JP2015081968A - Pellicle - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体デバイス、ICパッケージ、プリント基板、液晶ディスプレイ又は有機ELディスプレイ等を製造する際のゴミよけとして使用されるペリクルに関し、その辺長が500mmを超える大型のペリクルに関する。 The present invention relates to a pellicle used as a dust prevention when manufacturing a semiconductor device, an IC package, a printed board, a liquid crystal display, an organic EL display, or the like, and relates to a large pellicle whose side length exceeds 500 mm.
LSI、超LSIなどの半導体又は液晶ディスプレイ等の製造においては、半導体ウエハー又は液晶用ガラス板に紫外光を照射してパターンを作製するが、この時に用いるフォトマスクにゴミが付着していると、このゴミが紫外光を遮ったり、反射してしまうために、転写したパターンの変形、短絡などが発生し、品質が損なわれるという問題があった。 In the manufacture of semiconductors such as LSI and VLSI, or liquid crystal displays, patterns are produced by irradiating a semiconductor wafer or glass plate for liquid crystal with ultraviolet light, and if dust adheres to the photomask used at this time, Since the dust blocks or reflects the ultraviolet light, there is a problem that the transferred pattern is deformed, short-circuited, and the quality is deteriorated.
このため、これらの作業は、通常クリーンルームで行われているが、それでもフォトマスクを常に清浄に保つことが難しいので、フォトマスク表面にゴミよけとしてペリクルを貼り付けた後に露光を行っている。この場合、異物はフォトマスクの表面には直接付着せずペリクル上に付着するために、リソグラフィー時に焦点をフォトマスクのパターン上に合わせておけば、ペリクル上の異物は転写に無関係となる。 For this reason, these operations are normally performed in a clean room. However, since it is still difficult to keep the photomask always clean, exposure is performed after a pellicle is attached to the surface of the photomask to prevent dust. In this case, since the foreign matter does not adhere directly to the surface of the photomask but adheres to the pellicle, the foreign matter on the pellicle becomes irrelevant to the transfer if the focus is set on the photomask pattern during lithography.
このようなペリクルは、一般に、光を良く透過させるニトロセルロース、酢酸セルロース又はフッ素樹脂などからなる透明なペリクル膜を、アルミニウム、ステンレスなどからなるフレームの上端面に貼り付けるか接着して構成されており、フレームの下端にはフォトマスクに装着するためのポリブデン樹脂、ポリ酢酸ビニル樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂等からなる粘着層および粘着層の保護を目的とした離型層(セパレータ)が設けられている。 Such a pellicle is generally configured by adhering or adhering a transparent pellicle film made of nitrocellulose, cellulose acetate, fluororesin, or the like, which transmits light well, to the upper end surface of a frame made of aluminum, stainless steel, or the like. The lower end of the frame is provided with an adhesive layer made of polybutene resin, polyvinyl acetate resin, acrylic resin, silicone resin, etc. for mounting on a photomask, and a release layer (separator) for the purpose of protecting the adhesive layer. ing.
ペリクル膜は、一般に薄い樹脂であるので、これを弛み無くフレームに接着し支持させるために、フレームに適切な大きさの張力が付加されている。したがって、一般に用いられている矩形のペリクルでは、ペリクル膜が貼り付けられた後のフレームは、ペリクル膜の張力によりいくらか内側への撓みが生じている。この現象は、例えばプリント基板や液晶ディスプレイ製造に用いられるフレームの辺長が大きい大型のペリクルの他、半導体製造用の小型のペリクルでも材質や寸法上の制約で低剛性のフレームを採用したペリクルにおいても、顕著に現れる。 Since the pellicle membrane is generally a thin resin, an appropriate amount of tension is applied to the frame in order to adhere and support the pellicle membrane to the frame without sagging. Accordingly, in a generally used rectangular pellicle, the frame after the pellicle film is attached is somewhat bent inward due to the tension of the pellicle film. This phenomenon occurs, for example, in large pellicles with large frame lengths used in printed circuit board and liquid crystal display manufacturing, as well as in small pellicles for semiconductor manufacturing that use low-rigidity frames due to material and dimensional constraints. Also appears prominently.
一方、フォトマスクは、低コスト化のためにできるだけ露光領域を確保したいという要求があるが、上記のようなフレームの内側への撓みを出来るだけ小さくしないと、利用できる露光領域が減少するという問題がある。そのため、撓み量をできるだけ抑制しつつ、より幅の狭いフレームを開発し、内側の露光可能面積を広くすることができれば、コスト低減の効果はより大きいことになる。 On the other hand, there is a demand for a photomask to secure an exposure area as much as possible for cost reduction. However, if the deflection to the inside of the frame as described above is not made as small as possible, the usable exposure area is reduced. There is. For this reason, if a narrower frame is developed while suppressing the amount of bending as much as possible, and the inner exposure area can be increased, the effect of cost reduction is greater.
ところで、フォトマスクおよびペリクルの外寸は、露光機毎に定められているのが実情である。例えばペリクルの外形は、フォトマスクの外形からフォトマスクの支持領域、ハンドリングで使用する領域などを差し引いて、外寸から5〜30mm程度内側の寸法に設計されている。このような設計は、露光機だけでなく、検査機やペリクルマウント装置など、露光工程に関連する装置全ての仕様を前提に行われており、実際上これを変更することは難しいのが実情である。 By the way, the actual dimensions of the photomask and pellicle are determined for each exposure machine. For example, the outer shape of the pellicle is designed to have an inner dimension of about 5 to 30 mm from the outer dimension by subtracting the support area of the photomask and the area used for handling from the outer shape of the photomask. Such a design is based on the premise of not only the exposure machine but also the specifications of all equipment related to the exposure process, such as the inspection machine and pellicle mount device, and it is actually difficult to change this. is there.
そこで、従来から、より広い露光領域を達成するための手段が工夫されている。例えば、特許文献1には、短辺のフレーム幅を長辺よりも細くする大型ペリクル用枠体が記載されているが、この枠体では、例えば、辺長が1000mmを超えるような特に大型のフレームになると、剛性を維持するのが困難なために、大型のフレームに適用できないという問題がある。また、この枠体は、短辺については適用可能であるが、長辺については、フレームが撓むことから細くできないために、短軸方向に露光領域を拡大することができないという問題もある。
Therefore, conventionally, means for achieving a wider exposure area have been devised. For example,
このようなフレームの撓みを解決する手段として、例えば、特許文献2には、枠体の少なくとも一対の辺において、中央部が外側凸の円弧形状部、その両側に外側凹の円弧形状部、さらにその外側に直線形状部を有するペリクルフレームが記載されている。このような形状のペリクルフレームによれば、ペリクル膜の張力によるフレームの内側への撓みが防止され、露光領域の減少を防止することができるとされているが、このような効果は、適切な設計によってペリクルフレームの撓み量を一定の値以下に制御することができた場合に限られる。 As a means for solving such a bending of the frame, for example, in Patent Document 2, at least a pair of sides of the frame body, an arc-shaped portion having an outer convex central portion, an arc-shaped portion having an outer concave shape on both sides thereof, and A pellicle frame having a linear portion on the outside is described. According to the pellicle frame having such a shape, it is said that the inward bending of the frame due to the tension of the pellicle film can be prevented and the reduction of the exposure area can be prevented. This is limited to the case where the amount of bending of the pellicle frame can be controlled to a certain value or less by design.
しかし、できるだけフレーム幅を細くしようとした場合、理屈から言えば、どのようなフレーム幅でも張力とバランスを取って、フレームの直線形状を得ることはできるはずであるが、一方で、そのような形状が得られたとしても剛性は確実に低下するために、変位が大きすぎてハンドリングができなかったり、わずかの外力でペリクル膜にシワが発生したりといった不具合が生じるため、このような方法だけでは実用に耐えられないという問題がある。 However, when trying to make the frame width as narrow as possible, theoretically speaking, any frame width should be able to balance the tension and obtain the linear shape of the frame. Even if the shape is obtained, the rigidity is surely reduced, so the displacement is too large to handle, and there is a problem that wrinkles occur on the pellicle film with a slight external force. However, there is a problem that it cannot be put into practical use.
そこで、本発明の目的は、上記のような事情に鑑み、幅を細くしたフレームによって大きな露光面積を確保すると共に、ペリクルの製造、輸送中にもフレームの変形やシワが発生することがなく、所望の寸法精度でペリクル膜をフォトマスクに貼り付けることができるペリクルを提供することである。 Therefore, in view of the circumstances as described above, the object of the present invention is to ensure a large exposure area with a narrow frame, and without causing deformation or wrinkling of the frame during manufacture and transportation of the pellicle, To provide a pellicle capable of attaching a pellicle film to a photomask with a desired dimensional accuracy.
本発明者らは、フォトマスクの実際の使用状況を鋭意調査し検討したところ、フォトマスクの長軸方向及び短軸方向の両方向で、より広い露光領域が必要とされるケースは極めて稀であり、実際の露光作業で要求されるのは、長軸方向および短軸方向のどちらか一方向がほとんどであることを見出したので、実質的な露光領域を最大限に得るために、露光パターンに使用しない領域をあえて犠牲にすることを発案し、本発明に至ったものである。 The present inventors have intensively investigated and studied the actual use situation of the photomask, and it is extremely rare that a wider exposure area is required in both the major axis direction and the minor axis direction of the photomask. Since it was found that one of the major axis direction and the minor axis direction is almost required in the actual exposure work, in order to obtain the substantial exposure area to the maximum, the exposure pattern The present invention has been conceived by deliberately sacrificing unused areas.
すなわち、本発明のペリクルは、少なくとも一対の辺長が500mmを超える矩形のペリクルであって、少なくとも一対の対向する辺の辺長の40〜80%の辺中心を中心とした領域において、該フレームの幅がフレームの内側壁を凹にすることにより細くなっていると共に、その細くなっている領域のフレーム幅は3mm以上6mm以下であることを特徴とするものである。 That is, the pellicle of the present invention is a rectangular pellicle having at least a pair of side lengths of more than 500 mm, and at least in the region centered on the side center of 40 to 80% of the side lengths of the pair of opposing sides. Is narrowed by making the inner wall of the frame concave, and the frame width of the narrowed region is 3 mm or more and 6 mm or less.
本発明のペリクルは、そのフレーム幅が細い部位の両端から隣接する辺に、又は細い部位の両端から対向する辺の同じ部位まで補強手段が接続されていることを特徴とするものである。 The pellicle of the present invention is characterized in that the reinforcing means is connected to the adjacent side from both ends of the narrow part of the frame or to the same part of the opposite side from both ends of the thin part.
また、この補強手段のフォトマスク側表面にはマスク粘着層が設けられておらず、ペリクル貼付後において、この補強手段はフォトマスク表面からは離間していることが好ましく、一方、補強手段のペリクル膜側表面は、フレームのペリクル膜側表面と同一の平面上にあるとともに、その表面上にはペリクル膜接着層が設けられ、ペリクル膜が接着されていることが好ましい。 Further, the mask adhesive layer is not provided on the photomask side surface of the reinforcing means, and it is preferable that the reinforcing means is separated from the photomask surface after the pellicle is attached. It is preferable that the film side surface is on the same plane as the pellicle film side surface of the frame, and a pellicle film adhesive layer is provided on the surface to adhere the pellicle film.
さらに、この補強手段は、フレームと一体で加工されていることが好ましく、補強手段の断面形状は、フォトマスク側に頂点を有する三角形状又はフォトマスク側の面幅が狭くなった台形状であることが好ましい。マスク粘着層は、ペリクル全周にわたって同一の幅で設けられると共に、フレームの外周形状に沿った形状で配置されていることが好ましい。 Further, the reinforcing means is preferably processed integrally with the frame, and the cross-sectional shape of the reinforcing means is a triangular shape having a vertex on the photomask side or a trapezoidal shape having a narrow surface width on the photomask side. It is preferable. The mask adhesive layer is preferably provided with the same width over the entire periphery of the pellicle and is arranged in a shape along the outer peripheral shape of the frame.
本発明によれば、辺長の40〜80%の領域において、フレーム幅がフレーム内壁を凹ませて細くなっているので、ペリクルフレーム全体の剛性を維持しつつ、実際に使用する露光領域を拡大することができるから、ハンドリングの際にペリクル膜にシワが発生するなどの不具合がなく、所望の寸法精度を維持したままペリクル膜をフォトマスクに貼り付けることが可能となる。 According to the present invention, in the region of 40 to 80% of the side length, the frame width is narrowed by denting the inner wall of the frame, so that the exposure region actually used is enlarged while maintaining the rigidity of the entire pellicle frame. Therefore, there is no problem such as wrinkles on the pellicle film during handling, and the pellicle film can be attached to the photomask while maintaining the desired dimensional accuracy.
以下、本発明の実施形態について説明するが、本発明は、これに限定されるものではない。 Hereinafter, although embodiment of this invention is described, this invention is not limited to this.
図1〜4は、本発明のペリクルの実施形態(1)を示すものである。ペリクル10を構成するフレーム11は、長辺11a、短辺11bからなり、短辺11bの中央部は、矢印Aに示す領域において、その幅が内側方向から外側方向に向かって細くなっている。この領域Aは、短辺11bの内寸長の40〜80%とすることが有効であり、また領域Aにおけるフレーム幅は、3mm以上6mm以下とすることが求められる。
1 to 4 show a pellicle embodiment (1) of the present invention. The
このような領域Aの長さは、使用するフォトマスクのパターン範囲に応じて適宜選択することが好ましいが、辺長の80%を超えると剛性低下が顕著になるうえ、後述する補強手段を設けることができなくなるために、辺長の80%以下とすることが有効である。また、領域Aの下限は特に設けられないが、コストの面から判断すれば40%を切ると好ましくない。また、領域Aにおけるフレーム幅は、3mm以下ではマスク粘着層の領域やペリクル貼り付け時の加圧領域を確保することができず、また、6mm以上ではコスト的なメリットが小さくなるから、3mm以上6mm以下とすることが求められる。 The length of the region A is preferably selected as appropriate according to the pattern range of the photomask to be used. However, when the length exceeds 80% of the side length, the rigidity is significantly reduced, and a reinforcing means described later is provided. Therefore, it is effective to set the length to 80% or less of the side length. Moreover, although the lower limit of the area A is not particularly provided, it is not preferable to cut below 40% from the viewpoint of cost. In addition, if the frame width in the area A is 3 mm or less, the area of the mask adhesive layer and the pressure area when the pellicle is attached cannot be secured. It is required to be 6 mm or less.
フレーム11は、アルミニウム合金、鉄鋼、ステンレス鋼、各種エンジニアリングプラスチック、繊維強化プラスチックなどの材料を用いて製作することができるが、機械切削加工又は鋳造や射出成形などの熱的な加工法により一体で製作され、その表面には反射、酸化及び発塵防止のための表面処理が施されることが好ましい。
The
図1〜4の実施形態(1)では、短辺11bについてフレーム幅の細い領域Aを設けているが、これは、長辺11a側に設けられていてもよく、また、長辺、短辺の両方に設けられていてもよい。この領域Aの両端は、剛性および発塵防止の観点から、テーパ状に幅を太くするなどして、その外側の領域と滑らかに接続されていることが好ましい。さらに、フレーム幅の細い領域Aにおいて、例えば特許文献2に記載された従来技術のように、フレームを外側に突出させた構成を組み合わせて、フレーム内側への撓みを減少させるようにすることも特に好ましい。
In the embodiment (1) of FIGS. 1 to 4, the region A having a narrow frame width is provided on the
フレーム11の長辺11aには、通気孔12および異物の侵入を防止するPTFE多孔質膜などからなるシート状のフィルタ13が粘着層(図示しない)を介して取り付けられている。また、フレーム11上には、長辺11aの外側面にハンドリングのための非貫通の治具孔14、短辺外側面にハンドリングのための溝15が配置されている。
On the
フレーム11の一面には、ゴム系粘着剤、ホットメルト粘着剤、シリコーン粘着剤などからなるマスク粘着層16が設けられ、その表面には必要に応じて粘着層保護のためのセパレータ(図示しない)が設けられる。マスク粘着層16は、フレーム11の外周形状に沿って、全周にわたって同じ幅で設けられ、フレーム幅が細くなっている領域Aにおいても直線状に配置されている。
A
ここで、「外周形状に沿って」とは、外周に沿ってマスク粘着層が設けられることの他に、外周から一定距離の間隔を置いて配置されることも含まれる。また、フレーム11のコーナー部などで局所的に外周形状と違いがあるものも本発明の思想に含まれる。
Here, “along the outer peripheral shape” includes not only that the mask adhesive layer is provided along the outer periphery but also that the mask adhesive layer is disposed at a certain distance from the outer periphery. Further, the idea of the present invention also includes a case where the corner portion of the
フレーム11の逆の一面には、アクリル系接着剤、フッ素系接着剤、シリコーン系接着剤などからなるペリクル膜接着層17が設けられ、その上面にセルロース系樹脂、フッ素系樹脂などからなる厚さ2〜10μmのペリクル膜18が適切な張力で弛みなく接着される。
A pellicle
図5〜9には、本発明の別の実施形態(以下、実施形態(2)という)を示す。この実施形態(2)では、ペリクル50は、長辺51a、短辺51bからなるフレーム51から構成されるが、短辺51bの中央付近の矢印Cの領域は、前記の実施形態(1)と同様に、フレーム51の内側から外側に向かってペリクルフレーム幅が細くなっている。そして、この実施形態(2)では、さらに領域Cの両端部Dから隣接する長辺51aに向かって補強手段51cが設けられている。
5 to 9 show another embodiment of the present invention (hereinafter referred to as embodiment (2)). In this embodiment (2), the
フレーム51は、前記実施形態(1)と同様に、アルミニウム合金、鉄鋼、ステンレス鋼、各種エンジニアリングプラスチック、繊維強化プラスチックなどの材料を用いて製作することができるが、機械切削加工又は鋳造や射出成形などの熱的な加工法により一体で製作され、その表面には反射、酸化および発塵防止のための表面処理が施されることが好ましい。
The
補強手段51cは、フレーム51と同様の材料で製作することができる。別体で製作した補強手段51cを接着剤、ネジ、リベットなどの固定手段で取り付けることもできるが、発塵防止の処理が煩雑であるため、機械切削加工又は鋳造、射出成形などの熱的な成形手段により長辺51a、短辺51bと一体で加工されることが好ましい。また、その接続部は、必要に応じてR面取りなどを設けて、発塵しにくい形状に設計されていることがさらに好ましい。
The reinforcing means 51 c can be made of the same material as the
補強手段51cの断面形状は、図9(a)に示すように、フォトマスク側に頂点を有する三角形状又は図9(b)に示すように、フォトマスク側が狭い面幅となった台形状であることが好ましい。なお、ここで二点鎖線90はペリクル50を貼り付けた際のフォトマスク表面位置を示す仮想線であり、二点鎖線91はフォトマスク上のパターンを示す仮想線である。
The cross-sectional shape of the reinforcing
補強手段51cの三角形状又は台形状は、その一つの側面はフォトマスクに対して垂直面、その反対側の面は傾斜面となっているが、このとき、垂直面がフォトマスクのパターン91が配置されている方(内側)に配置され、傾斜面がパターン91のない方(外側)に配置されていることが好ましい。補強手段51cをこの向きで配置することで、露光時の乱反射が露光品質に及ぼす影響を低減することができる。そして、補強手段51cの幅や隣接する辺への接続位置(角度)は、剛性向上の観点から検討して決定すれば良いが、概ね3〜15mmの範囲が好ましい。
In the triangular shape or trapezoidal shape of the reinforcing
フレーム51の一つの面にはマスク粘着層56が、また、その逆の面にはペリクル膜接着層57がそれぞれ設けられているが、この補強手段51cにはマスク粘着層56は設けない方が良い。また、補強手段51cの下面はフレームの長辺51aならびに短辺51bの下面と同一面、もしくは高い位置にある方が良く、ペリクル貼付後にフォトマスク表面から離間した位置となることが好ましい。これは、外的な力により補強手段51cがフォトマスク表面90に接触して発塵することを防ぐためであり、離間する高さは少なくとも1mmを確保することが好ましい。
A
そして、マスク粘着層56は前記実施形態(1)と同様にして、フレーム51の外形形状に沿って設けられることが好ましい。マスク粘着層56は、補強手段51c上には設けられておらず、フレーム51の外周形状に沿って、全周にわたって同じ幅で設けられ、フレーム幅が細くなっている領域Cにおいても直線状に配置されている。ここで、「外周形状に沿って」とは、上記実施形態(1)と同様に、外周に沿ってマスク粘着層が設けられることの他に、外周から一定距離の間隔を置いて配置されることも含まれる。また、フレーム51のコーナー部などで局所的に外周形状と違いがあるものも本発明の思想に含まれる。
And it is preferable that the
このような補強手段51cのペリクル膜側表面は、長辺51a、短辺51bのペリクル膜側表面と同一の平面上にあることが良く、その表面上には長辺51a、短辺51b上のペリクル膜接着層と連続して形成されたペリクル膜接着層57が設けられ、さらにその表面にペリクル膜58が適切な張力で弛みなく接着されていることが好ましい。
The pellicle film side surface of the reinforcing
なお、この実施形態(2)でも、フレーム51上には通気孔52、フィルタ53、治具孔54、溝55などが設けられているが、これらの好ましい態様は前記実施形態(1)と同様なので説明は省略する。
In this embodiment (2) as well, vent
図10は、さらに別の実施形態(3)の上平面図を示したもので、長辺101a、短辺101bからなるフレーム101において、長辺101a上の幅が細くなった領域Eの両端Fから対向する辺に亘って補強手段101cが接続されている。そして、このような補強手段101cにより長辺101aの剛性が確保されるため、フレーム幅の細い領域Eにおいても膜張力が維持されると共に、フレームの貼付精度も確保される。この実施形態(3)では、補強手段101cの配置以外の求められる実施態様は、上記実施形態(1)、(2)と同様なので、以後の説明は省略する。
FIG. 10 shows a top plan view of still another embodiment (3). In a
図11は、パターン111が描画されたフォトマスク110に上記実施形態(2)のペリクル50を貼り付けた状態の平面図を示す。上記実施形態(1)、(2)および(3)は、補強手段の有無又はその配置が異なっているが、これらは、使用するフォトマスクのパターン111の形状によって適宜使い分ければ良い。
FIG. 11 is a plan view showing a state in which the
実施形態(1)は、最も簡素な構成であり、フレームの加工が容易であると共に、ペリクル内の構成要素が少ないことから、製造だけでなく使用中においても品質を維持しやすいという利点がある。また、実施形態(2)および(3)では、補強手段の効果により、実施形態(1)の場合よりもフレーム幅をさらに細くした設計が可能なので、より広い露光領域を確保することができるという効果がある。さらに、実施形態(3)は、実施形態(2)に比べて、フレームの加工、製作が比較的容易という利点があるが、一方で、短辺側については、対向する辺までの距離が長く、補強手段がきわめて長いものとなるために、適用しにくいという欠点がある。 The embodiment (1) has the simplest configuration, the frame can be easily processed, and the number of components in the pellicle is small, so that there is an advantage that the quality can be easily maintained not only during manufacture but also during use. . Further, in the embodiments (2) and (3), the frame width can be designed to be narrower than in the case of the embodiment (1) due to the effect of the reinforcing means, so that a wider exposure area can be secured. effective. Further, the embodiment (3) has an advantage that the processing and manufacturing of the frame are relatively easy as compared with the embodiment (2). On the other hand, on the short side, the distance to the opposite side is long. However, since the reinforcing means is extremely long, there is a drawback that it is difficult to apply.
ところで、前記したように、フォトマスク上で実際にパターンが描画される範囲は、製造される商品により様々だが、長軸方向、短軸方向の両方向においてぎりぎりまで露光領域が要求されることは稀であり、図11に示すように、露光に必要な領域は長軸方向、短軸方向の何れか一方向だけであることが多い。したがって、大半の場合では、露光に影響のない領域が存在するために、フレーム幅を細くする必要が無かったり、補強手段を設けるようなことが可能となるから、数種類のモデルを設定しておけば、大半の事例について対応することが可能となる。 By the way, as described above, the range in which the pattern is actually drawn on the photomask varies depending on the product to be manufactured, but it is rare that the exposure area is required to the limit in both the major axis direction and the minor axis direction. As shown in FIG. 11, the area required for exposure is often only one of the major axis direction and the minor axis direction. Therefore, in most cases, since there is an area that does not affect the exposure, it is not necessary to reduce the frame width or it is possible to provide reinforcement means, so several models can be set. For example, most cases can be handled.
また、本発明のペリクルでは、その外形は標準的なペリクルと同一形状に揃えることができるので、一般に使用されている貼付装置を使用することが可能であり、また、検査機などの工程も、検査領域を変更するだけでよいので、極めて導入しやすいという利点がある。 Further, in the pellicle of the present invention, since the outer shape can be aligned with the same shape as a standard pellicle, it is possible to use a commonly used sticking device, and the process of an inspection machine, etc. Since only the inspection area needs to be changed, there is an advantage that it is very easy to introduce.
以下、本発明の実施例について、さらに具体的に説明する。
〈実施例1〉
図1〜4に示すような実施態様(1)のペリクル10を製作した。フレーム11はアルミニウム合金を機械加工して製作し、外寸750x904.5mm、内寸734x890.5mm、高さ5.8mmとした。フレーム11の短辺11bには幅の細い領域Aがあり、この領域Aの長さは580mmとした。また、短辺11bの幅は7mmとしたが、この領域Aでのフレーム幅は4mmと細くなっている。このフレーム11には、通気孔12、治具孔14、溝15を設けると共に、全面に黒色アルマイト処理を施した。
Examples of the present invention will be described more specifically below.
<Example 1>
A
次いで、このフレーム11をクラス10のクリーンルーム中に持ち込み、界面活性剤と純水で洗浄し、良く乾燥させた。そして、フレーム11の下側の面にはマスク粘着層16としてシリコーン粘着剤(信越化学工業製)をディスペンサにより塗布し、加熱して硬化させた。このマスク粘着層16は、フレーム11の外形形状に沿って幅4mmの一定幅で設けられている。
Next, the
また、その反対側の面にはペリクル膜接着層17としてシリコーン粘着剤(信越化学工業製)を塗布し、これを加熱して完全に硬化させた。そして、通気孔12を覆うように、PTFE製のメンブレンフィルタ13をアクリル製粘着シートを介して取り付けた。
Further, a silicone pressure-sensitive adhesive (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was applied as a pellicle
さらに、石英基板上にフッ素系樹脂(商品名:サイトップ、旭硝子株式会社製)を溶媒で希釈してダイコート法にて均一に塗布した後、オーブン中で加熱して溶媒を除去して乾燥膜を得た。その後、基板外形と同寸の枠状治具を基板上の膜に接着して、この枠状治具を基板より持ち上げることで膜を剥離し、厚さ約4μmのペリクル膜18を作製した。そして、このペリクル膜18を製作したフレーム11上のペリクル膜接着層17に接着させ、周囲の余剰な部分をカッターにて切り出して、ペリクル10を完成させた。
Furthermore, after a fluororesin (trade name: Cytop, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) is diluted with a solvent on a quartz substrate and uniformly applied by the die coating method, the solvent is removed by heating in an oven to dry the film. Got. Thereafter, a frame-shaped jig having the same dimensions as the substrate outer shape was adhered to the film on the substrate, and the film was peeled off by lifting the frame-shaped jig from the substrate to produce a
この完成したペリクル10について、ペリクル膜18を良く観察したところ、シワや弛みは一切見受けられず、良好な状態を維持していた。また、その後に、800x920x厚さ10mmの石英基板(図示しない)にこのペリクル10を貼り付けてみたが、ハンドリングの際にも、フレーム11に大きな撓みが生じたり、ペリクル膜18にシワが発生するようなことはなかった。さらに、貼付後の寸法を確認したところ、長辺、短辺の寸法が規定通りであり、長辺と短辺の間の直角度も維持されていた。
When the
<実施例2>
図5〜9に示すような実施態様(2)のペリクル50を製作した。このペリクルの大きさは、外寸1146x1366mm、内寸1122x1342mm、高さ5.8mmとした。フレーム51の短辺51bには幅の細い領域Cがあり、この領域Cの長さは880mmとした。短辺51bの幅は12mmだが、この領域Cでのフレーム幅は5.5mmと細く形成した。
<Example 2>
A
また、補強手段51cは、領域C両端のD部から隣接する長辺51aと接続するように、長辺51a、短辺51cと一体加工されている。ここで、補強手段51cは幅6mmm、高さ5.8mmで、長辺51a、短辺51bとの接続部は半径2mmのRで滑らかに接続し、長辺51aとなす角度は30度と設定した。さらに、このフレーム51には、直径1.5mmの通気孔52、治具孔54、溝55を設け、全面に黒色アルマイト処理を施した。
The reinforcing
このフレーム51について、前記実施例1と同様に、マスク粘着層56、ペリクル膜接着層57を設け、ペリクル膜58を接着してペリクル50を仕上げ、その後全体を観察したところ、フレーム51の短辺51bは剛性が維持されており、ハンドリングの際にもペリクル膜58にはシワや弛みは全く観察されなかった。また、このペリクル50を1220x1400x13mmの石英基板(図示しない)に貼り付けてみたが、各辺の寸法および長辺と短辺の間の直角度は所定の精度に維持されていた。
The
<比較例1>
比較例1では、上記実施例1と同じ外寸のペリクルを同一の工程にて製作した。ただし、このペリクルは、図12に示す従来のような外形で、外寸750x904.5mm、内寸734x896.5mm、高さ5.8mmであり、短辺の全長全てが幅4mmと細くなっている。
<Comparative Example 1>
In Comparative Example 1, a pellicle with the same outer dimensions as in Example 1 was manufactured in the same process. However, this pellicle has an external shape as shown in FIG. 12 and has an outer dimension of 750 × 904.5 mm, an inner dimension of 734 × 896.5 mm, and a height of 5.8 mm, and the entire length of the short side is as narrow as 4 mm. .
この完成したペリクルを確認したところ、フレーム短辺を軽く指で触った程度でも短辺中央付近のペリクル膜にはシワが発生し、取扱いには非常に注意を要するものであった。また、800x920x10mmの石英基板(図示しない)に貼りつけたところ、短辺中央部付近のペリクル膜にわずかな斜め方向のシワが認められたほか、その寸法も正規の位置から約1.5mmずれた平行四辺形状となっており、使用することができない状態のものであった。 When the completed pellicle was confirmed, wrinkles occurred in the pellicle film near the center of the short side even when the short side of the frame was lightly touched with a finger, and handling was extremely careful. In addition, when attached to a quartz substrate (not shown) of 800 × 920 × 10 mm, a slight oblique wrinkle was observed in the pellicle film near the center of the short side, and the size was also shifted by about 1.5 mm from the normal position. It has a parallelogram shape and cannot be used.
<比較例2>
比較例2では、上記実施例2と同じ外寸のペリクルを同一の工程にて製作した。ただし、このペリクルも、図12に示す従来のような外形で、外寸1146x1366mm、内寸1116x1354mm、高さ5.8mmであり、短辺の全長全てが幅6mmと細くなっている。
<Comparative Example 2>
In Comparative Example 2, a pellicle having the same outer dimensions as in Example 2 was manufactured in the same process. However, this pellicle also has a conventional outer shape shown in FIG. 12, and has an outer dimension of 1146 × 1366 mm, an inner dimension of 1116 × 1354 mm, and a height of 5.8 mm, and the entire length of the short side is as narrow as 6 mm.
この完成したペリクルを確認したところ、一応、ペリクルの形状は維持されていたが、フレーム短辺を軽く指で触れただけで付近のペリクル膜にはシワが発生した。また、このペリクルを水平状態から垂直に立てようとしたところ、フレーム短辺の撓みが大きすぎて塑性変形の恐れがあるために、短辺中央を下から支えないと垂直に立てることができなかった。さらに、垂直に立てた状態でも、ちょっとした外力でフレームが変形してしまうため、貼り付け作業をはじめ、通常に使用するのが極めて困難な状態のものであった。 When the completed pellicle was confirmed, the shape of the pellicle was maintained, but wrinkles occurred on the pellicle film nearby just by lightly touching the short side of the frame with a finger. Also, when trying to stand this pellicle upright from the horizontal state, the short side of the frame is too large and there is a risk of plastic deformation, so it cannot stand upright unless the center of the short side is supported from below. It was. Furthermore, the frame is deformed by a slight external force even when it is set up vertically, so that it is extremely difficult to use it normally, including pasting work.
10 ペリクル
11 フレーム
11a 長辺
11b 短辺
12 通気孔
13 フィルタ
14 治具孔
15 溝
16 マスク粘着層
17 ペリクル膜接着層
18 ペリクル膜
50 ペリクル
51 フレーム
51a 長辺
51b 短辺
51c 補強手段
52 通気孔
53 フィルタ
54 治具孔
55 溝
56 マスク粘着層
57 ペリクル膜接着層
58 ペリクル膜
90 フォトマスク表面
91 パターン
101 フレーム
101a 長辺
101b 短辺
101c 補強手段
110 フォトマスク基板
111 パターン部
10
Claims (7)
The pellicle according to any one of claims 1 to 6, wherein the mask adhesive layer is provided with the same width over the entire periphery of the pellicle, and is arranged in a shape along the outer peripheral shape of the frame.
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JP6279722B2 (en) * | 2014-05-19 | 2018-02-14 | 三井化学株式会社 | Pellicle film, pellicle, exposure original plate, exposure apparatus, and semiconductor device manufacturing method |
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JP6861596B2 (en) * | 2017-08-07 | 2021-04-21 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and pellicle |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000292910A (en) * | 1999-04-09 | 2000-10-20 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle frame, and pellicle for lithography using the same |
JP2001109135A (en) * | 1999-07-30 | 2001-04-20 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Frame for large-sized pellicle and large-sized pellicle |
JP2002318451A (en) * | 2001-04-24 | 2002-10-31 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Frame for pellicle and its manufacturing method |
JP2002333703A (en) * | 2001-05-11 | 2002-11-22 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Frame for pellicle |
JP2004294786A (en) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | Pellicle |
US20060038974A1 (en) * | 2004-08-18 | 2006-02-23 | Kazutoshi Sekihara | Pellicle frame and pellicle for photolithography using the same |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS637752A (en) | 1986-06-26 | 1988-01-13 | Toyoko Toyoda | Method for roasting and cooking food |
JP2005062640A (en) | 2003-08-19 | 2005-03-10 | Hoya Corp | Photomask with pellicle |
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JP4343775B2 (en) | 2004-06-10 | 2009-10-14 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and pellicle for photolithography |
JP5454136B2 (en) * | 2007-03-01 | 2014-03-26 | 株式会社ニコン | Pellicle frame apparatus, mask, reticle apparatus, exposure method, exposure apparatus, and device manufacturing method |
JP5134418B2 (en) * | 2008-04-01 | 2013-01-30 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle for lithography |
JP5481106B2 (en) * | 2009-06-24 | 2014-04-23 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and lithography pellicle |
JP5411596B2 (en) * | 2009-06-24 | 2014-02-12 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and lithography pellicle |
JP4951051B2 (en) * | 2009-10-30 | 2012-06-13 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and pellicle |
JP5755859B2 (en) * | 2010-09-03 | 2015-07-29 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | Large pellicle frame, large pellicle, and method for manufacturing large pellicle frame |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000292910A (en) * | 1999-04-09 | 2000-10-20 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle frame, and pellicle for lithography using the same |
JP2001109135A (en) * | 1999-07-30 | 2001-04-20 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Frame for large-sized pellicle and large-sized pellicle |
JP2002318451A (en) * | 2001-04-24 | 2002-10-31 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Frame for pellicle and its manufacturing method |
JP2002333703A (en) * | 2001-05-11 | 2002-11-22 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Frame for pellicle |
JP2004294786A (en) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | Pellicle |
US20060038974A1 (en) * | 2004-08-18 | 2006-02-23 | Kazutoshi Sekihara | Pellicle frame and pellicle for photolithography using the same |
JP2006056544A (en) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle frame, and pellicle for photo-lithography using the frame |
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