り替えるとしてもよい。   In FIG. 10, the case where the constants and coefficients of the formula (1) are switched between the high humidity region and the low humidity region is described as an example. However, the constants and the coefficients of the formula (1) are switched according to other criteria. It is good.

例えば、汚損度に基づいて、高汚損域と低汚損域とに分けて(1)式の定数及び係数が設定されるとしてもよい。例えば、高汚損域は、汚損区分が超重汚損から軽汚損の場所、あるいは汚損度が0.01(mg/cm2)より大きい場所とする。例えば、低汚損域は、汚損区分が清浄の場所、あるいは汚損度が0.01(mg/cm2)以下の場所とする。絶縁材料の表面が汚損されて導電性物質が溜まると、絶縁材料の絶縁性が失われ、急激に絶縁抵抗値が低下する傾向がある。したがって、絶縁材料の表面が清浄な状態と、汚損された状態とで区分けを行い、高汚損域と低汚損域とで(1)式の定数及び係数を切り替えることにより、推定精度を向上させることができる。 For example, based on the degree of pollution, the constants and coefficients of the equation (1) may be set separately for the high pollution area and the low pollution area. For example, the high pollution area is a place where the pollution classification is from super heavy pollution to light pollution, or a pollution degree greater than 0.01 (mg / cm 2 ). For example, the low pollution area is a place where the pollution classification is clean, or a place where the pollution degree is 0.01 (mg / cm 2 ) or less. When the surface of the insulating material is fouled and the conductive material is accumulated, the insulating property of the insulating material is lost, and the insulation resistance value tends to rapidly decrease. Therefore, the estimation accuracy is improved by classifying the surface of the insulating material into a clean state and a contaminated state, and switching the constant and coefficient of the equation (1) between the high contamination region and the low contamination region. Can do.

本実施形態において、上記(1)式の一部(例えば少なくとも一つの評価項目に対応する係数と評価項目値のうちの少なくとも一方)は関数化されているとしてもよい。   In the present embodiment, a part of the expression (1) (for example, at least one of a coefficient corresponding to at least one evaluation item and an evaluation item value) may be functionalized.

上記(1)の推定式のうちの少なくとも一つの評価項目値が関数で表される場合を、(2)式に示す。   A case where at least one evaluation item value of the estimation equation (1) is expressed by a function is shown in Equation (2).

Y=C+n11+n22+n33+…+ni-1i-1(Xi-1)+nii(Xi) …(2)
この(2)式においては、L(Xi-1)及びL(Xi)が評価項目値に基づいて得られる関数の値である。
Y = C + n 1 X 1 + n 2 X 2 + n 3 X 3 +... + N i-1 L i-1 (X i-1 ) + n i Li (X i ) (2)
In this equation (2), L (X i-1 ) and L (X i ) are function values obtained based on the evaluation item values.

例えば、上記図10において、評価項目値X6´〜X9´は実測値に基づいて算出される演算値としてもよい。   For example, in FIG. 10 described above, the evaluation item values X6 ′ to X9 ′ may be calculated values calculated based on actual measurement values.

図11は、推定式の一部に含まれる関数Li(Xi)の一例を示すグラフである。 FIG. 11 is a graph illustrating an example of the function L i (X i ) included in a part of the estimation formula.

例えば、評価項目がイオン含有率又は汚損度の場合、この評価項目に対応する係数と評価項目値とのうちの少なくとも一方は関数を用いて算出されるとする。   For example, when the evaluation item is an ion content rate or a contamination degree, it is assumed that at least one of a coefficient and an evaluation item value corresponding to the evaluation item is calculated using a function.

このように、特定の評価項目について、評価項目値と係数とのうちの少なくとも一方を関数化し、関数から得られる値を用いて、推定式によって絶縁抵抗値を推定することにより、評価項目の実測値をそのまま(1)式に代入する場合よりも、推定精度を向上させることができる。   In this way, for a specific evaluation item, at least one of the evaluation item value and the coefficient is converted into a function, and the insulation resistance value is estimated by the estimation formula using the value obtained from the function, thereby actually measuring the evaluation item. The estimation accuracy can be improved as compared with the case where the value is directly substituted into the equation (1).

ただし、係数又は評価項目値の関数化は、絶縁抵抗値が評価項目の関数で説明できると確認された場合に用いられるとする。   However, the functionalization of the coefficient or the evaluation item value is used when it is confirmed that the insulation resistance value can be explained by the function of the evaluation item.

本実施形態において、電力機器に使用されている絶縁材料としては、例えば、各種のマトリックス樹脂、充填剤が用いられる。例えば色又は光沢などについては、絶縁材料ごとの特性がある。絶縁材料は、機器の構成部材として長期間使用されると、それぞれ材料特有の劣化状態を示す。絶縁材料ごとに評価項目値(特性値)も異なる。そこで、本実施形態において、上記推定式(1)、推定式(2)、係数、定数は、絶縁材料の種類ごとに設定されているとしてもよい。   In the present embodiment, as the insulating material used in the power device, for example, various matrix resins and fillers are used. For example, color or gloss has characteristics for each insulating material. When the insulating material is used as a component of the device for a long period of time, each of the insulating materials exhibits a deterioration state specific to the material. Evaluation item values (characteristic values) are different for each insulating material. Therefore, in the present embodiment, the estimation formula (1), the estimation formula (2), the coefficient, and the constant may be set for each type of insulating material.

図12は、絶縁材料を備える機器の型式を考慮した劣化診断装置の構成の一例を示すブロック図である。   FIG. 12 is a block diagram illustrating an example of the configuration of a deterioration diagnosis apparatus that takes into account the model of a device including an insulating material.

この図12において、機器の型式A,Bごとの単位空間情報21A,21Bは、機器の設置されている場所に関する情報である。   In FIG. 12, the unit space information 21A, 21B for each device type A, B is information relating to the place where the device is installed.

データ22は、測定ごとの1セットの測定データ及び分析データである。   Data 22 is a set of measurement data and analysis data for each measurement.

記憶装置3は、劣化診断に必要な各種情報が記憶されているが、この図12では省略している。   The storage device 3 stores various types of information necessary for deterioration diagnosis, but is omitted in FIG.

入力ツール22は、入力部2に対応する。帳票出力ツール23は、推定部4,5、診断部6〜8、出力部9に対応する。帳票24は、診断結果17,18,20に対応する。   The input tool 22 corresponds to the input unit 2. The form output tool 23 corresponds to the estimation units 4 and 5, the diagnosis units 6 to 8, and the output unit 9. The form 24 corresponds to the diagnosis results 17, 18, and 20.

ユーザ1Uは、診断を行う機器の型式を選択し、データ(各種の測定データ、分析データ)22を入力する。   The user 1U selects a model of a device to be diagnosed and inputs data (various measurement data and analysis data) 22.

記憶装置3は、入力されたデータ22を記憶する。   The storage device 3 stores the input data 22.

帳票出力ツール23は、選択された型式の単位空間情報と、記憶装置3に記憶されているデータ22、その他の各種情報に基づいて余寿命などを含む診断結果を生成し、帳票24として出力する。   The form output tool 23 generates a diagnosis result including the remaining life based on the unit type space information of the selected type, the data 22 stored in the storage device 3 and other various information, and outputs it as a form 24. .

以上説明した本実施形態においては、絶縁材料の余寿命を予知することによって、電力機器を安全に運転し、適切にメンテナンスを行うことができる。   In the present embodiment described above, by predicting the remaining life of the insulating material, it is possible to safely operate the power equipment and perform appropriate maintenance.

本実施形態においては、高い精度で絶縁材料の絶縁抵抗値を推定することができる。   In the present embodiment, the insulation resistance value of the insulating material can be estimated with high accuracy.

なお、本実施形態において、劣化診断装置1はコンピュータであり、推定部4,5及び診断部6〜8は、コンピュータのプロセッサがプログラムを実行することによって実現されるとしてもよい。例えば、入力部2は、タッチパネル、キーボード、ポインティングデバイスでもよく、出力部はディスプレイでもよい。   In the present embodiment, the deterioration diagnosis device 1 is a computer, and the estimation units 4 and 5 and the diagnosis units 6 to 8 may be realized by a computer processor executing a program. For example, the input unit 2 may be a touch panel, a keyboard, or a pointing device, and the output unit may be a display.

(第2の実施形態)
本実施の形態においては、上記図7を参照し、第1の実施形態で説明されたT法についてさらに説明を行う。
(Second Embodiment)
In the present embodiment, the T method described in the first embodiment will be further described with reference to FIG.

T法にはいくつかの種類があるが、第1の実施形態に係るT法は、単位空間が中央にある場合のT法である。   Although there are several types of T methods, the T method according to the first embodiment is a T method when the unit space is in the center.

また、第1の実施形態に係るT法では、項目選択の信頼性を向上させるために、正逆直交表が使用される。   In the T method according to the first embodiment, a forward / reverse orthogonal table is used to improve the reliability of item selection.

上記の図7は、このような計算に基づいて生成されたT法要因効果図の一例である。この図7の横軸の数字は各項目の番号である。この図7では、各項目について、水準1を小、水準2を中、水準3を大に設定した場合に、縦軸の推定値がどうなるかを示している。項目2,3,9,11,14,16,20は値が大きくなると推定値が小さくなることを示す。項目4〜8は値が大きくなるほど推定値が大きくなることを示す。項目12,15,19は推定値にほぼ影響を与えないことが把握される。   FIG. 7 is an example of a T-method factor effect diagram generated based on such calculation. The numbers on the horizontal axis in FIG. 7 are the numbers of the respective items. FIG. 7 shows what happens to the estimated value on the vertical axis for each item when level 1 is set low, level 2 is set medium, and level 3 is set high. Items 2, 3, 9, 11, 14, 16, and 20 indicate that the estimated value decreases as the value increases. Items 4 to 8 indicate that the estimated value increases as the value increases. It can be understood that the items 12, 15, and 19 hardly affect the estimated value.

なお、本実施形態において、推定式には、単なる特徴値ではなく、特徴値を変換した特性が入力されるとしてもよい。   In the present embodiment, a characteristic obtained by converting a feature value may be input to the estimation formula instead of a simple feature value.

以上説明したように、項目選択において正逆直交表が使用されることにより、項目選択の信頼性が向上し、精度のよい推定式を求めることができる。   As described above, the use of a forward / reverse orthogonal table for item selection improves the reliability of item selection and enables a highly accurate estimation formula to be obtained.

本実施形態においては、例えば、小、中、大の3レベルの要因効果図に基づいて、あるレベルを超えて推定値に影響を与える項目のみを選択して推定式を生成することにより、精度の低下を抑制しつつ、測定が必要な項目数を減らすことができる。   In the present embodiment, for example, based on the three-level factor effect diagram of small, medium, and large, by selecting only items that affect the estimated value beyond a certain level, an estimation formula is generated, thereby generating accuracy. It is possible to reduce the number of items that need to be measured while suppressing a decrease in the number of items.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

1…劣化診断装置、2…入力部、3…記憶装置、4,5…推定部、6〜8…診断部、9…出力部、10…許容範囲、11…しきい値、12…パラメータ、13…実測の絶縁抵抗データ、14…実測の評価項目データ、15…悪環境の評価項目データ、16,19…推定結果、17,18,20…診断結果   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Degradation diagnostic apparatus, 2 ... Input part, 3 ... Memory | storage device, 4, 5 ... Estimation part, 6-8 ... Diagnosis part, 9 ... Output part, 10 ... Permissible range, 11 ... Threshold value, 12 ... Parameter, 13 ... Measured insulation resistance data, 14 ... Measured evaluation item data, 15 ... Evil environment evaluation item data, 16, 19 ... Estimated results, 17, 18, 20 ... Diagnostic results

Claims (8)

絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の実測値と、前記絶縁材料を備える機器の型式と、当該型式に対応する単位空間情報とに基づいて、前記絶縁材料の絶縁抵抗値を推定する推定手段と、
前記推定手段によって推定された前記絶縁抵抗値に基づいて前記絶縁材料の余寿命を求める診断手段と
を具備する劣化診断装置。
An insulation resistance value of the insulating material is estimated based on an actual measurement value of an evaluation item set in advance for the insulating material, a model of a device including the insulating material, and unit space information corresponding to the model. An estimation means;
A deterioration diagnosis apparatus comprising: a diagnosis unit that obtains a remaining life of the insulating material based on the insulation resistance value estimated by the estimation unit.
請求項1記載の劣化診断装置において、
前記診断手段は、前記推定手段によって推定された前記絶縁抵抗値と、前記絶縁材料の使用期間とに基づいて、前記絶縁抵抗値の前記使用期間に対する変化を表す推定曲線を求め、前記推定曲線が予め設定されているしきい値以下となる時点に基づいて前記絶縁材料の余寿命を求めることを特徴とする劣化診断装置。
In the deterioration diagnostic apparatus according to claim 1,
The diagnostic means obtains an estimated curve representing a change of the insulation resistance value with respect to the use period based on the insulation resistance value estimated by the estimation means and a use period of the insulating material, and the estimated curve is A deterioration diagnosis apparatus, characterized in that a remaining life of the insulating material is obtained based on a time point when a predetermined threshold value or less is reached.
請求項1記載の劣化診断装置において、
前記推定手段は、前記評価項目に関する悪環境の値に基づいて前記絶縁材料の前記悪環境の絶縁抵抗値を推定し、
前記診断手段は、前記悪環境の絶縁抵抗値と、前記絶縁材料の使用期間とに基づいて、前記絶縁抵抗値の前記悪環境での変化を表す悪環境の推定曲線を求め、前記悪環境の推定曲線が前記しきい値以下となる時点に基づいて前記絶縁材料の悪環境の有効期間を求めることを特徴とする劣化診断装置。
In the deterioration diagnostic apparatus according to claim 1,
The estimating means estimates an insulation resistance value of the adverse environment of the insulating material based on a value of the adverse environment related to the evaluation item,
The diagnostic means obtains an estimation curve of a bad environment representing a change in the bad environment of the insulation resistance value based on the insulation resistance value of the bad environment and a usage period of the insulating material, A deterioration diagnosis apparatus characterized in that an effective period of a bad environment of the insulating material is obtained based on a time point when an estimated curve becomes equal to or less than the threshold value.
請求項1記載の劣化診断装置において、
前記診断手段は、前記絶縁材料の実測の絶縁抵抗値と、前記推定手段によって前記評価項目の実測値に基づいて推定された前記絶縁抵抗値との差が、予め設定されている推定精度の許容範囲外か判断し、前記差が前許容範囲外の場合にその旨を示す診断結果を生成することを特徴とする劣化診断装置。
In the deterioration diagnostic apparatus according to claim 1,
The diagnostic means is configured such that a difference between the actually measured insulation resistance value of the insulating material and the insulation resistance value estimated based on the actually measured value of the evaluation item by the estimating means is within a preset estimation accuracy tolerance. A deterioration diagnosis apparatus characterized in that it is determined whether the difference is outside the range, and if the difference is outside the pre-allowable range, a diagnosis result indicating that is generated.
請求項1記載の劣化診断装置において、
前記単位空間情報は、前記絶縁材料を備える機器の型式に応じて予め複数用意されることを特徴とする劣化診断装置。
In the deterioration diagnostic apparatus according to claim 1,
A plurality of the unit space information is prepared in advance in accordance with the type of equipment provided with the insulating material.
請求項1記載の劣化診断装置において、
前記評価項目には、色相、光沢度、反射率、接触角、表面粗さ、汚損度、イオン含有量のうちの少なくとも一つが用いられていることを特徴とする劣化診断装置。
In the deterioration diagnostic apparatus according to claim 1,
At least one of hue, glossiness, reflectance, contact angle, surface roughness, fouling degree, and ion content is used as the evaluation item.
処理装置が、絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の実測値と、前記絶縁材料を備える機器の型式と、当該型式に対応する単位空間情報とに基づいて、前記絶縁材料の絶縁抵抗値を推定することと、
前記処理装置が、推定された前記絶縁抵抗値に基づいて前記絶縁材料の余寿命を求めることと、を具備する劣化診断方法。
Based on the measured value of the evaluation item set in advance for the insulating material, the type of the equipment including the insulating material, and the unit space information corresponding to the type, the processing device Estimating the value;
The deterioration diagnosis method comprising: the processing device obtaining a remaining life of the insulating material based on the estimated insulation resistance value.
コンピュータに、絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の実測値と、前記絶縁材料を備える機器の型式と、記憶装置に記憶されている当該型式に対応する単位空間情報とに基づいて、前記絶縁材料の絶縁抵抗値を推定し、推定結果を前記記憶装置に記憶することを実行させ、
前記コンピュータに、前記記憶装置に記憶されている前記推定結果に基づいて前記絶縁材料の余寿命を求め、前記余寿命を前記記憶装置に記憶することを実行させるための劣化診断プログラム。
On the computer, based on the actual measurement values of the evaluation items set in advance for the insulating material, the model of the device including the insulating material, and the unit space information corresponding to the model stored in the storage device, Estimating an insulation resistance value of the insulating material, and storing the estimation result in the storage device;
A degradation diagnosis program for causing the computer to obtain a remaining life of the insulating material based on the estimation result stored in the storage device and to store the remaining life in the storage device.
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