JP2015149131A - Anisotropic conductive film and method for manufacturing the same - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 66
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 50
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 349
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 148
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 112
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 112
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000003505 polymerization initiator Substances 0.000 claims description 35
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims description 31
- -1 acrylate compound Chemical class 0.000 claims description 24
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 19
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims description 15
- 238000010539 anionic addition polymerization reaction Methods 0.000 claims description 13
- 239000007870 radical polymerization initiator Substances 0.000 claims description 13
- 206010037660 Pyrexia Diseases 0.000 claims description 7
- 238000010526 radical polymerization reaction Methods 0.000 claims description 5
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 3
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 claims description 3
- 125000000129 anionic group Chemical group 0.000 claims description 2
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 abstract description 9
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 20
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 12
- 238000012719 thermal polymerization Methods 0.000 description 10
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M acrylate group Chemical group C(C=C)(=O)[O-] NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 5
- 238000010538 cationic polymerization reaction Methods 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 3
- 238000007348 radical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N Acetophenone Chemical compound CC(=O)C1=CC=CC=C1 KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 150000001451 organic peroxides Chemical class 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- GJKGAPPUXSSCFI-UHFFFAOYSA-N 2-Hydroxy-4'-(2-hydroxyethoxy)-2-methylpropiophenone Chemical compound CC(C)(O)C(=O)C1=CC=C(OCCO)C=C1 GJKGAPPUXSSCFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UHFFVFAKEGKNAQ-UHFFFAOYSA-N 2-benzyl-2-(dimethylamino)-1-(4-morpholin-4-ylphenyl)butan-1-one Chemical compound C=1C=C(N2CCOCC2)C=CC=1C(=O)C(CC)(N(C)C)CC1=CC=CC=C1 UHFFVFAKEGKNAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical class S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000126211 Hericium coralloides Species 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000001588 bifunctional effect Effects 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- QGBSISYHAICWAH-UHFFFAOYSA-N dicyandiamide Chemical compound NC(N)=NC#N QGBSISYHAICWAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N diethanolamine Chemical class OCCNCCO ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000037265 diseases, disorders, signs and symptoms Diseases 0.000 description 1
- 208000035475 disorder Diseases 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229940042795 hydrazides for tuberculosis treatment Drugs 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical class I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002460 imidazoles Chemical class 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013034 phenoxy resin Substances 0.000 description 1
- 229920006287 phenoxy resin Polymers 0.000 description 1
- 150000004714 phosphonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 150000003335 secondary amines Chemical class 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 229920006337 unsaturated polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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- Wire Bonding (AREA)
Abstract
Description
本発明は、異方性導電フィルム及びその製造方法に関する。 The present invention relates to an anisotropic conductive film and a method for producing the same.
ICチップなどの電子部品の実装に異方性導電フィルムは広く使用されており、近年では、高実装密度への適用の観点から、導通信頼性や絶縁性の向上、実装導電粒子捕捉率の向上、製造コストの低減等を目的に、異方性導電接続用の導電粒子を単層で絶縁性接着層に配列させた2層構造の異方性導電フィルムが提案されている(特許文献1)。 Anisotropic conductive films are widely used for mounting electronic components such as IC chips. Recently, from the viewpoint of application to high mounting density, improvement of conduction reliability and insulation, improvement of mounting conductive particle capture rate For the purpose of reducing manufacturing costs, etc., a two-layer anisotropic conductive film in which conductive particles for anisotropic conductive connection are arranged in a single layer on an insulating adhesive layer has been proposed (Patent Document 1). .
この2層構造の異方性導電フィルムは、転写層に単層且つ細密充填で導電粒子を配列させた後、転写層を2軸延伸処理することにより、導電粒子が所定間隔で均等に配列された転写層を形成した後、その転写層上の導電粒子を熱硬化性樹脂と重合開始剤とを含有する絶縁性樹脂層に転写し、更に転写した導電粒子上に、熱硬化性樹脂を含有するが重合開始剤を含有しない別の絶縁性樹脂層をラミネートすることにより製造されている(特許文献1)。 In this anisotropic conductive film having a two-layer structure, conductive particles are arranged uniformly at predetermined intervals by biaxially stretching the transfer layer after conductive particles are arranged in a single layer and closely packed in the transfer layer. After forming a transfer layer, the conductive particles on the transfer layer are transferred to an insulating resin layer containing a thermosetting resin and a polymerization initiator, and the transferred conductive particles contain a thermosetting resin. However, it is manufactured by laminating another insulating resin layer that does not contain a polymerization initiator (Patent Document 1).
しかしながら、特許文献1の2層構造の異方性導電フィルムは、重合開始剤を含有していない絶縁性樹脂層を使用しているために、単層で所定間隔で均等に導電粒子を配列させたにもかかわらず、異方性導電接続の際の加熱により、重合開始剤を含有していない絶縁性樹脂層に比較的大きな樹脂流れが生じ易く、その流れに沿って導電粒子も流れ易くなるため、実装導電粒子捕捉率の低下、ショートの発生、絶縁性の低下等の問題が生じていた。また、接着強度を更に向上させることも要望されていた。 However, since the anisotropic conductive film having a two-layer structure in Patent Document 1 uses an insulating resin layer that does not contain a polymerization initiator, the conductive particles are evenly arranged at predetermined intervals in a single layer. Nevertheless, a relatively large resin flow is likely to occur in the insulating resin layer that does not contain the polymerization initiator due to heating during anisotropic conductive connection, and the conductive particles also easily flow along the flow. For this reason, problems such as a decrease in the mounting conductive particle capture rate, the occurrence of short circuits, and a decrease in insulation have occurred. There has also been a demand for further improving the adhesive strength.
本発明の目的は、以上の従来の技術の問題点を解決することであり、単層で配列された導電粒子を有する多層構造の異方性導電フィルムにおいて、良好な導通信頼性、良好な絶縁性、及び良好な実装導電粒子捕捉率を実現することである。 The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, in a multilayer structure anisotropic conductive film having conductive particles arranged in a single layer, good conduction reliability, good insulation. And good mounting conductive particle capture rate.
本発明者らは、光重合性樹脂層に、導電粒子を特定の割合で埋めるように単層で配列させた後に、紫外線を照射することにより導電粒子を固定化もしくは仮固定化し、更に固定化もしくは仮固定化された導電粒子上に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層を積層することにより得た異方性導電フィルムが、上述の本発明の目的を達成できる構成であることを見出し、本発明を完成させるに至った。 The present inventors fixed or temporarily fixed conductive particles by irradiating with ultraviolet rays after arranging the conductive particles in a photopolymerizable resin layer in a single layer so as to fill in a specific ratio. Or the anisotropic conductive film obtained by laminating | stacking a heat | fever or a photocation, anion, or a radically polymerizable resin layer on the electrically fixed electrically conductive particle is the structure which can achieve the objective of the above-mentioned this invention. As a result, the present invention has been completed.
即ち、本発明は、第1接続層とその片面に形成された第2接続層とを有する異方性導電フィルムであって、
第1接続層が、光重合樹脂層であり、
第2接続層が、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層であり、
第1接続層の第2接続層側表面に、異方性導電接続用の導電粒子が単層で配列されており、且つ第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%以上20%以下である
ことを特徴とする異方性導電フィルムを提供する。ここで、埋入率は、導電粒子が第1接続層に埋まっている程度を意味しており、導電粒子の粒子径Laに対し、導電粒子の第1接続層中に埋まっている深さLbの割合(埋入率)として定義することができ、「埋入率(%)=(Lb/La)×100」の式で求めることができる。
That is, the present invention is an anisotropic conductive film having a first connection layer and a second connection layer formed on one side thereof,
The first connection layer is a photopolymerization resin layer;
The second connection layer is a heat or photocation, anion or radical polymerizable resin layer;
Conductive particles for anisotropic conductive connection are arranged in a single layer on the second connection layer side surface of the first connection layer, and the embedding rate of the conductive particles in the first connection layer is 1% or more and 20% or less. An anisotropic conductive film is provided. Here, the embedding rate means the degree to which the conductive particles are buried in the first connection layer, and the depth Lb of the conductive particles embedded in the first connection layer with respect to the particle diameter La of the conductive particles. The ratio (embedding rate) can be defined by the formula of “embedding rate (%) = (Lb / La) × 100”.
なお、第2接続層は、加熱により重合反応を開始する熱重合開始剤を使用した熱重合性樹脂層であることが好ましいが、光により重合反応を開始する光重合開始剤を使用した光重合性樹脂層であってもよい。熱重合開始剤と光重合開始剤とを併用した熱・光重合性樹脂層であってもよい。ここで、第2接続層は、製造上、熱重合開始剤を使用した熱重合性樹脂層に限定される場合がある。 The second connection layer is preferably a thermopolymerizable resin layer using a thermal polymerization initiator that starts a polymerization reaction by heating, but photopolymerization using a photopolymerization initiator that starts a polymerization reaction by light. May be a conductive resin layer. A thermal / photopolymerizable resin layer in which a thermal polymerization initiator and a photopolymerization initiator are used in combination may be used. Here, the second connection layer may be limited to a thermopolymerizable resin layer using a thermal polymerization initiator in production.
本発明の異方性導電フィルムは、第1接続層の他面に、応力緩和などの接合体の反り防止を目的に、第2の接続層と略同様の構成の第3接続層を有していてもよい。即ち、第1接続層の他面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を有していてもよい。 The anisotropic conductive film of the present invention has a third connection layer having substantially the same configuration as the second connection layer on the other surface of the first connection layer for the purpose of preventing warpage of the joined body such as stress relaxation. It may be. That is, you may have the 3rd connection layer which consists of a heat | fever or a photocation, an anion, or a radically polymerizable resin layer in the other surface of a 1st connection layer.
なお、第3接続層は、加熱により重合反応を開始する熱重合開始剤を使用した熱重合性樹脂層であることが好ましいが、光により重合反応を開始する光重合開始剤を使用した光重合性樹脂層であってもよい。熱重合開始剤と光重合開始剤とを併用した熱・光重合性樹脂層であってもよい。ここで、第3接続層は、製造上、熱重合開始剤を使用した熱重合性樹脂層に限定される場合がある。 The third connection layer is preferably a thermopolymerizable resin layer using a thermal polymerization initiator that initiates a polymerization reaction by heating, but photopolymerization using a photopolymerization initiator that initiates a polymerization reaction by light. May be a conductive resin layer. A thermal / photopolymerizable resin layer in which a thermal polymerization initiator and a photopolymerization initiator are used in combination may be used. Here, the third connection layer may be limited to a thermopolymerizable resin layer using a thermal polymerization initiator in production.
また、本発明は、上述の異方性導電フィルムの製造方法であって、第1接続層を一段階の光重合反応で形成する以下の工程(A)〜(C)、又は第1接続層を二段階の光重合反応で形成する後述する工程(AA)〜(DD)を有する製造方法を提供する。 Moreover, this invention is a manufacturing method of the above-mentioned anisotropic conductive film, Comprising: The following processes (A)-(C) which form a 1st connection layer by one-step photopolymerization reaction, or a 1st connection layer The manufacturing method which has process (AA)-(DD) mentioned later which forms is formed by a two-stage photopolymerization reaction is provided.
(第1接続層を一段階の光重合反応で形成する場合)
工程(A)
光重合性樹脂層に、導電粒子を第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させる工程;
工程(B)
導電粒子が配列した光重合性樹脂層に対して紫外線を照射することにより光重合反応させ、表面に導電粒子が固定化された第1接続層を形成する工程;及び
工程(C)
第1接続層の導電粒子側表面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第2接続層を形成する工程。
(When the first connection layer is formed by a one-step photopolymerization reaction)
Process (A)
Arranging the conductive particles in the photopolymerizable resin layer in a single layer so that the embedding rate of the conductive particles in the first connection layer is 1% or more and 20% or less;
Process (B)
A step of forming a first connection layer in which conductive particles are fixed on the surface by irradiating the photopolymerizable resin layer in which the conductive particles are arranged by irradiating with ultraviolet rays; and step (C)
The process of forming the 2nd connection layer which consists of a heat | fever or a photocation, an anion, or a radically polymerizable resin layer in the electrically conductive particle side surface of a 1st connection layer.
(第1接続層を二段階の光重合反応で形成する場合)
工程(AA)
光重合性樹脂層に、導電粒子を第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させる工程;
工程(BB)
導電粒子が配列した光重合性樹脂層に対して紫外線を照射することにより光ラジカル重合反応させ、表面に導電粒子が仮固定化された仮第1接続層を形成する工程;
工程(CC)
仮第1接続層の導電粒子側表面に、熱カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第2接続層を形成する工程;及び
工程(DD)
第2接続層と反対側から仮第1接続層に紫外線を照射することにより光重合反応させ、仮第1接続層を本硬化させて第1接続層を形成する工程。
(When the first connection layer is formed by a two-step photopolymerization reaction)
Process (AA)
Arranging the conductive particles in the photopolymerizable resin layer in a single layer so that the embedding rate of the conductive particles in the first connection layer is 1% or more and 20% or less;
Process (BB)
A step of irradiating the photopolymerizable resin layer in which the conductive particles are arranged with each other by irradiating with ultraviolet light to form a temporary first connection layer in which the conductive particles are temporarily fixed;
Process (CC)
Forming a second connection layer comprising a thermal cation, anion, or radical polymerizable resin layer on the surface of the temporary first connection layer on the conductive particle side; and step (DD)
A step of forming a first connection layer by subjecting the temporary first connection layer to a photopolymerization reaction by irradiating ultraviolet rays from the side opposite to the second connection layer, and finally curing the temporary first connection layer.
工程(CC)で第2接続層の形成の際に使用する開始剤として熱重合開始剤に限定しているのは、異方性導電フィルムとしての製品ライフ、接続および接続構造体の安定性に悪影響が生じないようにするためである。つまり、第1接続層に紫外線を二段階に分けて照射する場合には、その工程上の制約から第2接続層は熱重合硬化性のものに限定せざるを得ない場合がある。なお、二段階照射を連続的に行う場合は、一段階と略同様の工程で形成することができるので、同等の作用効果が期待できる。 The initiator used in forming the second connection layer in the step (CC) is limited to the thermal polymerization initiator in terms of product life as an anisotropic conductive film, connection and stability of the connection structure. This is to prevent adverse effects from occurring. That is, in the case where the first connection layer is irradiated with ultraviolet rays in two stages, the second connection layer may be limited to a thermosetting curable one due to restrictions on the process. In addition, when performing two-step irradiation continuously, since it can form by the process substantially the same as one step | paragraph, the equivalent effect can be anticipated.
また、本発明は、第1接続層の他面に、第2接続層と同様の構成の第3接続層を有している異方性導電フィルムの製造方法であって、以上の工程(A)〜(C)に加えて工程(C)の後で、以下の工程(Z)を有する製造方法、または、以上の工程(AA)〜(DD)に加えて工程(DD)の後で、以下の工程(Z)を有する製造方法を提供する。 Moreover, this invention is a manufacturing method of the anisotropic conductive film which has the 3rd connection layer of the structure similar to a 2nd connection layer in the other surface of a 1st connection layer, Comprising: The above process (A ) To (C), after the step (C), the production method having the following step (Z), or after the step (DD) in addition to the above steps (AA) to (DD), The manufacturing method which has the following processes (Z) is provided.
工程(Z)
第1接続層の導電粒子側の反対面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する工程。
Step (Z)
The process of forming the 3rd connection layer which consists of a heat | fever or a photocation, an anion, or a radically polymerizable resin layer in the surface opposite to the electroconductive particle side of a 1st connection layer.
更に、本発明は、第1接続層の他面に、第2接続層と略同様の構成の第3接続層を有している異方性導電フィルムの製造方法であって、以上の工程(A)〜(C)に加えて、工程(A)に先だって以下の工程(a)を有する製造方法、または以上の工程(AA)〜(DD)に加えて、工程(AA)に先だって以下の工程(a)を有する製造方法を提供する。 Furthermore, this invention is a manufacturing method of the anisotropic conductive film which has the 3rd connection layer of the structure substantially the same as the 2nd connection layer on the other surface of the 1st connection layer, Comprising: A manufacturing method having the following step (a) prior to step (A) in addition to A) to (C), or the following steps prior to step (AA) in addition to the above steps (AA) to (DD) The manufacturing method which has a process (a) is provided.
工程(a)
光重合性樹脂層の片面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する工程。
Step (a)
A step of forming a third connection layer comprising a heat or photocation, anion or radical polymerizable resin layer on one surface of the photopolymerizable resin layer.
なお、この工程(a)を有する製造方法の工程(A)又は工程(AA)においては、光重合性樹脂層の他面に導電粒子を、第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させればよい。 In addition, in the process (A) or process (AA) of the manufacturing method which has this process (a), the embedding rate of the electroconductive particle with respect to the other surface of a photopolymerizable resin layer and the 1st connection layer is 1. What is necessary is just to arrange by a single layer so that it may become 20% or less%.
このような工程で第3接続層を設ける場合には、上述した理由から重合開始剤は熱反応によるものに限定されることが好ましい。しかしながら、第1接続層を設けた後に製品ライフや接続に悪影響を及ぼさない方法により、光重合開始剤を含む第2および第3接続層を設ければ、光重合開始剤を含んだ本発明の主旨に沿う異方性導電フィルムを作成することは、特に制限はされない。 In the case where the third connection layer is provided in such a process, it is preferable that the polymerization initiator is limited to a thermal reaction for the reasons described above. However, if the second and third connection layers containing the photopolymerization initiator are provided by a method that does not adversely affect the product life and connection after the first connection layer is provided, the photopolymerization initiator containing the photopolymerization initiator can be obtained. There is no particular limitation on the production of the anisotropic conductive film along the gist.
なお、本発明の第2接続層又は第3接続層のどちらかがタック層として機能する態様も本発明に包含される。 An embodiment in which either the second connection layer or the third connection layer of the present invention functions as a tack layer is also included in the present invention.
加えて、本発明は、上述の異方性導電フィルムで第1電子部品を第2電子部品に異方性導電接続した接続構造体を提供する。 In addition, the present invention provides a connection structure in which the first electronic component is anisotropically conductively connected to the second electronic component using the anisotropic conductive film described above.
本発明の異方性導電フィルムは、光重合樹脂層からなる第1接続層と、その片面に形成された、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第2接続層とを有しており、更に、第1接続層の第2接続層側表面には、異方性導電接続用の導電粒子の第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列されている。このため、導電粒子を第1接続層にしっかりと固定化でき、また、第1接続層の樹脂量も大きく減ずることがないので、タック性と接着強度とを向上させることができる。反射的に、異方性導電フィルムの貼り付け性が安定的に向上し、異方性導電接続の生産性も向上する。しかも、第1接続層における導電粒子の下方(裏側)の光ラジカル重合性樹脂層は、導電粒子の存在のために紫外線が十分に照射されないので、相対的に硬化率が低くなり、良好な押し込み性を示し、結果的に、良好な導通信頼性、絶縁性、実装導電粒子捕捉率を実現することができる。 The anisotropic conductive film of the present invention has a first connection layer made of a photopolymerization resin layer and a second connection layer made of a heat or photocation, anion or radical polymerizable resin layer formed on one surface thereof. Furthermore, the embedding rate of the conductive particles with respect to the first connection layer of the conductive particles for anisotropic conductive connection is 1% or more and 20% or less on the second connection layer side surface of the first connection layer. Are arranged in a single layer. For this reason, the conductive particles can be firmly fixed to the first connection layer, and the amount of resin in the first connection layer is not greatly reduced, so that tackiness and adhesive strength can be improved. Reflectively, the sticking property of the anisotropic conductive film is stably improved, and the productivity of anisotropic conductive connection is also improved. In addition, the photo-radically polymerizable resin layer below (back side) of the conductive particles in the first connection layer is not sufficiently irradiated with ultraviolet rays due to the presence of the conductive particles, so that the curing rate is relatively low and good indentation is achieved. As a result, good conduction reliability, insulation, and mounting conductive particle capture rate can be realized.
なお、異方性導電接続が熱を利用する場合は、通常の異方性導電フィルムの接続方法と同様の方法になる。光によるものの場合は、接続ツールによる押し込みを、反応が終了するまでに行えばよい。この場合においても、接続ツール等は樹脂流動や粒子の押し込みを促進するため加熱されている場合が多い。また熱と光を併用する場合も、上記と同様に行えばよい。 In addition, when an anisotropic conductive connection utilizes heat, it becomes the method similar to the connection method of a normal anisotropic conductive film. In the case of using light, the connection tool may be pushed in until the reaction is completed. Even in this case, the connection tool or the like is often heated to promote resin flow and particle indentation. Moreover, what is necessary is just to carry out similarly to the above also when using heat and light together.
<<異方性導電フィルム>>
以下、本発明の異方性導電フィルムの好ましい一例を詳細に説明する。
<< anisotropic conductive film >>
Hereinafter, a preferable example of the anisotropic conductive film of the present invention will be described in detail.
図1に示すように、本発明の異方性導電フィルム1は、光重合性樹脂層を光重合させた光重合樹脂層からなる第1接続層2の片面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第2接続層3が形成された構造を有している。そして、第1接続層2の第2接続層3側の表面2aには、異方性導電接続のために導電粒子4が単層で配列、好ましくは均等に配列されている。ここで均等とは、導電粒子が平面方向に配列されている状態を意味する。この規則性は一定の間隔で設けられてもよい。
As shown in FIG. 1, the anisotropic conductive film 1 of the present invention has heat or a photocation, an anion, or the like on one side of a
<第1接続層2>
本発明の異方性導電フィルム1を構成する第1接続層2は、光カチオン、アニオン又はラジカル重合性樹脂層等の光重合性樹脂層を光重合させた光重合樹脂層であるから、導電粒子を固定化できる。また、重合しているので、異方性導電接続時に加熱されても樹脂が流れ難くなるので、ショートの発生を大きく抑制でき、従って導通信頼性と絶縁性とを向上させ、且つ実装粒子捕捉率も向上させることができる。特に好ましい第1接続層2は、アクリレート化合物と光ラジカル重合開始剤とを含む光ラジカル重合性樹脂層を光ラジカル重合させた光ラジカル重合樹脂層である。以下、第1接続層2が光ラジカル重合樹脂層である場合について説明する。
<
Since the
(アクリレート化合物)
アクリレート単位となるアクリレート化合物としては、従来公知の光ラジカル重合性アクリレートを使用することができる。例えば、単官能(メタ)アクリレート(ここで、(メタ)アクリレートにはアクリレートとメタクリレートとが包含される)、二官能以上の多官能(メタ)アクリレートを使用することができる。本発明においては、接着剤を熱硬化性とするために、アクリル系モノマーの少なくとも一部に多官能(メタ)アクリレートを使用することが好ましい。
(Acrylate compound)
As the acrylate compound serving as the acrylate unit, a conventionally known photoradical polymerizable acrylate can be used. For example, monofunctional (meth) acrylate (here, (meth) acrylate includes acrylate and methacrylate), and bifunctional or more polyfunctional (meth) acrylate can be used. In the present invention, it is preferable to use a polyfunctional (meth) acrylate for at least a part of the acrylic monomer in order to make the adhesive thermosetting.
第1接続層2におけるアクリレート化合物の含有量は、少なすぎると第2接続層3との粘度差を付けにくくなる傾向があり、多すぎると硬化収縮が大きく作業性が低下する傾向があるので、好ましくは2〜70質量%、より好ましくは10〜50質量%である。
If the content of the acrylate compound in the
(光ラジカル重合開始剤)
光ラジカル重合開始剤としては、公知の光ラジカル重合開始剤の中から適宜選択して使用することができる。例えば、アセトフェノン系光重合開始剤、ベンジルケタール系光重合開始剤、リン系光重合開始剤等が挙げられる。
(Photo radical polymerization initiator)
As a radical photopolymerization initiator, it can be used by appropriately selecting from known radical photopolymerization initiators. Examples include acetophenone photopolymerization initiators, benzyl ketal photopolymerization initiators, and phosphorus photopolymerization initiators.
光ラジカル重合開始剤の使用量は、アクリレート化合物100質量部に対し、少なすぎると光ラジカル重合が十分に進行せず、多すぎると剛性低下の原因となるので、好ましくは0.1〜25質量部、より好ましくは0.5〜15質量部である。 If the amount of the radical photopolymerization initiator used is too small relative to 100 parts by mass of the acrylate compound, the radical photopolymerization will not proceed sufficiently, and if too large, it will cause a decrease in rigidity, so preferably 0.1 to 25 masses. Part, more preferably 0.5 to 15 parts by mass.
(導電粒子)
導電粒子としては、従来公知の異方性導電フィルムに用いられているものの中から適宜選択して使用することができる。例えばニッケル、コバルト、銀、銅、金、パラジウムなどの金属粒子、金属被覆樹脂粒子などが挙げられる。2種以上を併用することもできる。
(Conductive particles)
The conductive particles can be appropriately selected from those used in conventionally known anisotropic conductive films. For example, metal particles such as nickel, cobalt, silver, copper, gold, and palladium, metal-coated resin particles, and the like can be given. Two or more kinds can be used in combination.
導電粒子の平均粒径としては、小さすぎると配線の高さのばらつきを吸収できず抵抗が高くなる傾向があり、大きすぎてもショートの原因となる傾向があるので、好ましくは1〜10μm、より好ましくは2〜6μmである。 The average particle size of the conductive particles is too small to absorb the variation in the height of the wiring and tends to increase the resistance, and if it is too large, it tends to cause a short circuit, preferably 1 to 10 μm, More preferably, it is 2-6 micrometers.
このような導電粒子の第1接続層2中の粒子量は、少なすぎると実装導電粒子捕捉数が低下して異方性導電接続が難しくなり、多すぎるとショートすることが懸念されるので、好ましくは1平方mm当たり50〜50000個、より好ましくは200〜30000個である。
If the amount of such conductive particles in the
第1接続層2には、必要に応じて、フェノキシ樹脂、エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、飽和ポリエステル樹脂、ウレタン樹脂、ブタジエン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリオレフィン樹脂などの膜形成樹脂を併用することができる。第2接続層3および第3接続層5にも、同様に併用してもよい。
For the
第1接続層2の層厚は、薄すぎると実装導電粒子捕捉率が低下する傾向があり、厚すぎると導通抵抗が高くなる傾向があるので、好ましくは1.0〜6.0μm、より好ましくは2.0〜5.0μmである。
If the layer thickness of the
第1接続層2には、更に、エポキシ化合物と熱又は光カチオン若しくはアニオン重合開始剤とを含有させることもできる。この場合、後述するように、第2接続層3もエポキシ化合物と熱又は光カチオン若しくはアニオン重合開始剤とを含有する熱又は光カチオン若しくはアニオン重合性樹脂層とすることが好ましい。これにより、層間剥離強度を向上させることができる。エポキシ化合物と熱又は光カチオン若しくはアニオン重合開始剤については、第2接続層3で説明する。
The
第1接続層2においては、図1に示すように、導電粒子4が、第1接続層2に埋まっている。埋まっている程度を、導電粒子の粒子径Laに対し、導電粒子の第1接続層中に埋まっている深さLbの割合(埋入率)として定義すると、埋入率は、「埋入率(%)=(Lb/La)×100」の式で求めることができる。本発明では、「良好な実装導電粒子捕捉性を実現するために導電粒子を意図した位置に固定できるようにする」という課題と、「第1接続層2と被接着体との間の接着強度を向上させるために導電粒子の下方に存在する樹脂量を確保して良好なタック性を実現する」という課題とをバランス良く解決するために、第1接続層2に対する導電粒子の埋入率を、その下限が1%以上、好ましくは1%より大きく、上限が20%以下、好ましくは20%未満となるように調整する。
In the
なお、第1接続層2に対する導電粒子4の埋入率の調整は、例えば、剥離材を表面に備えたゴムロールにより繰り返して押圧することにより行うことができる。具体的には、埋入率を小さくする場合には、繰り返し回数を少なくすればよく、大きくする場合には、繰り返し回数を多くすればよい。
In addition, adjustment of the embedding rate of the
また、光重合性樹脂層に紫外線を照射して第1接続層2を形成する場合、導電粒子が配置されていない側の面と導電粒子が配置されている側の面のいずれから照射してもよいが、導電粒子が配置されている側から照射した場合には、第1接続層2において、導電粒子4と第1接続層2の最外表面2bとの間に位置する領域の第1接続層部分2Xの硬化率を、互いに隣接する導電粒子4間に位置する領域の第1接続層部分2Yの硬化率よりも低くすることができる。これにより、異方性導電接続の熱圧着の際に、第1接続層部分2Xが排除され易くなり、導通信頼性が向上する。ここで、硬化率はビニル基の減少比率と定義される数値であり、第1接続層部分2Xの硬化率は好ましくは40〜80%であり、第1接続層部分2Yの硬化率は好ましくは70〜100%である。
In addition, when the
ここで、導電粒子が配置されていない面から照射した場合は、第1接続層部分2Xと2Yに硬化率の差が、実質的になくなる。これは、ACFの製品品質の上では好ましい。ACF製造工程において、導電粒子の固定化が促進し、安定な品質を確保できるためである。製品として一般的な長尺化をする際、巻き始めと巻き終わりで、配列した導電粒子にかかる圧力を略同一にすることができ、配列の乱れを防止できるためである。
Here, when irradiating from the surface where the conductive particles are not disposed, the difference in the curing rate between the first
なお、第1接続層2の形成の際の光ラジカル重合は、一段階(即ち、一回の光照射)で行ってもよいが、二段階(即ち、二回の光照射)で行ってもよい。この場合、二段階目の光照射は、第1接続層2の片面に第2接続層3が形成された後に、酸素含有雰囲気(大気中)下で第1接続層2の他面側から行うことが好ましい。これにより、ラジカル重合反応が酸素阻害され、未硬化成分の表面濃度が高まり、タック性を向上させることができるという効果を期待できる。また、硬化を二段階で行うことで重合反応も複雑化するため、樹脂や粒子の流動性の精緻な制御が可能となることも期待できる。
The radical photopolymerization at the time of forming the
このような二段階の光ラジカル重合における第1接続層部分2Xの第一段階における硬化率は好ましくは10〜50%であり、第二段階における硬化率は好ましくは40〜80%であり、第1接続層2Yの第一段階における硬化率は好ましくは30〜90%であり、第二段階における硬化率は好ましくは70〜100%である。
The curing rate in the first stage of the first
また、第1接続層2の形成の際の光ラジカル重合反応が二段階で行われる場合、ラジカル重合開始剤として1種類だけ使用することもできるが、ラジカル反応を開始する波長帯域が異なる2種類の光ラジカル重合開始剤を使用することがタック性向上のために好ましい。例えば、LED光源からの波長365nmの光でラジカル反応を開始するイルガキュア(IRGACURE)369(BASFジャパン(株))と、高圧水銀ランプ光源からの光でラジカル反応を開始するイルガキュア(IRGACURE)2959(BASFジャパン(株))とを併用することが好ましい。このように2種類の異なる硬化剤を使用することで樹脂の結合が複雑化するため、接続時の樹脂の熱流動の挙動をより精緻に制御することが可能になる。これは異方性導電接続の押し込み時に、粒子は厚み方向にかかる力は受け易くなるが、面方向への流動は抑制されるため本発明の効果がより発現しやすくなるからである。
Further, when the photoradical polymerization reaction at the time of forming the
また、第1接続層2のレオメーターで測定した際の最低溶融粘度は、第2接続層3の最低溶融粘度よりも高いこと、具体的には[第1接続層2の最低溶融粘度(mPa・s)]/[第2接続層3の最低溶融粘度(mPa・s)]の数値が、好ましくは1〜1000、より好ましくは4〜400である。なお、それぞれの好ましい最低溶融粘度は、前者については100〜100000mPa・s、より好ましくは500〜50000mPa・sである。後者については好ましくは0.1〜10000mPa・s、より好ましくは0.5〜1000mPa・sである。
Further, the minimum melt viscosity when measured with the rheometer of the
第1接続層2の形成は、光ラジカル重合性アクリレートと光ラジカル重合開始剤とを含有する光ラジカル重合性樹脂層に、フィルム転写法、金型転写法、インクジェット法、静電付着法等の手法により導電粒子を付着させ、紫外線を導電粒子側、その反対側、もしくは両側から照射することにより行うことができる。特に、紫外線を導電粒子側からのみ照射することが、第1接続層部分2Xの硬化率を相対的に低く抑制することができる点から好ましい。
The
<第2接続層3>
第2接続層3は、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層、好ましくはエポキシ化合物と熱又は光カチオン若しくはアニオン重合開始剤とを含有する熱又は光カチオン若しくはアニオン重合性樹脂層、又はアクリレート化合物と熱又は光ラジカル重合開始剤とを含有する熱又は光ラジカル重合性樹脂層からなる。ここで、第2接続層3を熱重合性樹脂層から形成することは、第1接続層2を形成する際の紫外線照射により第2接続層3の2重合反応が生じないため、生産の簡便性および品質安定性の上では望ましい。
<Second connection layer 3>
The second connection layer 3 is a heat or photocation, anion or radical polymerizable resin layer, preferably a heat or photocation or anion polymerizable resin layer containing an epoxy compound and a heat or photocation or anion polymerization initiator, or It consists of a heat or photo radical polymerizable resin layer containing an acrylate compound and a heat or photo radical polymerization initiator. Here, forming the second connection layer 3 from the thermopolymerizable resin layer does not cause a double polymerization reaction of the second connection layer 3 due to ultraviolet irradiation when the
第2接続層3が、熱又は光カチオン若しくはアニオン重合性樹脂層である場合、更に、アクリレート化合物と熱又は光ラジカル重合開始剤とを含有することができる。これにより第1接続層2と層間剥離強度を向上させることができる。
When the second connection layer 3 is a heat, photocation or anion polymerizable resin layer, it can further contain an acrylate compound and a heat or photo radical polymerization initiator. Thereby, the
(エポキシ化合物)
第2接続層3がエポキシ化合物と熱又は光カチオン若しくはアニオン重合開始剤とを含有する熱又は光カチオン若しくはアニオン重合性樹脂層である場合、エポキシ化合物としては、分子内に2つ以上のエポキシ基を有する化合物もしくは樹脂が好ましく挙げられる。これらは液状であっても、固体状であってもよい。
(Epoxy compound)
When the second connection layer 3 is a heat or photocation or anion polymerizable resin layer containing an epoxy compound and a heat or photocation or anion polymerization initiator, the epoxy compound has two or more epoxy groups in the molecule. Preferred are compounds or resins having These may be liquid or solid.
(熱カチオン重合開始剤)
熱カチオン重合開始剤としては、エポキシ化合物の熱カチオン重合開始剤として公知のものを採用することができ、例えば、熱により、カチオン重合性化合物をカチオン重合させ得る酸を発生するものであり、公知のヨードニウム塩、スルホニウム塩、ホスホニウム塩、フェロセン類等を用いることができ、温度に対して良好な潜在性を示す芳香族スルホニウム塩を好ましく使用することができる。
(Thermal cationic polymerization initiator)
As the thermal cationic polymerization initiator, those known as the thermal cationic polymerization initiator of the epoxy compound can be adopted, for example, those which generate an acid capable of cationically polymerizing the cationic polymerizable compound by heat. Iodonium salts, sulfonium salts, phosphonium salts, ferrocenes, and the like can be used, and aromatic sulfonium salts exhibiting good potential with respect to temperature can be preferably used.
熱カチオン重合開始剤の配合量は、少なすぎても硬化不良となる傾向があり、多すぎても製品ライフが低下する傾向があるので、エポキシ化合物100質量部に対し、好ましくは2〜60質量部、より好ましくは5〜40質量部である。 If the amount of the thermal cationic polymerization initiator is too small, curing tends to be poor, and if it is too much, product life tends to decrease. Therefore, it is preferably 2 to 60 masses per 100 mass parts of the epoxy compound. Part, more preferably 5 to 40 parts by weight.
(熱アニオン重合開始剤)
熱アニオン重合開始剤としては、エポキシ化合物の熱アニオン重合開始剤として公知のものを採用することができ、例えば、熱により、アニオン重合性化合物をアニオン重合させ得る塩基を発生するものであり、公知の脂肪族アミン系化合物、芳香族アミン系化合物、二級又は三級アミン系化合物、イミダゾール系化合物、ポリメルカプタン系化合物、三フッ化ホウ素−アミン錯体、ジシアンジアミド、有機酸ヒドラジッド等を用いることができ、温度に対して良好な潜在性を示すカプセル化イミダゾール系化合物を好ましく使用することができる。
(Thermal anionic polymerization initiator)
As the thermal anionic polymerization initiator, those known as the thermal anionic polymerization initiator of the epoxy compound can be employed. For example, a base capable of anionic polymerization of the anionic polymerizable compound is generated by heat, and is publicly known. Aliphatic amine compounds, aromatic amine compounds, secondary or tertiary amine compounds, imidazole compounds, polymercaptan compounds, boron trifluoride-amine complexes, dicyandiamide, organic acid hydrazides, etc. can be used. An encapsulated imidazole compound showing good potential with respect to temperature can be preferably used.
熱アニオン重合開始剤の配合量は、少なすぎても硬化不良となる傾向があり、多すぎても製品ライフが低下する傾向があるので、エポキシ化合物100質量部に対し、好ましくは2〜60質量部、より好ましくは5〜40質量部である。 If the amount of the thermal anionic polymerization initiator is too small, it tends to be poorly cured, and if it is too much, the product life tends to decrease. Therefore, it is preferably 2 to 60 masses per 100 mass parts of the epoxy compound. Part, more preferably 5 to 40 parts by weight.
(光カチオン重合開始剤及び光アニオン重合開始剤)
エポキシ化合物用の光カチオン重合開始剤又は光アニオン重合開始剤としては、公知のものを適宜使用することができる。
(Photocationic polymerization initiator and photoanionic polymerization initiator)
A well-known thing can be used suitably as a photocationic polymerization initiator or photoanion polymerization initiator for epoxy compounds.
(アクリレート化合物)
第2接続層3がアクリレート化合物と熱又は光ラジカル重合開始剤とを含有する熱又は光ラジカル重合性樹脂層である場合、アクリレート化合物としては、第1接続層2に関して説明したものの中から適宜選択して使用することができる。
(Acrylate compound)
When the second connection layer 3 is a heat or photo radical polymerizable resin layer containing an acrylate compound and a heat or photo radical polymerization initiator, the acrylate compound is appropriately selected from those described for the
(熱ラジカル重合開始剤)
また、熱ラジカル重合開始剤としては、例えば、有機過酸化物やアゾ系化合物等が挙げられるが、気泡の原因となる窒素を発生しない有機過酸化物を好ましく使用することができる。
(Thermal radical polymerization initiator)
Further, examples of the thermal radical polymerization initiator include organic peroxides and azo compounds, but organic peroxides that do not generate nitrogen that causes bubbles can be preferably used.
熱ラジカル重合開始剤の使用量は、少なすぎると硬化不良となり、多すぎると製品ライフの低下となるので、アクリレート化合物100質量部に対し、好ましくは2〜60質量部、より好ましくは5〜40質量部である。 If the amount of the thermal radical polymerization initiator used is too small, curing will be poor, and if it is too large, the product life will be reduced. Therefore, the amount is preferably 2 to 60 parts by weight, more preferably 5 to 40 parts per 100 parts by weight of the acrylate compound. Part by mass.
(光ラジカル重合開始剤)
アクリレート化合物用の光ラジカル重合開始剤としては、公知の光ラジカル重合開始剤を使用することができる。
(Photo radical polymerization initiator)
As a radical photopolymerization initiator for the acrylate compound, a known radical photopolymerization initiator can be used.
光ラジカル重合開始剤の使用量は、少なすぎると硬化不良となり、多すぎると製品ライフの低下となるので、アクリレート化合物100質量部に対し、好ましくは2〜60質量部、より好ましくは5〜40質量部である。 If the amount of the radical photopolymerization initiator used is too small, curing will be poor, and if it is too large, the product life will be reduced. Part by mass.
(第3接続層5)
以上、図1の2層構造の異方性導電フィルムについて説明したが、図5に示すように、第1接続層2の他面に第3接続層5が形成されていてもよい。これにより、層全体の流動性をより精緻に制御することが可能となるという効果が得られる。ここで、第3接続層5としては、前述した第2接続層3と同じ構成としてもよい。即ち、第3接続層5は、第2接続層3と同様に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなるものである。このような第3接続層5は、第1接続層の片面に第2接続層を形成した後に、第1接続層の他面に形成してもよく、第2接続層の形成前に、第1接続層もしくはその前駆体である光重合性樹脂層の他面(第2接続層が形成されない面)に予め第3接続層を形成しておいてもよい。
(Third connection layer 5)
The anisotropic conductive film having the two-layer structure in FIG. 1 has been described above, but the third connection layer 5 may be formed on the other surface of the
<<異方性導電フィルムの製造方法>>
本発明の異方性導電フィルムの製造方法には、一段階の光重合反応を行う製造方法と、二段階の光重合反応を行う製造方法が挙げられる。
<< Method for Manufacturing Anisotropic Conductive Film >>
Examples of the method for producing an anisotropic conductive film of the present invention include a production method for carrying out a one-stage photopolymerization reaction and a production method for carrying out a two-stage photopolymerization reaction.
<一段階の光重合反応を行う製造方法>
図1(図4B)の異方性導電フィルムを一段階で光重合させて製造する一例を説明する。この製造例は、以下の工程(A)〜(C)を有する。
<Production method for carrying out one-step photopolymerization reaction>
An example in which the anisotropic conductive film of FIG. 1 (FIG. 4B) is produced by photopolymerization in one step will be described. This production example has the following steps (A) to (C).
(工程(A))
図2に示すように、必要に応じて剥離フィルム30上に形成した、光重合性樹脂層31に、導電粒子4を、埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させる。導電粒子4の配列の手法としては、特に制限はなく、特許第4789738号の実施例1の無延伸ポリプロピレンフィルムに2軸延伸操作を利用する方法や、特開2010−33793号公報の金型を使用する方法等を採用することができる。なお、配列の程度としては、接続対象のサイズ、導通信頼性、絶縁性、実装導電粒子捕捉率等を考慮し、2次元的に互いに1〜100μm程度離隔して配列されることが好ましい。
(Process (A))
As shown in FIG. 2, the
埋入率の調整は、ゴムロールなどの弾性体を繰り返し押圧することにより行うことができる。 The embedding rate can be adjusted by repeatedly pressing an elastic body such as a rubber roll.
(工程(B))
次に、図3Aに示すように、導電粒子4が配列した光重合性樹脂層31に対して、紫外線(UV)を照射することにより光重合反応させ、表面に導電粒子4が固定化された第1接続層2を形成する。この場合、紫外線(UV)を導電粒子側から照射してもよく、反対側から照射してもよいが、導電粒子側から紫外線(UV)を照射した場合には、図3Bに示すように、導電粒子4と第1接続層2の最外表面との間に位置する領域の第1接続層部分2Xの硬化率を、互いに隣接する導電粒子4間に位置する領域の第1接続層部分2Yの硬化率よりも低くすることができる。このようにすることで、粒子の裏側の硬化性は確実に低くなり接合時の押し込みを容易にし、且つ粒子の流動を防ぐ効果も同時に備えることができる。
(Process (B))
Next, as shown in FIG. 3A, the
(工程(C))
次に、図4Aに示すように、第1接続層2の導電粒子4側表面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第2接続層3を形成する。具体的な一例として、剥離フィルム40に常法により形成された第2接続層3を、第1接続層2の導電粒子4側表面に載せ、過大な熱重合が生じない程度に熱圧着する。そして剥離フィルム30と40とを取り除くことにより図4Bの異方性導電フィルムを得ることができる。
(Process (C))
Next, as shown in FIG. 4A, the second connection layer 3 made of heat, photocation, anion, or radical polymerizable resin layer is formed on the surface of the
なお、図5の異方性導電フィルム100は、工程(C)の後で、以下の工程(Z)を実施することにより得ることができる。
(工程(Z))
第1接続層の導電粒子側の反対面に、好ましくは第2接続層と同様に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する。これにより図5の異方性導電フィルムを得ることができる。
In addition, the anisotropic
(Process (Z))
A third connection layer made of a heat, photocation, anion, or radical polymerizable resin layer is formed on the opposite surface of the first connection layer on the conductive particle side, preferably in the same manner as the second connection layer. Thereby, the anisotropic conductive film of FIG. 5 can be obtained.
また、図5の異方性導電フィルム100は、工程(Z)を行うことなく、工程(A)に先だって、以下の工程(a)を実施することでも得ることができる。
Moreover, the anisotropic
(工程(a))
光重合性樹脂層の片面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する工程。この工程(a)に引き続き、工程(A)、(B)及び(C)を実施することにより図5の異方性導電フィルム100を得ることができる。但し、工程(A)において、光重合性樹脂層の他面に導電粒子を、埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させる。
(Process (a))
A step of forming a third connection layer comprising a heat or photocation, anion or radical polymerizable resin layer on one surface of the photopolymerizable resin layer. Subsequent to the step (a), the anisotropic
(二段階の光重合反応を行う製造方法)
次に、図1(図4B)の異方性導電フィルムを二段階で光重合させて製造する一例を説明する。この製造例は、以下の工程(AA)〜(DD)を有する。
(Manufacturing method that performs a two-stage photopolymerization reaction)
Next, an example of producing the anisotropic conductive film of FIG. 1 (FIG. 4B) by photopolymerization in two steps will be described. This production example includes the following steps (AA) to (DD).
(工程(AA))
図6に示すように、必要に応じて剥離フィルム30上に形成した、光重合性樹脂層31に、導電粒子4を埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させる。導電粒子4の配列の手法としては、特に制限はなく、特許第4789738号の実施例1の無延伸ポリプロピレンフィルムに2軸延伸操作を利用する方法や、特開2010−33793号公報の金型を使用する方法等を採用することができる。なお、配列の程度としては、接続対象のサイズ、導通信頼性、絶縁性、実装導電粒子捕捉率等を考慮し、2次元的に互いに1〜100μm程度離隔して配列されることが好ましい。
(Process (AA))
As shown in FIG. 6, the
(工程(BB))
次に、図7Aに示すように、導電粒子4が配列した光重合性樹脂層31に対して、紫外線(UV)を照射することにより光重合反応させ、表面に導電粒子4が仮固定化された仮第1接続層20を形成する。この場合、紫外線(UV)を導電粒子側から照射してもよく、反対側から照射してもよいが、導電粒子側から紫外線(UV)を照射した場合には、図7Bに示すように、導電粒子4と仮第1接続層20の最外表面との間に位置する領域の仮第1接続層部分2Xの硬化率を、互いに隣接する導電粒子4間に位置する領域の仮第1接続層部分2Yの硬化率よりも低くすることができる。
(Process (BB))
Next, as shown in FIG. 7A, the
(工程(CC))
次に、図8Aに示すように、仮第1接続層20の導電粒子4側表面に、熱カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第2接続層3を形成する。具体的な一例として、剥離フィルム40に常法により形成された第2接続層3を、第1接続層2の導電粒子4側表面に載せ、過大な熱重合が生じない程度に熱圧着する。そして剥離フィルム30と40とを取り除くことにより図8Bの仮異方性導電フィルム50を得ることができる。
(Process (CC))
Next, as shown in FIG. 8A, the second connection layer 3 made of a thermal cation, anion, or radical polymerizable resin layer is formed on the surface of the temporary
(工程(DD))
次に、図9Aに示すように、第2接続層3と反対側から仮第1接続層20に紫外線を照射することにより光重合反応させ、仮第1接続層20を本硬化させて第1接続層2を形成する。これにより、図9Bの異方性導電フィルム1を得ることができる。この工程における紫外線の照射は、仮第1接続層に対し垂直方向から行うことが好ましい。また、第1接続層部分2Xと2Yの硬化率差が消失しないようにするには、マスクを介して照射したり、照射部位により照射光量に差を設けることが好ましい。
(Process (DD))
Next, as shown in FIG. 9A, the temporary
なお、2段階で光重合させた場合、図5の異方性導電フィルム100は、工程(DD)の後で、以下の工程(Z)を実施することにより得ることができる。
(工程(Z))
第1接続層の導電粒子側の反対面に、好ましくは第2接続層と同様に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する。これにより図5の異方性導電フィルムを得ることができる。
When photopolymerization is performed in two stages, the anisotropic
(Process (Z))
A third connection layer made of a heat, photocation, anion, or radical polymerizable resin layer is formed on the opposite surface of the first connection layer on the conductive particle side, preferably in the same manner as the second connection layer. Thereby, the anisotropic conductive film of FIG. 5 can be obtained.
また、図5の異方性導電フィルム100は、工程(Z)を行うことなく、工程(AA)に先だって、以下の工程(a)を実施することでも得ることができる。
Moreover, the anisotropic
(工程(a))
この工程は、光ラジカル重合性樹脂層の片面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する工程である。この工程(a)に引き続き、工程(AA)〜(DD)を実施することにより図5の異方性導電フィルム100を得ることができる。但し、工程(AA)において、光重合性樹脂層の他面に導電粒子を埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させる。この場合、第2接続層の形成の際に使用する重合開始剤としては、熱重合開始剤を適用することが好ましい。光重合開始剤の場合は、工程上、異方性導電フィルムとしての製品ライフ、接続および接続構造体の安定性に悪影響を及ぼすことが懸念される。
(Process (a))
This step is a step of forming a third connection layer made of heat, photocation, anion, or radical polymerizable resin layer on one surface of the photo radical polymerizable resin layer. Subsequent to the step (a), the anisotropic
<<接続構造体>>
このようにして得られた異方性導電フィルムは、ICチップ、ICモジュールなどの第1電子部品と、フレキシブル基板、ガラス基板などの第2電子部品とを異方性導電接続する際に好ましく適用することができる。このようにして得られる接続構造体も本発明の一部である。なお、異方性導電フィルムの第1接続層側をフレキシブル基板等の第2電子部品側に配し、第2接続層側をICチップなどの第1電子部品側に配することが、導通信頼性を高める点から好ましい。
<< Connection structure >>
The anisotropic conductive film thus obtained is preferably applied when anisotropically conductively connecting a first electronic component such as an IC chip or IC module and a second electronic component such as a flexible substrate or a glass substrate. can do. The connection structure thus obtained is also part of the present invention. Note that the first connection layer side of the anisotropic conductive film is disposed on the second electronic component side such as a flexible substrate, and the second connection layer side is disposed on the first electronic component side such as an IC chip. It is preferable from the point of improving the property.
以下、本発明を実施例により具体的に説明する。 Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples.
実施例1〜5、比較例1〜2
特許第4789738号の実施例1の操作に準じて導電粒子の配列を行うとともに、表1に示す配合(質量部)に従って第1接続層と第2接続層とが積層された2層構造の異方性導電フィルムを作成した。
Examples 1-5, Comparative Examples 1-2
The conductive particles are arranged in accordance with the operation of Example 1 of Japanese Patent No. 4778938, and the difference in the two-layer structure in which the first connection layer and the second connection layer are laminated according to the formulation (parts by mass) shown in Table 1. An anisotropic conductive film was prepared.
(第1接続層)
具体的には、まず、アクリレート化合物及び光ラジカル重合開始剤等を酢酸エチル又はトルエンにて固形分が50質量%となるように混合液を調製した。この混合液を、厚さ50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムに、乾燥厚が5μmとなるように塗布し、80℃のオーブン中で5分間乾燥することにより、第1接続層の前駆層である光ラジカル重合性樹脂層を形成した。
(First connection layer)
Specifically, first, a mixed solution of an acrylate compound, a radical photopolymerization initiator, and the like was prepared using ethyl acetate or toluene so that the solid content was 50% by mass. This mixed solution is applied to a polyethylene terephthalate film having a thickness of 50 μm so as to have a dry thickness of 5 μm, and dried in an oven at 80 ° C. for 5 minutes, whereby radical photopolymerization that is a precursor layer of the first connection layer is performed. A functional resin layer was formed.
次に、得られた光ラジカル重合性樹脂層に対し、平均粒子径4μmの導電粒子(Ni/Auメッキ樹脂粒子、AUL704、積水化学工業(株))を、互いに4μm離隔して、ゴムロールによる繰り返しの押圧回数を調整することにより、第1接続層に対する導電粒子の埋入率が表1に示すパーセンテージとなるように単層で配列させた。更に、この導電粒子側から光ラジカル重合性樹脂層に対し、波長365nm、積算光量4000mJ/cm2の紫外線を照射することにより、表面に導電粒子が固定された第1接続層を形成した。 Next, conductive particles (Ni / Au plating resin particles, AUL 704, Sekisui Chemical Co., Ltd.) having an average particle diameter of 4 μm are separated from each other by 4 μm from the obtained radical photopolymerizable resin layer, and repeated by a rubber roll. By adjusting the number of times of pressing, the conductive particles were arranged in a single layer so that the embedding rate of the conductive particles in the first connection layer was the percentage shown in Table 1. Furthermore, the first connection layer having conductive particles fixed on the surface was formed by irradiating the radical photopolymerizable resin layer with ultraviolet rays having a wavelength of 365 nm and an integrated light amount of 4000 mJ / cm 2 from the conductive particle side.
(第2接続層)
熱硬化性樹脂及び潜在性硬化剤等を酢酸エチル又はトルエンにて固形分が50質量%となるように混合液を調製した。この混合液を、厚さ50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムに、乾燥厚が12μmとなるように塗布し、80℃のオーブン中で5分間乾燥することにより、第2接続層を形成した。
(Second connection layer)
A liquid mixture of a thermosetting resin and a latent curing agent was prepared with ethyl acetate or toluene so that the solid content was 50% by mass. This mixed solution was applied to a polyethylene terephthalate film having a thickness of 50 μm so as to have a dry thickness of 12 μm, and dried in an oven at 80 ° C. for 5 minutes to form a second connection layer.
(異方性導電フィルム)
このようにして得られた第1接続層と第2接続層とを、導電粒子が内側となるようにラミネートすることにより異方性導電フィルムを得た。
(Anisotropic conductive film)
An anisotropic conductive film was obtained by laminating the first connection layer and the second connection layer thus obtained so that the conductive particles were inside.
(接続構造サンプル体)
得られた異方性導電フィルムを用いて、0.5×1.8×20.0mmの大きさのICチップ(バンプサイズ30×85μm:バンプ高さ15μm、バンプピッチ50μm)を、0.5×50×30mmの大きさのコーニング社製のガラス配線基板(1737F)に180℃、80MPa、5秒という条件で実装して接続構造サンプル体を得た。
(Connection structure sample)
Using the obtained anisotropic conductive film, an IC chip (bump
(試験評価)
得られた接続構造サンプル体について、以下に説明するように、異方性導電フィルムの第1接続層側の「タック力」、「接着強度(ダイシェア)」、「実装導電粒子捕捉率」、「導通信頼性」及び「絶縁性」を試験評価した。得られた結果を表1に示す。
(Test evaluation)
About the obtained connection structure sample body, as described below, “tack force”, “adhesion strength (die shear)”, “mounting conductive particle capture rate”, Test and evaluation of “conduction reliability” and “insulation” were conducted. The obtained results are shown in Table 1.
なお、「絶縁性」の評価の場合には、0.5×1.5×13mmの大きさのICチップ(金メッキバンプサイズ25×140μm:バンプ高さ15μm、バンプ間スペース7.5μm)を、0.5×50×30mmの大きさのコーニング社製のガラス配線基板(1737F)に180℃、80MPa、5秒という条件で実装して得た接続構造サンプル体を使用した。 In the case of evaluation of “insulating”, an IC chip having a size of 0.5 × 1.5 × 13 mm (gold-plated bump size 25 × 140 μm: bump height 15 μm, space between bumps 7.5 μm) A connection structure sample body obtained by mounting on a glass wiring board (1737F) manufactured by Corning Inc. having a size of 0.5 × 50 × 30 mm under the conditions of 180 ° C., 80 MPa, and 5 seconds was used.
「タック力」
異方性導電フィルムの第1接続層のタック力を、JIS Z0237「粘着テープ・粘着シート試験方法」に準拠したタック試験機(TACII、(株)レスカ)を用い、22℃の雰囲気下において、プローブ直径5mm(ステンレス製鏡面、円柱状)、押し付け荷重196kgf、押し付け速度30mm/min、剥離速度5mm/minの測定条件で、プローブを異方性導電フィルムの第1接続層側に押し付けて測定した。測定チャートのピーク強度をタック力(kPa)とした。
"Tack power"
The tack force of the first connection layer of the anisotropic conductive film was measured using a tack tester (TACII, Resca Co., Ltd.) in accordance with JIS Z0237 “Adhesive tape / adhesive sheet test method” under an atmosphere of 22 ° C. Measurement was performed by pressing the probe against the first connection layer side of the anisotropic conductive film under the measurement conditions of a probe diameter of 5 mm (stainless steel mirror surface, cylindrical shape), a pressing load of 196 kgf, a pressing speed of 30 mm / min, and a peeling speed of 5 mm / min. . The peak intensity of the measurement chart was taken as tack force (kPa).
「接着強度(ダイシェア)」
作製した各接続構造サンプル体について、ダイシェア測定機(品名:Dage2400、デイジ社製)を用いてダイシェア強度の測定を行った。実用上、600N以上が好ましい。
"Adhesive strength (die share)"
About each produced connection structure sample body, the die shear intensity | strength was measured using the die shear measuring machine (Product name: Dage2400, the Daigi company make). Practically 600N or more is preferable.
「実装導電粒子捕捉率」
“加熱・加圧前の接続構造サンプル体のバンプ上に存在する理論粒子量”に対する“加熱・加圧後(実際の実装後)の接続構造サンプル体のバンプ上で実際に捕捉されている粒子量”の割合を以下の数式に従って求めた。
"Mounting conductive particle capture rate"
Particles that are actually trapped on the bumps of the connection structure sample body after heating / pressurization (after actual mounting) against the “theoretical particle amount existing on the bumps of the connection structure sample body before heating / pressurization” The ratio of “amount” was determined according to the following formula.
「導通信頼性」
接続構造サンプル体を85℃、85%RHの高温高湿環境下に500時間放置した後の導通抵抗を、デジタルマルチメーター(アジレント・テクノロジー(株))を用いて測定した。実用上、4Ω以下であることが望ましい。
"Conduction reliability"
The conduction resistance after the connection structure sample was left in a high-temperature and high-humidity environment of 85 ° C. and 85% RH for 500 hours was measured using a digital multimeter (Agilent Technology Co., Ltd.). Practically, it is desirable that it is 4Ω or less.
「絶縁性(ショートの発生率)」
7.5μmスペースの櫛歯TEGパターンのショート発生率を求めた。実用上、100ppm以下であることが望ましい。
“Insulation (occurrence of short circuit)”
The short-circuit occurrence rate of the comb tooth TEG pattern in the 7.5 μm space was determined. Practically, it is desirably 100 ppm or less.
表1から分かるように、実施例1〜5の異方性導電フィルムについては、タック力、接続強度、実装導電粒子捕捉率、導通信頼性、絶縁性の各評価項目についてはいずれも実用上好ましい結果を示した。 As can be seen from Table 1, the anisotropic conductive films of Examples 1 to 5 are practically preferable for the evaluation items of tack force, connection strength, mounting conductive particle capture rate, conduction reliability, and insulation. Results are shown.
それに対し、比較例1の異方性導電フィルムについては、第1接続層に対する導電粒子の埋入率が20%を超えていたので、実施例の異方性導電フィルムに比べ、タック力と接着強度が劣っていた。また、ショート発生率については約2.5倍も増加していた。比較例2の異方性導電フィルムについては、第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%を下回っていたので、実施例の異方性導電フィルムに比べ、実装導電粒子捕捉率が低下し、また、絶縁性の評価指標であるショート発生率については約7.5倍も増加していた。 On the other hand, with respect to the anisotropic conductive film of Comparative Example 1, the embedding rate of the conductive particles with respect to the first connection layer exceeded 20%. The strength was inferior. Further, the occurrence rate of short circuit has increased by about 2.5 times. About the anisotropic conductive film of the comparative example 2, since the embedding rate of the conductive particle with respect to the 1st connection layer was less than 1%, compared with the anisotropic conductive film of an Example, a mounting conductive particle capture rate falls. In addition, the short-circuit occurrence rate, which is an evaluation index for insulation, has increased by about 7.5 times.
実施例6
第1接続層形成の際、紫外線を積算光量2000mJ/cm2で照射すること以外、実施例1と同様に異方性導電フィルムを作成した。この異方性導電フィルムの第1接続層側から、更に波長365nmの紫外線を積算光量2000mJ/cm2で照射することにより、第1接続層の両面から紫外線が照射された実施例6の異方性導電フィルムを得た。この異方性導電フィルムを用いて、実施例1の異方性導電フィルムと同様に接続構造サンプル体を作成し、評価したところ、ほぼ同等の実用上問題ない結果が得られたが、実装導電粒子捕捉率については更に改善される傾向にあった。
Example 6
An anisotropic conductive film was produced in the same manner as in Example 1 except that ultraviolet rays were irradiated with an integrated light amount of 2000 mJ / cm 2 when forming the first connection layer. Anisotropy of Example 6 in which ultraviolet rays were irradiated from both sides of the first connection layer by further irradiating ultraviolet rays having a wavelength of 365 nm with an integrated light quantity of 2000 mJ / cm 2 from the first connection layer side of the anisotropic conductive film. Conductive film was obtained. Using this anisotropic conductive film, a connection structure sample was prepared and evaluated in the same manner as the anisotropic conductive film of Example 1, and almost the same practically no problem was obtained. The particle capture rate tended to be further improved.
本発明の異方性導電フィルムは、光重合性樹脂層からなる第1接続層と、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層とからなる第2接続層とが積層された2層構造を有しており、更に、第1接続層の第2接続層側表面には、異方性導電接続用の導電粒子が、第1接続層に対する埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列されている。このため、第1接続層が良好なタック性と接続強度とを示し、良好な導通信頼性、絶縁性、実装導電粒子捕捉率を示す。よって、ICチップなどの電子部品の配線基板への異方性導電接続に有用である。このような電子部品の配線は狭小化が進んでおり、本発明はこのような技術的進歩に貢献する場合において、特にその効果を発現することになる。 The anisotropic conductive film of the present invention has a two-layer structure in which a first connection layer made of a photopolymerizable resin layer and a second connection layer made of a heat or photocation, anion or radical polymerizable resin layer are laminated. Furthermore, the conductive particles for anisotropic conductive connection on the surface of the first connection layer on the second connection layer side have an embedding rate of 1% or more and 20% or less in the first connection layer. Are arranged in a single layer. For this reason, a 1st connection layer shows favorable tack property and connection intensity | strength, and shows favorable conduction | electrical_connection reliability, insulation, and a mounting conductive particle capture rate. Therefore, it is useful for anisotropic conductive connection of an electronic component such as an IC chip to a wiring board. The wiring of such electronic parts is being narrowed, and the present invention particularly exhibits its effect when it contributes to such technical progress.
1、100 異方性導電フィルム
2、 第1接続層
2X、2Y 第1接続層部分
3 第2接続層
4 導電粒子
5 第3接続層
30、40 剥離フィルム
20 仮第1接続層
31 光重合性樹脂層
50 仮異方性導電フィルム
La 導電粒子の粒子径
Lb 導電粒子の第1接続層に埋まっている深さ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,100 Anisotropic
Claims (16)
第1接続層が、光重合樹脂層であり、
第2接続層が、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層であり、
第1接続層の第2接続層側表面に、異方性導電接続用の導電粒子が単層で配列されており、且つ第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%以上20%以下である
ことを特徴とする異方性導電フィルム。 An anisotropic conductive film having a first connection layer and a second connection layer formed on one side thereof,
The first connection layer is a photopolymerization resin layer;
The second connection layer is a heat or photocation, anion or radical polymerizable resin layer;
Conductive particles for anisotropic conductive connection are arranged in a single layer on the second connection layer side surface of the first connection layer, and the embedding rate of the conductive particles in the first connection layer is 1% or more and 20% or less. An anisotropic conductive film, wherein
工程(A)
光重合性樹脂層に、導電粒子を第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させる工程;
工程(B)
導電粒子が配列した光重合性樹脂層に対して紫外線を照射することにより光重合反応させ、表面に導電粒子が固定化された第1接続層を形成する工程;及び
工程(C)
第1接続層の導電粒子側表面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第2接続層を形成する工程
を有する製造方法。 It is a manufacturing method of the anisotropic conductive film of Claim 1, Comprising: The following processes (A)-(C):
Process (A)
Arranging the conductive particles in the photopolymerizable resin layer in a single layer so that the embedding rate of the conductive particles in the first connection layer is 1% or more and 20% or less;
Process (B)
A step of forming a first connection layer in which conductive particles are fixed on the surface by irradiating the photopolymerizable resin layer in which the conductive particles are arranged by irradiating with ultraviolet rays; and step (C)
The manufacturing method which has the process of forming the 2nd connection layer which consists of a heat | fever or a photocation, an anion, or a radically polymerizable resin layer in the electrically conductive particle side surface of a 1st connection layer.
工程(AA)
光重合性樹脂層に、導電粒子を第1接続層に対する導電粒子の埋入率が1%以上20%以下となるように単層で配列させる工程;
工程(BB)
導電粒子が配列した光重合性樹脂層に対して紫外線を照射することにより光重合反応させ、表面に導電粒子が仮固定化された仮第1接続層を形成する工程;
工程(CC)
仮第1接続層の導電粒子側表面に、熱カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第2接続層を形成する工程;及び
工程(DD)
第2接続層と反対側から仮第1接続層に紫外線を照射することにより光重合反応させ、仮第1接続層を本硬化させて第1接続層を形成する工程
を有する製造方法。 It is a manufacturing method of the anisotropic conductive film of Claim 1, Comprising: The following processes (AA)-(DD):
Process (AA)
Arranging the conductive particles in the photopolymerizable resin layer in a single layer so that the embedding rate of the conductive particles in the first connection layer is 1% or more and 20% or less;
Process (BB)
A step of forming a temporary first connection layer in which the conductive particles are temporarily fixed on the surface by irradiating the photopolymerizable resin layer in which the conductive particles are arranged with an ultraviolet ray to cause a photopolymerization reaction;
Process (CC)
Forming a second connection layer comprising a thermal cation, anion, or radical polymerizable resin layer on the surface of the temporary first connection layer on the conductive particle side; and step (DD)
The manufacturing method which has a process which carries out photopolymerization reaction by irradiating a temporary 1st connection layer by irradiating an ultraviolet-ray from the opposite side to a 2nd connection layer, and main-hardens a temporary 1st connection layer, and forms a 1st connection layer.
工程(Z)
第1接続層の導電粒子側の反対面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する工程
を有する製造方法。 The manufacturing method according to claim 8, wherein after the step (C), the following step (Z):
Step (Z)
The manufacturing method which has the process of forming the 3rd connection layer which consists of a heat | fever or a photocation, an anion, or a radically polymerizable resin layer in the surface opposite to the electroconductive particle side of a 1st connection layer.
工程(a)
光重合性樹脂層の片面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する工程
を有し、工程(A)において、光重合性樹脂層の他面に導電粒子を1%以上20%以下の埋入率で単層で配列させる製造方法。 9. The manufacturing method according to claim 8, wherein prior to step (A), the following step (a):
Step (a)
A step of forming a third connection layer comprising a heat or photocationic, anionic or radically polymerizable resin layer on one side of the photopolymerizable resin layer; in step (A), on the other side of the photopolymerizable resin layer; A production method in which conductive particles are arranged in a single layer at an embedding rate of 1% or more and 20% or less.
工程(Z)
第1接続層の導電粒子側の反対面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する工程
を有する製造方法。 The manufacturing method according to claim 10, wherein after the step (DD), the following step (Z):
Step (Z)
The manufacturing method which has the process of forming the 3rd connection layer which consists of a heat | fever or a photocation, an anion, or a radically polymerizable resin layer in the surface opposite to the electroconductive particle side of a 1st connection layer.
工程(a)
光重合性樹脂層の片面に、熱又は光カチオン、アニオン若しくはラジカル重合性樹脂層からなる第3接続層を形成する工程
を有し、工程(AA)において、光重合性樹脂層の他面に導電粒子を1%以上20%以下の埋入率で単層で配列させる製造方法。 The manufacturing method according to claim 10, wherein, prior to step (AA), the following step (a):
Step (a)
A step of forming a third connection layer made of heat, photocation, anion, or radical polymerizable resin layer on one side of the photopolymerizable resin layer; and in step (AA), A production method in which conductive particles are arranged in a single layer at an embedding rate of 1% or more and 20% or less.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014019866A JP6233069B2 (en) | 2014-02-04 | 2014-02-04 | Anisotropic conductive film and manufacturing method thereof |
PCT/JP2015/052937 WO2015119098A1 (en) | 2014-02-04 | 2015-02-03 | Anisotropic conductive film and method for producing same |
US15/116,033 US20170077056A1 (en) | 2014-02-04 | 2015-02-03 | Anisotropic conductive film and production method of the same |
KR1020167021122A KR102552788B1 (en) | 2014-02-04 | 2015-02-03 | Anisotropic conductive film and production method of the same |
CN201580007303.9A CN105940561B (en) | 2014-02-04 | 2015-02-03 | Anisotropic conductive film and preparation method thereof |
TW104103699A TWI664262B (en) | 2014-02-04 | 2015-02-04 | Anisotropic conductive film and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014019866A JP6233069B2 (en) | 2014-02-04 | 2014-02-04 | Anisotropic conductive film and manufacturing method thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015149131A true JP2015149131A (en) | 2015-08-20 |
JP6233069B2 JP6233069B2 (en) | 2017-11-22 |
Family
ID=53892371
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014019866A Active JP6233069B2 (en) | 2014-02-04 | 2014-02-04 | Anisotropic conductive film and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6233069B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017141863A1 (en) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | デクセリアルズ株式会社 | Anisotropic conductive film, manufacturing method therefor, and connection structure |
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- 2014-02-04 JP JP2014019866A patent/JP6233069B2/en active Active
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KR102090450B1 (en) * | 2016-02-15 | 2020-03-18 | 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 | Anisotropic conductive film, its manufacturing method and connecting structure |
TWI734745B (en) * | 2016-02-15 | 2021-08-01 | 日商迪睿合股份有限公司 | Anisotropic conductive film, method for manufacturing the same and connection structure |
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JP7114857B2 (en) | 2016-02-15 | 2022-08-09 | デクセリアルズ株式会社 | ANISOTROPIC CONDUCTIVE FILM, MANUFACTURING METHOD AND CONNECTED STRUCTURE THEREOF |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP6233069B2 (en) | 2017-11-22 |
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