JP2015122706A - 制御装置、制御方法および制御システム - Google Patents

制御装置、制御方法および制御システム Download PDF

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Abstract

【課題】同一撮像面上にある2種類の画素群の各々についてダイナミックレンジを設定することが可能な制御装置、制御方法および制御システムを提供する。【解決手段】同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値と前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値とを設定する設定部を備え、前記設定部は、所定の測光処理の実行前に、前記第1制御値と前記第2制御値とを異なる値に設定する、制御装置。【選択図】図4

Description

本開示は、制御装置、制御方法および制御システムに関する。
近年、被写体像を光電変換する撮像素子を備えたデジタルカメラ等の撮像装置が一般に普及している。しかし、デジタルカメラ等の撮像装置は、銀塩カメラに比べてダイナミックレンジが狭く、被写体の輝度が撮像装置のダイナミックレンジから外れている場合、撮像により得られる画像に白とびまたは黒つぶれが出現し得る。
これに対して、特許文献1では、撮像装置に感度の異なる2種類の画素群からなる撮像素子が備えられることにより、ダイナミックレンジを拡大する発明が開示されている。
また、特許文献2では、測光結果に基づいて撮影環境に適したダイナミックレンジを決定し、2種類の画素群の各々の撮像結果を合成すると決定されたダイナミックレンジとなるように画素群の各々の露出制御を行う発明が開示されている。
また、特許文献3では、2種類の撮像光学系を備え、各々の撮像光学系における露出制御値を異なる値に設定することにより、ダイナミックレンジを拡大する発明が開示されている。
特開2011−59337号公報 特許第5138521号公報 特開2012−78741号公報
しかし、特許文献1〜3に記載の発明では、同一撮像面上にある種類の異なる画素群の各々に対し、各々で独立した露出制御値を設定することが困難である。
例えば、特許文献1の発明では、露出制御を行っていないため、動的にダイナミックレンジを変更することが困難である。
また、特許文献2の発明では、2種類の画素群に対して1のダイナミックレンジが決定されるため、露出制御値は互いの画素群に連動され、画素群の間で独立して露出制御値を設定することが困難である。
また、特許文献3の発明では、撮像光学系が独立しているため、2種類の画素群は独立した露出制御値を設定可能であるが、撮像される被写体の位置等のずれを補正する手段を別途設けることになる。
そこで、本開示は、同一撮像面上にある2種類の画素群の各々についてダイナミックレンジを設定することが可能な、新規かつ改良された制御装置、制御方法および制御システムを提案する。
本開示によれば、同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値と前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値とを設定する設定部を備え、前記設定部は、所定の測光処理の実行前に、前記第1制御値と前記第2制御値とを異なる値に設定する、制御装置が提供される。
また、本開示によれば、同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値と前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値とを設定することと、所定の測光処理の実行前に、前記第1制御値と前記第2制御値とを異なる値に設定することと、を含む制御方法が提供される。
また、本開示によれば、同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値と前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値とを設定する設定部を備え、前記設定部は、所定の測光処理の実行前に、前記第1制御値と前記第2制御値とを異なる値に設定する、制御システムが提供される。
以上説明したように本開示によれば、同一撮像面上にある2種類の画素群の各々についてダイナミックレンジを設定することが可能な制御装置、制御方法および制御システムが提供される。なお、上記の効果は必ずしも限定的なものではなく、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書に示されたいずれかの効果、または本明細書から把握され得る他の効果が奏されてもよい。
本開示の第1の実施形態に係る制御装置を含むデジタルカメラの概略的な物理構成を示す断面図である。 本実施形態に係る制御装置を含むデジタルカメラの背面図である。 本実施形態に係る制御装置を含むデジタルカメラの平面図である。 本実施形態に係る制御装置の概略的な機能構成を示すブロック図である。 本実施形態に係る制御装置の撮影時の基本処理の概要を示すフローチャートである。 本実施形態に係るAE起動処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係る第1ターゲット輝度の算出処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係る第2ターゲット輝度の算出処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係る第1制御値の演算処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係るAUTOモードまたはプログラムモードの処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係るAモードの処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係るSモードの処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係るMモードの処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係る第2制御値の演算処理を示すフローチャートである。 本実施形態に係る絞り値に基づく第1制御値の補正処理を示すフローチャートである。 本開示の第2の実施形態に係る制御装置の概略的な機能構成を示すブロック図である。 本実施形態に係る制御装置の処理の概要を概念的に示すフローチャートである。 本実施形態に係る制御装置の調光処理を概念的に示すフローチャートである。 本実施形態に係る制御装置の調光処理における検波値選択処理および調光評価値算出処理を概念的に示すフローチャートである。 本実施形態に係る制御装置の調光処理における本発光量算出処理を概念的に示すフローチャートである。 本開示に係る制御装置のハードウェア構成を示した説明図である。
以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
1.本開示の第1の実施形態(AE(Auto Exposure)起動処理の例)
1−1.第1の実施の形態に係る制御装置の物理構成
1−2.第1の実施の形態に係る制御装置の機能構成
1−3.第1の実施の形態に係る制御装置の処理
1−4.第1の実施形態における変形例
2.本開示の第2の実施形態(調光処理の例)
2−1.第2の実施の形態に係る制御装置の機能構成
2−2.第2の実施の形態に係る制御装置の処理
3.本開示の一実施形態に係る情報処理装置のハードウェア構成
4.むすび
<1.本開示の第1の実施形態(AE起動処理の例)>
まず、本開示の第1の実施形態に係る制御装置について説明する。本開示の第1の実施形態に係る制御装置は、AE起動処理における検波値のダイナミックレンジを拡大させる露出制御を行う。
一般的に、単一の撮像画素群を用いた検波では、被写体の輝度がダイナミックレンジから外れている場合、検波値の収束までに時間がかかり、撮影可能な露出制御値を決定するまでの時間が長期化することがある。
そこで、本開示の第1の実施形態では、2種類の画素群の各々のダイナミックレンジが異なるように露出制御値の設定を行う制御装置を提案する。なお、説明の便宜上、第1および第2の実施形態による制御装置100の各々を、制御装置100−1および制御装置100−2のように、末尾に実施形態に対応する番号を付することにより区別する。
[1−1.第1の実施形態に係る制御装置の物理構成]
最初に、本開示の第1の実施形態に係る制御装置100−1を含むデジタルカメラの物理構成について図1〜3を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る制御装置100−1を含むデジタルカメラの概略的な物理構成を示す断面図である。図2は、デジタルカメラ1の背面図である。図3は、デジタルカメラ1の平面図である。
デジタルカメラ1は、レンズ部、カメラ本体部およびフラッシュ部からなる。図1に示したように、レンズ部は、撮影レンズ10、フォーカスレンズ12および絞り14を備える。また、カメラ本体部は、撮影用画素群16、位相差画素群18、LCDモニタ20、EVF(Erectronic View Finder)22、接眼レンズ24およびファインダ26を備える。また、フラッシュ部は、発光部28および発光制御ユニット(図示せず。)を備える。また、図2および図3に示したように、カメラ本体部は、露出補正ダイヤル30、撮影モードダイヤル32、LCDモニタ操作ダイヤル34、プレビューボタン36、AF(Auto Forcus)/MF(Manual Forcus)切替ボタン38およびシャッターボタン40を備える。
撮影レンズ10は、被写体からの光を取り込み、撮像素子に被写体像を映し出す光学系である。
フォーカスレンズ12は、被写体像の焦点調節制御を行う光学系である。例えば、フォーカスレンズ12は、当該フォーカスレンズ12を移動させるフォーカスレンズ駆動機構(図示せず。)によって光軸方向(すなわち、X軸方向)に移動される。フォーカス駆動機構は、制御装置からの駆動指示情報に基づき動作し、フォーカスレンズ12を移動させる。このようにして、フォーカスレンズ12により被写体像の焦点の制御を行い得る。
絞り14は、制御装置100−1により設定される制御値に基づいて、撮影レンズを通して取り込まれた被写体からの光の量の調節を行う。例えば、絞り14は、複数の絞り羽根から構成され、絞り羽根を動かす絞り機構(図示せず。)によって動かされる。絞り機構は、制御装置100−1により設定されるF値に基づいて、絞り羽根を動かし、取り込まれる被写体からの光の量の調節を行い得る。
撮影用画素群(モニタ用画素)16は、撮影レンズ10を通して取り込まれた被写体からの光の光電変換を行う。例えば、撮影用画素群16は、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)またはCCD(Charge Coupled Device)等の固体撮像素子であり得る。
位相差画素群18は、撮影レンズ10を通して取り込まれた被写体からの光の光路方向が制御された画素群である。例えば、位相差画素群18の画素の各々に対応するマイクロレンズが、当該マイクロレンズの中心位置と画素の中心位置とがずれた状態で配置され得る。なお、撮影用画素群16および位相差画素群18は、同一撮像面上に配置される。例えば、撮影用画素群16の画素の各々は奇数行に配置され、位相差画素群18の画素の各々は偶数行に配置され得る。
LCDモニタ20は、撮像により得られた画像および記憶されている画像の表示を行う。また、LCDモニタ20は、デジタルカメラ1の撮影方法等の設定を行うための画像を表示する。例えば、LCDモニタ20は、液晶パネルまたは有機EL(Electro Luminescence)等であり得る。なお、LCDモニタ20は、タッチパネルであってもよい。
EVF22は、撮像により得られた画像を映し出す。具体的には、EVF22は、撮影用画素群16により光電変換された電気信号を撮影用画素群16から順次取得し、取得された電気信号に基づく画像を、接眼レンズ24を通じてファインダ26に映し出す。例えば、EVF22は、撮影用画素群16から得られる画像をリアルタイムで表示させ得る。
接眼レンズ24は、EVF22により映し出される画像の拡大を行う。
ファインダ26は、EVF22より映し出される画像をユーザが確認するための接眼部である。ユーザは、ファインダ26を覗くことにより順次撮像される被写体を確認することができる。
発光部28は、発光制御部ユニットが設定する発光量および発光タイミングで、発光を行う。
発光制御ユニットは、制御装置100−1により設定される制御値に基づいて、発光部28の発光量および発光タイミングの制御を行う。例えば、発光制御ユニットは、プリ発光および本発光の制御を行う。
露出補正ダイヤル30は、撮像時の露出制御値の補正の度合いを設定する。例えば、ユーザは、撮像により得られる画像を明るくする場合はプラス側にダイヤルを回して設定し、画像を暗くする場合はマイナス側にダイヤルを回して設定する。なお、補正に係る露出制御は、ゲイン、露光時間、絞りまたはこれらの組合せの制御であり得る。
撮影モードダイヤル32は、露出制御のモードを設定する。例えば、モードには、AUTOモード(AUTO)、プログラムモード(P)、絞り優先モード(A)、シャッタースピード優先モード(S)およびマニュアル露出モード(M)があり得る。なお、AUTOモードおよびプログラムモードは、デジタルカメラ1が自動的に露出制御を行うモードである。また、絞り優先モードは、絞り値をユーザが設定し、絞り値が自動制御されるモードであり、シャッタースピード優先モードは、露光時間をユーザが設定し、絞り値が自動制御されるモードである。また、マニュアル露出モードは、ユーザが絞り値および露光時間を設定するモードである。ユーザは、撮影モードダイヤル32を回転させて所望のモードを設定位置に合わせることで、モードを設定することができる。
LCDモニタ操作ダイヤル34は、LCDモニタ20に表示される画像の操作を行う。具体的には、ユーザは、LCDモニタ操作ダイヤル34を操作することにより、LCDモニタ20に表示される画像の操作を行い、デジタルカメラ1の設定操作等を行う。
プレビューボタン36は、プレビューの実行有無を設定する。具体的には、デジタルカメラ1は、プレビューボタン36が押下されると、プレビュー実行状態に遷移し、プレビューボタン36が再度押下されると、プレビュー非実行状態に遷移する。ここで、プレビューとは、例えば、撮影用画素群16からリアルタイムに得られる画像に、設定中の露出制御値で露出制御を行った場合の画像を、LCDモニタ20およびEVF22に表示することである。
AF/MF切替ボタン38は、デジタルカメラ1のフォーカス処理の設定を、オートフォーカスまたはマニュアルフォーカスのいずれかに切り替える。AF/MF切替ボタン38が押下される毎に、オートフォーカスとマニュアルフォーカスとが切り替わる。
シャッターボタン40は、デジタルカメラ1にAF処理または撮像処理を実行させるための操作部である。具体的には、シャッターボタン40が半押しされると、AF処理が実行され、シャッターボタン40が全押しされると、撮像処理が実行される。
なお、図1〜図3に図示されていないが、デジタルカメラ1には、CPUおよびメモリ等からなる制御装置100−1が含まれる。また、制御装置100−1は、デジタルカメラ1に含まれる例を説明したが、例えば、制御装置100−1は、スマートフォン、タブレット端末またはノート型パーソナルコンピュータ等の電子機器に含まれ得る。
[1−2.第1の実施形態に係る制御装置の機能構成]
次に、図4を参照して、本実施形態に係る制御装置100−1の機能構成について説明する。図4は、本実施形態に係る制御装置100−1の概略的な機能構成を示すブロック図である。
制御装置100−1は、同一撮像面に配置された撮影用画素群(第1の画素群)102および位相差画素群(第2の画素群)104を制御する。撮影用画素群102は図1の撮影用画素群16に対応し、位相差画素群104は図1の位相差画素群18に対応する。
撮影用画素群102により取得された画像はLCDモニタ20に表示されるモニタ用としても使用される。実際に撮影する画像に対しては、自動的に、あるいはユーザ設定に応じて、撮影用ゲインおよび撮影用シャッタースピードが決定される。また、モニタ用画像に対しては、きれいで滑らかな画像をLCDモニタ20に表示させるために、第1ゲインおよび第1シャッタースピード等の第1制御値が決定される。一方、位相差画素群104に対しては、AF性能を向上させるため、撮影用画素群102とは独立して第2ゲインおよび第2シャッタースピード等の第1制御値が決定される。
図4に示したように、制御装置100−1は、第1検波値取得部106、第2検波値取得部108、第1ゲイン制御部110、第2ゲイン制御部112、第1タイミング制御部114、第2タイミング制御部116、設定部118およびメモリ124を備える。
第1検波値取得部106は、撮影用画素群102から撮像信号を検波して第1検波値を出力する。第1検波値は、第1検波値取得部106から第1ゲイン制御部110へ出力される。
第2検波値取得部108は、位相差画素群104から撮像信号を検波して第2検波値を出力する。第2検波値は、第2検波値取得部108から第2ゲイン制御部112へ出力される。なお、第1検波値取得部106および第2検波値取得部108は、同時にそれぞれ検波信号を読み出すことが可能である。
第1ゲイン制御部110は、第1検波値を第1ゲインによりゲイン調整する。第1ゲイン制御部110は、第1検波値に第1ゲインをかけて増幅した後、設定部118の第1制御値演算部120へ出力する。
第2ゲイン制御部112は、第2検波値を第2ゲインによりゲイン調整する。本実施形態に係る第2ゲイン制御部112は、第1ゲイン制御部110とは独立して機能し、第2検波値に第2ゲインをかけて増幅した後、設定部118の第2制御値演算部122へ出力する。
第1タイミング制御部114は、撮影用画素群102に対して第1シャッタースピード(すなわち、第1露光時間)で露光制御する。第1タイミング制御部114は、後述する設定部118の第1制御値演算部120により演算された第1シャッタースピードに基づき、撮影用画素群102の露出を制御する。
第2タイミング制御部116は、位相差画素群104に対して第2露光時間(すなわち、第2シャッタースピード)で露光制御する。第2タイミング制御部116は、第1タイミング制御部114とは独立して機能し、後述する設定部118の第2制御値演算部122により演算された第2露光時間に基づき、位相差画素群104の露出を制御する。なお、第1タイミング制御部114および第2タイミング制御部116は、同時に各画素群を露光させることが可能である。
設定部118は、撮影用画素群102および位相差画素群104を露光制御するための制御値を演算する機能部であり、第1制御値演算部120および第2制御値演算部122を備える。
第1制御値演算部120は、第1ゲイン制御部110にてゲイン調整された第1検波値とレンズ部の情報とに基づき、第1シャッタースピード、第1検波値を調整する第1ゲイン、および絞り14の設定値(以下、「絞り値」ともいう。)を演算する。レンズ部の情報としては、例えばAF情報や絞り情報等がある。そして、第1制御値演算部120は、第1シャッタースピードを第1タイミング制御部114へ出力し、第1ゲインを第1ゲイン制御部110へ出力し、絞り値を第2制御値演算部122へ出力する。
第2制御値演算部122は、第2ゲイン制御部112にてゲイン調整された第2検波値および第1制御値演算部120により演算された絞り値に基づいて、第2シャッタースピードおよび第2検波値を調整する第2ゲインを演算する。そして、第2制御値演算部122は、第2シャッタースピードを第2タイミング制御部116へ出力し、第2ゲインを第2ゲイン制御部112へ出力する。
メモリ124は、撮像装置1の各種設定情報や撮像された画像等を記憶する記憶部である。メモリ124は、例えばROMやRAM等の記憶媒体により構成される。例えば、メモリ124に記憶された各種設定情報は、設定部118の第1制御値演算部120や第2制御値演算部122に読み出され、演算処理に用いられる。
[1−3.第1の実施形態に係る制御装置の処理]
次に、本実施形態における制御装置100−1の処理の概要について図5を参照して説明する。図5は、本実施形態に係る制御装置100−1の撮影時の基本処理の概要を示すフローチャートである。なお、上述の制御装置100−1の物理構成および機能構成の説明と重複する説明は省略する。
(S202:初期設定)
まず、図5に示すように、制御装置100−1は、撮影を行うにあたり初期設定を行う(ステップS202)。初期設定では、絞り値や撮影用画素群102の第1検波値を調整する第1ゲイン、第1シャッタースピード、位相差画素群104の検波値を調整する第2ゲイン、第2シャッタースピードの初期値がそれぞれ設定される。
ここで、第1ゲインおよび第2ゲインの初期値は、異なる値に設定される。例えば、設定部118は、第1ゲインをISO400相当の値に設定し、第2ゲインを第1ゲインから2EV(Exposure Value)を減じた値に設定し得る。このため、撮影用画素群16および位相差画素群の各々に対して異なるダイナミックレンジを設定することが可能となる。
また、上記の例のように、第2ゲインの初期値は、第1ゲインの初期値よりも低感度に設定される。このため、撮影に用いられる撮影用画素群16のゲイン調整に係る第1ゲインを基準にすることにより、第1ゲインの設定変更の発生を抑制し、撮影用画素16に対する露出制御にかかる処理時間を短縮することが可能となる。
また、第1シャッタースピードおよび第2シャッタースピードの初期値は、異なる値に設定される。例えば、設定部118は、第1シャッタースピードを1/250に設定し、第2シャッタースピードを第1シャッタースピードよりも2EVだけ高速な値に設定し得る。このため、第1ゲインおよび第2ゲインが同値である場合においても、撮影用画素群16および位相差画素群の各々に対して異なるダイナミックレンジを設定することが可能となる。
また、上記の例のように、第2シャッタースピードの初期値は、第1シャッタースピードの初期値よりも高速に設定される。このため、撮影に用いられる撮影用画素群16のシャッタースピードに係る第1シャッタースピードを基準にすることにより、第1シャッタースピードの設定変更の発生を抑制し、撮影用画素16に対する露出制御にかかる処理時間を短縮することが可能となる。
また、制御装置100−1は、撮影用画素群102に対する第1ターゲット輝度の初期値および位相差画素群104に対する第2ターゲット輝度の初期値を設定する。ターゲット輝度は、各制御値の目標値であって、次の制御値は当該目標値に追従するように設定される。ターゲット輝度は、画像内の明るさのむらを平均化するスムージング処理に用いられる。第1ターゲット輝度の初期値は、例えば絞り値と第1露光時間との和から第1ゲインを減じた値に設定され、第2ターゲット輝度の初期値は、例えば絞り値と第2露光時間との和から第2ゲインを減じた値に設定される。このように、第1ターゲット輝度と第2ターゲット輝度との初期値には差が設けられ得る。
(S204:AE起動処理)
次いで、制御装置100−1は、AE起動処理を行う(ステップS204)。ステップS204では、制御装置100−1は、撮影用画素群102および位相差画素群104のそれぞれについて、第1検波値および第2検波値を取得してゲイン調整した後、当該値に基づいて、第1ターゲット輝度および第2ターゲット輝度を算出する。各ターゲット輝度は、ゲイン調整された各検波値と予め設定された閾値レベルとを比較して、その大小関係に応じて設定される。
ステップS204における処理の詳細を図6〜図8に基づき説明する。なお、図6は、本実施形態に係るAE起動処理を示すフローチャートである。図7は、本実施形態に係る第1ターゲット輝度の算出処理を示すフローチャートである。図8は、本実施形態に係る第2ターゲット輝度の算出処理を示すフローチャートである。
ステップS204の処理では、図6に示すように、まず、第1検波値および第2検波値が取得される(ステップS302)。具体的には、第1検波値取得部106により撮影用画素群16の出力する第1検波値が取得され、第2検波値取得部108により位相差画素群18の出力する第2検波値が取得される。次に、取得された第1検波値は、第1ゲイン制御部110にてゲイン調整され、取得された第2検波値は、第2ゲイン制御部112にてゲイン調整される。そして、設定部118は、ゲイン調整された第1検波値および第2検波値を取得する。
次に、第1検波値>閾値Xかつ第2検波値>閾値Xを満たすかの判定が行われる(ステップS304)。具体的には、第1検波値および第2検波値を取得した設定部118は、メモリ124から閾値Xを取得し、上記の条件を満たすかの判定を行う。なお、閾値Xは、明るさの判断基準として用いられ、例えば、閾値Xは、予めメモリ124等に記憶された輝度の値であり得る。
ステップS304にて、第1検波値>閾値Xかつ第2検波値>閾値Xを満たすと判定された場合、設定部118は、第2ターゲット輝度の初期値に所定の値を加算した値を第1ターゲット輝度および第2ターゲット輝度とする(ステップS306)。例えば、所定の値は、4EVであり得る。なお、第2ターゲット輝度の初期値は、ステップS202にて取得される。
ステップS304にて、第1検波値>閾値Xかつ第2検波値>閾値Xを満たさないと判定された場合、設定部118は、第1検波値>閾値Xかつ閾値Y≦第2検波値≦閾値Xを満たすかの判定を行う(ステップS308)。具体的には、設定部118は、メモリ124から閾値Xおよび閾値Yを取得し、上記の条件を満たすかの判定を行う。なお、閾値Yは、暗さの判断基準として用いられ、例えば、閾値Yは、予めメモリ124等に記憶された輝度の値であり得る。
ステップS308にて、第1検波値>閾値Xかつ閾値Y≦第2検波値≦閾値Xを満たすと判定された場合、第2ターゲット輝度が算出される(ステップS310)。具体的には、図8を参照して説明する。
ステップS310の処理では、図8に示したように、まず、第2制御値演算部122は、第2検波値および前回の第2制御値に基づいて、現在の輝度を算出する(ステップS502)。次いで、第2制御値演算部122は、最終第2ターゲット輝度を算出する(ステップS504)。最終第2ターゲット輝度は、最終的に狙いとする明るさを表しており、第2検波値および位相差用基準レベルから算出される。位相差用基準レベルは固定値であり、予め設定されている基準値である。
最終第2ターゲット輝度は、例えば下記式(1)から算出されてもよい。ここで、ΔMF_Offsetはマニュアルフォーカス時の測光範囲オフセット値であり、例えば2EVに設定される。なお、オートフォーカス時、ΔMF_Offsetはゼロである。
最終第2ターゲット輝度
=現在輝度+(log2(第2検波値)−log2(位相差用基準レベル))+ΔMF_Offset
・・・(1)
あるいは、最終第2ターゲット輝度は、さらに第2輝度補正量を考慮して、下記式(2)から算出されてもよい。この場合、第2輝度補正量は、輝度補正量の上下限値を±1EVに限定した値とされる。
最終第2ターゲット輝度
=現在輝度+(log2(第2検波値)−log2(位相差用基準レベル))−第2露出補正量
+ΔMF_Offset
・・・(2)
そして、第2制御値演算部122は、ステップS504にて算出された最終第2ターゲット輝度からステップS502にて算出された現在の輝度を減じることにより、最終輝度変化量を得る(ステップS506)。この最終輝度変化量は、第2制御値を目標値に追従させるときの変化量である。
その後、第2制御値演算部122は、ステップS506にて算出された最終輝度変化量に基づいて、次回の処理時に設定する次回輝度変化量を算出する(ステップS508)。例えば、次回輝度変化量ΔEVは、下記式(3)に基づき算出されてもよい。
Figure 2015122706
ここで、位相差画素群104用のΔEV_pは、撮影用画素群102用のΔEV_p以上となるように設定される。あるいは、ΔEV_pは∞として設定され、なるべく早くターゲット輝度となるように設定されてもよい。同様に、位相差画素群104用のΔEV_mは、撮影用画素群102用のΔEV_m以下となるように設定される。あるいは、ΔEV_mは−∞として、なるべく早くターゲット輝度となるように設定してもよい。このように、位相差画素群104のスムージングを高速化することができ、位相差AFの適正露出に至るまでの時間を短縮できる。これにより、AFのレスポンスを向上することができる。
そして、第2制御値演算部122は、ステップS502にて算出された現在輝度とステップS508で算出された次回輝度変化量とを加算して、次回第2ターゲット輝度とする(ステップS510)。すなわち、次回第2ターゲット輝度は下記式(4)で表される。次回第2ターゲット輝度は、次のサイクルにおける位相差用制御値として使用される。
次回第2ターゲット輝度=現在輝度+次回輝度変化量ΔEV ・・・(4)
図6の説明に戻り、ステップS310にて次回の第2ターゲット輝度が算出されると、設定部118は、算出された第2ターゲット輝度の値を第1ターゲット輝度および第2ターゲット輝度とする(ステップS312)。
ステップS308にて、第1検波値>閾値Xかつ閾値Y≦第2検波値≦閾値Xを満たさないと判定された場合、閾値Y≦第1検波値≦閾値Xかつ第2検波値<閾値Yを満たすかの判定が行われる(ステップS314)。具体的には、設定部118は、メモリ124から閾値Xおよび閾値Yを取得し、上記の条件を満たすかの判定を行う。
ステップS314にて、閾値Y≦第1検波値≦閾値Xかつ第2検波値<閾値Yを満たすと判定された場合、第1ターゲット輝度が算出される(ステップS316)。具体的には、図7を参照して説明する。
ステップS316の処理では、図7に示すように、第1制御値演算部120は、まず、第1検波値および第2制御値に基づいて、現在の輝度を算出する(ステップS402)。この輝度は、現在の被写体の明るさを示している。
次いで、第1制御値演算部120は、最終第1ターゲット輝度を算出する(ステップS404)。最終第1ターゲット輝度は、最終的に狙いとする明るさを表しており、第1検波値、モニタ用基準レベル、および露出補正値から算出される。モニタ用基準レベルは固定値であり、予め設定されている基準値である。最終第1ターゲット輝度は、例えば下記式(5)から算出されてもよい。
最終ターゲット輝度
=現在輝度+(log2(第1検波値)−log2(モニタ用基準レベル))−露出補正量
・・・(5)
第1制御値演算部120は、ステップS404にて算出された最終第1ターゲット輝度からステップS402にて算出された現在の輝度を減じることにより、最終輝度変化量を得る(ステップS406)。この最終輝度変化量は、第1制御値を目標値に追従させるときの変化量である。
その後、第1制御値演算部120は、ステップS406にて算出された最終輝度変化量に基づいて、次回の処理時に設定する次回輝度変化量を算出する(ステップS408)。例えば、次回輝度変化量ΔEVは、下記式(6)に基づき算出されてもよい。
Figure 2015122706
そして、第1制御値演算部120は、ステップS402にて算出された現在輝度とステップS408で算出された次回輝度変化量ΔEVとを加算して、次回第1ターゲット輝度とする(ステップS410)。すなわち、次回第1ターゲット輝度は下記式(7)で表される。
次回第1ターゲット輝度=現在輝度+次回輝度変化量ΔEV ・・・(7)
図6の説明に戻り、ステップS316にて次回の第1ターゲット輝度が算出されると、設定部118は、算出された第1ターゲット輝度の値を第1ターゲット輝度および第2ターゲット輝度とする(ステップS312)。
ステップS314にて、閾値Y≦第1検波値≦閾値Xかつ第2検波値<閾値Yを満たさないと判定された場合、第1検波値<閾値Yかつ第2検波値<閾値Yを満たすかの判定が行われる(ステップS320)。具体的には、設定部118は、メモリ124から閾値Yを取得し、上記の条件を満たすかの判定を行う。
ステップS320にて、第1検波値<閾値Yかつ第2検波値<閾値Yを満たすと判定された場合、設定部118は、第1ターゲット輝度の初期値に所定の値を減算した値を第1ターゲット輝度および第2ターゲット輝度とする(ステップS322)。例えば、所定の値は、4EV(Exposure Value)であり得る。なお、第1ターゲット輝度の初期値は、ステップS202にて取得される。
(S206:キー情報取得)
図5の説明に戻り、AE起動処理を終えると、制御装置100−1は、キー情報を取得する(ステップS206)。キー情報として、例えば露出モードや露出補正値、プレビューモード、AF/MF切替え等の操作情報が取得される。露出モードは撮影モードダイヤル34の設定から取得でき、露出補正値は露出補正ダイヤル32の設定から取得できる。また、プレビューモードはプレビューボタン38の設定から取得でき、AF/MF切替えはAF/MFは切替ボタン40の設定から取得できる。
(S208:レンズ情報取得)
また、制御装置100−1は、レンズ情報を取得する(ステップS208)。レンズ情報として、例えばAF情報や絞り情報が取得される。AF情報は、フォーカスレンズ12を駆動するフォーカス駆動機構やこれを制御する制御部より取得される。また、絞り情報は、絞り14の絞り羽根を開閉させる絞り機構やこれを制御する制御部より取得される。
(S210:第1制御値演算)
そして、制御装置100−1は、第1制御値の演算を行う(ステップS210)。ステップS210では、第1制御値演算部120により、第1制御値として、撮影用画素群102を第1露光時間で露光する第1シャッタースピード、第1検波値を調整する第1ゲイン、および絞り値が演算される。
ステップS210における処理の詳細を図9〜図13に基づき説明する。なお、図9は、本実施形態に係る第1制御値の演算処理を示すフローチャートである。図10は、AUTOモードまたはプログラムモードの処理を示すフローチャートである。図11は、Aモードの処理を示すフローチャートである。図12は、Sモードの処理を示すフローチャートである。図13は、Mモードの処理を示すフローチャートである。
ステップS210の処理では、図9に示すように、まず、露出モードが確認される(ステップS602)。露出モードは、撮影モードダイヤル32の設定より、図5のステップS206にて取得される。制御装置100−1は、露光モードに応じて、第1ターゲット輝度、絞り14の設定値、第1ゲイン、および第1露光時間を演算し、設定する。
ステップS602にてAUTOモード(AUTO)またはプログラムモード(P)と判定された場合、制御装置100−1は、図10に示すフローチャートに基づいて、第1制御値を演算する(ステップS604)。このとき、まず、第1検波値取得部106により、撮影用画素群102の撮像信号が第1検波値として取得され、第1ゲイン制御部110によりゲイン調整される(ステップS702)。次いで、第1制御値演算部120は、第1ゲイン制御部110にからゲイン調整された第1検波値を用いて、撮影用画素群側のスムージング処理のため、第1ターゲット輝度を算出する(ステップS316)。なお、ステップS316の処理の詳細については、上述のステップS204における処理と実質的に同一であるため説明を省略する。
ステップS316にて次回の第1ターゲット輝度が算出されると、第1制御値演算部120は、絞り値を算出する(ステップS704)。そして、第1制御値演算部120は、絞り値に基づき、撮影用ゲインを算出し(ステップS706)、撮影用シャッタースピードを算出する(ステップS708)。AUTOモードおよびプログラムモードは、デジタルカメラ1が自動的に露出制御を行うモードである。撮影用ゲインおよび撮影用シャッタースピードは、次回第1ターゲット輝度に応じて決定された絞り値に基づき、自動的に設定される。
その後、第1制御値演算部120は、モニタ用として、第1ゲインを算出し(ステップS710)、第1シャッタースピードを算出する(ステップS712)。第1ゲインおよび第1シャッタースピードは、実際に撮影される画像にできるだけ近い画像をユーザに提示するために、撮影用ゲインおよび撮影用シャッタースピードと同一となるのが望ましいが、必ずしも一致しなくともよい。
このようにして、AUTOモード(AUTO)またはプログラムモード(P)での第1制御値は算出される。
次に、ステップS602にて絞り優先モード(A)と判定された場合、制御装置100−1は、図11に示すフローチャートに基づいて、第1制御値を演算する(ステップS606)。このとき、まず、第1検波値取得部106により、撮影用画素群102の撮像信号が第1検波値として取得され、第1ゲイン制御部110によりゲイン調整される(ステップS702)。次いで、第1制御値演算部120は、撮影用画素群側のスムージング処理のため、第1ターゲット輝度を算出する(ステップS316)。ステップS702およびS316の処理は上述したAUTOモード(AUTO)またはプログラムモード(P)の場合と同一であり、ここでは説明を省略する。
ステップS316にて第1ターゲット輝度が算出されると、第1制御値演算部120は、絞り値をユーザ設定値に設定する(ステップS802)。絞り優先モード(A)は、絞り14をユーザが設定し、絞り値が自動制御されるモードである。ステップS802の処理により、ユーザによる絞り14の設定が撮像装置1の設定に反映される。
その後、第1制御値演算部120は、撮影用ゲインを算出し(ステップS706)、撮影用シャッタースピードを算出する(ステップS708)。撮影用ゲインおよび撮影用シャッタースピードは、ユーザにより設定された絞り値に基づき、自動的に設定される。
そして、第1制御値演算部120は、モニタ用として、第1ゲインを算出し(ステップS710)、第1露光時間として第1シャッタースピードを算出する(ステップS712)。ステップS710およびS712の処理も上述したAUTOモード(AUTO)またはプログラムモード(P)の場合と同一であり、ここでは説明を省略する。このようにして、絞り優先モード(A)での第1制御値は算出される。
次に、ステップS602にてシャッタースピード優先モード(S)と判定された場合、制御装置100−1は、図12に示すフローチャートに基づいて、第1制御値を演算する(ステップS608)。このとき、まず、第1検波値取得部106により、撮影用画素群102の撮像信号が第1検波値として取得され、第1ゲイン制御部110によりゲイン調整される(ステップS702)。次いで、第1制御値演算部120は、撮影用画素群側のスムージング処理のため、第1ターゲット輝度を算出する(ステップS316)。ステップS702およびS316の処理も上述したAUTOモード(AUTO)またはプログラムモード(P)の場合と同一であり、ここでは説明を省略する。
ステップS316にて第1ターゲット輝度が算出されると、第1制御値演算部120は、撮影用シャッタースピードをユーザ設定値に設定する(ステップS902)。シャッタースピード優先モードは、露光時間をユーザが設定し、絞り値が自動制御されるモードである。ステップS902の処理により、ユーザの設定した撮影用シャッタースピードが撮像装置1の設定に反映され、後述するステップS704において、撮影用シャッタースピードに応じて適正露出となるように絞り値が自動的に制御される。
その後、第1制御値演算部120は、モニタ用として、第1シャッタースピードを算出し(ステップS712)、絞り値を算出する(ステップS704)。絞り値は、撮影用シャッタースピードに応じて設定される。そして、第1制御値演算部120は、第1ゲインを算出し(ステップS710)、撮影用ゲインを算出する(ステップS706)。ステップS706、S710およびS712の処理も上述したAUTOモード(AUTO)またはプログラムモード(P)の場合と同一であり、ここでは説明を省略する。このようにして、シャッタースピード優先モード(S)での第1制御値は算出される。
次に、ステップS602にてマニュアル露出モード(M)と判定された場合、制御装置100−1は、図13に示すフローチャートに基づいて、第1制御値を演算する(ステップS612)。マニュアル露出モードは、ユーザが絞り値および露光時間を設定するモードである。したがって、撮影用シャッタースピードおよび絞り値がユーザによる設定値に設定される。
このとき、まず、第1検波値取得部106により、撮影用画素群102の撮像信号が第1検波値として取得され、第1ゲイン制御部110によりゲイン調整される(ステップS702)。次いで、第1制御値演算部120は、撮影用画素群側のスムージング処理のため、第1ターゲット輝度を算出する(ステップS316)。ステップS702およびS316の処理も上述したAUTOモード(AUTO)またはプログラムモード(P)の場合と同一であり、ここでは説明を省略する。
ステップS316にて第1ターゲット輝度が算出されると、第1制御値演算部120は、撮影用シャッタースピードをユーザにより設定された値に設定し(ステップS902)、絞り値をユーザにより設定された値に設定する(ステップS802)。ステップS902の処理は上述したシャッタースピード優先モード(S)の場合と同一であり、ステップS802の処理は上述した絞り優先モード(A)の場合と同一である。
その後、第1制御値演算部120は、撮影用シャッタースピードおよび絞り値から撮影用ゲインを算出する(ステップS706)。また、第1制御値演算部120は、モニタ用として、第1シャッタースピードを算出し(ステップS712)、第1ゲインを算出する(ステップS710)。ステップS710およびS712の処理も上述したAUTOモード(AUTO)またはプログラムモード(P)の場合と同一であり、ここでは説明を省略する。このようにして、マニュアル露出モード(M)での第1制御値は算出される。
以上のように各露出モードに応じた第1制御値が算出されると、第1制御値演算部120は、プレビューの設定がオンであるか否かを判定する(ステップS612)。プレビューでは、ユーザの操作によって一時的に所定の絞り値に設定される。ユーザは、その絞り値に設定したときに取得される画像をLCDモニタ20等により確認できる。
プレビューの設定は、プレビューボタン36のオンオフ状態に基づき判定される。第1制御値演算部120は、プレビューボタン36がオンであるとき、プレビューを行うとして、所定の絞り値となるように絞り14を開閉制御する(ステップS614)。絞り14の制御を終えると、制御装置100−1は、プレビュー中であることを示すプレビュー中フラグをオンにして(ステップS616)、図6に示す処理を終了する。一方、ステップS612においてプレビューボタン36がオフであるとき、第1制御値演算部120は、プレビュー中フラグをオフにして(ステップS618)、図6に示す処理を終了する。
(S212:第2制御値演算)
図5の説明に戻り、ステップS210にて図9のフローチャートに沿って第1制御値が算出されると、次に、制御装置100−1は、第2制御値を演算する(ステップS212)。ステップS212では、第2制御値演算部122により、第2制御値として第2シャッタースピードおよび第2ゲインが演算される。
ステップS212における処理の詳細を図14に基づき説明する。なお、図14は、本実施形態に係る第2制御値の演算処理を示すフローチャートである。
図14に示すように、制御装置100−1は、第2制御値を演算するにあたり、まず第2制御値演算部122により第1制御値を取得する(ステップS1002)。第1制御値は、ステップS212にて算出された値が用いられる。
次いで、制御装置100−1は、第2検波値取得部108により第2検波値を取得する(ステップS1004)。第2検波値取得部108により取得された第2検波値は、第2ゲイン制御部112にて第2ゲインにより調整された後、第2制御値演算部122へ出力される。そして、第2制御値演算部122は、ゲイン調整された第2検波値を用いて、第2ターゲット輝度を算出する(ステップS310)。なお、ステップS310の処理の詳細については、上述のステップS204における処理と実質的に同一であるため説明を省略する。
ステップS310にて次回の第2ターゲット輝度が算出されると、第2制御値演算部122は、第2ゲインを算出する(ステップS1006)。第2ゲインは、第1ゲインよりも広い連動範囲に設定されている。これにより、第2ゲインを高感度にまで対応可能にすることができ、位相差AFにおいて適切な露出を得ることが可能となる。あるいは、第2ゲインは固定値としてもよい。第2ゲインを固定値とすることで、位相差AF時に安定したAF性能を実現できる。
そして、第2制御値演算部122は、第2シャッタースピードを算出する(ステップS1008)。第2シャッタースピードも、第1ゲインよりも広い連動範囲に設定される。これにより、第2シャッタースピードを低速にすることができ、位相差AFにおいて適切な露出を得ることが可能となる。あるいは、第2シャッタースピードは固定値としてもよい。第2シャッタースピードを固定値とすることで、位相差AF時に安定したAF性能を実現できる。
なお、本実施形態では、ステップS1006にて第2ゲインの連動範囲が第1ゲインの連動範囲より広く設定され、ステップS1008にて第2シャッタースピードの連動範囲が第1シャッタースピードの連動範囲より広く設定されている。しかし、本技術はかかる例に限定されず、ステップS1006またはS1008のうち少なくともいずれか一方のみ実行すれば、位相差AFに適正な露出を得ることができる。
その後、第2制御値演算部122は、プレビュー中フラグがオンであるか否かを判定する(ステップS612)。第2制御値演算部122は、図9のステップS616またはS618にて設定されるプレビュー中フラグのオンオフ状態に基づき判定を行う。第2制御値演算部122は、プレビュー中フラグがオフであるときには、図14に示す処理を終了する。一方、プレビュー中フラグがオンであるときには、第2制御値演算部122は第2制御値の設定を変更する(ステップS1010〜S1020)。
具体的には、第2制御値演算部122は、まず、絞り値が閾値Bより明るく閾値Aより暗い設定であるか否かを判定する(ステップS1010)。絞り値が閾値Bより明るく閾値Aより暗い設定であるとき、第2制御値演算部122は、第2シャッタースピードを所定値A1だけ低速に設定変更する(ステップS1012)。また、第2制御値演算部122は、第2ゲインを所定値A2だけ高くなるように設定を変更する(ステップS1014)。
例えば、閾値AがF8、閾値BがF5.6であるとする。このとき、絞り値がF5.6より大きくF8より暗い場合には、第2シャッタースピードは所定値A1(例えば、0.5EV)だけ低速に設定される。また、第2ゲインは、所定値A2(例えば、0.5EV)だけ高い感度に設定される。
一方、ステップS1010にて絞り値が閾値Bより暗い設定である、または閾値Aより明るい設定であると判定したとき、第2制御値演算部122は、絞り値が閾値Bよりも暗い設定であるかを判定する(ステップS1016)。そして、絞り値が閾値Bよりも暗い設定であるとき、第2制御値演算部122は、第2シャッタースピードを所定値B1だけ低速に設定変更する(ステップS1018)。また、第2制御値演算部122は、第2ゲインを所定値B2だけ高くなるように設定を変更する(ステップS1020)。
例えば、閾値AがF8、閾値BがF5.6であるとき、絞り値がF5.6よりより暗い場合には、第2シャッタースピードは所定値B1(例えば、1.0EV)だけ低速に設定される。また、第2ゲインは、所定値B2(例えば、1.0EV)だけ高い感度に設定される。このとき、所定値B1、B2は、所定値A1、A2より高く設定される。
ステップS1010〜S1020の後、第2制御値演算部122は、図14に示す処理を終了する。なお、ステップS1016にて絞り値が閾値Aより明るい設定であると判定した場合には、第2制御値演算部122は、第2ゲインおよび第2シャッタースピードを変更せず、そのまま図14に示す処理を終了する。
このように、本実施形態に係る制御装置100−1では、撮影用画素群102を露光制御するための第1制御値と位相差画素群104を露光制御するための第2制御値とが独立して設定される。これにより、撮影用画素群102に対しては、ユーザの所望する画像を取得でき、また、モニタ用としてユーザにきれいで滑らかな画像を提示できるようなゲインやシャッタースピードが設定される。一方、位相差画素群104に対しては、AF性能向上のため、十分な明るさが得られるように、ゲインやシャッタースピードを撮影用画素群102に対する設定よりもその連動範囲が広くなるように設定される。
また、第2制御値は、第1制御値とは異なり、露光モードによらず自動的に設定される。これにより、露光モードに関係なく、位相差画素群104に対しては常に適正露出となるように第2ゲインや第2シャッタースピードを設定することができ、AF性能の向上を図ることができる。あるいは、第2制御値は、状況に応じて露光モードによらずに固定値に設定してもよい。これにより、位相差AFを安定して行うことができ、AF性能の向上を図ることができる。
(S214:絞り値に基づく第1制御値の補正処理)
図5の説明に戻り、ステップS212にて第2制御値が算出されると、次に、制御装置100−1は、必要に応じて第1制御値の補正処理を行う(ステップS214)。ステップS214では、AF/MFモードやプレビューといったモニタ用画像の制御時に、ユーザの設定により絞り14が絞られたとき、位相差画素群104の露出制御において十分なAF性能を達成できる明るさを保持できるようにする。
具体的には、絞り14が絞られた状態において、撮影用画素群102については後述する図14の処理にしたがってユーザの設定した絞り値に応じて第1制御値の補正が行われる。一方、位相差画素群104については、絞り14が絞られた状態であっても、第2シャッタースピードを低速にし、第2ゲインを高感度に設定することで、AF性能に必要な明るさを得るようにする。ステップS214における処理の詳細を図15に基づき説明する。なお、図15は、本実施形態に係る絞り値に基づく第1制御値の補正処理を示すフローチャートである。
図15に示すように、第1制御値演算部120は、まず、マニュアルフォーカス設定であるか否かを判定する(ステップS1102)。マニュアルフォーカスの設定であるか否かは、AF/MF切替ボタン38の設定により判定できる。マニュアルフォーカス設定であるとき、第1制御値演算部120は、絞り値が閾値Dよりも暗い設定であるか否かを判定する(ステップS1104)。閾値Dは、例えばF11としてもよい。ステップS1104にて絞り値が閾値D以上の明るさに設定されているときには、第1制御値演算部120は、第1制御値を変更することなく図15の処理を終了する。
一方、ステップS1104にて絞り値が閾値Dより暗い設定であると判定したとき、第1制御値演算部120は、最終絞り値を閾値Dに相当する値に設定する(ステップS1106)。そして、第1制御値演算部120は、ステップS1106にて設定された最終絞り値とするための最終絞り値変化量を算出する(ステップS1108)。すなわち、最終絞り値変化量ΔAVは、ステップS210にて設定された絞り値とステップS1106にて設定された最終止絞り値との差分であり、下記式(8)で表される。
絞り値変化量ΔAV=(絞り値)−(最終絞り値) ・・・(8)
その後、第1制御値演算部120は、第1ゲインあるいは第1シャッタースピードのいずれかの補正を行うか否かを判定する(ステップS1110)。これらの補正を行うか否かは、第1ゲインから最終絞り値変化量ΔAVを引いた値が、第1ゲイン最小値以上であるか否かにより判定される。すなわち、ステップ1110では、補正後の第1ゲインが第1ゲイン最小値よりも大きいか否かが判定される。
第1ゲインから最終絞り値変化量ΔAVを引いた値が第1ゲイン最小値以上であるとき、第1制御値演算部120は、第1ゲインを、当該第1ゲインから最終絞り値変化量ΔAVを引いた値に補正する(ステップS1112)。一方、第1ゲインから最終絞り値変化量ΔAVを引いた値が第1ゲイン最小値より小さいときには、第1制御値演算部120は、第1シャッタースピードを、当該第1シャッタースピードに最終絞り値変化量ΔAVを加えた値に補正する(ステップS1114)。
ステップS1102に戻り、ステップS1102にてマニュアルフォーカス設定ではない場合には、第1制御値演算部120は、絞り補正の設定がオンであるか否かを判定する(ステップS1116)。絞り補正の設定は、バックアップ値あるいはメニューの設定から確認できる。ステップS1116にて絞り補正の設定がオフであると判定したときには、第1制御値演算部120は、第1制御値を変更することなく図15の処理を終了する。
一方、ステップS1116にて補正の設定がオンであると判定したときには、第1制御値演算部120は、絞り値が閾値Cよりも暗いか否かを判定する(ステップS1118)。閾値Cは閾値Dよりも小さい値に設定され、例えばF5.6としてもよい。ステップS1118にて絞り値が閾値C以上の明るさに設定されているときには、第1制御値演算部120は、第1制御値を変更することなく図14の処理を終了する。
一方、ステップS1118にて絞り値が閾値C以上の明るさに設定されているときには、第1制御値演算部120は、最終絞り値を閾値Cに相当する値に設定する(ステップS1120)。そして、第1制御値演算部120は、ステップS1120にて設定された最終絞り値とするための絞り値変化量を算出する(ステップS1108)。
最終絞り値変化量は、上述と同様に上記式(8)に基づき算出される。そして、最終絞り値変化量を算出すると、上述と同様、第1ゲインあるいは第1シャッタースピードのいずれかの補正を行うか否かが判定される(ステップS1110)。第1ゲインから最終絞り値変化量ΔAVを引いた値が第1ゲイン最小値以上であるとき、第1制御値演算部120は、第1ゲインを、当該第1ゲインから最終絞り値変化量ΔAVを引いた値に補正する(ステップS1112)。一方、第1ゲインから最終絞り値変化量ΔAVを引いた値が第1ゲイン最小値より小さいときには、第1制御値演算部120は、第1シャッタースピードを、当該第1シャッタースピードに最終絞り値変化量ΔAVを加えた値に補正する(ステップS1114)。
以上のように、図15に示した処理フローに基づき、絞り値に応じて第1制御値が補正される。このように、制御装置100−1は、絞り値に基づいて第1制御値の補正を行う。このため、第1制御値の算出後に絞り値が変更された場合であっても、第1制御値が自動的に絞り値を考慮した値に設定し直されることにより、ユーザの利便性を向上させることが可能となる。
(S216:ゲイン制御)
図5の説明に戻り、第1制御値および第2制御値が算出されると、制御装置100−1は、ゲイン制御の設定を行う(ステップS216)。第1制御値演算部120は、算出した第1ゲインを第1ゲイン制御部110へ出力し、第1ゲインを更新する。また、第2制御値演算部122は、算出した第2ゲインを第2ゲイン制御部112へ出力し、第2ゲインを更新する。
(S218:タイミング制御)
次いで、制御装置100−1は、タイミング制御の設定を行う(ステップS218)。第1制御値演算部120は、算出した第1シャッタースピードを第1タイミング制御部114へ出力し、撮影用画素群102が第1露光時間で露光されるように露出制御する。また、第2制御値演算部122は、算出した第2シャッタースピードを第2タイミング制御部116へ出力し、位相差画素群104が第2露光時間で露光されるように露出制御する。
(S220:絞り制御)
そして、制御装置100−1は、絞り制御の設定を行う(ステップS220)。第1制御値演算部120は、設定した絞り値を絞り機構を駆動させる絞り駆動制御部(図示せず。)へ出力する。絞り駆動制御部は、当該絞り値となるように絞り機構を駆動させ、絞り14を開閉させる。
(S222:モニタリング継続判定)
その後、制御装置100−1は、モニタリング継続中かの判定を行う(ステップS222)。LCDモニタ20またはEVF22によるモニタリングが継続中であれば、制御装置100−1は、ステップS206に戻り、ステップS206からの処理を繰り返し実行する。一方、モニタリングが終了した場合には、制御装置100−1は、図5に示す処理を終了する。
以上、本開示の第1の実施形態に係る制御装置100−1とこれによる露出制御方法について説明した。本開示の第1の実施形態によれば、制御装置100−1は、初期設定処理において第1ゲインと第2ゲインとを異なる値に設定し、設定後に行われるAE起動処理において取得される第1検波値および第2検波値のうちのいずれか一方に基づいて第1ゲインおよび第2ゲインを設定する。このため、撮影用画素群102と位相差画素群104とでダイナミックレンジが異なるため、測光範囲が広げられて、測光処理の高速化が可能となる。また、測光処理の高速化により、露出制御値が適正露出に収束するまでの露出制御時間を短縮することが可能となる。また、撮影用画素群102および位相差画素群104がダイナミックレンジの拡大処理に用いられることにより、当該処理に対する専用の画素群を確保せずに済み、撮影性能およびAF性能の低下を抑制することが可能となる。
<2.本開示の第2の実施形態(調光処理の例)>
以上、本開示の第1の実施形態について説明した。次に、本開示の第2の実施形態について説明する。本開示の第2の実施形態では、制御装置100−2は、調光処理における検波値のダイナミックレンジを拡大させる露出制御を行う。
一般的に、プリ発光時の発光量(以下、プリ発光量と呼ぶ。)は所定量であるため、撮像面から被写体までの距離が遠いと、反射光量および検波値が小さくなり、本発光時の発光量(以下、本発光量と呼ぶ。)の演算精度が悪くなる。逆に、撮像面から被写体までの距離が近いと、反射光量が大きくなり、検波値がオーバーフローし、本発光量の演算が困難となる。
上記のどちらの場合でも、本発光量は誤差が大きくなり、撮像素子のダイナミックレンジを外れる可能性が高くなる。例えば、撮像面から被写体までの距離が遠いことを想定してゲインが大きくされると、撮像面から近い被写体に対する調光性能が低下し、撮像面から被写体までの距離が近いことを想定してゲインが小さくされると、撮像面から遠い被写体に対する調光性能が低下し得る。また、撮像面から被写体までの距離が遠いことを想定してプリ発光量が大きくされると、撮像面に近い被写体に対する調光性能が低下するだけでなく、本発光に残された発光用のエネルギーが小さくなるため、本発光で被写体に光が届かなくなり得る。また、撮像面から被写体までの距離が近いことを想定してプリ発光量が小さくされると、撮像面から遠い被写体に対する調光性能が低下する。
これに対し、プリ発光を2度行う手段が提案されている。例えば、特許第2985099号公報のような文献には、初回のプリ発光の検波値から調光性能の精度を判断し、当該精度が低いと判断された場合には、初回のプリ発光量およびゲインの設定を変更して、再度プリ発光を行う技術が開示されている。しかし、プリ発光を2回実行するため、本発光に残された発光用のエネルギーが小さくなり、撮像面から被写体までの距離が遠い場合には、本発光で光が被写体に届かない可能性がある。
また、撮像面から被写体までの距離を推定し、推定結果に基づいて発光量を設定する手段が知られている。これにより1回のプリ発光で発光量を算出することが可能である。しかし、例えば、レンズのピント位置から距離等を推定するためのデバイスおよび測距演算を設けることになる。
また、独立した2の撮像光学系の各々に異なる露出制御値を設定する手段が提案されている。例えば、2系統の光学系および2の撮像系を備え、プリ発光時に当該2の撮像系に異なるゲインを設定する手段が開示されている。しかし、光学系と撮像系が異なるため、撮像により得られる画像内における被写体の位置または倍率が両系統で一致しない可能性があり、被写体の位置または倍率を一致させる別の手段を設けることになる。
そこで、本開示の第2の実施形態では、同一撮像面上の2種類の画素群の各々のダイナミックレンジが異なるように露出制御値を設定する制御装置を提案する。なお、本実施形態に係る制御装置100−2の物理構成は、第1の実施形態と実質的に同一であるため、説明を省略する。
[2−1.第2の実施形態に係る制御装置の機能構成]
まず、図16を参照して、本開示の第2の実施形態に係る制御装置100−2の機能構成について説明する。図16は、本開示の第2の実施形態に係る制御装置100−2の概略的な機能構成を示すブロック図である。なお、本開示の第1の実施形態に係る制御装置100−1の構成と実質的に同一である構成については説明を省略する。
図16に示したように、制御装置100−2は、第1検波値取得部106、第2検波値取得部108、第1ゲイン制御部110、第2ゲイン制御部112、第1タイミング制御部114、第2タイミング制御部116、設定部118およびメモリ124に加え、調光制御部130、選択部132、本発光量演算部134および発光制御部136を備える。なお、調光制御部130、選択部132および本発光量演算部134は、発光量決定部の一例である。
調光制御部130は、プリ発光時における露出制御指示、プリ発光量の決定およびプリ発光指示を行う。具体的には、調光制御部130は、プリ発光前に、第1ゲインと第2ゲインが異なり、第1タイミング制御部114および第2タイミング制御部の露光時間および露光タイミングが同一である設定を行うように設定部118に指示を通知する。また、調光制御部130は、プリ発光量をメモリ124から読み出し、発光制御部136に対して、読み出されたプリ発光量およびプリ発光指示を通知する。このように、撮影用画素群16および位相差画素群18の各々の露光時間および露光タイミングが同一に設定されることにより、プリ発光時の検波を行うことが可能となる。
選択部132は、本発光の発光量の算出に使用される検波値を選択し、選択された検波値に基づいて調光評価値を算出する。具体的には、選択部132は、プリ発光時における第1検波値および第2検波値を取得し、第1検波値が飽和信号量に対する所定の割合よりも大きいかの判定を行い、第1検波値が飽和信号量に対する所定の割合よりも大きいと判定された場合、第2検波値を用いて調光評価値の算出を行う。
例えば、飽和信号量に対する所定の割合は、リニアリティ領域の上限であり得る。なお、検波値のリニアリティ領域とは、検波値の直線性が確保可能な値の領域である。第1検波値がリニアリティ領域の上限を下回る値であると判定された場合、選択部132は、第1検波値を用いて調光評価値の算出を行う。また、第1検波値がリニアリティ領域の上限を上回る値であると判定された場合、選択部132は、第2検波値を用いて調光評価値の算出を行う。
このように、選択部132は、第1検波値が飽和信号量に対する所定の割合よりも大きい場合、第2検波値を用いて調光評価値の算出を行う。このため、第1検波値よりも感度の低い第2検波値が用いられることにより、第1検波値の識別可能な輝度を超える輝度を有する被写体の検波を行うことが可能となる。
また、選択部132は、選択された検波値に基づいて調光評価値の算出を行う。具体的には、選択部132は、非発光時における第1検波値および第2検波値を取得し、プリ発光時の第1検波値が選択された場合、プリ発光時の第1検波値と非発光時の第1検波値との差を調光評価値として算出する。また、選択部132は、プリ発光時の第2検波値が選択された場合、プリ発光時の第2検波値と非発光時の第2検波値との差を調光評価値として算出する。
なお、上記では、選択部132は、プリ発光時の第1検波値または第2の検波値に基づいて調光評価値を算出する例を説明したが、選択部132は、プリ発光時の第1検波値および第2検波値から算出される値に基づいて調光評価値を算出してもよい。例えば、選択部132は、プリ発光時および非発光時の第1検波値および第2検波値の各々に対して、撮影用画素群102および位相差画素群104の実効感度差に応じた重みづけを行い得る。そして、選択部132は、重みづけが行われたプリ発光時の第1検波値および第2検波値の平均値と、重みづけが行われた非発光時における第1検波値および第2検波値の平均値との差を調光評価値として算出し得る。このため、選択部132は、飽和信号量に対する所定の割合等の閾値を用いることなく、調光評価値の算出を行うことが可能となる。
また、検波値は、複数の検波値の平均値であってもよい。具体的には、撮影用画素群102および位相差画素群104は、画素群の所定の部分毎に検波値を出力し、第1検波値取得部106および第2検波値取得部108は、取得される複数の検波値の平均値を算出する。このため、被写体の輝度が被写体の部分毎に異なる場合に、被写体の全体をカバーした値を検波値として採用することが可能となる。
さらに、選択部132は、合計値の算出の際に、画素群の部分毎に得られる検波値の各々に重みづけを行ってもよい。例えば、被写体の中心から離れる方向に配置される画素群の部分に対する重みが小さくなるように重みづけされ得る。このため、画像における特定の領域を基準とした検波値の取得が可能となる。なお、この場合、上述の複数の検波値の平均値は、重みづけされた検波値の平均値であり得る。
本発光量演算部134は、選択部132により算出された調光評価値に基づいて本発光量を算出する。具体的には、本発光量演算部134は、プリ発光量とプリ発光時の露出制御値とに基づいてプリ発光での適正距離を算出し、算出されたプリ発光での適正距離、調光評価値および所定の基準評価値に基づいて被写体距離を算出する。そして、本発光量演算部134は、算出された被写体距離と本発光時の露出制御値とに基づいて本発光量を算出する。例えば、プリ発光時の適正距離は、下記式(9)で算出され得る。
Dv1=Iv1−Av1+Sv1 ・・・(9)
Dv1は、プリ発光時の適正距離であり、Iv1は、プリ発光量であり、Av1は、プリ発光時の絞り設定値であり、Sv1は、プリ発光時のゲインである。また、被写体距離は、下記式(10)で算出され得る。
Dv2=
Dv1−log2(LevelEva/LevelTarget) ・・・(10)
Dv2は、被写体距離であり、Dv1は、プリ発光時の適正距離であり、LevelEvaは、調光評価値であり、LevelTargetは、所定の基準評価値である。なお、LevelTargetは、固定値であり、予めメモリ124等に記憶され得る。また、プリ発光時に被写体からの反射がない、または反射される光が弱い場合、LevelEvaの値が0または0に近い値となるため、この場合は、Dv2の値が所定の値に設定される。また、本発光量は、下記式(11)および(12)で算出され得る。
Iv2=Dv2+Av2−Sv2 ・・・(11)
Gn=2^((Iv2+5)/2) ・・・(12)
Iv2は、本発光量であり、Av2は、本発光時の絞り設定値であり、Sv2は、本発光時のゲインであり、Gnは、算出された本発光量Iv2をガイドナンバーに置き換えた値である。
なお、上記では、本発光量は、式を用いて算出される例を説明したが、本発光量は、所定の値から選択されてもよい。例えば、本発光量演算部134は、選択部132により算出される調光評価値に対応する所定の値をメモリ124等から取得し、本発光量として発光制御部136に提供し得る。
発光制御部136は、所定の発光量で発光を行う。具体的には、発光制御部136は、調光制御部130により指示されるプリ発光量、または本発光量演算部134により算出された本発光量で発光を行う。
[2−2.第2の実施形態に係る制御装置の処理]
次に、本開示の第2の実施形態における制御装置100−2の処理の概要について図17を参照して説明する。図17は、本実施形態に係る制御装置100−2の処理の概要を概念的に示すフローチャートである。なお、上述の第1の実施形態の説明ならびに制御装置100−2の物理構成および機能構成の説明と重複する説明は省略する。
(S1302:初期設定およびAE起動処理)
まず、制御装置100−2は、起動されると、初期設定およびAE起動処理を行う(ステップS1302)。具体的には、制御装置100−2は、図5のステップS202およびステップS204の処理を行う。
(S1304:モニタリング処理)
次に、制御装置100−2は、モニタリング処理を行う(ステップS1304)。具体的には、制御装置100−2は、第1の実施形態における図5のステップS206〜ステップS220の処理と実質的に同一の処理を行う。
(S1306:シャッターボタン半押し判定)
次に、制御装置100−2は、シャッターボタン40が半押しにされたかの判定を行う(ステップS1306)。例えば、制御装置100−2は、シャッターボタン40の押下を検知する検知部(図示せず。)の検知結果に基づいて、シャッターボタン40が半押し状態であるかの判定を行い得る。
(S1308:オートフォーカス処理の実行)
ステップS1306にて、シャッターボタン40が半押しにされたと判定された場合、制御装置100−2は、オートフォーカス処理を実行する(ステップS1308)。なお、オートフォーカス処理の実行有無は、AF/MF切替ボタン38の設定により判定される。また、ステップS1306にて、シャッターボタン40が半押しにされていないと判定された場合、制御装置100−2は、処理をステップS1304に戻す。
(S1308:オートフォーカス処理の終了判定)
次に、制御装置100−2は、オートフォーカス処理が終了されたかの判定を行う(ステップS1310)。
(S1310:シャッターボタン全押し判定)
ステップS1310にて、オートフォーカス処理が終了されたと判定された場合、制御装置100−2は、シャッターボタン40が全押しにされたかの判定を行う(ステップS1312)。例えば、制御装置100−2は、シャッターボタン40の押下を検知する検知部(図示せず。)の検知結果に基づいて、シャッターボタン40が全押し状態であるかの判定を行い得る。なお、ステップS1310にて、オートフォーカス処理が終了されていないと判定された場合、制御装置100−2は、処理をステップS1306に戻す。
(S1312:発光撮影判定)
ステップS1312にて、シャッターボタン40が全押しにされたと判定された場合、制御装置100−2は、発光撮影であるかの判定を行う(ステップS1314)。例えば、制御装置100−2は、ユーザの設定値またはモニタリング処理中に自動的に設定された露出制御値に基づいて、発光撮影を行うかの判定を行い得る。なお、ステップS1312にて、シャッターボタン40が全押しにされていないと判定された場合、制御装置100−2は、処理をステップS1304に戻す。
(S1314:調光処理)
ステップS1314にて、発光撮影であると判定された場合、制御装置100−2は、調光処理を実行する(ステップS1318)。具体的には、図18を参照して説明する。図18は、本実施形態に係る制御装置100−2の調光処理を概念的に示すフローチャートである。なお、上述の第1の実施形態の説明ならびに制御装置100−2の物理構成および機能構成の説明と重複する説明は省略する。
ステップS1318の処理では、図18に示したように、まず、調光制御部130は、プリ発光量を設定する(ステップS1402)。具体的には、調光制御部130は、メモリ124からプリ発光量を読み出す。
次に、設定部118は、第1ゲインおよび第2ゲインを設定する(ステップS1404)。具体的には、調光制御部130は、設定部118に対して第1ゲインと第2ゲインを異なる値に設定するように設定指示を通知する。そして、設定部118は、第1制御値演算部120および第2制御値演算部122にゲインを算出させ、第1ゲイン制御部110および第2ゲイン制御部112に対して算出されたゲインを設定させる。例えば、設定部118は、撮像用画素群の識別可能な輝度範囲の下限と位相差画素群の識別可能な輝度範囲の上限が重なるような第1ゲインおよび第2ゲインを、第1制御値演算部120および第2制御値演算部122に算出させ得る。
次に、設定部118は、露光時間および露光タイミングを設定する(ステップS1406)。具体的には、調光制御部130は、設定部118に対して第1タイミング制御部114および第2タイミング制御部116の露光時間および露光タイミングを同一の値に設定するように設定指示を通知する。そして、設定部118は、第1制御値演算部120および第2制御値演算部122に露光時間および露光タイミングを算出させ、第1タイミング制御部114および第2タイミング制御部116に対して算出された露光時間および露光タイミングを設定させる。
次に、制御装置100−2は、プリ発光および露光を実行する(ステップS1408)。具体的には、発光制御部136は、調光制御部130から通知されるプリ発光量に基づいてプリ発光を行い、第1タイミング制御部114および第2タイミング制御部116は、撮像用画素群102および位相差画素群104を露光させる。
次に、制御装置100−2は、第1検波値および第2検波値を取得する(ステップS1410)。具体的には、選択部132は、第1検波値取得部106により取得され、第1ゲイン制御部110によりゲイン調整が行われた第1検波値、および第2検波値取得部108により取得され、第2ゲイン制御部112によりゲイン調整が行われた第2検波値を取得する。
次に、制御装置100−2は、発光せず露光を実行する(ステップS1412)。具体的には、調光制御部130は、プリ発光時と同じ露出制御を行うように設定部118に設定指示を通知し、設定部118は、当該通知に従ってゲイン、露光時間および露光タイミングの値の算出および算出された値の設定を第1制御値演算部120および第2制御値演算部122に行わせる。そして、第1タイミング制御部114および第2タイミング制御部116は、撮像用画素群102および位相差画素群104を露光させる。
次に、制御装置100−2は、第1検波値および第2検波値を取得する(ステップS1414)。具体的には、選択部132は、ステップS1410と同様に、第1検波値および第2検波値を取得する。
次に、選択部132は、検波値を選択して調光評価値を算出する(ステップS1416)。具体的には、選択部132は、第1検波値および第2検波値のうちのいずれか一方を選択して、選択された検波値に基づき調光評価値を算出する。詳細については、図19を参照して説明する。図19は、本実施形態に係る制御装置100−2の調光処理における検波値選択処理および調光評価値算出処理を概念的に示すフローチャートである。なお、上述の第1の実施形態の説明ならびに制御装置100−2の物理構成および機能構成の説明と重複する説明は省略する。
ステップS1416の処理では、図19に示したように、まず、選択部132は、第1検波値<上限閾値であるかの判定を行う(ステップS1502)。具体的には、選択部132は、第1検波値がリニアリティ領域の上限を下回っているかの判定を行う。
ステップS1502にて、第1検波値<上限閾値であると判定された場合、選択部132は、第1検波値に基づいて調光評価値を算出する(ステップS1504)。具体的には、選択部132は、プリ発光時の第1検波値と非発光時の第1検波値との差を調光評価値として算出する。そして、図19に示す処理が終了される。
ステップS1502にて、第1検波値<上限閾値でないと判定された場合、選択部132は、第2検波値に基づいて評価値を算出する(ステップS1506)。具体的には、選択部132は、プリ発光時の第2検波値と非発光時の第2検波値との差を調光評価値として算出する。そして、図19に示す処理が終了される。
図18の説明に戻り、次に、本発光量演算部134は、調光評価値に基づいて本発光量を算出する(ステップS1418)。具体的には、本発光量演算部134は、調光評価値に基づいて被写体距離を算出し、被写体距離と本発光時の露出制御値とに基づいて本発光量を算出する。詳細については、図20を参照して説明する。図20は、本実施形態に係る制御装置100−2の調光処理における本発光量算出処理を概念的に示すフローチャートである。なお、上述の第1の実施形態の説明ならびに制御装置100−2の物理構成および機能構成の説明と重複する説明は省略する。
ステップS1418の処理では、図20に示したように、まず、本発光量演算部134は、プリ発光での適正距離を算出する(ステップS1602)。具体的には、本発光量演算部134は、プリ発光量とプリ発光時の露出制御値とに基づいてプリ発光の適正距離を算出する。
次に、本発光量演算部134は、被写体距離を算出する(ステップS1604)。具体的には、本発光量演算部134は、ステップS1602で算出されたプリ発光での適正距離、ステップS1416で算出された調光評価値および所定の基準評価値に基づいて被写体距離を算出する。なお、所定の基準評価値は、予めメモリ124等に記憶され得る。
次に、本発光量演算部134は、本発光量を算出する(ステップS1606)。具体的には、ステップS1604で算出された被写体距離と本発光時の露出制御値とに基づいて本発光量を算出する。そして、図20に示す処理が終了される。
図17の説明に戻り、次に、制御装置100−2は、撮影処理を実行する(ステップS1318)。具体的には、制御装置100−2は、ステップS1314にて、発光撮影であると判定された場合、ステップS1316で算出された本発光量に基づく発光を伴う撮影を行う。また、ステップS1314にて、発光撮影でないと判定された場合、制御装置100−2は、発光せずに撮影を行う。
次に、制御装置100−2は、画像を記憶させる(ステップS1320)。具体的には、撮像により得られた画像をメモリ124に記憶させる。
このように、本開示の第2の実施形態によれば、制御装置100−2は、プリ発光前に第1ゲインおよび第2ゲインを異なる値に設定し、プリ発光後に得られる第1検波値および第2検波値のうちの少なくとも一方に基づいて本発光量を算出する。このため、プリ発光時におけるダイナミックレンジが拡大され、本発光量の演算に利用可能な検波値が選択されることにより、本発光量を被写体の輝度に適した値に設定することが可能となる。
<3.本開示の一実施形態に係る情報処理装置のハードウェア構成>
以上、本発明の実施形態を説明した。上述した制御装置100の処理は、ソフトウェアと、以下に説明する制御装置100のハードウェアとの協働により実現される。
図21は、本開示に係る制御装置100のハードウェア構成を示した説明図である。図21に示したように、制御装置100は、CPU(Central Processing Unit)142と、ROM(Read Only Memory)144と、RAM(Random Access Memory)146と、ブリッジ148と、バス150と、インターフェース152と、入力装置154と、出力装置156と、ストレージ装置158と、接続ポート160と、通信装置162とを備える。
CPU142は、演算処理装置および制御装置として機能し、各種プログラムと協働して制御装置100内の設定部118、第1制御値演算部120、第2制御値演算部122、調光制御部130、選択部132、本発光量演算部134および発光制御部136の動作を実現する。また、CPU142は、マイクロプロセッサであってもよい。ROM144は、CPU142が使用するプログラムまたは演算パラメータ等を記憶する。RAM146は、CPU142の実行にいて使用するプログラムまたは実行において適宜変化するパラメータ等を一時記憶する。ROM144およびRAM146により、制御装置100内のメモリ124の一部を実現する。CPU142、ROM144およびRAM146は、CPUバスなどから構成される内部バスにより相互に接続されている。
入力装置154は、タッチパネル、ボタン、マイクロフォン、スイッチおよびレバーなどユーザが情報を入力するための入力手段、制御装置100内の、撮影用画素群16から検波値を取得する第1検波値取得部106および位相差画素群18から検波値を取得する第2検波値取得部108、ならびにユーザによる入力、第1検波値取得部106および第2検波値取得部108の取得する検波値に基づいて入力信号を生成し、CPU142に出力する入力制御回路などから構成されている。制御装置100のユーザは、入力装置154を操作することにより、制御装置100に対して各種のデータを入力したり処理動作を指示したりすることができる。
出力装置156は、例えば、液晶ディスプレイ(LCD)装置、OLED(Organic Light Emitting Diode)装置、ランプなどの装置への出力を行う。さらに、出力装置156は、スピーカおよびヘッドフォンなどの音声出力を行ってもよい。また、出力装置156は、制御装置100の第1タイミング制御部114および第2タイミング制御部116の一例として、撮影用画素群102および位相差画素群104に対して制御出力を行い得る。
ストレージ装置158は、データ格納用の装置である。ストレージ装置158は、記憶媒体、記憶媒体にデータを記録する記録装置、記憶媒体からデータを読み出す読出し装置および記憶媒体に記録されたデータを削除する削除装置等を含んでもよい。ストレージ装置158は、CPU142が実行するプログラムや各種データを格納する。
接続ポート162は、例えば、制御装置100の外部の装置または周辺機器と接続するためのバスである。また、接続ポート162は、USB(Universal Serial Bus)であってもよい。
通信装置164は、例えば、ネットワークに接続するための通信デバイスで構成された通信インターフェースである。また、通信装置164は、赤外線通信対応装置であっても、無線LAN(Local Area Network)対応通信装置であっても、LTE(Long Term Evolution)対応通信装置であっても、有線による通信を行うワイヤー通信装置であってもよい。
<4.むすび>
本開示の第1の実施形態によれば、撮影用画素群102と位相差画素群104とでダイナミックレンジが異なることになり、測光範囲が広がり、測光処理を高速化することが可能となる。また、測光処理の高速化により、露出制御値が適正露出に収束するまでの露出制御時間を短縮することが可能となる。さらに、撮影用画素群102および位相差画素群104がダイナミックレンジの拡大処理に用いられることにより、当該処理に対して画素群を確保せずに済み、撮影性能およびAF性能の低下を抑制することが可能となる。また、本開示の第2の実施形態によれば、プリ発光時におけるダイナミックレンジが拡大され、本発光量の演算に利用可能な検波値が選択されることにより、本発光量を被写体の輝度に適した値に設定することが可能となる。
以上、添付図面を参照しながら本開示の好適な実施形態について詳細に説明したが、本開示の技術的範囲はかかる例に限定されない。本開示の技術分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。
例えば、上記実施形態では、制御装置100−1はデジタルカメラ1本体に備えられるとしたが、本技術はかかる例に限定されない。例えば、制御装置100−1が備える機能の少なくとも一部を、撮像装置とネットワークを介して通信可能に接続されたサーバ等に設けてもよい。例えば、図4に示す制御装置100−1のうち第1検波値取得部106および第2検波値取得部108以外の機能部をサーバ上に備えるようにしてもよい。
この場合、撮影用画素群102から取得された第1検波値および位相用画素群104から取得された第2検波値は、ネットワークを介してサーバへ出力され、ゲイン調整された後、設定値118にて第1制御値および第2制御値が算出される。算出された各制御値は撮像装置へ出力され、これに基づきフォーカスレンズ12や絞り14が駆動される。
また、上記実施形態では、第2の画素群に位相差画素群18を利用する例を説明したが、本技術はかかる例に限定されない。例えば、第2の画素群は、第1の画素群により撮像される画像と異なる被写界深度の画像を撮像する画素群であってもよい。具体的には、第1の画素群および第2の画素群の各々に対し、焦点距離の異なるマイクロレンズが備えられ、第1の画素群と第2の画素群とで異なる被写界深度を有する画像が取得され得る。このように、第2の画素群として様々な用途の画素群が採用され得ることにより、第2の画素群の汎用性を向上させることが可能となる。
また、本明細書に記載された効果は、あくまで説明的または例示的なものであって限定的ではない。つまり、本開示に係る技術は、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書の記載から当業者には明らかな他の効果を奏しうる。
なお、以下のような構成も本開示の技術的範囲に属する。
(1)同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値と前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値とを設定する設定部を備え、前記設定部は、所定の測光処理の実行前に、前記第1制御値と前記第2制御値とを異なる値に設定する、制御装置。
(2)前記第1制御値は、第1ゲインを含み、前記第2制御値は、第2ゲインを含み、前記設定部は、前記所定の測光処理の実行前に、前記第1ゲインと前記第2ゲインとを異なる値に設定する、前記(1)に記載の制御装置。
(3)前記第1の画素群は、撮像用画素群であり、前記第2の画素群は、位相差画素群である、前記(2)に記載の制御装置。
(4)前記第2ゲインは、前記第1ゲインよりも低く設定される、前記(3)に記載の制御装置。
(5)前記所定の測光処理は、調光処理における測光処理であり、本発光の発光量を決定する発光量決定部をさらに備え、前記設定部は、プリ発光の前に前記第1ゲインと前記第2ゲインとを異なる値に設定し、前記発光量決定部は、前記プリ発光の後に前記第1の画素群および前記第2の画素群の各々から得られる検波値のうちの少なくとも一方に基づいて前記発光量を決定する、前記(4)に記載の制御装置。
(6)前記設定部は、さらに前記第1の画素群および前記第2の画素群の各々の露光時間および露光タイミングを一致するように設定する、前記(5)に記載の制御装置。
(7)前記発光量決定部は、前記第1の画素群から得られる検波値が飽和信号量に対する所定の割合よりも大きい場合、前記第2の画素群から得られる検波値に基づいて前記発光量を決定する、前記(6)に記載の制御装置。
(8)前記発光量決定部は、前記第1の画素群から得られる複数の検波値のうちの検波値が飽和信号量に対する所定の割合よりも大きい検波値の数が所定の数よりも多い場合、前記第2の画素群から得られる検波値に基づいて前記発光量を決定する、前記(7)に記載の制御装置。
(9)前記所定の測光処理は、自動露出制御機能の初期設定処理における測光処理であり、前記設定部は、前記制御装置が起動されると、前記第1ゲインと前記第2ゲインとを異なる値に設定し、前記設定の後に前記第1の画素群および前記第2の画素群の各々から得られる検波値のうちの少なくとも一方に基づいて前記第1制御値および前記第2制御値の設定変更を行う、前記(4)に記載の制御装置。
(10)前記第1制御値は、さらに第1露光時間を含み、前記第2制御値は、さらに第2露光時間を含み、前記設定部は、前記第1露光時間と前記第2露光時間とを異なる値に設定する、前記(9)に記載の制御装置。
(11)前記第2露光時間は、前記第1露光時間よりも短く設定される、前記(10)に記載の制御装置。
(12)前記設定部は、絞りの設定値に応じて、前記第1制御値および前記第2制御値の設定変更を行う、前記(1)〜(11)のいずれか1項に記載の制御装置。
(13)前記所定の測光処理は、自動露出制御機能の初期設定処理における測光処理であり、前記第1制御値は、第1露光時間を含み、前記第2制御値は、第2露光時間を含み、前記設定部は、前記制御装置が起動されると、前記第1露光時間と前記第2露光時間とを異なる値に設定し、前記設定の後に前記第1の画素群および前記第2の画素群の各々から得られる検波値のうちの少なくとも一方に基づいて前記第1制御値および前記第2制御値の設定変更を行う、前記(1)に記載の制御装置。
(14)同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、所定の測光処理の実行前に、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値を設定することと、前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値を、前記第1制御値と異なる値に設定することと、を含む制御方法。
(15)同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値と前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値とを設定する設定部を備え、前記設定部は、所定の測光処理の実行前に、前記第1制御値と前記第2制御値とを異なる値に設定する、制御システム。
1 デジタルカメラ
14 絞り
16、102 撮影用画素群
18、104 位相差画素群
100 制御装置
106 第1検波値取得部
108 第2検波値取得部
110 第1ゲイン制御部
112 第2ゲイン制御部
114 第1タイミング制御部
116 第2タイミング制御部
118 設定部
130 調光制御部
132 選択部
134 本発光量演算部
136 発光制御部

Claims (15)

  1. 同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値と前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値とを設定する設定部を備え、
    前記設定部は、所定の測光処理の実行前に、前記第1制御値と前記第2制御値とを異なる値に設定する、制御装置。
  2. 前記第1制御値は、第1ゲインを含み、
    前記第2制御値は、第2ゲインを含み、
    前記設定部は、前記所定の測光処理の実行前に、前記第1ゲインと前記第2ゲインとを異なる値に設定する、請求項1に記載の制御装置。
  3. 前記第1の画素群は、撮像用画素群であり、
    前記第2の画素群は、位相差画素群である、請求項2に記載の制御装置。
  4. 前記第2ゲインは、前記第1ゲインよりも低く設定される、請求項3に記載の制御装置。
  5. 前記所定の測光処理は、調光処理における測光処理であり、
    本発光の発光量を決定する発光量決定部をさらに備え、
    前記設定部は、プリ発光の前に前記第1ゲインと前記第2ゲインとを異なる値に設定し、
    前記発光量決定部は、前記プリ発光の後に前記第1の画素群および前記第2の画素群の各々から得られる検波値のうちの少なくとも一方に基づいて前記発光量を決定する、請求項4に記載の制御装置。
  6. 前記設定部は、さらに前記第1の画素群および前記第2の画素群の各々の露光時間および露光タイミングを一致するように設定する、請求項5に記載の制御装置。
  7. 前記発光量決定部は、前記第1の画素群から得られる検波値が飽和信号量に対する所定の割合よりも大きい場合、前記第2の画素群から得られる検波値に基づいて前記発光量を決定する、請求項6に記載の制御装置。
  8. 前記発光量決定部は、前記第1の画素群から得られる複数の検波値のうちの検波値が飽和信号量に対する所定の割合よりも大きい検波値の数が所定の数よりも多い場合、前記第2の画素群から得られる検波値に基づいて前記発光量を決定する、請求項7に記載の制御装置。
  9. 前記所定の測光処理は、自動露出制御機能の初期設定処理における測光処理であり、
    前記設定部は、前記制御装置が起動されると、前記第1ゲインと前記第2ゲインとを異なる値に設定し、前記設定の後に前記第1の画素群および前記第2の画素群の各々から得られる検波値のうちの少なくとも一方に基づいて前記第1制御値および前記第2制御値の設定変更を行う、請求項4に記載の制御装置。
  10. 前記第1制御値は、さらに第1露光時間を含み、
    前記第2制御値は、さらに第2露光時間を含み、
    前記設定部は、前記第1露光時間と前記第2露光時間とを異なる値に設定する、請求項9に記載の制御装置。
  11. 前記第2露光時間は、前記第1露光時間よりも短く設定される、請求項10に記載の制御装置。
  12. 前記設定部は、絞りの設定値に応じて、前記第1制御値および前記第2制御値の設定変更を行う、請求項1に記載の制御装置。
  13. 前記所定の測光処理は、自動露出制御機能の初期設定処理における測光処理であり、
    前記第1制御値は、第1露光時間を含み、
    前記第2制御値は、第2露光時間を含み、
    前記設定部は、前記制御装置が起動されると、前記第1露光時間と前記第2露光時間とを異なる値に設定し、前記設定の後に前記第1の画素群および前記第2の画素群の各々から得られる検波値のうちの少なくとも一方に基づいて前記第1制御値および前記第2制御値の設定変更を行う、請求項1に記載の制御装置。
  14. 同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、
    所定の測光処理の実行前に、
    前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値を設定することと、
    前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値を、前記第1制御値と異なる値に設定することと、
    を含む制御方法。
  15. 同一撮像面上にある第1の画素群および第2の画素群に対し、前記第1の画素群を露出制御するための第1制御値と前記第2の画素群を露出制御するための第2制御値とを設定する設定部を備え、
    前記設定部は、所定の測光処理の実行前に、前記第1制御値と前記第2制御値とを異なる値に設定する、制御システム。
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