JP2015099152A - 磁場測定装置 - Google Patents

磁場測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2015099152A
JP2015099152A JP2014258391A JP2014258391A JP2015099152A JP 2015099152 A JP2015099152 A JP 2015099152A JP 2014258391 A JP2014258391 A JP 2014258391A JP 2014258391 A JP2014258391 A JP 2014258391A JP 2015099152 A JP2015099152 A JP 2015099152A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
cell
layer
cells
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014258391A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5874808B2 (ja
Inventor
長坂 公夫
Kimio Nagasaka
公夫 長坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2014258391A priority Critical patent/JP5874808B2/ja
Publication of JP2015099152A publication Critical patent/JP2015099152A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5874808B2 publication Critical patent/JP5874808B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

【課題】複数のセル毎に光源を設けなくとも、各セルにポンプ光とプローブ光を供給できるようにする。【解決手段】セル層12は、アルカリ金属の原子を内部に有する複数のセルを有する。光分配層11は、入射したポンプ光を分岐カプラー111Aで分岐させ、分岐されたポンプ光が各セルに照射されるように、分岐されたポンプ光を光ファイバー112で導く。また、光分配層11は、入射したプローブ光を分岐カプラー111Bで分岐させ、分岐されたプローブ光が各セルに照射されるように、分岐されたプローブ光を光ファイバー112で導く。光ファイバー112で導かれたポンプ光とプローブ光は、各セルに照射され、セル内でポンプ光とプローブ光が交差する。【選択図】図3

Description

本発明は磁場を測定する技術に関する。
磁場を測定する発明として、例えば特許文献1に開示された光ポンピング磁力計がある。この光ポンピング磁力計は、円偏光のポンプ光と、直線偏光のプローブ光をアルカリ金属のガスが封入されたセル内で交差させ、セルを通過したプローブ光の偏光回転角を測定することにより、磁場を測定する。
特開2009−236599号公報
ところで、一つのセルでは磁場のうちの或る一箇所についてしか測定できないため、磁場を広い範囲で測定するには複数のセルが必要となる。しかしながら、複数のセルを配置するとなると、特許文献1に開示された光ポンピング磁力計では、セル毎にポンプ光やプローブ光の光源が必要となり、装置の規模が大きくなってしまう。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、その目的の1つは、複数のセル毎に光源を設けなくとも、各セルにポンプ光とプローブ光を供給できるようにすることにある。
上記目的を達成するために、本発明に係るセルユニットは、光により励起される原子を内部に有するセルを複数備えたセル層と、入射された第1光を分岐させ、分岐された前記第1光を前記複数のセルの各々に導く分配層とを有する。
本発明によれば、光が分岐されて複数の各セルに導かれる。分配層で光が分岐されて複数のセルに導かれるため、セル毎に複数の光源を設けなくても各セルに光を供給できる。
本発明においては、前記分配層は、入射された第2光を分岐させ、前記複数の各セル内において前記第2光が前記第1光と交差するように、分岐された前記第2光を前記複数のセルに導く構成としてもよい。本発明によれば、第1光がセルユニットに照射されると、第1光が分岐されて複数の各セルに導かれ、第2光がセルユニットに照射されると、第2光が分岐されて複数の各セルに導かれる。分配層で光が分岐されて複数のセルに導かれるため、セル毎に複数の光源を設けなくても各セルに第1光と第2光を供給できる。
また、本発明においては、一の前記分配層に前記セル層が積層されており、前記第1光と前記第2光が、前記一の分配層から前記セル層に入射する構成としてもよい。この構成によれば、第1光と第2光がセル層の一方の面側から照射されることとなるので、セルユニットの厚みを抑えることができる。
また、本発明においては、前記分配層は、前記第1光を導く第1分配層と、前記第2光を導く第2分配層を有し、前記第1分配層は、前記セル層に積層され、前記第2層は、前記セル層において前記第1分配層に向いた面と交わる面に接して設けられている構成としてもよい。この構成によれば、一の分配層は、1種類の光を分岐させて導き、他の種類の光を分岐させて導かないので、一の分配層の構成を簡素にできる。
また、本発明においては、前記セルを透過した前記第2光を検出する検出部を有する構成としてもよい。また、本発明においては、前記セルを透過した前記第1光を検出する検出部を有する構成としてもよい。これらの構成によれば、セルユニットで光を検出できるため、セルユニットを備える装置に別途検出部を設けずに済み、装置の構成を簡素にできる。
また、本発明においては、前記分配層は、入射した光を反射および透過する膜を複数有し、入射した前記光が進む方向に前記膜が並べられ、前記複数の膜で反射された光が前記複数のセルに照射される構成としてもよい。この構成によれば、膜により光を分岐させてセルに導くことができるので、光学部品で光の分岐や案内を行う構成と比較して、セルユニットの構成を簡素にできる。
また、本発明においては、前記分配層は、入射した光の一部を通過させ且つ残りを反射する回折格子を前記セル層に面した側に有し、前記回折格子を通過した光が前記複数のセルに照射される構成としてもよい。
また、本発明においては、前記分配層は、入射した光を第1方向と第2方向へ反射する回折格子を前記セル層に面する面と反対側の面に有し、前記第1方向へ反射された光が前記複数のセルに照射される構成としてもよい。
これらの構成によれば、回折格子により光を分岐させてセルに導くことができるので、光学部品で光の分岐や案内を行う構成と比較して、セルユニットの構成を簡素にできる。
また、本発明に係るセルユニット群は、上記いずれかの構成のセルユニットが多段に配置された構成である。この構成によれば、各段のセルを通過した光を測定することにより、セルユニットが多段に配置されている方向の磁場勾配を測定することができる。
また、上記目的を達成するために、本発明に係る磁場測定装置は、光により励起される原子を内部に有するセルを複数備えたセル層と、入射された第1光を分岐させ、前記複数のセルの各々に分岐された前記第1光を導く分配層とを有するセルユニットと、前記セルユニットへ前記第1光を照射する第1照射部と、前記セルを透過した前記第1光を検出する検出部とを有する。
本発明によれば、第1光が第1照射部からセルユニットに照射されると、第1光が分岐されて複数の各セルに導かれる。このため、磁場測定装置において、セル毎に複数の光源を設けなくても各セルに第1光を供給し、セルを通過した第1光を測定することができる。
また、本発明に係る磁場測定装置は、光により励起される原子を内部に有するセルを複数備えたセル層と、前記原子を励起させる入射された第1光を分岐させて前記複数のセルの各々に分岐された前記第1光を導き、入射された第2光を分岐させ、前記複数の各セル内において前記第2光が前記第1光と交差するように分岐された前記第2光を前記複数のセルに導く分配層とを有するセルユニットと、前記セルユニットへ前記第1光を照射する第1照射部と、前記セルユニットへ前記第2光を照射する第2照射部と、前記セルを透過した前記第2光を検出する検出部とを有する。
本発明によれば、第1光が第1照射部からセルユニットに照射されると、第1光が分岐されて複数の各セルに導かれ、第2光がセルユニットに照射されると、第2光が分岐されて複数の各セルに導かれる。分配層で光が分岐されて複数のセルに導かれるため、磁場測定装置において、セル毎に複数の光源を設けなくても各セルに第1光と第2光を供給できる。
本発明の一実施形態に係る磁場測定装置1の構成を示した図。 セルユニット10の外観を示した図。 セルユニット10の断面の模式図。 変形例に係るセルユニット10Aの外観を示した図。 変形例に係る光分配層11Cの模式図。 変形例に係る光分配層11Dの模式図。 変形例に係る光分配層11Eの模式図。 変形例に係るセル121の傾きを説明する図。
[実施形態]
図1は、本発明の一実施形態に係る磁場測定装置1の構成を示した図である。磁場測定装置1は、光ポンピング法を用いて磁場を測定する装置である。磁場測定装置1は、第1照射部20、第2照射部30、検出部40、生体により生じた磁場(例えば、心臓2により生じた磁場)がかかるセルユニット10を有する。
なお、図1においては、光ポンピング法に係る部分の構成を示しており、地磁気などの磁気を低減する磁気シールドや、磁気シールド内の残留磁場を低減する複数のヘルムホルツコイル等、周知の構成については図示を省略し、以下、その説明についても省略する。
第1照射部20は、円偏光のポンプ光を出力する手段の一例であり、光源21と、変換部22を有する。光源21は、レーザー光を出力する装置である。光源21から出力される無偏光のレーザー光は、外部共振器型レーザーや分布帰還型レーザーなどでスペクトル幅が狭いものが好ましい。
変換部22は、無偏光のレーザー光を円偏光のレーザー光に変換する手段の一例である。変換部22は、ビームエキスパンダー、コリメートレンズ、偏光板、四分の一波長板などの光学部品を有する。変換部22に入射したレーザー光は、ビームエキスパンダーで広げられ、コリメートレンズで平行光にされる。コリメートレンズから出た平行光は、偏光板で直線偏光にされ、四分の一波長板で円偏光にされる。円偏光にされた光は、光ポンピング法におけるポンプ光として、セルユニット10に照射される。
なお、ポンプ光は、円偏光の成分を有していれば、他の偏光成分を含んでいてもよい。
第2照射部30は、直線偏光のプローブ光を出力する手段の一例であり、光源31と、変換部32を有する。光源31は、光源21と同じくレーザー光を出力する装置である。
変換部32は、無偏光のレーザー光を直線偏光のレーザー光に変換する手段の一例である。変換部32は、ビームエキスパンダー、コリメートレンズ、偏光板、半波長板などの光学部品を有する。変換部32に入射したレーザー光は、ビームエキスパンダーで広げられ、コリメートレンズで平行光にされる。コリメートレンズから出た平行光は、偏光板で直線偏光にされ、半波長板で偏光面が回転させられる。半波長板で偏光面が回転させられた直線偏光の光は、光ポンピング法におけるプローブ光としてセルユニット10に照射される。
なお、プローブ光は、直線偏光の成分を有していれば、他の偏光成分を含んでいてもよい。
検出部40は、後述するセルユニット10のセル121を通過したプローブ光を検出する手段の一例である。検出部40は、半波長板41、偏光ビームスプリッター42、センサー43A、43Bを有する。
半波長板41は、セル121を通過したプローブ光の偏光面を回転させる光学部品である。半波長板41で偏光面が回転させられた光は、偏光ビームスプリッター42に入る。
偏光ビームスプリッター42は、プローブ光をP偏光とS偏光に分岐する光学部品である。偏光ビームスプリッターで分離されたP偏光は、直進してセンサー43Aに入射する。一方、偏光ビームスプリッターで分離されたS偏光は、P偏光と直交する方向に進み、センサー43Bに入射する。
センサー43Aとセンサー43Bは、入射した光に応じた電気信号を出力するフォトダイオード等の素子を有している。センサー43Aは、偏光ビームスプリッター42で分岐されたP偏光を検出し、検出した光に応じた電気信号を演算部50へ出力する。また、センサー43Bは、偏光ビームスプリッター42で分岐されたS偏光を検出し、検出した光に応じた電気信号を演算部50へ出力する。
演算部50は、差動増幅器を有しており、センサー43Aから出力された信号と、センサー43Bから出力された信号との差分を増幅した信号を出力する。演算部50から出力された信号を解析することに、生体により生じた磁場の情報を知ることができる。
次に、セルユニット10について説明する。図2(a)は、セルユニット10の平面図であり、図2(b)は、セルユニット10の正面図である。また、図3は、セルユニット10の断面を模式的に示した図である。図3において、矢印は、レーザー光の進行方向を示している。なお、説明の便宜上、図においては、直交するX軸、Y軸およびZ軸で方向を示しており、セルユニット10を正面から見たときの左右方向をX軸の方向、奥行き方向をY軸の方向、高さ方向をZ軸の方向としている。また、図中の各構成要素の寸法は、構成要素の形状を容易に理解できるように実際の寸法とは異ならせてある。
セルユニット10は、光分配層11、セル層12および受光層13を有しており、光分配層11の上にセル層12が積層され、セル層12の上に受光層13が積層されている。各層は、Z軸方向から見ると形状が正方形となっているが、Z軸方向から見た形状が矩形や矩形以外の形状となっていてもよい。
セル層12は、ガラス等の光を透過する材料で形成されている。セル層12は、中空のセル121−1〜121−9を有している。セル121−1〜121−9は、立方体の形状であり密閉されている。これらのセル121−1〜121−9は、X軸方向へ3列配置され、Y軸方向へ3行配置されている。なお、各セルの構成は同じであるため、以下、各セルを区別する必要のない場合は、セルについて符号の枝番の記載を省略する。
セル121は、傾けられた状態でセル層12内に位置している。具体的には、セル121は、上面および下面がXY平面に平行であり、側面がXZ平面とYZ平面に平行である状態から、Y軸方向の中心軸を中心に予め定められた角度で回転させた状態でセル層12に配置されている。つまり、セル121は、直交する2つの面が斜めに光分配層11に向けられ、光分配層11に向けられた面と対向する面が斜めに受光層13に向けられた状態となっている。
セル121は、予め定められた原子を内部に有する。ここで予め定められた原子とは、円偏光により励起されてスピン偏極される原子であり、例えば、第1族元素のうちの水素(H)を除くもの、すなわちアルカリ金属の原子である。アルカリ金属に該当する元素は、リチウム(Li)、ナトリウム(Na)、カリウム(K)、ルビジウム(Rb)、セシウム(Cs)及びフランシウム(Fr)である。セル121に封入されているアルカリ金属は、典型的には1種類であるが、複数種類であることを妨げない。セル121には、かかるアルカリ金属の原子が気体の状態(すなわちガス状態)で封入されている。なお、セル121に封入されるアルカリ金属の原子は、検出部40で磁場の情報を得る時に気体の状態であれば足り、常時気体として存在している必要はない。また、セル121は、ヘリウム(He)、窒素(N)などをバッファーガスとして内部に含んでいてもよい。
なお、セル121の数は、上述した数に限定されるものではなく、10個以上または8個以下であってもよい。また、セルの配列は、3行3列に限定されるものではなく、他の配列であってもよい。また、セル121の形状は、立方体の形状に限定されるものではなく、直方体の形状であってもよい。また、セル121の形状は、立方体や直方体について面取りをした形状であってもよい。
光分配層11は、透明なガラスまたは樹脂で形成されており、光を分岐させる分岐カプラー111A、111Bと、分岐カプラー111A、111Bで分岐された光をセル121に導く光ファイバー112を内部に有する。
分岐カプラー111Aには、ポンプ光が入射する。このポンプ光は、分岐カプラー111Aで9つのポンプ光に分岐される。分岐カプラー111Aには、9本の光ファイバー112が接続されている。一本の光ファイバー112には、分岐されたポンプ光のうちの一のポンプ光が入射する。光ファイバー112は、一本の光ファイバーが一つのセル121にポンプ光を導くように配置されている。光ファイバー112において、分岐カプラー111Aに接続されている側と反対側の端部は、セル121において光分配層11の側に向いた一方の面に向けられている。分岐カプラー111Aで分岐されたポンプ光は、光ファイバー112により導かれ、光ファイバー112の端部からセル層12に入り、セル121へ照射される。
一方、分岐カプラー111Bには、プローブ光が入射する。このプローブ光は、分岐カプラー111Bで9つのプローブ光に分岐される。分岐カプラー111Bには、9本の光ファイバー112が接続されている。一本の光ファイバー112には、分岐されたプローブ光のうちの一のプローブ光が入射する。光ファイバー112は、一の光ファイバーが一のセル121にプローブ光を導くように配置されている。光ファイバー112において、分岐カプラー111Bに接続されている側と反対側の端部は、セル121において光分配層11の側に向いた面であって、ポンプ光が入射する側の面と直交するに向けられている。分岐カプラー111Bで分岐されたプローブ光は、光ファイバー112により導かれ、光ファイバー112の端部からセル層12に入り、セル121へ照射される。
なお、光ファイバー112の端部は、出力するポンプ光とプローブ光とがセル121の内部で交差するように位置や向きが設定されている。
受光層13は、透明なガラスまたは樹脂で形成されており、セル121を通過して受光層13に到達したプローブ光を検出部40へ導く層である。受光層13は、プローブ光を検出部40へ導く9本の光ファイバー131を有している。光ファイバー131は、一の光ファイバー131ーが一のプローブ光を受けて導くように配置されており、光ファイバー131の一方の端部は、セル121に向けられている。また、光ファイバー131のもう一方の端部は、半波長板41に面している。
本実施形態に係る磁場測定装置1の各部の構成は、以上のとおりである。この構成のもと、磁場測定装置1は、生体により生じた磁場の測定を行う。なお、磁場測定装置1のセルユニット10は、測定を行う際には測定対象の上方に位置する。例えば、心臓2により生じる磁場を測定する際には、人間は仰向けになり、心臓2の上方にセルユニット10が位置する。
磁場測定装置1が測定を開始すると、光源21と光源31からレーザー光が出力される。光源21から出力されたレーザー光は、変換部22で円偏光にされ、ポンプ光としてセルユニット10に到達する。なお、ポンプ光は、X軸のマイナス方向からセルユニット10へ到達する。一方、光源31から出力されたレーザー光は、変換部32で直線偏光にされ、プローブ光としてセルユニット10に到達する。なお、プローブ光は、X軸のプラス方向からセルユニット10へ到達する。
セルユニット10に到達したポンプ光は、分岐カプラー111Aに入る。分岐カプラー111Aに入ったポンプ光は、9本のポンプ光に分岐される。分岐されたポンプ光は、一つのセルに一のポンプ光が到達するように、光ファイバー112でセル121の下方に導かれる。セル121の下方に導かれたポンプ光は、光ファイバー112の端部からセル121に照射される。
一方、セルユニット10に到達したプローブ光は、分岐カプラー111Bに入る。分岐カプラー111Bに入ったプローブ光は、9本のプローブ光に分岐される。分岐されたプローブ光は、一つのセルに一のプローブ光が到達するように、光ファイバー112でセル121の下方に導かれる。セル121の下方に導かれたプローブ光は、光ファイバー112の端部からセル121に照射される。
セル121に照射されたプローブ光は、セル121内を通過してポンプ光と交差した後、セル121から出て受光層13に到達する。なお、プローブ光は、心臓2による磁場に応じて、直線偏光の偏光面が回転する。
受光層13に到達した9つのプローブ光は、光ファイバー131により導かれ半波長板41に到達する。半波長板41に到達したプローブ光は、偏光面が回転させられ、偏光ビームスプリッター42に入る。偏光ビームスプリッター42で分離されたP偏光は、直進してセンサー43Aに入射し、分離されたS偏光は、センサー43Bに入射する。
なお、偏光ビームスプリッター42には、9つのプローブ光が入るため、センサー43Aには、9つのP偏光が入射し、センサー43Bには、9つのS偏光が入射する。センサー43Aは、入射した9つのP偏光について、9つのP偏光毎に電気信号を生成して演算部50へ出力する。また、センサー43Bは、入射した9つのS偏光について、9つのS偏光毎に電気信号を生成して演算部50へ出力する。
演算部50は、一のプローブ光から分離されたP偏光に対応する電気信号と、このプローブ光から分離されたS偏光に対応する電気信号との差分を増幅した信号を出力する。
例えば、セル121−1を通過したプローブ光から分離されたP偏光に対応する電気信号と、このプローブ光から分離されたS偏光に対応する電気信号との差分を増幅した信号を出力する。また、セル121−2を通過したプローブ光から分離されたP偏光に対応する電気信号と、このプローブ光から分離されたS偏光に対応する電気信号との差分を増幅した信号を出力する。なお、他のセル121を通過したプローブ光から得られた電気信号についても、同様に電気信号の差分を増幅した信号を出力する。
演算部50から出力された信号を解析することにより、一つのセルを用いる場合と比較して、磁場を広い範囲で測定することができる。
本実施形態によれば、光分配層11でポンプ光が複数に分岐されるため、一つの光源21で複数のセル121にポンプ光を供給できる。また、本実施形態によれば、光分配層11でプローブ光が複数に分岐されるため、一つの光源31で複数のセル121にプローブ光を供給できる。
[変形例]
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、他の様々な形態で実施可能である。例えば、上述の実施形態を以下のように変形して本発明を実施してもよい。なお、上述した実施形態及び以下の変形例は、各々を組み合わせてもよい。
上述した実施形態では、ポンプ光は、セル層12の下面側からセル層12に入射しているが、ポンプ光をセル層12に照射する構成は、この構成に限定されるものではない。
例えば、光分配層11をセルユニット10の側面にも設け、セルユニット10の下面側からプローブ光をセル層12に照射し、ポンプ光をセルユニット10の側面から照射してもよい。
図4(a)は、この変形例に係るセルユニット10Aの平面図であり、図4(b)は、セルユニット10Aの正面図である。図4(a)と図4(b)において、矢印は、レーザー光の進行方向を示している。セルユニット10Aは、セル層12に3つのセル121−1〜121−3を有している。なお、上述した実施形態とは異なり、セル121の上面と下面はXY平面に平行となっており、セル121の側面のうちの2面はZY平面に平行となっている。また、セルユニット10Aは、セル層12の下面側に光分配層11Aを有し、セル層12の側面に光分配層11Bを有している。
光分配層11Aは、上述した光分配層11と同様に分岐カプラー111Bと光ファイバー112を有する。なお、光分配層11Aは、分岐カプラー111Aを備えていない。また、光分配層11Bは、分岐カプラー111Aと光ファイバー112を有する。
プローブ光が入射する分岐カプラー111Bは、Y軸方向の端部に位置し、入射するプローブ光を3つに分岐させる。分岐カプラー111Bには、3本の光ファイバー112が接続されている。光ファイバー112は、一本の光ファイバーが一つのセル121にプローブ光を導くように配置されている。3つに分岐されたプローブ光は、光ファイバー112で導かれ、セル121−1〜121−3の下面に照射される。
また、ポンプ光が入射する分岐カプラー111Aは、入射するポンプ光を3つに分岐させる。分岐カプラー111Aには、3本の光ファイバー112が接続されている。光ファイバー112は、一本の光ファイバーが一つのセル121にポンプ光を導くように配置されている。3つに分岐されたポンプ光は、光ファイバー112で導かれ、セル121−1〜121−3の側面に照射される。
この構成においても、一つの光源21で複数のセル121にポンプ光を供給できる。また、一つの光源31で複数のセル121にプローブ光を供給できる。なお、図4においては、セル121は一列のみとなっているが、本変形例に係るセルユニット10Aを複数列ならべてもよい。
上述した構成においては、光分配層11、11A、11Bは、分岐カプラーで光を分岐させているが、光を分岐させる構成は分岐カプラーに限定されるものではない。
図5は、本変形例に係る光分配層11Cの模式図である。図5において、矢印は、レーザー光の進行方向を示している。光分配層11Cは、透明なガラスや樹脂などレーザー光が透過する材料で形成された導光体113と、レーザー光を分岐させる膜114−1〜114−Nで構成されている。
膜114−1〜114−Nは、誘電体の多層膜であり、入射する光の一部を反射し、残りの光を透過して光を分岐させる。膜114−1〜114−Nで反射されて分岐された光が均等になるように、膜114−1〜114−Nの反射率は調整されている。また、膜の角度と位置は、セル121に照射されるように設定されている。
なお、N番目の膜に入射するレーザー光の光パワーをPinN、N番目の膜で反射されたレーザー光の光パワーをPoutN、N番目の膜の反射率をRNとし、膜での吸収がないものと仮定すると、透過率は、1−RNで表され、以下の数1〜数4の式が成り立つ。
Figure 2015099152
Figure 2015099152
Figure 2015099152
Figure 2015099152
これらの式から以下の数5の式が得られ、RNの逆数は、等差級数であることが分かる。この結果、RNは、数6の式で表すことができる。
Figure 2015099152
Figure 2015099152
0は、レーザー光が最初に反射する膜の反射率であり、レーザー光の分岐数に応じて設定される。なお、膜114−1〜114−NをY軸方向に沿って設けてもよい。この構成の場合、レーザー光をビームエキスパンダーで広げ、光分配層11BのX軸方向の端面全体にレーザー光が入射するようにしてもよい。また、この構成においては、ポンプ光を反射する膜と、プローブ光を反射する膜を設け、一つの分配層でポンプ光とプローブ光の両方を分岐させてもよい。
上述した変形例では、光分配層11Cは、膜を使用してレーザー光を分岐させているが、レーザー光を分岐させる構成は、膜に限定されるものではない。
図6は、変形例に係る光分配層11Dの模式図である。図6において、矢印は、レーザー光の進行方向を示している。光分配層11Dは、透明なガラスや樹脂などレーザー光が透過する材料で形成された導光体113と、回折格子115で構成されている。なお、導光体113の上面の端部には、レーザー光が入射する三角プリズム116が設けられている。この構成においては、レーザー光は、三角プリズム116を通過して導光体113に入る。導光体113に入ったレーザー光は、導光体113の下面で全反射され、回折格子115に到達する。
回折格子115に到達した光は、一部が回折格子115を通過し、残りの光が回折格子115で反射される。回折格子115で反射された光は、再度導光体113の下面で全反射され、再び回折格子115に到達する。このように、レーザー光が回折格子115で分岐されながら導光体113の内部を進むことにより、レーザー光が複数に分岐されて光分配層11Dの外部に出力される。なお、回折格子115は、通過した光がセル121に照射されるように設定されている。
なお、回折格子115は、光分配層11Dの上面側ではなく、図7に示したように下面側に設けられていてもよい。図7において、矢印は、レーザー光の進行方向を示している。この場合、レーザー光は、一部が回折格子115で分岐されてZ軸の方向へ反射される。また、残りの光は、Z軸の方向とは異なる方向へ進み導光体113の上面で全反射され、再び回折格子115に到達する。このように、レーザー光が回折格子115で分岐されながら導光体113の内部を進むことにより、レーザー光が複数に分岐されて光分配層11Eの外部に出力される。
本発明においては、セル層12におけるセル121−1〜121−9の傾きの角度は、上述したものに限定されるものではない。
図8は、上述した構成とは別の角度で傾けられたセル121の一例を示した図である。この構成においては、セル121の中心を通り鉛直方向に沿ったZ軸を想定する。そして、このZ軸と、セル121の中心を通り直交する3本の各レーザー光L1〜L3とのなす角度θが各々同じ角度となるようにセル121を傾けてもよい。
また、この構成にあっては、レーザー光L1〜L3を、ポンプ光にする状態とプローブ光にする状態とに切り替えられる構成とし、セル121を通過したレーザー光L1〜L3毎に、検出部40を設けるようにしてもよい。
この構成において、例えば、レーザー光L1をポンプ光、レーザー光L2をプローブ光として磁場を測定したあと、レーザー光L1をポンプ光、レーザー光L3をプローブ光として磁場を測定してもよい。また、この後で、レーザー光L2をポンプ光、レーザー光L1をプローブ光として磁場を測定したあと、レーザー光L2をポンプ光、レーザー光L3をプローブ光として磁場を測定してもよい。本変形例においては、このようにポンプ光とプローブ光の方向を順番に切り替えて磁場を測定してもよい。
本発明においては、受光層13においてプローブ光が入射する位置に偏光ビームスプリッターを配置し、受光層13でプローブ光をP偏光とS偏光に分岐させてもよい。また、受光層13にフォトダイオードを配置し、受光層13で偏光ビームスプリッターにより分岐されたP偏光とS偏光を検出してもよい。また、受光層13において、半波長板を配置し、半波長板を通過した光を偏光ビームスプリッターで分岐させてもよい。つまり、受光層13が、上述した検出部40の構成を備えていてもよい。
また、上述した実施形態においては、検出部40へプローブ光を導く光ファイバー131をセル層12の上面に配置し、セル層12の上面には透明なガラスまたは樹脂で形成された層を設けなくてもよい。
また、本発明においては、セルユニット10に偏光板や半波長板、四分の一波長板などを配置し、セル121にレーザー光が入射する前に円偏光や直線偏光の状態を整えるようにしてもよい。
上述した実施形態においては、ポンプ光とプローブ光の2種類の光をセル121に照射して磁場を測定しているが、磁場を測定する方法は上述した実施形態に限定されるものではない。
例えば、非線形磁気光学効果(NMOR:Nonlinear Magneto-Optical Rotation)を利用して磁場を測定する場合、直線偏光にされた1本のレーザー光を一つのセルに照射し、セル内の原子を励起させる。また、セルを通過したレーザー光を検光子に案内し、検光子で分岐された光を測定することにより、磁場の測定が行われる。
このため、非線形磁気光学効果を利用して磁場の測定を行う場合、磁場測定装置は、1本のレーザー光を複数本のレーザー光に分岐する光分配層、即ち、上述した光分配層11A〜11Eのいずれかを備えるセルユニットを用いて磁場の測定を行う。
なお、本変形例においては、上述した検光子と、検光子を通過した光を検知するフォトダイオードを受光層13に配置してもよい。
上述した実施形態においては、磁場測定装置1は、一つのセルユニット10を用いて磁場を測定しているが、光分配層11を同じ方向に向け、Z軸方向から見て重なるようにセルユニット10を複数個配置したセルユニット群(即ち、セルユニット10を多段に配置したセルユニット群)を配置し、各セルユニット10のセル121を通過したレーザー光を測定して磁場を測定してもよい。なお、本変形例においても、セル121を通過した光をセルユニット10の受光層13に配置されたフォトダイオードで測定してもよい。
この構成によれば、多段に配置されたセルユニット10によって磁場勾配を測定することが可能となる。具体的には、心臓2に近いセルユニット10は、心臓2からの磁場と、心臓2からの磁場以外の環境磁場とを測定し、心臓2から遠いセルユニット10は、環境磁場を測定することとなる。心臓2に近いセルユニット10で得た測定結果と、心臓2から遠いセルユニット10で得た測定結果との差を取ることにより、環境磁場の影響を除き心臓2により生じた磁場を測定することができる。
なお、本実施形態に係るセルユニットによれば、セル121と光分配層11とが一体化されているため、セルと、光を分配する構成とを別個に設ける場合と比較して、セルが多段に配置される方向の高さを抑えることができ、装置の構成をコンパクトにすることができる。
1・・・磁場測定装置、10・・・セルユニット、11、11A、11B、11C、11D、11E・・・光分配層、12・・・セル層、13・・・受光層、20・・・第1照射部、21・・・光源、22・・・変換部、30・・・第2照射部、31・・・光源、32・・・変換部、40・・・検出部、41・・・半波長板、42・・・偏光ビームスプリッター、43A、43B・・・センサー、111A、111B・・・分岐カプラー、112・・・光ファイバー、113・・・導光体、114−1〜114−N・・・膜、115・・・回折格子、121、121−1〜121−9・・・セル、131・・・光ファイバー。

Claims (12)

  1. 光により励起される原子を内部に有するセルを複数備えたセル層と、
    入射された第1光を分岐させ、分岐された前記第1光を前記複数のセルの各々に導く分配層と
    を有するセルユニット。
  2. 前記分配層は、入射された第2光を分岐させ、前記複数の各セル内において前記第2光が前記第1光と交差するように、分岐された前記第2光を前記複数のセルに導くことを特徴とする請求項1に記載のセルユニット。
  3. 一の前記分配層に前記セル層が積層されており、前記第1光と前記第2光が、前記一の分配層から前記セル層に入射することを特徴とする請求項2に記載のセルユニット。
  4. 前記分配層は、前記第1光を導く第1分配層と、前記第2光を導く第2分配層を有し、前記第1分配層は、前記セル層に積層され、前記第2層は、前記セル層において前記第1分配層に向いた面と交わる面に接して設けられていること
    を特徴とする請求項2に記載のセルユニット。
  5. 前記セルを透過した前記第2光を検出する検出部を有することを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載のセルユニット。
  6. 前記セルを透過した前記第1光を検出する検出部を有することを特徴とする請求項1に記載のセルユニット。
  7. 前記分配層は、入射した光を反射および透過する膜を複数有し、入射した前記光が進む方向に前記膜が並べられ、前記複数の膜で反射された光が前記複数のセルに照射されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載のセルユニット。
  8. 前記分配層は、入射した光の一部を通過させ且つ残りを反射する回折格子を前記セル層に面した側に有し、前記回折格子を通過した光が前記複数のセルに照射されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載のセルユニット。
  9. 前記分配層は、入射した光を第1方向と第2方向へ反射する回折格子を前記セル層に面する面と反対側の面に有し、前記第1方向へ反射された光が前記複数のセルに照射されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載のセルユニット。
  10. 請求項1乃至請求項9のいずれかに記載のセルユニットが多段に配置されたセルユニット群。
  11. 光により励起される原子を内部に有するセルを複数備えたセル層と、入射された第1光を分岐させ、分岐された前記第1光を前記複数のセルの各々に導く分配層とを有するセルユニットと、
    前記セルユニットへ前記第1光を照射する第1照射部と、
    前記セルを透過した前記第1光を検出する検出部と
    を有する磁場測定装置。
  12. 光により励起される原子を内部に有するセルを複数備えたセル層と、前記原子を励起させる入射された第1光を分岐させて前記複数のセルの各々に分岐された前記第1光を導き、入射された第2光を分岐させ、前記複数の各セル内において前記第2光が前記第1光と交差するように分岐された前記第2光を前記複数のセルに導く分配層とを有するセルユニットと、
    前記セルユニットへ前記第1光を照射する第1照射部と、
    前記セルユニットへ前記第2光を照射する第2照射部と、
    前記セルを透過した前記第2光を検出する検出部と
    を有する磁場測定装置。
JP2014258391A 2014-12-22 2014-12-22 磁場測定装置 Expired - Fee Related JP5874808B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014258391A JP5874808B2 (ja) 2014-12-22 2014-12-22 磁場測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014258391A JP5874808B2 (ja) 2014-12-22 2014-12-22 磁場測定装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013256780A Division JP5673791B2 (ja) 2013-12-12 2013-12-12 セルユニット、セルユニット群および磁場測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015099152A true JP2015099152A (ja) 2015-05-28
JP5874808B2 JP5874808B2 (ja) 2016-03-02

Family

ID=53375832

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014258391A Expired - Fee Related JP5874808B2 (ja) 2014-12-22 2014-12-22 磁場測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5874808B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017090169A1 (ja) * 2015-11-27 2017-06-01 株式会社日立製作所 磁場計測装置および方法
JP2017191040A (ja) * 2016-04-14 2017-10-19 セイコーエプソン株式会社 磁場計測装置及び磁場計測方法
CN111025206A (zh) * 2019-12-20 2020-04-17 北京航天控制仪器研究所 一种基于原子磁共振的静磁场空间分布测量系统及方法
JP2022512417A (ja) * 2018-12-10 2022-02-03 中科知影(北京)科技有限公司 マルチチャネル原子磁気検出器

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01202679A (ja) * 1988-02-08 1989-08-15 Teijin Seiki Co Ltd 光センサ
JP2008277279A (ja) * 2007-04-04 2008-11-13 Panasonic Corp 面状照明装置とそれを用いた液晶表示装置
JP2009518657A (ja) * 2005-12-29 2009-05-07 インテル・コーポレーション 光学磁力計アレイならびにそれを製造および使用する方法
JP2009123729A (ja) * 2007-11-12 2009-06-04 Epson Toyocom Corp 光学系及び原子発振器
JP2009236599A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Canon Inc 光ポンピング磁力計
JP2009236598A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Canon Inc 原子磁力計及び磁力計測方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01202679A (ja) * 1988-02-08 1989-08-15 Teijin Seiki Co Ltd 光センサ
JP2009518657A (ja) * 2005-12-29 2009-05-07 インテル・コーポレーション 光学磁力計アレイならびにそれを製造および使用する方法
JP2008277279A (ja) * 2007-04-04 2008-11-13 Panasonic Corp 面状照明装置とそれを用いた液晶表示装置
JP2009123729A (ja) * 2007-11-12 2009-06-04 Epson Toyocom Corp 光学系及び原子発振器
JP2009236599A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Canon Inc 光ポンピング磁力計
JP2009236598A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Canon Inc 原子磁力計及び磁力計測方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017090169A1 (ja) * 2015-11-27 2017-06-01 株式会社日立製作所 磁場計測装置および方法
JP2017191040A (ja) * 2016-04-14 2017-10-19 セイコーエプソン株式会社 磁場計測装置及び磁場計測方法
JP2022512417A (ja) * 2018-12-10 2022-02-03 中科知影(北京)科技有限公司 マルチチャネル原子磁気検出器
US11448712B2 (en) 2018-12-10 2022-09-20 Cognitive Medical Imaging Ltd. Multi-channel atomic magnetic detector
JP7291328B2 (ja) 2018-12-10 2023-06-15 中科知影(北京)科技有限公司 マルチチャネル原子磁気検出器
CN111025206A (zh) * 2019-12-20 2020-04-17 北京航天控制仪器研究所 一种基于原子磁共振的静磁场空间分布测量系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5874808B2 (ja) 2016-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5434735B2 (ja) セルユニット、セルユニット群および磁場測定装置
WO2013008500A1 (ja) 脳磁計及び脳磁測定方法
JP6825241B2 (ja) 磁場計測装置、磁場計測装置の製造方法
JP6171355B2 (ja) 磁場計測装置
JP2018004462A (ja) 磁場計測装置、磁場計測装置の調整方法、および磁場計測装置の製造方法
JP2017223487A (ja) 磁場計測装置、磁場計測装置の製造方法
JP5874808B2 (ja) 磁場測定装置
EP2350564B1 (en) Small optics cell for miniature nuclear magnetic resonance gyroscope
US10921191B2 (en) Atomic sensing method and chip-scale atomic sensor
JP2015090423A (ja) 光分岐装置および磁気測定装置
JP2019124556A (ja) 光導波機構を有するセルを用いた磁気計測装置
JP2011137687A (ja) 磁気計測装置
JP5866940B2 (ja) 磁気センサー装置及び磁気計測装置
JP2017215225A (ja) 磁場計測装置
US20180128886A1 (en) Magnetic sensor and cell unit
JP5673791B2 (ja) セルユニット、セルユニット群および磁場測定装置
US11619689B2 (en) Optically pumped magnetometer having reduced footprint
JP5747556B2 (ja) 磁場測定装置およびセルアレイ
JP5621240B2 (ja) 磁気計測装置
JP5928998B2 (ja) 磁場計測装置
JP2006258739A (ja) 光束分岐出力装置および複数光束出力型の測定装置
JP6024114B2 (ja) 磁場測定装置
JP2012168078A (ja) 磁場計測装置
JP6202044B2 (ja) 磁場測定装置
JP2012237698A (ja) セルおよび磁場測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20151211

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151222

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160104

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5874808

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees